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JPH0612338A - 情報処理システム - Google Patents

情報処理システム

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Publication number
JPH0612338A
JPH0612338A JP4189880A JP18988092A JPH0612338A JP H0612338 A JPH0612338 A JP H0612338A JP 4189880 A JP4189880 A JP 4189880A JP 18988092 A JP18988092 A JP 18988092A JP H0612338 A JPH0612338 A JP H0612338A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
input
test
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storage device
online
Prior art date
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Granted
Application number
JP4189880A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3012402B2 (ja
Inventor
Masaharu Ejiri
雅晴 江尻
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Communication Systems Ltd
Original Assignee
NEC Communication Systems Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Communication Systems Ltd filed Critical NEC Communication Systems Ltd
Priority to JP4189880A priority Critical patent/JP3012402B2/ja
Publication of JPH0612338A publication Critical patent/JPH0612338A/ja
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Publication of JP3012402B2 publication Critical patent/JP3012402B2/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 二重化された中央処理装置と主記憶装置と入
出力制御装置とからなる情報処理システムにおいて、入
出力制御装置の自系のオンラインデータ転送処理に何等
影響を与えることなく他系の主記憶装置とのインタフェ
ーステストを行えるようにする。 【構成】 入出力制御装置30,31内にオンライン処
理を行うオンライン回路60,61と、テスト処理を行
うテスト回路70,71とを夫々設ける。0系の入出力
制御装置30がオンライン回路60を介して自系の主記
憶装置20に対してオンライン処理を行っているとき、
テスト回路70により1系の主記憶装置21に対するリ
ードライトアクセスを行って、自入出力制御装置30と
他系の主記憶装置21との間のインタフェーステストを
可能とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【技術分野】本発明は情報処理システムに関し、特に中
央処理装置,主記憶装置,入出力制御装置,これ等装置
を共通接続するバスからなる系が二重化された構成の情
報処理システムに関するものである。
【0002】
【従来技術】この様な二重化システムにおいては、オン
ライン動作系の入出力制御装置と、オンライン非動作系
の主記憶装置との間の動作テストを行うには以下の2つ
の方法がある。
【0003】(1)オンライン非動作系の中央処理装置
からオンライン動作系の入出力制御装置内のレジスタに
対して入出力を行い、バスの接続状態のみの確認を行う
方法。
【0004】(2)オンライン動作を一時的に中断し、
オンライン非動作系の中央処理装置からの指示により、
入出力制御装置が入出力データのリードライトをオンラ
イン非動作系の主記憶装置に対して行う方法。
【0005】上記の(1)の方法では、オンライン動作
系の入出力制御装置がバスマスタとなってオンライン非
動作系の主記憶装置に対してデータ転送動作の確認がで
きないという欠点がある。
【0006】上記(2)の方法では、オンライン動作を
中断して停止させる必要があり、テスト中に無応答等の
障害が発生した場合には、オンライン停止時間が長くな
り、システムダウンにつながる恐れがあり、システムの
信頼性が低下するという欠点がある。
【0007】また、テストを何等行わない方法も考えら
れるが、この場合には、正常性の確認が行われていない
装置をシステム中に組込むことになって、無応答障害等
が発生した場合、これまたオンライン停止時間が長くな
り、システムダウンにつながる恐れがあってやはりシス
テムの信頼性の低下を招来するという欠点がある。
【0008】
【発明の目的】そこで、本発明はこの様な従来技術の欠
点を解消すべくなされたものであって、その目的とする
ところは、自系のオンライン動作に対して何等影響を与
えることなく他系の主記憶装置と自系の入出力制御装置
との間のインタフェース動作テストが可能となるように
した情報処理システムを提供することにある。
【0009】
【発明の構成】本発明によれば、第1の中央処理装置,
第1の主記憶装置,第1の入出力装置,これ等各装置が
共通接続された第1のバスからなる第1の系と、第2の
中央処理装置,第2の主記憶装置,第2の入出力装置,
これ等各装置が共通接続された第2のバスからなる第2
の系とを有する二重化構成の情報処理システムであっ
て、前記第1及び第2の入出力制御装置の各々は、自系
及び他系の両主記憶装置に対して夫々オンラインアクセ
ス自在なオンライン手段と、自系及び他系の両主記憶装
置に対して夫々テストアクセス自在なテスト手段とを含
み、前記オンライン手段による自系の主記憶装置に対す
るアクセス中に、前記テスト手段により他系の主記憶装
置に対するテストアクセスをなすようにしたことを特徴
とする情報処理システムが得られる。
【0010】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
【0011】図1は本実施例のブロック図である。第1
の系の中央処理装置(CPU)10は、主記憶装置(M
M)20と入出力制御装置(BIU)30とバス40で
共通接続されている。バス40は第2の系の入出力制御
装置(BIU)31に接続されており、第1の系の入出
力制御装置30は入出力装置(IO)50と接続されて
いる。
【0012】同様に第2の系の中央処理装置11は、主
記憶装置21と入出力制御装置31とバス41で共通接
続されている。バス41は第1の系の入出力制御装置3
0に接続され、第2の系の入出力制御装置31は入出力
装置51と接続されている。
【0013】いま、第1の系を0系と呼び、第2の系を
1系と呼ぶことにする。0系の入出力制御装置30内に
は、オンライン処理を行う回路(ONL)60と、入出
力制御装置30と他系主記憶装置21との間のテストを
行うテスト回路(TEST)70とが設けられている。
同様に1系の入出力制御装置31内には、オンライン処
理を行う回路61と、入出力制御装置31と他系主記憶
装置20との間のテストを行うテスト回路71とが設け
られている。
【0014】図2は0系のシステムと1系のシステム両
方の装置がすべて正常であることが確認できているとき
の0系の入出力制御装置30からの主記憶装置へのアク
セスを示す概念図である。本アクセス動作をオンライン
動作と呼ぶ。
【0015】0系の入出力制御装置30内のオンライン
処理を行う回路60の働きにより、この入出力制御装置
30はバス40とバス41とのバスマスタとなり、バス
40とバス41とを介して両系の主記憶装置20と主記
憶装置21とに対してライトアクセスを行い、データを
書込む。同様にバス40とバス41とを介して両系の主
記憶装置20と主記憶装置21とに対してリードアクセ
スを行い、データを読出している。このことにより両系
の主記憶を常に同じ内容にしている。
【0016】図3は1系の装置が故障したとき、入出力
制御装置30からの主記憶装置へアクセスを示す概念図
である。このときのオンライン動作は入出力制御装置3
0からの主記憶装置20へのアクセスということにな
る。0系の入出力制御装置30内のオンライン処理を行
う回路60の働きにより、この入出力制御装置30はバ
ス40のバスマスタとなりバス40を介して0系の主記
憶装置20にデータを書込み、同じく0系の主記憶装置
20からデータを読出している。
【0017】図4は0系の入出力制御装置30により自
系に対してオンライン処理を行いつつ同時に1系の主記
憶装置21に対してリードライトアクセス試験を行って
いるときの概念図である。
【0018】0系の入出力制御装置30内のオンライン
処理を行う回路60の働きにより、バス40を介して主
記憶装置20のオンライン転送データの授受を行ってい
る。
【0019】これと同時にテスト開始指示が生成される
と、これに応答して入出力制御装置30内のテスト回路
70が動作して、その働きにより入出力制御装置30は
バス41のバスマスタとなり、他系の主記憶装置21に
対するテスト用のリードライトアクセスが可能となる。
【0020】このとき、主記憶装置21内には、予め診
断用データが格納された診断領域を設定しておき、この
診断領域に対してテスト回路70はリードアクセスを行
う。そして、その後同じくテスト回路70は主記憶装置
21内の診断領域に対して、上記診断データの反転した
データを書込むべくライトアクセスを行う。
【0021】このとき、診断データの反転したデータを
書込むのは以下の理由による。すなわち、主記憶装置上
に診断領域を確保しておくことから、この診断領域の容
量を増大することは許されないために、診断データをこ
の領域へ再書込み(いわゆる上書き)する関係上、以前
に格納されていた診断データを反転して書込めば、診断
を行ったことが判別できることによるものである。
【0022】以上の処理により、0系でオンライン処理
を行いつつ、0系の入出力制御装置30から1系の主記
憶装置21に対して診断用データの転送テストを実施す
ることができる。正常にテストが終了すると、図2に示
した様に両系共に正常な運転状態に移行することが可能
となる。
【0023】
【発明の効果】叙上の如く、本発明によれば、自系のオ
ンライン処理時に並行して他系のデータ転送テストを行
うことができるので、高信頼性の二重化システムを実現
することが可能となるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例の構成を示すシステムブロック
図である。
【図2】両系共に正常な場合の0系の入出力制御装置3
0からの主記憶装置20,21へのアクセス態様を示す
概念図である。
【図3】1系の故障時における入出力制御装置30から
主記憶装置20へのアクセス状態を示す概念図である。
【図4】0系の入出力制御装置30でオンライン処理を
行いつつ1系の主記憶装置21に対してテスト用のアク
セスを行う場合の概念図である。
【符号の説明】
10,11 中央処理装置 20,21 主記憶装置 30,31 入出力制御装置 40,41 バス 50,51 入出力装置 60,61 オンライン回路 70,71 テスト回路

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1の中央処理装置,第1の主記憶装
    置,第1の入出力装置,これ等各装置が共通接続された
    第1のバスからなる第1の系と、第2の中央処理装置,
    第2の主記憶装置,第2の入出力装置,これ等各装置が
    共通接続された第2のバスからなる第2の系とを有する
    二重化構成の情報処理システムであって、前記第1及び
    第2の入出力制御装置の各々は、自系及び他系の両主記
    憶装置に対して夫々オンラインアクセス自在なオンライ
    ン手段と、自系及び他系の両主記憶装置に対して夫々テ
    ストアクセス自在なテスト手段とを含み、前記オンライ
    ン手段による自系の主記憶装置に対するアクセス中に、
    前記テスト手段により他系の主記憶装置に対するテスト
    アクセスをなすようにしたことを特徴とする情報処理シ
    ステム。
  2. 【請求項2】 前記第1及び第2の主記憶装置の各々は
    予め定められた診断用データを格納した診断領域を有
    し、前記テスト手段は前記診断領域に対するリードアク
    セスを行い、またこのリードされた診断用データを反転
    して前記診断領域にライトアクセスするよう構成されて
    いることを特徴とする請求項1記載の情報処理システ
    ム。
JP4189880A 1992-06-24 1992-06-24 情報処理システム Expired - Lifetime JP3012402B2 (ja)

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