JP3048956B2 - Non-product wafer management equipment - Google Patents
Non-product wafer management equipmentInfo
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Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は非製品ウェハ管理装
置に関し、特に製品ウェハの製造工程における状態等を
把握するためのリファレンスウェハ,ダミーウェハなど
の再生,廃棄を含む処理を管理する非製品ウェハ管理装
置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a non-product wafer management apparatus, and more particularly, to a non-product wafer management system for managing processing including regeneration and disposal of a reference wafer, a dummy wafer, and the like for grasping a state in a manufacturing process of a product wafer. Related to the device.
【0002】[0002]
【従来の技術】半導体装置の製造において、そのウェハ
の製造工程の状態等を把握するために、製品ウェハと共
にリファレンスウェハ,ダミーウェハ等の非製品ウェハ
を流して所定の処理を施し、これら非製品ウェハから所
定の情報を得るようにする例が多い。2. Description of the Related Art In the manufacture of a semiconductor device, a non-product wafer such as a reference wafer and a dummy wafer is flowed together with a product wafer in order to grasp the state of the manufacturing process of the wafer and the like. There are many cases in which predetermined information is obtained from.
【0003】このような非製品ウェハの各製造工程にお
ける処理や、再生,廃棄等の処理の管理を行う非製品ウ
ェハ管理装置の一例を図3及び図4に示す(例えば、特
開平5−74675号公報参照)。FIGS. 3 and 4 show an example of a non-product wafer management apparatus which manages such non-product wafer processing in each manufacturing process and processing such as reproduction and disposal (see, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-74675). Reference).
【0004】この例は、図3に示すように、ホストコン
ピュータ11と、このホストコンピュータ11により管
理されるデータベース12と、システムパラメータの登
録や各種設定を行い、各製造ロット(製品ウェハの)に
ついての一連の作業の作業順、各作業の作業条件の設
定、非製品ウェハの各作業の実行、廃棄等の設定等を行
う設計者用端末13と、ディスプレイに表示された作業
指示に従って作業者が、製品ウェハ及び非製品ウェハに
対し作業a(15a),作業b(15b)などの所定の
作業を行う作業者用端末14a,14bとを備えた構成
となっている。In this example, as shown in FIG. 3, a host computer 11, a database 12 managed by the host computer 11, registration of system parameters and various settings are performed. In accordance with the work order of the series of work, setting of work conditions of each work, execution of each work of a non-product wafer, setting of discarding, etc., a terminal 13 for the designer, and the worker according to the work instruction displayed on the display. And worker terminals 14a and 14b for performing predetermined operations such as operation a (15a) and operation b (15b) on product wafers and non-product wafers.
【0005】図4は機能的にこの例を説明するためのブ
ロック図であり、16は作業情報登録手段で、各製造ロ
ットそれぞれについての為すべき一連の作業とその作業
条件を記憶するロット別作業条件記憶部17と、非製品
ウェハの為すべき一連の作業とその作業条件を記憶する
非製品ウェハ別作業情報記憶部18からなる。FIG. 4 is a block diagram for functionally explaining this example. Reference numeral 16 denotes work information registration means, which is a series of works to be performed for each production lot and a lot-specific work for storing the work conditions. It comprises a condition storage unit 17 and a non-product wafer-specific work information storage unit 18 for storing a series of operations to be performed on non-product wafers and the operation conditions.
【0006】19は上記作業情報登録手段16から作業
情報を読み出す作業情報読出部で、製造ロット判別部2
0から製造ロットの認識番号が知らされるとその製造ロ
ットの作業条件及びその製造ロット中に含まれる非製品
ウェハの処置についての作業情報を作業情報登録手段1
6から読み出し、ディスプレイからなる作業指示手段2
1に表示をさせる。Reference numeral 19 denotes a work information reading unit for reading the work information from the work information registration means 16;
When the identification number of the production lot is notified from 0, the operation conditions of the production lot and the operation information on the treatment of the non-product wafer included in the production lot are registered in the operation information registration means 1.
6, a work instruction means 2 comprising a display
1 is displayed.
【0007】22は作業結果判別部で、作業を終えたあ
るいは作業に臨む非製品ウェハが不良になっているか否
かを判断するもので、不良だという結果が得られればそ
の非製品ウェハについての今後の処置について変更する
必要があるので、更新信号が作業結果判別部22から更
新入力手段23に入力され、そして作業情報登録手段の
非製品ウェハ別作業情報記憶部19のその非製品ウェハ
についての作業情報が更新されるようになっている。Reference numeral 22 denotes an operation result discriminating unit for judging whether or not the non-product wafer which has finished or approaching the operation is defective. If a result of the defect is obtained, the non-product wafer is checked. Since it is necessary to change future measures, an update signal is input from the work result determination unit 22 to the update input unit 23, and the non-product wafer-specific work information storage unit 19 of the work information registration unit stores the non-product wafer information. Work information is updated.
【0008】この従来の非製品ウェハ管理装置によれ
ば、製品ウェハだけでなくその製造ロットの非製品ウェ
ハに対しての処理についても指示できるし、その作業結
果に応じて非製品ウェハの作業情報の内容を適宜指示す
ることができ、どの非製品ウェハについてどのように処
理(再生処理、廃棄処理を含む)すべきかをペーパーレ
ス(ディスプレイに表示)で指示できるので、その処理
ミスを防止できる。According to this conventional non-product wafer management apparatus, it is possible to instruct not only the processing of the product wafer but also the processing of the non-product wafer of the production lot, and the operation information of the non-product wafer according to the operation result. Can be instructed as appropriate, and how to process (including reprocessing and discarding) for which non-product wafers can be instructed in a paperless manner (displayed on a display), so that processing errors can be prevented.
【0009】非製品ウェハは上述したように、製造工程
の状態の把握等の目的で使用されるが、殆どの非製品ウ
ェハが使用後に再生処理を行われる。状態把握で使用さ
れる非製品ウェハは1回あたりの枚数は少ないが、再生
を行う場合は効率アップ等の点から同一手順(再生時の
作業回数、順序、作業条件が同じもの)で作業可能な非
製品ウェハに関しては、同じ手順で作業を行うのが一般
的である。As described above, the non-product wafer is used for the purpose of grasping the state of the manufacturing process and the like, but most of the non-product wafer is subjected to a reprocessing after use. Although the number of non-product wafers used for grasping the state is small at one time, in the case of regenerating, it is possible to work in the same procedure (the same number of operations, the order and the working conditions at the time of regenerating) from the viewpoint of improving efficiency etc. In general, the same procedure is performed for a non-product wafer.
【0010】[0010]
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の非製品
ウェハ管理装置は、非製品ウェハに対する再生処理,廃
棄処理を含む各種の処理の指示をディスプレイに表示
し、この表示された指示に従って作業者自身の手によっ
て処理する構成となっているので、作業者がどんなに集
中し、注意していても、異種ウェハの混入に対するチェ
ックミス、非製品ウェハの再生・使用期限のチェックミ
ス、及び再生手順の選択ミスや、処理ミス等の発生は避
けらえず、これらミスが、再生処理を行う設備における
汚染やウェハの割れ等の自己につながる、という問題点
がある。また、非製品ウェハの管理は、その用途等で分
けられたグループ毎に行っているため、転用・廃棄等が
効率よく行なわれず、非製品ウェハの使用量が膨大な数
になってしまうという問題点がある。The conventional non-product wafer management apparatus described above displays various processing instructions including non-product wafer reprocessing and discarding processing on a display, and according to the displayed instructions, the worker performs an operation. Because it is configured to process by its own hands, no matter how concentrated and cautious the workers are, mistakes in mixing foreign wafers, mistakes in non-product wafer reclamation / expiration date checks, and reclamation procedures Inevitably, the occurrence of selection errors and processing errors is inevitable, and these errors lead to self-contamination in equipment for performing the regeneration process and cracking of the wafer. In addition, since non-product wafers are managed for each group divided according to their use, etc., diversion and disposal are not performed efficiently, resulting in a huge number of non-product wafers being used. There is a point.
【0011】本発明の目的は、チェックミス、選択ミ
ス、処理ミス等をなくして再生処理装置のおける汚染や
割れ等の事故を防止することができ、また、非製品ウェ
ハの使用料を低減することができる非製品ウェハ管理装
置を提供することにある。An object of the present invention is to eliminate a check error, a selection error, a processing error, etc., thereby preventing an accident such as contamination or cracking in a reprocessing apparatus, and reducing the fee for use of non-product wafers. It is an object of the present invention to provide a non-product wafer management apparatus capable of performing the above-mentioned operations.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】本発明の非製品ウェハ管
理装置は、製品ウェハと共に製造工程に流して所定の処
理を施し前記製造工程の状態を含む各種情報を収集する
ための非製品ウェハの製造工程での処理、再生処理及び
廃棄処理を含む各種処理の管理を行う非製品ウェハ管理
装置であって、前記非製品ウェハそれぞれにこれら非製
品ウェハの種類及び個々の識別の情報を含むウェハID
をマーキングするIDマーキング手段と、前記ウェハI
Dそれぞれと対応してそのウェハIDの非製品ウェハの
再生回数及び使用期間の情報を含む個別情報を保持する
個別情報保持手段と、前記非製品ウェハの種類毎の再生
限度回数,使用期間限度及び再生手順の情報を含むマス
ター情報を登録,保持するマスター情報登録・保持手段
と、前記非製品ウェハのウェハIDを読取るID読取り
手段と、このID読取り手段で読取られたウェハIDの
個別情報と前記マスタ情報とを比較し異種混入,再生処
理及び廃棄処理を含む各種判定を行う比較・判断手段
と、この比較・判定手段による判定結果が再生処理のと
きはこのウェハIDと対応する前記再生手順を発行する
と共に前記再生回数を含む個別情報を更新する再生処理
手段と、前記判定結果が廃棄処理のときはこのウェハI
Dの非製品ウェハを自動廃棄処理すると共にこのウェハ
IDの個別情報をリジェクトするリジェクト処理手段と
を有している。SUMMARY OF THE INVENTION A non-product wafer management apparatus according to the present invention is a non-product wafer management device for flowing to a manufacturing process together with a product wafer, performing a predetermined process, and collecting various information including the status of the manufacturing process. What is claimed is: 1. A non-product wafer management apparatus which manages various processes including a process in a manufacturing process, a regeneration process, and a disposal process, wherein each of the non-product wafers includes a type of the non-product wafer and information of individual identification.
ID marking means for marking the wafer I,
D, individual information holding means for holding individual information including information on the number of times of reproduction and the use period of the non-product wafer corresponding to each of the wafer IDs; Master information registering / holding means for registering and holding master information including information on a reproduction procedure; ID reading means for reading a wafer ID of the non-product wafer; individual information of the wafer ID read by the ID reading means; Comparing / judging means for comparing with the master information and performing various judgments including mixing of different kinds, regenerating processing, and discarding processing; Reproduction processing means for issuing and updating the individual information including the number of reproductions, and the wafer I when the judgment result is discard processing.
And a reject processing means for automatically rejecting the non-product wafer D and rejecting the individual information of the wafer ID.
【0013】また、前記マスター情報のうちの再生手順
の情報を登録すると共に各部の制御処理を行うホストコ
ンピュータと、前記マスター情報のうちの再生限度回数
及び使用期間限度の情報を登録するマスター情報登録端
末と、前記マスター情報及び個別情報の保持並びに前記
ウェハIDの個別情報と前記マスター情報との比較及び
前記各種判定を行うサーバと、前記ウェハIDのマーキ
ングを行うレーザーマーカーと、前記ウェハIDの読取
り、前記再生処理及び個別情報の更新処理、並びにリジ
ェクト処理を行う制御端末及び文字認識装置とを含んで
構成される。A host computer for registering information on a reproduction procedure in the master information and controlling each unit, and a master information register for registering information on the number of times of reproduction and the limit of a use period in the master information. A terminal, a server for holding the master information and the individual information, comparing the individual information of the wafer ID with the master information, and performing the various determinations; a laser marker for marking the wafer ID; and reading the wafer ID , A control terminal and a character recognition device that perform the reproduction process, the individual information update process, and the reject process.
【0014】[0014]
【発明の実施の形態】次に本発明の実施の形態について
図面を参照して説明する。Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings.
【0015】図1は本発明の一実施の形態を示すハード
ウェアのブロック図、図2はこの実施の形態の動作を説
明するための機能ブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of hardware showing one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a functional block diagram for explaining the operation of this embodiment.
【0016】この実施の形態は、非製品ウェハ100そ
れぞれにこれら非製品ウェハ100の種類及び個々の識
別の情報を含むウェハIDをマーキングするウェハID
マーキング手段101と、これらウェハIDそれぞれと
対応してそのウェハIDの非製品ウェハ100の再生回
数及び使用期間の情報を含む個別情報を保持する個別情
報保持手段102と、非製品ウェハ100の種類毎の再
生限度回数,使用期間限度及び再生手順の情報を含むマ
スター情報を登録し保持するマスター情報登録・保持手
段103と、非製品ウェハ100のウェハIDを読取る
ウェハID読取り手段104と、このウェハID読取り
手段104により読取られたウェハIDの個別情報を個
別情報保持手段102から読出すと共にそのマスター情
報をマスター情報登録・保持手段103から読出し、こ
れらを比較して異種混入,再生処理及び廃棄処理等の各
種判定を行う比較・判断手段105と、この比較・判断
手段105による判定結果が再生処理のときはこのウェ
ハIDと対応する再生手順を発行すると共に再生回数を
含む個別情報を更新する再生処理手段106と、比較・
判断手段105による判定結果が廃棄処理のときはこの
ウェハIDの非製品ウェハ100を自動廃棄処理すると
共に個別情報保持手段102に保持されているこのウェ
ハIDと対応する非製品ウェハ100の個別情報をリジ
ェクトするリジェクト処理手段107とを有する構成と
なっている。In this embodiment, a wafer ID for marking each non-product wafer 100 with a wafer ID including information on the type of the non-product wafer 100 and individual identification is provided.
A marking unit 101; an individual information holding unit 102 corresponding to each of these wafer IDs; and individual information holding unit 102 for holding individual information including information on the number of times of reproduction and use period of the non-product wafer 100 of the wafer ID; Master information registering / holding means 103 for registering and holding master information including information on the number of times of reproduction, use period limit and reproduction procedure, a wafer ID reading means 104 for reading the wafer ID of the non-product wafer 100, The individual information of the wafer ID read by the reading means 104 is read out from the individual information holding means 102 and the master information is read out from the master information registering / holding means 103. Comparing / judging means 105 for performing various judgments of A reproduction processing unit 106 for updating the individual information including the views with constant results when the regeneration process issues a reproduction procedure corresponding to the wafer ID, comparison and
When the result of the determination by the determining means 105 is a discarding process, the non-product wafer 100 having this wafer ID is automatically discarded, and the individual information of the non-product wafer 100 corresponding to this wafer ID held in the individual information holding means 102 is stored. And a reject processing unit 107 for rejecting.
【0017】そしてこの実施の形態を実行する具体的な
ハードウェアは、マスター情報のうちの再生手順の情報
を登録すると共に各部の制御処理を行うホストコンピュ
ータ1と、マスター情報のうちの再生限度回数及び使用
期間限度の情報等を登録するマスター情報登録端末6
と、マスター情報及び個別情報の保持並びに読出された
ウェハIDの個別情報とマスター情報との比較及び各種
判定を行うサーバ2と、ウェハIDのマーキングを行う
レーザーマーカー3と、ウェハIDの読取り、各種情報
の表示、並びに再生処理及びリジェクト処理を行う制御
端末4及び文字認識装置5とを備えた構成となってい
る。Specific hardware for executing this embodiment includes a host computer 1 for registering information on a reproduction procedure in the master information and controlling each unit, and a reproduction limit number of times in the master information. Master information registration terminal 6 for registering information on the use period limit and the like
A server 2 for holding the master information and the individual information, comparing the individual information of the read wafer ID with the master information, and performing various determinations; a laser marker 3 for marking the wafer ID; It has a configuration including a control terminal 4 and a character recognition device 5 that display information, and perform a reproduction process and a reject process.
【0018】なお図1には、ウェハIDマーキング後、
製品ウェハと共に、各製造工程における、各種処理手段
111と、ウェハIDを読取ってそのウェハIDの非製
品ウェハ100の各種データの収集処理を行う手段(1
12)を含む製造工程における各種処理・データ収集手
段110も含まれている。In FIG. 1, after marking the wafer ID,
Along with the product wafer, various processing means 111 in each manufacturing process, and means for reading the wafer ID and collecting various data of the non-product wafer 100 of the wafer ID (1
Various processing / data collecting means 110 in the manufacturing process including the step 12) is also included.
【0019】次に、この実施の形態の動作に関して説明
する。Next, the operation of this embodiment will be described.
【0020】最初に、マスターメンテ者があらかじめマ
スター情報登録端末6から膜種(非製品ウェハの種類)
毎の再生限度回数、使用期間限度等の再生時に判定が行
われる情報を、また、ホストコンピュータ1から膜種毎
の再生手順情報をマスター情報としてサーバ2に登録・
保持しておく。作業者は、非製品ウェハ100にウェハ
IDをレーザーマーカー3によりマーキングする。First, the master maintainer preliminarily inputs a film type (non-product wafer type) from the master information registration terminal 6.
The information to be determined at the time of reproduction, such as the maximum number of times of reproduction for each use, the use period limit, etc., and the reproduction procedure information for each film type from the host computer 1 are registered in the server 2 as master information.
Keep it. The worker marks the wafer ID on the non-product wafer 100 with the laser marker 3.
【0021】次に、製品ウェハと共に、各製造工程にお
ける各種処理を行い、マーキングされたウェハIDを文
字認識装置5にセットする。文字認識装置5は、読み取
った情報をサーバ2に送信しサーバ2は受け取ったデー
タを保持しておく。データを登録された非製品ウェハの
情報は、設備の状態把握等の目的で使用される。Next, various processes in each manufacturing process are performed together with the product wafer, and the marked wafer ID is set in the character recognition device 5. The character recognition device 5 transmits the read information to the server 2, and the server 2 holds the received data. The information of the non-product wafer in which the data is registered is used for the purpose of grasping the state of the equipment.
【0022】情報収集済みの非製品ウェハ100は、膜
種別に回収され再生処理対象ウェハとなるが、その際に
再び文字認識装置5にセットする。文字認識装置5によ
ってセットされた非製品ウェハ100ウェハIDが読み
とられ、サーバ2にデータが送信される。サーバ2は受
け取ったウェハIDの個別情報と登録済みのマスター情
報から、混在、使用回数限度及び使用期間はずれによる
廃棄、処理等の判定をおこなう。判定の結果は、制御端
末4に送信されディスプレイに表示される。判定の結
果、廃棄処理となった非製品ウェハ100は、文字認識
装置5等のウェハリジェクト機能によりリジェクトされ
る。The non-product wafer 100 for which information has been collected is collected according to the film type and becomes a wafer to be reprocessed. At this time, the wafer is set in the character recognition device 5 again. The non-product wafer 100 wafer ID set by the character recognition device 5 is read, and data is transmitted to the server 2. The server 2 determines, based on the received individual information of the wafer ID and the registered master information, whether the information is mixed, discarded due to the limitation of the number of use times, or the use period is not reached, and the processing is performed. The result of the determination is transmitted to the control terminal 4 and displayed on the display. As a result of the determination, the non-product wafer 100 discarded is rejected by the wafer reject function of the character recognition device 5 or the like.
【0023】また、再生処理の判定結果の非製品ウェハ
100に関して、再生手順がディスプレイに表示される
ので作業者は認識後、その発行手続きを行う。すると制
御端末4からホストコンピュータ1に発行手続き情報が
送信され、非製品ウェハ100の再生手順発行が完了さ
れる。手順発行が行われた非製品ウェハに関しては、サ
ーバ2が保持している個別情報の再生回数をカウントア
ップし更新する。In addition, as for the non-product wafer 100 as a result of the judgment of the regenerating process, the regenerating procedure is displayed on the display. Then, the issuing procedure information is transmitted from the control terminal 4 to the host computer 1, and the issuing of the reproducing procedure of the non-product wafer 100 is completed. For the non-product wafer for which the procedure has been issued, the number of reproductions of the individual information held by the server 2 is counted up and updated.
【0024】このようにして、再生処理の際の各種判定
から再生手順選択発行に至るまでの処理を自動で行うこ
とができる。従って、各種のチェックミス、手順の選択
ミス、及び処理ミス等がなくなり、再生処理装置におけ
る汚染や割れ等の事故を防止することができる。また、
異種の非製品ウェハを一元管理することができるので、
転用,廃棄等の管理が容易となり、非製品ウェハの使用
量を少なくすることができる。In this way, the processing from the various determinations in the reproduction processing to the selection of the reproduction procedure can be automatically performed. Therefore, various check errors, procedure selection errors, processing errors, and the like are eliminated, and accidents such as contamination and cracks in the reproduction processing apparatus can be prevented. Also,
Since different types of non-product wafers can be centrally managed,
Management of diversion, disposal, and the like is facilitated, and the amount of non-product wafers used can be reduced.
【0025】[0025]
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ウェハI
Dのマーキング、ウェハIDの読取り、読取られたウェ
ハIDの個別情報及びマスター情報の比較及びその判
定、判定結果に基づく再生処理及び廃棄処理等を自動的
に行う構成としたので、各種のチェックミス、手順の選
択ミス、及び処理ミス等をなくして再生処理装置におけ
る汚染や割れ等の事故を防止することができ、かつ、異
種の非製品を一元管理することができるので、転用や廃
棄等の管理が容易となって非製品ウェハの使用量を少な
くすることができる効果がある。As described above, according to the present invention, the wafer I
D marking, reading of the wafer ID, comparison of the individual information and master information of the read wafer ID, the determination thereof, and the regenerating process and the discarding process based on the determination result are automatically performed. In addition, it is possible to prevent accidents such as contamination and cracks in the reprocessing equipment by eliminating mistakes in the selection of procedures and processing errors, and to centrally manage different types of non-products. There is an effect that the management becomes easy and the usage amount of the non-product wafer can be reduced.
【図1】本発明の一実施の形態を示すハードウェアのブ
ロック図である。FIG. 1 is a block diagram of hardware showing an embodiment of the present invention.
【図2】図1に示された実施の形態の機能ブロック図で
ある。FIG. 2 is a functional block diagram of the embodiment shown in FIG.
【図3】従来の非製品ウェハ管理装置の一例を示すハー
ドウェアのブロック図である。FIG. 3 is a hardware block diagram illustrating an example of a conventional non-product wafer management apparatus.
【図4】図3に示された非製品ウェハ管理装置の機能ブ
ロック図である。FIG. 4 is a functional block diagram of the non-product wafer management device shown in FIG. 3;
1 ホストコンピュータ 2 サーバ 3 レーザマーカー 4 制御端末 5 文字認識装置 6 マスター情報登録端末 11 ホストコンピュータ 12 データベース 13 設計者用端末 14a,14b 作業者用端末 16 作業情報登録手段 19 作業情報読出部 20 製造ロット判別部 21 作業指示手段 22 作業結果判別部 23 更新入力手段 100 非製品ウェハ 101 ウェハIDマーキング手段 102 個別情報保持手段 103 マスター情報登録・保持手段 104 ウェハID読取り手段 105 比較・判断手段 106 再生処理手段 107 リジェクト処理手段 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Host computer 2 Server 3 Laser marker 4 Control terminal 5 Character recognition device 6 Master information registration terminal 11 Host computer 12 Database 13 Designer terminal 14a, 14b Worker terminal 16 Work information registration means 19 Work information readout unit 20 Manufacturing lot Discriminator 21 Work instructing means 22 Work result discriminator 23 Update input means 100 Non-product wafer 101 Wafer ID marking means 102 Individual information holding means 103 Master information registration / holding means 104 Wafer ID reading means 105 Comparison / judging means 106 Reproduction processing means 107 reject processing means
Claims (2)
の処理を施し前記製造工程の状態を含む各種情報を収集
するための非製品ウェハの製造工程での処理、再生処理
及び廃棄処理を含む各種処理の管理を行う非製品ウェハ
管理装置であって、前記非製品ウェハそれぞれにこれら
非製品ウェハの種類及び個々の識別の情報を含むウェハ
IDをマーキングするIDマーキング手段と、前記ウェ
ハIDそれぞれと対応してそのウェハIDの非製品ウェ
ハの再生回数及び使用期間の情報を含む個別情報を保持
する個別情報保持手段と、前記非製品ウェハの種類毎の
再生限度回数,使用期間限度及び再生手順の情報を含む
マスター情報を登録,保持するマスター情報登録・保持
手段と、前記非製品ウェハのウェハIDを読取るID読
取り手段と、このID読取り手段で読取られたウェハI
Dの個別情報と前記マスタ情報とを比較し異種混入,再
生処理及び廃棄処理を含む各種判定を行う比較・判断手
段と、この比較・判定手段による判定結果が再生処理の
ときはこのウェハIDと対応する前記再生手順を発行す
ると共に前記再生回数を含む個別情報を更新する再生処
理手段と、前記判定結果が廃棄処理のときはこのウェハ
IDの非製品ウェハを自動廃棄処理すると共にこのウェ
ハIDの個別情報をリジェクトするリジェクト処理手段
とを有することを特徴とする非製品ウェハ管理装置。1. A non-product wafer manufacturing process for regenerating and discarding a non-product wafer in a manufacturing process for collecting a variety of information including the status of the manufacturing process by flowing the same to a manufacturing process together with a product wafer. A non-product wafer management device for managing a process, comprising: an ID marking unit for marking each of the non-product wafers with a wafer ID including information on a type of the non-product wafer and individual identification; Individual information holding means for holding individual information including information on the number of times of reproduction and the use period of the non-product wafer with the wafer ID; Master information registering / holding means for registering and holding master information including ID, ID reading means for reading a wafer ID of the non-product wafer, Wafer I read by D reading means
A comparison / judgment means for comparing the individual information of D with the master information and performing various judgments including heterogeneous mixing, reproduction processing and discard processing, and a wafer ID when the judgment result by the comparison / judgment means is reproduction processing. Reproduction processing means for issuing the corresponding reproduction procedure and updating the individual information including the number of times of reproduction, and automatically discarding the non-product wafer of this wafer ID when the judgment result is discard processing, and A non-product wafer management apparatus, comprising: reject processing means for rejecting individual information.
報を登録すると共に各部の制御処理を行うホストコンピ
ュータと、前記マスター情報のうちの再生限度回数及び
使用期間限度の情報を登録するマスター情報登録端末
と、前記マスター情報及び個別情報の保持並びに前記ウ
ェハIDの個別情報と前記マスター情報との比較及び前
記各種判定を行うサーバと、前記ウェハIDのマーキン
グを行うレーザーマーカーと、前記ウェハIDの読取
り、前記再生処理及び個別情報の更新処理、並びにリジ
ェクト処理を行う制御端末及び文字認識装置とを含む請
求項1記載の非製品ウェハ管理装置。2. A host computer for registering information on a reproduction procedure in the master information and controlling each unit, and a master information register for registering information on a reproduction limit number and a use period limit in the master information. A terminal, a server for holding the master information and the individual information, comparing the individual information of the wafer ID with the master information, and performing the various determinations; a laser marker for marking the wafer ID; and reading the wafer ID 2. The non-product wafer management device according to claim 1, further comprising a control terminal and a character recognition device for performing the reproduction process, the update process of the individual information, and the reject process.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9131091A JP3048956B2 (en) | 1997-05-21 | 1997-05-21 | Non-product wafer management equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9131091A JP3048956B2 (en) | 1997-05-21 | 1997-05-21 | Non-product wafer management equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10321486A JPH10321486A (en) | 1998-12-04 |
JP3048956B2 true JP3048956B2 (en) | 2000-06-05 |
Family
ID=15049776
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9131091A Expired - Lifetime JP3048956B2 (en) | 1997-05-21 | 1997-05-21 | Non-product wafer management equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3048956B2 (en) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003022945A (en) | 2001-07-06 | 2003-01-24 | Mitsubishi Electric Corp | Process management apparatus, process management method, and program for management of process |
US6954711B2 (en) * | 2003-05-19 | 2005-10-11 | Applied Materials, Inc. | Test substrate reclamation method and apparatus |
TWI603155B (en) * | 2009-11-09 | 2017-10-21 | 尼康股份有限公司 | Exposure apparatus, exposure method, exposure apparatus maintenance method, exposure apparatus adjustment method and device manufacturing method |
CN110429045B (en) * | 2019-06-10 | 2021-04-09 | 福建省福联集成电路有限公司 | Management method and system for wafer monitoring wafer |
-
1997
- 1997-05-21 JP JP9131091A patent/JP3048956B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH10321486A (en) | 1998-12-04 |
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