JP5025565B2 - 光信号ビットレート調整装置、光信号発生装置、光試験装置、光信号ビットレート調整方法およびプログラム、記録媒体 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の第一の実施形態にかかる光試験装置1の構成を示すブロック図である。光試験装置1は、ドライバモジュール(電気パルス信号源)10、光信号発生装置20を備える。なお、光信号発生装置20の出力(光試験信号)は被測定物(DUT : Device Under Test)2に与えられる。なお、被測定物2は、例えば、光の入力を受け、光を出力するVLSI(光VLSIという)である。
Wave Light)を与える。
= 2, 4)は、座標X(1)の第一時間変化部240aに与えられる第一電気パルス信号CH1を、
(m/N+k)・PW+(X(n)−X(1))no/C (1)
だけ遅延させたものに相当する。ただし、Cは光速、kは任意の整数、mは1以上かつN−1以下の整数である。しかも、第一時間変化部240bおよび第二時間変化部242a、242bの各々について、mは異なる値を有する。
(m/N)・PW (2)
となる。
= 2のときにm = 3、n = 3のときにm = 2、n = 4のときにm = 1となってもよい。
Highとなる。
3, 4において、X(n)−X(1) > 0である。すると、第一分波光が、第一光路24bにおける座標X(1)に相当する地点に到達してから、座標X(2)、X(3)、X(4)に相当する地点に到達するまでの時間を無視できない。
第二の実施形態にかかる光信号発生装置20は、第一の実施形態にかかる光信号発生装置20の連続波光源22をパルス光源23に変更し、それに対応して、NRZ変換部25、NRZパルス光調整部27を備えたものである。
2 被測定物
10 ドライバモジュール(電気パルス信号源)
10a、10b、10c、10d ドライバ
20 光信号発生装置
BR 第一電気パルス信号および第二電気パルス信号のビットレート
PW 第一電気パルス信号および第二電気パルス信号のパルス幅
C 光速
k 任意の整数
m 1以上かつN−1以下の整数
CH1、CH3 第一電気パルス信号
CH2、CH4 第二電気パルス信号
22 連続波光源
23 パルス光源
24 光信号ビットレート調整装置
25 NRZ変換部
26 出力パルス光調整部
27 NRZパルス光調整部
24a 分波部
24b 第一光路
24c 第二光路
24d 合波部
240a、240b 第一時間変化部
242a、242b 第二時間変化部
244 遅延部
248b、248c、248d 可変遅延部
Claims (13)
- 光を分波して第一分波光および第二分波光を得る分波部と、
前記第一分波光が通過する第一光路と、
前記第二分波光が通過する第二光路と、
前記第一光路を通過した前記第一分波光と、前記第二光路を通過した前記第二分波光とを合波する合波部と、
前記第一光路に沿って配置され、前記第一分波光が前記第一光路を通過する時間を、与えられる第一電気パルス信号に応じて変化させる複数の第一時間変化部と、
前記第二光路に沿って配置され、前記第二分波光が前記第二光路を通過する時間を、与えられる第二電気パルス信号に応じて変化させる複数の第二時間変化部と、
を備え、
前記第一電気パルス信号および前記第二電気パルス信号は、パルス幅PWが共通しており、
複数の前記第一時間変化部の個数をN1とし(ただし、N1は2以上の整数)、
複数の前記第二時間変化部の個数をN2とし(ただし、N2は2以上の整数)、
N = N1+N2とし、
前記第一時間変化部および前記第二時間変化部の前記第一光路の方向の軸上の座標をX(n)としたときに(ただし、nは、前記第一時間変化部および前記第二時間変化部を前記軸上に射影したものが、前記第一分波光が入射する前記第一光路の入射端を前記軸上に射影したものに近いほど小さな、1以上かつN以下の整数)、
nが2以上の場合における、座標X(n)の前記第一時間変化部に与えられる前記第一電気パルス信号および座標X(n)の前記第二時間変化部に与えられる前記第二電気パルス信号は、
座標X(1)の前記第一時間変化部または前記第二時間変化部に与えられる前記第一電気パルス信号または前記第二電気パルス信号を、
(m/N+k)・PW+(X(n)−X(1))no/C
だけ遅延させたものに相当し(ただし、noは前記第一光路および前記第二光路の実効屈折率、Cは光速、kは任意の整数、mは1以上かつN−1以下の整数)、
前記第一時間変化部および前記第二時間変化部の各々について、mは異なる値を有する、
光信号ビットレート調整装置。 - 請求項1に記載の光信号ビットレート調整装置であって、
nが小さいほど、mが小さい、
光信号ビットレート調整装置。 - 請求項1に記載の光信号ビットレート調整装置であって、
前記第一時間変化部が、与えられる前記第一電気パルス信号の電圧に応じて、前記第一光路の所定の部分の屈折率を変化させ、
前記第二時間変化部が、与えられる前記第二電気パルス信号の電圧に応じて、前記第二光路の所定の部分の屈折率を変化させる、
光信号ビットレート調整装置。 - 請求項1に記載の光信号ビットレート調整装置であって、
前記第一時間変化部は、前記第一電気パルス信号が所定の状態のときに、前記第一分波光の位相をπ変化させ、
前記第二時間変化部は、前記第二電気パルス信号が所定の状態のときに、前記第二分波光の位相をπ変化させる、
光信号ビットレート調整装置。 - 請求項1に記載の光信号ビットレート調整装置であって、
前記第一電気パルス信号および前記第二電気パルス信号が与えられないときに、前記合波部の出力が最小または最大になるように、前記第一分波光および前記第二分波光の一方または双方を遅延させる遅延部、
を備えた光信号ビットレート調整装置。 - 請求項1ないし5のいずれか一項に記載の光信号ビットレート調整装置と、
前記分波部に連続波光を与える連続波光源と、
を備えた光信号発生装置。 - 請求項6に記載の光信号発生装置であって、
前記合波部が出力する出力パルス光の高さまたはオフセットを調整する出力パルス光調整部、
を備えた光信号発生装置。 - 請求項1ないし5のいずれか一項に記載の光信号ビットレート調整装置と、
前記分波部に入力パルス光を与えるパルス光源と、
を備えた光信号発生装置。 - 請求項8に記載の光信号発生装置であって、
前記合波部が出力する出力パルス光をNRZ信号パルス光に変換するNRZ変換部と、
前記NRZ信号パルス光の高さまたはオフセットを調整するNRZパルス光調整部と、
を備えた光信号発生装置。 - 請求項6ないし9のいずれか一項に記載の光信号発生装置と、
前記第一電気パルス信号および前記第二電気パルス信号を生成する電気パルス信号源と、
を備え、
前記光信号発生装置の出力を被測定物に与える、
光試験装置。 - 光を分波して第一分波光および第二分波光を得る分波部と、
前記第一分波光が通過する第一光路と、
前記第二分波光が通過する第二光路と、
前記第一光路を通過した前記第一分波光と、前記第二光路を通過した前記第二分波光とを合波する合波部と、
を備えた光信号ビットレート調整装置における光信号ビットレート調整方法であって、
前記第一光路に沿って配置された複数の第一時間変化部により、前記第一分波光が前記第一光路を通過する時間を、与えられる第一電気パルス信号に応じて変化させる工程と、
前記第二光路に沿って配置された複数の第二時間変化部により、前記第二分波光が前記第二光路を通過する時間を、与えられる第二電気パルス信号に応じて変化させる工程と、
を備え、
前記第一電気パルス信号および前記第二電気パルス信号は、パルス幅PWが共通しており、
複数の前記第一時間変化部の個数をN1とし(ただし、N1は2以上の整数)、
複数の前記第二時間変化部の個数をN2とし(ただし、N2は2以上の整数)、
N = N1+N2とし、
前記第一時間変化部および前記第二時間変化部の前記第一光路の方向の軸上の座標をX(n)としたときに(ただし、nは、前記第一時間変化部および前記第二時間変化部を前記軸上に射影したものが、前記第一分波光が入射する前記第一光路の入射端を前記軸上に射影したものに近いほど小さな、1以上かつN以下の整数)、
nが2以上の場合における、座標X(n)の前記第一時間変化部に与えられる前記第一電気パルス信号および座標X(n)の前記第二時間変化部に与えられる前記第二電気パルス信号は、
座標X(1)の前記第一時間変化部または前記第二時間変化部に与えられる前記第一電気パルス信号または前記第二電気パルス信号を、
(m/N+k)・PW+(X(n)−X(1))no/C
だけ遅延させたものに相当し(ただし、noは前記第一光路および前記第二光路の実効屈折率、Cは光速、kは任意の整数、mは1以上かつN−1以下の整数)、
前記第一時間変化部および前記第二時間変化部の各々について、mは異なる値を有する、
光信号ビットレート調整方法。 - 請求項10に記載の光試験装置の前記電気パルス信号源を制御して、前記第一電気パルス信号および前記第二電気パルス信号を生成させる電気パルス信号生成制御処理をコンピュータに実行させるためのプログラム。
- 請求項10に記載の光試験装置の前記電気パルス信号源を制御して、前記第一電気パルス信号および前記第二電気パルス信号を生成させる電気パルス信号生成制御処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体。
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