JP2021025115A - 銅粒子 - Google Patents
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Abstract
Description
表面に有機表面処理剤が施されている銅粒子であって、
前記有機表面処理剤が、炭素原子数が相対的に多い第1処理剤と、炭素原子数が相対的に少ない第2処理剤とを含み、
第1処理剤が脂肪族有機酸からなり、第2処理剤が脂肪族有機酸塩からなる、銅粒子を提供することによって前記の課題を解決したものである。
特開2015−168878号公報の実施例1に記載の方法に準じて、有機表面処理剤が施されていない球状の銅芯粒子(銅:100質量%)が水に分散したスラリーを製造した。このスラリーをロータリーフィルターによって25℃で30分間洗浄して、洗浄処理された銅芯粒子のスラリーを得た。洗浄後の導電率は1.0mSであり、スラリー中の銅芯粒子の含有量は、1000g(10質量%)であった。
第2処理剤の添加量を2gに変更したほかは、実施例1と同様の方法で銅粒子を得た。
第1処理剤の添加量を8gに変更したほかは、実施例1と同様の方法で銅粒子を得た。
第2処理剤の添加量を2gに変更したほかは、実施例3と同様の方法で銅粒子を得た。
第1処理剤の添加量を5gに変更したほかは、実施例2と同様の方法で銅粒子を得た。
第1処理剤としてステアリン酸を用いたほかは、実施例2と同様の方法で銅粒子を得た。
第2処理剤としてギ酸アンモニウムを用いたほかは、実施例2と同様の方法で銅粒子を得た。
第1処理剤を用いた表面処理に代えて、酢酸アンモニウム23gをメタノール水溶液(メタノール90体積%)100mLに溶解させた第2処理剤溶液を瞬時に添加したほかは、実施例1と同様の方法で銅粒子を得た。つまり、本比較例の銅粒子は、第1処理剤を用いておらず、第2処理剤のみで表面処理を行ったものである。得られた銅粒子における第2処理剤の含有量は、合計量として炭素原子換算で0.47質量%であった。
第1処理剤による表面処理を行った後、第2処理剤による表面処理を行わなかった他は、実施例3と同様の方法で銅粒子を得た。つまり、本比較例の銅粒子は、第1処理剤のみで表面処理されたものである。得られた銅粒子における第1処理剤の含有量は炭素原子換算で0.71質量%であった。
第1処理剤による表面処理を行った後、第2処理剤による表面処理を行わなかった他は、実施例5と同様の方法で銅粒子を得た。つまり、本比較例の銅粒子は、第1処理剤のみで表面処理されたものである。得られた銅粒子における第1処理剤の含有量は炭素原子換算で0.71質量%であった。得られた銅粒子の一次粒子の平均粒径は、5.73μmであった。
本出願人の先の出願に係る特開2017−157329号公報の実施例1に記載の方法に準じて、焼結を行った。詳細には、実施例及び比較例の銅粒子8.5gと、数平均分子量が300のポリエチレングリコールとをプラスチック容器に入れて混合し、銅粒子を含む導電性ペーストを得た。得られたペーストをガラス基板に塗布し、以下の表1に示す温度で、窒素雰囲気下、3分間焼結させた。焼結後の銅粒子について、銅粒子どうしの融着度合を電子顕微鏡を用いて観察し、以下の評価基準で焼結性を評価した。結果を以下の表1に示す。
◎:粒子どうしが融着し、粒子間に太いネッキングが見られ、焼結性に優れる。
○:粒子どうしが融着し、粒子間にネッキングが見られ、焼結性を有する。
×:粒子どうしが融着しておらず、焼結性が悪い。
実施例及び比較例の銅粒子100質量部に対して、樹脂としてポリアミド樹脂(T&K TOKA製、TPAE−826−5A)を4質量部、並びに有機溶媒としてターピネオール17.5質量部及びリモネン7.5質量部を混合し、3本ロール混練機を用いて混練してペースト状の導電性組成物を得た。この導電性組成物を、基材である厚さ100μmのポリエチレンテレフタレート(PET)製フィルムの一面に、スクリーン印刷によって塗布し、厚さ50μmの塗膜を形成した。塗膜のサイズは1cm四方とした。この塗膜を大気下、110℃で30分間にわたり予備乾燥させた後、塗膜を25℃まで冷却させた。次いで、表面に離型フィルムを配して塗膜を保護し、同温度で30MPaの圧力にて、大気下で圧縮した。圧縮には油圧プレス機を用いた。その後、塗膜を光焼成工程に付した。光焼成にはキセノンフラッシュランプを用いた。パルス幅は1.25ms、パルス電圧は2500〜3000Vに設定した。このようにして得られた導電膜の表面に離型フィルムを配して導電膜を保護し、油圧プレス機を用いて、30MPaの圧力で圧縮する後工程を施して、導体膜を製造した。
上述の〔導体膜の抵抗率の評価〕において、焼結温度を190℃として製造した各導体膜を表面粗さ測定装置(株式会社東京精密製、SURFCOM 130A)を用いて、表面粗さを測定した。測定対象の導体膜について表面粗さを3回測定し、その算術平均値を平均表面粗さRa(μm)とし、各測定値のうち最大のものを最大表面粗さRmax(μm)とした。表面粗さの値が低ければ低いほど導体膜の表面平滑性が良好であることを示す。結果を以下の表1に示す。
Claims (7)
- 表面に有機表面処理剤が施されている銅粒子であって、
前記有機表面処理剤が、炭素原子数が相対的に多い第1処理剤と、炭素原子数が相対的に少ない第2処理剤とを含み、
第1処理剤が脂肪族有機酸からなり、第2処理剤が脂肪族有機酸塩からなる、銅粒子。 - 第1処理剤の炭素原子数が6以上18以下である、請求項1に記載の銅粒子。
- 第2処理剤の炭素原子数が1以上5以下である、請求項1又は2に記載の銅粒子。
- 第2処理剤が一価のカチオンの塩である、請求項1ないし3のいずれか一項に記載の銅粒子。
- 第2処理剤がアンモニウム塩である、請求項4に記載の銅粒子。
- 一次粒子の平均粒径が0.1μm以上0.6μm以下である、請求項1ないし5のいずれか一項に記載の銅粒子。
- 請求項1ないし6のいずれか一項に記載の銅粒子と、有機溶媒とを含む、導電性組成物。
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