JP7415950B2 - Encapsulation composition and semiconductor device - Google Patents
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- 239000000203 mixture Substances 0.000 title claims description 114
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 27
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 title description 5
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 100
- -1 silane compound Chemical class 0.000 claims description 72
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 claims description 61
- 239000011256 inorganic filler Substances 0.000 claims description 58
- 229910003475 inorganic filler Inorganic materials 0.000 claims description 58
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 claims description 47
- 150000002430 hydrocarbons Chemical group 0.000 claims description 45
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 claims description 42
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 claims description 42
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 33
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 claims description 27
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 20
- 125000003700 epoxy group Chemical group 0.000 claims description 16
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 claims description 13
- KXGFMDJXCMQABM-UHFFFAOYSA-N 2-methoxy-6-methylphenol Chemical compound [CH]OC1=CC=CC([CH])=C1O KXGFMDJXCMQABM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical group [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 125000003647 acryloyl group Chemical group O=C([*])C([H])=C([H])[H] 0.000 claims description 12
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 claims description 12
- 229920001568 phenolic resin Polymers 0.000 claims description 10
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 9
- AAAQKTZKLRYKHR-UHFFFAOYSA-N triphenylmethane Chemical compound C1=CC=CC=C1C(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 AAAQKTZKLRYKHR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 32
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 25
- 239000000047 product Substances 0.000 description 24
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N Phenol Chemical compound OC1=CC=CC=C1 ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 22
- 239000007822 coupling agent Substances 0.000 description 20
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 12
- IISBACLAFKSPIT-UHFFFAOYSA-N bisphenol A Chemical compound C=1C=C(O)C=CC=1C(C)(C)C1=CC=C(O)C=C1 IISBACLAFKSPIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 239000006082 mold release agent Substances 0.000 description 9
- PXKLMJQFEQBVLD-UHFFFAOYSA-N bisphenol F Chemical compound C1=CC(O)=CC=C1CC1=CC=C(O)C=C1 PXKLMJQFEQBVLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 150000002989 phenols Chemical class 0.000 description 8
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 7
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 7
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 7
- XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N Phosphine Chemical compound P XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 6
- YCIMNLLNPGFGHC-UHFFFAOYSA-N catechol Chemical compound OC1=CC=CC=C1O YCIMNLLNPGFGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 6
- GHMLBKRAJCXXBS-UHFFFAOYSA-N resorcinol Chemical compound OC1=CC=CC(O)=C1 GHMLBKRAJCXXBS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 6
- KJCVRFUGPWSIIH-UHFFFAOYSA-N 1-naphthol Chemical compound C1=CC=C2C(O)=CC=CC2=C1 KJCVRFUGPWSIIH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 5
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 239000003607 modifier Substances 0.000 description 5
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 5
- 150000003003 phosphines Chemical class 0.000 description 5
- 229910000073 phosphorus hydride Inorganic materials 0.000 description 5
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 5
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 5
- 238000001721 transfer moulding Methods 0.000 description 5
- AZQWKYJCGOJGHM-UHFFFAOYSA-N 1,4-benzoquinone Chemical compound O=C1C=CC(=O)C=C1 AZQWKYJCGOJGHM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- JWAZRIHNYRIHIV-UHFFFAOYSA-N 2-naphthol Chemical compound C1=CC=CC2=CC(O)=CC=C21 JWAZRIHNYRIHIV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- NBBJYMSMWIIQGU-UHFFFAOYSA-N Propionic aldehyde Chemical compound CCC=O NBBJYMSMWIIQGU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 4
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 4
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 4
- LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N haloperidol Chemical compound C1CC(O)(C=2C=CC(Cl)=CC=2)CCN1CCCC(=O)C1=CC=C(F)C=C1 LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 4
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 4
- 150000004756 silanes Chemical class 0.000 description 4
- HECLRDQVFMWTQS-RGOKHQFPSA-N 1755-01-7 Chemical compound C1[C@H]2[C@@H]3CC=C[C@@H]3[C@@H]1C=C2 HECLRDQVFMWTQS-RGOKHQFPSA-N 0.000 description 3
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- GAYWTJPBIQKDRC-UHFFFAOYSA-N 8-trimethoxysilyloctyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CO[Si](OC)(OC)CCCCCCCCOC(=O)C(C)=C GAYWTJPBIQKDRC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000003710 aryl alkyl group Chemical group 0.000 description 3
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 3
- 239000006229 carbon black Substances 0.000 description 3
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 3
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 3
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 3
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 3
- QYJYJTDXBIYRHH-UHFFFAOYSA-N trimethoxy-[8-(oxiran-2-ylmethoxy)octyl]silane Chemical compound C(C1CO1)OCCCCCCCC[Si](OC)(OC)OC QYJYJTDXBIYRHH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- FRASJONUBLZVQX-UHFFFAOYSA-N 1,4-naphthoquinone Chemical compound C1=CC=C2C(=O)C=CC(=O)C2=C1 FRASJONUBLZVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NADHCXOXVRHBHC-UHFFFAOYSA-N 2,3-dimethoxycyclohexa-2,5-diene-1,4-dione Chemical compound COC1=C(OC)C(=O)C=CC1=O NADHCXOXVRHBHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QTWJRLJHJPIABL-UHFFFAOYSA-N 2-methylphenol;3-methylphenol;4-methylphenol Chemical compound CC1=CC=C(O)C=C1.CC1=CC=CC(O)=C1.CC1=CC=CC=C1O QTWJRLJHJPIABL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XDLMVUHYZWKMMD-UHFFFAOYSA-N 3-trimethoxysilylpropyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CO[Si](OC)(OC)CCCOC(=O)C(C)=C XDLMVUHYZWKMMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VPWNQTHUCYMVMZ-UHFFFAOYSA-N 4,4'-sulfonyldiphenol Chemical class C1=CC(O)=CC=C1S(=O)(=O)C1=CC=C(O)C=C1 VPWNQTHUCYMVMZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N Beryllium oxide Chemical compound O=[Be] LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229930185605 Bisphenol Natural products 0.000 description 2
- VTYYLEPIZMXCLO-UHFFFAOYSA-L Calcium carbonate Chemical compound [Ca+2].[O-]C([O-])=O VTYYLEPIZMXCLO-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BRLQWZUYTZBJKN-UHFFFAOYSA-N Epichlorohydrin Chemical compound ClCC1CO1 BRLQWZUYTZBJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 2
- KFSLWBXXFJQRDL-UHFFFAOYSA-N Peracetic acid Chemical compound CC(=O)OO KFSLWBXXFJQRDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical group [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical class [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IKHGUXGNUITLKF-XPULMUKRSA-N acetaldehyde Chemical compound [14CH]([14CH3])=O IKHGUXGNUITLKF-XPULMUKRSA-N 0.000 description 2
- 150000008065 acid anhydrides Chemical class 0.000 description 2
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 description 2
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 2
- 125000002723 alicyclic group Chemical group 0.000 description 2
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 2
- HUMNYLRZRPPJDN-UHFFFAOYSA-N benzaldehyde Chemical compound O=CC1=CC=CC=C1 HUMNYLRZRPPJDN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZTQSAGDEMFDKMZ-UHFFFAOYSA-N butyric aldehyde Natural products CCCC=O ZTQSAGDEMFDKMZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000013065 commercial product Substances 0.000 description 2
- 238000000748 compression moulding Methods 0.000 description 2
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 2
- 229930003836 cresol Natural products 0.000 description 2
- KQAHMVLQCSALSX-UHFFFAOYSA-N decyl(trimethoxy)silane Chemical compound CCCCCCCCCC[Si](OC)(OC)OC KQAHMVLQCSALSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CRGRWBQSZSQVIE-UHFFFAOYSA-N diazomethylbenzene Chemical compound [N-]=[N+]=CC1=CC=CC=C1 CRGRWBQSZSQVIE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N diphenyl Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1 ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000008393 encapsulating agent Substances 0.000 description 2
- 239000003063 flame retardant Substances 0.000 description 2
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- CZWLNMOIEMTDJY-UHFFFAOYSA-N hexyl(trimethoxy)silane Chemical compound CCCCCC[Si](OC)(OC)OC CZWLNMOIEMTDJY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000002460 imidazoles Chemical class 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 239000012948 isocyanate Substances 0.000 description 2
- 150000002513 isocyanates Chemical class 0.000 description 2
- ZFSLODLOARCGLH-UHFFFAOYSA-N isocyanuric acid Chemical compound OC1=NC(O)=NC(O)=N1 ZFSLODLOARCGLH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000005647 linker group Chemical group 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 2
- FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N maleic anhydride Chemical compound O=C1OC(=O)C=C1 FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- WSFSSNUMVMOOMR-NJFSPNSNSA-N methanone Chemical compound O=[14CH2] WSFSSNUMVMOOMR-NJFSPNSNSA-N 0.000 description 2
- 125000000956 methoxy group Chemical group [H]C([H])([H])O* 0.000 description 2
- 239000012170 montan wax Substances 0.000 description 2
- NXPPAOGUKPJVDI-UHFFFAOYSA-N naphthalene-1,2-diol Chemical compound C1=CC=CC2=C(O)C(O)=CC=C21 NXPPAOGUKPJVDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000004780 naphthols Chemical class 0.000 description 2
- 229920003986 novolac Polymers 0.000 description 2
- QWVGKYWNOKOFNN-UHFFFAOYSA-N o-cresol Chemical compound CC1=CC=CC=C1O QWVGKYWNOKOFNN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MSRJTTSHWYDFIU-UHFFFAOYSA-N octyltriethoxysilane Chemical compound CCCCCCCC[Si](OCC)(OCC)OCC MSRJTTSHWYDFIU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229960003493 octyltriethoxysilane Drugs 0.000 description 2
- 125000000962 organic group Chemical group 0.000 description 2
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 2
- XNGIFLGASWRNHJ-UHFFFAOYSA-N phthalic acid Chemical compound OC(=O)C1=CC=CC=C1C(O)=O XNGIFLGASWRNHJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 2
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 2
- 238000003918 potentiometric titration Methods 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 150000004053 quinones Chemical class 0.000 description 2
- SMQUZDBALVYZAC-UHFFFAOYSA-N salicylaldehyde Chemical compound OC1=CC=CC=C1C=O SMQUZDBALVYZAC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 2
- 235000007586 terpenes Nutrition 0.000 description 2
- TUQOTMZNTHZOKS-UHFFFAOYSA-N tributylphosphine Chemical compound CCCCP(CCCC)CCCC TUQOTMZNTHZOKS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WUMSTCDLAYQDNO-UHFFFAOYSA-N triethoxy(hexyl)silane Chemical compound CCCCCC[Si](OCC)(OCC)OCC WUMSTCDLAYQDNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UIXPTCZPFCVOQF-UHFFFAOYSA-N ubiquinone-0 Chemical compound COC1=C(OC)C(=O)C(C)=CC1=O UIXPTCZPFCVOQF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000002256 xylenyl group Chemical class C1(C(C=CC=C1)C)(C)* 0.000 description 2
- XGINAUQXFXVBND-UHFFFAOYSA-N 1,2,6,7,8,8a-hexahydropyrrolo[1,2-a]pyrimidine Chemical compound N1CC=CN2CCCC21 XGINAUQXFXVBND-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YJTKZCDBKVTVBY-UHFFFAOYSA-N 1,3-Diphenylbenzene Chemical group C1=CC=CC=C1C1=CC=CC(C=2C=CC=CC=2)=C1 YJTKZCDBKVTVBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 1,4-Dioxane Chemical compound C1COCCO1 RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940005561 1,4-benzoquinone Drugs 0.000 description 1
- RNFJDJUURJAICM-UHFFFAOYSA-N 2,2,4,4,6,6-hexaphenoxy-1,3,5-triaza-2$l^{5},4$l^{5},6$l^{5}-triphosphacyclohexa-1,3,5-triene Chemical compound N=1P(OC=2C=CC=CC=2)(OC=2C=CC=CC=2)=NP(OC=2C=CC=CC=2)(OC=2C=CC=CC=2)=NP=1(OC=1C=CC=CC=1)OC1=CC=CC=C1 RNFJDJUURJAICM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GQHTUMJGOHRCHB-UHFFFAOYSA-N 2,3,4,6,7,8,9,10-octahydropyrimido[1,2-a]azepine Chemical compound C1CCCCN2CCCN=C21 GQHTUMJGOHRCHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZEGDFCCYTFPECB-UHFFFAOYSA-N 2,3-dimethoxy-1,4-benzoquinone Natural products C1=CC=C2C(=O)C(OC)=C(OC)C(=O)C2=C1 ZEGDFCCYTFPECB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AIACLXROWHONEE-UHFFFAOYSA-N 2,3-dimethylcyclohexa-2,5-diene-1,4-dione Chemical compound CC1=C(C)C(=O)C=CC1=O AIACLXROWHONEE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AHDSRXYHVZECER-UHFFFAOYSA-N 2,4,6-tris[(dimethylamino)methyl]phenol Chemical compound CN(C)CC1=CC(CN(C)C)=C(O)C(CN(C)C)=C1 AHDSRXYHVZECER-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SENUUPBBLQWHMF-UHFFFAOYSA-N 2,6-dimethylcyclohexa-2,5-diene-1,4-dione Chemical compound CC1=CC(=O)C=C(C)C1=O SENUUPBBLQWHMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CDAWCLOXVUBKRW-UHFFFAOYSA-N 2-aminophenol Chemical compound NC1=CC=CC=C1O CDAWCLOXVUBKRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LXBGSDVWAMZHDD-UHFFFAOYSA-N 2-methyl-1h-imidazole Chemical compound CC1=NC=CN1 LXBGSDVWAMZHDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZCUJYXPAKHMBAZ-UHFFFAOYSA-N 2-phenyl-1h-imidazole Chemical compound C1=CNC(C=2C=CC=CC=2)=N1 ZCUJYXPAKHMBAZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RLQZIECDMISZHS-UHFFFAOYSA-N 2-phenylcyclohexa-2,5-diene-1,4-dione Chemical class O=C1C=CC(=O)C(C=2C=CC=CC=2)=C1 RLQZIECDMISZHS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TYOXIFXYEIILLY-UHFFFAOYSA-N 5-methyl-2-phenyl-1h-imidazole Chemical compound N1C(C)=CN=C1C1=CC=CC=C1 TYOXIFXYEIILLY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 description 1
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000877 Melamine resin Polymers 0.000 description 1
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M Methacrylate Chemical compound CC(=C)C([O-])=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- UEEJHVSXFDXPFK-UHFFFAOYSA-N N-dimethylaminoethanol Chemical compound CN(C)CCO UEEJHVSXFDXPFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GSEJCLTVZPLZKY-UHFFFAOYSA-N Triethanolamine Chemical compound OCCN(CCO)CCO GSEJCLTVZPLZKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- ZDGWGNDTQZGISB-UHFFFAOYSA-N acetic acid;perchloric acid Chemical compound CC(O)=O.OCl(=O)(=O)=O ZDGWGNDTQZGISB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HLEVGUAWOYCERR-UHFFFAOYSA-M acetic acid;tetraethylazanium;bromide Chemical compound [Br-].CC(O)=O.CC[N+](CC)(CC)CC HLEVGUAWOYCERR-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 239000004844 aliphatic epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 150000001343 alkyl silanes Chemical class 0.000 description 1
- AZDRQVAHHNSJOQ-UHFFFAOYSA-N alumane Chemical class [AlH3] AZDRQVAHHNSJOQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WNROFYMDJYEPJX-UHFFFAOYSA-K aluminium hydroxide Chemical compound [OH-].[OH-].[OH-].[Al+3] WNROFYMDJYEPJX-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004104 aryloxy group Chemical group 0.000 description 1
- 239000004305 biphenyl Substances 0.000 description 1
- 235000010290 biphenyl Nutrition 0.000 description 1
- LLEMOWNGBBNAJR-UHFFFAOYSA-N biphenyl-2-ol Chemical compound OC1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1 LLEMOWNGBBNAJR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001638 boron Chemical class 0.000 description 1
- 229910000019 calcium carbonate Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000378 calcium silicate Substances 0.000 description 1
- 229910052918 calcium silicate Inorganic materials 0.000 description 1
- OYACROKNLOSFPA-UHFFFAOYSA-N calcium;dioxido(oxo)silane Chemical compound [Ca+2].[O-][Si]([O-])=O OYACROKNLOSFPA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004203 carnauba wax Substances 0.000 description 1
- 235000013869 carnauba wax Nutrition 0.000 description 1
- 239000013522 chelant Substances 0.000 description 1
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 1
- 239000011231 conductive filler Substances 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000007334 copolymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 229910002026 crystalline silica Inorganic materials 0.000 description 1
- 229960002887 deanol Drugs 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 235000014113 dietary fatty acids Nutrition 0.000 description 1
- 238000000113 differential scanning calorimetry Methods 0.000 description 1
- 239000000539 dimer Substances 0.000 description 1
- XXBDWLFCJWSEKW-UHFFFAOYSA-N dimethylbenzylamine Chemical compound CN(C)CC1=CC=CC=C1 XXBDWLFCJWSEKW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZZTCPWRAHWXWCH-UHFFFAOYSA-N diphenylmethanediamine Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(N)(N)C1=CC=CC=C1 ZZTCPWRAHWXWCH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GPAYUJZHTULNBE-UHFFFAOYSA-N diphenylphosphine Chemical compound C=1C=CC=CC=1PC1=CC=CC=C1 GPAYUJZHTULNBE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NJLLQSBAHIKGKF-UHFFFAOYSA-N dipotassium dioxido(oxo)titanium Chemical compound [K+].[K+].[O-][Ti]([O-])=O NJLLQSBAHIKGKF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 125000001301 ethoxy group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])O* 0.000 description 1
- 239000000194 fatty acid Substances 0.000 description 1
- 229930195729 fatty acid Natural products 0.000 description 1
- 150000004665 fatty acids Chemical class 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 125000003055 glycidyl group Chemical group C(C1CO1)* 0.000 description 1
- VRINOTYEGADLMW-UHFFFAOYSA-N heptyl(trimethoxy)silane Chemical compound CCCCCCC[Si](OC)(OC)OC VRINOTYEGADLMW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BHEPBYXIRTUNPN-UHFFFAOYSA-N hydridophosphorus(.) (triplet) Chemical compound [PH] BHEPBYXIRTUNPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 description 1
- 238000005040 ion trap Methods 0.000 description 1
- 125000003253 isopropoxy group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(O*)C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 238000004898 kneading Methods 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 1
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000005395 methacrylic acid group Chemical group 0.000 description 1
- UJNZOIKQAUQOCN-UHFFFAOYSA-N methyl(diphenyl)phosphane Chemical compound C=1C=CC=CC=1P(C)C1=CC=CC=C1 UJNZOIKQAUQOCN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010680 novolac-type phenolic resin Substances 0.000 description 1
- JRZJOMJEPLMPRA-UHFFFAOYSA-N olefin Chemical group CCCCCCCC=C JRZJOMJEPLMPRA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AFEQENGXSMURHA-UHFFFAOYSA-N oxiran-2-ylmethanamine Chemical compound NCC1CO1 AFEQENGXSMURHA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QNGNSVIICDLXHT-UHFFFAOYSA-N para-ethylbenzaldehyde Natural products CCC1=CC=C(C=O)C=C1 QNGNSVIICDLXHT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000004965 peroxy acids Chemical class 0.000 description 1
- RPGWZZNNEUHDAQ-UHFFFAOYSA-N phenylphosphine Chemical compound PC1=CC=CC=C1 RPGWZZNNEUHDAQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004437 phosphorous atom Chemical group 0.000 description 1
- 150000003018 phosphorus compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 1
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 description 1
- 229920000768 polyamine Polymers 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 150000007519 polyprotic acids Polymers 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 125000002572 propoxy group Chemical group [*]OC([H])([H])C(C([H])([H])[H])([H])[H] 0.000 description 1
- 238000010298 pulverizing process Methods 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 238000010992 reflux Methods 0.000 description 1
- 239000011342 resin composition Substances 0.000 description 1
- 239000000565 sealant Substances 0.000 description 1
- FZHAPNGMFPVSLP-UHFFFAOYSA-N silanamine Chemical compound [SiH3]N FZHAPNGMFPVSLP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002379 silicone rubber Polymers 0.000 description 1
- 239000004945 silicone rubber Substances 0.000 description 1
- IYMSIPPWHNIMGE-UHFFFAOYSA-N silylurea Chemical compound NC(=O)N[SiH3] IYMSIPPWHNIMGE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 239000012086 standard solution Substances 0.000 description 1
- TXDNPSYEJHXKMK-UHFFFAOYSA-N sulfanylsilane Chemical compound S[SiH3] TXDNPSYEJHXKMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003609 titanium compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000004448 titration Methods 0.000 description 1
- SAWDTKLQESXBDN-UHFFFAOYSA-N triethoxy(heptyl)silane Chemical compound CCCCCCC[Si](OCC)(OCC)OCC SAWDTKLQESXBDN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NMEPHPOFYLLFTK-UHFFFAOYSA-N trimethoxy(octyl)silane Chemical compound CCCCCCCC[Si](OC)(OC)OC NMEPHPOFYLLFTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VRHBBGAASHNPHT-UHFFFAOYSA-N trimethoxy-[6-(oxiran-2-ylmethoxy)hexyl]silane Chemical compound CO[Si](OC)(OC)CCCCCCOCC1CO1 VRHBBGAASHNPHT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QLAGHGSFXJZWKY-UHFFFAOYSA-N triphenylborane;triphenylphosphane Chemical compound C1=CC=CC=C1B(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1.C1=CC=CC=C1P(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 QLAGHGSFXJZWKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FIQMHBFVRAXMOP-UHFFFAOYSA-N triphenylphosphane oxide Chemical compound C=1C=CC=CC=1P(C=1C=CC=CC=1)(=O)C1=CC=CC=C1 FIQMHBFVRAXMOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WXAZIUYTQHYBFW-UHFFFAOYSA-N tris(4-methylphenyl)phosphane Chemical compound C1=CC(C)=CC=C1P(C=1C=CC(C)=CC=1)C1=CC=C(C)C=C1 WXAZIUYTQHYBFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BIKXLKXABVUSMH-UHFFFAOYSA-N trizinc;diborate Chemical compound [Zn+2].[Zn+2].[Zn+2].[O-]B([O-])[O-].[O-]B([O-])[O-] BIKXLKXABVUSMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UKRDPEFKFJNXQM-UHFFFAOYSA-N vinylsilane Chemical compound [SiH3]C=C UKRDPEFKFJNXQM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001993 wax Substances 0.000 description 1
- 238000005303 weighing Methods 0.000 description 1
- 229910052845 zircon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
- GFQYVLUOOAAOGM-UHFFFAOYSA-N zirconium(iv) silicate Chemical compound [Zr+4].[O-][Si]([O-])([O-])[O-] GFQYVLUOOAAOGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
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- C08G59/62—Alcohols or phenols
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
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Description
本開示は、封止組成物及び半導体装置に関する。 TECHNICAL FIELD This disclosure relates to encapsulation compositions and semiconductor devices.
近年、小型化及び高集積化に伴い、半導体パッケージ内部の発熱が懸念されている。発熱により、半導体パッケージを有する電気部品又は電子部品の性能低下が生じる恐れがあるため、半導体パッケージに使用される部材には、高い熱伝導性が求められている。そのため、半導体パッケージの封止材を高熱伝導化することが求められている。
例えば、無機充填材を高充填させることで、封止材の高熱伝導化が可能になる。In recent years, with miniaturization and higher integration, there has been concern about heat generation inside semiconductor packages. Because heat generation may cause deterioration in the performance of electrical or electronic components including semiconductor packages, members used in semiconductor packages are required to have high thermal conductivity. Therefore, it is required that the sealing material for semiconductor packages has high thermal conductivity.
For example, high thermal conductivity of the sealing material can be achieved by highly filling the inorganic filler.
無機充填材を高充填させた封止材の例として、(A)エポキシ樹脂、(B)硬化剤、並びに(D)球状アルミナ及び球状シリカを含有する無機充填材を必須成分としてなる半導体封止用エポキシ樹脂組成物であって、前記球状アルミナが、(d1)平均粒径40μm以上70μm以下である第1の球状アルミナ、及び(d2)平均粒径10μm以上15μm以下である第2の球状アルミナを含み、前記球状シリカが、(d3)平均粒径4μm以上8μm以下である第1の球状シリカ、(d4)平均粒径0.05μm以上~1.0μm以下である第2の球状シリカを含むものであり、(d3)+(d4)の合計量が全無機充填材に対して17%以上23%以下であり、(d3)/(d4)の比率が(d3)/(d4)=1/8以上5/4以下であり、無機充填剤量が全樹脂組成物中85~95質量%であることを特徴とする半導体封止用エポキシ樹脂組成物が知られている(例えば、特許文献1参照) An example of a sealing material highly filled with an inorganic filler is a semiconductor sealant whose essential components include (A) an epoxy resin, (B) a curing agent, and (D) an inorganic filler containing spherical alumina and spherical silica. an epoxy resin composition for use in which the spherical alumina is (d1) a first spherical alumina having an average particle size of 40 μm or more and 70 μm or less; and (d2) a second spherical alumina having an average particle size of 10 μm or more and 15 μm or less. The spherical silica includes (d3) a first spherical silica having an average particle size of 4 μm or more and 8 μm or less, and (d4) a second spherical silica having an average particle size of 0.05 μm or more and 1.0 μm or less. The total amount of (d3)+(d4) is 17% or more and 23% or less of the total inorganic filler, and the ratio of (d3)/(d4) is (d3)/(d4)=1. An epoxy resin composition for semiconductor encapsulation is known, which is characterized in that the ratio is 1/8 or more and 5/4 or less, and the amount of inorganic filler is 85 to 95% by mass based on the total resin composition (for example, Patent Document (see 1)
特許文献1: 特開2006-273920号公報 Patent Document 1: Japanese Patent Application Publication No. 2006-273920
しかし、特許文献1に記載の半導体封止用エポキシ樹脂組成物では、高熱伝導フィラーであるアルミナを高充填させることで、熱伝導性の高い硬化物が得られるものの、封止材の流動性が低下することがある。そのため、流動性の高い高熱伝導封止材の開発は難題である。 However, in the epoxy resin composition for semiconductor encapsulation described in Patent Document 1, although a cured product with high thermal conductivity can be obtained by highly filling alumina, which is a highly thermally conductive filler, the fluidity of the encapsulating material is low. It may decrease. Therefore, the development of highly fluid and highly thermally conductive encapsulants is a challenge.
本発明の一実施形態によれば、熱伝導性の高い硬化物を得ることと流動性の向上とを両立できる封止組成物及び封止組成物を用いた半導体装置が提供される。 According to one embodiment of the present invention, there is provided a sealing composition that can both obtain a cured product with high thermal conductivity and improve fluidity, and a semiconductor device using the sealing composition.
本発明は、以下の実施形態を包含する。
<1>
エポキシ樹脂と、
硬化剤と、
比表面積が100m2/g以上のシリカ粒子を含む無機充填材と、
炭素数6以上の鎖状炭化水素基がケイ素原子に結合した構造を有するシラン化合物と、
を含有する封止組成物。
<2>
封止組成物を、硬化温度175℃及び硬化時間90秒の条件で加熱硬化したときに得られる硬化物のショアDで示される熱時硬度が70以上である<1>に記載の封止組成物。
<3>
前記無機充填材の含有率は、封止組成物全体に対して78体積%以上である<1>又は<2>に記載の封止組成物。
<4>
前記硬化剤は、多官能フェノール樹脂硬化剤を含有する<1>~<3>のいずれか1つに記載の封止組成物。
<5>
前記硬化剤は、トリフェニルメタン型フェノール樹脂を含有する<1>~<4>のいずれか1つに記載の封止組成物。
<6>
前記鎖状炭化水素基が、(メタ)アクリロイル基、エポキシ基、及びアルコキシ基からなる群より選択される少なくとも1つの官能基を有する、<1>~<5>のいずれか1つに記載の封止組成物。
<7>
前記鎖状炭化水素基が、(メタ)アクリロイル基を有する、<1>~<6>のいずれか1つに記載の封止組成物。
<8>
半導体素子と、前記半導体素子を封止してなる<1>~<7>のいずれか1つに記載の封止組成物の硬化物と、を含む半導体装置。The present invention includes the following embodiments.
<1>
Epoxy resin and
a hardening agent;
An inorganic filler containing silica particles with a specific surface area of 100 m 2 /g or more,
A silane compound having a structure in which a chain hydrocarbon group having 6 or more carbon atoms is bonded to a silicon atom,
A sealing composition containing.
<2>
The sealing composition according to <1>, wherein the cured product obtained when the sealing composition is heated and cured under conditions of a curing temperature of 175° C. and a curing time of 90 seconds has a hardness when heated as Shore D of 70 or more. thing.
<3>
The sealing composition according to <1> or <2>, wherein the content of the inorganic filler is 78% by volume or more based on the entire sealing composition.
<4>
The sealing composition according to any one of <1> to <3>, wherein the curing agent contains a polyfunctional phenolic resin curing agent.
<5>
The sealing composition according to any one of <1> to <4>, wherein the curing agent contains a triphenylmethane type phenolic resin.
<6>
The chain hydrocarbon group according to any one of <1> to <5>, wherein the chain hydrocarbon group has at least one functional group selected from the group consisting of a (meth)acryloyl group, an epoxy group, and an alkoxy group. Sealing composition.
<7>
The encapsulating composition according to any one of <1> to <6>, wherein the chain hydrocarbon group has a (meth)acryloyl group.
<8>
A semiconductor device comprising a semiconductor element and a cured product of the sealing composition according to any one of <1> to <7>, which is obtained by sealing the semiconductor element.
本発明の一実施形態によれば、熱伝導性の高い硬化物を得ることと流動性の向上とを両立できる封止組成物及び封止組成物を用いた半導体装置が提供される。 According to one embodiment of the present invention, there is provided a sealing composition that can both obtain a cured product with high thermal conductivity and improve fluidity, and a semiconductor device using the sealing composition.
以下、本開示の封止組成物及び半導体装置を実施するための形態について詳細に説明する。但し、本発明は以下の実施形態に限定されるものではない。以下の実施形態において、その構成要素(例えば要素ステップ等も含む)は、特に明示した場合を除き、必須ではない。数値及びその範囲についても同様であり、本発明を制限するものではない。 Hereinafter, embodiments for implementing the encapsulating composition and semiconductor device of the present disclosure will be described in detail. However, the present invention is not limited to the following embodiments. In the following embodiments, the constituent elements (including, for example, elemental steps) are not essential unless otherwise specified. The same applies to numerical values and their ranges, and they do not limit the present invention.
本開示において「~」を用いて示された数値範囲には、「~」の前後に記載される数値がそれぞれ最小値及び最大値として含まれる。
本開示中に段階的に記載されている数値範囲において、一つの数値範囲で記載された上限値又は下限値は、他の段階的な記載の数値範囲の上限値又は下限値に置き換えてもよい。また、本開示中に記載されている数値範囲において、その数値範囲の上限値又は下限値は、実施例に示されている値に置き換えてもよい。
本開示において各成分は該当する物質を複数種含んでいてもよい。組成物中に各成分に該当する物質が複数種存在する場合、各成分の含有率又は含有量は、特に断らない限り、組成物中に存在する当該複数種の物質の合計の含有率又は含有量を意味する。
本開示において各成分に該当する粒子は複数種含んでいてもよい。組成物中に各成分に該当する粒子が複数種存在する場合、各成分の粒子径は、特に断らない限り、組成物中に存在する当該複数種の粒子の混合物についての値を意味する。
本開示において「(メタ)アクリロイル基」とは、アクリロイル基及びメタクリロイル基の少なくとも一方を意味し、「(メタ)アクリル」はアクリル及びメタクリルの少なくとも一方を意味し、「(メタ)アクリレート」はアクリレート及びメタクリレートの少なくとも一方を意味する。In the present disclosure, numerical ranges indicated using "~" include the numerical values written before and after "~" as minimum and maximum values, respectively.
In the numerical ranges described step by step in this disclosure, the upper limit or lower limit described in one numerical range may be replaced with the upper limit or lower limit of another numerical range described step by step. . Furthermore, in the numerical ranges described in this disclosure, the upper limit or lower limit of the numerical range may be replaced with the values shown in the Examples.
In the present disclosure, each component may contain multiple types of corresponding substances. If there are multiple types of substances corresponding to each component in the composition, the content rate or content of each component is the total content rate or content of the multiple types of substances present in the composition, unless otherwise specified. means quantity.
In the present disclosure, each component may include a plurality of types of particles. When a plurality of types of particles corresponding to each component are present in the composition, the particle diameter of each component means a value for a mixture of the plurality of types of particles present in the composition, unless otherwise specified.
In the present disclosure, "(meth)acryloyl group" means at least one of acryloyl group and methacryloyl group, "(meth)acrylic" means at least one of acrylic and methacrylic, and "(meth)acrylate" means acrylic and methacrylate.
<封止組成物>
本開示の封止組成物は、エポキシ樹脂と、硬化剤と、比表面積が100m2/g以上のシリカ粒子を含む無機充填材と、炭素数6以上の鎖状炭化水素基がケイ素原子に結合した構造を有するシラン化合物と、を含有する。
以下、比表面積が100m2/g以上のシリカ粒子を「特定シリカ粒子」、炭素数6以上の鎖状炭化水素基がケイ素原子に結合した構造を有するシラン化合物を「特定シラン化合物」と称する場合がある。<Sealing composition>
The sealing composition of the present disclosure includes an epoxy resin, a curing agent, an inorganic filler containing silica particles having a specific surface area of 100 m 2 /g or more, and a chain hydrocarbon group having 6 or more carbon atoms bonded to a silicon atom. A silane compound having the following structure.
Hereinafter, silica particles with a specific surface area of 100 m 2 /g or more will be referred to as "specific silica particles", and a silane compound having a structure in which a chain hydrocarbon group having 6 or more carbon atoms is bonded to a silicon atom will be referred to as a "specific silane compound". There is.
本開示の封止組成物は、上記特定シラン化合物を含有するため、熱伝導性の高い硬化物を得ることと流動性の向上とが両立できる。
一般的に、無機充填材を高充填させることで、熱伝導性の高い硬化物が得られる。しかし、無機充填材の充填量を上げていくと、流動性が下がりやすくなることに加え、無機充填材の充填量をさらに上げても硬化物の熱伝導性が上昇しにくくなり、熱伝導性が飽和状態となることがある。これに対して、本開示の封止組成物では、上記特定シラン化合物を含有することにより、特定シラン化合物を含有しない場合に比べて、流動性が高く、無機充填材の充填量を上げることで硬化物の熱伝導性を高くすることができる。その理由は定かではないが、特定シラン化合物を含有することにより、封止組成物内における無機充填材の分散性が向上することで、封止組成物の流動性が向上すると共に、無機充填材による熱伝導性向上の機能が発揮されやすくなると考えられる。以上のことから、本開示の封止組成物は熱伝導性の高い硬化物を得ることと流動性の向上とが両立できると推測される。Since the sealing composition of the present disclosure contains the above-mentioned specific silane compound, it is possible to obtain a cured product with high thermal conductivity and to improve fluidity.
Generally, a cured product with high thermal conductivity can be obtained by highly filling the inorganic filler. However, as the amount of inorganic filler is increased, the fluidity tends to decrease, and even if the amount of inorganic filler is further increased, the thermal conductivity of the cured product becomes difficult to increase. may reach saturation. On the other hand, in the sealing composition of the present disclosure, by containing the above-mentioned specific silane compound, the fluidity is higher than when the specific silane compound is not contained, and by increasing the filling amount of the inorganic filler, The thermal conductivity of the cured product can be increased. The reason for this is not clear, but by containing a specific silane compound, the dispersibility of the inorganic filler in the sealing composition is improved, which improves the fluidity of the sealing composition, and also improves the dispersibility of the inorganic filler in the sealing composition. It is thought that the function of improving thermal conductivity will be more easily exerted. From the above, it is presumed that the sealing composition of the present disclosure is capable of both obtaining a cured product with high thermal conductivity and improving fluidity.
以下、封止組成物を構成する各成分について説明する。本開示の封止組成物は、エポキシ樹脂と、硬化剤と、無機充填材とを含有し、必要に応じてその他の成分を含有してもよい。 Each component constituting the sealing composition will be explained below. The sealing composition of the present disclosure contains an epoxy resin, a curing agent, and an inorganic filler, and may contain other components as necessary.
-エポキシ樹脂-
本開示の封止組成物は、エポキシ樹脂を含有する。エポキシ樹脂の種類は特に限定されず、公知のエポキシ樹脂を使用することができる。
エポキシ樹脂の具体例としては、フェノール化合物(フェノール、クレゾール、キシレノール、レゾルシン、カテコール、ビスフェノールA、ビスフェノールF等)及びナフトール化合物(α-ナフトール、β-ナフトール、ジヒドロキシナフタレン等)からなる群より選択される少なくとも1種と、アルデヒド化合物(ホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プロピオンアルデヒド、ベンズアルデヒド、サリチルアルデヒド等)と、を酸性触媒下で縮合又は共縮合させて得られるノボラック樹脂をエポキシ化したもの(フェノールノボラック型エポキシ樹脂、オルソクレゾールノボラック型エポキシ樹脂等);ビスフェノール(ビスフェノールA、ビスフェノールAD、ビスフェノールF、ビスフェノールS等)及びビフェノール(アルキル置換又は非置換のビフェノール等)からなる群より選択される少なくとも1種のジグリシジルエーテル;フェノール・アラルキル樹脂のエポキシ化物;フェノール化合物とジシクロペンタジエン及びテルペン化合物からなる群より選択される少なくとも1種との付加物又は重付加物のエポキシ化物;多塩基酸(フタル酸、ダイマー酸等)とエピクロルヒドリンの反応により得られるグリシジルエステル型エポキシ樹脂;ポリアミン(ジアミノジフェニルメタン、イソシアヌル酸等)とエピクロルヒドリンとの反応により得られるグリシジルアミン型エポキシ樹脂;オレフィン結合を過酸(過酢酸等)で酸化して得られる線状脂肪族エポキシ樹脂;脂環族エポキシ樹脂;などが挙げられる。エポキシ樹脂は、1種類を単独で使用しても、2種類以上を併用してもよい。-Epoxy resin-
The sealing composition of the present disclosure contains an epoxy resin. The type of epoxy resin is not particularly limited, and any known epoxy resin can be used.
Specific examples of epoxy resins include phenolic compounds (phenol, cresol, xylenol, resorcinol, catechol, bisphenol A, bisphenol F, etc.) and naphthol compounds (α-naphthol, β-naphthol, dihydroxynaphthalene, etc.). and an aldehyde compound (formaldehyde, acetaldehyde, propionaldehyde, benzaldehyde, salicylaldehyde, etc.) under an acidic catalyst. , orthocresol novolak type epoxy resin, etc.); at least one diglycidyl selected from the group consisting of bisphenols (bisphenol A, bisphenol AD, bisphenol F, bisphenol S, etc.) and biphenols (alkyl-substituted or unsubstituted biphenol, etc.) Ether; epoxidized product of phenol/aralkyl resin; epoxidized product of adduct or polyadduct of phenol compound and at least one selected from the group consisting of dicyclopentadiene and terpene compound; polybasic acid (phthalic acid, dimer acid) etc.) and epichlorohydrin; Glycidylamine type epoxy resin obtained by reacting polyamines (diaminodiphenylmethane, isocyanuric acid, etc.) with epichlorohydrin; Olefin bonds are oxidized with peracid (peracetic acid, etc.) Linear aliphatic epoxy resins obtained by; alicyclic epoxy resins; and the like. Epoxy resins may be used singly or in combination of two or more.
集積回路(Integrated Circuit、IC)等の素子上のアルミニウム配線又は銅配線の腐食防止の観点から、エポキシ樹脂の純度は高い方が好ましく、加水分解性塩素量は少ない方が好ましい。封止組成物の耐湿性の向上の観点からは、加水分解性塩素量は質量基準で500ppm以下であることが好ましい。 From the viewpoint of preventing corrosion of aluminum wiring or copper wiring on elements such as integrated circuits (ICs), the purity of the epoxy resin is preferably high, and the amount of hydrolyzable chlorine is preferably low. From the viewpoint of improving the moisture resistance of the sealing composition, the amount of hydrolyzable chlorine is preferably 500 ppm or less on a mass basis.
ここで、加水分解性塩素量は、試料のエポキシ樹脂1gをジオキサン30mLに溶解し、1N-KOHメタノール溶液5mLを添加して30分間リフラックスした後、電位差滴定により求めた値である。 Here, the amount of hydrolyzable chlorine is a value determined by potentiometric titration after dissolving 1 g of the sample epoxy resin in 30 mL of dioxane, adding 5 mL of 1N-KOH methanol solution, and refluxing for 30 minutes.
エポキシ樹脂における融点又は軟化点は、封止組成物の成形性の観点から、50℃以上であることが好ましく、封止組成物の成形性と混練性とを両立させる観点から、50℃~150℃であることが好ましく、60℃~130℃であることがより好ましく、70℃~120℃であることがさらに好ましい。
ここで、エポキシ樹脂の融点は示差走査熱量測定(DSC)で測定される値とし、エポキシ樹脂の軟化点はJIS K 7234:1986に準じた方法(環球法)で測定される値とする。The melting point or softening point of the epoxy resin is preferably 50°C or higher from the viewpoint of moldability of the sealing composition, and from 50°C to 150°C from the viewpoint of achieving both moldability and kneadability of the sealing composition. The temperature is preferably 60°C to 130°C, even more preferably 70°C to 120°C.
Here, the melting point of the epoxy resin is a value measured by differential scanning calorimetry (DSC), and the softening point of the epoxy resin is a value measured by a method (ring and ball method) according to JIS K 7234:1986.
エポキシ樹脂のエポキシ基当量は特に限定されるものではなく、300g/eq未満であることが好ましく、成形性の観点から、120g/eq~270g/eqであることがより好ましく、150g/eq~240/eqであることがさらに好ましい。
上記「エポキシ基当量」は、測定対象となるエポキシ樹脂を秤量してメチルエチルケトン等の溶剤に溶解させ、酢酸と臭化テトラエチルアンモニウム酢酸溶液を加えた後、過塩素酸酢酸標準液によって電位差滴定することにより測定される。この滴定には、指示薬を用いてもよい。The epoxy group equivalent of the epoxy resin is not particularly limited, and is preferably less than 300 g/eq, more preferably from 120 g/eq to 270 g/eq, and from 150 g/eq to 240 g/eq from the viewpoint of moldability. /eq is more preferable.
The above "epoxy group equivalent" can be determined by weighing the epoxy resin to be measured, dissolving it in a solvent such as methyl ethyl ketone, adding acetic acid and tetraethylammonium bromide acetic acid solution, and then performing potentiometric titration using a perchloric acid acetic acid standard solution. It is measured by An indicator may be used for this titration.
エポキシ樹脂は、分子内に、エポキシ基を少なくとも2以上有する。エポキシ樹脂が1分子中に有するエポキシ基の数は、特に限定されるものではなく、2~8が挙げられ、2~6が好ましく、2~3がより好ましく、2が特に好ましい。
なお、上記エポキシ基は、グリシジル基、グリシジルオキシ基、グリシジルオキシカルボニル基、エポキシシクロアルキル基(エポキシシクロペンチル基、エポキシシクロヘキシル基、エポキシシクロオクチル基等)からなる群より選択される少なくとも一種の一部として、第1のエポキシ樹脂の分子中に含まれていてもよい。Epoxy resin has at least two or more epoxy groups in its molecule. The number of epoxy groups that the epoxy resin has in one molecule is not particularly limited, and examples thereof include 2 to 8, preferably 2 to 6, more preferably 2 to 3, and particularly preferably 2.
Note that the above epoxy group is at least a part of at least one selected from the group consisting of glycidyl group, glycidyloxy group, glycidyloxycarbonyl group, and epoxycycloalkyl group (epoxycyclopentyl group, epoxycyclohexyl group, epoxycyclooctyl group, etc.). may be contained in the molecules of the first epoxy resin.
エポキシ樹脂は、分子内に、2以上のエポキシ基に加え、下記一般式(1)で表される2価の連結基を有していることが好ましい。
なお、下記一般式(1)中、*は結合部を示し、R1~R8は、それぞれ独立に、水素原子、炭素数1~12のアルキル基、又は炭素数4~18の芳香族基を示す。The epoxy resin preferably has a divalent linking group represented by the following general formula (1) in addition to two or more epoxy groups in the molecule.
In the following general formula (1), * indicates a bond, and R 1 to R 8 each independently represent a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, or an aromatic group having 4 to 18 carbon atoms. shows.
前記一般式(1)中、R1~R4は、それぞれ独立に、水素原子又は炭素数1~3のアルキル基が好ましく、水素原子又はメチル基がより好ましく、メチル基がさらに好ましい。
また、前記一般式(1)中、R5~R8は、それぞれ独立に、水素原子又は炭素数1~3のアルキル基が好ましく、水素原子又はメチル基がより好ましく、水素原子がさらに好ましい。In the general formula (1), R 1 to R 4 are each independently preferably a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, more preferably a hydrogen atom or a methyl group, and even more preferably a methyl group.
Furthermore, in the general formula (1), R 5 to R 8 are each independently preferably a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, more preferably a hydrogen atom or a methyl group, and even more preferably a hydrogen atom.
封止組成物に占めるエポキシ樹脂の含有率は、2.5質量%~6質量%であることが好ましく、2.8質量%~5.5質量%であることがより好ましく、3.0質量%~5.0質量%であることがさらに好ましい。
無機充填材を除く封止組成物に占めるエポキシ樹脂の含有率は、40質量%~70質量%であることが好ましく、45質量%~64質量%であることがより好ましく、48質量%~55質量%であることがさらに好ましい。The content of the epoxy resin in the sealing composition is preferably 2.5% by mass to 6% by mass, more preferably 2.8% by mass to 5.5% by mass, and 3.0% by mass. % to 5.0% by mass is more preferable.
The content of the epoxy resin in the sealing composition excluding the inorganic filler is preferably 40% by mass to 70% by mass, more preferably 45% to 64% by mass, and 48% to 55% by mass. It is more preferable that it is mass %.
-硬化剤-
本開示の封止組成物は、硬化剤を含有する。硬化剤の種類は特に限定されず、公知の硬化剤を使用することができる。
硬化剤としては、フェノール硬化剤、アミン硬化剤、酸無水物硬化剤、ポリメルカプタン硬化剤、ポリアミノアミド硬化剤、イソシアネート硬化剤、ブロックイソシアネート硬化剤等が挙げられる。硬化剤は、流動性を維持しつつ耐リフロー性に優れる封止組成物を得る観点から、フェノール硬化剤、アミン硬化剤、及び酸無水物硬化剤が好ましく、フェノール硬化剤がより好ましい。硬化剤は1種類を単独で使用しても、2種類以上を併用してもよい。-Hardening agent-
The sealing composition of the present disclosure contains a curing agent. The type of curing agent is not particularly limited, and any known curing agent can be used.
Examples of the curing agent include a phenol curing agent, an amine curing agent, an acid anhydride curing agent, a polymercaptan curing agent, a polyaminoamide curing agent, an isocyanate curing agent, a blocked isocyanate curing agent, and the like. From the viewpoint of obtaining a sealing composition with excellent reflow resistance while maintaining fluidity, the curing agent is preferably a phenol curing agent, an amine curing agent, or an acid anhydride curing agent, and more preferably a phenol curing agent. One type of curing agent may be used alone, or two or more types may be used in combination.
フェノール硬化剤としては、1分子中に2個以上のフェノール性水酸基を有するフェノール樹脂、多価フェノール化合物等が挙げられる。具体的には、フェノール硬化剤としては、レゾルシン、カテコール、ビスフェノールA、ビスフェノールF、置換又は非置換のビフェノール等の多価フェノール化合物;フェノール、クレゾール、キシレノール、レゾルシン、カテコール、ビスフェノールA、ビスフェノールF、フェニルフェノール、アミノフェノール等のフェノール化合物及びα-ナフトール、β-ナフトール、ジヒドロキシナフタレン等のナフトール化合物からなる群より選ばれる少なくとも一種のフェノール性化合物と、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プロピオンアルデヒド等のアルデヒド化合物と、を酸性触媒下で縮合又は共縮合させて得られるノボラック型フェノール樹脂;上記フェノール性化合物と、ジメトキシパラキシレン、ビス(メトキシメチル)ビフェニル等と、から合成されるアラルキル型フェノール樹脂(フェノールアラルキル樹脂、ナフトールアラルキル樹脂等);パラキシリレン変性フェノール樹脂;メタキシリレン変性フェノール樹脂;メラミン変性フェノール樹脂;テルペン変性フェノール樹脂;上記フェノール性化合物とジシクロペンタジエンとの共重合により合成されるジシクロペンタジエン型フェノール樹脂及びジシクロペンタジエン型ナフトール樹脂;シクロペンタジエン変性フェノール樹脂;多環芳香環変性フェノール樹脂;ビフェニル型フェノール樹脂;上記フェノール性化合物と、ベンズアルデヒド、サリチルアルデヒド等の芳香族アルデヒド化合物と、を酸性触媒下で縮合又は共縮合させて得られるトリフェニルメタン型フェノール樹脂;これら2種以上を共重合して得たフェノール樹脂;などが挙げられる。これらのフェノール樹脂及び多価フェノール化合物は、1種を単独で用いても2種以上を組み合わせて用いてもよい。 Examples of the phenol curing agent include phenol resins and polyhydric phenol compounds having two or more phenolic hydroxyl groups in one molecule. Specifically, the phenol curing agent includes polyhydric phenol compounds such as resorcinol, catechol, bisphenol A, bisphenol F, substituted or unsubstituted biphenol; phenol, cresol, xylenol, resorcinol, catechol, bisphenol A, bisphenol F, At least one phenolic compound selected from the group consisting of phenolic compounds such as phenylphenol and aminophenol and naphthol compounds such as α-naphthol, β-naphthol, and dihydroxynaphthalene; and an aldehyde compound such as formaldehyde, acetaldehyde, and propionaldehyde; Novolac-type phenolic resin obtained by condensing or co-condensing under acidic catalyst; aralkyl-type phenolic resin (phenol aralkyl resin, paraxylylene modified phenolic resin; metaxylylene modified phenolic resin; melamine modified phenolic resin; terpene modified phenolic resin; dicyclopentadiene type phenolic resin synthesized by copolymerization of the above phenolic compound and dicyclopentadiene; Cyclopentadiene-type naphthol resin; cyclopentadiene-modified phenol resin; polycyclic aromatic ring-modified phenol resin; biphenyl-type phenol resin; condensation or Triphenylmethane type phenol resins obtained by co-condensation; phenol resins obtained by copolymerizing two or more of these; and the like. These phenol resins and polyhydric phenol compounds may be used alone or in combination of two or more.
フェノール硬化剤は、これらの中でも、多官能フェノール樹脂硬化剤が好ましく、その中でもノボラック型フェノール樹脂、アラルキル型フェノール樹脂、及びトリフェニルメタン型フェノール樹脂が好ましく、トリフェニルメタン型フェノール樹脂がより好ましい。
ここで、「多官能フェノール樹脂硬化剤」は1分子中に官能基(すなわち水酸基)を3以上有するフェノール樹脂である硬化剤である。Among these, the phenol curing agent is preferably a polyfunctional phenol resin curing agent, and among these, a novolac type phenol resin, an aralkyl type phenol resin, and a triphenylmethane type phenol resin are preferable, and a triphenylmethane type phenol resin is more preferable.
Here, the "polyfunctional phenolic resin curing agent" is a curing agent that is a phenolic resin having three or more functional groups (ie, hydroxyl groups) in one molecule.
トリフェニルメタン型フェノール樹脂としては、下記一般式(2)で表されるフェノール樹脂が挙げられる。 Examples of the triphenylmethane type phenol resin include phenol resins represented by the following general formula (2).
上記一般式(2)中、R11~R15は、それぞれ独立に、炭素数1~18の1価の有機基を示し、b1~b2は、それぞれ独立に、0~4の整数を示し、b3は0~3の整数を示し、b4~b5は、それぞれ独立に、0~4の整数を示し、nは0~10を示す。In the general formula (2), R 11 to R 15 each independently represent a monovalent organic group having 1 to 18 carbon atoms, b1 to b2 each independently represent an integer of 0 to 4, b3 represents an integer of 0 to 3, b4 to b5 each independently represents an integer of 0 to 4, and n represents an integer of 0 to 10.
一般式(2)中のR11~R15で示される炭素数1~18の1価の有機基としては、置換又は非置換のアルキル基、置換又は非置換のアルコキシ基、置換又は非置換のアリール基、置換又は非置換のアラルキル基等が挙げられる。
一般式(2)中のb1~b5は、0~1の整数であることが好ましく、0であることがより好ましい
一般式(2)中のnは、1~7であることが好ましく、2~5であることがより好ましい。The monovalent organic group having 1 to 18 carbon atoms represented by R 11 to R 15 in general formula (2) includes a substituted or unsubstituted alkyl group, a substituted or unsubstituted alkoxy group, and a substituted or unsubstituted alkoxy group. Examples include aryl groups, substituted or unsubstituted aralkyl groups, and the like.
b1 to b5 in general formula (2) are preferably integers of 0 to 1, more preferably 0, n in general formula (2) is preferably 1 to 7, and 2 -5 is more preferable.
硬化剤の官能基当量は特に制限されず、成形性の観点から、70g/eq~500g/eqであることが好ましく、70g/eq~300g/eqであることがより好ましく、80g/eq~250g/eqであることがさらに好ましい。なお、官能基当量は、JIS K 0070:1992に準拠して測定された値をいう。 The functional group equivalent of the curing agent is not particularly limited, and from the viewpoint of moldability, it is preferably 70 g / eq to 500 g / eq, more preferably 70 g / eq to 300 g / eq, and 80 g / eq to 250 g /eq is more preferable. Note that the functional group equivalent refers to a value measured in accordance with JIS K 0070:1992.
硬化剤が固体である場合、その軟化点又は融点は、特に制限されない。硬化剤の軟化点又は融点は、成形性と耐リフロー性の観点からは、40℃~180℃であることが好ましく、封止組成物の製造時における取扱い性の観点からは、軟化点又は融点は、50℃~130℃であることがより好ましく、55℃~100℃であることがさらに好ましい。
硬化剤の融点又は軟化点は、エポキシ樹脂の融点又は軟化点と同様にして測定される値とする。When the curing agent is solid, its softening point or melting point is not particularly limited. The softening point or melting point of the curing agent is preferably 40°C to 180°C from the viewpoint of moldability and reflow resistance, and the softening point or melting point is more preferably 50°C to 130°C, even more preferably 55°C to 100°C.
The melting point or softening point of the curing agent is a value measured in the same manner as the melting point or softening point of the epoxy resin.
エポキシ樹脂と硬化剤の配合比は、それぞれの未反応分を少なく抑える観点から、硬化剤の官能基(例えば、フェノール樹脂の場合にはフェノール性水酸基)の当量がエポキシ樹脂のエポキシ基1当量に対して0.5当量~1.5当量になるように、硬化剤が配合されることが好ましく、特に、0.7当量~1.2当量になるように硬化剤が配合されることが好ましい。 The mixing ratio of the epoxy resin and the curing agent is determined from the viewpoint of keeping the amount of unreacted components to a minimum, so that the equivalent of the functional group of the curing agent (for example, the phenolic hydroxyl group in the case of phenolic resin) is equal to 1 equivalent of the epoxy group of the epoxy resin. The curing agent is preferably blended in an amount of 0.5 to 1.5 equivalents, particularly preferably 0.7 to 1.2 equivalents. .
-無機充填材-
本開示の封止組成物は、無機充填材として、特定シリカ粒子(すなわち、比表面積が100m2/g以上のシリカ粒子)を少なくとも含み、必要に応じて特定シリカ粒子以外の充填材(以下「他の充填材」ともいう)を含んでもよい。
封止組成物が特定シリカ粒子を含むことにより、例えば、トランスファーモールド法により半導体素子の封止を行った場合におけるバリの発生が抑制される。
封止組成物は、無機充填材として、特定シリカ粒子と他の充填材とを含むことが好ましい。-Inorganic filler-
The sealing composition of the present disclosure includes at least specific silica particles (i.e., silica particles having a specific surface area of 100 m 2 /g or more) as an inorganic filler, and optionally includes fillers other than specific silica particles (hereinafter referred to as " may also contain other fillers (also referred to as "other fillers").
When the sealing composition contains the specific silica particles, the generation of burrs is suppressed when a semiconductor element is sealed by a transfer molding method, for example.
The sealing composition preferably contains specific silica particles and other fillers as inorganic fillers.
特定シリカ粒子の比表面積は、100m2/g以上であり、上記バリ抑制の観点から、150m2/g~300m2/gであることが好ましく、170m2/g~270m2/gであることがより好ましく、190m2/g~230m2/gであることがさらに好ましい。
無機充填材の比表面積(すなわち、BET比表面積)は、JIS Z 8830:2013に準じて窒素吸着能から測定することができる。評価装置としては、QUANTACHROME社:AUTOSORB-1(商品名)を用いることができる。BET比表面積の測定を行う際には、試料表面及び構造中に吸着している水分がガス吸着能に影響を及ぼすと考えられることから、まず、加熱による水分除去の前処理を行うことが好ましい。
前処理では、0.05gの測定試料を投入した測定用セルを、真空ポンプで10Pa以下に減圧した後、110℃で加熱し、3時間以上保持した後、減圧した状態を保ったまま常温(25℃)まで自然冷却する。この前処理を行った後、評価温度を77Kとし、評価圧力範囲を相対圧(飽和蒸気圧に対する平衡圧力)にて1未満として測定する。The specific surface area of the specific silica particles is 100 m 2 /g or more, and from the viewpoint of suppressing burrs, it is preferably 150 m 2 /g to 300 m 2 /g, and 170 m 2 /g to 270 m 2 /g. is more preferable, and even more preferably 190 m 2 /g to 230 m 2 /g.
The specific surface area (ie, BET specific surface area) of the inorganic filler can be measured from the nitrogen adsorption capacity according to JIS Z 8830:2013. As the evaluation device, AUTOSORB-1 (trade name) manufactured by QUANTACHROME can be used. When measuring the BET specific surface area, it is thought that moisture adsorbed on the sample surface and structure affects the gas adsorption ability, so it is preferable to first perform pretreatment to remove moisture by heating. .
In the pretreatment, the measurement cell containing 0.05 g of the measurement sample was depressurized to 10 Pa or less using a vacuum pump, heated to 110°C, held for more than 3 hours, and then heated to room temperature (while maintaining the depressurized state). Cool naturally to 25°C. After performing this pretreatment, the evaluation temperature is set to 77 K, and the evaluation pressure range is measured as relative pressure (equilibrium pressure with respect to saturated vapor pressure) less than 1.
特定シリカ粒子の含有率は、上記バリ抑制及び成形性の観点から、封止組成物に含まれる無機充填材全体に対し、0.15質量%~1.0質量%が好ましく、0.3質量%~0.8質量%がより好ましく、0.4質量%~0.7質量%がさらに好ましい。 From the viewpoint of burr suppression and moldability, the content of the specific silica particles is preferably 0.15% by mass to 1.0% by mass, and 0.3% by mass based on the entire inorganic filler contained in the sealing composition. % to 0.8% by mass is more preferred, and even more preferably 0.4% to 0.7% by mass.
他の充填材は、1種類を単独で使用しても、2種類以上を併用してもよい。
他の充填材を2種類以上併用する場合としては、成分、平均粒子径、形状等が異なる無機充填材を2種類以上用いる場合が挙げられる。
他の充填材の形状は特に制限されず、粉状、球状、繊維状等が挙げられる。封止組成物の成形時の流動性及び金型摩耗性の点からは、他の充填材の形状は球状であることが好ましい。One type of other fillers may be used alone, or two or more types may be used in combination.
Examples of cases in which two or more types of other fillers are used in combination include cases in which two or more types of inorganic fillers having different components, average particle diameters, shapes, etc. are used.
The shape of the other fillers is not particularly limited, and examples include powder, spherical, and fibrous shapes. From the viewpoint of fluidity and mold abrasion resistance during molding of the sealing composition, the shape of the other filler is preferably spherical.
他の充填材は、高熱伝導性の観点からアルミナを含むことが好ましい。他の充填材の全てがアルミナであってもよく、アルミナとアルミナ以外の他の充填材とが併用されていてもよい。
アルミナ以外の他の充填材としては、比表面積が100m2/g未満のシリカ(球状シリカ、結晶シリカ等)、ジルコン、酸化マグネシウム、珪酸カルシウム、炭酸カルシウム、チタン酸カリウム、炭化珪素、窒化珪素、窒化ホウ素、ベリリア、ジルコニアなどが挙げられる。さらに、難燃効果のある無機充填材としては水酸化アルミニウム、硼酸亜鉛等が挙げられる。The other fillers preferably include alumina from the viewpoint of high thermal conductivity. All of the other fillers may be alumina, or alumina and a filler other than alumina may be used together.
Other fillers other than alumina include silica (spherical silica, crystalline silica, etc.) with a specific surface area of less than 100 m 2 /g, zircon, magnesium oxide, calcium silicate, calcium carbonate, potassium titanate, silicon carbide, silicon nitride, Examples include boron nitride, beryllia, and zirconia. Further, examples of inorganic fillers having a flame retardant effect include aluminum hydroxide, zinc borate, and the like.
無機充填材の含有率(例えば、無機充填材が特定シリカ粒子及び他の充填材を含む場合は、特定シリカ粒子及び他の充填材を含む無機充填材全体の含有率)は、吸湿性、線膨張係数の低減、強度向上及びはんだ耐熱性の観点から、封止組成物の全体に対して60体積%以上であることが好ましく、70体積%以上であることがより好ましく、75体積%以上であることがさらに好ましい。
また、無機充填材の含有率は、高熱伝導性の観点から、封止組成物の全体に対して78体積%以上であることが好ましく、80体積%以上であることがより好ましい。無機充填材の含有率は、封止組成物の成形性の観点から、封止組成物の全体に対して95体積%以下であることが好ましく、90体積%以下であることがより好ましく、85体積%以下であることがさらに好ましい。無機充填材の含有率は、高熱伝導性と封止組成物の成形性とを両立する観点から、78体積%~90体積%が好ましく、78体積%~85体積%がより好ましく、80体積%~85体積%がさらに好ましい。The content of the inorganic filler (for example, if the inorganic filler contains specific silica particles and other fillers, the content of the entire inorganic filler including the specific silica particles and other fillers) is determined by the hygroscopicity, linear From the viewpoint of reducing the coefficient of expansion, improving strength and soldering heat resistance, it is preferably 60 volume % or more, more preferably 70 volume % or more, and 75 volume % or more based on the entire sealing composition. It is even more preferable that there be.
Further, from the viewpoint of high thermal conductivity, the content of the inorganic filler is preferably 78% by volume or more, more preferably 80% by volume or more, based on the entire sealing composition. From the viewpoint of moldability of the sealing composition, the content of the inorganic filler is preferably 95% by volume or less, more preferably 90% by volume or less, and 85% by volume or less based on the entire sealing composition. More preferably, it is less than or equal to % by volume. The content of the inorganic filler is preferably 78% to 90% by volume, more preferably 78% to 85% by volume, and 80% by volume from the viewpoint of achieving both high thermal conductivity and moldability of the sealing composition. More preferably 85% by volume.
無機充填材の平均粒子径(例えば、無機充填材が特定シリカ粒子及び他の充填材を含む場合は、特定シリカ粒子及び他の充填材を含む無機充填材全体の平均粒子径)は、4μm~100μmであることが好ましく、7μm~70μmであることがより好ましく、7μm~40μmであることがさらに好ましい。
封止組成物の硬化物の熱伝導率は、無機充填材の平均粒子径が大きくなる程、高くなる傾向にある。
無機充填材の平均粒子径は、以下の方法により測定することができる。The average particle diameter of the inorganic filler (for example, if the inorganic filler contains specific silica particles and other fillers, the average particle diameter of the entire inorganic filler including the specific silica particles and other fillers) is 4 μm to It is preferably 100 μm, more preferably 7 μm to 70 μm, even more preferably 7 μm to 40 μm.
The thermal conductivity of the cured product of the sealing composition tends to increase as the average particle size of the inorganic filler increases.
The average particle diameter of the inorganic filler can be measured by the following method.
溶媒(純水)に、測定対象の無機充填材を1質量%~5質量%の範囲内で界面活性剤1質量%~8質量%とともに添加し、110Wの超音波洗浄機で30秒~5分間振動し、無機充填材を分散する。分散液の約3mL程度を測定用セルに注入して25℃で測定する。測定装置は、レーザー回折式粒度分布計(株式会社堀場製作所、LA920)を用い、体積基準の粒度分布を測定する。平均粒子径は、体積基準の粒度分布において小径側からの累積が50%となるときの粒子径(D50%)として求められる。なお、屈折率はアルミナの屈折率を用いる。無機充填材がアルミナとその他の無機充填材の混合物である場合においては、屈折率はアルミナの屈折率を用いるものとする。 Add the inorganic filler to be measured to a solvent (pure water) in a range of 1% to 5% by mass together with 1% to 8% by mass of a surfactant, and wash in a 110W ultrasonic cleaner for 30 seconds to 5%. Vibrate for a minute to disperse the inorganic filler. About 3 mL of the dispersion liquid is injected into a measurement cell and measured at 25°C. The measuring device measures the volume-based particle size distribution using a laser diffraction particle size distribution meter (Horiba, Ltd., LA920). The average particle diameter is determined as the particle diameter (D50%) when the accumulation from the small diameter side is 50% in the volume-based particle size distribution. Note that the refractive index of alumina is used as the refractive index. When the inorganic filler is a mixture of alumina and other inorganic fillers, the refractive index of alumina is used as the refractive index.
無機充填材の比表面積(例えば、無機充填材が特定シリカ粒子及び他の充填材を含む場合は、特定シリカ粒子及び他の充填材を含む無機充填材全体の比表面積)は、流動性及び成形性の観点から、0.7m2/g~4.0m2/gであることが好ましく、0.9m2/g~3.0m2/gであることがより好ましく、1.0m2/g~2.5m2/gであることがさらに好ましい。
封止組成物の流動性は、無機充填材の比表面積が小さくなる程、高くなる傾向にある。The specific surface area of the inorganic filler (for example, if the inorganic filler contains specific silica particles and other fillers, the specific surface area of the entire inorganic filler including the specific silica particles and other fillers) depends on fluidity and moldability. From the viewpoint of performance, it is preferably 0.7 m 2 /g to 4.0 m 2 /g, more preferably 0.9 m 2 /g to 3.0 m 2 /g, and 1.0 m 2 /g More preferably, it is 2.5 m 2 /g.
The fluidity of the sealing composition tends to increase as the specific surface area of the inorganic filler decreases.
-特定シラン化合物-
本開示の封止組成物は、特定シラン化合物(すなわち、炭素数6以上の鎖状炭化水素基がケイ素原子に結合した構造を有するシラン化合物)を含有する。
特定シラン化合物は、炭素数6以上の鎖状炭化水素基(以下、炭素数6以上の鎖状炭化水素基を、単に鎖状炭化水素基ともいう)がケイ素原子に結合した構造を有する。鎖状炭化水素基は分岐していてもよく、置換基を有していてもよい。なお、本開示において、鎖状炭化水素基の炭素数とは、分岐又は置換基の炭素を含まない炭素数を意味する。鎖状炭化水素基は、不飽和結合を含んでいても含んでいなくてもよく、不飽和結合を含まないことが好ましい。
特定シラン化合物は、封止組成物において、無機充填材のカップリング剤として機能すると考えられる。-Specific silane compounds-
The sealing composition of the present disclosure contains a specific silane compound (that is, a silane compound having a structure in which a chain hydrocarbon group having 6 or more carbon atoms is bonded to a silicon atom).
The specific silane compound has a structure in which a chain hydrocarbon group having 6 or more carbon atoms (hereinafter, a chain hydrocarbon group having 6 or more carbon atoms is also simply referred to as a chain hydrocarbon group) is bonded to a silicon atom. The chain hydrocarbon group may be branched and may have a substituent. In addition, in this disclosure, the number of carbon atoms in a chain hydrocarbon group means the number of carbon atoms not including branched or substituent carbons. The chain hydrocarbon group may or may not contain an unsaturated bond, and preferably does not contain an unsaturated bond.
It is believed that the specific silane compound functions as a coupling agent for the inorganic filler in the sealing composition.
特定シラン化合物における、ケイ素原子に結合する鎖状炭化水素基の数は、1~4であればよく、1~3であることが好ましく、1又は2であることがより好ましく、1であることがさらに好ましい。 The number of chain hydrocarbon groups bonded to silicon atoms in the specific silane compound may be 1 to 4, preferably 1 to 3, more preferably 1 or 2, and 1. is even more preferable.
特定シラン化合物中におけるケイ素原子に結合する鎖状炭化水素基の数が1~3である場合、ケイ素原子に結合する、鎖状炭化水素基以外の原子又は原子団は特に制限されず、それぞれ独立に、水素原子、炭素数1~5のアルキル基、アルコキシ基、アリール基、アリールオキシ基等であってもよい。なかでも、特定シラン化合物中におけるケイ素原子には、鎖状炭化水素基以外に1又は複数のアルコキシが結合していることが好ましく、1個の鎖状炭化水素基と、3個のアルコキシ基とがケイ素原子に結合していることがより好ましい。 When the number of chain hydrocarbon groups bonded to silicon atoms in a specific silane compound is 1 to 3, atoms or atomic groups other than the chain hydrocarbon groups bonded to silicon atoms are not particularly limited, and each independently Additionally, it may be a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, an alkoxy group, an aryl group, an aryloxy group, etc. Among them, it is preferable that one or more alkoxy groups are bonded to the silicon atom in the specific silane compound in addition to the chain hydrocarbon group, and one chain hydrocarbon group and three alkoxy groups are bonded to the silicon atom in the specific silane compound. is more preferably bonded to a silicon atom.
特定シラン化合物の鎖状炭化水素基の炭素数は、6以上であり、粘度を抑える観点から、7以上であることが好ましく、8以上であることがより好ましい。特定シラン化合物の鎖状炭化水素基の炭素数の上限に特に制限はなく、樹脂への分散性、硬化物の物性バランス等の観点から、12以下であることが好ましく、11以下であることがより好ましく、10以下であることがさらに好ましい。 The number of carbon atoms in the chain hydrocarbon group of the specific silane compound is 6 or more, preferably 7 or more, and more preferably 8 or more from the viewpoint of suppressing viscosity. There is no particular restriction on the upper limit of the number of carbon atoms in the chain hydrocarbon group of the specific silane compound, and from the viewpoint of dispersibility in the resin, balance of physical properties of the cured product, etc., it is preferably 12 or less, and preferably 11 or less. More preferably, it is 10 or less.
鎖状炭化水素基が置換基を有する場合、置換基は特に限定されない。置換基は、鎖状炭化水素基の末端に存在していてもよく、鎖状炭化水素基の側鎖に存在していてもよい。 When the chain hydrocarbon group has a substituent, the substituent is not particularly limited. The substituent may be present at the end of the chain hydrocarbon group or at the side chain of the chain hydrocarbon group.
鎖状炭化水素基は、(メタ)アクリロイル基、エポキシ基、及びアルコキシ基からなる群より選択される少なくとも1つの官能基(以下、「特定官能基」ともいう)を有することが好ましく、(メタ)アクリロイル基及びエポキシ基からなる群より選択される少なくとも1つの官能基を有することがより好ましく、(メタ)アクリロイル基を有することがさらに好ましい。特定官能基は、鎖状炭化水素基の末端に存在していてもよく、鎖状炭化水素基の側鎖に存在していてもよい。粘度を抑える観点からは、特定官能基は鎖状炭化水素基の末端に存在していることが好ましい。 The chain hydrocarbon group preferably has at least one functional group (hereinafter also referred to as "specific functional group") selected from the group consisting of a (meth)acryloyl group, an epoxy group, and an alkoxy group; ) It is more preferable to have at least one functional group selected from the group consisting of an acryloyl group and an epoxy group, and it is even more preferable to have a (meth)acryloyl group. The specific functional group may be present at the end of the chain hydrocarbon group or at the side chain of the chain hydrocarbon group. From the viewpoint of suppressing viscosity, it is preferable that the specific functional group exists at the end of the chain hydrocarbon group.
鎖状炭化水素基が(メタ)アクリロイル基を有する場合、(メタ)アクリロイル基は鎖状炭化水素基に直接結合していてもよく、他の原子又は原子団を介して結合していてもよい。例えば、鎖状炭化水素基は(メタ)アクリロイルオキシ基を有していてもよい。なかでも、鎖状炭化水素基はメタクリロイルオキシ基を有することが好ましい。 When the chain hydrocarbon group has a (meth)acryloyl group, the (meth)acryloyl group may be bonded directly to the chain hydrocarbon group or may be bonded via another atom or atomic group. . For example, the chain hydrocarbon group may have a (meth)acryloyloxy group. Among these, it is preferable that the chain hydrocarbon group has a methacryloyloxy group.
鎖状炭化水素基がエポキシ基を有する場合、エポキシ基は鎖状炭化水素基に直接結合していてもよく、他の原子又は原子団を介して結合していてもよい。例えば、鎖状炭化水素基はグリシジルオキシ基、脂環式エポキシ基等を有していてもよい。なかでも、鎖状炭化水素基はグリシジルオキシ基を有することが好ましい。 When the chain hydrocarbon group has an epoxy group, the epoxy group may be bonded directly to the chain hydrocarbon group or may be bonded via another atom or atomic group. For example, the chain hydrocarbon group may have a glycidyloxy group, an alicyclic epoxy group, or the like. Among these, it is preferable that the chain hydrocarbon group has a glycidyloxy group.
鎖状炭化水素基がアルコキシ基を有する場合、アルコキシ基は鎖状炭化水素基に直接結合していてもよく、他の原子又は原子団を介して結合していてもよく、鎖状炭化水素基に直接結合していることが好ましい。アルコキシ基は特に限定されず、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、イソプロポキシ基等であってよい。なかでも、入手容易性の観点からは、鎖状炭化水素基はメトキシ基を有することが好ましい。 When the chain hydrocarbon group has an alkoxy group, the alkoxy group may be bonded directly to the chain hydrocarbon group or may be bonded through another atom or atomic group, and the chain hydrocarbon group Preferably, it is directly bonded to. The alkoxy group is not particularly limited, and may be a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group, an isopropoxy group, or the like. Among these, from the viewpoint of easy availability, it is preferable that the chain hydrocarbon group has a methoxy group.
特定シラン化合物における、(メタ)アクリロイル基、エポキシ基、及びアルコキシ基からなる群より選択される少なくとも1つの官能基の当量(分子量/官能基数)は特に制限されない。封止組成物の低粘度化の観点から、200g/eq~420g/eqであることが好ましく、210g/eq~405g/eqであることがより好ましく、230g/eq~390g/eqであることがさらに好ましい。 The equivalent weight (molecular weight/number of functional groups) of at least one functional group selected from the group consisting of (meth)acryloyl group, epoxy group, and alkoxy group in the specific silane compound is not particularly limited. From the viewpoint of reducing the viscosity of the sealing composition, it is preferably 200 g/eq to 420 g/eq, more preferably 210 g/eq to 405 g/eq, and preferably 230 g/eq to 390 g/eq. More preferred.
特定シラン化合物としては、ヘキシルトリメトキシシラン、ヘプチルトリメトキシシラン、オクチルトリメトキシシラン、ヘキシルトリエトキシシラン、ヘプチルトリエトキシシラン、オクチルトリエトキシシラン、6-グリシドキシヘキシルトリメトキシシラン、7-グリシドキシヘプチルトリメトキシシラン、8-グリシドキシオクチルトリメトキシシラン、6-(メタ)アクリロキシヘキシルトリメトキシシラン、7-(メタ)アクリロキシへプチルトリメトキシシラン、8-(メタ)アクリロキシオクチルトリメトキシシラン、デシルトリメトキシシラン等が挙げられる。なかでも、封止組成物の低粘度化の観点から、特定シラン化合物は、8-グリシドキシオクチルトリメトキシシラン、及び8-メタクリロキシオクチルトリメトキシシランが好ましい。特定シラン化合物は1種を単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 Specific silane compounds include hexyltrimethoxysilane, heptyltrimethoxysilane, octyltrimethoxysilane, hexyltriethoxysilane, heptyltriethoxysilane, octyltriethoxysilane, 6-glycidoxyhexyltrimethoxysilane, and 7-glycid. xyheptyltrimethoxysilane, 8-glycidoxyoctyltrimethoxysilane, 6-(meth)acryloxyhexyltrimethoxysilane, 7-(meth)acryloxyheptyltrimethoxysilane, 8-(meth)acryloxyoctyltrimethoxy Examples include silane and decyltrimethoxysilane. Among these, from the viewpoint of reducing the viscosity of the sealing composition, the specific silane compounds are preferably 8-glycidoxyoctyltrimethoxysilane and 8-methacryloxyoctyltrimethoxysilane. One type of specific silane compound may be used alone, or two or more types may be used in combination.
特定シラン化合物は合成してもよく、市販されているものを用いてもよい。市販されている特定シラン化合物としては、信越化学工業株式会社製KBM-3063(ヘキシルトリメトキシシラン)、KBE-3063(ヘキシルトリエトキシシラン)、KBE-3083(オクチルトリエトキシシラン)、KBM-4803(8-グリシドキシオクチルトリメトキシシラン)、KBM-5803(8-メタクリロキシオクチルトリメトキシシラン)、KBM-3103C(デシルトリメトキシシラン)等が挙げられる。 The specific silane compound may be synthesized or a commercially available one may be used. Commercially available specific silane compounds include KBM-3063 (hexyltrimethoxysilane), KBE-3063 (hexyltriethoxysilane), KBE-3083 (octyltriethoxysilane), and KBM-4803 (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.). Examples include 8-glycidoxyoctyltrimethoxysilane), KBM-5803 (8-methacryloxyoctyltrimethoxysilane), and KBM-3103C (decyltrimethoxysilane).
封止組成物中の特定シラン化合物の含有量は特に制限されない。特定シラン化合物の含有量は無機充填材100質量部に対して0.01質量部以上であってもよく、0.02質量部以上であってもよい。また、特定シラン化合物の含有量は無機充填材100質量部に対して5質量部以下であることが好ましく、2.5質量部以下であることがより好ましい。特定シラン化合物の含有量が無機充填材100質量部に対して0.01質量部以上であると、流動性の高い組成物が得られる傾向にある。特定シラン化合物の含有量が無機充填材100質量部に対して5質量部以下であると、パッケージの成形性がより向上する傾向にある。特定シラン化合物の含有量は、流動性とパッケージの成形性とを両立する観点から、無機充填材100質量部に対して0.05質量部~2.0質量部が好ましく、0.1質量部~1.5質量部がより好ましく、0.2質量部~1.0質量部がさらに好ましい。
また、特定シラン化合物の含有率は、封止組成物の全体に対して3質量%以下であることが好ましく、2質量%以下がより好ましく、1質量%以下がさらに好ましく、その効果を発揮させる観点からは、0.1質量%以上であることが好ましく、0.15質量%以上であることがより好ましく、0.2質量%以上がさらに好ましい。The content of the specific silane compound in the sealing composition is not particularly limited. The content of the specific silane compound may be 0.01 parts by mass or more, or 0.02 parts by mass or more with respect to 100 parts by mass of the inorganic filler. Further, the content of the specific silane compound is preferably 5 parts by mass or less, more preferably 2.5 parts by mass or less, based on 100 parts by mass of the inorganic filler. When the content of the specific silane compound is 0.01 part by mass or more based on 100 parts by mass of the inorganic filler, a composition with high fluidity tends to be obtained. When the content of the specific silane compound is 5 parts by mass or less based on 100 parts by mass of the inorganic filler, the moldability of the package tends to be further improved. From the viewpoint of achieving both fluidity and moldability of the package, the content of the specific silane compound is preferably 0.05 parts by mass to 2.0 parts by mass, and 0.1 parts by mass based on 100 parts by mass of the inorganic filler. The amount is more preferably 1.5 parts by weight, and even more preferably 0.2 parts by weight to 1.0 parts by weight.
Further, the content of the specific silane compound is preferably 3% by mass or less, more preferably 2% by mass or less, and even more preferably 1% by mass or less, based on the entire sealing composition, so that the effect can be exhibited. From the viewpoint, it is preferably 0.1% by mass or more, more preferably 0.15% by mass or more, and even more preferably 0.2% by mass or more.
-その他の成分-
(他のカップリング剤)
封止組成物は、前記特定シラン化合物に加えて、他のカップリング剤をさらに含有してもよい。他のカップリング剤としては、エポキシ樹脂を用いた封止組成物に一般に使用されているものであれば特に制限はない。他のカップリング剤としては、エポキシシラン、メルカプトシラン、アミノシラン、アルキルシラン、ウレイドシラン、ビニルシラン等のシラン系化合物(特定シラン化合物を除く)、チタン系化合物、アルミニウムキレート化合物、アルミニウム/ジルコニウム系化合物などの公知のカップリング剤が挙げられる。他のカップリング剤は1種を単独で用いても、2種以上を組み合わせて用いてもよい。-Other ingredients-
(Other coupling agents)
In addition to the specific silane compound, the sealing composition may further contain other coupling agents. Other coupling agents are not particularly limited as long as they are commonly used in sealing compositions using epoxy resins. Other coupling agents include silane compounds (excluding specific silane compounds) such as epoxysilane, mercaptosilane, aminosilane, alkylsilane, ureidosilane, and vinylsilane, titanium compounds, aluminum chelate compounds, aluminum/zirconium compounds, etc. Examples of known coupling agents include: The other coupling agents may be used alone or in combination of two or more.
封止組成物が特定シラン化合物以外の他のカップリング剤を含有する場合、特定シラン化合物及び他のカップリング剤の合計含有量は、無機充填材100質量部に対して0.01質量部以上であってもよく、0.02質量部以上であってもよい。また、特定シラン化合物及び他のカップリング剤の合計含有量は無機充填材100質量部に対して5質量部以下であることが好ましく、2.5質量部以下であることがより好ましい。特定シラン化合物及び他のカップリング剤の合計含有量が無機充填材100質量部に対して0.01質量部以上であると、流動性の高い組成物が得られる傾向にある。特定シラン化合物及び他のカップリング剤の合計含有量が無機充填材100質量部に対して5質量部以下であると、パッケージの成形性がより向上する傾向にある。特定シラン化合物の及び他のカップリング剤の合計含有量は、流動性とパッケージの成形性とを両立する観点から、無機充填材100質量部に対して0.05質量部~2.0質量部が好ましく、0.1質量部~1.5質量部がより好ましく、0.2質量部~1.0質量部がさらに好ましい。
また、特定シラン化合物及び他のカップリング剤の合計含有率は、封止組成物の全体に対して3質量%以下であることが好ましく、2質量%以下がより好ましく、1質量%以下がさらに好ましく、その効果を発揮させる観点からは、0.1質量%以上であることが好ましく、0.15質量%以上であることがより好ましく、0.2質量%以上がさらに好ましい。When the sealing composition contains a coupling agent other than the specific silane compound, the total content of the specific silane compound and the other coupling agent is 0.01 parts by mass or more based on 100 parts by mass of the inorganic filler. The amount may be 0.02 parts by mass or more. Further, the total content of the specific silane compound and other coupling agents is preferably 5 parts by mass or less, more preferably 2.5 parts by mass or less, based on 100 parts by mass of the inorganic filler. When the total content of the specific silane compound and other coupling agent is 0.01 parts by mass or more based on 100 parts by mass of the inorganic filler, a composition with high fluidity tends to be obtained. When the total content of the specific silane compound and other coupling agents is 5 parts by mass or less based on 100 parts by mass of the inorganic filler, the moldability of the package tends to be further improved. The total content of the specific silane compound and other coupling agents is 0.05 parts by mass to 2.0 parts by mass based on 100 parts by mass of the inorganic filler, from the viewpoint of achieving both fluidity and moldability of the package. is preferable, 0.1 parts by weight to 1.5 parts by weight is more preferable, and even more preferably 0.2 parts by weight to 1.0 parts by weight.
Further, the total content of the specific silane compound and other coupling agents is preferably 3% by mass or less, more preferably 2% by mass or less, and further preferably 1% by mass or less based on the entire sealing composition. Preferably, from the viewpoint of exhibiting the effect, the content is preferably 0.1% by mass or more, more preferably 0.15% by mass or more, and even more preferably 0.2% by mass or more.
封止組成物が特定シラン化合物以外の他のカップリング剤を含有する場合、特定シラン化合物の作用を良好に発揮する観点から、特定シラン化合物及び他のカップリング剤の合計量に対する他のカップリング剤の含有率は90質量%以下であることが好ましく、70質量%以下であることがより好ましく、50質量%以下であることがさらに好ましく、40質量%以下であることが特に好ましく、20質量%以下が極めて好ましく、10質量%以下が最も好ましい。 When the sealing composition contains a coupling agent other than the specific silane compound, from the viewpoint of favorably exhibiting the action of the specific silane compound, other coupling agents should be added to the total amount of the specific silane compound and other coupling agent. The content of the agent is preferably 90% by mass or less, more preferably 70% by mass or less, even more preferably 50% by mass or less, particularly preferably 40% by mass or less, and 20% by mass or less. % or less is extremely preferred, and 10% by mass or less is most preferred.
(硬化促進剤)
封止組成物は、硬化促進剤をさらに含有してもよい。硬化促進剤の種類は特に制限されず、公知の硬化促進剤を使用することができる。
硬化促進剤としては、具体的には、1,8-ジアザ-ビシクロ[5.4.0]ウンデセン-7、1,5-ジアザ-ビシクロ[4.3.0]ノネン、5,6-ジブチルアミノ-1,8-ジアザ-ビシクロ[5.4.0]ウンデセン-7等のシクロアミジン化合物;シクロアミジン化合物に無水マレイン酸、1,4-ベンゾキノン、2,5-トルキノン、1,4-ナフトキノン、2,3-ジメチルベンゾキノン、2,6-ジメチルベンゾキノン、2,3-ジメトキシ-5-メチル-1,4-ベンゾキノン、2,3-ジメトキシ-1,4-ベンゾキノン、フェニル-1,4-ベンゾキノン等のキノン化合物、ジアゾフェニルメタン、フェノール樹脂などのπ結合をもつ化合物を付加してなる分子内分極を有する化合物;ベンジルジメチルアミン、トリエタノールアミン、ジメチルアミノエタノール、トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール等の3級アミン化合物;3級アミン化合物の誘導体;2-メチルイミダゾール、2-フェニルイミダゾール、2-フェニル-4-メチルイミダゾール等のイミダゾール化合物;イミダゾール化合物の誘導体;トリブチルホスフィン、メチルジフェニルホスフィン、トリフェニルホスフィン、トリス(4-メチルフェニル)ホスフィン、ジフェニルホスフィン、フェニルホスフィン等の有機ホスフィン化合物;有機ホスフィン化合物に無水マレイン酸、上記キノン化合物、ジアゾフェニルメタン、フェノール樹脂等のπ結合をもつ化合物を付加してなる分子内分極を有するリン化合物;テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート、トリフェニルホスフィンテトラフェニルボレート、2-エチル-4-メチルイミダゾールテトラフェニルボレート、N-メチルモルホリンテトラフェニルボレート等のテトラフェニルボロン塩;テトラフェニルボロン塩の誘導体;トリフェニルホスホニウム-トリフェニルボラン、N-メチルモルホリンテトラフェニルホスホニウム-テトラフェニルボレート等のホスフィン化合物とテトラフェニルボロン塩との付加物;などが挙げられる。硬化促進剤は、1種類を単独で使用しても、2種類以上を併用してもよい。(hardening accelerator)
The sealing composition may further contain a curing accelerator. The type of curing accelerator is not particularly limited, and any known curing accelerator can be used.
Specific examples of the curing accelerator include 1,8-diaza-bicyclo[5.4.0]undecene-7, 1,5-diaza-bicyclo[4.3.0]nonene, and 5,6-dibutyl. Cyclamidine compounds such as amino-1,8-diaza-bicyclo[5.4.0]undecene-7; maleic anhydride, 1,4-benzoquinone, 2,5-torquinone, 1,4-naphthoquinone in the cycloamidine compound , 2,3-dimethylbenzoquinone, 2,6-dimethylbenzoquinone, 2,3-dimethoxy-5-methyl-1,4-benzoquinone, 2,3-dimethoxy-1,4-benzoquinone, phenyl-1,4-benzoquinone Compounds with intramolecular polarization obtained by adding compounds with π bonds such as quinone compounds, diazophenylmethane, and phenol resin; benzyldimethylamine, triethanolamine, dimethylaminoethanol, tris(dimethylaminomethyl)phenol, etc. Tertiary amine compounds; derivatives of tertiary amine compounds; imidazole compounds such as 2-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole; derivatives of imidazole compounds; tributylphosphine, methyldiphenylphosphine, triphenyl Organic phosphine compounds such as phosphine, tris(4-methylphenyl)phosphine, diphenylphosphine, and phenylphosphine; Compounds with π bonds such as maleic anhydride, the above quinone compounds, diazophenylmethane, and phenol resins are added to organic phosphine compounds. Phosphorus compounds having intramolecular polarization; tetraphenylboron salts such as tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, triphenylphosphine tetraphenylborate, 2-ethyl-4-methylimidazole tetraphenylborate, N-methylmorpholine tetraphenylborate; Derivatives of tetraphenylboron salts; adducts of tetraphenylboron salts with phosphine compounds such as triphenylphosphonium-triphenylborane and N-methylmorpholinetetraphenylphosphonium-tetraphenylborate; and the like. One type of curing accelerator may be used alone or two or more types may be used in combination.
硬化促進剤は、これらの中でも、リン系硬化促進剤が好ましく、その中でも有機ホスフィン化合物、有機ホスフィン化合物の付加物、及びホスフィン化合物とテトラフェニルボロン塩との付加物がより好ましく、有機ホスフィン化合物及び有機ホスフィン化合物の付加物がさらに好ましく、有機ホスフィン化合物にキノン化合物が付加してなる化合物が特に好ましい。
なお、「リン系硬化促進剤」はリン原子を有する硬化促進剤である。Among these, the curing accelerator is preferably a phosphorus-based curing accelerator, and among these, an organic phosphine compound, an adduct of an organic phosphine compound, and an adduct of a phosphine compound and a tetraphenyl boron salt are more preferable, and organic phosphine compounds and Adducts of organic phosphine compounds are more preferred, and compounds obtained by adding a quinone compound to an organic phosphine compound are particularly preferred.
Note that the "phosphorus-based curing accelerator" is a curing accelerator having a phosphorus atom.
硬化促進剤の含有率は、エポキシ樹脂と硬化剤の合計量に対して、0.1質量%~8質量%であることが好ましい。 The content of the curing accelerator is preferably 0.1% by mass to 8% by mass based on the total amount of the epoxy resin and curing agent.
(イオントラップ剤)
封止組成物は、イオントラップ剤をさらに含有してもよい。
本開示において使用可能なイオントラップ剤は、半導体装置の製造用途に用いられる封止材において、一般的に使用されているイオントラップ剤であれば特に制限されるものではない。イオントラップ剤としては、下記一般式(3)又は下記一般式(4)で表される化合物等が挙げられる。(ion trap agent)
The encapsulation composition may further contain an ion trapping agent.
The ion trapping agent that can be used in the present disclosure is not particularly limited as long as it is a commonly used ion trapping agent in sealing materials used for manufacturing semiconductor devices. Examples of the ion trapping agent include compounds represented by the following general formula (3) or the following general formula (4).
Mg1-aAla(OH)2(CO3)a/2・uH2O (3)
(一般式(3)中、aは0<a≦0.5であり、uは正数である。)
BiOb(OH)c(NO3)d (4)
(一般式(4)中、bは0.9≦b≦1.1、cは0.6≦c≦0.8、dは0.2≦d≦0.4である。)Mg 1-a Al a (OH) 2 (CO 3 ) a/2・uH 2 O (3)
(In general formula (3), a is 0<a≦0.5, and u is a positive number.)
BiO b (OH) c (NO 3 ) d (4)
(In general formula (4), b is 0.9≦b≦1.1, c is 0.6≦c≦0.8, and d is 0.2≦d≦0.4.)
イオントラップ剤は、市販品として入手可能である。一般式(3)で表される化合物としては、例えば、「DHT-4A」(協和化学工業株式会社、商品名)が市販品として入手可能である。また、一般式(4)で表される化合物としては、例えば、「IXE500」(東亞合成株式会社、商品名)が市販品として入手可能である。 Ion trapping agents are commercially available. As the compound represented by the general formula (3), for example, "DHT-4A" (Kyowa Chemical Industry Co., Ltd., trade name) is available as a commercial product. Further, as a compound represented by the general formula (4), for example, "IXE500" (Toagosei Co., Ltd., trade name) is available as a commercial product.
また、上記以外のイオントラップ剤として、マグネシウム、アルミニウム、チタン、ジルコニウム、アンチモン等から選ばれる元素の含水酸化物などが挙げられる。
イオントラップ剤は、1種類を単独で使用しても、2種類以上を併用してもよい。In addition, examples of ion trapping agents other than those mentioned above include hydrous oxides of elements selected from magnesium, aluminum, titanium, zirconium, antimony, and the like.
One type of ion trapping agent may be used alone, or two or more types may be used in combination.
封止組成物がイオントラップ剤を含有する場合、イオントラップ剤の含有量は、充分な耐湿信頼性を実現する観点からは、エポキシ樹脂100質量部に対して1質量部以上であることが好ましい。他の成分の効果を充分に発揮する観点からは、イオントラップ剤の含有量は、エポキシ樹脂100質量部に対して15質量部以下であることが好ましい。 When the sealing composition contains an ion trapping agent, the content of the ion trapping agent is preferably 1 part by mass or more per 100 parts by mass of the epoxy resin from the viewpoint of achieving sufficient moisture resistance reliability. . From the viewpoint of fully exhibiting the effects of other components, the content of the ion trapping agent is preferably 15 parts by mass or less based on 100 parts by mass of the epoxy resin.
また、イオントラップ剤の平均粒子径は0.1μm~3.0μmであることが好ましく、最大粒子径は10μm以下であることが好ましい。イオントラップ剤の平均粒子径は、無機充填材の場合と同様にして測定することができる。 Further, the average particle size of the ion trapping agent is preferably 0.1 μm to 3.0 μm, and the maximum particle size is preferably 10 μm or less. The average particle diameter of the ion trapping agent can be measured in the same manner as in the case of the inorganic filler.
(離型剤)
封止組成物は、離型剤をさらに含有してもよい。離型剤の種類は特に制限されず、公知の離型剤を使用することができる。具体的には、離型剤としては、高級脂肪酸、カルナバワックス、モンタンワックス、ポリエチレン系ワックス等が挙げられる。離型剤は、1種類を単独で使用しても、2種類以上を併用してもよい。
封止組成物が離型剤を含有する場合、離型剤の含有率は、エポキシ樹脂と硬化剤の合計量に対して、10質量%以下であることが好ましく、その効果を発揮させる観点からは、0.5質量%以上であることが好ましい。(Release agent)
The sealing composition may further contain a mold release agent. The type of mold release agent is not particularly limited, and any known mold release agent can be used. Specifically, examples of the mold release agent include higher fatty acids, carnauba wax, montan wax, polyethylene wax, and the like. One type of mold release agent may be used alone, or two or more types may be used in combination.
When the sealing composition contains a mold release agent, the content of the mold release agent is preferably 10% by mass or less based on the total amount of the epoxy resin and the curing agent, from the viewpoint of exhibiting its effect. is preferably 0.5% by mass or more.
(着色剤及び改質剤)
封止組成物は、着色剤(カーボンブラック等)を含有してもよい。また、封止組成物は、改質剤(シリコーン、シリコーンゴム等)を含有してもよい。着色剤及び改質剤は、それぞれ、1種類を単独で使用しても、2種類以上を併用してもよい。(Colorants and modifiers)
The encapsulant composition may also contain a colorant (such as carbon black). Moreover, the sealing composition may contain a modifier (silicone, silicone rubber, etc.). The colorant and the modifier may be used alone or in combination of two or more.
着色剤としてカーボンブラック等の導電性粒子を用いる場合、導電性粒子は、粒子径10μm以上の粒子の含有率が1質量%以下であることが好ましい。
封止組成物が導電性粒子を含有する場合、導電性粒子の含有率は、エポキシ樹脂と硬化剤の合計量に対して3質量%以下であることが好ましい。When using conductive particles such as carbon black as a coloring agent, it is preferable that the content of conductive particles having a particle diameter of 10 μm or more is 1% by mass or less.
When the sealing composition contains conductive particles, the content of the conductive particles is preferably 3% by mass or less based on the total amount of the epoxy resin and the curing agent.
(その他添加剤)
封止組成物は、必要に応じて、さらにその他添加剤を含んでもよい。
その他添加剤としては、難燃剤、陰イオン交換体、可塑剤等が挙げられる。また、封止組成物には、必要に応じて当技術分野で周知の各種添加剤を添加してもよい。(Other additives)
The sealing composition may further contain other additives as necessary.
Other additives include flame retardants, anion exchangers, plasticizers, and the like. Moreover, various additives well known in the art may be added to the sealing composition as necessary.
<封止組成物の作製方法>
封止組成物の作製方法は特に制限されず、公知の方法により行うことができる。例えば、所定の配合量の原材料の混合物をミキサー等によって充分混合した後、熱ロール、押出機等によって混練し、冷却、粉砕等の処理を経ることによって封止組成物を作製することができる。封止組成物の状態は特に制限されず、粉末状、固体状、液体状等であってよい。<Method for producing sealing composition>
The method for producing the sealing composition is not particularly limited, and any known method can be used. For example, a sealing composition can be produced by sufficiently mixing a mixture of raw materials in a predetermined amount using a mixer or the like, then kneading using a hot roll, extruder, or the like, and performing processing such as cooling and pulverization. The state of the sealing composition is not particularly limited, and may be in a powder, solid, liquid, or the like.
<封止組成物の特性>
封止組成物を、硬化温度175℃及び硬化時間90秒の条件で加熱硬化したときに得られる硬化物のショアDで示される熱時硬度は、70以上であることが好ましく、74以上であることがより好ましく、76以上であることがさらに好ましい。
上記熱時硬度が上記範囲であることにより、トランスファーモールド法により半導体素子の封止を行った場合における連続成形性が良好となる。<Characteristics of sealing composition>
When the sealing composition is heated and cured under the conditions of a curing temperature of 175° C. and a curing time of 90 seconds, the hardness at the time of heating indicated by Shore D of the cured product is preferably 70 or more, and preferably 74 or more. More preferably, it is 76 or more.
When the hot hardness is within the above range, continuous moldability when sealing a semiconductor element by a transfer molding method is improved.
<半導体装置>
本開示の半導体装置は、半導体素子と、前記半導体素子を封止してなる本開示の封止組成物の硬化物と、を含む。<Semiconductor device>
The semiconductor device of the present disclosure includes a semiconductor element and a cured product of the sealing composition of the present disclosure, which seals the semiconductor element.
封止組成物を用いて半導体素子を封止する方法は特に限定されず、公知の方法を適用することが可能である。トランスファーモールド法等が一般的であるが、コンプレッションモールド法、インジェクション成形法、圧縮成形法等を用いてもよい。 The method of sealing a semiconductor element using a sealing composition is not particularly limited, and any known method can be applied. Transfer molding is commonly used, but compression molding, injection molding, compression molding, and the like may also be used.
本開示の半導体装置は、IC(Integrated Circuit、集積回路)、LSI(Large-Scale Integration、大規模集積回路)等として好適である。 The semiconductor device of the present disclosure is suitable as an IC (Integrated Circuit), an LSI (Large-Scale Integration), or the like.
以下に本発明の一実施形態を以下の実施例を参照して説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。また、表中の数値は特に断りのない限り「質量部」を意味する。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to the following examples, but the present invention is not limited thereto. Moreover, the numerical values in the table mean "parts by mass" unless otherwise specified.
<実施例1~5及び比較例1~5>
下記に示す成分を表1及び表2に示す配合割合(質量部)で予備混合(ドライブレンド)した後、二軸ニーダーで混練し、冷却粉砕して粉末状の封止組成物を製造した。
なお、表1及び表2に示す成分の詳細は以下の通りである。<Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 5>
The components shown below were premixed (dry blended) at the blending ratios (parts by mass) shown in Tables 1 and 2, then kneaded in a twin-screw kneader, cooled and pulverized to produce a powdery sealing composition.
The details of the components shown in Tables 1 and 2 are as follows.
(A)エポキシ樹脂
エポキシ樹脂A1:三菱ケミカル株式会社、品名「YX4000H」、エポキシ基当量「192g/eq」、軟化点「107℃」、ビフェニル型エポキシ樹脂、前記一般式(1)で表される2価の連結基を有するエポキシ樹脂
(B)硬化剤
硬化剤B1:トリフェニルメタン型フェノール樹脂、エア・ウォーター株式会社、品名「HE910-09」、水酸基当量「104g/eq」、軟化点「80℃」、前記一般式(2)で表されるフェノール樹脂
(C)硬化促進剤
硬化促進剤C1:リン系硬化促進剤(トリブチルホスフィンとベンゾキノンの付加物)
(D)カップリング剤
カップリング剤D1:3-メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、信越化学工業株式会社、品名「KBM-503」炭素数3の炭化水素基を有するシラン化合物
カップリング剤D2:8-メタクリロキシオクチルトリメトキシシラン、信越化学工業株式会社、品名「KBM-5803」、炭素数8の鎖状炭化水素基を有するシラン化合物(A) Epoxy resin Epoxy resin A1: Mitsubishi Chemical Corporation, product name "YX4000H", epoxy group equivalent "192 g/eq", softening point "107°C", biphenyl type epoxy resin, represented by the above general formula (1) Epoxy resin (B) curing agent having a divalent linking group Curing agent B1: Triphenylmethane type phenol resin, Air Water Co., Ltd., product name "HE910-09", hydroxyl group equivalent "104 g/eq", softening point "80"℃'', phenolic resin (C) curing accelerator represented by the general formula (2) Cure accelerator C1: Phosphorous curing accelerator (adduct of tributylphosphine and benzoquinone)
(D) Coupling agent Coupling agent D1: 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., product name "KBM-503" Silane compound having a hydrocarbon group with 3 carbon atoms Coupling agent D2: 8- Methacryloxyoctyltrimethoxysilane, Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., product name "KBM-5803", silane compound having a chain hydrocarbon group with 8 carbon atoms
(E)離型剤
離型剤E1:モンタンワックス、クラリアント社、品名「HW-E」
(F)着色剤
顔料F1:カーボンブラック、三菱ケミカル株式会社、商品名「MA600」
(G)添加剤
添加剤G1:トリフェニルホスフィンオキシド
(H)改質剤
改質剤H1:シリコーン、東レ・ダウコーニング株式会社、品名「BY16-876」(E) Mold release agent Mold release agent E1: Montan wax, Clariant, product name "HW-E"
(F) Colorant Pigment F1: Carbon black, Mitsubishi Chemical Corporation, trade name "MA600"
(G) Additive Additive G1: Triphenylphosphine oxide (H) Modifier Modifier H1: Silicone, Dow Corning Toray Co., Ltd., product name "BY16-876"
(I)無機充填材
フィラI1:シリカ粒子、球状、比表面積「190~210m2/g」、特定シリカ粒子
フィラI2:アルミナ粒子、球状、平均粒子径「0.7μm」
フィラI3:アルミナ粒子、球状、平均粒子径「10μm」(I) Inorganic filler Filler I1: Silica particles, spherical, specific surface area "190 to 210 m 2 /g", specific silica particles Filler I2: Alumina particles, spherical, average particle diameter "0.7 μm"
Filler I3: Alumina particles, spherical, average particle diameter "10 μm"
-評価-
実施例及び比較例で作製した封止組成物の特性を、次の特性試験により評価した。評価結果を下記表1及び表2に示す。-evaluation-
The properties of the sealing compositions produced in Examples and Comparative Examples were evaluated by the following property tests. The evaluation results are shown in Tables 1 and 2 below.
(熱時硬度)
上記で得られた封止組成物を用いて、トランスファ成形機により、金型温度175℃、成形圧力6.9MPa、硬化時間90秒の条件で成形し、直径50mm×厚み3mmの円板形状である試験片を作製した。成形後直ちにショアD型硬度計(高分子計器株式会社、アスカー、タイプDデュロメータ)を用いて熱時硬度を測定した。(Hardness when heated)
The sealing composition obtained above was molded using a transfer molding machine under the conditions of a mold temperature of 175°C, a molding pressure of 6.9 MPa, and a curing time of 90 seconds to form a disc shape of 50 mm in diameter x 3 mm in thickness. A certain test piece was prepared. Immediately after molding, the hot hardness was measured using a Shore D type hardness meter (Kobunshi Keiki Co., Ltd., Asker, Type D durometer).
(ゲルタイム)
硬化性は、ゲル化試験機を用いて以下のようにして測定されたゲルタイムに基づいて評価した。
上記で得られた封止組成物0.5gを175℃に熱した熱板上に乗せ、治具を用いて20回転/分~25回転/分の回転速度で、試料を2.0cm~2.5cmの円状に均一に広げた。試料を熱板に乗せてから、試料の粘性がなくなり、ゲル状態となって熱板から剥がれるようになるまでの時間を計測し、これをゲルタイム(sec)として測定した。
結果を表1及び表2に示す。エポキシ100質量部に対して同じ触媒量を用いた場合に、ゲルタイムの短いものほど、硬化性に優れる。(gel time)
Curability was evaluated based on gel time measured as follows using a gelling tester.
Place 0.5 g of the sealing composition obtained above on a hot plate heated to 175°C, and use a jig to rotate the sample 2.0 cm to 2 cm at a rotation speed of 20 rpm to 25 rpm. It was spread evenly into a .5 cm circle. The time from when the sample was placed on the hot plate until the sample lost its viscosity, turned into a gel state, and peeled off from the hot plate was measured, and this time was measured as gel time (sec).
The results are shown in Tables 1 and 2. When the same amount of catalyst is used for 100 parts by mass of epoxy, the shorter the gel time, the better the curability.
(ディスクフロー(DF))
上記で得られた封止組成物を、2段篩(上段:2.38mm、下段:0.5mm)に通し、下段に残った試料を7g秤量した。その封止組成物を180℃に熱した平滑な金型の上に置き、同様に180℃に熱した8kgの平滑な金型を試料の上に置いて60秒放置した。その後、得られた円板状成形品の直径(mm)と短径(mm)の平均値(mm)を求め、その平均値(mm)をディスクフロー(DF)とした。
結果を表1及び表2に示す。ディスクフローの長いものほど、流動性に優れる。(Disk flow (DF))
The sealing composition obtained above was passed through a two-stage sieve (upper stage: 2.38 mm, lower stage: 0.5 mm), and 7 g of the sample remaining in the lower stage was weighed. The sealing composition was placed on a smooth mold heated to 180°C, and an 8 kg smooth mold also heated to 180°C was placed on top of the sample and left for 60 seconds. Thereafter, the average value (mm) of the diameter (mm) and minor axis (mm) of the obtained disc-shaped molded product was determined, and the average value (mm) was defined as the disc flow (DF).
The results are shown in Tables 1 and 2. The longer the disc flow, the better the fluidity.
(バリ)
上記で得られた封止組成物15gをプレス熱板上の180℃の金型上に乗せ、硬化時間90秒で成形した。成形後、金型に作製された50μm、30μm、20μm、10μm、5μm及び2μmのスリットで一番長く封止組成物が流れた部分の長さを、ノギスを用いて測定し、この測定値をバリ長さとした。
その結果、実施例1~5のいずれにおいても、バリ長さが10mm以下であり、バリの発生が抑制されていることが分かった。(Bari)
15 g of the sealing composition obtained above was placed on a mold at 180° C. on a press hot plate and molded for a curing time of 90 seconds. After molding, use calipers to measure the length of the longest part of the 50 μm, 30 μm, 20 μm, 10 μm, 5 μm, and 2 μm slits in which the sealing composition has flowed, and use this measurement value. It has a burr length.
As a result, it was found that in all of Examples 1 to 5, the burr length was 10 mm or less, and the occurrence of burrs was suppressed.
(熱伝導率)
上記で得られた封止組成物を用いて、トランスファ成形機により、金型温度175℃~180℃、成形圧力7MPa、硬化時間300秒の条件で熱伝導率評価用の試験片を作製した。次いで、成形した試験片について、厚さ方向の熱拡散率を測定した。熱拡散率の測定はレーザーフラッシュ法(装置:LFA467 nanoflash、NETZSCH社)にて行った。パルス光照射は、パルス幅0.31(ms)、印加電圧247Vの条件で行った。測定は雰囲気温度25℃±1℃で行った。また上記試験片の密度は電子比重計(AUX220、株式会社島津製作所)を用いて測定した。比熱は、各材料の比熱の文献値と配合比率より算出した封止組成物の理論比熱を用いた。
次いで、式(5)を用いて比熱及び密度を熱拡散率に乗算することによって,熱伝導率の値を得た。
λ=α×Cp×ρ・・・式(5)
(式(5)中、λは熱伝導率(W/(m・K))、αは熱拡散率(m2/s)、Cpは比熱(J/(kg・K))、ρは密度(kg/m3)をそれぞれ示す。)
結果を表1及び表2に示す。(Thermal conductivity)
Using the sealing composition obtained above, a test piece for thermal conductivity evaluation was produced using a transfer molding machine under conditions of a mold temperature of 175° C. to 180° C., a molding pressure of 7 MPa, and a curing time of 300 seconds. Next, the thermal diffusivity in the thickness direction of the molded test piece was measured. The thermal diffusivity was measured by a laser flash method (device: LFA467 nanoflash, NETZSCH). The pulsed light irradiation was performed under the conditions of a pulse width of 0.31 (ms) and an applied voltage of 247V. The measurement was performed at an ambient temperature of 25°C±1°C. Further, the density of the above test piece was measured using an electronic hydrometer (AUX220, Shimadzu Corporation). For the specific heat, the theoretical specific heat of the sealing composition calculated from the literature value of the specific heat of each material and the blending ratio was used.
Thermal conductivity values were then obtained by multiplying the thermal diffusivity by the specific heat and density using equation (5).
λ=α×Cp×ρ...Formula (5)
(In formula (5), λ is thermal conductivity (W/(m・K)), α is thermal diffusivity (m 2 /s), Cp is specific heat (J/(kg・K)), and ρ is density (kg/m 3 ).)
The results are shown in Tables 1 and 2.
表1及び表2中、「フィラの平均粒子径」は用いた無機充填材全体における体積基準の平均粒子径を意味し、「フィラ含有率」は封止組成物全体に対する用いた無機充填材全体の含有率を意味する。
表1及び表2の評価結果から明らかなように、特定シラン化合物を含有する実施例1~5の封止組成物は、特定シラン化合物を含有しない比較例1~5の封止組成物に比較して、流動性が高く、また熱伝導率の高い硬化物が得られている。また、比較例1~5の封止組成物においては、フィラ含有率の増加に対する熱伝導率の上昇率が低く、熱伝導性が飽和状態となっているのに対し、実施例1~3の封止組成物においては、フィラ含有率の増加に伴って熱伝導率が高くなっていることが分かる。In Tables 1 and 2, "average particle diameter of filler" means the volume-based average particle diameter of the whole inorganic filler used, and "filler content" means the whole inorganic filler used with respect to the whole sealing composition. It means the content rate of
As is clear from the evaluation results in Tables 1 and 2, the sealing compositions of Examples 1 to 5 containing the specific silane compound were compared to the sealing compositions of Comparative Examples 1 to 5 that did not contain the specific silane compound. As a result, a cured product with high fluidity and high thermal conductivity is obtained. In addition, in the sealing compositions of Comparative Examples 1 to 5, the rate of increase in thermal conductivity with respect to increase in filler content was low, and the thermal conductivity was in a saturated state, whereas in the sealing compositions of Examples 1 to 3. It can be seen that the thermal conductivity of the sealing composition increases as the filler content increases.
2018年12月21日に出願された日本国特許出願2018-239254号の開示は、その全体が参照により本明細書に取り込まれる。
本明細書に記載された全ての文献、特許出願、および技術規格は、個々の文献、特許出願、および技術規格が参照により取り込まれることが具体的かつ個々に記された場合と同程度に、本明細書中に取り込まれる。The disclosure of Japanese Patent Application No. 2018-239254 filed on December 21, 2018 is incorporated herein by reference in its entirety.
All documents, patent applications, and technical standards mentioned herein are incorporated by reference to the same extent as if each individual document, patent application, and technical standard was specifically and individually indicated to be incorporated by reference. Incorporated herein.
Claims (7)
硬化剤と、
比表面積が100m2/g以上のシリカ粒子を含む無機充填材と、
炭素数6以上の鎖状炭化水素基がケイ素原子に結合した構造を有するシラン化合物と、
を含有する封止組成物であって
前記封止組成物を、硬化温度175℃及び硬化時間90秒の条件で加熱硬化したときに得られる硬化物のショアDで示される熱時硬度が70以上である、封止組成物。 Epoxy resin and
a hardening agent;
An inorganic filler containing silica particles with a specific surface area of 100 m 2 /g or more,
A silane compound having a structure in which a chain hydrocarbon group having 6 or more carbon atoms is bonded to a silicon atom,
A sealing composition containing
A sealing composition, wherein the cured product obtained when the sealing composition is heated and cured under conditions of a curing temperature of 175° C. and a curing time of 90 seconds has a hardness when heated as Shore D of 70 or more.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018239254 | 2018-12-21 | ||
JP2018239254 | 2018-12-21 | ||
PCT/JP2019/049924 WO2020130098A1 (en) | 2018-12-21 | 2019-12-19 | Sealing composition and semiconductor device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2020130098A1 JPWO2020130098A1 (en) | 2021-11-04 |
JP7415950B2 true JP7415950B2 (en) | 2024-01-17 |
Family
ID=71102836
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020561522A Active JP7415950B2 (en) | 2018-12-21 | 2019-12-19 | Encapsulation composition and semiconductor device |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7415950B2 (en) |
CN (1) | CN113195586A (en) |
TW (1) | TWI835960B (en) |
WO (1) | WO2020130098A1 (en) |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002020586A (en) | 2000-07-05 | 2002-01-23 | Shin Etsu Chem Co Ltd | Epoxy resin composition |
JP2004217515A (en) | 2002-12-27 | 2004-08-05 | Tokuyama Corp | Silica fine particle |
JP2004300212A (en) | 2003-03-28 | 2004-10-28 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | Epoxy resin composition and semiconductor device |
JP2005068330A (en) | 2003-08-26 | 2005-03-17 | Matsushita Electric Works Ltd | Thermosetting resin composition |
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JP2018188667A (en) | 2011-04-01 | 2018-11-29 | 日立化成株式会社 | Solid sealing resin composition for compression molding and semiconductor device |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101432331A (en) * | 2006-04-26 | 2009-05-13 | 积水化学工业株式会社 | Thermosetting composition for optical semiconductor, die bond material for optical semiconductor device, underfill material for optical semiconductor device, sealing agent for optical semiconductor de |
CN106833470A (en) * | 2017-02-24 | 2017-06-13 | 厦门安耐伟业新材料有限公司 | Fluid sealant and preparation method thereof, application method |
-
2019
- 2019-12-19 WO PCT/JP2019/049924 patent/WO2020130098A1/en active Application Filing
- 2019-12-19 CN CN201980083407.6A patent/CN113195586A/en active Pending
- 2019-12-19 JP JP2020561522A patent/JP7415950B2/en active Active
- 2019-12-20 TW TW108147087A patent/TWI835960B/en active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN113195586A (en) | 2021-07-30 |
TWI835960B (en) | 2024-03-21 |
WO2020130098A1 (en) | 2020-06-25 |
TW202035546A (en) | 2020-10-01 |
JPWO2020130098A1 (en) | 2021-11-04 |
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