JP5215971B2 - 信号発生検出装置及び信号発生検出方法 - Google Patents

Description

本発明は、信号発生検出装置及び信号発生検出方法に関し、特に高速でデータ通信を行なう被測定物を試験するための信号発生検出装置及び信号発生検出方法に関する。

データ通信を行なう被測定物を試験するための信号発生検出装置が提案されている（例えば、特許文献１参照。）。特許文献１に記載された信号発生検出装置では、デジタルデータ信号にエラーを故意に導入して試験信号を発生し、この試験信号に応答したシステムの出力を既知のデジタルデータ信号と比較して、導入したエラーによってどのような劣化が生じたかを判断する。

一方で、データ通信では、複数のレーンからの信号を順にシリアル信号に変換する多重化や、シリアル信号の任意の位置を起点にパラレル信号に変換する分離が行なわれている。

特願２００２−３３０１９２号公報

データ通信が高速化すると、各レーン間のデータにスキューが発生したり、データを分離するレーンの順序がずれたりして、多重化や分離が適切に行なえないことがある。

特許文献１に記載された信号発生検出装置では、被測定物において多重化や分離が適切に行なえない場合を考慮していない。このため、導入したエラーによってどのような劣化が生じたかを適切に判断することはできない。

そこで、本発明は、多重化や分離が適切に行なえない被測定物の試験が可能な信号発生検出装置及び信号発生検出方法の提供を目的とする。

上記目的を達成するために、本願発明の信号発生検出装置及び信号発生検出方法は、同じデータ列が一定周期で繰り返す特定の連続信号を複数のレーンからそれぞれ異なる初期値で前記被測定物に出力して、被測定物からのパラレル信号をレーンごとに受信して検出することを特徴とする。

具体的には、本願発明の信号発生検出装置は、複数のレーンからの信号を順にシリアル信号に変換し、シリアル信号の任意の位置を起点に前記レーンと同数のパラレル信号に変換して、それぞれを異なるレーンに出力する被測定物（９１）の試験を行なう信号発生検出装置（１０１）であって、同じデータ列が一定周期で繰り返す特定の連続信号を複数のレーンからそれぞれ異なる初期値で前記被測定物に出力するパラレル信号出力部（１１）と、前記被測定物からのパラレル信号をレーンごとに受信して検出するパラレル信号検出部（１２）と、を備え、前記パラレル信号出力部は、同じデータ列が一定周期で繰り返す連続信号を発生する複数の信号発生回路（３１−１、３１−２、・・・３１−ｍ（ただし、ｍは２以上の正の整数））と、前記信号発生回路の発生する連続信号を多重化して前記特定の連続信号を出力する多重化回路（３２−１）と、を備え、前記パラレル信号検出部は、前記レーンに入力されたパラレル信号を、前記信号発生回路と同数のパラレル信号に変換して、それぞれを異なるレーンに出力する分離回路（３３−１）と、前記分離回路からのパラレル信号をレーンごとに受信し、受信した信号のデータ列の初期値と前記信号発生回路の発生した連続信号のデータ列の初期値との異同を用いて各レーン間のデータのスキューを検出する前記信号発生回路と同数の分離信号検出回路（３４−１、３４−２、・・・３４−ｍ）と、を備える。

本願発明の信号発生検出装置は、同じデータ列が一定周期で繰り返す特定の連続信号を送受信する。多重化や分離が適切に行なえない被測定物の場合、送信した特定の連続信号はいずれかのレーンで検出することになる。このとき、検出した信号はいずれも同じデータ列であるため、送信したレーンと受信したレーンが異なっても送信したデータ列と受信したデータ列とを同期をとればエラーを検出することができる。したがって、多重化や分離が適切に行なえない被測定物の試験が可能な信号発生検出装置を提供することができる。

本願発明の信号発生検出装置では、前記パラレル信号出力部は、前記複数のレーンのうちの任意のレーンの信号にエラーを付加するエラー付加回路（２４−２）をさらに備えてもよい。

本願発明の信号発生検出装置では、前記パラレル信号出力部は、前記特定の連続信号を前記レーンごとに異なる初期値で出力する複数の信号出力回路（２１−１、２１−２、・・・２１−ｎ（ただし、ｎは２以上の正の整数））を備えてもよい。

本願発明の信号発生検出装置では、前記パラレル信号出力部は、前記特定の連続信号を出力する信号出力回路（２１−１）と、前記信号出力回路からの前記特定の連続信号をそれぞれ異なる遅延量で遅延させる前記レーンと同数の遅延回路（２２−１、２２−２、・・・２２−ｎ（ただし、ｎは２以上の正の整数））と、を備えてもよい。

本願発明の信号発生検出装置では、前記パラレル信号検出部の検出するパラレル信号に含まれる符号誤りを検出するエラー検出部（１３）を備えてもよい。

具体的には、本願発明の信号発生検出方法は、複数のレーンからの信号を順にシリアル信号に変換し、シリアル信号の任意の位置を起点に前記レーンと同数のパラレル信号に変換して、それぞれを異なるレーンに出力する被測定物（９１）の試験を行なう信号発生検出方法であって、同じデータ列が一定周期で繰り返す特定の連続信号を複数のレーンからそれぞれ異なる初期値で前記被測定物に出力するパラレル信号出力手順と、前記被測定物からのパラレル信号をレーンごとに受信して検出するパラレル信号検出手順と、を順に有し、前記パラレル信号出力手順において、同じデータ列が一定周期で繰り返す連続信号を複数の信号発生回路（３１−１、３１−２、・・・３１−ｍ（ただし、ｍは２以上の正の整数））からそれぞれ異なる周期で発生し、前記信号発生回路の発生する連続信号を多重化して前記特定の連続信号を出力し、前記パラレル信号検出手順において、前記レーンに入力されたパラレル信号を、前記信号発生回路と同数のパラレル信号に変換して、それぞれを異なるレーンに出力し、前記パラレル信号をレーンごとに受信し、受信した信号のデータ列の初期値と前記信号発生回路の発生した連続信号のデータ列の初期値との異同を用いて各レーン間のデータのスキューを検出する。

本願発明の信号発生検出方法は、同じデータ列が一定周期で繰り返す特定の連続信号を送受信する。多重化や分離が適切に行なえない被測定物の場合、送信した特定の連続信号はいずれかのレーンで検出することになる。このとき、検出した信号はいずれも同じデータ列であるため、送信したレーンと受信したレーンが異なっても送信したデータ列と受信したデータ列とを同期をとればエラーを検出することができる。したがって、多重化や分離が適切に行なえない被測定物の試験が可能な信号発生検出方法を提供することができる。

本願発明の信号発生検出方法では、前記パラレル信号出力手順において、前記複数のレーンのうちの任意のレーンの信号にエラーを付加してもよい。

本願発明の信号発生検出方法では、前記パラレル信号出力手順において、前記特定の連続信号を出力する複数の信号出力回路（２１−１、２１−２、・・・２１−ｎ（ただし、ｎは２以上の正の整数））から前記レーンごとに異なる初期値で出力してもよい。

本願発明の信号発生検出方法では、前記パラレル信号出力手順において、前記特定の連続信号を出力する信号出力回路（２１−１）からの前記特定の連続信号をそれぞれ異なる遅延量で遅延させてもよい。

本願発明の信号発生検出方法では、前記パラレル信号検出手順において、検出したパラレル信号に含まれる符号誤りを検出してもよい。

なお、上記各発明は、可能な限り組み合わせることができる。

本発明によれば、多重化や分離が適切に行なえない被測定物の試験が可能な信号発生検出装置及び信号発生検出方法を提供することができる。

実施形態１に係る信号発生検出装置の一例を示す概略構成図である。 実施形態１に係るパラレル信号出力部の第１の具体例を示す。 実施形態１に係るパラレル信号出力部の第２の具体例を示す。 実施形態１に係るパラレル信号検出部の具体例を示す。 実施形態２に係る信号発生検出装置の一例を示す概略構成図である。 実施形態２に係るパラレル信号出力部の第１の具体例を示す。 実施形態２に係るパラレル信号出力部の第２の具体例を示す。 実施形態２に係るパラレル信号検出部及びエラー検出部の具体例を示す。 実施形態３に係る信号出力回路の一例を示す。 実施形態３に係る信号検出回路の一例を示す。

添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本発明の実施例であり、本発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。

（実施形態１）
図１は、本実施形態に係る信号発生検出装置の一例を示す概略構成図である。本実施形態に係る信号発生検出装置１０１は、パラレル信号出力部１１と、パラレル信号検出部１２と、を備え、本実施形態に係る信号発生検出方法を実行する。これにより、本実施形態に係る信号発生検出装置１０１及び信号発生検出方法は、被測定物９１の試験を行なう。

パラレル信号出力部１１は、同じデータ列が一定周期で繰り返す特定の連続信号を複数のレーンからそれぞれ異なる初期値で被測定物９１に出力する。連続信号は、例えばＰＲＢＳ（Ｐｓｅｕｄｏ Ｒａｎｄｏｍ Ｂｉｎａｒｙ （ｂｉｔ） Ｓｅｑｕｅｎｃｅ）信号である。レーンの数は限定しない。例えば、１０レーンであってもよいし、２０レーンであってもよい。

初期値が６ｂｉｔであれば、特定の連続信号は、例えば「・・・１０１１００１０１１００１０１１００・・・」である。この場合、パラレル信号出力部１１は、第１のレーンから「１０１１００」を初期値とする特定の連続信号Ｓ−１「１０１１００１０１１００・・・」を出力し、第２のレーンから「０１０１１０」を初期値とする特定の連続信号Ｓ−２「０１０１１００１０１１０・・・」を出力し、・・・第ｎのレーンから「００１０１１」を初期値とする特定の連続信号Ｓ−ｎ「００１０１１００１０１１・・・」を出力する。このように、パラレル信号出力部１１は、特定の連続信号「・・・１０１１００１０１１００１０１１００・・・」を複数のレーンからそれぞれ異なる初期値で出力する。なお、本実施形態では初期値を６ｂｉｔとしたが、初期値は任意のビット数とすることができる。

図２に、本実施形態に係るパラレル信号出力部の第１の具体例を示す。パラレル信号出力部１１は、例えば、レーンと同数のｎ（ｎは２以上の正の整数）個の信号出力回路２１−１、２１−２、・・・２１−ｎを備える。信号出力回路２１−１、２１−２、・・・２１−ｎは、特定の連続信号「・・・１０１１００１０１１００１０１１００・・・」をレーンごとに異なる初期値で出力する。例えば、信号出力回路２１−１は特定の連続信号Ｓ−１「１０１１００・・・」を出力し、信号出力回路２１−３は特定の連続信号Ｓ−２「０１０１１０・・・」を出力し、・・・信号出力回路２１−ｎは特定の連続信号Ｓ−ｎ「００１０１１・・・」を出力する。これにより、パラレル信号出力部１１は、同じデータ列が一定周期で繰り返す連続信号を複数のレーンからそれぞれ異なる初期値で出力することができる。

図３に、本実施形態に係るパラレル信号出力部の第２の具体例を示す。パラレル信号出力部１１は、例えば、信号出力回路２１−１と、レーンと同数のｎ（ｎは２以上の正の整数）個の遅延回路２２−１、２２−２、・・・２２−ｎを備える。信号出力回路２１−１は、特定の連続信号「・・・１０１１００１０１１００１０１１００・・・」を出力する。遅延回路２２−１、２２−２、・・・２２−ｎは、信号出力回路２１−１からの特定の連続信号をそれぞれ異なる遅延量で遅延させる。例えば、遅延回路２２−１は特定の連続信号Ｓ−１「１０１１００・・・」を出力し、遅延回路２２−２は特定の連続信号Ｓ−２「０１０１１０・・・」を出力し、・・・遅延回路２２−ｎは特定の連続信号Ｓ−ｎ「００１０１１・・・」を出力する。これにより、パラレル信号出力部１１は、同じデータ列が一定周期で繰り返す連続信号を複数のレーンからそれぞれ異なる初期値で出力するのと同等なデータを出力することができる。

図１に示す被測定物９１は、多重化部８１と、ＥＯ変換部８２と、ＯＥ変換部８３と、分離部８４と、を備える。多重化部８１は、複数のレーンからの信号を順にシリアル信号に変換する。例えば、第１のレーンからの特定の連続信号Ｓ−１と、第２のレーンからの特定の連続信号Ｓ−２と、第ｎのレーンからの特定の連続信号Ｓ−ｎと、を多重化してシリアル信号に変換する。ＥＯ変換部８２は、多重化部８１からの電気信号を光信号に変換して、光伝送路に出力する。

ここで、特定の連続信号Ｓ−１、Ｓ−２、・・・Ｓ−ｎが高速でなければ、多重化部８１は、第１のレーンからの特定の連続信号Ｓ−１、第２のレーンからの特定の連続信号Ｓ−２、・・・、第ｎのレーンからの特定の連続信号Ｓ−ｎの順にシリアル信号に変換する。そして、ＥＯ変換部８２は、特定の連続信号Ｓ−１、特定の連続信号Ｓ−２、・・・特定の連続信号Ｓ−ｎの順に配列されている光信号を光伝送路に出力する。

しかし、特定の連続信号Ｓ−１、Ｓ−２、・・・Ｓ−ｎが高速であると、各レーン間のデータにスキューが発生する場合がある。この場合、レーンの順がずれ、例えば、多重化部８１は、第２のレーンからの特定の連続信号Ｓ−２、第１のレーンからの特定の連続信号Ｓ−１、・・・、第ｎのレーンからの特定の連続信号Ｓ−ｎの順にシリアル信号に変換することがある。そして、ＥＯ変換部８２は、特定の連続信号Ｓ−１、Ｓ−２、・・・Ｓ−ｎが高速であると、前述のとおり、シリアル信号は、特定の連続信号Ｓ−２、特定の連続信号Ｓ−１、・・・特定の連続信号Ｓ−ｎの順に配列されている光信号を光伝送路に出力する。

ＯＥ変換部８３は、光伝送路からの光信号を電気信号に変換して、シリアル信号を出力する。分離部８４は、ＯＥ変換部８３からのシリアル信号をパラレル信号に変換する。このとき、分離部８４は、シリアル信号の任意の位置を起点にレーンと同数のパラレル信号に変換して、それぞれを異なるレーンに出力する。

ここで、分離部８４は、特定の連続信号Ｓ−１を第２のレーンに、特定の連続信号Ｓ−２を第１のレーンに、・・・特定の連続信号Ｓ−ｎを第ｎのレーンに出力することがある。

また、特定の連続信号Ｓ−１、Ｓ−２、・・・Ｓ−ｎが高速であると、前述のとおり、ＯＥ変換部８３は、特定の連続信号Ｓ−２、特定の連続信号Ｓ−１、・・・特定の連続信号Ｓ−ｎの順に配列されている光信号を電気信号に変換して、シリアル信号を出力する場合がある。この場合、分離部８４は、特定の連続信号Ｓ−２を第１のレーンに、特定の連続信号Ｓ−１を第２のレーンに、・・・、特定の連続信号Ｓ−ｎを第ｎのレーンに出力することになる。

パラレル信号検出部１２は、被測定物９１からのパラレル信号をレーンごとに受信して検出する。

図４に、本実施形態に係るパラレル信号検出部の具体例を示す。パラレル信号検出部１２は、ｎ（ｎは２以上の正の整数）個の信号検出回路２３−１、２３−２、・・・２３−ｎを備える。信号検出回路２３−１は第１のレーンに入力されたパラレル信号を受信して検出する。信号検出回路２３−２は第２のレーンに入力されたパラレル信号を受信して検出する。信号検出回路２３−ｎは第ｎのレーンに入力されたパラレル信号を受信して検出する。これにより、パラレル信号検出部１２は、被測定物９１からのパラレル信号を異なるレーンで受信して検出することができる。

ここで、分離部８４は、特定の連続信号Ｓ−２を第１のレーンに、特定の連続信号Ｓ−１を第２のレーンに、・・・、特定の連続信号Ｓ−ｎを第ｎのレーンに出力する場合がある。この場合、パラレル信号検出部１２は、特定の連続信号Ｓ−２を第１のレーンで受信して検出し、特定の連続信号Ｓ−１を第２のレーンで受信して検出し、・・・、特定の連続信号Ｓ−ｎを第ｎのレーンで受信して検出することになる。

本実施形態では、特定の連続信号Ｓ−１「１０１１００・・・」と特定の連続信号Ｓ−２「０１０１１０・・・」は、同じデータ列「１０１１００」が一定周期で繰り返す連続信号である。このため、特定の連続信号Ｓ−２を第１のレーンに出力しても、第１のレーンで検出されるデータ列は、特定の連続信号Ｓ−１「１０１１００・・・」と初期値の異なる同じデータ列である。特定の連続信号Ｓ−１を第２のレーンに出力しても、第２のレーンで検出されるデータ列は、特定の連続信号Ｓ−２「０１０１１０・・・」と初期値の異なる同じデータ列である。

このように、各レーン間のデータにスキューが発生したり、分離部８４で分離するデータのレーンの順序がずれたりしても、特定の連続信号Ｓ−１、特定の連続信号Ｓ−２、・・・、特定の連続信号Ｓ−ｎのそれぞれを、信号検出回路２３−１、２３−２、・・・２３−ｎのいずれかで検出することができる。したがって、パラレル信号検出部１２は、特定の連続信号Ｓ−１、特定の連続信号Ｓ−２、・・・、特定の連続信号Ｓ−ｎ、を受信して検出することができる。

（実施形態２）
図５は、本実施形態に係る信号発生検出装置の一例を示す概略構成図である。本実施形態に係る信号発生検出装置１０２及びその信号発生検出方法は、実施形態１に係る信号発生検出装置１０１及びその信号発生検出方法において、パラレル信号出力部１１の出力する特定の連続信号Ｓ−１、Ｓ−２、・・・Ｓ−ｎのうちの任意の信号にエラーを付加し、パラレル信号検出部１２の受信する特定の連続信号からエラーを検出する。そのために、信号発生検出装置１０２はさらにエラー検出部１３を備えるとともに、パラレル信号出力部１１がエラー付加回路２４−２を備える。

エラー付加回路２４−２は、任意のレーンの信号にエラーを付加する。任意のレーンは、例えば、第２のレーンである。エラーは、例えば、符号誤りである。なお、本実施形態では、任意のレーンが第２のレーンである場合について説明するが、第１のレーンから第ｎのレーンのいずれのレーンであってもよい。任意のレーンにエラーを付加することで、被測定物９１に対するエラー付加試験を行なうことができる。

図６に、本実施形態に係るパラレル信号出力部の第１の具体例を示す。パラレル信号出力部１１は、実施形態１に係るパラレル信号出力部の第１形態に加え、さらに、エラー付加回路２４−２を備える。エラー付加回路２４−２は、信号出力回路２１−２の出力する特定の連続信号Ｓ−２にエラーを付加して出力する。

図７に、本実施形態に係るパラレル信号出力部の第２の具体例を示す。パラレル信号出力部１１は、実施形態１に係るパラレル信号出力部の第２形態に加え、さらに、エラー付加回路２４−２を備える。エラー付加回路２４−２は、遅延回路２２−２の遅延させた特定の連続信号Ｓ−２にエラーを付加して出力する。このとき、パラレル信号出力部１１は、同じデータ列が一定周期で繰り返す連続信号であって任意の初期値の連続信号Ｓ−ｘをエラー検出部１３に出力する。例えば特定の連続信号Ｓ−１を出力する。これにより、エラー検出部１３は符号誤りの検出が可能になる。

図５に示す被測定物９１は、実施形態１と同様に、複数のレーンからの信号を順にシリアル信号に変換し、シリアル信号の任意の位置を起点に前記レーンと同数のパラレル信号に変換して、それぞれを異なるレーンに出力する。

パラレル信号検出部１２は、被測定物９１からのパラレル信号をレーンごとに受信して検出する。エラー検出部１３は、パラレル信号検出部１２の検出するパラレル信号に含まれる符号誤りを検出する。このように、被測定物９１からのパラレル信号をレーンごとに受信して検出するパラレル信号検出手順において、検出したパラレル信号に含まれる符号誤りを検出する。

図８に、本実施形態に係るパラレル信号検出部及びエラー検出部の具体例を示す。パラレル信号検出部１２は、実施形態１と同様に、各信号検出回路２３−１、２３−２、・・・２３―ｎは、それぞれのレーンに入力されたパラレル信号を受信して検出する。エラー検出部１３は、ｎ（ｎは２以上の正の整数）個のエラー検出回路２５−１、２５−２、・・・２５−ｎを備え、パラレル信号検出部１２のレーンごとに符号誤りを検出する。

例えば、エラー検出回路２５−１は、信号検出回路２３−１の検出した信号と、パラレル信号出力部から出力された特定の連続信号Ｓ−ｘを取得して、両信号を比較する。信号検出回路２３−１の検出した信号と特定の連続信号Ｓ−ｘは、同じデータ列が一定周期で繰り返す連続信号であって初期値の異なる信号である。このため、両信号の同期をとって比較することで、符号誤りを検出することができる。

エラー検出回路２５−２、・・・、２５−ｎも、エラー検出回路２５−１と同様に、それぞれ、信号検出回路２３−２、・・・、２３−ｎの検出した信号と特定の連続信号Ｓ−ｘを取得して、両信号を比較する。これにより、エラー検出回路２５−２、・・・、２５−ｎも、符号誤りを検出することができる。

本実施形態に係る構成とすることで、多重化や分離が適切に行なえない被測定物９１であっても、符合誤り試験を行なうことができる。

（実施形態３）
本実施形態に係る信号発生検出装置及び信号発生検出方法は、実施形態１又は実施形態２において説明したパラレル信号出力部１１は、複数の信号発生回路を用いて特定の連続信号Ｓ−１、Ｓ−２、・・・Ｓ−ｎを出力する。そして、実施形態１又は実施形態２において説明したパラレル信号検出部１２は、信号発生回路と同数の分離信号検出回路を用いて特定の連続信号Ｓ−１、Ｓ−２、・・・Ｓ−ｎを受信して検出する。

図９に、本実施形態に係る信号出力回路の一例を示す。本実施形態に係る信号出力回路２１−ｘは、信号出力回路２１−１、２１−２、・・・２１−ｎのうちの任意の信号出力回路である。信号出力回路２１−ｘが信号出力回路２１−１であれば、信号出力回路２１−ｘは、特定の連続信号Ｓ−１を出力する。

信号出力回路２１−ｘは、ｍ（ｍは２以上の正の整数）個の信号発生回路３１−１、３１−２、・・・３１−ｍと、多重化回路３２−１を備える。信号発生回路３１−１、３１−２、・・・３１−ｍは、それぞれ、同じデータ列が一定周期で繰り返す連続信号であって初期値の異なる信号を発生する。多重化回路３２−１は、信号発生回路３１−１、３１−２、・・・３１−ｍの発生する信号を多重化して、特定の連続信号Ｓ−ｘを出力する。これにより、任意の初期値の特定の連続信号Ｓ−ｘを出力することができる。

本実施形態では、ｍ個の信号発生回路３１−１、３１−２、・・・３１−ｍを用いて特定の連続信号Ｓ−ｘを発生させるため、特定の連続信号Ｓ−ｘの１／ｍのデータ速度の信号発生回路３１−１、３１−２、・・・３１−ｍを用いることができる。これにより、特定の連続信号Ｓ−ｘの高速化を容易に行なうことができる。

図１０に、本実施形態に係る信号検出回路の一例を示す。本実施形態に係る信号検出回路２３−ｘは、信号検出回路２３−１、２３−２、・・・２３−ｎのうちの任意の信号検出回路である。信号検出回路２３−ｘが信号出力回路２３−１であれば、被測定物９１からのパラレル信号を第１のレーンで受信して検出する。

信号検出回路２３−ｘは、分離回路３３−１と、信号発生回路３１−１、３１−２、・・・３１−ｍと同数の分離信号検出回路３４−１、３４−２、・・・３４−ｍと、を備える。
分離回路３３−１は、パラレル信号検出部（図１及び図５に示す符号１２）のいずれかのレーンに入力されたパラレル信号を、信号発生回路３１−１、３１−２、・・・３１−ｍと同数のパラレル信号に変換して、それぞれを異なるレーンに出力する。例えば、第１のレーンに入力されたパラレル信号を、ｍのパラレル信号に変換し、さらに第１のレーンから第ｍのレーンのそれぞれに出力する。

分離信号検出回路３４−１、３４−２、・・・３４−ｍは、分離回路３３−１からのパラレル信号をレーンごとに受信して検出する。例えば、分離信号検出回路３４−１は、分離回路３３−１から第１のレーンに出力されたパラレル信号を受信して検出する。分離信号検出回路３４−２、・・・３４−ｍも、分離信号検出回路３４−１と同様に、分離回路３３−１からそれぞれのレーンに出力されたパラレル信号を受信して検出する。これにより、分離信号検出回路３４−１、３４−２、・・・３４−ｍは、信号発生回路３１−１、３１−２、・・・３１−ｍの発生した連続信号を受信して検出することができる。

本実施形態では、ｍ個の分離信号検出回路３４−１、３４−２、・・・３４−ｍを用いて特定の連続信号Ｓ−ｘを受信して検出するため、特定の連続信号Ｓ−ｘの１／ｍのデータ速度の分離信号検出回路３４−１、３４−２、・・・３４−ｍを用いることができる。これにより、特定の連続信号Ｓ−ｘの高速化を容易に行なうことができる。

なお、本実施形態に係る信号検出回路２３−ｘを実施形態２に係る信号検出回路２３−１、２３−２、・・・２３−ｎに適用する場合、図５に示すエラー検出部１３は、分離信号検出回路３４−１、３４−２、・・・３４−ｍの検出するパラレル信号に含まれる符号誤りを検出する。この場合、エラー検出部１３は、分離信号検出回路３４−１の検出するパラレル信号と、信号発生回路３１−１からの信号と、を取得して、両信号を比較する。分離信号検出回路３４−２、・・・３４−ｍの検出するパラレル信号と、信号発生回路３１−２、・・・３１−ｍからの信号と、についても同様である。これにより、符号誤りを検出することができる。

本発明の信号発生検出装置は情報通信産業に適用することができる。

１１：パラレル信号出力部
１２：パラレル信号検出部
１３：エラー検出部
２１−１、２１−２、２１−ｎ、２１−ｘ：信号出力回路
２２−１、２２−２、２２−ｎ：遅延回路
２３−１、２３−２、２３−ｎ、２３−ｘ：信号検出回路
２４−２：エラー付加回路
２５−１、２５−２、２５−ｎ：エラー検出回路
３１−１、３１−２、３１−ｍ：信号発生回路
３２−１：多重化回路
３３−１：分離回路
３４−１、３４−２、３４−ｍ：分離信号検出回路
８１：多重化部
８２：ＥＯ変換部
８３：ＯＥ変換部
８４：分離部
９１：被測定物
１０１、１０２：信号発生検出装置

Claims (10)

1. 複数のレーンからの信号を順にシリアル信号に変換し、シリアル信号の任意の位置を起点に前記レーンと同数のパラレル信号に変換して、それぞれを異なるレーンに出力する被測定物（９１）の試験を行なう信号発生検出装置（１０１）であって、
   同じデータ列が一定周期で繰り返す特定の連続信号を複数のレーンからそれぞれ異なる初期値で前記被測定物に出力するパラレル信号出力部（１１）と、
   前記被測定物からのパラレル信号をレーンごとに受信して検出するパラレル信号検出部（１２）と、
   を備え、
   前記パラレル信号出力部は、
   同じデータ列が一定周期で繰り返す連続信号を発生する複数の信号発生回路（３１−１、３１−２、・・・３１−ｍ（ただし、ｍは２以上の正の整数））と、
   前記信号発生回路の発生する連続信号を多重化して前記特定の連続信号を出力する多重化回路（３２−１）と、
   を備え、
   前記パラレル信号検出部は、
   前記レーンに入力されたパラレル信号を、前記信号発生回路と同数のパラレル信号に変換して、それぞれを異なるレーンに出力する分離回路（３３−１）と、
   前記分離回路からのパラレル信号をレーンごとに受信し、受信した信号のデータ列の初期値と前記信号発生回路の発生した連続信号のデータ列の初期値との異同を用いて各レーン間のデータのスキューを検出する前記信号発生回路と同数の分離信号検出回路（３４−１、３４−２、・・・３４−ｍ）と、
   を備える信号発生検出装置。
2. 前記パラレル信号出力部は、
   前記複数のレーンのうちの任意のレーンの信号にエラーを付加するエラー付加回路（２４−２）をさらに備える請求項１に記載の信号発生検出装置。
3. 前記パラレル信号出力部は、
   前記特定の連続信号を前記レーンごとに異なる初期値で出力する複数の信号出力回路（２１−１、２１−２、・・・２１−ｎ（ただし、ｎは２以上の正の整数））を備える請求項１又は２に記載の信号発生検出装置。
4. 前記パラレル信号出力部は、
   前記特定の連続信号を出力する信号出力回路（２１−１）と、
   前記信号出力回路からの前記特定の連続信号をそれぞれ異なる遅延量で遅延させる前記レーンと同数の遅延回路（２２−１、２２−２、・・・２２−ｎ（ただし、ｎは２以上の正の整数））と、
   を備える請求項１又は２に記載の信号発生検出装置。
5. 前記パラレル信号検出部の検出するパラレル信号に含まれる符号誤りを検出するエラー検出部（１３）を備える請求項１から４のいずれかに記載の信号発生検出装置。
6. 複数のレーンからの信号を順にシリアル信号に変換し、シリアル信号の任意の位置を起点に前記レーンと同数のパラレル信号に変換して、それぞれを異なるレーンに出力する被測定物（９１）の試験を行なう信号発生検出方法であって、
   同じデータ列が一定周期で繰り返す特定の連続信号を複数のレーンからそれぞれ異なる初期値で前記被測定物に出力するパラレル信号出力手順と、
   前記被測定物からのパラレル信号をレーンごとに受信して検出するパラレル信号検出手順と、
   を順に有し、
   前記パラレル信号出力手順において、
   同じデータ列が一定周期で繰り返す連続信号を複数の信号発生回路（３１−１、３１−２、・・・３１−ｍ（ただし、ｍは２以上の正の整数））からそれぞれ異なる周期で発生し、
   前記信号発生回路の発生する連続信号を多重化して前記特定の連続信号を出力し、
   前記パラレル信号検出手順において、
   前記レーンに入力されたパラレル信号を、前記信号発生回路と同数のパラレル信号に変換して、それぞれを異なるレーンに出力し、
   前記パラレル信号をレーンごとに受信し、受信した信号のデータ列の初期値と前記信号発生回路の発生した連続信号のデータ列の初期値との異同を用いて各レーン間のデータのスキューを検出する、
   信号発生検出方法。
7. 前記パラレル信号出力手順において、
   前記複数のレーンのうちの任意のレーンの信号にエラーを付加する請求項６に記載の信号発生検出方法。
8. 前記パラレル信号出力手順において、
   前記特定の連続信号を出力する複数の信号出力回路（２１−１、２１−２、・・・２１−ｎ（ただし、ｎは２以上の正の整数））から前記レーンごとに異なる初期値で出力する請求項６又は７に記載の信号発生検出方法。
9. 前記パラレル信号出力手順において、
   前記特定の連続信号を出力する信号出力回路（２１−１）からの前記特定の連続信号をそれぞれ異なる遅延量で遅延させる請求項６又は７に記載の信号発生検出方法。
10. 前記パラレル信号検出手順において、検出したパラレル信号に含まれる符号誤りを検出する請求項６から９のいずれかに記載の信号発生検出方法。

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