KR101935609B1 - Photosensitive resin composition, photosensitive element, method for resist pattern formation, and method for manufacturing printed wiring board - Google Patents
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Abstract
본 발명은, (A) 바인더 폴리머, (B) 에틸렌성 불포화 결합을 가지는 광중합성 화합물, 및 (C) 광중합 개시제를 함유하는 감광성 수지 조성물로서, (A) 성분이, (a1) 벤질(메타)아크릴레이트 유도체 유래의 구성 단위를 50~80중량%, (a2) 스티렌 유도체 유래의 구성 단위를 5~40중량%, (a3) (메타)아크릴산알킬에스테르 유래의 구성 단위를 1~20중량%, 및 (a4) (메타)아크릴산 유래의 구성 단위를 5~30중량% 포함하는, 감광성 수지 조성물을 제공한다.The present invention provides a photosensitive resin composition comprising (A) a binder polymer, (B) a photopolymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond, and (C) a photopolymerization initiator, wherein the component (A) (A3) from 1 to 20% by weight of a constitutional unit derived from a (meth) acrylic acid alkyl ester, and (b) from 50 to 80% by weight of a constituent unit derived from an acrylate derivative, And (a4) 5 to 30% by weight of a structural unit derived from (meth) acrylic acid.
Description
본 발명은, 감광성 수지 조성물, 및 이를 이용한 감광성 엘리먼트, 레지스트 패턴의 형성 방법 및 프린트 배선판의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a photosensitive resin composition, a photosensitive element using the same, a method for forming a resist pattern, and a method for producing a printed wiring board.
최근, 반도체소자의 경박단소화, 소량 다품종화의 경향이 진행됨에 따라서, IC칩을 기판 위에 탑재하기 위해서 이용되는 BGA(Ball Grid Array) 등의 반도체 패키지도 다핀화, 협소화가 진행되어, 이들을 탑재하는 프린트 배선판도 고밀도화가 요구되고 있다.2. Description of the Related Art In recent years, semiconductor packages such as a BGA (Ball Grid Array) used for mounting IC chips on a substrate have become multi-pinned and narrowed as the tendency toward thinning, small volume, It is required to increase the density of printed wiring boards.
종래, 프린트 배선판의 제조 분야에 있어서는, 에칭이나 도금 등에 이용되는 레지스트 재료로서, 지지 필름과, 그 지지 필름 위에 적층된 감광성 수지 조성물로 이루어지는 감광성 수지 조성물층과, 이것을 피복하는 보호 필름으로 이루어지는 감광성 엘리먼트가 널리 이용되고 있다.BACKGROUND ART Conventionally, in the field of manufacturing printed wiring boards, resist materials used for etching, plating and the like include a support film, a photosensitive resin composition layer composed of a photosensitive resin composition laminated on the support film, and a photosensitive element Is widely used.
프린트 배선판은, 감광성 엘리먼트를 이용하여 이하에 나타내는 방법으로 제조된다. 우선, 감광성 엘리먼트의 보호 필름을 박리하면서, 감광성 수지 조성물층을 기판 위에 적층(라미네이트)한다. 다음으로, 감광성 수지 조성물층의 소정 부분에 활성 광선을 조사하여 노광부를 경화시킨다. 지지 필름을 박리 제거한 후, 미노광부를 기판 위로부터 제거(현상)함으로써, 기판 위에, 감광성 수지 조성물의 경화물로 이루어지는 레지스트 패턴이 형성된다. 레지스트 패턴을 형성한 기판에 대해, 에칭 처리 또는 도금 처리를 실시하여 기판 위에 회로를 형성한 후, 최종적으로 레지스트를 박리 제거함으로써 프린트 배선판이 제조된다.The printed wiring board is manufactured by the following method using a photosensitive element. First, the photosensitive resin composition layer is laminated (laminated) on the substrate while peeling off the protective film of the photosensitive element. Next, an exposed portion of the photosensitive resin composition layer is irradiated with an actinic ray to cure the exposed portion. After the support film is peeled off, the unexposed portion is removed (developed) from the substrate, and a resist pattern made of the cured product of the photosensitive resin composition is formed on the substrate. A circuit board is formed on a substrate on which a resist pattern is formed by performing an etching treatment or a plating treatment to form a circuit on the substrate, and finally removing the resist by peeling.
특히 반도체 패키지 탑재 기판의 제조에 있어서는, 레지스트 패턴 형성 후, 도금 처리, 레지스트 박리, 소프트 에칭을 실시하는 세미애디티브 공법(SAP)이 주류가 되고 있다.Particularly, in the manufacture of a semiconductor package mounted substrate, a semi-additive process (SAP) in which a plating process, a resist stripping, and a soft etching are performed after forming a resist pattern has become mainstream.
상기 세미애디티브 공법(SAP)에 이용되는 감광성 수지 조성물에는, 종래의 감광성 수지 조성물보다 미세 배선이 형성 가능한 것이 요구된다.In the photosensitive resin composition used in the semi-additive process (SAP), it is required that fine wiring can be formed over a conventional photosensitive resin composition.
종래, 미세 배선이 형성 가능(해상도나 밀착성이 뛰어남)한 감광성 수지 조성물이 다수 제안되어 있다(예를 들면, 특허문헌 1~3 참조).BACKGROUND ART [0002] A large number of photosensitive resin compositions capable of forming fine wirings (excellent in resolution and adhesiveness) have been proposed in the past (see, for example,
그러나, 상기 특허문헌 1 또는 2에 기재된 감광성 수지 조성물을 사용했을 경우에도, 최근 요구되는 해상도에 관해서는 개선의 여지가 있다. 또한, 본 발명자들의 검토에 의해, 상기 특허문헌 3에 기재된 감광성 수지 조성물을 사용하면, 레지스트 패턴을 형성할 때의 도금 공정에 있어서, 레지스트의 단부(端部)에서의 도금액에의 내성(이하, 「도금 내성」이라고 한다.)이 낮아져, 도금 침수(plate submergence)가 생기는 점에서 개선의 여지가 있는 것이 판명되었다.However, even when the photosensitive resin composition described in
도금 내성을 향상하는 수법으로서는, 레지스트에 소수성 화합물을 부여하는 수법이나, 유리 전이 온도를 향상시키는 수법이 일반적이다. 그러나, 이들 수법으로는, 소수성 향상에 의해 현상 스컴의 발생이나, 레지스트의 박리 잔사 부착이 생기거나, 유리 전이 온도의 향상에 의해 레지스트 유연성이 저하하여, 도금 침수가 개선되지 않거나 하는 문제가 있다는 것을 본 발명자들은 발견하였.As a method for improving the plating resistance, a method of adding a hydrophobic compound to a resist or a method of improving the glass transition temperature is generally used. However, with these techniques, there is a problem that development scum is generated by the improvement of the hydrophobicity, adhesion of the remnant of the resist to the resist occurs, or resist flexibility is lowered by improvement of the glass transition temperature, and plating immersion is not improved The present inventors have discovered.
또한, 레지스트에 친수성 화합물을 부여함으로써, 레지스트 유연성을 향상시키는 수법을 본 발명자들은 시도했지만, 레지스트의 밀착성 및 도금 내성의 저하가 보여, SAP에 요구되는 미세 배선 형성을 형성 가능하며, 또한 도금 내성이 뛰어난 감광성 수지 조성물을 제조하는 것은 곤란했다.Further, the present inventors have tried to improve the resist flexibility by adding a hydrophilic compound to the resist. However, since the adhesion of the resist and the plating resistance are lowered, it is possible to form the fine wiring required for the SAP, It has been difficult to produce an excellent photosensitive resin composition.
본 발명은 상기 문제점을 감안하여 이루어진 것으로, 해상도 및 밀착성이 뛰어나며 또한 도금 내성이 양호한 감광성 수지 조성물, 및 이를 이용한 감광성 엘리먼트, 레지스트 패턴의 제조 방법 및 프린트 배선판의 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a photosensitive resin composition having excellent resolution and adhesiveness and good plating resistance, and a photosensitive element using the same, a method for producing a resist pattern, and a method for producing a printed wiring board.
본 발명의 제1의 양태는, (A) 바인더 폴리머, (B) 에틸렌성 불포화 결합을 가지는 광중합성 화합물, 및 (C) 광중합 개시제를 함유하는 감광성 수지 조성물로서, (A) 성분이, (a1) 벤질(메타)아크릴레이트 유도체 유래의 구성 단위를 50~80중량%, (a2) 스티렌 유도체 유래의 구성 단위를 5~40중량%, (a3) (메타)아크릴산알킬에스테르 유래의 구성 단위를 1~20중량%, 및 (a4) (메타)아크릴산 유래의 구성 단위를 5~30중량% 포함하는, 감광성 수지 조성물이다.A first aspect of the present invention is a photosensitive resin composition comprising (A) a binder polymer, (B) a photopolymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond, and (C) a photopolymerization initiator, wherein the component (A) (A3) a structural unit derived from a (meth) acrylic acid alkyl ester is referred to as 1 (meth) acrylate ester, To 20% by weight of (meth) acrylic acid, and (a4) 5 to 30% by weight of a constituent unit derived from (meth) acrylic acid.
이러한 감광성 수지 조성물에 의하면, 해상도 및 밀착성이 뛰어나며, 또한 도금 내성이 양호하다. 이것은, 바인더 폴리머가, 특정의 공중합 성분을 특정량 함유함으로써, 친수성과 소수성의 밸런스가 뛰어난 레지스트를 제공할 수 있었기 때문이라고, 본 발명자들은 추찰하고 있다.Such a photosensitive resin composition is excellent in resolution and adhesion, and is also excellent in plating resistance. This is because the present inventors contemplate that the binder polymer contains a specific amount of a specific copolymerization component, thereby providing a resist having excellent balance of hydrophilicity and hydrophobicity.
본 발명의 제2의 양태는, 지지 필름과, 그 지지 필름 위에 형성되는 상기 광성 수지 조성물로 이루어지는 감광성 수지 조성물층을 구비하는 감광성 엘리먼트이다.A second aspect of the present invention is a photosensitive element comprising a support film and a photosensitive resin composition layer comprising the above-mentioned photosensitive resin composition formed on the support film.
본 발명의 제3의 양태는, 상기 감광성 수지 조성물로 이루어지는 감광성 수지 조성물층을 기판 위에 적층하는 적층 공정과, 상기 감광성 수지 조성물층에 광경화부를 형성시키는 노광 공정과, 상기 광경화부 이외의 상기 감광성 수지 조성물층을 제거하는 현상 공정을 포함하는, 레지스트 패턴의 형성 방법이다. 본 양태는, 감광성 수지 조성물층을, 감광성 엘리먼트를 이용하여 적층하는 양태여도 된다.A third aspect of the present invention is a method of manufacturing a photosensitive resin composition, comprising: a step of laminating a photosensitive resin composition layer comprising the photosensitive resin composition on a substrate; an exposure step of forming a light- And a developing step of removing the resin composition layer. In this aspect, the photosensitive resin composition layer may be laminated using a photosensitive element.
본 발명의 제4의 양태는, 상기 레지스트 패턴의 형성 방법에 의해 레지스트 패턴이 형성되는 기판에 대해서, 에칭 처리 또는 도금 처리를 실시하는, 프린트 배선판의 제조 방법이다.A fourth aspect of the present invention is a method for producing a printed wiring board in which a substrate on which a resist pattern is formed is subjected to an etching treatment or a plating treatment by the resist pattern formation method.
본 발명에 의하면 해상도 및 밀착성이 뛰어나며, 또한 박판기재 위에 있어서도 도금 내성이 뛰어난 감광성 수지 조성물, 및 이를 이용한 감광성 엘리먼트, 레지스트 패턴의 제조 방법 및 프린트 배선판의 제조 방법을 제공할 수 있다.According to the present invention, it is possible to provide a photosensitive resin composition excellent in resolution and adhesion, excellent in plating resistance even on a thin plate substrate, and a photosensitive element using the same, a method for producing a resist pattern, and a method for producing a printed wiring board.
도 1은, 본 발명의 감광성 엘리먼트의 일 실시형태를 나타내는 모식 단면도이다.1 is a schematic cross-sectional view showing an embodiment of a photosensitive element of the present invention.
이하, 본 발명의 일 실시형태에 관하여 설명하지만, 본 발명은 이것으로 한정되는 것은 아니다. 또한, 본 발명에 있어서의 (메타)아크릴산이란 아크릴산 및 메타크릴산을 의미하고, (메타)아크릴레이트란 아크릴레이트 및 그에 대응하는 메타크릴레이트를 의미하며, (메타)아크릴로일기란 아크릴로일기 및 메타크릴로일기를 의미한다.Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described, but the present invention is not limited thereto. In the present invention, (meth) acrylic acid means acrylic acid and methacrylic acid, (meth) acrylate means acrylate and methacrylate corresponding thereto, and (meth) acryloyl group means acryloyl group And a methacryloyl group.
(감광성 수지 조성물)(Photosensitive resin composition)
본 실시형태의 감광성 수지 조성물은, (A) 바인더 폴리머(이하, 「(A) 성분」이라고도 말한다.), (B) 에틸렌성 불포화 결합을 가지는 광중합성 화합물(이하, 「(B) 성분」이라고도 말한다.), 및 (C) 광중합 개시제(이하, 「(C) 성분」이라고도 말한다.)를 함유한다. 이하, (A)~(C) 성분에 관하여, 상세하게 설명한다.The photosensitive resin composition of the present embodiment is a photopolymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond (hereinafter, also referred to as " component (B) ") ), And (C) a photopolymerization initiator (hereinafter also referred to as " component (C) "). Hereinafter, the components (A) to (C) will be described in detail.
우선, (A) 바인더 폴리머에 관하여 설명한다. 상기 (A) 바인더 폴리머는, 후술하는 감광성 엘리먼트에 있어서 필름 형상을 부여하기 위한 기재로서 기능한다. First, the (A) binder polymer will be described. The above-mentioned (A) binder polymer functions as a base material for imparting a film shape to a photosensitive element described later.
이러한 (A) 바인더 폴리머는, (a1) 벤질(메타)아크릴레이트 유도체 유래의 구성 단위, (a2) 스티렌 유도체 유래의 구성 단위, (a3) (메타)아크릴산알킬에스테르 유래의 구성 단위, 및 (a4) (메타)아크릴산 유래의 구성 단위를 포함한다. 이들 구성 단위를 포함하는 바인더 폴리머는, 각각의 구성 단위에 대응하는 단량체, 즉 벤질(메타)아크릴레이트 유도체, 스티렌 유도체, (메타)아크릴산알킬에스테르, 및(메타)아크릴산을 함유하는 단량체 조성물을 공중합시킴으로써 얻어진다. 이와 같이 하여 얻어지는 공중합체에 있어서 각 구성 단위는, 이른바 랜덤 공중합체와 같이 공중합체 안에 랜덤으로 포함되어 있어도 되며, 혹은 블록 공중합체와 같이 일부의 특정의 구성 단위가 국재(局在)하여 존재하는 공중합체여도 된다. 그리고, 상기 구성 단위의 각각은 단일종이어도 복수종이어도 된다.The (A) binder polymer is preferably a polymer comprising (a1) a constituent unit derived from a benzyl (meth) acrylate derivative, (a2) a constituent unit derived from a styrene derivative, (a3) a constituent unit derived from a ) (Meth) acrylic acid. The binder polymer containing these constituent units can be obtained by copolymerizing a monomer composition containing a monomer corresponding to each constituent unit, that is, a benzyl (meth) acrylate derivative, a styrene derivative, a (meth) acrylic acid alkyl ester, and (meth) . In the copolymer obtained as described above, each constituent unit may be randomly contained in the copolymer such as a so-called random copolymer, or a part of specific constituent units such as a block copolymer may exist locally Or may be a copolymer. Each of the constituent units may be a single type or plural types.
(A) 바인더 폴리머는, (a1) 벤질(메타)아크릴레이트 유도체 유래의 구성 단위를 특정량 포함함으로써, 수지의 유연성을 유지하면서 밀착성이 뛰어나다. 벤질(메타)아크릴레이트 유도체의 구체예로서는, 예를 들면 벤질(메타)아크릴레이트, 4-메틸벤질(메타)아크릴레이트, 4-에틸벤질(메타)아크릴레이트, 4-tert부틸벤질(메타)아크릴레이트, 4-메톡시벤질(메타)아크릴레이트, 4-에톡시벤질(메타)아크릴레이트, 4-히드록실벤질(메타)아크릴레이트, 4-클로로벤질(메타)아크릴레이트를 들 수 있다.(A) The binder polymer contains (a1) a specific amount of a constitutional unit derived from a benzyl (meth) acrylate derivative, whereby the adhesiveness is excellent while maintaining the flexibility of the resin. Specific examples of benzyl (meth) acrylate derivatives include benzyl (meth) acrylate, 4-methylbenzyl (meth) acrylate, 4-ethylbenzyl (meth) acrylate, 4- Acrylate, 4-methoxybenzyl (meth) acrylate, 4-ethoxybenzyl (meth) acrylate, 4-hydroxylbenzyl (meth) acrylate and 4-chlorobenzyl (meth) acrylate.
(A) 바인더 폴리머는, (a2) 스티렌 유도체 유래의 구성 단위를 특정량 포함함으로써, 세선부의 밀착성, 해상도가 뛰어나다. 스티렌 유도체의 구체예로서는, 예를 들면 스티렌, 비닐톨루엔, p-메틸스티렌, p-클로로스티렌을 들 수 있다.The binder polymer (A) contains a specific amount of the structural unit derived from the styrene derivative (a2), whereby the adhesion and resolution of the fine line portion are excellent. Specific examples of the styrene derivatives include, for example, styrene, vinyl toluene, p-methyl styrene, and p-chlorostyrene.
(A) 바인더 폴리머는, (a3) (메타)아크릴산알킬에스테르 유래의 구성 단위를 특정량 포함함으로써, 바인더 폴리머의 유연성과 강인성의 양립이 뛰어나다.(A) The binder polymer is excellent in both flexibility and toughness of the binder polymer by including a specific amount of the constituent unit derived from (a3) alkyl (meth) acrylate.
(메타)아크릴산알킬에스테르에 있어서의 알킬기는, 직쇄상 또는 분기상의 탄소수 1~12의 알킬기이면 바람직하고, 직쇄상 또는 분기상의 탄소수 1~8의 알킬기이면 보다 바람직하고, 직쇄상의 탄소수 1~4의 알킬기이면 더욱 바람직하며, 메틸기이면 특히 바람직하다.The alkyl group in the alkyl (meth) acrylate is preferably a linear or branched alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, more preferably an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms in the straight or branched chain, and a straight chain or branched alkyl group having 1 to 4 More preferably an alkyl group, and particularly preferably a methyl group.
상기 (메타)아크릴산알킬에스테르의 구체예로서는, 예를 들면 (메타)아크릴산메틸, (메타)아크릴산에틸, (메타)아크릴산프로필, (메타)아크릴산이소프로필, (메타)아크릴산부틸, (메타)아크릴산tert-부틸, (메타)아크릴산펜틸, (메타)아크릴산헥실, (메타)아크릴산헵틸, (메타)아크릴산옥틸, (메타)아크릴산2-에틸헥실을 들 수 있다.Specific examples of the alkyl (meth) acrylate ester include methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, propyl (meth) acrylate, isopropyl (meth) acrylate, butyl Butyl (meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, heptyl (meth) acrylate, octyl (meth) acrylate and 2-ethylhexyl (meth) acrylate.
(A) 바인더 폴리머는, (a4) (메타)아크릴산 유래의 구성 단위를 특정량 포함함으로써, 알칼리 현상성이 뛰어나다.(A) The binder polymer is excellent in alkali developability by containing a specific amount of the constituent unit derived from (a4) (meth) acrylic acid.
또한, (A) 바인더 폴리머는, 상기 (a1)~(a4) 이외의 구성 단위를 포함하고 있어도 된다.The binder polymer (A) may contain a structural unit other than the above (a1) to (a4).
(A) 바인더 폴리머는, (a1) 벤질(메타)아크릴레이트 유도체 유래의 구성 단위를 50~80중량% 포함하며, 수지의 유연성을 유지하면서 밀착성이 보다 뛰어난 점에서는, 50~75중량% 포함하는 것이 바람직하고, 50~70중량% 포함하는 것이 보다 바람직하며, 50~65중량% 포함하는 것이 더욱 바람직하다.The binder polymer (A) preferably contains (a1) 50 to 80% by weight of a structural unit derived from a benzyl (meth) acrylate derivative and 50 to 75% by weight More preferably 50 to 70% by weight, and still more preferably 50 to 65% by weight.
(A) 바인더 폴리머는, (a2) 스티렌 유도체 유래의 구성 단위를 5~40중량% 포함하며, 밀착성 및 해상도가 더욱 뛰어난 점에서는, 5~35중량% 포함하는 것이 바람직하다. 또한, (a3) (메타)아크릴산알킬에스테르 유래의 구성 단위를 1~20중량% 포함하지만, 레지스트에 친수성과 소수성을 더욱 밸런스 좋게 공여하는 점에서는, 1~15중량% 포함하는 것이 바람직하고, 1~10중량% 포함하는 것이 보다 바람직하며, 1~5중량% 포함하는 것이 더욱 바람직하다. 또한, (a4) (메타)아크릴산 유래의 구성 단위를 5~30중량% 포함하지만, 알칼리 현상성이 더욱 뛰어나다는 점에서는, 5~25중량% 포함하는 것이 바람직하고, 10~25중량% 포함하는 것이 보다 바람직하다.The binder polymer (A) preferably contains 5 to 40% by weight of (a2) structural units derived from a styrene derivative, and preferably contains 5 to 35% by weight in view of better adhesion and resolution. In addition, (a3) 1 to 20% by weight of a constitutional unit derived from an alkyl (meth) acrylate ester is contained, but it is preferably contained in an amount of 1 to 15% by weight in view of providing the resist with a more balanced hydrophilicity and hydrophobicity, By weight to 10% by weight, and more preferably 1 to 5% by weight. (A4) It contains 5 to 30% by weight of a structural unit derived from (meth) acrylic acid, but it preferably contains 5 to 25% by weight, more preferably 10 to 25% by weight Is more preferable.
또한, (A) 바인더 폴리머의 중량 평균 분자량(Mw)은 20,000~150,000인 것이 바람직하고, 30,000~100,000인 것이 보다 바람직하고, 40,000~80,000인 것이 더욱 바람직하며, 40,000~60,000인 것이 특히 바람직하다. 텐팅 신뢰성이 더욱 뛰어나다는 점에서는, Mw가 20,000 이상인 것이 바람직하고, 30,000 이상인 것이 보다 바람직하며, 40,000이상인 것이 더욱 바람직하다. 한편, 현상성 및 해상성이 더욱 뛰어나다는 점에서는, 150,000 이하인 것이 바람직하고, 100,000 이하인 것이 보다 바람직하고, 80,000 이하인 것이 더욱 바람직하며, 60,000 이하인 것이 특히 바람직하다. 또한, 본 발명에 있어서 Mw는, 겔퍼미에이션 크로마토그래피(GPC)에 의한 표준 폴리스티렌의 환산의 중량 평균 분자량을 말한다.The weight average molecular weight (Mw) of the binder polymer (A) is preferably 20,000 to 150,000, more preferably 30,000 to 100,000, even more preferably 40,000 to 80,000, and particularly preferably 40,000 to 60,000. From the viewpoint of more excellent tenting reliability, the Mw is preferably 20,000 or more, more preferably 30,000 or more, and even more preferably 40,000 or more. On the other hand, from the viewpoint of more excellent developability and resolution, it is preferably 150,000 or less, more preferably 100,000 or less, more preferably 80,000 or less, and particularly preferably 60,000 or less. In the present invention, Mw means a weight average molecular weight in terms of standard polystyrene by gel permeation chromatography (GPC).
또한, (A) 바인더 폴리머의 산가(mgKOH/g)는, 13~78인 것이 바람직하고, 39~65인 것이 보다 바람직하며, 52~62인 것이 더욱 바람직하다. 또한, 본 명세서 중에서 산가는, 용액 중의 바인더 폴리머 1g에 대한 수산화 칼륨의 mg수를 나타내며, 측정 방법은 실시예에 기재의 방법과 동일하게 한다.The acid value (mgKOH / g) of the binder polymer (A) is preferably from 13 to 78, more preferably from 39 to 65, and even more preferably from 52 to 62. In the present specification, the acid value represents the number of mg of potassium hydroxide per 1 g of the binder polymer in the solution, and the measurement method is the same as that described in the examples.
또한, 본 실시형태의 감광성 수지 조성물은, 상기 (a1)~(a4)를 소정량 함유 하는 바인더 폴리머 외에, 종래 공지의 바인더 폴리머를 병용해서 사용할 수 있다.The photosensitive resin composition of the present embodiment can be used in combination with a conventionally known binder polymer in addition to the binder polymer containing the specified amounts of (a1) to (a4).
(B) 에틸렌성 불포화 결합을 가지는 광중합성 화합물은, 광가교가 가능하다면 특별히 제한없이 사용할 수 있다. 그 구체예로서는, 비스페놀 A계 (메타)아크릴레이트 화합물, 수첨(水添) 비스페놀 A계 (메타)아크릴레이트 화합물, 폴리알킬렌글리콜(메타)아크릴레이트, 우레탄 모노머, 펜타에리트리톨(메타)아크릴레이트, 트리메틸올프로판(메타)아크릴레이트를 들 수 있다. 이들은 단독으로 또는 2종 이상을 조합해서 사용된다.The photopolymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond (B) can be used without particular limitation as far as it is capable of photo-crosslinking. Specific examples thereof include bisphenol A (meth) acrylate compounds, hydrogenated bisphenol A (meth) acrylate compounds, polyalkylene glycol (meth) acrylates, urethane monomers, pentaerythritol , And trimethylolpropane (meth) acrylate. These may be used alone or in combination of two or more.
상기 중에서도, 해상도 및 도금 내성을 향상시키는 관점에서, 비스페놀 A계 디(메타)아크릴레이트 화합물을 포함하는 것이 바람직하다. 비스페놀 A계 디(메타)아크릴레이트 화합물로서는, 예를 들면, 하기 일반식 (1)로 표시되는 화합물을 들 수 있다.Above all, it is preferable to include a bisphenol A di (meth) acrylate compound from the viewpoint of improving resolution and plating resistance. As the bisphenol A based di (meth) acrylate compound, for example, there can be mentioned a compound represented by the following general formula (1).
[화학식 1][Chemical Formula 1]
상기 식 (1) 중, R은 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 메틸기를 나타낸다. EO, PO는 각각, 옥시에틸렌기, 옥시프로필렌기를 나타낸다. m1, m2, n1, n2는 각각 0~40을 나타내며, m1+m2(평균치)는 1~40, n1+n2는 0~20이다. 또한, EO, PO는 어느 쪽이 페놀성 수산기 측에 있어도 된다. m1, m2, n1 및 n2는 구성 단위의 수를 나타낸다. 따라서 단일의 분자에 있어서는 정수치를 나타내며, 복수종의 분자의 집합체로서는 평균치인 유리수를 나타낸다. 이하, 구성 단위의 수에 관해서는 같다.In the above formula (1), each R independently represents a hydrogen atom or a methyl group. EO and PO each represent an oxyethylene group or an oxypropylene group. m 1 , m 2 , n 1 and n 2 each represent 0 to 40, m 1 + m 2 (average value) is 1 to 40, and n 1 + n 2 is 0 to 20. EO and PO may be either on the phenolic hydroxyl group side. m 1 , m 2 , n 1 and n 2 represent the number of constitutional units. Therefore, it represents an integer value in a single molecule, and a rational number, which is an average value, as an aggregate of a plurality of kinds of molecules. Hereinafter, the same shall apply to the number of constituent units.
도금 내성이 보다 뛰어나다는 점에서는, 상기 일반식 (1)로 표시되는 화합물중, (1-1)m1+m2(평균치)가 5 이하인 화합물과, (1-2)m1+m2(평균치)가 6~40인 화합물을 조합해서 사용하는 것이 바람직하다.(1-1) m 1 + m 2 (average value) of not more than 5 and (1-2) m 1 + m 2 (average value) in the compound represented by the general formula (Average value) of 6 to 40 is preferably used in combination.
(1-1)m1+m2(평균치)가 5 이하인 화합물로서는, 예를 들면 m1+m2(평균치)가 4인 신나카무라카가쿠(주)제 BPE-200을 이용할 수 있으며, (1-2)m1+m2(평균치)가 6~40인 화합물로서는, 예를 들면 m1+m2(평균치)가 10인 신나카무라카가쿠(주)제 BPE-500을 이용할 수 있다.(1-1) As a compound having m 1 + m 2 (average value) of 5 or less, for example, BPE-200 manufactured by Shin Nakamura Kagaku Co., Ltd. having m 1 + m 2 (average value) 1-2) As a compound having m 1 + m 2 (average value) of 6 to 40, for example, BPE-500 manufactured by Shin Nakamura Kagaku Co., Ltd. having m 1 + m 2 (average value)
또한, (B) 에틸렌성 불포화 결합을 가지는 광중합성 화합물은, 비스페놀 A계 디(메타)아크릴레이트 화합물에 더하여, 하기 식 (2)로 표시되는 화합물을 더 포함하는 것이 바람직하다.Further, it is preferable that the photopolymerizable compound (B) having an ethylenically unsaturated bond further contains a compound represented by the following formula (2) in addition to the bisphenol A di (meth) acrylate compound.
[화학식 2](2)
상기 식 (2) 중, R14 및 R15는 각각 독립적으로 수소 원자 또는 메틸기를 나타내며, EO 및 PO는 상기와 같고, s1은 1~30을 나타내며, r1 및 r2는 각각 0~30을 나타내며, r1+r2(평균치)는 1~30이다.In the formula (2), R 14 and R 15 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group, EO and PO are as defined above, s 1 represents 1 to 30, r 1 and r 2 each represent 0 to 30 , And r 1 + r 2 (average value) is 1 to 30.
식 (2)로 표시되는 화합물의 구체예로서는, R14 및 R15가 메틸기, r1+r2=4(평균치), s1=12(평균치)인 비닐 화합물(히타치카세이코교사제, 상품명: FA-023M)을 들 수 있다.Specific examples of the compound represented by the formula (2), R 14 and R 15 is a methyl group, r 1 + r 2 = 4 ( mean value), s 1 = 12 (average value) of the vinyl compound (Hitachi Car Seiko gyosaje, trade name: FA -023M).
(C) 광중합 개시제는, 특별히 제한없이 사용할 수 있지만, 그 구체예로서는, 벤조페논, N,N'-테트라메틸-4,4'-디아미노벤조페논(미히러케톤), N,N'-테트라에틸-4,4'-디아미노벤조페논, 4-메톡시-4'-디메틸아미노벤조페논, 2-벤질-2-디메틸아미노-1-(4-모르폴리노페닐)-부탄온-1, 2-메틸-1-[4-(메틸티오)페닐]-2-모르폴리노-프로판온-1 등의 방향족 케톤; 2-에틸안트라퀴논, 페난트렌퀴논, 2-tert-부틸안트라퀴논, 옥타메틸안트라퀴논, 1,2-벤즈안트라퀴논, 2,3-벤즈안트라퀴논, 2-페닐안트라퀴논, 2,3-디페닐안트라퀴논, 1-클로로안트라퀴논, 2-메틸안트라퀴논, 1,4-나프토퀴논, 9,10-페난트라퀴논, 2-메틸1,4-나프토퀴논, 2,3-디메틸안트라퀴논등의 퀴논류; 벤조인메틸에테르, 벤조인에틸에테르, 벤조인페닐에테르 등의 벤조인에테르 화합물, 벤조인, 메틸벤조인, 에틸벤조인 등의 벤조인 화합물; 벤질디메틸케탈 등의 벤질 유도체, 2-(o-클로로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 이량체, 2-(o-클로로페닐)-4,5-디(메톡시페닐)이미다졸 이량체, 2-(o-플루오로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 이량체, 2-(o-메톡시페닐)-4,5-디페닐이미다졸 이량체, 2-(p-메톡시페닐)-4,5-디페닐이미다졸 이량체 등의 2,4,5-트리아릴이미다졸 이량체; 9-페닐아크리딘, 1,7-비스(9,9'-아크리디닐)헵탄 등의 아크리딘 유도체, N-페닐글리신, N-페닐글리신 유도체, 쿠마린계 화합물을 들 수 있다.(C) Photopolymerization initiator can be used without particular limitation, and specific examples thereof include benzophenone, N, N'-tetramethyl-4,4'-diaminobenzophenone (Michler's ketone), N, Ethyl 4,4'-diaminobenzophenone, 4-methoxy-4'-dimethylaminobenzophenone, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) Aromatic ketones such as 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-propanone-1; Diethylanthraquinone, 2,3-benzanthraquinone, 2,3-benzanthraquinone, 2-phenylanthraquinone, 2,3-di 2-methyl anthraquinone, 1,4-naphthoquinone, 9,10-phenanthraquinone, 2-methyl 1,4-naphthoquinone, 2,3-dimethyl anthraquinone Quinones; Benzoin ether compounds such as benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether and benzoin phenyl ether; benzoin compounds such as benzoin, methylbenzoin and ethylbenzoin; Benzyldimethyl ketal and the like, benzyl derivatives of 2- (o-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (o-chlorophenyl) -4,5-di (methoxyphenyl) imidazole Diphenylimidazole dimer, 2- (o-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (o-fluorophenyl) 2,4,5-triarylimidazole dimer such as p-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer; Acridine derivatives such as 9-phenylacridine and 1,7-bis (9,9'-acridinyl) heptane, N-phenylglycine, N-phenylglycine derivatives and coumarin compounds.
이들은, 단독으로 또는 2종류 이상을 조합해서 사용된다.These may be used alone or in combination of two or more.
상기 중에서도, 밀착성 및 감도의 견지에서, 2,4,5-트리아릴이미다졸 이량체, 보다 바람직하게는 2-(O-클로로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 이량체를 포함하는 것이 바람직하다.Of these, in view of adhesion and sensitivity, 2,4,5-triarylimidazole dimer, more preferably 2- (O-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer is included .
감광성 수지 조성물에 있어서의 (A) 바인더 폴리머의 함유량은, (A) 성분 및 (B) 성분의 총량 100중량부에 대해서, 40~80중량부인 것이 바람직하고, 45~75중량부인 것이 보다 바람직하며, 50~70중량부인 것이 더욱 바람직하다. 감광성 엘리먼트로서 이용했을 경우에 도막성이 더욱 뛰어나다는 점에서는, 40중량부 이상인 것이 바람직하고, 45중량부 이상인 것이 보다 바람직하며, 50중량부 이상인 것이 더욱 바람직하다. 또한, 광감도가 더욱 뛰어나다는 점에서는, 80중량부 이하인 것이 바람직하고, 75중량부 이하인 것이 보다 바람직하며, 70중량부 이하인 것이 더욱 바람직하다.The content of the binder polymer (A) in the photosensitive resin composition is preferably 40 to 80 parts by weight, more preferably 45 to 75 parts by weight, relative to 100 parts by weight of the total amount of the components (A) and (B) , And more preferably 50 to 70 parts by weight. But it is preferably 40 parts by weight or more, more preferably 45 parts by weight or more, further preferably 50 parts by weight or more from the viewpoint of more excellent film property when used as a photosensitive element. From the viewpoint of more excellent photosensitivity, the amount is preferably 80 parts by weight or less, more preferably 75 parts by weight or less, and even more preferably 70 parts by weight or less.
감광성 수지 조성물에 있어서의 (C) 광중합 개시제의 함유량은, 광감도와 내부 경화성이 뛰어나다는 점에서는, (A) 성분 및 (B) 성분의 총량 100중량부에 대해서, 0.01~5중량부인 것이 바람직하고, 0.1~4.5중량부인 것이 보다 바람직하며, 1~4중량부인 것이 보다 바람직하다.The content of the photopolymerization initiator (C) in the photosensitive resin composition is preferably 0.01 to 5 parts by weight based on 100 parts by weight of the total amount of the component (A) and the component (B) from the viewpoint of excellent photosensitivity and internal curability More preferably from 0.1 to 4.5 parts by weight, and still more preferably from 1 to 4 parts by weight.
감광성 수지 조성물에는, 필요에 따라서, 분자 내에 적어도 1의 양이온 중합 가능한 환상 에테르기를 가지는 광중합성 화합물, 양이온 중합 개시제, 증감제, 말라카이트그린 등의 염료, 트리브로모메틸페닐설폰, 로이코 크리스탈 바이올렛 등의 광발색제, 발열색방지제, p-톨루엔설폰아미드 등의 가소제, 안료, 충전제, 소포제, 난연제, 안정제, 밀착성 부여제, 레벨링제, 박리 촉진제, 산화 방지제, 향료, 이메이징제, 열가교제 등의 첨가제를 첨가해도 된다. 이들 첨가제를 감광성 수지 조성물에 첨가했을 경우의 그 함유량은, (A) 성분 및 (B) 성분의 총량 100중량부에 대해서 각각 0.01~20중량부 정도로 할 수 있다. 이들은 단독으로 또는 2종류 이상을 조합해서 사용된다.The photosensitive resin composition may contain, if necessary, a photopolymerizable compound having at least one cyclic ether group capable of cationic polymerization in the molecule, a cation polymerization initiator, a sensitizer, a dye such as malachite green, tribromomethylphenylsulfone, Additives such as pigments, fillers, defoaming agents, flame retardants, stabilizers, adhesion promoters, leveling agents, release promoters, antioxidants, fragrances, emulsifiers and heat crosslinking agents are added You can. When these additives are added to the photosensitive resin composition, the content thereof may be about 0.01 to 20 parts by weight based on 100 parts by weight of the total amount of the components (A) and (B). These may be used alone or in combination of two or more.
감광성 수지 조성물에 있어서의 (A), (B) 및 (C) 성분의 합계의 함유량은, 감광성 수지 조성물의 고형분 전량에 대해서, 90중량% 이상인 것이 바람직하고, 95중량% 이상인 것이 보다 바람직하다.The total content of the components (A), (B) and (C) in the photosensitive resin composition is preferably 90% by weight or more, more preferably 95% by weight or more based on the total solid content of the photosensitive resin composition.
감광성 수지 조성물은, 필요에 따라서, 메탄올, 에탄올, 아세톤, 메틸에틸케톤, 메틸셀로솔브, 에틸셀로솔브, 톨루엔, N,N-디메틸포름아미드, 프로필렌글리콜모노메틸에테르 등의 유기용제 또는 이들 혼합 용제에 용해시켜 고형분 30~60중량%정도의 용액으로 하여 이용할 수 있다.The photosensitive resin composition may contain an organic solvent such as methanol, ethanol, acetone, methyl ethyl ketone, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, toluene, N, N-dimethylformamide and propylene glycol monomethyl ether, It may be dissolved in a mixed solvent and used as a solution having a solid content of about 30 to 60% by weight.
감광성 수지 조성물은, 특별히 제한은 없지만, 구리, 구리계 합금, 철, 철계 합금 등의 금속면 위에, 액상 레지스트로서 도포하여 건조 후, 필요에 따라서 보호 필름을 피복해서 이용하거나, 감광성 엘리먼트의 형태로 이용되는 것이 바람직하다.The photosensitive resin composition is not particularly limited, but may be applied on a metal surface such as copper, a copper-based alloy, iron or an iron-based alloy as a liquid resist, dried and then coated with a protective film if necessary, .
(감광성 엘리먼트)(Photosensitive element)
이하, 도 1에 근거하여 본 실시형태의 감광성 엘리먼트에 관하여 설명한다. 본 실시형태의 감광성 엘리먼트(1)는 지지 필름(10)과, 상술한 감광성 수지 조성물로 이루어지는 감광성 수지 조성물층(20)을 구비한다. 감광성 수지 조성물층(20)은 지지 필름(10)의 제1의 주면(12) 위에 설치되어 있다. 또한, 지지 필름(10)은, 제1의 주면(12)과는 반대 측에 제2의 주면(14)를 가지고 있다. 또한, 감광성 수지 조성물층(20)의 지지 필름(10)과는 반대측의 면에는 보호 필름이 설치되어 있어도 된다. 또한, 상기 감광성 수지 조성물층은, 상기 감광성 수지 조성물이 미경화 상태인 것이다.Hereinafter, the photosensitive element of this embodiment will be described with reference to Fig. The
감광성 수지 조성물층(20)의 두께는, 용도에 따라 다르지만, 건조 후의 두께로 1~100㎛ 정도인 것이 바람직하다. 세미애디티브 공법(SAP)에 이용하는 점에서는, 5~50㎛인 것이 바람직하며, 5~30㎛인 것이 보다 바람직하다.The thickness of the photosensitive
지지 필름(10)은, 예를 들면 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리프로필렌, 폴리에틸렌, 폴리에스테르 등의 중합체 필름으로 이루어지는 것을 이용할 수 있다. 이들 중합체 필름의 두께는, 1~100㎛로 하는 것이 바람직하다.As the
감광성 수지 조성물층(20)은, 상술한 감광성 수지 조성물을 지지 필름(10) 위에 도포, 건조함으로써 얻을 수 있다. 상기 도포는, 예를 들면, 롤 코터, 콤마 코터, 그라비아 코터, 에어나이프 코터, 다이 코터, 바 코터 등의 공지의 방법으로 실시할 수 있다. 또한, 건조는, 70~150℃, 5~30분간 정도로 실시할 수 있다.The photosensitive
또한, 감광성 엘리먼트(1)는 감광성 수지 조성물층(20), 지지 필름(10), 보호 필름 외에, 쿠션층, 접착층, 광흡수층, 가스 배리어층 등의 중간층이나 보호층을 구비하고 있어도 된다.The
감광성 엘리먼트(1)는, 예를 들면, 그대로 또는 상기 보호 필름을 더 적층한 상태로 원통형의 권심에 감겨 저장된다. 또한 이 때, 지지 필름(10)이 외측이 되도록 감기는 것이 바람직하다. 상기 롤상의 감광성 엘리먼트 롤의 단면(端面)에는, 단면 보호의 견지에서 단면 세퍼레이터를 설치하는 것이 바람직하고, 내엣지퓨젼의 견지에서 방습 단면 세퍼레이터를 설치하는 것이 바람직하다. 또한, 곤포 방법으로서 투습성이 작은 블랙 시트로 싸서 포장하는 것이 바람직하다.The
(레지스트 패턴의 형성 방법)(Method of forming resist pattern)
상기 감광성 엘리먼트(1)를 이용하여 레지스트 패턴을 형성하는 방법으로서는, 예를 들면 이하의 방법을 들 수 있다.As a method of forming a resist pattern using the
보호 필름이 존재하고 있는 경우에는, 보호 필름을 제거 후, 감광성 수지 조성물층(20)을 70~130℃ 정도로 가열하면서 기판에 0.1~1MPa 정도(1~10kgf/cm2 정도)의 압력으로 압착함으로써, 감광성 수지 조성물층을 적층한다. 또한, 감압하에서 적층하는 것도 가능하다. 적층되는 표면은, 통상 금속면이지만, 특별히 제한은 없다.When the protective film is present, the protective film is removed, and the photosensitive
이와 같이 하여 적층이 완료된 감광성 수지 조성물층(20)은, 네가티브 또는 포지티브 마스크 패턴을 통해 활성 광선이 화상상으로 조사된다. 상기 활성 광선의 광원으로서는, 공지의 광원, 예를 들면, 카본 아크등, 수은증기 아크등, 고압 수은등, 크세논램프 등의 자외선, 가시광 등을 유효하게 방사하는 것이 이용된다.The photosensitive
노광 방법으로서는, 최근, DLP(Digital Light Processing)이나 LDI(Laser Direct Imaging)로 불리는, 패턴의 디지털 데이타를 직접 감광성 수지 조성물층에 묘화하는 직접 묘화 노광법이 실용화되고 있지만, 본 발명의 감광성 수지 조성물은, 직접 묘화 노광법에 적합하게 이용할 수 있다. 즉, 본 발명의 실시형태의 감광성 수지 조성물은, 직접 묘화 노광 방법에 적합하게 사용할 수 있다. 즉, 본 발명의 적합한 실시형태의 하나는, (A) 바인더 폴리머, (B) 에틸렌성 불포화 결합을 가지는 광중합성 화합물, 및 (C) 광중합 개시제를 함유하는 감광성 수지 조성물로서, 상기 (A) 성분이, (a1) 벤질(메타)아크릴레이트 유도체 유래의 구성 단위를 50~80중량%, (a2) 스티렌 유도체 유래의 구성 단위를 5~40중량%, (a3) (메타)아크릴산알킬에스테르 유래의 구성 단위를 1~20중량%, 및 (a4) (메타)아크릴산 유래의 구성 단위를 5~30중량% 포함하는, 감광성 수지 조성물의 직접 묘화 노광법에 의해 레지스트 패턴을 형성하기 위한 응용이다.As a method of exposure, a direct imaging exposure method in which digital data of a pattern is directly drawn on a photosensitive resin composition layer called DLP (Digital Light Processing) or LDI (Laser Direct Imaging) has been put to practical use, but the photosensitive resin composition Can be suitably used for the direct imaging exposure method. That is, the photosensitive resin composition of the embodiment of the present invention can be suitably used for the direct imaging exposure method. That is, one preferred embodiment of the present invention is a photosensitive resin composition comprising (A) a binder polymer, (B) a photopolymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond, and (C) a photopolymerization initiator, (A2) a structural unit derived from a styrene derivative in an amount of 5 to 40% by weight, (a3) a unit derived from a (meth) acrylic acid alkyl ester, (A4) a constituent unit derived from (meth) acrylic acid in an amount of 5 to 30% by weight, based on the total weight of the photosensitive resin composition.
노광 후, 감광성 수지 조성물층 위에 지지 필름(10)이 존재하고 있는 경우에는, 지지 필름(10)을 제거한 후, 알칼리성 수용액, 수계 현상액, 유기용제 등의 현상액에 의한 웨트 현상, 드라이 현상 등으로 미노광부를 제거해서 현상하여, 레지스트 패턴을 형성할 수 있다.When the
상기 알칼리성 수용액으로서는, 예를 들면, 0.1~5중량% 탄산나트륨의 희박용액, 0.1~5중량% 탄산칼륨의 희박용액, 0.1~5중량% 수산화 나트륨의 희박용액 등을 들 수 있다. 상기 알칼리성 수용액의 pH는 9~11의 범위로 하는 것이 바람직하고, 그 온도는, 감광성 수지 조성물층의 현상성에 맞추어 조절된다. 또한, 알칼리성 수용액 중에는, 표면 활성제, 소포제, 유기용제 등을 혼입시켜도 된다. 상기 현상의 방식으로서는, 예를 들면, 딥 방식, 스프레이 방식, 블러싱, 스크랩핑 등을 들 수 있다.Examples of the alkaline aqueous solution include a diluted solution of 0.1 to 5 wt% sodium carbonate, a diluted solution of 0.1 to 5 wt% of potassium carbonate, and a dilute solution of sodium hydroxide of 0.1 to 5 wt%. The pH of the alkaline aqueous solution is preferably in the range of 9 to 11, and the temperature is adjusted according to developability of the photosensitive resin composition layer. The alkaline aqueous solution may be mixed with a surface active agent, a defoaming agent, an organic solvent or the like. Examples of the developing method include a dip method, a spray method, blushing, scrapping, and the like.
현상 후의 처리로서, 필요에 따라서 60~250℃ 정도의 가열 또는 0.2~10J/cm2 정도의 노광을 실시함으로써 레지스트 패턴을 더 경화해서 이용해도 된다. 본 실시형태의 감광성 엘리먼트를 이용하여 프린트 배선판을 제조하는 경우, 현상된 레지스트 패턴을 마스크로 하여 구리도금으로 처리한다.As a post-development treatment, the resist pattern may be further cured by heating at about 60 to 250 DEG C or by exposure at about 0.2 to 10 J / cm < 2 > When a printed wiring board is manufactured using the photosensitive element of the present embodiment, copper plating is performed using the developed resist pattern as a mask.
다음으로, 레지스트 패턴은, 예를 들면, 현상에 이용한 알칼리성 수용액 보다 더 강알칼리성의 수용액으로 박리할 수 있다. 상기 강알칼리성의 수용액으로서는, 예를 들면, 1~10중량% 수산화 나트륨 수용액, 1~10중량% 수산화 칼륨 수용액 등이 이용된다. 상기 박리 방식으로서는, 예를 들면, 침지 방식, 스프레이 방식 등을 들 수 있다.Next, the resist pattern can be peeled off into a strong alkaline aqueous solution, for example, than the alkaline aqueous solution used for development. As the strongly alkaline aqueous solution, for example, an aqueous solution of 1 to 10% by weight of sodium hydroxide, an aqueous solution of 1 to 10% by weight of potassium hydroxide and the like are used. Examples of the peeling method include an immersion method and a spray method.
(프린트 배선판의 제조 방법)(Manufacturing method of printed wiring board)
본 실시형태의 프린트 배선판의 제조 방법은, 상기 레지스트 패턴의 형성 방법에 의해 레지스트 패턴이 형성된 기판에 대해, 에칭 처리 또는 도금 처리함으로써 실시된다. 여기서, 기판의 에칭 처리 또는 도금 처리는, 현상된 레지스트 패턴을 마스크로 하여 기판의 표면을 공지의 방법에 의해 에칭 또는 도금함으로써 실시된다.The method for producing a printed wiring board according to the present embodiment is carried out by etching or plating a substrate on which a resist pattern is formed by the method for forming a resist pattern. Here, the etching treatment or the plating treatment of the substrate is carried out by etching or plating the surface of the substrate by a known method using the developed resist pattern as a mask.
본 발명의 감광성 수지 조성물은, 그 중에서도, 박형화가 요구되는 패키지용기재나 플렉서블 프린트 배선판용 동장적층판 위에 회로를 형성할 때에 적합하게 사용할 수 있다.The photosensitive resin composition of the present invention can be suitably used when a circuit substrate is formed on a package base material or a copper-clad laminate for a flexible printed wiring board, for which a thinness is required.
에칭에 이용되는 에칭액으로서는, 예를 들면, 염화 제2 구리용액, 염화 제2철용액, 알칼리 에칭 용액을 이용할 수 있다. 도금으로서는, 예를 들면, 구리 도금, 땜납 도금, 니켈 도금, 금 도금을 들 수 있다.As the etching solution used for the etching, for example, a cupric chloride solution, a ferric chloride solution, and an alkali etching solution can be used. Examples of the plating include copper plating, solder plating, nickel plating, and gold plating.
에칭 또는 도금을 실시한 후, 레지스트 패턴은, 예를 들면, 현상에 이용한 알칼리성 수용액보다 더욱 강알칼리성의 수용액으로 박리할 수 있다. 이 강알칼리성의 수용액으로서는, 예를 들면, 1~10중량% 수산화 나트륨 수용액, 1~10중량% 수산화 칼륨 수용액 등이 이용된다. 또한, 박리 방식으로서는, 예를 들면, 침지 방식, 스프레이 방식 등을 들 수 있다. 또한, 레지스트 패턴이 형성된 프린트 배선판은, 다층 프린트 배선판이어도 되며, 소경 스루홀을 가지고 있어도 된다.After the etching or plating, the resist pattern can be peeled off with, for example, a strong alkaline aqueous solution rather than the alkaline aqueous solution used for development. As the alkaline aqueous solution, for example, a 1 to 10 wt% aqueous solution of sodium hydroxide and a 1 to 10 wt% aqueous solution of potassium hydroxide are used. Examples of the peeling method include an immersion method and a spray method. The printed wiring board on which the resist pattern is formed may be a multilayer printed wiring board or a small-diameter through hole.
또한, 도금이 절연층과 절연층 위에 형성된 도체층을 구비한 회로 형성용 기판에 대해서 실시되었을 경우에는, 패턴 이외의 도체층을 제거할 필요가 있다. 이 제거 방법으로서는, 예를 들면, 레지스트 패턴을 박리한 후에 가볍게 에칭하는 방법이나, 상기 도금에 이어서 땜납 도금 등을 실시하고, 그 후 레지스트 패턴을 박리함으로서 배선 부분을 땜납으로 마스크 하고, 다음으로 도체층만을 에칭 가능한 에칭액을 이용하여 처리하는 방법을 들 수 있다.Further, when plating is performed on a substrate for circuit formation having an insulating layer and a conductor layer formed on the insulating layer, it is necessary to remove the conductor layer other than the pattern. Examples of the removing method include a method in which a resist pattern is peeled off and then lightly etched, a method in which soldering is performed subsequent to the plating, a resist pattern is then peeled off, the wiring portion is masked with solder, And a method of treating only the layer using an etchable etching liquid.
본 실시형태의 감광성 수지 조성물은, 상술한 바와 같이, 프린트 배선판의 제조에 적합하게 사용할 수 있다. 즉, 본 발명의 적합한 실시형태의 하나는, (A) 바인더 폴리머, (B) 에틸렌성 불포화 결합을 가지는 광중합성 화합물, 및 (C) 광중합 개시제를 함유하는 감광성 수지 조성물로서, 상기 (A) 성분이, (a1) 벤질(메타)아크릴레이트 유도체 유래의 구성 단위를 50~80중량%, (a2) 스티렌 유도체 유래의 구성 단위를 5~40중량%, (a3) (메타)아크릴산알킬에스테르 유래의 구성 단위를 1~20중량%, 및 (a4) (메타)아크릴산 유래의 구성 단위를 5~30중량% 포함하는, 감광성 수지 조성물의 프린트 배선판의 제조에의 응용이다.The photosensitive resin composition of the present embodiment can be suitably used for producing a printed wiring board as described above. That is, one preferred embodiment of the present invention is a photosensitive resin composition comprising (A) a binder polymer, (B) a photopolymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond, and (C) a photopolymerization initiator, (A2) a structural unit derived from a styrene derivative in an amount of 5 to 40% by weight, (a3) a unit derived from a (meth) acrylic acid alkyl ester, 1 to 20% by weight of a constituent unit, and (a4) 5 to 30% by weight of a constitutional unit derived from (meth) acrylic acid, in the production of a printed wiring board of a photosensitive resin composition.
실시예Example
이하, 본 발명을 실시예에 의해 더욱 상세하게 설명하지만, 본 발명은 이하의 실시예에 전혀 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail by way of examples, but the present invention is not limited to the following examples at all.
(실시예 1~5 및 비교예 1~4)(Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 4)
(감광성 수지 조성물 용액의 조제)(Preparation of photosensitive resin composition solution)
표 1에 나타내는 (A) 성분, (B) 성분, (C) 성분, 첨가제 및 용제를 배합하여, 감광성 수지 조성물 용액을 얻었다. 또한, (A) 성분에 있어서의 바인더 폴리머는 하기의 방법에 의해 얻어진 것이다.The components (A), (B), (C), additives and a solvent shown in Table 1 were blended to obtain a photosensitive resin composition solution. Further, the binder polymer in the component (A) is obtained by the following method.
[바인더 폴리머의 합성][Synthesis of binder polymer]
표 2에 나타내는 (a1)~(a4)의 중합성 단량체에 아조비스 이소부틸로니트릴 0.6g을 용해한 혼합액을 「용액 a」라고 했다.A mixed solution obtained by dissolving 0.6 g of azobisisobutyronitrile in the polymerizable monomers (a1) to (a4) shown in Table 2 was referred to as " solution a ".
교반기, 환류 냉각기, 온도계, 적하 로트 및 질소 가스 도입관을 구비한 플라스크에, 메틸셀로솔브 60g 및 톨루엔 40g의 혼합액(중량비 3:2) 100g을 투입하고, 플라스크내에 질소 가스를 불어 넣으면서 교반하면서 가열하여, 80℃까지 승온시켰다.To a flask equipped with a stirrer, a reflux condenser, a thermometer, a dropping funnel and a nitrogen gas introducing tube, 100 g of a mixed liquid (weight ratio 3: 2) of 60 g of methylcellosolve and 40 g of toluene was introduced. While nitrogen gas was blown into the flask, And the temperature was raised to 80 캜.
플라스크 내의 상기 혼합액에, 상기 용액 a를 4시간에 걸쳐 적하한 후, 메틸셀로솔브 6g 및 톨루엔 4g의 혼합액(중량비 3:2)으로 적하 로트를 세정하면서 10분간에 걸쳐 적하하고, 교반하면서 80℃에서 2시간 보온했다. 다음으로, 플라스크 내의 용액에, 메틸셀로솔브 6g 및 톨루엔 4g의 혼합액(중량비 3:2)에 아조비스 이소부틸로니트릴 0.2g을 용해한 용액을 10분간에 걸쳐 적하한 후, 메틸 셀로솔브 18g 및 톨루엔 12g의 혼합액(중량비 3:2)을 10분간에 걸쳐 적하하고, 플라스크 내의 용액을 교반하면서 80℃에서 3시간 보온했다. 또한, 플라스크 내의 용액을 30분간에 걸쳐 90℃까지 승온시키고, 90℃에서 2시간 보온한 후, 냉각하여 각각의 바인더 폴리머의 용액을 얻었다.The solution a was dropped into the mixed solution in the flask over a period of 4 hours, and the dropwise dropwise addition was carried out with a mixture solution of 6 g of methyl cellosolve and 4 g of toluene (weight ratio 3: 2) Lt; 0 > C for 2 hours. Next, a solution prepared by dissolving 0.2 g of azobisisobutylonitrile in a mixed solution of 6 g of methylcellosolve and 4 g of toluene (weight ratio 3: 2) was added dropwise to the solution in the flask over 10 minutes, and then 18 g of methyl cellosolve and And 12 g of toluene (weight ratio 3: 2) were added dropwise over 10 minutes, and the solution in the flask was kept at 80 DEG C for 3 hours with stirring. Further, the solution in the flask was heated to 90 占 폚 over 30 minutes, kept at 90 占 폚 for 2 hours, and cooled to obtain a solution of each binder polymer.
또한, 중량 평균 분자량은, 겔퍼미에이션 크로마토그래피법(GPC)에 따라 측정하고, 표준 폴리스티렌의 검량선을 이용하여 환산함으로써 도출했다. GPC의 조건을 이하에 나타낸다.The weight average molecular weight was determined by gel permeation chromatography (GPC) and calculated by using a calibration curve of standard polystyrene. The conditions of GPC are shown below.
GPC 조건GPC conditions
펌프: 히타치 L-6000형((주) 히타치제작소제)Pump: Hitachi L-6000 type (manufactured by Hitachi, Ltd.)
컬럼:이하의 합계 3개Column: 3 total less
Gelpack GL-R420Gelpack GL-R420
Gelpack GL-R430Gelpack GL-R430
Gelpack GL-R440(이상, 히타치카세이코교(주)제, 상품명)Gelpack GL-R440 (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name)
용리액:테트라히드로푸란Eluent: tetrahydrofuran
측정 온도: 40℃Measuring temperature: 40 ° C
유량: 2.05mL/분Flow rate: 2.05 mL / min
검출기: 히타치 L-3300형 RI((주) 히타치제작소제)Detector: Hitachi L-3300 type RI (manufactured by Hitachi, Ltd.)
(산가측정)(Acid value measurement)
삼각 플라스크에 합성한 바인더 폴리머의 용액 0.5g을 칭량하고, 혼합 용제(중량비: 톨루엔/메탄올=70/30) 30ml를 더하여 용해 후, 지시약으로서 페놀프탈레인 용액을 첨가하고, N/10 수산화 칼륨 알코올 용액으로 적정하여, 산가를 측정했다.0.5 g of the solution of the binder polymer synthesized in the Erlenmeyer flask was weighed and 30 ml of a mixed solvent (weight ratio: toluene / methanol = 70/30) was added to dissolve the solution. Then, a phenolphthalein solution was added as an indicator, And the acid value was measured.
[표 1][Table 1]
BPE-500: 평균 10몰의 폴리옥시 에틸렌을 가지는 비스페놀 A계 디메타크릴레이트(신나카무라카가쿠(주)제, 상품명)BPE-500: bisphenol A dimethacrylate having an average of 10 moles of polyoxyethylene (trade name, manufactured by Shin Nakamura Kagaku Co., Ltd.)
BPE-200:평균 4몰의 폴리옥시 에틸렌을 가지는 비스페놀 A계 디메타크릴레이트(신나카무라카가쿠(주)제, 상품명)BPE-200: bisphenol A dimethacrylate having an average of 4 moles of polyoxyethylene (trade name, manufactured by Shin Nakamura Kagaku Co., Ltd.)
FA-023M:평균 12몰의 폴리옥시 프로필렌의 양단에 평균 3몰의 폴리옥시에틸렌을 부여한 디메타크릴레이트(히타치카세이코교(주)제, 상품명)FA-023M: dimethacrylate (manufactured by Hitachi Kasei Corporation) having an average of 12 moles of polyoxypropylene and an average of 3 moles of polyoxyethylene added to both ends thereof,
[표 2][Table 2]
(감광성 엘리먼트의 제작)(Preparation of photosensitive element)
다음으로, 얻어진 감광성 수지 조성물 용액을, 16㎛ 두께의 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름(테이진(주)제, 상품명 「G2-16」) 위에 균일하게 도포하고, 100℃의 열풍 대류식 건조기로 10분간 건조한 후, 28㎛ 두께의 폴리에틸렌 필름(타마폴리(주)제, 상품명 「NF-15A」)으로 보호하여 감광성 엘리먼트를 얻었다. 감광성 수지 조성물층의 건조 후의 막두께는 15㎛였다.Next, the obtained photosensitive resin composition solution was uniformly coated on a polyethylene terephthalate film (trade name " G2-16 ", manufactured by Teijin Co., Ltd.) having a thickness of 16 탆 and dried with a hot air convection type drier at 100 캜 for 10 minutes Thereafter, a photosensitive element was obtained by protecting with a polyethylene film (trade name: "NF-15A", manufactured by Tamapoly Co., Ltd.) having a thickness of 28 μm. The thickness of the photosensitive resin composition layer after drying was 15 占 퐉.
(레지스트 패턴의 형성)(Formation of Resist Pattern)
다음으로, 프린트 배선판용 동장적층판(히타치카세이코교(주)제, 상품명 「MCL-E679」)의 구리 표면을 조화(粗化), 알칼리 탈지, 산세정, 수세를 실시 후, 공기 흐름으로 건조하여, 얻어진 기재를 80℃로 가온했다. 그 구리 표면 위에 상기 감광성 수지 조성물층을 폴리에틸렌 필름을 벗기면서 100℃의 히트 롤을 이용하여 1m/분의 속도로 라미네이트하여, 평가용 적층체를 얻었다.Next, the copper surface of the copper clad laminate for printed wiring boards (MCL-E679, trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) is roughened, subjected to alkali degreasing, pickling and rinsing, , And the resulting substrate was heated to 80 占 폚. The above-mentioned photosensitive resin composition layer was laminated on the copper surface at a speed of 1 m / min using a heat roll at 100 캜 while peeling the polyethylene film, to obtain a laminate for evaluation.
<광감도의 평가>≪ Evaluation of photosensitivity &
상기 평가용 적층체 위에, 네가티브로서 스토퍼 21단 스텝 타블렛을 밀착시켜, 고압 수은등 램프를 가지는 노광기(오크(주)제, 상품명 「EXM-1201」)를 이용하여 노광을 실시했다. 다음으로, 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름을 박리하고, 30℃에서 1중량% 탄산나트륨 수용액을 스프레이하여(스프레이(현상) 시간: 최소 현상 시간의 2배), 미노광 부분을 제거했다. 그 후, 동장적층판 위에 형성된 광경화막의 스텝 타블렛의 단수(X/21)를 측정하여, ST=5/21을 나타내는 노광량(mJ/cm2)을 광감도의 값으로 했다. 이 수치가 작을수록, 광감도가 높은 것을 나타낸다.Exposure was carried out using an exposure machine (trade name "EXM-1201", manufactured by Oak Co.) having a high-pressure mercury lamp, with a stopper 21 stage step tablet being adhered as a negative on the evaluation laminate. Next, the polyethylene terephthalate film was peeled off, and an unexposed portion was removed by spraying (spraying (developing time): twice the minimum developing time) at 30 DEG C with a 1 wt% sodium carbonate aqueous solution. Thereafter, the number of steps (X / 21) of the step tablet of the photocured film formed on the copper clad laminate was measured, and the exposure amount (mJ / cm 2 ) indicating ST = 5/21 was taken as the photosensitivity value. The smaller this value is, the higher the photosensitivity is.
<밀착성의 평가>≪ Evaluation of adhesion &
상기 평가용 적층체 위에 네가티브로서 라인폭이 1~30(단위: ㎛)의 배선 패턴을 가지는 유리제 포토 툴을 밀착시키고, 현상 후의 잔존 스텝 단수가 ST=5/21이 되는 에너지량에 의해 패턴 노광했다. 다음으로, 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름을 박리하고, 30℃에서 1중량% 탄산나트륨 수용액을 스프레이하여(스프레이(현상) 시간: 최소 현상 시간의 2배), 미노광 부분을 제거했다. 그 후, 광학 현미경을 이용해서 관찰하여, 밀착성의 평가를 실시했다. 밀착성의 값은, 현상 처리에 의해서 박리하지 않고 남은 라인폭(㎛) 중 가장 작은 값으로 나타내지며, 이 수치가 작을수록, 밀착성이 높은 것을 나타낸다.A glass phototool having a wiring pattern with a line width of 1 to 30 (unit: 占 퐉) as a negative was brought into close contact with the above evaluation multilayer body, and pattern exposure was performed by an amount of energy at which the remaining step number after development became ST = did. Next, the polyethylene terephthalate film was peeled off, and an unexposed portion was removed by spraying (spraying (developing time): twice the minimum developing time) at 30 DEG C with a 1 wt% sodium carbonate aqueous solution. Thereafter, observation was made using an optical microscope, and the adhesion was evaluated. The value of the adhesion is represented by the smallest value among the line widths (占 퐉) left without being peeled off by the developing treatment, and the smaller the value, the higher the adhesion.
<해상성의 평가>≪ Evaluation of resolution >
상기 평가용 적층체 위에 네가티브로서 라인폭/스페이스폭이 1/1~30/30(단위: ㎛)인 배선 패턴을 가지는 유리제 포토 툴을 밀착시키고, 현상 후의 잔존 스텝단수가 ST=5/21이 되는 에너지량에 의해 패턴 노광하였다. 다음으로, 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름을 박리하고, 30℃에서 1중량% 탄산나트륨 수용액을 스프레이하여(스프레이(현상) 시간: 최소 현상 시간의 2배), 미노광 부분을 제거했다. 그 후, 광학 현미경을 이용해서 관찰하여, 해상성의 평가를 실시했다. 해상성의 값은, 현상 처리에 의해서 미노광부를 완전하게 제거할 수 있던 스페이스폭(㎛) 중 가장 작은 값으로 나타내며, 이 수치가 작을수록, 해상성이 높은 것을 나타낸다.A glass phototool having a line width / space width of 1/1 to 30/30 (unit: 占 퐉) having a wiring pattern as a negative was brought into close contact with the evaluation laminate, and the remaining step number after development was ST = 5/21 Pattern exposure was performed by an amount of energy. Next, the polyethylene terephthalate film was peeled off, and an unexposed portion was removed by spraying (spraying (developing time): twice the minimum developing time) at 30 DEG C with a 1 wt% sodium carbonate aqueous solution. Thereafter, observation was made using an optical microscope to evaluate the resolution. The value of the resolution is represented by the smallest value among the space widths (占 퐉) in which the unexposed portions can be completely removed by the developing process, and the smaller the value, the higher the resolution.
<도금 내성의 평가>≪ Evaluation of plating resistance &
감광성 수지 조성물층을 플렉서블 프린트 배선판용 동장적층판(닛칸코교(주)제, 상품명 「F30VC1」)에 라미네이트하여 작성한 평가용 적층체 위에 네가티브로서 1/1~30/30(단위: ㎛)의 배선 패턴을 가지는 유리제 포토 툴을 밀착시키고, 현상 후의 잔존 스텝단수가 ST=5/21이 되는 에너지량에 의해 패턴 노광했다. 다음으로, 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름을 박리하고, 30℃에서 1중량% 탄산나트륨 수용액을 스프레이해서(스프레이(현상) 시간: 최소 현상 시간의 2배), 미노광 부분을 제거하여, 평가용 기판을 얻었다. 상기 평가용 기판에 산탈지, 수세, 황산 딥을 순서대로 실시하고, 황산구리 도금액을 이용하여 1A/dm2의 조건에서 도금 두께가 12㎛가 될 때까지 구리도금 처리를 실시했다. 수세, 건조 후, 레지스트를 박리하고, 윗쪽에서 광학 현미경을 이용하여, 도금 침수 폭을 측정했다. 도금 내성의 값은, 도금 침수 폭으로 평가되어, 수치가 작을수록 구리 도금 내성이 양호한 것을 나타낸다.1 to 30/30 (unit: 占 퐉) as a negative pattern on a laminate for evaluation prepared by laminating a photosensitive resin composition layer on a copper-clad laminate for flexible printed circuit boards (trade name "F30VC1" , And pattern exposure was performed by an amount of energy at which the number of remaining steps after development became ST = 5/21. Next, the polyethylene terephthalate film was peeled off, and a 1 wt% sodium carbonate aqueous solution was sprayed (spraying (developing time): twice the minimum developing time) at 30 ° C to remove unexposed portions to obtain a substrate for evaluation. The evaluation board was subjected to acid degreasing, washing with water and sulfuric acid dipping in this order, and copper plating treatment was carried out using copper sulfate plating solution until the plating thickness became 12 탆 under the condition of 1 A / dm 2 . After washing with water and drying, the resist was peeled off and the immersion width of the plating was measured using an optical microscope from above. The value of the plating resistance is evaluated by the plated immersion width, and the smaller the value, the better the copper plating resistance.
<굴곡성><Flexibility>
감광성 수지 조성물층을 플렉서블 프린트 배선판용 동장적층판(닛칸코교(주)제, 상품명 「F30VC1」)에 라미네이트하여 작성한 평가용 적층체를 30mm×150mm 사방의 크기로 절단하고, 현상 후의 잔존 스텝단수가 ST=5/21이 되는 에너지량에 의해 전면 노광했다. 다음으로, 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름을 박리하고, 30℃에서 1중량% 탄산나트륨 수용액을 스프레이하였다(스프레이(현상) 시간: 최소 현상 시간의 2배). 얻어진 샘플을 가드너식 맨드릴 굴곡 시험기로 레지스트에 균열이 발생하지 않는 최대 직경을 측정했다. 직경이 작을수록, 굴곡성이 양호한 것을 나타낸다.The laminate for evaluation prepared by laminating the photosensitive resin composition layer to a copper-clad laminate for flexible printed circuit boards (trade name "F30VC1", manufactured by Nikkochemical Co., Ltd.) was cut into a size of 30 mm x 150 mm square, = 5/21 by the amount of energy. Next, the polyethylene terephthalate film was peeled off and a 1 wt% sodium carbonate aqueous solution was sprayed at 30 DEG C (spraying (developing time): twice the minimum developing time). The obtained sample was subjected to a Gardner-type mandrel bending tester to measure a maximum diameter at which cracks did not occur in the resist. The smaller the diameter, the better the flexibility.
[표 3][Table 3]
표 3으로부터 분명한 바와 같이, 본 발명의 감광성 수지 조성물을 이용한 실시예 1~5는, 굴곡성, 도금 내성이 뛰어나며, 또한 충분한 광감도, 밀착성 및 해상성을 나타낸다.As apparent from Table 3, Examples 1 to 5 using the photosensitive resin composition of the present invention are excellent in flexibility and plating resistance, and exhibit sufficient photosensitivity, adhesion and resolution.
1 … 감광성 엘리먼트, 10 … 지지 필름, 20 … 감광성 수지 조성물층.One … Photosensitive element, 10 ... Support film, 20 ... Photosensitive resin composition layer.
Claims (5)
상기 (A) 성분이, (a1) 벤질(메타)아크릴레이트 유도체 유래의 구성 단위를 50~80중량%, (a2) 스티렌 유도체 유래의 구성 단위를 5~40중량%, (a3) (메타)아크릴산알킬에스테르 유래의 구성 단위를 1~20중량%, 및 (a4)(메타)아크릴산 유래의 구성 단위를 5~30중량% 포함하고,
상기 (A) 성분의 산가(mgKOH/g)는 13~78인, 감광성 수지 조성물.A photosensitive resin composition comprising (A) a binder polymer, (B) a photopolymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond, and (C) a photopolymerization initiator,
Wherein the component (A) comprises (a1) 50 to 80% by weight of a structural unit derived from a benzyl (meth) acrylate derivative, (a2) 5 to 40% by weight of a structural unit derived from a styrene derivative, 1 to 20% by weight of a constituent unit derived from an alkyl acrylate and (a4) 5 to 30% by weight of a constituent unit derived from a (meth) acrylic acid,
The acid value (mgKOH / g) of the component (A) is from 13 to 78.
상기 감광성 수지 조성물층에 광경화부를 형성시키는 노광 공정과,
상기 광경화부 이외의 상기 감광성 수지 조성물층을 제거하는 현상 공정
을 포함하는, 레지스트 패턴의 형성 방법.A lamination step of laminating a photosensitive resin composition layer comprising the photosensitive resin composition according to claim 1 on a substrate;
An exposure step of forming a light-cured portion in the photosensitive resin composition layer,
A developing step of removing the photosensitive resin composition layer other than the light-
And forming a resist pattern on the resist pattern.
상기 감광성 수지 조성물층에 광경화부를 형성시키는 노광 공정과,
상기 광경화부 이외의 상기 감광성 수지 조성물층을 제거하는 현상 공정
을 포함하는, 레지스트 패턴의 형성 방법.A lamination step of laminating the photosensitive element according to claim 2 on the substrate in the order of the photosensitive resin composition layer and the support film;
An exposure step of forming a light-cured portion in the photosensitive resin composition layer,
A developing step of removing the photosensitive resin composition layer other than the light-
And forming a resist pattern on the resist pattern.
A method for producing a printed wiring board, wherein a substrate on which a resist pattern is formed is subjected to an etching treatment or a plating treatment by the method for forming a resist pattern according to claim 3 or 4.
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