JP5866577B2 - 光学フィルタおよびそれを用いた偏光撮像装置 - Google Patents
光学フィルタおよびそれを用いた偏光撮像装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5866577B2 JP5866577B2 JP2015514686A JP2015514686A JP5866577B2 JP 5866577 B2 JP5866577 B2 JP 5866577B2 JP 2015514686 A JP2015514686 A JP 2015514686A JP 2015514686 A JP2015514686 A JP 2015514686A JP 5866577 B2 JP5866577 B2 JP 5866577B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polarization
- optical filter
- wire grid
- metal layer
- imaging device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000010287 polarization Effects 0.000 title claims description 179
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 141
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 126
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 169
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 169
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 22
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 157
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 22
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 description 15
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 12
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 8
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 7
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 5
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 5
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 5
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 5
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 5
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 5
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 5
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- 238000007736 thin film deposition technique Methods 0.000 description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 4
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 3
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 3
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 2
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 210000004400 mucous membrane Anatomy 0.000 description 2
- 239000012466 permeate Substances 0.000 description 2
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 2
- 241000251468 Actinopterygii Species 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- -1 ITO Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N bis(2-ethylhexyl) phthalate Chemical compound CCCCC(CC)COC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCC(CC)CCCC BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 235000013305 food Nutrition 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 244000144972 livestock Species 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 239000004038 photonic crystal Substances 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
- 238000001356 surgical procedure Methods 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/1462—Coatings
- H01L27/14621—Colour filter arrangements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/001—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements based on interference in an adjustable optical cavity
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/30—Polarising elements
- G02B5/3025—Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state
- G02B5/3058—Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state comprising electrically conductive elements, e.g. wire grids, conductive particles
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/14625—Optical elements or arrangements associated with the device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/14625—Optical elements or arrangements associated with the device
- H01L27/14627—Microlenses
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Polarising Elements (AREA)
- Stereoscopic And Panoramic Photography (AREA)
- Blocking Light For Cameras (AREA)
- Optical Filters (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Description
1枚の第1の金属層、1枚の第2の金属層、および誘電体層を含む積層構造を具備するファブリペロー共振器、および
板状の1枚のワイヤグリッド偏光子を具備し、
前記第2の金属層は、前記第1の金属層に平行であり、
前記誘電体層は、前記第1の金属層および前記第2の金属層の間に挟まれており、
前記板状の1枚のワイヤグリッド偏光子は、前記誘電体層の内部に埋め込まれており、
前記板状の1枚のワイヤグリッド偏光子は、3本以上の金属ワイヤ層を具備し、
前記金属ワイヤ層は、互いに平行であり、
前記板状の1枚のワイヤグリッド偏光子は、前記第1の金属層と平行である。
撮像面を有する光電変換素子と、
前記撮像面に対向するように配置された第1光学フィルタとを具備し、
前記第1光学フィルタは、上記光学フィルタである。
複数の偏光撮像素子を具備し、
前記各複数の偏光撮像素子は、上記の偏光撮像素子である。
図1は、本開示の第1の実施形態における偏光撮像装置の構成例を模式的示す斜視図である。図示されている偏光撮像装置は、撮像面10を規定する光電変換素子アレイ100と、撮像面10に対向するように配置された第1偏光撮像素子101〜第4偏光撮像素子104を備えている。
次に、本開示の偏光撮像装置の第2の実施形態を説明する。
図7(a)および図7(b)は、第2の実施形態の変形例1における偏光撮像装置の断面図である。この変形例においても、第1の実施形態と同じくカラー画像と偏光画像を同時に取得可能である。図7(a)および図7(b)に示されるように、この変形例が第2の実施形態と異なる点は、ワイヤグリッド偏光子501が誘電体108中の間隙層502に形成されている点にある。間隙層502には空気が充満している場合、ワイヤグリッド偏光子501の導電性ワイヤと空気とが接触することにより、ワイヤグリッド偏光子501の消光比性能がさらに向上し得る。
(実施形態3)
次に、本開示の偏光撮像装置の第3の実施形態を説明する。
(実施形態4)
図9(a)から(d)は、本実施形態の偏光撮像装置における光学フィルタの平面構成の2つの例を示す図である。本実施形態では、ベイヤーカラーモザイク構成とワイヤグリッド偏光子モザイク構成との対応が、前述の実施形態におけるものと異なる。前述の実施形態では、複数のワイヤグリッド偏光子のモザイク、具体的には2種から形成された2×2構成のモザイクがカラーモザイクの同一色領域に対応していた。しかし、図9(a)および図9(b)の例では、1種のワイヤグリッド偏光子のモザイク画素が1種のカラーモザイクのカラー画素に対応する。言い換えると、各ワイヤグリッド偏光子は、複数のカラーフィルタ領域のうちの1つのカラーフィルタ領域に対応するように配置されている。また、図9(c)および図9(d)の例では、複数のカラーモザイク領域、具体的には2×2画素から形成された3色のカラー領域が、1種のワイヤグリッド偏光子のモザイク画素に対応する。言い換えると、各ワイヤグリッド偏光子は、複数のカラーフィルタ領域に対応するように配置されている。これらはいずれもカラー解像度を高めることを目的としており、撮像画像が非偏光シーンの場合には高解像度のカラー撮像ができるという利点を有する。
(実施形態5)
