JP5820291B2 - 過電流保護回路 - Google Patents
過電流保護回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5820291B2 JP5820291B2 JP2012025744A JP2012025744A JP5820291B2 JP 5820291 B2 JP5820291 B2 JP 5820291B2 JP 2012025744 A JP2012025744 A JP 2012025744A JP 2012025744 A JP2012025744 A JP 2012025744A JP 5820291 B2 JP5820291 B2 JP 5820291B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- low
- blanking time
- overcurrent protection
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 83
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 22
- 101001005165 Bos taurus Lens fiber membrane intrinsic protein Proteins 0.000 description 36
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 20
- 102100036203 Microfibrillar-associated protein 5 Human genes 0.000 description 4
- 101710147471 Microfibrillar-associated protein 5 Proteins 0.000 description 4
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 4
- 102100037224 Noncompact myelin-associated protein Human genes 0.000 description 3
- 101710184695 Noncompact myelin-associated protein Proteins 0.000 description 3
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 3
- 101150070189 CIN3 gene Proteins 0.000 description 2
- 101150110971 CIN7 gene Proteins 0.000 description 2
- 101100286980 Daucus carota INV2 gene Proteins 0.000 description 2
- 101100508840 Daucus carota INV3 gene Proteins 0.000 description 2
- 101150110298 INV1 gene Proteins 0.000 description 2
- 101100397044 Xenopus laevis invs-a gene Proteins 0.000 description 2
- 101100397045 Xenopus laevis invs-b gene Proteins 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 2
- 102100038026 DNA fragmentation factor subunit alpha Human genes 0.000 description 1
- 101000950906 Homo sapiens DNA fragmentation factor subunit alpha Proteins 0.000 description 1
- 102100023487 Lens fiber major intrinsic protein Human genes 0.000 description 1
- 101710087757 Lens fiber major intrinsic protein Proteins 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
Description
このうち、電流IBLNKH1は一定値であるが、電流IBLNKH2は、ハイサイドモニタ電圧VSENSEHの値によって変化する。以下、電流IBLNKH2とハイサイドモニタ電圧VSENSEHの関係を導出する。
となる。また、電流IR1は、ハイサイドモニタ電圧VSENSEHを用いて式(3)のように記述することができる。ここで、VBEQP1はトランジスタQP1のベース・エミッタ間電圧、VBEQP2はPNPトランジスタQP2のベース・エミッタ間電圧である。
このとき、QP1、QP2が同一のPNPトランジスタとすれば、電流IR1は式(4)の関係が成り立つ。
よって、式(1)、式(2)、式(4)より、ハイサイドブランキング時間制御電流IBLNKHは次の式で表すことができる。
図3(a)に、PVDD基準ハイサイドモニタ電圧「PVDD−VSENSEH」とハイサイドブランキング時間制御電流IBLNKHの関係を示した。
よって、式(5)、式(6)より、ハイサイドブランキング時間tBLNKHとハイサイドモニタ電圧VSENSEHの間には式(7)の関係が成り立つ。
図3(b)に、PVDD基準ハイサイドモニタ電圧「PVDD−VSENSEH」とハイサイドブランキング時間tBLNKHの関係を示した。
このうち、電流IBLNKL1は一定値であるが、電流IBLNKL2は、ローサイドモニタ電圧VSENSELの値によって変化する。以下、電流IBLNKL2とローサイドモニタ電圧VSENSELの関係を導出する。
となる。また、電流IR2は、ローサイドモニタ電圧VSENSELを用いて式(10)のように記述することができる。ここで、VBEQN3はトランジスタQN3のベース・エミッタ間電圧、VBEQN4はトランジスタQN4のベース・エミッタ間電圧である。
このとき、QN3、QN4が同一のNPNトランジスタとすれば、電流IR2は式(11)の関係が成り立つ。
よって、式(8)、式(9)、式(11)より、ローサイドブランキング時間制御電流IBLNKLは次の式で表すことができる。
図5(a)に、ローサイドモニタ電圧VSENSELとローサイドブランキング時間制御電流IBLNKLの関係を示した。
よって、式(12)、式(13)より、ローサイドブランキング時間tBLNKLとローサイドモニタ電圧VSENSELの間には式(14)の関係が成り立つ。
図5(b)に、ローサイドモニタ電圧VSENSELとローサイドブランキング時間tBLNKLの関係を示した。
図6に本発明の過電流保護回路16において、ハイサイドパワートランジスMP1に過電流が流れた場合の動作波形を示す。
11:コントロールロジック回路
12H:ハイサイドレベルシフト回路、12L:ローサイドレベルシフト回路
13H:ハイサイドプリドライバ回路、13L:ローサイドプリドライバ回路
14H:ハイサイド出力回路、14L:ローサイド出力回路
15H:ハイサイド出力電流モニタ回路、15L:ローサイド出力電流モニタ回路
16:過電流保護回路、16H:ハイサイド過電流保護回路、16L:ローサイド過電流保護回路、161:ハイサイド過電流検出回路、1611:コンパレータ、1612:レベルシフト回路、162:ハイサイドブランキング時間制御回路、163:ハイサイドブランキング回路、1631:コンパレータ、164:ローサイド過電流検出回路、1641:コンパレータ、165:ローサイドブランキング時間制御回路、166:ローサイドブランキング回路、1661:コンパレータ
17:過電流保護回路、17H:ハイサイド過電流保護回路、17L:ローサイド過電流保護回路、171:ハイサイド過電流検出回路、1711:コンパレータ、1712:レベルシフト回路、172:ハイサイドブランキング回路、1721:コンパレータ、173:ローサイド過電流検出回路、1721:コンパレータ、174:ローサイドブランキング回路、1741:コンパレータ
18:負荷
Claims (1)
- パワートランジスタに流れる出力電流が第1の基準値を超えたとき過電流検出信号を発生する過電流検出回路と、前記過電流検出信号がブランキング時間を超えて継続したとき過電流保護信号を発生するブランキング回路とを含む過電流保護回路において、
前記過電流検出回路が前記過電流検出信号を発生しているとき、前記パワートランジスタに流れる前記出力電流が大きくなると前記ブランキング回路のブランキング時間を減少するブランキング時間制御回路を設け、
前記ブランキング時間制御回路は、前記パワートランジスタに流れる出力電流の大きさに比例したブランキング時間制御電流を発生し、
前記ブランキング回路は、前記過電流検出回路が前記過電流検出信号を発生しているとき、前記ブランキング時間制御回路から出力する前記ブランキング時間制御電流により充電されるブランキング時間制御コンデンサを備え、該ブランキング時間制御コンデンサの充電電圧が第2の基準値を超えると過電流保護信号を出力する、
ことを特徴とする過電流保護回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012025744A JP5820291B2 (ja) | 2012-02-09 | 2012-02-09 | 過電流保護回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012025744A JP5820291B2 (ja) | 2012-02-09 | 2012-02-09 | 過電流保護回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013162511A JP2013162511A (ja) | 2013-08-19 |
JP5820291B2 true JP5820291B2 (ja) | 2015-11-24 |
Family
ID=49174387
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012025744A Active JP5820291B2 (ja) | 2012-02-09 | 2012-02-09 | 過電流保護回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5820291B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3531556A1 (en) * | 2018-02-23 | 2019-08-28 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor device, semiconductor system, and control system |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112736859B (zh) * | 2020-12-29 | 2024-04-26 | 联合汽车电子有限公司 | 过流诊断处理电路以及低边驱动电路 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04158622A (ja) * | 1990-10-23 | 1992-06-01 | Nec Corp | 半導体装置 |
JPH05292656A (ja) * | 1992-04-13 | 1993-11-05 | Mitsubishi Electric Corp | パワーデバイスの過電流保護装置 |
EP1191692A4 (en) * | 2000-02-25 | 2003-05-14 | Mitsubishi Electric Corp | POWER MODULE |
JP2007195007A (ja) * | 2006-01-20 | 2007-08-02 | Denso Corp | 過電流検出回路 |
JP5044448B2 (ja) * | 2008-03-03 | 2012-10-10 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 電源スイッチ回路 |
JP5307660B2 (ja) * | 2009-07-30 | 2013-10-02 | 新日本無線株式会社 | スイッチング駆動回路の短絡保護回路 |
JP5711041B2 (ja) * | 2011-05-09 | 2015-04-30 | 新日本無線株式会社 | 容量性スピーカ駆動回路 |
-
2012
- 2012-02-09 JP JP2012025744A patent/JP5820291B2/ja active Active
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3531556A1 (en) * | 2018-02-23 | 2019-08-28 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor device, semiconductor system, and control system |
US10620239B2 (en) | 2018-02-23 | 2020-04-14 | Renesas Electronics Corporation | Current detection in a semiconductor device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013162511A (ja) | 2013-08-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5315026B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP6390801B2 (ja) | 過熱検出装置および半導体装置 | |
US9819260B2 (en) | Integrated circuit charge pump with failure protection | |
JP2014207412A (ja) | Esd保護回路 | |
JP2007306042A (ja) | レベル変換回路及びこれを用いた入出力装置 | |
JP2010166110A (ja) | 電圧検出回路 | |
WO2015146041A1 (ja) | 駆動装置 | |
JP2014026996A (ja) | Esd保護回路 | |
CN110785933A (zh) | 半导体开关元件的短路保护电路 | |
JP5820291B2 (ja) | 過電流保護回路 | |
JP2006115594A (ja) | 誤動作防止回路 | |
JP4459689B2 (ja) | スイッチング素子の駆動回路 | |
US7236002B2 (en) | Digital CMOS-input with N-channel extended drain transistor for high-voltage protection | |
JP2007082364A (ja) | 昇圧回路を有する電子回路とそれを有する電気機器 | |
TW201532386A (zh) | 可快速切換閘極電位之輸出緩衝器及靜電防護電路 | |
JP6102450B2 (ja) | モータドライバ装置及びその制御方法 | |
JP5817306B2 (ja) | 電源電圧検出回路 | |
US8779830B2 (en) | Inverse level shift circuit | |
JP4140608B2 (ja) | 過電流制限回路 | |
JP7136622B2 (ja) | レベル変換回路 | |
JP2012130136A (ja) | 集積回路 | |
JPH06152358A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JP5759787B2 (ja) | 温度検出回路 | |
JP2009231891A (ja) | 半導体装置 | |
KR101120941B1 (ko) | 시스템 안정화 회로 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150107 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150728 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150731 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150903 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150917 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20151002 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5820291 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |