JP5100990B2 - 極端紫外光源装置用ドライバーレーザ及びlpp型極端紫外光源装置 - Google Patents
極端紫外光源装置用ドライバーレーザ及びlpp型極端紫外光源装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5100990B2 JP5100990B2 JP2005230619A JP2005230619A JP5100990B2 JP 5100990 B2 JP5100990 B2 JP 5100990B2 JP 2005230619 A JP2005230619 A JP 2005230619A JP 2005230619 A JP2005230619 A JP 2005230619A JP 5100990 B2 JP5100990 B2 JP 5100990B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser
- oscillation
- light source
- ultraviolet light
- extreme ultraviolet
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/23—Arrangements of two or more lasers not provided for in groups H01S3/02 - H01S3/22, e.g. tandem arrangements of separate active media
- H01S3/2308—Amplifier arrangements, e.g. MOPA
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y10/00—Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70008—Production of exposure light, i.e. light sources
- G03F7/70033—Production of exposure light, i.e. light sources by plasma extreme ultraviolet [EUV] sources
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/10—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
- H01S3/106—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling devices placed within the cavity
- H01S3/108—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling devices placed within the cavity using non-linear optical devices, e.g. exhibiting Brillouin or Raman scattering
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/005—Optical devices external to the laser cavity, specially adapted for lasers, e.g. for homogenisation of the beam or for manipulating laser pulses, e.g. pulse shaping
- H01S3/0057—Temporal shaping, e.g. pulse compression, frequency chirping
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/05—Construction or shape of optical resonators; Accommodation of active medium therein; Shape of active medium
- H01S3/08—Construction or shape of optical resonators or components thereof
- H01S3/08004—Construction or shape of optical resonators or components thereof incorporating a dispersive element, e.g. a prism for wavelength selection
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/05—Construction or shape of optical resonators; Accommodation of active medium therein; Shape of active medium
- H01S3/08—Construction or shape of optical resonators or components thereof
- H01S3/08004—Construction or shape of optical resonators or components thereof incorporating a dispersive element, e.g. a prism for wavelength selection
- H01S3/08009—Construction or shape of optical resonators or components thereof incorporating a dispersive element, e.g. a prism for wavelength selection using a diffraction grating
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/10—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
- H01S3/106—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling devices placed within the cavity
- H01S3/107—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling devices placed within the cavity using electro-optic devices, e.g. exhibiting Pockels or Kerr effect
- H01S3/1075—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling devices placed within the cavity using electro-optic devices, e.g. exhibiting Pockels or Kerr effect for optical deflection
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/10—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
- H01S3/106—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling devices placed within the cavity
- H01S3/108—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling devices placed within the cavity using non-linear optical devices, e.g. exhibiting Brillouin or Raman scattering
- H01S3/1083—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling devices placed within the cavity using non-linear optical devices, e.g. exhibiting Brillouin or Raman scattering using parametric generation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/10—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
- H01S3/11—Mode locking; Q-switching; Other giant-pulse techniques, e.g. cavity dumping
- H01S3/1103—Cavity dumping
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/14—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
- H01S3/22—Gases
- H01S3/223—Gases the active gas being polyatomic, i.e. containing two or more atoms
- H01S3/2232—Carbon dioxide (CO2) or monoxide [CO]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/23—Arrangements of two or more lasers not provided for in groups H01S3/02 - H01S3/22, e.g. tandem arrangements of separate active media
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/23—Arrangements of two or more lasers not provided for in groups H01S3/02 - H01S3/22, e.g. tandem arrangements of separate active media
- H01S3/2308—Amplifier arrangements, e.g. MOPA
- H01S3/2325—Multi-pass amplifiers, e.g. regenerative amplifiers
- H01S3/235—Regenerative amplifiers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Lasers (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Description
図10に示す発振増幅型レーザ10は、短パルスCO2レーザによって構成される発振器11と、短パルスCO2レーザが発生したレーザ光を増幅する増幅器12とを含んでいる。ここで、増幅器12が光共振器を持たない場合に、そのような構成を有するレーザシステムは、MOPA(Master Oscillator Power Amplifier)システムと呼ばれる。増幅器12は、二酸化炭素(CO2)、窒素(N2)、ヘリウム(He)、さらに、必要に応じて、水素(H2)、一酸化炭素(CO)、キセノン(Xe)等を含むCO2レーザガスを放電によって励起する放電装置を有している。
なお、図10に示す増幅器12と異なり、増幅段に共振器を設ける場合には、増幅段単体によるレーザ発振が可能である。そのような構成を有するレーザシステムは、MOPO(Master Oscillator Power Oscillator)システムと呼ばれる。
ここで、図10においては、レーザエネルギーAをレーザエネルギーBまで増幅するために、増幅器を1段しか設けていないが、所望のレーザエネルギーBが得られない場合には、複数段の増幅器を用いてもよい。
また、非特許文献1〜5にも、関連する技術が記載されている。
図1は、本発明に係る極端紫外光源用ドライバーレーザ(以下において、単に「ドライバーレーザ」とも言う)が適用されるLPP型EUV光源装置の概要を示す模式図である。図1に示すように、このLPP型EUV光源装置は、ドライバーレーザ1と、EUV光発生チャンバ2と、ターゲット物質供給部3と、光学系4とを含んでいる。
EUV光発生チャンバ2は、EUV光の生成が行われる真空チャンバである。EUV光発生チャンバ2には、ドライバーレーザ1から発生したレーザ光6をEUV光発生チャンバ2内に透過させるための窓21が設けられている。また、EUV光発生チャンバ2の内部には、ターゲット噴射ノズル31と、ターゲット回収筒32と、集光ミラー8とが配置されている。
集光ミラー8は、例えば、13.5nmの光を高反射率で反射するMo/Si膜がその表面に形成された凹面鏡であり、発生したEUV光7を反射することにより集光して伝送光学系に導く。さらに、このEUV光は、伝送光学系を介して露光装置等へ導かれる。なお、図1において、集光ミラー8は、紙面の手前方向にEUV光を集光する。
本実施形態においては、光軸に対するエタロンの傾斜又は温度を調整することにより、エタロンが図2の(a)の破線に示すような波長依存透過特性を示すように透過率を制御している。
図3は、本実施形態に係るドライバーレーザにおいて用いられる短パルス−マルチスペクトルCO2レーザの第1の実施例を示す模式図である。図3の(a)に示すように、本実施例に係る短パルス−マルチスペクトルCO2レーザは、レーザ媒質100と、共振器を構成するリアミラー101及びフロントミラー102と、エタロン103と、偏光ビームスプリッタ104及び106と、ポッケルスセル(PC)105とを含んでいる。
種レーザは、リアミラー101及びフロントミラー102間を往復しながらレーザ媒質100を通過することにより、CW(連続発振)励起又はパルス励起する。その際に、先に述べたように、レーザ光に含まれる複数のスペクトル成分について、発振強度の抑制及び増幅が行わせる。
また、ポッケルスセル(Qスイッチ)とは、結晶に電界を印加することにより結晶の屈折率や異方性が変化するというEO効果(electro optic:電気光学効果)を利用した光学素子である。このポッケルスセルに印加される電界を制御することにより、それを透過する光の偏光面を所望の角度だけ回転させることができる。本実施例においては、ポッケルスセル105により、光の偏光面をλ/2(90°)回転させる。即ち、活性化されたポッケルスセルを1回透過することにより、p偏光はs偏光となり、s偏光はp偏光となる。
図4の(a)に示す短パルス−マルチスペクトルCO2レーザは、図3の(a)に示す構成に対して、リアミラー101及びアウトプットカップラー(カプラ)110によって共振器を構成しており、さらに、共振器の内部に偏光ビームスプリッタ104、ポッケルスセル105、及び、λ/4波長板111を配置している。本実施例においては、ポッケルスセル105により、光の偏光面をλ/4(45°)回転させる。即ち、活性化されたポッケルスセルを1回往復することにより、p偏光はs偏光となり、s偏光はp偏光となる。また、λ/4波長板111は、そこを通過する光の偏光面をλ/4(45°)回転させる。
図5の(a)に示す短パルス−マルチスペクトルCO2レーザにおいては、図3の(a)に示す偏光ビームスプリッタ104及び106並びにポッケルスセル105の替わりに、光スイッチ素子として、ゲルマニウム(Ge)ブリュースタープレート(ゲルマニウムミラー)120が配置されている。また、Geブリュースタープレート120に照射される短パルスレーザ光を出射する短パルスレーザ装置(例えば、Nd:YAGレーザ)121が設けられている。
図6の(a)に示す短パルス−マルチスペクトルCO2レーザは、共振器を構成するリアミラー101及びアウトプットカップラー130と、共振器内に配置されたレーザ媒質100及びエタロン103と、レーザ光を集光する集光光学系(例えば、集光レンズ)131とを含んでいる。
このような波長選択手段としてグレーティングやプリズムを用いる構成は、第1〜第4の実施例に適用することができる。
反射ミラー171及び177、並びに、CO2レーザ媒質174は、共振器を構成している。
Claims (2)
- レーザ共振器の内部においてレーザ光を短パルス化する手段と、前記レーザ共振器におけるレーザ光の発振スペクトルのエネルギーピーク値を示す発振スペクトル成分の強度を抑制すると共に発振スペクトルの強度分布を平滑化する波長依存透過率を有する光学素子とを有し、エネルギーピーク値を示す発振スペクトル成分の強度を抑制しながら発振スペクトルの強度分布を平滑化して短パルス・マルチライン発振を行う短パルス・マルチライン発振CO2レーザ発振器と、
前記短パルス・マルチライン発振CO2レーザ発振器から出力される短パルス化されたレーザ光を入力し、該レーザ光を増幅して出力する少なくとも1つの増幅器と、
を具備する極端紫外光源装置用ドライバーレーザ。 - 請求項1記載の極端紫外光源装置用ドライバーレーザと、
ターゲット物質供給手段と、
前記極端紫外光源装置用ドライバーレーザから出力されるレーザ光が、前記ターゲット物質供給手段から供給されるターゲット物質を照射するように、前記レーザ光を導光する光学系と、
を具備するLPP型極端紫外光源装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005230619A JP5100990B2 (ja) | 2004-10-07 | 2005-08-09 | 極端紫外光源装置用ドライバーレーザ及びlpp型極端紫外光源装置 |
US11/242,016 US7680158B2 (en) | 2004-10-07 | 2005-10-04 | LPP type extreme ultra violet light source apparatus and driver laser for the same |
US11/783,387 US7649188B2 (en) | 2004-10-07 | 2007-04-09 | LPP type extreme ultra violet light source apparatus and driver laser for the same |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004295272 | 2004-10-07 | ||
JP2004295272 | 2004-10-07 | ||
JP2005230619A JP5100990B2 (ja) | 2004-10-07 | 2005-08-09 | 極端紫外光源装置用ドライバーレーザ及びlpp型極端紫外光源装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011253149A Division JP5242758B2 (ja) | 2004-10-07 | 2011-11-18 | 極端紫外光源装置用ドライバーレーザ及びlpp型極端紫外光源装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006135298A JP2006135298A (ja) | 2006-05-25 |
JP2006135298A5 JP2006135298A5 (ja) | 2008-12-04 |
JP5100990B2 true JP5100990B2 (ja) | 2012-12-19 |
Family
ID=36145268
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005230619A Expired - Fee Related JP5100990B2 (ja) | 2004-10-07 | 2005-08-09 | 極端紫外光源装置用ドライバーレーザ及びlpp型極端紫外光源装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7680158B2 (ja) |
JP (1) | JP5100990B2 (ja) |
Families Citing this family (37)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7928416B2 (en) * | 2006-12-22 | 2011-04-19 | Cymer, Inc. | Laser produced plasma EUV light source |
US7491954B2 (en) * | 2006-10-13 | 2009-02-17 | Cymer, Inc. | Drive laser delivery systems for EUV light source |
US7439530B2 (en) * | 2005-06-29 | 2008-10-21 | Cymer, Inc. | LPP EUV light source drive laser system |
US7671349B2 (en) | 2003-04-08 | 2010-03-02 | Cymer, Inc. | Laser produced plasma EUV light source |
US7541121B2 (en) * | 2004-10-13 | 2009-06-02 | Infineon Technologies Ag | Calibration of optical line shortening measurements |
US7369216B2 (en) * | 2004-10-15 | 2008-05-06 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic system, method for adapting transmission characteristics of an optical pathway within a lithographic system, semiconductor device, method of manufacturing a reflective element for use in a lithographic system, and reflective element manufactured thereby |
US8536549B2 (en) * | 2006-04-12 | 2013-09-17 | The Regents Of The University Of California | Light source employing laser-produced plasma |
JP4679440B2 (ja) * | 2006-06-05 | 2011-04-27 | 川崎重工業株式会社 | 波長変換レーザ出力差周波分離装置 |
JP5551722B2 (ja) * | 2006-08-29 | 2014-07-16 | ギガフォトン株式会社 | 極端紫外光源装置用ドライバーレーザ |
JP5086677B2 (ja) * | 2006-08-29 | 2012-11-28 | ギガフォトン株式会社 | 極端紫外光源装置用ドライバーレーザ |
JP5086664B2 (ja) * | 2007-03-02 | 2012-11-28 | ギガフォトン株式会社 | 極端紫外光源装置 |
DE102007017212A1 (de) * | 2007-04-12 | 2008-10-16 | Forschungszentrum Jülich GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Kühlung eines Gases |
JP5179776B2 (ja) * | 2007-04-20 | 2013-04-10 | ギガフォトン株式会社 | 極端紫外光源用ドライバレーザ |
JP2009246345A (ja) * | 2008-03-12 | 2009-10-22 | Komatsu Ltd | レーザシステム |
US20110122387A1 (en) * | 2008-05-13 | 2011-05-26 | The Regents Of The University Of California | System and method for light source employing laser-produced plasma |
JP5758569B2 (ja) * | 2008-06-12 | 2015-08-05 | ギガフォトン株式会社 | スラブ型レーザ装置 |
JP5914742B2 (ja) * | 2008-09-19 | 2016-05-11 | ギガフォトン株式会社 | 極端紫外光源装置用レーザ光源装置、及びレーザ光源装置 |
JP5833806B2 (ja) * | 2008-09-19 | 2015-12-16 | ギガフォトン株式会社 | 極端紫外光源装置、極端紫外光源装置用レーザ光源装置及び極端紫外光源装置用レーザ光源の調整方法 |
JP5587578B2 (ja) * | 2008-09-26 | 2014-09-10 | ギガフォトン株式会社 | 極端紫外光源装置およびパルスレーザ装置 |
JP5536401B2 (ja) | 2008-10-16 | 2014-07-02 | ギガフォトン株式会社 | レーザ装置および極端紫外光光源装置 |
JP5607383B2 (ja) | 2009-02-23 | 2014-10-15 | ギガフォトン株式会社 | ガスレーザ装置用温度調節装置 |
JP5675127B2 (ja) * | 2009-02-27 | 2015-02-25 | ギガフォトン株式会社 | レーザ装置および極端紫外光源装置 |
US8755103B2 (en) * | 2009-10-23 | 2014-06-17 | Hamamatsu Photonics K.K. | Plasma shutter forming apparatus and forming method |
JP5419739B2 (ja) * | 2010-02-03 | 2014-02-19 | 三菱電機株式会社 | ガスレーザ装置 |
JP2013519211A (ja) | 2010-02-09 | 2013-05-23 | エナジェティック・テクノロジー・インコーポレーテッド | レーザー駆動の光源 |
JP2011192961A (ja) * | 2010-02-19 | 2011-09-29 | Komatsu Ltd | レーザ装置、極端紫外光生成装置、およびメンテナンス方法 |
JP5666285B2 (ja) | 2010-03-15 | 2015-02-12 | ギガフォトン株式会社 | 再生増幅器、レーザ装置および極端紫外光生成装置 |
JP5075951B2 (ja) * | 2010-07-16 | 2012-11-21 | ギガフォトン株式会社 | 極端紫外光源装置及びドライバレーザシステム |
JP6054028B2 (ja) | 2011-02-09 | 2016-12-27 | ギガフォトン株式会社 | レーザ装置および極端紫外光生成システム |
DE102012002470A1 (de) * | 2012-02-03 | 2013-08-08 | Iai Industrial Systems B.V. | CO2-Laser mit schneller Leistungssteuerung |
NL2011580A (en) * | 2012-11-07 | 2014-05-08 | Asml Netherlands Bv | Method and apparatus for generating radiation. |
CA2966869A1 (en) | 2014-11-10 | 2016-05-19 | General Electric Company | Multi-phase fluid fraction measurement |
US9711950B2 (en) * | 2015-05-13 | 2017-07-18 | Trumpf Laser Gmbh | Dense wavelength beam combining with variable feedback control |
WO2020075246A1 (ja) * | 2018-10-10 | 2020-04-16 | 三菱電機株式会社 | レーザ装置 |
WO2020148069A1 (en) * | 2019-01-15 | 2020-07-23 | Stichting Vu | Euv radiation source and related methods |
US11587781B2 (en) | 2021-05-24 | 2023-02-21 | Hamamatsu Photonics K.K. | Laser-driven light source with electrodeless ignition |
CN113916855A (zh) * | 2021-09-29 | 2022-01-11 | 深圳大学 | 一种显微成像装置 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4061921A (en) * | 1974-05-02 | 1977-12-06 | The United States Of America As Represented By The United States Energy Research & Development Administration | Infrared laser system |
FR2331898A1 (fr) * | 1975-11-17 | 1977-06-10 | Comp Generale Electricite | Dispositif generateur laser emettant a une longueur d'onde voisine de 1,3 micron |
US4330761A (en) * | 1976-06-28 | 1982-05-18 | Massachusetts Institute Of Technology | High power gas laser |
JPS566491A (en) * | 1979-06-28 | 1981-01-23 | Agency Of Ind Science & Technol | Oscillating method of carbon dioxide gas laser in multi-line |
US5327446A (en) * | 1993-03-26 | 1994-07-05 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Department Of Health And Human Services | Method of exciting laser action and delivering laser energy for medical and scientific applications |
US5452313A (en) * | 1994-03-21 | 1995-09-19 | Hughes Aircraft Company | Optical feedback eliminator |
US6016324A (en) * | 1994-08-24 | 2000-01-18 | Jmar Research, Inc. | Short pulse laser system |
JPH0864896A (ja) * | 1994-08-24 | 1996-03-08 | Nippon Steel Corp | 高平均出力パルスco▲2▼レーザ装置 |
DE4432029C2 (de) * | 1994-09-08 | 1997-08-21 | Ldt Gmbh & Co | Lasergestützte Farbbildanzeige- und Projektionsvorrichtung |
US5909306A (en) * | 1996-02-23 | 1999-06-01 | President And Fellows Of Harvard College | Solid-state spectrally-pure linearly-polarized pulsed fiber amplifier laser system useful for ultraviolet radiation generation |
US6463086B1 (en) * | 1999-02-10 | 2002-10-08 | Lambda Physik Ag | Molecular fluorine laser with spectral linewidth of less than 1 pm |
JP3504592B2 (ja) * | 2000-07-24 | 2004-03-08 | 住友重機械工業株式会社 | パルスレーザ発生装置及びそれを利用したx線発生装置 |
US6529543B1 (en) * | 2000-11-21 | 2003-03-04 | The General Hospital Corporation | Apparatus for controlling laser penetration depth |
JP4394844B2 (ja) * | 2001-03-27 | 2010-01-06 | 独立行政法人理化学研究所 | 赤外光発生装置 |
US6697408B2 (en) * | 2001-04-04 | 2004-02-24 | Coherent, Inc. | Q-switched cavity dumped CO2 laser for material processing |
JP4995379B2 (ja) * | 2001-06-18 | 2012-08-08 | ギガフォトン株式会社 | 光源装置及びそれを用いた露光装置 |
US6760356B2 (en) * | 2002-04-08 | 2004-07-06 | The Regents Of The University Of California | Application of Yb:YAG short pulse laser system |
JP4535732B2 (ja) * | 2004-01-07 | 2010-09-01 | 株式会社小松製作所 | 光源装置及びそれを用いた露光装置 |
US7087914B2 (en) * | 2004-03-17 | 2006-08-08 | Cymer, Inc | High repetition rate laser produced plasma EUV light source |
US7078717B2 (en) * | 2004-03-22 | 2006-07-18 | Gigaphoton Inc. | Light source device and exposure equipment using the same |
-
2005
- 2005-08-09 JP JP2005230619A patent/JP5100990B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2005-10-04 US US11/242,016 patent/US7680158B2/en active Active
-
2007
- 2007-04-09 US US11/783,387 patent/US7649188B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7649188B2 (en) | 2010-01-19 |
JP2006135298A (ja) | 2006-05-25 |
US20060078017A1 (en) | 2006-04-13 |
US20070187628A1 (en) | 2007-08-16 |
US7680158B2 (en) | 2010-03-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5100990B2 (ja) | 極端紫外光源装置用ドライバーレーザ及びlpp型極端紫外光源装置 | |
JP5086677B2 (ja) | 極端紫外光源装置用ドライバーレーザ | |
JP5179776B2 (ja) | 極端紫外光源用ドライバレーザ | |
JP5232782B2 (ja) | 精密に制御された波長変換平均出力を有する光源の制御方法、および波長変換システム | |
US20090316746A1 (en) | Slab type laser apparatus | |
JP4800145B2 (ja) | 極端紫外光源装置用ドライバーレーザ | |
JP2010021518A5 (ja) | ||
JP2007206452A (ja) | 深紫外光源及び、その深紫外光源を用いたマスク検査装置及び露光装置 | |
KR20000069013A (ko) | 광원장치 | |
JP2000223408A (ja) | 半導体製造装置および半導体装置の製造方法 | |
JP5657139B2 (ja) | Co2レーザ装置およびco2レーザ加工装置 | |
JP2007529903A (ja) | Lppのeuv光源 | |
JP4963149B2 (ja) | 光源装置及びそれを用いた露光装置 | |
US20070064750A1 (en) | Deep ultraviolet laser apparatus | |
JP6508058B2 (ja) | 光源装置及び波長変換方法 | |
JP2004039767A (ja) | Mopa式又は注入同期式レーザ装置 | |
JP2013084971A (ja) | 極端紫外光源用ドライバレーザ | |
JP5242758B2 (ja) | 極端紫外光源装置用ドライバーレーザ及びlpp型極端紫外光源装置 | |
JP2001244530A (ja) | 超短パルスレーザー発振装置 | |
JP6952103B2 (ja) | 固体レーザシステム、及び波長変換システム | |
JP2009015040A (ja) | レーザ光第2高調波発生装置 | |
JP5551722B2 (ja) | 極端紫外光源装置用ドライバーレーザ | |
JP2007088384A (ja) | 真空紫外レーザー光源、真空紫外レーザー発生方法 | |
JP2002368312A (ja) | 極短パルスレーザ | |
JP3845687B2 (ja) | ラマン・レーザー発振装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080609 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080609 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081020 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100921 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100928 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101129 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110823 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111118 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20111128 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20120224 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20120713 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20120713 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120830 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120926 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151005 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5100990 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |