JP2000091304A - 試料の分離装置及び分離方法及び分離の監視装置並びに基板の製造方法 - Google Patents
試料の分離装置及び分離方法及び分離の監視装置並びに基板の製造方法Info
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- JP2000091304A JP2000091304A JP10255636A JP25563698A JP2000091304A JP 2000091304 A JP2000091304 A JP 2000091304A JP 10255636 A JP10255636 A JP 10255636A JP 25563698 A JP25563698 A JP 25563698A JP 2000091304 A JP2000091304 A JP 2000091304A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】貼り合わせ基板の分離の完了を検知することに
より、分離の完了後に直ちに次の処理に移行する。 【解決手段】貼り合わせ基板101を基板保持部104
及び105により回転させながらノズル118から水を
噴射して、該貼り合わせ基板101を2枚の基板101
a及び101cに分離する。貼り合わせ基板101が2
枚の基板101a及び101cに分離されると、基板1
01aと基板101cとの間に連続的に注入される水の
圧力により基板101cが移動する。これにより基板保
持部105及び回転軸105が後退し、その変位が変位
センサ109により検知される。従って、基板保持部1
05及び回転軸105の変位が所定量を越えた場合に、
貼り合わせ基板101の分離の完了を検知することがで
きる。
より、分離の完了後に直ちに次の処理に移行する。 【解決手段】貼り合わせ基板101を基板保持部104
及び105により回転させながらノズル118から水を
噴射して、該貼り合わせ基板101を2枚の基板101
a及び101cに分離する。貼り合わせ基板101が2
枚の基板101a及び101cに分離されると、基板1
01aと基板101cとの間に連続的に注入される水の
圧力により基板101cが移動する。これにより基板保
持部105及び回転軸105が後退し、その変位が変位
センサ109により検知される。従って、基板保持部1
05及び回転軸105の変位が所定量を越えた場合に、
貼り合わせ基板101の分離の完了を検知することがで
きる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、試料の分離装置及
び分離方法及び分離の監視装置並びに基板の製造方法に
関する。
び分離方法及び分離の監視装置並びに基板の製造方法に
関する。
【0002】
【従来の技術】絶縁層上に単結晶Si層を有する基板と
して、SOI(silicon on insulator)構造を有する基
板(SOI基板)が知られている。このSOI基板を採
用したデバイスは、通常のSi基板では達成し得ない数
々の優位点を有する。この優位点としては、例えば、以
下のものが挙げられる。 (1)誘電体分離が容易で高集積化に適している。 (2)放射線耐性に優れている。 (3)浮遊容量が小さく、素子の動作速度の高速化が可
能である。 (4)ウェル工程が不要である。 (5)ラッチアップを防止できる。 (6)薄膜化による完全な空乏型電解効果トランジスタ
の形成が可能である。
して、SOI(silicon on insulator)構造を有する基
板(SOI基板)が知られている。このSOI基板を採
用したデバイスは、通常のSi基板では達成し得ない数
々の優位点を有する。この優位点としては、例えば、以
下のものが挙げられる。 (1)誘電体分離が容易で高集積化に適している。 (2)放射線耐性に優れている。 (3)浮遊容量が小さく、素子の動作速度の高速化が可
能である。 (4)ウェル工程が不要である。 (5)ラッチアップを防止できる。 (6)薄膜化による完全な空乏型電解効果トランジスタ
の形成が可能である。
【0003】SOI構造は、上記のような様々な優位点
を有するため、ここ数十年、その形成方法に関する研究
が進められてきた。
を有するため、ここ数十年、その形成方法に関する研究
が進められてきた。
【0004】SOI技術としては、古くは、単結晶サフ
ァイア基板上にSiをCVD(化学気層成長)法でヘテ
ロエピタキシ成長させて形成するSOS(silicon on s
apphire)技術が知られている。このSOS技術は、最
も成熟したSOI技術として一応の評価を得たものの、
Si層と下地のサファイア基板との界面における格子不
整合による大量の結晶欠陥の発生、サファイア基板を構
成するアルミニウムのSi層への混入、基板の価格、大
面積化への遅れ等の理由により実用化が進んでいない。
ァイア基板上にSiをCVD(化学気層成長)法でヘテ
ロエピタキシ成長させて形成するSOS(silicon on s
apphire)技術が知られている。このSOS技術は、最
も成熟したSOI技術として一応の評価を得たものの、
Si層と下地のサファイア基板との界面における格子不
整合による大量の結晶欠陥の発生、サファイア基板を構
成するアルミニウムのSi層への混入、基板の価格、大
面積化への遅れ等の理由により実用化が進んでいない。
【0005】SOS技術に次いで各種SOI技術が登場
した。このSOI技術に関して、結晶欠陥の低減や製造
コストの低減等を目指して様々な方法が試みられてき
た。この方法としては、基板に酸素イオンを注入して埋
め込み酸化層を形成する方法、酸化膜を挟んで2枚のウ
ェハを貼り合わせて一方のウェハを研磨又はエッチング
して、薄い単結晶Si層を酸化膜上に残す方法、更に
は、酸化膜が形成されたSi基板の表面から所定の深さ
に水素イオンを打ち込み、他方の基板と貼り合わせた後
に、加熱処理等により該酸化膜上に薄い単結晶Si層を
残して、貼り合わせた基板(他方の基板)を剥離する方
法等が挙げられる。
した。このSOI技術に関して、結晶欠陥の低減や製造
コストの低減等を目指して様々な方法が試みられてき
た。この方法としては、基板に酸素イオンを注入して埋
め込み酸化層を形成する方法、酸化膜を挟んで2枚のウ
ェハを貼り合わせて一方のウェハを研磨又はエッチング
して、薄い単結晶Si層を酸化膜上に残す方法、更に
は、酸化膜が形成されたSi基板の表面から所定の深さ
に水素イオンを打ち込み、他方の基板と貼り合わせた後
に、加熱処理等により該酸化膜上に薄い単結晶Si層を
残して、貼り合わせた基板(他方の基板)を剥離する方
法等が挙げられる。
【0006】本出願人は、特開平5−21338号にお
いて、新たなSOI技術を開示した。この技術は、多孔
質層が形成された単結晶半導体基板上に非多孔質単結晶
層(単結晶Si層を含む)を形成した第1の基板を、絶
縁層を介して第2の基板に貼り合わせ、その後、多孔質
層で両基板を分離し、第2の基板に非多孔質単結晶層を
移し取るものである。この技術は、SOI層の膜厚均一
性が優れていること、SOI層の結晶欠陥密度を低減し
得ること、SOI層の表面平坦性が良好であること、高
価な特殊仕様の製造装置が不要であること、数100Å
〜10μm程度の範囲のSOI膜を有するSOI基板を
同一の製造装置で製造可能なこと等の点で優れている。
いて、新たなSOI技術を開示した。この技術は、多孔
質層が形成された単結晶半導体基板上に非多孔質単結晶
層(単結晶Si層を含む)を形成した第1の基板を、絶
縁層を介して第2の基板に貼り合わせ、その後、多孔質
層で両基板を分離し、第2の基板に非多孔質単結晶層を
移し取るものである。この技術は、SOI層の膜厚均一
性が優れていること、SOI層の結晶欠陥密度を低減し
得ること、SOI層の表面平坦性が良好であること、高
価な特殊仕様の製造装置が不要であること、数100Å
〜10μm程度の範囲のSOI膜を有するSOI基板を
同一の製造装置で製造可能なこと等の点で優れている。
【0007】更に、本出願人は、特開平7−30288
9号において、上記の第1の基板と第2の基板とを貼り
合わせた後に、第1の基板を破壊することなく第2の基
板から分離し、その後、分離した第1の基板の表面を平
滑にして再度多孔質層を形成し、これを再利用する技術
を開示した。この技術は、第1の基板を無駄なく使用で
きるため、製造コストを大幅に低減することができ、製
造工程も単純であるという優れた利点を有する。
9号において、上記の第1の基板と第2の基板とを貼り
合わせた後に、第1の基板を破壊することなく第2の基
板から分離し、その後、分離した第1の基板の表面を平
滑にして再度多孔質層を形成し、これを再利用する技術
を開示した。この技術は、第1の基板を無駄なく使用で
きるため、製造コストを大幅に低減することができ、製
造工程も単純であるという優れた利点を有する。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上記の技術において、
2枚の基板を貼り合わせた基板(以下、貼り合わせ基
板)を多孔質層で分離する際、基板に損傷を与えること
なく、再現性良く分離することが望まれる。
2枚の基板を貼り合わせた基板(以下、貼り合わせ基
板)を多孔質層で分離する際、基板に損傷を与えること
なく、再現性良く分離することが望まれる。
【0009】本発明は、上記の背景に鑑みてなされたも
のであり、流体を利用した試料の分離処理を効率化する
ことを目的とする。
のであり、流体を利用した試料の分離処理を効率化する
ことを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の第1の側面に係
る分離装置は、流体により試料を分離する分離装置であ
って、試料を保持する保持機構と、前記保持機構により
保持された試料に向けて流体を噴射して該流体により該
試料を分離する分離処理部と、前記分離処理部による試
料の分離の状況を検知する検知部と、前記検知部による
検知結果に基づいて前記分離処理部を制御する制御部と
を備えることを特徴とする。
る分離装置は、流体により試料を分離する分離装置であ
って、試料を保持する保持機構と、前記保持機構により
保持された試料に向けて流体を噴射して該流体により該
試料を分離する分離処理部と、前記分離処理部による試
料の分離の状況を検知する検知部と、前記検知部による
検知結果に基づいて前記分離処理部を制御する制御部と
を備えることを特徴とする。
【0011】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、前記制御部は、例えば、前記検知部による検知結果
に基づいて試料の分離が完了したことを認識した際に、
これに基づいて前記分離処理部による分離処理を停止さ
せることが好ましい。
て、前記制御部は、例えば、前記検知部による検知結果
に基づいて試料の分離が完了したことを認識した際に、
これに基づいて前記分離処理部による分離処理を停止さ
せることが好ましい。
【0012】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、前記検知部は、例えば、前記分離処理部による分離
処理の進行に伴って移動する部材の変位を検知すること
が好ましい。
て、前記検知部は、例えば、前記分離処理部による分離
処理の進行に伴って移動する部材の変位を検知すること
が好ましい。
【0013】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、前記検知部は、例えば、前記分離処理部による分離
処理の際に、前記保持機構により保持された試料の変位
を検知することが好ましい。
て、前記検知部は、例えば、前記分離処理部による分離
処理の際に、前記保持機構により保持された試料の変位
を検知することが好ましい。
【0014】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、前記検知部は、例えば、前記分離処理部による分離
処理の際に、試料を保持している前記保持機構の変位を
検知することが好ましい。
て、前記検知部は、例えば、前記分離処理部による分離
処理の際に、試料を保持している前記保持機構の変位を
検知することが好ましい。
【0015】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、例えば、前記保持機構は、試料を両側から挟むよう
にして保持する一対の保持部を有し、前記検知部は、前
記分離処理部による分離処理の際に、前記一対の保持部
の少なくとも一方の変位を検知することが好ましい。
て、例えば、前記保持機構は、試料を両側から挟むよう
にして保持する一対の保持部を有し、前記検知部は、前
記分離処理部による分離処理の際に、前記一対の保持部
の少なくとも一方の変位を検知することが好ましい。
【0016】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、前記検知部は、例えば、非接触型の変位センサを含
むことが好ましい。
て、前記検知部は、例えば、非接触型の変位センサを含
むことが好ましい。
【0017】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、前記分離処理部は、例えば、前記噴射部が流体を噴
射する方向に略直交する軸を中心として前記保持機構を
回転させる回転源を有し、前記回転源により試料を回転
させながら分離処理を進めることが好ましい。
て、前記分離処理部は、例えば、前記噴射部が流体を噴
射する方向に略直交する軸を中心として前記保持機構を
回転させる回転源を有し、前記回転源により試料を回転
させながら分離処理を進めることが好ましい。
【0018】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、前記保持機構は、例えば、試料の中央部付近を保持
することが好ましい。
て、前記保持機構は、例えば、試料の中央部付近を保持
することが好ましい。
【0019】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、例えば、前記試料は、板状の試料であり、前記保持
機構は、該試料を両側から挟むようにして押圧して保持
することが好ましい。
て、例えば、前記試料は、板状の試料であり、前記保持
機構は、該試料を両側から挟むようにして押圧して保持
することが好ましい。
【0020】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、例えば、前記試料は、内部に脆弱な層を有する板状
の試料であり、前記保持機構は、該試料を両側から挟む
ようして押圧して保持し、前記分離処理部は、該試料を
前記脆弱な層で2枚に分離することが好ましい。
て、例えば、前記試料は、内部に脆弱な層を有する板状
の試料であり、前記保持機構は、該試料を両側から挟む
ようして押圧して保持し、前記分離処理部は、該試料を
前記脆弱な層で2枚に分離することが好ましい。
【0021】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、前記検知部は、例えば、前記分離処理部による分離
処理の際に、試料を保持している前記保持機構が該試料
から受ける力を検知することが好ましい。
て、前記検知部は、例えば、前記分離処理部による分離
処理の際に、試料を保持している前記保持機構が該試料
から受ける力を検知することが好ましい。
【0022】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、前記検知部は、例えば、圧力センサを含むことが好
ましい。
て、前記検知部は、例えば、圧力センサを含むことが好
ましい。
【0023】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、前記分離処理部は、例えば、前記噴射部が流体を噴
射する方向に略直交する軸を中心として前記保持機構を
回転させる回転源を有し、前記回転源により試料を回転
させながら分離処理を進めることが好ましい。
て、前記分離処理部は、例えば、前記噴射部が流体を噴
射する方向に略直交する軸を中心として前記保持機構を
回転させる回転源を有し、前記回転源により試料を回転
させながら分離処理を進めることが好ましい。
【0024】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、前記保持機構は、試料の中央部付近を保持すること
が好ましい。
て、前記保持機構は、試料の中央部付近を保持すること
が好ましい。
【0025】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、例えば、前記試料は、板状の試料であり、前記保持
機構は、該試料を両側から挟むようにして押圧して保持
することが好ましい。
て、例えば、前記試料は、板状の試料であり、前記保持
機構は、該試料を両側から挟むようにして押圧して保持
することが好ましい。
【0026】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、例えば、前記試料は、内部に脆弱な層を有する板状
の試料であり、前記保持機構は、該試料を両側から挟む
ようして押圧して保持し、前記分離処理部は、該試料を
前記脆弱な層で2枚に分離することが好ましい。
て、例えば、前記試料は、内部に脆弱な層を有する板状
の試料であり、前記保持機構は、該試料を両側から挟む
ようして押圧して保持し、前記分離処理部は、該試料を
前記脆弱な層で2枚に分離することが好ましい。
【0027】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、例えば、前記試料は、円盤形状を有し、前記分離処
理部は、該試料の中心軸を中心として該試料が回転する
ように前記保持機構を回転させる回転源を有し、前記回
転源により該試料を回転させながら分離処理を進めるこ
とが好ましい。
て、例えば、前記試料は、円盤形状を有し、前記分離処
理部は、該試料の中心軸を中心として該試料が回転する
ように前記保持機構を回転させる回転源を有し、前記回
転源により該試料を回転させながら分離処理を進めるこ
とが好ましい。
【0028】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、例えば、前記試料は、円盤形状を有し、前記保持機
構は、該試料を両側から挟むようにして押圧して保持す
る一対の保持部を有し、前記分離処理部は、該試料の中
心軸を中心として該試料が回転するように前記一対の保
持部のうち一方の保持部に回転力を伝達する回転源を有
し、前記回転源により該試料を回転させながら分離処理
を進めることが好ましい。
て、例えば、前記試料は、円盤形状を有し、前記保持機
構は、該試料を両側から挟むようにして押圧して保持す
る一対の保持部を有し、前記分離処理部は、該試料の中
心軸を中心として該試料が回転するように前記一対の保
持部のうち一方の保持部に回転力を伝達する回転源を有
し、前記回転源により該試料を回転させながら分離処理
を進めることが好ましい。
【0029】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、前記検知部は、例えば、前記一対の保持部のうち他
方の保持部が回転しているか否かを検知するセンサを有
し、前記センサの出力に基づいて、試料の分離が完了し
たか否かを検知することが好ましい。
て、前記検知部は、例えば、前記一対の保持部のうち他
方の保持部が回転しているか否かを検知するセンサを有
し、前記センサの出力に基づいて、試料の分離が完了し
たか否かを検知することが好ましい。
【0030】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、前記試料は、例えば、その外周部に位置決め部を有
し、前記検知部は、例えば、前記位置決め部が回転しな
がら所定の時間間隔で所定の位置を通過しているか否か
を検知するフォトインタラプタを有し、前記フォトイン
タラプタの出力に基づいて、該試料が分離されたか否か
を検知することが好ましい。
て、前記試料は、例えば、その外周部に位置決め部を有
し、前記検知部は、例えば、前記位置決め部が回転しな
がら所定の時間間隔で所定の位置を通過しているか否か
を検知するフォトインタラプタを有し、前記フォトイン
タラプタの出力に基づいて、該試料が分離されたか否か
を検知することが好ましい。
【0031】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、前記検知部は、例えば、前記フォトインタラプタの
出力が所定時間継続して略一定の値になった場合に、試
料の分離が完了したことを検知することが好ましい。
て、前記検知部は、例えば、前記フォトインタラプタの
出力が所定時間継続して略一定の値になった場合に、試
料の分離が完了したことを検知することが好ましい。
【0032】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、前記検知部は、例えば、少なくとも2組の前記フォ
トインタラプタを別個の位置に有し、前記少なくとも2
組のフォトインタラプタの出力に基づいて、試料が分離
されたか否かを検知することが好ましい。
て、前記検知部は、例えば、少なくとも2組の前記フォ
トインタラプタを別個の位置に有し、前記少なくとも2
組のフォトインタラプタの出力に基づいて、試料が分離
されたか否かを検知することが好ましい。
【0033】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、前記検知部は、例えば、前記少なくとも2組のフォ
トインタラプタの出力のうち少なくとも1つの出力が所
定時間継続して略一定の値になった場合に、試料の分離
が完了したことを検知することが好ましい。
て、前記検知部は、例えば、前記少なくとも2組のフォ
トインタラプタの出力のうち少なくとも1つの出力が所
定時間継続して略一定の値になった場合に、試料の分離
が完了したことを検知することが好ましい。
【0034】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、前記保持機構は、試料の中央部付近を保持すること
が好ましい。
て、前記保持機構は、試料の中央部付近を保持すること
が好ましい。
【0035】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、例えば、前記試料は、内部に脆弱な層を有する板状
の試料であり、前記分離処理部は、該試料を前記脆弱な
層で2枚に分離することが好ましい。
て、例えば、前記試料は、内部に脆弱な層を有する板状
の試料であり、前記分離処理部は、該試料を前記脆弱な
層で2枚に分離することが好ましい。
【0036】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、前記検知部は、例えば、試料を両側に引っ張るため
の駆動機構と、前記駆動機構により試料を両側に引っ張
った際の前記駆動機構の変位を検知する変位検知部とを
有することが好ましい。
て、前記検知部は、例えば、試料を両側に引っ張るため
の駆動機構と、前記駆動機構により試料を両側に引っ張
った際の前記駆動機構の変位を検知する変位検知部とを
有することが好ましい。
【0037】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、例えば、前記保持機構は、試料を両側から挟むよう
にして保持する一対の保持部を有し、前記検知部は、前
記一対の保持部に試料を吸着させた状態で前記一対の保
持部の間隔を広げるように前記一対の保持部に駆動力を
作用させる駆動機構と、前記駆動機構が前記一対の保持
部に駆動力を作用させた際の前記一対の保持部の少なく
とも一方の変位を検知する変位検知部とを有することが
好ましい。
て、例えば、前記保持機構は、試料を両側から挟むよう
にして保持する一対の保持部を有し、前記検知部は、前
記一対の保持部に試料を吸着させた状態で前記一対の保
持部の間隔を広げるように前記一対の保持部に駆動力を
作用させる駆動機構と、前記駆動機構が前記一対の保持
部に駆動力を作用させた際の前記一対の保持部の少なく
とも一方の変位を検知する変位検知部とを有することが
好ましい。
【0038】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、前記変位検出部は、例えば、非接触型の変位センサ
を含むことが好ましい。
て、前記変位検出部は、例えば、非接触型の変位センサ
を含むことが好ましい。
【0039】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、前記分離処理部は、例えば、前記噴射部が流体を噴
射する方向に略直交する軸を中心として前記保持機構を
回転させる回転源を有し、前記回転源により試料を回転
させながら分離処理を進めるこが好ましい。
て、前記分離処理部は、例えば、前記噴射部が流体を噴
射する方向に略直交する軸を中心として前記保持機構を
回転させる回転源を有し、前記回転源により試料を回転
させながら分離処理を進めるこが好ましい。
【0040】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、前記保持機構は、例えば、試料の中央部付近を保持
することが好ましい。
て、前記保持機構は、例えば、試料の中央部付近を保持
することが好ましい。
【0041】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、例えば、前記試料は、板状の試料であり、前記保持
機構は、該試料を両側から挟むようにして押圧して保持
することが好ましい。
て、例えば、前記試料は、板状の試料であり、前記保持
機構は、該試料を両側から挟むようにして押圧して保持
することが好ましい。
【0042】上記の第1の側面に係る分離装置におい
て、例えば、前記試料は、内部に脆弱な層を有する板状
の試料であり、前記保持機構は、該試料を両側から挟む
ようして押圧して保持し、前記分離処理部は、該試料を
前記脆弱な層で2枚に分離することが好ましい。
て、例えば、前記試料は、内部に脆弱な層を有する板状
の試料であり、前記保持機構は、該試料を両側から挟む
ようして押圧して保持し、前記分離処理部は、該試料を
前記脆弱な層で2枚に分離することが好ましい。
【0043】本発明の第2の側面に係る分離方法は、流
体により試料を分離する分離方法であって、試料に向け
て流体を噴射しながら該流体により該試料を分離する分
離工程と、前記分離工程における試料の分離の状況を検
知する検知工程と、前記検知工程における検知結果に基
づいて前記分離工程を制御する制御工程とを有すること
を特徴とする。
体により試料を分離する分離方法であって、試料に向け
て流体を噴射しながら該流体により該試料を分離する分
離工程と、前記分離工程における試料の分離の状況を検
知する検知工程と、前記検知工程における検知結果に基
づいて前記分離工程を制御する制御工程とを有すること
を特徴とする。
【0044】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記制御工程では、例えば、前記検知工程における
検知結果に基づいて試料の分離が完了したことを認識し
た際に、これに基づいて前記分離工程を終了させること
が好ましい。
て、前記制御工程では、例えば、前記検知工程における
検知結果に基づいて試料の分離が完了したことを認識し
た際に、これに基づいて前記分離工程を終了させること
が好ましい。
【0045】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記検知工程では、例えば、前記分離工程の進行に
伴って移動する部材の変位を検知することが好ましい。
て、前記検知工程では、例えば、前記分離工程の進行に
伴って移動する部材の変位を検知することが好ましい。
【0046】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記検知工程では、例えば、前記分離工程の進行中
における試料の変位を検知することが好ましい。
て、前記検知工程では、例えば、前記分離工程の進行中
における試料の変位を検知することが好ましい。
【0047】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記分離工程では、例えば、保持機構により試料を
保持しながら分離し、前記検知工程では、例えば、前記
分離工程の進行中における前記保持機構の変位を検知す
ることが好ましい。
て、前記分離工程では、例えば、保持機構により試料を
保持しながら分離し、前記検知工程では、例えば、前記
分離工程の進行中における前記保持機構の変位を検知す
ることが好ましい。
【0048】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記分離工程では、例えば、一対の保持部により試
料を両側から挟むようにして保持しながら該試料を分離
し、前記検知工程では、例えば、前記分離工程の進行中
における前記一対の保持部の少なくとも一方の変位を検
知することが好ましい。
て、前記分離工程では、例えば、一対の保持部により試
料を両側から挟むようにして保持しながら該試料を分離
し、前記検知工程では、例えば、前記分離工程の進行中
における前記一対の保持部の少なくとも一方の変位を検
知することが好ましい。
【0049】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記検知工程では、例えば、非接触型の変位センサ
により試料の分離の状況を検知することが好ましい。
て、前記検知工程では、例えば、非接触型の変位センサ
により試料の分離の状況を検知することが好ましい。
【0050】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記分離工程では、例えば、流体を噴射する方向に
略直交する軸を中心として試料を回転させながら該試料
を分離することが好ましい。
て、前記分離工程では、例えば、流体を噴射する方向に
略直交する軸を中心として試料を回転させながら該試料
を分離することが好ましい。
【0051】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記分離工程では、例えば、保持機構により試料の
中央部付近を保持した状態で該保持機構を回転させるこ
とにより該試料を回転させることが好ましい。
て、前記分離工程では、例えば、保持機構により試料の
中央部付近を保持した状態で該保持機構を回転させるこ
とにより該試料を回転させることが好ましい。
【0052】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、例えば、前記試料は、板状の試料であり、前記分離
工程では、該試料を両側から挟むようにして押圧して保
持しながら分離することが好ましい。
て、例えば、前記試料は、板状の試料であり、前記分離
工程では、該試料を両側から挟むようにして押圧して保
持しながら分離することが好ましい。
【0053】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、例えば、前記試料は、内部に脆弱な層を有する板状
の試料であり、前記分離工程では、該試料を該脆弱な層
で2枚に分離することが好ましい。
て、例えば、前記試料は、内部に脆弱な層を有する板状
の試料であり、前記分離工程では、該試料を該脆弱な層
で2枚に分離することが好ましい。
【0054】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記分離工程では、例えば、保持機構により試料を
保持しながら分離し、前記検知工程では、例えば、前記
保持機構が該試料から受ける力を検知することが好まし
い。
て、前記分離工程では、例えば、保持機構により試料を
保持しながら分離し、前記検知工程では、例えば、前記
保持機構が該試料から受ける力を検知することが好まし
い。
【0055】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記検知工程では、例えば、圧力センサにより、前
記保持機構が試料から受ける力を検知することが好まし
い。
て、前記検知工程では、例えば、圧力センサにより、前
記保持機構が試料から受ける力を検知することが好まし
い。
【0056】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記分離工程では、例えば、流体を噴射する方向に
略直交する軸を中心として試料を回転させながら該試料
を分離することが好ましい。
て、前記分離工程では、例えば、流体を噴射する方向に
略直交する軸を中心として試料を回転させながら該試料
を分離することが好ましい。
【0057】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記分離工程では、例えば、保持機構により試料の
中央部付近を保持した状態で該保持機構を回転させるこ
とにより該試料を回転させることが好ましい。
て、前記分離工程では、例えば、保持機構により試料の
中央部付近を保持した状態で該保持機構を回転させるこ
とにより該試料を回転させることが好ましい。
【0058】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、例えば、前記試料は、板状の試料であり、前記分離
工程では、該試料を両側から挟むようにして押圧して保
持しながら分離することが好ましい。
て、例えば、前記試料は、板状の試料であり、前記分離
工程では、該試料を両側から挟むようにして押圧して保
持しながら分離することが好ましい。
【0059】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、例えば、前記試料は、内部に脆弱な層を有する板状
の試料であり、前記分離工程では、該試料を該脆弱な層
で2枚に分離することが好ましい。
て、例えば、前記試料は、内部に脆弱な層を有する板状
の試料であり、前記分離工程では、該試料を該脆弱な層
で2枚に分離することが好ましい。
【0060】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記試料は、例えば、円盤形状を有し、前記分離工
程では、例えば、該試料の中心軸を中心として該試料を
回転させながら分離することが好ましい。
て、前記試料は、例えば、円盤形状を有し、前記分離工
程では、例えば、該試料の中心軸を中心として該試料を
回転させながら分離することが好ましい。
【0061】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記試料は、例えば、円盤形状を有し、前記分離工
程では、例えば、一対の保持部により該試料を両側から
挟むようにして押圧して保持した状態で、前記一対の保
持部のうち一方の保持部に回転力を伝達し、これにより
該試料の中心軸を中心として該試料を回転させながら分
離することが好ましい。
て、前記試料は、例えば、円盤形状を有し、前記分離工
程では、例えば、一対の保持部により該試料を両側から
挟むようにして押圧して保持した状態で、前記一対の保
持部のうち一方の保持部に回転力を伝達し、これにより
該試料の中心軸を中心として該試料を回転させながら分
離することが好ましい。
【0062】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記検知工程では、例えば、前記一対の保持部のう
ち他方の保持部が回転しているか否かを検知し、これに
基づいて試料の分離が完了したか否かを検知することが
好ましい。
て、前記検知工程では、例えば、前記一対の保持部のう
ち他方の保持部が回転しているか否かを検知し、これに
基づいて試料の分離が完了したか否かを検知することが
好ましい。
【0063】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記試料は、例えば、その外周部に位置決め部を有
し、前記検知工程では、例えば、フォトインタラプタに
より、前記位置決め部が回転しながら所定の時間間隔で
所定の位置を通過しているか否かを検知し、これに基づ
いて、試料が分離されたか否かを検知することが好まし
い。
て、前記試料は、例えば、その外周部に位置決め部を有
し、前記検知工程では、例えば、フォトインタラプタに
より、前記位置決め部が回転しながら所定の時間間隔で
所定の位置を通過しているか否かを検知し、これに基づ
いて、試料が分離されたか否かを検知することが好まし
い。
【0064】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記検知工程では、例えば、前記フォトインタラプ
タの出力が所定時間継続して略一定の値になった場合
に、試料の分離が完了したことを検知することが好まし
い。
て、前記検知工程では、例えば、前記フォトインタラプ
タの出力が所定時間継続して略一定の値になった場合
に、試料の分離が完了したことを検知することが好まし
い。
【0065】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記検知工程では、例えば、少なくとも2組の前記
フォトインタラプタを利用して、試料が分離されたか否
かを検知することが好ましい。
て、前記検知工程では、例えば、少なくとも2組の前記
フォトインタラプタを利用して、試料が分離されたか否
かを検知することが好ましい。
【0066】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記検知工程では、例えば、前記少なくとも2組の
フォトインタラプタの出力のうち少なくとも1つの出力
が所定時間継続して略一定の値になった場合に、試料の
分離が完了したことを検知することが好ましい。
て、前記検知工程では、例えば、前記少なくとも2組の
フォトインタラプタの出力のうち少なくとも1つの出力
が所定時間継続して略一定の値になった場合に、試料の
分離が完了したことを検知することが好ましい。
【0067】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記分離工程では、例えば、試料の中央部付近を保
持しながら分離することが好ましい。
て、前記分離工程では、例えば、試料の中央部付近を保
持しながら分離することが好ましい。
【0068】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、例えば、前記試料は、内部に脆弱な層を有する板状
部材であり、前記分離工程では、該試料を該脆弱な層で
2枚に分離することが好ましい。
て、例えば、前記試料は、内部に脆弱な層を有する板状
部材であり、前記分離工程では、該試料を該脆弱な層で
2枚に分離することが好ましい。
【0069】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記検知工程では、例えば、駆動機構により試料を
両側に引っ張り、その際の前記駆動機構の変位を検知す
ることが好ましい。
て、前記検知工程では、例えば、駆動機構により試料を
両側に引っ張り、その際の前記駆動機構の変位を検知す
ることが好ましい。
【0070】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記分離工程では、例えば、一対の保持部により試
料を両側から挟むようにして保持しながら分離し、前記
検知工程では、例えば、前記一対の保持部に試料を吸着
させた状態で前記一対の保持部の間隔を広げるように駆
動力を作用させ、その際の前記一対の保持部の少なくと
も一方の変位を検知することが好ましい。
て、前記分離工程では、例えば、一対の保持部により試
料を両側から挟むようにして保持しながら分離し、前記
検知工程では、例えば、前記一対の保持部に試料を吸着
させた状態で前記一対の保持部の間隔を広げるように駆
動力を作用させ、その際の前記一対の保持部の少なくと
も一方の変位を検知することが好ましい。
【0071】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記検知工程では、例えば、非接触型の変位センサ
により変位を検知することが好ましい。
て、前記検知工程では、例えば、非接触型の変位センサ
により変位を検知することが好ましい。
【0072】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記分離工程では、例えば、流体を噴射する方向に
略直交する軸を中心として試料を回転させながら該試料
を分離することが好ましい。
て、前記分離工程では、例えば、流体を噴射する方向に
略直交する軸を中心として試料を回転させながら該試料
を分離することが好ましい。
【0073】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記分離工程では、例えば、保持機構により試料の
中央部付近を保持した状態で該保持機構を回転させるこ
とにより該試料を回転させることが好ましい。
て、前記分離工程では、例えば、保持機構により試料の
中央部付近を保持した状態で該保持機構を回転させるこ
とにより該試料を回転させることが好ましい。
【0074】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、前記試料は、例えば、板状の試料であり、前記分離
工程では、例えば、該試料を両側から挟むようにして押
圧して保持しながら分離することが好ましい。
て、前記試料は、例えば、板状の試料であり、前記分離
工程では、例えば、該試料を両側から挟むようにして押
圧して保持しながら分離することが好ましい。
【0075】上記の第2の側面に係る分離方法におい
て、例えば、前記試料は、内部に脆弱な層を有する板状
の試料であり、前記分離工程では、該試料を該脆弱な層
で2枚に分離することが好ましい。
て、例えば、前記試料は、内部に脆弱な層を有する板状
の試料であり、前記分離工程では、該試料を該脆弱な層
で2枚に分離することが好ましい。
【0076】本発明の第3の側面に係る監視装置は、流
体により試料を分離する分離装置に接続して使用される
監視装置であって、前記分離装置による試料の分離が完
了したことを検知する検知部と、前記検知部による検知
結果を前記分離装置に通知する通知部とを備えることを
特徴とする。
体により試料を分離する分離装置に接続して使用される
監視装置であって、前記分離装置による試料の分離が完
了したことを検知する検知部と、前記検知部による検知
結果を前記分離装置に通知する通知部とを備えることを
特徴とする。
【0077】本発明の第4の側面に係る分離方法は、上
記の分離装置を利用して複数の試料を連続的に分離する
分離方法であって、試料を第1のカセットから取り出し
て前記分離装置に引き渡す工程と、前記分離装置に該試
料を分離させる工程と、分離された各試料を前記分離装
置から受け取って第2及び第3のカセットに分類して収
容する工程とを前記第1のカセットに収容された複数の
試料に関して実行することを特徴とする。
記の分離装置を利用して複数の試料を連続的に分離する
分離方法であって、試料を第1のカセットから取り出し
て前記分離装置に引き渡す工程と、前記分離装置に該試
料を分離させる工程と、分離された各試料を前記分離装
置から受け取って第2及び第3のカセットに分類して収
容する工程とを前記第1のカセットに収容された複数の
試料に関して実行することを特徴とする。
【0078】上記の第4の側面に係る分離方法におい
て、例えば、分離された各試料を前記分離装置から受け
取った後、各試料に付着している流体を除去する工程を
更に含むことが好ましい。
て、例えば、分離された各試料を前記分離装置から受け
取った後、各試料に付着している流体を除去する工程を
更に含むことが好ましい。
【0079】本発明の第5の側面に係る基板の製造方法
は、内部に脆弱な層を有する第1の基板を第2の基板に
貼り合わせて、貼り合わせ基板を作成する作成工程と、
上記の分離装置により前記貼り合わせ基板を前記脆弱な
層で分離する分離工程と、前記分離工程の後に前記第2
の基板側の表面に残った脆弱な層を除去する除去工程と
を含むことを特徴とする。
は、内部に脆弱な層を有する第1の基板を第2の基板に
貼り合わせて、貼り合わせ基板を作成する作成工程と、
上記の分離装置により前記貼り合わせ基板を前記脆弱な
層で分離する分離工程と、前記分離工程の後に前記第2
の基板側の表面に残った脆弱な層を除去する除去工程と
を含むことを特徴とする。
【0080】本発明の第6の側面に係る基板の製造方法
は、内部に脆弱な層を有する第1の基板を第2の基板に
貼り合わせて、貼り合わせ基板を作成する作成工程と、
上記の分離方法により前記貼り合わせ基板を前記脆弱な
層で分離する分離工程と、前記分離工程の後に前記第2
の基板側の表面に残った脆弱な層を除去する除去工程と
を含むことを特徴とする。
は、内部に脆弱な層を有する第1の基板を第2の基板に
貼り合わせて、貼り合わせ基板を作成する作成工程と、
上記の分離方法により前記貼り合わせ基板を前記脆弱な
層で分離する分離工程と、前記分離工程の後に前記第2
の基板側の表面に残った脆弱な層を除去する除去工程と
を含むことを特徴とする。
【0081】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照しながら本
発明の好適な実施の形態を説明する。
発明の好適な実施の形態を説明する。
【0082】図1は、本発明の好適な実施の形態に係る
SOI基板の製造を方法を工程順に説明する図である。
SOI基板の製造を方法を工程順に説明する図である。
【0083】図1(a)に示す工程では、単結晶Si基
板11を準備して、その表面に陽極化成等により多孔質
Si層12を形成する。次いで、図1(b)に示す工程
では、多孔質Si層12上に非多孔質単結晶Si層13
をエピタキシャル成長法により形成し、その上に絶縁層
(例えば、SiO2層)15を形成する。これにより、
第1の基板()が形成される。
板11を準備して、その表面に陽極化成等により多孔質
Si層12を形成する。次いで、図1(b)に示す工程
では、多孔質Si層12上に非多孔質単結晶Si層13
をエピタキシャル成長法により形成し、その上に絶縁層
(例えば、SiO2層)15を形成する。これにより、
第1の基板()が形成される。
【0084】図1(c)に示す工程では、第2の基板1
4()を準備し、絶縁層15が面するようにして第1
の基板()と第2の基板14()とを室温で密着さ
せる。その後、陽極接合、加圧若しくは熱処理又はこれ
らを組合わせた処理により第1の基板()と第2の基
板14()とを貼り合わせる。この処理により、絶縁
層15と第2の基板14()とが強固に結合される。
なお、絶縁層15は、上記のように非多孔質単結晶Si
層13の上に形成しても良いが、第2の基板14()
の上に形成しても良く、両者に形成しても良く、結果と
して、第1の基板と第2の基板を密着させた際に、図1
(c)に示す状態になれば良い。
4()を準備し、絶縁層15が面するようにして第1
の基板()と第2の基板14()とを室温で密着さ
せる。その後、陽極接合、加圧若しくは熱処理又はこれ
らを組合わせた処理により第1の基板()と第2の基
板14()とを貼り合わせる。この処理により、絶縁
層15と第2の基板14()とが強固に結合される。
なお、絶縁層15は、上記のように非多孔質単結晶Si
層13の上に形成しても良いが、第2の基板14()
の上に形成しても良く、両者に形成しても良く、結果と
して、第1の基板と第2の基板を密着させた際に、図1
(c)に示す状態になれば良い。
【0085】図1(d)に示す工程では、貼り合わせた
2枚の基板を、多孔質Si層12の部分で分離する。こ
れにより、第2の基板側(''+)は、多孔質Si層
12''/単結晶Si層13/絶縁層15/単結晶Si基
板14の積層構造となる。一方、第1の基板側(')
は、単結晶Si基板11上に多孔質Si層12’を有す
る構造となる。
2枚の基板を、多孔質Si層12の部分で分離する。こ
れにより、第2の基板側(''+)は、多孔質Si層
12''/単結晶Si層13/絶縁層15/単結晶Si基
板14の積層構造となる。一方、第1の基板側(')
は、単結晶Si基板11上に多孔質Si層12’を有す
る構造となる。
【0086】分離後の基板(’)は、残留した多孔質
Si層12’を除去し、必要に応じて、その表面を平坦
化することにより、再び第1の基板()を形成するた
めの単結晶Si基板11として使用される。
Si層12’を除去し、必要に応じて、その表面を平坦
化することにより、再び第1の基板()を形成するた
めの単結晶Si基板11として使用される。
【0087】貼り合わせた基板を分離した後、図1
(e)に示す工程では、第2の基板側(''+)の表
面の多孔質層12''を選択的に除去する。これにより、
単結晶Si層13/絶縁層15/単結晶Si基板14の
積層構造、すなわち、SOI構造を有する基板が得られ
る。
(e)に示す工程では、第2の基板側(''+)の表
面の多孔質層12''を選択的に除去する。これにより、
単結晶Si層13/絶縁層15/単結晶Si基板14の
積層構造、すなわち、SOI構造を有する基板が得られ
る。
【0088】第2の基板としては、例えば、単結晶Si
基板の他、絶縁性基板(例えば、石英基板)や光透過性
基板(例えば、石英基板)等が好適である。
基板の他、絶縁性基板(例えば、石英基板)や光透過性
基板(例えば、石英基板)等が好適である。
【0089】この実施の形態では、2枚の基板を貼り合
わせた後にこれを分離する処理を容易にするために、分
離用の領域に脆弱な構造の多孔質層12を形成するが、
この多孔質層の代わりに、例えば、微小気泡層を形成し
てもよい。微小気泡層は、例えば、半導体基板にイオン
を注入することにより形成することができる。
わせた後にこれを分離する処理を容易にするために、分
離用の領域に脆弱な構造の多孔質層12を形成するが、
この多孔質層の代わりに、例えば、微小気泡層を形成し
てもよい。微小気泡層は、例えば、半導体基板にイオン
を注入することにより形成することができる。
【0090】この実施の形態においては、図1(d)に
示す工程、すなわち、貼り合わせ基板を分離する工程の
少なくとも一部において、分離用の層である多孔質Si
層に向けて液体又は気体(流体)を噴射することにより
該分離用の層で貼り合わせ基板を2枚に分離する分離装
置を使用する。
示す工程、すなわち、貼り合わせ基板を分離する工程の
少なくとも一部において、分離用の層である多孔質Si
層に向けて液体又は気体(流体)を噴射することにより
該分離用の層で貼り合わせ基板を2枚に分離する分離装
置を使用する。
【0091】[分離装置の基本構成]この分離装置は、
ウォータージェット法を適用したものである。一般に、
ウォータジェット法は、水を高速、高圧の束状の流れに
して対象物に対して噴射して、セラミックス、金属、コ
ンクリート、樹脂、ゴム、木材等の切断、加工、表面の
塗膜の除去、表面の洗浄等を行う方法である(「ウォー
タージェット」第1巻1号(1984年)第4ページ参
照)。
ウォータージェット法を適用したものである。一般に、
ウォータジェット法は、水を高速、高圧の束状の流れに
して対象物に対して噴射して、セラミックス、金属、コ
ンクリート、樹脂、ゴム、木材等の切断、加工、表面の
塗膜の除去、表面の洗浄等を行う方法である(「ウォー
タージェット」第1巻1号(1984年)第4ページ参
照)。
【0092】この分離装置は、脆弱な構造部分である貼
り合わせ基板の多孔質層(分離用の層)に対して、基板
の面方向に、高速、高圧の流体を束状の流れにして噴射
して、多孔質層を選択的に崩壊させることにより、多孔
質層の部分で基板を分離するものである。以下では、こ
の束状の流れを「ジェット」という。また、ジェットを
構成する流体を「ジェット構成媒体」という。ジェット
構成媒体としては、水、アルコール等の有機溶媒、弗
酸、硝酸その他の酸、水酸化カリウムその他のアルカ
リ、空気、窒素ガス、炭酸ガス、希ガス、エッチングガ
スその他の気体、或いはプラズマ等であってもよい。
り合わせ基板の多孔質層(分離用の層)に対して、基板
の面方向に、高速、高圧の流体を束状の流れにして噴射
して、多孔質層を選択的に崩壊させることにより、多孔
質層の部分で基板を分離するものである。以下では、こ
の束状の流れを「ジェット」という。また、ジェットを
構成する流体を「ジェット構成媒体」という。ジェット
構成媒体としては、水、アルコール等の有機溶媒、弗
酸、硝酸その他の酸、水酸化カリウムその他のアルカ
リ、空気、窒素ガス、炭酸ガス、希ガス、エッチングガ
スその他の気体、或いはプラズマ等であってもよい。
【0093】この分離装置を半導体装置の製造工程、例
えば、貼り合わせ基板の分離工程に適用する場合、ジェ
ット構成媒体としては、不純物金属やパーティクル等を
極力除去した純水を使用することが好ましい。
えば、貼り合わせ基板の分離工程に適用する場合、ジェ
ット構成媒体としては、不純物金属やパーティクル等を
極力除去した純水を使用することが好ましい。
【0094】ジェットの噴射条件は、例えば、分離領域
(例えば、多孔質層)の種類、貼り合わせ基板の外周部
の形状等に応じて決定すればよい。ジェットの噴射条件
として、例えば、ジェット構成媒体に加える圧力、ジェ
ットの走査速度、ノズルの幅又は径(ジェットの径と略
同一)、ノズル形状、ノズルと分離領域との距離、ジェ
ット構成媒体の流量等は、重要なパラメータとなる。
(例えば、多孔質層)の種類、貼り合わせ基板の外周部
の形状等に応じて決定すればよい。ジェットの噴射条件
として、例えば、ジェット構成媒体に加える圧力、ジェ
ットの走査速度、ノズルの幅又は径(ジェットの径と略
同一)、ノズル形状、ノズルと分離領域との距離、ジェ
ット構成媒体の流量等は、重要なパラメータとなる。
【0095】貼り合わせ基板の分離方法には、例えば、
1)貼り合わせ面付近に対して該貼り合わせ面に平行に
ジェットを挟入すると共にノズルを該貼り合わせ面に沿
って走査する方法、2)貼り合わせ面付近に対して該貼
り合わせ面に平行にジェットを挟入すると共に貼り合わ
せ基板を走査する方法、3)貼り合わせ面付近に対して
該貼り合わせ面に平行にジェットを挟入すると共にノズ
ル付近を腰として扇状にジェットを走査する方法、4)
貼り合わせ面付近に対して該貼り合わせ面に平行にジェ
ットを挟入すると共に該貼り合わせ基板の略中心を軸と
して該貼り合わせ基板を回転させる方法(貼り合わせ基
板が円盤状の場合に特に有効)等がある。
1)貼り合わせ面付近に対して該貼り合わせ面に平行に
ジェットを挟入すると共にノズルを該貼り合わせ面に沿
って走査する方法、2)貼り合わせ面付近に対して該貼
り合わせ面に平行にジェットを挟入すると共に貼り合わ
せ基板を走査する方法、3)貼り合わせ面付近に対して
該貼り合わせ面に平行にジェットを挟入すると共にノズ
ル付近を腰として扇状にジェットを走査する方法、4)
貼り合わせ面付近に対して該貼り合わせ面に平行にジェ
ットを挟入すると共に該貼り合わせ基板の略中心を軸と
して該貼り合わせ基板を回転させる方法(貼り合わせ基
板が円盤状の場合に特に有効)等がある。
【0096】以下、本発明の好適な実施の形態を列挙す
る。なお、以下の各実施の形態に係る分離装置は、内部
に脆弱な構造部である多孔質層又は微小気泡層を有する
貼り合わせ基板の分離に好適であるが、例えば内部に脆
弱な構造部を有する他の試料の分離にも好適である。
る。なお、以下の各実施の形態に係る分離装置は、内部
に脆弱な構造部である多孔質層又は微小気泡層を有する
貼り合わせ基板の分離に好適であるが、例えば内部に脆
弱な構造部を有する他の試料の分離にも好適である。
【0097】[第1の実施の形態]図2は、本発明の第
1の実施の形態に係る分離装置の概略的な構成を示す図
である。この分離装置100は、同一の中心軸上に存在
する基板保持部104及び105を有し、この基板保持
部104及び105により貼り合わせ基板101を両側
から挟むようにして押圧して保持する。貼り合わせ基板
101は、内部に脆弱な構造部である多孔質層101b
を有し、この分離装置100により、この多孔質層10
1bの部分で2つの基板101a及び101cに分離さ
れる。この分離装置100においては、例えば、基板1
01aが図1における第1の基板側(’)、基板10
1cが図1における第2の基板側(’’+)になる
ようにセットする。
1の実施の形態に係る分離装置の概略的な構成を示す図
である。この分離装置100は、同一の中心軸上に存在
する基板保持部104及び105を有し、この基板保持
部104及び105により貼り合わせ基板101を両側
から挟むようにして押圧して保持する。貼り合わせ基板
101は、内部に脆弱な構造部である多孔質層101b
を有し、この分離装置100により、この多孔質層10
1bの部分で2つの基板101a及び101cに分離さ
れる。この分離装置100においては、例えば、基板1
01aが図1における第1の基板側(’)、基板10
1cが図1における第2の基板側(’’+)になる
ようにセットする。
【0098】基板保持部104は、ベアリング106を
介して支持台114に回転可能に軸支された回転軸10
2の一端に連結され、この回転軸102の他端にはモー
タ120の回転軸が連結されている。したがって、モー
タ120の発生する回転力により、基板保持部104に
押圧された貼り合わせ基板101が回転することにな
る。このモータ120は、コントローラ116により制
御され、該コントローラ116から指示される回転速度
で回転軸102を回転させたり、回転を停止させたりす
る。
介して支持台114に回転可能に軸支された回転軸10
2の一端に連結され、この回転軸102の他端にはモー
タ120の回転軸が連結されている。したがって、モー
タ120の発生する回転力により、基板保持部104に
押圧された貼り合わせ基板101が回転することにな
る。このモータ120は、コントローラ116により制
御され、該コントローラ116から指示される回転速度
で回転軸102を回転させたり、回転を停止させたりす
る。
【0099】基板保持部105は、往復回転ガイド10
7を介して支持体110に摺動可能かつ回転可能に軸支
された回転軸103に連結されている。回転軸103の
後端には、押しバネ108が設けられており、この押し
バネ108の作用により、貼り合わせ基板101は、基
板保持部105により押圧される。
7を介して支持体110に摺動可能かつ回転可能に軸支
された回転軸103に連結されている。回転軸103の
後端には、押しバネ108が設けられており、この押し
バネ108の作用により、貼り合わせ基板101は、基
板保持部105により押圧される。
【0100】また、回転軸103の後端側には、基板保
持部105及び回転軸103の変位、即ち、基板101
aの変位を検知するための変位センサ109が設けられ
ている。変位センサ109は、支持体110に固定され
ている。変位センサ109としては、例えば非接触型が
好適であるが、接触型を採用することも可能である。ま
た、変位センサ109の分解能は、例えば10μm程度
が好適である。変位センサ109の出力信号線は、変位
測定器(監視装置)115に接続されている。変位測定
器115は、変位センサ109の出力信号を変位情報に
変換してコントローラ116に供給する。
持部105及び回転軸103の変位、即ち、基板101
aの変位を検知するための変位センサ109が設けられ
ている。変位センサ109は、支持体110に固定され
ている。変位センサ109としては、例えば非接触型が
好適であるが、接触型を採用することも可能である。ま
た、変位センサ109の分解能は、例えば10μm程度
が好適である。変位センサ109の出力信号線は、変位
測定器(監視装置)115に接続されている。変位測定
器115は、変位センサ109の出力信号を変位情報に
変換してコントローラ116に供給する。
【0101】貼り合わせ基板101の分離が完了する
と、基板101aと基板101cとの間に連続的に注入
されるジェット構成媒体(例えば、水)の圧力により、
基板101a、基板保持部105及び回転軸103が後
方(x軸の正方向)に相応の距離だけ移動する。この
時、コントローラ116は、変位測定器115から供給
される変位情報に基づいて、貼り合わせ基板101の分
離が完了したことを認識し、次の処理に移行する。
と、基板101aと基板101cとの間に連続的に注入
されるジェット構成媒体(例えば、水)の圧力により、
基板101a、基板保持部105及び回転軸103が後
方(x軸の正方向)に相応の距離だけ移動する。この
時、コントローラ116は、変位測定器115から供給
される変位情報に基づいて、貼り合わせ基板101の分
離が完了したことを認識し、次の処理に移行する。
【0102】回転軸103を支持する支持体110は、
往復動ガイド111を介して支持台114に摺動可能に
支持されると共にエアシリンダ112のピストン113
に連結されている。
往復動ガイド111を介して支持台114に摺動可能に
支持されると共にエアシリンダ112のピストン113
に連結されている。
【0103】貼り合わせ基板101を分離装置100に
セットする際は、まず、エアシリンダ112にピストン
113を収容させることにより、支持体110を後方
(x軸の正方向)に移動させ、基板保持部104と基板
保持部105との間に相応の間隔を設ける。
セットする際は、まず、エアシリンダ112にピストン
113を収容させることにより、支持体110を後方
(x軸の正方向)に移動させ、基板保持部104と基板
保持部105との間に相応の間隔を設ける。
【0104】次いで、不図示の搬送ロボット等により貼
り合わせ基板101を基板保持部104と基板保持部1
05との間に搬送し、貼り合わせ基板101の中心と基
板保持部104及び105の中心軸とを一致させる。
り合わせ基板101を基板保持部104と基板保持部1
05との間に搬送し、貼り合わせ基板101の中心と基
板保持部104及び105の中心軸とを一致させる。
【0105】次いで、エアシリンダ112にピストン1
13を押し出させることにより、支持体110を前方
(x軸の負方向)に移動させる。これにより、貼り合わ
せ基板101は、押しバネ108及びエアシリンダ11
2の作用により、基板保持部105によって押圧されて
保持される。
13を押し出させることにより、支持体110を前方
(x軸の負方向)に移動させる。これにより、貼り合わ
せ基板101は、押しバネ108及びエアシリンダ11
2の作用により、基板保持部105によって押圧されて
保持される。
【0106】一方、分離された基板101a及び101
cを分離装置100から取り外す際は、エアシリンダ1
12にピストン113を収容させることにより、支持体
110を後方(x軸の正方向)に移動させて、基板保持
部104と基板保持部105との間に相応の間隔を設け
ればよい。
cを分離装置100から取り外す際は、エアシリンダ1
12にピストン113を収容させることにより、支持体
110を後方(x軸の正方向)に移動させて、基板保持
部104と基板保持部105との間に相応の間隔を設け
ればよい。
【0107】なお、エアシリンダ112が支持体110
を押圧する力は、分離処理の実行中に基板保持部105
及び回転軸103が後退した場合においても支持体11
0が後退しないように設定されている。
を押圧する力は、分離処理の実行中に基板保持部105
及び回転軸103が後退した場合においても支持体11
0が後退しないように設定されている。
【0108】基板保持部104及び105の保持面(貼
り合わせ基板101と接触する面)には、不図示の吸着
機構(例えば、真空吸着機構)が設けられている。この
吸着機構により、貼り合わせ基板101をより安定的に
保持することができる。また、基板保持部104及び1
05の保持面は、軸対象の形状、例えば円形であること
が好ましい。なお、基板保持部104と基板保持部10
5とは、必ずしも同一の形状を有する必要はない。
り合わせ基板101と接触する面)には、不図示の吸着
機構(例えば、真空吸着機構)が設けられている。この
吸着機構により、貼り合わせ基板101をより安定的に
保持することができる。また、基板保持部104及び1
05の保持面は、軸対象の形状、例えば円形であること
が好ましい。なお、基板保持部104と基板保持部10
5とは、必ずしも同一の形状を有する必要はない。
【0109】その他、この分離装置100は、ポンプ1
19及びノズル118を有し、ポンプ119より高圧の
ジェット構成媒体(例えば、水)をノズル118に送り
込み、これによりノズル118からジェットを噴射させ
る。また、ノズル118の下方にはシャッタ117が配
置されている。ここで、ジェットの圧力は、例えば50
0kgf/平方cm程度が好適であり、ノズル118の
径は、例えば0.1mm程度が好適である。
19及びノズル118を有し、ポンプ119より高圧の
ジェット構成媒体(例えば、水)をノズル118に送り
込み、これによりノズル118からジェットを噴射させ
る。また、ノズル118の下方にはシャッタ117が配
置されている。ここで、ジェットの圧力は、例えば50
0kgf/平方cm程度が好適であり、ノズル118の
径は、例えば0.1mm程度が好適である。
【0110】図12は、本発明の好適な実施の形態に係
る分離処理の流れを示すフローチャートである。以下、
図12を参照しながら分離装置100による分離処理の
流れを説明する。なお、この分離処理は、コントローラ
116により制御される。
る分離処理の流れを示すフローチャートである。以下、
図12を参照しながら分離装置100による分離処理の
流れを説明する。なお、この分離処理は、コントローラ
116により制御される。
【0111】まず、ステップS101において、不図示
の搬送ロボット等により、1又は複数の貼り合わせ基板
101が収容されたカセットから1枚の貼り合わせ基板
101を取り出して分離装置100にセットする。具体
的には、エアシリンダ112にピストン113を収容さ
せることにより支持体110を後退させ、これにより基
板保持部105を後退させる。次いで、基板保持部10
4と基板保持部105との間にカセットから取り出した
貼り合わせ基板101を搬送し、貼り合わせ基板101
の中心と基板保持部104及び105の中心軸とを位置
合わせする。次いで、エアシリンダ112にピストン1
13を押し出させることにより支持体110を前進さ
せ、これにより基板保持部105により貼り合わせ基板
101の中央部を押圧して保持させる。次いで、必要に
応じて、基板保持部104及び105の吸着機構を作動
させる。
の搬送ロボット等により、1又は複数の貼り合わせ基板
101が収容されたカセットから1枚の貼り合わせ基板
101を取り出して分離装置100にセットする。具体
的には、エアシリンダ112にピストン113を収容さ
せることにより支持体110を後退させ、これにより基
板保持部105を後退させる。次いで、基板保持部10
4と基板保持部105との間にカセットから取り出した
貼り合わせ基板101を搬送し、貼り合わせ基板101
の中心と基板保持部104及び105の中心軸とを位置
合わせする。次いで、エアシリンダ112にピストン1
13を押し出させることにより支持体110を前進さ
せ、これにより基板保持部105により貼り合わせ基板
101の中央部を押圧して保持させる。次いで、必要に
応じて、基板保持部104及び105の吸着機構を作動
させる。
【0112】ステップS102では、モータ120を作
動させて貼り合わせ基板101を所定の回転速度で回転
させる。この時、回転軸102、基板保持部104、貼
り合わせ基板101、基板保持部105及び回転軸10
3は、一体化して回転する。
動させて貼り合わせ基板101を所定の回転速度で回転
させる。この時、回転軸102、基板保持部104、貼
り合わせ基板101、基板保持部105及び回転軸10
3は、一体化して回転する。
【0113】ステップS103では、ポンプ119を作
動させてノズル118にジェット構成媒体(例えば、
水)を送り込む。そして、ジェットが安定したら、ステ
ップS104において、シャッタ117を開いて、貼り
合わせ基板101の多孔質層101bにジェットを挟入
させる。これにより、貼り合わせ基板101の多孔質層
101bには、ジェットによる衝撃力と、貼り合わせ基
板101の内部に注入されるジェット構成媒体の圧力に
よる分離力とが作用し、分離が進行する。
動させてノズル118にジェット構成媒体(例えば、
水)を送り込む。そして、ジェットが安定したら、ステ
ップS104において、シャッタ117を開いて、貼り
合わせ基板101の多孔質層101bにジェットを挟入
させる。これにより、貼り合わせ基板101の多孔質層
101bには、ジェットによる衝撃力と、貼り合わせ基
板101の内部に注入されるジェット構成媒体の圧力に
よる分離力とが作用し、分離が進行する。
【0114】図3は、分離の初期段階における貼り合わ
せ基板101及び分離装置100の様子を模式的に示す
図である。図示のように、分離の初期段階では、貼り合
わせ基板101の外周部の既に分離された部分が反るよ
うにして分離が進行する。この段階では、基板保持部1
05及び回転軸103の変位は殆どない。
せ基板101及び分離装置100の様子を模式的に示す
図である。図示のように、分離の初期段階では、貼り合
わせ基板101の外周部の既に分離された部分が反るよ
うにして分離が進行する。この段階では、基板保持部1
05及び回転軸103の変位は殆どない。
【0115】ステップS105では、分離の状況を検知
する。具体的には、この実施の形態では、コントローラ
116は、変位センサ109から変位測定器115を介
して、基板保持部105及び回転軸103の変位を示す
変位情報を取得する。この変位情報は、分離途中或いは
分離後の基板101aの変位を示す情報でもある。ここ
で、基板保持部105及び回転軸103の変位を検知す
る代わりに、基板101aの変位を直接的に検知しても
よい。
する。具体的には、この実施の形態では、コントローラ
116は、変位センサ109から変位測定器115を介
して、基板保持部105及び回転軸103の変位を示す
変位情報を取得する。この変位情報は、分離途中或いは
分離後の基板101aの変位を示す情報でもある。ここ
で、基板保持部105及び回転軸103の変位を検知す
る代わりに、基板101aの変位を直接的に検知しても
よい。
【0116】図4は、分離が完了した後の貼り合わせ基
板101及び分離装置100の様子を模式的に示す図で
ある。図示のように、分離が完了すると、貼り合わせ基
板101の内部、即ち、基板101aと基板101cと
の間に連続的に注入されるジェット構成媒体の圧力によ
り、基板保持部105及び回転軸103が後退し、この
時の変位が変位センサ109により検知される。
板101及び分離装置100の様子を模式的に示す図で
ある。図示のように、分離が完了すると、貼り合わせ基
板101の内部、即ち、基板101aと基板101cと
の間に連続的に注入されるジェット構成媒体の圧力によ
り、基板保持部105及び回転軸103が後退し、この
時の変位が変位センサ109により検知される。
【0117】ステップS106では、変位情報に基づい
て、貼り合わせ基板101の分離が完了したか否かを判
断する。具体的には、基板保持部105及び回転軸10
3の変位が所定量(例えば、0.1mm)を越えたら貼
り合わせ基板101の分離が完了したものと看做すこと
ができる。貼り合わせ基板101の分離が完了したもの
と判断した場合はステップS107に進み、一方、未完
了であると判断した場合はステップS105に戻る。後
者の場合は、貼り合わせ基板101の分離が継続される
ことになる。
て、貼り合わせ基板101の分離が完了したか否かを判
断する。具体的には、基板保持部105及び回転軸10
3の変位が所定量(例えば、0.1mm)を越えたら貼
り合わせ基板101の分離が完了したものと看做すこと
ができる。貼り合わせ基板101の分離が完了したもの
と判断した場合はステップS107に進み、一方、未完
了であると判断した場合はステップS105に戻る。後
者の場合は、貼り合わせ基板101の分離が継続される
ことになる。
【0118】なお、貼り合わせ基板101の分離が完了
すると、基板101aと基板101cとが別体になるた
め、基板101cの回転に拘らず、基板101aの回転
は停止する。
すると、基板101aと基板101cとが別体になるた
め、基板101cの回転に拘らず、基板101aの回転
は停止する。
【0119】ステップS107では、シャッタ117を
閉じて貼り合わせ基板101に対するジェットの挟入を
停止させる。ステップS108では、ポンプ119を停
止させてジェットの噴射を停止させる。ステップS10
9では、モータ120を停止させる。
閉じて貼り合わせ基板101に対するジェットの挟入を
停止させる。ステップS108では、ポンプ119を停
止させてジェットの噴射を停止させる。ステップS10
9では、モータ120を停止させる。
【0120】ステップS110では、まず、エアシリン
ダ112を作動させて支持体110を後退させ、これに
より基板保持部105を後退させる。次いで、不図示の
搬送ロボットに基板101a及び101cを引き渡し、
該搬送ロボットにより各基板をカセットに収容する。
ダ112を作動させて支持体110を後退させ、これに
より基板保持部105を後退させる。次いで、不図示の
搬送ロボットに基板101a及び101cを引き渡し、
該搬送ロボットにより各基板をカセットに収容する。
【0121】ステップS111では、全貼り合わせ基板
101に関して分離処理が完了したか否かを確認し、未
完了であればステップS101に戻って処理を繰り返
す。
101に関して分離処理が完了したか否かを確認し、未
完了であればステップS101に戻って処理を繰り返
す。
【0122】以上の分離処理によれば、基板保持部10
5の変位に基づいて各貼り合わせ基板101の分離の状
況を監視し、分離が完了した後に直ちに次の処理(例え
ば、次の貼り合わせ基板の分離のための処理)に移行す
ることができる。従って、分離処理に要する時間を短縮
することができる。また、この分離処理によれば、分離
後の基板に対して不要なジェットを挟入させることを避
けることができるため、分離後の基板の品質の低下を防
止することができる。
5の変位に基づいて各貼り合わせ基板101の分離の状
況を監視し、分離が完了した後に直ちに次の処理(例え
ば、次の貼り合わせ基板の分離のための処理)に移行す
ることができる。従って、分離処理に要する時間を短縮
することができる。また、この分離処理によれば、分離
後の基板に対して不要なジェットを挟入させることを避
けることができるため、分離後の基板の品質の低下を防
止することができる。
【0123】一方、上記の実施の形態とは異なり、全貼
り合わせ基板101について、分離に要する時間(分離
時間)を共通に設定して、該時間の経過を待って分離が
完了したものと看做して次の処理に移行する方式には次
のような問題がある。即ち、貼り合わせ基板101の個
体差や、分離装置100による処理のばらつき(例え
ば、各貼り合わせ基板の位置合わせの精度、ジェットの
圧力等)等のために、各貼り合わせ基板毎に分離に要す
る時間が異なるため、上記の共通の分離時間として、ワ
ーストケースにおける分離時間を設定する必要がある。
そのため、第1に、タクトタイムが大きくなるという問
題、第2に、分離後の基板に対して不要なジェットが挟
入されるために分離後の基板の品質が低下する可能性が
あるという問題がある。
り合わせ基板101について、分離に要する時間(分離
時間)を共通に設定して、該時間の経過を待って分離が
完了したものと看做して次の処理に移行する方式には次
のような問題がある。即ち、貼り合わせ基板101の個
体差や、分離装置100による処理のばらつき(例え
ば、各貼り合わせ基板の位置合わせの精度、ジェットの
圧力等)等のために、各貼り合わせ基板毎に分離に要す
る時間が異なるため、上記の共通の分離時間として、ワ
ーストケースにおける分離時間を設定する必要がある。
そのため、第1に、タクトタイムが大きくなるという問
題、第2に、分離後の基板に対して不要なジェットが挟
入されるために分離後の基板の品質が低下する可能性が
あるという問題がある。
【0124】[第2の分離装置]この実施の形態に係る
分離装置では、貼り合わせ基板から受ける力を検知する
ことにより、貼り合わせ基板の分離の状況を監視する。
分離装置では、貼り合わせ基板から受ける力を検知する
ことにより、貼り合わせ基板の分離の状況を監視する。
【0125】図5は、本発明の第2の実施の形態に係る
分離装置の概略的な構成を示す図である。なお、第1の
実施の形態に係る分離装置100と実質的に同一の構成
要素には同一の符号を付している。
分離装置の概略的な構成を示す図である。なお、第1の
実施の形態に係る分離装置100と実質的に同一の構成
要素には同一の符号を付している。
【0126】この分離装置200は、同一の中心軸上に
存在する基板保持部104及び201を有し、この基板
保持部104及び201により貼り合わせ基板101を
両側から挟むようにして押圧して保持する。貼り合わせ
基板101は、内部に脆弱な構造部である多孔質層10
1bを有し、この分離装置100により、この多孔質層
101bの部分で2つの基板101a及び101cに分
離される。この分離装置100においては、例えば、基
板101aが図1における第1の基板側(’)、基板
101cが図1における第2の基板側(’’+)に
なるようにセットする。
存在する基板保持部104及び201を有し、この基板
保持部104及び201により貼り合わせ基板101を
両側から挟むようにして押圧して保持する。貼り合わせ
基板101は、内部に脆弱な構造部である多孔質層10
1bを有し、この分離装置100により、この多孔質層
101bの部分で2つの基板101a及び101cに分
離される。この分離装置100においては、例えば、基
板101aが図1における第1の基板側(’)、基板
101cが図1における第2の基板側(’’+)に
なるようにセットする。
【0127】基板保持部104は、ベアリング106を
介して支持台114に回転可能に軸支された回転軸10
2の一端に連結され、この回転軸102の他端にはモー
タ120の回転軸が連結されている。したがって、モー
タ120の発生する回転力により、基板保持部102に
押圧された貼り合わせ基板101が回転することにな
る。このモータ120は、コントローラ116により制
御され、該コントローラ116から指示される回転速度
で回転軸102を回転させたり、回転を停止させたりす
る。
介して支持台114に回転可能に軸支された回転軸10
2の一端に連結され、この回転軸102の他端にはモー
タ120の回転軸が連結されている。したがって、モー
タ120の発生する回転力により、基板保持部102に
押圧された貼り合わせ基板101が回転することにな
る。このモータ120は、コントローラ116により制
御され、該コントローラ116から指示される回転速度
で回転軸102を回転させたり、回転を停止させたりす
る。
【0128】基板保持部201は、往復回転ガイド10
7を介して支持体110に摺動可能かつ回転可能に軸支
された回転軸203に連結されている。回転軸203の
後端には、押しバネ108が設けられており、この押し
バネ108の作用により、貼り合わせ基板101は、基
板保持部201により押圧される。
7を介して支持体110に摺動可能かつ回転可能に軸支
された回転軸203に連結されている。回転軸203の
後端には、押しバネ108が設けられており、この押し
バネ108の作用により、貼り合わせ基板101は、基
板保持部201により押圧される。
【0129】また、基板保持部201の先端、即ち、貼
り合わせ基板101を押圧する部分には、圧力センサ
(例えば、ロードセル)202が固定されている。ここ
で、圧力センサ202は、必ずしも貼り合わせ基板10
1と接触する位置に配置される必要はなく、貼り合わせ
基板101から基板保持部201が受ける圧力(又は押
しバネ108が受ける力)を検知することができる位置
に配置すればよい。
り合わせ基板101を押圧する部分には、圧力センサ
(例えば、ロードセル)202が固定されている。ここ
で、圧力センサ202は、必ずしも貼り合わせ基板10
1と接触する位置に配置される必要はなく、貼り合わせ
基板101から基板保持部201が受ける圧力(又は押
しバネ108が受ける力)を検知することができる位置
に配置すればよい。
【0130】圧力センサ202の出力信号線202a
は、基板保持部201及び回転軸203の内部を通っ
て、回転軸203の後端に露出した電気接点202bに
連結されている。電気接点202bには、接触子204
が押圧されており、該接触子204は、信号線205を
介して圧力測定器206に連結されている。圧力測定器
206は、圧力センサ202の出力信号を圧力情報に変
換してコントローラ116に供給する。
は、基板保持部201及び回転軸203の内部を通っ
て、回転軸203の後端に露出した電気接点202bに
連結されている。電気接点202bには、接触子204
が押圧されており、該接触子204は、信号線205を
介して圧力測定器206に連結されている。圧力測定器
206は、圧力センサ202の出力信号を圧力情報に変
換してコントローラ116に供給する。
【0131】なお、圧力測定器206の代わりに、圧力
センサ202の出力信号を押しバネ108の伸縮量、即
ち、基板保持部201及び回転軸203の変位を示す変
位情報に変換する変換器を設けてもよい。この場合、第
1の実施の形態と同様に、基板保持部及び回転軸の変位
(即ち、基板101aの変位)に基づいて、分離の状況
を監視することになる。
センサ202の出力信号を押しバネ108の伸縮量、即
ち、基板保持部201及び回転軸203の変位を示す変
位情報に変換する変換器を設けてもよい。この場合、第
1の実施の形態と同様に、基板保持部及び回転軸の変位
(即ち、基板101aの変位)に基づいて、分離の状況
を監視することになる。
【0132】貼り合わせ基板101の分離が完了する
と、基板101aと基板101cとの間に連続的に注入
されるジェット構成媒体(例えば、水)の圧力により、
圧力センサ202は、基板101aから相応の大きさの
圧力を受ける。この時、コントローラ116は、圧力測
定器206から供給される圧力情報に基づいて、貼り合
わせ基板101の分離が完了したことを認識し、次の処
理に移行する。
と、基板101aと基板101cとの間に連続的に注入
されるジェット構成媒体(例えば、水)の圧力により、
圧力センサ202は、基板101aから相応の大きさの
圧力を受ける。この時、コントローラ116は、圧力測
定器206から供給される圧力情報に基づいて、貼り合
わせ基板101の分離が完了したことを認識し、次の処
理に移行する。
【0133】回転軸203を支持する支持体110は、
往復動ガイド111を介して支持台114に摺動可能に
支持されると共にエアシリンダ112のピストン113
に連結されている。
往復動ガイド111を介して支持台114に摺動可能に
支持されると共にエアシリンダ112のピストン113
に連結されている。
【0134】貼り合わせ基板101を分離装置100に
セットする際は、まず、エアシリンダ112にピストン
113を収容させることにより、支持体110を後方
(x軸の正方向)に移動させ、基板保持部104と基板
保持部201(圧力センサ202)との間に相応の間隔
を設ける。
セットする際は、まず、エアシリンダ112にピストン
113を収容させることにより、支持体110を後方
(x軸の正方向)に移動させ、基板保持部104と基板
保持部201(圧力センサ202)との間に相応の間隔
を設ける。
【0135】次いで、不図示の搬送ロボット等により貼
り合わせ基板101を基板保持部104と基板保持部2
01との間に搬送し、貼り合わせ基板101の中心と基
板保持部1ー4及び201の中心軸とを一致させる。
り合わせ基板101を基板保持部104と基板保持部2
01との間に搬送し、貼り合わせ基板101の中心と基
板保持部1ー4及び201の中心軸とを一致させる。
【0136】次いで、エアシリンダ112にピストン1
13を押し出させることにより、支持体110を前方
(x軸の負方向)に移動させる。これにより、貼り合わ
せ基板101は、押しバネ108及びエアシリンダ11
2の作用により、基板保持部201によって押圧されて
保持される。
13を押し出させることにより、支持体110を前方
(x軸の負方向)に移動させる。これにより、貼り合わ
せ基板101は、押しバネ108及びエアシリンダ11
2の作用により、基板保持部201によって押圧されて
保持される。
【0137】一方、分離された基板101a及び101
cを分離装置100から取り外す際は、エアシリンダ1
12にピストン113を収容させることにより、支持体
110を後方(x軸の正方向)に移動させて、基板保持
部104と基板保持部201との間に相応の間隔を設け
ればよい。
cを分離装置100から取り外す際は、エアシリンダ1
12にピストン113を収容させることにより、支持体
110を後方(x軸の正方向)に移動させて、基板保持
部104と基板保持部201との間に相応の間隔を設け
ればよい。
【0138】なお、エアシリンダ112が支持体110
を押圧する力は、分離処理の実行中に基板保持部201
及び回転軸203が後退した場合においても支持体11
0が後退しないように設定されている。
を押圧する力は、分離処理の実行中に基板保持部201
及び回転軸203が後退した場合においても支持体11
0が後退しないように設定されている。
【0139】基板保持部104及び201の保持面(貼
り合わせ基板101と接触する面)には、不図示の吸着
機構(例えば、真空吸着機構)が設けられている。この
吸着機構により、貼り合わせ基板101をより安定的に
保持することができる。また、基板保持部104及び2
01の保持面は、軸対象の形状、例えば円形であること
が好ましい。なお、基板保持部104と基板保持部20
1とは、必ずしも同一の形状を有する必要はない。
り合わせ基板101と接触する面)には、不図示の吸着
機構(例えば、真空吸着機構)が設けられている。この
吸着機構により、貼り合わせ基板101をより安定的に
保持することができる。また、基板保持部104及び2
01の保持面は、軸対象の形状、例えば円形であること
が好ましい。なお、基板保持部104と基板保持部20
1とは、必ずしも同一の形状を有する必要はない。
【0140】その他、この分離装置100は、ポンプ1
19及びノズル118を有し、ポンプ119より高圧の
ジェット構成媒体(例えば、水)をノズル118に送り
込み、これによりノズル118からジェットを噴射させ
る。また、ノズル118の下方には、シャッタ117が
配置されている。ここで、ジェットの圧力は、例えば5
00kgf/平方cm程度が好適であり、ノズル118
の径は、例えば0.1mm程度が好適である。
19及びノズル118を有し、ポンプ119より高圧の
ジェット構成媒体(例えば、水)をノズル118に送り
込み、これによりノズル118からジェットを噴射させ
る。また、ノズル118の下方には、シャッタ117が
配置されている。ここで、ジェットの圧力は、例えば5
00kgf/平方cm程度が好適であり、ノズル118
の径は、例えば0.1mm程度が好適である。
【0141】図12は、本発明の好適な実施の形態に係
る分離処理の流れを示すフローチャートである。以下、
図12を参照しながら分離装置200による分離処理の
流れを説明する。なお、この分離処理は、コントローラ
116により制御される。
る分離処理の流れを示すフローチャートである。以下、
図12を参照しながら分離装置200による分離処理の
流れを説明する。なお、この分離処理は、コントローラ
116により制御される。
【0142】まず、ステップS101において、不図示
の搬送ロボット等により、1又は複数の貼り合わせ基板
101が収容されたカセットから1枚の貼り合わせ基板
101を取り出して分離装置200にセットする。具体
的には、エアシリンダ112にピストン113を収容さ
せることにより支持体110を後退させ、これにより基
板保持部201を後退させる。次いで、基板保持部10
4と基板保持部201との間にカセットから取り出した
貼り合わせ基板101を搬送し、貼り合わせ基板101
の中心と基板保持部回転軸104及び201の中心軸と
を位置合わせする。次いで、エアシリンダ112にピス
トン113を押し出させることにより支持体110を前
進させ、これにより基板保持部201により貼り合わせ
基板101の中央部を押圧して保持させる。次いで、必
要に応じて、基板保持部104及び201の吸着機構を
作動させる。
の搬送ロボット等により、1又は複数の貼り合わせ基板
101が収容されたカセットから1枚の貼り合わせ基板
101を取り出して分離装置200にセットする。具体
的には、エアシリンダ112にピストン113を収容さ
せることにより支持体110を後退させ、これにより基
板保持部201を後退させる。次いで、基板保持部10
4と基板保持部201との間にカセットから取り出した
貼り合わせ基板101を搬送し、貼り合わせ基板101
の中心と基板保持部回転軸104及び201の中心軸と
を位置合わせする。次いで、エアシリンダ112にピス
トン113を押し出させることにより支持体110を前
進させ、これにより基板保持部201により貼り合わせ
基板101の中央部を押圧して保持させる。次いで、必
要に応じて、基板保持部104及び201の吸着機構を
作動させる。
【0143】ステップS102では、モータ120を作
動させて貼り合わせ基板101を所定の回転速度で回転
させる。これにより、回転軸102、基板保持部10
4、貼り合わせ基板101、基板保持部201及び回転
軸203は、一体化して回転する。
動させて貼り合わせ基板101を所定の回転速度で回転
させる。これにより、回転軸102、基板保持部10
4、貼り合わせ基板101、基板保持部201及び回転
軸203は、一体化して回転する。
【0144】ステップS103では、ポンプ119を作
動させてノズル118にジェット構成媒体(例えば、
水)を送り込む。そして、ジェットが安定したら、ステ
ップS104において、シャッタ117を開いて、貼り
合わせ基板101の多孔質層101bにジェットを挟入
させる。これにより、貼り合わせ基板101の多孔質層
101bには、ジェットによる衝撃力と、貼り合わせ基
板101の内部に注入されるジェット構成媒体の圧力に
よる分離力とが作用し、分離が進行する。
動させてノズル118にジェット構成媒体(例えば、
水)を送り込む。そして、ジェットが安定したら、ステ
ップS104において、シャッタ117を開いて、貼り
合わせ基板101の多孔質層101bにジェットを挟入
させる。これにより、貼り合わせ基板101の多孔質層
101bには、ジェットによる衝撃力と、貼り合わせ基
板101の内部に注入されるジェット構成媒体の圧力に
よる分離力とが作用し、分離が進行する。
【0145】図6は、分離の初期段階における貼り合わ
せ基板101及び分離装置200の様子を模式的に示す
図である。図示のように、分離の初期段階では、貼り合
わせ基板101の外周部の既に分離された部分が反るよ
うにして分離が進行する。この段階で圧力センサ202
に加わる圧力は、貼り合わせ基板101を分離装置20
0にセットした直後に圧力センサ202に加わる圧力に
略等しい。これは、基板101aが変位していないから
である。qqステップS105では、分離の状況を検知
する。具体的には、この実施の形態では、コントローラ
116は、圧力センサ202から圧力測定器206を介
して、圧力センサ202に加わっている圧力を示す圧力
情報を取得する。この圧力情報は、分離途中或いは分離
後の基板101aの変位(即ち、押しバネ108の伸縮
量)を間接的に示す情報でもある。
せ基板101及び分離装置200の様子を模式的に示す
図である。図示のように、分離の初期段階では、貼り合
わせ基板101の外周部の既に分離された部分が反るよ
うにして分離が進行する。この段階で圧力センサ202
に加わる圧力は、貼り合わせ基板101を分離装置20
0にセットした直後に圧力センサ202に加わる圧力に
略等しい。これは、基板101aが変位していないから
である。qqステップS105では、分離の状況を検知
する。具体的には、この実施の形態では、コントローラ
116は、圧力センサ202から圧力測定器206を介
して、圧力センサ202に加わっている圧力を示す圧力
情報を取得する。この圧力情報は、分離途中或いは分離
後の基板101aの変位(即ち、押しバネ108の伸縮
量)を間接的に示す情報でもある。
【0146】図7は、分離が完了した後の貼り合わせ基
板101及び分離装置200の様子を模式的に示す図で
ある。図示のように、分離が完了すると、貼り合わせ基
板101の内部、即ち、基板101aと基板101cと
の間に連続的に注入されるジェット構成媒体の圧力によ
り、圧力センサ202に加わる圧力が増加する。
板101及び分離装置200の様子を模式的に示す図で
ある。図示のように、分離が完了すると、貼り合わせ基
板101の内部、即ち、基板101aと基板101cと
の間に連続的に注入されるジェット構成媒体の圧力によ
り、圧力センサ202に加わる圧力が増加する。
【0147】ステップS106では、圧力情報に基づい
て、貼り合わせ基板101の分離が完了したか否かを判
断する。具体的には、圧力センサ202に加わる圧力が
所定大きさ(例えば、500gf)を越えたら貼り合わ
せ基板101の分離が完了したものと看做すことができ
る。貼り合わせ基板101の分離が完了したものと判断
した場合はステップS107に進み、一方、未完了であ
ると判断した場合はステップS105に戻る。後者の場
合は、貼り合わせ基板101の分離が継続されることに
なる。
て、貼り合わせ基板101の分離が完了したか否かを判
断する。具体的には、圧力センサ202に加わる圧力が
所定大きさ(例えば、500gf)を越えたら貼り合わ
せ基板101の分離が完了したものと看做すことができ
る。貼り合わせ基板101の分離が完了したものと判断
した場合はステップS107に進み、一方、未完了であ
ると判断した場合はステップS105に戻る。後者の場
合は、貼り合わせ基板101の分離が継続されることに
なる。
【0148】なお、貼り合わせ基板101の分離が完了
すると、基板101aと基板101cとが別体になるた
め、基板101cの回転に拘らず、基板101aの回転
は停止する。
すると、基板101aと基板101cとが別体になるた
め、基板101cの回転に拘らず、基板101aの回転
は停止する。
【0149】ステップS107では、シャッタ117を
閉じて貼り合わせ基板101に対するジェットの挟入を
停止させる。ステップS108では、ポンプ119を停
止させてジェットの噴射を停止させる。ステップS10
9では、モータ120を停止させる。
閉じて貼り合わせ基板101に対するジェットの挟入を
停止させる。ステップS108では、ポンプ119を停
止させてジェットの噴射を停止させる。ステップS10
9では、モータ120を停止させる。
【0150】ステップS110では、まず、エアシリン
ダ112を作動させて支持体110を後退させ、これに
より基板保持部201を後退させる。次いで、不図示の
搬送ロボットに基板101a及び101cを引き渡し、
該搬送ロボットにより各基板をカセットに収容する。
ダ112を作動させて支持体110を後退させ、これに
より基板保持部201を後退させる。次いで、不図示の
搬送ロボットに基板101a及び101cを引き渡し、
該搬送ロボットにより各基板をカセットに収容する。
【0151】ステップS111では、全貼り合わせ基板
101に関して分離処理が完了したか否かを確認し、未
完了であればステップS101に戻って処理を繰り返
す。
101に関して分離処理が完了したか否かを確認し、未
完了であればステップS101に戻って処理を繰り返
す。
【0152】以上の分離処理によれば、貼り合わせ基板
から受ける力に基づいて該貼り合わせ基板101の分離
の状況を監視し、分離が完了した後に直ちに次の処理
(例えば、次の貼り合わせ基板の分離のための処理)に
移行することができる。従って、分離処理に要する時間
を短縮することができる。また、分離処理によれば、分
離後の基板に対して不要なジェットを挟入させることを
避けることができるため、分離後の基板の品質の低下を
防止することができる。
から受ける力に基づいて該貼り合わせ基板101の分離
の状況を監視し、分離が完了した後に直ちに次の処理
(例えば、次の貼り合わせ基板の分離のための処理)に
移行することができる。従って、分離処理に要する時間
を短縮することができる。また、分離処理によれば、分
離後の基板に対して不要なジェットを挟入させることを
避けることができるため、分離後の基板の品質の低下を
防止することができる。
【0153】[第3の実施の形態]この実施の形態に係
る分離装置では、貼り合わせ基板の一方の面に対して回
転力を伝達して該貼り合わせ基板を回転させながら分離
する。そして、該貼り合わせ基板の他方の面の回転を検
知することにより、貼り合わせ基板の分離の状況を監視
する。
る分離装置では、貼り合わせ基板の一方の面に対して回
転力を伝達して該貼り合わせ基板を回転させながら分離
する。そして、該貼り合わせ基板の他方の面の回転を検
知することにより、貼り合わせ基板の分離の状況を監視
する。
【0154】より具体的には、この実施の形態では、貼
り合わせ基板の位置合わせ部(例えば、オリエンテーシ
ョンフラット、ノッチ等)が所定の時間間隔で所定の位
置を通過するか否かを監視する。貼り合わせ基板が分離
されても、回転力が伝達されている側の基板は回転を続
けるが、他方の側の基板は回転を停止する。この場合、
他方の側の基板の位置合わせ部は、所定の時間間隔で所
定の位置を通過しないため、これに基づいて貼り合わせ
基板が分離されたことを検知することができる。
り合わせ基板の位置合わせ部(例えば、オリエンテーシ
ョンフラット、ノッチ等)が所定の時間間隔で所定の位
置を通過するか否かを監視する。貼り合わせ基板が分離
されても、回転力が伝達されている側の基板は回転を続
けるが、他方の側の基板は回転を停止する。この場合、
他方の側の基板の位置合わせ部は、所定の時間間隔で所
定の位置を通過しないため、これに基づいて貼り合わせ
基板が分離されたことを検知することができる。
【0155】図8は、本発明の第3の実施の形態に係る
分離装置の概略的な構成を示す図である。なお、第1の
実施の形態に係る分離装置100と同一の構成要素には
同一の符号を付している。
分離装置の概略的な構成を示す図である。なお、第1の
実施の形態に係る分離装置100と同一の構成要素には
同一の符号を付している。
【0156】この分離装置300は、同一の中心軸上に
存在する基板保持部104及び105を有し、この基板
保持部104及び105により貼り合わせ基板101を
両側から挟むようにして押圧して保持する。貼り合わせ
基板101は、内部に脆弱な構造部である多孔質層10
1bを有し、この分離装置100により、この多孔質層
101bの部分で2つの基板101a及び101cに分
離される。この分離装置100においては、例えば、基
板101aが図1における第1の基板側(’)、基板
101cが図1における第2の基板側(’’+)に
なるようにセットする。
存在する基板保持部104及び105を有し、この基板
保持部104及び105により貼り合わせ基板101を
両側から挟むようにして押圧して保持する。貼り合わせ
基板101は、内部に脆弱な構造部である多孔質層10
1bを有し、この分離装置100により、この多孔質層
101bの部分で2つの基板101a及び101cに分
離される。この分離装置100においては、例えば、基
板101aが図1における第1の基板側(’)、基板
101cが図1における第2の基板側(’’+)に
なるようにセットする。
【0157】基板保持部104は、ベアリング106を
介して支持台114に回転可能に軸支された回転軸10
2の一端に連結され、この回転軸102の他端にはモー
タ120の回転軸が連結されている。したがって、モー
タ120の発生する回転力により、基板保持部102に
押圧された貼り合わせ基板101が回転することにな
る。このモータ120は、コントローラ116により制
御され、該コントローラ116から指示される回転速度
で回転軸102を回転させたり、回転を停止させたりす
る。
介して支持台114に回転可能に軸支された回転軸10
2の一端に連結され、この回転軸102の他端にはモー
タ120の回転軸が連結されている。したがって、モー
タ120の発生する回転力により、基板保持部102に
押圧された貼り合わせ基板101が回転することにな
る。このモータ120は、コントローラ116により制
御され、該コントローラ116から指示される回転速度
で回転軸102を回転させたり、回転を停止させたりす
る。
【0158】基板保持部105は、往復回転ガイド10
7を介して支持体110に摺動可能かつ回転可能に軸支
された回転軸103に連結されている。回転軸103の
後端には、押しバネ108が設けられており、この押し
バネ108の作用により、貼り合わせ基板101は、基
板保持部105により押圧される。
7を介して支持体110に摺動可能かつ回転可能に軸支
された回転軸103に連結されている。回転軸103の
後端には、押しバネ108が設けられており、この押し
バネ108の作用により、貼り合わせ基板101は、基
板保持部105により押圧される。
【0159】回転軸103を支持する支持体110は、
往復動ガイド111を介して支持台114に摺動可能に
支持されて、エアシリンダ112のピストン113に連
結されている。
往復動ガイド111を介して支持台114に摺動可能に
支持されて、エアシリンダ112のピストン113に連
結されている。
【0160】貼り合わせ基板101を分離装置100に
セットする際は、まず、エアシリンダ112にピストン
113を収容させることにより、支持体110を後方
(x軸の正方向)に移動させ、基板保持部104と基板
保持部105との間に相応の間隔を設ける。
セットする際は、まず、エアシリンダ112にピストン
113を収容させることにより、支持体110を後方
(x軸の正方向)に移動させ、基板保持部104と基板
保持部105との間に相応の間隔を設ける。
【0161】次いで、不図示の搬送ロボット等により貼
り合わせ基板101を基板保持部104と基板保持部1
05との間に搬送し、貼り合わせ基板101の中心と回
転軸102及び103の中心軸とを一致させる。
り合わせ基板101を基板保持部104と基板保持部1
05との間に搬送し、貼り合わせ基板101の中心と回
転軸102及び103の中心軸とを一致させる。
【0162】次いで、エアシリンダ112にピストン1
13を押し出させることにより、支持体110を前方
(x軸の負方向)に移動させる。これにより、貼り合わ
せ基板101は、押しバネ108及びエアシリンダ11
2の作用により、基板保持部105によって押圧されて
保持される。
13を押し出させることにより、支持体110を前方
(x軸の負方向)に移動させる。これにより、貼り合わ
せ基板101は、押しバネ108及びエアシリンダ11
2の作用により、基板保持部105によって押圧されて
保持される。
【0163】一方、分離された基板101a及び101
cを分離装置100から取り外す際は、エアシリンダ1
12にピストン113を収容させることにより、支持体
110を後方(x軸の正方向)に移動させて、基板保持
部104と基板保持部105との間に相応の間隔を設け
ればよい。
cを分離装置100から取り外す際は、エアシリンダ1
12にピストン113を収容させることにより、支持体
110を後方(x軸の正方向)に移動させて、基板保持
部104と基板保持部105との間に相応の間隔を設け
ればよい。
【0164】なお、エアシリンダ112が支持体110
を押圧する力は、分離処理の実行中に基板保持部105
及び回転軸103が後退した場合においても、支持体1
10が後退しないように設定されている。
を押圧する力は、分離処理の実行中に基板保持部105
及び回転軸103が後退した場合においても、支持体1
10が後退しないように設定されている。
【0165】基板保持部104及び105の保持面(貼
り合わせ基板101と接触する面)には、不図示の吸着
機構(例えば、真空吸着機構)が設けられている。この
吸着機構により、貼り合わせ基板101をより安定的に
保持することができる。また、基板保持部104及び1
05の保持面は、軸対象の形状、例えば円形であること
が好ましい。なお、基板保持部104と基板保持部10
5とは、必ずしも同一の形状を有する必要はない。
り合わせ基板101と接触する面)には、不図示の吸着
機構(例えば、真空吸着機構)が設けられている。この
吸着機構により、貼り合わせ基板101をより安定的に
保持することができる。また、基板保持部104及び1
05の保持面は、軸対象の形状、例えば円形であること
が好ましい。なお、基板保持部104と基板保持部10
5とは、必ずしも同一の形状を有する必要はない。
【0166】この分離装置300は、発光部と受光部と
を有する2組のフォトインタラプタ301及び302を
備える。フォトインタラプタ301及び302は、回転
している貼り合わせ基板101の位置決め部(この例で
は、オリエンテーションフラット)が所定の時間間隔
(モータ120の回転軸が1回転する時間)で所定の位
置(フォトインタラプタの光路の前)を通過しているか
否かを検知することができる位置に配置されている。コ
ントローラ116は、フォトインタラプタ301及び3
02の各出力信号に基づいて、基板101aが回転して
いるか否かを検知することができる。
を有する2組のフォトインタラプタ301及び302を
備える。フォトインタラプタ301及び302は、回転
している貼り合わせ基板101の位置決め部(この例で
は、オリエンテーションフラット)が所定の時間間隔
(モータ120の回転軸が1回転する時間)で所定の位
置(フォトインタラプタの光路の前)を通過しているか
否かを検知することができる位置に配置されている。コ
ントローラ116は、フォトインタラプタ301及び3
02の各出力信号に基づいて、基板101aが回転して
いるか否かを検知することができる。
【0167】図9は、分離が完了する前の貼り合わせ基
板及びフォトインタラプタを模式的に示す図である。貼
り合わせ基板101の分離が完了する前は、貼り合わせ
基板101のオリエンテーションフラット101dがフ
ォトインタラプタ301,302の前を通過する時は、
夫々フォトインタラプタ301,302の光路が貼り合
わせ基板101の外周部によって遮られることがない。
従って、フォトインタラプタ301,302の各受光部
は、貼り合わせ基板101が1回転する期間のうち所定
時間だけ発光部からの光を検知し、その出力信号は、周
期的な信号になる。
板及びフォトインタラプタを模式的に示す図である。貼
り合わせ基板101の分離が完了する前は、貼り合わせ
基板101のオリエンテーションフラット101dがフ
ォトインタラプタ301,302の前を通過する時は、
夫々フォトインタラプタ301,302の光路が貼り合
わせ基板101の外周部によって遮られることがない。
従って、フォトインタラプタ301,302の各受光部
は、貼り合わせ基板101が1回転する期間のうち所定
時間だけ発光部からの光を検知し、その出力信号は、周
期的な信号になる。
【0168】図10は、分離が完了した後の貼り合わせ
基板及びフォトインタラプタを模式的に示す図である。
貼り合わせ基板101の分離が完了しても、回転軸10
2により回転力が伝達されている一方の基板101cは
回転を続けるが、他方の基板101aは回転を停止す
る。従って、貼り合わせ基板101の分離が完了して基
板101aの回転が停止すると、2組のフォトインタラ
プタ301及び302のうち少なくとも1つのフォトイ
ンタラプタの受光部は、発光部からの光(即ち、オリエ
ンテーションフラット)を検知することができず、その
出力は略一定値になる。即ち、コントローラ116は、
2組のフォトインタラプタ301及び302のうち少な
くとも1つのフォトインタラプタの出力が略一定になっ
た場合に、貼り合わせ基板101の分離が完了したもの
と看做すことができる。
基板及びフォトインタラプタを模式的に示す図である。
貼り合わせ基板101の分離が完了しても、回転軸10
2により回転力が伝達されている一方の基板101cは
回転を続けるが、他方の基板101aは回転を停止す
る。従って、貼り合わせ基板101の分離が完了して基
板101aの回転が停止すると、2組のフォトインタラ
プタ301及び302のうち少なくとも1つのフォトイ
ンタラプタの受光部は、発光部からの光(即ち、オリエ
ンテーションフラット)を検知することができず、その
出力は略一定値になる。即ち、コントローラ116は、
2組のフォトインタラプタ301及び302のうち少な
くとも1つのフォトインタラプタの出力が略一定になっ
た場合に、貼り合わせ基板101の分離が完了したもの
と看做すことができる。
【0169】ここで、2組のフォトインタラプタ301
及び302を設けたのは、オリエンテーションフラット
101dが1組のフォトインタラプタの前に位置する時
に貼り合わせ基板101の分離が完了した場合には、該
フォトインタラプタの出力信号が分離の完了前と同一の
出力信号(周期的な信号)になるからである。即ち、2
組のフォトインタラプタ301及び302を別個の位置
に配置することにより、分離が完了した場合に、少なく
とも一方のフォトインタラプタの光路が基板101aに
より継続して遮られることになるため、分離の完了を認
識することができる。
及び302を設けたのは、オリエンテーションフラット
101dが1組のフォトインタラプタの前に位置する時
に貼り合わせ基板101の分離が完了した場合には、該
フォトインタラプタの出力信号が分離の完了前と同一の
出力信号(周期的な信号)になるからである。即ち、2
組のフォトインタラプタ301及び302を別個の位置
に配置することにより、分離が完了した場合に、少なく
とも一方のフォトインタラプタの光路が基板101aに
より継続して遮られることになるため、分離の完了を認
識することができる。
【0170】ただし、上記の理由により2組のフォトイ
ンタラプタを設けることが好ましいが、フォトインタラ
プタを1組のみにすることも可能である。その理由は、
貼り合わせ基板101の全周において位置合わせ部(特
に、ノッチ)が占める割合は比較的小さいため、分離の
完了を検知することができない確率は小さいからであ
る。即ち、分離の開始後に所定時間が経過しても分離が
完了したことを検知することができない場合(位置合わ
せ部がフォトインタラプタの前に位置する状態で分離が
完了した場合)には、実際には分離が完了しているもの
と看做して次の貼り合わせ基板を分離するための処理に
移行する方式を採用した場合においても、一連の分離処
理の過大な遅延を齎すことにはならない。
ンタラプタを設けることが好ましいが、フォトインタラ
プタを1組のみにすることも可能である。その理由は、
貼り合わせ基板101の全周において位置合わせ部(特
に、ノッチ)が占める割合は比較的小さいため、分離の
完了を検知することができない確率は小さいからであ
る。即ち、分離の開始後に所定時間が経過しても分離が
完了したことを検知することができない場合(位置合わ
せ部がフォトインタラプタの前に位置する状態で分離が
完了した場合)には、実際には分離が完了しているもの
と看做して次の貼り合わせ基板を分離するための処理に
移行する方式を採用した場合においても、一連の分離処
理の過大な遅延を齎すことにはならない。
【0171】その他、この分離装置100は、ポンプ1
19及びノズル118を有し、ポンプ119より高圧の
ジェット構成媒体(例えば、水)をノズル118に送り
込み、これによりノズル118からジェットを噴射させ
る。また、ノズル118の下方には、シャッタ117が
配置されている。ここで、ジェットの圧力は、例えば5
00kgf/平方cm程度が好適であり、ノズル118
の径は、例えば0.1mm程度が好適である。
19及びノズル118を有し、ポンプ119より高圧の
ジェット構成媒体(例えば、水)をノズル118に送り
込み、これによりノズル118からジェットを噴射させ
る。また、ノズル118の下方には、シャッタ117が
配置されている。ここで、ジェットの圧力は、例えば5
00kgf/平方cm程度が好適であり、ノズル118
の径は、例えば0.1mm程度が好適である。
【0172】図12は、本発明の好適な実施の形態に係
る分離処理の流れを示すフローチャートである。以下、
図12を参照しながら分離装置300による分離処理の
流れを説明する。なお、この分離処理は、コントローラ
116により制御される。
る分離処理の流れを示すフローチャートである。以下、
図12を参照しながら分離装置300による分離処理の
流れを説明する。なお、この分離処理は、コントローラ
116により制御される。
【0173】まず、ステップS101において、不図示
の搬送ロボット等により、1又は複数の貼り合わせ基板
101が収容されたカセットから1枚の貼り合わせ基板
101を取り出して分離装置100にセットする。具体
的には、エアシリンダ112にピストン113を収容さ
せることにより支持体110を後退させ、これにより基
板保持部105を後退させる。次いで、基板保持部10
4と基板保持部105との間にカセットから取り出した
貼り合わせ基板101を搬送し、貼り合わせ基板101
の中心と基板保持部104及び105の中心軸とを位置
合わせする。次いで、エアシリンダ112にピストン1
13を押し出させることにより支持体110を前進さ
せ、これにより基板保持部105により貼り合わせ基板
101の中央部を押圧して保持させる。次いで、必要に
応じて、基板保持部104及び105の吸着機構を作動
させる。
の搬送ロボット等により、1又は複数の貼り合わせ基板
101が収容されたカセットから1枚の貼り合わせ基板
101を取り出して分離装置100にセットする。具体
的には、エアシリンダ112にピストン113を収容さ
せることにより支持体110を後退させ、これにより基
板保持部105を後退させる。次いで、基板保持部10
4と基板保持部105との間にカセットから取り出した
貼り合わせ基板101を搬送し、貼り合わせ基板101
の中心と基板保持部104及び105の中心軸とを位置
合わせする。次いで、エアシリンダ112にピストン1
13を押し出させることにより支持体110を前進さ
せ、これにより基板保持部105により貼り合わせ基板
101の中央部を押圧して保持させる。次いで、必要に
応じて、基板保持部104及び105の吸着機構を作動
させる。
【0174】ステップS102では、モータ120を作
動させて貼り合わせ基板101を所定の回転速度(例え
ば、1回転/8秒)で回転させる。これにより、回転軸
104、基板保持部104、貼り合わせ基板101、基
板保持部105及び回転軸103は、一体化して回転す
る。
動させて貼り合わせ基板101を所定の回転速度(例え
ば、1回転/8秒)で回転させる。これにより、回転軸
104、基板保持部104、貼り合わせ基板101、基
板保持部105及び回転軸103は、一体化して回転す
る。
【0175】ステップS103では、ポンプ119を作
動させてノズル118にジェット構成媒体(例えば、
水)を送り込む。そして、ジェットが安定したら、ステ
ップS104において、シャッタ117を開いて、貼り
合わせ基板101の多孔質層101bにジェットを挟入
させる。これにより、貼り合わせ基板101の多孔質層
101bには、ジェットによる衝撃力と、貼り合わせ基
板101の内部に注入されるジェット構成媒体の圧力に
よる分離力とが作用し、分離が進行する。
動させてノズル118にジェット構成媒体(例えば、
水)を送り込む。そして、ジェットが安定したら、ステ
ップS104において、シャッタ117を開いて、貼り
合わせ基板101の多孔質層101bにジェットを挟入
させる。これにより、貼り合わせ基板101の多孔質層
101bには、ジェットによる衝撃力と、貼り合わせ基
板101の内部に注入されるジェット構成媒体の圧力に
よる分離力とが作用し、分離が進行する。
【0176】ステップS105では、分離の状況を検知
する。具体的には、この実施の形態では、コントローラ
116は、2組のフォトインタラプタ301及び302
の出力信号に基づいて、基板保持部105側の基板10
1aが回転しているか否かを判断する。前述のように、
2組のフォトインタラプタ301及び302の少なくと
も一方の出力が、モータ120が回転軸102を1回転
させる時間の間(例えば、8秒間)、略一定であれば基
板101aの回転が停止したものと判断することができ
る。
する。具体的には、この実施の形態では、コントローラ
116は、2組のフォトインタラプタ301及び302
の出力信号に基づいて、基板保持部105側の基板10
1aが回転しているか否かを判断する。前述のように、
2組のフォトインタラプタ301及び302の少なくと
も一方の出力が、モータ120が回転軸102を1回転
させる時間の間(例えば、8秒間)、略一定であれば基
板101aの回転が停止したものと判断することができ
る。
【0177】ステップS106では、ステップS105
における判断結果に基づいて、貼り合わせ基板101の
分離が完了したか否かを判断する。具体的には、前述の
ように、基板保持部105側の基板101aの回転が停
止している場合には、貼り合わせ基板101の分離が完
了したものと看做すことができる。貼り合わせ基板10
1の分離が完了したものと判断した場合はステップS1
07に進み、一方、未完了であると判断した場合はステ
ップS105に戻る。後者の場合は、貼り合わせ基板1
01の分離が継続されることになる。
における判断結果に基づいて、貼り合わせ基板101の
分離が完了したか否かを判断する。具体的には、前述の
ように、基板保持部105側の基板101aの回転が停
止している場合には、貼り合わせ基板101の分離が完
了したものと看做すことができる。貼り合わせ基板10
1の分離が完了したものと判断した場合はステップS1
07に進み、一方、未完了であると判断した場合はステ
ップS105に戻る。後者の場合は、貼り合わせ基板1
01の分離が継続されることになる。
【0178】ステップS107では、シャッタ117を
閉じて貼り合わせ基板101に対するジェットの挟入を
停止させる。ステップS108では、ポンプ119を停
止させてジェットの噴射を停止させる。ステップS10
9では、モータ120を停止させる。
閉じて貼り合わせ基板101に対するジェットの挟入を
停止させる。ステップS108では、ポンプ119を停
止させてジェットの噴射を停止させる。ステップS10
9では、モータ120を停止させる。
【0179】ステップS110では、まず、エアシリン
ダ112を作動させて支持体110を後退させ、これに
より基板保持部105を後退させる。次いで、不図示の
搬送ロボットに基板101a及び101cを引き渡し、
該搬送ロボットにより各基板をカセットに収容する。
ダ112を作動させて支持体110を後退させ、これに
より基板保持部105を後退させる。次いで、不図示の
搬送ロボットに基板101a及び101cを引き渡し、
該搬送ロボットにより各基板をカセットに収容する。
【0180】ステップS111では、全貼り合わせ基板
101に関して分離処理が完了したか否かを確認し、未
完了であればステップS101に戻って処理を繰り返
す。
101に関して分離処理が完了したか否かを確認し、未
完了であればステップS101に戻って処理を繰り返
す。
【0181】以上の分離処理によれば、貼り合わせ基板
の一方の面に対して回転力を伝達して該貼り合わせ基板
を回転させな分離しつつ、該貼り合わせ基板の他方の面
の回転を検知することにより、貼り合わせ基板の分離の
状況を監視し、分離が完了した後に直ちに次の処理(例
えば、次の貼り合わせ基板の分離のための処理)に移行
することができる。従って、分離処理に要する時間を短
縮することができる。また、この分離処理によれば、分
離後の基板に対して不要なジェットを挟入させることを
避けることができるため、分離後の基板の品質の低下を
防止することができる。
の一方の面に対して回転力を伝達して該貼り合わせ基板
を回転させな分離しつつ、該貼り合わせ基板の他方の面
の回転を検知することにより、貼り合わせ基板の分離の
状況を監視し、分離が完了した後に直ちに次の処理(例
えば、次の貼り合わせ基板の分離のための処理)に移行
することができる。従って、分離処理に要する時間を短
縮することができる。また、この分離処理によれば、分
離後の基板に対して不要なジェットを挟入させることを
避けることができるため、分離後の基板の品質の低下を
防止することができる。
【0182】なお、上記の実施の形態では、貼り合わせ
基板101を構成する一方の基板(回転力を伝達しない
側の基板)101aの回転を直接検知することにより、
貼り合わせ基板101の分離の状況を監視するが、該一
方の基板101aを保持している基板保持部105又は
回転軸103の回転を検知することにより該一方の基板
101aの回転を間接的に検知してもよい。
基板101を構成する一方の基板(回転力を伝達しない
側の基板)101aの回転を直接検知することにより、
貼り合わせ基板101の分離の状況を監視するが、該一
方の基板101aを保持している基板保持部105又は
回転軸103の回転を検知することにより該一方の基板
101aの回転を間接的に検知してもよい。
【0183】[第4の実施の形態]この実施の形態で
は、貼り合わせ基板を一対の基板保持部により両側から
挟むようにして保持しながら分離する分離装置におい
て、貼り合わせ基板の分離中に、該一対の基板保持部に
貼り合わせ基板を吸着させて両側に引っ張り、その際の
該一対の基板保持部の少なくとも一方の変位を検知する
ことにより、貼り合わせ基板の分離の状況を監視する。
は、貼り合わせ基板を一対の基板保持部により両側から
挟むようにして保持しながら分離する分離装置におい
て、貼り合わせ基板の分離中に、該一対の基板保持部に
貼り合わせ基板を吸着させて両側に引っ張り、その際の
該一対の基板保持部の少なくとも一方の変位を検知する
ことにより、貼り合わせ基板の分離の状況を監視する。
【0184】図11は、本発明の第4の実施の形態に係
る分離装置の概略的な構成を示す図である。この分離装
置400は、同一の回転軸上に存在する基板保持部45
1及び452を有し、この基板保持部451及び452
により貼り合わせ基板101を両側から挟むようにして
押圧して保持する。貼り合わせ基板101は、内部に脆
弱な構造部である多孔質層101bを有し、この分離装
置100により、この多孔質層101bの部分で2つの
基板101a及び101cに分離される。この分離装置
100においては、例えば、基板101aが図1におけ
る第1の基板側(’)、基板101cが図1における
第2の基板側(’’+)になるようにセットする。
る分離装置の概略的な構成を示す図である。この分離装
置400は、同一の回転軸上に存在する基板保持部45
1及び452を有し、この基板保持部451及び452
により貼り合わせ基板101を両側から挟むようにして
押圧して保持する。貼り合わせ基板101は、内部に脆
弱な構造部である多孔質層101bを有し、この分離装
置100により、この多孔質層101bの部分で2つの
基板101a及び101cに分離される。この分離装置
100においては、例えば、基板101aが図1におけ
る第1の基板側(’)、基板101cが図1における
第2の基板側(’’+)になるようにセットする。
【0185】基板保持部451は、内部に多角形状の空
洞を有し、この空洞に回転軸403の先端が摺動可能に
嵌合されている。回転軸403は、モータ120の回転
軸に連結されており、基板保持部451は、回転軸40
3の回転に伴って回転する。また、基板保持部451
は、押しバネ411により先端方向(x軸の正方向)に
押し出されて、貼り合わせ基板101を押圧する。基板
保持部451には、環状の操作部417が2本の棒状部
材により固定されている。この操作部417の片面には
環状の反射鏡419が固定されている。また、回転軸4
03には、押しバネ411及び基板保持部451を覆う
ための円筒状のカバー部材409が設けられている。
洞を有し、この空洞に回転軸403の先端が摺動可能に
嵌合されている。回転軸403は、モータ120の回転
軸に連結されており、基板保持部451は、回転軸40
3の回転に伴って回転する。また、基板保持部451
は、押しバネ411により先端方向(x軸の正方向)に
押し出されて、貼り合わせ基板101を押圧する。基板
保持部451には、環状の操作部417が2本の棒状部
材により固定されている。この操作部417の片面には
環状の反射鏡419が固定されている。また、回転軸4
03には、押しバネ411及び基板保持部451を覆う
ための円筒状のカバー部材409が設けられている。
【0186】回転軸403は、軸受405及び407を
介して支持台430に回転可能に軸支されている。回転
軸403内には、基板保持部451内の空間415及び
吸引孔421内を減圧することにより、貼り合わせ基板
101の一方の面(基板101c)を吸着すると共に基
板保持部451を後退させるための真空ライン423が
設けられている。この真空ライン423は、回転軸40
3の後端に設けられたシール用のリング401、真空継
手402及び真空ライン425を介して真空電磁弁44
0に接続されている。
介して支持台430に回転可能に軸支されている。回転
軸403内には、基板保持部451内の空間415及び
吸引孔421内を減圧することにより、貼り合わせ基板
101の一方の面(基板101c)を吸着すると共に基
板保持部451を後退させるための真空ライン423が
設けられている。この真空ライン423は、回転軸40
3の後端に設けられたシール用のリング401、真空継
手402及び真空ライン425を介して真空電磁弁44
0に接続されている。
【0187】支持台430には、反射鏡419の変位、
即ち、基板保持部451の変位を検知するための反射型
(即ち、非接触型)の変位センサ420が固定されてい
る。この変位センサ420の出力信号線は、変位測定器
427に接続されている。変位測定器427は、変位セ
ンサ420の出力信号を変位情報に変換してコントロー
ラ116に供給する。
即ち、基板保持部451の変位を検知するための反射型
(即ち、非接触型)の変位センサ420が固定されてい
る。この変位センサ420の出力信号線は、変位測定器
427に接続されている。変位測定器427は、変位セ
ンサ420の出力信号を変位情報に変換してコントロー
ラ116に供給する。
【0188】基板保持部452は、内部に多角形状の空
洞を有し、この空洞に回転軸404の先端が摺動可能に
嵌合されている。貼り合わせ基板101が分離される前
は、貼り合わせ基板101の回転に伴って基板保持部4
52及び回転軸404が回転する。また、基板保持部4
52は、押しバネ412により先端方向(x軸の負方
向)に押し出されて、貼り合わせ基板101を押圧す
る。基板保持部452には、環状の操作部418が2本
の棒状部材により固定されている。また、回転軸404
には、押しバネ412及び基板保持部452を覆うため
の円筒状のカバー部材410が設けられている。
洞を有し、この空洞に回転軸404の先端が摺動可能に
嵌合されている。貼り合わせ基板101が分離される前
は、貼り合わせ基板101の回転に伴って基板保持部4
52及び回転軸404が回転する。また、基板保持部4
52は、押しバネ412により先端方向(x軸の負方
向)に押し出されて、貼り合わせ基板101を押圧す
る。基板保持部452には、環状の操作部418が2本
の棒状部材により固定されている。また、回転軸404
には、押しバネ412及び基板保持部452を覆うため
の円筒状のカバー部材410が設けられている。
【0189】回転軸404は、軸受406及び408を
介して支持台430に回転可能に軸支されている。回転
軸404内には、基板保持部452内の空間416及び
吸引孔422内を減圧することにより、貼り合わせ基板
101の他方の面(基板101a)を吸着すると共に基
板保持部452を後退させるための真空ライン423が
設けられている。この真空ライン423は、回転軸40
3の後端から回転式の真空継手424及び真空ライン4
26を介して真空電磁弁440に接続されている。
介して支持台430に回転可能に軸支されている。回転
軸404内には、基板保持部452内の空間416及び
吸引孔422内を減圧することにより、貼り合わせ基板
101の他方の面(基板101a)を吸着すると共に基
板保持部452を後退させるための真空ライン423が
設けられている。この真空ライン423は、回転軸40
3の後端から回転式の真空継手424及び真空ライン4
26を介して真空電磁弁440に接続されている。
【0190】貼り合わせ基板101を分離装置400に
セットするには、まず、操作部417と操作部418と
の間隔を手動又はロボットにより広げることにより、基
板保持部451と基板保持部452との間に相応の間隔
を設ける。
セットするには、まず、操作部417と操作部418と
の間隔を手動又はロボットにより広げることにより、基
板保持部451と基板保持部452との間に相応の間隔
を設ける。
【0191】次いで、不図示の搬送ロボット等により貼
り合わせ基板101を基板保持部451と基板保持部4
52との間に搬送し、貼り合わせ基板101の中心と基
板保持部452及び452の中心とを一致させる。
り合わせ基板101を基板保持部451と基板保持部4
52との間に搬送し、貼り合わせ基板101の中心と基
板保持部452及び452の中心とを一致させる。
【0192】次いで、操作部417及び418を元に戻
すことにより、貼り合わせ基板101は、押しバネ41
1及び412の作用により、基板保持部451及び45
2により両側から押圧して保持される。
すことにより、貼り合わせ基板101は、押しバネ41
1及び412の作用により、基板保持部451及び45
2により両側から押圧して保持される。
【0193】一方、分離された各基板101a及び10
1cを分離装置400から取り外すには、まず、不図示
の搬送ロボット等により各基板101a及び101cを
保持する。
1cを分離装置400から取り外すには、まず、不図示
の搬送ロボット等により各基板101a及び101cを
保持する。
【0194】次いで、操作部417と操作部418との
間隔を手動又はロボットにより広げることにより、基板
保持部451と基板保持部452との間に相応の間隔を
設けるて、基板保持部451及び452による基板10
1a及び101cの保持を解除する。
間隔を手動又はロボットにより広げることにより、基板
保持部451と基板保持部452との間に相応の間隔を
設けるて、基板保持部451及び452による基板10
1a及び101cの保持を解除する。
【0195】貼り合わせ基板101の分離の完了を確認
する際は、真空電磁弁440を作動させて空間415及
び416並びに吸引孔421及び422内を減圧する。
この時、貼り合わせ基板101が既に2枚の基板101
a及び101cに分離されていると、基板保持部45
1,452は夫々基板101c,101aを吸着した状
態で後退する。従って、基板保持部321に固定された
操作部417及び反射鏡419も後退し、その変位が変
位センサ420により検知される。
する際は、真空電磁弁440を作動させて空間415及
び416並びに吸引孔421及び422内を減圧する。
この時、貼り合わせ基板101が既に2枚の基板101
a及び101cに分離されていると、基板保持部45
1,452は夫々基板101c,101aを吸着した状
態で後退する。従って、基板保持部321に固定された
操作部417及び反射鏡419も後退し、その変位が変
位センサ420により検知される。
【0196】その他、この分離装置100は、ポンプ1
19及びノズル118を有し、ポンプ119より高圧の
ジェット構成媒体(例えば、水)をノズル118に送り
込み、これによりノズル118からジェットを噴射させ
る。また、ノズル118の下方には、シャッタ117が
配置されている。ここで、ジェットの圧力は、例えば5
00kgf/平方cm程度が好適であり、ノズル118
の径は、例えば0.1mm程度が好適である。
19及びノズル118を有し、ポンプ119より高圧の
ジェット構成媒体(例えば、水)をノズル118に送り
込み、これによりノズル118からジェットを噴射させ
る。また、ノズル118の下方には、シャッタ117が
配置されている。ここで、ジェットの圧力は、例えば5
00kgf/平方cm程度が好適であり、ノズル118
の径は、例えば0.1mm程度が好適である。
【0197】図12は、本発明の好適な実施の形態に係
る分離処理の流れを示すフローチャートである。以下、
図12を参照しながら分離装置400による分離処理の
流れを説明する。なお、この分離処理は、コントローラ
116により制御される。
る分離処理の流れを示すフローチャートである。以下、
図12を参照しながら分離装置400による分離処理の
流れを説明する。なお、この分離処理は、コントローラ
116により制御される。
【0198】まず、ステップS101では、不図示の搬
送ロボット等により、1又は複数の貼り合わせ基板10
1が収容されたカセットから1枚の貼り合わせ基板10
1を取り出して前述の手順により分離装置400にセッ
トする。
送ロボット等により、1又は複数の貼り合わせ基板10
1が収容されたカセットから1枚の貼り合わせ基板10
1を取り出して前述の手順により分離装置400にセッ
トする。
【0199】ステップS102では、モータ120を作
動させて貼り合わせ基板101を所定の回転速度で回転
させる。この時、回転軸403、基板保持部451、貼
り合わせ基板101、基板保持部452、回転軸404
等は、一体化して回転する。
動させて貼り合わせ基板101を所定の回転速度で回転
させる。この時、回転軸403、基板保持部451、貼
り合わせ基板101、基板保持部452、回転軸404
等は、一体化して回転する。
【0200】ステップS103では、ポンプ119を作
動させてノズル118にジェット構成媒体(例えば、
水)を送り込む。そして、ジェットが安定したら、ステ
ップS104において、シャッタ117を開いて、貼り
合わせ基板101の多孔質層101bにジェットを挟入
させる。これにより、貼り合わせ基板101の多孔質層
101bには、ジェットによる衝撃力と、貼り合わせ基
板101の内部に注入されるジェット構成媒体の圧力に
よる分離力とが作用し、分離が進行する。
動させてノズル118にジェット構成媒体(例えば、
水)を送り込む。そして、ジェットが安定したら、ステ
ップS104において、シャッタ117を開いて、貼り
合わせ基板101の多孔質層101bにジェットを挟入
させる。これにより、貼り合わせ基板101の多孔質層
101bには、ジェットによる衝撃力と、貼り合わせ基
板101の内部に注入されるジェット構成媒体の圧力に
よる分離力とが作用し、分離が進行する。
【0201】ステップS105では、分離の状況を検知
する。具体的には、この実施の形態では、コントローラ
116は、真空電磁弁440を作動させて空間415及
び416並びに吸引孔421及び422内を減圧する。
そして、この時の操作部417に固定された反射鏡41
9の変位(即ち、基板101cの変位)を示す変位情報
を変位測定器427から取得する。なお、ステップS1
05は、ステップS106において貼り合わせ基板10
1の分離が完了したと判断されるまで、所定の時間間隔
(例えば、20秒毎)に実行される。
する。具体的には、この実施の形態では、コントローラ
116は、真空電磁弁440を作動させて空間415及
び416並びに吸引孔421及び422内を減圧する。
そして、この時の操作部417に固定された反射鏡41
9の変位(即ち、基板101cの変位)を示す変位情報
を変位測定器427から取得する。なお、ステップS1
05は、ステップS106において貼り合わせ基板10
1の分離が完了したと判断されるまで、所定の時間間隔
(例えば、20秒毎)に実行される。
【0202】ステップS106では、変位情報に基づい
て、貼り合わせ基板101の分離が完了したか否かを判
断する。具体的には、空間415及び416並びに吸引
孔421及び422内を減圧した際の操作部417の変
位が所定量を越えたら貼り合わせ基板101の分離が完
了したものと看做すことができる。貼り合わせ基板10
1の分離が完了したものと判断した場合はステップS1
07に進み、一方、未完了であると判断した場合はステ
ップS105に戻る。後者の場合は、貼り合わせ基板1
01の分離が継続されることになる。
て、貼り合わせ基板101の分離が完了したか否かを判
断する。具体的には、空間415及び416並びに吸引
孔421及び422内を減圧した際の操作部417の変
位が所定量を越えたら貼り合わせ基板101の分離が完
了したものと看做すことができる。貼り合わせ基板10
1の分離が完了したものと判断した場合はステップS1
07に進み、一方、未完了であると判断した場合はステ
ップS105に戻る。後者の場合は、貼り合わせ基板1
01の分離が継続されることになる。
【0203】なお、貼り合わせ基板101の分離が完了
すると、基板101aと基板101cとが別体になるた
め、基板101cの回転に拘らず、基板101aの回転
は停止する。
すると、基板101aと基板101cとが別体になるた
め、基板101cの回転に拘らず、基板101aの回転
は停止する。
【0204】ステップS107では、シャッタ117を
閉じて貼り合わせ基板101に対するジェットの挟入を
停止させる。ステップS108では、ポンプ119を停
止させてジェットの噴射を停止させる。ステップS10
9では、モータ120を停止させる。
閉じて貼り合わせ基板101に対するジェットの挟入を
停止させる。ステップS108では、ポンプ119を停
止させてジェットの噴射を停止させる。ステップS10
9では、モータ120を停止させる。
【0205】ステップS110では、まず、不図示の搬
送ロボット等により各基板101a及び101cを保持
する。次いで、操作部417と操作部418との間隔を
手動又はロボットにより広げることにより、基板保持部
312と基板保持部313との間に相応の間隔を設け
て、基板保持部451及び452による基板101a及
び101cの保持を解除する。次いで、不図示の搬送ロ
ボットにより基板101a及び101cをカセットに収
容する。
送ロボット等により各基板101a及び101cを保持
する。次いで、操作部417と操作部418との間隔を
手動又はロボットにより広げることにより、基板保持部
312と基板保持部313との間に相応の間隔を設け
て、基板保持部451及び452による基板101a及
び101cの保持を解除する。次いで、不図示の搬送ロ
ボットにより基板101a及び101cをカセットに収
容する。
【0206】ステップS111では、全貼り合わせ基板
101に関して分離処理が完了したか否かを確認し、未
完了であればステップS101に戻って処理を繰り返
す。
101に関して分離処理が完了したか否かを確認し、未
完了であればステップS101に戻って処理を繰り返
す。
【0207】以上の分離処理によれば、貼り合わせ基板
の分離中に、一対の基板保持部により貼り合わせ基板を
吸着させて両側に引っ張ることにより、貼り合わせ基板
の分離の状況を監視し、分離が完了した後に直ちに次の
処理(例えば、次の貼り合わせ基板の分離のための処
理)に移行することができる。従って、分離処理に要す
る時間を短縮することができる。また、この分離処理に
よれば、分離後の基板に対して不要なジェットを挟入さ
せることを避けることができるため、分離後の基板の品
質の低下を防止することができる。
の分離中に、一対の基板保持部により貼り合わせ基板を
吸着させて両側に引っ張ることにより、貼り合わせ基板
の分離の状況を監視し、分離が完了した後に直ちに次の
処理(例えば、次の貼り合わせ基板の分離のための処
理)に移行することができる。従って、分離処理に要す
る時間を短縮することができる。また、この分離処理に
よれば、分離後の基板に対して不要なジェットを挟入さ
せることを避けることができるため、分離後の基板の品
質の低下を防止することができる。
【0208】[応用例]この応用例は、上記の各実施の
形態に係る分離装置を組み込んだ自動分離装置に関す
る。なお、以下では、第1の実施の形態に係る分離装置
を組み込んだ自動分離装置を一例に挙げて説明するが、
他の実施の形態に係る分離装置に関しても、同様に、こ
の自動分離装置に組み込むことができる。
形態に係る分離装置を組み込んだ自動分離装置に関す
る。なお、以下では、第1の実施の形態に係る分離装置
を組み込んだ自動分離装置を一例に挙げて説明するが、
他の実施の形態に係る分離装置に関しても、同様に、こ
の自動分離装置に組み込むことができる。
【0209】図13は、本発明の好適な実施の形態に係
る分離装置の応用例に係る自動分離装置の概略的な構成
を示す平面図である。この自動分離装置500は、第1
の実施の形態に係る分離装置100(図2参照)と、搬
送ロボット560と、芯出し装置520と、ローダ53
0と、第1のアンローダ540と、第2のアンローダ5
50と、エアカーテン504とを備える。なお、この応
用例においては、分離装置100のシャッタ117を削
除し、その代わりにノズル118を移動させるための駆
動機構を設けていてる。
る分離装置の応用例に係る自動分離装置の概略的な構成
を示す平面図である。この自動分離装置500は、第1
の実施の形態に係る分離装置100(図2参照)と、搬
送ロボット560と、芯出し装置520と、ローダ53
0と、第1のアンローダ540と、第2のアンローダ5
50と、エアカーテン504とを備える。なお、この応
用例においては、分離装置100のシャッタ117を削
除し、その代わりにノズル118を移動させるための駆
動機構を設けていてる。
【0210】分離装置100は、ジェット構成媒体(例
えば、水)が飛散することを防止するためにチャンバ−
510内に配置されている。このチャンバ−510に
は、分離前の貼り合わせ基板101並びに分離後の基板
101a及び101cを出し入れするためのシャッター
503が設けられている。
えば、水)が飛散することを防止するためにチャンバ−
510内に配置されている。このチャンバ−510に
は、分離前の貼り合わせ基板101並びに分離後の基板
101a及び101cを出し入れするためのシャッター
503が設けられている。
【0211】シャッター503の内側には、分離後の基
板101a及び101cに付着したジェット構成媒体を
除去するためのエアカーテン504が設けられている。
板101a及び101cに付着したジェット構成媒体を
除去するためのエアカーテン504が設けられている。
【0212】分離処理に先立って、ローダ530上に
は、未処理の貼り合わせ基板101を収容したカセット
531が載置され、第1及び第2のアンローダ540及
び550上には、分離後の基板を収容するための空のカ
セット541及び551が夫々載置される。
は、未処理の貼り合わせ基板101を収容したカセット
531が載置され、第1及び第2のアンローダ540及
び550上には、分離後の基板を収容するための空のカ
セット541及び551が夫々載置される。
【0213】芯出し装置520は、シリンダ521によ
り、貼り合わせ基板101の形状に適合する円弧状の面
を有するガイド部材522を押し出して、該ガイド部材
521と、対向したガイド部材523との間に貼り合わ
せ基板101を挟むことにより、貼り合わせ基板101
の芯出しを行う。
り、貼り合わせ基板101の形状に適合する円弧状の面
を有するガイド部材522を押し出して、該ガイド部材
521と、対向したガイド部材523との間に貼り合わ
せ基板101を挟むことにより、貼り合わせ基板101
の芯出しを行う。
【0214】搬送ロボット560は、ロボットハンド5
61により貼り合わせ基板101又は分離後の各基板を
保持して各装置又はカセットに搬送する。ロボットハン
ド561は、水平に保持した基板を垂直にしたり、裏返
したりするための回転機構を有する。
61により貼り合わせ基板101又は分離後の各基板を
保持して各装置又はカセットに搬送する。ロボットハン
ド561は、水平に保持した基板を垂直にしたり、裏返
したりするための回転機構を有する。
【0215】図14は、この自動分離装置500による
分離処理の流れを概略的に示すフローチャートである。
この分離処理は、不図示のコントローラにより制御され
る。また、この分離処理は、ローダ530上に未処理の
貼り合わせ基板101を収容したカセット531が載置
され、第1及び第2のアンローダ540及び550上
に、分離後の基板を収容するための空のカセット541
及び551が夫々載置された後に実行される。
分離処理の流れを概略的に示すフローチャートである。
この分離処理は、不図示のコントローラにより制御され
る。また、この分離処理は、ローダ530上に未処理の
貼り合わせ基板101を収容したカセット531が載置
され、第1及び第2のアンローダ540及び550上
に、分離後の基板を収容するための空のカセット541
及び551が夫々載置された後に実行される。
【0216】まず、ステップS201では、搬送ロボッ
ト560のロボットハンド561によりローダ530上
のカセット531から貼り合わせ基板101を取り出し
て、芯出し装置520により、その貼り合わせ基板10
1の芯出しを行う。次いで、ステップS602において
シャッター503を開いて、ステップS603におい
て、ロボットハンド561を90度回動させることによ
り、芯出しを終えた貼り合わせ基板101の面を垂直に
し、分離装置100にセットし、ステップS204にお
いてシャッター503を閉じる。
ト560のロボットハンド561によりローダ530上
のカセット531から貼り合わせ基板101を取り出し
て、芯出し装置520により、その貼り合わせ基板10
1の芯出しを行う。次いで、ステップS602において
シャッター503を開いて、ステップS603におい
て、ロボットハンド561を90度回動させることによ
り、芯出しを終えた貼り合わせ基板101の面を垂直に
し、分離装置100にセットし、ステップS204にお
いてシャッター503を閉じる。
【0217】次いで、ステップS205において貼り合
わせ基板101を回転させ、ステップS206において
ジェットの噴射を開始し、ステップS207において、
不図示の駆動機構により、ノズル118を待機位置50
1より移動経路502に沿って貼り合わせ基板101の
中心上に移動させる。これにより、貼り合わせ基板10
1の分離が開始される。
わせ基板101を回転させ、ステップS206において
ジェットの噴射を開始し、ステップS207において、
不図示の駆動機構により、ノズル118を待機位置50
1より移動経路502に沿って貼り合わせ基板101の
中心上に移動させる。これにより、貼り合わせ基板10
1の分離が開始される。
【0218】次いで、ステップS208では、基板保持
部105及び回転軸103の変位を示す変位情報に基づ
いて貼り合わせ基板101の分離の状況を検知する。そ
して、ステップS109では、分離が完了したか否かを
判断し、完了した場合にはステップS210に進み、未
完了である場合にはステップS208に戻る。
部105及び回転軸103の変位を示す変位情報に基づ
いて貼り合わせ基板101の分離の状況を検知する。そ
して、ステップS109では、分離が完了したか否かを
判断し、完了した場合にはステップS210に進み、未
完了である場合にはステップS208に戻る。
【0219】次いで、ステップS210では、不図示の
駆動機構によりノズル118を移動経路502に沿って
待機位置501に戻し、ステップS211では、ジェッ
トの噴射を停止させる。
駆動機構によりノズル118を移動経路502に沿って
待機位置501に戻し、ステップS211では、ジェッ
トの噴射を停止させる。
【0220】次いで、ステップS212ではシャッター
503を開く。次いで、ステップS213では、まず、
分離された一方の基板101aをロボットハンド561
により分離装置100から受け取り、エアカーテン50
4により該基板101aに付着しているジェット構成媒
体(例えば、水)を除去する(乾燥)。そして、ロボッ
トハンド561により分離面が上になるように該基板1
01aを回転させて、アンローダ540上のカセット5
41に収容する。
503を開く。次いで、ステップS213では、まず、
分離された一方の基板101aをロボットハンド561
により分離装置100から受け取り、エアカーテン50
4により該基板101aに付着しているジェット構成媒
体(例えば、水)を除去する(乾燥)。そして、ロボッ
トハンド561により分離面が上になるように該基板1
01aを回転させて、アンローダ540上のカセット5
41に収容する。
【0221】次いで、ステップS214では、まず、分
離された他方の基板101cをロボットハンド561に
より分離装置100から受け取り、エアカーテン504
により該基板101cに付着しているジェット構成媒体
を除去する(乾燥)。そして、ロボットハンド561に
より分離面が上になるように該基板101cを回転させ
て、アンローダ550上のカセット551に収容する。
離された他方の基板101cをロボットハンド561に
より分離装置100から受け取り、エアカーテン504
により該基板101cに付着しているジェット構成媒体
を除去する(乾燥)。そして、ロボットハンド561に
より分離面が上になるように該基板101cを回転させ
て、アンローダ550上のカセット551に収容する。
【0222】次いで、ステップS215ではシャッター
503を閉じる。次いで、ステップS216では、ロー
ダ530上のカセット531に収容された全貼り合わせ
基板101について処理が終了したか否かを確認し、未
処理の貼り合わせ基板101が残っている場合にはステ
ップS201に戻る。
503を閉じる。次いで、ステップS216では、ロー
ダ530上のカセット531に収容された全貼り合わせ
基板101について処理が終了したか否かを確認し、未
処理の貼り合わせ基板101が残っている場合にはステ
ップS201に戻る。
【0223】以上のように、本発明の好適な実施の形態
によれば、貼り合わせ基板の分離の状況を検知すること
により、分離が完了した後に直ちに次の処理に移行する
ことができるため、一連の分離処理に要する時間を短縮
することができる。
によれば、貼り合わせ基板の分離の状況を検知すること
により、分離が完了した後に直ちに次の処理に移行する
ことができるため、一連の分離処理に要する時間を短縮
することができる。
【0224】
【発明の効果】本発明によれば、流体を利用した試料の
分離処理を効率化することができる。
分離処理を効率化することができる。
【0225】
【図1】本発明の好適な実施の形態に係るSOI基板の
製造方法を工程順に説明する図である。
製造方法を工程順に説明する図である。
【図2】本発明の第1の実施の形態に係る分離装置の概
略的な構成を示す図である。
略的な構成を示す図である。
【図3】分離の初期段階における貼り合わせ基板及び分
離装置の様子を模式的に示す図である。
離装置の様子を模式的に示す図である。
【図4】分離が完了した後の貼り合わせ基板及び分離装
置の様子を模式的に示す図である。
置の様子を模式的に示す図である。
【図5】本発明の第2の実施の形態に係る分離装置の概
略的な構成を示す図である。
略的な構成を示す図である。
【図6】分離の初期段階における貼り合わせ基板及び分
離装置の様子を模式的に示す図である。
離装置の様子を模式的に示す図である。
【図7】分離が完了した後の貼り合わせ基板及び分離装
置の様子を模式的に示す図である。
置の様子を模式的に示す図である。
【図8】本発明の第3の実施の形態に係る分離装置の概
略的な構成を示す図である。
略的な構成を示す図である。
【図9】分離が完了する前の貼り合わせ基板及びフォト
インタラプタを模式的に示す図である。
インタラプタを模式的に示す図である。
【図10】分離が完了した後の貼り合わせ基板及びフォ
トインタラプタを模式的に示す図である。
トインタラプタを模式的に示す図である。
【図11】本発明の第4の実施の形態に係る分離装置の
概略的な構成を示す図である。
概略的な構成を示す図である。
【図12】本発明の好適な実施の形態に係る分離処理の
流れを示すフローチャートである。
流れを示すフローチャートである。
【図13】本発明の好適な実施の形態に係る分離装置の
応用例に係る自動分離装置の概略的な構成を示す平面図
である。
応用例に係る自動分離装置の概略的な構成を示す平面図
である。
【図14】自動分離装置による分離処理の流れを概略的
に示すフローチャートである。
に示すフローチャートである。
11 単結晶Si基板 12 多孔質Si層 13 非多孔質単結晶Si層 14 単結晶Si基板 15 絶縁層 100〜400 分離装置 101 貼り合わせ基板 101a 基板(第1の基板) 101b 多孔質層 101c 基板(第2の基板) 101d オリエンテーションフラット 102,103 回転軸 104,105 基板保持部 106 ベアリング 107 往復回転ガイド 108 押しバネ 109 変位センサ 110 支持体 111 往復動ガイド 112 エアシリンダ 113 ピストン 114 支持台 115 変位測定器 116 コントローラ 117 シャッター 118 ノズル 119 ポンプ 201 基板保持部 202 圧力センサ 202a 出力信号線 202b 電気接点 203 回転軸 204 接触子 205 信号線 206 圧力測定器 301,302 フォトインタラプタ 401 リング 402 真空継手 403,404 回転軸 405〜408 軸受 409,410 カバー部材 411,412 押しバネ 415,416 空間 417,418 操作部 419 反射鏡 420 変位センサ 421,422 吸引孔 423〜426 真空ライン 430 支持台 440 真空電磁弁 500 自動分離装置 501 待機位置 502 移動経路 503 シャッター 504 エアカーテン 510 チャンバー 520 芯出し装置 521 シリンダ 522,523 ガイド部材 530 ローダ 531 カセット 540 アンローダ 541 カセット 550 アンローダ 551 カセット
フロントページの続き (72)発明者 近江 和明 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 米原 隆夫 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 Fターム(参考) 5F043 AA02 BB01 EE07 EE08 GG01
Claims (71)
- 【請求項1】 流体により試料を分離する分離装置であ
って、 試料を保持する保持機構と、 前記保持機構により保持された試料に向けて流体を噴射
して該流体により該試料を分離する分離処理部と、 前記分離処理部による試料の分離の状況を検知する検知
部と、 前記検知部による検知結果に基づいて前記分離処理部を
制御する制御部と、 を備えることを特徴とする分離装置。 - 【請求項2】 前記制御部は、前記検知部による検知結
果に基づいて試料の分離が完了したことを認識した際
に、これに基づいて前記分離処理部による分離処理を停
止させることを特徴とする請求項1に記載の分離装置。 - 【請求項3】 前記検知部は、前記分離処理部による分
離処理の進行に伴って移動する部材の変位を検知するこ
とを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の分離装
置。 - 【請求項4】 前記検知部は、前記分離処理部による分
離処理の際に、前記保持機構により保持された試料の変
位を検知することを特徴とする請求項3に記載の分離装
置。 - 【請求項5】 前記検知部は、前記分離処理部による分
離処理の際に、試料を保持している前記保持機構の変位
を検知することを特徴とする請求項3に記載の分離装
置。 - 【請求項6】 前記保持機構は、試料を両側から挟むよ
うにして保持する一対の保持部を有し、前記検知部は、
前記分離処理部による分離処理の際に、前記一対の保持
部の少なくとも一方の変位を検知することを特徴とする
請求項3に記載の分離装置。 - 【請求項7】 前記検知部は、非接触型の変位センサを
含むことを特徴とする請求項3乃至請求項6のいずれか
1項に記載の分離装置。 - 【請求項8】 前記分離処理部は、前記噴射部が流体を
噴射する方向に略直交する軸を中心として前記保持機構
を回転させる回転源を有し、前記回転源により試料を回
転させながら分離処理を進めることを特徴とする請求項
1乃至請求項7のいずれか1項に記載の分離装置。 - 【請求項9】 前記保持機構は、試料の中央部付近を保
持することを特徴とする請求項8に記載の分離装置。 - 【請求項10】 前記試料は、板状の試料であり、前記
保持機構は、該試料を両側から挟むようにして押圧して
保持することを特徴とする請求項1乃至請求項9のいず
れか1項に記載の分離装置。 - 【請求項11】 前記試料は、内部に脆弱な層を有する
板状の試料であり、前記保持機構は、該試料を両側から
挟むようして押圧して保持し、前記分離処理部は、該試
料を前記脆弱な層で2枚に分離することを特徴とする請
求項1乃至請求項9のいずれか1項に記載の分離装置。 - 【請求項12】 前記検知部は、前記分離処理部による
分離処理の際に、試料を保持している前記保持機構が該
試料から受ける力を検知することを特徴とする請求項1
又は請求項2に記載の分離装置。 - 【請求項13】 前記検知部は圧力センサを含むことを
特徴とする請求項12に記載の分離装置。 - 【請求項14】 前記分離処理部は、前記噴射部が流体
を噴射する方向に略直交する軸を中心として前記保持機
構を回転させる回転源を有し、前記回転源により試料を
回転させながら分離処理を進めることを特徴とする請求
項12又は請求項13に記載の分離装置。 - 【請求項15】 前記保持機構は、試料の中央部付近を
保持することを特徴とする請求項14に記載の分離装
置。 - 【請求項16】 前記試料は、板状の試料であり、前記
保持機構は、該試料を両側から挟むようにして押圧して
保持することを特徴とする請求項12乃至請求項15の
いずれか1項に記載の分離装置。 - 【請求項17】 前記試料は、内部に脆弱な層を有する
板状の試料であり、前記保持機構は、該試料を両側から
挟むようして押圧して保持し、前記分離処理部は、該試
料を前記脆弱な層で2枚に分離することを特徴とする請
求項12乃至請求項15のいずれか1項に記載の分離装
置。 - 【請求項18】 前記試料は、円盤形状を有し、前記分
離処理部は、該試料の中心軸を中心として該試料が回転
するように前記保持機構を回転させる回転源を有し、前
記回転源により該試料を回転させながら分離処理を進め
ることを特徴とする請求項1乃至請求項17のいずれか
1項に記載の分離装置。 - 【請求項19】 前記試料は、円盤形状を有し、前記保
持機構は、該試料を両側から挟むようにして押圧して保
持する一対の保持部を有し、前記分離処理部は、該試料
の中心軸を中心として該試料が回転するように前記一対
の保持部のうち一方の保持部に回転力を伝達する回転源
を有し、前記回転源により該試料を回転させながら分離
処理を進めることを特徴とする請求項1又は請求項2に
記載の分離装置。 - 【請求項20】 前記検知部は、前記一対の保持部のう
ち他方の保持部が回転しているか否かを検知するセンサ
を有し、前記センサの出力に基づいて、試料の分離が完
了したか否かを検知することを特徴とする請求項19に
記載の分離装置。 - 【請求項21】 前記試料は、その外周部に位置決め部
を有し、前記検知部は、前記位置決め部が回転しながら
所定の時間間隔で所定の位置を通過しているか否かを検
知するフォトインタラプタを有し、前記フォトインタラ
プタの出力に基づいて、該試料が分離されたか否かを検
知することを特徴とする請求項19に記載の分離装置。 - 【請求項22】 前記検知部は、前記フォトインタラプ
タの出力が所定時間継続して略一定の値になった場合
に、試料の分離が完了したことを検知することを特徴と
する請求項21に記載の分離装置。 - 【請求項23】 前記検知部は、少なくとも2組の前記
フォトインタラプタを別個の位置に有し、前記少なくと
も2組のフォトインタラプタの出力に基づいて、試料が
分離されたか否かを検知することを特徴とする請求項2
1に記載の分離装置。 - 【請求項24】 前記検知部は、前記少なくとも2組の
フォトインタラプタの出力のうち少なくとも1つの出力
が所定時間継続して略一定の値になった場合に、試料の
分離が完了したことを検知することを特徴とする請求項
23に記載の分離装置。 - 【請求項25】 前記保持機構は、試料の中央部付近を
保持することを特徴とする請求項19乃至請求項24の
いずれか1項に記載の分離装置。 - 【請求項26】 前記試料は、内部に脆弱な層を有する
板状の試料であり、前記分離処理部は、該試料を前記脆
弱な層で2枚に分離することを特徴とする請求項19乃
至請求項25のいずれか1項に記載の分離装置。 - 【請求項27】 前記検知部は、 試料を両側に引っ張るための駆動機構と、 前記駆動機構により試料を両側に引っ張った際の前記駆
動機構の変位を検知する変位検知部と、 を有することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載
の分離装置。 - 【請求項28】 前記保持機構は、試料を両側から挟む
ようにして保持する一対の保持部を有し、 前記検知部は、 前記一対の保持部に試料を吸着させた状態で前記一対の
保持部の間隔を広げるように前記一対の保持部に駆動力
を作用させる駆動機構と、 前記駆動機構が前記一対の保持部に駆動力を作用させた
際の前記一対の保持部の少なくとも一方の変位を検知す
る変位検知部とを有することを特徴とする請求項1又は
請求項2に記載の分離装置。 - 【請求項29】 前記変位検出部は、非接触型の変位セ
ンサを含むことを特徴とする請求項27又は請求項28
に記載の分離装置。 - 【請求項30】 前記分離処理部は、前記噴射部が流体
を噴射する方向に略直交する軸を中心として前記保持機
構を回転させる回転源を有し、前記回転源により試料を
回転させながら分離処理を進めることを特徴とする請求
項27乃至請求項29のいずれか1項に記載の分離装
置。 - 【請求項31】 前記保持機構は、試料の中央部付近を
保持することを特徴とする請求項30に記載の分離装
置。 - 【請求項32】 前記試料は、板状の試料であり、前記
保持機構は、該試料を両側から挟むようにして押圧して
保持することを特徴とする請求項27乃至請求項31に
記載の分離装置。 - 【請求項33】 前記試料は、内部に脆弱な層を有する
板状の試料であり、前記保持機構は、該試料を両側から
挟むようして押圧して保持し、前記分離処理部は、該試
料を前記脆弱な層で2枚に分離することを特徴とする請
求項27乃至請求項31いずれか1項に記載の分離装
置。 - 【請求項34】 流体により試料を分離する分離方法で
あって、 試料に向けて流体を噴射しながら該流体により該試料を
分離する分離工程と、 前記分離工程における試料の分離の状況を検知する検知
工程と、 前記検知工程における検知結果に基づいて前記分離工程
を制御する制御工程と、 を有することを特徴とする分離方法。 - 【請求項35】 前記制御工程では、前記検知工程にお
ける検知結果に基づいて試料の分離が完了したことを認
識した際に、これに基づいて前記分離工程を終了させる
ことを特徴とする請求項34に記載の分離方法。 - 【請求項36】 前記検知工程では、前記分離工程の進
行に伴って移動する部材の変位を検知することを特徴と
する請求項34又は請求項35に記載の分離方法。 - 【請求項37】 前記検知工程では、前記分離工程の進
行中における試料の変位を検知することを特徴とする請
求項36に記載の分離方法。 - 【請求項38】 前記分離工程では、保持機構により試
料を保持しながら分離し、前記検知工程では、前記分離
工程の進行中における前記保持機構の変位を検知するこ
とを特徴とする請求項36に記載の分離方法。 - 【請求項39】 前記分離工程では、一対の保持部によ
り試料を両側から挟むようにして保持しながら該試料を
分離し、前記検知工程では、前記分離工程の進行中にお
ける前記一対の保持部の少なくとも一方の変位を検知す
ることを特徴とする請求項36に記載の分離方法。 - 【請求項40】 前記検知工程では、非接触型の変位セ
ンサにより試料の分離の状況を検知することを特徴とす
る請求項36乃至請求項39のいずれか1項に記載の分
離方法。 - 【請求項41】 前記分離工程では、流体を噴射する方
向に略直交する軸を中心として試料を回転させながら該
試料を分離することを特徴とする請求項34乃至請求項
40のいずれか1項に記載の分離方法。 - 【請求項42】 前記分離工程では、保持機構により試
料の中央部付近を保持した状態で該保持機構を回転させ
ることにより該試料を回転させることを特徴とする請求
項41に記載の分離方法。 - 【請求項43】 前記試料は、板状の試料であり、前記
分離工程では、該試料を両側から挟むようにして押圧し
て保持しながら分離することを特徴とする請求項34乃
至請求項42のいずれか1項に記載の分離方法。 - 【請求項44】 前記試料は、内部に脆弱な層を有する
板状の試料であり、前記分離工程では、該試料を該脆弱
な層で2枚に分離することを特徴とする請求項34乃至
請求項42のいずれか1項に記載の分離方法。 - 【請求項45】 前記分離工程では、保持機構により試
料を保持しながら分離し、前記検知工程では、前記保持
機構が該試料から受ける力を検知することを特徴とする
請求項34又は請求項35に記載の分離方法。 - 【請求項46】 前記検知工程では、圧力センサによ
り、前記保持機構が試料から受ける力を検知することを
特徴とする請求項45に記載の分離方法。 - 【請求項47】 前記分離工程では、流体を噴射する方
向に略直交する軸を中心として試料を回転させながら該
試料を分離することを特徴とする請求項45又は請求項
46に記載の分離方法。 - 【請求項48】 前記分離工程では、保持機構により試
料の中央部付近を保持した状態で該保持機構を回転させ
ることにより該試料を回転させることを特徴とする請求
項47に記載の分離方法。 - 【請求項49】 前記試料は、板状の試料であり、前記
分離工程では、該試料を両側から挟むようにして押圧し
て保持しながら分離することを特徴とする請求項45乃
至請求項48のいずれか1項に記載の分離方法。 - 【請求項50】 前記試料は、内部に脆弱な層を有する
板状の試料であり、前記分離工程では、該試料を該脆弱
な層で2枚に分離することを特徴とする請求項45乃至
請求項48のいずれか1項に記載の分離方法。 - 【請求項51】 前記試料は、円盤形状を有し、前記分
離工程では、該試料の中心軸を中心として該試料を回転
させながら分離することを特徴とする請求項34乃至請
求項50のいずれか1項に記載の分離方法。 - 【請求項52】 前記試料は、円盤形状を有し、前記分
離工程では、一対の保持部により該試料を両側から挟む
ようにして押圧して保持した状態で、前記一対の保持部
のうち一方の保持部に回転力を伝達し、これにより該試
料の中心軸を中心として該試料を回転させながら分離す
ることを特徴とする請求項34又は請求項35に記載の
分離方法。 - 【請求項53】 前記検知工程では、前記一対の保持部
のうち他方の保持部が回転しているか否かを検知し、こ
れに基づいて試料の分離が完了したか否かを検知するこ
とを特徴とする請求項52に記載の分離方法。 - 【請求項54】 前記試料は、その外周部に位置決め部
を有し、前記検知工程では、フォトインタラプタによ
り、前記位置決め部が回転しながら所定の時間間隔で所
定の位置を通過しているか否かを検知し、これに基づい
て、試料が分離されたか否かを検知することを特徴とす
る請求項52に記載の分離方法。 - 【請求項55】 前記検知工程では、前記フォトインタ
ラプタの出力が所定時間継続して略一定の値になった場
合に、試料の分離が完了したことを検知することを特徴
とする請求項54に記載の分離方法。 - 【請求項56】 前記検知工程では、少なくとも2組の
前記フォトインタラプタを利用して、試料が分離された
か否かを検知することを特徴とする請求項54に記載の
分離方法。 - 【請求項57】 前記検知工程では、前記少なくとも2
組のフォトインタラプタの出力のうち少なくとも1つの
出力が所定時間継続して略一定の値になった場合に、試
料の分離が完了したことを検知することを特徴とする請
求項56に記載の分離方法。 - 【請求項58】 前記分離工程では、試料の中央部付近
を保持しながら分離することを特徴とする請求項52乃
至請求項57のいずれか1項に記載の分離方法。 - 【請求項59】 前記試料は、内部に脆弱な層を有する
板状部材であり、前記分離工程では、該試料を該脆弱な
層で2枚に分離することを特徴とする請求項52乃至請
求項58のいずれか1項に記載の分離方法。 - 【請求項60】 前記検知工程では、駆動機構により試
料を両側に引っ張り、その際の前記駆動機構の変位を検
知することを特徴とする請求項34又は請求項35に記
載の分離方法。 - 【請求項61】 前記分離工程では、一対の保持部によ
り試料を両側から挟むようにして保持しながら分離し、
前記検知工程では、前記一対の保持部に試料を吸着させ
た状態で前記一対の保持部の間隔を広げるように駆動力
を作用させ、その際の前記一対の保持部の少なくとも一
方の変位を検知することを特徴とする請求項34又は請
求項35に記載の分離方法。 - 【請求項62】 前記検知工程では、非接触型の変位セ
ンサにより変位を検知することを特徴とする請求項60
又は請求項61に記載の分離方法。 - 【請求項63】 前記分離工程では、流体を噴射する方
向に略直交する軸を中心として試料を回転させながら該
試料を分離することを特徴とする請求項60乃至請求項
62のいずれか1項に記載の分離方法。 - 【請求項64】 前記分離工程では、保持機構により試
料の中央部付近を保持した状態で該保持機構を回転させ
ることにより該試料を回転させることを特徴とする請求
項63に記載の分離方法。 - 【請求項65】 前記試料は、板状の試料であり、前記
分離工程では、該試料を両側から挟むようにして押圧し
て保持しながら分離することを特徴とする請求項60乃
至請求項64のいずれか1項に記載の分離方法。 - 【請求項66】 前記試料は、内部に脆弱な層を有する
板状の試料であり、前記分離工程では、該試料を該脆弱
な層で2枚に分離することを特徴とする請求項60乃至
請求項64のいずれか1項に記載の分離方法。 - 【請求項67】 流体により試料を分離する分離装置に
接続して使用される監視装置であって、 前記分離装置による試料の分離が完了したことを検知す
る検知部と、 前記検知部による検知結果を前記分離装置に通知する通
知部と、 を備えることを特徴とする監視装置。 - 【請求項68】 請求項1乃至請求項33に記載の分離
装置を利用して複数の試料を連続的に分離する分離方法
であって、 試料を第1のカセットから取り出して前記分離装置に引
き渡す工程と、 前記分離装置に該試料を分離させる工程と、 分離された各試料を前記分離装置から受け取って第2及
び第3のカセットに分類して収容する工程と、 を前記第1のカセットに収容された複数の試料に関して
実行することを特徴とする分離方法。 - 【請求項69】 分離された各試料を前記分離装置から
受け取った後、各試料に付着している流体を除去する工
程を更に含むことを特徴とする請求項68に記載の分離
方法。 - 【請求項70】 基板の製造方法であって、 内部に脆弱な層を有する第1の基板を第2の基板に貼り
合わせて、貼り合わせ基板を作成する作成工程と、 請求項1乃至請求項33に記載の分離装置により前記貼
り合わせ基板を前記脆弱な層で分離する分離工程と、 前記分離工程の後に前記第2の基板側の表面に残った脆
弱な層を除去する除去工程と、 を含むことを特徴とする基板の製造方法。 - 【請求項71】 基板の製造方法であって、 内部に脆弱な層を有する第1の基板を第2の基板に貼り
合わせて、貼り合わせ基板を作成する作成工程と、 請求項34乃至請求項66に記載の分離方法により前記
貼り合わせ基板を前記脆弱な層で分離する分離工程と、 前記分離工程の後に前記第2の基板側の表面に残った脆
弱な層を除去する除去工程と、 を含むことを特徴とする基板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10255636A JP2000091304A (ja) | 1998-09-09 | 1998-09-09 | 試料の分離装置及び分離方法及び分離の監視装置並びに基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10255636A JP2000091304A (ja) | 1998-09-09 | 1998-09-09 | 試料の分離装置及び分離方法及び分離の監視装置並びに基板の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000091304A true JP2000091304A (ja) | 2000-03-31 |
Family
ID=17281504
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---|---|---|---|
JP10255636A Withdrawn JP2000091304A (ja) | 1998-09-09 | 1998-09-09 | 試料の分離装置及び分離方法及び分離の監視装置並びに基板の製造方法 |
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---|---|
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-
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- 1998-09-09 JP JP10255636A patent/JP2000091304A/ja not_active Withdrawn
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