DE2507104C2 - Thyristor für hohe Frequenzen - Google Patents
Thyristor für hohe FrequenzenInfo
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- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
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Description
Die Erfindung betrifft einen Thyristor für hohe Frequenzen mit einem aus einer Folge von wenigstens vier
Zonen abwechselnd entgegengesetzten Leitungstyps bestehenden Halbleiterkörper, dessen beide äußere Zonen,
die Emitterzonen, stärker dotiert sind als die beiden inneren Zonen, die Basiszonen, von denen mindestens
eine zwei Bereiche mit jeweils konstanter Dotierungskonzentration aufweist, wobei die Dotierungskonzentration
von dem jeweiligen äußeren Zonenübergang zu dem inneren Zonenübergang hin von Bereich zu Bereich
abnimmt.
Bekannte derartige Halbleiterbauelemente (Thyristoren) sind so ausgelegt, daß die Lebensdauer der Ladungsträger
in den Basiszonen (r«) relativ gering gewählt wird, um dadurch die Freiwerdezeit, d. h. die Mindestzeit,
die der Thyristor nach dem Abschalten des
gezündeten Zustandes benötigt, um seine Sperrfähigkeit in Durchlaßrichtung wieder zu erlangen, klein zu
halten (vgl. z. B. Herlet, A: Physikalische Grundlagen von Thyristoreigenschaften; in: Scientia Electrica,
Vol. XII "(19^), S. 117 bis 122). Eine Verkürzung der
Freiwerdezeil durch Herabsetzung der Basislebensdauer Kt aber nicht unbeschränkt möglich, weil unterhalb
einer kritischen Lebensdauer für eine bestimmte Basisbreite
der Diirchl;ii3-Spannungsabfall exponentiell ansteigt,
und zwar näherungsweise proportional zum Ausdruck t\p(d/L).
Dabei bedeuten: c/dic Hälfte der Breite beider Basiszonen,
L = ]/D ■ Γ/jdie Diffusionslänge und Odie Diffusionskonstante.
Aus der DE-PS 12 79 203 ist ein Thyristor der eingangs
genannten Art bekannt mit einem Basisgebiet, bestehend aus zwei Außenschichten und einer zwischen
diesen angeordneten Zentralschicht. Die Zentralschicht weist denselben Leitungstyp auf wie eine der Außenschichten
und besitzt eine Dicke von 100 pm. Die Außenschichten
sind 5 μπι dick. Das Produkt aus der Störstellenkonzentration
und der Dicke sollte für die Zentralschicht kleiner als 1012 Störstellenatome je Quadrat-Zentimeter
sein und für die Außenschichten zwischen 2 - 10M und 2 - I0'2 Störstellenatome je Quadratzentimeter
liegen.
Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, bei einem Halbleiterbauelement der eingangs genannten
Art ein verbessertes Frequenzverhalten, durch in weiten Grenzen einstelllbare Herabsetzung der Freiwerdezeit,
zu erzielen, ohne die Durchlaßeigenschaften des Thyristors zu verschlechtern und ohne, daß zusätzliche Elektroden
verwendet werden müssen.
Diese Aufgabe wird bei einem eingangs genannten Halbleiterbauelement durch die kennzeichnenden
Merkmale des Patentanspruchs 1 gelöst.
Eine weitere Ausgestaltung der Erfindung ergibt sich aus dem Unteranspruch.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachstehend im Vergleich zum Stand der Technik anhand von
Figuren erläutert. Es zeigt
F i g. 1 schematisch einen seitlichen Schnitt durch ein übliches Halbleiterbauelement mit einer N + PNP+-Zonenfolge;
F i g. 2 schematisch einen seitlichen Schnitt durch ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel eines Halbleiterbauelements
nach der ErfintAing;
F i g. 3a bis 3c den Verlauf der Dotierungskonzentration
(Fig. 3a) sowie den Verlauf der Feldstärke £in den Basiszonen bei anliegender maximaler Sperrspannung
in Rückwärtsrichtung (Fig.3b) und Kippspannung in
Vorwärtsrichtung (F i g. 3c) des Halbleiterbauelementes nach Fig.2;und
Fig.4 den Feldstärkeverlauf bei einem Halbleiterbauelement
mit einer zum mittleren PN-Übergang unsymmetrischen Basisdotierung; und
F i g. 5 schematisch einen seitlichen Querschnitt durch ein praktisches Ausführungsbeispie1. des neuen Thyristors.
Fig.! zeigt ein Halbleiterbauelement, das aus einem
einkristallinen Halbleiterkörper 1 mit einer N f PNP + -Zoncnfolge und zwei sich an diesen Körper
anschließenden Kontaktelektroden A, K besteht, wobei die P+-Emitterzone 2 mit dem Anodenkontakt A und
die N+ -Emitterzone 3 mit dem Kathodenkontakt # versehen
ist. Die P-Basiszone4 ist mit einem Steuerkontakt (Gate) C versehen. Zwischen der i'-Basiszone 4 und der
P+-Emitterzone befindet sich die N-Basiszone 5. Die
so durch die aneinandcrgrcnzenden Zonen gebildeten Zonenübergänge
sind von links nach rechts mit den Bezugszeichen 6,7 und 8 gekennzeichnet.
Liegt beispielsweise an dem Anodenkcntakt A ein
positives und an dem Kathodenkontakt K üin negatives
•55 Potential (Thyristor ist in Vorwärtsrichtung gepolt), dann wird mit dem Anlegen eines Zündimpulses an den
Steuerkontakt G der Thyristor leitend und schaltet vom sperrenden in den leitenden Zustand. Dt:r Durchlaß-Strom
fließt dabei von der Anode A zur Kathode K in der mit Iy gekennzeichneten Richtung. Wird nun die
Polarität der im Durchlaßzustand an der Anode A und
der Kathode K anliegenden Spannung umgekehrt (Thyristor ist in Rückwärtsrichtung gepolt), so werden mit
der Umkehr dieser Spannung die injizicrien Ladungsträger
in der Umgebung der beiden äußeren Zonenübergänge 6,8 abgesaugt und rufen den Umschaltsperrstroni
/, hervor.
/Auch nachdem die beiden äußeren ZonenübereanEe
6, 8 ihren sperrenden Zustand erreicht haben — und damit die schraffiert gezeichneten Sperrschichten 9 und
10 aufgebaut sind — fließt noch der Umschaltsperrstrom ls weiter, da in der Umgebung des mittleren Zonenüberganges
7 noch eine hohe Konzentration injizierter Ladungsträger existiert, die erst langsam durch
Rekombination und Diffusion zu den Rändern der Sperrschichten 9 und 10 abgebaut wird.
Nachdem sich an den äußeren Zonenübergängen 6,8 die Sperrschichten 9, 10 ausgebildet haben, klingt die
Ladungsträgerkonzentration in den Basiszonen etwa mit der Zeitkonstanten:
'L8IlV1
15
ab, wobei mit W der kürzeste Abstand zwischen den beiden Sperrschichten 9,10 bezeichnet ist Für den Fall,
daß ULb > W ist, wird rm « WVII2D, d. h. die Freiwerdezeit
wird in diesem Fall praktisch unabhängig von der Lebensdauer der Minoritätsträger und nur abhängig
vom Abstand der Sperrschichten 9, ίΟ. Sofern demnach
die Bindung ÜLB > VVerfüllt ist, kann &.e Freiwerdezeit
beliebig klein gemacht werden, ohne daß auch die Diffusionslänge klein zu sein braucht. Praktisch genügt
es, daß das Verhältnis W/L < 1 ist
Die Wahl der Diffusionslänge Lb bestimmt den Wert
der Nullkippspannung. Denn der Thyristor wird nicht erst beim Erreichen der Lawinendurchbruchspannung
des mittleren Zonenüberganges 7 leitend, sondern bereits bei einer unter Umständen wesentlich geringeren
Spannung. Würde nämlich der Thyristor erst bei der Lawinendurchbruchspannung des Zonenüberganges 7
leitend werden, so hätte sich die an diesem Zonenübergang 7 ausbildende Sperrschicht den beiden äußeren
Zonenübergängen 6,8 bis auf einen Abstand kleiner als HL/2 genähert. Aufgrund der hohen Dotierung der
Emitterzonen 2, 3 gelangen aber bereits, wenn die Sperrschicht am Übergang 7 etwa das 0,5- bis 2fache der
Diffusionslänge Lb von den Zonenübergängen 6, 8 entfemi
ist, genügend Ladungsträger aus diesen Zonen 2,3 in die Sperrschicht des mittleren Überganges 7. Unter
Umständen kann der Thyristor dann schon bei Spannungen, die unter der Lawinendurchbruchsspannung
liegen, zünden.
Bezeichnet man als Ausräumspannung U\ diejenige Spannung, die erforderlich ist, um onne Lawinendurchbruch
an den äußeren Zonenübergängen 6, 8 in Rückwürtsrichtung die Sperrschichten 9,10 bis zu einem Abstand
IV = 0 zu nähern, so ist bei großen Diffusionslängen
Lh demnach das Verhältnis von Nullkippspannung
U/zu Ausräumspannung U.\ sehr klein.
Fig. 2 stellt eine Thyristorstruktur dar. bei der das
Verhältnis UyIU.\ wesentlich größer eingestellt werden
kann, als dieses bei Strukturen nach F i g. 1 möglich ist.
Die beiden Basiszonen 4', 5' bestehen jeweils aus den
aneinundergrenzenden Teilbereichen 11, 12 und 13, 14
mit den Dicken d\, d> und d2', d\ {Fig. 3a). Innerhalb
eines jeden Teilbereiches ist die Störst<:l!cnkonzentration etwa konstant, wobei die beiden äußeren Teilberei- t>
<> ehe 11,14 und die beiden inneren Teilbereiche 12, 13 die
gleiche Störstellenkonzentration aufweisen und die Störstellenkonzentration der äußeren Teilbereiche 11,
14 größer im als die der inneren Bereiche 12,13.
!11 F i g.-)a ist beispielsweise der Dotierungsverlauf ni
eines Thyristors uv\ symmetrischer Struktur gemäß
F i g. 2 wiedergegeben. F i g. 3b und 3c /eigen den FeId-Miirkevcrlauf
in der R;i::is/one dieses Thyristors beim
Anliegen der Ausräumspannung Ua. (F ig. 3b) bzw der
Nullkippspannung i/?(F i g. 3c).
Bei der Herstellung eines solchen Bauelementes diente als Ausgangsmaterial eine PMeitende Siliziumscheibe.
Auf diese Scheibe wurden dann in an sich bekannter Weise die N, N-, P-, N + -Schichten epitaktisch abgeschieden.
Bei dem Ausführungsbeispiel gemäß Fig.2 und 3 ist
die Lebensdauer tb der Basiszonen variiert. Die Idee ist
hierbei, in den beim Anlegen einer Spannung in Vorwärtsrichtung, die ungefähr der Kippspannung entspricht,
sich ausbildenden neutralen Gebieten die Lebensdauer rg extrem kurz zu machen (re*), so daß die
Diffusionslänge klein wird, und damit die Dicke dieser neutralen Zonen sehr klein ist. Im mittleren Teil der
Basis wird dagegen die Lebensdauer Tb so groß wie
möglich gemacht (tbi), so daß gleichzeitig der Durchlaßspannungsabfall
gering bleibt. Dabei ist das Verhältnis TbJ reu größer als 2.
In Fig. 3c sind die verschiedenen Lebensdauergebiete
eingezeichnet. Bei dem Ausführ,· .gsbeispiel beträgt
die Vorwärtssperrspannung 3 kV und die Ausräumspannung nur 2,2 kV. Die Lebensdauer wurden mittels
einer Golddiffusion so eingestellt, daß rs* etwa 0,1 us
und tbi etwa 10 μ ist. Bei einer Dotierung der jeweils
75 μπι dicken P- und N-Gebiete 11, 14 von 1,5 ■ 1014
Ladungsträger cm-J, sowie der etwa 100 μΐη dicken P--
bzw. N--Gebiete 12, 13 von 2 · IO13 Ladungsträger
cm-3 und einer Basisweite von 350 um ergibt sich ein Durchlaßspannungsabfall von 1.6 V bei 200 A/cm-'.
Da in diesem Fall die Ausräumspannung geringer ist als die Nullkippspannung, kann bei einer gegenüber an
dem Thyristor liegenden sinusförmigen Spannung dieser von der negativen Halbwelle automatisch ausgeräumt
werden.
Die in dem Ausführungsbeispiel gemäß F i g. 2 und 3 angegebene vollständige Symmetrie in der Dotierung
braucht nicht eingehalten zu werden. Beispielsweise kann die Schicht des N"-Gebietes auch von dem
P--Gebiet eingenommen werden (Fig. 4). Damit dann die maximale zulässige Feldstärke am N^P-Übergang
nicht überschritten wird, kann die P-Dotierung etwas
herabgesetzt werden. Entsprechend könnte dann die N-Dotierung erhöht werden.
Die Basisstruktur enthält dann nur noch drei homogen dotierte Bereiche und ist damit leichter realisierbar.
Bei der Herstellung derartiger Bauelemente wurde von einer P--leitenden Siliziumscheibe ausgegangen, auf die
auf der einen Seite eine P-leitende und auf der anderen Seite eine N-Ieilcnde Schicht epitaktisch abgeschieden
wurde. Die Nf- und Pl-leitenden Zonen wurden anschließend
durch Diffusion cr/eugt.
Thyristoren mit sehr kurzer Freiwerdezeil können besed^rs dann gut eingesetzt werden, wenn auch die
Einschaltzcitcn entsprechend kurz gewählt werden können.
Gate-Anordnungen, die ein schnelles Einschalten ermöglichen,sind bekannt (vgl./. B. Ärmel:Thyristoren
mit innerer Ziindverstärkung, in: J. Burtscher, ti. a.
(Hrsg.): Dynamische Probleme der Thyristortechnik. VDE-VerlagGmbH. Berlin 1971. S. 128-138). Bei dem
neuen Halbleiterbauelement muß allerdings im Gegensatz /um normalen Thyristor /wischen Kathode und
P-Basis die unter Umständen hohe Ausraumspannung aufgenommen werden. Die Stellen, an denen ein N · P-Übcrgang
un die Oberfläche tritt, müssen deshalb eine
entsprechende Anschrägung aufweisen mit einem sehr kleinen Winkel (z. 13. -S)
Γ ig. 5 zeigl beispielsweise einen solchen Thyristor.
Als Gateanordnung wird ein Amplifying-Gatc 15 verwendet.
Die beiden an die Oberfläche tretenden N 1P-Übcrgänge
sind mit 16 und 16' bezeichnet.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
IO
20
25
30
35
40
65
Claims (2)
- Patentansprüche:I. Thyristor für hohe Frequenzen mit einem aus einer Folge von wenigstens vier Zonen abwechselnd entgegengesetzten Leitungstyps bestehenden Halbleiterkörper, dessen beide äußere Zonen, die Emitterzonen, stärker dotiert sind ais die inneren Zonen, die Basiszonen, von denen mindestens eine zwei Bereiche mit jeweils konstanter Dotierungskonzentration aufweist, wobei die Dotierungskonzentration von dem jeweiligen äußeren Zonenübergang zu dem inneren Zonenübergang hin von Bereich zu Bereich abnimmt, dadurch gekennzeichnet, daß die Basiszonen (4', 5') zusammen drei Gebiete (I, II, HI) mit unterschiedlicher Ladungsträgerlebensdauer (?Bk, rs;) umfassen, wobei das erste (I) und das dritte (III) Gebiet an die beiden äußeren Zonenübergänge (6', 8') grenzen und die Breite dieser Gebiete (I, HI) jeweils zwischen dem 0,5- und dem 2fachen der Di'-fusionslänge L der Ladungsträger in diesen Bereichen beträgt, das zweite Gebiet (I!) den mittleren Teil der Basiszonen (4', 5') einnimmt, und das Verhältnis der Lebensdauer in dem zweiten Gebiet (rBi) zur Lebensdauer in dem ersten und dritten Gebiet (FBk) größer als 2 ist.
- 2. Thyristor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die P-Ieitende Basiszone (4') mit einer Steuerelektrode (G) versehen ist.
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