JPH0783252B2 - 半導体集積回路装置 - Google Patents
半導体集積回路装置Info
- Publication number
- JPH0783252B2 JPH0783252B2 JP57119815A JP11981582A JPH0783252B2 JP H0783252 B2 JPH0783252 B2 JP H0783252B2 JP 57119815 A JP57119815 A JP 57119815A JP 11981582 A JP11981582 A JP 11981582A JP H0783252 B2 JPH0783252 B2 JP H0783252B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- base
- npn
- transistor
- input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 7
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims description 13
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 7
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 7
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 102000004207 Neuropilin-1 Human genes 0.000 description 1
- 108090000772 Neuropilin-1 Proteins 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D84/00—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
- H10D84/40—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers characterised by the integration of at least one component covered by groups H10D12/00 or H10D30/00 with at least one component covered by groups H10D10/00 or H10D18/00, e.g. integration of IGFETs with BJTs
- H10D84/401—Combinations of FETs or IGBTs with BJTs
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/01—Modifications for accelerating switching
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/01—Modifications for accelerating switching
- H03K19/017—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits
- H03K19/01707—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits
- H03K19/01721—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits by means of a pull-up or down element
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/094—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
- H03K19/0944—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET
- H03K19/09448—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET in combination with bipolar transistors [BIMOS]
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は半導体集積回路装置に係り、特に、CMOSトラン
ジスタ及びバイポーラトランジスタからなる高速で低消
費電力の半導体集積回路装置に関する。
ジスタ及びバイポーラトランジスタからなる高速で低消
費電力の半導体集積回路装置に関する。
(従来の技術) 従来のCMOSトランジスタのみを使用した論理回路を第1
図に示す。ここでは2入力NAND回路について示す。
図に示す。ここでは2入力NAND回路について示す。
この2入力NAND回路は2つの並列接続されたPMOSトラン
ジスタ200,201と2つの直列接続されたNMOSトランジス
タ202,203とから構成される。入力204と205が共に“1"
レベルであるとNMOSトランジスタ202,203がオン状態に
なり、PMOSトランジスタ200,201はオフ状態になる。し
たがって出力206は“0"レベルとなる。入力204あるいは
205のどちらか一方が“0"レベルであるとPMOSトランジ
スタ201あるいは200どちらか一方がオン状態になり、NM
OSトランジスタ202あるいは203のどちらか一方がオフ状
態になる。したがって出力206は“1"レベルとなる。こ
の動作で判るように入力レベルが“1"か“0"レベルに決
まると電源207から接地までに導電バスを作ることはな
い。故にCMOS回路は低消費電力という特長を有してい
る。しかしMOSトランジスタの伝達コンダクタンスがバ
イポーラトランジスタに比して小さいため、負荷容積が
大きいとその充放電に時間がかかり、スピードが遅くな
る欠点があった。
ジスタ200,201と2つの直列接続されたNMOSトランジス
タ202,203とから構成される。入力204と205が共に“1"
レベルであるとNMOSトランジスタ202,203がオン状態に
なり、PMOSトランジスタ200,201はオフ状態になる。し
たがって出力206は“0"レベルとなる。入力204あるいは
205のどちらか一方が“0"レベルであるとPMOSトランジ
スタ201あるいは200どちらか一方がオン状態になり、NM
OSトランジスタ202あるいは203のどちらか一方がオフ状
態になる。したがって出力206は“1"レベルとなる。こ
の動作で判るように入力レベルが“1"か“0"レベルに決
まると電源207から接地までに導電バスを作ることはな
い。故にCMOS回路は低消費電力という特長を有してい
る。しかしMOSトランジスタの伝達コンダクタンスがバ
イポーラトランジスタに比して小さいため、負荷容積が
大きいとその充放電に時間がかかり、スピードが遅くな
る欠点があった。
第2図は従来のバイポーラトランジスタのみによる2入
力NAND回路を示す。この2入力NAND回路はマルチエミッ
タのNPNトランジスタ(以後NPNと略す)300,NPN301,30
2,303,ダイオード304、それに抵抗305,306,307,308から
構成される。入力309,310が共に“1"レベルの時、NPN30
0のベース,エミッタ接合は逆バイアスされるので、抵
抗305に流れるベース電流はNPN301のベース電流とな
る。したがってNPN301はオンとなり、抵抗307の非接地
側端子電位が上昇しNPN303はオンとなるので出力311は
“0"レベルとなる。なお、この時、抵抗306の電源312と
反対側の端子電位が低下するのでNPN302はオフとなる。
一方、入力309,310のうちどちらかが“0"レベルの時はN
PN300のベース,エミッタ接合は順バイアスされ、抵抗3
05を流れるベース電流は大部分入力309または310に流れ
込むのでNPN300は飽和状態となる。したがってNPN301の
ベースへは入力309または310の“0"レベルがほぼそのま
ま伝達され、NPN301はオフとなるので、NPN303がオフと
なる。一方抵抗306の電源312と反対側の端子の電位が上
昇するのでNPN302がオンになり、NPN302のエミッタ電源
が負荷を充電し、出力311は“1"レベルとなる。
力NAND回路を示す。この2入力NAND回路はマルチエミッ
タのNPNトランジスタ(以後NPNと略す)300,NPN301,30
2,303,ダイオード304、それに抵抗305,306,307,308から
構成される。入力309,310が共に“1"レベルの時、NPN30
0のベース,エミッタ接合は逆バイアスされるので、抵
抗305に流れるベース電流はNPN301のベース電流とな
る。したがってNPN301はオンとなり、抵抗307の非接地
側端子電位が上昇しNPN303はオンとなるので出力311は
“0"レベルとなる。なお、この時、抵抗306の電源312と
反対側の端子電位が低下するのでNPN302はオフとなる。
一方、入力309,310のうちどちらかが“0"レベルの時はN
PN300のベース,エミッタ接合は順バイアスされ、抵抗3
05を流れるベース電流は大部分入力309または310に流れ
込むのでNPN300は飽和状態となる。したがってNPN301の
ベースへは入力309または310の“0"レベルがほぼそのま
ま伝達され、NPN301はオフとなるので、NPN303がオフと
なる。一方抵抗306の電源312と反対側の端子の電位が上
昇するのでNPN302がオンになり、NPN302のエミッタ電源
が負荷を充電し、出力311は“1"レベルとなる。
この様なバイポーラトランジスタ回路では、大きな電流
を低インピーダンス回路に流し込んだり,流し出したり
するので消費電力が大きい欠点がある。集積度に関して
もバイポーラトランジスタ回路はCMOS回路に比べてかな
り劣る。一方、スピードは高い伝達コンダクタンス特性
のため速いという特徴を有している。
を低インピーダンス回路に流し込んだり,流し出したり
するので消費電力が大きい欠点がある。集積度に関して
もバイポーラトランジスタ回路はCMOS回路に比べてかな
り劣る。一方、スピードは高い伝達コンダクタンス特性
のため速いという特徴を有している。
以上述べてきたCMOS回路,バイポーラ回路の欠点を補う
ために、第1の従来技術として、第3図に示すようなイ
ンバータ回路が知られている。このインバータはPMOS5
0,NMOS51,NPN53,PNPトランジスタ(以下PNPと略す)54
から成る。入力55が“0"レベルの時、PMOS50はオンとな
りNMOS51はオフとなる。したがってNPN53とPNP54のベー
ス電位が上昇し、NPN53はオンとなりPNP54はオフとな
り、出力56は“1"レベルとなる。入力55が“1"レベルの
時、PMOS50はオフとなりNMOS51はオンとなる。したがっ
てNPN53とPNP54のベース電位が低下し、NPN53はオフと
なりPNP54はオンとなり、出力56は“0"レベルとなる。
ために、第1の従来技術として、第3図に示すようなイ
ンバータ回路が知られている。このインバータはPMOS5
0,NMOS51,NPN53,PNPトランジスタ(以下PNPと略す)54
から成る。入力55が“0"レベルの時、PMOS50はオンとな
りNMOS51はオフとなる。したがってNPN53とPNP54のベー
ス電位が上昇し、NPN53はオンとなりPNP54はオフとな
り、出力56は“1"レベルとなる。入力55が“1"レベルの
時、PMOS50はオフとなりNMOS51はオンとなる。したがっ
てNPN53とPNP54のベース電位が低下し、NPN53はオフと
なりPNP54はオンとなり、出力56は“0"レベルとなる。
また、第2の従来技術によると、IEEE Trans.Electron
Devices,Vol.ED−16,No.11,Nov.1969,p945〜951のFig.8
には、第10図に示すようなインバータ回路が記載されて
いる。
Devices,Vol.ED−16,No.11,Nov.1969,p945〜951のFig.8
には、第10図に示すようなインバータ回路が記載されて
いる。
さらに、第3の従来技術として、上記文献のFig.10に
は、第11図に示すようなインバータ回路が記載されてい
る。第11図のインバータ回路は、第10図のインバータ回
路に、NMOSトランジスタ403及びPMOSトランジスタ404を
設けた構成となっている。
は、第11図に示すようなインバータ回路が記載されてい
る。第11図のインバータ回路は、第10図のインバータ回
路に、NMOSトランジスタ403及びPMOSトランジスタ404を
設けた構成となっている。
また、第4の従来技術として、米国特許第4,301,383号
には、第12図に示すようなバッファ回路が記載されてい
る。
には、第12図に示すようなバッファ回路が記載されてい
る。
(発明が解決しようとする課題) しかし、上記第1の従来技術によると、バイポーラトラ
ンジスタの1つにPNP54を用いているため、出力信号56
の立下りが遅くなるという欠点があった。これは、PNP
はNPNよりも、電流増幅率等の性能が落ちるためであ
る。
ンジスタの1つにPNP54を用いているため、出力信号56
の立下りが遅くなるという欠点があった。これは、PNP
はNPNよりも、電流増幅率等の性能が落ちるためであ
る。
上記第2の従来技術に記載されたインバータ回路では、
第1及び第2のNPN501,502がオフになるとき、ベースに
蓄積した寄生電荷を強制的に抜き取る手段が無いため、
該NPN501,502がオフに切り替わる時間が長くなる。その
ため、第1,第2のNPN501,502がともにオンとなる状態が
長く続き、消費電力が増加するだけでなく、スイッチン
グ時間も遅くなる。
第1及び第2のNPN501,502がオフになるとき、ベースに
蓄積した寄生電荷を強制的に抜き取る手段が無いため、
該NPN501,502がオフに切り替わる時間が長くなる。その
ため、第1,第2のNPN501,502がともにオンとなる状態が
長く続き、消費電力が増加するだけでなく、スイッチン
グ時間も遅くなる。
上記第3の従来技術によると、NMOS403は第1のNPN501
がオンからオフになるとき、ベースに蓄積した寄生電荷
を強制的に抜き取る手段であり、PMOS404は第2のNPN50
2がオンからオフになるとき、ベースに蓄積した寄生電
荷を強制的に抜き取る手段であり、これらによって、第
10図のインバータ回路よりは、若干、高速性が得られる
が、NMOS403とPMOS404のゲートがともに入力INに接続さ
れるので入力容量が大きくなり、回路の高速性が得られ
ないという問題がある。また、PMOSトランジスタ404
は、入力レベルが“0"でオン状態になるが、このときの
PMOS404のゲート・ソース間の電位は、第2のNPN502のI
VBE(例えば、Siの場合は約0.7V)のみであるので、PMO
S404のドレイン電流IDは殆ど流れず、第2のNPN502のベ
ースに蓄積した電荷は、放電されず、回路の高速性が得
られないという問題も有する。
がオンからオフになるとき、ベースに蓄積した寄生電荷
を強制的に抜き取る手段であり、PMOS404は第2のNPN50
2がオンからオフになるとき、ベースに蓄積した寄生電
荷を強制的に抜き取る手段であり、これらによって、第
10図のインバータ回路よりは、若干、高速性が得られる
が、NMOS403とPMOS404のゲートがともに入力INに接続さ
れるので入力容量が大きくなり、回路の高速性が得られ
ないという問題がある。また、PMOSトランジスタ404
は、入力レベルが“0"でオン状態になるが、このときの
PMOS404のゲート・ソース間の電位は、第2のNPN502のI
VBE(例えば、Siの場合は約0.7V)のみであるので、PMO
S404のドレイン電流IDは殆ど流れず、第2のNPN502のベ
ースに蓄積した電荷は、放電されず、回路の高速性が得
られないという問題も有する。
上記第4の従来技術には、PMOS601,603,605,NMOS602,60
4,NPN701,702で構成される回路があるが、PMOS601,NMOS
602で構成される第1のインバータ回路の後段に、PMOS6
03,NMOS604で構成される第2のインバータ回路があり、
NPN702は2段のインバータ回路を介して駆動されること
になり、遅延が生じて、回路全体としての高速性が得ら
れないという問題点を有する。
4,NPN701,702で構成される回路があるが、PMOS601,NMOS
602で構成される第1のインバータ回路の後段に、PMOS6
03,NMOS604で構成される第2のインバータ回路があり、
NPN702は2段のインバータ回路を介して駆動されること
になり、遅延が生じて、回路全体としての高速性が得ら
れないという問題点を有する。
本発明の目的は、以上述べてきたCMOS回路,バイポーラ
トランジスタ回路の欠点を補い、CMOSトランジスタ及び
バイポーラトランジスタからなる高速で低消費電力の半
導体集積回路装置を提供するにある。
トランジスタ回路の欠点を補い、CMOSトランジスタ及び
バイポーラトランジスタからなる高速で低消費電力の半
導体集積回路装置を提供するにある。
(課題を解決するための手段) 本発明は、CMOS回路の低消費電力特性及びバイポーラ回
路の高スピード特性に着目し、両ゲートを組合せた複合
回路により高速で低消費電力の回路を得ようとするもの
である。
路の高スピード特性に着目し、両ゲートを組合せた複合
回路により高速で低消費電力の回路を得ようとするもの
である。
上記目的を達成するために、本発明は、一方導電型のコ
レクタと他方導電型のベースと一方導電型のエミッタと
を有し、コレクタが第1の電源端子に接続され、エミッ
タが出力端子に接続されている第1のバイポーラトラン
ジスタと、一方導電型のコレクタと他方導電型のベース
と一方導電型のエミッタとを有し、コレクタが上記出力
端子に接続され、エミッタが第2の電源端子に接続され
ている第2のバイポーラトランジスタと、少なくとも1
つの入力端子に印加される入力信号に応答して、上記第
1の電源端子から上記第1のバイポーラトランジスタの
ベースへの電流路を形成する少なくとも1つの他方導電
型電界効果トランジスタと、上記入力端子に印加される
上記入力信号に応答して、上記出力端子から上記第2の
バイポーラトランジスタのベースへの電流路を形成する
少なくとも1つの第1の一方導電型電界効果トランジス
タと、上記入力端子に印加される上記入力信号に応答し
て、上記第1のバイポーラトランジスタのベースから蓄
積電荷を引き抜く、少なくとも1つの第2の一方導電型
電界効果トランジスタと、上記第1のバイポーラトラン
ジスタのベース信号に応答して、上記第2のバイポーラ
トランジスタのベースから蓄積電荷を引き抜く第3の一
方導電型電界効果トランジスタを具備することを特徴と
する。
レクタと他方導電型のベースと一方導電型のエミッタと
を有し、コレクタが第1の電源端子に接続され、エミッ
タが出力端子に接続されている第1のバイポーラトラン
ジスタと、一方導電型のコレクタと他方導電型のベース
と一方導電型のエミッタとを有し、コレクタが上記出力
端子に接続され、エミッタが第2の電源端子に接続され
ている第2のバイポーラトランジスタと、少なくとも1
つの入力端子に印加される入力信号に応答して、上記第
1の電源端子から上記第1のバイポーラトランジスタの
ベースへの電流路を形成する少なくとも1つの他方導電
型電界効果トランジスタと、上記入力端子に印加される
上記入力信号に応答して、上記出力端子から上記第2の
バイポーラトランジスタのベースへの電流路を形成する
少なくとも1つの第1の一方導電型電界効果トランジス
タと、上記入力端子に印加される上記入力信号に応答し
て、上記第1のバイポーラトランジスタのベースから蓄
積電荷を引き抜く、少なくとも1つの第2の一方導電型
電界効果トランジスタと、上記第1のバイポーラトラン
ジスタのベース信号に応答して、上記第2のバイポーラ
トランジスタのベースから蓄積電荷を引き抜く第3の一
方導電型電界効果トランジスタを具備することを特徴と
する。
(作用) つまり、TTLゲートで行われているような2個のNPNトラ
ンジスタを電源端子と接地端子間に直列接続したいわゆ
るトーテムポート型出力段とCMOS回路からなる論理回
路,バイポーラトランジスタを駆動する回路から成り、
該駆動回路の相補出力を該出力段のバイポーラトランジ
スタのベースに供給することにより、高入力インピーダ
ンス,低出力インピーダンス回路を実現する。この場
合、MOSトランジスタとNPNトランジスタはダーリントン
接続され、大きな伝達コンダクタンスを得ることができ
る。
ンジスタを電源端子と接地端子間に直列接続したいわゆ
るトーテムポート型出力段とCMOS回路からなる論理回
路,バイポーラトランジスタを駆動する回路から成り、
該駆動回路の相補出力を該出力段のバイポーラトランジ
スタのベースに供給することにより、高入力インピーダ
ンス,低出力インピーダンス回路を実現する。この場
合、MOSトランジスタとNPNトランジスタはダーリントン
接続され、大きな伝達コンダクタンスを得ることができ
る。
(実施例) 以下、本発明を詳細な説明する。
第4図には、トーテムポール出力形インバータ回路を示
す。
す。
第4図に於いて、14は、コレクタが電源端子1に、エミ
ッタが出力端子17に接続される第1のNPNバイポーラト
ランジスタ(以下単に第1のNPNと称す)、15は、コレ
クタが出力端子17に、エミッタが接地電位GNDである固
定電位端子に接続される第2のNPNバイポーラトランジ
スタ(以下単に第2のNPNと称す)、10は、ゲートが入
力端子16に、ソース及びドレインがそれぞれ第1のNPN
のコレクタとベースとに接続されるP型絶縁ゲート電界
効果トランジスタ(以下単にPMOSと称す)、11は、ゲー
トが入力端子16に、ドレイン及びソースが第2のNPNの
コレクタとベースとに接続されるN型絶縁ゲート電界効
果トランジスタ(以下単にNMOSと称す)、12及び13は、
第1,第2のNPNのベースとエミッタとの間に設けられる
抵抗である。
ッタが出力端子17に接続される第1のNPNバイポーラト
ランジスタ(以下単に第1のNPNと称す)、15は、コレ
クタが出力端子17に、エミッタが接地電位GNDである固
定電位端子に接続される第2のNPNバイポーラトランジ
スタ(以下単に第2のNPNと称す)、10は、ゲートが入
力端子16に、ソース及びドレインがそれぞれ第1のNPN
のコレクタとベースとに接続されるP型絶縁ゲート電界
効果トランジスタ(以下単にPMOSと称す)、11は、ゲー
トが入力端子16に、ドレイン及びソースが第2のNPNの
コレクタとベースとに接続されるN型絶縁ゲート電界効
果トランジスタ(以下単にNMOSと称す)、12及び13は、
第1,第2のNPNのベースとエミッタとの間に設けられる
抵抗である。
表1は本回路の論理動作を示すものである。
入力16が“0"レベルの時、PMOS10がオンとなりNMOS11が
オフとなる。したがって第1のNPN14のベース電位が上
昇し、第1のNPN14はオンとなり、第2のNPN15は抵抗13
を介してベース,エミッタ間が短絡されオフとなるの
で、第1のNPN14のエミッタ電流は負荷を充電し出力端
子17は“1"レベルとなる。入力16が“1"レベルの時、PM
OS10がオフとなりNMOS11がオンとなる。したがって第1
のNPN14のベース,エミッタ間は抵抗12を介して短絡さ
れ第1のNPN14はオフとなり、第2のNPN15のベース,コ
レクタ」間はNMOS11を介して短絡されるので、第2のNP
N15のベースには出力端子17から電流が供給され、第2
のNPN15はオンとなり、出力端子17は“0"レベルとな
る。抵抗12,13はNPNトランジスタがオンの時には、ベー
ス電流を分流するが、NPNトランジスタがオフに切換わ
った時に蓄積電荷を引き抜く働きをする。
オフとなる。したがって第1のNPN14のベース電位が上
昇し、第1のNPN14はオンとなり、第2のNPN15は抵抗13
を介してベース,エミッタ間が短絡されオフとなるの
で、第1のNPN14のエミッタ電流は負荷を充電し出力端
子17は“1"レベルとなる。入力16が“1"レベルの時、PM
OS10がオフとなりNMOS11がオンとなる。したがって第1
のNPN14のベース,エミッタ間は抵抗12を介して短絡さ
れ第1のNPN14はオフとなり、第2のNPN15のベース,コ
レクタ」間はNMOS11を介して短絡されるので、第2のNP
N15のベースには出力端子17から電流が供給され、第2
のNPN15はオンとなり、出力端子17は“0"レベルとな
る。抵抗12,13はNPNトランジスタがオンの時には、ベー
ス電流を分流するが、NPNトランジスタがオフに切換わ
った時に蓄積電荷を引き抜く働きをする。
本回路によれば、CMOSと、バイポーラトランジスタの最
小構成でインバータ回路が実現できる。
小構成でインバータ回路が実現できる。
また、本回路によれば、電流増幅率が低いPNPバイポー
ラトランジスタを使用していないので、出力信号の立下
りが遅くなることはなくなり、高速動作可能である。
ラトランジスタを使用していないので、出力信号の立下
りが遅くなることはなくなり、高速動作可能である。
第5図はトーテムポール出力形インバータ回路の他の回
路を示す。
路を示す。
第4図の回路に於ける抵抗12を第2のN型絶縁ゲート電
界効果トランジスタ(以下単に第2のNMOSと称す)90に
置き換えた回路である。第2のNMOS90のゲートは入力端
子16に、ドレイン及びソースはそれぞれ第1のNPN14の
ベースと第2のNPN15のベースとに接続される。第4図
と同じ部品は同じ番号で示す。この回路は第4図の回路
とほぼ同じ動作である。
界効果トランジスタ(以下単に第2のNMOSと称す)90に
置き換えた回路である。第2のNMOS90のゲートは入力端
子16に、ドレイン及びソースはそれぞれ第1のNPN14の
ベースと第2のNPN15のベースとに接続される。第4図
と同じ部品は同じ番号で示す。この回路は第4図の回路
とほぼ同じ動作である。
第4図の回路と異なる点は第1のNPN14がオフになる
時、即ち入力16が“1"レベルの時、第2のNMOS90がオン
になり、第1のNPN14の蓄積電荷を引き抜く点である。
第4図は抵抗12がこの働きをしているが、本回路では第
2のNMOS90のソースを第2のNPN15のベースに接続する
ことにより、さらにベース電流を増加させて第2のNPN1
5がオンになるのを速めている。
時、即ち入力16が“1"レベルの時、第2のNMOS90がオン
になり、第1のNPN14の蓄積電荷を引き抜く点である。
第4図は抵抗12がこの働きをしているが、本回路では第
2のNMOS90のソースを第2のNPN15のベースに接続する
ことにより、さらにベース電流を増加させて第2のNPN1
5がオンになるのを速めている。
本回路によれば、抵抗12を第2のNMOS90で置換したこと
によって集積度の向上を図れ、さらに、第2のNMOS90の
ソースを第2のNPN15のベースに接続することにより、
高速化が達成できる。
によって集積度の向上を図れ、さらに、第2のNMOS90の
ソースを第2のNPN15のベースに接続することにより、
高速化が達成できる。
(実施例1) 第6図は、トーテムポール出力形インバータ回路の本発
明の一実施例を示す。
明の一実施例を示す。
本実施例は第5図に示す回路に於ける抵抗13を第3のN
型絶縁ゲート電界効果トランジスタ(以下単に第3のNM
OSと称す)110に置換した例であり、第4図及び第5図
と同じ部品は同じ番号で示す。第3のNMOS110のゲート
は第1のNPN14のベースに、ドレイン及びソースはそれ
ぞれ第2のNPN15のベースとエミッタとに接続される。
型絶縁ゲート電界効果トランジスタ(以下単に第3のNM
OSと称す)110に置換した例であり、第4図及び第5図
と同じ部品は同じ番号で示す。第3のNMOS110のゲート
は第1のNPN14のベースに、ドレイン及びソースはそれ
ぞれ第2のNPN15のベースとエミッタとに接続される。
第5図の回路と異なる点は第2のNPN15がオフになる
時、即ち入力16が“0"レベルの時、第2のNPN15の蓄積
電荷を第3のNMOS110を介して引き抜く点である。入力1
6が“0"レベルの時には第1のNPN14の高いベース電位が
第3のNMOS110のゲートに加わり第3のNMOS110がオンと
なり、第2のNPN15のベース,エミッタ間を短絡するの
である。
時、即ち入力16が“0"レベルの時、第2のNPN15の蓄積
電荷を第3のNMOS110を介して引き抜く点である。入力1
6が“0"レベルの時には第1のNPN14の高いベース電位が
第3のNMOS110のゲートに加わり第3のNMOS110がオンと
なり、第2のNPN15のベース,エミッタ間を短絡するの
である。
本実施例によれば、抵抗を使用しないので、更に高集積
化ができる効果がある。
化ができる効果がある。
第6図ではインバータ回路について説明したが、多入力
NAND回路や多入力NOR回路やラッチ回路等への適用も同
様に可能である。
NAND回路や多入力NOR回路やラッチ回路等への適用も同
様に可能である。
第7図は出力部に第4図に示したトーテムポール出力形
インバータを採用したラッチを示す。
インバータを採用したラッチを示す。
第7図に於いて、42はラッチパルス401の反転を作るCMO
Sインバータ、40はデータ入力400を伝達するトランスフ
ァゲート、43は記憶部を構成するCMOSインバータ、41は
トランスファゲートであり、第4図と同一符号は同一物
及び相当物を示す。
Sインバータ、40はデータ入力400を伝達するトランスフ
ァゲート、43は記憶部を構成するCMOSインバータ、41は
トランスファゲートであり、第4図と同一符号は同一物
及び相当物を示す。
データ入力400をラッチする際にはラッチパルス401を
“1"にする。するとトランスファゲート40は、オンとな
りトランスファゲート41はオフとなりデータを組込まれ
る。その後ラッチパルス401を“0"にするとトランスフ
ァゲート40はオフとなり、トランスファゲート41はオン
となる。したがってインバータ43,トーテムポール出力
形インバータ及びトランスファゲート41でデータを保持
する。
“1"にする。するとトランスファゲート40は、オンとな
りトランスファゲート41はオフとなりデータを組込まれ
る。その後ラッチパルス401を“0"にするとトランスフ
ァゲート40はオフとなり、トランスファゲート41はオン
となる。したがってインバータ43,トーテムポール出力
形インバータ及びトランスファゲート41でデータを保持
する。
本回路によればCMOS駆動段とバイポーラ出力段2段の最
小構成のラッチ回路が実現でき、高速,低消費電力及び
高集積のLSI化が可能である。
小構成のラッチ回路が実現でき、高速,低消費電力及び
高集積のLSI化が可能である。
(実施例2) 第7図では、CMOS複合回路として第4図の回路を用いた
が、本発明の実施例の第6図の回路を用いても良い。本
実施例によれば抵抗を使用しないので更に高集積化でき
る効果がある。
が、本発明の実施例の第6図の回路を用いても良い。本
実施例によれば抵抗を使用しないので更に高集積化でき
る効果がある。
以上、LSIに使用する論理回路について説明してきた
が、LSIの出力を外部へ出す出力回路についても本発明
は適用できる。その実施例を第9図に示す。この例はイ
ンバータ回路であるが、多入力NAND回路や多入力NOR回
路への適用も同様に可能である。以下に説明する。
が、LSIの出力を外部へ出す出力回路についても本発明
は適用できる。その実施例を第9図に示す。この例はイ
ンバータ回路であるが、多入力NAND回路や多入力NOR回
路への適用も同様に可能である。以下に説明する。
第8図は第5図とほぼ同じ構成で、同様な動作をする。
第8図に於いて、第5図と同一符号は同一物及び相当物
を示し、125は第5図等の第1のNPNのベースとコレクタ
との間にショットキーバリヤダイオードを設けたもの、
126は第2のNPNのベースとコレクタとの間にショットキ
ーバリヤダイオードを設けたもの、123はゲートが入力
端子16に、ドレイン及びソースがそれぞれ電源端子1と
第2のNPN126のベースとに接続される第4のN型電界効
果トランジスタ(以下単に第4のNMOSと称す)である。
を示し、125は第5図等の第1のNPNのベースとコレクタ
との間にショットキーバリヤダイオードを設けたもの、
126は第2のNPNのベースとコレクタとの間にショットキ
ーバリヤダイオードを設けたもの、123はゲートが入力
端子16に、ドレイン及びソースがそれぞれ電源端子1と
第2のNPN126のベースとに接続される第4のN型電界効
果トランジスタ(以下単に第4のNMOSと称す)である。
第5図と異なる第1点はNPN125と126をショットキーバ
リヤダイオード付にしたことである。これはNPNトラン
ジスタが飽和することによって発生する蓄積電荷を引き
抜く時間を短縮するためである。
リヤダイオード付にしたことである。これはNPNトラン
ジスタが飽和することによって発生する蓄積電荷を引き
抜く時間を短縮するためである。
異なる第2点は第4のNMOS123を電源と第2のNPN126の
ベース間に設置し、ゲートを入力16と接続することであ
る。
ベース間に設置し、ゲートを入力16と接続することであ
る。
これは、出力回路の場合、出力ロウレベルの電圧VOLで
シンク電流IOLを流し込む必要があるので、入力16が
“1"レベルの時、第2のNPN126のベースに電流を流し続
けておく必要があるためである。
シンク電流IOLを流し込む必要があるので、入力16が
“1"レベルの時、第2のNPN126のベースに電流を流し続
けておく必要があるためである。
本回路によれば、高速,低消費電力の出力回路を実現す
ることができる。
ることができる。
(実施例3) 第9図は第6図とほぼ同じ構成及び動作である。第9図
に於いて、第6図及び第8図と同一符号は同一物及び相
当物を示し、第8図の抵抗13を第3のNOMS110に置換し
たものである。第6図と異なる点は第8図と同様に、第
1及び第2のNPN125,126をシャットキーバリヤダイオー
ド付きにした事と、第2のNPN126のベース電流供給用の
第4のNMOS123を設置したことである。本実施例によれ
ば、更に高集積の出力回路を実現することができる。
に於いて、第6図及び第8図と同一符号は同一物及び相
当物を示し、第8図の抵抗13を第3のNOMS110に置換し
たものである。第6図と異なる点は第8図と同様に、第
1及び第2のNPN125,126をシャットキーバリヤダイオー
ド付きにした事と、第2のNPN126のベース電流供給用の
第4のNMOS123を設置したことである。本実施例によれ
ば、更に高集積の出力回路を実現することができる。
(発明の効果) 以上述べた様に本発明によれば、バイポーラトランジス
タの回路の高駆動能力とCMOS回路の低消費電力特性を兼
ね備えた回路を最小段数で構成し、高速,低消費電力の
半導体集積回路装置を得ることができる。
タの回路の高駆動能力とCMOS回路の低消費電力特性を兼
ね備えた回路を最小段数で構成し、高速,低消費電力の
半導体集積回路装置を得ることができる。
第1図は従来のCMOS回路図、第2図は従来のTTL回路
図、第3図は従来例であるインバータ回路図、第4図は
インバータ回路、第5図はインバータ回路、第6図は本
発明の第1の実施例であるインバータ回路、第7図はラ
ッチ回路、第8図は反転出力回路、第9図は本発明の第
3の実施例である反転出力回路である。第10図,第11図
及び第12図は、従来例のインバータ回路図である。 14,15……NPNトランジスタ、10……PMOSトランジスタ、
11,90,110,123……NMOSトランジスタ、12,13……抵抗、
125,126……ショットキーバリヤダイオード付NPNトラン
ジスタ。
図、第3図は従来例であるインバータ回路図、第4図は
インバータ回路、第5図はインバータ回路、第6図は本
発明の第1の実施例であるインバータ回路、第7図はラ
ッチ回路、第8図は反転出力回路、第9図は本発明の第
3の実施例である反転出力回路である。第10図,第11図
及び第12図は、従来例のインバータ回路図である。 14,15……NPNトランジスタ、10……PMOSトランジスタ、
11,90,110,123……NMOSトランジスタ、12,13……抵抗、
125,126……ショットキーバリヤダイオード付NPNトラン
ジスタ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西尾 洋二 茨城県日立市幸町3丁目1番1号 株式会 社日立製作所日立研究所内 (72)発明者 久保木 茂雄 茨城県日立市幸町3丁目1番1号 株式会 社日立製作所日立研究所内 (72)発明者 岩村 将弘 茨城県日立市幸町3丁目1番1号 株式会 社日立製作所日立研究所内 (56)参考文献 特開 昭56−93428(JP,A) IEEE Transactions on Electron Device s,vol.ED−16,No.11.Nov ember1969,(Fig.10)
Claims (2)
- 【請求項1】一方導電型のコレクタと他方導電型のベー
スと一方導電型のエミッタとを有し、コレクタが第1の
電源端子に接続され、エミッタが出力端子に接続されて
いる第1のバイポーラトランジスタと、一方導電型のコ
レクタと他方導電型のベースと一方導電型のエミッタと
を有し、コレクタが上記出力端子に接続され、エミッタ
が第2の電源端子に接続されている第2のバイポーラト
ランジスタと、少なくとも1つの入力端子に印加される
入力信号に応答して、上記第1の電源端子から上記第1
のバイポーラトランジスタのベースへの電流路を形成す
る少なくとも1つの他方導電型電界効果トランジスタ
と、上記入力端子に印加される上記入力信号に応答し
て、上記出力端子から上記第2のバイポーラトランジス
タへのベースへの電流路を形成する少なくとも1つの第
1の一方導電型電界効果トランジスタと、上記入力端子
に印加される上記入力信号に応答して、上記第1のバイ
ポーラトランジスタのベースから蓄積電荷を引き抜く、
少なくとも1つの第2の一方導電型電界効果トランジス
タと、上記第1のバイポーラトランジスタのベース信号
に応答して、上記第2のバイポーラトランジスタのベー
スから蓄積電荷を引き抜く第3の一方導電型電界効果ト
ランジスタとを具備することを特徴とする半導体集積回
路装置。 - 【請求項2】特許請求の範囲第1項において、 上記入力信号を出力信号として上記入力端子に印加する
CMOS論理回路とを具備することを特徴とする半導体集積
回路装置。
Priority Applications (15)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57119815A JPH0783252B2 (ja) | 1982-07-12 | 1982-07-12 | 半導体集積回路装置 |
EP92122153A EP0543426A1 (en) | 1982-07-12 | 1983-07-11 | Gate circuit of combined field-effect and bipolar transistors |
DE8383106796T DE3378291D1 (en) | 1982-07-12 | 1983-07-11 | Gate circuit of combined field-effect and bipolar transistors |
EP87118836A EP0279943B1 (en) | 1982-07-12 | 1983-07-11 | Gate circuit of combined field-effect and bipolar transistors |
DE87118836T DE3382717T2 (de) | 1982-07-12 | 1983-07-11 | Torschaltung mit Feldeffekt- und Bipolartransistoren. |
EP83106796A EP0099100B1 (en) | 1982-07-12 | 1983-07-11 | Gate circuit of combined field-effect and bipolar transistors |
KR1019830003180A KR920004919B1 (ko) | 1982-07-12 | 1983-07-12 | 반도체 집적회로 장치 |
US07/045,216 US4719373A (en) | 1982-07-12 | 1987-04-30 | Gate circuit of combined field-effect and bipolar transistors |
US07/127,206 US5001366A (en) | 1982-07-12 | 1987-12-01 | Gate circuit of combined field-effect and bipolar transistors |
US07/127,183 US4829201A (en) | 1982-07-12 | 1987-12-01 | Gate circuit of combined field-effect and bipolar transistors |
US07/127,184 US4890017A (en) | 1982-07-12 | 1987-12-01 | CMOS-BiCMOS gate circuit |
KR1019920001299A KR920004923B1 (ko) | 1982-07-12 | 1992-01-29 | 반도체 집적회로장치 |
KR1019920001298A KR920004922B1 (ko) | 1982-07-12 | 1992-01-29 | 반도체 집적회로장치 |
US07/986,891 US5239212A (en) | 1982-07-12 | 1992-12-08 | Gate circuit of combined field-effect and bipolar transistors with an improved discharge arrangement |
US08/315,594 US5600268A (en) | 1982-07-12 | 1994-09-30 | Gate circuit of combined field-effect and bipolar transistors |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57119815A JPH0783252B2 (ja) | 1982-07-12 | 1982-07-12 | 半導体集積回路装置 |
Related Child Applications (5)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63195995A Division JPH0666676B2 (ja) | 1988-08-08 | 1988-08-08 | 半導体集積回路装置 |
JP63195996A Division JPH01125023A (ja) | 1988-08-08 | 1988-08-08 | 半導体集積回路装置 |
JP63195994A Division JPH0683057B2 (ja) | 1988-08-08 | 1988-08-08 | 半導体集積回路装置 |
JP4097672A Division JPH0752834B2 (ja) | 1992-04-17 | 1992-04-17 | 半導体集積回路装置 |
JP5061579A Division JPH0629830A (ja) | 1993-03-22 | 1993-03-22 | 半導体集積回路装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5911034A JPS5911034A (ja) | 1984-01-20 |
JPH0783252B2 true JPH0783252B2 (ja) | 1995-09-06 |
Family
ID=14770918
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57119815A Expired - Lifetime JPH0783252B2 (ja) | 1982-07-12 | 1982-07-12 | 半導体集積回路装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (4) | US4719373A (ja) |
EP (3) | EP0279943B1 (ja) |
JP (1) | JPH0783252B2 (ja) |
KR (1) | KR920004919B1 (ja) |
DE (2) | DE3382717T2 (ja) |
Families Citing this family (95)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0783252B2 (ja) * | 1982-07-12 | 1995-09-06 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積回路装置 |
US5239212A (en) * | 1982-07-12 | 1993-08-24 | Hitachi, Ltd. | Gate circuit of combined field-effect and bipolar transistors with an improved discharge arrangement |
JPS5994861A (ja) * | 1982-11-24 | 1984-05-31 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置及びその製造方法 |
KR910008521B1 (ko) * | 1983-01-31 | 1991-10-18 | 가부시기가이샤 히다찌세이사꾸쇼 | 반도체집적회로 |
JPH0669142B2 (ja) * | 1983-04-15 | 1994-08-31 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積回路装置 |
KR890004212B1 (en) * | 1983-07-08 | 1989-10-27 | Fujitsu Ltd | Complementary logic circuit |
JPH0693626B2 (ja) * | 1983-07-25 | 1994-11-16 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積回路装置 |
JPS60125015A (ja) * | 1983-12-12 | 1985-07-04 | Hitachi Ltd | インバ−タ回路 |
JPH0795395B2 (ja) * | 1984-02-13 | 1995-10-11 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積回路 |
EP0152939B1 (en) * | 1984-02-20 | 1993-07-28 | Hitachi, Ltd. | Arithmetic operation unit and arithmetic operation circuit |
JPS60177723A (ja) * | 1984-02-24 | 1985-09-11 | Hitachi Ltd | 出力回路 |
JPS60194615A (ja) * | 1984-03-16 | 1985-10-03 | Hitachi Ltd | 複合出力回路 |
JPH07107973B2 (ja) * | 1984-03-26 | 1995-11-15 | 株式会社日立製作所 | スイツチング回路 |
JPS613390A (ja) * | 1984-06-15 | 1986-01-09 | Hitachi Ltd | 記憶装置 |
US4616146A (en) * | 1984-09-04 | 1986-10-07 | Motorola, Inc. | BI-CMOS driver circuit |
JP2552107B2 (ja) * | 1985-01-14 | 1996-11-06 | 日本電信電話株式会社 | 同期式複合型集積回路装置 |
DE3650186T2 (de) * | 1985-01-30 | 1995-05-24 | Toshiba Kawasaki Kk | Halbleiteranordnung und Verfahren zu deren Herstellung. |
JPS61218143A (ja) * | 1985-03-25 | 1986-09-27 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
JPH06103837B2 (ja) * | 1985-03-29 | 1994-12-14 | 株式会社東芝 | トライステ−ト形出力回路 |
JPS61245625A (ja) * | 1985-04-24 | 1986-10-31 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
US4647794A (en) * | 1985-05-22 | 1987-03-03 | Teledyne Industries, Inc. | Solid state relay having non overlapping switch closures |
JPS625722A (ja) * | 1985-07-01 | 1987-01-12 | Toshiba Corp | インバ−タ回路 |
JPS6242614A (ja) * | 1985-08-20 | 1987-02-24 | Fujitsu Ltd | 複合トランジスタ形インバ−タ |
US4612458A (en) * | 1985-08-28 | 1986-09-16 | Advanced Micro Devices, Inc. | Merged PMOS/bipolar logic circuits |
JPS62114326A (ja) * | 1985-11-13 | 1987-05-26 | Nec Corp | 論理回路 |
US4678940A (en) * | 1986-01-08 | 1987-07-07 | Advanced Micro Devices, Inc. | TTL compatible merged bipolar/CMOS output buffer circuits |
US4649294A (en) * | 1986-01-13 | 1987-03-10 | Motorola, Inc. | BIMOS logic gate |
JPS62221219A (ja) * | 1986-03-22 | 1987-09-29 | Toshiba Corp | 論理回路 |
US4701642A (en) * | 1986-04-28 | 1987-10-20 | International Business Machines Corporation | BICMOS binary logic circuits |
US4682054A (en) * | 1986-06-27 | 1987-07-21 | Motorola, Inc. | BICMOS driver with output voltage swing enhancement |
JPS6342216A (ja) * | 1986-08-08 | 1988-02-23 | Hitachi Ltd | バイポ−ラトランジスタと電界効果トランジスタとを含む複合回路 |
JPS6382122A (ja) * | 1986-09-26 | 1988-04-12 | Toshiba Corp | 論理回路 |
JPS63164612A (ja) * | 1986-12-26 | 1988-07-08 | Hitachi Ltd | 演算回路 |
JPS63209220A (ja) * | 1987-02-26 | 1988-08-30 | Toshiba Corp | インバ−タ回路 |
US4746817A (en) * | 1987-03-16 | 1988-05-24 | International Business Machines Corporation | BIFET logic circuit |
JPH0611111B2 (ja) * | 1987-03-27 | 1994-02-09 | 株式会社東芝 | BiMOS論理回路 |
JPS6468021A (en) * | 1987-09-08 | 1989-03-14 | Mitsubishi Electric Corp | Logic circuit |
KR900001062B1 (ko) * | 1987-09-15 | 1990-02-26 | 강진구 | 반도체 바이 씨 모오스 장치의 제조방법 |
JPH0611112B2 (ja) * | 1987-11-28 | 1994-02-09 | 株式会社東芝 | 出力回路 |
JP2550138B2 (ja) * | 1988-03-18 | 1996-11-06 | 株式会社日立製作所 | バイポーラトランジスタと電界効果トランジスタとを有する半導体集積回路装置 |
US5187615A (en) * | 1988-03-30 | 1993-02-16 | Hitachi, Ltd. | Data separator and signal processing circuit |
KR920009870B1 (ko) * | 1988-04-21 | 1992-11-02 | 삼성반도체통신 주식회사 | Bi-CMOS 인버터 회로 |
JPH0239719A (ja) * | 1988-07-29 | 1990-02-08 | Fujitsu Ltd | 半導体回路 |
US5068553A (en) * | 1988-10-31 | 1991-11-26 | Texas Instruments Incorporated | Delay stage with reduced Vdd dependence |
JPH02143711A (ja) * | 1988-11-25 | 1990-06-01 | Nec Corp | トランジスタ回路 |
US4980578A (en) * | 1988-12-20 | 1990-12-25 | Texas Instruments Incorporated | Fast sense amplifier |
US4897564A (en) * | 1988-12-27 | 1990-01-30 | International Business Machines Corp. | BICMOS driver circuit for high density CMOS logic circuits |
US4965470A (en) * | 1989-01-30 | 1990-10-23 | Samsung Electronics Co., Ltd. | High integrated Bi-CMOS logic circuit |
JPH0736507B2 (ja) * | 1989-02-02 | 1995-04-19 | 株式会社東芝 | 半導体論理回路 |
JPH02305220A (ja) * | 1989-05-19 | 1990-12-18 | Fujitsu Ltd | Bi―cmos回路 |
US5138195A (en) * | 1989-05-19 | 1992-08-11 | Fujitsu Limited | Bi-CMOS logic circuit having full voltage swing and rapid turn-off |
DE59008826D1 (de) * | 1989-06-19 | 1995-05-11 | Heimann Optoelectronics Gmbh | Schaltungsanordnung zur Ansteuerung von Schaltelementen, die insbesondere geeignet ist für Flüssigkristallbildschirme. |
US5107141A (en) * | 1989-11-01 | 1992-04-21 | Hitachi, Ltd. | BiCMOS logic circuit using 0.5 micron technology and having an operating potential difference of less than 4 volts |
JP2820980B2 (ja) * | 1989-11-02 | 1998-11-05 | 富士通株式会社 | 論理回路 |
US4999523A (en) * | 1989-12-05 | 1991-03-12 | Hewlett-Packard Company | BICMOS logic gate with higher pull-up voltage |
KR920010212B1 (ko) * | 1989-12-29 | 1992-11-21 | 삼성전자 주식회사 | 바이씨모스 ttl레벨 출력구동회로 |
JP2546904B2 (ja) * | 1990-01-31 | 1996-10-23 | 三菱電機株式会社 | 半導体論理回路 |
JPH03231455A (ja) * | 1990-02-07 | 1991-10-15 | Toshiba Corp | 半導体集積回路 |
US5182472A (en) * | 1990-02-08 | 1993-01-26 | Nec Corporation | Logic circuit with bipolar CMOS configuration |
US5121013A (en) * | 1990-02-12 | 1992-06-09 | Advanced Micro Devices, Inc. | Noise reducing output buffer circuit with feedback path |
JP2661318B2 (ja) * | 1990-03-27 | 1997-10-08 | 日本電気株式会社 | 半導体装置 |
JPH043619A (ja) * | 1990-04-20 | 1992-01-08 | Toshiba Corp | 半導体集積回路 |
JP2623918B2 (ja) * | 1990-06-04 | 1997-06-25 | 日本電気株式会社 | 出力バッファ回路 |
JPH0440014A (ja) * | 1990-06-05 | 1992-02-10 | Mitsubishi Electric Corp | 論理回路装置 |
US5241221A (en) * | 1990-07-06 | 1993-08-31 | North American Philips Corp., Signetics Div. | CMOS driver circuit having reduced switching noise |
US5111076A (en) * | 1990-09-05 | 1992-05-05 | Min Ming Tarng | Digital superbuffer |
JP3028840B2 (ja) * | 1990-09-19 | 2000-04-04 | 株式会社日立製作所 | バイポーラトランジスタとmosトランジスタの複合回路、及びそれを用いた半導体集積回路装置 |
JP2607394B2 (ja) * | 1990-11-01 | 1997-05-07 | 株式会社日立製作所 | 非反転バッファ装置および半導体記憶装置 |
EP0488806B1 (en) * | 1990-11-30 | 1996-09-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Ink jet recording head and driving circuit therefor |
US5153464A (en) * | 1990-12-14 | 1992-10-06 | Hewlett-Packard Company | Bicmos tri-state output buffer |
US5128562A (en) * | 1990-12-19 | 1992-07-07 | North American Philips Corporation, Signetics Division | Memory element with high metastability-immunity |
JPH0697804A (ja) * | 1991-01-08 | 1994-04-08 | Nec Corp | 論理回路 |
JP3079515B2 (ja) * | 1991-01-29 | 2000-08-21 | 株式会社東芝 | ゲ−トアレイ装置及び入力回路及び出力回路及び降圧回路 |
US5132567A (en) * | 1991-04-18 | 1992-07-21 | International Business Machines Corporation | Low threshold BiCMOS circuit |
US5191240A (en) * | 1991-06-05 | 1993-03-02 | International Business Machines Corporation | Bicmos driver circuits with improved low output level |
US5118972A (en) * | 1991-06-13 | 1992-06-02 | International Business Machines Corporation | BiCMOS gate pull-down circuit |
US5166544A (en) * | 1991-09-18 | 1992-11-24 | Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. | Pseudo Darlington driver acts as Darlington during output slew, but has only 1 VBE drop when fully turned on |
US5994755A (en) * | 1991-10-30 | 1999-11-30 | Intersil Corporation | Analog-to-digital converter and method of fabrication |
US5369309A (en) * | 1991-10-30 | 1994-11-29 | Harris Corporation | Analog-to-digital converter and method of fabrication |
US5243237A (en) * | 1992-01-22 | 1993-09-07 | Samsung Semiconductor, Inc. | Noninverting bi-cmos gates with propagation delays of a single bi-cmos inverter |
EP0565807A1 (en) * | 1992-04-17 | 1993-10-20 | STMicroelectronics S.r.l. | MOS power transistor device |
US5376816A (en) * | 1992-06-24 | 1994-12-27 | Nec Corporation | Bi-cmos integrated circuit device having buried region use in common for bipolar and mos transistors |
AT404078B (de) * | 1992-09-17 | 1998-08-25 | Austria Mikrosysteme Int | Integrierte bicmos-schaltungsanordnung |
JP2937652B2 (ja) * | 1992-10-01 | 1999-08-23 | 日本電気株式会社 | BiMIS論理回路 |
US5355030A (en) * | 1992-12-04 | 1994-10-11 | International Business Machines Corporation | Low voltage BICMOS logic switching circuit |
US5430408A (en) * | 1993-03-08 | 1995-07-04 | Texas Instruments Incorporated | Transmission gate circuit |
US5886542A (en) * | 1993-08-18 | 1999-03-23 | Texas Instruments Incorporated | Quasi-complementary BiCMOS circuit with enhanced pull down transistor clamp |
JP2699823B2 (ja) * | 1993-09-24 | 1998-01-19 | 日本電気株式会社 | 半導体集積回路 |
JP2727952B2 (ja) * | 1994-02-14 | 1998-03-18 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積回路装置 |
US5576654A (en) * | 1995-05-16 | 1996-11-19 | Harris Corporation | BIMOS driver circuit and method |
JP2600635B2 (ja) * | 1995-07-10 | 1997-04-16 | 株式会社日立製作所 | 3ステート回路 |
JP2800734B2 (ja) * | 1995-09-06 | 1998-09-21 | 日本電気株式会社 | 半導体集積回路 |
US20040003828A1 (en) * | 2002-03-21 | 2004-01-08 | Jackson David P. | Precision surface treatments using dense fluids and a plasma |
CN100442516C (zh) | 2002-11-29 | 2008-12-10 | 株式会社东芝 | 半导体集成电路装置及使用它的电子卡 |
US7656224B2 (en) * | 2005-03-16 | 2010-02-02 | Texas Instruments Incorporated | Power efficient dynamically biased buffer for low drop out regulators |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US425877A (en) * | 1890-04-15 | Process of carbureting air or gas | ||
US3370995A (en) * | 1965-08-02 | 1968-02-27 | Texas Instruments Inc | Method for fabricating electrically isolated semiconductor devices in integrated circuits |
USRE27804E (en) * | 1967-02-28 | 1973-10-30 | Transistor-transistor logic circuits having improved voltage transfer characteristics | |
US3541353A (en) * | 1967-09-13 | 1970-11-17 | Motorola Inc | Mosfet digital gate |
DE2148891A1 (de) * | 1971-09-30 | 1973-04-05 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung zum umschalten der stromrichtung in einem verbraucher |
BE793033A (fr) * | 1971-12-22 | 1973-04-16 | Owens Illinois Inc | Generateur de tension d'entretien a verrouillage de baker pour panneauxd'indication a decharges pulsees |
US3831102A (en) * | 1973-03-09 | 1974-08-20 | Rauland Corp | Push-pull audio amplifier |
US3930169A (en) * | 1973-09-27 | 1975-12-30 | Motorola Inc | Cmos odd multiple repetition rate divider circuit |
US3867644A (en) * | 1974-01-07 | 1975-02-18 | Signetics Corp | High speed low power schottky integrated logic gate circuit with current boost |
DE2461935A1 (de) * | 1974-01-10 | 1975-07-17 | Hughes Aircraft Co | Flipflop |
JPS5318377A (en) * | 1976-08-03 | 1978-02-20 | Toshiba Corp | Logical operation circuit |
US4132906A (en) * | 1977-02-28 | 1979-01-02 | Motorola, Inc. | Circuit to improve rise time and/or reduce parasitic power supply spike current in bipolar transistor logic circuits |
US4103188A (en) * | 1977-08-22 | 1978-07-25 | Rca Corporation | Complementary-symmetry amplifier |
JPS5846863B2 (ja) * | 1977-08-25 | 1983-10-19 | 松下電器産業株式会社 | 半導体集積回路装置 |
JPS5545207A (en) * | 1978-09-26 | 1980-03-29 | Oki Electric Ind Co Ltd | Complementary mos inverter circuit unit and its production |
JPS5553910A (en) * | 1978-10-16 | 1980-04-19 | Nec Corp | Power amplifier |
US4325180A (en) * | 1979-02-15 | 1982-04-20 | Texas Instruments Incorporated | Process for monolithic integration of logic, control, and high voltage interface circuitry |
US4301383A (en) * | 1979-10-05 | 1981-11-17 | Harris Corporation | Complementary IGFET buffer with improved bipolar output |
JPS5693428A (en) * | 1979-12-10 | 1981-07-29 | Reliance Electric Co | High voltage and large current solid state switching circuit |
JPS56100461A (en) * | 1980-01-17 | 1981-08-12 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Semiconductor ic device |
US4512815A (en) * | 1980-05-27 | 1985-04-23 | National Semiconductor Corporation | Simplified BIFET process |
US4356416A (en) * | 1980-07-17 | 1982-10-26 | General Electric Company | Voltage controlled non-saturating semiconductor switch and voltage converter circuit employing same |
JPH0783252B2 (ja) * | 1982-07-12 | 1995-09-06 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積回路装置 |
US4616146A (en) * | 1984-09-04 | 1986-10-07 | Motorola, Inc. | BI-CMOS driver circuit |
-
1982
- 1982-07-12 JP JP57119815A patent/JPH0783252B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1983
- 1983-07-11 DE DE87118836T patent/DE3382717T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1983-07-11 DE DE8383106796T patent/DE3378291D1/de not_active Expired
- 1983-07-11 EP EP87118836A patent/EP0279943B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1983-07-11 EP EP92122153A patent/EP0543426A1/en not_active Withdrawn
- 1983-07-11 EP EP83106796A patent/EP0099100B1/en not_active Expired
- 1983-07-12 KR KR1019830003180A patent/KR920004919B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1987
- 1987-04-30 US US07/045,216 patent/US4719373A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-12-01 US US07/127,184 patent/US4890017A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-12-01 US US07/127,206 patent/US5001366A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-12-01 US US07/127,183 patent/US4829201A/en not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
IEEETransactionsonElectronDevices,vol.ED−16,No.11.November1969,(Fig.10) |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4890017A (en) | 1989-12-26 |
JPS5911034A (ja) | 1984-01-20 |
DE3382717D1 (de) | 1993-11-11 |
EP0543426A1 (en) | 1993-05-26 |
EP0279943B1 (en) | 1993-10-06 |
EP0099100A1 (en) | 1984-01-25 |
EP0099100B1 (en) | 1988-10-19 |
DE3378291D1 (en) | 1988-11-24 |
US5001366A (en) | 1991-03-19 |
US4719373A (en) | 1988-01-12 |
KR920004919B1 (ko) | 1992-06-22 |
EP0279943A1 (en) | 1988-08-31 |
DE3382717T2 (de) | 1994-05-05 |
US4829201A (en) | 1989-05-09 |
KR840005629A (ko) | 1984-11-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0783252B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
EP0145004B1 (en) | Bipolar transistor-field effect transistor composite circuit | |
US4694202A (en) | Bi-MOS buffer circuit | |
KR930000479B1 (ko) | 반도체 집적회로 | |
US4845386A (en) | Bi-MOS logic circuit having a totem pole type output buffer section | |
US4682054A (en) | BICMOS driver with output voltage swing enhancement | |
US4649295A (en) | BIMOS logic gate | |
JP3028840B2 (ja) | バイポーラトランジスタとmosトランジスタの複合回路、及びそれを用いた半導体集積回路装置 | |
US6445215B1 (en) | Logic circuit with single charge pulling out transistor and semiconductor integrated circuit using the same | |
JP2619415B2 (ja) | 半導体論理回路 | |
JPH0337767B2 (ja) | ||
JPS5979641A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
US5124582A (en) | Bi-cmos circuit with high-speed active pull-down output currents | |
US5107141A (en) | BiCMOS logic circuit using 0.5 micron technology and having an operating potential difference of less than 4 volts | |
US5239212A (en) | Gate circuit of combined field-effect and bipolar transistors with an improved discharge arrangement | |
JPH0535927B2 (ja) | ||
JP2538986B2 (ja) | 論理回路 | |
JPH0629830A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JPH0779234B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JPH0666676B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JPH05129928A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JPH0683057B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JP2549185B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JP2511044B2 (ja) | 論理回路 | |
JP3147025B2 (ja) | 半導体集積回路装置 |