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JPH0512300A - Result display method for semiconductor equipment production - Google Patents

Result display method for semiconductor equipment production

Info

Publication number
JPH0512300A
JPH0512300A JP40302190A JP40302190A JPH0512300A JP H0512300 A JPH0512300 A JP H0512300A JP 40302190 A JP40302190 A JP 40302190A JP 40302190 A JP40302190 A JP 40302190A JP H0512300 A JPH0512300 A JP H0512300A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
host computer
work
terminal
equipment
result display
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP40302190A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoichi Sumikawa
陽一 澄川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Yamaguchi Ltd
Original Assignee
NEC Yamaguchi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Yamaguchi Ltd filed Critical NEC Yamaguchi Ltd
Priority to JP40302190A priority Critical patent/JPH0512300A/en
Publication of JPH0512300A publication Critical patent/JPH0512300A/en
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/30Computing systems specially adapted for manufacturing

Landscapes

  • General Factory Administration (AREA)
  • Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)

Abstract

PURPOSE:To prepare a result display chart which can earlier grasp a working situation, etc., by collecting the respective pieces of information of the number of works, a work date/time and a process from a terminal device provided for respective facilities and graphically displaying the number of product works and a target performance at respective dates/times on one screen. CONSTITUTION:A terminal device 2 inputs information on the facilities 1a to 1n respectively production-process a semiconductor equipment. The host computer 3 collects the information from the terminal device 2. A data base processes data obtained by the host computer 3 and prepares the result chart. Then, a graph display terminal 4 plots the result display chart. Thus, the result chart which can grasp a production management situation earlier and which can take a measure corresponding to it.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、多品種ある半導体装置
の製造における製造の進捗状況及び設備稼働実績及び製
造目標達成度を把握するための半導体装置製造における
実績表示方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a performance display method in semiconductor device manufacturing for grasping the progress status of manufacturing, equipment operation performance and manufacturing target achievement level in the manufacture of various types of semiconductor devices.

【0002】[0002]

【従来の技術】通常、半導体装置は、一つの半導体装置
においてもその品種は多岐にわたる。また、その一品種
の半導体装置をとっても、その製造工程は50工程ない
しは500工程に及ぶ。さらに、その製造工程の一つに
も、種々の条件も異なり、使用する設備が異なってい
る。そして、その使用する設備に関しても、全くの単能
機ではなく、種々の製造工程を任うものである。例え
ば、通常の設備でも2工程ないし10工程の製造工程を
任っている。
2. Description of the Related Art Generally, there are various kinds of semiconductor devices, even one semiconductor device. Further, even if one kind of semiconductor device is used, the manufacturing process thereof reaches 50 or 500 processes. Furthermore, various conditions are different in one of the manufacturing processes, and different equipment is used. Also, regarding the equipment to be used, it is not a single-purpose machine but various manufacturing processes. For example, even a normal facility entrusts two to ten manufacturing processes.

【0003】従って、このような多品種の半導体装置の
製造に際しては、各設備にどの程度、仕掛品を投入し
て、どの程度で工程処理させるか、または、稼働率をど
の程度に向上させるか並びに現在処理されている仕掛品
の数はどの程度か等を把握することが重要な課題とな
る。このため、これらを把握するのに、設備毎に半導体
装置製造における実績表示表が必要になる。
Therefore, when manufacturing such a variety of semiconductor devices, it is necessary to determine how much work-in-process is put into each facility, how much process processing is performed, or how much the operating rate is improved. In addition, it is important to understand how many work-in-process products are currently being processed. Therefore, in order to grasp these, a performance display table in semiconductor device manufacturing is required for each facility.

【0004】従来、この実績表示表を作成する実績表示
方法は、ただ単に工程あるいは設備毎の実績を工程毎あ
るいは設備毎に投入あるいは完了数を表記し、その表記
された実績表で各半導体装置の進捗状況,設備稼働実績
及び目標達成度を個々に計算あるいは推計して作成する
方法を採用していた。
Conventionally, in the result display method for creating this result display table, the actual result of each process or facility is simply indicated by the number of inputs or completions for each process or facility, and each semiconductor device is represented by the indicated result table. In this method, the progress status, equipment operation record, and target achievement level were calculated or estimated individually.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の半導体装置における実績表示方法では、目標完
成品数と実際の処理数との差異は、その都度計算したり
する必要があり、非常に手間のかかるといった問題があ
る。また差異が判明しても、その原因が何であるかを解
明出来ず、次に仕掛品をどの程度投入して良いか判断し
難い欠点がある。このため、適切な投入が出来ず、稼働
率が低下したりする問題がある。
However, in the above-described conventional result display method for semiconductor devices, the difference between the target number of finished products and the actual number of processed products needs to be calculated each time, which is very troublesome. There is such a problem. Further, even if the difference is found, it is not possible to elucidate what is the cause of the difference, and it is difficult to judge how much the work in process should be put in next. For this reason, there is a problem that an appropriate input cannot be made and the operation rate is lowered.

【0006】本発明の目的は、かかる欠点を解消すべ
く、設備の処理数,目標達成度及び稼働状況をより早く
把握し得る実績表示表を作成出来る半導体装置における
実績表示方法を提供することである。
An object of the present invention is to provide a result display method in a semiconductor device capable of creating a result display table capable of grasping the number of processes of the equipment, the degree of achievement of a target, and the operating status in order to eliminate such drawbacks. is there.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置製造
における実績表示方法は、複数の工程を同一製造設備群
で処理する半導体装置製造における実績表示方法におい
て、各設備に情報をホストコンピュータに転送する端末
機を備え、前記各設備の作業開始及び終了時に作業数,
作業日時及び作業工程に係る情報を前記端末機と前記ホ
ストコンピュータとで交換するステップと、前記ホスト
コンピュータが前記情報データを3次元のリレーショナ
ルデータベースで随時にデータの追加及び更新を行うス
テップと、追加及び更新された数値を図式的に表示端末
機の一画面に描画するステップとを含んで構成される。
A method of displaying results in semiconductor device manufacturing according to the present invention is a method of displaying results in semiconductor device manufacturing in which a plurality of processes are processed by the same manufacturing equipment group, and information is transferred to each equipment to a host computer. Equipped with a terminal, and the number of work at the start and end of the work of each equipment,
A step of exchanging information on a work date and a work process between the terminal and the host computer; a step of the host computer adding and updating the information data in a three-dimensional relational database at any time; And graphically drawing the updated numerical value on one screen of the display terminal.

【0008】[0008]

【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, the present invention will be described with reference to the drawings.

【0009】図1は本発明の半導体装置製造における実
績表示方法の一実施例を説明するための設備群の配置を
示すブロック図、図2は本発明の半導体装置製造におけ
る実績表示方法の一実施例を説明するためのメインフロ
ーチャート、図3は図1のグラフ表示端末に表示される
表の一例である。
FIG. 1 is a block diagram showing an arrangement of equipment groups for explaining an embodiment of a result display method in manufacturing a semiconductor device according to the present invention, and FIG. 2 is an implementation of a result display method in manufacturing a semiconductor device according to the present invention. FIG. 3 is an example of a table displayed on the graph display terminal of FIG. 1 for explaining an example.

【0010】この発明に適用した製造ラインは、図1に
示すように、半導体装置の各製造処理する設備1a〜1
nと、これら設備に関する情報を入刀する端末機2と、
これら端末機2からの情報を収集し、データ処理するホ
ストコンピュータ3と、ホストコンピュータで本発明に
よる実績表示表を描画するグラフ表示端末4とで構成さ
れている。
As shown in FIG. 1, the manufacturing line applied to the present invention includes facilities 1a to 1 for processing each semiconductor device.
n, and a terminal device 2 for entering information about these facilities,
The host computer 3 collects information from these terminals 2 and processes the data, and a graph display terminal 4 for drawing a performance display table according to the present invention on the host computer.

【0011】次に、この発明による製造における実績表
示方法の流れについて説明する。この流れは、図2に示
すように、まず、ステップ5で、各設備で作業処理数等
の種々のデータ端末機に入れ、ホストコンピュータ3に
報告する。次に、ステップ6でホストコンピュータ3が
これらのデータを処理する。次に、ステップ7で、処理
したデータを記憶装置に転送し、保存する。次に、ステ
ップ8で、グラフ表示端末に、図3に示す表を描画す
る。また、この表内の数値及びグラフは、端末機よりの
データで更新される。
Next, the flow of the result display method in manufacturing according to the present invention will be described. As shown in FIG. 2, first, in step 5, this flow is entered into various data terminals such as the number of work processes in each facility and reported to the host computer 3. Next, in step 6, the host computer 3 processes these data. Next, in step 7, the processed data is transferred to and stored in the storage device. Next, in step 8, the table shown in FIG. 3 is drawn on the graph display terminal. The numerical values and graphs in this table are updated with the data from the terminal.

【0012】次に、図3における表について説明する。
図中の9は、設備が処理すべき日毎の累計数の目標値
(点線で示す)と実績処理数のグラフである。図中10
は日毎の処理数を示す棒グラフである。図中の11は、
9及び10のグラフの横軸上の日付と、異なる工程での
処理する目標値項目と、異なる工程名の項目とを示す。
図中の12は異なる工程での日毎の処理数を示す。図中
13は日毎の処理数の合計を示す。図中の14は、日毎
の目標累計に対する達成度を示す。
Next, the table in FIG. 3 will be described.
Reference numeral 9 in the figure is a graph of a target value (shown by a dotted line) of the cumulative number for each day that the facility should process and the actual number of processes. 10 in the figure
Is a bar graph showing the number of processes per day. 11 in the figure is
The dates on the horizontal axis of the graphs 9 and 10 are shown, target value items to be processed in different processes, and items with different process names.
Reference numeral 12 in the figure indicates the number of processes per day in different steps. In the figure, 13 indicates the total number of processes per day. Reference numeral 14 in the figure indicates the degree of achievement with respect to the daily target cumulative total.

【0013】なお、図3の表を見ると、例えば、工程A
は4日目で5日目の分まで作業終了していることがわか
る。このことは、この設備では、5日目にA工程を処理
する必要がなくなる。従って、B,Cの工程だけ5日目
に処理すれば良い。また、全工程を通じて、この設備の
処理数が目標値に比べ、達成が未達であるので、投入の
流れを改善する等を図り、B,C工程の遅れを取り戻す
必要がある。このように、図3に示す表を得れば、数値
が図式化されており、設備の処理程度,稼働率及び工程
の進捗状況をより早く把握出来、対応処理が計れるとい
う利点がある。
Looking at the table in FIG. 3, for example, the process A
It can be seen that the work is completed on the 4th day until the 5th day. This means that this facility eliminates the need to process step A on the fifth day. Therefore, only the steps B and C should be processed on the fifth day. In addition, since the number of treatments of this equipment has not reached the target value throughout the entire process, it is necessary to improve the flow of the input and recover the delay of the B and C processes. As described above, when the table shown in FIG. 3 is obtained, the numerical values are diagrammatically formed, and there is an advantage that the processing degree of the equipment, the operating rate and the progress status of the process can be grasped more quickly, and the corresponding processing can be measured.

【0014】図4,図5及び図6はホストコンピュータ
におけるデータベース構造を示す図である。次に、この
半導体装置製造における実績表示方法におけるデータベ
ースについて説明する。まず、端末機2より収集される
データを収集し、整理するデータベースAは、図4に示
すように、ツリー構造になっており、製品のロットNO
15を親とし、その下に製品の処理したときの各工程で
の履歴16がある。このロットNO15は、製品名とそ
の製品のロットナンバーが記録されるものである。ま
た、履歴のレコードには、工程名,作業開始日時,作業
終了日時,作業者名,作業数及び設備名等がレコードさ
れる。従って、端末機2より作業開始の報告とともに工
程名と作業開始日時が収集され、新しくレコードされ
る。また、設備から作業終了の報告が転送されると、レ
コードの空白部分に作業終了日時,作業者名,作業条
件,作業数,作業設備のデータを埋める。
FIGS. 4, 5 and 6 are diagrams showing the database structure in the host computer. Next, the database in the performance display method in the semiconductor device manufacturing will be described. First, the database A for collecting and organizing the data collected from the terminal device 2 has a tree structure as shown in FIG.
There is a history 16 of each process when the product is processed under the parent 15. The lot number 15 records the product name and the lot number of the product. In the history record, the process name, work start date / time, work end date / time, worker name, number of works, equipment name, etc. are recorded. Therefore, the process name and the work start date and time are collected from the terminal 2 together with the work start report and newly recorded. Further, when the work completion report is transferred from the facility, the blank part of the record is filled with work completion date / time, worker name, work condition, number of works, and work facility data.

【0015】図5は、ホストコンピュータ3が、設備の
作業開始時における作業条件のチェックを行うときに使
用するデータベースBである。このデータベースBは、
やはりツリー構造をしており、工程手順17を親とし、
その下に作業条件及び使用可能設備18の情報がある。
このデータベースBは、作業開始報告で前述のようにロ
ットNOが報告されたとき、図4に示すデータベースA
より最新履歴を探索し、それを基にデータベースBか
ら、次工程の作業条件及び作用可能設備が抽出される。
また、このデータベースBにより、抽出された使用可能
設備が使用出来るか否かをチェックし、問題なければ、
作業条件をその使用可能設備に転送する。さらに、問題
あれば、使用不可メッセージを知らせる。
FIG. 5 shows a database B used by the host computer 3 when checking the work conditions at the start of the work of the equipment. This database B is
It also has a tree structure, with process procedure 17 as the parent,
Below that is information on working conditions and available equipment 18.
This database B is the database A shown in FIG. 4 when the lot number is reported in the work start report as described above.
The more recent history is searched, and the work conditions and workable equipment of the next process are extracted from the database B based on the search.
In addition, with this database B, it is checked whether the extracted usable equipment can be used, and if there is no problem,
Transfer the working conditions to the available equipment. In addition, if there is a problem, notify the unavailable message.

【0016】図6は図1のグラフ表示端末にグラフ表示
用データを転送するためのデータベースCである。この
データベースCは、同図に示すように、3次元のリレー
ショナルデータベースであり、各設備毎の工程名19で
あるA,B,Cと、目標値20及び日付21のそれぞれ
のフィールドに、各工程毎の作業数がレコードされるも
のである。そして、端末機2より作業終了毎に、各工程
での作業終了日時等を入手し、各フィールドにデータ値
を入れ更新する。そして、所定経路後、これらのデータ
は記憶装置に保持され、データ転送要求時にグラフ表示
端末4に転送され、図3に示す実績表を描画する。
FIG. 6 shows a database C for transferring graph display data to the graph display terminal shown in FIG. This database C is a three-dimensional relational database, as shown in the figure, and includes A, B, and C, which are process names 19 for each facility, and target fields 20 and dates 21 in respective fields. The number of operations for each is recorded. Then, each time the work is completed, the work completion date and time of each process is obtained from the terminal device 2, and the data value is entered in each field to be updated. Then, after a predetermined route, these data are held in the storage device, transferred to the graph display terminal 4 at the time of data transfer request, and the result table shown in FIG. 3 is drawn.

【0017】図7及び図8は端末機からホストコンピュ
ータに報告する手順の説明するためのフローチャートで
ある。図7は設備の稼働開始時におけるものを示し、図
8は作業終了時を示す。
7 and 8 are flow charts for explaining the procedure of reporting from the terminal to the host computer. FIG. 7 shows the equipment at the start of operation, and FIG. 8 shows the work at the end.

【0018】まず、図7に示すように、ステップ22
で、設備で作業を開始しようとする前に端末機2により
ホストコンピュータ3へ設備名とロットNOを転送す
る。次に、ステップ23により、ホストコンピュータ3
はそれを受け、図4に示すデータベースAのロットNO
15から工程毎の履歴16の最新履歴を取得する。次
に、ステップ24及び25により図5に示すデータベー
スBの工程手順17と最新履歴より次工程の情報を得る
とともに作業条件,使用可能設備18を取得する。次
に、判定動作26により、転送された設備名が使用可能
設備であるかどうかチェックする。このときYESな
ら、次のステップ27により、ホストコンピュータ3は
設備1a〜1nあるいは端末機2に作業条件を転送す
る。NOなら、ステップ28によりエラーメッセージと
して“この設備では作業できません”というメッセージ
を転送する。次に、ステップ29によりデータベースA
に作業開始の履歴(工程名と作業開始時)のみの入った
レコードが工程毎の履歴16の最新のものとして追加さ
れる。
First, as shown in FIG. 7, step 22
Then, the terminal 2 transfers the equipment name and the lot number to the host computer 3 before starting work on the equipment. Next, in step 23, the host computer 3
Receiving it, the lot number of database A shown in FIG.
The latest history of the history 16 for each process is acquired from 15. Next, in steps 24 and 25, information on the next step is obtained from the step 17 of the database B shown in FIG. 5 and the latest history, and the work condition and usable equipment 18 are obtained. Next, the judgment operation 26 checks whether or not the transferred equipment name is usable equipment. If YES at this time, the host computer 3 transfers the work conditions to the equipment 1a to 1n or the terminal 2 in the next step 27. If NO, the error message "Cannot work with this equipment" is transferred in step 28. Next, in step 29, the database A
A record containing only the work start history (process name and work start time) is added as the latest record 16 of each process.

【0019】このように、設備が稼働し、製品の作業を
終了すると、図8に示すように、まず、ステップ30
で、設備または端末機2よりホストコンピュータ3へ設
備名,ロットNOを転送する。次に、ステップ31によ
り、データベースAの工程毎の履歴16の最新の履歴
(工程名,作業開始日時)及びデータベースBでの仕掛
工程名を取得する。次に、ステップ32により、報告さ
れたロットの終了報告を受けてよいかどうか否かをチェ
ックする。もし、このときYESなら、ステップ33に
より、設備または端末機2に終了報告データの送信要求
を出す。また、NOであれば、ステップ34によりエラ
ーメッセージとして“このロットは作業しておりませ
ん”というメッセージを転送する。次に、ステップ35
により、終了報告データの送信要求を受けた設備または
端末機2は、終了報告データ(作業終了日時,作業者
名,作業条件,作業数,作業設備のデータ)をホストコ
ンピュータへ転送する。次に、ステップ36によりホス
トコンピュータ3は、それら終了報告データをデータベ
ースAの工程毎の履歴16の最新のレコードの空白の部
分に埋め込む。次に、ステップ37により、データベー
スCの該当するフィールドの数値を更新する。
In this way, when the equipment is operated and the work of the product is finished, as shown in FIG.
The equipment name and lot number are transferred from the equipment or terminal 2 to the host computer 3. Next, in step 31, the latest history (process name, work start date and time) of the history 16 for each process in the database A and the in-process process name in the database B are acquired. Next, in step 32, it is checked whether or not the completion report of the reported lot may be received. If YES at this time, in step 33, a request for transmitting the end report data is issued to the facility or the terminal 2. If NO, the error message "This lot is not working" is transferred as an error message in step 34. Next, step 35.
Thus, the equipment or the terminal 2 which has received the transmission request for the end report data transfers the end report data (work end date / time, worker name, work condition, number of works, work equipment data) to the host computer. Next, at step 36, the host computer 3 embeds the end report data in the blank portion of the latest record of the history 16 for each process of the database A. Next, in step 37, the numerical value of the corresponding field of the database C is updated.

【0020】このように、ホストコンピュータ3に入手
されたデータがデータベースCにより処理され、図3に
示す実績表が作成される。また、この各設備毎にこの実
績表は、作業終了時間毎に更新されていくので、常にこ
の実績表を監視してやれば、各設備に稼働状況が把握出
来、きわめて円滑なラインの稼働を行え得る利点があ
る。
In this way, the data obtained by the host computer 3 is processed by the database C, and the result table shown in FIG. 3 is created. In addition, since this performance table is updated for each facility at each work end time, if this performance table is constantly monitored, the operating status of each facility can be ascertained and extremely smooth line operation can be performed. There are advantages.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、各設備に
端末機を備え、この端末機より作業数,作業日時及び工
程名情報をホストコンピュータで収集し、各設備のそれ
ぞれの工程での作業処理数データを3次元のリレーショ
ナルデータベースにより随時追加更新し、日時毎に処理
する製品作業数及び目標達成度を図式的に一画面に表示
することによって、より早く製造管理状況を把握し、そ
れに応じた対策が出来る実績表が作成出来る半導体装置
における実績表示方法が得られるという効果がある。
As described above, according to the present invention, each facility is provided with a terminal, and the number of works, work date and time and process name information are collected from the terminal by the host computer, and the process in each process of each facility is collected. The number of work processes is additionally updated by a three-dimensional relational database at any time, and the number of product works to be processed at each date and the target achievement level are graphically displayed on a single screen, so that the manufacturing management status can be grasped more quickly. There is an effect that a result display method in a semiconductor device can be obtained which can create a result table capable of taking appropriate measures.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の半導体装置製造における実績表示方法
の一実施例を説明するための設備群の配置を示す図であ
る。
FIG. 1 is a diagram showing an arrangement of equipment groups for explaining an embodiment of a result display method in semiconductor device manufacturing according to the present invention.

【図2】本発明の半導体装置製造における実績表示方法
を説明するためのメインフローチャートである。
FIG. 2 is a main flowchart for explaining a result display method in semiconductor device manufacturing according to the present invention.

【図3】図1のグラフ表示端末に表示される表の一例で
ある。
3 is an example of a table displayed on the graph display terminal of FIG.

【図4】ホストコンピュータにおけるデータベースAの
構造を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a structure of a database A in a host computer.

【図5】ホストコンピュータにおけるデータベースBの
構造を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a structure of a database B in a host computer.

【図6】ホストコンピュータにおけるデータベースCの
構造を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a structure of a database C in a host computer.

【図7】作業開始時に端末機とホストコンピュータとの
報告手順を説明するためのフローチャートである。
FIG. 7 is a flowchart for explaining a reporting procedure between a terminal and a host computer at the start of work.

【図8】作業終了時に端末機とホストコンピュータとの
報告手順を説明するためのフローチャートである。
FIG. 8 is a flowchart for explaining a reporting procedure between a terminal and a host computer at the end of work.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1a〜1n 設備 2 端末機 3 ホストコンピュータ 4 グラフ表示端末 1a to 1n Equipment 2 Terminal 3 Host computer 4 Graph display terminal

Claims (1)

【特許請求の範囲】 【請求項1】 複数の工程を同一製造設備群で処理する
半導体装置製造における実績表示方法において、各設備
に情報をホストコンピュータに転送する端末機を備え、
前記各設備の作業開始及び終了時に作業数,作業日時及
び作業工程に係る情報を前記端末機と前記ホストコンピ
ュータとで交換するステップと、前記ホストコンピュー
タが前記情報データを3次元のリレーショナルデータベ
ースで随時にデータの追加及び更新を行うステップと、
追加及び更新された数値を図式的に表示端末機の一画面
に描画するステップとを含んで構成されることを特徴と
する半導体装置製造における実績表示方法。
Claim: What is claimed is: 1. A method of displaying results in semiconductor device manufacturing, wherein a plurality of processes are processed by the same manufacturing equipment group, and each equipment is equipped with a terminal for transferring information to a host computer.
A step of exchanging information relating to the number of works, work date and time, and work process between the terminal and the host computer at the start and end of the work of each facility, and the host computer at any time using the three-dimensional relational database for the information data. To add and update data to
And a step of graphically drawing the added and updated numerical values on one screen of a display terminal, the method for displaying results in semiconductor device manufacturing.
JP40302190A 1990-12-18 1990-12-18 Result display method for semiconductor equipment production Pending JPH0512300A (en)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP40302190A JPH0512300A (en) 1990-12-18 1990-12-18 Result display method for semiconductor equipment production

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP40302190A JPH0512300A (en) 1990-12-18 1990-12-18 Result display method for semiconductor equipment production

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0512300A true JPH0512300A (en) 1993-01-22

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP40302190A Pending JPH0512300A (en) 1990-12-18 1990-12-18 Result display method for semiconductor equipment production

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0512300A (en)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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