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JPS635523A - レジスト材の塗布現像装置 - Google Patents

レジスト材の塗布現像装置

Info

Publication number
JPS635523A
JPS635523A JP61148792A JP14879286A JPS635523A JP S635523 A JPS635523 A JP S635523A JP 61148792 A JP61148792 A JP 61148792A JP 14879286 A JP14879286 A JP 14879286A JP S635523 A JPS635523 A JP S635523A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stage
wafer
wafers
coating
resist material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP61148792A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0734426B2 (ja
Inventor
Takeo Hashimoto
橋本 武夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP61148792A priority Critical patent/JPH0734426B2/ja
Publication of JPS635523A publication Critical patent/JPS635523A/ja
Publication of JPH0734426B2 publication Critical patent/JPH0734426B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は半導体装置の製造装置、特にレジスト材の塗布
および現像装置に関する。
[従来の技術] 従来、レジスト材の塗布および現像装置は第3図に示す
ように、キャリア19aからウェハ18を送り出す部分
23、ウェハにレジストをスピンコートするスピンコー
ター20.レジストが塗布されたウェハに熱処理を施す
ホットプレート21、およびウェハをキャリア19bに
受ける部分24などが横一列に配置され、各構成部間を
ウェハ搬送殿構22a。
22bおよび22cで連結した構造となっていた。
[発明が解決しようとする問題点] 上述した従来のレジスト材の塗布および現像装置は、ウ
ェハを送り出す部分と、ウェハにレジスト材をスピンコ
ートする部分と、ウェハに熱処理を施す部分と、ウェハ
を受ける部分などが横一列に配列された構造となってい
るので、大きな床面積を必要とするという欠点がある。
[発明の従来技術に対する相違点] 上述した従来のレジスト材の塗布および現像装置に対し
、本発明はウェハがキャリアから送り出され塗布おるい
は現像されて再びキャリアに受けられるまでのウェハの
流れを鉛直方向にして装置の床面積を大幅に小さくする
構成に独創的内容を有する。
[問題点を解決するための手段] 本発明はウェハを送り出す部分と、レジスト材をウェハ
にスピンコート必るいは現像処理を施す部分と、ウェハ
に熱処理を施す部分、およびウェハを受ける部分を有す
るレジスト材の塗布現像装置において、前記4構成部の
少くとも2構成部を上下に配設して鉛直方向に接続した
ことを特徴とするレジスト材の塗布現像装置である。
[実施例] 以下、本発明の一実施例を図により説明する。
(実施例1) 第1図(a)は本発明の一実施例の側面図である。
本塗布機はレジストを塗布するためのウェハ1を入れた
キャリア2aをセットするステージ3aを最上段に、ス
ピンコーター5を装着したステージ3bを3段目に、ウ
ェハのプリベータを行うホットプレート6を装着したス
テージ3Cを2段目に、ウェハを受けるキャリア2bを
セットするステージ3dを1段目にそれぞれ配設し、各
ステージ38〜3dを鉛直方向に接続し、各段の間、す
なわち、ステージ3aと3bの間にウェハを搬送するフ
ォークリフト4a、ステージ3bと3Cの間にウェハを
搬送するフォークリフト4b、およびステージ3Cと3
dの間にウェハを搬送するフォークリフト4Cをそれぞ
れ備えたものでおる。ホットプレート6にはウェハをホ
ットプレートから持ちあげる機構8を装備しである。ま
た第1図(b)に示すように各フォークリフト4a。
41)、 4Cに取り付けられたフォーク7a、 7b
、 7cがウェハ1の下にはいり、ウェハの搬送を可能
にする。
実施例において、キャリア2aのなかのウェハ1はフォ
ークリフト4aによってスピンコーター5にセットされ
レジスト材が塗布される。次いで、フォークリフト4b
によってホットプレート6にセットされプリベークされ
た後、フォークリフト4Cによって受けのキャリア2b
へ搬送され、レジスト材の塗布が完了する。
(実施例2) 第2図は本発明の実施例2の側面図でおる。本実施例は
レジストの現像装置であり、キャリア10aをセットす
るステージ11aを最上段とし、以下現像装置13を装
着したステージ11b、ボストベータ用のホットプレー
ト14を装着したステージ11cおよび受けのキャリア
10bをセットするステージ11dの順で下段に配設し
、各段の鉛直方向のステージ間にウェハ搬送用の1基の
フォークリフト16を備えたものでおる。
本実施例ではフォーク17aと17b1および17bと
17cの間隔は一定であり、ステージ11aとlldに
キャリアを上下に移動させる機構12aおよび12bを
装備し、キャリア内のどの位置のウェハも搬送すること
ができるようになっている。これによりフォークリフト
は1台にできる利点がある。
ステージ11aにセットされたキャリア10aのなかの
ウェハはフォークリフト16によって現像装置13にセ
ットされ、次いでホットプレート14に搬送されポスト
ベークされたあと受けのキャリア10bに収納される。
尚各実施例では前段の構成部の下部空スペース内に後段
の構成部を鉛直方向に配列したが、前段の構成部の上部
空スペース内に後段の構成部を配置してこれらを鉛直方
向に配列してもよい。また、実施例では全ての構成部を
鉛直方向に配列したが、おるいは−部の構成部について
、例えば1段目と2段目のみを上下に配設してこれを鉛
直方向に接続してもよい。この場合鉛直方向に配列した
構成部の数だけ床面積分を減少させることが可能となる
[発明の効果] 以上説明したように本発明はレジスト材の塗布現像装置
において、ウェハを送り出す部分、レジスト材とウェハ
の密着性向上のための処理を施す部分、レジスト材をウ
ェハにスピンコートあるいは現像する部分、ウェハに熱
処理を施す部分、およびウェハを受ける部分のすべてお
るいは一部を鉛直方向に配置することにより、レジスト
材の塗布用@装置の床面積を非常に小さく抑えることが
できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)は本発明の一実施例を説明するためのレジ
スト材の塗布装置の側面図、第1図(b)はウェハとウ
ェハ搬送のためのフォークとの関係を示す平面図、第2
図は本発明の一実施例を説明するための現像装置の側面
図、第3図は従来のレジ・スト材の塗布装置を説明する
ための従来の塗布機の側面図である。 1.9・・・ウェハ 2a、 2b、 10a、 10b・・・キャリア3a
、 3b、 3c、 3d、 lla、 11b、 l
lc、 11d ・・・ステージ4a、4b、4C,1
6・・・フォークリフト5・・・スピンコーター 6.14・・・ホットプレート 7a、 7b、 7c、 17a、 17b、 17c
m・・フォーク8.15・・・ウェハ持ち上げ機構 12a、 12b・・・キャリア上下移動機構13・・
・現像装置

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ウェハを送り出す部分と、レジスト材をウェハに
    スピンコートあるいは現像処理を施す部分と、ウェハに
    熱処理を施す部分、およびウェハを受ける部分を有する
    レジスト材の塗布現像装置において、前記4構成部の少
    くとも2構成部以上を上下に配設して鉛直方向に接続し
    たことを特徴とするレジスト材の塗布現像装置。
JP61148792A 1986-06-25 1986-06-25 レジスト材の塗布現像装置 Expired - Lifetime JPH0734426B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61148792A JPH0734426B2 (ja) 1986-06-25 1986-06-25 レジスト材の塗布現像装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP61148792A JPH0734426B2 (ja) 1986-06-25 1986-06-25 レジスト材の塗布現像装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS635523A true JPS635523A (ja) 1988-01-11
JPH0734426B2 JPH0734426B2 (ja) 1995-04-12

Family

ID=15460799

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61148792A Expired - Lifetime JPH0734426B2 (ja) 1986-06-25 1986-06-25 レジスト材の塗布現像装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0734426B2 (ja)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01241840A (ja) * 1988-03-24 1989-09-26 Canon Inc 基板処理装置
JPH0279413A (ja) * 1988-09-14 1990-03-20 Mitsubishi Electric Corp 半導体製造装置
JPH0261479U (ja) * 1988-10-31 1990-05-08
JPH02152251A (ja) * 1988-12-03 1990-06-12 Furendotetsuku Kenkyusho:Kk 縦型半導体製造システム
US5571325A (en) * 1992-12-21 1996-11-05 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Subtrate processing apparatus and device for and method of exchanging substrate in substrate processing apparatus
WO2003001579A1 (fr) * 2001-06-25 2003-01-03 Tokyo Electron Limited Dispositif et procede de traitement de substrat
US6511315B2 (en) 2001-01-19 2003-01-28 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Substrate processing apparatus
US6790286B2 (en) 2001-01-18 2004-09-14 Dainippon Screen Mfg. Co. Ltd. Substrate processing apparatus
JP2008072140A (ja) * 2007-11-21 2008-03-27 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置
JP2008229470A (ja) * 2007-03-20 2008-10-02 Daifuku Co Ltd 作業設備

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5177056U (ja) * 1974-12-13 1976-06-17
JPS6084819A (ja) * 1983-10-14 1985-05-14 Mitsubishi Electric Corp 半導体製造装置
JPS60182727A (ja) * 1984-02-29 1985-09-18 Hitachi Ltd 自動ウエハ処理装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5177056U (ja) * 1974-12-13 1976-06-17
JPS6084819A (ja) * 1983-10-14 1985-05-14 Mitsubishi Electric Corp 半導体製造装置
JPS60182727A (ja) * 1984-02-29 1985-09-18 Hitachi Ltd 自動ウエハ処理装置

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01241840A (ja) * 1988-03-24 1989-09-26 Canon Inc 基板処理装置
JP2611372B2 (ja) * 1988-09-14 1997-05-21 三菱電機株式会社 半導体製造装置
JPH0279413A (ja) * 1988-09-14 1990-03-20 Mitsubishi Electric Corp 半導体製造装置
JPH0261479U (ja) * 1988-10-31 1990-05-08
JPH02152251A (ja) * 1988-12-03 1990-06-12 Furendotetsuku Kenkyusho:Kk 縦型半導体製造システム
JP2592511B2 (ja) * 1988-12-03 1997-03-19 株式会社フレンドテック研究所 縦型半導体製造システム
US5571325A (en) * 1992-12-21 1996-11-05 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Subtrate processing apparatus and device for and method of exchanging substrate in substrate processing apparatus
US6790286B2 (en) 2001-01-18 2004-09-14 Dainippon Screen Mfg. Co. Ltd. Substrate processing apparatus
US6511315B2 (en) 2001-01-19 2003-01-28 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Substrate processing apparatus
WO2003001579A1 (fr) * 2001-06-25 2003-01-03 Tokyo Electron Limited Dispositif et procede de traitement de substrat
JP2008229470A (ja) * 2007-03-20 2008-10-02 Daifuku Co Ltd 作業設備
JP2008072140A (ja) * 2007-11-21 2008-03-27 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置
JP4499147B2 (ja) * 2007-11-21 2010-07-07 大日本スクリーン製造株式会社 基板処理装置

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JPH0734426B2 (ja) 1995-04-12

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