図10(a)および図10(b)、図11(a)および図11(b)、ならびに図12(a)および図12(b)は、本実施形態の偏光撮像装置における光学フィルタの平面構成の他の例を示す図である。前述の実施形態では、いずれも、ワイヤグリッド偏光子の配列方向はX軸に対して0°方向とX軸に対して90°方向の2種類のみであった。これは、撮像シーンの偏光の偏りが0°または90°であることを前提としている。これは、偏光撮影を実施する内視鏡のように撮影時にかならず、0°または90°の偏光透過面を有する偏光照明が使われる場合や車載カメラのように雨の路面から反射光がほぼ水平の0°に固定されるようなケースで使われることを想定しているためである。
(実施形態6)
図13(a)は、本実施形態における偏光撮像装置の上面図であり、図13(b)は、その断面図である。本実施形態では、広帯域な分光透過率を有するモノクロ画像と、X軸に対する0°の方向と90°の方向の偏光画像を同時に取得可能な撮像素子を提供する。このため、これまでの実施形態とは異なり、各々がファブリペロー干渉計型カラーフィルタとして機能する3層の光学フィルタ200a、200b、200cを積層した構成を有しており、カラーモザイク構造を備えていない。光学フィルタ200a、200b、200cの各々は、前述した光学フィルタ200の基本構成を備えている。ただし、光学フィルタ200aにおける第1の金属層105aは、光学フィルタ200bにおける第2の金属層106bを兼ねている。また、光学フィルタ200bにおける第1の金属層105bは、光学フィルタ200cの第2の金属層106cを兼ねている。光学フィルタ200a、200b、200cは、それぞれ、ワイヤグリッド偏光子107a、107b、107cを内部に含んでいる。ワイヤグリッド偏光子107a、107b、107cの各偏光子におけるワイヤ方向は、積層された縦方向で共通している。
(カラー偏光撮像装置の製造方法)
以下、図14〜図16を参照しながら、本実施形態における偏光撮像装置の製造方法の一例を説明する。ここでは、実施形態2における偏光撮像装置を製造するが、他の実施形態についても同様の方法で製造し得る。
(応用例1)
図17(a)は、本開示の偏光撮像装置に対物レンズおよびマイクロレンズアレイを組みあわせた立体偏光撮像装置の第1の応用例を示す図である。
図24は、この機能を内視鏡などのライトガイドを用いる照明に応用する例を描いており、光源2401、カラーホイール2402、ライトガイド2403、本発明の光学フィルタ2404から構成される。
図24(a)では、上記説明のとおり白色1(W1)が回転するカラーホイールから射出されてライトガイドに入射して伝播する。そして先端部の光学フィルタにて0°の直線偏光が照射される。図24(b)ではカラーホイールが回転して今度は白色2(W2)がカラーホールからら射出されてライトガイドに入射して伝播する。そして先端部の光学フィルタにて90°の直線偏光が照射される。上記の状況はカラーホイールの回転により順次行われるので、ライトガイドの先端からは白色の直線偏光の軸が交互に0°、90°に回転しながら照射される。
2302では、図23(c)で示される波長透過モザイク構成が、波長種類としてλ1、λ2、λ3の3種類となる。また図23(d)で示されるワイヤグリッドモザイク構成は、0°と90°の他に、図8で示す第3の実施形態と同様なワイヤグリッドを有しない領域にて構成されている。そして、波長帯域λ1においては90°、波長帯域λ2においては0°の偏光を透過するが、波長帯域λ3においては偏光動作を何もせず光を透過する、という特有な機能を発現する。この動作は特許文献8で開示されている偏光観察装置における波長選択型偏光素子の動作であり、本発明の光学フィルタがここに応用できる。
本発明の基本的な形状として、図25で示す構造をとりあげ、RCWA(厳密結合波解析)法によるシミュレーションを実施した例を示す。図25では、上下の反射板に相当する金属(メタル)層、中間のワイヤグリッド層とも材質はAg(銀)を用い、その間の誘電体層はSiO2を用いている。構造パラメータは、固定値としてAgの反射板の厚さ=25nm、ワイヤグリッドの周期構造のライン&スペースを、それぞれ50nm、50nmとした。その上で、金属板の間隔L、ワイヤグリッドの厚さH、ワイヤグリッド中心の金属板間隔中心からのずれ量Dを可変とした。また上記フィルタ構造はSiO2基板上に形成されているものとして、光は下方より入射する。
20 光電変換素子
100 光電変換素子アレイ
101 G領域
102 R領域
103 B領域
104 G領域
105 第1の金属層
106 第2の金属層
107 ワイヤグリッド偏光子
108 誘電体
109 配線層
110 フォトダイオード
200 光学フィルタ
300 光
Claims (16)
- 光学フィルタであって、
1枚の第1の金属層、1枚の第2の金属層、および誘電体層を含む積層構造を具備するファブリペロー共振器、および
板状の1枚のワイヤグリッド偏光子を具備し、
前記第2の金属層は、前記第1の金属層に平行であり、
前記誘電体層は、前記第1の金属層および前記第2の金属層の間に挟まれており、
前記板状の1枚のワイヤグリッド偏光子は、前記誘電体層の内部に埋め込まれており、
前記板状の1枚のワイヤグリッド偏光子は、3本以上の金属ワイヤ層を具備し、
前記金属ワイヤ層は、互いに平行であり、
前記板状の1枚のワイヤグリッド偏光子は、前記第1の金属層と平行である。 - 前記板状の1枚のワイヤグリッド偏光子は、前記第1の金属層と前記第2の金属層との間の略中間に位置している、請求項1に記載の光学フィルタ。
- 前記金属ワイヤ層に直交する第1の偏光面を有する光は前記板状の1枚のワイヤグリッド偏光子を透過するが、前記金属ワイヤ層に平行な第2の偏光面を有する光は前記板状の1枚のワイヤグリッド偏光子によってブロックされる、請求項1に記載の光学フィルタ。
- 隣接する2本の金属ワイヤ層の間に形成される空間には前記誘電体層が充填されている、請求項1に記載の光学フィルタ。
- 前記各金属ワイヤ層は前記第1の金属層に平行である、請求項1に記載の光学フィルタ。
- 撮像面を有する光電変換素子と、
前記撮像面に対向するように配置された第1光学フィルタとを具備し、
前記第1光学フィルタは、請求項1に記載の光学フィルタである、偏光撮像素子。 - 前記撮像面に対向するように配置された第2光学フィルタを具備し、
前記第2光学フィルタは、請求項1に記載の光学フィルタであり、
前記第1光学フィルタは前記第2光学フィルタに隣接している、請求項6に記載の偏光撮像素子。 - 平面視において、前記第1光学フィルタに含まれる金属ワイヤ層の長手方向は、前記第2光学フィルタに含まれる金属ワイヤ層の長手方向とは異なる、請求項7に記載の偏光撮像素子。
- 前記撮像面に対向するように配置された第3光学フィルタをさらに具備し、
前記第3光学フィルタは、請求項1に記載の光学フィルタであり、
前記第3光学フィルタは前記第1光学フィルタまたは前記第2光学フィルタに隣接しており、
前記平面視において、前記第3光学フィルタに含まれる金属ワイヤ層の長手方向は、前記第1光学フィルタに含まれる金属ワイヤ層の長手方向とは異なり、
前記平面視において、前記第3光学フィルタに含まれる金属ワイヤ層の長手方向は、前記第2光学フィルタに含まれる金属ワイヤ層の長手方向とは異なる、請求項7に記載の偏光撮像素子。 - 偏光撮像装置であって、
複数の偏光撮像素子
を具備し、
前記各複数の偏光撮像素子は、請求項6に記載の偏光撮像素子である、偏光撮像装置。 - 複数の偏光撮像素子は、第1偏光撮像素子、第2偏光撮像素子、および第3偏光撮像素子を含み、
前記第1偏光撮像素子、前記第2偏光撮像素子、および前記第3偏光撮像素子を、それぞれ、赤色、緑色、および青色の光の情報を取得するように、前記第1、第2、および第3偏光撮像素子に含まれる誘電体層は異なる厚みを有しており、
前記第1偏光撮像素子、前記第2偏光撮像素子、および前記第3偏光撮像素子は、それぞれ、R画素、G画素、およびB画素を規定している、請求項10に記載の偏光撮像装置。 - 前記第1偏光撮像素子に含まれる前記板状の1枚のワイヤグリッド偏光子および前記第1偏光撮像素子に含まれる第2の金属層の間隔は、前記第2偏光撮像素子に含まれる前記板状の1枚のワイヤグリッド偏光子および前記第2偏光撮像素子に含まれる第2の金属層の間隔とは異なり、
前記第2偏光撮像素子に含まれる前記板状の1枚のワイヤグリッド偏光子および前記第2偏光撮像素子に含まれる第2の金属層の間隔は、前記第3偏光撮像素子に含まれる前記板状の1枚のワイヤグリッド偏光子および前記第3偏光撮像素子に含まれる第2の金属層の間隔とは異なり、
前記第3偏光撮像素子に含まれる前記板状の1枚のワイヤグリッド偏光子および前記第3偏光撮像素子に含まれる第2の金属層の間隔は、前記第1偏光撮像素子に含まれる前記板状の1枚のワイヤグリッド偏光子および前記第1偏光撮像素子に含まれる第2の金属層の間隔とは異なる、請求項11に記載の偏光撮像装置。 - 前記第1偏光撮像素子に含まれる前記板状の1枚のワイヤグリッド偏光子および前記第1の光学フィルタに含まれる第2の金属層の間隔は、前記第2偏光撮像素子に含まれる前記板状の1枚のワイヤグリッド偏光子および前記第2の光学フィルタに含まれる第2の金属層の間隔と同一であり、
前記第2偏光撮像素子に含まれる前記板状の1枚のワイヤグリッド偏光子および前記第2の光学フィルタに含まれる第2の金属層の間隔は、前記第3偏光撮像素子に含まれる前記板状の1枚のワイヤグリッド偏光子および前記第3偏光撮像素子に含まれる第2の金属層の間隔と同一である、請求項11に記載の偏光撮像装置。 - 前記撮像面に対向するように配置された第4偏光光学素子をさらに具備し、
前記第4偏光光学素子は、1枚の第1の金属層、1枚の第2の金属層、および誘電体層を含む積層構造から構成されるファブリペロー共振器を具備し、
前記第4偏光光学素子は、ワイヤグリッド偏光子を具備していない、請求項10に記載の偏光撮像装置。 - 前記誘電体層は間隙層を有しており、
前記間隙層には空気が充満しており、
前記板状の1枚のワイヤグリッド偏光子は、前記空気と接触している、請求項1に記載の光学フィルタ。 - 請求項10に記載の偏光撮像装置、および
前記偏光撮像装置に組み合わせられたマイクロレンズアレイ、
を備える立体偏光撮像装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015514686A JP5866577B2 (ja) | 2013-07-29 | 2014-07-14 | 光学フィルタおよびそれを用いた偏光撮像装置 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013156981 | 2013-07-29 | ||
JP2013156981 | 2013-07-29 | ||
PCT/JP2014/003707 WO2015015722A1 (ja) | 2013-07-29 | 2014-07-14 | 光学フィルタおよびそれを用いた偏光撮像装置 |
JP2015514686A JP5866577B2 (ja) | 2013-07-29 | 2014-07-14 | 光学フィルタおよびそれを用いた偏光撮像装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP5866577B2 true JP5866577B2 (ja) | 2016-02-17 |
JPWO2015015722A1 JPWO2015015722A1 (ja) | 2017-03-02 |
Family
ID=52431285
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015514686A Expired - Fee Related JP5866577B2 (ja) | 2013-07-29 | 2014-07-14 | 光学フィルタおよびそれを用いた偏光撮像装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9601532B2 (ja) |
JP (1) | JP5866577B2 (ja) |
WO (1) | WO2015015722A1 (ja) |
Families Citing this family (48)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015094872A (ja) * | 2013-11-13 | 2015-05-18 | キヤノン株式会社 | 偏光素子、光学装置、光源装置、および、撮像装置 |
FR3014243B1 (fr) * | 2013-12-04 | 2017-05-26 | St Microelectronics Sa | Procede de realisation d'un dispositif imageur integre a illumination face avant comportant au moins un filtre optique metallique, et dispositif correspondant |
JP2015144194A (ja) * | 2014-01-31 | 2015-08-06 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子および電子機器 |
JP6391316B2 (ja) * | 2014-06-25 | 2018-09-19 | キヤノン株式会社 | 撮像装置 |
US11490037B2 (en) | 2014-10-29 | 2022-11-01 | Palo Alto Research Center Incorporated | Liquid crystal fourier transform imaging spectrometer |
US10760967B2 (en) | 2014-10-29 | 2020-09-01 | Palo Alto Research Center Incorporated | Liquid crystal fourier transform imaging spectrometer |
US10469771B2 (en) * | 2014-10-29 | 2019-11-05 | Palo Alto Research Center Incorporated | Liquid crystal fourier transform imaging spectrometer |
US9513162B2 (en) * | 2015-03-16 | 2016-12-06 | Raytheon Company | Tunable multi-band spectro-polarimeter |
FR3036849B1 (fr) * | 2015-05-28 | 2018-07-13 | Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives | Procede de realisation d'un filtre infrarouge associe a un capteur d'image |
JP2017005111A (ja) * | 2015-06-10 | 2017-01-05 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置及び電子機器 |
JP6488203B2 (ja) * | 2015-07-01 | 2019-03-20 | 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント | 画像処理装置、画像処理システム、多視点カメラ、および画像処理方法 |
JP6566749B2 (ja) | 2015-07-01 | 2019-08-28 | 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント | 撮像素子、イメージセンサ、および情報処理装置 |
US10694169B1 (en) * | 2015-08-14 | 2020-06-23 | Apple Inc. | Depth mapping with polarization and focus pixels |
JP6754157B2 (ja) | 2015-10-26 | 2020-09-09 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 撮像装置 |
JP6764880B2 (ja) | 2015-12-11 | 2020-10-07 | 株式会社ニコン | 偏光特性画像計測装置、偏光特性画像計測方法 |
JP6697681B2 (ja) * | 2016-08-17 | 2020-05-27 | ソニー株式会社 | 検査装置、検査方法、およびプログラム |
KR101841131B1 (ko) * | 2016-08-22 | 2018-03-22 | 삼성전자주식회사 | 광학필터 및 이를 이용한 광학 디바이스 |
US10768497B2 (en) | 2016-10-03 | 2020-09-08 | Xerox Corporation | Hyperspectral imaging system |
JP6789792B2 (ja) * | 2016-12-13 | 2020-11-25 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 撮像素子、電子機器 |
JP7154736B2 (ja) * | 2016-12-13 | 2022-10-18 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 撮像素子、電子機器 |
JP6910704B2 (ja) | 2016-12-13 | 2021-07-28 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 撮像素子、撮像素子の製造方法、プラズモンフィルタ、及び、電子機器 |
JP6843682B2 (ja) * | 2017-04-07 | 2021-03-17 | キヤノン株式会社 | 撮像素子および撮像装置 |
JPWO2018221516A1 (ja) * | 2017-05-31 | 2020-04-02 | 株式会社ニコン | 撮像素子および撮像装置 |
EP3640987A4 (en) * | 2017-06-15 | 2021-04-28 | Nikon Corporation | IMAGING ELEMENT, IMAGING DEVICE, AND IMAGING PROCESS |
DE102018124442A1 (de) * | 2017-11-15 | 2019-05-16 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co. Ltd. | Polarisatoren für Bildsensorvorrichtungen |
US10564504B2 (en) * | 2017-11-30 | 2020-02-18 | Palo Alto Research Center Incorporated | Liquid-crystal variable retarder using liquid crystal cells of differing thicknesses |
JP2019113604A (ja) | 2017-12-21 | 2019-07-11 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 電磁波処理装置 |
US10663346B2 (en) | 2017-12-29 | 2020-05-26 | Palo Alto Research Center Incorporated | Method and apparatus for transforming uniformly or non-uniformly sampled interferograms to produce spectral data |
US10983338B2 (en) | 2017-12-29 | 2021-04-20 | Palo Alto Research Center Incorporated | Exit-pupil expander used distribute light over a liquid-crystal variable retarder |
US10379043B2 (en) | 2017-12-29 | 2019-08-13 | Palo Alto Research Center Incorporated | Measuring path delay through a liquid-crystal variable retarder at non-uniform retardance intervals |
US10175116B1 (en) | 2017-12-29 | 2019-01-08 | Palo Alto Research Center Incorporated | Color filter used with liquid-crystal polarization interferometer |
US10393581B2 (en) * | 2018-01-29 | 2019-08-27 | JVC Kenwood Corporation | Spectroscope |
JP2019159080A (ja) * | 2018-03-13 | 2019-09-19 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 固体撮像装置 |
US11810934B2 (en) | 2018-04-03 | 2023-11-07 | Visera Technologies Company Limited | Image sensors including insulating layers in different pixel regions having different thicknesses and methods for forming the same |
JP2019200383A (ja) * | 2018-05-18 | 2019-11-21 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 共振器構造体、撮像素子、および電子機器 |
CN109632099B (zh) * | 2019-01-29 | 2023-12-15 | 苏州大学 | 一种法布里-珀罗干涉型成像光谱仪 |
JP2020136429A (ja) * | 2019-02-18 | 2020-08-31 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 撮像素子および撮像装置 |
US10784300B1 (en) * | 2019-04-16 | 2020-09-22 | Visera Technologies Company Limited | Solid-state imaging devices |
US11404468B2 (en) * | 2019-06-21 | 2022-08-02 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Wavelength tunable narrow band filter |
JP7293020B2 (ja) * | 2019-07-19 | 2023-06-19 | キヤノン株式会社 | 撮像素子、およびこれを備える撮像装置 |
KR102646521B1 (ko) | 2019-09-17 | 2024-03-21 | 인트린식 이노베이션 엘엘씨 | 편광 큐를 이용한 표면 모델링 시스템 및 방법 |
US11525906B2 (en) | 2019-10-07 | 2022-12-13 | Intrinsic Innovation Llc | Systems and methods for augmentation of sensor systems and imaging systems with polarization |
WO2021108002A1 (en) * | 2019-11-30 | 2021-06-03 | Boston Polarimetrics, Inc. | Systems and methods for transparent object segmentation using polarization cues |
US11515437B2 (en) | 2019-12-04 | 2022-11-29 | Omnivision Technologies, Inc. | Light sensing system and light sensor with polarizer |
CN112729538A (zh) * | 2020-03-30 | 2021-04-30 | 义明科技股份有限公司 | 显示装置及其环境光传感器 |
JP2020141146A (ja) * | 2020-05-26 | 2020-09-03 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 撮像装置 |
KR102551763B1 (ko) * | 2021-04-01 | 2023-07-04 | 포항공과대학교 산학협력단 | IGZO(Indium-Gallium-Zinc-Oxide)를 포함하는 컬러필터 및 이의 제조방법 |
US11546508B1 (en) * | 2021-07-21 | 2023-01-03 | Black Sesame Technologies Inc. | Polarization imaging system with super resolution fusion |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5726805A (en) * | 1996-06-25 | 1998-03-10 | Sandia Corporation | Optical filter including a sub-wavelength periodic structure and method of making |
US20050276303A1 (en) * | 2004-06-10 | 2005-12-15 | Rong Huang | External Cavity Laser |
JP2009237147A (ja) * | 2008-03-26 | 2009-10-15 | Epson Toyocom Corp | 波長フィルタ |
WO2013031100A1 (ja) * | 2011-09-02 | 2013-03-07 | パナソニック株式会社 | 偏光撮像素子および内視鏡 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4427837B2 (ja) | 1999-09-03 | 2010-03-10 | 住友化学株式会社 | ワイヤーグリッド型偏光光学素子 |
US6532111B2 (en) | 2001-03-05 | 2003-03-11 | Eastman Kodak Company | Wire grid polarizer |
US6665119B1 (en) | 2002-10-15 | 2003-12-16 | Eastman Kodak Company | Wire grid polarizer |
US7961393B2 (en) * | 2004-12-06 | 2011-06-14 | Moxtek, Inc. | Selectively absorptive wire-grid polarizer |
FR2904432B1 (fr) | 2006-07-25 | 2008-10-24 | Commissariat Energie Atomique | Structure matricielle de filtrage optique et capteur d'images associe |
EP2122329A1 (en) | 2006-12-21 | 2009-11-25 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Wiregrid waveguide |
KR101340900B1 (ko) * | 2007-04-10 | 2013-12-13 | 삼성디스플레이 주식회사 | 이중층 구조의 와이어 그리드 편광자 및 그 제조 방법 |
JP4770928B2 (ja) | 2009-01-13 | 2011-09-14 | ソニー株式会社 | 光学素子および固体撮像素子 |
JP5428509B2 (ja) | 2009-05-11 | 2014-02-26 | ソニー株式会社 | 2次元固体撮像装置、及び、2次元固体撮像装置における偏光光データ処理方法 |
EP4137790A1 (en) | 2009-11-30 | 2023-02-22 | Imec VZW | Integrated circuit for spectral imaging system |
JP5682437B2 (ja) | 2010-09-07 | 2015-03-11 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子、固体撮像装置、撮像機器、及び、偏光素子の製造方法 |
US9327483B2 (en) * | 2011-06-06 | 2016-05-03 | Primal Fernando | Polarizer devices and processes of manufacture |
JP2013074400A (ja) | 2011-09-27 | 2013-04-22 | Toshiba Corp | 固体撮像装置 |
EP2676596A4 (en) | 2011-11-29 | 2015-09-23 | Olympus Medical Systems Corp | POLARIZED OBSERVATION DEVICE |
-
2014
- 2014-07-14 JP JP2015514686A patent/JP5866577B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2014-07-14 WO PCT/JP2014/003707 patent/WO2015015722A1/ja active Application Filing
-
2015
- 2015-04-01 US US14/676,753 patent/US9601532B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5726805A (en) * | 1996-06-25 | 1998-03-10 | Sandia Corporation | Optical filter including a sub-wavelength periodic structure and method of making |
US20050276303A1 (en) * | 2004-06-10 | 2005-12-15 | Rong Huang | External Cavity Laser |
JP2009237147A (ja) * | 2008-03-26 | 2009-10-15 | Epson Toyocom Corp | 波長フィルタ |
WO2013031100A1 (ja) * | 2011-09-02 | 2013-03-07 | パナソニック株式会社 | 偏光撮像素子および内視鏡 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2015015722A1 (ja) | 2017-03-02 |
US9601532B2 (en) | 2017-03-21 |
WO2015015722A1 (ja) | 2015-02-05 |
US20150206912A1 (en) | 2015-07-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5866577B2 (ja) | 光学フィルタおよびそれを用いた偏光撮像装置 | |
US11733100B2 (en) | Polarization imaging system | |
JP5682437B2 (ja) | 固体撮像素子、固体撮像装置、撮像機器、及び、偏光素子の製造方法 | |
KR101455545B1 (ko) | 특히 다채널 스펙트럼-선택 측정을 위한, 광 대역통과 필터 시스템 | |
JP5022221B2 (ja) | 波長分割画像計測装置 | |
JP4836625B2 (ja) | 固体撮像素子 | |
JP5428509B2 (ja) | 2次元固体撮像装置、及び、2次元固体撮像装置における偏光光データ処理方法 | |
US9297939B2 (en) | Spectral filtering device in the visible and infrared ranges | |
JP7396898B2 (ja) | 赤外マルチスペクトル撮像用の装置及び方法 | |
WO2019075335A1 (en) | LENS-FREE COMPOSITE EYE CAMERAS BASED ON ANGLE-SENSITIVE METASURFACES | |
US20160054173A1 (en) | Image sensor having improved light utilization efficiency and method of manufacturing the same | |
US10393576B2 (en) | Image sensor including color filter isolation layer and method of manufacturing the same | |
WO2011148851A1 (ja) | 撮像装置及び撮像方法 | |
CN107192349B (zh) | 光检测装置 | |
WO2018168482A1 (ja) | 固体撮像装置及び電子装置 | |
TW201807386A (zh) | 多光譜攝像裝置 | |
KR20220061175A (ko) | 분광소자 어레이, 촬상소자 및 촬상장치 | |
JP2008060323A (ja) | 固体撮像装置、固体撮像装置の製造方法およびカメラ | |
WO2021234924A1 (ja) | 撮像素子及び撮像装置 | |
JP6684899B2 (ja) | 撮像装置 | |
US9316839B2 (en) | Image sensor having improved light utilization efficiency | |
JP7231869B2 (ja) | 撮像素子および撮像装置 | |
WO2013061489A1 (ja) | カラー撮像装置 | |
JP2014077972A (ja) | 光学フィルタ及び該光学フィルタを備える撮像装置、並びに光学フィルタの製造方法 | |
KR102318758B1 (ko) | 이미지 센서 및 이를 구비하는 전자장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20151104 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20151117 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5866577 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
SZ03 | Written request for cancellation of trust registration |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313Z03 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |