JP4840893B2 - 樹脂封止型半導体装置用フレーム - Google Patents
樹脂封止型半導体装置用フレーム Download PDFInfo
- Publication number
- JP4840893B2 JP4840893B2 JP2000140008A JP2000140008A JP4840893B2 JP 4840893 B2 JP4840893 B2 JP 4840893B2 JP 2000140008 A JP2000140008 A JP 2000140008A JP 2000140008 A JP2000140008 A JP 2000140008A JP 4840893 B2 JP4840893 B2 JP 4840893B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resin
- frame
- lead
- semiconductor device
- grid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/495—Lead-frames or other flat leads
- H01L23/49541—Geometry of the lead-frame
- H01L23/49548—Cross section geometry
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/495—Lead-frames or other flat leads
- H01L23/49541—Geometry of the lead-frame
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/93—Batch processes
- H01L24/95—Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
- H01L24/97—Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
- H01L2224/0554—External layer
- H01L2224/05599—Material
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
- H01L2224/491—Disposition
- H01L2224/4912—Layout
- H01L2224/49171—Fan-out arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/8538—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
- H01L2224/85399—Material
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L24/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Geometry (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、リードフレーム上に半導体素子を搭載し、その外囲、特に半導体素子の上面側をモールド樹脂で封止した樹脂封止型半導体装置の技術分野に属するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、基板実装の高密度化に伴い、基板実装される半導体製品の小型化・薄型化が要求されている。LSIも、高集積化によるチップ数の削減とパッケージの小型・軽量化が厳しく要求され、いわゆるCSP(Chip Size Package)の普及が急速に進んでいる。特に、リードフレームを用いた薄型の半導体製品の開発においては、リードフレームに半導体素子を搭載し、その搭載面をモールド樹脂で封止する片面封止タイプの樹脂封止型半導体装置が開発されている。
【0003】
図1は樹脂封止型半導体装置の一例を示す断面図、図2はその平面図である。これらの図に示される樹脂封止型半導体装置は、リードフレーム1の吊りリード2で支持されたダイパッド3に搭載された半導体素子4と、この半導体素子4の上面の電極とリードフレーム1の端子部5とを電気的に接続した金属細線6と、半導体素子4の上側とダイパッド3の下側とを含む半導体素子4の外囲領域を封止した封止樹脂7とを備えている。この樹脂封止型半導体装置は、いわゆるアウターリードが突き出ておらず、インナーリードとアウターリードの両者が端子部5として一体となったノンリードタイプである。また、用いられているリードフレーム1は、ダイパッド3が端子部より上方に位置するようにハーフエッチングされている。このように段差を有しているので、ダイパッド3の下側にも封止樹脂7を存在させることができ、ダイパッド非露出型であっても薄型を実現している。
【0004】
上記のようなノンリードタイプの樹脂封止型半導体装置は、半導体素子のサイズが小型であるため、1枚のフレームの幅方向に複数列配列して製造するマトリックスタイプが主流である。そして、最近では、コストダウンの要求から、図3に示すような個別にモールドするタイプから、図4に示すような一括してモールドするタイプへ移行することが考えられている。
【0005】
個別モールドタイプは、図3(A)に示すように、1枚のフレームF内に小さなサイズの個々のモールドキャビティCを分かれた状態で設けるようにし、モールド後は金型により個別に打ち抜いて図3(B)に示す半導体装置Sを得るものである。すなわち、半導体素子を銀ペースト等によりリードフレームのダイパッド上に搭載し、ワイヤーボンディングを実施した後、個々の半導体素子を個別にモールドしてから、金型により個々の半導体装置として打ち抜くのである。
【0006】
一括モールドタイプは、図4(A)に示すように、1枚のフレームF内に大きなサイズの幾つかのモールドキャビティCを設けるようにし、その一つ一つのモールドキャビティC内には多数の半導体素子をマトリックス状に配列し、それらの半導体素子を一括してモールドした後、各リードフレームのグリッドリードLのところをダイシングソーで切断して図4(B)に示す半導体装置Sを得るものである。すなわち、半導体素子を銀ペースト等によりリードフレームのダイパッド上に搭載し、ワイヤーボンディングを実施した後、複数個配列されている半導体素子を所定のキャビティサイズで一括モールドしてから、ダイシングにより個片化するのである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
上記したように、一括モールドタイプの製造工程では、マトリックス状に配列した複数の半導体素子を一括してモールドし、その後でダイシングにより個片化する。この場合、グリッドリードのところをダイシングソーで切断するが、それと同時に端子部をグリッドリードから切り離すようになっている。
【0008】
一般に、エッチング加工で製品を製造する場合、設計で直角にデザインされた箇所は、エッチング工程を経た仕上がり状態においてどうしても丸みを帯びた形状(R形状)となる。上記した一括モールドタイプの半導体装置用のフレームにおいても、図5に示す如く、グリッドリードLと端子部5との接続部分を直角に設計してあっても、エッチング加工はこの設計通りにはできず、点線のような丸みを持ったR形状になる。そして、端子部5の付け根のところでR形状が大きくなると、カットラインαでのダイシングにより個片化した際、図6に示すように、個片化された半導体装置における封止樹脂7のカット面に露出する端子部5の切断面が点線で示すように拡大して互いに近接するため、基板搭載時に半田ブリッジによる短絡事故が発生しかねないといった問題を生じる。
【0009】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、一括モールドタイプの半導体装置に用いられるリードフレームを配列したフレームであって、基板搭載時に半田ブッリジ等の事故を起こさないようにした樹脂封止型半導体装置用フレームを提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するため、本発明に係る樹脂封止型半導体装置用フレームは、複数のリードフレームが端子部を突設したグリッドリードを介してマトリックス状に配列されており、その各リードフレームにおける吊りリードで支持されたダイパッド上にそれぞれ半導体素子を配列し、それらの半導体素子を一括してモールドした後、各リードフレームの端子部を残すようにしてグリッドリードのところをダイシングソーで切断して個々の樹脂封止型半導体装置を得るために用いられるフレームであって、フレームのグリッドリードを切断し個片化することにより、封止樹脂の切断面及び封止樹脂下面の端部に端子部が複数隣接して形成されるものであり、各端子部の付け根付近に、ダイシングソーによるカットラインのところからグリッドリードの一部にまで食い込んで形成された側面からの丸形のくぼみを設けたことを特徴とする。
【0012】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。図7は本発明に係る樹脂封止型半導体装置用フレームの一例を示す平面図、図8は図7に示すフレームの一部拡大平面図である。
【0013】
これらの図においてFはリードフレーム用の1枚の金属フレームで、3×4個のリードフレーム10がグリッドリードLを介してマトリックス状に配置されている。グリッドリードLは、隣接するリードフレーム10の端子部5を接続しているところである。そして、図8に示すように、端子部5の付け根付近に丸形のくぼみ12を設けた構成を採っており、このくぼみ12はダイシングソーによるカットラインαのところからグリッドリードLの一部にまで食い込んで形成されている。このような形状のくぼみ12が端子部5の付け根に設けてあると、エッチング時に付け根のところで発生するR形状の問題は関係なくなり、カットラインαのところで端子部5の断面積が大きくなることがない。
【0014】
このフレームFを用いて樹脂封止型半導体装置を製造する手順は次のようである。まず、フレームFの各リードフレーム10におけるダイパッド3の上にそれぞれ半導体素子を銀ペーストにより搭載し、端子部5と半導体素子の上面の電極との間にワイヤーボンディングを実施した後、12個配列されている半導体素子を所定のキャビティサイズで一括モールドしてから、各リードフレームの端子部5を残すようにしてダイシングラインαのところをダイシングソーで切断して個片化する。
【0015】
このように個片化して製造された樹脂封止型半導体装置は、封止樹脂のカット面に露出する端子部5の面積が大きくならず、隣接する端子部5同士の間隔が充分保たれた状態になるので、基板搭載時に半田ブリッジ等の事故が発生することがない。
【0019】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明は、複数のリードフレームが端子部を突設したグリッドリードを介してマトリックス状に配列されており、その各リードフレームにおける吊りリードで支持されたダイパッド上にそれぞれ半導体素子を配列し、それらの半導体素子を一括してモールドした後、各リードフレームの端子部を残すようにしてグリッドリードのところをダイシングソーで切断して個々の樹脂封止型半導体装置を得るために用いられるフレームであって、フレームのグリッドリードを切断し個片化することにより、封止樹脂の切断面及び封止樹脂下面の端部に端子部が複数隣接して形成されるものであり、各端子部の付け根付近に、ダイシングソーによるカットラインのところからグリッドリードの一部にまで食い込んで形成された側面からの丸形のくぼみを設けた構成としたことにより、ダイシング時のカット面における端子部の断面積が大きくなることがなく、隣接する端子部の間隔が充分に保たれることから、基板搭載時に半田ブリッジ等の事故が発生することがない。
【図面の簡単な説明】
【図1】 樹脂封止型半導体装置の一例を示す断面図である。
【図2】 図1に示す樹脂封止型半導体装置の平面図である。
【図3】 個別モールドタイプの説明図である。
【図4】 一括モールドタイプの説明図である。
【図5】 エッチングにより生ずるR形状の説明図である。
【図6】 カット面に露出する端子部を示す説明図である。
【図7】 本発明に係る樹脂封止型半導体装置用フレームの一例を示す平面図である。
【図8】 図7に示すフレームの一部拡大平面図である。
【符号の説明】
1 リードフレーム
2 リード
3 ダイパッド
4 半導体素子
5 端子部
6 金属細線
7 封止樹脂
10 リードフレーム
12 くぼみ
C モールドキャビティ
F フレーム
L グリッドリード
S 半導体装置
α カットライン
Claims (1)
- 複数のリードフレームが端子部を突設したグリッドリードを介してマトリックス状に配列されており、その各リードフレームにおける吊りリードで支持されたダイパッド上にそれぞれ半導体素子を配列し、それらの半導体素子を一括してモールドした後、各リードフレームの端子部を残すようにしてグリッドリードのところをダイシングソーで切断して個々の樹脂封止型半導体装置を得るために用いられるフレームであって、フレームのグリッドリードを切断し個片化することにより、封止樹脂の切断面及び封止樹脂下面の端部に端子部が複数隣接して形成されるものであり、各端子部の付け根付近に、ダイシングソーによるカットラインのところからグリッドリードの一部にまで食い込んで形成された側面からの丸形のくぼみを設けたことを特徴とする樹脂封止型半導体装置用フレーム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000140008A JP4840893B2 (ja) | 2000-05-12 | 2000-05-12 | 樹脂封止型半導体装置用フレーム |
US09/850,213 US6703694B2 (en) | 2000-05-12 | 2001-05-07 | Frame for semiconductor package including plural lead frames having thin parts or hollows adjacent the terminal roots |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000140008A JP4840893B2 (ja) | 2000-05-12 | 2000-05-12 | 樹脂封止型半導体装置用フレーム |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009231140A Division JP5467506B2 (ja) | 2009-10-05 | 2009-10-05 | 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001326316A JP2001326316A (ja) | 2001-11-22 |
JP4840893B2 true JP4840893B2 (ja) | 2011-12-21 |
Family
ID=18647367
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000140008A Expired - Lifetime JP4840893B2 (ja) | 2000-05-12 | 2000-05-12 | 樹脂封止型半導体装置用フレーム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6703694B2 (ja) |
JP (1) | JP4840893B2 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6822322B1 (en) * | 2000-02-23 | 2004-11-23 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Substrate for mounting a semiconductor chip and method for manufacturing a semiconductor device |
JP3628971B2 (ja) | 2001-02-15 | 2005-03-16 | 松下電器産業株式会社 | リードフレーム及びそれを用いた樹脂封止型半導体装置の製造方法 |
JP2003204027A (ja) * | 2002-01-09 | 2003-07-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | リードフレーム及びその製造方法、樹脂封止型半導体装置及びその製造方法 |
US7553700B2 (en) * | 2004-05-11 | 2009-06-30 | Gem Services, Inc. | Chemical-enhanced package singulation process |
KR101778832B1 (ko) | 2010-11-02 | 2017-09-14 | 다이니폰 인사츠 가부시키가이샤 | Led 소자 탑재용 리드 프레임, 수지 부착 리드 프레임, 반도체 장치의 제조 방법 및 반도체 소자 탑재용 리드 프레임 |
CN102169867A (zh) * | 2011-04-02 | 2011-08-31 | 上海凯虹科技电子有限公司 | 一种引线框架 |
JP2014022582A (ja) * | 2012-07-19 | 2014-02-03 | Hitachi Maxell Ltd | 半導体装置の製造方法、及び半導体装置 |
JP6028454B2 (ja) * | 2012-08-24 | 2016-11-16 | 大日本印刷株式会社 | 半導体装置製造用リードフレーム及び半導体装置の製造方法 |
JP7265502B2 (ja) * | 2020-03-19 | 2023-04-26 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4862246A (en) | 1984-09-26 | 1989-08-29 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device lead frame with etched through holes |
JPH04280462A (ja) * | 1991-03-08 | 1992-10-06 | Mitsubishi Electric Corp | リードフレームおよびこのリードフレームを使用した半導体装置 |
JPH0575006A (ja) * | 1991-09-18 | 1993-03-26 | Fujitsu Ltd | リードフレーム及び樹脂封止型半導体装置 |
JP3257904B2 (ja) * | 1994-08-11 | 2002-02-18 | 新光電気工業株式会社 | リードフレームとその製造方法 |
JP3426811B2 (ja) * | 1995-10-18 | 2003-07-14 | 株式会社東芝 | 半導体装置およびその製造方法 |
JPH1022443A (ja) | 1996-07-05 | 1998-01-23 | Hitachi Cable Ltd | リードフレーム |
JP3012816B2 (ja) * | 1996-10-22 | 2000-02-28 | 松下電子工業株式会社 | 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法 |
US5977615A (en) * | 1996-12-24 | 1999-11-02 | Matsushita Electronics Corporation | Lead frame, method of manufacturing lead frame, semiconductor device and method of manufacturing semiconductor device |
US6100598A (en) * | 1997-03-06 | 2000-08-08 | Nippon Steel Semiconductor Corporation | Sealed semiconductor device with positional deviation between upper and lower molds |
JP2928190B2 (ja) | 1997-04-09 | 1999-08-03 | 九州日本電気株式会社 | テーピングリードフレーム |
JP3027954B2 (ja) * | 1997-04-17 | 2000-04-04 | 日本電気株式会社 | 集積回路装置、その製造方法 |
JP3892139B2 (ja) * | 1998-03-27 | 2007-03-14 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体装置 |
US6229200B1 (en) | 1998-06-10 | 2001-05-08 | Asat Limited | Saw-singulated leadless plastic chip carrier |
JP3764587B2 (ja) * | 1998-06-30 | 2006-04-12 | 富士通株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
JP2000188366A (ja) * | 1998-12-24 | 2000-07-04 | Hitachi Ltd | 半導体装置 |
WO2001009932A1 (fr) | 1999-07-30 | 2001-02-08 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Procede de decoupage de plaquette de semi-conducteur en puces et structure de rainure formee dans la zone de decoupage |
JP3444410B2 (ja) | 2000-03-23 | 2003-09-08 | 株式会社三井ハイテック | リードフレームおよび半導体装置の製造方法 |
US6355502B1 (en) * | 2000-04-25 | 2002-03-12 | National Science Council | Semiconductor package and method for making the same |
-
2000
- 2000-05-12 JP JP2000140008A patent/JP4840893B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-05-07 US US09/850,213 patent/US6703694B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6703694B2 (en) | 2004-03-09 |
US20010045630A1 (en) | 2001-11-29 |
JP2001326316A (ja) | 2001-11-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6703696B2 (en) | Semiconductor package | |
US6744118B2 (en) | Frame for semiconductor package | |
US20040016994A1 (en) | Semiconductor package and fabricating method thereof | |
US6882048B2 (en) | Lead frame and semiconductor package having a groove formed in the respective terminals for limiting a plating area | |
US6979886B2 (en) | Short-prevented lead frame and method for fabricating semiconductor package with the same | |
JP4840893B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置用フレーム | |
JP5971531B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法 | |
JP4349541B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置用フレーム | |
JP4822038B2 (ja) | ディスクリート用パッケージ及びその製造方法並びにそれに用いるリードフレーム | |
JP5585637B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置用フレーム | |
JP5467506B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法 | |
US20020048851A1 (en) | Process for making a semiconductor package | |
JP4475785B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置の製造方法 | |
JP4416067B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置の製造方法 | |
JP2002026222A (ja) | 樹脂封止型半導体装置用リードフレーム | |
JP4356960B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
JP2002026190A (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
JP2002026192A (ja) | リードフレーム | |
KR100370480B1 (ko) | 반도체 패키지용 리드 프레임 | |
JP2001326317A (ja) | 樹脂封止型半導体装置用フレーム | |
JP2002305267A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JP2002026224A (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
JP2002033434A (ja) | 樹脂封止型半導体装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070314 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090427 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090430 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090608 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090707 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091005 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20091022 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20091204 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110822 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110930 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4840893 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141014 Year of fee payment: 3 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |