CN110320380A - 自动分析装置和自动分析方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种自动分析装置,其能在未使用擦拭用的清洗构件的情况下有效地清洗分注探头,由此能谋求运行成本降低。自动分析装置包括:保持部,其对贮存有分注液的多个容器进行保持;浸渍清洗液保持部,其贮存浸渍清洗液;分注装置,其具有驱动机构,该驱动机构将自保持于保持部的容器采集分注液的分注探头保持为能在保持部与浸渍清洗液保持部之间移动;测量控制部,其以预定周期自保持于保持部的多个容器依次采集分注液的方式控制分注装置的驱动机构和分注探头;以及浸渍清洗控制部,其以花费预定周期的两倍以上的浸渍时间来实施将分注探头浸渍于贮存于浸渍清洗液保持部的浸渍清洗液中的浸渍清洗的方式,控制分注装置的驱动机构和分注探头。
Description
技术领域
本发明涉及自动分析装置和自动分析方法。
背景技术
作为自动分析装置,公知有一种对血液、尿等检查体所包含的生物体成分进行分析的生化学分析装置。在这样的自动分析装置中,成为分析对象的检查体所含有的蛋白质、脂质容易附着于对检查体进行采集的分注探头,从而担心检查体的残留(日文:キャリーオーバー)、由此引起的检查体的污染。
因此,提出一种自动分析装置,该自动分析装置包括喷嘴清洗机构,该喷嘴清洗机构一边改变向试样分注喷嘴(相当于上述分注探头)按压的清洗构件的部位一边进行利用清洗构件对试样分注喷嘴擦拭所设定的预定次数的动作(参照下述专利文献1)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2014-178267号公报
发明内容
发明要解决的问题
另外,近年来,作为上述自动分析装置,市场上有一种对糖化血红蛋白(HbA1c)进行测量的装置。在该装置中,利用离心分离采集沉淀至检查体的下层的血球来作为测量用的样品,因此需要将分注探头插入至检查体容器的下端,分注探头的顶端深深地浸渍于检查体。因此,存在分注探头外壁容易在较大范围内污染的问题。然而,在包括上述喷嘴清洗机构的自动分析装置中,由于需要更换擦拭用的清洗构件,因此担心运行成本增大。
于是,本发明的目的在于,提供自动分析装置和自动分析方法,该自动分析装置和自动分析方法能够在未使用擦拭用的清洗构件的情况下有效地清洗分注探头,由此能够谋求运行成本降低。
用于解决问题的方案
为了实现这样的目的,本发明提供自动分析装置和利用该自动分析装置进行的自动分析方法,其中,该自动分析装置包括:保持部,其对容纳有分注液的多个容器进行保持;浸渍清洗液保持部,其容纳浸渍清洗液;分注装置,其具有驱动机构,该驱动机构将自保持于所述保持部的容器采集所述分注液的分注探头保持为能够在所述保持部与所述浸渍清洗液保持部之间进行移动;测量控制部,其以预定周期自保持于所述保持部的所述多个容器依次采集所述分注液的方式对所述分注装置的所述驱动机构和所述分注探头进行控制;以及浸渍清洗控制部,其以花费所述预定周期的两倍以上的浸渍时间来实施将所述分注探头浸渍于容纳于所述浸渍清洗液保持部的所述浸渍清洗液中的浸渍清洗的方式,对所述分注装置的所述驱动机构和所述分注探头进行控制。
发明的效果
采用本发明,能够获得如下的自动分析装置和自动分析方法,该自动分析装置和自动分析方法能够在未使用擦拭用的清洗构件的情况下有效地清洗分注探头,由此能够谋求运行成本降低。
附图说明
图1是表示实施方式的自动分析装置的概略结构图。
图2是对于设于实施方式的自动分析装置的探头清洗槽的结构进行说明的图(其一)。
图3是对于设于实施方式的自动分析装置的探头清洗槽的结构进行说明的图(其二)。
图4是实施方式的自动分析装置的框图。
图5是表示探头浸渍清洗的动作设定(其一)的图。
图6是表示探头浸渍清洗的动作设定(其二)的图。
图7是表示探头浸渍清洗的手动实施设定的图。
图8是表示探头浸渍清洗的自动实施设定的图。
图9是表示探头浸渍清洗的实施履历的一个例子的图。
图10是表示警报履历的一个例子的图。
图11是表示使用实施方式的自动分析装置的自动分析方法的流程图(其一)。
图12是表示使用实施方式的自动分析装置的自动分析方法的流程图(其二)。
图13是表示自动分析方法中的探头的浸渍清洗的步骤的流程图。
附图标记说明
1、自动分析装置;2、样品转盘(保持部);21、检查体分注装置;21a、检查体探头(分注探头);31、探头清洗槽;32、浸渍清洗槽(浸渍清洗液保持部);33、清洗液供给管;41、显示部(警报输出部);42、输入部;44b、测量控制部;44c、浸渍清洗实施判断部;44d、浸渍清洗控制部;P2、检查体容器(容器);L1、浸渍清洗液;L2、冲洗液(清洗液)。
具体实施方式
以下,根据附图来详细说明本发明的自动分析装置和自动分析方法的实施方式。
《自动分析装置》
图1是表示实施方式的自动分析装置的概略结构图,是作为一个例子将本发明应用于对血液、尿等检查体所包含的生物体成分进行分析的生化学分析装置得到的自动分析装置1的概略结构图。如图1所示,自动分析装置1包括测量部1a和控制部1b。
其中,测量部1a例如包括样品转盘2、稀释转盘3、第1试剂转盘4、第2试剂转盘5以及反应转盘6。另外,测量部1a包括稀释搅拌装置11、稀释清洗装置12、第1反应搅拌装置13、第2反应搅拌装置14、多波长光度计15以及反应容器清洗装置16。另外,自动分析装置1包括检查体分注装置21、稀释检查体分注装置22、第1试剂分注装置23、第2试剂分注装置24以及探头清洗装置30,也可以进一步包括在此省略了图示的清洗容器保持部。
另一方面,控制部1b包括显示部41,还如之后详细说明那样包括输入部、存储部以及控制部。以下,按照测量部1a和控制部1b的顺序来说明这些构成要件的详细内容。
<测量部1a>
(样品转盘2)
样品转盘2是对贮存有分注液的多个容器进行保持的一个保持部,是沿着其周缘多列地保持多个检查体容器P2且将保持的检查体容器P2沿圆周上的双向输送的结构。该样品转盘2被未图示的驱动机构支承为能够沿着周向旋转。保持于样品转盘2的各检查体容器P2是贮存有作为分注液的成为测量对象的检查体、精度管理用的控制检查体的容器。成为所述各种被测量检查体保持在样品转盘2的预定位置的结构。
另外,在样品转盘2中,也可以是,除了检查体容器P2以外,还保持有贮存有稀释液的稀释液容器、之后说明的贮存有浸渍清洗液L1的浸渍清洗容器。贮存有浸渍清洗液L1的浸渍清洗容器与之后说明的探头清洗装置30的浸渍清洗槽32或检查体容器P2为相同程度的大小。另外,以上那样的样品转盘2也可以具有对保持着的检查体容器P2、其他容器进行冷却的功能。
(稀释转盘3)
稀释转盘3是对贮存有分注液的多个容器进行保持的一个保持部,是沿着其周缘保持多个稀释容器P3且将保持着的稀释容器P3沿圆周上的双向输送的结构。该稀释转盘3被未图示的驱动机构支承为能够沿周向旋转。在保持于稀释转盘3的稀释容器P3内,注入作为分注液的被从配置于样品转盘2的检查体容器P2中抽吸并稀释的检查体(以下,称作“稀释检查体”。)。此外,自动分析装置1也可以不包括稀释转盘3。
(第1试剂转盘4和第2试剂转盘5)
第1试剂转盘4沿着其周缘保持多个第1试剂容器P4,第2试剂转盘5沿着其周缘保持多个第2试剂容器P5,且第1试剂转盘4和第2试剂转盘5是将分别保持着的第1试剂容器P4和第2试剂容器P5沿圆周上的双向输送的结构。这些第1试剂转盘4和第2试剂转盘5分别是对贮存有分注液的多个容器进行保持的一个保持部,被未图示的驱动机构支承为能够沿周向旋转。在保持于第1试剂转盘4的多个第1试剂容器P4内,分注有作为分注液的来自试剂瓶的第1试剂。在保持于第2试剂转盘5的第2试剂容器P5内,分注有作为分注液的来自试剂瓶的第2试剂。
(反应转盘6)
反应转盘6配置在稀释转盘3、第1试剂转盘4以及第2试剂转盘5这三者之间。该反应转盘6是沿着其周缘保持多个反应容器P6且将保持着的反应容器P6沿圆周上的双向输送的结构。该反应转盘6被未图示的驱动机构支承为能够沿周向旋转。在保持于反应转盘6的反应容器P6内,分别以预定量分注有自稀释转盘3的稀释容器P3采集的稀释检查体、自第1试剂转盘4的第1试剂容器P4采集的第1试剂或自第2试剂转盘5的第2试剂容器P5采集的第2试剂。并且,在该反应容器P6内,稀释检查体、第1试剂或第2试剂被搅拌并进行反应。以上那样的反应转盘6构成为,利用未图示的恒温槽将反应容器P6的温度始终保持为恒定。此外,在自动分析装置1不包括稀释转盘3的情况下,向保持于反应转盘6的反应容器P6内,分注自样品转盘2的检查体容器P2采集的检查体。
(稀释搅拌装置11)
稀释搅拌装置11配置在稀释转盘3的周围。稀释搅拌装置11具有搅拌机构和用于驱动搅拌机构的驱动机构,将未图示的搅拌片插入到保持于稀释转盘3的稀释容器P3内而对被测量检查体和稀释液进行搅拌。
(稀释清洗装置12)
稀释清洗装置12配置在稀释转盘3的周围。稀释清洗装置12是对通过之后说明的稀释检查体分注装置22抽吸了稀释检查体后的稀释容器P3进行清洗的装置。
(第1反应搅拌装置13和第2反应搅拌装置14)
第1反应搅拌装置13和第2反应搅拌装置14配置在反应转盘6的周围。第1反应搅拌装置13和第2反应搅拌装置14在保持于反应转盘6的反应容器P6内对稀释检查体、第1试剂或第2试剂进行搅拌。这样的第1反应搅拌装置13和第2反应搅拌装置14具有搅拌机构和用于驱动搅拌机构的驱动机构,将未图示的搅拌片插入到保持于反应转盘6的预定位置的反应容器P6内而对于稀释检查体(或检查体)、第1试剂或第2试剂进行搅拌。由此,促进稀释检查体、第1试剂、第2试剂这三者进行反应。
(多波长光度计15)
多波长光度计15是测量部,且在反应转盘6的周围与反应转盘6的外壁相对地配置。多波长光度计15对在反应容器P6内与第1试剂和第2试剂发生了反应的稀释检查体进行光学测量,将检查体中的各种成分的量作为吸光度进行输出,并检测稀释检查体的反应状态。
(反应容器清洗装置16)
反应容器清洗装置16配置在反应转盘6的周围。反应容器清洗装置16是用于对检查结束了的反应容器P6内进行清洗的装置。
(检查体分注装置21)
检查体分注装置21包括作为细管状的分注探头的检查体探头21a,检查体分注装置21配置在样品转盘2和稀释转盘3的周围。检查体分注装置21按照预先设定的测量程序,通过未图示的驱动机构将被沿轴向垂直地保持的检查体探头21a的顶端插入到保持于样品转盘2的检查体容器P2内的检查体中,将预定量的检查体抽吸到检查体探头21a内。此时,样品转盘2按照预先设定的测量程序,使保持于样品转盘2的预定位置的检查体容器P2预先移动至预定的检查体采集位置。
另外,检查体分注装置21将检查体探头21a的顶端插入到稀释转盘3的稀释容器P3内,将抽吸到检查体探头21a内的检查体和自检查体分注装置21本身供给的预定量的稀释液(例如生理食盐水)向稀释容器P3内喷出。由此,在稀释容器P3内,将被测量检查体稀释为预定倍数的浓度。
此外,在自动分析装置1不包括稀释转盘3的情况下,检查体分注装置21将检查体探头21a的顶端插入到反应转盘6的反应容器P6内。然后,将抽吸到检查体探头21a内的检查体和自检查体分注装置21本身供给的预定量的稀释液(例如生理食盐水)向反应容器P6内喷出。
另外,检查体探头21a包括在此省略了图示的液面检测机构。液面检测机构例如通过液面与检查体探头21a的顶端之间的静电容量来检测液面相对于检查体探头21a的顶端的高度位置。
(稀释检查体分注装置22)
稀释检查体分注装置22包括作为细管状的分注探头的稀释检查体探头22a,稀释检查体分注装置22配置在稀释转盘3与反应转盘6之间。稀释检查体分注装置22按照预先设定的测量程序,通过未图示的驱动机构将被沿轴向垂直地保持的稀释检查体探头22a的顶端插入到稀释转盘3的稀释容器P3内,并借助空气滞留自填充有稀释液的稀释检查体探头22a的顶端抽吸预定量的稀释检查体。另外,稀释检查体分注装置22将稀释检查体探头22a的顶端插入到反应转盘6的反应容器P6内,并将抽吸到稀释检查体探头22a内的稀释检查体向反应容器P6内喷出。此外,在自动分析装置1不包括稀释转盘3的情况下,该自动分析装置1不必包括稀释检查体分注装置22。
(第1试剂分注装置23)
第1试剂分注装置23包括作为细管状的分注探头的第1试剂探头23a,第1试剂分注装置23配置在反应转盘6和第1试剂转盘4之间。第1试剂分注装置23按照预先设定的测量程序,通过未图示的驱动机构将被沿轴向垂直地保持的第1试剂探头23a的顶端插入到第1试剂转盘4的第1试剂容器P4内,并借助空气滞留自填充有稀释液的第1试剂探头23a的顶端抽吸预定量的第1试剂。另外,第1试剂分注装置23将第1试剂探头23a的顶端插入到反应转盘6的反应容器P6内,并将抽吸到第1试剂探头23a内的第1试剂向反应容器P6内喷出。
(第2试剂分注装置24)
第2试剂分注装置24包括作为细管状的分注探头的第2试剂探头24a,第2试剂分注装置24配置在反应转盘6与第2试剂转盘5之间。第2试剂分注装置24按照预先设定的测量程序,通过未图示的驱动机构将被沿轴向垂直地保持的第2试剂探头24a的顶端插入到第2试剂转盘5的第2试剂容器P5内,并借助空气滞留自填充有稀释液的第2试剂探头24a的顶端抽吸预定量的第2试剂。另外,第2试剂分注装置24将第2试剂探头24a的顶端插入反应转盘6的反应容器P6内,并将抽吸到第2试剂探头24a内的第2试剂向反应容器P6内喷出。
(探头清洗装置30)
探头清洗装置30用于对检查体分注装置21的检查体探头21a的顶端进行浸渍清洗,探头清洗装置30配置在检查体探头21a移动的轨道上。在此,作为一个例子,在样品转盘2与稀释转盘3之间的检查体探头21a的轨道上设有探头清洗装置30。
图2是对设置于实施方式的自动分析装置1的探头清洗装置30的结构进行说明的图(其一)。另外,图3是对设置于实施方式的自动分析装置1的探头清洗装置30的结构进行说明的图(其二)。如这些图所示,探头清洗装置30包括清洗槽31、内设于清洗槽31的浸渍清洗槽32以及配置在清洗槽31的上方的清洗液供给管33。
(清洗槽31)
清洗槽31是将筒状的一个端部呈细管状缩径而成为排液管31a的结构,清洗槽31以使排液管31a朝向下方的方式设置。
(浸渍清洗槽32)
浸渍清洗槽32是贮存有浸渍清洗液L1的一个浸渍清洗液保持部。该浸渍清洗槽32是筒状的槽且具有能够使检查体探头21a的顶端插入的程度的直径,被配置为竖立设置在清洗槽31内的状态。浸渍清洗槽32的下端作为浸渍清洗液供给管32a而向清洗槽31的外部导出,自浸渍清洗液供给管32a向浸渍清洗槽32内供给作为第1清洗液的浸渍清洗液L1。这样的浸渍清洗液供给管32a设有在此省略了图示的流量调整器来作为驱动机构,能自如地进行浸渍清洗液L1的供给和供给停止。
在此,自浸渍清洗液供给管32a向浸渍清洗槽32内供给的浸渍清洗液L1是用于将附着于检查体探头21a的顶端的检查体成分去除的药液。这样的浸渍清洗液L1是对检查体的去除发挥效果的药剂,例如,若检查体为血液,则使用针对蛋白质的分解去除、失活具有效果的药剂。具体而言,使用次氯酸系的药剂、酸性洗剂或碱性洗剂作为浸渍清洗液L1。
另外,浸渍清洗槽32成为使自浸渍清洗液供给管32a供给至浸渍清洗槽32内的浸渍清洗液L1自浸渍清洗槽32的上方溢流并自清洗槽31的排液管31a排出的结构。因此,浸渍清洗槽32的上端优选设定在比清洗槽31的上端低的位置。
另外,如图2所示,浸渍清洗槽32的高度(h)为能够使自检查体探头21a的顶端起到检查体探头21a在检查体容器P2内浸渍于检查体的高度位置(A)为止的部分充分地浸渍于浸渍清洗槽32内的浸渍清洗液L1的高度。也就是说,浸渍清洗槽32的高度(h)为使检查体探头21a的相对于浸渍清洗槽32内的浸渍清洗液L1浸渍的浸渍距离(d)充分地超过检查体探头21a在检查体容器P2内浸渍于检查体的高度位置(A)的高度。这样的浸渍清洗槽32只要具有与检查体容器P2相同程度的大小即可,也可以为检查体容器P2的大小以上。此外,在清洗槽31内也可以设有多个浸渍清洗槽32。
(清洗液供给管33)
清洗液供给管33是对容纳在清洗槽31内且浸渍清洗槽32之外的检查体探头21a的顶端呈喷淋状供给作为第2清洗液的冲洗液L2的供给管。特别是,清洗液供给管33是自比检查体探头21a的顶端在浸渍清洗槽32内浸渍于浸渍清洗液L1的高度位置(B)高的位置,对检查体探头21a供给冲洗液L2的结构。这样的清洗液供给管33设有在此省略了图示的流量调整器来作为驱动机构,能自如地进行冲洗液L2的供给流量的调整和供给停止。
另外,清洗液供给管33在避开浸渍清洗槽32的位置处自清洗槽31的上部向清洗槽31内呈喷淋状供给冲洗液L2。自清洗液供给管33供给的冲洗液L2例如为纯水。从清洗液供给管33供给过来的冲洗液L2自排液管31a排出。
此外,在稀释检查体分注装置22的稀释检查体探头22a的轨道上、第1试剂分注装置23的第1试剂探头23a的轨道上以及第2试剂分注装置24的第2试剂探头24a的轨道上均设有探头清洗装置,但在此省略了图示。但是,这些探头清洗装置不必是与上述探头清洗装置30相同的结构,例如也可以是不包括探头清洗装置30的构成要件中的浸渍清洗槽32的结构。
(清洗容器保持部)
也可以是,在测量部1a设有用于对之后说明的贮存有浸渍清洗液L1的浸渍清洗容器进行保持的清洗容器保持部,但在此省略了图示。该清洗容器保持部配置在检查体探头21a移动的轨道上。另外,保持于该保持部的浸渍清洗容器为与浸渍清洗槽32或检查体容器P2相同程度的大小。此外,该浸渍清洗容器的清洗容器保持部也可以不设于自动分析装置1,也可以设于多个部位。
<控制部1b>
返回图1,控制部1b分别与构成上述测量部1a的各构成要件的驱动机构、多波长光度计15以及用于向测量部1a供给检查体的检查体供给装置100相连接。
图4是实施方式的自动分析装置1的框图。以下,参照之前所示的图1来说明图4所示的控制部1b的结构。如图4所示,控制部1b包括显示部41、输入部42、存储部43以及输入输出控制部44。这些构成要件的详细内容如下所述。
(显示部41)
显示部41除了显示多波长光度计15的测量结果之外,还显示自动分析装置1中的各种设定信息、各种履历信息。作为该显示部41,例如使用液晶显示器装置等。在各种设定信息、各种履历信息中,如之后说明那样包含与检查体探头的浸渍清洗有关的设定信息、履历信息。另外,显示部41兼用作之后说明的警报输出部。此外,警报输出部并不限定为显示部41,既可以是在此省略了图示的扬声器,也可以是显示部41和扬声器这两者。
(输入部42)
输入部42接收与由自动分析装置1的操作者进行的各种设定有关的输入和其他输入,并将输入信号向输入输出控制部44输出。作为该输入部42,例如使用鼠标、键盘、在显示部41的显示面设置的触摸面板等。
(存储部43)
存储部43例如由HDD(Hard Disk Drive:硬盘驱动器)、半导体存储器等大容量的存储装置构成。在该存储部43保存有接下来说明的输入输出控制部44执行的各种程序以及上述各种设定信息、各种履历信息。
(输入输出控制部44)
输入输出控制部44由微型计算机等的计算机构成。计算机包括CPU(CentralProcessing Unit:中央处理装置)、ROM(Read Only Memory:只读存储器)和RAM(RandomAccess Memory:随机存取存储器)等存储部,其对自动分析装置1内的各部分的动作进行控制。这样的输入输出控制部44包括显示控制部44a、测量控制部44b、浸渍清洗实施判断部44c以及浸渍清洗控制部44d这几个部分。ROM和RAM等存储部也可以是存储部43。
(显示控制部44a)
显示控制部44a除了制作与多波长光度计15的测量结果有关的显示画面之外,还制作与自动分析装置1中的各种设定信息、各种履历信息有关的显示画面,并使制作后的显示画面显示于显示部41。在各种设定信息、各种履历信息中,包含与检查体探头的浸渍清洗有关的设定信息、履历信息。
接下来,作为通过显示控制部44a制作的显示画面的具体例,参照图5~图10来说明与检查体探头的浸渍清洗有关的设定信息、履历信息的一个例子。此外,与检查体探头的浸渍清洗有关的设定信息是基于来自输入部42的输入的信息。
图5是表示探头浸渍清洗的动作设定(其一)的图。另外,图6是表示探头浸渍清洗的动作设定(其二)的图。作为与检查体探头的浸渍清洗有关的一种设定信息,存在所述图所示的探头浸渍清洗的动作设定。探头浸渍清洗的动作设定是(1)清洗位置、(2)浸渍距离、以及(3)浸渍时间这几个项目。
(1)清洗位置是实施检查体探头21a的浸渍清洗的清洗位置,在图5所示的例子中设定有探头清洗装置30。另外,在图6所示的例子中,清洗位置设定在样品转盘2的位置1。位置1指的是样品转盘2中的检查体容器P2、其他容器的保持位置。该保持位置通过对样品转盘2进行支承的驱动机构向检查体探头21a的轨道上的采集位置移动。
此外,在自动分析装置1包括清洗容器保持部的情况下,(1)清洗位置有时设定于清洗容器保持部。
(2)浸渍距离是检查体探头21a浸渍于浸渍清洗液L1的浸渍距离(深度)。参照图2,浸渍距离(d)设定为比检查体探头21a在检查体容器P2内浸渍于检查体的高度位置(A)充分大的值。在图5和图6所示的例子中,浸渍距离设定为50mm,成为使检查体探头21a的距顶端50mm的部分浸渍于浸渍清洗液L1的设定。
(3)浸渍时间指的是检查体探头21a浸渍于浸渍清洗液L1的浸渍时间。该浸渍时间的特征在于,在自动分析装置1的通常测量动作中,在将自检查体探头21a的1个检查体的抽吸动作起到下一个检查体的抽吸动作为止的过程作为1个周期的情况下,该浸渍时间设定为相当于两个周期以上的时间。在图示的例子中,浸渍时间设定为300秒,若1个周期为3秒,则将相当于100个周期的时间设定为浸渍时间。
图7是表示探头浸渍清洗的手动实施设定的图。作为与检查体探头的浸渍清洗有关的另一种设定信息,存在图7所示的探头浸渍清洗的手动实施设定。探头浸渍清洗的手动实施设定是用于使操作者在任意时刻对检查体探头21a实施浸渍清洗而不是在预先设定的时刻实施浸渍清洗的设定。作为这样的探头浸渍清洗的手动实施设定中的设定事项,显示是否中断通常测量动作的设定。
另外,也可以在该设定画面中显示用于执行探头浸渍清洗的执行按钮。由此,如在之后的自动分析方法中说明那样,也可以例如成为以下结构:通过操作者在显示部41的画面上点击执行按钮,从而使探头的浸渍清洗的流程进行。此外,这样的探头浸渍清洗的手动实施设定的画面也可以显示在通常测量动作的停机画面中。
图8是表示探头浸渍清洗的自动实施设定的图。作为与检查体探头的浸渍清洗有关的又一种设定信息,存在图8所示的探头浸渍清洗的自动实施设定。探头浸渍清洗的自动实施设定是用于在预先设定的时刻下对检查体探头21a实施浸渍清洗的设定。探头浸渍清洗的自动实施设定的项目是(1)实施时刻和(2)通常测量动作中断这两个项目。操作者能够通过自输入部42输入来指定将这些项目组合而成的多个设定,显示控制部44a使指定的全部设定显示于显示部41。
在图8所示的例子中,示出设定有设定1~设定3这3个设定的情况。设定1是在每实施40次自检查体探头21a的下端进行的抽吸之后自动地对检查体探头21a实施浸渍清洗的设定,设定2是在每实施30次HbA1c的测量之后自动地对检查体探头21a实施浸渍清洗的设定,设定3是在上次对检查体探头21a实施浸渍清洗之后在每隔24小时的时刻下自动地对检查体探头21a实施浸渍清洗的设定。此外,该设定并不限定于针对各动作、预定时间的重复。例如,该设定也可以是在实施了检查体探头的浸渍清洗之后以预定次数重复了预定动作的时刻。
图9是表示探头浸渍清洗的实施履历的一个例子的图。作为与检查体探头的浸渍清洗有关的一种履历信息,存在图9所示的探头浸渍清洗的实施履历。探头浸渍清洗的实施履历是根据上述探头浸渍清洗的手动实施设定和自动实施设定实施的探头浸渍清洗的履历。该实施履历还包含在之后说明的通过浸渍清洗实施判断部44c实施的判断中探头浸渍清洗被取消的信息。
图10是表示警报履历的一个例子的图。作为与检查体探头的浸渍清洗有关的另一种履历信息,存在图10所示的警报履历。警报履历是在自动分析装置1的通常测量动作和其他动作中输出了警报的履历,还包含在对检查体探头实施浸渍清洗之际输出了警报的情况下的履历。
(测量控制部44b)
返回图4,测量控制部44b对构成测量部1a的各驱动机构的动作时刻进行控制,并且对利用多波长光度计15测量光度的测量时刻进行控制。测量控制部44b以按照预定周期自保持于样品转盘2的多个检查体容器P2依次采集检查体的方式来控制检查体分注装置21。另外,测量控制部44b对各驱动机构进行控制,以便将保持于样品转盘2的各检查体容器P2中的检查体稀释至预定浓度,并使第1试剂和第2试剂相对于该稀释检查体混合而进行反应,从而测量反应后的反应液的吸光度。
(浸渍清洗实施判断部44c)
浸渍清洗实施判断部44c在测量部1a实施通常测量动作、结束动作之际判断是否对检查体探头实施浸渍清洗,在对检查体探头实施浸渍清洗的情况下,指示浸渍清洗控制部44d对检查体探头实施浸渍清洗。另外,在无法对检查体探头实施浸渍清洗的情况下,向警报输出部指示输出警报。
这样的浸渍清洗实施判断部44c根据存储于存储部43的设定信息、来自设于检查体探头21a的液面检测机构的信号以及自检查体供给装置100向自动分析装置1供给的检查体供给信息,来实施这些判断和指示。通过浸渍清洗实施判断部44c实施的判断和指示的详细内容在接下来的自动分析方法中进行详细说明。
(浸渍清洗控制部44d)
浸渍清洗控制部44d根据来自浸渍清洗实施判断部44c的指示对探头清洗装置30和检查体分注装置21的驱动机构进行控制,从而对检查体探头21a的浸渍清洗进行控制。该浸渍清洗控制部44d以基于使用图5和图6进行说明的探头浸渍清洗的动作设定的(1)清洗位置、(2)浸渍距离以及(3)浸渍时间,来对检查体探头21a实施浸渍清洗。特别是,(3)浸渍时间的特征在于,其为在通常测量动作中检查体探头21a自多个检查体容器P2依次采集检查体的周期的两倍以上。在接下来的自动分析方法中,对通过浸渍清洗控制部44d实施的检查体探头21a的浸渍清洗的详细内容进行详细说明。
《自动分析方法》
图11是表示使用实施方式的自动分析装置的自动分析方法的流程图(其一)。另外,图12是表示使用实施方式的自动分析装置的自动分析方法的流程图(其二)。使用这些图来说明的自动分析方法是在实施通常测量动作和结束动作之际花费通常测量动作的两个周期以上的时间来对检查体探头21a进行浸渍清洗的一系列的步骤。此外,通常测量动作中的1个周期是自利用检查体探头21a对1个检查体进行抽吸动作起到对下一个检查体进行抽吸动作为止的期间。
该步骤是构成使用图4说明的输入输出控制部44的CPU执行保持于存储部的程序而实现的。以下,按照图11和图12的流程图所示的顺序,根据需要,参照图1~图10的各图来说明通过自动分析装置1的控制部1b实施的自动分析方法。
<步骤S1>
首先,在图11所示的步骤S1中,测量控制部44b通过控制构成测量部1a的各构成要件的驱动机构和多波长光度计15来开始通常测量动作。
<步骤S2>
在步骤S2中,浸渍清洗实施判断部44c判断是否存在浸渍清洗的手动输入。在此,浸渍清洗实施判断部44c判断是否由操作者手动输入了实施检查体探头21a的浸渍清洗的指示。该判断是根据是否在例如图7所示的探头浸渍清洗的手动实施设定的画面中点击了实施按钮而进行的。浸渍清洗实施判断部44c在判断为存在手动输入(是)的情况下,判断为输入的探头浸渍清洗的时刻为当前时刻并进入步骤S3。另一方面,在判断为没有手动输入(否)的情况下,进入步骤S101。
<步骤S101>
在步骤S101中,浸渍清洗实施判断部44c判断是否存在浸渍清洗的自动实施设定。此时,浸渍清洗实施判断部44c判断在存储于存储部43的各种设定信息中是否存在例如图8所示的探头浸渍清洗的自动实施设定。然后,在判断为存在自动实施设定(是)的情况下,进入接下来的步骤S102。另一方面,在判断为不存在自动实施设定(否)的情况下,返回步骤S2。
<步骤S102>
在步骤S102中,浸渍清洗实施判断部44c判断是否到达了在探头浸渍清洗的自动实施设定的任一项(图8的设定1~设定3)中设定的时刻。然后,在判断为到达了在任一项中设定的时刻(是)的情况下,进行步骤S3。另一方面,在判断为未到达在任一项中设定的时刻(否)的情况下,返回步骤S2。
<步骤S3>
在步骤S3中,浸渍清洗实施判断部44c判断是否为能够对检查体探头21a实施浸渍清洗的状态。此时,浸渍清洗实施判断部44c根据自检查体供给装置100向自动分析装置1输入的检查体的输入信息或测量控制部44b所具有的检查体的接收信息,来判断是否为能够实施浸渍清洗的状态。
在该情况下,在没有自检查体供给装置100向自动分析装置1输送检查体的情况下,判断为是能够对检查体探头21a实施浸渍清洗的状态(是),进入图12所示的步骤S4。另一方面,在存在向自动分析装置1的测量部1a输送检查体且之后也连续进行通常测量动作的情况下,判断为不是能够对检查体探头21a实施浸渍清洗的状态(否)并进入步骤S103。
<步骤S103>
在步骤S103中,浸渍清洗实施判断部44c判断在存储于存储部43的各种设定信息中是否进行了通常测量动作中断的设定。此时,若为在步骤S2中判断为存在手动输入(是)的情况,则浸渍清洗实施判断部44c判断例如在图7所示的探头浸渍清洗的手动实施设定中是否成为通常测量动作中断的设定。另一方面,若为在步骤S102中判断为到达了自动实施设定中的任一个时刻(是)的情况,则在步骤S102中判断为到达时刻(是)的设定下,判断是否成为通常测量动作中断的设定。
在以上的判断中,在浸渍清洗实施判断部44c判断为进行了通常测量动作中断的设定(是)的情况下,进入步骤S104。另一方面,在判断为未进行通常测量动作中断的设定(否)的情况下,进入步骤S105。
<步骤S104>
在步骤S104中,浸渍清洗实施判断部44c指示测量控制部44b中断通常测量动作。由此,测量控制部44b使通常测量动作中断。
<步骤S105>
另一方面,在步骤S105中,浸渍清洗实施判断部44c指示显示控制部44a输出无法进行浸渍清洗的警报。由此,显示控制部44a使作为警报输出部的显示部41显示无法进行浸渍清洗的警报。在该情况下,例如如图10所示,使警报履历的显示画面显示无法进行浸渍清洗的内容,并将其作为警报输出。
<步骤S106>
在步骤S106中,浸渍清洗实施判断部44c判断是否为能够对检查体探头21a实施浸渍清洗的状态。此时,与步骤S3同样地,浸渍清洗实施判断部44c根据自检查体供给装置100向自动分析装置1输入的检查体的输入信息或测量控制部44b所具有的检查体的接收信息,来判断是否为能够实施浸渍清洗的状态。
在此,重复步骤S106直至判断为是能够实施浸渍清洗的状态(是)为止,从而保持待机,直至成为能够实施浸渍清洗的状态为止。并且,在判断为是能够实施浸渍清洗的状态(是)的情况下,进入图12所示的接下来的步骤S4。
<步骤S4>
在步骤S4中,浸渍清洗实施判断部44c判断是否存在需要量的浸渍清洗液。此时,浸渍清洗实施判断部44c首先使检查体探头21a移动至所设定的清洗位置。该清洗位置是对检查体探头21a实施浸渍清洗的位置,是使用图5或图6说明的探头浸渍清洗的动作设定的(1)清洗位置。
如图5所示,在向探头清洗装置30设定(1)清洗位置的情况下,浸渍清洗实施判断部44c使检查体探头21a向探头清洗装置30的浸渍清洗槽32的上部移动。另外,若为自动分析装置1包括清洗容器保持部且将(1)清洗位置设定于清洗容器保持部的情况,则浸渍清洗实施判断部44c使检查体探头21a向清洗容器保持部的上部移动。
另一方面,如图6所示,在向样品转盘设定(1)清洗位置的情况下,浸渍清洗实施判断部44c使检查体探头21a向样品转盘2的检查体采集位置移动。与此同时,浸渍清洗实施判断部44c使样品转盘2的位置1和保持于位置1的浸渍清洗容器向预定的检查体采集位置移动。
之后,浸渍清洗实施判断部44c使用设于检查体探头21a的液面检测机构来对配置于检查体探头21a的下方的浸渍清洗槽32或浸渍清洗容器内的液面的高度进行检测。然后,根据检测出的液面的高度来判断是否存在需要量的浸渍清洗液。在此,需要量指的是,检查体探头21a相对于浸渍清洗液L1浸渍的浸渍距离(d)超过检查体探头21a在检查体容器P2内浸渍于检查体的高度位置(A)的量,或者也可以是相对于超过的量在某一程度上的容许范围内比超过的量少的量。
浸渍清洗实施判断部44c在通过以上的步骤判断为存在需要量的浸渍清洗液(是)的情况下,进入步骤S5。另一方面,在判断为不存在需要量的浸渍清洗液(否)的情况下,进入步骤S107。
<步骤S107>
在步骤S107中,浸渍清洗实施判断部44c指示显示控制部44a输出浸渍清洗液不足的警报。由此,显示控制部44a使作为警报输出部的显示部41显示浸渍清洗不足的警报。在该情况下,例如如图10所示,在警报履历的显示画面显示警报的内容。之后进入步骤S6。
<步骤S5>
在步骤S5中,浸渍清洗实施判断部44c指示浸渍清洗控制部44d实施检查体探头21a的浸渍清洗处理。由此,浸渍清洗控制部44d实施检查体探头21a的浸渍清洗的一系列处理。图13是表示自动分析方法中的探头的浸渍清洗处理的步骤的流程图。如该图所示,浸渍清洗控制部44d如下那样实施检查体探头21a的浸渍清洗处理。
(步骤S501)
在步骤S501中,浸渍清洗控制部44d实施检查体探头21a的浸渍清洗。此时,浸渍清洗控制部44d首先使检查体探头21a下降。由此,如图2所示,使检查体探头21a的顶端以预定的浸渍距离(d)在浸渍清洗槽32或浸渍清洗容器内的浸渍清洗液L1内浸渍预定的浸渍时间。该浸渍距离(d)和浸渍时间是使用图5或图6说明的探头浸渍清洗的动作设定的(2)浸渍距离和(3)浸渍时间。
另外,也可以是,以提高基于浸渍清洗液L1的清洗效果为目的,浸渍清洗控制部44d在如上述那样使检查体探头21a浸渍于浸渍清洗液L1的状态下使检查体探头21a向上下方向和水平方向中的至少一者震动。并且,浸渍清洗控制部44d也可以在该状态下重复进行相对于检查体探头21a抽吸、喷出浸渍清洗液L1。另外,在实施检查体探头21a的振动和相对于检查体探头21a抽吸、喷出浸渍清洗液L1的情况下,可以先实施任意一者。
此外,对于该步骤S501,既可以更换浸渍清洗槽32内的浸渍清洗液L1而重复实施该步骤S501,也可以在具有多个浸渍清洗槽32的情况下在不同的浸渍清洗槽32内分别实施该步骤S501。另外,该步骤S501既可以在不同的浸渍清洗容器内分别实施,也可以在浸渍清洗槽32和浸渍清洗容器内的浸渍清洗液L1内多次实施。不管在哪一种情况下,浸渍清洗液L1既可以为相同种类的清洗液,也可以为不同种类的清洗液。
(步骤S502)
在步骤S502中,浸渍清洗控制部44d将检查体探头21a自浸渍清洗槽32或浸渍清洗容器内的浸渍清洗液L1取出。然后,使检查体探头21a移动至浸渍清洗槽32之外的探头清洗装置30的清洗槽31内。
(步骤S503)
在步骤S503中,浸渍清洗控制部44d自清洗液供给管33对清洗槽31内的检查体探头21a呈喷淋状供给冲洗液L2,来冲洗清洗检查体探头21a。此时,如图3所示,清洗液供给管33自比检查体探头21a的顶端在浸渍清洗时浸渍于浸渍清洗液L1的高度位置(B)高的位置对检查体探头21a供给冲洗液L2。
另外,浸渍清洗控制部44d使检查体探头21a的内部水向清洗槽31内喷出而冲洗检查体探头21a的内壁。
(步骤S504)
在步骤S504中,浸渍清洗控制部44d使检查体探头21a自清洗槽31内移动。
(步骤S505)
在步骤S505中,浸渍清洗控制部44d判断在检查体探头21a的浸渍清洗中是否使用了浸渍清洗槽32。在步骤S501中实施的浸渍清洗是在浸渍清洗槽32中实施的情况下,浸渍清洗控制部44d判断为在探头浸渍清洗中使用了浸渍清洗槽32(是),进入步骤S506。
另一方面,在步骤S501中实施的浸渍清洗是在保持于样品转盘2或清洗容器保持部的浸渍清洗容器中实施的情况下,浸渍清洗控制部44d判断为在浸渍清洗中未使用浸渍清洗槽32(否),使一系列的浸渍清洗处理结束。然后,进入图12所示的步骤S6。
(步骤S506)
在步骤S506中,浸渍清洗控制部44d使浸渍清洗槽32内的浸渍清洗液L1溢流并置换。之后,使一系列的浸渍清洗处理结束。然后,进入图12所示的步骤S6。
此外,在上述一系列的浸渍清洗处理的过程中浸渍清洗实施判断部44c自检查体供给装置100接收到向自动分析装置1输入的检查体的输入信息或自测量控制部44b接收到检查体的接收信息的情况下,在浸渍清洗处理结束之前,使测量控制部44b不开始进行通常测量动作而暂时停止。
<步骤S6>
在步骤S6中,浸渍清洗实施判断部44c指示存储部43保存浸渍清洗的履历。由此,例如如图9所示,对检查体探头实施了浸渍清洗的情况或取消了检查体探头的浸渍清洗的情况下的实施状况的履历会连同日期时间信息和实施指示内容一起保存在存储部43。
<步骤S7>
在步骤S7中,浸渍清洗实施判断部44c根据来自测量控制部44b的信息来判断是否存在测量结束的指示。在判断为存在测量结束的指示(是)的情况下,进入步骤S8。另一方面,在判断为不存在测量结束的指示(否)的情况下,返回图11的步骤S1,再次开始通常测量动作。
<步骤S8>
在步骤S8中,浸渍清洗实施判断部44c判断在检查体探头21a的浸渍清洗中是否使用了样品转盘2的浸渍清洗容器。在步骤S5的浸渍清洗处理中的浸渍清洗是在样品转盘2的浸渍清洗容器中实施的情况下,浸渍清洗实施判断部44c判断为使用了浸渍清洗容器(是),进入步骤S9。另一方面,在步骤S5中的浸渍清洗是在探头清洗装置30的浸渍清洗槽32或保持于清洗容器保持部的浸渍清洗容器中实施的情况下,浸渍清洗实施判断部44c判断为未使用样品转盘2的浸渍清洗容器(否),进入步骤S10。
<步骤S9>
在步骤S9中,浸渍清洗实施判断部44c使在步骤S5的浸渍清洗处理中使用的样品转盘2的浸渍清洗容器移动至预定的容器取出位置。由此,在结束测量之前,操作者能够将容纳有浸渍清洗液L1的浸渍清洗容器自样品转盘2取出。之后进入步骤S10。
<步骤S10>
在步骤S10中,浸渍清洗实施判断部44c使测量控制部44b实施预定的测量结束动作,并结束一系列的自动分析处理。
《实施方式的效果》
采用以上说明的实施方式,由于是花费通常测量动作时的两个周期以上的时间来实施将检查体探头21a浸渍于浸渍清洗液L1的浸渍清洗的结构,因此能够在未使用擦拭用的清洗构件的情况下将附着于检查体探头21a的污垢有效地去除。其结果,能够谋求自动分析装置1的运行成本降低。另外,能够防止检查体的残留以及由于残留所引起的检查体的污染,从而能够谋求测量精度的提高。
《变形例》
此外,在以上的实施方式中,成为在步骤S4中判断为不存在需要量的浸渍清洗液(否)的情况下将检查体探头21a的浸渍清洗取消的结构。然而,也可以成为如下结构:若如图5所示那样(1)清洗位置为探头清洗装置30的浸渍清洗槽32,则在步骤S4中判断为不存在需要量的浸渍清洗液(否)之后,浸渍清洗实施判断部44c使浸渍清洗液供给管32a向浸渍清洗槽32供给需要量的浸渍清洗液L1,之后进入步骤S5。另外,也可以为如下结构:若如图6所示那样(1)清洗位置为样品转盘2或保持于清洗容器保持部的浸渍清洗容器,则浸渍清洗实施判断部44c等待操作者向浸渍清洗容器内追加浸渍清洗液L1,之后进入步骤S5。
另外,在以上的实施方式中,说明了用于清洗检查体探头21a的探头清洗装置30包括浸渍清洗槽32的结构。然而,探头清洗装置30也可以不包括浸渍清洗槽32。在该情况下,检查体探头21a的浸渍清洗只要通过保持于样品转盘2或清洗容器保持部的浸渍清洗容器内的浸渍清洗液L1来实施即可。
并且,在以上的实施方式中,作为分注探头的浸渍清洗处理,例示检查体探头21a的浸渍清洗处理并进行了说明。然而,本发明的自动分析方法中的分注探头的浸渍清洗处理并不限定于检查体探头,还能够广泛地应用于其他分注探头。
另外,在上述实施方式中,为能够利用图7所示的探头浸渍清洗的手动实施设定和图8所示的探头浸渍清洗的自动实施设定这两者来进行设定的结构。然而,在本发明的自动分析方法中的分注探头的浸渍清洗处理中,也可以为仅利用任意一种设定来对分注探头的浸渍清洗处理的实施时刻进行设定的结构。
另外,并且,在以上的实施方式中,也可以设为如下结构:在实施步骤S5中的清洗处理之前,能够通过操作者自输入部42进行手动输入来取消清洗处理的实施。作为该情况下的一个例子,在(a)步骤S3与步骤S4之间、(b)步骤S105与步骤S106之间、(c)步骤S104与步骤S4之间、(d)自步骤S4开始起到步骤S5结束为止期间中的至少一处追加取消输入的判断步骤,在该判断步骤中,对是否手动输入有取消浸渍清洗的指示进行判断。
在向上述(a)、(b)中追加的取消输入的判断步骤中判断为手动输入有取消浸渍清洗的指示(是)的情况下,返回步骤S2。
在向上述(c)中追加的取消输入的判断步骤中判断为手动输入有取消浸渍清洗的指示(是)的情况下,由于在之前的步骤S104中通常测量动作被中断,因此返回步骤S1。
在向上述(d)中追加的取消输入的判断步骤中判断为手动输入有取消浸渍清洗的指示(是)的情况下,在之前的步骤S4中存在探头的顶端浸渍于清洗液的可能性。因此,在实施探头的冲洗清洗和浸渍清洗液的溢流更换之后,返回步骤S1。在该情况下,只要设为如下结构即可,即,只要实施使用图13说明的步骤S502~步骤S506即可,之后返回步骤S1。
另一方面,只要设为如下结构即可,在向上述(a)~(d)中追加的取消输入的判断步骤中判断为未手动输入有取消浸渍清洗的指示(否)的情况下,进入接下来的步骤。
另外,也可以设为如下结构:在手动输入有取消上述浸渍清洗的指示的情况下,例如浸渍清洗实施判断部44c对检查体探头的浸渍清洗通过手动输入而被取消的履历进行保存。
Claims (15)
1.一种自动分析装置,其中,
该自动分析装置包括:
保持部,其对贮存有分注液的多个容器进行保持;
浸渍清洗液保持部,其贮存浸渍清洗液;
分注装置,其具有驱动机构,该驱动机构将自保持于所述保持部的容器采集所述分注液的分注探头保持为能够在所述保持部与所述浸渍清洗液保持部之间进行移动;
测量控制部,其以预定周期自保持于所述保持部的所述多个容器依次采集所述分注液的方式,对所述分注装置的所述驱动机构和所述分注探头进行控制;以及
浸渍清洗控制部,其以花费所述预定周期的两倍以上的浸渍时间来实施将所述分注探头浸渍于贮存于所述浸渍清洗液保持部的所述浸渍清洗液中的浸渍清洗的方式,对所述分注装置的所述驱动机构和所述分注探头进行控制。
2.根据权利要求1所述的自动分析装置,其中,
该自动分析装置还包括浸渍清洗实施判断部,该浸渍清洗实施判断部判断能否实施所述浸渍清洗并指示所述浸渍清洗控制部实施所述浸渍清洗。
3.根据权利要求2所述的自动分析装置,其中,
根据向所述保持部输入所述容器的输入信息,在没有输入所述容器的情况下,所述浸渍清洗实施判断部判断为能够实施所述浸渍清洗。
4.根据权利要求3所述的自动分析装置,其中,
该自动分析装置还包括输入部,该输入部用于输入与所述分注探头的浸渍清洗有关的设定,
在自所述输入部输入的所述分注探头的浸渍清洗的时刻下,在没有输入所述容器的情况下,所述浸渍清洗实施判断部判断为能够实施所述浸渍清洗。
5.根据权利要求4所述的自动分析装置,其中,
在自所述输入部输入的所述分注探头的浸渍清洗的时刻下,直至在没有输入所述容器的情况下判断为能够实施所述浸渍清洗为止,所述浸渍清洗实施判断部进行待机,而不指示所述浸渍清洗控制部实施所述浸渍清洗。
6.根据权利要求2至5中任一项所述的自动分析装置,其中,
该自动分析装置还包括警报输出部,在所述浸渍清洗实施判断部判断为无法实施所述浸渍清洗的情况下,该警报输出部输出警报。
7.根据权利要求1所述的自动分析装置,其中,
该自动分析装置还在所述分注探头移动的轨道上设有具有清洗液供给管的探头清洗槽,
在所述浸渍清洗之后,所述浸渍清洗控制部以使所述分注探头移动到所述探头清洗槽内并利用自所述清洗液供给管供给的清洗液来清洗所述分注探头的方式对所述驱动机构进行控制。
8.根据权利要求7所述的自动分析装置,其中,
所述清洗液供给管配置于所述探头清洗槽的上部,用于对配置于所述探头清洗槽内的分注探头呈喷淋状供给清洗液。
9.根据权利要求7所述的自动分析装置,其中,
所述浸渍清洗液保持部是配置于所述探头清洗槽的内部的浸渍清洗槽。
10.根据权利要求1所述的自动分析装置,其中,
作为所述浸渍清洗液保持部,将对贮存有浸渍清洗液的容器进行保持的清洗容器保持部设于所述分注探头移动的轨道上。
11.根据权利要求1所述的自动分析装置,其中,
在所述浸渍清洗之际,所述浸渍清洗控制部以使所述分注探头在所述浸渍清洗液中振动的方式对所述驱动机构进行控制。
12.根据权利要求1所述的自动分析装置,其中,
在所述浸渍清洗之际,所述浸渍清洗控制部以重复进行相对于所述分注探头抽吸和喷出所述浸渍清洗液的方式对所述驱动机构进行控制。
13.根据权利要求1所述的自动分析装置,其中,
所述分注探头采集作为所述分注液的检查体。
14.一种自动分析方法,其是利用自动分析装置进行的自动分析方法,该自动分析装置包括:保持部,其对贮存有分注液的多个容器进行保持;浸渍清洗液保持部,其贮存浸渍清洗液;以及分注装置,其具有驱动机构,该驱动机构将自保持于所述保持部的容器采集所述分注液的分注探头保持为能够在所述保持部与所述浸渍清洗液保持部之间进行移动,其中,
以预定周期自保持于所述保持部的所述多个容器依次采集所述分注液的方式,对所述分注装置的所述驱动机构和所述分注探头进行控制,
以花费所述预定周期的两倍以上的浸渍时间来实施将所述分注探头浸渍于贮存于所述浸渍清洗液保持部的所述浸渍清洗液中的浸渍清洗的方式,对所述分注装置的所述驱动机构和所述分注探头进行控制。
15.根据权利要求14所述的自动分析方法,其中,
判断能否实施所述浸渍清洗,在判断为能够实施所述浸渍清洗的情况下,实施所述浸渍清洗。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2018067959A JP6876650B2 (ja) | 2018-03-30 | 2018-03-30 | 自動分析装置および自動分析方法 |
JP2018-067959 | 2018-03-30 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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CN110320380A true CN110320380A (zh) | 2019-10-11 |
CN110320380B CN110320380B (zh) | 2023-06-09 |
Family
ID=65991633
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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CN201910242733.9A Active CN110320380B (zh) | 2018-03-30 | 2019-03-28 | 自动分析装置和自动分析方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11680952B2 (zh) |
EP (1) | EP3546953B1 (zh) |
JP (1) | JP6876650B2 (zh) |
CN (1) | CN110320380B (zh) |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |