[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP6825728B1 - 単結晶製造装置 - Google Patents

単結晶製造装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6825728B1
JP6825728B1 JP2020002661A JP2020002661A JP6825728B1 JP 6825728 B1 JP6825728 B1 JP 6825728B1 JP 2020002661 A JP2020002661 A JP 2020002661A JP 2020002661 A JP2020002661 A JP 2020002661A JP 6825728 B1 JP6825728 B1 JP 6825728B1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cooling
single crystal
cylinder
raw material
material melt
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2020002661A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2021109804A (ja
Inventor
和也 柳瀬
和也 柳瀬
篤志 岡井
篤志 岡井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shin Etsu Handotai Co Ltd
Original Assignee
Shin Etsu Handotai Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shin Etsu Handotai Co Ltd filed Critical Shin Etsu Handotai Co Ltd
Priority to JP2020002661A priority Critical patent/JP6825728B1/ja
Priority to KR1020227022401A priority patent/KR20220124698A/ko
Priority to PCT/JP2020/043303 priority patent/WO2021140758A1/ja
Priority to US17/785,583 priority patent/US12071704B2/en
Priority to DE112020006483.2T priority patent/DE112020006483T5/de
Priority to CN202080091664.7A priority patent/CN114929951B/zh
Application granted granted Critical
Publication of JP6825728B1 publication Critical patent/JP6825728B1/ja
Publication of JP2021109804A publication Critical patent/JP2021109804A/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/14Heating of the melt or the crystallised materials
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/20Controlling or regulating
    • C30B15/203Controlling or regulating the relationship of pull rate (v) to axial thermal gradient (G)
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/02Elements
    • C30B29/06Silicon
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B35/00Apparatus not otherwise provided for, specially adapted for the growth, production or after-treatment of single crystals or of a homogeneous polycrystalline material with defined structure

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

【課題】結晶内温度勾配を大きくして、単結晶の成長速度の高速化が可能な単結晶製造装置を提供する。【解決手段】原料融液を収容するルツボと、原料融液を加熱するヒータを格納するメインチャンバと、メインチャンバの上部に連設され成長した単結晶が引上げられて収容される引上げチャンバと、引上げ中の単結晶を取り囲むようにメインチャンバの少なくとも天井部から原料融液に向かって延伸し冷却媒体で強制冷却される冷却筒と、冷却筒に篏合された冷却補助筒とを有するチョクラルスキー法によって単結晶を育成する単結晶製造装置であって、冷却補助筒の材料は、黒鉛材、炭素複合材、ステンレス、モリブデン、タングステンのいずれか1つ以上からなり、冷却補助筒は冷却筒の原料融液に対面する底面を覆う構造を有し、冷却補助筒と冷却筒の底面との間隙が1.0mm以下の単結晶製造装置。【選択図】図1

Description

本発明は、チョクラルスキー法によるシリコン単結晶等の製造装置に関するものである。
シリコンやガリウム砒素などの半導体は単結晶で構成され、小型から大型までのコンピュータのメモリ等に利用されており、記憶装置の大容量化、低コスト化、高品質化が要求されている。
従来、これら半導体の要求を満たす単結晶を製造するための単結晶製造方法の1つとして、坩堝内に収容されている溶融状態の半導体原料に種結晶を浸した後、これを引上げることで、大直径かつ高品質の半導体を製造する方法(一般にチョクラルスキー法(CZ法)と称している)が知られている。
以下、従来のCZ法による単結晶製造装置について、シリコン単結晶の育成を例にとって説明する。図7に従来の単結晶製造装置の一例の概略断面図を示す。CZ法でシリコン単結晶を製造する際に使用される単結晶製造装置(従来例)200は、一般的に原料融液6が収容された昇降可能な石英ルツボ4及び黒鉛ルツボ5と、石英ルツボ4及び黒鉛ルツボ5を取り囲むように配置されたヒータ11が単結晶を育成するメインチャンバ2内に配置されており、メインチャンバ2の上部には育成した単結晶を収容して取り出すための引上げチャンバ3が連設されている。また、メインチャンバ2とヒータ11の間には断熱材13が設けられており、更に引上げチャンバ3と原料融液6の間には熱遮蔽部材14が設けられている。
このような単結晶製造装置200を用いて単結晶を製造する際には、種結晶9を原料融液6に浸漬し、種結晶9とルツボ回転軸12を回転させながら種結晶9を静かに上方に引上げて棒状の単結晶を成長させる一方、所望の直径と結晶品質を得るため融液面の高さが常に一定に保たれるように結晶の成長に合わせて石英ルツボ4及び黒鉛ルツボ5を上昇させている。
そして、単結晶を育成する際には、種結晶ホルダ10に取り付けられた種結晶9を原料融液6に浸漬した後、引上げ機構(不図示)により種結晶9を所望の方向に回転させながら静かにワイヤ8を巻き上げ、種結晶9の先端部に単結晶7を成長させているが、種結晶9を原料融液6に着液させた際に生じる転位を消滅させるため、一旦、成長初期の結晶を3〜5mm程度まで細く絞り、転位が抜けたところで径を所望の直径まで拡大して、目的とする単結晶7を成長させていく。
しかし、上記の方法では近年の単結晶7の大直径化に伴い、高重量化した単結晶7を支持するには強度が不十分であり、例えば直径5mmの絞りでは安全率を鑑みて250kg程度の単結晶7を引上げるのが限界とされている。そのため、近年では種結晶9の先端部の形状をテーパ化することで、原料融液6と接触する種結晶9の先端部の熱容量を小さくして、種結晶9が原料融液6に接触した瞬間に生じる転位を非常に少なくすることで、事実上、ネッキングフリーとした単結晶7の育成を実施している。
このとき、単結晶7の一定の直径を有する定径部の引上げ速度は、引上げられる単結晶の直径に依存するが、0.4〜2.0mm/min程度の非常にゆっくりしたものであり、無理に早く引上げようとすると、育成中の単結晶7が変形して定径を有する円柱状の製品が得られなくなる。あるいは単結晶7にスリップ転位が発生したり、単結晶7が原料融液から切り離されて製品とならなくなってしまったりといった問題が生じてしまい、結晶成長速度の高速化を図るには限界があった。
しかし、上述の従来のCZ法による単結晶7の製造において、生産性の向上を図り、コストを低減するためには、単結晶7の成長速度を高速化させることが一つの大きな手段であり、これまでも単結晶7の成長速度の高速化を達成するために多くの改良がなされてきた。
単結晶7の成長速度は、成長中の単結晶7の熱収支によって決定され、これを高速化するためには、単結晶7の表面から放出される熱を効率的に除去すれば良いことが知られている。つまり、単結晶7の冷却効果を高めることができれば更に効率の良い単結晶の製造が可能となる。
さらに、単結晶7の冷却速度によって、結晶の品質が変化することも知られている。例えば、シリコン単結晶で単結晶育成中に形成されるグローンイン(Grown−in)欠陥は結晶内温度勾配と単結晶の引上げ速度(成長速度)の比で制御可能であり、これをコントロールすることで無欠陥の単結晶を育成することもできる(特許文献1)。
したがって、無欠陥結晶を製造する上でも、単結晶の成長速度を高速化して生産性の向上を図る上でも、育成中の単結晶の冷却効果を高めることが重要となる。
CZ法において単結晶7を効率よく冷却するには、ヒータ11からの輻射を結晶に直接当てずにかつ単結晶7からの輻射熱をチャンバ等の強制冷却された物体に吸収させる方法が有効である。これを実現可能な装置の構造としてスクリーン構造が挙げられる(特許文献2)。
しかし、この構造では、ルツボの上昇によるルツボ上端との接触を回避するほどのスクリーン構造にすると、スクリーン上部の内径を小さくする必要があり、その結果、単結晶が冷えにくくなるという欠点がある。また、単結晶引上げ中は酸化性ガスによる汚れ防止のための不活性ガスを、ガス導入口18から流し、ガス流出口19から排気する。この際、このようなスクリーン構造では不活性ガスによる単結晶の冷却効果が期待できないという問題もある。
そこで不活性ガスを整流するための整流筒と整流筒にヒータや原料融液からの直接輻射を遮るための断熱リングを有した構造が提案されている(特許文献3)。この方法では不活性ガスによる単結晶の冷却効果は期待できるが、単結晶からの輻射熱を冷却チャンバに吸収させるという点において、その冷却能力は高いとはいえない。
スクリーン構造や整流筒の問題点を解決して効率よく冷却する方法として、結晶周りに水冷された冷却筒を配する方法が提案されている(特許文献4)。この方法では冷却筒の外側が黒鉛材等の保護カバーなど冷却筒保護材により保護され、冷却筒の内側から単結晶の熱を効率よく除去できる。しかし、安全のため冷却筒を融液面近傍まで伸ばしておらず、冷却筒に至るまでの単結晶の冷却効果がやや弱かった。
また、特許文献5には冷却筒に嵌合して黒鉛材等を延伸する方法が挙げられている。しかし、この方法では、冷却筒および延伸する黒鉛が外側からの熱を受けて十分な冷却効果が発揮できない上、冷却筒と黒鉛材の接触が難しく、効率よく黒鉛材から冷却筒への伝熱ができなかった。
この問題を解決するため、特許文献6において、図7に示すように冷却筒15に嵌合される冷却補助筒217を用いる方法が挙げられている。結晶から発生する熱を、冷却補助筒217を介して冷却筒15に伝え、冷却媒体導入口16から冷却媒体を冷却筒15に供給することで、結晶から発生する熱を廃熱する。この方法によって、結晶の引上げ速度を向上させることが可能となった。
特開平11−157996号公報 特公昭57−40119号公報 特開平1−65086号公報 国際公開第01/57293号 特開平6−199590号公報 特開2009−161416号公報 特開2013−193897号公報
図7の冷却補助筒217は単結晶7を取り囲む冷却筒15の内側面のみに接触する構造であり、原料融液6と対面する冷却筒15の底面には接触していない。前述したように結晶の引上げ速度を向上させるためには、単結晶7からの輻射熱をチャンバ等の強制冷却された物体に吸収させれば良いのだが、ヒータ11等の高温部からの輻射熱の除去も結晶の引上げ速度の向上に有効である。
したがって、原料融液と対面する冷却筒の底面にも接触する冷却補助筒を用いることで、単結晶からの輻射熱を冷却筒に伝えるほか、ヒータ等の高温部からの輻射熱も冷却筒に効率よく伝えることにより、結晶内温度勾配を大きくして、単結晶の引上げ速度の更なる向上を図る改良の余地がある。
特許文献7の図2には、原料融液と対面する冷却筒の底面を断熱材で覆う構造が示されているが、断熱材は熱伝導率が低い素材であり、単結晶やヒータ等の輻射熱を冷却筒に効率よく伝えることでの単結晶の引上げ速度の更なる向上は見込めない問題があった。
本発明は、上記の問題に鑑みてなされたものであり、単結晶を取り囲む冷却筒の内側面以外にも、原料融液と対面する冷却筒の底面に接触するための構造を有する冷却補助筒を用いることで、単結晶からの輻射熱を冷却筒に伝えるほか、ヒータ等の高温部からの輻射熱も冷却筒に効率よく伝えることにより、結晶内温度勾配を大きくして、単結晶の引上げ速度の著しい向上が可能な単結晶製造装置を提供することを目的とする。
本発明は、上記目的を達成するためになされたものであり、原料融液を収容するルツボ及び原料融液を加熱するヒータを格納するメインチャンバと、メインチャンバの上部に連設され成長した単結晶が引上げられて収容される引上げチャンバと、引上げ中の単結晶を取り囲むようにメインチャンバの少なくとも天井部から原料融液に向かって延伸し冷却媒体で強制冷却される冷却筒と、冷却筒に篏合された冷却補助筒とを有するチョクラルスキー法によって単結晶を育成する単結晶製造装置であって、冷却補助筒の材質は、黒鉛材、炭素複合材、ステンレス、モリブデン、タングステンのいずれか1つ以上からなり、冷却補助筒は冷却筒の原料融液に対面する底面を覆う構造を有し、冷却補助筒と冷却筒の底面との間隙が1.0mm以下の単結晶製造装置を提供する。
このような単結晶製造装置であれば、冷却補助筒の冷却筒底面を覆う部分が受けるヒータ等の高温部からの輻射熱の量が増えるだけでなく、冷却補助筒の冷却筒底面を覆う部分がより高温化することで冷却補助筒が熱膨張し、冷却筒の底面との間隙を小さくすることができ、冷却筒に熱を伝えやすくなる。また、冷却筒の底面を覆う冷却補助筒の部分が原料融液やヒータの輻射熱を多く受けることで高温化し、冷却補助筒自体が発する冷却筒の底面への輻射熱が大きくなるため、冷却筒の底面との間に1.0mm以下の間隙があっても、冷却筒に熱を伝えることができるようになる。これにより、単結晶からの輻射熱を冷却筒に伝えるほか、ヒータ等の高温部からの輻射熱も冷却筒に効率よく伝えることにより、結晶内温度勾配を大きくして、単結晶の引上げ速度の更なる向上を図ることが可能となる。
このとき、冷却筒の底面は、底面の全面積の内、少なくとも50%以上が冷却補助筒によって覆われるものとすることができる。
このようにすれば、ヒータ等の高温部から受け取る輻射熱の量が増えるだけでなく、冷却補助筒の冷却筒底面を覆う部分がより高温化することで熱膨張し、冷却筒の底面との間隙を小さくすることができ、冷却筒により熱を伝えやすくなり、結晶内温度勾配をより大きくして、単結晶の引上げ速度をより一層向上することが可能となる。
以上のように、本発明の単結晶製造装置は、強制冷却された冷却筒と冷却筒に嵌合された特定の材質からなる冷却補助筒を有し、冷却補助筒が冷却筒の原料融液に対面する底面を覆う構造を有することで、単結晶からの輻射熱およびヒータ等の高温部からの輻射熱を冷却筒に効率よく伝えることができる。これによって、育成中の単結晶内の温度勾配を大きくすることができ、単結晶の成長速度の高速化が可能となる。
本発明の単結晶製造装置の一例を示す概略断面図である。 図1に示した本発明の単結晶製造装置の一例の冷却筒周辺部を拡大して示した概略断面図である。 実施例1、比較例における冷却筒底面と冷却補助筒の間隙に対する単結晶の成長速度の高速化率を示す図である。 本発明の単結晶製造装置の別の形態での一例を示す概略断面図である。 図4に示した本発明の単結晶製造装置の別の形態での一例の冷却筒周辺部を拡大して示した概略断面図である。 実施例2及び実施例3における冷却補助筒によって覆われる冷却底面の面積の割合に対する単結晶の成長速度の高速化率を示す図である。実施例2の結果を色付き丸印プロットとして、実施例3の結果を白抜き丸印プロットとして示した図である。 従来のCZ法による単結晶製造装置の一例を示す概略断面図である。
以下、本発明について実施の形態を説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。
上述のように、CZ法による単結晶の製造において、生産性の向上を図り、コストを低減するためには、単結晶の成長速度を高速化することが一つの大きな手段であり、単結晶の成長速度を高速化するためには、単結晶からの輻射熱およびヒータ等の高温部からの輻射熱を効率的に除去して、結晶内の温度勾配を大きくすれば良いことが知られている。
この課題を克服するため、特許文献6にあるように、引上げ中の単結晶を取り囲むようにメインチャンバの天井部から原料融液に向かって延伸し、冷却媒体で強制冷却される冷却筒の内側に冷却補助筒を嵌合することで、育成中の単結晶から吸熱した熱を、嵌合された部分から冷却筒に効率よく伝達し、育成中の単結晶を効率よく冷却し、単結晶の成長速度の高速化を図る技術が開発された。
しかし、特許文献6に記載の技術では冷却筒の原料融液に対面する底面は冷却補助筒によって覆われていない。上述した通り、単結晶の成長速度の高速化を達成する上では、単結晶からの輻射熱を効率よく除去するほか、ヒータ等の高温部からの輻射熱も効率よく除去することも重要である。
本発明者らは、上記課題について鋭意検討を重ねた結果、原料融液を収容するルツボ及び原料融液を加熱するヒータを格納するメインチャンバと、メインチャンバの上部に連設され成長した単結晶が引上げられて収容される引上げチャンバと、引上げ中の単結晶を取り囲むようにメインチャンバの少なくとも天井部から原料融液に向かって延伸し冷却媒体で強制冷却される冷却筒と、冷却筒に篏合された冷却補助筒とを有するチョクラルスキー法によって単結晶を育成する単結晶製造装置であって、冷却補助筒の材質は、黒鉛材、炭素複合材、ステンレス、モリブデン、タングステンのいずれか1つ以上からなり、冷却補助筒は冷却筒の原料融液に対面する底面を覆う構造を有し、冷却補助筒と冷却筒の底面との間隙が1.0mm以下の単結晶製造装置により、単結晶からの輻射熱だけでなく、ヒータ等の高温部からの輻射熱も効率よく除去することで、単結晶の成長速度の著しい高速化を達成することを想到し、本発明を完成させた。
本発明の単結晶製造装置の一例を、図1を参照して説明する。なお、従来装置と同じものについては説明を適宜省略することがある。本発明の単結晶製造装置1は原料融液6を収容する石英ルツボ4と黒鉛ルツボ5及び原料融液6を加熱するヒータ11を格納するメインチャンバ2と、メインチャンバ2の上部に連設され成長した単結晶が引上げられて収容される引上げチャンバ3と、引上げ中の単結晶を取り囲むようにメインチャンバ2の少なくとも天井部から原料融液6に向かって延伸し冷却媒体で強制冷却される冷却筒15と、冷却筒15に篏合された冷却補助筒17とを有する単結晶製造装置1である。単結晶製造装置1の冷却補助筒17は、冷却筒15の原料融液6に対面する底面を覆う構造を有し、これを鍔30とする。本発明に係る単結晶製造装置1の冷却筒15周辺部の拡大図の一例を図2に示す。冷却補助筒17と冷却筒15の底面との間隙20は1.0mm以下である。この間隙20は0mm(完全接触)であることが好ましい。
単結晶からの輻射熱やヒータ等の高温部からの輻射熱を効率よく吸収し、その熱を冷却筒により効率良く伝熱するため、本発明の冷却補助筒の材質は、黒鉛材、炭素複合材、ステンレス、モリブデン、タングステンのいずれか1つ以上である。上記材質の中でも特に、熱伝導率が金属と比較して同等以上であり、かつ輻射率が金属より高い黒鉛材が好ましい。
また、冷却補助筒は冷却筒の原料融液に対面する底面を覆う構造を有し、冷却補助筒と冷却筒の底面との間隙は1.0mm以下とする。以下にその理由を説明する。
冷却筒の底面を覆う冷却補助筒の部分(上記鍔30の部分)は、冷却筒の内側を覆う部分と比較して、1000℃を超える原料融液やヒータの輻射熱を多く受けて高温になる。そのため、冷却筒の底面を覆う冷却補助筒の部分は、室温時に間隙が空いていたとしても、単結晶製造時には高温になることで熱膨張し、冷却筒の底面との間隙を小さくすることができ、冷却筒に熱を伝えやすくなる。また、冷却筒の底面を覆う冷却補助筒の部分は、1000℃を超える原料融液やヒータの輻射熱を多く受けることで高温化し、冷却補助筒自体が発する冷却筒の底面への輻射熱が大きくなるため、冷却筒の底面との間に1.0mm以下の間隙があっても、冷却筒に熱を伝えることができる。更に後述するように、間隙を1.0mm以下とすると、単結晶の成長速度の高速化が実現できることを本発明者らは見出した。したがって、単結晶の成長速度の高速化を実現するためには、冷却筒の底面と冷却補助筒の間隙は、1.0mm以下でなければならない。間隙が1.0mm以下であれば冷却筒の原料融液と対面する底面を覆う冷却補助筒の部分の熱膨張と輻射熱の大きさから、冷却筒に単結晶からの輻射熱やヒータ等の高温部からの輻射熱を十分に伝えることが可能である。
冷却補助筒が上記の材質からなり、かつ上記の構造を有することで、単結晶からの輻射熱およびヒータ等の高温部からの輻射熱を冷却筒に効率よく伝えることができる。これによって、育成中の単結晶内の温度勾配を大きくすることができ、単結晶の成長速度の高速化が可能となる。
また、冷却筒の底面は、底面の全面積の内、少なくとも50%以上が冷却補助筒によって覆われるものとすることができる。
冷却補助筒の冷却筒底面を覆う部分の面積が大きければ大きいほど、冷却筒の底面に伝わる単結晶からの輻射熱やヒータ等の高温部からの輻射熱の量も大きくなる。冷却補助筒の冷却筒底面を覆う部分の面積が冷却筒底面の全面積の内、50%以上となると、ヒータ等の高温部からの輻射熱の量が増えるだけでなく、冷却補助筒の冷却筒底面を覆う部分がより高温化することで熱膨張し、冷却筒の底面との間隙を小さくすることができ、冷却筒に熱を伝えやすくなる。また、冷却筒の底面を覆う冷却補助筒の部分が原料融液やヒータの輻射熱を多く受けることで高温化し、冷却補助筒自体が発する冷却筒の底面への輻射熱が大きくなるため、冷却筒の底面との間に間隙が多少あっても、冷却筒により一層、熱を伝えることができるようになる。もちろん、冷却筒の底面の100%を冷却補助筒で覆うのが好ましいし、図1及び図2にあるように、鍔30は冷却筒の底面の外径を越えて外側まで延びてもよい。
以上のように、本発明の単結晶製造装置は、強制冷却された冷却筒と冷却筒に嵌合された特定の材質からなる冷却補助筒を有し、冷却補助筒が冷却筒の原料融液に対面する底面を覆う構造を有することで、単結晶からの輻射熱およびヒータ等の高温部からの輻射熱を冷却筒に効率よく伝えることができる。これによって、育成中の単結晶内の温度勾配を大きくすることができ、単結晶の成長速度の高速化が可能となる。
なお、本発明の単結晶製造装置を用いて実際に単結晶製造を行う際、製造する単結晶の仕様などに応じて、例えば、原料融液に磁場を加えて単結晶の製造を行ってもよい。
以下、実施例を挙げて本発明について詳細に説明するが、これは本発明を限定するものではない。
実施例1−3および比較例では、以下に説明する単結晶製造装置を用いて、直径300mmのシリコン単結晶を磁場印加チョクラルスキー法(MCZ法)により製造した。この際、石英ルツボ4の直径は800mmとした。
(実施例1)
図1に示すような単結晶製造装置1を用いて単結晶製造を行った。冷却補助筒17は冷却筒15の原料融液6に対面する底面を覆う構造を有するものを使用した。図2に示す、冷却筒15の原料融液6に対面する底面と、冷却筒15の原料融液6に対面する底面を覆う構造である冷却補助筒17の鍔30の上面との間隙20は、0mm(完全接触)、0.1mm、0.2mm、0.5mm、0.8mm、1.0mmの6水準を用意し、冷却補助筒17の鍔30によって覆われる冷却筒15の原料融液6に対面する底面の面積は、冷却筒15の原料融液6に対面する底面の100%とした。なお、冷却補助筒17の材質は、熱伝導率が金属と比較して同等以上であり、かつ輻射率が金属より高い黒鉛材を使用した。
このような単結晶製造装置1を用いて単結晶7を育成し、全てが無欠陥となる成長速度を求めた。無欠陥結晶を得るための成長速度はそのマージンが非常に狭いため、適切な成長速度が判断しやすい。単結晶の欠陥の有無の評価は、作製した単結晶からサンプルを切り出し、無欠陥結晶になったかどうかを選択エッチングにより評価した。
(比較例)
冷却筒15の原料融液6に対面する底面と、冷却筒15の原料融液6に対面する底面を覆う構造である冷却補助筒17の鍔30の上面との間隙20を、1.1mm、1.2mm、1.5mmの3水準に変更した以外は、実施例1に記載の単結晶製造装置1と同様な装置を用いて、単結晶製造を行った。それ以外の条件は実施例1に記載の条件と同一で行った。
実施例1及び比較例の結果を図3に示す。本発明に係る単結晶製造装置を用いた実施例1では、図7のような冷却筒の原料融液に対面する底面を覆う構造を有していない冷却補助筒を有する従来の単結晶製造装置を用いた場合と比較して、冷却筒の底面と冷却補助筒との間隙が0mm(完全接触)の場合は約16.7%の成長速度の高速化率を実現した。また、図3から判るように、冷却筒の底面と冷却補助筒の間隙が1.0mm以下であれば、冷却筒の底面を冷却補助筒で覆うことで、単結晶の成長速度を著しく高速化することができるものであることを確認することができた。一方、比較例で用いた単結晶製造装置では、冷却筒の底面と冷却補助筒との間隙が1.1mm以上となると、単結晶からの輻射熱だけでなく、ヒータ等の高温部からの輻射熱も効率よく除去することができない。間隙が1.1mmの場合でも、高速化率が約1.4%であり、従来の単結晶製造装置と比べて、単結晶の成長速度の著しい高速化を実現できていないことが分かる。
このように、本発明の単結晶製造装置は、単結晶からの輻射熱だけでなく、ヒータ等の高温部からの輻射熱も効率よく除去することができ、単結晶の成長速度の著しい高速化を達成することができる。また、冷却筒の底面と冷却補助筒との間隙は1.0mm以下であれば、単結晶の成長速度の高速化に寄与することができる。
(実施例2)
実施例1に対しての別形態として、図4に示すような単結晶製造装置100を用いて単結晶製造を行った。この際、図5に示すように、冷却補助筒117の鍔130によって覆われる冷却筒15の原料融液6に対面する底面の面積が、冷却筒の原料融液6に対面する底面の100%、90%、80%、70%、60%、50%、40%、30%、20%の9水準を用意して、その他は実施例1と同じ製造条件で単結晶7を製造し、実施例1と同様な評価を実施した。なお、このときの冷却筒15の原料融液6に対面する底面と、冷却筒15の原料融液6に対面する底面を覆う構造である冷却補助筒117の鍔130の上面との間隙120は0.1mmとした。
実施例2の結果を図6に示す。図7のような冷却筒の原料融液に対面する底面を覆う構造を有していない冷却補助筒を有する従来の単結晶製造装置を用いた場合と比較すると、図6から判るように、冷却補助筒によって覆われる冷却筒底面の全面積の内50%以上であれば、冷却筒の底面を冷却補助筒で覆うことで、単結晶の成長速度を著しく高速化が可能であることを見出した。なお、冷却補助筒によって覆われる冷却筒底面の面積が100%のとき、約13.4%の成長速度の高速化率を実現した。
このように、本発明の単結晶製造装置は、冷却補助筒によって覆われる冷却筒の原料融液に対面する底面の面積が大きいほど冷却筒へ伝わる熱量が増加し、単結晶からの輻射熱だけでなく、ヒータ等の高温部からの輻射熱をより多く除去することができ、単結晶の成長速度の更なる高速化を達成することができるものとなっていることが確認できた。
(実施例3)
実施例2に対しての別形態として、実施例2に記載の単結晶製造装置と同様な装置を用いて、冷却筒の原料融液に対面する底面と、冷却筒の原料融液に対面する底面を覆う構造である冷却補助筒の鍔の上面との間隙を0mm(完全接触)とし、また、実施例2と同様に、冷却補助筒の鍔によって覆われる冷却筒の原料融液に対面する底面の面積が、冷却筒の原料融液に対面する底面の100%、90%、80%、70%、60%、50%、40%、30%、20%の9水準を用意して結晶製造を行った。
実施例3の結果を図6に示す。実施例2の冷却筒の原料融液に対面する底面と冷却筒の原料融液に対面する底面を覆う構造である冷却補助筒の鍔の上面との間隙が0.1mmであった場合と比較して、実施例3では、冷却筒の原料融液に対面する底面を覆う構造である冷却補助筒の鍔の上面が完全接触している分、成長速度の高速化率が大きい。また、冷却筒の原料融液に対面する底面と、冷却筒の原料融液に対面する底面を覆う構造である冷却補助筒の鍔の上面との間隙が0mm(完全接触)の実施例3では、冷却補助筒の鍔によって覆われる冷却筒の原料融液に対面する底面の面積が、冷却筒の原料融液に対面する底面の40%のときでも5.6%の成長速度の高速化を達成することができた。したがって、冷却筒の原料融液に対面する底面と、冷却筒の原料融液に対面する底面を覆う構造である冷却補助筒の鍔の上面との間隙が0mm(完全接触)であれば、冷却補助筒の鍔によって覆われる冷却筒の原料融液に対面する底面の面積が、冷却筒の原料融液に対面する底面の50%以下でも、成長速度の高速化に寄与することが可能である。
以上のとおり、本発明の実施例1のように、冷却補助筒の材質を特定の材質からなるもので、冷却補助筒は冷却筒の原料融液に対面する底面を覆う構造を有し、冷却補助筒と冷却筒の底面との間隙が1.0mm以下である本発明の単結晶製造装置であれば、単結晶からの輻射熱だけでなく、ヒータ等の高温部からの輻射熱も効率よく除去することができ、単結晶の成長速度を従来の単結晶製造装置よりも著しく高速化できた。また、実施例2及び実施例3によれば、冷却補助筒は冷却筒の原料融液に対面する底面の全面積の内、少なくとも50%以上が冷却補助筒によって覆われるのがより好ましい。
なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。
1…単結晶製造装置(本発明例)、 2…メインチャンバ、 3…引上げチャンバ、
4…石英ルツボ、 5…黒鉛ルツボ、 6…原料融液、 7…単結晶、
8…ワイヤ、 9…種結晶、 10…種結晶ホルダ、 11…ヒータ、
12…ルツボ回転軸、 13…断熱材、 14…熱遮蔽部材、 15…冷却筒、
16…冷却媒体導入口、 17…冷却補助筒、 18…ガス導入口、
19…ガス流出口、 20…間隙、 30…鍔、
100…単結晶製造装置(本発明例)、 117…冷却補助筒、 120…間隙、
130…鍔、 200…単結晶製造装置(従来例)、 217…冷却補助筒。

Claims (3)

  1. 原料融液を収容するルツボ及び前記原料融液を加熱するヒータを格納するメインチャンバと、該メインチャンバの上部に連設され成長した単結晶が引上げられて収容される引上げチャンバと、引上げ中の単結晶を取り囲むように前記メインチャンバの少なくとも天井部から前記原料融液に向かって延伸し冷却媒体で強制冷却される冷却筒と、該冷却筒の内側に篏合された冷却補助筒とを有するチョクラルスキー法によって単結晶を育成する単結晶製造装置であって、
    前記冷却補助筒の材質は、黒鉛材、炭素複合材、ステンレス、モリブデン、タングステンのいずれか1つ以上からなり、
    前記冷却補助筒は前記冷却筒の前記原料融液に対面する底面を、前記冷却筒の内側から外側に向けて突出することで覆う鍔を有し、前記冷却補助筒の前記鍔と前記冷却筒の前記底面との間隙が1.0mm以下のものであり、
    前記メインチャンバの前記天井部から延伸し且つ前記冷却筒の前記底面と前記冷却補助筒の前記鍔とを取り囲んだ熱遮蔽部材を更に具備するものであることを特徴とする単結晶製造装置。
  2. 前記冷却筒の前記底面は、該底面の全面積の内、少なくとも50%以上が前記冷却補助筒によって覆われるものであることを特徴とする請求項1に記載の単結晶製造装置。
  3. 前記冷却補助筒の前記鍔と前記冷却筒の前記底面との間隙が0.1mm以上1.0mm以下のものであることを特徴とする請求項1又は2に記載の単結晶製造装置。
JP2020002661A 2020-01-10 2020-01-10 単結晶製造装置 Active JP6825728B1 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020002661A JP6825728B1 (ja) 2020-01-10 2020-01-10 単結晶製造装置
KR1020227022401A KR20220124698A (ko) 2020-01-10 2020-11-20 단결정 제조장치
PCT/JP2020/043303 WO2021140758A1 (ja) 2020-01-10 2020-11-20 単結晶製造装置
US17/785,583 US12071704B2 (en) 2020-01-10 2020-11-20 Apparatus for manufacturing a single crystal by the Czochralski method comprising a cooling cylinder with an auxiliary cooling cylinder fitted inside the cooling cylinder
DE112020006483.2T DE112020006483T5 (de) 2020-01-10 2020-11-20 Vorrichtung zum Herstellen von Einkristallen
CN202080091664.7A CN114929951B (zh) 2020-01-10 2020-11-20 单晶制造装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020002661A JP6825728B1 (ja) 2020-01-10 2020-01-10 単結晶製造装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP6825728B1 true JP6825728B1 (ja) 2021-02-03
JP2021109804A JP2021109804A (ja) 2021-08-02

Family

ID=74228136

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020002661A Active JP6825728B1 (ja) 2020-01-10 2020-01-10 単結晶製造装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US12071704B2 (ja)
JP (1) JP6825728B1 (ja)
KR (1) KR20220124698A (ja)
CN (1) CN114929951B (ja)
DE (1) DE112020006483T5 (ja)
WO (1) WO2021140758A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20240015067A (ko) 2021-05-28 2024-02-02 신에쯔 한도타이 가부시키가이샤 단결정 제조장치

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN118207628B (zh) * 2024-05-21 2024-07-26 浙江康鹏半导体有限公司 砷化镓单晶生长装置及制备方法

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2821481C2 (de) 1978-05-17 1985-12-05 Wacker-Chemitronic Gesellschaft für Elektronik-Grundstoffe mbH, 8263 Burghausen Vorrichtung zum Ziehen von hochreinen Halbleiterstäben aus der Schmelze
DE3027262A1 (de) 1980-07-18 1982-02-11 Skf Kugellagerfabriken Gmbh, 8720 Schweinfurt Im ziehverfahren hergestellte, duennwandige lagerbuechse
JPH0639351B2 (ja) 1987-09-05 1994-05-25 信越半導体株式会社 単結晶棒の製造装置及び方法
JP3203341B2 (ja) 1993-01-06 2001-08-27 ワッカー・エヌエスシーイー株式会社 半導体単結晶棒製造装置
JP3214988B2 (ja) 1994-09-09 2001-10-02 ワッカー・エヌエスシーイー株式会社 シリコン単結晶の製造装置
JPH08181294A (ja) * 1994-12-26 1996-07-12 Nippon Steel Corp 半導体装置の製造方法
US5824149A (en) * 1996-02-28 1998-10-20 Ferrofluidics Corporation Method and apparatus for controlling crystal temperature gradients in crystal growing systems
JP3992800B2 (ja) * 1997-09-22 2007-10-17 Sumco Techxiv株式会社 単結晶製造装置および単結晶の製造方法
JP3747123B2 (ja) 1997-11-21 2006-02-22 信越半導体株式会社 結晶欠陥の少ないシリコン単結晶の製造方法及びシリコン単結晶ウエーハ
WO2001057293A1 (en) 2000-01-31 2001-08-09 Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. Single crystal growing device and production method of single crystal using the device and single crystal
JP4788029B2 (ja) * 2000-08-31 2011-10-05 信越半導体株式会社 半導体単結晶の製造装置及びそれを用いた半導体単結晶の製造方法
JP4055362B2 (ja) * 2000-12-28 2008-03-05 信越半導体株式会社 単結晶育成方法および単結晶育成装置
JP4582149B2 (ja) * 2008-01-10 2010-11-17 信越半導体株式会社 単結晶製造装置
JP5186970B2 (ja) * 2008-03-24 2013-04-24 信越半導体株式会社 単結晶製造装置及びその方法
JP5733245B2 (ja) 2012-03-16 2015-06-10 信越半導体株式会社 シリコン単結晶ウェーハの製造方法
KR20130109596A (ko) * 2012-03-28 2013-10-08 주식회사 케이씨씨 실리콘 단결정 잉곳 냉각용 수냉관 및 이를 구비하는 실리콘 단결정 성장장치
JP5880353B2 (ja) 2012-08-28 2016-03-09 信越半導体株式会社 シリコン単結晶の育成方法
JP6790927B2 (ja) * 2017-03-08 2020-11-25 住友金属鉱山株式会社 結晶育成装置
CN208562590U (zh) * 2018-07-20 2019-03-01 上海新昇半导体科技有限公司 一种应用于单晶炉的冷却装置及单晶炉

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20240015067A (ko) 2021-05-28 2024-02-02 신에쯔 한도타이 가부시키가이샤 단결정 제조장치

Also Published As

Publication number Publication date
US20230015551A1 (en) 2023-01-19
WO2021140758A1 (ja) 2021-07-15
DE112020006483T5 (de) 2022-11-17
CN114929951A (zh) 2022-08-19
KR20220124698A (ko) 2022-09-14
JP2021109804A (ja) 2021-08-02
CN114929951B (zh) 2024-11-08
US12071704B2 (en) 2024-08-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4582149B2 (ja) 単結晶製造装置
JP3944879B2 (ja) 単結晶インゴットの製造装置
CN110983429A (zh) 单晶炉及单晶硅制备方法
KR101105950B1 (ko) 단결정 잉곳 제조장치
CN105887186B (zh) 硅单晶提拉设备与生长方法
US20150240380A1 (en) Method for growing silicon single crystal
JP6825728B1 (ja) 単結晶製造装置
JP5092940B2 (ja) 単結晶製造装置及び単結晶の製造方法
JP5392040B2 (ja) 単結晶製造装置及び単結晶製造方法
JP2005231969A (ja) シリコン単結晶の育成装置
KR101756687B1 (ko) 단결정 제조장치 및 단결정 제조방법
JP3612974B2 (ja) 結晶育成方法
JP3129187B2 (ja) 単結晶製造装置および単結晶製造方法
JPH11240790A (ja) 単結晶製造装置
WO2022249614A1 (ja) 単結晶製造装置
JP2020138887A (ja) 単結晶育成装置及び単結晶育成方法
JP2004262723A (ja) 単結晶引上装置及び単結晶引上方法
JP2006232570A (ja) GaAs単結晶の製造方法
JP7428149B2 (ja) 単結晶製造装置
JPH01145391A (ja) 単結晶引上装置
JP2003165791A (ja) シリコン単結晶製造方法及び装置
JPH11199383A (ja) 結晶育成方法
JPS63319293A (ja) シリコン単結晶引上成長炉
JP4147606B2 (ja) シリコンウエーハ及び結晶育成方法
JPH0782084A (ja) 単結晶成長方法及び単結晶成長装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200501

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20200501

A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20200617

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200623

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200721

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200929

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20201015

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20201215

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20201228

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6825728

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250