JP5128095B2 - 電子部品の樹脂封止成形装置 - Google Patents
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- 239000011347 resin Substances 0.000 title claims description 88
- 229920005989 resin Polymers 0.000 title claims description 88
- 238000000465 moulding Methods 0.000 title claims description 41
- 238000007789 sealing Methods 0.000 title claims description 27
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 32
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 15
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 5
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 5
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 230000009969 flowable effect Effects 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 2
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L21/56—Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
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- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
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Description
特許文献1及び特許文献2では、金型の型締め時に流動性樹脂にて封止成形する際に、キャビティ内の放熱板における移動防止について提案されている。
特許文献1の一例としては、放熱板自体に凸部を設け、凸部とエジェクタとを互いに引っ掛ける様にしてエジェクタに放熱板を固定するもの、特許文献2の一例としては、キャビティ内に配置した放熱板を金型のほぼ樹脂注入口のほぼ軸線上に配置した支持ピンによって支えること、さらには放熱板の下面に位置ずれ防止凹部を介して支持ピンにより放熱板を支持するものが開示されている。
一方、この薄型化した片側パッケージ製品のパッケージ部分に放熱性を向上させるために放熱板を装着することもあり、パッケージ部分の薄型化に加えて放熱板の薄型化も行われている。
即ち、薄型化した放熱板を移動せず固定(支持)するのには、エジェクタ(支持ピン)が最低でも必ず三本必要となる。そして、三本以上のエジェクタ(支持ピン)に対応し、薄型化した放熱板に形成される凸部の形成、或いは支持ピンの形成においては、非常に精度を高める必要が生じてくる。このことは、コスト高の要因となる。
また、放熱性を向上させるためには、放熱板をパッケージ部分から露出させることが、放熱板の薄型化もあいまって強く要求されている。そのため、薄型化した金型、放熱板或いはエジェクタ(支持ピン)への精度良く且つ複雑な加工をより一層要求されるので、莫大なコストを費やす要因となっている。
さらには、特許文献1及び特許文献2における放熱板を樹脂成形用キャビティ内に位置決めする際に、最低三本以上のエジェクタ(支持ピン)をキャビティ内で水平状態を確実に維持させる必要が生じるので、キャビティ内でのエジェクタ(支持ピン)の制御をシビアに対応しなければならない。つまり、金型内の構造が複雑化する。
図1及び図2は、電子部品の樹脂封止成形装置に搭載された成形型の要部である。
図3から図5は、本装置に搭載された他の成形型の要部である。
即ち、成形型は、他方の型に相当する固定上型1と、該固定上型1に対向して配置され一方の型に相当する可動中間型2と、可動中間型2の下方に配置され別の型に相当する下型(図示なし)とを有する。成形型は次の構成要素を含む。それは、可動中間型2のパーティングライン面( P.L面)に設けられ且つ放熱板5が配置されてセットされる樹脂成形用のキャビティ3と、IC等のチップ11が装着された基板6が供給されセットされるセット用凹所7と、下型に配置された樹脂材料供給用のポット(図示なし)と、ポット内に嵌装された樹脂加圧用のプランジャ(図示なし)と、である。更に、ポットとキャビティ3とを連通させる樹脂移送用の樹脂通路8と、固定上型1と可動中間型2とに少なくとも夫々配設されたカートリッジヒータ、及び/又はフレキシブルヒータ等の加熱手段(図示なし)と、である。更に、キャビティ3内で成形された樹脂成形体(硬化樹脂)を含む成形品(図示なし)をキャビティ3内から突き出して離型させる成形品突き出し用の離型ピン(エジェクターピン10)と、キャビティ3と成形型の外部とを連通させるエアベント(図示なし)と、である。
また、基板6として、ワイヤボンディング基板に限定されず、フリップチップ基板、或いはウェーハレベルパッケージ基板に、本発明を適用することができる。
さらには、上記した様々な基板においてチップ11を上下方向に所要数積層する積層型パッケージ基板にも、本発明を適用することができる。
ゲート口13は、可動中間型2に設けられたゲートピース14に形成される。そして、ゲートピース14は、可動中間型2に対して着脱自在であるように構成されている。
ゲートピース14におけるゲート口13の先端部分である突出部18aは、キャビティ3の水平面(内底面)よりも突出した状態で、且つ放熱板5がキャビティ3内に載置されセットされた時に、放熱板5の水平部15aに設けられた開口部15bを貫通する。エジェクターピン10の先端部分である突出部18bは、キャビティ3の水平面(内底面)よりも突出した状態で、且つ放熱板5がキャビティ3内に載置されセットされた時に、放熱板5の水平部15aに設けられた開口部15bを貫通する。つまり、図1に示すように、突出部18は、ゲートピース14のゲート口13を含む突出部18a及びエジェクターピン10の突出部18bの総称である。
このように、突出部18a・18bの二箇所が、放熱板5の水平部15aの開口部15bにおいて放熱板5を貫通する。このことにより、放熱板5が効率良く位置決めされる。このとき、キャビティ3の水平面(内底面)と放熱板5の水平部15aとが接触した状態で、放熱板5がキャビティ3の水平面(内底面)に載置されてセットされる。また、突出部18の先端部位が、放熱板5の水平部15aにおける開口部15bを貫通した状態で、キャビティ3内に突出している。突出部18が開口部15bを貫通した状態でキャビティ3内に突出することにより、放熱板5が上下方向又は水平方向に移動することを効率良く防止することができる。
従って、キャビティ3内における突出部18としては、略中央部分の突出部18aと、突出部18a周囲の所定箇所にもう一方の突出部18bとの二箇所を配置して構成するだけでよい。これにより、放熱板5をキャビティ3内に容易(単純)に且つ精度良く位置決めすることができる。加えて、放熱板5が上下方向又は水平方向に移動することを効率良く防止することができる。
まず、固定上型1と可動中間型2との型開き時に、放熱板5における水平部15aにおける開口部15bに二箇所の突出部18(18a・18b)を貫通させて、この状態で放熱板5を位置決めする。位置決めされた放熱板5がキャビティ3内に供給されてセットされた状態で、被封止物4が装着された基板6を固定上型1に載置してセットする。
つまり、突出部18に対して放熱板5を位置決めする場合には、図1及び図2では、ゲートピース14における突出部18aとエジェクターピン10の突出部18bとの二箇所を、放熱板5の水平部15aの開口部15bに貫通させて挿入する。図3では、エジェクターピン10の先端部分である突出部18bとさらに同様のエジェクターピン10の別の先端部分である突出部18cとの二箇所を、放熱板5の水平部15aの開口部15bにおいて貫通させる。この図3では、ゲートピース14の先端部分はキャビティ3内に突き出さず、キャビティ3の水平面(内底面)とゲート口13とが略水平状態で形成される。当然のことながら、放熱板5の外形形状(平面形状)が、例えば、真円形状であれば、ゲートピース14の先端部分からなる突出部18a(一箇所)をキャビティ3内の略中央(中心)部分に設けて、突出部18aが放熱板5を貫通した状態で、放熱板5を位置決めすることができる。
また、図1から図3では、ゲートピース14をキャビティ3内の略中央部分に形成している。図4及び図5に示すフリップチップ基板を樹脂封止する場合には、該チップ11と基板7との間にも流動性樹脂17を注入して充填すること(アンダーフィル)も考えられる。この場合には、図4では、ゲート口13を、キャビティ3の水平面(内底面)における端部に配置することができる。図5では、ゲート口13を、キャビティ3の側面部分において基板6に接触する状態で開口させることができる。図3から図5では、放熱板5を位置決めする場合に、エジェクターピン10の二箇所の先端部分18b・18cを放熱板5に貫通させた状態で行う。そして、図1から図4までは、樹脂通路8が設けられたゲートピース14を可動中間型2に対して着脱自在の構造にしている。図5では、可動中間型2を有さない二型構造における可動下型19に樹脂通路8を設けて、可動下型19に対して着脱自在であるゲートピースが存在しない構造にしている。
以上のとおり、薄型化した成形品及び放熱板5を対象とする場合であっても、放熱板5の開口部15bを貫通してキャビティ3内に突出する突出部18を形成することにより、キャビティ3内において放熱板5を容易(単純)に且つ精度良く位置決めすることができる。
次に、ポット内で加熱溶融化された樹脂材料をプランジャで加圧することによりキャビティ3内に流動性樹脂17を注入して充填する。これにより、キャビティ3内において、放熱板5及び被封止物4とその周辺の基板6とが流動性樹脂17に浸漬される(浸かった状態になる)。キャビティ3内において流動性樹脂17を硬化させて、硬化樹脂を形成する。放熱板5及び被封止物4とその周辺の基板6とを硬化樹脂によって樹脂封止する。
流動性樹脂17を硬化させて硬化樹脂を形成するために必要な所要時間の経過後、可動中間型2(或いは、可動下型19)を下動して、成形型を型開きする。放熱板5を位置決めするために用いるエジェクターピン10を含めたエジェクターピン10を使用して、キャビティ3から樹脂成形体9を突き出して離型する。
また、次に、成形型から樹脂成形体9と基板6とを有する成形体を取り出すことができる。
2 可動中間型
3 キャビティ
4 被封止物
5 放熱板
6 基板
7 セット用凹所
8 樹脂通路
9 樹脂成形体(硬化樹脂)
10 エジェクターピン(離型ピン)
11 チップ
12 ワイヤ
13 ゲート口
14 ゲートピース
15a 水平部
15b 開口部
16 支持部
17 流動性樹脂
18(18a・18b・18c) 突出部
19 可動下型
Claims (2)
- 一方の型と該一方の型に相対向する他方の型とから少なくとも成る電子部品の樹脂封止用の成形型と、少なくとも前記一方の型に設けられたキャビティとを備え、前記成形型が型締めされた状態において前記キャビティ内に存在する流動性樹脂を硬化させることによって硬化樹脂を形成し、少なくとも基板に装着されたチップと前記キャビティ内に配置された放熱板とを前記硬化樹脂によって樹脂封止して成形品を成形する電子部品の樹脂封止成形装置であって、
前記キャビティの内底面に設けられた複数の突出部を備え、
前記キャビティ内に前記放熱板が配置された状態において、前記放熱板が有する水平部と前記キャビティの内底面とが接触し、
前記放熱板が有する水平部に設けられた複数の開口部において前記複数の突出部がそれぞれ貫通することによって、前記キャビティの内底面において前記放熱板が位置決めされ、かつ、移動しないように仮固定され、
前記複数の突出部のうちの1つの突出部は、前記キャビティに注入される前記流動性樹脂が流動する樹脂通路を構成するゲートピースの一部として設けられ、
前記ゲートピースが前記成形型から着脱自在に設けられることを特徴とする電子部品の樹脂封止成形装置。 - 請求項1に記載の電子部品の樹脂封止成形装置において、
前記複数の突出部のうち前記1つの突出部以外の突出部は、成形品突き出し用の離型ピンとして機能することを特徴とする電子部品の樹脂封止成形装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006228941A JP5128095B2 (ja) | 2006-08-25 | 2006-08-25 | 電子部品の樹脂封止成形装置 |
TW096120517A TW200811968A (en) | 2006-08-25 | 2007-06-07 | Resin sealing apparatus for electronics parts |
KR1020070066899A KR100848746B1 (ko) | 2006-08-25 | 2007-07-04 | 전자 부품의 수지 밀봉 성형 장치 |
CNB2007101485207A CN100536100C (zh) | 2006-08-25 | 2007-08-22 | 电子元件的树脂密封成形装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006228941A JP5128095B2 (ja) | 2006-08-25 | 2006-08-25 | 電子部品の樹脂封止成形装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008053509A JP2008053509A (ja) | 2008-03-06 |
JP5128095B2 true JP5128095B2 (ja) | 2013-01-23 |
Family
ID=39129145
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006228941A Active JP5128095B2 (ja) | 2006-08-25 | 2006-08-25 | 電子部品の樹脂封止成形装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5128095B2 (ja) |
KR (1) | KR100848746B1 (ja) |
CN (1) | CN100536100C (ja) |
TW (1) | TW200811968A (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6027569B2 (ja) * | 2014-03-26 | 2016-11-16 | エムテックスマツムラ株式会社 | 中空パッケージの製造方法および中空パッケージ |
JP6298719B2 (ja) * | 2014-06-09 | 2018-03-20 | Towa株式会社 | 樹脂封止装置及び樹脂封止方法 |
JP6549531B2 (ja) * | 2016-06-30 | 2019-07-24 | Towa株式会社 | 樹脂成形装置及び樹脂成形品の製造方法 |
EP4181185A4 (en) | 2020-07-28 | 2023-09-13 | Huawei Technologies Co., Ltd. | POWER MODULE AND PRODUCTION FORM AND DEVICE |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3304513B2 (ja) * | 1993-06-29 | 2002-07-22 | アピックヤマダ株式会社 | 放熱体付半導体装置及びその製造方法 |
SG50009A1 (en) * | 1996-03-14 | 1998-06-15 | Towa Corp | Method of sealing electronic component with molded resin |
JPH11274196A (ja) | 1998-03-26 | 1999-10-08 | Seiko Epson Corp | 半導体装置の製造方法およびモールドシステム並びに半導体装置 |
JP4273592B2 (ja) | 1999-10-08 | 2009-06-03 | 株式会社デンソー | 樹脂封止型半導体装置の製造方法 |
JP2003197664A (ja) * | 2001-12-28 | 2003-07-11 | Seiko Epson Corp | 半導体装置及びその製造方法、回路基板並びに電子機器 |
-
2006
- 2006-08-25 JP JP2006228941A patent/JP5128095B2/ja active Active
-
2007
- 2007-06-07 TW TW096120517A patent/TW200811968A/zh unknown
- 2007-07-04 KR KR1020070066899A patent/KR100848746B1/ko active IP Right Grant
- 2007-08-22 CN CNB2007101485207A patent/CN100536100C/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008053509A (ja) | 2008-03-06 |
TWI338342B (ja) | 2011-03-01 |
CN100536100C (zh) | 2009-09-02 |
TW200811968A (en) | 2008-03-01 |
KR100848746B1 (ko) | 2008-07-25 |
KR20080018791A (ko) | 2008-02-28 |
CN101131946A (zh) | 2008-02-27 |
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