JP4873533B2 - 高速シリアル転送デバイス試験方法、プログラム及び装置 - Google Patents
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Description
本発明は、高速シリアル転送デバイス試験方法を提供する。本発明の高速シリアル転送デバイス試験方法は、
高速シリアル転送デバイスが有する複数のシリアル転送チャネルの各々に、符号変換テーブルによる変換後データでビット0又は1の同値が連続転送されるように変換前データを並べた試験パターンを作成する試験パターン作成ステップと、
試験パターンを送信側の高速シリアル転送デバイスに入力して符号変換させ、変換後データがシリアル転送チャネルを通過するように連続転送させて受信側の同期外れ障害を検証する試験ステップと、
を備えたことを特徴とする。
高速シリアル転送デバイスにおけるバイト順序方式と符号変換のランニング・ディスパリティ(RD値)を考慮したうえで基本パターンを設定する基本パターン設定ステップと、
高速シリアル転送デバイスにおけるビット転送順序のチャネル使用方法に合わせて基本パターンを再設定する基本パターン再設定ステップと、
高速シリアル転送デバイスにおけるビット転送順序や使用チャネル数等のチャネル使用方法に合わせて各チャネルに基本パターンが転送されるように並び替える基本パターン並び替えステップと、
を備えたことを特徴とする。
基本パターン設定ステップは、
mビット/nビット符号変換テーブルにおける変換1単位の変換後データ内に指定ランレングス以上のビット0又は1が連続する同値連続数を含むか否か判定するステップと、
指定ランレングス以上の同値連続数を含む場合は、変換後データの1単位内で指定ランレングスを満たす変換前データを試験パターンとして抽出する1単位試験パターン抽出ステップと、
指定ランレングス以上の同値連続数を含まない場合は、変換後データの2単位を組合わせた境界部分で指定ランレングスを満たす2単位の変換前データを試験パターンとして抽出する2単位試験パターン抽出ステップと、
を備える。
2単位の変換前データを(X)及び(Y)とし、それぞれの変換後データを(X:RD−)及び(X:RD+)とし、データYの変換後データを(Y:RD−)及び(Y:RD+)とした場合、
2単位の変換前データ(XY)をサイクリックに連続転送したデータストレーム(XYXYXYXY・・・・XY)における変換後データのランニング・ディスパリティの変化を、
(1)データXの変換後データのビット0とビット1の個数が相違し、データYの変換後データのビット0とビット1の個数が同数となる場合の変換後データストリームのランニング・ディスパリティの変化が(X:RD+)(Y:RD−)(X:RD−)(Y:RD+)
の繰り返しとなる第1ケース、
(2)データXの変換後データのビット0とビット1の個数が相違し、データYの変換後データのビット0とビット1の個数が同数となる場合の変換後データストリームのランニング・ディスパリティの変化が(X:RD−)(Y:RD+)(X:RD+)(Y:RD−)
の繰り返しとなる第2ケース、
(3)データXの変換後データのビット0とビット1の個数が同数で、データYの変換後データのビット0とビット1の個数が相違する場合の変換後データストリームのランニング・ディスパリティの変化が(X:RD+)(Y:RD+)(X:RD−)(Y:RD−)
の繰り返しとなる第3ケース、
(4)データXの変換後データのビット0とビット1の個数が同数で、データYの変換後データのビット0とビット1の個数が相違する場合の変換後データストリームのランニング・ディスパリティの変化が(X:RD−)(Y:RD−)(X:RD+)(Y:RD+)
の繰り返しとなる第4ケース、
(5)データX及びYの変換後データのビット0とビット1の個数が共に相違する場合の変換後データストリームのランニング・ディスパリティの変化が
(X:RD+)(Y:RD−)
の繰り返しとなる第5ケース、
(6)データX及びYの変換後データのビット0とビット1の個数が共に相違する場合の変換後データストリームのランニング・ディスパリティの変化が
(X:RD−)(Y:RD+)
の繰り返しとなる第6ケース、
(7)データX及びYの変換後データのビット0とビット1の個数が共に同数となる場合の変換後データストリームのランニング・ディスパリティの変化が
(X:RD+)(Y:RD+)
の繰り返しとなる第7ケース、
(8)データX及びYの変換後データのビット0とビット1の個数が共に同数となる場合の変換後データストリームのランニング・ディスパリティの変化が
(X:RD−)(Y:RD−)
の繰り返しとなる第8ケース、
に分類し、各ケース毎に分けて境界部分で前記指定RLを満たす2単位の変換前データを試験パターンとして抽出する。
XY=F4EB又は
XY=EBF4
を決定する。
XY=F4EB又は
XY=EBF4
を決定した場合、奇数ビットと先に転送し次に偶数ビットを転送するビット転送順序制御に合わせて、基本パターンから再設定基本パターンとして
XY=E9CF又は
XY=CFE9
を再設定する。
本発明の別の形態にあっては、符号変換における全変換後データを高速シリアル転送デバイスから流す高速シリアル転送デバイス試験方法を提供する。
高速シリアル転送デバイスが有する複数のシリアル転送チャネルの各々に、符号変換テーブルに格納している全ての変換後データが連続転送されるように変換前データを並べた試験パターンを作成する試験パターン作成ステップと、
試験パターンを送信側の高速シリアル転送デバイスに入力して符号変換させ、符号変換テーブルの全ての変換後データがシリアル転送チャネルを通過するように連続転送させて受信側の機能を検証する試験ステップと、
を備えたことを特徴とする。
