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JP2003065701A - 内側マイクロメータ - Google Patents

内側マイクロメータ

Info

Publication number
JP2003065701A
JP2003065701A JP2001250741A JP2001250741A JP2003065701A JP 2003065701 A JP2003065701 A JP 2003065701A JP 2001250741 A JP2001250741 A JP 2001250741A JP 2001250741 A JP2001250741 A JP 2001250741A JP 2003065701 A JP2003065701 A JP 2003065701A
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JP
Japan
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spindle
anvil
end side
thimble
micrometer
Prior art date
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Granted
Application number
JP2001250741A
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English (en)
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JP3735546B2 (ja
Inventor
Katsunobu Terui
勝信 照井
Tadashi Konishi
正 小西
Minoru Shibahashi
稔 柴橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
Original Assignee
Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitutoyo Corp, Mitsutoyo Kiko Co Ltd filed Critical Mitutoyo Corp
Priority to JP2001250741A priority Critical patent/JP3735546B2/ja
Priority to US10/217,625 priority patent/US6792690B2/en
Priority to CNB021420262A priority patent/CN1258069C/zh
Publication of JP2003065701A publication Critical patent/JP2003065701A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3735546B2 publication Critical patent/JP3735546B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/18Micrometers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 部品点数が少なく、コストを削減でき、携帯
に便利な内側マイクロメータを提供する。 【解決手段】 第1スピンドル11が軸方向進退可能に
螺合されている内側マイクロメータ本体1に対して、長
さ寸法が一定寸法ずつ異なるアンビル30およびこのア
ンビル30と内側マイクロメータ本体1の間に介装され
る伸測カラー40とを選択的に用いて、測定領域を設定
調整可能とする内側マイクロメータにおいて、内側マイ
クロメータ本体1に着脱可能かつ選択的に装着され、第
1スピンドル11とともに進退する第2スピンドル58
を有する伸測ロッド50を備える。任意の一本のアンビ
ル30から延長される測定領域に、伸測カラー40の長
さに加えて、第2スピンドル58の長さの分がさらに加
わることによって、アンビル30の本数が削減される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は内側マイクロメータ
に関する。詳しくは、部品点数を削減した内側マイクロ
メータに関する。
【0002】
【背景技術】従来の内側マイクロメータは、図8に示さ
れるように、シンブル20の回転によって第1スピンド
ル11が進退する内側マイクロメータ本体1と、長さが
一定寸法ずつ異なる複数のアンビル30と、アンビル3
0と内側マイクロメータ本体1の間に介装される伸測カ
ラー40とを備える。内側マイクロメータ本体1は、図
9に示されるように、貫通孔3の一端側内周に雌ねじ4
が形成された内筒2Aと、内筒2Aの外周に設けられた
円筒状の外筒2Bと、外周に内筒2Aの雌ねじ4に螺合
する雄ねじ13を有する筒状の第1スピンドル軸12お
よび第1スピンドル軸12の一端側に螺合される測定子
15からなる第1スピンドル11と、貫通孔21を有
し、内筒2Aおよび外筒2Bの一端側から他端側に向か
う途中までを覆う筒状のシンブル20とを備える。
【0003】内筒2Aの一端側付近には、円筒軸に沿っ
て複数本のスリット3Aが設けられ、外側からナット3
Bが螺合されている。また、内筒2Aの他端側外周に
は、頭部につまみ部を有する止めねじ5と支持つまみ6
とが螺合されている。第1スピンドル軸12の一端側外
周およびシンブル20の一端側開口部21Aは、一端側
から他端側へ向かうに従って拡径するテーパ27Aで嵌
合され、かつ、測定子15に螺合されたナット27Bに
よって締め付けられている。シンブル20の一端側外周
にはローレット28が設けられ、他端側外周には円周方
向に目盛り23が刻まれている。アンビル30の一端側
の径は、内筒2Aの貫通孔3の他端側の径と同径で、一
端側から他端側に向かう途中で段差31をもって拡径
し、アンビル30の他端側には測定子32が設けられて
いる。外筒2Bには円筒軸方向に目盛り7が刻印されて
いる。伸測カラー40は、アンビル30の一端側の径と
同径の貫通孔41を有している。
【0004】使用に際しては、被測定対象の被測定部位
の長さに適した長さのアンビル30を選択し、これを内
筒2Aの他端側から挿入し、止めねじ5で保持する。こ
の後、内側マイクロメータ本体1のシンブル20を回転
させ、第1スピンドル11を進退させる。アンビル30
の測定子32と第1スピンドル11の測定子15とが被
測定対象に当接したときに、目盛り7,23から被測定
対象の被測定部位の寸法を読み取る。伸測カラー40を
使用する際は、伸測カラー40の貫通孔41にアンビル
30を挿入した後、そのアンビル30を内側マイクロメ
ータ本体1に挿入する。これによって、内側マイクロメ
ータの測定領域を、この伸測カラー40の分だけ延長で
きる。
【0005】実際の測定に際しては、被測定対象に応じ
て、内側マイクロメータ本体1にアンビル30と伸測カ
ラー40を選択的に用いることにより、図10に示され
るように、内側マイクロメータの測定領域を設定調整す
ることができる。
【0006】例えば、内側マイクロメータ本体1の第1
スピンドル11の作動距離が13mm、伸測カラー40
の長さが12mm、アンビル30として50mm、75
mm用が用意されているとする。50mm〜63mmを
測定領域とするときは、50mm用のアンビル30を内
側マイクロメータ本体1に着装することにより測定でき
る。62mm〜75mmを測定領域とするときは、50
mm用のアンビル30に伸測カラー40を加えることに
より測定できる。75mm〜88mmを測定領域とする
ときは、75mm用のアンビル30に交換すれば測定で
きる。以下同様にアンビル30と伸測カラー40を選択
的に使用することによって測定領域を延長することがで
きるので、25mmずつ長さの異なるアンビル30を備
えていれば、連続した測定領域で測定できる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の内側マイクロメータでは、アンビル30を2
5mmずつ異なる長さで用意する必要がある。例えば、
50mm〜300mmまでを測定領域とするためには、
50mm、75mm、100mm、125mm、150
mm、175mm、200mm、225mm、250m
m、275mm用の10本ものアンビル30を用意する
必要がある。これは、部品点数が多く、長いアンビル3
0を何本も用意しなければならないことから加工に手間
がかかり、コスト高の要因ともなる。さらに、何本もの
アンビル30を備えていなくてはならないので、収納ケ
ースが大きくなり、携帯に不便である。
【0008】そこで、本発明の目的は、斯かる実情に鑑
み、部品点数が少なく、コストを削減でき、携帯に便利
な内側マイクロメータを提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の内側マ
イクロメータは、貫通孔の内周に雌ねじを有する円筒形
の筒体と、前記雌ねじに螺合して前記貫通孔の一端側か
ら軸方向進退可能に設けられた第1スピンドルと、前記
第1スピンドルと一体回転可能で前記内筒の外側に設け
らたシンブルとを備える内側マイクロメータ本体に対し
て、長さ寸法が一定寸法ずつ異なり、前記筒体の貫通孔
の他端側に着脱可能な複数本のアンビルと、前記アンビ
ルが挿入される貫通孔を有し、前記筒体の他端側と前記
アンビルとの間に介装される第1延長部材とを選択的に
用いて測定領域を設定調整可能とする内側マイクロメー
タにおいて、前記第1スピンドルの一端側に着脱可能か
つ選択的に装着され、前記第1スピンドルとともに進退
する第2スピンドルを有する第2延長部材を備えたこと
を特徴とする。
【0010】このような構成によれば、シンブルを回転
させると、第1スピンドルがシンブルとともに回転され
る。第1スピンドルの雄ねじが筒体の雌ねじに螺合して
いることから、このねじのピッチに従って、第1スピン
ドルが筒体の一端側から軸方向に進退する。このとき、
第1スピンドルが筒体の一端側から筒体の外側に進出で
きる距離が内側マイクロメータ本体の作動領域である。
【0011】従来は、筒体の貫通孔の他端側に着脱され
るアンビルと、筒体の他端側とアンビルとの間に介装さ
れる第1延長部材とを選択的に用いることによって、内
側マイクロメータの作動領域を測定対象の長さに対応し
た測定領域に設定調整していた。例えば、短い長さのア
ンビルだけを用いれば、測定領域を短い長さに設定する
ことができ、また、これに第1延長部材を加えて使うこ
とで、測定領域を第1延長部材の分だけ、長い方に変更
調整できた。さらに、アンビルをより長いものに変える
ことによって、測定領域をより長い方に変更調整でき、
以下同様に測定領域を変更調整できた。
【0012】ここで、アンビルおよび第1延長部材とと
もに選択的に用いられる第2延長部材を新たに加えると
次の効果を奏することができる。上記のように内側マイ
クロメータ本体に任意の長さのアンビルを着装し、第1
延長部材を介装して、測定範囲を長い方へ設定調整した
あと、さらに、第2延長部材を着装することによって、
測定領域をより長い方へ設定調整できる。換言すると、
任意のアンビル一本から延長できる測定領域が、従来は
このアンビルと第1延長部材との長さの和であったもの
が、第2延長部材を加えると、このアンビルと第1延長
部材と第2延長部材の和まで伸びることとなる。よっ
て、従来は必要だった長さのアンビル、つまり、このア
ンビルに第1延長部材と第2延長部材の長さの和を足し
たアンビルは削除できることとなる。このとき、測定領
域が長くなるほど、従来は必要とされたアンビルから削
除できる本数は多くなるので、上記の効果は一層顕著と
なる。一つの第2延長部材を備えることによって長いア
ンビルを複数本削除できることは、単に部品点数の削除
だけでなく、長い数本のアンビルの大きさと、その製造
に注目するとき、上記アンビルの本数の削除はコストの
低下と収納ケースの大きさにおいて著しい効果を示す。
【0013】請求項2に記載の内側マイクロメータは、
請求項1に記載の内側マイクロメータにおいて、前記第
1スピンドルの作動領域をv、前記第1延長部材の長さ
をk、前記第2延長部材の前記第2スピンドルの長さを
s、前記アンビルの長さ寸法の違いをdとしたとき、k
≦v、s≦v+k、d≦v+k+sの関係を有すること
を特徴とする。
【0014】このような構成によれば、内側マイクロメ
ータによって測定することができる測定領域は、隙間な
く連続した領域とすることができる。長さaのアンビル
Aを装着した内側マイクロメータの測定領域S1は、内
側マイクロメータの作動領域がvなので、a≦S1≦a
+vで示される。アンビルAと長さkの第1延長部材を
装着したときの測定領域S2は、a+k≦S2≦a+k
+vである。このとき、k≦vよりa+k≦a+vなの
で、(S2の最小値)≦(S1の最大値)である。よっ
て、S1とS2は少なくともクロスオーバーする領域を
有するか、もしくは連続している。アンビルAと長さs
の第2スピンドルを有する第2延長部材を装着したとき
の測定領域S3は、a+s≦S3≦a+s+vである。
このとき、s≦k+vより、a+s≦a+k+vなの
で、(S3の最小値)≦(S2の最大値)である。よっ
て、S2とS3は少なくともクロスオーバーする領域を
有するか、もしくは連続している。
【0015】アンビルAと第1延長部材と第2延長部材
を装着したときの測定領域S4はa+k+s≦S4≦a
+k+s+vで示される。ここで、k≦vより、a+k
+s≦a+s+vなので、(S4の最小値)≦(S3の
最大値)である。よって、S3とS4は少なくともクロ
スオーバーする領域を有するか、もしくは連続してい
る。アンビルAを長さa+dのアンビルBに変更する
と、測定領域S5はa+d≦S5≦a+d+vである。
このとき、d≦v+k+sより、a+d≦a+v+k+
sなので、(S5の最小値)≦(S4の最大値)である。
よって、S4とS5は少なくともクロスオーバーする領
域を有するか、もしくは連続している。以上より、上記
構成を備えた内側マイクロメータによれば、従来より少
ない本数のアンビルで連続した領域を測定領域として設
定調整できる。
【0016】請求項3に記載の内側マイクロメータは、
請求項1または2に記載の内側マイクロメータにおい
て、前記第2延長部材は、前記シンブルの一端側に着脱
可能に装着され、中心に貫通孔を有する第2延長部材本
体と、前記第2延長部材の貫通孔の一端側から軸方向進
退可能に設けられた第2スピンドルと、前記第2スピン
ドルを前記第1スピンドルへ向かって付勢する付勢手段
とを備えることを特徴とする。
【0017】このような構成によれば、第2スピンドル
は第2延長部材の貫通孔内でその位置を固定されず、軸
方向に進退可能で、付勢手段によって第1スピンドルに
付勢されているので、第2延長部材をシンブルの一端側
に装着したとき、第1スピンドルの一端と第2スピンド
ルの他端が接触し、第1スピンドルの一端によって第2
スピンドルの他端が押されて、第2スピンドルは一端側
にスライドできる。よって、第2スピンドルの長さの分
が、第1スピンドルに付け足されたことと等しくなり、
延長部材としての効果を奏することができる。このと
き、第1スピンドルが内側マイクロメータ本体の筒体か
ら突出する長さが変わったとしても、第2スピンドルは
柔軟にその位置を変化させ、第1スピンドルの一端と隙
間を生じることなく接触することができる。つまり、第
1、第2スピンドルが完全一体となって進退するので、
測定精度の低下を招くことがない。
【0018】請求項4に記載の内側マイクロメータは、
請求項1〜3のいずれかに記載の内側マイクロメータに
おいて、前記第2延長部材本体の他端側および前記シン
ブルの一端側のいずれか一方に雄ねじが設けられ、前記
第2延長部材本体の他端側および前記シンブルの一端側
の他方に前記雄ねじに螺合する雌ねじが設けられること
を特徴とする。
【0019】このような構成によれば、シンブルの一端
側と第2延長部材の他端側を螺合することによって、第
2延長部材はシンブルと一体となって移動できるので、
シンブルを回転させて、第1スピンドルとともにシンブ
ルが移動するとき、第2延長部材が第1スピンドルとと
もに移動し、延長部材としての作用を奏することができ
る。さらに、シンブルと第2延長部材はねじによる螺合
によって、簡便に着脱できるので、取扱性に優れ、ま
た、シンブルおよび第2延長部材のいずれを回転させて
もよいので、操作性にも優れる。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図示
例と共に説明する。本実施形態の内側マイクロメータ
は、図1に示されるように、内側マイクロメータ本体1
と、長さ寸法が一定寸法ずつ異なる複数本のアンビル3
0と、第1延長部材としての伸測カラー40と、第2延
長部材としての伸測ロッド50とを備える。
【0021】内側マイクロメータ本体1は、図2に示さ
れるように、貫通孔3の内周に雌ねじ4を有する筒体2
と、筒体2の雌ねじ4に螺合して筒体2の貫通孔3の一
端側から軸方向進退可能に設けられた第1スピンドル1
1と、この第1スピンドル11と一体回転可能で筒体2
の外側に設けらたシンブル20とを備える。
【0022】筒体2には貫通孔3の一端側開口部付近に
雌ねじ4が設けられ、他端側外周には、頭部につまみ部
を有する止めねじ5と、周囲につまみ部を有する支持つ
まみ6とが螺合されている。筒体2の外壁には軸方向に
そってレーザーマーキングにより目盛り7が刻まれてい
る。
【0023】第1スピンドル11は、外周略全体にわた
って雄ねじ13を備えた第1スピンドル軸12と、第1
スピンドル軸12の一端側先端に一体的に形成された測
定子15とを備えている。また、測定子15の径は第1
スピンドル軸12の径より小さく形成されている。第1
スピンドル軸12の雄ねじ13は筒体2の雌ねじ4に螺
合していて、第1スピンドル11が回転することによっ
て、第1スピンドル11は筒体2の一端側から進退す
る。第1スピンドル軸12は、他端側が開口した軸方向
に平行な穴14を有している。この第1スピンドル軸1
2の穴14の径は、筒体2の他端側開口部3Cの径より
わずかに大きく形成されている。
【0024】シンブル20は、円筒形状で円筒軸に平行
に貫通孔21を有していて、筒体2の一端側から他端側
に向かう途中までを覆う肉薄で、内径が筒体2の外径よ
りわずかに大きい第1筒部22と、筒体2の一端側から
第1スピンドル11の測定子15を覆う肉厚で、内径が
測定子15の径に等しい第2筒部24とからなってい
る。この第2筒部24の一端側外周には雄ねじ25が設
けられている。通常、この雄ねじ25には、円環状のキ
ャップ26が螺合されている。また、第2筒部24の他
端側には貫通孔21に垂直に押圧ねじ27が螺合されて
いる。この押圧ねじ27によって、測定子15とシンブ
ル20が結合されて、第1スピンドル11とシンブル2
0が一体回転する。シンブル20の第1筒部22の他端
側外周には円周に沿って目盛り23が設けられている。
また、シンブル20の中央部にはローレット28が設け
られている。本実施形態においては、第1スピンドル1
1の作動距離は13mmであって、第1スピンドル11
が2回転すると、軸方向に1mm移動するように筒体2
の雌ねじ4および第1スピンドル11の雄ねじ13のピ
ッチが刻まれている。よって、筒体に設けられる目盛り
7は、0.5mm刻みであり、また、シンブル20に設
けられる目盛り23は一周を50等分に分割して、0.
01mmを読み取れるように設けられている。
【0025】アンビル30は、長さ寸法が一定ずつ異な
る複数本が用意される。アンビル30は長い棒体で、一
端側の径は筒体2の貫通孔3の他端側開口部3Cと同径
に形成され、アンビル30の一端側から他端側に向かう
途中に径を増す段差31を有し、他端側の先端に測定子
32を備える。本実施形態においては、アンビル30は
50mmずつ異なる長さで用意される。
【0026】伸測カラー40は、貫通孔41を有する筒
状で、貫通孔41の径はアンビル30の一端側の径より
大きく、アンビル30の段差31の径より小さい。伸測
カラー40の外径は、筒体2の他端側開口部3Cの径よ
りも大きく形成される。本実施形態においては、伸測カ
ラー40は12mmである。
【0027】伸測ロッド50は、図3に示されるよう
に、貫通孔52を有する第2延長部材本体である伸測ロ
ッド本体51と、伸測ロッド本体51の貫通孔52の一
端側から軸方向進退可能に設けられた第2スピンドル5
8と、第2スピンドル58を他端側に付勢する付勢手段
としてのばね60と、ストッパ70とを備える。伸測ロ
ッド本体51は、円筒形状で円筒軸に平行に貫通孔52
を有する。この貫通孔52において、一端側の径はシン
ブル20の一端側開口部21Aと同径で一番小さく、他
端側へ向かう途中に拡径する二箇所の段差、つまり第1
段差53と第2段差54を有する。さらに、伸測ロッド
本体51の貫通孔52の第2段差54と他端側開口部ま
での途中に雌ねじ55が設けられ、また、他端側開口部
付近にも雌ねじ56が設けられている。伸測ロッド本体
51の一端側の外周にはローレット57が設けられてい
る。
【0028】第2スピンドル58は伸測ロッド本体51
の貫通孔52内に設けられ、その径は第1スピンドル1
1の測定子15と同径である。第2スピンドル58の途
中には他の部分より径が大きいリング部材59が設けら
れている。このリング部材59と貫通孔52内の第1段
差53との間にばね60が介装されて、第2スピンドル
58は他端側に付勢されている。伸測ロッド本体51の
貫通孔52内には、円環状のストッパ70が設けられて
いる。このストッパ70は、他端側から第2スピンドル
58とばね60が挿入された後、伸測ロッド本体51の
雌ねじ55に螺合される。第2スピンドル58のリング
部材59がこのストッパ70に引っ掛かって、第2スピ
ンドル58がばね60の付勢力で他端側に飛び出さない
ようにされる。
【0029】ここで、第1スピンドル11の雄ねじ13
と筒体2の雌ねじ4は右ねじであるのに対して、伸測ロ
ッド本体51の雌ねじ56とシンブル20の雄ねじ25
は左ねじに形成されている。本実施形態においては、伸
測ロッド50の第2スピンドル58は25mmである。
【0030】測定にあたっては、被測定対象に応じて、
内側マイクロメータ本体1に、アンビル30と伸測カラ
ー40と伸測ロッド50を選択的に使用する。図4に
は、本実施形態における内側マイクロメータの組み立て
構成が示されている。まず、測定にあたり、アンビル3
0を内側マイクロメータ本体1に装着するときは、筒体
2の止めねじ7を弛緩して、アンビル30の一端を筒体
2の他端側開口部3Cから段差31によって止まるまで
挿入し、止めねじ5の押圧で固定する。また、伸測カラ
ー40を使用する際は、アンビル30を伸測カラー40
の貫通孔41を通して筒体2の貫通孔3の他端側に挿入
する。一方、伸測ロッド50を装着するには、キャップ
26を外し、シンブル20の雄ねじ25に伸測ロッド5
0の雌ねじ56を螺合する。
【0031】図5には、内側マイクロメータ本体1に、
アンビル30と伸測ロッド50が装着された状態が示さ
れている。この状態では、第1スピンドル11が第2ス
ピンドル58の長さの分だけ延長された構成となる。つ
まり、シンブル20が回転すると、第1スピンドル11
が進退され、第1スピンドル11とともに、シンブル2
0と伸測ロッド50の第2スピンドル58が一体的に進
退されるので、第2スピンドル58の一端とアンビル3
0の測定子32とを被測定対象に当接させることによっ
て、被測定対象の被測定部位の寸法を測定することがで
きる。
【0032】図6には、内側マイクロメータ本体1に、
アンビル30と伸測ロッド50と伸測カラー40を装着
した状態が示されている。この状態では、第1スピンド
ルが第2スピンドルの分だけ延長され、加えて、アンビ
ル30が伸測カラー40の長さの分だけ延長されてい
る。よって、シンブル20を回転させて、被測定対象に
アンビル30の測定子32と第2スピンドル58の一端
を当接させることによって、被測定対象の被測定部位の
寸法を測定することができる。
【0033】このような本実施形態の内側マイクロメー
タによれば以下の効果がある。シンブル20を回転させ
ると、第1スピンドル11がシンブルとともに回転す
る。このとき、第1スピンドル11の雄ねじ13と筒体
2の雌ねじ4が螺合しているので、このねじ4,13の
ピッチに従って第1スピンドル11が筒体2の一端側か
ら進退できる。このときの第1スピンドル11の作動距
離を筒体2およびシンブル20に設けられた目盛り7、
23から読み取ることで、被測定対象を測定できる。
【0034】本実施形態においては、内側マイクロメー
タ本体1の第1スピンドル11の作動距離が13mm、
伸測カラー40が12mm、伸測ロッド50が25mm
であって、アンビル30として50mm用、100mm
用、150mm用、200mm用、250mm用が用意
されている。よって、図7に示されるように、50mm
から300mmまですべてを測定領域とすることができ
る。
【0035】つまり、50mm用アンビル30だけを内
側マイクロメータ本体1に装着したときには、50mm
〜63mmまでを測定領域とすることができる。50m
m用アンビル30と12mmの伸測カラー40を使用し
たときは、62mm〜75mmまでを測定領域とするこ
とができる。伸測カラー40をはずして、50mmアン
ビル30と25mmの伸測ロッド50を使用したとき
は、75mm〜88mmまでを測定領域とすることがで
きる。50mmアンビル30と伸測カラー40と伸測ロ
ッド50を使用したときは、87〜100までを測定領
域とするできる。よって、50mm用アンビル30に伸
測カラー40と伸測ロッド50を用いることによって、
50mm〜100mmまでのすべての領域を測定領域と
することができる。
【0036】以降、50mm用アンビル30を100m
m用アンビル30に変えて、上記と同様に伸測カラー4
0、伸測ロッド50を選択的に用いることで、100m
mから150mmまでを測定領域とすることができる。
本実施形態においては、50mmずつ長さの異なるアン
ビル30を250mm用まで用意しているので、50m
mから300mmまでのすべてを測定領域とすることが
できる。また、さらに300mm、350mm用という
ように、50mmずつ長さの異なるアンビル30を用意
することによって、測定領域を連続させて延長していく
ことができる。
【0037】伸測ロッド50を使用しない従来技術で
は、内側マイクロメータ本体1の作動距離が13mm、
伸測カラー40が12mmというように、伸測ロッド5
0以外は本実施形態と同じであるとき、連続した測定領
域を得るためには25mmずつ長さ寸法の異なるアンビ
ル30を用意する必要があった。つまり、50mm〜3
00mmまでを測定領域とするためには、50mm、7
5mm、100mm、125mm、150mm、175
mm、200mm、225mm、250mm、275m
m用の10本のアンビル30を用意していた。これに対
して、25mmの伸測ロッド50を使用する本実施形態
では上述のように5本のアンビル30を用意すれば良い
ので、部品点数を減らすことができ、コストの削減が可
能となる。さらに、75mm、125mm、175m
m、225mm、275mm用のアンビル30は部品の
中でも大きな部品であることから、これを削減すること
により、収納ケースを小さくでき、単なる部品点数の削
減以上に携帯性において顕著な効果を奏することができ
る。
【0038】伸測ロッド50において、第2スピンドル
58は、ばね60によって他端側、つまり第1スピンド
ルに向かって付勢されており、伸測ロッド本体51の貫
通孔52内で軸方向進退可能であるので、内側マイクロ
メータ本体1の他端側に装着されると、第2スピンドル
58は、第1スピンドル11の測定子15の一端に押さ
れて一端側に移動することができる。このとき、ばね6
0の付勢力によって第1スピンドル11と第2スピンド
ル58は隙間なく密接することができるので、第1スピ
ンドル11が第2スピンドル58の長さ分、本実施形態
においては25mmだけ、正確に延長されたことと等し
くできる。さらに、内側マイクロメータ本体1のシンブ
ル20の他端側から突出する測定子15の長さが変わっ
たとしても、第2スピンドル58はばね60の付勢力に
よって、柔軟にその位置をかえることができる。つま
り、第1スピンドル11、測定子15、第2スピンドル
58は完全一体となって移動するので、測定精度の低下
を招くことがない。
【0039】シンブル20の第2筒部24には雄ねじ2
5が設けられ、伸測ロッド本体51の貫通孔の他端側に
は雌ねじ56が設けられているので、内側マイクロメー
タ本体1に対して、伸測ロッド50をねじによる螺合に
よって簡便に着脱することができる。さらに、上記螺合
によって、シンブル20と伸測ロッド50が一体となる
ことから、シンブル20の回転によって第1スピンドル
11がシンブル20とともに移動したとき、伸測ロッド
50の第2スピンドル58も一体的に移動することがで
きる。
【0040】第1スピンドル11の雄ねじ13と筒体2
の雌ねじ4が右ねじであるのに対して、伸測ロッド本体
51の雌ねじ56とシンブル20の雄ねじ25は左ねじ
に設けられているので、第1スピンドル11を筒体2か
ら進出するようにシンブル20を右回転させるときに、
伸測ロッド50に設けられたローレット57をもって回
転させても、伸測ロッド50が外れることはない。よっ
て、操作性に優れたものとすることができる。
【0041】本実施形態の内側マイクロメータ本体1の
構造と従来のそれを比較すると以下の点で異なる。本実
施形態における筒体2は、従来技術では、図9に示され
るように、内筒2Aと外筒2Bの別体となっていた。つ
まり、一端側付近の内周に雌ねじ4を有する貫通孔3を
備えた円筒状の内筒2Aと、この内筒2Aの外側に装着
された円筒状の外筒2Bとから構成されていた。これ
は、内筒2Aに刻印加工によって目盛り7を刻印加工す
るときに内筒2Aが変形するため、内筒2Aとは別体の
外筒2Bに目盛り7を刻んでいたことによる。しかし、
本実施形態では、筒体2に直接レーザーマーキングで目
盛り7を加工することにより、筒体2の変形を防ぐこと
ができるので、図2に示されるように、従来の内筒2A
と外筒2Bを筒体2に一体化している。これにより部品
点数を削減し、また、加工工程を簡素化することがで
き、コストを削減することができる。
【0042】従来技術では、図9に示されるように、第
1スピンドル軸12と測定子15は別体であり、第1ス
ピンドル軸12には貫通孔14が設けられ、この貫通孔
14の一端側開口部付近の内周と測定子15が螺合され
ていた。さらに、シンブル20の貫通孔21の一端側開
口部21Aと第1スピンドル軸12の一端側外周には、
一端側から他端側へ向かって拡径するテーパー27Aが
設けられ、互いに嵌めあわされた後、測定子15に螺合
されたナット27Bによって締め付けることによって、
第1スピンドル軸12と測定子15、シンブル20が一
体化する構造となっていた。これに対し、本実施形態に
おいては、図2に示されるように、第1スピンドル軸1
2と測定子15は一体形成され、第1スピンドル軸12
とシンブル20のテーパーが廃止され、シンブル20と
測定子15が押圧ねじ27の押圧によって固定される構
成となっているので、部品点数の削減および加工工程の
簡素化をすることができ、コストを削減することができ
る。
【0043】従来は、内筒2の一端側にスリット3Aが
軸方向に数本設けられ、内筒2の一端側の外側からナッ
ト3Bの螺合によって締め付けられ、第1スピンドル1
1と内筒2が正確に螺合する構成となっていた。これ
は、第1スピンドル11を頻繁に回転させることで、第
1スピンドル11と内筒2のねじ4,13のがたが生じ
た場合、ナット3Bの締め付けによって、ねじ4、13
の間のクリアランスを調節するためであった。しかし、
内側マイクロメータの使用形態は限界ゲージの測定が主
であり、第1スピンドル11が頻繁に回転させられて、
ねじ4と13の間にクリアランスが生じる可能性は少な
い。そこで、本実施形態では、上記のスリット3Aとナ
ット3Bは廃止されている。その結果、部品点数を削減
し、加工工程を簡素化することができるので、コストを
削減することができる。
【0044】尚、本発明の内側マイクロメータは、上述
の実施例にのみ限定されるものではなく、本発明の要旨
を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは
勿論である。第2延長部材としては、本実施形態では伸
測ロッド本体51の貫通孔52に第2スピンドル58が
設けられた伸測ロッド50を、シンブル20に螺合して
いるが、第2スピンドル58を第1スピンドル11に継
ぎ足せるものであれば、形態は上記に限定されない。例
えば、第1スピンドル11の一端側と第2スピンドル5
8の他端側を単に螺合しても良い。また、螺合でなくと
も、継ぎ輪や磁力で固定するなど方法は問わない。第2
スピンドル58を付勢する付勢手段はばね60でなくて
も、弾性体であればよい。もしくは、第1スピンドル1
1の一端と第2スピンドル58の他端に磁石を設けるな
ど、第1スピンドル11と第2スピンドル58が密接す
る形になれば、方法は問わない。
【0045】前記実施形態では、シンブルの一端側に雄
ねじを設け、伸測ロッド本体の他端側に雌ねじを設けて
螺合したが、逆に、シンブルの一端側が雌ねじで、伸測
ロッド本体の他端側が雄ねじでもよい。前記実施形態で
は、内側マイクロメータ本体1の第1スピンドル11の
作動距離が13mm、伸測カラー40が12mm、伸測
ロッド50の第2スピンドル58が25mm、アンビル
30の長さ寸法の違いが50mmとしたが、請求項2に
示される関係を有する組み合わせであれば、どのような
長さを使用しても連続した測定領域を確保できる。
【0046】
【発明の効果】以上、説明したように、本発明の内側マ
イクロメータによれば、部品点数が少なく、コストが削
減でき、携帯に便利であるという優れた効果を奏し得
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の内側マイクロメータに係る一実施形態
の構成を示す図。
【図2】前記実施形態の内側マイクロメータ本体を側面
からみた半破断図。
【図3】前記実施形態の伸測ロッドを側面からみた半破
断図。
【図4】前記実施形態に係る内側マイクロメータの構成
の分解斜視図。
【図5】前記実施形態の内側マイクロメータにおいて、
内側マイクロメータ本体に伸測ロッドとアンビルを装着
した状態を示す図。
【図6】前記実施形態の内側マイクロメータにおいて、
内側マイクロメータ本体に伸測ロッドと伸測カラーとア
ンビルを装着した状態を示す図。
【図7】前記実施形態において、アンビル、伸測カラ
ー、伸測ロッドを選択的に用いたときの測定領域を示す
図。
【図8】従来の内側マイクロメータの構成を示す図。
【図9】従来の内側マイクロメータ本体を側面からみた
半破断図
【図10】従来の内側マイクロメータにおいて、アンビ
ル、伸測カラーを選択的に用いたときの測定領域を示す
図。
【符号の説明】
1 内側マイクロメータ本体 2 筒体 3 筒体の貫通孔 4 筒体の貫通孔の雌ねじ 13 第1スピンドルの雄ねじ 20 シンブル 21 シンブルの貫通孔 25 シンブルの雄ねじ 30 アンビル 40 伸測カラー(第1延長部材) 41 伸測カラーの貫通孔 50 伸測ロッド(第2延長部材) 51 伸測ロッド本体(第2延長部材本体) 52 伸測ロッド本体の貫通孔 56 伸測ロッド本体の雌ねじ 60 ばね(付勢手段)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 柴橋 稔 広島県東広島市志和町志和東2805−1 株 式会社ミツトヨ内 Fターム(参考) 2F061 AA02 DD40 FF04 FF22 FF34 FF46 FF72 GG22 HH04 JJ02 JJ11 JJ29 JJ42 JJ68 QQ03 QQ12 QQ14

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 貫通孔の内周に雌ねじを有する円筒形の
    筒体と、前記雌ねじに螺合して前記貫通孔の一端側から
    軸方向進退可能に設けられた第1スピンドルと、前記第
    1スピンドルと一体回転可能で前記筒体の外側に設けら
    たシンブルとを備える内側マイクロメータ本体に対し
    て、長さ寸法が一定寸法ずつ異なり、前記筒体の貫通孔
    の他端側に着脱可能な複数本のアンビルと、前記アンビ
    ルが挿入される貫通孔を有し、前記筒体の他端側と前記
    アンビルとの間に介装される第1延長部材とを選択的に
    用いて測定領域を設定調整可能とする内側マイクロメー
    タにおいて、 前記第1スピンドルの一端側に着脱可能かつ選択的に装
    着され、前記第1スピンドルとともに進退する第2スピ
    ンドルを有する第2延長部材を備えたことを特徴とする
    内側マイクロメータ。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の内側マイクロメータに
    おいて、 前記第1スピンドルの作動距離をv、前記第1延長部材
    の長さをk、前記第2延長部材の前記第2スピンドルの
    長さをs、前記アンビルの長さ寸法の違いをdとしたと
    き、 k≦v、s≦v+k、d≦v+k+s の関係を有することを特徴とする内側マイクロメータ。
  3. 【請求項3】 請求項1または2に記載の内側マイクロ
    メータにおいて、前記第2延長部材は、前記シンブルの
    一端側に着脱可能に装着され、中心に貫通孔を有する第
    2延長部材本体と、前記第2延長部材の貫通孔の一端側
    から軸方向進退可能に設けられた第2スピンドルと、前
    記第2スピンドルを前記第1スピンドルへ向かって付勢
    する付勢手段とを備えることを特徴とする内側マイクロ
    メータ。
  4. 【請求項4】 請求項1〜3のいずれかに記載の内側マ
    イクロメータにおいて、 前記第2延長部材本体の他端側および前記シンブルの一
    端側のいずれか一方に雄ねじが設けられ、前記第2延長
    部材本体の他端側および前記シンブルの一端側のいずれ
    か他方に前記雄ねじに螺合する雌ねじが設けられること
    を特徴とする内側マイクロメータ。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010025874A (ja) * 2008-07-24 2010-02-04 Ono Sokki Co Ltd リニアゲージ
JP2015515615A (ja) * 2012-03-23 2015-05-28 シュネデール トウシバ インヴェルテル ウーロップ エス アー エスSchneider Toshiba Inverter Europe Sas テストフィンガー
KR101654469B1 (ko) * 2015-05-19 2016-09-05 두산중공업 주식회사 마이크로미터
WO2019240025A1 (ja) * 2018-06-12 2019-12-19 株式会社ミツトヨ デジタル式マイクロメータ
JP2020193831A (ja) * 2019-05-25 2020-12-03 株式会社ミツトヨ デジタル式マイクロメータ

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1515112B1 (en) * 2003-06-09 2013-03-27 Mitutoyo Corporation Measuring instrument
CN102261882B (zh) * 2011-04-22 2012-11-21 合肥工业大学 六爪双测位内径测量仪
CN104048584A (zh) * 2014-06-20 2014-09-17 山东电力建设第一工程公司 发电机内部空气间隙测量装置
US9482509B2 (en) * 2014-12-12 2016-11-01 Mitutoyo Corporation Ergonomic micrometer including two modes of adjustment
FR3036472B1 (fr) * 2015-04-20 2018-08-17 Alain Philippe Roger Thomas Tampon filete double et simple gradue mesureur de longueur et diametre filete
USD952487S1 (en) * 2020-04-14 2022-05-24 Ching-Lung Lin Thickness measurement tool

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US347844A (en) * 1886-08-24 Micrometer inside calipers
US726003A (en) * 1902-01-17 1903-04-21 Laroy S Starrett Inside micrometer.
US1267946A (en) * 1916-08-28 1918-05-28 Emerick Wester Micrometer.
US2134516A (en) * 1935-01-11 1938-10-25 Brown & Sharpe Mfg Gauge
US2193939A (en) * 1938-02-10 1940-03-19 Walter E Sanford Micrometer
US2287097A (en) * 1940-01-09 1942-06-23 Tom C Graham Micrometer gauge for internal threads
US2607999A (en) * 1950-05-05 1952-08-26 Curtis Company Micrometer caliper
US2847764A (en) * 1953-11-05 1958-08-19 Schaerer & Co A G W Instrument for measuring great lengths
US4547970A (en) 1984-08-03 1985-10-22 Brewster Albert L Thread anvils for inside micrometer
US5345692A (en) * 1992-12-28 1994-09-13 Babitchenko Rafail N Accessories for outside micrometers and calipers
US6286227B1 (en) 1998-08-03 2001-09-11 General Electric Company Micrometer system and process of use therefor

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010025874A (ja) * 2008-07-24 2010-02-04 Ono Sokki Co Ltd リニアゲージ
JP2015515615A (ja) * 2012-03-23 2015-05-28 シュネデール トウシバ インヴェルテル ウーロップ エス アー エスSchneider Toshiba Inverter Europe Sas テストフィンガー
KR101654469B1 (ko) * 2015-05-19 2016-09-05 두산중공업 주식회사 마이크로미터
WO2019240025A1 (ja) * 2018-06-12 2019-12-19 株式会社ミツトヨ デジタル式マイクロメータ
US11821724B2 (en) 2018-06-12 2023-11-21 Mitutoyo Corporation Digital micrometer
JP2020193831A (ja) * 2019-05-25 2020-12-03 株式会社ミツトヨ デジタル式マイクロメータ
JP7360817B2 (ja) 2019-05-25 2023-10-13 株式会社ミツトヨ デジタル式マイクロメータ

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