[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP3405620B2 - 固体撮像装置 - Google Patents

固体撮像装置

Info

Publication number
JP3405620B2
JP3405620B2 JP12286695A JP12286695A JP3405620B2 JP 3405620 B2 JP3405620 B2 JP 3405620B2 JP 12286695 A JP12286695 A JP 12286695A JP 12286695 A JP12286695 A JP 12286695A JP 3405620 B2 JP3405620 B2 JP 3405620B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
microlens
solid
refractive index
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP12286695A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH08316448A (ja
Inventor
義和 佐野
陽子 重田
裕光 青木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP12286695A priority Critical patent/JP3405620B2/ja
Priority to US08/522,131 priority patent/US5796154A/en
Priority to TW084109260A priority patent/TW308652B/zh
Priority to EP95114081A priority patent/EP0744778B1/en
Priority to DE69503473T priority patent/DE69503473T2/de
Priority to KR1019950044593A priority patent/KR100213422B1/ko
Priority to CN95121194A priority patent/CN1050938C/zh
Publication of JPH08316448A publication Critical patent/JPH08316448A/ja
Priority to US08/764,449 priority patent/US6030852A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3405620B2 publication Critical patent/JP3405620B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/148Charge coupled imagers
    • H01L27/14868CCD or CID colour imagers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/1462Coatings
    • H01L27/14621Colour filter arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/1462Coatings
    • H01L27/14623Optical shielding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14625Optical elements or arrangements associated with the device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14625Optical elements or arrangements associated with the device
    • H01L27/14627Microlenses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14632Wafer-level processed structures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14683Processes or apparatus peculiar to the manufacture or treatment of these devices or parts thereof
    • H01L27/14685Process for coatings or optical elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14683Processes or apparatus peculiar to the manufacture or treatment of these devices or parts thereof
    • H01L27/14687Wafer level processing
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/148Charge coupled imagers
    • H01L27/14806Structural or functional details thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0216Coatings
    • H01L31/02161Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/02162Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for filtering or shielding light, e.g. multicolour filters for photodetectors
    • H01L31/02164Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for filtering or shielding light, e.g. multicolour filters for photodetectors for shielding light, e.g. light blocking layers, cold shields for infrared detectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0232Optical elements or arrangements associated with the device
    • H01L31/02327Optical elements or arrangements associated with the device the optical elements being integrated or being directly associated to the device, e.g. back reflectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、固体撮像装置(以下C
CDともいう)に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、固体撮像装置をカラー化する方法
として、ガラス板上にカラーフィルタ層を形成したもの
を固体撮像素子に接着するフィルタ接着方式に代わって
固体撮像素子が形成された半導体基板の上に直接カラー
フィルタ層を形成するオンチップカラーフィルタ方式が
主流となってきた。さらに小型固体撮像装置にあって
は、カラーフィルタ層の上にマイクロレンズを形成し、
入射光を受光部に集光して受光感度を向上させている。
【0003】以下従来の固体撮像装置について説明す
る。図5は従来の固体撮像装置の撮像部断面図であり、
13は固体撮像素子が形成されたn型半導体基板、12
はpウェル層、11は受光部、10は電荷転送部、9は
シリコン酸化膜、もしくは窒化膜、8はポリシリコン電
極、14は遮光用メタル層、5は半導体素子表面保護
膜、19は素子を平坦にするための平坦膜、4はカラー
フィルター層、3は中間透明膜であり1はマイクロレン
ズである。また、他の従来例として14の遮光膜にシリ
コン酸化膜を介しさらにもう1層金属膜を、設けて遮光
を強化し、5の表面保護膜で半導体素子形成する場合も
ある。このようにしてマイクロレンズ1を各受光部に対
応させ、配置しレンズにより集光された光を受光部11
に導き感度を増加させ、受光部で光エネルギーで発生し
た電子とホールのうち、電子をポリシリコンゲート8に
電圧印加し、電荷転送部10へ電子を移動させる。移動
した電子は電荷転送部10をポリシリコン電極に電圧が
印加され、形成されるポテンシャルエネルギーにより出
力部へ転送される。
【0004】また他の例としてマイクロレンズ1下の中
間膜3の屈折率をマイクロレンズの屈折率より大きいポ
リイミド等の物質で形成し光路を制御する発明(特開平
5−134111号公報)が提案されている。
【0005】なお、カラーフィルター4は3板式撮像装
置やCCD白黒の場合には使用しない。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の従
来の構成では、以下のような課題を有しており充分な感
度向上が困難であった。
【0007】一般に固体撮像装置は光学系レンズで光を
集め結像される場所に置かれる。この場合、絞りの開口
部の大きさにより入射角度が相違する。特に絞りを開い
た状態では図4に示すように斜め入射する光18により
その光路は受光部11に到達せず、遮光膜7の方向にな
る。この結果、光学系レンズの絞り開放時には、思うよ
うに感度が増加しないことが発生する。
【0008】またできるだけ、斜め光成分を受光部に導
くためには、マイクロレンズ1から受光部11までの距
離(レンズ・受光部距離と称す)を短くすることが、知
られている。しかし従来の技術において、遮光膜14に
アルミを使い、周囲の配線にも共用しているため1μm
近い膜厚が必要となり、さらに開口部段差が大きくなる
ためカラーフィルタやマイクロレンズ形成がばらつきな
くできるよう十分な平坦化膜19を形成する必要があ
る。また他の例で遮光膜を2段にする方法を採用する固
体撮像装置も上記と同様の理由で、レンズ・受光部距離
を短くできない。
【0009】また他の例である特開平5−134111
号公報の提案は、マイクロレンズの屈折率1.56を超
えるレンズ効果を与えようとするものであるが、屈折率
が高い程、その材料は光透過率が低下し、着色して感度
低下を伴うという問題がある。
【0010】本発明は上記の従来の課題を解決するもの
で、斜め入射光において、集光率の減少を抑制し、感度
の高い、画像特性に優れた固体撮像装置を提供すること
を目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に本発明の固体撮像装置は、固体撮像素子が形成された
半導体基板上に、前記固体撮像素子の受光部に対応して
表面保護膜、下のマイクロレンズ、中間膜、上のマイク
ロレンズが順に形成された固体撮像装置であって、前記
上下のマイクロレンズの光屈折率が実質的に同じで、か
つ光の透過率がほぼ等価であり、前記中間膜よりも前記
上下のマイクロレンズの光屈折率が大きいとともに、前
記表面保護膜から前記受光部までの膜の平均屈折率より
も前記上下のマイクロレンズの光屈折率か大きく、 前記
下のマイクロレンズは中央部が上下両方に膨らんだ凸型
であることを特徴とする。
【0012】本発明の別の固体撮像装置は、固体撮像素
子が形成された半導体基板上に、前記固体撮像素子の受
光部に対応して表面保護膜、下のマイクロレンズ、中間
膜、上のマイクロレンズが順に形成された固体撮像装置
であって、前記上下のマイクロレンズの光屈折率が実質
的に同じで、かつ光の透過率がほぼ等価であり、前記中
間膜よりも前記上下のマイクロレンズの屈折率が大きい
とともに、前記表面保護膜から前記受光部までの膜の平
均屈折率よりも前記上下のマイクロレンズの光屈折率が
大きく、前記下のマクロレンズは上面が平坦であり、下
面の中央部が下方向に膨らんだ凸型であることを特徴と
する。
【0013】また前記構成においては、受光部以外の遮
光領域に、遮光膜として金属シリサイド膜、及び高融点
金属膜から選ばれる少なくとも一つの膜を形成したこと
が好ましい。
【0014】また前記構成においては、金属シリサイド
膜が、タングステンシリサイド(WSi),モリブデン
シリサイド(MoSi)及びチタンシリサイド(TiS
i)から選ばれる少なくとも一つの膜であることが好ま
しい。
【0015】また前記構成においては、高融点金属膜
が、タングステン(W),モリブデン(Mo)及びチタ
ン(Ti)から選ばれる少なくとも一つの金属膜である
ことが好ましい。
【0016】また前記構成においては、遮光膜と受光部
の表層にボロン−リン−シリサイドガラス(BPSG)
膜を形成したことが好ましい。また前記構成において
は、受光部領域のボロン−リン−シリサイドガラス(B
PSG)膜断面を凹形状に形成したことが好ましい。
【0017】また前記構成においては、BPSG膜の厚
さが0.5μm〜1.2μmの範囲であることが好まし
い。また前記構成においては、半導体素子表面保護膜
が、SiO2 ,SiON及びSiNから選ばれる少なく
とも一つの膜を形成したことが好ましい。また前記構成
においては、前記下のマイクロレンズの上側に接してカ
ラーフィルター層が形成されていることが好ましい。
【0018】次に本発明の固体撮像装置の製造方法は、
固体撮像素子が形成された半導体基板上に、前記固体撮
像素子の受光部に対応してマイクロレンズが上下2層
形成された固体撮像装置の製造方法であって、 A.前記受光部の上方にSiO2 ,SiON及びSiN
から選ばれる少なくとも一つの表面保護膜を分子堆積法
により形成し、 B.その表層に第2マイクロレンズ材料樹脂を塗布し、
加熱軟化し、硬化して第2マイクロレンズを形成し、 C.前記第2マイクロレンズ材料樹脂よりも屈折率の低
い樹脂材料を塗布し、平坦化して中間膜を形成し、 D.前記第2マイクロレンズ材料樹脂と同等の屈折率を
有するとともに光の透過率がほぼ等価の第1マイクロレ
ンズ材料樹脂を塗布し、加熱軟化し、硬化して第1マイ
クロレンズを形成し、 E.前記表面保護膜から前記受光部までの膜の平均屈折
率よりも前記上下のマイクロレンズの光屈折率大きく
することを特徴とする。
【0019】前記構成においては、下段のマイクロレン
ズの断面形状を、中央部が上下方向の少なくとも一方向
に膨らんだ凸型に形成することが好ましい。また前記構
成においては、上段のマイクロレンズの断面形状を、中
央部が上下方向の少なくとも一方向に膨らんだ凸型に形
成することが好ましい。
【0020】また前記構成においては、受光部以外の遮
光領域に、さらに遮光膜として金属シリサイド膜、及び
高融点金属膜から選ばれる少なくとも一つの膜をスパッ
タリングまたはCVD(chemical vapor deposite) 法に
より形成すると、薄くて均一な膜厚の遮光膜が得られる
ために好ましい。
【0021】また前記構成においては、金属シリサイド
膜が、タングステンシリサイド(WSi),モリブデン
シリサイド(MoSi)及びチタンシリサイド(TiS
i)から選ばれる少なくとも一つの膜であることが好ま
しい。
【0022】また前記構成においては、高融点金属膜
が、タングステン(W),モリブデン(Mo)及びチタ
ン(Ti)から選ばれる少なくとも一つの金属膜である
ことが好ましい。
【0023】また前記構成においては、遮光膜と受光部
の表層に、さらにボロン−リン−シリサイドガラス(B
PSG)膜をCVD法により形成することが好ましい。
また前記構成においては、受光部領域のボロン−リン−
シリサイドガラス(BPSG)膜断面を凹形状に形成す
ることが好ましい。
【0024】また前記構成においては、ボロン−リン−
シリサイドガラス(BPSG)膜の厚さが0.5μm〜
1.2μmの範囲であることが好ましい。また前記構成
においては、上下のマイクロレンズの間であって、下段
のマイクロレンズの上側に接してさらにカラーフィルタ
ー層を形成することが好ましい。
【0025】
【作用】前記した本発明の構成によれば、固体撮像素子
が形成された半導体基板上に、前記固体撮像素子の受光
部に対応して表面保護膜、下のマイクロレンズ、中間
膜、上のマイクロレンズが順に形成された固体撮像装置
であって、前記上下のマイクロレンズの光屈折率が実質
的に同じで、かつ光の透過率がほぼ等価であり、前記
間膜よりも前記上下のマイクロレンズの光屈折率が大き
いとともに、前記表面保護膜から前記受光部までの膜の
平均屈折率よりも前記上下のマイクロレンズの光屈折率
が大きいことことにより、斜め入射光の集光率の減少を
抑制し、感度の高い、画像特性に優れた固体撮像装置を
実現できる。すなわち、固体撮像装置に光が斜め入射す
る場合に受光部からはずれる光路をとる光を、下段の第
2マイクロレンズにより、より垂直に近い形に集光し、
感度低下を抑制できる。また、マイクロレンズ材料と同
じで、それと等価な透過率の材料を使用するため、光吸
収による感度低下も発生しない。
【0026】前記において、下段のマイクロレンズの断
面形状が、中央部が上下方向の少なくとも一方向に膨ら
んだ凸型であると、いわゆる凸面レンズの原理により、
上部からの光を有効に集光し、受光部の中心位置に光を
集めることができるので、感度を高く保持できる。
【0027】また前記において、上段のマイクロレンズ
の断面形状が、中央部が上下方向の少なくとも一方向に
膨らんだ凸型であると、前記と同様にいわゆる凸面レン
ズの原理により、上部からの光を有効に集光し、受光部
の中心位置に光を集めることができるので、感度を高く
保持できる。
【0028】また前記において、受光部以外の遮光領域
に、遮光膜として金属シリサイド膜、及び高融点金属膜
から選ばれる少なくとも一つの膜を形成すると、従来の
金属アルミ膜を遮光膜に使用した場合に比べてポリシリ
コン電極を薄く遮光できるとともに、遮光膜とポリシリ
コン電極によって凸形状となるので、ポリシリコン電極
と隣接する電極との間の受光部が凹形状になり、その上
にBPSG膜が形成され、これにより第2マイクロレン
ズの形状を決めることができる。すなわち、最終のBP
SG膜の膜厚でレンズの形状が決まるが、その土台とな
る形状は、ポリシリコン電極と遮光膜の厚さと幅と間隔
によって定まる。たとえばポリシリコン電極の厚さが約
0.8〜1μm、ポリシリコン電極と隣のポリシリコン
電極の間隔(受光部)が約5μm、ポリシリコン電極表
面の遮光膜の厚さが約0.4μm、BPSG膜の膜厚が
約0.8μmの場合、第2マイクロレンズの形状は中央
が凸形状の凸レンズとなる。
【0029】前記において、金属シリサイド膜が、タン
グステンシリサイド(WSi),モリブデンシリサイド
(MoSi)及びチタンシリサイド(TiSi)から選
ばれる少なくとも一つの膜であると更に効果的である。
前記において、高融点金属膜が、タングステン(W),
モリブデン(Mo)及びチタン(Ti)から選ばれる少
なくとも一つの金属膜であってもよい。
【0030】また前記において、遮光膜と受光部の表層
にボロン−リン−シリサイドガラス(BPSG)膜を形
成すると、一般のリンガラス(PSG)や窒化ガラス
(NSG)に比べ、加熱により滑らかな表面形状が実現
する。
【0031】また前記構成においては、受光部領域のボ
ロン−リン−シリサイドガラス(BPSG)膜断面は、
前記のポリシリコン電極と遮光膜で形成され、隣接する
凸形状全体を覆うため、表面が滑らかな凹形状が達成さ
れる。すなわち、受光部の上の部分が窪んだ滑らかな断
面形状となり、この形状で第2マイクロレンズの形状が
決定できる。また、深い形状にする場合は、BPSG膜
の膜厚を薄く、浅い窪みの場合は厚い膜を堆積させるこ
とが好ましい。前記においては、BPSG膜の厚さが
0.5μm〜1.2μmの範囲であることが好ましい。
【0032】また前記において、半導体素子表面保護膜
が、SiO2 ,SiON及びSiNから選ばれる少なく
とも一つの膜を形成する。これらは半導体のパッシベー
ション(表面保護)に一般的に使われる材料で、表面ダ
ストによる素子内汚染や水分浸透を防止することができ
る。
【0033】また前記において、上下のマイクロレンズ
の間であって、下段のマイクロレンズの上側に接してカ
ラーフィルター層を形成すると、良好なカラーCCDを
実現できる。
【0034】次に本発明の固体撮像装置の製造方法の構
成によれば、固体撮像素子が形成された半導体基板上
に、前記固体撮像素子の受光部に対応してマイクロレン
ズが上下2層に形成された固体撮像装置の製造方法であ
って、 A.前記受光部の上方にSiO2 ,SiON及びSiN
から選ばれる少なくとも一つの表面保護膜を分子堆積法
により形成し、 B.その表層に第2マイクロレンズ材料樹脂を塗布し、
加熱軟化し、硬化して第2マイクロレンズを形成し、 C.前記第2マイクロレンズ材料樹脂よりも屈折率の低
い樹脂材料を塗布し、平坦化して中間膜を形成し、 D.前記第2マイクロレンズ材料樹脂と同等の屈折率を
有するとともに光の透過率がほぼ等価の第1マイクロレ
ンズ材料樹脂を塗布し、加熱軟化し、硬化して第1マイ
クロレンズを形成し、 E.前記表面保護膜から前記受光部までの膜の平均屈折
率よりも前記上下のマイクロレンズの光屈折率大きく
することにより、効率良く合理的に本発明の固体撮像装
置を製造できる。
【0035】
【実施例】以下本発明の一実施例について、図面を参照
しながら説明する。図1は本発明の第1の実施例におけ
る固体撮像装置の撮像部断面図で、上下2層のマイクロ
レンズをもつオンチップフィルタとその下の半導体素子
構造の例を示している。図2は本発明の第2の実施例に
おける固体撮像装置の撮像部断面図で塗布し、加熱溶融
して2層マイクロレンズを形成した例を示している。こ
れらの図において、図1〜図3及び図6に示す数字は同
一箇所には同一符号を付して説明を省略する。
【0036】(実施例1)第1の実施例は、図1に示す
ようにn型半導体基板13の上に不純物注入法または不
純物注入後のドライブイン炉を用いて、厚さ約3μmの
pウェル層12を形成し、その表層部に不純物注入法を
用いて、1辺約1μm、厚さ約0.3μmの電極転送部
10及び1辺約1.5μm、厚さ約1μmの受光部11
を形成した。次にパイロ酸化低圧CVD(chemical vapo
r deposite) による窒化膜形成法を用いて、厚さ約0.
1μmのシリコン酸化膜と窒化ケイ素膜(SiN)の合
体したONO膜9を形成した。次に低圧CVD法を用い
て、1辺約1μm、厚さ約0.4μmのポリシリコン電
極8を形成した。
【0037】前記ポリシリコン電極8の上に遮光膜7と
してタングステン(W)またはタングステンシリサイド
(WSi)を100nm〜500nmの範囲で堆積さ
せ、受光部11の上の部分のみをエッチングで除去し
た。本実施例では、スパッタ法またはCVD法を用いて
WSiを厚さ0.4μmに形成した。
【0038】その上にBPSG膜6を堆積させた。BP
SGのボロン濃度は3重量%、リンの濃度は6重量%で
あり、堆積膜厚は0.4〜1.2μmの範囲でおこな
う。本実施例では、常圧CVD法を用いて、厚さ0.8
μmに形成した。BPSGの屈折率は約1.47であ
る。この場合、受光部11の上の部分が窪んだ断面形状
となった。深い形状にする場合は、BPSG膜の膜厚は
薄く、浅い窪みの場合は厚い膜を堆積させる。この形状
で第2マイクロレンズ2の形状が決定される。さらに素
子表面保護膜5として、SiO2 、SiONまたはSi
N膜(本実施例ではSiO2 を使用した)をプラズマC
VDで堆積させた。膜厚は約400nmで、屈折率はほ
ぼ1.50〜1.55である。前記n型半導体基板13
から素子表面保護膜5までを半導体撮像素子部22と総
称する。
【0039】前記素子表面保護膜5の表面に第2マイク
ロレンズ2の材料2’を回転塗布(スピンコート)方法
で塗布した。材料はポリパラビニルフェノール系樹脂
で、加熱すると溶融し更に加熱すると硬化する性質があ
る。
【0040】前記ポリパラビニルフェノール系樹脂に
は、ナフトキノンジアジド感光剤が添加されており、紫
外線によりパターンニングできる。図6(a)に塗布状
態の断面図を示す。第2マイクロレンズを形成するサイ
ズに設計されたレチクル(別名マスク、透明な合成石英
にクロムの金属パターンで形成された1/5縮小用投影
レチクル、窓部の大きさは縦25μm、横20μm、ク
ロムのパターンの厚さ0.1μm)16を通して紫外線
15を照射し、マイクロレンズ材料の除去する部分を感
光させた。次に有機アルカリ液(当業界で一般的に使用
されている非メタル系有機アンモニウム現像液)で洗浄
すると、露光部分の現像パターンニング17が形成され
た。その状態の断面を図6(b)に示す。更に紫外線を
照射し、レンズ材料を透過率90〜98%程度に高め、
約150〜180℃で5分間熱処理した後、溶融硬化を
確実に行わせるため、さらに200℃で5分間硬化処理
した。その結果、第2のマイクロレンズ2を形成でき
た。その断面は図6(c)で示す。第2のマイクロレン
ズ2の直径は9μm、最大厚さの部分は2.2μmであ
った。この第2のマイクロレンズ2の屈折率n2 は1.
560であった。
【0041】同じ系の材料で感光性のない透明樹脂を1
50℃で軟化後、硬化をおこす樹脂の場合、その樹脂の
上にノボラック系感光性レジスト(TSMR−890
0:TDK社製)で塗布パターンニングの後、ドライま
たはウェットエッチングで最終レンズ形状以外の部分を
除去した。下地は無機系のSiO系のため有機樹脂との
エッチングレート差を大きくとれて、確実にパターン形
成ができた。
【0042】ノボラック系レジストを選択的に剥離液で
洗浄して除去し、純水洗浄し、乾燥後、第2マイクロレ
ンズ材料を150℃で溶融後、更に200℃に加熱して
硬化した。その結果、図6(c)の断面をもつ構造とな
った。第2のマイクロレンズの直径は9μm、最大厚さ
の部分は2μmであった。
【0043】第2マイクロレンズ形成後、カラーフィル
ター材料を塗布形成した。カラーフィルターは、ネガ型
感光性アクリル系被染色材料4(図1)を回転塗布して
0.3〜0.9μmの膜厚に形成し、同じ色で染色する
画素部を残すため、紫外線露光により架橋し、130℃
で5分間硬化させた。その後、所定の染色液に浸漬させ
て染色した。この染色は当業界で良く知られている公知
の方法を用いた。カラーフィルターの屈折率n4 は1.
55でほぼ第2マイクロレンズの屈折率と等しく、光路
はマイクロレンズと等しかった。その後、透明なアクリ
ル樹脂からなる中間膜3を回転塗布により0.9μmの
膜厚に形成し平坦化した。
【0044】中間膜の屈折率n3は約1.495で第2
マイクロレンズの屈折率n2より小さく、上方向に凸形
状の第2マイクロレンズが集光できるようになった。ま
た白黒撮像や3板式撮像装置の場合は、カラーフィルタ
ーは不要で、直接中間膜3を回転塗布した。その後、第
1マイクロレンズの材料を塗布し、マイクロレンズの形
状に従ったレチクル(マスク)をとおして紫外線露光し
た。マイクロレンズは感光性材料であるため、有機アル
カリ液(非メタル系有機アンモニウム現像液)で現像し
不要部分を除去し、さらに紫外線照射で材料を透明化
し、130〜160℃の温度で5分間加熱し溶融、硬化
し、その後信頼性を上げるため200℃で5分間再加熱
した。この結果、図1に示す第1マイクロレンズ1が形
成された。この第1のマイクロレンズ1の屈折率n1
1.560であった。また前記マイクロレンズ1〜2間
に挟まれた中間膜3の屈折率は1.495であった。さ
らに、BPSG膜6から受光部11までの膜の平均屈折
率は、BPSG膜6とほぼ同様の1.470であった。
前記第1マイクロレンズ1から第2マイクロレンズ2ま
でをオンチップマイクロレンズ部21と総称する。
【0045】この結果、下段の第2マイクロレンズのあ
る場合の固体撮像装置(CCD)の感度出力は、光学レ
ンズの絞りをF1.4と開放にし、斜め入射光成分を含
ませた条件下では、従来法(第1レンズのみ存在)に比
べて、+10〜+15%の感度増加が認められた。ま
た、画像上好ましくない迷光成分(スミア)も約30%
減少されることが認められた。これを図3に示すと、絞
りを開いた状態では斜め入射する光18によりその光路
は受光部11に漏れなく到達する。この結果、光学系レ
ンズの絞り開放時には、感度が増加する。
【0046】以上の実施例から明らかな通り、固体撮像
装置に光が斜め入射する場合に受光部からはずれる光路
をとる光を、下段の第2マイクロレンズにより、より垂
直に近い形に集光し、感度の高い固体撮像装置であるこ
とが確認できた。また、マイクロレンズ材料と同じで、
それと等価な透過率の材料を使用するため、光吸収によ
る感度低下も発生しないことも確認できた。
【0047】(実施例2)第2の実施例では、表面保護
膜5の上第2マイクロレンズ材料2´を塗布までは第1
の実施例と同じであるが(図6(a))、パターニング
せず直接溶融し硬化する方法を採用した。図2にその断
面構造を示す。塗布後、紫外線で透明化した後、溶融温
度である190〜200℃で5分間熱処理を行うと、い
ったん液状化し平坦化された。さらに加熱を継続する
と、硬化した。第1の例では第2マイクロレンズは個々
に分離し上下方向に凸形状を示し、第2の例では下方向
にのみ凸型となった。第2のマイクロレンズの直径は約
10μmで、中央部の最大厚さは約1.7〜1.8μm
であった。
【0048】いずれの例も第2マイクロレンズの屈折率
2はBPSGの屈折率n6=1.47に対し大きく(n
2>n6)、素子表面保護膜5の屈折率n5に対してはn2
はほぼ同様で1.560であった。この第2のマイクロ
レンズ2の屈折率n2 は1.560であった。
【0049】次に、第2マイクロレンズ形成後、実施例
1と同様にカラーフィルター材料を塗布形成した。カラ
ーフィルターの屈折率n4は1.55でほぼ第2マイク
ロレンズの屈折率と等しく光路はマイクロレンズと等し
かった。その後中間膜3を回転塗布し平坦化した材料を
塗布形成した。中間膜も実施例1と同様に形成した。
【0050】中間膜の屈折率n3は約1.49で第2マ
イクロレンズの屈折率n2より小さく、上方向に凸形状
の第2マイクロレンズが集光できるようになった。また
白黒撮像や3板式撮像装置の場合は、カラーフィルター
は不要で、直接中間膜3を回転塗布した。その後、第1
マイクロレンズの材料を塗布し、マイクロレンズの形状
に従ったレチクル(マスク)をとおして紫外線露光し
た。マイクロレンズは感光性材料であるため、有機アル
カリ液(非メタル系有機アンモニウム現像液)で現像し
不要部分を除去し、さらに紫外線照射で材料を透明化
し、130〜160℃で5分間加熱し溶融、硬化し、そ
の後信頼性を上げるため200℃で5分間再加熱した。
この結果、図2に示す第1マイクロレンズ1が形成され
た。この第1のマイクロレンズ1の屈折率n1 は1.5
60であった。また前記マイクロレンズ1〜2間に挟ま
れた中間膜3の屈折率は1.495であった。さらに、
BPSG膜6から受光部11までの膜の平均屈折率は、
BPSG膜6とほぼ同様の1.470であった。
【0051】この結果、下段の第2マイクロレンズのあ
る場合の固体撮像装置(CCD)の感度出力は、光学レ
ンズの絞りをF1.4と開放にし、斜め入射光成分を含
ませた条件下では、従来法(第1レンズのみ存在)に比
べて、+5〜+10%の感度増加が認められた。また、
画像上好ましくない迷光成分(スミア)も約20%減少
されることが認められた。これを図3に示すと、絞りを
開いた状態では斜め入射する光18によりその光路は受
光部11に漏れなく到達する。この結果、光学系レンズ
の絞り開放時には、感度が増加する。
【0052】以上の実施例から明らかな通り、固体撮像
装置に光が斜め入射する場合に受光部からはずれる光路
をとる光を、下段の第2マイクロレンズにより、より垂
直に近い形に集光し、感度の高い固体撮像装置であるこ
とが確認できた。また、マイクロレンズ材料と同じで、
それと等価な透過率の材料を使用するため、光吸収によ
る感度低下も発生しないことも確認できた。
【0053】(実施例3)次に本発明の実施例における
固体撮像装置の製造方法について、図面を参照しながら
説明する。
【0054】図6(a)は同製造方法の半導体撮像素子
完成後、前記式(化1)に示したポリパラビニルフェノ
ールを2μm厚さに塗布した工程を説明する断面図、図
6(b)は同製造方法の第2マイクロレンズの材料2´
がポジ型感光材料で、レチクル(マスク)16をとおし
て紫外線15を照射した後、有機アンモニアで現像した
中間の工程を説明する断面図、図6(c)は紫外線照射
し透明化した後、150〜180℃で加熱し溶融、硬化
する同製造方法の中間の工程を説明する断面図である。
【0055】その後、ネガ型感光性アクリル系被染色材
料4(図1)を回転塗布により0.3〜0.9μmの膜
厚に形成し、同じ色で染色する画素部を残すため、紫外
線露光により架橋し、130℃で5分間硬化させた。そ
の後、所定の染色液に浸漬させて染色した。この染色は
当業界で良く知られている公知の方法を用いた。カラー
フィルターの屈折率n4 は1.55でほぼ第2マイクロ
レンズの屈折率と等しく、光路はマイクロレンズと等し
かった。その後、中間膜3を回転塗布により0.9μm
の膜厚に形成し平坦化した。その後、第1マイクロレン
ズ1を約2μmの厚さに塗布し、レチクル(マスク)を
とおして紫外線露光した。露光部分を有機アルカリ液
(非メタル系有機アンモニウム現像液)で洗浄後、さら
に紫外線照射で材料を透明化し、130〜160℃の温
度で5分間加熱し溶融、硬化し、その後信頼性を上げる
ため200℃で5分間再加熱して第2マイクロレンズを
形成した。この第2マイクロレンズの屈折率n2 は1.
560であった。また第1のマイクロレンズ1の屈折率
1 も1.560であった。中間膜3の屈折率n3は約
1.495で第2マイクロレンズの屈折率n2より小さ
く、上方向に凸形状の第2マイクロレンズが集光できる
ようになった。さらに、BPSG膜6から受光部11ま
での膜の平均屈折率は、BPSG膜6とほぼ同様の1.
470であった。
【0056】この結果、下段の第2マイクロレンズのあ
る場合の固体撮像装置(CCD)の感度出力は、光学レ
ンズの絞りをF1.4と開放にし、斜め入射光成分を含
ませた条件下では、従来法(第1レンズのみ存在)に比
べて、+10〜+15%の感度増加が認められた。ま
た、画像上好ましくない迷光成分(スミア)も約30%
減少されることが認められた。これを図3に示すと、絞
りを開いた状態では斜め入射する光18によりその光路
は受光部11に漏れなく到達する。この結果、光学系レ
ンズの絞り開放時には、感度が増加する。
【0057】以上の実施例から明らかな通り、固体撮像
装置に光が斜め入射する場合に受光部からはずれる光路
をとる光を、下段の第2マイクロレンズにより、より垂
直に近い形に集光し、感度の高い固体撮像装置であるこ
とが確認できた。また、マイクロレンズ材料と同じで、
それと等価な透過率の材料を使用するため、光吸収によ
る感度低下も発生しないことも確認できた。また、画像
上好ましくない迷光成分(スミア)も同時に減少できる
ことが確認できた。
【0058】以上説明したように本実施例の固体撮像装
置は、遮光膜に高融点金属、または、その金属シリサイ
ド膜を使用し遮光膜を薄膜化した上でBPSG膜を全体
に覆いSiO2 、またはSiON、またはSiNである
表面保護膜を形成した素子に直接マイクロレンズを形成
しカラーフィルターと中間膜を塗布し平坦化したのちさ
らにマイクロレンズを形成し上下2段のレンズを形成
し、少なくとも下段のマイクロレンズの屈折率が、中間
膜やBPSGの屈折率より大きいことにより、固体撮像
装置に光が斜め入射する場合に受光部からはずれる光路
をとる光を、下段の第2マイクロレンズにより、より垂
直に近い形に集光し、感度低下を抑制する固体撮像装置
が実現できる。
【0059】また本発明は、マイクロレンズ材料と同じ
で、それと等価な透過率の材料を使用するため、光吸収
による感度低下も発生しない固体撮像装置を実現でき
る。
【0060】
【発明の効果】以上説明したように本発明の固体撮像装
置は、斜め入射光の集光率の減少を抑制し、感度の高
い、画像特性に優れた固体撮像装置を実現できる。すな
わち、固体撮像装置に光が斜め入射する場合に受光部か
らはずれる光路をとる光を、下段の第2マイクロレンズ
により、より垂直に近い形に集光し、感度低下を抑制で
きる。また、マイクロレンズ材料と同じで、それと等価
な透過率の材料を使用するため、光吸収による感度低下
も発生しない。
【0061】次に本発明の固体撮像装置の製造方法によ
れば、固体撮像素子が形成された半導体基板上に、前記
固体撮像素子の受光部に対応してマイクロレンズが上下
2層に形成された固体撮像装置の製造方法であって、 A.前記受光部の上方にSiO2 ,SiON及びSiN
から選ばれる少なくとも一つの表面保護膜を分子堆積法
により形成し、 B.その表層に第2マイクロレンズ材料樹脂を塗布し、
加熱軟化し、硬化して第2マイクロレンズを形成し、 C.前記第2マイクロレンズ材料樹脂よりも屈折率の低
い樹脂材料を塗布し、平坦化して中間膜を形成し、 D.前記第2マイクロレンズ材料樹脂と同等の屈折率を
有するとともに光の透過率がほぼ等価の第1マイクロレ
ンズ材料樹脂を塗布し、加熱軟化し、硬化して第1マイ
クロレンズを形成し、 E.前記表面保護膜から前記受光部までの膜の平均屈折
率よりも前記上下のマイクロレンズの光屈折率大きく
することにより、効率良く合理的に本発明の固体撮像装
置を製造できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例における固体撮像装置の撮像
部断面図
【図2】本発明の第2の実施例における固体撮像装置の
撮像部断面図
【図3】本発明の一実施例の斜め光を第2マイクロレン
ズが集光し受光部へ光を導く説明図。
【図4】従来例で斜め光が受光部からはずれた光路の説
明図。
【図5】従来の固体撮像装置の撮像部断面図
【図6】本発明の一実施例の第2マイクロレンズを形成
する製造方法を示す図。
【符号の説明】
1 第1マイクロレンズ(屈折率n1) 2 第2マイクロレンズ(屈折率n2) 2´ 第2マイクロレンズの材料 3 中間膜 (屈折率n3) 4 カラーフィルター層(屈折率n4) 5 素子表面保護膜 (屈折率n5) 6 BPSG膜 (屈折率n6) 7 遮光膜 8 ポリシリコン電極 9 シリコン酸化膜と窒化ケイ素膜の合体したONO膜 10 電荷転送部 11 受光部 12 pウェル層 13 n型半導体基板 14 アルミ遮光膜 15 紫外線 16 レチクル(マスク) 17 露光部分の現像パターンニング 18 斜め光 19 平坦膜 21 オンチップマイクロレンズ部 22 半導体撮像素子部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平6−104414(JP,A) 特開 平6−209100(JP,A) 特開 平6−244392(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 27/14

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 固体撮像素子が形成された半導体基板上
    に、前記固体撮像素子の受光部に対応して表面保護膜、
    下のマイクロレンズ、中間膜、上のマイクロレンズが順
    に形成された固体撮像装置であって、 前記上下のマイクロレンズの光屈折率が実質的に同じ
    で、かつ光の透過率がほぼ等価であり、 前記中間膜よりも前記上下のマイクロレンズの光屈折率
    が大きいとともに、前記表面保護膜から前記受光部まで
    の膜の平均屈折率よりも前記上下のマイクロレンズの光
    屈折率か大きく、 前記下のマイクロレンズは中央部が上下両方に膨らんだ
    凸型であることを特徴とする固体撮像装置。
  2. 【請求項2】 固体撮像素子が形成された半導体基板上
    に、前記固体撮像素子の受光部に対応して表面保護膜、
    下のマイクロレンズ、中間膜、上のマイクロレンズが順
    に形成された固体撮像装置であって、 前記上下のマイクロレンズの光屈折率が実質的に同じ
    で、かつ光の透過率がほぼ等価であり、 前記中間膜よりも前記上下のマイクロレンズの屈折率が
    大きいとともに、前記表面保護膜から前記受光部までの
    膜の平均屈折率よりも前記上下のマイクロレンズの光屈
    折率が大きく、 前記下のマクロレンズは上面が平坦であり、下面の中央
    部が下方向に膨らんだ凸型であることを特徴とする固体
    撮像装置。
  3. 【請求項3】 前記下のマイクロレンズの上側に接して
    カラーフィルタ一層が形成されていることを特徴とする
    請求項1または請求項2に記載の固体撮像装置。
JP12286695A 1995-05-22 1995-05-22 固体撮像装置 Expired - Fee Related JP3405620B2 (ja)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12286695A JP3405620B2 (ja) 1995-05-22 1995-05-22 固体撮像装置
US08/522,131 US5796154A (en) 1995-05-22 1995-08-31 Solid-state imaging device with dual lens structure
TW084109260A TW308652B (ja) 1995-05-22 1995-09-05
DE69503473T DE69503473T2 (de) 1995-05-22 1995-09-08 Festkörper-Bildaufnahme-Vorrichtung und Herstellungsmethode
EP95114081A EP0744778B1 (en) 1995-05-22 1995-09-08 Solid-state imaging device and method of manufacturing the same
KR1019950044593A KR100213422B1 (ko) 1995-05-22 1995-11-29 고체촬상장치 및 그 제조방법
CN95121194A CN1050938C (zh) 1995-05-22 1995-12-20 固态成像器件及其制造方法
US08/764,449 US6030852A (en) 1995-05-22 1996-12-12 Solid-state imaging device and method of manufacturing the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12286695A JP3405620B2 (ja) 1995-05-22 1995-05-22 固体撮像装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH08316448A JPH08316448A (ja) 1996-11-29
JP3405620B2 true JP3405620B2 (ja) 2003-05-12

Family

ID=14846576

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12286695A Expired - Fee Related JP3405620B2 (ja) 1995-05-22 1995-05-22 固体撮像装置

Country Status (7)

Country Link
US (2) US5796154A (ja)
EP (1) EP0744778B1 (ja)
JP (1) JP3405620B2 (ja)
KR (1) KR100213422B1 (ja)
CN (1) CN1050938C (ja)
DE (1) DE69503473T2 (ja)
TW (1) TW308652B (ja)

Families Citing this family (117)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3272941B2 (ja) * 1996-04-01 2002-04-08 株式会社東芝 固体撮像素子およびその製造方法
KR100244295B1 (ko) * 1997-03-13 2000-02-01 김영환 고체 촬상 소자 및 그 제조방법
JP3695082B2 (ja) * 1997-07-11 2005-09-14 ソニー株式会社 固体撮像素子、固体撮像素子の製造方法および撮像装置
US6057586A (en) * 1997-09-26 2000-05-02 Intel Corporation Method and apparatus for employing a light shield to modulate pixel color responsivity
JP3620237B2 (ja) * 1997-09-29 2005-02-16 ソニー株式会社 固体撮像素子
JP3571909B2 (ja) * 1998-03-19 2004-09-29 キヤノン株式会社 固体撮像装置及びその製造方法
JPH11284158A (ja) * 1998-03-27 1999-10-15 Sony Corp 固体撮像素子と固体撮像素子の製造方法
JP4232213B2 (ja) * 1998-04-15 2009-03-04 ソニー株式会社 固体撮像素子
TW370727B (en) * 1998-06-04 1999-09-21 United Microelectronics Corp Method for removing color filter films of CMOS sensor
KR100359768B1 (ko) * 1999-03-18 2002-11-07 주식회사 하이닉스반도체 고체 촬상 소자 및 그 제조방법
TW409397B (en) * 1999-05-26 2000-10-21 United Microelectronics Corp The structure of semiconductor image sensor and the manufacture method of the same
US6362513B2 (en) * 1999-07-08 2002-03-26 Intel Corporation Conformal color filter layer above microlens structures in an image sensor die
US6307243B1 (en) * 1999-07-19 2001-10-23 Micron Technology, Inc. Microlens array with improved fill factor
US6171885B1 (en) 1999-10-12 2001-01-09 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company High efficiency color filter process for semiconductor array imaging devices
JP4482982B2 (ja) * 1999-11-08 2010-06-16 ソニー株式会社 固体撮像素子及びその製造方法
US6221687B1 (en) 1999-12-23 2001-04-24 Tower Semiconductor Ltd. Color image sensor with embedded microlens array
TW550377B (en) * 2000-02-23 2003-09-01 Zeiss Stiftung Apparatus for wave-front detection
EP1208599A1 (en) 2000-03-09 2002-05-29 Koninklijke Philips Electronics N.V. Solid state imaging sensor in a submicron technology and method of manufacturing and use of a solid state imaging sensor
DE10022660A1 (de) * 2000-04-28 2001-11-08 Infineon Technologies Ag Optischer Sensor
US6570324B1 (en) 2000-07-19 2003-05-27 Eastman Kodak Company Image display device with array of lens-lets
JP2002064193A (ja) * 2000-08-22 2002-02-28 Sony Corp 固体撮像装置および製造方法
KR100477784B1 (ko) * 2000-08-31 2005-03-22 매그나칩 반도체 유한회사 트렌치 내부의 공기로 이루어지는 집광층을 구비하는이미지 센서 및 그 제조 방법
US8103877B2 (en) * 2000-12-21 2012-01-24 Digimarc Corporation Content identification and electronic tickets, coupons and credits
JP2002246578A (ja) * 2001-02-20 2002-08-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd 固体撮像装置の製造方法
JP2002314058A (ja) * 2001-04-17 2002-10-25 Sony Corp 固体撮像素子およびその製造方法
US6482669B1 (en) * 2001-05-30 2002-11-19 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Colors only process to reduce package yield loss
AU2002314824A1 (en) * 2001-06-14 2003-01-02 Meshnetworks, Inc. Routing algorithms in a mobile ad-hoc network
US6590239B2 (en) * 2001-07-30 2003-07-08 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Color filter image array optoelectronic microelectronic fabrication with a planarizing layer formed upon a concave surfaced color filter region
KR100399971B1 (ko) * 2001-11-06 2003-09-29 주식회사 하이닉스반도체 이미지 센서 및 그 제조방법
JP2003218332A (ja) * 2002-01-22 2003-07-31 Sony Corp 固体撮像素子
JP2003229553A (ja) * 2002-02-05 2003-08-15 Sharp Corp 半導体装置及びその製造方法
JP2003264284A (ja) * 2002-03-08 2003-09-19 Sanyo Electric Co Ltd 固体撮像素子及びその製造方法
KR20040000877A (ko) * 2002-06-26 2004-01-07 동부전자 주식회사 오목형 및 볼록형 마이크로렌즈를 갖는 씨모스 이미지센서및 그 제조 방법
KR100872289B1 (ko) * 2002-07-19 2008-12-05 매그나칩 반도체 유한회사 수광특성을 향상시킨 시모스 이미지센서 및 그 제조방법
KR20040031130A (ko) * 2002-10-04 2004-04-13 동부전자 주식회사 이미지 센서 제조 방법
US6699729B1 (en) * 2002-10-25 2004-03-02 Omnivision International Holding Ltd Method of forming planar color filters in an image sensor
JP2004221487A (ja) * 2003-01-17 2004-08-05 Sharp Corp 半導体装置の製造方法及び半導体装置
JP2004319784A (ja) * 2003-04-16 2004-11-11 Sanyo Electric Co Ltd 固体撮像素子及びその製造方法
JP4383959B2 (ja) * 2003-05-28 2009-12-16 キヤノン株式会社 光電変換装置およびその製造方法
JP2004363356A (ja) * 2003-06-05 2004-12-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 固体撮像装置およびその製造方法
JP3729353B2 (ja) * 2003-06-18 2005-12-21 松下電器産業株式会社 固体撮像装置およびその製造方法
JP2005079344A (ja) * 2003-08-29 2005-03-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 固体撮像装置及びその製造方法
US7115853B2 (en) * 2003-09-23 2006-10-03 Micron Technology, Inc. Micro-lens configuration for small lens focusing in digital imaging devices
KR100549589B1 (ko) * 2003-09-29 2006-02-08 매그나칩 반도체 유한회사 이미지센서 및 그 제조 방법
US7081998B2 (en) * 2003-10-23 2006-07-25 Sanyo Electric Co., Ltd. Solid-state imaging apparatus
US20050109916A1 (en) * 2003-11-21 2005-05-26 Eastman Kodak Company Large pixel micro-lens
JP4181487B2 (ja) * 2003-11-28 2008-11-12 松下電器産業株式会社 固体撮像装置とその製造方法
US20050116271A1 (en) * 2003-12-02 2005-06-02 Yoshiaki Kato Solid-state imaging device and manufacturing method thereof
JP4208072B2 (ja) 2003-12-05 2009-01-14 シャープ株式会社 半導体素子およびその製造方法
US6969899B2 (en) * 2003-12-08 2005-11-29 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Image sensor with light guides
EP1557886A3 (en) * 2004-01-26 2006-06-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Solid-state imaging device and camera
US7372497B2 (en) * 2004-04-28 2008-05-13 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Effective method to improve sub-micron color filter sensitivity
KR100578644B1 (ko) * 2004-05-06 2006-05-11 매그나칩 반도체 유한회사 프리즘을 구비한 시모스 이미지센서 및 그 제조방법
KR100689885B1 (ko) * 2004-05-17 2007-03-09 삼성전자주식회사 광감도 및 주변광량비 개선을 위한 cmos 이미지 센서및 그 제조방법
JP4830306B2 (ja) * 2004-06-23 2011-12-07 凸版印刷株式会社 固体撮像素子の製造方法
KR100688497B1 (ko) * 2004-06-28 2007-03-02 삼성전자주식회사 이미지 센서 및 그 제조방법
DE602005025834D1 (de) * 2004-08-13 2011-02-24 St Microelectronics Sa Bildsensor
KR100640531B1 (ko) * 2004-08-20 2006-10-30 동부일렉트로닉스 주식회사 자기 정렬 이미지 센서 제조방법
US7294818B2 (en) * 2004-08-24 2007-11-13 Canon Kabushiki Kaisha Solid state image pickup device and image pickup system comprising it
KR100642764B1 (ko) * 2004-09-08 2006-11-10 삼성전자주식회사 이미지 소자 및 그 제조 방법
US20060057765A1 (en) * 2004-09-13 2006-03-16 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Image sensor including multiple lenses and method of manufacture thereof
JP4822683B2 (ja) 2004-10-08 2011-11-24 パナソニック株式会社 固体撮像装置およびその製造方法
US7208783B2 (en) * 2004-11-09 2007-04-24 Micron Technology, Inc. Optical enhancement of integrated circuit photodetectors
US20060099800A1 (en) * 2004-11-09 2006-05-11 Chintamani Palsule Method for fabricating low leakage interconnect layers in integrated circuits
KR100745595B1 (ko) * 2004-11-29 2007-08-02 삼성전자주식회사 이미지 센서의 마이크로 렌즈 및 그 형성 방법
KR100595601B1 (ko) * 2004-12-14 2006-07-05 동부일렉트로닉스 주식회사 씨모스 이미지 센서 제조방법
US7420610B2 (en) * 2004-12-15 2008-09-02 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Solid-state imaging element, solid-state imaging device, and method for fabricating the same
JP4510613B2 (ja) * 2004-12-28 2010-07-28 パナソニック株式会社 固体撮像装置の製造方法
US7254089B2 (en) * 2004-12-29 2007-08-07 Infineon Technologies Ag Memory with selectable single cell or twin cell configuration
JP4448087B2 (ja) * 2004-12-30 2010-04-07 東部エレクトロニクス株式会社 Cmosイメージセンサーとその製造方法
US7297916B1 (en) * 2005-02-22 2007-11-20 Magnachip Semiconductor, Ltd. Optically improved CMOS imaging sensor structure to lower imaging lens requirements
JP4761505B2 (ja) * 2005-03-01 2011-08-31 キヤノン株式会社 撮像装置、ならびに撮像システム
US7791158B2 (en) 2005-04-13 2010-09-07 Samsung Electronics Co., Ltd. CMOS image sensor including an interlayer insulating layer and method of manufacturing the same
JP2006319037A (ja) * 2005-05-11 2006-11-24 Canon Inc 固体撮像素子
US7196388B2 (en) * 2005-05-27 2007-03-27 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Microlens designs for CMOS image sensors
US7968888B2 (en) * 2005-06-08 2011-06-28 Panasonic Corporation Solid-state image sensor and manufacturing method thereof
US7553689B2 (en) * 2005-07-13 2009-06-30 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Semiconductor device with micro-lens and method of making the same
JP4469781B2 (ja) * 2005-07-20 2010-05-26 パナソニック株式会社 固体撮像装置及びその製造方法
WO2007015420A1 (ja) 2005-08-03 2007-02-08 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 固体撮像装置
KR100790225B1 (ko) 2005-12-26 2008-01-02 매그나칩 반도체 유한회사 이미지 센서 및 그 제조 방법
US7629661B2 (en) * 2006-02-10 2009-12-08 Noble Peak Vision Corp. Semiconductor devices with photoresponsive components and metal silicide light blocking structures
JP4215071B2 (ja) * 2006-04-28 2009-01-28 三菱電機株式会社 イメージセンサ及びその製造方法
JP4315457B2 (ja) * 2006-08-31 2009-08-19 キヤノン株式会社 光電変換装置及び撮像システム
US9222632B2 (en) 2013-01-31 2015-12-29 Cree, Inc. LED lighting fixture
US20090086491A1 (en) 2007-09-28 2009-04-02 Ruud Lighting, Inc. Aerodynamic LED Floodlight Fixture
US9212812B2 (en) 2013-02-11 2015-12-15 Cree, Inc. LED light fixture with integrated light shielding
US7686469B2 (en) 2006-09-30 2010-03-30 Ruud Lighting, Inc. LED lighting fixture
US9028087B2 (en) 2006-09-30 2015-05-12 Cree, Inc. LED light fixture
US7879631B2 (en) * 2006-10-24 2011-02-01 Hong Jim T Systems and methods for on-die light sensing with low leakage
US7732844B2 (en) * 2006-11-03 2010-06-08 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Crosstalk improvement through P on N structure for image sensor
JP5037922B2 (ja) * 2006-12-08 2012-10-03 パナソニック株式会社 固体撮像装置
KR100937654B1 (ko) * 2006-12-12 2010-01-19 동부일렉트로닉스 주식회사 이미지 센서 및 그 제조방법
US8092042B2 (en) * 2007-05-03 2012-01-10 Ruud Lighting, Inc. Shield member in LED apparatus
KR100837566B1 (ko) * 2007-05-10 2008-06-11 동부일렉트로닉스 주식회사 마스크의 설계방법과 반도체 소자 및 그 제조방법
JP2009016574A (ja) * 2007-07-04 2009-01-22 Panasonic Corp 固体撮像装置およびその製造方法
KR100882732B1 (ko) * 2007-10-22 2009-02-06 주식회사 동부하이텍 이미지 센서 및 그 제조방법
US7637630B2 (en) * 2008-04-22 2009-12-29 Ruud Lighting, Inc. Integrated shield-gasket member in LED apparatus
US8003425B2 (en) * 2008-05-14 2011-08-23 International Business Machines Corporation Methods for forming anti-reflection structures for CMOS image sensors
US7759755B2 (en) 2008-05-14 2010-07-20 International Business Machines Corporation Anti-reflection structures for CMOS image sensors
JP5235565B2 (ja) * 2008-08-27 2013-07-10 キヤノン株式会社 撮像センサ及び撮像装置
US20100301437A1 (en) * 2009-06-01 2010-12-02 Kla-Tencor Corporation Anti-Reflective Coating For Sensors Suitable For High Throughput Inspection Systems
JP2010283145A (ja) * 2009-06-04 2010-12-16 Sony Corp 固体撮像素子及びその製造方法、電子機器
JP2011109033A (ja) * 2009-11-20 2011-06-02 Sharp Corp 層内レンズおよびその製造方法、カラーフィルタおよびその製造方法、固体撮像素子およびその製造方法、並びに電子情報機器
CN102130138B (zh) 2010-01-12 2013-01-02 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 图像传感器及其形成方法
JP5833411B2 (ja) * 2011-11-11 2015-12-16 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置およびその製造方法ならびに液晶表示装置
US9435519B2 (en) 2013-01-31 2016-09-06 Cree, Inc. Light-fixture support assembly
JP2014187160A (ja) * 2013-03-22 2014-10-02 Toshiba Corp 固体撮像装置および携帯情報端末
US9347890B2 (en) 2013-12-19 2016-05-24 Kla-Tencor Corporation Low-noise sensor and an inspection system using a low-noise sensor
US9748294B2 (en) 2014-01-10 2017-08-29 Hamamatsu Photonics K.K. Anti-reflection layer for back-illuminated sensor
US9410901B2 (en) 2014-03-17 2016-08-09 Kla-Tencor Corporation Image sensor, an inspection system and a method of inspecting an article
US9860466B2 (en) 2015-05-14 2018-01-02 Kla-Tencor Corporation Sensor with electrically controllable aperture for inspection and metrology systems
US10313622B2 (en) 2016-04-06 2019-06-04 Kla-Tencor Corporation Dual-column-parallel CCD sensor and inspection systems using a sensor
US10778925B2 (en) 2016-04-06 2020-09-15 Kla-Tencor Corporation Multiple column per channel CCD sensor architecture for inspection and metrology
US10991737B2 (en) * 2016-05-19 2021-04-27 Mitsubishi Electric Corporation Solid-state imaging device and image sensor for suppressing or preventing leaking of light into adjoining pixels
US11323608B2 (en) * 2018-06-25 2022-05-03 Omnivision Technologies, Inc. Image sensors with phase detection auto-focus pixels
US11114491B2 (en) 2018-12-12 2021-09-07 Kla Corporation Back-illuminated sensor and a method of manufacturing a sensor
TWI803719B (zh) * 2019-10-10 2023-06-01 美商豪威科技股份有限公司 具相位偵測自動聚焦像素之影像感測器像素陣列及用於製造其之方法

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2638885B2 (ja) * 1988-02-22 1997-08-06 ソニー株式会社 固体撮像装置
JPH03107101A (ja) * 1989-09-20 1991-05-07 Dainippon Printing Co Ltd 集光性フィルター及びその製造方法
US5239412A (en) * 1990-02-05 1993-08-24 Sharp Kabushiki Kaisha Solid image pickup device having microlenses
JPH0485960A (ja) * 1990-07-30 1992-03-18 Toshiba Corp 固体撮像装置及びその製造方法
JPH04115678A (ja) * 1990-08-31 1992-04-16 Sanyo Electric Co Ltd 固体撮像素子及びその駆動方法
KR920013734A (ko) * 1990-12-31 1992-07-29 김광호 칼라필터의 제조방법
JP3200856B2 (ja) * 1991-02-12 2001-08-20 ソニー株式会社 固体撮像装置
JPH04334056A (ja) * 1991-05-09 1992-11-20 Toshiba Corp 固体撮像装置の製造方法
JPH04348565A (ja) * 1991-05-27 1992-12-03 Nec Corp 固体撮像素子
JPH05134111A (ja) * 1991-11-15 1993-05-28 Sharp Corp 固体撮像装置
JPH05167054A (ja) * 1991-12-19 1993-07-02 Toshiba Corp 固体撮像装置の製造方法
EP0576144B1 (en) * 1992-05-22 1998-08-05 Matsushita Electronics Corporation Solid state image sensor and manufacturing method thereof
JPH05335531A (ja) * 1992-05-27 1993-12-17 Sharp Corp 固体撮像装置
JP2833941B2 (ja) * 1992-10-09 1998-12-09 三菱電機株式会社 固体撮像装置とその製造方法
JPH06232379A (ja) * 1993-02-01 1994-08-19 Sharp Corp 固体撮像素子
KR960705347A (ko) * 1993-09-17 1996-10-09 루이스 지 지아호스 고체 상태 이메이저상의 마이크로렌즈 형성 방법(forming microlenses on solid state imager)
JP2950714B2 (ja) * 1993-09-28 1999-09-20 シャープ株式会社 固体撮像装置およびその製造方法
KR0147401B1 (ko) * 1994-02-23 1998-08-01 구본준 고체촬상소자 및 그 제조방법
US5766980A (en) * 1994-03-25 1998-06-16 Matsushita Electronics Corporation Method of manufacturing a solid state imaging device
KR0151258B1 (ko) * 1995-06-22 1998-10-01 문정환 씨씨디 영상센서 및 그 제조방법
KR0148734B1 (ko) * 1995-06-22 1998-08-01 문정환 시시디 촬상소자 제조방법
US5693967A (en) * 1995-08-10 1997-12-02 Lg Semicon Co., Ltd. Charge coupled device with microlens

Also Published As

Publication number Publication date
US5796154A (en) 1998-08-18
DE69503473D1 (de) 1998-08-20
KR100213422B1 (ko) 1999-08-02
TW308652B (ja) 1997-06-21
KR960043255A (ko) 1996-12-23
CN1050938C (zh) 2000-03-29
EP0744778A1 (en) 1996-11-27
EP0744778B1 (en) 1998-07-15
CN1134040A (zh) 1996-10-23
JPH08316448A (ja) 1996-11-29
DE69503473T2 (de) 1999-02-11
US6030852A (en) 2000-02-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3405620B2 (ja) 固体撮像装置
JP3620237B2 (ja) 固体撮像素子
US6831311B2 (en) Solid-state imaging device
US7372497B2 (en) Effective method to improve sub-micron color filter sensitivity
JPH11284158A (ja) 固体撮像素子と固体撮像素子の製造方法
US20060292731A1 (en) CMOS image sensor and manufacturing method thereof
JPH07312418A (ja) 固体撮像素子及びその製造方法
KR101035613B1 (ko) 씨모스 이미지 센서
KR20040074634A (ko) 반도체장치 및 그 제조방법
JPH0645569A (ja) 固体撮像装置およびその製造方法
JPH08288482A (ja) 固体撮像装置及びその製造方法
KR100720509B1 (ko) 이미지 센서 및 이의 제조 방법
JP2000357786A (ja) 固体撮像装置
JP4067175B2 (ja) 固体撮像装置の製造方法
JP4465750B2 (ja) 固体撮像素子の製造方法
US20050088753A1 (en) Solid-state imaging apparatus
JP2000183322A (ja) カラー固体撮像素子及びその製造方法
JP4439326B2 (ja) マイクロレンズの形成方法およびマイクロレンズを備える固体撮像素子及び液晶表示装置
JPH0661462A (ja) 固体撮像装置及びその製造方法
KR100410590B1 (ko) 이미지센서 및 이미지센서 제조방법
JPH0722599A (ja) 固体撮像装置およびその製造方法
KR100734688B1 (ko) 이미지 센서의 제조 방법
JP2000183321A (ja) 固体撮像素子及びその製造方法
JPH05218373A (ja) 固体撮像装置
KR20010011607A (ko) 마이크로 렌즈를 갖는 고체촬상소자 및 그 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080307

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090307

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100307

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110307

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110307

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees