JPH03188358A - 物体の表面検査装置 - Google Patents
物体の表面検査装置Info
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8901—Optical details; Scanning details
- G01N21/8903—Optical details; Scanning details using a multiple detector array
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- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、ビデオカメラ等の撮像カメラにより被検査物
を撮像し、その出力画像（ビデオ）信号を電子処理機の
如き検査機により処理し、被検査物の表面上の傷や汚れ
等の欠陥の有無を検査する物体の表面検査装置に関し、
特に金属や紙、布等の帯状の被検査物の表面上に欠陥が
存在する場合、この欠陥情報を含む画像信号を自動的に
記録し、必要な時にモニタ画面上にその欠陥を含む画像
を再生し、目視により欠陥の合否の判定を行うと共に、
生産管理用の情報として活用し得る如くなした物体の表
面検査装置に関するものである。
を撮像し、その出力画像（ビデオ）信号を電子処理機の
如き検査機により処理し、被検査物の表面上の傷や汚れ
等の欠陥の有無を検査する物体の表面検査装置に関し、
特に金属や紙、布等の帯状の被検査物の表面上に欠陥が
存在する場合、この欠陥情報を含む画像信号を自動的に
記録し、必要な時にモニタ画面上にその欠陥を含む画像
を再生し、目視により欠陥の合否の判定を行うと共に、
生産管理用の情報として活用し得る如くなした物体の表
面検査装置に関するものである。
従来、金属や紙、布等の長い帯状の被検査物の表面検査
を行う場合には、目視により検出された表面の欠陥の確
実な合否の判定を行う為に、被検査物の検査ラインを一
時的に停止させたり、或いはこのラインを減速すること
により欠陥の確認を行い、その合否の判定を下していた
。
を行う場合には、目視により検出された表面の欠陥の確
実な合否の判定を行う為に、被検査物の検査ラインを一
時的に停止させたり、或いはこのラインを減速すること
により欠陥の確認を行い、その合否の判定を下していた
。
従って、実際、物体の表面検査においては、以下のよう
な制約があった。
な制約があった。
（１） 検査ラインのスピードを上げることができな
い。
い。
（２）検査のために行うライン停止や減速によって、被
検査物が損傷され易い。
検査物が損傷され易い。
（３） ライン停止や減速を行う為に、連続処理ライ
ン等の導入ができない。
ン等の導入ができない。
（４） オペレータは、検査ラインの稼動中には、表
面検査以外の作業に従事できない。
面検査以外の作業に従事できない。
従って、本発明の目的は、上記従来装置の欠点に鑑み、
被検査物の表面の欠陥を自動的に検出し得、更に欠陥を
検出した時は、その欠陥情報を含む被検査物の画像信号
を自動的に記録しておき、必要な時にモニタ画面上にそ
の欠陥を含む画像を再生し、目視により欠陥の合否の確
認ができる物体の表面検査装置を提供せんとするもので
ある。
被検査物の表面の欠陥を自動的に検出し得、更に欠陥を
検出した時は、その欠陥情報を含む被検査物の画像信号
を自動的に記録しておき、必要な時にモニタ画面上にそ
の欠陥を含む画像を再生し、目視により欠陥の合否の確
認ができる物体の表面検査装置を提供せんとするもので
ある。
本発明によれば、被検査物（１〕を撮像カメラ（２）で
撮映し、それよりの画像信号を欠陥検出部（４）を有す
る検査機（３）で処理して上記被検査物の表面に欠陥が
在るか否かを検査する物体の表面検査装置に於て、被検
査物（１）の送出手段に関連して被検査物の送給量情報
を発生する位置情報発生手段（１′）を設けると共に、
画像処理部（５）を設け、この画像処理部に位置情報発
生手段（１′）及び欠陥検出部（４）よりの位置情報及
び検出信号を共に供給し、欠陥の大小、その被検査物の
幅及び長さ方向の両位置をしめずデータ（Ｄ）を発生し
、このデータをプリンタ（７）に供給し、これにより上
記欠陥の大小及び両位置を示す展開表（９）を記録材（
９′）上に印字する一方、撮像カメラ（２）よりのビデ
オ信号（Ｖ）及び画像処理部（５）よりのデータ（Ｄ）
を合成部（６）に供給してビデオ信号及びデータの合成
信号（Ｃ）を作り、この合成信号（Ｃ）を画像信号記録
部（８）に供給してそこに記録し、必要に応じて画像信
号を画像信号記録部より再生し、モニタ（１２）上に表
示するようになした物体の表面検査装置が得られる。
撮映し、それよりの画像信号を欠陥検出部（４）を有す
る検査機（３）で処理して上記被検査物の表面に欠陥が
在るか否かを検査する物体の表面検査装置に於て、被検
査物（１）の送出手段に関連して被検査物の送給量情報
を発生する位置情報発生手段（１′）を設けると共に、
画像処理部（５）を設け、この画像処理部に位置情報発
生手段（１′）及び欠陥検出部（４）よりの位置情報及
び検出信号を共に供給し、欠陥の大小、その被検査物の
幅及び長さ方向の両位置をしめずデータ（Ｄ）を発生し
、このデータをプリンタ（７）に供給し、これにより上
記欠陥の大小及び両位置を示す展開表（９）を記録材（
９′）上に印字する一方、撮像カメラ（２）よりのビデ
オ信号（Ｖ）及び画像処理部（５）よりのデータ（Ｄ）
を合成部（６）に供給してビデオ信号及びデータの合成
信号（Ｃ）を作り、この合成信号（Ｃ）を画像信号記録
部（８）に供給してそこに記録し、必要に応じて画像信
号を画像信号記録部より再生し、モニタ（１２）上に表
示するようになした物体の表面検査装置が得られる。
本発明においては、被検査物（１）の表面の欠陥を検出
した際、被検査物（１）の画像信号と欠陥の大きさ、位
置等の情報を示すデータ（Ｄ）とを画像信号記録装置に
記憶せしめると共に、上記データ（Ｄ）を、更にプリン
タ（７）に供給し、これにより表面欠陥の発生位置等を
示す展開表（９）を作成しておき、必要な時に、上記記
録画像をモニタ（１２）上に再生し、これと展開表を見
較べ、これにより確認し、被検査物の表面欠陥の合否の
判定を容易ならしめる。
した際、被検査物（１）の画像信号と欠陥の大きさ、位
置等の情報を示すデータ（Ｄ）とを画像信号記録装置に
記憶せしめると共に、上記データ（Ｄ）を、更にプリン
タ（７）に供給し、これにより表面欠陥の発生位置等を
示す展開表（９）を作成しておき、必要な時に、上記記
録画像をモニタ（１２）上に再生し、これと展開表を見
較べ、これにより確認し、被検査物の表面欠陥の合否の
判定を容易ならしめる。
本発明の一実施例を、添付図面を参照して説明する。
第１図は、本発明の一実施例を示すブロック図である。
同図において、（１）は図示せずも例えば金属或いは紙
、布の如き長い帯状の被検査物を示す。
、布の如き長い帯状の被検査物を示す。
この被検査物（１）をランプ等の光源（ＬＳ）で照明し
、その表面をビデオカメラの如き撮像カメラ（２）にて
被検査物（１）の透過光若しくは反射光像として撮映し
、それよりの画像、即ちビデオ信号（Ｖ）を電子処理機
の如き検査機（３）により処理し、被検査物（１）の表
面上の傷や、汚れ等の欠陥の有無を検査するものである
。
、その表面をビデオカメラの如き撮像カメラ（２）にて
被検査物（１）の透過光若しくは反射光像として撮映し
、それよりの画像、即ちビデオ信号（Ｖ）を電子処理機
の如き検査機（３）により処理し、被検査物（１）の表
面上の傷や、汚れ等の欠陥の有無を検査するものである
。
次に、検査機（３）を説明する。撮像カメラ（２）の出
力ビデオ信号（Ｖ）を、その欠陥検出部（４）に加える
。この欠陥検出部（４）は、被検査物（１）の表面に、
傷や汚れ等の欠陥があった場合のみ、欠陥の検出信号（
ｄ）を発生する。この検出信号（ｄ）を、画像処理部〔
５）に加える。この画像処理部（５）は、検出信号（ｄ
）を処理して、被検出物（１）の表面における欠陥の、
被検査物（１）の幅方向の位置や大きさ等、欠陥に関す
る必要なデータ（Ｄ＞を作成する。
力ビデオ信号（Ｖ）を、その欠陥検出部（４）に加える
。この欠陥検出部（４）は、被検査物（１）の表面に、
傷や汚れ等の欠陥があった場合のみ、欠陥の検出信号（
ｄ）を発生する。この検出信号（ｄ）を、画像処理部〔
５）に加える。この画像処理部（５）は、検出信号（ｄ
）を処理して、被検出物（１）の表面における欠陥の、
被検査物（１）の幅方向の位置や大きさ等、欠陥に関す
る必要なデータ（Ｄ＞を作成する。
このデータ （Ｄ）はプリンタ（７〕に加える。すると
、このプリンタ〔７〕は、欠陥の位置等を示す第２図に
示す如き展開表（９）を印字紙（９′）等に打ち出す。
、このプリンタ〔７〕は、欠陥の位置等を示す第２図に
示す如き展開表（９）を印字紙（９′）等に打ち出す。
尚、第２図に於て、（Ｗ′）は第１図に示す被検査物（
１）の幅（Ｗ）に対応する印字紙（９′）上の展開表（
９）の幅であり、（Ａ′）は第１図の被検査物（１）の
送給方向（Ａ）に対応する展開表（９）の送出方向であ
り、×印及び○印は被検査物（１）上の傷等の欠陥を示
す。
１）の幅（Ｗ）に対応する印字紙（９′）上の展開表（
９）の幅であり、（Ａ′）は第１図の被検査物（１）の
送給方向（Ａ）に対応する展開表（９）の送出方向であ
り、×印及び○印は被検査物（１）上の傷等の欠陥を示
す。
尚、Ｘ印は例えば無視できない欠陥であり、Ｏ印は無視
できる欠陥とする。このため、夫々の印には、その大小
を例えば符号（Ａｌ）、 （Ａ２）、 （Ａ３）。
できる欠陥とする。このため、夫々の印には、その大小
を例えば符号（Ａｌ）、 （Ａ２）、 （Ａ３）。
（Ａ４）に記入する。又第２図に示す如く、展開表（９
）上には、その幅（Ｗ′）方向に沿って、例えばｍｍ単
位で目盛が付されているので、Ｘ印及び○印等の欠陥の
幅（Ｗ′）方向における位置が一目瞭然である。尚、（
Ｓ）は被検査物（１）の検査開始位置を示す。又、この
場合、必要に応じて、欠陥の幅（Ｗ′）方向の位置のみ
ならず、他のデータも、上述の如く、同時に展開表（９
）の中に加えて記入しても良いことは、勿論である。
）上には、その幅（Ｗ′）方向に沿って、例えばｍｍ単
位で目盛が付されているので、Ｘ印及び○印等の欠陥の
幅（Ｗ′）方向における位置が一目瞭然である。尚、（
Ｓ）は被検査物（１）の検査開始位置を示す。又、この
場合、必要に応じて、欠陥の幅（Ｗ′）方向の位置のみ
ならず、他のデータも、上述の如く、同時に展開表（９
）の中に加えて記入しても良いことは、勿論である。
第１図に戻り、欠陥の検出信号（ｄ）に基づく画像処理
部（５）よりのデータ（Ｄ）は、更に合成部（６）に加
えられる。この合成部（６）には、撮像カメラ（２）よ
りのビデオ信号（Ｖ）も供給される。従って、合成部（
６）は、このビデオ信号（Ｖ）と画像処理部（５）より
のデータ（Ｄ）とを合成して合成信号（Ｃ）を作り、こ
れを画像信号記録部（８）に送出する。この画像信号記
録部（８）は、ビデオフロッピディスク等の記録媒体（
１０）を利用して、データ（Ｄ）とビデオ信号（Ｖ）と
の合成信号（Ｃ）を記録するものであるが、記録媒体（
１０）は、記録情報を静止画像として再生できるもので
あれば、特に指定はない。尚、ビデオ信号（ｌと合成さ
れるデータ（Ｄ） に、被検査物（１）の欠陥の位置
のみならず、例えばその検査の日付、品種、ロット番号
等、必要なデータを含ませておけば、記録画像信号再生
の時に参考になる。
部（５）よりのデータ（Ｄ）は、更に合成部（６）に加
えられる。この合成部（６）には、撮像カメラ（２）よ
りのビデオ信号（Ｖ）も供給される。従って、合成部（
６）は、このビデオ信号（Ｖ）と画像処理部（５）より
のデータ（Ｄ）とを合成して合成信号（Ｃ）を作り、こ
れを画像信号記録部（８）に送出する。この画像信号記
録部（８）は、ビデオフロッピディスク等の記録媒体（
１０）を利用して、データ（Ｄ）とビデオ信号（Ｖ）と
の合成信号（Ｃ）を記録するものであるが、記録媒体（
１０）は、記録情報を静止画像として再生できるもので
あれば、特に指定はない。尚、ビデオ信号（ｌと合成さ
れるデータ（Ｄ） に、被検査物（１）の欠陥の位置
のみならず、例えばその検査の日付、品種、ロット番号
等、必要なデータを含ませておけば、記録画像信号再生
の時に参考になる。
尚、画像処理部（５）は、上述の如く、傷等の欠陥の幅
（Ｗ′）方向における位置を含むデータ（Ｄ）を作成し
て、それをプリンタ（７）及び合成部（６）へ送るので
あるが、第２図に示すような展開表（９）或いは画像信
号記録部（８）に送るべき位置情報データに、被検査物
（１）の長さ方向のデータも含ませる。そのため、搬送
ロールの可動軸（図示せず）に、第１図に示す如く、ロ
ータリーエンコーダの如き位置検出器（１′）を連結し
ておき、これにより検査開始位置（Ｓ）からの被検査物
の走行距離に関する位置情報＜１＞を常に画像処理部（
５）に送り、画像処理部（５）をして、欠陥を検出した
時点は、走査開始位置（Ｓ）からどの位の距離（単位、
例えばメートル）になるのかを、算出せしめ、そのデー
タ（Ｍ）をデータ （Ｄ＞に含ませる。
（Ｗ′）方向における位置を含むデータ（Ｄ）を作成し
て、それをプリンタ（７）及び合成部（６）へ送るので
あるが、第２図に示すような展開表（９）或いは画像信
号記録部（８）に送るべき位置情報データに、被検査物
（１）の長さ方向のデータも含ませる。そのため、搬送
ロールの可動軸（図示せず）に、第１図に示す如く、ロ
ータリーエンコーダの如き位置検出器（１′）を連結し
ておき、これにより検査開始位置（Ｓ）からの被検査物
の走行距離に関する位置情報＜１＞を常に画像処理部（
５）に送り、画像処理部（５）をして、欠陥を検出した
時点は、走査開始位置（Ｓ）からどの位の距離（単位、
例えばメートル）になるのかを、算出せしめ、そのデー
タ（Ｍ）をデータ （Ｄ＞に含ませる。
この被検査物（１）の長さ方向（送給方向（Ａ））のデ
ータ（Ｍ）は、第２図に示す如く、欠陥に対応する夫々
のＸ印及び○印の、例えば幅（Ｗ′）方向に隣接して、
（Ｍｌ）、 （Ｍ２）、 （Ｍ３）及び（Ｍ４）と
して夫々印字され、欠陥の大小のデータは（ＡＩ）。
ータ（Ｍ）は、第２図に示す如く、欠陥に対応する夫々
のＸ印及び○印の、例えば幅（Ｗ′）方向に隣接して、
（Ｍｌ）、 （Ｍ２）、 （Ｍ３）及び（Ｍ４）と
して夫々印字され、欠陥の大小のデータは（ＡＩ）。
（Ａ２＞、 （Ａ３）及び（Ａ４）としてデータ（Ｍｌ
）〜（Ｍ４）の隣りに記入される。従って、展開表（９
）を見れば、被検査物（１）の表面の欠陥の有無、その
大小、その被検査物（１）の幅（Ｗ′）方向及び長さ方
向の位置が一目瞭然となる。
）〜（Ｍ４）の隣りに記入される。従って、展開表（９
）を見れば、被検査物（１）の表面の欠陥の有無、その
大小、その被検査物（１）の幅（Ｗ′）方向及び長さ方
向の位置が一目瞭然となる。
又、プリンタ（７）は、展開表（９）用の、印字紙等の
記録材（９′）を常時走行せしめておくのではなく、欠
陥検出部（４）により欠陥が検出された時、画像処理部
〔５）よりのデータ（Ｄ）に応じて、所定量だけ記録材
（９′）を送り、第２図に示す如く、欠陥情報をそこに
プリントするものである。従って、展開表（９）用の記
録材（プリント用紙）（９’）を無駄なく有効に使用で
きるものである。又、画像信号記録部（８）も同様に、
欠陥を検出した場合の信号（Ｃ）のみを間欠的に記録す
るので、その記録媒体（１０）である例えばフロッピデ
ィスクの使用量も最少で済む。
記録材（９′）を常時走行せしめておくのではなく、欠
陥検出部（４）により欠陥が検出された時、画像処理部
〔５）よりのデータ（Ｄ）に応じて、所定量だけ記録材
（９′）を送り、第２図に示す如く、欠陥情報をそこに
プリントするものである。従って、展開表（９）用の記
録材（プリント用紙）（９’）を無駄なく有効に使用で
きるものである。又、画像信号記録部（８）も同様に、
欠陥を検出した場合の信号（Ｃ）のみを間欠的に記録す
るので、その記録媒体（１０）である例えばフロッピデ
ィスクの使用量も最少で済む。
記録媒体（１０）としての例えばフロッピディスクは、
通常５０枚位の被検査物（１）の画像を記録できるので
、検査中或いは検査終了後に、第１図に示す如く、記録
媒体（１０）より画像再生部（１１）によってその記録
画像信号を再生し、それをモニタ（１２）に映し出し、
これをプリンタ（７）により打出された展開表（９）と
共に見較べれば、被検査物〔１〕の欠陥の合否の判定を
より正確に行い得る。例えば、欠陥の位置や大きさ等に
よって、被検査物（１）の欠陥のグレード分けをするこ
とも可能であろう。
通常５０枚位の被検査物（１）の画像を記録できるので
、検査中或いは検査終了後に、第１図に示す如く、記録
媒体（１０）より画像再生部（１１）によってその記録
画像信号を再生し、それをモニタ（１２）に映し出し、
これをプリンタ（７）により打出された展開表（９）と
共に見較べれば、被検査物〔１〕の欠陥の合否の判定を
より正確に行い得る。例えば、欠陥の位置や大きさ等に
よって、被検査物（１）の欠陥のグレード分けをするこ
とも可能であろう。
上述は、本発明の一実施例に就いてであるが、本発明は
これに限定されるものではなく、その他種々の変化、変
更が当該業者により成し得ることは、明らかであろう。
これに限定されるものではなく、その他種々の変化、変
更が当該業者により成し得ることは、明らかであろう。
図に於て、（１）は被検査物、（２）は撮像カメラ、（
３）は検査機、（４）は欠陥検出部、（５）は画像処理
部、（６）は合成部、（７）はプリンタ、（８）は画像
信号記録部、（９）は展開表、（１０）は記録媒体、（
１１）は画像再生部、（１２）はモニタを夫々示す。
３）は検査機、（４）は欠陥検出部、（５）は画像処理
部、（６）は合成部、（７）はプリンタ、（８）は画像
信号記録部、（９）は展開表、（１０）は記録媒体、（
１１）は画像再生部、（１２）はモニタを夫々示す。
本発明においては、走行する金属或いは紙、布の如き帯
状の被検査物の表面の検査において、検査ラインを停止
或いは減速することなく、随時発生する欠陥に対して、
被検査物の表面の画像とその欠陥データとを記録してお
き、必要な時に欠陥情報を見て、その合否の判定を下す
ことができるので、生産管理の上で大変有効である。
状の被検査物の表面の検査において、検査ラインを停止
或いは減速することなく、随時発生する欠陥に対して、
被検査物の表面の画像とその欠陥データとを記録してお
き、必要な時に欠陥情報を見て、その合否の判定を下す
ことができるので、生産管理の上で大変有効である。
第１図は本発明の一実施例を示す系統的ブロック図、第
２図はその展開表の上面図である。
２図はその展開表の上面図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、被検査物を撮像カメラで撮映し、それよりの画像信
号を欠陥検出部を有する検査機で処理して上記被検査物
の表面に欠陥が在るか否かを検査する物体の表面検査装
置に於て、 上記被検査物の送出手段に関連して該被検査物の送給量
情報を発生する位置情報発生手段を設けると共に、 画像処理部を設け、該画像処理部に上記位置情報発生手
段及び上記欠陥検出部よりの位置情報及び検出信号を共
に供給し、欠陥の大小、その上記被検査物の幅及び長さ
方向の両位置を示すデータを発生し、 該データをプリンタに供給し、これにより上記欠陥の大
小及び両位置を示す展開表を記録材上に印字するように
なしたことを特徴とする物体の表面検査装置。 ２、被検査物を撮像カメラで撮映し、それよりの画像信
号を欠陥検出部を有する検査機で処理して上記被検査物
の表面に欠陥が在るか否かを検査する物体の表面検査装
置に於て、 上記被検査物の送出手段に関連して該被検査物の送給量
情報を発生する位置情報発生手段を設けると共に、 画像処理部を設け、該画像処理部に上記位置情報発生手
段及び上記欠陥検出部よりの位置情報及び検出信号を共
に供給し、欠陥の大小、その上記被検査物の幅及び長さ
方向の両位置を示すデータを発生し、 上記撮像カメラよりのビデオ信号及び上記画像処理部よ
りのデータを合成部に供給して上記ビデオ信号及びデー
タの合成信号を作り、 該合成信号を画像信号記録部に供給してそこに記録し、 必要に応じて画像信号を上記画像信号記録部より再生し
モニタ上に表示するようになしたことを特徴とする物体
の表面検査装置。 ３、被検査物を撮像カメラで撮映し、それよりの画像信
号を欠陥検出部を有する検査機で処理して上記被検査物
の表面に欠陥が在るか否かを検査する物体の表面検査装
置に於て、 上記被検査物の送出手段に関連して該被検査物の送給量
情報を発生する位置情報発生手段を設けると共に、 画像処理部を設け、該画像処理部に上記位置情報発生手
段及び上記欠陥検出部よりの位置情報及び検出信号を共
に供給し、欠陥の大小、その上記被検査物の幅及び長さ
方向の両位置を示すデータを発生し、 該データをプリンタに供給し、これにより上記欠陥の大
小及び両位置を示す展開表を記録材上に印字する一方、
上記撮像カメラよりのビデオ信号及び上記画像処理部よ
りのデータを合成部に供給して上記ビデオ信号及びデー
タの合成信号を作り、 該合成信号を画像信号記録部に供給してそこに記録し、 必要に応じて画像信号を上記画像信号記録部より再生し
モニタ上に表示するようになしたことを特徴とする物体
の表面検査装置。
Priority Applications (7)
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|---|---|---|---|
| JP1328917A JPH03188358A (ja) | 1989-12-19 | 1989-12-19 | 物体の表面検査装置 |
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| GB9027284A GB2239946A (en) | 1989-12-19 | 1990-12-17 | Detection of surface defects |
| DE4040494A DE4040494A1 (de) | 1989-12-19 | 1990-12-18 | Vorrichtung zur pruefung der oberflaeche von gegenstaenden |
| FR9015937A FR2656088A1 (fr) | 1989-12-19 | 1990-12-19 | Appareil de controle de surface pour des substances. |
| AU68358/90A AU6835890A (en) | 1989-12-19 | 1990-12-19 | Surface inspection apparatus for substances |
| US08/563,132 US5680473A (en) | 1989-12-19 | 1995-11-27 | Surface inspection device |
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|---|---|---|---|
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|---|---|
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| GB (1) | GB2239946A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006054545A1 (ja) * | 2004-11-19 | 2006-05-26 | Daicel Chemical Industries, Ltd. | 自動判別装置及び自動判別方法 |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0581408A (ja) * | 1991-09-19 | 1993-04-02 | Hiyuutec:Kk | 欠点画像表示方法 |
| DE69324557T2 (de) * | 1992-12-31 | 1999-09-23 | Zellweger Uster, Inc. | Kontinuierliche zweidimensionale Überwachung von dünnem Gewebe textilen Materials |
| NL9500151A (nl) * | 1995-01-27 | 1996-09-02 | Stork Contiweb | Werkwijze en inrichting voor het op fouten inspecteren van een materiaalbaan, toepassing van de werkwijze bij het voorbereiden van een voorraadrol in een rollenwisselaar en rollenwisselaar voorzien van een dergelijke inrichting. |
| US5717456A (en) * | 1995-03-06 | 1998-02-10 | Champion International Corporation | System for monitoring a continuous manufacturing process |
| DE19510753A1 (de) * | 1995-03-24 | 1996-09-26 | Will E C H Gmbh & Co | Vorrichtung zum Messen von Papierbögen |
| US5982500A (en) * | 1995-05-07 | 1999-11-09 | Platsch; Hans Georg | Device for measuring the surface of a print product |
| MX9603554A (es) * | 1996-08-21 | 1998-04-30 | Servicios Condumex Sa | Dispositivo sensor de conteo y dimensionamiento de grietas y burbujas superficiales en barra de cobre durante el proceso de colada continua. |
| US6259109B1 (en) * | 1997-08-27 | 2001-07-10 | Datacube, Inc. | Web inspection system for analysis of moving webs |
| KR100568973B1 (ko) * | 1999-03-18 | 2006-04-07 | 제이에프이 스틸 가부시키가이샤 | 결함 마킹방법 및 장치 |
| US6415045B1 (en) * | 1999-05-10 | 2002-07-02 | Wagner Systems Corporation | Papermaking fabric analysis report |
| JP3454753B2 (ja) * | 1999-06-02 | 2003-10-06 | 株式会社キリンテクノシステム | 画像処理による自動検査装置 |
| JP2001358928A (ja) * | 2000-06-15 | 2001-12-26 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像修正装置 |
| JP2002024802A (ja) * | 2000-07-04 | 2002-01-25 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 画像処理システム |
| US20030118230A1 (en) * | 2001-12-22 | 2003-06-26 | Haoshi Song | Coiled tubing inspection system using image pattern recognition |
| CN103354781B (zh) * | 2010-12-23 | 2016-03-23 | 倍耐力轮胎股份公司 | 在轮胎构建处理中用于控制半成品的生产和供给的方法和设备 |
| CN102628812B (zh) * | 2012-03-27 | 2014-05-28 | 首钢总公司 | 一种自动判定子卷表面质量等级的方法 |
| TWI622725B (zh) * | 2012-10-13 | 2018-05-01 | 恩特葛瑞斯股份有限公司 | 用於流體分配閥之光電檢測品質確保系統 |
| CN103901043B (zh) * | 2012-12-24 | 2017-03-01 | 台达电子工业股份有限公司 | 检查设备 |
| CN103207186A (zh) * | 2013-04-08 | 2013-07-17 | 北京经纬纺机新技术有限公司 | 自动验布机疵点检测识别方法及其系统 |
| CN104198499B (zh) * | 2014-08-18 | 2017-10-17 | 佛山市钧杰金属材料有限公司 | 一种可标识的板带材表面缺陷在线检测系统 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50155285A (ja) * | 1974-06-04 | 1975-12-15 | ||
| JPS55117903A (en) * | 1979-03-06 | 1980-09-10 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Check unit of steel billet surface |
| JPS6217646A (ja) * | 1985-07-16 | 1987-01-26 | Mitsubishi Electric Corp | 表面状態表示装置 |
| JPS6219740A (ja) * | 1985-07-18 | 1987-01-28 | Mitsubishi Electric Corp | 表面状態表示装置 |
Family Cites Families (27)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4969038A (en) * | 1963-03-11 | 1990-11-06 | Lemelson Jerome H | Method for scanning image information |
| US5128753A (en) * | 1954-12-24 | 1992-07-07 | Lemelson Jerome H | Method and apparatus for scaning objects and generating image information |
| NL277194A (ja) * | 1961-04-14 | 1900-01-01 | ||
| FR1548431A (ja) * | 1967-09-08 | 1968-12-06 | ||
| CH502596A (de) * | 1967-11-15 | 1971-01-31 | Bayer Ag | Vorrichtung zum Feststellen von Streifen auf einer laufenden Bahn bei der Herstellung von Fotopapieren und -filmen |
| DE1951925A1 (de) * | 1969-10-15 | 1971-05-06 | Fernseh Gmbh | Verfahren zur UEberwachung der Oberflaechen von bewegten Gegenstaenden |
| US3955179A (en) * | 1971-12-14 | 1976-05-04 | Tore Planke | Apparatus for automatic pattern recognition and registration of empty bottles |
| NO135609C (ja) * | 1975-06-03 | 1977-05-11 | Tore Planke | |
| US4197011A (en) * | 1977-09-22 | 1980-04-08 | Rca Corporation | Defect detection and plotting system |
| US4296405A (en) * | 1978-05-02 | 1981-10-20 | Gulf & Western Corporation | Device for converting analog signals from a natural leaf scanner into digital signals and method of operating same |
| DE2932660A1 (de) * | 1979-08-11 | 1981-02-26 | Feldmuehle Ag | Verfahren und vorrichtung zum definieren der fehlerart |
| JPS6333160Y2 (ja) * | 1980-09-27 | 1988-09-05 | ||
| US4414566A (en) * | 1981-04-03 | 1983-11-08 | Industrial Automation Corporation | Sorting and inspection apparatus and method |
| JPS58165042A (ja) * | 1982-03-25 | 1983-09-30 | Toshiba Corp | 表面疵検査装置 |
| US4500202A (en) * | 1982-05-24 | 1985-02-19 | Itek Corporation | Printed circuit board defect detection of detecting maximum line width violations |
| GB2129547B (en) * | 1982-11-02 | 1986-05-21 | Cambridge Instr Ltd | Reticle inspection |
| JPS5987081A (ja) * | 1982-11-09 | 1984-05-19 | 池上通信機株式会社 | 外観品位検査方式 |
| DE3347645C1 (de) * | 1983-12-30 | 1985-10-10 | Dr.-Ing. Ludwig Pietzsch Gmbh & Co, 7505 Ettlingen | Verfahren und Einrichtung zum opto-elektronischen Pruefen eines Flaechenmusters an einem Objekt |
| FR2559581B1 (fr) * | 1984-02-10 | 1986-07-11 | Siderurgie Fse Inst Rech | Procede et installation de detection de defauts de surface sur une bande en cours de defilement |
| US4679075A (en) * | 1985-04-29 | 1987-07-07 | Emhart Industries, Inc. | Glassware inspection using optical streak detection |
| US4969199A (en) * | 1986-02-28 | 1990-11-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Apparatus for inspecting the molded case of an IC device |
| DE3750285T2 (de) * | 1986-10-03 | 1995-03-30 | Omron Tateisi Electronics Co | Gerät zur Untersuchung einer elektronischen Vorrichtung in fester Baugruppe. |
| US5007096A (en) * | 1987-02-18 | 1991-04-09 | Hajime Industries Ltd. | Object inspection apparatus |
| DE3734294A1 (de) * | 1987-10-09 | 1989-04-27 | Sick Optik Elektronik Erwin | Optische oberflaechen-inspektionsvorrichtung |
| US4972494A (en) * | 1988-02-26 | 1990-11-20 | R. J. Reynolds Tobacco Company | Package inspection system |
| DE3810349A1 (de) * | 1988-03-26 | 1989-10-05 | Agfa Gevaert Ag | Verfahren sowie anordnung zur darstellung von oberflaechenfehlern an aufzeichnungstraegern |
| US5046111A (en) * | 1989-02-09 | 1991-09-03 | Philip Morris Incorporated | Methods and apparatus for optically determining the acceptability of products |
-
1989
- 1989-12-19 JP JP1328917A patent/JPH03188358A/ja active Pending
-
1990
- 1990-12-14 CA CA002032349A patent/CA2032349A1/en not_active Abandoned
- 1990-12-17 GB GB9027284A patent/GB2239946A/en not_active Withdrawn
- 1990-12-18 DE DE4040494A patent/DE4040494A1/de not_active Withdrawn
- 1990-12-19 AU AU68358/90A patent/AU6835890A/en not_active Abandoned
- 1990-12-19 FR FR9015937A patent/FR2656088A1/fr not_active Withdrawn
-
1995
- 1995-11-27 US US08/563,132 patent/US5680473A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50155285A (ja) * | 1974-06-04 | 1975-12-15 | ||
| JPS55117903A (en) * | 1979-03-06 | 1980-09-10 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Check unit of steel billet surface |
| JPS6217646A (ja) * | 1985-07-16 | 1987-01-26 | Mitsubishi Electric Corp | 表面状態表示装置 |
| JPS6219740A (ja) * | 1985-07-18 | 1987-01-28 | Mitsubishi Electric Corp | 表面状態表示装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006054545A1 (ja) * | 2004-11-19 | 2006-05-26 | Daicel Chemical Industries, Ltd. | 自動判別装置及び自動判別方法 |
| GB2435325A (en) * | 2004-11-19 | 2007-08-22 | Daicel Chem | Automatic judging device and automatic judging method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CA2032349A1 (en) | 1991-06-20 |
| GB2239946A (en) | 1991-07-17 |
| DE4040494A1 (de) | 1991-06-20 |
| US5680473A (en) | 1997-10-21 |
| AU6835890A (en) | 1991-06-27 |
| GB9027284D0 (en) | 1991-02-06 |
| FR2656088A1 (fr) | 1991-06-21 |
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