JP4781185B2 - 耐熱ダイシングテープ又はシート - Google Patents
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- 239000004820 Pressure-sensitive adhesive Substances 0.000 claims description 72
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 66
- 239000000178 monomer Substances 0.000 claims description 51
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 48
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 46
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 38
- -1 aziridine compound Chemical class 0.000 claims description 34
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 29
- 229920000058 polyacrylate Polymers 0.000 claims description 25
- 229920005601 base polymer Polymers 0.000 claims description 23
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 23
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 22
- 239000011203 carbon fibre reinforced carbon Substances 0.000 claims description 22
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 22
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 22
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 21
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 17
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 claims description 14
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 13
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 12
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 claims description 7
- 125000004433 nitrogen atom Chemical group N* 0.000 claims description 7
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N Methacrylic acid Chemical compound CC(=C)C(O)=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000003431 cross linking reagent Substances 0.000 claims description 6
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 claims description 5
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 5
- 238000000227 grinding Methods 0.000 claims description 5
- 229920001228 polyisocyanate Polymers 0.000 claims description 4
- 239000005056 polyisocyanate Substances 0.000 claims description 4
- 239000013585 weight reducing agent Substances 0.000 claims description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 3
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 claims description 2
- 125000005907 alkyl ester group Chemical group 0.000 claims description 2
- 229920000877 Melamine resin Polymers 0.000 claims 1
- 239000004640 Melamine resin Substances 0.000 claims 1
- 229920001807 Urea-formaldehyde Polymers 0.000 claims 1
- 150000008065 acid anhydrides Chemical class 0.000 claims 1
- 229920000768 polyamine Polymers 0.000 claims 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 61
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 49
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 13
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 2-Propenoic acid Natural products OC(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 description 11
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 10
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 9
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 8
- 229920006243 acrylic copolymer Polymers 0.000 description 7
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 7
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 7
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 description 7
- BAPJBEWLBFYGME-UHFFFAOYSA-N Methyl acrylate Chemical compound COC(=O)C=C BAPJBEWLBFYGME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000003999 initiator Substances 0.000 description 6
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 5
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 5
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 5
- KZNICNPSHKQLFF-UHFFFAOYSA-N succinimide Chemical compound O=C1CCC(=O)N1 KZNICNPSHKQLFF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- OMIGHNLMNHATMP-UHFFFAOYSA-N 2-hydroxyethyl prop-2-enoate Chemical compound OCCOC(=O)C=C OMIGHNLMNHATMP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- HRPVXLWXLXDGHG-UHFFFAOYSA-N Acrylamide Chemical compound NC(=O)C=C HRPVXLWXLXDGHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000004833 X-ray photoelectron spectroscopy Methods 0.000 description 4
- 125000003178 carboxy group Chemical group [H]OC(*)=O 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 4
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- TXBCBTDQIULDIA-UHFFFAOYSA-N 2-[[3-hydroxy-2,2-bis(hydroxymethyl)propoxy]methyl]-2-(hydroxymethyl)propane-1,3-diol Chemical compound OCC(CO)(CO)COCC(CO)(CO)CO TXBCBTDQIULDIA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WHNWPMSKXPGLAX-UHFFFAOYSA-N N-Vinyl-2-pyrrolidone Chemical compound C=CN1CCCC1=O WHNWPMSKXPGLAX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 3
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 3
- DNIAPMSPPWPWGF-UHFFFAOYSA-N Propylene glycol Chemical compound CC(O)CO DNIAPMSPPWPWGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- HVVWZTWDBSEWIH-UHFFFAOYSA-N [2-(hydroxymethyl)-3-prop-2-enoyloxy-2-(prop-2-enoyloxymethyl)propyl] prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OCC(CO)(COC(=O)C=C)COC(=O)C=C HVVWZTWDBSEWIH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 3
- 238000007259 addition reaction Methods 0.000 description 3
- ISAOCJYIOMOJEB-UHFFFAOYSA-N desyl alcohol Natural products C=1C=CC=CC=1C(O)C(=O)C1=CC=CC=C1 ISAOCJYIOMOJEB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000005442 diisocyanate group Chemical group 0.000 description 3
- 239000012948 isocyanate Substances 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 3
- 239000005416 organic matter Substances 0.000 description 3
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 3
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 3
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 3
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 3
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 3
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 3
- 229960002317 succinimide Drugs 0.000 description 3
- 238000002411 thermogravimetry Methods 0.000 description 3
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 3
- GDYAJWCMJNEDAP-UHFFFAOYSA-N 1,2-diisocyanatoethyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(=C)C(=O)OC(N=C=O)CN=C=O GDYAJWCMJNEDAP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OZFIGURLAJSLIR-UHFFFAOYSA-N 1-ethenyl-2h-pyridine Chemical compound C=CN1CC=CC=C1 OZFIGURLAJSLIR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PBGPBHYPCGDFEZ-UHFFFAOYSA-N 1-ethenylpiperidin-2-one Chemical compound C=CN1CCCCC1=O PBGPBHYPCGDFEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 2-(2-methoxy-5-methylphenyl)ethanamine Chemical compound COC1=CC=C(C)C=C1CCN SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HFCUBKYHMMPGBY-UHFFFAOYSA-N 2-methoxyethyl prop-2-enoate Chemical compound COCCOC(=O)C=C HFCUBKYHMMPGBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VZCYOOQTPOCHFL-OWOJBTEDSA-N Fumaric acid Chemical compound OC(=O)\C=C\C(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-OWOJBTEDSA-N 0.000 description 2
- 239000004696 Poly ether ether ketone Substances 0.000 description 2
- 239000004697 Polyetherimide Substances 0.000 description 2
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 2
- 239000004734 Polyphenylene sulfide Substances 0.000 description 2
- OFOBLEOULBTSOW-UHFFFAOYSA-N Propanedioic acid Natural products OC(=O)CC(O)=O OFOBLEOULBTSOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 244000028419 Styrax benzoin Species 0.000 description 2
- 235000000126 Styrax benzoin Nutrition 0.000 description 2
- 235000008411 Sumatra benzointree Nutrition 0.000 description 2
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 2
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 2
- 239000004760 aramid Substances 0.000 description 2
- 229920003235 aromatic polyamide Polymers 0.000 description 2
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 2
- 229960002130 benzoin Drugs 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 2
- JBKVHLHDHHXQEQ-UHFFFAOYSA-N epsilon-caprolactam Chemical compound O=C1CCCCCN1 JBKVHLHDHHXQEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- 239000005038 ethylene vinyl acetate Substances 0.000 description 2
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 2
- 235000019382 gum benzoic Nutrition 0.000 description 2
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 2
- IQPQWNKOIGAROB-UHFFFAOYSA-N isocyanate group Chemical group [N-]=C=O IQPQWNKOIGAROB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 2
- SLCVBVWXLSEKPL-UHFFFAOYSA-N neopentyl glycol Chemical compound OCC(C)(C)CO SLCVBVWXLSEKPL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WXZMFSXDPGVJKK-UHFFFAOYSA-N pentaerythritol Chemical compound OCC(CO)(CO)CO WXZMFSXDPGVJKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920001200 poly(ethylene-vinyl acetate) Polymers 0.000 description 2
- 229920001707 polybutylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 2
- 229920002530 polyetherether ketone Polymers 0.000 description 2
- 229920001601 polyetherimide Polymers 0.000 description 2
- 229920001223 polyethylene glycol Polymers 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 229920000069 polyphenylene sulfide Polymers 0.000 description 2
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- VZCYOOQTPOCHFL-UHFFFAOYSA-N trans-butenedioic acid Natural products OC(=O)C=CC(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- QNODIIQQMGDSEF-UHFFFAOYSA-N (1-hydroxycyclohexyl)-phenylmethanone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(=O)C1(O)CCCCC1 QNODIIQQMGDSEF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AURYLBASVGNSON-UHFFFAOYSA-N (2,5-dioxopyrrolidin-3-ylidene)methyl prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OC=C1CC(=O)NC1=O AURYLBASVGNSON-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GJZFGDYLJLCGHT-UHFFFAOYSA-N 1,2-diethylthioxanthen-9-one Chemical compound C1=CC=C2C(=O)C3=C(CC)C(CC)=CC=C3SC2=C1 GJZFGDYLJLCGHT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UYEDESPZQLZMCL-UHFFFAOYSA-N 1,2-dimethylthioxanthen-9-one Chemical compound C1=CC=C2C(=O)C3=C(C)C(C)=CC=C3SC2=C1 UYEDESPZQLZMCL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MSAHTMIQULFMRG-UHFFFAOYSA-N 1,2-diphenyl-2-propan-2-yloxyethanone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(OC(C)C)C(=O)C1=CC=CC=C1 MSAHTMIQULFMRG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DKEGCUDAFWNSSO-UHFFFAOYSA-N 1,8-dibromooctane Chemical compound BrCCCCCCCCBr DKEGCUDAFWNSSO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZVEMLYIXBCTVOF-UHFFFAOYSA-N 1-(2-isocyanatopropan-2-yl)-3-prop-1-en-2-ylbenzene Chemical compound CC(=C)C1=CC=CC(C(C)(C)N=C=O)=C1 ZVEMLYIXBCTVOF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YNSNJGRCQCDRDM-UHFFFAOYSA-N 1-chlorothioxanthen-9-one Chemical compound S1C2=CC=CC=C2C(=O)C2=C1C=CC=C2Cl YNSNJGRCQCDRDM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQTPKSBXMONSJI-UHFFFAOYSA-N 1-cyclohexylpyrrole-2,5-dione Chemical compound O=C1C=CC(=O)N1C1CCCCC1 BQTPKSBXMONSJI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SJLLJZNSZJHXQN-UHFFFAOYSA-N 1-dodecylpyrrole-2,5-dione Chemical compound CCCCCCCCCCCCN1C(=O)C=CC1=O SJLLJZNSZJHXQN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CTOHEPRICOKHIV-UHFFFAOYSA-N 1-dodecylthioxanthen-9-one Chemical compound S1C2=CC=CC=C2C(=O)C2=C1C=CC=C2CCCCCCCCCCCC CTOHEPRICOKHIV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HXQKJEIGFRLGIH-UHFFFAOYSA-N 1-ethenyl-2h-pyrazine Chemical compound C=CN1CC=NC=C1 HXQKJEIGFRLGIH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LNKDTZRRFHHCCV-UHFFFAOYSA-N 1-ethenyl-2h-pyrimidine Chemical compound C=CN1CN=CC=C1 LNKDTZRRFHHCCV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OSSNTDFYBPYIEC-UHFFFAOYSA-N 1-ethenylimidazole Chemical compound C=CN1C=CN=C1 OSSNTDFYBPYIEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DCRYNQTXGUTACA-UHFFFAOYSA-N 1-ethenylpiperazine Chemical compound C=CN1CCNCC1 DCRYNQTXGUTACA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CTXUTPWZJZHRJC-UHFFFAOYSA-N 1-ethenylpyrrole Chemical compound C=CN1C=CC=C1 CTXUTPWZJZHRJC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PBDXUGSZYRYWMI-UHFFFAOYSA-N 1-ethyl-3-heptylidenepyrrolidine-2,5-dione Chemical compound CCCCCCC=C1CC(=O)N(CC)C1=O PBDXUGSZYRYWMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QSWFISOPXPJUCT-UHFFFAOYSA-N 1-methyl-3-methylidenepyrrolidine-2,5-dione Chemical compound CN1C(=O)CC(=C)C1=O QSWFISOPXPJUCT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XLPJNCYCZORXHG-UHFFFAOYSA-N 1-morpholin-4-ylprop-2-en-1-one Chemical compound C=CC(=O)N1CCOCC1 XLPJNCYCZORXHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HIDBROSJWZYGSZ-UHFFFAOYSA-N 1-phenylpyrrole-2,5-dione Chemical compound O=C1C=CC(=O)N1C1=CC=CC=C1 HIDBROSJWZYGSZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BFYSJBXFEVRVII-UHFFFAOYSA-N 1-prop-1-enylpyrrolidin-2-one Chemical compound CC=CN1CCCC1=O BFYSJBXFEVRVII-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NQDOCLXQTQYUDH-UHFFFAOYSA-N 1-propan-2-ylpyrrole-2,5-dione Chemical compound CC(C)N1C(=O)C=CC1=O NQDOCLXQTQYUDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KWVGIHKZDCUPEU-UHFFFAOYSA-N 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(OC)(OC)C(=O)C1=CC=CC=C1 KWVGIHKZDCUPEU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WULAHPYSGCVQHM-UHFFFAOYSA-N 2-(2-ethenoxyethoxy)ethanol Chemical compound OCCOCCOC=C WULAHPYSGCVQHM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VUIWJRYTWUGOOF-UHFFFAOYSA-N 2-ethenoxyethanol Chemical compound OCCOC=C VUIWJRYTWUGOOF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQZJOQXSCSZQPS-UHFFFAOYSA-N 2-methoxy-1,2-diphenylethanone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(OC)C(=O)C1=CC=CC=C1 BQZJOQXSCSZQPS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SQNNTFLXJONPGS-UHFFFAOYSA-N 2-methylideneheptadecanoic acid Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCC(=C)C(O)=O SQNNTFLXJONPGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JEHFRMABGJJCPF-UHFFFAOYSA-N 2-methylprop-2-enoyl isocyanate Chemical compound CC(=C)C(=O)N=C=O JEHFRMABGJJCPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AUZRCMMVHXRSGT-UHFFFAOYSA-N 2-methylpropane-1-sulfonic acid;prop-2-enamide Chemical compound NC(=O)C=C.CC(C)CS(O)(=O)=O AUZRCMMVHXRSGT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AGBXYHCHUYARJY-UHFFFAOYSA-N 2-phenylethenesulfonic acid Chemical compound OS(=O)(=O)C=CC1=CC=CC=C1 AGBXYHCHUYARJY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NIAXWFTYAJQENP-UHFFFAOYSA-N 3-ethenyl-2h-1,3-oxazole Chemical compound C=CN1COC=C1 NIAXWFTYAJQENP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OFNISBHGPNMTMS-UHFFFAOYSA-N 3-methylideneoxolane-2,5-dione Chemical compound C=C1CC(=O)OC1=O OFNISBHGPNMTMS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HMBNQNDUEFFFNZ-UHFFFAOYSA-N 4-ethenoxybutan-1-ol Chemical compound OCCCCOC=C HMBNQNDUEFFFNZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CFZDMXAOSDDDRT-UHFFFAOYSA-N 4-ethenylmorpholine Chemical compound C=CN1CCOCC1 CFZDMXAOSDDDRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SXIFAEWFOJETOA-UHFFFAOYSA-N 4-hydroxy-butyl Chemical group [CH2]CCCO SXIFAEWFOJETOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SNRUBQQJIBEYMU-UHFFFAOYSA-N Dodecane Natural products CCCCCCCCCCCC SNRUBQQJIBEYMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PEEHTFAAVSWFBL-UHFFFAOYSA-N Maleimide Chemical compound O=C1NC(=O)C=C1 PEEHTFAAVSWFBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical group OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 1
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L Sulfate Chemical compound [O-]S([O-])(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- ZJCCRDAZUWHFQH-UHFFFAOYSA-N Trimethylolpropane Chemical compound CCC(CO)(CO)CO ZJCCRDAZUWHFQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BZHJMEDXRYGGRV-UHFFFAOYSA-N Vinyl chloride Chemical compound ClC=C BZHJMEDXRYGGRV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KJVBXWVJBJIKCU-UHFFFAOYSA-N [hydroxy(2-hydroxyethoxy)phosphoryl] prop-2-enoate Chemical compound OCCOP(O)(=O)OC(=O)C=C KJVBXWVJBJIKCU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004018 acid anhydride group Chemical group 0.000 description 1
- 238000010306 acid treatment Methods 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 125000002723 alicyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 150000001408 amides Chemical class 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000003712 anti-aging effect Effects 0.000 description 1
- 150000008365 aromatic ketones Chemical class 0.000 description 1
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 1
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 1
- RWCCWEUUXYIKHB-UHFFFAOYSA-N benzophenone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(=O)C1=CC=CC=C1 RWCCWEUUXYIKHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012965 benzophenone Substances 0.000 description 1
- 125000001797 benzyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000012662 bulk polymerization Methods 0.000 description 1
- 125000000484 butyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 1
- CREMABGTGYGIQB-UHFFFAOYSA-N carbon carbon Chemical compound C.C CREMABGTGYGIQB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- KRVSOGSZCMJSLX-UHFFFAOYSA-L chromic acid Substances O[Cr](O)(=O)=O KRVSOGSZCMJSLX-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 1
- 238000006482 condensation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 1
- LDHQCZJRKDOVOX-NSCUHMNNSA-N crotonic acid Chemical compound C\C=C\C(O)=O LDHQCZJRKDOVOX-NSCUHMNNSA-N 0.000 description 1
- 150000007973 cyanuric acids Chemical class 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 125000002704 decyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 125000003438 dodecyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000007720 emulsion polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 125000003700 epoxy group Chemical group 0.000 description 1
- 150000002170 ethers Chemical class 0.000 description 1
- 125000005448 ethoxyethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])OC([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- 238000010528 free radical solution polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 239000001530 fumaric acid Substances 0.000 description 1
- AWJWCTOOIBYHON-UHFFFAOYSA-N furo[3,4-b]pyrazine-5,7-dione Chemical compound C1=CN=C2C(=O)OC(=O)C2=N1 AWJWCTOOIBYHON-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 125000003187 heptyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- ACCCMOQWYVYDOT-UHFFFAOYSA-N hexane-1,1-diol Chemical compound CCCCCC(O)O ACCCMOQWYVYDOT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XXMIOPMDWAUFGU-UHFFFAOYSA-N hexane-1,6-diol Chemical compound OCCCCCCO XXMIOPMDWAUFGU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004051 hexyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- NGYRYRBDIPYKTL-UHFFFAOYSA-N icosyl prop-2-enoate Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCCCCCOC(=O)C=C NGYRYRBDIPYKTL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003949 imides Chemical class 0.000 description 1
- 230000005865 ionizing radiation Effects 0.000 description 1
- 150000002513 isocyanates Chemical class 0.000 description 1
- 125000001972 isopentyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(C([H])([H])[H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 125000001449 isopropyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 238000002372 labelling Methods 0.000 description 1
- VZCYOOQTPOCHFL-UPHRSURJSA-N maleic acid Chemical compound OC(=O)\C=C/C(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-UPHRSURJSA-N 0.000 description 1
- 239000011976 maleic acid Substances 0.000 description 1
- FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N maleic anhydride Chemical compound O=C1OC(=O)C=C1 FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002960 margaryl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- RBQRWNWVPQDTJJ-UHFFFAOYSA-N methacryloyloxyethyl isocyanate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCCN=C=O RBQRWNWVPQDTJJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CKFGINPQOCXMAZ-UHFFFAOYSA-N methanediol Chemical compound OCO CKFGINPQOCXMAZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- 125000001196 nonadecyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 125000001400 nonyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 125000002347 octyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 125000000913 palmityl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 239000000123 paper Substances 0.000 description 1
- ULDDEWDFUNBUCM-UHFFFAOYSA-N pentyl prop-2-enoate Chemical compound CCCCCOC(=O)C=C ULDDEWDFUNBUCM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 238000000053 physical method Methods 0.000 description 1
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 description 1
- 229920000098 polyolefin Polymers 0.000 description 1
- 229920005672 polyolefin resin Polymers 0.000 description 1
- 229920006389 polyphenyl polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- UIIIBRHUICCMAI-UHFFFAOYSA-N prop-2-ene-1-sulfonic acid Chemical compound OS(=O)(=O)CC=C UIIIBRHUICCMAI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001436 propyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 125000002914 sec-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 125000004079 stearyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 150000005846 sugar alcohols Polymers 0.000 description 1
- 238000005211 surface analysis Methods 0.000 description 1
- 238000010557 suspension polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- UWHCKJMYHZGTIT-UHFFFAOYSA-N tetraethylene glycol Chemical compound OCCOCCOCCOCCO UWHCKJMYHZGTIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LDHQCZJRKDOVOX-UHFFFAOYSA-N trans-crotonic acid Natural products CC=CC(O)=O LDHQCZJRKDOVOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002948 undecyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 1
- 230000004580 weight loss Effects 0.000 description 1
- 239000004711 α-olefin Substances 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
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- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
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- C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
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- C09J133/04—Homopolymers or copolymers of esters
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- C09J109/00—Adhesives based on homopolymers or copolymers of conjugated diene hydrocarbons
- C09J109/06—Copolymers with styrene
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08L—COMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
- C08L2666/00—Composition of polymers characterized by a further compound in the blend, being organic macromolecular compounds, natural resins, waxes or and bituminous materials, non-macromolecular organic substances, inorganic substances or characterized by their function in the composition
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Description
しかしながら、近年の半導体デバイスの高性能化に伴い、シリコンや化合物などの基板はますます薄層化が進み、従来の工法では対応が困難になりつつある。すなわち、裏面研削後に保護テープを剥離してから裏面蒸着を行うと、搬送中にウエハが割れるなどの問題が顕著になってきた。そこで、半導体ウエハを台座ウエハでサポートすることで薄化と裏面蒸着を行い、搬送の問題を解決する手法が提案されている。中でも、熱剥離性粘着シートを使用した台座工法は良好な自然剥離性を有する台座工法として提案されている。
本発明の他の目的は、本発明の耐熱ダイシングテープ又はシートを使用してダイシングを行う工程を含む半導体チップの製造方法を提供すること及び、該方法により製造された半導体チップを提供することである。
(1)半導体ウエハを熱剥離性テープ又はシートに貼り付け、半導体ウエハを研削して得られた薄化した半導体ウエハの熱剥離性テープ又はシートを貼付した面とは反対側の面に本発明の耐熱ダイシングテープ又はシートを貼り合わせる工程
(2)熱剥離性テープ又はシートを加熱により剥離する工程
(3)半導体ウエハをダイシングによりチップ状に小片化する工程
を含む半導体チップの製造方法を提供する。
本発明の半導体チップの製造方法によれば、ダイシングテープの粘着剤により半導体チップが汚染されたり、ダイシングテープが変形することにより半導体チップが破損することが大幅に抑制されているので、半導体ウエハの生産性及び歩留まり向上が可能である。
本発明の半導体チップは、ダイシングテープの粘着剤による汚染が大幅に低減されている。
本発明の耐熱ダイシングテープ又はシートは、基材の少なくとも片面に粘着剤層が積層された構造を有しており、粘着剤層表面(粘着面)側には、必要に応じて適宜なセパレーターが設けられていてもよい。耐熱ダイシングテープ又はシートは、シート状、ロール状等、用途に応じて適宜な形状を取りうる。例えば、ウエハダイシング用途の場合、あらかじめ所定の形状に切断加工されたものが好適に用いられる。
本発明において基材としては、熱による溶融を避けるために、ガラス転移温度が70℃以上であるものを使用する。基材は、公知慣用の基材の中からガラス転移温度が70℃以上であるものを適宜選択することができ、特に制限されないが、半導体ウエハ等の加工において、ブレードカットやプリカット等の切断工程の作業性を考慮して、樹脂フィルムなどの有機材料よりなる基材を使用するのが好ましい。基材を構成する素材としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリブチレンテレフタレート(PBT)等のポリエステル;ポリイミド(PI);ポリエーテルイミド(PEI);ポリフェニルサルフェート;ポリアミド、全芳香族ポリアミド(アラミド)等のアミド系樹脂;ポリ塩化ビニル(PVC);ポリフェニレンスルフィド(PPS);ポリエーテルエーテルケトン(PEEK);ポリカーボネート(PC);ポリエチレン(PE);ポリプロピレン(PP);エチレン−プロピレン共重合体、エチレン−酢酸ビニル共重合体(EVA)等のα−オレフィンをモノマー成分とするオレフィン系樹脂;フッ素系樹脂;シリコーン系樹脂などが挙げられる。これらの素材は単独で又は2種以上組み合わせて使用することができる。
本発明の耐熱ダイシングテープ又はシートの粘着剤層は、昇温速度2℃/minで室温(例えば、23℃程度)から200℃まで昇温した際の熱重量減少率が2%未満である。半導体チップなどの加工用に用いられるダイシングテープ等は、加工工程において高温に加熱された場合でも熱劣化により粘着特性が著しく増大又は減少したり、凝集力が低下することのない耐熱性が要求される。粘着剤層の熱重量減少率が上記範囲内であれば、耐熱ダイシングテープ又はシートとしての使用目的に適した耐熱性を有していると判断できる。又、粘着剤層の粘着力は、ダイシングテープ又はシートをシリコンミラーウエハに貼り付けた後200℃に加熱し、放冷後、23±3℃で粘着剤層の表面とシリコンミラーウエハの表面とのなす角を180°とし、剥離速度300mm/minでダイシングテープ又はシートを引き剥がした場合の粘着力が、0.5N/20mm以下であり、好ましくは0.3N/20mm以下である。粘着力が0.5N/20mm以下であると、剥離性を良好にし、糊残りの発生を低減できる。粘着剤層の粘着力の値は使用目的等に応じて前記範囲内で増大又は減少させることが可能である。なお、粘着剤層の粘着力をシリコンミラーウエハを用いて規定しているのは、シリコンミラーウエハ表面の粗さの状態が一定程度平滑であること、ダイシング及びピックアップの対象である半導体ウエハとしての半導体ウエハ等と同質材料であることによる。また、測定温度23±3℃における粘着力を基準としているのは、通常ピックアップが行われるのが室温(約23℃)であることによる。
[半導体チップの製造方法]
本発明のダイシングテープ又はシートは、半導体ウエハをダイシングによりチップ状に小片化する際のダイシングテープとして好適に使用することができる。特に本発明のダイシングテープ又はシートは、加熱により変形・変質し難いため、加熱処理工程や、発熱を伴う作業工程を含む製造工程、特に半導体チップの製造工程に好適に使用できる。本発明のダイシングテープ又はシートを使用して実施することのできる半導体チップの製造方法としては、例えば以下のようなものが挙げられる。すなわち、以下の一連の工程
(1)半導体ウエハを熱剥離性テープ又はシートに貼り付け、半導体ウエハを研削して得られた薄化した半導体ウエハの熱剥離性テープ又はシートを貼付した面とは反対側の面に、本発明の耐熱ダイシングテープ又はシートを貼り合わせる工程
(2)熱剥離性テープ又はシートを加熱により剥離する工程
(3)半導体ウエハをダイシングによりチップ状に小片化する工程
を含む半導体チップの製造方法などである。
基材フィルムとして、厚み50μmのポリエチレンテレフタレートからなるフィルム(ガラス転移温度78℃(TMA測定))を使用した。このフィルムの片面にはコロナ処理を施した。
アクリル酸メチル75重量部、アクリル酸メトキシエチル10重量部、N−ビニルピロリドン10重量部、及びアクリル酸2−ヒドロキシエチル5重量部を酢酸エチル中で常法により共重合させた。これにより得られた共重合体の、アクリル酸2−ヒドロキシエチルに由来する側鎖末端OH基の90%に2−メタクリロイルオキシエチレンイソシアネートのNCO基を付加反応させ末端に炭素−炭素二重結合を導入した重量平均分子量50万のアクリル系共重合体を含有する溶液を得た。
アクリル系共重合体を含有する溶液に、ペンタエリスリトールトリアクリレートとジイソシアネートを反応させて得た紫外線硬化性オリゴマー(25℃での粘度10Pa・sec)130重量部、光重合開始剤(商品名「イルガキュア「651」、チバ・スペシャリティーケミカルズ製)3重量部、及びポリイソシアネート化合物(商品名「コロネートL」、日本ポリウレタン製)2重量部を加えて、アクリル系の紫外線硬化型粘着剤溶液Aを得た。
このアクリル系の紫外線硬化型粘着剤溶液Aを、基材フィルムのコロナ処理面に塗布し、80℃で10分間加熱架橋した。これにより、厚さ5μmの紫外線硬化型粘着剤層を形成した。次に、この放射線硬化型粘着剤層の表面にセパレーターを貼り合わせて紫外線硬化型のダイシングテープを作製した。
アクリル酸メチル75重量部、アクリル酸メトキシエチル10重量部、N−ビニルピロリドン5重量部、アクリル酸2−ヒドロキシエチル10重量部を酢酸エチル中で常法により共重合させた。これにより得られたアクリル系共重合体の、アクリル酸2−ヒドロキシエチルに由来する側鎖末端OH基の90%に2−メタクリロイルオキシエチレンイソシアネートのNCO基を付加反応させ、末端に炭素−炭素二重結合を導入した重量平均分子量60万のアクリル系共重合体を含有する溶液を得た。
アクリル系共重合体を含有する溶液に、ペンタエリスリトールトリアクリレートとジイソシアネートを反応させて得た紫外線硬化性オリゴマー(25℃での粘度10Pa・sec)130重量部、光重合開始剤(商品名「イルガキュア651」、チバ・スペシャリティーケミカルズ製)3重量部、及びポリイソシアネート化合物(商品名「コロネートL」、日本ポリウレタン製)2重量部に加えて、アクリル系の紫外線硬化型粘着剤溶液Bを得た。
アクリル系の紫外線硬化型粘着剤溶液Aにかえて、アクリル系の紫外線硬化型粘着剤溶液Bを用いたこと以外は実施例1と同様の操作を行い、紫外線硬化型のダイシングテープを作製した。
アクリル酸メチル95重量部、アクリル酸5重量部を酢酸エチル中で常法により共重合させた。これにより、重量平均分子量80万のアクリル系共重合体を含有する溶液を得た。このアクリル系共重合体を含有する溶液に、ペンタエリスリトールトリアクリレートとジイソシアネートを反応させて得た紫外線硬化性オリゴマー(25℃での粘度10Pa・sec)130重量部、光重合開始剤(商品名)「イルガキュア651」、チバ・スペシャリティーケミカルズ製)3重量部、ポリイソシアネート化合物(商品名)「コロネートL」、日本ポリウレタン製)2重量部を加えて、アクリル系の紫外線硬化型粘着剤溶液Cを得た。
アクリル系の紫外線硬化型粘着剤溶液Aにかえて、アクリル系の紫外線硬化型粘着剤溶液Cを用いたこと以外は実施例1と同様の操作を行い、紫外線硬化型のダイシングテープを作製した。
基材としてポリ塩化ビニル(ガラス転移温度55℃)を用いた以外は、実施例1と同様の操作により、紫外線硬化型のダイシングテープを作製した。
実施例及び比較例で得られたダイシングテープに対し、以下の試験評価を行った。
[加熱後の粘着力]
実施例及び比較例で得られたダイシングテープを20mmテープ幅の短冊状に切断し、シリコンウエハ(商品名:「CZN<100>2.5−3.5(4インチ)」、信越半導体(株)製)ミラー面に貼り合わせた後、200℃ホットプレート上で30秒間加熱した。室温(23℃)まで冷却後、ダイシングテープ裏面側(基材側)から紫外線を照射(照射時間20秒、照射強度500mJ/cm2)した後、剥離角度180°、引張速度300mm/分で剥離を行い、ダイシングテープの粘着力(剥離力)を測定した。又、粘着力が0.5N/20mm以下のものを良とし、0.5N/20mmよりも大きいものを不良と判定した。結果を表1に示す。
[熱重量減少率測定]
実施例及び比較例で得られた粘着剤をTG/TGA測定により熱重量減少率を測定した。なお、測定は、空気雰囲気下、昇温速度2℃/minで200℃まで昇温して行った。減少率が2%以下のものを良とし、2%より大きいものを不良と判定した。結果を表1に示す。
装置:TG/TGA200(SII Nanotechnology)
[ミラーシリコンウエハへの表面有機物汚染増加量ΔC評価]
実施例及び比較例で得られたダイシングテープを、それぞれ前記のミラーシリコンウエハに貼り合わせて、200℃のホットプレート上で30秒間加熱してから室温(23℃)まで冷却した。その後、前記の接着力測定試験に準じてダイシングテープを剥離し、テープ剥離後のシリコンウエハ表面について、ESCA装置を用いて表面炭素元素比率C1(%)を測定した。また、オリジナルのミラーシリコンウエハ表面について、ESCA装置装置を用いて表面炭素元素比率C2(%)を測定した。測定条件は下記の通りである。
続いて、C1(%)及びC2(%)の各値に基づき、下記の計算式を用いて表面有機物汚染増加量ΔCを算出した。算出の結果、ΔCが10%以下のものを良とし、10%より大きいものを不良と判定した。
ΔC(%)=表面炭素元素比率C1(%)−表面炭素元素比率C2(%)
〈ESCA表面分析の測定条件〉
装置:アルバック・ファイ社製 Quantum2000
X−ray Setting:200μmφ[30W(15kV)]のポイント分析
X線源:モノクロAIKα
光電子取り出し角:45°
[粘着剤層の損失正接tanδ]
実施例及び比較例で調整したアクリル系の紫外線硬化型粘着剤溶液A〜Cをセパレーターに塗布した後、100℃で3分間乾燥させて、乾燥後の厚みが50μmの粘着剤層を形成した。2kgのハンドローラーを用いて面内を均一に押圧することにより、セパレーター及び粘着剤層の総厚みが3mmとなるようにした。続いて、サンプル内の脱泡を目的として温度50℃、圧力5kg/cm2の条件でオートクレーブを実施し、各粘着剤層の測定用サンプルを作製した。粘弾性測定はレオメトリック社製商品名「ARES」を用い、ω=1Hz、プレート径:7.9mmφ、歪み:1%(25℃)の測定条件にて温度範囲−5〜75℃で行った。測定から得られた25℃、50℃での貯蔵弾性率G’、損失弾性率G”の値を用いて、tanδ=G”/G’から損失正接tanδを算出した。
[総合評価]
総合評価は、剥離性、損失正接tanδ、粘着力、表面有機物汚染良ΔCの全ての評価項目で良である場合を良とし、いずれか一つでも評価項目に不良がある場合は不良とした。下記表1から明らかなように、実施例1及び2のダイシングテープについては、マウント後6時間及び1週間経過した場合も、全ての半導体ウエハを良好に剥離することができピックアップ性に優れていることが確認された。また、表面有機物汚染良ΔCも微量であり、糊残りの発生を低減することができ汚染性に優れていることが確認された。その一方、比較例1〜2のダイシングテープについては、剥離性、及び汚染性の両方の特性を満足するものはなかった。
Claims (5)
- ガラス転移温度が70℃以上である基材の少なくとも片面に、昇温速度2℃/minで室温から200℃まで昇温した際の熱重量減少率が2%未満である粘着剤層を設けてなる耐熱ダイシングテープ又はシートであって、前記粘着剤層が、モノマー成分として、(メタ)アクリル酸C 1-20 アルキルエステルを全モノマー成分の60重量%以上含み、アルコキシル基含有モノマーを全モノマー成分の5〜35重量%含み、窒素原子含有基を有するモノマーを全モノマー成分の3重量%以上含み、全側鎖の1%以上が炭素−炭素二重結合を有しており、且つ重量平均分子量が45万〜300万であるアクリルポリマーをベースポリマーとして含むと共に、該アクリルポリマー100重量部に対して10〜300重量部のエネルギー線硬化性化合物を含むエネルギー線硬化型粘着剤で構成されており、該テープ又はシートをシリコンミラーウエハに貼付後、200℃で30秒間加熱して23℃まで冷却した後、粘着剤層にエネルギー線を照射して硬化させた際の該粘着剤層の粘着力(剥離速度300mm/min、剥離角度180°)が0.5N/20mm以下である耐熱ダイシングテープ又はシート。
- 該テープ又はシートをシリコンミラーウエハに貼付後、200℃で30秒間加熱して23℃まで冷却した後、粘着剤層にエネルギー線を照射して硬化させ、該テープ又はシートを剥離した後の該シリコンミラーウエハ表面の表面炭素元素比率増加量ΔCが10%以下である請求項1記載の耐熱ダイシングテープ又はシート。
- 粘着剤層の25℃における損失正接tanδが0.5以下であり、かつ50℃における損失正接tanδが0.15以下である請求項1又は2に記載の耐熱ダイシングテープ又はシート。
- 前記エネルギー線硬化型粘着剤が、前記ベースポリマー100重量部に対して、ポリイソシアネート化合物、エポキシ化合物、アジリジン化合物、メラミン樹脂、尿素樹脂、酸無水物及びポリアミン化合物から選択された外部架橋剤を0.01〜5重量部含む請求項1〜3何れか1項に記載の耐熱ダイシングテープ又はシート。
- 以下の一連の工程
(1)半導体ウエハを熱剥離性テープ又はシートに貼り付け、半導体ウエハを研削して得られた薄化した半導体ウエハの熱剥離性テープ又はシートを貼付した面とは反対側の面に、請求項1〜4何れか1項に記載の耐熱ダイシングテープ又はシートを貼り合わせる工程
(2)熱剥離性テープ又はシートを加熱により剥離する工程
(3)半導体ウエハをダイシングによりチップ状に小片化する工程
を含む半導体チップの製造方法。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006195429A JP4781185B2 (ja) | 2006-07-18 | 2006-07-18 | 耐熱ダイシングテープ又はシート |
US11/779,357 US20080085409A1 (en) | 2006-07-18 | 2007-07-18 | Heat-resistant dicing tape or sheet |
EP07014114A EP1881046A3 (en) | 2006-07-18 | 2007-07-18 | Heat-resistant dicing tape or sheet |
CN2007101366458A CN101108953B (zh) | 2006-07-18 | 2007-07-18 | 耐热性切割带或片 |
KR1020070071931A KR101005058B1 (ko) | 2006-07-18 | 2007-07-18 | 내열성 다이싱 테이프 또는 시이트 |
TW096126141A TWI459453B (zh) | 2006-07-18 | 2007-07-18 | 耐熱切割帶或片 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006195429A JP4781185B2 (ja) | 2006-07-18 | 2006-07-18 | 耐熱ダイシングテープ又はシート |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008027960A JP2008027960A (ja) | 2008-02-07 |
JP4781185B2 true JP4781185B2 (ja) | 2011-09-28 |
Family
ID=38577434
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006195429A Expired - Fee Related JP4781185B2 (ja) | 2006-07-18 | 2006-07-18 | 耐熱ダイシングテープ又はシート |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20080085409A1 (ja) |
EP (1) | EP1881046A3 (ja) |
JP (1) | JP4781185B2 (ja) |
KR (1) | KR101005058B1 (ja) |
CN (1) | CN101108953B (ja) |
TW (1) | TWI459453B (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR20210097617A (ko) | 2020-01-30 | 2021-08-09 | 린텍 가부시키가이샤 | 워크 가공용 시트 및 가공된 워크의 제조 방법 |
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-
2006
- 2006-07-18 JP JP2006195429A patent/JP4781185B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-07-18 CN CN2007101366458A patent/CN101108953B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2007-07-18 EP EP07014114A patent/EP1881046A3/en not_active Withdrawn
- 2007-07-18 US US11/779,357 patent/US20080085409A1/en not_active Abandoned
- 2007-07-18 KR KR1020070071931A patent/KR101005058B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2007-07-18 TW TW096126141A patent/TWI459453B/zh not_active IP Right Cessation
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1881046A3 (en) | 2008-03-05 |
TWI459453B (zh) | 2014-11-01 |
CN101108953B (zh) | 2012-05-23 |
KR101005058B1 (ko) | 2010-12-30 |
TW200809946A (en) | 2008-02-16 |
JP2008027960A (ja) | 2008-02-07 |
KR20080008291A (ko) | 2008-01-23 |
EP1881046A2 (en) | 2008-01-23 |
US20080085409A1 (en) | 2008-04-10 |
CN101108953A (zh) | 2008-01-23 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100928 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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