JP2006120231A - 垂直磁気記録媒体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 非磁性基体1上に、軟磁性裏打ち層2、下地層3、非磁性中間層4および磁気記録層5を順次備えた垂直磁気記録媒体において、下地層をCo、NiおよびFeを含有し、fcc構造ならびに軟磁性を有して構成する。Niは30〜88原子%、Feは0.1〜22原子%が好ましい。Si、B、Nb、N、Ta、Al、Pd、CrまたはMoを添加しても良い。非磁性中間層は、Ru、Re、Pd、Ir、PtまたはRhの内の少なくともひとつの元素を含有することが好ましい。磁気記録層はグラニュラー構造が好ましく、軟磁性裏打ち層と下地層の間にシード層を備えても良い。
【選択図】 図1
Description
垂直磁気記録媒体は主に、硬質磁性材料の磁気記録層と、磁気記録層を目的の方向に配向させるための下地層、磁気記録層の表面を保護する保護層、そしてこの記録層への記録に用いられる磁気ヘッドが発生する磁束を集中させる役割を担う軟磁性裏打ち層等の軟磁性層から構成される。磁気記録層と軟磁性裏打ち層が直接接触すると、相互作用によりノイズが発生することが知られており、磁気記録層と軟磁性裏打ち層の間には非磁性層を配置することが好ましく、下地層としては非磁性層が用いられてきた。
以上のように、垂直磁気記録媒体の性能向上を実現するためには、磁気記録層の配向分散および磁性結晶粒径の低減が必要となるが、このような磁気記録層の磁気特性、配向、結晶性などの制御には、下地層が重要な役割を果たすことが知られている。例えば、磁気記録層が下地層に対してエピタキシャルに成長した場合、磁気記録層の磁性結晶粒径が下地層の結晶粒径に従うことはよく知られている。そのため、磁気記録層の結晶粒径を低減するには、下地層の結晶粒径を低減することが重要となる。
これに対し、上述したような下地層として、Fe系合金、CrもしくはCo系合金とRuとの2層の下地層を用いる方法(例えば、特許文献1参照。)、あるいは軟磁性裏打ち層をCoFe合金としてRuを下地層とする方法(例えば、特許文献2参照。)が提案されている。これらの提案では、磁気特性の向上や軟磁性層に起因するノイズの低減による電磁変換特性の向上がなされている。
一方、これらの提案はいずれも下地層を十分に厚くして30nm以上とする場合には、結晶性や結晶の分離性が良好となり、十分な磁気特性が得られるものの、下地層の膜厚が薄い場合には、磁気特性が大きく劣化する傾向を有している。
しかしながら、より高記録密度が要求されるに従い、下地層の膜厚はより低い値が要求されることとなってきた。即ち、垂直磁気記録媒体の遷移ノイズ低減や記録密度の向上のためには、急峻な記録磁界を確保して、記録ビットの遷移を可能な限り直線的にし、かつ小さな記録ビットを形成する必要がある。このためには軟磁性裏打ち層と磁気ヘッド間の距離を可能な限り小さくする必要があり、保護層の膜厚の低減や磁気ヘッドの浮上量の低減に加え、軟磁性裏打ち層と磁気記録層の間に配置される非磁性層の膜厚を低減することが重要となる。
磁性薄膜が軟磁気特性を有するためには、一般的には、磁性結晶粒同士が磁気的に強く結合している必要がある。このため、軟磁性膜の膜構造は、結晶粒界の不明瞭な連続膜となる場合が多い。これに対し、下地層の結晶粒径により磁気記録層の結晶粒径を制御し、かつ磁気記録層の結晶粒の磁気的な分離を促進するためには、下地層の結晶粒も明瞭な結晶粒界で分離されている必要がある。このように、軟磁性を有するために必要な膜構造と磁気記録層の下地層に要求される膜構造が矛盾することから、これまでは軟磁性膜を下地層として用いることは困難であった。しかしながら本発明者らが検討を繰返した結果、Co、NiおよびFeを含み、fcc構造を有する軟磁性材料を用いることにより、軟磁性を有し、かつ明瞭な結晶粒界で分離された下地層を得ることが可能であることを見出した。
また、下地層が、Si、B、Nb、N、Ta、Al、Pd、CrまたはMoの内の少なくともひとつの元素をさらに含有することが好ましい。
また、下地層の膜厚は30nm以下とすることが好ましい。更に好ましくは、3nm以上、15nm以下とする。
また、非磁性中間層の膜厚は20nm以下とすることが好ましい。更に好ましくは、1nm以上、15nm以下とする。
下地層の保磁力は10kA/m以下とすることが好ましい。更に好ましくは、1.5kA/m以下とする。
このような非磁性中間層としては、Ru、Re、Pd、Ir、PtまたはRhの内の少なくともひとつの元素を含有することが好ましい。
また、下地層の結晶性を良好とするために、軟磁性裏打ち層と下地層の間にシード層を備えることが好ましく、該シード層はTa、Ti、Zr、Cr、Mo、W、Si、Al、PdまたはPtの内の少なくともひとつの元素を含有することが好ましい。
また、磁気記録層は、非磁性酸化物または非磁性窒化物のマトリクス中に磁性結晶粒子が分散してなるグラニュラー構造を有することが好ましい。
また、上述した下地層および非磁性中間層は、非加熱成膜でも優れた配向性や結晶性を得ることができることから、非加熱成膜に適した、非磁性酸化物または非磁性窒化物のマトリクス中に磁性結晶粒子が分散してなるグラニュラー磁気記録層と組合わせることにより、磁気記録媒体を非加熱で成膜することが可能となる。
非磁性基体1としては磁気記録媒体に通常用いられる種々の基体を用いることができ、例えば、NiPメッキを施したAl合金、強化ガラス、結晶化ガラスあるいは樹脂等を用いることができる。
軟磁性裏打ち層2としては、結晶のFeTaC、センダスト(FeSiAl)合金等、また非晶質のCo合金であるCoZrNb、CoTaZrなどを用いることができる。軟磁性裏打ち層2の膜厚は、記録に使用する磁気ヘッドの構造や特性によって最適値が変化するが、おおむね10nm以上500nm以下程度であることが、生産性との兼ね合いから好ましい。
軟磁性の下地層3には、Co、NiおよびFeを含み、fcc構造を有する軟磁性材料を用いる。このようにすることで、fcc(111)結晶格子面が基板面に並行に良好に配向し、結晶性に優れる下地層を形成することができる。
また、上述した下地層および非磁性中間層は、非加熱成膜でも優れた配向性や結晶性を得ることができる。非磁性酸化物または非磁性窒化物をマトリクスとするグラニュラー磁気記録層は低ノイズかつ高い熱安定性を有するなど優れた特性を示すが、非加熱成膜を必要とするため、従来は、非磁性中間層を薄くできない、高い配向性や結晶性を得難い等の問題点があったが、上記の下地層および非磁性中間層を適用することで、優れたグラニュラー磁気記録層を得ることが可能になる。
保護層6は、磁気記録媒体の保護層として一般的に用いられる様々な薄膜材料を使用して良く、例えばカーボンを主体とする薄膜が用いられる。
非磁性基体の上に積層される各層は、磁気記録媒体の分野で通常用いられる様々な成膜技術によって形成することが可能である。液体潤滑層を除く各層の形成には、例えばDCマグネトロンスパッタリング法、RFマグネトロンスパッタリング法、真空蒸着法を用いることが出来る。また、液体潤滑層の形成には、例えばディップ法、スピンコート法を用いることができる。
以下に本発明の垂直磁気記録媒体について実施例を用いて詳細に説明するが、本発明はそれらに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは言うまでもない。
(比較例1)
CoNiFe下地層を成膜せず、Ru中間層膜厚を35nmとしたこと以外は実施例1と全く同様にして垂直磁気記録媒体を作製した。
(比較例2)
CoNiFe下地層を成膜せず、Ru中間層膜厚を15nmとしたこと以外は実施例1と全く同様にして垂直磁気記録媒体を作製した。
(比較例3)
下地層として、Co13Ni25Feターゲットを用いてCoNiFe下地層を6nm成膜したこと以外は実施例1と全く同様にして垂直磁気記録媒体を作製した。また、下地層の磁気特性を評価するため、ガラス基板上にCoNiFe下地層だけを100nm成膜したサンプルを作製した。
(比較例4)
下地層として、Co35Ni4Fe8Cターゲットを用いてCoNiFeC下地層を6nm成膜したこと以外は実施例1と全く同様にして垂直磁気記録媒体を作製した。また、下地層の磁気特性を評価するため、ガラス基板上にCoNiFeC下地層だけを100nm成膜したサンプルを作製した。
(比較例5)
下地層として、Co4Feターゲットを用いてCo4Fe下地層を6nm成膜したこと以外は実施例1と全く同様にして垂直磁気記録媒体を作製した。また、下地層の構造を評価するため、ガラス基板上にCoFe下地層だけを100nm成膜したサンプルを作製した。
表1に、実施例1〜6および比較例1〜5に係る垂直磁気記録媒体のHc、S、336kfciにおけるSNR、規格化ノイズを示す。また、下地層のHcと結晶構造についても併せて示す。
次に、実施例1〜5と比較例3を比較して、CoNiFe軟磁性下地層の結晶構造が媒体特性に及ぼす影響について考察する。実施例1〜5と比較例3では、下地層におけるCo、Ni、Feの組成比が異なる。下地層をXRDにより分析した結果、実施例1〜5ではfcc−CoNiFe(111)ピークのみが検出され、fcc単相であることが確認された。これに対し比較例3の組成では、弱いfcc−CoNiFe(111)ピークに加えてbcc−CoNiFe(110)ピークが強く検出され、主にbcc相から成ることが確認された。磁気特性およびR/W特性を比較すると、比較例3の垂直磁気記録媒体のHcは実施例1〜5の垂直磁気記録媒体と比べて40%低く、SNRも半分程度と非常に低い。また、垂直磁気記録媒体のXRDを測定したが、比較例3の垂直磁気記録媒体では、磁気記録層のピークはCo(002)ピークを含めて明確には検出されなかった。これは、比較例3の垂直磁気記録媒体において磁気記録層のc軸配向が非常に乱れていることを示している。また、配向の乱れは角型比によく表れており、比較例3では角型比が0.75と低くなっている。角型比の低下は熱安定性の低下を意味しており、比較例3の垂直磁気記録媒体は熱安定性の低い垂直磁気記録媒体となっていることが分る。以上のように、Co、Ni、Feを含む下地層であってもfcc構造でない場合には磁気記録層の配向が乱れ、磁気特性や電磁変換特性が大きく劣化することが明らかとなった。
2 軟磁性裏打ち層
3 下地層
4 非磁性中間層
5 磁気記録層
6 保護層
7 液体潤滑層
Claims (9)
- 非磁性基体上に、軟磁性裏打ち層、下地層、非磁性中間層および磁気記録層を順次備えた垂直磁気記録媒体であって、
前記下地層がCo、NiおよびFeを含有し、fcc構造ならびに軟磁性を有することを特徴とする垂直磁気記録媒体。 - 前記下地層が、30原子%以上、88原子%以下のNi、および0.1原子%以上、22原子%以下のFeを含有することを特徴とする請求項1に記載の垂直磁気記録媒体。
- 前記下地層が、Si、B、Nb、N、Ta、Al、Pd、CrまたはMoの内の少なくともひとつの元素をさらに含有することを特徴とする請求項1または2のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体。
- 前記下地層の膜厚を30nm以下、前記非磁性中間層の膜厚を20nm以下とすることを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体。
- 前記下地層の保磁力を10kA/m以下とすることを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体。
- 前記非磁性中間層が、Ru、Re、Pd、Ir、PtまたはRhの内の少なくともひとつの元素を含有することを特徴とする請求項1ないし5のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体。
- 前記軟磁性裏打ち層と下地層の間にシード層を備え、該シード層はTa、Ti、Zr、Cr、Mo、W、Si、Al、PdまたはPtの内の少なくともひとつの元素を含有することを特徴とする請求項1ないし6のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体。
- 前記シード層の膜厚を5nm以下とすることを特徴とする請求項7に記載の垂直磁気記録媒体。
- 前記磁気記録層が、非磁性酸化物または非磁性窒化物のマトリクス中に磁性結晶粒子が分散してなるグラニュラー構造を有することを特徴とする請求項1ないし8のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体。
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