符号変換テーブルを、変換後データのビット0とビット1の個数が同数で後続する変換後データのランニング・ディスパリティを変化させないRD変化無しグループと、変換後データのビット0とビット1の個数が相違して後続する変換後データのランニングディスパリティを変化させるRD変化有りグループとに分類するグループ分類ステップと、
RD変化無しグループの各変換前データを1単位ずつ配列して第1グループを構成し、次にRD変化有りグループの各変換前データの同じデータを2単位ずつ配列して第2グループを構成し、続いてRD変化有りグループに属する所定の変換前データを1単位のみ配置して第3グループを構成し、更にRD無しグループの各変換前データを1単位ずつ配列して第4グループを構成して試験パターンを生成する試験パターン配置ステップと、
前記高速シリアル転送デバイスにおける使用チャネル数に合わせて各チャネルに全変換後データが転送されるように試験パターンを並び替える試験パターン並び替えステップと、
を備えたことを特徴とする。
グループ分類ステップは、8b/10b符号変換テーブルを、133種のRD変化無しグループと、123種のRD変化有りグループとに分類し、
試験パターン配置ステップは、RD変化無しグループの133種の各8ビットデータを1単位ずつ配列して第1グループを構成し、次にRD変化有りグループの123種の各8ビットデータを2単位ずつ配列して第2グループを構成し、続いてRD変化有りグループに属する所定の8ビットデータを1単位のみ配置して第3グループを構成し、更にRD無しグループの133種の各8ビットデータを1単位ずつ配列して第4グループを構成して試験パターンを生成する。
本発明は同期外れを検証する試験データを作成するための試験データ作成プログラムを提供する。本発明の試験データ作成プログラムは、コンピュータに、
高速シリアル変換デバイスの符号変換テーブルの変換方式の指定情報と、符号変換テーブルによる変換後データでビット0又は1の同値を連続転送させるランレングスの指定情報を読込む指定情報入力ステップと、
高速シリアル転送デバイスが有する複数のシリアル転送チャネルの各々に、符号変換テーブルによる変換後データで指定ランレングスのビット0又は1の同値が連続転送されるように変換前データを並べた試験パターンを作成する試験パターン作成ステップと、
を実行させることを特徴とする。
高速シリアル変換デバイスの符号変換テーブルの変換方式の指定情報を読込む指定情報入力ステップと、
高速シリアル転送デバイスが有する複数のシリアル転送チャネルの各々に、符号変換テーブルに格納している全ての変換後データが連続転送されるように変換前データを並べた試験パターンを作成する試験データ作成ステップと、
高速シリアル転送デバイスにおける使用チャネル数に合わせて各チャネルに全変換後データが転送されるように並び替える試験パターン並び替えステップと、
を実行させることを特徴とする。
本発明は、同期外れを検証する試験データを作成するための試験データ作成装置を提供する。本発明の試験データ作成装置は、
高速シリアル変換デバイスの符号変換テーブルの変換方式の指定情報と、符号変換テーブルによる変換後データでビット0又は1の同値を連続転送させるランレングスの指定情報を読込む指定情報入力部と、
高速シリアル転送デバイスが有する複数のシリアル転送チャネルの各々に、符号変換テーブルによる変換後データで指定ランレングスのビット0又は1の同値が連続転送されるように変換前データを並べた試験パターンを作成する試験パターン作成部と、
を備えたことを特徴とする。
高速シリアル変換デバイスの符号変換テーブルの変換方式の指定情報を読込む指定情報入力部と、
高速シリアル転送デバイスが有する複数のシリアル転送チャネルの各々に、符号変換テーブルに格納している全ての変換後データが連続転送されるように変換前データを並べた試験パターンを作成する試験パターン作成部と、
高速シリアル転送デバイスにおける使用チャネル数に合わせて各チャネルに全変換後データが転送されるように試験パターンを並び替える試験データ並び替え部と、
を備えたことを特徴とする。
を行なって変換後データをシリアル転送チャネルに流して評価することができる。
(1)バイト順序の考慮
(2)ランニング・ディスパリティの考慮
(3)ビット転送順序の考慮
(4)転送チャネル数の考慮
(1)終端側を下位ビットとするビット配列を取るリトル・エンディアン方式(little Endian)
(2)終端側を上位ビットとするビット配列を取るビッグ・エンディアン方式(Big Endian)
の2つがある。
(1)変換後データのビット0と1の個数差がない場合(同数の場合)、RD変換は交換しない。
(2)変換後データのビット0と1の個数差がある場合(個数が相違する場合)は、RD変換を交換する。
XY=0xF4EB又は
XY=0xEBF4
を決定することができる。ここで「XY=0xF4EB」は図12のケース6に該当し、「XY=0xEBF4」は図12のケース5に該当する。
「1111 0100 1110 1011」
であり、バイト転送順序方式として奇数ビットが先に流れ、偶数ビットが後に流れたとすると、この場合の基本パターンは「0xE9CF」に変化している。
(指定RL−j側固有最大同値連続数)=5−3=2
の同値連続数を持つデータYを抽出する。そしてステップS4で抽出データXYを組み合わせ、境界で同値連続数が指定ランレングスRL=5となる組合せデータを選択して保存する。
(指定RL)−(a側最大同値連続数)=5−3=2
の同値連続数を持つデータYを抽出する。そしてステップS4で抽出データX,Yを組み合わせ、境界で同値連続数が指定RLとなる組合せデータを選択して保存する。
X=0xF4
Y=0xEB
Z=0xFC
を使用している。
(1)10b変換後データで、ビット0と1の個数が等しくRD値が変化しないRD変化無しグループ
(2)10b変換後データで、ビット0と1の個数が異なることでRD値が変化するRD変化有りグループ(123種)
(1)RD値変化無しグループに属する133種を1単位ずつ並べてグループG1とする。
(2)RD値変化有りグループに属する123種をそれぞれ2単位ずつ並べてグループG2とする。
(3)RD値切替用としてRD変化有りグループに属するデータを1つ選んで並べてグループG3とする。
(4)RD値変化無しグループに属する133種を1単位ずつ並べてグループG4とする。
また本発明はその目的と利点を損なうことのない適宜の変形を含み、更に上記の実施形態に示した数値による限定は受けない。
(付記)
(付記1)
高速シリアル転送デバイスが有する複数のシリアル転送チャネルの各々に、符号変換テーブルによる変換後データでビット0又は1の同値が連続転送されるように変換前データを並べた試験パターンを作成する試験パターン作成ステップと、
前記試験パターンを送信側の高速シリアル転送デバイスに入力して符号変換させ、変換後データが前記シリアル転送チャネルを通過するように連続転送させて受信側の同期外れ障害を検証する試験ステップと、
を備えたことを特徴とする高速シリアル転送デバイス試験方法。(1)
付記1記載の高速シリアル転送デバイス試験方法に於いて、
試験パターン作成ステップは、
前記高速シリアル転送デバイスにおけるバイト順序方式と符号変換のランニング・ディスパリティに基づいて基本パターンを設定する基本パターン設定ステップと、
前記高速シリアル転送デバイスにおけるビット転送順序のチャネル使用方法に合わせて前記基本パターンを再設定する基本パターン再設定ステップと、
前記高速シリアル転送デバイスにおけるビット転送順序や使用チャネル数を含むチャネル使用方法に合わせて各チャネルに基本パターンが転送されるように並び替える基本パターン並び替えステップと、
を備えたことを特徴とする高速シリアル転送デバイス試験方法。(2)
付記2記載の高速シリアル転送デバイス試験方法に於いて、
前記高速シリアル転送デバイスで符号変換に使用する符号変換テーブルは、変換1単位のmビットデータをビット数の多いnビットデータに変換すると共に、変換後データはランニング・ディスパリティが正となるRD+変換とランニング・ディスパリティが負となるRD−変換の2つの変換を行うmビット/nビット符号変換テーブルであり、
前記基本パターン設定ステップは、
前記mビット/nビット符号変換テーブルにおける変換1単位の変換後データ内に指定ランレングス以上のビット0又は1が連続する同値連続数を含むか否か判定するステップと、
指定ランレングス以上の同値連続数を含む場合は、変換後データの1単位内で前記指定ランレングスを満たす変換前データを試験パターンとして抽出する1単位試験パターン抽出ステップと、
指定ランレングス以上の同値連続数を含まない場合は、変換後データの2単位を組合わせた境界部分で前記指定ランレングスを満たす2単位の変換前データを試験パターンとして抽出する2単位試験パターン抽出ステップと、
を備えたことを特徴とする高速シリアル転送デバイス試験方法。
付記3記載の高速シリアル転送デバイス試験方法に於いて、前記2単位試験パターン抽出ステップは、
2単位の変換前データを(X)及び(Y)とし、データ(X)の変換後データを(X:RD−)及び(X:RD+)とし、データYの変換後データを(Y:RD−)及び(Y:RD+)とした場合、
前記2単位の変換前データ(XY)をサイクリックに連続転送したデータストリーム(XYXYXYXY・・・・XY)における変換後データのランニング・ディスパリティ値RDの変化を、
(1)データXの変換後データのビット0とビット1の個数が相違し、データYの変換後データのビット0とビット1の個数が同数となる場合の変換後データストリームのランニング・ディスパリティの変化が(X:RD+)(Y:RD−)(X:RD−)(Y:RD+)
の繰り返しとなる第1ケース、
(2)データXの変換後データのビット0とビット1の個数が相違し、データYの変換後データのビット0とビット1の個数が同数となる場合の変換後データストリームのランニング・ディスパリティの変化が(X:RD−)(Y:RD+)(X:RD+)(Y:RD−)
の繰り返しとなる第2ケース、
(3)データXの変換後データのビット0とビット1の個数が同数で、データYの変換後データのビット0とビット1の個数が相違する場合の変換後データストリームのランニング・ディスパリティの変化が(X:RD+)(Y:RD+)(X:RD−)(Y:RD−)
の繰り返しとなる第3ケース、
(4)データXの変換後データのビット0とビット1の個数が同数で、データYの変換後データのビット0とビット1の個数が相違する場合の変換後データストリームのランニング・ディスパリティの変化が(X:RD−)(Y:RD−)(X:RD+)(Y:RD+)
の繰り返しとなる第4ケース、
(5)データX及びYの変換後データのビット0とビット1の個数が共に相違する場合の変換後データストリームのランニング・ディスパリティの変化が
(X:RD+)(Y:RD−)
の繰り返しとなる第5ケース、
(6)データX及びYの変換後データのビット0とビット1の個数が共に相違する場合の変換後データストリームのランニング・ディスパリティの変化が
(X:RD−)(Y:RD+)
の繰り返しとなる第6ケース、
(7)データX及びYの変換後データのビット0とビット1の個数が共に同数となる場合の変換後データストリームのランニング・ディスパリティの変化が
(X:RD+)(Y:RD+)
の繰り返しとなる第7ケース、
(8)データX及びYの変換後データのビット0とビット1の個数が共に同数となる場合の変換後データストリームのランニング・ディスパリティの変化が
(X:RD−)(Y:RD−)
の繰り返しとなる第8ケース、
に分類し、各ケース毎に分けて境界部分で前記指定ランレングスを満たす2単位の変換前データを試験パターンとして抽出することを特徴とする高速シリアル転送デバイス試験方法。
付記3記載の高速シリアル転送デバイス試験方法に於いて、前記2単位試験パターン抽出ステップは、高速シリアル転送デバイスにおける終端を下位ビットとするビット配列をとる第1バイト順序方式(リトル・エンディアン方式)と、終端を上位ビットとするビット配列を取る第2バイト順序方式(ビッグ・エンディアン方式)の各々に対応して、2単位の変換データの境界部分で前記指定ランレングスを満たす2単位の変換前データを試験パターンとして抽出することを特徴とする高速シリアル転送デバイス試験方法。
付記3記載の高速シリアル転送デバイス試験方法に於いて、
高速シリアル転送デバイスが符号変換を8ビット/10ビット符号変換テーブルを備えた場合、前記2単位試験パターン抽出ステップは、基本パターンとして16進表示で
XY=F4EB又はEBF4
を決定することを特徴とする高速シリアル転送デバイス試験方法。
付記2記載の高速シリアル転送デバイス試験方法に於いて、前記基本パターン再設定ステップは、高速シリアル転送デバイスにおける奇数ビットと偶数ビットに分けて転送順序を決めるビット転送順序制御に従った転送後データが指定ランレングスを満たす前記基本パターンとなるように、前記基本パターンをビット転送順序制御前のデータに再設定して基本パターンとすることを特徴とする高速シリアル転送デバイス試験方法。
付記7記載の高速シリアル転送デバイス試験方法に於いて、前記基本パターン再設定ステップは、前記2単位試験パターン抽出ステップで、高速シリアル転送デバイスの8ビット/10ビット符号変換テーブルから基本パターンとして16進表示で
XY=F4EB又はXY=EBF4
を決定した場合、奇数ビットと先に転送し次に偶数ビットを転送するビット転送順序制御に合わせて前記基本パターンから再設定基本パターンとして16進表示で
XY=E9CF又はXY=CFE9
を再設定することを特徴とする高速シリアル転送デバイス試験方法。
付記2記載の高速シリアル転送デバイス試験方法に於いて、前記基本パターン並び替えステップは、1単位の基本パターン(X)又は2単位の基本パターン(XY)を、高速シリアル転送デバイスにおけるチャネル数分だけ基本パターンが連続するように並び替えることを特徴とする高速シリアル転送デバイス試験方法。
付記9記載の高速シリアル転送デバイス試験方法に於いて、前記基本パターン並び替えステップは、高速シリアル転送デバイスが4チャネルの場合、1単位の基本パターン(X)を基本パターン(XXXX)の繰り返しに並び替え、2単位の基本パターン(XY)を基本パターン(XXXXYYYY)の繰り返しに並び替えることを特徴とする高速シリアル転送デバイス試験方法。
付記9記載の高速シリアル転送デバイス試験方法に於いて、前記基本パターン再設定ステップは、前記2単位試験パターン抽出ステップで、高速シリアル転送デバイスの8ビット/10ビット符号変換テーブルから基本パターンとして16進表示で
(F4EB)又は(EBF4)
を決定し、高速シリアル転送デバイスが4チャネルの場合、前記基本パターンを
(F4F4F4F4EBEBEBEBEB)の繰り返し又は
(EBEBEBEBEBF4F4F4F4)の繰り返し
に並び替えることを特徴とする高速シリアル転送デバイス試験方法。
高速シリアル転送デバイスが有する複数のシリアル転送チャネルの各々に、符号変換テーブルに格納している全ての変換後データが連続転送されるように変換前データを並べた試験パターンを作成する試験パターン作成ステップと、
前記試験パターンを送信側の高速シリアル転送デバイスに入力して符号変換させ、前記符号変換テーブルの全ての変換後データが前記シリアル転送チャネルを通過するように連続転送させて受信側の機能を検証する試験ステップと、
を備えたことを特徴とする高速シリアル転送デバイス試験方法。(3)
付記12記載の高速シリアル転送デバイス試験方法に於いて、前記試験パターン作成ステップは、
前記符号変換テーブルを、変換後データのビット0とビット1の個数が同数で後続する変換後データのランニング・ディスパリティを変化させないRD変化無しグループと、変換後データのビット0とビット1の個数が相違して後続する変換後データのランニング・ディスパリティを変化させるRD変化有りグループとに分類するグループ分類ステップと、
前記RD変化無しグループの各変換前データを1単位ずつ配列して第1グループを構成し、次に前記RD変化有りグループの各変換前データの同じデータを2単位ずつ配列して第2グループを構成し、続いて前記RD変化有りグループに属する所定の変換前データを1単位のみ配置して第3グループを構成し、更に前記RD変化無しグループの各変換前データを1単位ずつ配列して第4グループを構成して試験パターンを生成するデータ配置ステップ
と、
前記高速シリアル転送デバイスにおける使用チャネル数に合わせて各チャネルに全変換後データが転送されるように前記試験パターンを並び替える試験パターン並び替えステップと、
を備えたことを特徴とする高速シリアル転送デバイス試験方法。(3)
付記12記載の高速シリアル転送デバイス試験方法に於いて、前記符号変換テーブルが8ビット/10ビット符号変換テーブルの場合、
前記グループ分類ステップは、前記8ビット/10ビット符号変換テーブルを、133種のRD変化無しグループと、123種のRD変化有りグループとに分類し、
前記データ配置ステップは、前記RD変化無しグループの133種の各8ビットデータを1単位ずつ配列して第1グループを構成し、次に前記RD変化有りグループの123種の各8ビットデータを2単位ずつ配列して第2グループを構成し、続いて前記RD変化有りグループに属する所定の8ビットデータを1単位のみ配置して第3グループを構成し、更に前記RD無しグループの133種の各8ビットデータを1単位ずつ配列して第4グループを構成して試験パターンを生成することを特徴とする高速シリアル転送デバイス試験方法。
付記12記載の高速シリアル転送デバイス試験方法に於いて、前記試験パターン並び替えステップは、1単位の変換前パターン(X)又は2単位の変換前パターン(XX)を、高速シリアル転送デバイスにおけるチャネル数分だけ1単位パターンが連続するように並び替えることを特徴とする高速シリアル転送デバイス試験方法。
コンピュータに、
高速シリアル変換デバイスの符号変換テーブルの変換方式の指定情報と、前記符号変換テーブルによる変換後データでビット0又は1の同値を連続転送させるランレングスの指定情報を読込む指定情報入力ステップと、
高速シリアル転送デバイスが有する複数のシリアル転送チャネルの各々に、前記符号変換テーブルによる変換後データで前記指定ランレングスのビット0又は1の同値が連続転送されるように変換前データを並べた試験パターンを作成する試験パターン作成ステップと、
を実行させることを特徴とする試験データ作成プログラム。
付記16記載の試験データ作成プログラムに於いて、
試験パターン作成ステップは、
前記高速シリアル転送デバイスにおけるバイト順序方式と符号変換のRD値に基づいて基本パターンを設定する基本パターン設定ステップと、
前記高速シリアル転送デバイスにおけるビット転送順序のチャネル使用方法に合わせて前記基本パターンを再設定する基本パターン再設定ステップと、
前記高速シリアル転送デバイスにおけるビット転送順序や使用チャネル数を含むチャネル使用方法に合わせて各チャネルに基本パターンが転送されるように並び替える基本パターン並び替えステップと、
を備えたことを特徴とする試験データ作成プログラム。(4)
コンピュータに、
高速シリアル変換デバイスの符号変換テーブルの変換方式の指定情報を読込む指定情報入力ステップと、
高速シリアル転送デバイスが有する複数のシリアル転送チャネルの各々に、前記符号変換テーブルに格納している全ての変換後データが連続転送されるように変換前データを並べた試験パターンを作成する試験データ作成ステップと、
前記高速シリアル転送デバイスにおける使用チャネル数に合わせて各チャネルに全変換後データが転送されるように前記試験パターンを並び替える試験パターン並び替えステップと、
を実行させることを特徴とする試験データ作成プログラム。
高速シリアル変換デバイスの符号変換テーブルの変換方式の指定情報と、前記符号変換テーブルによる変換後データでビット0又は1の同値を連続転送させるランレングスの指定情報を読込む指定情報入力部と、
高速シリアル転送デバイスが有する複数のシリアル転送チャネルの各々に、前記符号変換テーブルによる変換後データで前記指定ランレングスのビット0又は1の同値が連続転送されるように変換前データを並べた試験パターンを作成する試験パターン作成部と、
を備えたことを特徴とする試験データ作成装置。(5)
高速シリアル変換デバイスの符号変換テーブルの変換方式の指定情報を読込む指定情報入力部と、
高速シリアル転送デバイスが有する複数のシリアル転送チャネルの各々に、前記符号変換テーブルに格納している全ての変換後データが連続転送されるように変換前データを並べた試験データを作成する試験データ作成部と、
前記高速シリアル転送デバイスにおける使用チャネル数に合わせて各チャネルに全変換後データが転送されるように並び替える試験データ並び替え部と、
を備えたことを特徴とする試験データ作成装置。
12:ランレングス指定部
14:符号変換方式指定部
16:符号変換テーブル
18:符号変換管理テーブル
20,138,150:試験パターン格納部
22:基本パターン設定部
24:基本パターン再設定部
26:基本パターン並び替え部
28:8b/10b符号変換テーブル
30:コードグループ名
32:オクテット値
34:オクテットビット
36:RD−変換データ
38:RD+変換データ
42:CPU
44:バス
46:RAM
48:ROM
50:ハードディスクドライブ
52:デバイスインタフェース
54:キーボード
56:マウス
58:ディスプレイ
60:ネットワークアダプタ
62−1〜62−n:高速シリアル転送デバイス
64−1,64−2:送信部
65−1,65−2:4チャネルシリアル転送路
66−1,66−2:受信部
68:入力FIFO
70−1〜70−4:8/10エンコーダ
72−1〜72−4:SP変換器
74−1〜74−4:ドライバ
75−1〜75−4:シリアル転送チャネル
76,80:PLL回路
78−1〜78−4:レシーバ
82−1〜82−4:SP変換器
84−1〜84−4:8/10デコーダ
86:出力FIFO
88−1〜88−4:インタリーバ
90−1〜90−4:8b/10b変換回路
92:レジスタ
94:RD−用8b/10b変換テーブル
96:RD+用8b/10b変換テーブル
98:セレクタ
100:RD判定部
102:境界同値連続パターンリスト
104:データ境界
106,108,114−1,114−2,116−1,116−2:変換後データ
110,112,118−1,118−2,120−1,12−2:同値エリア
122:2単位サイクリックパターンRD変化リスト
134:システム
136−1〜136−n:機能ボード
140:パケット送信部
142:試験パターン転送パス
144:ネットワーク
146:試験対象装置
148:計測器
152:試験データ作成装置
154:RD切替データ指定部
156:符号変換機能試験データ作成部
158:符号変換機能試験パターン格納部
Claims (6)
- 高速シリアル転送デバイスが有する複数のシリアル転送チャネルの各々に、符号変換テーブルを用いたデータ変換によって、ビット0又は1の同値が連続する転送変換後データが得られるように変換前データを並べた試験パターンを作成する試験パターン作成ステップと、
前記試験パターンを送信側の高速シリアル転送テバイスに入力し、前記符号変換テーブルを用いた符号変換により変換後データを取得し、前記シリアル転送チャネルを通過するように取得した変換後データを連続転送して受信側の同期外れ障害を検証する試験ステップと、
を備え、
前記試験パターン作成ステップは、
前記高速シリアル転送デバイスにおけるバイト順序方式と符号変換のランニング・ディスパリティに基づいて基本パターンを設定する基本パターン設定ステップと、
前記高速シリアル転送デバイスにおけるビット転送順序のチャネル使用方法に合わせて前記基本パターンを再設定する基本パターン再設定ステップと、
前記高速シリアル転送デバイスにおけるビット転送順序や使用チャネル数を含むチャネル使用方法に合わせて各チャネルに基本パターンが転送されるように並び替える基本パターン並び替えステップと、
を備えたことを特徴とする高速シリアル転送デバイス試験方法。
- コンピュータに、
高速シリアル転送デバイスの符号変換テーブルの変換方式の指定情報と、前記符号変換テーブルによる変換後データでビット0又は1の同値を連続転送させるランレングスの指定情報を読込む指定情報入力ステップと、
高速シリアル転送デバイスが有する複数のシリアル転送チャネルの各々に、前記符号変換テーブルを用いたデータ変換によって前記ランレングスのビット0又は1の同値が連続転送する変換後データが得られるように変換前データを並べた試験パターンを作成する試験パターン作成ステップと、
を実行させ、
前記試験パターン作成ステップは、
前記高速シリアル転送デバイスにおけるバイト順序方式と符号変換のランニング・ディスパリティに基づいて基本パターンを設定する基本パターン設定ステップと、
前記高速シリアル転送デバイスにおけるビット転送順序のチャネル使用方法に合わせて前記基本パターンを再設定する基本パターン再設定ステップと、
前記高速シリアル転送デバイスにおけるビット転送順序や使用チャネル数を含むチャネル使用方法に合わせて各チャネルに基本パターンが転送されるように並び替える基本パターン並び替えステップと、
からなることを特徴とする試験データ作成プログラム。
- 高速シリアル転送デバイスの符号変換テーブルの変換方式の指定情報と、前記符号変換テーブルによる変換後データでビット0又は1の同値を連続転送させるランレングスの指定情報を読込む指定情報入力部と、
高速シリアル転送デバイスが有する複数のシリアル転送チャネルの各々に、前記符号変換テーブルを用いたデータ変換によって前記ランレングスのビット0又は1の同値が連続転送する変換後データが得られるように変換前データを並べた試験パターンを作成する試験パターン作成部と、
を備え、
前記試験パターン作成部は、
前記高速シリアル転送デバイスにおけるバイト順序方式と符号変換のランニング・ディスパリティに基づいて基本パターンを設定する基本パターン設定部と、
前記高速シリアル転送デバイスにおけるビット転送順序のチャネル使用方法に合わせて前記基本パターンを再設定する基本パターン再設定部と、
前記高速シリアル転送デバイスにおけるビット転送順序や使用チャネル数を含むチャネル使用方法に合わせて各チャネルに基本パターンが転送されるように並び替える基本部と、
からなることを特徴とする試験データ作成装置。
- 請求項1記載の高速シリアル転送デバイス試験方法に於いて、
前記高速シリアル転送デバイスで符号変換に使用する符号変換テーブルは、変換1単位のmビットデータをビット数の多いnビットデータに変換すると共に、変換後データはランニング・ディスパリティが正となるRD+変換とランニング・ディスパリティが負となるRD−変換の2つの変換を行うmビット/nビット符号変換テーブルであることを特徴する高速シリアル転送デバイス試験方法。
- 変換前データと変換後データとの関係を格納する符号変換テーブルを用いて、変換前データを変換後データに変換して受信側に転送するシリアル転送テバイスの試験方法において、
入力される指定ランレングスと、変換1単位の変換後データ内でビット0又は1が連続する同値連続数とを比較して、変換1単位の変換後データが、指定ランレングス以上の同値連続数を含むか否か判定するステップと、
変換1単位の変換後データが指定ランレングス以上の同値連続数を含む場合、当該同値連続数のビット0又は1を含む変換後データを検索し、当該変換後データに対応する変換前データを試験パターンとして抽出するステップと、
変換1単位の変換後データが指定ランレングス以上の同値連続数を含まない場合、前記指定ランレングスを満たす複数単位の変換後データの組を検索し、検索した組の変換後データに対応する変換前データの組合せを試験パターンとして抽出するステップと、
前記抽出した試験パターンを送信側のシリアル転送デバイスに入力するステップと、
前記符号変換テーブルを用いて前記試験パターンに含まれる変換前データを変換後データに符号変換するステップと、
高速シリアル転送デバイスが有するシリアル転送チャネルを通過するように前記変換後データを受信側に連続転送するステップと、
を備えたことを特徴とするシリアル転送デバイス試験方法。
- 符号変換テーブルを用いて変換前データから変換した変換後データを受信側に転送するシリアル転送デバイスに、ビット0又は1の同値が連続するパターンを有する試験用データを生成させる試験パターン生成方法において、
前記試験用データの同値連続数を指定する指定ランレングスと、変換1単位の変換後データ内でビット0又は1が連続する同値連続数とを比較して、変換1単位の変換後データが指定ランレングス以上の同値連続数を含むか否か判定するステップと。
変換1単位の変換後データが指定ランレングス以上の同値連続数を含む場合、当該同値連続数のビット0又は1を含む変換後データを検索し、当該変換後データに対応する変換前データを抽出するステップと、
変換1単位の変換後データが指定ランレングス以上の同値連続数を含まない場合、前記指定ランレングスを満たす複数単位の変換後データの組を検索し、検索した組の変換後データに対応する変換前データの組合せを抽出するステップと、
前記抽出した変換前データを並べて、試験パターンを生成するステップと、
生成した試験パターンを前記シリアル転送デバイスに供給するステップと、
を備えたことを特徴とする試験パターン生成方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005361340A JP4873533B2 (ja) | 2005-12-15 | 2005-12-15 | 高速シリアル転送デバイス試験方法、プログラム及び装置 |
US11/398,615 US7853849B2 (en) | 2005-12-15 | 2006-04-06 | High-speed serial transfer device test method, program, and device |
US12/926,282 US8086918B2 (en) | 2005-12-15 | 2010-11-05 | High-speed serial transfer device test data storage medium and device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005361340A JP4873533B2 (ja) | 2005-12-15 | 2005-12-15 | 高速シリアル転送デバイス試験方法、プログラム及び装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011069568A Division JP5083429B2 (ja) | 2011-03-28 | 2011-03-28 | 高速シリアル転送デバイス試験方法、プログラム及び装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007166362A JP2007166362A (ja) | 2007-06-28 |
JP4873533B2 true JP4873533B2 (ja) | 2012-02-08 |
Family
ID=38234146
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005361340A Expired - Fee Related JP4873533B2 (ja) | 2005-12-15 | 2005-12-15 | 高速シリアル転送デバイス試験方法、プログラム及び装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7853849B2 (ja) |
JP (1) | JP4873533B2 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8059547B2 (en) * | 2008-12-08 | 2011-11-15 | Advantest Corporation | Test apparatus and test method |
US8234540B2 (en) | 2008-07-01 | 2012-07-31 | International Business Machines Corporation | Error correcting code protected quasi-static bit communication on a high-speed bus |
US8743702B2 (en) | 2008-12-08 | 2014-06-03 | Advantest Corporation | Test apparatus and test method |
US8514955B2 (en) * | 2009-03-24 | 2013-08-20 | Megachips Corporation | Communication system, data transmitter, and data receiver capable of detecting incorrect receipt of data |
JP5215971B2 (ja) * | 2009-09-29 | 2013-06-19 | アンリツ株式会社 | 信号発生検出装置及び信号発生検出方法 |
US20110099407A1 (en) * | 2009-10-28 | 2011-04-28 | Ati Technologies Ulc | Apparatus for High Speed Data Multiplexing in a Processor |
JP2017005630A (ja) * | 2015-06-15 | 2017-01-05 | 株式会社リコー | 通信装置、通信方法及びプログラム |
US10013944B2 (en) * | 2015-11-27 | 2018-07-03 | Panasonic Liquid Crystal Display Co., Ltd. | Display device and source driver for bit conversion of image data |
US11038726B2 (en) * | 2019-07-14 | 2021-06-15 | Valens Semiconductor Ltd. | 8b10b PAM4 encoding |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4369511A (en) * | 1979-11-21 | 1983-01-18 | Nippon Telegraph & Telephone Public Corp. | Semiconductor memory test equipment |
US4788648A (en) * | 1984-10-25 | 1988-11-29 | Air Products And Chemicals, Inc. | Method and system for measurement of a liquid level in a tank |
DE3685078D1 (de) * | 1985-09-09 | 1992-06-04 | Hitachi Ltd | Speicherpruefgeraet. |
JPS63209325A (ja) * | 1987-02-26 | 1988-08-30 | Hitachi Cable Ltd | nビツトmビツト符号変換制御方式 |
JPH0728211B2 (ja) | 1988-12-15 | 1995-03-29 | 日本電気株式会社 | 擬似発生パターンチエツク装置 |
JP3421208B2 (ja) * | 1996-12-20 | 2003-06-30 | 沖電気工業株式会社 | ディジタル伝送システムおよび同期伝送装置におけるパス試験信号生成回路ならびにパス試験信号検査回路 |
JP3036589B2 (ja) * | 1997-02-26 | 2000-04-24 | 日本電気株式会社 | 光ネットワーク制御方式および光ネットワーク |
JP3833341B2 (ja) * | 1997-05-29 | 2006-10-11 | 株式会社アドバンテスト | Ic試験装置のテストパターン発生回路 |
US6259108B1 (en) | 1998-10-09 | 2001-07-10 | Kinetic Sciences Inc. | Fingerprint image optical input apparatus |
JP3430064B2 (ja) * | 1999-03-18 | 2003-07-28 | 日本電信電話株式会社 | 導通試験装置 |
JP4557331B2 (ja) | 1999-05-20 | 2010-10-06 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理システム、動作制御方法、及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
JP4236765B2 (ja) | 1999-06-11 | 2009-03-11 | 三菱電機株式会社 | 指紋照合装置 |
JP2001197043A (ja) * | 2000-01-07 | 2001-07-19 | Fujitsu Ltd | 同符号連続耐力試験装置 |
US6680970B1 (en) * | 2000-05-23 | 2004-01-20 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Statistical methods and systems for data rate detection for multi-speed embedded clock serial receivers |
JP3712631B2 (ja) | 2000-06-19 | 2005-11-02 | シャープ株式会社 | 伝送方法および伝送システム並びに通信装置 |
JP2003330918A (ja) | 2003-04-07 | 2003-11-21 | Sharp Corp | 文書処理装置および文書処理方法 |
-
2005
- 2005-12-15 JP JP2005361340A patent/JP4873533B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-04-06 US US11/398,615 patent/US7853849B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-11-05 US US12/926,282 patent/US8086918B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20070162807A1 (en) | 2007-07-12 |
US8086918B2 (en) | 2011-12-27 |
US20110055651A1 (en) | 2011-03-03 |
US7853849B2 (en) | 2010-12-14 |
JP2007166362A (ja) | 2007-06-28 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080416 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110114 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110125 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110328 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110607 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110630 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111025 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111117 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141202 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |