JP2001004641A - 液面検出機能を備えた自動分析装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明の目的は容器種別に影響されず安定、且
つ、高感度に液面を検出する手法を提供することにあ
る。 【解決手段】本発明にもとづく自動分析装置は、分注プ
ローブがサンプル侵入するように前記分注プローブを下
降させる手段と、サンプル容器内の液体を前記分注プロ
ーブを通じて反応容器に分注する手段と、反応容器内の
混合物を測定する手段と、前記サンプル容器内の液体の
液面を検出する手段とサンプル容器の種別に応じて導電
性部材を切り換える制御手段を備えていることを特徴と
する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は自動分析装置、特に
サンプルや試薬のような液体の分注に先立ってその液面
検出に用いられるのに適した液面検知手段を有する自動
分析装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】血液や尿等の生体サンプルを自動分析装
置で分注する際には、サンプル容器内のサンプルは分注
プローブを通じて反応容器に分注される。試薬容器内の
試薬を反応容器に分注する場合もその分注は分注プロー
ブを通じて行われる。分注は分注プローブを下降させな
がら分注されるべき液体に侵入させて停止させ、その状
態でその液体を吸引することを通じて行われる。反応容
器に分注されたサンプル及び試薬は攪拌により混合さ
れ、その混合液は測定手段により測定される。

【０００３】分注プローブを液体に侵入される場合、そ
の侵入量が多いほどその外壁への液体の付着量が増大
し、これがコンタミネーションの増大を招く結果とな
る。このため、自動分析装置では、分注されるべき液体
の液面を検出し、その結果にもとづいて分注プローブの
下降量を制御し、これによって分注プローブの液体への
侵入量を必要最小限にしている。液面を検出する手段と
しては、サンプルの持つ静電容量や抵抗値の変化を検出
する方式，光や超音波による屈折や反射を利用する方
式，分注プローブ内の液体の圧力を検出する方式等が知
られている。これらの公知技術の中で、静電容量を検出
する例は例えば特開昭62−289769号公報、及び特公平6
−7112 号公報に記載されている。

【０００４】又、分注動作は所定の位置で行われ分注プ
ローブの下降位置に複数種のサンプル容器が次々に移送
されることが一般的である。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】従来技術による分注動
作で静電容量の検出方式を用いた場合、静電容量の構成
する一端の電極は分注プローブ、他端の電極は容器保持
部となるが前記容器保持部には複数個、又、複数種のサ
ンプル容器を円筒状に配置可能なもの、或いは数個のサ
ンプル容器を一列に実装可能なものが一般的である。こ
のため、容器長の短いサンプル容器の場合は容器内液体
と接地された容器保持部、つまり、電極が近づいた位置
関係にあり検出する静電容量は比較的十分な値が確保で
きる。しかし、サンプル容器を組み合わせて使用し１０
０mm長の試験管上に液体の入った容器長の短いサンプル
容器を載せる場合等も頻繁に行われている。この場合、
容器長の短いサンプル容器を置いた場合と比較し容器内
液体と容器保持部間の電極の空間距離が大幅に増すこと
になり、検出する静電容量は微少な値となるため、微量
な液量での検出が困難となる。

【０００６】本発明の目的は容器種別に影響されず安
定、且つ、高感度に液面を検出する手法を提供すること
にある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明にもとづく自動分
析装置は、分注プローブがサンプル侵入するように前記
分注プローブを下降させる手段と、サンプル容器内の液
体を前記分注プローブを通じて反応容器に分注する手段
と、反応容器内の混合物を測定する手段と、前記サンプ
ル容器内の液体の液面を検出する手段とサンプル容器の
種別に応じて導電性部材を切り換える制御手段を備えて
いることを特徴とする。

【０００８】本発明を別の観点から述べるとサンプル容
器の種別を検出する手段を備え、前記サンプル容器内の
液体の液面を検出する手段とサンプル容器の種別に応じ
て配置する導電性部材を切り換え配置する制御手段を備
えている、或いはサンプル容器の種別に応じて、分注プ
ローブを適当な導電性部材の配置された分注位置に移送
することを特徴とする。

【０００９】前記手段を備えることにより、容器保持部
に多様なサンプル容器が配置されても容器保持部だけで
なくサンプル容器種別に対応し最適な配置された導電性
部材の作用により容器保持部に配置されるサンプル容器
種別に影響されず、分注プローブとサンプル容器内の液
体間の静電容量を確実に検出することが可能となる。よ
って、安定、且つ高感度に液面を検出することが可能と
なる。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下に本発明の実施例を図１から
順を追って説明する。

【００１１】図１は一般的な自動分析装置の分注機構周
辺部概略図を示す。各部の機能は公知のものであるた
め、詳細については記述は省略する。サンプリング機構
１のサンプリングアーム２は上下すると共に回転し、サ
ンプリングアーム２に取り付けられたプローブ１０５を
用いて、左右に回転するサンプルディスク１０２に配置
されたサンプル容器１０１内のサンプル７を吸引し、反
応容器１０６へ吐出するように構成されている。本図か
らもわかるようにサンプル容器１０１のサンプルディス
ク１０２への配置はサンプルディスク１０２上へ直接配
置する場合や試験管（図示はない）上にサンプル容器１
０１を載せることも可能なユニバーサルな配置に対応可
能な構造のものが一般的である。又、試験管の長さは約
５０mmから約１００mmのものが通常使用される。サンプ
ル容器高さ検出部１５０では前記サンプル容器１０１の
種別を自動的に判別する機能を持つ。図１における自動
分析装置の構成をさらに説明する。回転自在な試薬ディ
スク１２５上には分析対象となる複数の分析項目に対応
する試薬のボトル１１２が配置されている。可動アーム
に取り付けられた試薬分注プローブ１１０は、試薬ボト
ル１１２から反応容器１０６へ所定量の試薬を分注す
る。

【００１２】サンプル分注プローブ１０５は、サンプル
用シリンジポンプ１０７の動作に伴ってサンプルの吸入
動作、及び吐出動作を実行する。試薬分注プローブ１１
０は、試薬用シリンジポンプ１１１の動作に伴って試薬
の吸入動作、及び吐出動作を実行する。各サンプルのた
めに分析すべき分析項目は、キーボード１２１、又はＣ
ＲＴ１１８の画面のような入力装置から入力される。こ
の自動分析装置における各ユニットの動作は、コンピュ
ータ１０３により制御される。

【００１３】サンプルディスク１０２の間欠回転に伴っ
てサンプル容器１０１はサンプル吸入位置へ移送され、
停止中のサンプル容器内にサンプル分注プローブ１０５
が降下される。その下降動作に伴って分注プローブ１０
５の先端がサンプルの液面に接触すると液面検出回路１
５１から検出信号が出力され、それに基づいてコンピュ
ータ１０３が可動アーム２の駆動部の下降動作を停止す
るよう制御する。次いで分注プローブ１０５内に所定量
のサンプルを吸入した後、分注プローブ１０５が上死点
まで上昇し、サンプリングアーム２が水平方向に旋回し
反応ディスク１０９上の反応容器１０６の位置でサンプ
ル分注プローブ１０５を下降し反応容器１０６内へ保持
していたサンプルを吐出する。サンプルが入った反応容
器106が試薬添加位置まで移動された時に、該当する分
析項目に対応した試薬が試薬分注プローブ１１０から添
加される。サンプル、及び試薬の分注に伴ってサンプル
容器１０１内のサンプル、及び試薬ボトル１１２内の試
薬の液面が検出される。サンプル、及び試薬が加えられ
た反応容器内の混合物は、攪拌器１１３により攪拌され
る。反応容器列の移送中に複数の反応容器が光源１１４
からの光束を横切り、各混合物の吸光度、あるいは発光
値が測定手段としての光度計１１５により測定される。

【００１４】吸光度信号は、Ａ／Ｄ変換器１１６を経由
しインターフェース１０４を介してコンピュータ１０３
に入り、分析項目の濃度が計算される。

【００１５】分析結果は、インターフェース１０４を介
してプリンタ１１７に印字出力するか、又はＣＲＴ１１
８に画面出力すると共に、メモリとしてのハードディス
ク１２２に格納される。測光が終了した反応容器１０６
は、洗浄機構１１９の位置にて洗浄される。洗浄用ポン
プ１２０は、反応容器へ洗浄水を供給すると共に、反応
容器から廃棄を排出する。

【００１６】図１の例では、サンプルディスク１０２に
同心円状に３列のサンプル容器101がセットできるよう
に３列の容器保持部が形成されており、サンプル分注プ
ローブ１０５によるサンプル吸入位置が各々の列に１個
ずつ設定されている。

【００１７】次に発明が解決しようとする課題にて記し
たが、本発明が解決すべき内容の具体例について図２か
ら図１０を用い以下記述する。

【００１８】先ずサンプルディスク１０２にサンプル容
器１０１が配置された場合の液面検知動作シーケンスに
ついて説明する。図２はサンプル分注プローブ１０５が
上死点から下降開始し液面検知する間のサンプル容器１
０１側断面図内での物理的な状態遷移図を示す。プロー
ブ１０５は上死点位置（Ａ）から下降を開始しサンプル
容器１０１内のサンプル７、つまり液面を液面検知回路
１５１で検知し液面位置（Ｂ）でプローブ１０５の下降
を停止する。プローブ１０５はサンプル容器１０１内に
収容されたサンプル７の分注用プローブとしての機能
と、電気的な液面検知用検出センサとしての機能を兼ね
ているものが殆どであり、プローブ105の素材としては
導電性が要求され、ステンレス等の金属や導電性プラス
チック素材が用いられるのが周知である。

【００１９】図３は図２に示した（Ａ）（Ｂ）位置でプ
ローブ１０５に加わる静電容量の値を示したものであ
る。上死点位置（Ａ）では数十〜百ｆＦ(ｆ＝１０^-15）
程度であった静電容量が液面位置（Ｂ）では数ｐＦ(ｐ
＝１０^-12）に増加する。静電容量式液面検知方式とし
てはプローブ１０５と接地されたサンプルディスク１０
２間の静電容量を検出する構成が公知であるが図２の場
合、プローブ１０５と対の電極であるサンプルディスク
１０２間にサンプル７がサンドイッチされ、検出多対象
となるサンプル７の静電容量を効率良く検出できる配置
であると考えられる。液面位置（Ｂ）での静電容量はサ
ンプル７の種別や液量等により増減し固定値を持たない
が、具体値を提示すると液自体のインピーダンスが非常
に高く静電容量が低いと判断できる純水を１００μｌセ
ットした場合で１〜２ｐＦ程度の値となる。

【００２０】図４以降は本発明が適用された具体的な構
成を示す。図４は試験管６上にサンプル容器１０１を配
置した場合の側断面図を示す。次に図５は図４に示した
(Ａ)（Ｃ）位置でのプローブ１０５に加わる静電容量値
を示す。液面位置（Ｃ）ではプローブ１０５と対の電極
であるサンプルディスク１０２間の距離が図２と比較し
２倍程度離れてしまうため、サンプル７の静電容量を効
率良く検出できる配置にない。よって、図５内点線に示
すように上死点位置（Ａ）では数十〜百ｆＦ程度であっ
た静電容量が液面位置（Ｂ）では数百ｆＦ程度しか増加
せずＳ／Ｎの良い液面検知、つまり微量での液面検知が
不可能となる。

【００２１】しかし、本発明ではサンプル容器高さ検出
部１５０でサンプル容器１０１の種別が液面検知動作の
実行前に判別しているため、図４に示すように接地した
導電部材８を試験管６の側面、つまりサンプル７の側面
に自動的に配置し導電部材８が対電極として機能し、減
少した静電容量を補償する。導電部材８は当該部材を移
動する目的で配置されたアクチュエータ（図示はない）
により前後、或いは左右方向に駆動される。

【００２２】よって、図５内実線に示すように導電部材
８の近接効果、つまり対の電極としての補償効果により
液面位置(Ｃ)では数ｐＦに増加し、サンプルディスク１
０２にサンプル容器１０１を配置した場合と同等の変化
を得ることができＳ／Ｎの良い液面検知、つまり微量で
の液面検知が可能となる。

【００２３】次に試験管６を直接配置された場合の液面
検知動作を図６を用い説明する。図６はサンプル７の液
量が数百μｌ程度セットされた場合の側断面図を示す。
図７は図６に示した（Ａ)(Ｄ）位置でプローブ１０５に
加わる静電容量の値を示す。液面位置（Ｄ）ではプロー
ブ１０５と対の電極であるサンプルディスク１０２間の
距離が図２と比較し４倍程度離れてしまうため、図４と
同様にサンプル７の静電容量を効率良く検出できる配置
にない。よって、図７内点線に示すように上死点位置
（Ａ）では数十〜百ｆＦ(１０^-15）程度であった静電容
量が液面位置(Ｄ)では数ｐＦ(１０^-12）程度しか増加せ
ずＳ／Ｎの良い液面検知を行うことができない。

【００２４】しかし、本発明では前述と同様に図６に示
すように接地された導電部材８を試験管６の側面、つま
りサンプル７の側面に自動的に配置する手法を持ち、導
電部材８は当該部材を移動する目的で配置されたアクチ
ュエータ(図示はない)により移動される。よって、図７
内実線に示すように導電部材８の近接効果、つまり対の
電極としての補償効果により液面位置(Ｄ)では十数〜数
十ｐＦ(１０^-12）に増加されることができＳ／Ｎの良い
液面検知を行うことが可能となる。上記説明において、
本発明適用前でも液面位置（Ｄ）で数ｐＦ(１０^-12）と
図５点線に示す変化分より多い量が検出されるのは、サ
ンプル容器１０１より試験管６の方が多量の液をセット
でき、又、実使用上多量の液がセットされるケースが殆
どであるため、本説明に用いる値として現実的な値、つ
まりサンプル容器１０１よりも高い静電容量値を引用し
た。

【００２５】上記説明においては、図４，図６に示す本
発明の実施例内で配置される導電部材８が一つの場合を
記したが試験管６やサンプル容器１０１の両面にペア、
つまり相対する位置に配置しても当然問題はなく、更に
多くの補償効果を得ることが可能となる。導電部材８の
大きさ，長さ，数，材質，試験管６やサンプル容器１０
１との距離は本発明が適用され検出が必要とされる最小
の静電容量値、つまり試験管６やサンプル容器１０１，
サンプル７の液量や機構構造により導かれるため、本実
施例内で定義する必要はない。

【００２６】次に本発明を別の観点から見た一実施例を
記述する。前述の実施例ではサンプル容器高さ検出部１
５０で判別されるサンプル容器１０１の種別情報を基に
適当な導電部材８をサンプル７の側面に配置させる事例
であったが現実的には導電部材８を移動させる可動機構
が必要となり、結果として本発明を適用した自動分析装
置の原価増に繋がる可能性がある。

【００２７】このため、本発明適用に伴う原価増を必要
最小限に抑制するため図８に示すようにサンプル容器１
０１に対応し、適当な位置に電極効果の得られるように
形成された複数個の導電部材８をサンプルディスク１０
２周辺に配置し、サンプル容器高さ検出部１５０で判別
されるサンプル容器１０１の種別情報に従い、サンプル
ディスク１０２が回転し適当な導電部材８が配置された
分注位置を移動する手法を提案する。本手法では分注位
置がサンプリングアーム２の回転軌跡上と限定されるた
め、最適化できるサンプル容器１０１の種別数に制限が
あるが、図８においては試験管６とサンプル容器１０１
の分注位置が共用できる等組み合わせで対応できるた
め、２ケ所程度の分注位置が確保できれば本発明を実現
する上で問題はない。

【００２８】上述迄は、サンプル容器１０１保持手段と
してサンプルディスク１０２を用いた実施例を説明した
が、実際は複数個のサンプル容器１０１を実装可能な搬
送ラック９を用いる場合もある。図８に示した内容と同
様なコンセプトで本発明を適用し、搬送ラック９を用い
た場合の一実施例を図１０に示す。本事例でも図８で説
明した動作と同様にサンプル容器１０１の種別情報に対
応し、適当な導電部材８が配置された分注位置に移動す
る制御が実現可能である。

【００２９】

【発明の効果】以上説明したように本発明によればサン
プル容器内のサンプルの静電容量検出時にプローブと相
対する電極が最適化された位置に配置されるため、サン
プル容器の種別に依らずサンプルの持つ静電容量を確実
に検出可能となり静電容量式液面検知の制御法としてＳ
／Ｎ比の高い、つまりノイズ耐量が高く安定、且つ正確
な液面検知機能を備えた自動分析装置を提供することが
可能になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明が適用される自動分析装置の全体構成を
示す概略図。

【図２】従来の液面検知動作シーケンス図。

【図３】従来の静電容量検出図。

【図４】本発明による液面検知動作の一シーケンス図。

【図５】本発明を適用した一静電容量検出図。

【図６】本発明による液面検知動作の一シーケンス図。

【図７】本発明を適用した一静電容量検出図。

【図８】本発明による一液面検知動作図。

【図９】本発明による一液面検知動作図。

【図１０】本発明による一液面検知動作図。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】液面検出用の一方の電極を兼ねた分注プロ
   ーブを用いてサンプル容器から反応容器へサンプルを分
   注する手段と液面検出用の他方の電極を兼ねた前記サン
   プル容器保持手段と、前記分注プローブと前記サンプル
   容器保持手段との間における静電容量の変化を検出する
   電気的検出部と、前記反応容器の内容物を測定する測定
   手段を備えた自動分析装置において、前記プローブのサ
   ンプル分注位置に沿うように導電性部材を配置する手段
   を持ち、この導電性部材が前記他方の電極と同電位であ
   るように構成したことを特徴とする液面検出機構を備え
   た自動分析装置。
2. 【請求項２】請求項１において、前記サンプル容器の種
   別を検出する手段を備え、前記制御手段は検出された前
   記サンプル容器の種別に応じて配置する前記導電性部材
   を切り換えることを特徴とする自動分析装置。
3. 【請求項３】請求項１において、前記サンプル容器の種
   別を検出する手段を備え、前記制御手段は検出された前
   記サンプル容器の種別に応じて前記サンプル容器を移送
   し分注位置を切り換える制御法を備えたことを特徴とす
   る自動分析装置。
4. 【請求項４】請求項１において、前記サンプル容器保持
   手段が液面検出用の他方の電極を兼ねず非導電性部材で
   形成されたことを特徴とする自動分析装置。