JP6994480B2 - ハードマスク組成物、ハードマスク層およびパターン形成方法 - Google Patents
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Description
R1~R5は、それぞれ独立して、水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、置換もしくは非置換の炭素数1~10のアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルケニル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルキニル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数7~30のアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~20のヘテロアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数6~30のアリール基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のヘテロアリール基、またはこれらの組み合わせであり、
この際、R1~R5のうち少なくとも一つは、一つ以上のヒドロキシ基を有する炭素数6~30のアリール基または一つ以上のヒドロキシ基を有する炭素数3~30のヘテロアリール基である。
R1~R5は、それぞれ独立して、水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、置換もしくは非置換の炭素数1~10のアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルケニル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルキニル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数7~30のアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~20のヘテロアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数6~30のアリール基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のヘテロアリール基またはこれらの組み合わせであり、
この際、R1~R5のうち少なくとも一つは、一つ以上のヒドロキシ基を有する炭素数6~30のアリール基または一つ以上のヒドロキシ基を有する炭素数3~30のヘテロアリール基である。
R1~R4は、それぞれ独立して、水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、置換もしくは非置換の炭素数1~10のアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルケニル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルキニル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数7~30のアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~20のヘテロアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数6~30のアリール基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のヘテロアリール基またはこれらの組み合わせであり、
R1~R4のうち少なくとも一つは、一つ以上のヒドロキシ基を有する炭素数6~30のアリール基または一つ以上のヒドロキシ基を有する炭素数3~30のヘテロアリール基である。
R1~R3およびR5は、それぞれ独立して、水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、置換もしくは非置換の炭素数1~10のアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルケニル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルキニル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数7~30のアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~20のヘテロアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数6~30のアリール基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のヘテロアリール基、またはこれらの組み合わせであり、
この際、R1~R3およびR5のうち少なくとも一つは、一つ以上のヒドロキシ基を有する炭素数6~30のアリール基または一つ以上のヒドロキシ基を有する炭素数3~30のヘテロアリール基である。
R6~R10は、それぞれ独立して、水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、置換もしくは非置換の炭素数1~10のアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルケニル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルキニル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数7~30のアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~20のヘテロアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数6~30のアリール基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のヘテロアリール基またはこれらの組み合わせであり、
この際、R6~R10のうち少なくとも一つは、一つ以上のヒドロキシ基を有する炭素数6~30のアリール基または一つ以上のヒドロキシ基を有する炭素数3~30のヘテロアリール基である。
R6~R10は、それぞれ独立して、水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、置換もしくは非置換の炭素数1~10のアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルケニル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルキニル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数7~30のアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~20のヘテロアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数6~30のアリール基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のヘテロアリール基、またはこれらの組み合わせであり、
この際、R6~R10のうち少なくとも一つは、一つ以上のヒドロキシ基を有する炭素数6~30のアリール基または一つ以上のヒドロキシ基を有する炭素数3~30のヘテロアリール基である。
R6~R10は、それぞれ独立して、水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、置換もしくは非置換の炭素数1~10のアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルケニル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルキニル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数7~30のアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~20のヘテロアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数6~30のアリール基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のヘテロアリール基、またはこれらの組み合わせであり、
この際、R6~R10のうち少なくとも一つは、一つ以上のヒドロキシ基を有する炭素数6~30のアリール基または一つ以上のヒドロキシ基を有する炭素数3~30のヘテロアリール基である。
R1~R5は、それぞれ独立して、水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、置換もしくは非置換の炭素数1~10のアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルケニル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルキニル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数7~30のアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~20のヘテロアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数6~30のアリール基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のヘテロアリール基、またはこれらの組み合わせであり、
この際、R1~R5のうち少なくとも一つは、一つ以上のヒドロキシ基を有する炭素数6~30のアリール基または一つ以上のヒドロキシ基を有するヘテロアリール基である。
R1~R4は、前述の通りである。
R1~R3およびR5は、前述の通りである。
R6~R10は、それぞれ独立して、水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、置換もしくは非置換の炭素数1~10のアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルケニル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルキニル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数7~30のアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~20のヘテロアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数6~30のアリール基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のヘテロアリール基、またはこれらの組み合わせであり、
この際、R6~R10のうち少なくとも一つは、一つ以上のヒドロキシ基を有する炭素数6~30のアリール基または一つ以上のヒドロキシ基を有する炭素数3~30のヘテロアリール基である。
R6~R10は、前述の通りである。
(合成例1:1-ブロモ-4-(2-フェニルエチニル)ベンゼンの合成)
真空オーブンで乾燥した1Lの丸底フラスコに攪拌子を入れ、ビス(トリフェニルホスフィン)パラジウム(II)ジクロリド(1.4g)、ヨウ化銅(I)(0.38g)、および体積比1対1のトリエチルアミン/テトラヒドロフラン混合溶液(0.4L)を入れ、窒素ガスで30分間バブリングした。その後、1-ブロモ-4-ヨードベンゼン(28.3g)およびフェニルアセチレン(12.3g)を入れた後、窒素雰囲気下で24時間攪拌して合成反応を進行させた。反応混合物をろ過し濃縮した後、ヘキサンを展開溶媒に用いたシリカゲルカラムクロマトグラフィーを用いて反応混合物を精製し、1-ブロモ-4-(2-フェニルエチニル)ベンゼンを得た(収率99%):
(1H NMR(300MHz、DMSO-d6)δ(ppm):7.64(d、3JHH=8.4Hz、2H)、7.57(m、2H)、7.51(d、3JHH=8.4Hz、2H)、7.44(m、3H))。
フェニルアセチレン(12.3g)の代わりに4-エチニルフェノール(14.2g)を使用して合成し、ヘキサンの代わりにヘキサン/酢酸エチル混合溶液を展開溶媒に用いて混合物を精製したことを除いては、合成例1と同様の方法で、4-[2-(4-ブロモフェニル)エチニル]フェノールを得た(収率90%)。
1-ブロモ-4-ヨードベンゼン(28.3g)の代わりに1-ブロモ-3-ヨードベンゼン(28.3g)を使用して合成したことを除いては、合成例1と同様の方法で、1-ブロモ-3-(2-フェニルエチニル)ベンゼンを得た(収率99%):
(1H NMR(300MHz、DMSO-d6)δ(ppm):7.77(dd、3JHH=1.5Hz、3JHH=1.5Hz、1H)、7.50-7.70(m、4H)、7.32-7.48(m、4H))。
1-ブロモ-4-ヨードベンゼン(28.3g)の代わりに1-ブロモ-3-ヨードベンゼン(28.3g)を、フェニルアセチレン(12.3g)の代わりに5-エチニルピリミジン(12.5g)をそれぞれ使用して合成し、ヘキサンの代わりにヘキサン/酢酸エチル混合溶液を展開溶媒に用いて混合物を精製したことを除いては、合成例1と同様の方法で、5-[2-(3-ブロモフェニル)エチニル]ピリミジンを得た(収率95%)。
1-ブロモ-4-ヨードベンゼン(28.3g)の代わりに1-ブロモ-3-ヨードベンゼン(28.3g)を、フェニルアセチレン(12.3g)の代わりに5-エチニル-1H-インドール(16.9g)をそれぞれ使用して合成し、ヘキサンの代わりにヘキサン/酢酸エチル混合溶液を展開溶媒に用いて混合物を精製したことを除いては、合成例1と同様の方法で、5-[2-(3-ブロモフェニル)エチニル]-1H-インドールを得た(収率92%)。
真空オーブンで乾燥した1Lの丸底フラスコに攪拌子を入れ、1-ブロモ-4-(2-フェニルエチニル)ベンゼン(25.7g)、ヨウ素(12.7g)、およびN,N’-ジメチルスルホキシド(0.4L)を入れて、コンデンサを連結した後、6時間還流する。以降、混合物をチオ硫酸ナトリウム水溶液(1M、0.5L)で希釈した後、再び酢酸エチル(1L)で希釈した。希釈後、蒸留水(1回1Lずつ3回)で抽出し、有機層を硫酸ナトリウム無水物で乾燥した。混合物をろ過し濃縮して、100%の収率で4-ブロモベンジルを得た:
(1H NMR(300MHz、DMSO-d6)δ(ppm):7.94(d、3JHH=7.2Hz、2H)、7.86(s、4H)、7.81(dd、3JHH=7.5Hz、3JHH=7.2Hz、1H)、7.63(dd、3JHH=7.5Hz、3JHH=7.5Hz、2H))。
1-ブロモ-4-(2-フェニルエチニル)ベンゼン(25.7g)の代わりに4-[2-(4-ブロモフェニル)エチニル]フェノール(27.3g)を使用して合成したことを除いては、合成例6と同様の方法で、100%の収率で1-(4-ブロモフェニル)-2-(4-ヒドロキシフェニル)-1,2-エタンジオンを得た。
1-ブロモ-4-(2-フェニルエチニル)ベンゼン(25.7g)の代わりに1-ブロモ-3-(2-フェニルエチニル)ベンゼン(25.7g)を使用して合成したことを除いては、合成例6と同様の方法で3-ブロモベンジルを得た(収率84%):
(1H NMR(300MHz、DMSO-d6)δ(ppm):8.09(dd、3JHH=1.8Hz、3JHH=1.5Hz、1H)、8.01(ddd、3JHH=7.8Hz、3JHH=1.8Hz、3JHH=0.9Hz、1H)、7.96(m、2H)、7.92(ddd、3JHH=7.8Hz、3JHH=0.9Hz、3JHH=0.9Hz、1H)、7.82(m、1H)、7.55-7.70(m、3H))。
1-ブロモ-4-(2-フェニルエチニル)ベンゼン(25.7g)の代わりに5-[2-(3-ブロモフェニル)エチニル]ピリミジン(25.9g)を使用して合成したことを除いては、合成例6と同様の方法で、1-(5-ピリミジル)-2-(3-ブロモフェニル)-1,2-エタンジオンを得た(収率78%)。
1-ブロモ-4-(2-フェニルエチニル)ベンゼン(25.7g)の代わりに5-[2-(3-ブロモフェニル)エチニル]-1H-インドール(29.6g)を使用して合成したことを除いては、合成例6と同様の方法で、1-(5-1H-インドール)-2-(3-ブロモフェニル)-1,2-エタンジオンを得た(収率75%)。
真空オーブンで乾燥した1Lの二口丸底フラスコに攪拌子を入れ、合成例8で得られた3-ブロモベンジル(28.9g)、1,3-ジフェニル-2-プロパノン(25.2g)、および無水エタノール(300mL)を入れた後、1時間還流しながら攪拌した。その後、混合溶液に水酸化カリウム(1.4g)を無水エタノール(7mL)に溶かした溶液を注射器でゆっくり滴下し、45分間還流しながら攪拌した。反応混合物を酢酸エチル(1L)で希釈し、蒸留水(1回1Lずつ3回)で洗浄した。以降、有機層を硫酸マグネシウム無水物で乾燥してろ過して濃縮した。濃縮した混合物を10%酢酸エチル/ヘキサンを展開溶媒に用いたシリカゲルカラムクロマトグラフィーを用いて精製して3-(3-ブロモフェニル)-2,4,5-トリフェニル-2,4-シクロペンタジエン-1-オンを得た(収率70%):
(1H NMR(300MHz、DMSO-d6)δ(ppm):7.47(d、3JHH=8.1Hz、1H)、7.10-7.38(m、15H)、6.95-7.05(m、3H))。
合成例8で得られた3-ブロモベンジル(28.9g)の代わりに合成例6で得られた4-ブロモベンジル(28.9g)を使用して合成したことを除いては、合成例11と同様の方法で、3-(4-ブロモフェニル)-2,4,5-トリフェニル-2,4-シクロペンタジエン-1-オンを得た(収率75%):
(1H NMR(300MHz、DMSO-d6)δ(ppm):7.47(d、3JHH=8.4Hz、2H)、7.10-7.38(m、15H)、6.93(d、3JHH=8.4Hz、2H))。
合成例8で得られた3-ブロモベンジル(28.9g)の代わりに合成例7で得られた1-(4-ブロモフェニル)-2-(4-ヒドロキシフェニル)-1,2-エタンジオン(30.5g)を使用して合成したことを除いては、合成例11と同様の方法で、3-(4-ブロモフェニル)-4-(4-ヒドロキシフェニル)-2,5-ジフェニル-2,4-シクロペンタジエン-1-オンを得た(収率72%)。
1,3-ジフェニル-2-プロパノン(25.2g)の代わりに1,3-ジ(4-ヒドロキシフェニル)-2-プロパノン(29.0g)を使用して合成したことを除いては、合成例11と同様の方法で、3-(3-ブロモフェニル)-2,5-ジ(4-ヒドロキシフェニル)-4-フェニル-2,4-シクロペンタジエン-1-オンを得た(収率65%)。
合成例8で得られた3-ブロモベンジル(28.9g)の代わりに合成例9で得られた1-(5-ピリミジル)-2-(3-ブロモフェニル)-1,2-エタンジオン(29.1g)を、1,3-ジフェニル-2-プロパノン(25.2g)の代わりに1,3-ジ(4-ヒドロキシフェニル)-2-プロパノン(29.0g)をそれぞれ使用して合成したことを除いては、合成例11と同様の方法で、3-(3-ブロモフェニル)-2,5-ジ(4-ヒドロキシフェニル)-4-(5-ピリミジル)-2,4-シクロペンタジエン-1-オンを得た(収率67%)。
合成例8で得られた3-ブロモベンジル(28.9g)の代わりに合成例10で得られた1-(5-1H-インドール)-2-(3-ブロモフェニル)-1,2-エタンジオン(32.8g)を、1,3-ジフェニル-2-プロパノン(25.2g)の代わりに1,3-ジ(4-ヒドロキシフェニル)-2-プロパノン(29.0g)をそれぞれ使用して合成したことを除いては、合成例11と同様の方法で、3-(3-ブロモフェニル)-2,5-ジ(4-ヒドロキシフェニル)-4-(5-1H-インドール)-2,4-シクロペンタジエン-1-オンを得た(収率60%)。
合成例8で得られた3-ブロモベンジル(28.9g)の代わりに合成例6で得られた4、4’-ジブロモベンジル(36.8g)を使用して合成したことを除いては、合成例11と同様の方法で、3,4-ジ(4-ブロモフェニル)-2,5-ジフェニル-2,4-シクロペンタジエン-1-オンを得た(収率74%):
(1H NMR(300MHz、DMSO-d6)δ(ppm):7.48(d、3JHH=8.4Hz、4H)、7.10-7.38(m、10H)、6.94(d、3JHH=8.4Hz、4H))。
合成例8で得られた3-ブロモベンジル(28.9g)の代わりに合成例6で得られた4、4’-ジブロモベンジル(36.8g)を、1,3-ジフェニル-2-プロパノン(25.2g)の代わりに1,3-ジ(4-ヒドロキシフェニル)-2-プロパノン(29.0g)をそれぞれ使用して合成したことを除いては、合成例11と同様の方法で、3,4-ジ(4-ブロモフェニル)-2,5-ジ(4-ヒドロキシフェニル)-2,4-シクロペンタジエン-1-オンを得た(収率69%)。
真空オーブンで乾燥した1Lの二口丸底フラスコに攪拌子を入れて、合成例11で得られた3-(3-ブロモフェニル)-2,4,5-トリフェニル-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(46.3g)、ビス(トリフェニルホスフィン)パラジウム(II)ジクロリド(1.4g)、ヨウ化銅(I)(0.38g)、および体積比1対1のトリエチルアミン/テトラヒドロフラン混合溶液(0.5L)を入れ、窒素ガスで30分間バブリングした。次に、(トリメチルシリル)アセチレン(29.5g)を入れ、窒素雰囲気下で24時間還流しながら攪拌して合成を進行させた。反応混合物をろ過紙でろ過して1Lの丸底フラスコに濃縮した後、前記1Lの丸底フラスコに炭酸カリウム(41.5g)を入れて体積比1対1のメタノール/テトラヒドロフラン混合溶液(0.5L)で希釈した。希釈した溶液に攪拌子を入れ30分間強く攪拌した後、ろ過紙でろ過して1Lの丸底フラスコに濃縮した。混合物を酢酸エチル(1L)で希釈し、蒸留水(1回1Lずつ3回)で洗浄した。有機層を硫酸マグネシウム無水物で乾燥しろ過した後、濃縮した。濃縮した混合物を10%酢酸エチル/ヘキサンを展開溶媒に用いたシリカゲルカラムクロマトグラフィーを用いて精製して、3-(3-エチニルフェニル)-2,4,5-トリフェニル-2,4-シクロペンタジエン-1-オンを得た(収率60%)。
真空オーブンで乾燥した1Lの二口丸底フラスコに攪拌子を入れ、合成例12で得られた3-(4-ブロモフェニル)-2,4,5-トリフェニル-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(46.3g)、ビス(トリフェニルホスフィン)パラジウム(II)ジクロリド(1.4g)、ヨウ化銅(I)(0.38g)、および体積比1対1のトリエチルアミン/テトラヒドロフラン混合溶液(0.5L)を入れて、窒素ガスで30分間バブリングした。次に、フェニルアセチレン(12.2g)を入れて、窒素雰囲気下で24時間還流しながら攪拌して合成を進行させた。反応混合物をろ過紙でろ過して濃縮した後、酢酸エチル(1L)で希釈し、蒸留水(1回1Lずつ3回)で洗浄した。有機層を硫酸マグネシウム無水物で乾燥しろ過した後、濃縮した。濃縮した混合物を10%酢酸エチル/ヘキサンを展開溶媒に用いたシリカゲルカラムクロマトグラフィーを用いて精製して2,3,5-トリフェニル-4-[4-(2-フェニルエチニル)フェニル]-2,4-シクロペンタジエン-1-オンを得た(収率93%):
(1H NMR(300MHz、DMSO-d6)δ(ppm):7.49-7.57(m、2H)、7.37-7.46(m、5H)、7.22-7.34(m、9H)、7.14-7.22(m、4H)、7.00(d、3JHH=8.0Hz、4H))。
真空オーブンで乾燥した1Lの二口丸底フラスコに攪拌子を入れ、合成例17で得られた3,4-ジ(4-ブロモフェニル)-2,5-ジフェニル-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(54.2g)、ビス(トリフェニルホスフィン)パラジウム(II)ジクロリド(2.8g)、ヨウ化銅(I)(0.76g)、および体積比1対1のトリエチルアミン/テトラヒドロフラン混合溶液(0.5L)を入れて、窒素ガスで30分間バブリングした。次に、フェニルアセチレン(24.4g)を入れ、窒素雰囲気下で48時間還流しながら攪拌して合成を進行させた。反応混合物をろ過紙でろ過して濃縮した後、酢酸エチル(1L)で希釈し、蒸留水(1回1Lずつ3回)で洗浄した。有機層を硫酸マグネシウム無水物で乾燥しろ過した後、濃縮した。濃縮した混合物を10%酢酸エチル/ヘキサンを展開溶媒に用いたシリカゲルカラムクロマトグラフィーを用いて精製して、2,5-ジフェニル-3,4-ジ[4-(2-フェニルエチニル)フェニル]-2,4-シクロペンタジエン-1-オンを得た(収率85%)。
合成例11で得られた3-(3-ブロモフェニル)-2,4,5-トリフェニル-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(46.3g)の代わりに合成例14で得られた3-(3-ブロモフェニル)-2,5-ジ(4-ヒドロキシフェニル)-4-フェニル-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(49.5g)を使用して合成したことを除いては、合成例19と同様の方法で、2,5-ジ(4-ヒドロキシフェニル)-3-フェニル-4-(3-エチニルフェニル)-2,4-シクロペンタジエン-1-オンを得た(収率55%)。
合成例11で得られた3-(3-ブロモフェニル)-2,4,5-トリフェニル-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(46.3g)の代わりに合成例15で得られた3-(3-ブロモフェニル)-2,5-ジ(4-ヒドロキシフェニル)-4-(5-ピリミジル)-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(49.7g)を使用して合成したことを除いては、合成例19と同様の方法で、2,5-ジ(4-ヒドロキシフェニル)-3-(5-ピリミジル)-4-(3-エチニルフェニル)-2,4-シクロペンタジエン-1-オンを得た(収率48%)。
合成例11で得られた3-(3-ブロモフェニル)-2,4,5-トリフェニル-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(46.3g)の代わりに合成例16で得られた3-(3-ブロモフェニル)-2,5-ジ(4-ヒドロキシフェニル)-4-(5-1H-インドール)-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(53.4g)を使用して合成したことを除いては、合成例19と同様の方法で、2,5-ジ(4-ヒドロキシフェニル)-3-(5-1H-インドール)-4-(3-エチニルフェニル)-2,4-シクロペンタジエン-1-オンを得た(収率59%)。
フェニルアセチレン(12.2g)の代わりに4-エチニルフェノール(14.2g)を使用して合成したことを除いては、合成例20と同様の方法で、2,3,5-トリフェニル-4-{4-[2-(4-ヒドロキシフェニル)エチニル]フェニル}-2,4-シクロペンタジエン-1-オンを得た(収率90%):
(1H NMR(300MHz、DMSO-d6)δ(ppm):9.95(s、1H)、7.1-7.6(m、18H)、6.85-7.04(m、3H)、6.70-6.85(m、2H))。
フェニルアセチレン(12.5g)の代わりに5-エチニルピリミジン(12.5g)を使用し、合成例12で得られた3-(4-ブロモフェニル)-2,4,5-トリフェニル-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(46.3g)の代わりに合成例13で得られた3-(4-ブロモフェニル)-4-(4-ヒドロキシフェニル)-2,5-ジフェニル-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(47.9g)を使用して合成したことを除いては、合成例20と同様の方法で、2,5-ジフェニル-3-{4-[2-(5-ピリミジル)エチニル]フェニル}-4-(4-ヒドロキシフェニル)-2,4-シクロペンタジエン-1-オンを得た(収率88%)。
フェニルアセチレン(12.5g)の代わりに5-エチニル-1H-インドール(16.9g)を使用し、合成例12で得られた3-(4-ブロモフェニル)-2,4,5-トリフェニル-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(46.3g)の代わりに合成例13で得られた3-(4-ブロモフェニル)-4-(4-ヒドロキシフェニル)-2,5-ジフェニル-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(47.9g)を使用して合成したことを除いては、合成例20と同様の方法で、2,5-ジフェニル-3-{4-[2-(5-1H-インドール)エチニル]フェニル}-4-(4-ヒドロキシフェニル)-2,4-シクロペンタジエン-1-オンを得た(収率82%)。
合成例17で得られた3,4-ジ(4-ブロモフェニル)-2,5-ジフェニル-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(54.2g)の代わりに合成例18で得られた3,4-ジ(4-ブロモフェニル)-2,5-ジ(4-ヒドロキシフェニル)-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(57.5g)を使用して合成したことを除いては、合成例21と同様の方法で、2,5-ジ(4-ヒドロキシフェニル)-3,4-ジ[4-(2-フェニルエチニル)フェニル]-2,4-シクロペンタジエン-1-オンを得た(収率78%)。
(合成例29)
100mLの1口丸底フラスコに、テトラフェニルシクロペンタジエノン(3.84g)、合成例22で得られた2,5-ジ(4-ヒドロキシフェニル)-3-フェニル-4-(3-エチニルフェニル)-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(17.6g)、4-エチニルフェノール(1.18g)、および1-メチル-2-ピロリドン(33.9g)を入れ、12時間還流しながら攪拌して、下記の化学式e1で表される重合体を製造した(Mw:2,125)。
100mLの1口丸底フラスコに、テトラフェニルシクロペンタジエノン(3.84g)、合成例23で得られた2,5-ジ(4-ヒドロキシフェニル)-3-(5-ピリミジル)-4-(3-エチニルフェニル)-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(17.7g)、4-エチニルフェノール(1.18g)、および1-メチル-2-ピロリドン(34.1g)を入れて12時間還流しながら攪拌して、下記の化学式e2で表される重合体を製造した(Mw:2,132)。
100mLの1口丸底フラスコに、テトラフェニルシクロペンタジエノン(3.84g)、合成例24で得られた2,5-ジ(4-ヒドロキシフェニル)-3-(5-1H-インドール)-4-(3-エチニルフェニル)-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(19.2g)、4-エチニルフェノール(1.18g)、および1-メチル-2-ピロリドン(36.3g)を入れ、12時間還流しながら攪拌し、下記の化学式e3で表される重合体を製造した(Mw:2,281)。
100mLの1口丸底フラスコに、テトラフェニルシクロペンタジエノン(3.84g)、合成例25で得られた2,3,5-トリフェニル-4-{4-[2-(4-ヒドロキシフェニル)エチニル]フェニル}-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(20.0g)、4-(2-フェニルエチニル)フェノール(1.94g)、および1-メチル-2-ピロリドン(38.7g)を入れ、20時間還流しながら攪拌し、下記の化学式e4で表される重合体を製造した(Mw:2,441)。
100mLの1口丸底フラスコに、テトラフェニルシクロペンタジエノン(3.84g)、合成例26で得られた2,5-ジフェニル-3-{4-[2-(5-ピリミジル)エチニル]フェニル}-4-(4-ヒドロキシフェニル)-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(20.1g)、4-(2-フェニルエチニル)フェノール(1.94g)、および1-メチル-2-ピロリドン(38.8g)を入れ、20時間還流しながら攪拌し、下記の化学式e5で表される重合体を製造した(Mw:2,449)。
100mLの1口丸底フラスコに、テトラフェニルシクロペンタジエノン(3.84g)、合成例27で得られた2,5-ジフェニル-3-{4-[2-(5-1H-インドール)エチニル]フェニル}-4-(4-ヒドロキシフェニル)-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(21.6g)、4-(2-フェニルエチニル)フェノール(1.94g)および1-メチル-2-ピロリドン(41.1g)を入れ、20時間還流しながら攪拌して、下記の化学式e6で表される重合体を製造した(Mw:2,597)。
100mLの1口丸底フラスコに、テトラフェニルシクロペンタジエノン(3.84g)、合成例28で得られた2,5-ジ(4-ヒドロキシフェニル)-3,4-ジ[4-(2-フェニルエチニル)フェニル]-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(18.5g)、4-(2-フェニルエチニル)フェノール(1.94g)および1-メチル-2-ピロリドン(36.4g)を入れて20時間還流しながら攪拌して、下記の化学式e7で表される重合体を製造した(Mw:2,317)。
100mLの1口丸底フラスコに、テトラフェニルシクロペンタジエノン(3.84g)、合成例19で得られた3-(3-エチニルフェニル)-2,4,5-トリフェニル-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(16.3g)、フェニルアセチレン(1.02g)、および1-メチル-2-ピロリドン(31.7g)を入れ、12時間還流しながら攪拌して、下記の化学式e8で表される重合体を製造した(Mw:1,980)。
100mLの1口丸底フラスコに、テトラフェニルシクロペンタジエノン(3.84g)、合成例20で得られた2,3,5-トリフェニル-4-[4-(2-フェニルエチニル)フェニル]-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(19.4g)、ジフェニルアセチレン(1.78g)、および1-メチル-2-ピロリドン(37.5g)を入れ、20時間還流しながら攪拌して、下記の化学式e9で表される重合体を製造した(Mw:2,361)。
100mLの1口丸底フラスコに、テトラフェニルシクロペンタジエノン(3.84g)、合成例21で得られた2,5-ジフェニル-3,4-ジ[4-(2-フェニルエチニル)フェニル]-2,4-シクロペンタジエン-1-オン(17.5g)、ジフェニルアセチレン(1.78g)、および1-メチル-2-ピロリドン(34.7g)を入れ、20時間還流しながら攪拌して、下記の化学式e10で表される重合体を製造した(Mw:2,205)。
(実施例1)
前記合成例29で得られた重合体を、1-メトキシ-2-プロピルアセテート 56.6gに溶かし、ハードマスク組成物を得た。得られたハードマスク組成物をシリコンウェハーにスピンコーティングした後、窒素雰囲気下で、500℃で2分間熱処理して、厚さ4,000Åの有機膜を形成した。
前記合成例30で得られた重合体を、1-メトキシ-2-プロピルアセテート 56.8gに溶かし、ハードマスク組成物を得た。得られたハードマスク組成物をシリコンウェハーにスピンコーティングした後、窒素雰囲気下で、500℃で2分間熱処理して、厚さ4,000Åの有機膜を形成した。
前記合成例31で得られた重合体を、1-メトキシ-2-プロピルアセテート 60.6gに溶かし、ハードマスク組成物を得た。得られたハードマスク組成物をシリコンウェハーにスピンコーティングした後、窒素雰囲気下で、500℃で2分間熱処理して厚さ4,000Åの有機膜を形成した。
前記合成例32で得られた重合体を、1-メトキシ-2-プロピルアセテート 64.5gに溶かし、ハードマスク組成物を得た。得られたハードマスク組成物をシリコンウェハーにスピンコーティングした後、窒素雰囲気下で、500℃で2分間熱処理して厚さ4,000Åの有機膜を形成した。
前記合成例33で得られた重合体を、1-メトキシ-2-プロピルアセテート 64.7gに溶かし、ハードマスク組成物を得た。得られたハードマスク組成物をシリコンウェハーにスピンコーティングした後、窒素雰囲気下で、500℃で2分間熱処理して厚さ4,000Åの有機膜を形成した。
前記合成例34で得られた重合体を、1-メトキシ-2-プロピルアセテート 68.5gに溶かし、ハードマスク組成物を得た。得られたハードマスク組成物をシリコンウェハーにスピンコーティングした後、窒素雰囲気下で、500℃で2分間熱処理して、厚さ4,000Åの有機膜を形成した。
前記合成例35で得られた重合体を、1-メトキシ-2-プロピルアセテート 60.7gに溶かし、ハードマスク組成物を得た。得られたハードマスク組成物をシリコンウェハーにスピンコーティングした後、窒素雰囲気下で、500℃で2分間熱処理して、厚さ4,000Åの有機膜を形成した。
比較合成例1で得られた重合体を、1-メトキシ-2-プロピルアセテート52.9gに溶かし、ハードマスク組成物を得た。得られたハードマスク組成物をシリコンウェハーにスピンコーティングした後、窒素雰囲気下で、500℃で2分間熱処理して、厚さ4,000Åの有機膜を形成した。
比較合成例2で得られた重合体を、1-メトキシ-2-プロピルアセテート 62.6gに溶かし、ハードマスク組成物を得た。得られたハードマスク組成物をシリコンウェハーにスピンコーティングした後、窒素雰囲気下で、500℃で2分間熱処理して、厚さ4,000Åの有機膜を形成した。
比較合成例3で得られた重合体を、1-メトキシ-2-プロピルアセテート 57.8gに溶かし、ハードマスク組成物を得た。得られたハードマスク組成物をシリコンウェハーにスピンコーティングした後、窒素雰囲気下で、500℃で2分間熱処理して、厚さ4,000Åの有機膜を形成した。
実施例1~7および比較例1~3による有機膜の厚さを測定した。次に、有機膜にCFx混合ガスを用いて100秒間乾式エッチングした後、有機膜の厚さを再び測定した。
実施例1~7および比較例1~3による有機膜の厚さを測定した。次に、前記有機膜をKrF thinnerで1分間処理した後、残留有機膜の厚さを再び測定した。
Claims (13)
- 下記の化学式1または下記の化学式2で表される構造単位が連続して連結されている重合体および溶媒を含む、ハードマスク組成物:
前記化学式1および化学式2において、
R1~R 10 は、それぞれ独立して、水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、置換もしくは非置換の炭素数1~10のアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルケニル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルキニル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数7~30のアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~20のヘテロアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数6~30のアリール基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のヘテロアリール基、またはこれらの組み合わせであり、
この際、R1~R 10 のうち少なくとも一つは、ヒドロキシフェニル基、ヒドロキシナフチル基、ヒドロキシビフェニル基、ヒドロキシジフェニルフルオレニル基、ヒドロキシジナフチルフルオレニル基、ヒドロキシアントラセニル基、ヒドロキシフルオランテニル基、ヒドロキシアセナフチルレニル基、ヒドロキシアセナフテニル基、ヒドロキシフェナントレニル基、ヒドロキシベンゾフェナントレニル基、ヒドロキシピレニル基、ヒドロキシトリフェニレニル基、ヒドロキシクリセニル基、ヒドロキシテトラセニル基、ヒドロキシベンゾフルオランテニル基、ヒドロキシペリレニル基、ヒドロキシベンゾピレニル基、ヒドロキシナフトアントラセニル基、ヒドロキシペンタセニル基、ヒドロキシベンゾペリレニル基、ヒドロキシジベンゾピレニル基、ヒドロキシコロネニル基、
ヒドロキシピリジニル基、ヒドロキシピリミジル基、ヒドロキシトリアジニル基、ヒドロキシピロリル基、ヒドロキシイミダゾリル基、ヒドロキシピラゾリル基、ヒドロキシインドール基、ヒドロキシイソインドール基、ヒドロキシベンジミダゾリル基、ヒドロキシインダゾリル基、ヒドロキシフラニル基、ヒドロキシベンゾフラニル基、ヒドロキシチオフェニル基、ヒドロキシオキサゾリル基、ヒドロキシチアゾリル基、
ジヒドロキシフェニル基、ジヒドロキシナフチル基、ジヒドロキシビフェニル基、ジヒドロキシジフェニルフルオレニル基、ジヒドロキシジナフチルフルオレニル基、ジヒドロキシアントラセニル基、ジヒドロキシフルオランテニル基、ジヒドロキシアセナフチルレニル基、ジヒドロキシアセナフテニル基、ジヒドロキシフェナントレニル基、ジヒドロキシベンゾフェナントレニル基、ジヒドロキシピレニル基、ジヒドロキシトリフェニレニル基、ジヒドロキシクリセニル基、ジヒドロキシテトラセニル基、ジヒドロキシベンゾフルオランテニル基、ジヒドロキシペリレニル基、ジヒドロキシベンゾピレニル基、ジヒドロキシナフトアントラセニル基、ジヒドロキシペンタセニル基、ジヒドロキシベンゾペリレニル基、ジヒドロキシジベンゾピレニル基、ジヒドロキシコロネニル基、
ジヒドロキシピリジニル基、ジヒドロキシピリミジル基、ジヒドロキシトリアジニル基、ジヒドロキシピロリル基、ジヒドロキシイミダゾリル基、ジヒドロキシピラゾリル基、ジヒドロキシインドール基、ジヒドロキシイソインドール基、ジヒドロキシベンジミダゾリル基、ジヒドロキシインダゾリル基、ジヒドロキシフラニル基、ジヒドロキシベンゾフラニル基、ジヒドロキシチオフェニル基、ジヒドロキシオキサゾリル基、またはジヒドロキシチアゾリル基である。 - 前記化学式1において、R1~R4のうち少なくとも一つは、ヒドロキシフェニル基、ヒドロキシナフチル基、ヒドロキシビフェニル基、ヒドロキシジフェニルフルオレニル基、ヒドロキシジナフチルフルオレニル基、ヒドロキシアントラセニル基、ヒドロキシフルオランテニル基、ヒドロキシアセナフチルレニル基、ヒドロキシアセナフテニル基、ヒドロキシフェナントレニル基、ヒドロキシベンゾフェナントレニル基、ヒドロキシピレニル基、ヒドロキシトリフェニレニル基、ヒドロキシクリセニル基、ヒドロキシテトラセニル基、ヒドロキシベンゾフルオランテニル基、ヒドロキシペリレニル基、ヒドロキシベンゾピレニル基、ヒドロキシナフトアントラセニル基、ヒドロキシペンタセニル基、ヒドロキシベンゾペリレニル基、ヒドロキシジベンゾピレニル基、ヒドロキシコロネニル基、
ヒドロキシピリジニル基、ヒドロキシピリミジル基、ヒドロキシトリアジニル基、ヒドロキシピロリル基、ヒドロキシイミダゾリル基、ヒドロキシピラゾリル基、ヒドロキシインドール基、ヒドロキシイソインドール基、ヒドロキシベンジミダゾリル基、ヒドロキシインダゾリル基、ヒドロキシフラニル基、ヒドロキシベンゾフラニル基、ヒドロキシチオフェニル基、ヒドロキシオキサゾリル基、ヒドロキシチアゾリル基、
ジヒドロキシフェニル基、ジヒドロキシナフチル基、ジヒドロキシビフェニル基、ジヒドロキシジフェニルフルオレニル基、ジヒドロキシジナフチルフルオレニル基、ジヒドロキシアントラセニル基、ジヒドロキシフルオランテニル基、ジヒドロキシアセナフチルレニル基、ジヒドロキシアセナフテニル基、ジヒドロキシフェナントレニル基、ジヒドロキシベンゾフェナントレニル基、ジヒドロキシピレニル基、ジヒドロキシトリフェニレニル基、ジヒドロキシクリセニル基、ジヒドロキシテトラセニル基、ジヒドロキシベンゾフルオランテニル基、ジヒドロキシペリレニル基、ジヒドロキシベンゾピレニル基、ジヒドロキシナフトアントラセニル基、ジヒドロキシペンタセニル基、ジヒドロキシベンゾペリレニル基、ジヒドロキシジベンゾピレニル基、ジヒドロキシコロネニル基、
ジヒドロキシピリジニル基、ジヒドロキシピリミジル基、ジヒドロキシトリアジニル基、ジヒドロキシピロリル基、ジヒドロキシイミダゾリル基、ジヒドロキシピラゾリル基、ジヒドロキシインドール基、ジヒドロキシイソインドール基、ジヒドロキシベンジミダゾリル基、ジヒドロキシインダゾリル基、ジヒドロキシフラニル基、ジヒドロキシベンゾフラニル基、ジヒドロキシチオフェニル基、ジヒドロキシオキサゾリル基、またはジヒドロキシチアゾリル基である、請求項1に記載のハードマスク組成物。 - 前記化学式1において、R1~R4のうちの一つまたは二つは、ヒドロキシフェニル基、ヒドロキシナフチル基、ヒドロキシビフェニル基、ヒドロキシジフェニルフルオレニル基、ヒドロキシジナフチルフルオレニル基、ヒドロキシアントラセニル基、ヒドロキシフルオランテニル基、ヒドロキシアセナフチルレニル基、ヒドロキシアセナフテニル基、ヒドロキシフェナントレニル基、ヒドロキシベンゾフェナントレニル基、ヒドロキシピレニル基、ヒドロキシトリフェニレニル基、ヒドロキシクリセニル基、ヒドロキシテトラセニル基、ヒドロキシベンゾフルオランテニル基、ヒドロキシペリレニル基、ヒドロキシベンゾピレニル基、ヒドロキシナフトアントラセニル基、ヒドロキシペンタセニル基、ヒドロキシベンゾペリレニル基、ヒドロキシジベンゾピレニル基、ヒドロキシコロネニル基、
ヒドロキシピリジニル基、ヒドロキシピリミジル基、ヒドロキシトリアジニル基、ヒドロキシピロリル基、ヒドロキシイミダゾリル基、ヒドロキシピラゾリル基、ヒドロキシインドール基、ヒドロキシイソインドール基、ヒドロキシベンジミダゾリル基、ヒドロキシインダゾリル基、ヒドロキシフラニル基、ヒドロキシベンゾフラニル基、ヒドロキシチオフェニル基、ヒドロキシオキサゾリル基、ヒドロキシチアゾリル基、
ジヒドロキシフェニル基、ジヒドロキシナフチル基、ジヒドロキシビフェニル基、ジヒドロキシジフェニルフルオレニル基、ジヒドロキシジナフチルフルオレニル基、ジヒドロキシアントラセニル基、ジヒドロキシフルオランテニル基、ジヒドロキシアセナフチルレニル基、ジヒドロキシアセナフテニル基、ジヒドロキシフェナントレニル基、ジヒドロキシベンゾフェナントレニル基、ジヒドロキシピレニル基、ジヒドロキシトリフェニレニル基、ジヒドロキシクリセニル基、ジヒドロキシテトラセニル基、ジヒドロキシベンゾフルオランテニル基、ジヒドロキシペリレニル基、ジヒドロキシベンゾピレニル基、ジヒドロキシナフトアントラセニル基、ジヒドロキシペンタセニル基、ジヒドロキシベンゾペリレニル基、ジヒドロキシジベンゾピレニル基、ジヒドロキシコロネニル基、
ジヒドロキシピリジニル基、ジヒドロキシピリミジル基、ジヒドロキシトリアジニル基、ジヒドロキシピロリル基、ジヒドロキシイミダゾリル基、ジヒドロキシピラゾリル基、ジヒドロキシインドール基、ジヒドロキシイソインドール基、ジヒドロキシベンジミダゾリル基、ジヒドロキシインダゾリル基、ジヒドロキシフラニル基、ジヒドロキシベンゾフラニル基、ジヒドロキシチオフェニル基、ジヒドロキシオキサゾリル基、またはジヒドロキシチアゾリル基である、請求項2に記載のハードマスク組成物。 - 前記化学式1は、下記の化学式1-1~1-4のうちのいずれか一つで表される、請求項1~3のいずれか1項に記載のハードマスク組成物:
前記化学式1-1~化学式1-4において、
R1~R5は、それぞれ独立して、水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、置換もしくは非置換の炭素数1~10のアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルケニル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルキニル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数7~30のアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~20のヘテロアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数6~30のアリール基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のヘテロアリール基、またはこれらの組み合わせであり、
この際、R1~R5のうち少なくとも一つは、ヒドロキシフェニル基、ヒドロキシナフチル基、ヒドロキシビフェニル基、ヒドロキシジフェニルフルオレニル基、ヒドロキシジナフチルフルオレニル基、ヒドロキシアントラセニル基、ヒドロキシフルオランテニル基、ヒドロキシアセナフチルレニル基、ヒドロキシアセナフテニル基、ヒドロキシフェナントレニル基、ヒドロキシベンゾフェナントレニル基、ヒドロキシピレニル基、ヒドロキシトリフェニレニル基、ヒドロキシクリセニル基、ヒドロキシテトラセニル基、ヒドロキシベンゾフルオランテニル基、ヒドロキシペリレニル基、ヒドロキシベンゾピレニル基、ヒドロキシナフトアントラセニル基、ヒドロキシペンタセニル基、ヒドロキシベンゾペリレニル基、ヒドロキシジベンゾピレニル基、ヒドロキシコロネニル基、
ヒドロキシピリジニル基、ヒドロキシピリミジル基、ヒドロキシトリアジニル基、ヒドロキシピロリル基、ヒドロキシイミダゾリル基、ヒドロキシピラゾリル基、ヒドロキシインドール基、ヒドロキシイソインドール基、ヒドロキシベンジミダゾリル基、ヒドロキシインダゾリル基、ヒドロキシフラニル基、ヒドロキシベンゾフラニル基、ヒドロキシチオフェニル基、ヒドロキシオキサゾリル基、ヒドロキシチアゾリル基、
ジヒドロキシフェニル基、ジヒドロキシナフチル基、ジヒドロキシビフェニル基、ジヒドロキシジフェニルフルオレニル基、ジヒドロキシジナフチルフルオレニル基、ジヒドロキシアントラセニル基、ジヒドロキシフルオランテニル基、ジヒドロキシアセナフチルレニル基、ジヒドロキシアセナフテニル基、ジヒドロキシフェナントレニル基、ジヒドロキシベンゾフェナントレニル基、ジヒドロキシピレニル基、ジヒドロキシトリフェニレニル基、ジヒドロキシクリセニル基、ジヒドロキシテトラセニル基、ジヒドロキシベンゾフルオランテニル基、ジヒドロキシペリレニル基、ジヒドロキシベンゾピレニル基、ジヒドロキシナフトアントラセニル基、ジヒドロキシペンタセニル基、ジヒドロキシベンゾペリレニル基、ジヒドロキシジベンゾピレニル基、ジヒドロキシコロネニル基、
ジヒドロキシピリジニル基、ジヒドロキシピリミジル基、ジヒドロキシトリアジニル基、ジヒドロキシピロリル基、ジヒドロキシイミダゾリル基、ジヒドロキシピラゾリル基、ジヒドロキシインドール基、ジヒドロキシイソインドール基、ジヒドロキシベンジミダゾリル基、ジヒドロキシインダゾリル基、ジヒドロキシフラニル基、ジヒドロキシベンゾフラニル基、ジヒドロキシチオフェニル基、ジヒドロキシオキサゾリル基、またはジヒドロキシチアゾリル基である。 - 前記化学式1-1は下記の化学式1-1aで表され、
前記化学式1-2は下記の化学式1-2aで表される、請求項4に記載のハードマスク組成物:
前記化学式1-1aおよび化学式1-2aにおいて、
R1~R4は、それぞれ独立して、水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、置換もしくは非置換の炭素数1~10のアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルケニル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルキニル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数7~30のアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~20のヘテロアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数6~30のアリール基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のヘテロアリール基またはこれらの組み合わせであり、
この際、R1~R4のうち少なくとも一つは、ヒドロキシフェニル基、ヒドロキシナフチル基、ヒドロキシビフェニル基、ヒドロキシジフェニルフルオレニル基、ヒドロキシジナフチルフルオレニル基、ヒドロキシアントラセニル基、ヒドロキシフルオランテニル基、ヒドロキシアセナフチルレニル基、ヒドロキシアセナフテニル基、ヒドロキシフェナントレニル基、ヒドロキシベンゾフェナントレニル基、ヒドロキシピレニル基、ヒドロキシトリフェニレニル基、ヒドロキシクリセニル基、ヒドロキシテトラセニル基、ヒドロキシベンゾフルオランテニル基、ヒドロキシペリレニル基、ヒドロキシベンゾピレニル基、ヒドロキシナフトアントラセニル基、ヒドロキシペンタセニル基、ヒドロキシベンゾペリレニル基、ヒドロキシジベンゾピレニル基、ヒドロキシコロネニル基、
ヒドロキシピリジニル基、ヒドロキシピリミジル基、ヒドロキシトリアジニル基、ヒドロキシピロリル基、ヒドロキシイミダゾリル基、ヒドロキシピラゾリル基、ヒドロキシインドール基、ヒドロキシイソインドール基、ヒドロキシベンジミダゾリル基、ヒドロキシインダゾリル基、ヒドロキシフラニル基、ヒドロキシベンゾフラニル基、ヒドロキシチオフェニル基、ヒドロキシオキサゾリル基、ヒドロキシチアゾリル基、
ジヒドロキシフェニル基、ジヒドロキシナフチル基、ジヒドロキシビフェニル基、ジヒドロキシジフェニルフルオレニル基、ジヒドロキシジナフチルフルオレニル基、ジヒドロキシアントラセニル基、ジヒドロキシフルオランテニル基、ジヒドロキシアセナフチルレニル基、ジヒドロキシアセナフテニル基、ジヒドロキシフェナントレニル基、ジヒドロキシベンゾフェナントレニル基、ジヒドロキシピレニル基、ジヒドロキシトリフェニレニル基、ジヒドロキシクリセニル基、ジヒドロキシテトラセニル基、ジヒドロキシベンゾフルオランテニル基、ジヒドロキシペリレニル基、ジヒドロキシベンゾピレニル基、ジヒドロキシナフトアントラセニル基、ジヒドロキシペンタセニル基、ジヒドロキシベンゾペリレニル基、ジヒドロキシジベンゾピレニル基、ジヒドロキシコロネニル基、
ジヒドロキシピリジニル基、ジヒドロキシピリミジル基、ジヒドロキシトリアジニル基、ジヒドロキシピロリル基、ジヒドロキシイミダゾリル基、ジヒドロキシピラゾリル基、ジヒドロキシインドール基、ジヒドロキシイソインドール基、ジヒドロキシベンジミダゾリル基、ジヒドロキシインダゾリル基、ジヒドロキシフラニル基、ジヒドロキシベンゾフラニル基、ジヒドロキシチオフェニル基、ジヒドロキシオキサゾリル基、またはジヒドロキシチアゾリル基である。 - 前記化学式1-3は下記の化学式1-3aで表され、
前記化学式1-4は下記の化学式1-4aで表される、請求項4または5に記載のハードマスク組成物:
前記化学式1-3aおよび化学式1-4aにおいて、
R1~R3およびR5は、それぞれ独立して、水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、置換もしくは非置換の炭素数1~10のアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルケニル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルキニル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数7~30のアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~20のヘテロアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数6~30のアリール基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のヘテロアリール基またはこれらの組み合わせであり、
この際、R1~R3およびR5のうち少なくとも一つは、ヒドロキシフェニル基、ヒドロキシナフチル基、ヒドロキシビフェニル基、ヒドロキシジフェニルフルオレニル基、ヒドロキシジナフチルフルオレニル基、ヒドロキシアントラセニル基、ヒドロキシフルオランテニル基、ヒドロキシアセナフチルレニル基、ヒドロキシアセナフテニル基、ヒドロキシフェナントレニル基、ヒドロキシベンゾフェナントレニル基、ヒドロキシピレニル基、ヒドロキシトリフェニレニル基、ヒドロキシクリセニル基、ヒドロキシテトラセニル基、ヒドロキシベンゾフルオランテニル基、ヒドロキシペリレニル基、ヒドロキシベンゾピレニル基、ヒドロキシナフトアントラセニル基、ヒドロキシペンタセニル基、ヒドロキシベンゾペリレニル基、ヒドロキシジベンゾピレニル基、ヒドロキシコロネニル基、
ヒドロキシピリジニル基、ヒドロキシピリミジル基、ヒドロキシトリアジニル基、ヒドロキシピロリル基、ヒドロキシイミダゾリル基、ヒドロキシピラゾリル基、ヒドロキシインドール基、ヒドロキシイソインドール基、ヒドロキシベンジミダゾリル基、ヒドロキシインダゾリル基、ヒドロキシフラニル基、ヒドロキシベンゾフラニル基、ヒドロキシチオフェニル基、ヒドロキシオキサゾリル基、ヒドロキシチアゾリル基、
ジヒドロキシフェニル基、ジヒドロキシナフチル基、ジヒドロキシビフェニル基、ジヒドロキシジフェニルフルオレニル基、ジヒドロキシジナフチルフルオレニル基、ジヒドロキシアントラセニル基、ジヒドロキシフルオランテニル基、ジヒドロキシアセナフチルレニル基、ジヒドロキシアセナフテニル基、ジヒドロキシフェナントレニル基、ジヒドロキシベンゾフェナントレニル基、ジヒドロキシピレニル基、ジヒドロキシトリフェニレニル基、ジヒドロキシクリセニル基、ジヒドロキシテトラセニル基、ジヒドロキシベンゾフルオランテニル基、ジヒドロキシペリレニル基、ジヒドロキシベンゾピレニル基、ジヒドロキシナフトアントラセニル基、ジヒドロキシペンタセニル基、ジヒドロキシベンゾペリレニル基、ジヒドロキシジベンゾピレニル基、ジヒドロキシコロネニル基、
ジヒドロキシピリジニル基、ジヒドロキシピリミジル基、ジヒドロキシトリアジニル基、ジヒドロキシピロリル基、ジヒドロキシイミダゾリル基、ジヒドロキシピラゾリル基、ジヒドロキシインドール基、ジヒドロキシイソインドール基、ジヒドロキシベンジミダゾリル基、ジヒドロキシインダゾリル基、ジヒドロキシフラニル基、ジヒドロキシベンゾフラニル基、ジヒドロキシチオフェニル基、ジヒドロキシオキサゾリル基、またはジヒドロキシチアゾリル基である。 - 前記化学式2において、R6~R8のうち少なくとも一つは、ヒドロキシフェニル基、ヒドロキシナフチル基、ヒドロキシビフェニル基、ヒドロキシジフェニルフルオレニル基、ヒドロキシジナフチルフルオレニル基、ヒドロキシアントラセニル基、ヒドロキシフルオランテニル基、ヒドロキシアセナフチルレニル基、ヒドロキシアセナフテニル基、ヒドロキシフェナントレニル基、ヒドロキシベンゾフェナントレニル基、ヒドロキシピレニル基、ヒドロキシトリフェニレニル基、ヒドロキシクリセニル基、ヒドロキシテトラセニル基、ヒドロキシベンゾフルオランテニル基、ヒドロキシペリレニル基、ヒドロキシベンゾピレニル基、ヒドロキシナフトアントラセニル基、ヒドロキシペンタセニル基、ヒドロキシベンゾペリレニル基、ヒドロキシジベンゾピレニル基、ヒドロキシコロネニル基、
ヒドロキシピリジニル基、ヒドロキシピリミジル基、ヒドロキシトリアジニル基、ヒドロキシピロリル基、ヒドロキシイミダゾリル基、ヒドロキシピラゾリル基、ヒドロキシインドール基、ヒドロキシイソインドール基、ヒドロキシベンジミダゾリル基、ヒドロキシインダゾリル基、ヒドロキシフラニル基、ヒドロキシベンゾフラニル基、ヒドロキシチオフェニル基、ヒドロキシオキサゾリル基、ヒドロキシチアゾリル基、
ジヒドロキシフェニル基、ジヒドロキシナフチル基、ジヒドロキシビフェニル基、ジヒドロキシジフェニルフルオレニル基、ジヒドロキシジナフチルフルオレニル基、ジヒドロキシアントラセニル基、ジヒドロキシフルオランテニル基、ジヒドロキシアセナフチルレニル基、ジヒドロキシアセナフテニル基、ジヒドロキシフェナントレニル基、ジヒドロキシベンゾフェナントレニル基、ジヒドロキシピレニル基、ジヒドロキシトリフェニレニル基、ジヒドロキシクリセニル基、ジヒドロキシテトラセニル基、ジヒドロキシベンゾフルオランテニル基、ジヒドロキシペリレニル基、ジヒドロキシベンゾピレニル基、ジヒドロキシナフトアントラセニル基、ジヒドロキシペンタセニル基、ジヒドロキシベンゾペリレニル基、ジヒドロキシジベンゾピレニル基、ジヒドロキシコロネニル基、
ジヒドロキシピリジニル基、ジヒドロキシピリミジル基、ジヒドロキシトリアジニル基、ジヒドロキシピロリル基、ジヒドロキシイミダゾリル基、ジヒドロキシピラゾリル基、ジヒドロキシインドール基、ジヒドロキシイソインドール基、ジヒドロキシベンジミダゾリル基、ジヒドロキシインダゾリル基、ジヒドロキシフラニル基、ジヒドロキシベンゾフラニル基、ジヒドロキシチオフェニル基、ジヒドロキシオキサゾリル基、またはジヒドロキシチアゾリル基である、請求項1~6のいずれか1項に記載のハードマスク組成物。 - 前記化学式2において、R6~R8のうちの一つまたは二つは、ヒドロキシフェニル基、ヒドロキシナフチル基、ヒドロキシビフェニル基、ヒドロキシジフェニルフルオレニル基、ヒドロキシジナフチルフルオレニル基、ヒドロキシアントラセニル基、ヒドロキシフルオランテニル基、ヒドロキシアセナフチルレニル基、ヒドロキシアセナフテニル基、ヒドロキシフェナントレニル基、ヒドロキシベンゾフェナントレニル基、ヒドロキシピレニル基、ヒドロキシトリフェニレニル基、ヒドロキシクリセニル基、ヒドロキシテトラセニル基、ヒドロキシベンゾフルオランテニル基、ヒドロキシペリレニル基、ヒドロキシベンゾピレニル基、ヒドロキシナフトアントラセニル基、ヒドロキシペンタセニル基、ヒドロキシベンゾペリレニル基、ヒドロキシジベンゾピレニル基、ヒドロキシコロネニル基、
ヒドロキシピリジニル基、ヒドロキシピリミジル基、ヒドロキシトリアジニル基、ヒドロキシピロリル基、ヒドロキシイミダゾリル基、ヒドロキシピラゾリル基、ヒドロキシインドール基、ヒドロキシイソインドール基、ヒドロキシベンジミダゾリル基、ヒドロキシインダゾリル基、ヒドロキシフラニル基、ヒドロキシベンゾフラニル基、ヒドロキシチオフェニル基、ヒドロキシオキサゾリル基、ヒドロキシチアゾリル基、
ジヒドロキシフェニル基、ジヒドロキシナフチル基、ジヒドロキシビフェニル基、ジヒドロキシジフェニルフルオレニル基、ジヒドロキシジナフチルフルオレニル基、ジヒドロキシアントラセニル基、ジヒドロキシフルオランテニル基、ジヒドロキシアセナフチルレニル基、ジヒドロキシアセナフテニル基、ジヒドロキシフェナントレニル基、ジヒドロキシベンゾフェナントレニル基、ジヒドロキシピレニル基、ジヒドロキシトリフェニレニル基、ジヒドロキシクリセニル基、ジヒドロキシテトラセニル基、ジヒドロキシベンゾフルオランテニル基、ジヒドロキシペリレニル基、ジヒドロキシベンゾピレニル基、ジヒドロキシナフトアントラセニル基、ジヒドロキシペンタセニル基、ジヒドロキシベンゾペリレニル基、ジヒドロキシジベンゾピレニル基、ジヒドロキシコロネニル基、
ジヒドロキシピリジニル基、ジヒドロキシピリミジル基、ジヒドロキシトリアジニル基、ジヒドロキシピロリル基、ジヒドロキシイミダゾリル基、ジヒドロキシピラゾリル基、ジヒドロキシインドール基、ジヒドロキシイソインドール基、ジヒドロキシベンジミダゾリル基、ジヒドロキシインダゾリル基、ジヒドロキシフラニル基、ジヒドロキシベンゾフラニル基、ジヒドロキシチオフェニル基、ジヒドロキシオキサゾリル基、またはジヒドロキシチアゾリル基である、請求項7に記載のハードマスク組成物。 - 前記化学式2は下記の化学式2-1で表される、請求項1~8のいずれか1項に記載のハードマスク組成物:
前記化学式2-1において、
R6~R10は、それぞれ独立して、水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、置換もしくは非置換の炭素数1~10のアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルケニル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルキニル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数7~30のアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~20のヘテロアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数6~30のアリール基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のヘテロアリール基またはこれらの組み合わせであり、
この際、R6~R10のうち少なくとも一つは、ヒドロキシフェニル基、ヒドロキシナフチル基、ヒドロキシビフェニル基、ヒドロキシジフェニルフルオレニル基、ヒドロキシジナフチルフルオレニル基、ヒドロキシアントラセニル基、ヒドロキシフルオランテニル基、ヒドロキシアセナフチルレニル基、ヒドロキシアセナフテニル基、ヒドロキシフェナントレニル基、ヒドロキシベンゾフェナントレニル基、ヒドロキシピレニル基、ヒドロキシトリフェニレニル基、ヒドロキシクリセニル基、ヒドロキシテトラセニル基、ヒドロキシベンゾフルオランテニル基、ヒドロキシペリレニル基、ヒドロキシベンゾピレニル基、ヒドロキシナフトアントラセニル基、ヒドロキシペンタセニル基、ヒドロキシベンゾペリレニル基、ヒドロキシジベンゾピレニル基、ヒドロキシコロネニル基、
ヒドロキシピリジニル基、ヒドロキシピリミジル基、ヒドロキシトリアジニル基、ヒドロキシピロリル基、ヒドロキシイミダゾリル基、ヒドロキシピラゾリル基、ヒドロキシインドール基、ヒドロキシイソインドール基、ヒドロキシベンジミダゾリル基、ヒドロキシインダゾリル基、ヒドロキシフラニル基、ヒドロキシベンゾフラニル基、ヒドロキシチオフェニル基、ヒドロキシオキサゾリル基、ヒドロキシチアゾリル基、
ジヒドロキシフェニル基、ジヒドロキシナフチル基、ジヒドロキシビフェニル基、ジヒドロキシジフェニルフルオレニル基、ジヒドロキシジナフチルフルオレニル基、ジヒドロキシアントラセニル基、ジヒドロキシフルオランテニル基、ジヒドロキシアセナフチルレニル基、ジヒドロキシアセナフテニル基、ジヒドロキシフェナントレニル基、ジヒドロキシベンゾフェナントレニル基、ジヒドロキシピレニル基、ジヒドロキシトリフェニレニル基、ジヒドロキシクリセニル基、ジヒドロキシテトラセニル基、ジヒドロキシベンゾフルオランテニル基、ジヒドロキシペリレニル基、ジヒドロキシベンゾピレニル基、ジヒドロキシナフトアントラセニル基、ジヒドロキシペンタセニル基、ジヒドロキシベンゾペリレニル基、ジヒドロキシジベンゾピレニル基、ジヒドロキシコロネニル基、
ジヒドロキシピリジニル基、ジヒドロキシピリミジル基、ジヒドロキシトリアジニル基、ジヒドロキシピロリル基、ジヒドロキシイミダゾリル基、ジヒドロキシピラゾリル基、ジヒドロキシインドール基、ジヒドロキシイソインドール基、ジヒドロキシベンジミダゾリル基、ジヒドロキシインダゾリル基、ジヒドロキシフラニル基、ジヒドロキシベンゾフラニル基、ジヒドロキシチオフェニル基、ジヒドロキシオキサゾリル基、またはジヒドロキシチアゾリル基である。 - 前記化学式2-1は下記の化学式2-1aで表される、請求項9に記載のハードマスク組成物:
前記化学式2-1aにおいて、
R6~R10は、それぞれ独立して水素原子、重水素原子、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、置換もしくは非置換の炭素数1~10のアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルケニル基、置換もしくは非置換の炭素数2~30のアルキニル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数1~30のヘテロシクロアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数7~30のアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数3~20のヘテロアリールアルキル基、置換もしくは非置換の炭素数6~30のアリール基、置換もしくは非置換の炭素数3~30のヘテロアリール基、またはこれらの組み合わせであり、
この際、R6~R10のうち少なくとも一つは、ヒドロキシフェニル基、ヒドロキシナフチル基、ヒドロキシビフェニル基、ヒドロキシジフェニルフルオレニル基、ヒドロキシジナフチルフルオレニル基、ヒドロキシアントラセニル基、ヒドロキシフルオランテニル基、ヒドロキシアセナフチルレニル基、ヒドロキシアセナフテニル基、ヒドロキシフェナントレニル基、ヒドロキシベンゾフェナントレニル基、ヒドロキシピレニル基、ヒドロキシトリフェニレニル基、ヒドロキシクリセニル基、ヒドロキシテトラセニル基、ヒドロキシベンゾフルオランテニル基、ヒドロキシペリレニル基、ヒドロキシベンゾピレニル基、ヒドロキシナフトアントラセニル基、ヒドロキシペンタセニル基、ヒドロキシベンゾペリレニル基、ヒドロキシジベンゾピレニル基、ヒドロキシコロネニル基、
ヒドロキシピリジニル基、ヒドロキシピリミジル基、ヒドロキシトリアジニル基、ヒドロキシピロリル基、ヒドロキシイミダゾリル基、ヒドロキシピラゾリル基、ヒドロキシインドール基、ヒドロキシイソインドール基、ヒドロキシベンジミダゾリル基、ヒドロキシインダゾリル基、ヒドロキシフラニル基、ヒドロキシベンゾフラニル基、ヒドロキシチオフェニル基、ヒドロキシオキサゾリル基、ヒドロキシチアゾリル基、
ジヒドロキシフェニル基、ジヒドロキシナフチル基、ジヒドロキシビフェニル基、ジヒドロキシジフェニルフルオレニル基、ジヒドロキシジナフチルフルオレニル基、ジヒドロキシアントラセニル基、ジヒドロキシフルオランテニル基、ジヒドロキシアセナフチルレニル基、ジヒドロキシアセナフテニル基、ジヒドロキシフェナントレニル基、ジヒドロキシベンゾフェナントレニル基、ジヒドロキシピレニル基、ジヒドロキシトリフェニレニル基、ジヒドロキシクリセニル基、ジヒドロキシテトラセニル基、ジヒドロキシベンゾフルオランテニル基、ジヒドロキシペリレニル基、ジヒドロキシベンゾピレニル基、ジヒドロキシナフトアントラセニル基、ジヒドロキシペンタセニル基、ジヒドロキシベンゾペリレニル基、ジヒドロキシジベンゾピレニル基、ジヒドロキシコロネニル基、
ジヒドロキシピリジニル基、ジヒドロキシピリミジル基、ジヒドロキシトリアジニル基、ジヒドロキシピロリル基、ジヒドロキシイミダゾリル基、ジヒドロキシピラゾリル基、ジヒドロキシインドール基、ジヒドロキシイソインドール基、ジヒドロキシベンジミダゾリル基、ジヒドロキシインダゾリル基、ジヒドロキシフラニル基、ジヒドロキシベンゾフラニル基、ジヒドロキシチオフェニル基、ジヒドロキシオキサゾリル基、またはジヒドロキシチアゾリル基である。 - 請求項1~10のいずれか1項に記載のハードマスク組成物の硬化物を含む、ハードマスク層。
- 前記硬化物は、縮合多環芳香族炭化水素を含む、請求項11に記載のハードマスク層。
- 材料層の上に請求項1~10のいずれか1項に記載のハードマスク組成物を塗布し熱処理してハードマスク層を形成する段階と、
前記ハードマスク層の上にフォトレジスト層を形成する段階と、
前記フォトレジスト層を露光および現像してフォトレジストパターンを形成する段階と、
前記フォトレジストパターンを用いて前記ハードマスク層を選択的に除去し、前記材料層の一部を露出させる段階と、
前記材料層の露出した部分をエッチングする段階と、を含む、パターン形成方法。
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