JP4432119B2 - バンドパスフィルター - Google Patents
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Description
前記第1の基板は、チタン酸バリウム系のセラミック基板とされ、
前記第2の基板は、チタン酸バリウム系のセラミック基板とされ、
前記第1の基板の誘電率と前記第2の基板の誘電率との比は、約2対1とされ、
前記電波吸収層は、軟磁性金属粉末を合成樹脂のマトリックス中に分散させてシート状としてなるものとされ、
前記入力ラインが、前記第1の基板の一面に一端側から配設され、
前記出力ラインが、前記第1の基板の他面に他端側から前記入力ラインに所定長さの重ね部が形成されるようにして配設され、
前記第2の基板が、前記出力ラインを一面と前記第1の基板の他面との間に挟むようにして配設され、
前記接地層が、前記第2の基板の他面に形成され、
前記電波吸収層が、前記入力ラインを覆うようにして前記第1の基板の一面に形成されてなる
ことを特徴とする。
ただし、Kは、基板の金属粉末充填率、粉末粒径、材質、複素比誘電率等により決まる係数、C0は光速、である。
図2に、実施形態のバンドパスフィルターFの第1基板1の誘電率εr1を197、第2基板4の誘電率εr2を90とした実施例1、従来の一般的な一層基板からなるバンドパスフィルターに高誘電率基板を用いた比較例1および実施形態のバンドパスフィルターFと同様の二層構造であり且つ両基板1、4の複素比誘電率を同一とした比較例2のそれぞれの透過係数(2ポートネットワークにおけるSパラメータのS21)の周波数特性を対比して示す。なお、実施例1においては、比較例1および比較例2と条件を同一にするために、電波吸収層6を省略している。
図3に、各基板1、4の誘電率が前記実施例1と同様に設定されかつ軟磁性金属粉末の含有量が5%(体積百分率)である電波吸収層6を備えるバンドパスフィルターF(実施例2)における透過係数の周波数特性を示す。
1 第1基板
2 入力ライン
3 出力ライン
4 第2基板
5 接地層
6 電波吸収層
Claims (1)
- 第1および第2の基板と、入力ラインと、出力ラインと、接地層と、電波吸収層とを備えてなるバンドパスフィルターであって、
前記第1の基板は、チタン酸バリウム系のセラミック基板とされ、
前記第2の基板は、チタン酸バリウム系のセラミック基板とされ、
前記第1の基板の誘電率と前記第2の基板の誘電率との比は、約2対1とされ、
前記電波吸収層は、軟磁性金属粉末を合成樹脂のマトリックス中に分散させてシート状としてなるものとされ、
前記入力ラインが、前記第1の基板の一面に一端側から配設され、
前記出力ラインが、前記第1の基板の他面に他端側から前記入力ラインに所定長さの重ね部が形成されるようにして配設され、
前記第2の基板が、前記出力ラインを一面と前記第1の基板の他面との間に挟むようにして配設され、
前記接地層が、前記第2の基板の他面に形成され、
前記電波吸収層が、前記入力ラインを覆うようにして前記第1の基板の一面に形成されてなる
ことを特徴とするバンドパスフィルター。
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