JPS5818786B2 - 横方向トランジスタ - Google Patents
横方向トランジスタInfo
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- JPS5818786B2 JPS5818786B2 JP49100804A JP10080474A JPS5818786B2 JP S5818786 B2 JPS5818786 B2 JP S5818786B2 JP 49100804 A JP49100804 A JP 49100804A JP 10080474 A JP10080474 A JP 10080474A JP S5818786 B2 JPS5818786 B2 JP S5818786B2
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/082—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using bipolar transistors
- H03K19/091—Integrated injection logic or merged transistor logic
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/70—Bipolar devices
- H01L29/72—Transistor-type devices, i.e. able to continuously respond to applied control signals
- H01L29/73—Bipolar junction transistors
- H01L29/735—Lateral transistors
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
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- H03K23/002—Pulse counters comprising counting chains; Frequency dividers comprising counting chains using semiconductor devices
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は横方向トランジスタが半導体サブストレートに
構成されるようにし、この場合該横方向トランジスタは
ベース領域において、キャリヤを半導体サブストレート
に注入するエミッタ領域と注入されたキャリヤを捕捉す
るコレクタ領域とを有し、さらにエミッタ領域と出力コ
レクタであるコレクタ領域との間のベース領域にエミッ
タ領域から注入されて出力コレクタへ向かうキャリヤの
流れを制御するために制御コレクタ領域が設けられ、該
制御コレクタ領域は前記ベース領域、エミッタ領域、出
力コレクタ領域に加わる電位とは独立の制御電位により
作動されるようにした横方向トランジスタに関する。
構成されるようにし、この場合該横方向トランジスタは
ベース領域において、キャリヤを半導体サブストレート
に注入するエミッタ領域と注入されたキャリヤを捕捉す
るコレクタ領域とを有し、さらにエミッタ領域と出力コ
レクタであるコレクタ領域との間のベース領域にエミッ
タ領域から注入されて出力コレクタへ向かうキャリヤの
流れを制御するために制御コレクタ領域が設けられ、該
制御コレクタ領域は前記ベース領域、エミッタ領域、出
力コレクタ領域に加わる電位とは独立の制御電位により
作動されるようにした横方向トランジスタに関する。
公知のシリコンプレーナ形論理デバイスでは、論理機能
が個別トランジスタにより実現され、しかも個別トラン
ジスタが集積回路の固有の孤立アイソレーション領域に
形成される。
が個別トランジスタにより実現され、しかも個別トラン
ジスタが集積回路の固有の孤立アイソレーション領域に
形成される。
それ故この種の論理デバイスは2次元的に場所をとる。
またこの種の論理デバイスは障害に対して充分安定に動
作しない。
作しない。
本発明の基本的課題は、2次元的に場所をとらず、障害
に対して充分動作安定な冒頭で記述せる形式の論理デバ
イスを提供することである。
に対して充分動作安定な冒頭で記述せる形式の論理デバ
イスを提供することである。
本発明によればこの課題は次のようにして解決される。
即ち制御コレクタ領域が、空間的に相互に分離されかつ
電気的に相互に絶縁された2つ以上の部分コレクタ領域
から形成されるようにし、該部分コレクタ領域には相互
に独立の制御電位が加えられるようにし、該部分コレク
タ領域へ論理入力信号として相互に論理結合すべき制御
電位が印加されるようにしたのである。
電気的に相互に絶縁された2つ以上の部分コレクタ領域
から形成されるようにし、該部分コレクタ領域には相互
に独立の制御電位が加えられるようにし、該部分コレク
タ領域へ論理入力信号として相互に論理結合すべき制御
電位が印加されるようにしたのである。
本発明の論理デバイスは例えば次の利点を有する;即ち
ラテラルpnp構造により論理結合を行うことができ、
エミッタから出力コレクタの方向に注入される注入電流
を、p型コレクタ(制御コレクタ)の適当な配置により
切換えることができる。
ラテラルpnp構造により論理結合を行うことができ、
エミッタから出力コレクタの方向に注入される注入電流
を、p型コレクタ(制御コレクタ)の適当な配置により
切換えることができる。
公知の論理デバイスでは論理機能が個別トランジスタに
より実現されるが、本発明の論理デバイスでは機能ユニ
ットにより論理機能が実現される。
より実現されるが、本発明の論理デバイスでは機能ユニ
ットにより論理機能が実現される。
従って回路のすべての論理素子は共通の孤立アイソレー
ション領域に収容される。
ション領域に収容される。
次に本発明を実施例について図面により詳細に説明する
。
。
以下では本発明の論理デバイスをスタチック分周器に用
いる例について順を追って説明する。
いる例について順を追って説明する。
第1図〜第3図は、切換可能な能動素子として構成され
た本発明の論理デバイスを示す。
た本発明の論理デバイスを示す。
結晶基板はp型シリコンのサブストレート10より形成
される。
される。
サブストレート10には、ドーピング濃度の高いn型領
域(所謂n十領域)より成る導電層11が拡散される。
域(所謂n十領域)より成る導電層11が拡散される。
導電層11を有するサブストレート10の上方には、n
型シリコンのエピタキシャル層12が設けられる。
型シリコンのエピタキシャル層12が設けられる。
エピタキシャル層12のエピタキシャル成長の際、導電
層11の不純物の一部分がエピタキシャル層12に拡散
し、従って導電層11の一部分がエピタキシャル層12
に入り込んでいる。
層11の不純物の一部分がエピタキシャル層12に拡散
し、従って導電層11の一部分がエピタキシャル層12
に入り込んでいる。
成長したエピタキシャル層12には、p型の絶縁拡散領
域13が充分深く拡散される。
域13が充分深く拡散される。
その結果p型の絶縁拡散領域13はp型のサブストレー
ト10と共に、槽状のp型領域13;10を形成し、エ
ピタキシャル層12は孤立エピタキシャル領域14に分
割される。
ト10と共に、槽状のp型領域13;10を形成し、エ
ピタキシャル層12は孤立エピタキシャル領域14に分
割される。
孤立エピタキシャル領域14はベース領域として働く。
孤立エピタキシャル領域14には、n十型のベース電極
の拡散領域Bおよび互いに平行にストリップ状に形成さ
れた4つのp型領域C,E、C1゜coが拡散される。
の拡散領域Bおよび互いに平行にストリップ状に形成さ
れた4つのp型領域C,E、C1゜coが拡散される。
エミッタEとコレクタC,,Cは、通常の横方向ダブル
コレクタpnp )ランジスタを形成する。
コレクタpnp )ランジスタを形成する。
コレクタC1がエミッタEに対し負電位にバイアスされ
れば、コレクタC8には電流が流れない。
れば、コレクタC8には電流が流れない。
他方コレクタC1を開放すれば、コレクタC1は飽和し
、コレクタC1の電位は上昇してエミッタEの電位にほ
ぼ等しい。
、コレクタC1の電位は上昇してエミッタEの電位にほ
ぼ等しい。
従ってコレクタC1とベース領域14の接合部における
正孔の密度は、エミッタEとベース領域14の接合部に
おける正孔の密度にほぼ等しい。
正孔の密度は、エミッタEとベース領域14の接合部に
おける正孔の密度にほぼ等しい。
それ故コレクタC6に面した側のコレクタC1の縁部は
エミッタとして働き、コレクタC7よりキャリアがコレ
クタC8の方向に注入される。
エミッタとして働き、コレクタC7よりキャリアがコレ
クタC8の方向に注入される。
従ってコレクタC1が無バイアスの状態では、エミッタ
EおよびコレクタC8は通常のpnp )ランジスタを
形成する。
EおよびコレクタC8は通常のpnp )ランジスタを
形成する。
但しベース領域全体の幅が大きくかつコレクタC1によ
るキャリアが寄生的に注入されるだけなので、ベース・
エミッタ電圧が一定の際にコレクタC8に供給される電
流はコレクタC1に供給される電流より小さい。
るキャリアが寄生的に注入されるだけなので、ベース・
エミッタ電圧が一定の際にコレクタC8に供給される電
流はコレクタC1に供給される電流より小さい。
コレクタC1を負電位にバイアスすれば、エミッタEの
右側の縁部より注入されるすべてのキャリアがコレクタ
C1に吸収される。
右側の縁部より注入されるすべてのキャリアがコレクタ
C1に吸収される。
この場合、バイアスされたコレクタC8に流れる電流は
コレクタ遮断電流ICBOより若干太きいに過ぎない。
コレクタ遮断電流ICBOより若干太きいに過ぎない。
従って前記素子は、コレクタC4への電流の供給・遮断
又は相応の電圧の印加により切換可能な能動素子を構成
する。
又は相応の電圧の印加により切換可能な能動素子を構成
する。
コレクタCとベースBとを接続すれば、コレクタCには
一定の基準電流が流れる。
一定の基準電流が流れる。
第4図は、第1図〜第3図の切換可能な能動素子の等価
回路を示す。
回路を示す。
第5図は、切換可能な前記能動素子のシンボルを示す。
第1図〜第5図の切換可能な能動素子において、エミッ
タEとコレクタC1,co以外に更に、エミッタEと出
力コレクタC8との間にp型領域を設けるか又はコレク
タC1を分割することもできる。
タEとコレクタC1,co以外に更に、エミッタEと出
力コレクタC8との間にp型領域を設けるか又はコレク
タC1を分割することもできる。
第6a図〜第6c図はそれぞれ、本発明の論理デバイス
より成るNOT素子、NOR素子、NAND素子を示す
。
より成るNOT素子、NOR素子、NAND素子を示す
。
第6a図〜第6c図の実施例では、既述のように、エミ
ッタEと出力コレクタC6どの間にp型領域が付加的に
設けられるか、又はコレクタC1が分割される。
ッタEと出力コレクタC6どの間にp型領域が付加的に
設けられるか、又はコレクタC1が分割される。
但しコレクタCは設けられない。
第6b図では、出力コレクタC8と制御コレクタC1と
の間に、p型領域として形成された第2の制御コレクタ
C2が設けられる。
の間に、p型領域として形成された第2の制御コレクタ
C2が設けられる。
制御コレクタC7,C2はストリップ状に形成される。
制御コレクタC1,C2は並置して配置され、エミッタ
Eに対し負電位にバイアスされる際、エミッタEから注
入されるキャリアが出力コレクタC6に達しないように
それぞれ独立に働く。
Eに対し負電位にバイアスされる際、エミッタEから注
入されるキャリアが出力コレクタC6に達しないように
それぞれ独立に働く。
第6c図の実施例では、エミッタEと出力コレクタC8
間に2つの制御コレクタC1,C2が設けられる。
間に2つの制御コレクタC1,C2が設けられる。
この場合、エミッタEから注入されるキャリアが出力コ
レクタC6に達しないようにするには、制御コレクタC
7,C2の双方をエミッタEに対し負電位にバイアスし
なげればならない。
レクタC6に達しないようにするには、制御コレクタC
7,C2の双方をエミッタEに対し負電位にバイアスし
なげればならない。
第6c図の実施例は、第6a図の実施例のコレクタ領域
C1を2つの部分領域C1,C2に分割したものに相当
する。
C1を2つの部分領域C1,C2に分割したものに相当
する。
部分領域C1,02間の間隙の幅を10μmに設定すれ
ば、キャリアは通過しない。
ば、キャリアは通過しない。
第7a図〜第7c図は、それぞれ第6a図〜第6c図の
実施例のシンボルを示す。
実施例のシンボルを示す。
論理値を与えるものとして電流を考え、論理値を次のよ
うに定義すれば 1←電流導通 0←→電流遮断 第6a図〜第6c図の実施例にそれぞれNOT素子、N
OR素子、NAND素子の機能を持たせることができる
。
うに定義すれば 1←電流導通 0←→電流遮断 第6a図〜第6c図の実施例にそれぞれNOT素子、N
OR素子、NAND素子の機能を持たせることができる
。
論理素子として働かせるには更に、個々の素子の出力に
より他の素子の入力側を励振できる必要がある。
より他の素子の入力側を励振できる必要がある。
従って出力電流の方向を反転して論理値を次のようによ
り正確に定義しなければならない:1←→入力端子より
電流が流れ出る 出力端子に電流が流れ込む 0←→電流遮断 第8a図〜第8c図は、それぞれ第6a図および第7a
図、第6b図および第7b図、第6c図および第7c図
のNOT素子、NOR素子、NAND素子の基本論理デ
バイスを示す。
り正確に定義しなければならない:1←→入力端子より
電流が流れ出る 出力端子に電流が流れ込む 0←→電流遮断 第8a図〜第8c図は、それぞれ第6a図および第7a
図、第6b図および第7b図、第6c図および第7c図
のNOT素子、NOR素子、NAND素子の基本論理デ
バイスを示す。
出力コレクタC8の電流を反転するために、個々の出力
側にnpn )ランジスタ・インバータTuが後置接続
される。
側にnpn )ランジスタ・インバータTuが後置接続
される。
これにより、第8a図〜第8c図に示す基本論理デバイ
スが得られる。
スが得られる。
npn l’ランジスタ・インバータTuは更に出力コ
レクタC8に供給される電流を増幅する。
レクタC8に供給される電流を増幅する。
これは、既述のように、出力コレクタC8には制御コレ
クタ(入力側)C1,C2により捕捉される電流より常
に小さい電流が流れるからである。
クタ(入力側)C1,C2により捕捉される電流より常
に小さい電流が流れるからである。
第9a図は不所望の注入の説明に供する回路を示す。
第9b図は不所望の注入を回避する回路を示す。
論理素子の入力コレクタ(エミッタEに直接隣接しない
少なくとも1つの入力コレクタを含む)を互いに接続し
、論理素子の出力により論理素子の複数の入力側を励振
する場合には、第9a図に示すように、不所望の注入が
生ずる。
少なくとも1つの入力コレクタを含む)を互いに接続し
、論理素子の出力により論理素子の複数の入力側を励振
する場合には、第9a図に示すように、不所望の注入が
生ずる。
第9a図では、 トランジスタが不導通で、npn
コレクタC4がバイアスされている。
第9a図の論理素子はNOR素子であるから、出力コレ
クタCO2には電流が流れないはずである。
クタCO2には電流が流れないはずである。
しかしコレクタC3は他方のNOR素子のコレクタC2
に接続されており、コレクタC2はエミッタEに直接隣
接するので、コレクタC2,C3に注入電流が流れ、出
力コレクタC82にも不所望の電流が流れる。
に接続されており、コレクタC2はエミッタEに直接隣
接するので、コレクタC2,C3に注入電流が流れ、出
力コレクタC82にも不所望の電流が流れる。
第9b図に示すように、コレクタC3に減結合ダイオー
ドDEを前置接続すれば不所望の注入を回避することが
できる。
ドDEを前置接続すれば不所望の注入を回避することが
できる。
減結合ダイオードDEの代わりに縦方向pnp )ラン
ジスタを使用し、孤立アイソレーション領域に前段のn
pn )ランジスタと共に縦方向pnp )ランジスタ
を形成することもできる。
ジスタを使用し、孤立アイソレーション領域に前段のn
pn )ランジスタと共に縦方向pnp )ランジスタ
を形成することもできる。
このようにして得られる論理デバイスの出力回路を第1
0図に示す。
0図に示す。
熱論論理デバイスのすべての入力側を縦方向pnp ト
ランジスタを介して励振することができる。
ランジスタを介して励振することができる。
但しその場合、必ずしもnpn −pnp構造により孤
立アイソレーション領域相互を接続する必要はない。
立アイソレーション領域相互を接続する必要はない。
しかしnpn −pnp構造を用いれば大きい電流増幅
率が得られるので、 トランジスタをnpn 単独で用いる場合に比しはるかに多数のファンアウトを
得ることができる。
率が得られるので、 トランジスタをnpn 単独で用いる場合に比しはるかに多数のファンアウトを
得ることができる。
第6b図および第6c図より明らかなように、第1図の
素子よりNOR素子を形成する手間と第1図の素子より
NAND素子を形成する手間とは同じである。
素子よりNOR素子を形成する手間と第1図の素子より
NAND素子を形成する手間とは同じである。
他方組合せ論理機能が必要な場合には、面積使用効率を
一層アップすることができる。
一層アップすることができる。
組合せ論理機能を実現する実施例を第11a図〜第11
c図に示す。
c図に示す。
図より明らかなように、種々の論理機能が組合されて1
つの出力にまとめられ、この出力が唯一のトランジスタ
Tuを介して取り出される。
つの出力にまとめられ、この出力が唯一のトランジスタ
Tuを介して取り出される。
第11a図〜第11c図の論理デバイスの動作・は次の
ような論理関数により表示される:但しOR素子の入力
数およびAND素子の入力数を増加することもできる(
第1ie図参照)。
ような論理関数により表示される:但しOR素子の入力
数およびAND素子の入力数を増加することもできる(
第1ie図参照)。
基準コレクタC/(第11a図)の働きにより、制御コ
レクタの周囲のキャリアが拡散して出力コレクタに達す
ることはない。
レクタの周囲のキャリアが拡散して出力コレクタに達す
ることはない。
更に個別論理デバイス間は基準コレクタC′により減結
合される。
合される。
許容入力数(ファンイン)は、所望のファンアウトおよ
び電極のパターンに関係する。
び電極のパターンに関係する。
エミッタEに隣接するコレクタを更に分割すれば、AN
D素子の入力数を増加することができる。
D素子の入力数を増加することができる。
エミッタEに隣接するコレクタを分割しOR素子を形成
するコレクタを追加すれば、Io=1 における最小
出力電流はそれだ゛け減少する。
するコレクタを追加すれば、Io=1 における最小
出力電流はそれだ゛け減少する。
この最小出力電流はファンアウトに大きく影響する。
例えばファンアウトが1の場合、Io=1 における
最小出力電流によっても次段の最大入力電流が得られる
ようにしなければならない。
最小出力電流によっても次段の最大入力電流が得られる
ようにしなければならない。
第11a図の電極のパターンでは、npn出力トランジ
スタTuの電流増幅率Bnpnが20であれば、最悪の
場合ファンアウトは1である。
スタTuの電流増幅率Bnpnが20であれば、最悪の
場合ファンアウトは1である。
他方電流増幅率Bnpnが100であれば、最悪の場合
フ。
フ。
アンアウトは5である。
既述のように縦方向pnpトランジスタを介して出力結
合すれば、前記数値はpnp トランジスタの電流増幅
率だけ増大する。
合すれば、前記数値はpnp トランジスタの電流増幅
率だけ増大する。
第12a図および第12b図は、本発明の論理デバイス
より成るRSSフリップフロラ回路を示。
より成るRSSフリップフロラ回路を示。
す。
このRSSフリップフロラ回路は2つのNOR素子を有
する。
する。
入力側S又はRに論理値1の信号を印加すれば、RSS
フリップフロラ回路はそれぞれセット又はリセットされ
る。
フリップフロラ回路はそれぞれセット又はリセットされ
る。
まずトランジスタT1が導通であると仮定する。
1従ってQ=1である。
コレクタC2にバイアスを加えてコレクタC2より電流
を取り出す際(但しコレクタC3を開放する)、トラン
ジスタT1には最早ベース電流が供給されない。
を取り出す際(但しコレクタC3を開放する)、トラン
ジスタT1には最早ベース電流が供給されない。
トランジスタT1のコレクタ電位が徐々に上昇して給電
電圧より数ミリボルトだけ低い電圧値に達し、その結果
コレクタC4が飽和すると、短い遅延時間τの経過後ト
ランジスタT2にベース電流が供給される。
電圧より数ミリボルトだけ低い電圧値に達し、その結果
コレクタC4が飽和すると、短い遅延時間τの経過後ト
ランジスタT2にベース電流が供給される。
遅延時間τは、トランジスタT4のベースにキャリアを
蓄積するのに要する時間である。
蓄積するのに要する時間である。
これによりトランジスタT2のコレクタ電位は徐々に低
下する。
下する。
第12c図は、RSSフリップフロラ回路のリセットの
際の、トランジスタTI、T2のコレクタ電位の経過を
示す。
際の、トランジスタTI、T2のコレクタ電位の経過を
示す。
トランジスタTI、T2のコレクタ電位の立上り時間な
いし立下り時間はマイクロセカンドのオーダで、ミラー
効果に関連するnpn )ランジスタの容量および論理
回路のコレクタ電流に依存する。
いし立下り時間はマイクロセカンドのオーダで、ミラー
効果に関連するnpn )ランジスタの容量および論理
回路のコレクタ電流に依存する。
第13a図は、本発明の論理デバイスより成るマスクス
レーブ動作のスタチック分周器な示す。
レーブ動作のスタチック分周器な示す。
マスクスレーブ動作のスタチック分周器は2つのRSS
フリップフロラ回路を有する。
フリップフロラ回路を有する。
これらのRSSフリップフロラ回路の入力側にはAND
素子が前置接続される。
素子が前置接続される。
RSSフリップフロラ回路の入力側にAND素子を前置
接続するには、第12b図のRSSフリップフロラ回路
において、入力コレクタC2,C3をそれぞれ2つの入
力コレクタに分割しさえすればよい。
接続するには、第12b図のRSSフリップフロラ回路
において、入力コレクタC2,C3をそれぞれ2つの入
力コレクタに分割しさえすればよい。
必要に応じて減結合用pnp )ランジスタを付加的に
設ければ、第13b図の論理デバイスが得られる。
設ければ、第13b図の論理デバイスが得られる。
トランジスタT4.T6.T13.T15は必ずしも必
要でない。
要でない。
しかしトランジスタT4゜T6.T13.T15を設け
れば、出力側における許容負荷範囲を拡大することがで
き、更に微小電流でもnpn−pnp構造の充分な電流
増幅率を得ることができる。
れば、出力側における許容負荷範囲を拡大することがで
き、更に微小電流でもnpn−pnp構造の充分な電流
増幅率を得ることができる。
トランジスタT9は基準トランジスタである。
出力信号の経過は第12c図に示す経過に類似する。
分周器の出力信号を次段の分周器の励振に直接使用する
ことができるので、分周器を任意の長さに縦続接続する
ことができる。
ことができるので、分周器を任意の長さに縦続接続する
ことができる。
第14図は2段分周器のレイアウトを示す。
第14図より明らかなように、双方の段のpnp論理ブ
ロックが同じ孤立アイソレージずン領域に形成され、更
に4つの孤立アイソレーション領域が個個の分周段に配
属される。
ロックが同じ孤立アイソレージずン領域に形成され、更
に4つの孤立アイソレーション領域が個個の分周段に配
属される。
寄生サイリスタ効果を回避するため、合成されたnpn
−pnp構造(例えばトランジスタT2〜T4)のn
pn部分とpnp部分が、アイソレーションを行なう条
片状p型ベース領域により減結合される。
−pnp構造(例えばトランジスタT2〜T4)のn
pn部分とpnp部分が、アイソレーションを行なう条
片状p型ベース領域により減結合される。
必要なりロスオーバを形成するため、エミッタ材料より
成るトンネル路が、回路の適当な個所の溝状絶縁領域に
設けられる。
成るトンネル路が、回路の適当な個所の溝状絶縁領域に
設けられる。
本発明の論理デバイスでは、ラテラルpnp構造が用い
られるので、ダイナミックな障害に対して動作安定であ
る。
られるので、ダイナミックな障害に対して動作安定であ
る。
切換時間がマイクロセカンドのオーダなので、短時間の
ダイナミックな雑音は抑圧される。
ダイナミックな雑音は抑圧される。
スタチックな障害に対しても動作安定である。
論理変数として電流が用いられるので、可変な種々の電
圧源により動作する論理デバイスの複数の入力側を論理
デバイスの個々の出力により励振することができる。
圧源により動作する論理デバイスの複数の入力側を論理
デバイスの個々の出力により励振することができる。
更に本発明の論理デバイスでは、論理機能が個別トラン
ジスタにより実現されず、例えば複雑な論理素子の形成
に適する機能ブロックにより実現される。
ジスタにより実現されず、例えば複雑な論理素子の形成
に適する機能ブロックにより実現される。
それ故チップにおいて2次元的に場所をとらない。
またすべての論理素子を孤立アイソレーション領域に形
成することができる。
成することができる。
個々の出力側に叩nトランジスタを設ければ充分である
。
。
本発明の論理デバイスは、約0.7 V〜U CEOn
pllの範囲の印加電圧により駆動される。
pllの範囲の印加電圧により駆動される。
本発明の論理デバイスはシリコンプレーナ法により構成
される。
される。
構成素子のパラメータに関する制限はない。
第1図は本発明の論理デバイスの実施例の平面略図、第
2図は第1図の■−■で切断した第1図の実施例の断面
図、第3図は第1図の■−■で切断した第1図の実施例
の断面図、第4図は第1図の実施例の通常のシンボルを
示す略図、第5図は第1図の実施例の本発明の提案によ
るシンボルを示す略図、第6 a y 6 b 、6
c図は本発明の論理デバイスの他の実施例の部分略図、
第7a、7b。 7a図は第6 a 、6 b 、6 c図の実施例の本
発明の提案によるシンボルを示す略図、第8 a 、8
b +8c図は本発明の提案によるシンボルを用いた
第6 a 、6 b t 6 c図の実施例の基本回路
の回路図、第9a図、第9b図および第10図は本発明
の提案によるシンボルを用いた、本発明の説明に供する
回路図、第11a図は本発明の論理デバイスの更に他の
実施例の部分略図、第11b図は本発明の提案によるシ
ンボルを用いた第11a図の実施例の回路図、第11c
図は通常のシンボルを用いた第11a図の実施例1のブ
ロック図、第12a図は通常のシンボルを用いた本発明
の論理デバイスの実施例のブロック図、第12b図は本
発明の提案によるシンボルを用いた第12a図の実施例
の回路図、第12c図は第12a図の実施例の電圧特性
曲線図、第13a図は通常のシンボルを用いた本発明の
論理デバイスの他の実施例のブロック図、第13b図は
本発明の提案によるシンボルを用いた第13a図の実施
例の回路図、第14図は本発明の論理デバイスの更に他
の実施例のレイアウトを示す略図である。 10・・・・・・サブストレート、11・−・・・・n
十埋込層、12・・・・・・n型エピタキシャル層、1
3・・・・・・絶縁拡散領域、14・・・・・・エピタ
キシャル分離領域、C・・・・・・コレクタ、E・・・
・・・エミッタ、C1,C2・・・・・・制御コレクタ
、co・・・・・・出力コレクタ、Tu・・・・・・ト
ランジスタ・インバータ、DE・・・・・・減結合ダイ
オード、CI・・・・・・基準コレクタ。
2図は第1図の■−■で切断した第1図の実施例の断面
図、第3図は第1図の■−■で切断した第1図の実施例
の断面図、第4図は第1図の実施例の通常のシンボルを
示す略図、第5図は第1図の実施例の本発明の提案によ
るシンボルを示す略図、第6 a y 6 b 、6
c図は本発明の論理デバイスの他の実施例の部分略図、
第7a、7b。 7a図は第6 a 、6 b 、6 c図の実施例の本
発明の提案によるシンボルを示す略図、第8 a 、8
b +8c図は本発明の提案によるシンボルを用いた
第6 a 、6 b t 6 c図の実施例の基本回路
の回路図、第9a図、第9b図および第10図は本発明
の提案によるシンボルを用いた、本発明の説明に供する
回路図、第11a図は本発明の論理デバイスの更に他の
実施例の部分略図、第11b図は本発明の提案によるシ
ンボルを用いた第11a図の実施例の回路図、第11c
図は通常のシンボルを用いた第11a図の実施例1のブ
ロック図、第12a図は通常のシンボルを用いた本発明
の論理デバイスの実施例のブロック図、第12b図は本
発明の提案によるシンボルを用いた第12a図の実施例
の回路図、第12c図は第12a図の実施例の電圧特性
曲線図、第13a図は通常のシンボルを用いた本発明の
論理デバイスの他の実施例のブロック図、第13b図は
本発明の提案によるシンボルを用いた第13a図の実施
例の回路図、第14図は本発明の論理デバイスの更に他
の実施例のレイアウトを示す略図である。 10・・・・・・サブストレート、11・−・・・・n
十埋込層、12・・・・・・n型エピタキシャル層、1
3・・・・・・絶縁拡散領域、14・・・・・・エピタ
キシャル分離領域、C・・・・・・コレクタ、E・・・
・・・エミッタ、C1,C2・・・・・・制御コレクタ
、co・・・・・・出力コレクタ、Tu・・・・・・ト
ランジスタ・インバータ、DE・・・・・・減結合ダイ
オード、CI・・・・・・基準コレクタ。
Claims (1)
- 1 横方向トランジスタが半導体サブストレートに構成
されるようにし、この場合該横方向トランジスタはベー
ス領域14において、キャリヤを半導体サブストレート
に注入するエミッタ領域Eと注入されたキャリヤを捕捉
するコレクタ領域C6とを有し、さらにエミッタ領域E
と出力コレクタであるコレクタ領域C6との間のベース
領域14にエミッタ領域Eから注入されて出力コレクタ
coへ向かうキャリヤの流れを制御するために制御コレ
クタ領域C1が設けられ、該制御コレクタ領域は前記ベ
ース領域、エミッタ領域、出力コレクタ領域14 ;
E ; Coに加わる電位とは独立の制御電位により作
動されるようにした横方向トランジスタにおいて、制御
コレクタ領域C1が、空間的に相互に分離されかつ電気
的に相互に絶縁された2つ以上の部分コレクタ領域C1
,C2から形成されるようにし、該部分コレクタ領域へ
論理入力信号として、相互に論理結合すべき制御電位が
印加されることを特徴とする横方向トランジスタ。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2344244A DE2344244C3 (de) | 1973-09-01 | 1973-09-01 | Laterale Transistorstruktur |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5056187A JPS5056187A (ja) | 1975-05-16 |
JPS5818786B2 true JPS5818786B2 (ja) | 1983-04-14 |
Family
ID=5891416
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP49100804A Expired JPS5818786B2 (ja) | 1973-09-01 | 1974-09-02 | 横方向トランジスタ |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4328509A (ja) |
JP (1) | JPS5818786B2 (ja) |
AT (1) | AT373442B (ja) |
CH (1) | CH572683A5 (ja) |
DE (1) | DE2344244C3 (ja) |
FR (1) | FR2246071B1 (ja) |
GB (1) | GB1488152A (ja) |
IT (1) | IT1020289B (ja) |
NL (1) | NL173455C (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4396932A (en) * | 1978-06-16 | 1983-08-02 | Motorola, Inc. | Method for making a light-activated line-operable zero-crossing switch including two lateral transistors, the emitter of one lying between the emitter and collector of the other |
US4345166A (en) * | 1979-09-28 | 1982-08-17 | Motorola, Inc. | Current source having saturation protection |
JPS5947467B2 (ja) * | 1981-09-01 | 1984-11-19 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 温度センサ−用半導体素子 |
US4573064A (en) * | 1981-11-02 | 1986-02-25 | Texas Instruments Incorporated | GaAs/GaAlAs Heterojunction bipolar integrated circuit devices |
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US4831281A (en) * | 1984-04-02 | 1989-05-16 | Motorola, Inc. | Merged multi-collector transistor |
US4794277A (en) * | 1986-01-13 | 1988-12-27 | Unitrode Corporation | Integrated circuit under-voltage lockout |
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US5021856A (en) * | 1989-03-15 | 1991-06-04 | Plessey Overseas Limited | Universal cell for bipolar NPN and PNP transistors and resistive elements |
US5514876A (en) * | 1994-04-15 | 1996-05-07 | Trw Inc. | Multi-terminal resonant tunneling transistor |
US6404038B1 (en) * | 2000-03-02 | 2002-06-11 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Complementary vertical bipolar junction transistors fabricated of silicon-on-sapphire utilizing wide base PNP transistors |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5010107A (ja) * | 1973-05-24 | 1975-02-01 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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DE1063279B (de) * | 1957-05-31 | 1959-08-13 | Ibm Deutschland | Halbleiteranordnung aus einem Halbleiterkoerper mit flaechenhaftem innerem pn-UEbergang und mit mehr als drei Elektroden |
NL261720A (ja) * | 1960-03-04 | |||
US3579059A (en) * | 1968-03-11 | 1971-05-18 | Nat Semiconductor Corp | Multiple collector lateral transistor device |
US3643235A (en) * | 1968-12-30 | 1972-02-15 | Ibm | Monolithic semiconductor memory |
DE2106821A1 (de) * | 1970-02-13 | 1971-08-26 | Atomic Energy Authority Uk | Halbleitervorrichtung |
US3713908A (en) * | 1970-05-15 | 1973-01-30 | Ibm | Method of fabricating lateral transistors and complementary transistors |
US3725683A (en) * | 1971-02-03 | 1973-04-03 | Wescom | Discrete and integrated-type circuit |
NL7107040A (ja) * | 1971-05-22 | 1972-11-24 | ||
NL7200294A (ja) * | 1972-01-08 | 1973-07-10 | ||
DE2212168C2 (de) * | 1972-03-14 | 1982-10-21 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Monolithisch integrierte Halbleiteranordnung |
US4153909A (en) * | 1973-12-10 | 1979-05-08 | National Semiconductor Corporation | Gated collector lateral transistor structure and circuits using same |
-
1973
- 1973-09-01 DE DE2344244A patent/DE2344244C3/de not_active Expired
-
1974
- 1974-08-08 CH CH1087274A patent/CH572683A5/xx not_active IP Right Cessation
- 1974-08-29 IT IT26727/74A patent/IT1020289B/it active
- 1974-08-29 AT AT0698774A patent/AT373442B/de not_active IP Right Cessation
- 1974-08-30 GB GB37978/74A patent/GB1488152A/en not_active Expired
- 1974-08-30 NL NLAANVRAGE7411559,A patent/NL173455C/xx not_active IP Right Cessation
- 1974-09-02 FR FR7429854A patent/FR2246071B1/fr not_active Expired
- 1974-09-02 JP JP49100804A patent/JPS5818786B2/ja not_active Expired
-
1979
- 1979-11-14 US US06/094,119 patent/US4328509A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5010107A (ja) * | 1973-05-24 | 1975-02-01 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
ATA698774A (de) | 1983-05-15 |
NL173455C (nl) | 1984-01-16 |
AT373442B (de) | 1984-01-25 |
IT1020289B (it) | 1977-12-20 |
JPS5056187A (ja) | 1975-05-16 |
US4328509A (en) | 1982-05-04 |
DE2344244C3 (de) | 1982-11-25 |
GB1488152A (en) | 1977-10-05 |
NL173455B (nl) | 1983-08-16 |
CH572683A5 (ja) | 1976-02-13 |
NL7411559A (nl) | 1975-03-04 |
DE2344244B2 (de) | 1978-05-11 |
FR2246071B1 (ja) | 1982-06-18 |
DE2344244A1 (de) | 1975-03-20 |
FR2246071A1 (ja) | 1975-04-25 |
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