JP2006281292A - 導電性フィラー、及び低温はんだ材料 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】金属粒子の混合体からなり、示差走査熱量測定(DSC)で発熱ピークとして観測される準安定合金相を少なくとも1つと、吸熱ピークで観測される融点を110〜140℃に少なくとも1つと140〜200℃に少なくとも1つと300〜450℃に複数有し、140〜400℃で熱処理することにより該金属粒子の混合体を溶融接合させた後の最低融点が300〜400℃にある導電性フィラー。
【選択図】図2
Description
すなわち、本発明の一は、第1の金属粒子と第2の金属粒子と第3の金属粒子との混合体からなる導電性フィラーであって、該混合体は示差走査熱量測定(DSC)で発熱ピークとして観測される準安定合金相を少なくとも1つと、吸熱ピークとして観測される融点を110〜140℃に少なくとも1つと140〜200℃に少なくとも1つと300〜450℃に複数有しており、該混合体を140〜400℃で熱処理することにより第2の金属粒子を溶融させ第1の金属粒子及び第3の金属粒子と接合させた後の最低融点が300〜400℃にあることを特徴とする導電性フィラーである。上記混合体が第1の金属粒子100質量部と第2の金属粒子25〜400質量部と第3の金属粒子25〜600質量部からなり、該第1の金属粒子は、Cu50〜80質量%とAg、Bi、In、及びSnからなる群より選ばれる少なくとも1つ以上の元素20〜50質量%の組成を有する合金からなり、該第2の金属粒子は、Sn30〜60質量%とAg、Bi、Cu、In、及びZnからなる群より選ばれる少なくとも1つ以上の元素40〜70質量%の組成を有する合金からなり、該第3の金属粒子は、Sn30〜55質量%とAg20〜40質量%とBi、Cu、In、及びZnからなる群より選ばれる少なくとも1つ以上の元素5〜50質量%の組成を有する合金からなることが好ましい。
本発明の二は、上記の導電性フィラーを含むはんだペーストである。
上記金属粒子の粒子サイズは、用途に応じて様々であるが、例えば、はんだペースト用途では、印刷性を重視して、平均粒径で2〜40μmの比較的真球度の高い粒子を使い、導電性接着剤用途では、粒子の接触面積を増やすため、異形粒子を使うのが一般的である。
また、通常、金属粒子は表面酸化されていることが多い。従って、上述の用途における熱処理による溶融、熱拡散を促進するためには、酸化膜を除去する活性剤を配合したり、加圧したりする条件が好ましい。
[実施例1]
(1)第1の金属粒子の製造
Cu粒子6.5kg(純度99質量%以上)、Sn粒子1.5kg(純度99質量%以上)、Ag粒子1.0kg(純度99質量%以上)、Bi粒子0.5kg(純度99質量%以上)、In粒子0.5kg(純度99質量%以上)を黒鉛坩堝に入れ、99体積%以上のヘリウム雰囲気で、高周波誘導加熱装置により1400℃まで加熱、融解した。次に、この溶融金属を坩堝の先端より、ヘリウムガス雰囲気の噴霧槽内に導入した後、坩堝先端付近に設けられたガスノズルから、ヘリウムガス(純度99体積%以上、酸素濃度0.1体積%未満、圧力2.5MPa)を噴出してアトマイズを行い、第1の金属粒子を作製した。この時の冷却速度は2600℃/秒とした。
Cu粒子1.5kg(純度99質量%以上)、Sn粒子3.75kg(純度99質量%以上)、Ag粒子1.0kg(純度99質量%以上)、In粒子3.75kg(純度99質量%以上)を黒鉛坩堝に入れ、99体積%以上のヘリウム雰囲気で、高周波誘導加熱装置により1400℃まで加熱、融解した。次に、この溶融金属を坩堝の先端より、ヘリウムガス雰囲気の噴霧槽内に導入した後、坩堝先端付近に設けられたガスノズルから、ヘリウムガス(純度99体積%以上、酸素濃度0.1体積%未満、圧力2.5MPa)を噴出してアトマイズを行うことにより、第2の金属粒子を作製した。この時の冷却速度は2600℃/秒とした。
Cu粒子1.0kg(純度99質量%以上)、Sn粒子4.8kg(純度99質量%以上)、Ag粒子3.2kg(純度99質量%以上)、Bi粒子0.5kg(純度99質量%以上)、In粒子0.5kg(純度99質量%以上)を黒鉛坩堝に入れ、99体積%以上のヘリウム雰囲気で、高周波誘導加熱装置により1400℃まで加熱、融解した。次に、この溶融金属を坩堝の先端より、ヘリウムガス雰囲気の噴霧槽内に導入した後、坩堝先端付近に設けられたガスノズルから、ヘリウムガス(純度99体積%以上、酸素濃度0.1体積%未満、圧力2.5MPa)を噴出してアトマイズを行い、第3の金属粒子を作製した。この時の冷却速度は2600℃/秒とした。
上記第1の金属粒子、第2の金属粒子、第3の金属粒子を重量比100:89:196で混合した導電性フィラー(平均粒径2.2μm)を試料とし、島津製作所(株)製「DSC−50」を用い、窒素雰囲気下、昇温速度10℃/分の条件で、30〜600℃の範囲において示差走査熱量測定を行った。この測定により得られたDSCチャートを図1に示す。この図に示すように、132℃、195℃、379℃に吸熱ピークが存在することが確認された。132℃吸熱ピークは、融点128℃(融解開始温度:固相線温度と表示させる温度)である。また、特徴的に296℃に発熱ピークが存在していた。尚、DSC測定にいては、熱量が±1.5J/g以上あるものを導電性フィラー由来のピークとして定量し、それ未満は分析精度の観点から除外した。
得られたはんだペーストをアルミナ基板に載せ、リフロー炉で空気雰囲気下にて、ピーク温度180℃で熱処理した。この熱処理後のはんだペーストを試料とし、島津製作所(株)製「DSC−50」を用い、窒素雰囲気下、昇温速度10℃/分の条件で、30〜600℃の範囲において示差走査熱量測定を行った。この測定により得られたDSCチャートを図2に示す。この図に示すように、378℃に吸熱ピークが存在し、132℃、195℃の吸熱ピークは消失していることが確認された。378℃吸熱ピークは、融点320℃(融解開始温度:固相線温度と表示させる温度)である。すなわち、ピーク温度180℃のリフロー熱処理により、導電性フィラーの最低融点が128℃から320℃に上昇したことが確認された。尚、DSC測定にいては、熱量が±1.5J/g以上あるものを導電性フィラー由来のピークとして定量し、それ未満は分析精度の観点から除外した。
上記はんだペーストをCu基板に2mm×3.5mmで印刷し、2mm×2mmチップを搭載後、リフロー炉で空気雰囲気下にて、ピーク温度180℃で熱処理した。印刷パターン形成は、印刷機としてマイクロテック(株)製の「MT−320TV」を用い、版は、スクリーンマスクを用いた。スクリーンマスクの開孔は、2mm×2mmであり、厚みは、50μmである。印刷条件は、印刷速度:20mm/秒、印圧:0.1MPa、スキージ圧:0.2MPa、背圧:0.1MPa、アタック角度:20°、クリアランス:1mm、印刷回数1回とした。また、チップは、厚みが0.6mmで、接合面にAu/Ni/Cr(3000/2000/500Å)スパッタリングしてあるSiチップを用いた。次に、常温で、チップの剪断方向の接合強度をプッシュ・プルゲージにより、押し速度10mm/minで測定し、単位面積に換算したところ11MPaであった。更に、前記と同じ方法で作製した基板をホットプレート上で260℃まで加熱し、260℃で1分間保持した状態で、前記と同じ方法で、剪断方向の接合強度を測定したところ、3MPaであり、260℃でも接合強度を保持できる耐熱性を確認できた。
次に上記はんだペーストを用いて、ガラスエポキシ基板上に「JIS Z 3197」に準拠した「櫛形電極」のパターンを印刷した。このパターンをリフロー炉で空気雰囲気下にてピーク温度180℃で熱処理することにより、パターンを硬化させて「櫛形電極」を形成した。次に熱処理で得られた「櫛形電極」を用いて、「JIS Z 3197」の方法でマイグレーション試験を実施した。すなわち、各「櫛形電極」を温度85℃、湿度85%の恒温恒湿槽内に入れ、50Vの電圧を付与した状態で1000時間保持した。その後、拡大鏡で「櫛形電極」の状態を観察したところ、いずれの基板上の「櫛形電極」についても、デンドライト(樹枝状金属)の生成は認められなかった。
次に、一対のAg/Pd電極を形成したセラミック基板上に、該電極間を接続するように上記はんだペーストを印刷後、リフロー炉で空気雰囲気下にて、ピーク温度180℃で熱処理した。印刷パターン形成は、印刷機としてマイクロテック(株)製の「MT−320TV」を用い、版は、スクリーンマスクを用いた。スクリーンマスクの開孔は、2mm×2mmであり、膜厚は50μmである。印刷条件は、印刷速度:20mm/秒、印圧:0.1MPa、スキージ圧:0.2MPa、背圧:0.1MPa、アタック角度:20°、クリアランス:1mm、印刷回数1回とした。これにより得られた印刷パターンの抵抗値を2端子法により測定した。また、配線の長さ、幅、厚みから体積を算出した。この測定値と算出値から印刷パターンの体積抵抗値を計算したところ、2.6×10-4Ω・cmであった。
Sn―37Pb共晶はんだ粒子(平均粒径32.5μm)を90.5質量%、ロジン系フラックス6.61質量%、トリエタノールアミン(酸化膜除去剤)1.65質量%、ステアリン酸(活性剤)0.41質量%及びエチレングリコールモノヘキシルエーテル(溶剤)0.83質量%を混合し、脱泡混練機(松尾産業社(株)製:SNB−350)、3本ロールにかけてはんだペーストを作製した後に、実施例1と同様の条件で、Cu基板に2mm×3.5mmで印刷し、2mm×2mmチップを搭載後、リフロー炉で空気雰囲気下にて、ピーク温度180℃で熱処理して基板を作製した。次に、常温で、実施例1と同じ方法で、チップの剪断方向の接合強度を測定し、単位面積に換算したところ5MPaであった。また、更に、実施例1と同じ方法で作製した基板をホットプレート上で260℃まで加熱し、260℃で1分間保持した状態で、実施例1と同じ方法で、剪断方向の接合強度を測定しようとしたところ、はんだペーストが再溶融して、チップが浮いてしまい接合強度は測定できなかった。
Sn−3.0Ag−0.5Cu鉛フリーはんだ粒子(平均粒径17.4μm)を90.5質量%、ロジン系フラックス6.61質量%、トリエタノールアミン(酸化膜除去剤)1.65質量%、ステアリン酸(活性剤)0.41質量%及びエチレングリコールモノヘキシルエーテル(溶剤)0.83質量%を混合し、脱泡混練機(松尾産業社(株)製:SNB−350)、3本ロールにかけてはんだペーストを作製した後に、上記と同様の条件で、Cu基板に2mm×3.5mmで印刷し、2mm×2mmチップを搭載後、リフロー炉で空気雰囲気下にて、ピーク温度180℃で熱処理して基板を作製した。次に、常温で、前記と同じ方法で、チップの剪断方向の接合強度を測定し、単位面積に換算したところ1MPaであった。また、更に、前記と同じ方法で作製した基板をホットプレート上で260℃まで加熱し、260℃で1分間保持した状態で、前記と同じ方法で、剪断方向の接合強度を測定しようとしたところ、はんだペーストが再溶融して、チップが浮いてしまい接合強度は測定できなかった。
以上、説明したように本発明の導電性フィラーを用いれば、従来のSn―37Pb共晶はんだのリフロー熱処理条件よりも低温条件(ピーク温度140℃以上)で溶融接合できる高耐熱性のはんだ材料が開発できる。また、はんだペーストとしても、耐イオンマイグレーション性、絶縁信頼性、導電性に優れた材料であることが確認できた。
Claims (3)
- 第1の金属粒子と第2の金属粒子と第3の金属粒子との混合体からなる導電性フィラーであって、該混合体は示差走査熱量測定(DSC)で発熱ピークとして観測される準安定合金相を少なくとも1つと、吸熱ピークとして観測される融点を110〜140℃に少なくとも1つと140〜200℃に少なくとも1つと300〜450℃に複数有しており、該混合体を140〜400℃で熱処理することにより第2の金属粒子を溶融させ第1の金属粒子及び第3の金属粒子と接合させた後の最低融点が300〜400℃にあることを特徴とする導電性フィラー。
- 混合体が第1の金属粒子100質量部と第2の金属粒子25〜400質量部と第3の金属粒子25〜600質量部からなり、該第1の金属粒子は、Cu50〜80質量%とAg、Bi、In、及びSnからなる群より選ばれる少なくとも1つ以上の元素20〜50質量%の組成を有する合金からなり、該第2の金属粒子は、Sn30〜60質量%とAg、Bi、Cu、In、及びZnからなる群より選ばれる少なくとも1つ以上の元素40〜70質量%の組成を有する合金からなり、該第3の金属粒子は、Sn30〜55質量%とAg20〜40質量%とBi、Cu、In、及びZnからなる群より選ばれる少なくとも1つ以上の元素5〜50質量%の組成を有する合金からなる請求項1記載の導電性フィラー。
- 請求項1または2に記載の導電性フィラーを含むはんだペースト。
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