[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP2004210803A - 共重合体、重合体混合物および感放射線性樹脂組成物 - Google Patents

共重合体、重合体混合物および感放射線性樹脂組成物 Download PDF

Info

Publication number
JP2004210803A
JP2004210803A JP2002354142A JP2002354142A JP2004210803A JP 2004210803 A JP2004210803 A JP 2004210803A JP 2002354142 A JP2002354142 A JP 2002354142A JP 2002354142 A JP2002354142 A JP 2002354142A JP 2004210803 A JP2004210803 A JP 2004210803A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
group
repeating unit
general formula
unit represented
copolymer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2002354142A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4123920B2 (ja
Inventor
Tomoki Nagai
智樹 永井
Daisuke Shimizu
大輔 清水
Tsutomu Shimokawa
努 下川
Fuminao Miyajima
史尚 宮島
Masaaki Miyaji
正昭 宮路
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JSR Corp
Original Assignee
JSR Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by JSR Corp filed Critical JSR Corp
Priority to JP2002354142A priority Critical patent/JP4123920B2/ja
Publication of JP2004210803A publication Critical patent/JP2004210803A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4123920B2 publication Critical patent/JP4123920B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F212/00Copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and at least one being terminated by an aromatic carbocyclic ring
    • C08F212/02Monomers containing only one unsaturated aliphatic radical
    • C08F212/04Monomers containing only one unsaturated aliphatic radical containing one ring
    • C08F212/14Monomers containing only one unsaturated aliphatic radical containing one ring substituted by heteroatoms or groups containing heteroatoms
    • C08F212/22Oxygen
    • C08F212/24Phenols or alcohols
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09DCOATING COMPOSITIONS, e.g. PAINTS, VARNISHES OR LACQUERS; FILLING PASTES; CHEMICAL PAINT OR INK REMOVERS; INKS; CORRECTING FLUIDS; WOODSTAINS; PASTES OR SOLIDS FOR COLOURING OR PRINTING; USE OF MATERIALS THEREFOR
    • C09D125/00Coating compositions based on homopolymers or copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and at least one being terminated by an aromatic carbocyclic ring; Coating compositions based on derivatives of such polymers
    • C09D125/18Homopolymers or copolymers of aromatic monomers containing elements other than carbon and hydrogen
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/039Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists
    • G03F7/0392Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists the macromolecular compound being present in a chemically amplified positive photoresist composition
    • G03F7/0397Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists the macromolecular compound being present in a chemically amplified positive photoresist composition the macromolecular compound having an alicyclic moiety in a side chain
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F220/00Copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and only one being terminated by only one carboxyl radical or a salt, anhydride ester, amide, imide or nitrile thereof
    • C08F220/02Monocarboxylic acids having less than ten carbon atoms; Derivatives thereof
    • C08F220/10Esters
    • C08F220/12Esters of monohydric alcohols or phenols
    • C08F220/16Esters of monohydric alcohols or phenols of phenols or of alcohols containing two or more carbon atoms
    • C08F220/18Esters of monohydric alcohols or phenols of phenols or of alcohols containing two or more carbon atoms with acrylic or methacrylic acids
    • C08F220/1807C7-(meth)acrylate, e.g. heptyl (meth)acrylate or benzyl (meth)acrylate
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S430/00Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
    • Y10S430/1053Imaging affecting physical property or radiation sensitive material, or producing nonplanar or printing surface - process, composition, or product: radiation sensitive composition or product or process of making binder containing
    • Y10S430/1055Radiation sensitive composition or product or process of making
    • Y10S430/106Binder containing
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S430/00Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
    • Y10S430/1053Imaging affecting physical property or radiation sensitive material, or producing nonplanar or printing surface - process, composition, or product: radiation sensitive composition or product or process of making binder containing
    • Y10S430/1055Radiation sensitive composition or product or process of making
    • Y10S430/106Binder containing
    • Y10S430/111Polymer of unsaturated acid or ester

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Emergency Medicine (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Polymers & Plastics (AREA)
  • Wood Science & Technology (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Materials For Photolithography (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
  • Addition Polymer Or Copolymer, Post-Treatments, Or Chemical Modifications (AREA)

Abstract

【課題】遠紫外線に感応する化学増幅型レジストとして有用で、良好なドライエッチング耐性有するとともに、高解像度で放射線透過率が高い感放射性樹脂組成物、ならびにその成分として有用な共重合体及び重合体混合物を提供する。
【解決手段】(A)シクロアルキル系酸解離性基で保護された(メタ)アクリレート繰返し単位、ヒドロキシスチレン系繰返し単位、及び特定の酸解離性基で保護されたヒドロキシスチレン系繰返し単位を含有する共重合体などの重合体成分と、
(B)感放射線性酸発生剤と
を含有することを特徴とする感放射性樹脂組成物。
【選択図】 なし

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、g線、i線等の紫外線、KrFエキシマレーザー、ArFエキシマレーザー、F2エキシマレーザー、EUV等の(極)遠紫外線、シンクロトロン放射線等のX線、電子線等の荷電粒子線の如き各種の放射線による微細加工に適した化学増幅型レジストとして使用される感放射線性樹脂組成物、並びに該組成物の重合体成分として有用な新規な共重合体及び重合体混合物に関する。
【0002】
【従来の技術】
集積回路素子の製造に代表される微細加工の分野においては、より高い集積度を得るために、最近では0.20μm以下のレベルでの微細加工が可能なフォトリソグラフィー技術が必要とされている。
しかし、従来のフォトリソグラフィープロセスでは、一般に放射線としてi線等の近紫外線が用いられているが、この近紫外線では、サブクオーターミクロンレベルでの微細加工が極めて困難であると言われている。
そこで、0.20μm以下のレベルにおける微細加工を可能とするために、より短波長の放射線の利用が検討されている。このような短波長の放射線としては、例えば、水銀灯の輝線スペクトルやエキシマレーザー等の遠紫外線、X線、電子線等を挙げることができるが、これらのうち特に、KrFエキシマレーザー(波長248nm)、ArFエキシマレーザー(波長193nm)あるいはF エキシマレーザー(波長157nm)、EUV(波長13nm等、極紫外線)が注目されている。
【0003】
前記短波長の放射線に適した感放射線性樹脂組成物として、酸解離性官能基を有する成分と放射線の照射(以下、「露光」という。)により酸を発生する感放射線性酸発生剤との間の化学増幅効果を利用した組成物(以下、「化学増幅型感放射線性組成物」という。)が数多く提案されている。
化学増幅型感放射線性組成物としては、例えば、特公平2−27660号公報に、カルボン酸のt−ブチルエステル基又はフェノールのt−ブチルカーボナート基を有する樹脂と感放射線性酸発生剤とを含有する組成物が提案されている。この組成物は、露光により発生した酸の作用により、樹脂中に存在するt−ブチルエステル基あるいはt−ブチルカーボナート基が解離して、該樹脂がカルボキシル基やフェノール性水酸基からなる酸性基を形成し、その結果、レジスト被膜の露光領域がアルカリ現像液に易溶性となる現象を利用したものである。
【0004】
ところで、近年のフォトリソグラフィプロセスは急速に微細化が進み、特にKrFフォトリソプロセスでは限界解像度に対する要求が光源波長の半分以下に達している。そのためフォトレジストに求められる特性に対する要求が、益々厳しいものとなっており、特に解像性能の向上、放射線透過率の向上、及びドライエッチング耐性の向上が急務となっている。化学増幅型レジストにおける解像度を支配する物としては、酸解離性樹脂の保護基脱離に必要な活性化エネルギーや、脱離前後での現像液に対する溶解速度の差等が挙げられる。溶解速度の観点からはフェノールのt−ブチルカーボナート保護に代表される純フェノール系樹脂に比べて、カルボン酸のt−ブチル保護に代表される、アクリル酸/フェノールハイブリッド系(いわゆるESCAPタイプ)の方が有利であるといえる。また活性化エネルギーの観点からは立体障害の大きく、また電子供与基であるアルキル置換基を多くもつ系が有利であるといえる。このためシクロアルキル基を保護基として有するアクリル酸エステルを用いた例が特開2000−347405等に見られるが、この系ではアクリル酸エステルの貧弱なドライエッチング耐性を補うために、スチレンユニットを導入しており、結果的に解像度におけるメリットを犠牲にしている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の課題は、活性放射線、例えばKrFエキシマレーザー、ArFエキシマレーザー、F エキシマレーザーあるいはEUVに代表される遠紫外線に感応する化学増幅型レジストとして、ドライエッチング耐性を損なわずに、高解像度で、放射線透過率が高い感放射性樹脂組成物を提供することにある。
本発明の別の課題はかかる感放射線性樹脂組成物の重合体成分として有用な共重合体及び重合体混合物を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明は、第一に、上記の課題を解決する手段として、
(A)下記一般式(1)で表される繰返し単位、一般式(2)で表される繰返し単位、及び一般式(3)で表される繰り返し単位を含有する重合体成分と、
(B)感放射線性酸発生剤と
を含有することを特徴とする感放射性樹脂組成物を提供する。
【0007】
【化4】
Figure 2004210803
〔一般式(1)において、Rは水素原子及びメチル基を示し 、Rは一価の有機基を示し、Rは1価の有機基を示す。またkは1又は2であり、lは0〜4の整数である。〕
【0008】
【化5】
Figure 2004210803
〔一般式(2)において、R は水素原子又はメチル基を示し、Rは一価の有機基を示す。またnは1〜3の整数であり、mは0〜3の整数である。〕
【0009】
【化6】
Figure 2004210803
〔一般式(3)において、R は水素原子又はメチル基を示し、Rは一価の有機基を示し、Rは置換メチル基、1−置換エチル基、1−分岐アルキル基、トリオルガノシリル基、トリオルガノゲルミル基、アルコキシカルボニル基、アシル基、又は環式酸解離性基であり、但しRが複数存在する場合はそれらは同一又はことなる。qは1〜3の整数であり、pは0〜3の整数である。〕
また、本発明は、第二に、上記の感放射線性樹脂組成物に重合体成分として有用である前記一般式(1)で表される繰返し単位、前記一般式(2)で表される繰返し単位、及び前記一般式(3)で表される繰り返し単位を有し、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)で測定したポリスチレン換算重量平均分子量が3,000〜100,000である共重合体を提供する。
さらに、本発明は、第三に、上記の感放射線性樹脂組成物に重合体成分として有用である、(a1)前記一般式(1)で表される繰返し単位、及び前記一般式(2)で表される繰り返し単位を有する共重合体と、(a2)前記一般式(2)で表される繰返し単位、及び前記一般式(3)で表される繰り返し単位を有する共重合体とを含有する重合体混合物を提供する。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を主に感放射線性樹脂組成物の実施の形態に即してより詳細に説明する。
−(A)重合体成分−
(A)成分として用いられる重合体成分(以下、「重合体成分(A)」という)は、上記の一般式(1)で表される繰返し単位(以下、「繰返し単位(1)」という)と、一般式(2)で表される繰返し単位(以下、「繰返し単位(2)」という)と、一般式(3)で表される繰り返し単位(以下、「繰返し単位(3)」という)とを含有している必要がある。しかし、これら繰返し単位の含有形態には特に制限はなく、これら三種の繰返し単位各々を含有する重合体三種の混合物、三種の繰返し単位を含有する共重合体、これら三種の繰返し単位のうちの異なる二種の組合せを含有する共重合体二種以上の混合物、さらにこれら重合体同士の任意の混合物があげられる。
【0011】
即ち、重合体成分(A)の例としては、
例1)重合体成分(A)が、前記繰返し単位(1)、前記繰り返し単位(2)、及び前記繰り返し単位(3)とを有する共重合体を含有する形態;
例2)前記繰返し単位(1)、前記繰り返し単位(2)、及び繰り返し単位(3)から選ばれる一種又は二種の繰返し単位を含むが、相互に異なる二種以上の重合体の混合物である形態、
等が挙げられる。例2の重合体成分(A)は、例1の共重合体を含むこともできる。
【0012】
例2の代表的な場合として、(a1)繰返し単位(1)、及び繰り返し単位(2)を有する共重合体と、(a2)繰返し単位(2)、及び繰り返し単位(3)を有する共重合体とを含有する重合体混合物が挙げられる。この際に、成分(a1)の共重合体がさらに繰返し単位(3)を有しているか、又は成分(a2)の共重合体がさらに繰返し単位(1)を有していてもよい。
本発明における重合体成分(A)は、繰返し単位(1)中に、酸解離性保護基としてバルキーで解離活性化エネルギーが比較的低い置換されたシクロアルキル基を有するため、酸により解離したときにフェノール性水酸基に比べて酸性度の高いアクリル酸ユニットを発生し、現像液に対する溶解速度がより効果的に促進される。また同時に、繰返し単位(3)は、繰返し単位(1)よりもドライエッチング耐性が高いために、得られるレジストは、高解像度、高透明性、ドライエッチング耐性を兼備している。
【0013】
一般式(1)において、Rで表される1価の有機基としては、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、i−プロピル基、n−ブチル基、2−メチルプロピル基、1−メチルプロピル基、t−ブチル基等の炭素原子数1〜12の直鎖状もしくは分岐状のアルキル基;メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、i−プロポキシ基、n−ブトキシ基、2−メチルプロポキシ基、1−メチルプロポキシ基、t−ブトキシ基等の炭素原子数1〜12の直鎖状もしくは分岐状のアルコキシル基などが挙げられる。
【0014】
一般式(1)におけるR、一般式(2)におけるR、及び一般式(3)におけるRで表される一価の有機基としても、上記R2について挙げたものを例示することができる。いずれの場合も、好ましくは、メチル基、エチル基、n−ブチル基、t−ブチルである。
一般式(3)において、Rは酸解離性基であり、置換メチル基、1−置換エチル基、1−分岐アルキル基、トリオルガノシリル基、トリオルガノゲルミル基、アルコキシカルボニル基、アシル基、又は環式酸解離性基である。Rが複数存在する場合は、それらは同一でも異なってもよい。
【0015】
前記置換メチル基としては、例えば、メトキシメチル基、メチルチオメチル基、エトキシメチル基、エチルチオメチル基、メトキシエトキシメチル基、ベンジルオキシメチル基、ベンジルチオメチル基、フェナシル基、ブロモフェナシル基、メトキシフェナシル基、メチルチオフェナシル基、α−メチルフェナシル基、シクロプロピルメチル基、ベンジル基、ジフェニルメチル基、トリフェニルメチル基、ブロモベンジル基、ニトロベンジル基、メトキシベンジル基、メチルチオベンジル基、エトキシベンジル基、エチルチオベンジル基、ピペロニル基、メトキシカルボニルメチル基、エトキシカルボニルメチル基、n−プロポキシカルボニルメチル基、i−プロポキシカルボニルメチル基、n−ブトキシカルボニルメチル基、t−ブトキシカルボニルメチル基、アダマンチルメチル基等を挙げることができる。
【0016】
また、前記1−置換エチル基としては、例えば、1−メトキシエチル基、1−メチルチオエチル基、1,1−ジメトキシエチル基、1−エトキシエチル基、1−エチルチオエチル基、1,1−ジエトキシエチル基、1−エトキシプロピル基、1−プロポキシエチル基、1−シクロヘキシルオキシエチル基、1−フェノキシエチル基、1−フェニルチオエチル基、1,1−ジフェノキシエチル基、1−ベンジルオキシエチル基、1−ベンジルチオエチル基、1−シクロプロピルエチル基、1−フェニルエチル基、1,1−ジフェニルエチル基、1−メトキシカルボニルエチル基、1−エトキシカルボニルエチル基、1−n−プロポキシカルボニルエチル基、1−イソプロポキシカルボニルエチル基、1−n−ブトキシカルボニルエチル基、1−t−ブトキシカルボニルエチル基等を挙げることができる。
【0017】
また、前記1−分岐アルキル基としては、例えば、i−プロピル基、sec−ブチル基、t−ブチル基、1,1−ジメチルプロピル基、1−メチルブチル基、1,1−ジメチルブチル基等を挙げることができる。
また、前記トリオルガノシリル基としては、例えば、トリメチルシリル基、エチルジメチルシリル基、メチルジエチルシリル基、トリエチルシリル基、i−プロピルジメチルシリル基、メチルジ−i−プロピルシリル基、トリ−i−プロピルシリル基、t−ブチルジメチルシリル基、メチルジ−t−ブチルシリル基、トリ−t−ブチルシリル基、フェニルジメチルシリル基、メチルジフェニルシリル基、トリフェニルシリル基等のトリカルビルシリル基を挙げることができる。
【0018】
また、前記トリオルガノゲルミル基としては、例えば、トリメチルゲルミル基、エチルジメチルゲルミル基、メチルジエチルゲルミル基、トリエチルゲルミル基、イソプロピルジメチルゲルミル基、メチルジ−i−プロピルゲルミル基、トリ−i−プロピルゲルミル基、t−ブチルジメチルゲルミル基、メチルジ−t−ブチルゲルミル基、トリ−t−ブチルゲルミル基、フェニルジメチルゲルミル基、メチルジフェニルゲルミル基、トリフェニルゲルミル基等のトリカルビルゲルミル基を挙げることができる。
また、前記アルコキシカルボニル基としては、例えば、メトキシカルボニル基、エトキシカルボニル基、i−プロポキシカルボニル基、t−ブトキシカルボニル基等を挙げることができる。
【0019】
また、前記アシル基としては、例えば、アセチル基、プロピオニル基、ブチリル基、ヘプタノイル基、ヘキサノイル基、バレリル基、ピバロイル基、イソバレリル基、ラウロイル基、ミリストイル基、パルミトイル基、ステアロイル基、オキサリル基、マロニル基、スクシニル基、グルタリル基、アジポイル基、ピペロイル基、スベロイル基、アゼラオイル基、セバコイル基、アクリロイル基、プロピオロイル基、メタクリロイル基、クロトノイル基、オレオイル基、マレオイル基、フマロイル基、メサコノイル基、カンホロイル基、ベンゾイル基、フタロイル基、イソフタロイル基、テレフタロイル基、ナフトイル基、トルオイル基、ヒドロアトロポイル基、アトロポイル基、シンナモイル基、フロイル基、テノイル基、ニコチノイル基、イソニコチノイル基、p−トルエンスルホニル基、メシル基等を挙げることができる。
【0020】
さらに、前記環式酸解離性基としては、例えば、シクロプロピル基、シクロペンチル基、1−メチルシクロペンチル基、1−エチルシクロペンチル基、シクロヘキシル基、1−メチルシクロヘキシル基、1−エチルシクロヘキシル基、4−メトキシシクロヘキシル基、シクロヘキセニル基、テトラヒドロピラニル基、テトラヒドロフラニル基、テトラヒドロチオピラニル基、テトラヒドロチオフラニル基、3−ブロモテトラヒドロピラニル基、4−メトキシテトラヒドロピラニル基、4−メトキシテトラヒドロチオピラニル基、3−テトラヒドロチオフェン−1,1−ジオキシド基、ノルボルニル基、メチルノルボルニル基、エチルノルボルニル基、イソボルニル基、トリシクロデカニル基、ジシクロペンテニル基、アダマンチル基、2−メチル−2−アダマンチル基、2−エチル−2−アダマンチル基等を挙げることができる。
【0021】
これらの1価の酸解離性基のうち、t−ブチル基、ベンジル基、1−メトキシエチル基、1−エトキシエチル基、トリメチルシリル基、t−ブトキシカルボニル基、t−ブトキシカルボニルメチル基、テトラヒドロピラニル基、テトラヒドロフラニル基、テトラヒドロチオピラニル基、テトラヒドロチオフラニル基、2−メチル−2−アダマンチル基等が好ましい。
本発明に用いられる重合体成分(A)は、さらに、非酸解離性疎水性化合物に由来する繰り返し単位(以下、構造単位(4)ともいう。)を含有してもよい。該非酸解離性疎水性化合物の例としては、スチレン、α−メチルスチレン、4−メチルスチレン、2−メチルスチレン、3−メチルスチレン、イソボロニルアクリレート、トリシクロデカニル(メタ)アクリレート、テトラシクロドデセニル(メタ)アクリレート等が挙げられる。これらのうち、スチレン、α−メチルスチレン、4−メチルスチレン、2−メチルスチレン、3−メチルスチレン、トリシクロデカニルアクリレートが好ましい。
【0022】
重合体成分(A)中における繰返し単位(1)の割合は、通常、1〜50モル%、好ましくは1〜40モル%、さらに好ましくは5〜30モル%である。繰返し単位(1)の割合が少なすぎると、得られる組成物の感度及び解像度が不十分となることがあり、多すぎると、ドライエッチング耐性が不十分になることがある。
繰返し単位(2)の割合は、通常、20〜90モル%、好ましくは30〜90モル%、さらに好ましくは50〜90モル%である。繰返し単位(2)の割合が少なすぎると、形成したレジスト被膜の基板密着性が劣ることがあり、多すぎると、現像後のレジスト被膜のコントラストが低いことがある。
繰返し単位(3)の割合は、通常、1〜50モル%、好ましくは1〜40モル%、さらに好ましくは5〜30モル%である。繰返し単位(3)の割合が少なすぎると、形成したレジスト被膜のドライエッチング耐性が不十分になることがあり、多すぎると形成したレジスト被膜の基板密着性が劣ることがある。
構造単位(4)の割合は、解像性能とドライエッチング耐性とのバランスを考慮して、通常、0〜20モル%の範囲である。
【0023】
・構成重合体の合成:
重合体成分(A)を構成する種々の重合体の合成方法としては、特に限定されないが、例えば下記▲1▼〜▲4▼の方法が挙げられる。
▲1▼ アルキルシクロアルキル(メタ)アクリレート(繰返し単位(1)を構成するモノマー)及び酸解離性基で置換されたスチレン誘導体(繰返し単位(3)を構成するモノマー)から選ばれる少なくとも一種とアセトキシスチレンとを用いて、公知のラジカル重合又はアニオン重合により共重合体を得、得られた共重合体を有機溶媒中で塩基又は酸の存在下で加水分解を行い、繰返し単位(2)と、繰返し単位(1)及び/又は繰返し単位(3)とを有する共重合体を得る方法。
【0024】
▲2▼ アルキルシクロアルキル(メタ)アクリレート(繰返し単位(1)を構成するモノマー)、ビニルフェノールまたはα−メチルビニルフェノール(繰返し単位(2)を構成するモノマー)並びに酸解離性基で置換されたスチレン誘導体(繰返し単位(3)を構成するモノマー)から選ばれる少なくとも一種を用いて、公知のラジカル重合又はアニオン重合により、繰返し単位(1)、繰返し単位(2)及び繰返し単位(3)から選ばれる少なくとも一種の繰返し単位を有する(共)重合体を得る方法。
【0025】
▲3▼ t−ブトキシスチレン等の酸解離性基で置換されたスチレン誘導体を用いて、公知のラジカル重合又はアニオン重合により重合させ、重合時又は重合後に、上記▲1▼と同様に加水分解を行ってポリ(p−ヒドロキシスチレン)を得、得られた重合体を有機溶媒中で酸又は塩基の存在下、エチルビニルエーテル等の水酸基の保護基剤と反応させて、繰返し単位(2)及び繰返し単位(3)を有する共重合体を得る方法。
【0026】
▲4▼ t−ブトキシスチレン等の酸解離性基で置換されたスチレン誘導体を用いて、公知のラジカル重合又はアニオン重合により重合させた後、上記▲1▼と同様に加水分解を行って、酸解離性基の一部又は全部を水酸基とし、繰返し単位(2)を有する重合体又は繰返し単位(2)及び繰返し単位(3)を有する共重合体を得る方法。
【0027】
ラジカル重合は、例えば次のようにして実施することができる。窒素雰囲気下、適当な有機溶媒中で、ラジカル重合開始剤の存在下に、モノマー及び必要により他のモノマーを攪拌下に例えば50〜200℃に加熱することにより実施される。ラジカル重合開始剤としては、例えば2,2’−アゾビスイソブチロニトリル、2,2’−アゾビス−(2,4−ジメチルバレロニトリル)、2,2’−アゾビス−(4−メトキシ−2,4−ジメチルバレロニトリル)2,2’−アゾビスメチルブチロニトリル、2,2’−アゾビスシクロヘキサンカルボニトリル、シアノメチルエチルアゾホルムアミド、2,2’−アゾビス(2,4−ジメチルプロピオン酸メチル)、2,2’−アゾビスシアノバレリック酸などのアゾ化合物;過酸化ベンゾイル、ラウロイルペルオキシド、1,1’−ビス−(t−ブチルペルオキシ)シクロヘキサン、3,5,5−トリメチルヘキサノイルパーオキシド、t−ブチルパーオキシ−2−エチルヘキサノエートなどの有機過酸化物ならびに過酸化水素を挙げることができる。また重合助剤として、2,2,6,6−テトラメチル−1−ピペリジニルオキシ、沃素、メルカプタン、スチレンダイマー等を添加することもできる。
【0028】
また、アニオン重合は例えば次のようにして実施することができる。窒素雰囲気下、適当な有機溶媒中で、アニオン重合開始剤の存在下に、モノマーを攪拌下に例えば−100℃〜50℃の温度に維持することにより実施される。アニオン重合開始剤として、例えばn−ブチルリチウム、s−ブチルリチウム、t−ブチルリチウム、エチルリチウム、エチルナトリウム、1,1−ジフェニルヘキシルリチウム、1,1−ジフェニル−3−メチルペンチルリチウム等の有機アルカリ金属が用いられる。
【0029】
さらに、上記重合体の合成においては、重合開始剤を用いずに、加熱により重合反応を行うこと、並びに、カチオン重合を行うことも可能である。
【0030】
また、上記加水分解及び保護基剤との反応に用いられる酸としては、例えば、p−トルエンスルホン酸及びその水和物、メタンスルホン酸、トリフルオロメタンスルホン酸、マロン酸、蓚酸、1,1,1−フルオロ酢酸などの有機酸;硫酸、塩酸、リン酸、臭化水素酸などの無機酸;あるいはピリジニウムp−トルエンスルホネート、アンモニウムp−トルエンスルホネート、4−メチルピリジニウムp−トルエンスルホネートの如き塩を挙げることができる。
さらに、塩基としては、水酸化カリウム、水酸化ナトリウム、炭酸ナトリウム、炭酸カリウム等の無機塩基;トリエチルアミン、N−メチル−2−ピロリドン、ピペリジン、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド等の有機塩基等を挙げることができる。
【0031】
上記重合及び加水分解に用いられる適当な有機溶剤としては、アセトン、メチルエチルケトン、メチルアミルケトン等のケトン類;ジエチルエーテル、テトラヒドロフラン(THF)等のエーテル類;メタノール、エタノール、プロパノール、等のアルコール類;ヘキサン、ヘプタン、オクタン等の脂肪族炭化水素類;ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類;クロロホルム、ブロモホルム、塩化メチレン、臭化メチレン、四塩化炭素等のハロゲン化アルキル類;酢酸エチル、酢酸ブチル、乳酸エチル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、セロソルブ類等のエステル類;ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、ヘキサメチルホスホロアミド等の非プロトン性極性溶剤類等を挙げることができる。これらのうち、特に好適なものとしては、アセトン、メチルアミルケトン、メチルエチルケトン、テトラヒドロフラン、メタノール、エタノール、プロパノール、酢酸エチル、酢酸ブチル、乳酸エチル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート等を挙げることができる。
【0032】
上記重合における反応温度は、開始剤種により異なる。上記アニオン重合においてアルキルリチウムを用いる場合は−100〜50℃が好ましく、さらに好ましくは−78〜30℃が好ましい。ラジカル重合においてアゾ系開始剤やパーオキサイド系開始剤を用いる場合は、開始剤の半減期が10分から30時間程度になる温度が好ましく、さらに好ましくは開始剤の半減期が30分から10時間程度になる温度である。
反応時間としては、開始剤種や反応温度により異なるが、開始剤が50%以上消費される反応時間が望ましく、多くの場合、0.5〜24時間程度である。
【0033】
重合体成分(A)を構成する各重合体の、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)で測定したポリスチレン換算重量平均分子量(以下、「Mw」ともいう)は、好ましくは3,000〜100,000、さらに好ましくは5,000〜60,000、特に好ましくは8,000〜40,000であり、Mwと、GPCで測定したポリスチレン換算数平均分子量(以下、「Mn」ともいう)との比率(Mw/Mn)は、通常、1〜5である。
【0034】
−(B)感放射線性酸発生剤−
本発明における(B)成分は、露光により酸を発生する感放射線性酸発生剤(以下、「酸発生剤(B)」という)からなる。
酸発生剤(B)としては、▲1▼オニウム塩化合物、▲2▼スルホン化合物、▲3▼スルホン酸エステル化合物、▲4▼スルホンイミド化合物、▲5▼ジアゾメタン化合物、▲6▼ジスルホニルメタン化合物等を挙げることができる。これらの中でも、スルホンイミド化合物及びジスルホニルメタン化合物が好ましい。
以下に、これらの酸発生剤(B)の例を示す。
【0035】
▲1▼オニウム塩化合物:
オニウム塩化合物としては、例えば、ヨードニウム塩、スルホニウム塩(但し、テトラヒドロチオフェニウム塩を含む。)、ホスホニウム塩、ジアゾニウム塩、アンモニウム塩、ピリジニウム塩等を挙げることができる。
【0036】
オニウム塩化合物の具体例としては、
ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウムトリフルオロメタンスルホネート、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウムピレンスルホネート、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウムn−ドデシルベンゼンスルホネート、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウムp−トルエンスルホネート、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウムベンゼンスルホネート、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウム10−カンファースルホネート、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウムn−オクタンスルホネート、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウムパーフルオロ−n−オクタンスルホネート、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウム2−トリフルオロメチルベンゼンスルホネート、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウム4−トリフルオロメチルベンゼンスルホネート、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウム2,4−ジフルオロベンゼンスルホネート、
【0037】
ジフェニルヨードニウムトリフルオロメタンスルホネート、ジフェニルヨードニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、ジフェニルヨードニウムピレンスルホネート、ジフェニルヨードニウムn−ドデシルベンゼンスルホネート、ジフェニルヨードニウムp−トルエンスルホネート、ジフェニルヨードニウムベンゼンスルホネート、ジフェニルヨードニウム10−カンファースルホネート、ジフェニルヨードニウムn−オクタンスルホネート、ジフェニルヨードニウムパーフルオロ−n−オクタンスルホネート、ジフェニルヨードニウム2−トリフルオロメチルベンゼンスルホネート、ジフェニルヨードニウム4−トリフルオロメチルベンゼンスルホネート、ジフェニルヨードニウム2,4−ジフルオロベンゼンスルホネート、
【0038】
トリフェニルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネート、トリフェニルスルホニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、トリフェニルスルホニウムピレンスルホネート、トリフェニルスルホニウムn−ドデシルベンゼンスルホネート、トリフェニルスルホニウムp−トルエンスルホネート、トリフェニルスルホニウムベンゼンスルホネート、トリフェニルスルホニウム10−カンファースルホネート、トリフェニルスルホニウムn−オクタンスルホネート、トリフェニルスルホニウムパーフルオロ−n−オクタンスルホネート、トリフェニルスルホニウム2−トリフルオロメチルベンゼンスルホネート、
【0039】
トリフェニルスルホニウム4−トリフルオロベンゼンスルホネート、トリフェニルスルホニウム2,4−ジフルオロベンゼンスルホネート、トリフェニルスルホニウムヘキサフルオロアンチモネート、トリフェニルスルホニウム1−ナフタレンスルホネート、4−t−ブチルフェニル・ジフェニルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネート、4−t−ブチルフェニル・ジフェニルスルホニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、4−t−ブチルフェニル・ジフェニルスルホニウムピレンスルホネート、4−t−ブチルフェニル・ジフェニルスルホニウムn−ドデシルベンゼンスルホネート、4−t−ブチルフェニル・ジフェニルスルホニウムp−トルエンスルホネート、
【0040】
4−t−ブチルフェニル・ジフェニルスルホニウムベンゼンスルホネート、4−t−ブチルフェニル・ジフェニルスルホニウム10−カンファースルホネート、4−t−ブチルフェニル・ジフェニルスルホニウムn−オクタンスルホネート、4−t−ブチルフェニル・ジフェニルスルホニウム2−トリフルオロメチルベンゼンスルホネート、4−t−ブチルフェニル・ジフェニルスルホニウム4−トリフルオロメチルベンゼンスルホネート、4−t−ブチルフェニル・ジフェニルスルホニウム2,4−ジフルオロベンゼンスルホネート、4−t−ブトキシフェニル・ジフェニルスルホニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、4−ヒドロキシフェニル・ベンジル・メチルスルホニウムp−トルエンスルホネート、
【0041】
シクロヘキシル・2−オキソシクロヘキシル・メチルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネート、ジシクロヘキシル・2−オキソシクロヘキシルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネート、2−オキソシクロヘキシルジメチルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネート、
【0042】
1−ナフチルジメチルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネート、1−ナフチルジエチルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネート、4−シアノ−1−ナフチルジメチルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネート、4−ニトロ−1−ナフチルジメチルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネート、4−メチル−1−ナフチルジメチルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネート、
4−シアノ−1−ナフチルジエチルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネート、4−ニトロ−1−ナフチルジエチルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネート、4−メチル−1−ナフチルジエチルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネート、4−ヒドロキシ−1−ナフチルジメチルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネート、
【0043】
1−(4−ヒドロキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、1−(4−ヒドロキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、1−(4−ヒドロキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムパーフルオロ−n−オクタンスルホネート、
1−(4−メトキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、1−(4−メトキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、1−(4−メトキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムパーフルオロ−n−オクタンスルホネート、
【0044】
1−(4−エトキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、1−(4−エトキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、1−(4−エトキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムパーフルオロ−n−オクタンスルホネート、
1−(4−n−ブトキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、1−(4−n−ブトキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、1−(4−n−ブトキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムパーフルオロ−n−オクタンスルホネート、
1−(4−メトキシメトキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、1−(4−メトキシメトキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、1−(4−メトキシメトキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムパーフルオロ−n−オクタンスルホネート、
【0045】
1−(4−エトキシメトキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、1−(4−エトキシメトキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、1−(4−エトキシメトキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムパーフルオロ−n−オクタンスルホネート、
【0046】
1−{4−(1−メトキシエトキシ)ナフチル}テトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、1−{4−(1−メトキシエトキシ)ナフチル}テトラヒドロチオフェニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、1−{4−(1−メトキシエトキシ)ナフチル}テトラヒドロチオフェニウムパーフルオロ−n−オクタンスルホネート、
1−{4−(2−メトキシエトキシ)ナフチル}テトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、1−{4−(2−メトキシエトキシ)ナフチル}テトラヒドロチオフェニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、1−{4−(2−メトキシエトキシ)ナフチル}テトラヒドロチオフェニウムパーフルオロ−n−オクタンスルホネート、
【0047】
1−(4−メトキシカルボニルオキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、1−(4−メトキシカルボニルオキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、1−(4−メトキシカルボニルオキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムパーフルオロ−n−オクタンスルホネート、
1−(4−エトキシカルボニルオキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、1−(4−エトキシカルボニルオキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、1−(4−エトキシカルボニルオキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムパーフルオロ−n−オクタンスルホネート、
【0048】
1−(4−n−プロポキシカルボニルオキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、1−(4−n−プロポキシカルボニルオキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、1−(4−n−プロポキシカルボニルオキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムパーフルオロ−n−オクタンスルホネート、
1−(4−i−プロポキシカルボニルオキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、1−(4−i−プロポキシカルボニルオキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、1−(4−i−プロポキシカルボニルオキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムパーフルオロ−n−オクタンスルホネート、
【0049】
1−(4−n−ブトキシカルボニルオキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、1−(4−n−ブトキシカルボニルオキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、1−(4−n−ブトキシカルボニルオキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムパーフルオロ−n−オクタンスルホネート、
1−(4−t−ブトキシカルボニルオキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、1−(4−t−ブトキシカルボニルオキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、1−(4−t−ブトキシカルボニルオキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムパーフルオロ−n−オクタンスルホネート、
【0050】
1−{4−(2−テトラヒドロフラニルオキシ)ナフチル}テトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、1−{4−(2−テトラヒドロフラニルオキシ)ナフチル}テトラヒドロチオフェニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、1−{4−(2−テトラヒドロフラニルオキシ)ナフチル}テトラヒドロチオフェニウムパーフルオロ−n−オクタンスルホネート、
1−{4−(2−テトラヒドロピラニルオキシ)ナフチル}テトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、1−{4−(2−テトラヒドロピラニルオキシ)ナフチル}テトラヒドロチオフェニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、1−{4−(2−テトラヒドロピラニルオキシ)ナフチル}テトラヒドロチオフェニウムパーフルオロ−n−オクタンスルホネート、
【0051】
1−(4−ベンジルオキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、1−(4−ベンジルオキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、1−(4−ベンジルオキシナフチル)テトラヒドロチオフェニウムパーフルオロ−n−オクタンスルホネート、
1−(1−ナフチルアセトメチル)テトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、1−(1−ナフチルアセトメチル)テトラヒドロチオフェニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、1−(1−ナフチルアセトメチル)テトラヒドロチオフェニウムパーフルオロ−n−オクタンスルホネート、
【0052】
1−(3,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニル)テトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、1−(3,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニル)テトラヒドロチオフェニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、1−(3,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニル)テトラヒドロチオフェニウムパーフルオロ−n−オクタンスルホネート
等を挙げることができる。
【0053】
▲2▼スルホン化合物:
スルホン化合物としては、例えば、β−ケトスルホン、β−スルホニルスルホンや、これらのα−ジアゾ化合物等を挙げることができる。
スルホン化合物の具体例としては、フェナシルフェニルスルホン、メシチルフェナシルスルホン、ビス(フェニルスルホニル)メタン、4−トリスフェナシルスルホン等を挙げることができる。
【0054】
▲3▼スルホン酸エステル化合物:
スルホン酸エステル化合物としては、例えば、アルキルスルホン酸エステル、ハロアルキルスルホン酸エステル、アリールスルホン酸エステル、イミノスルホネート等を挙げることができる。
スルホン酸エステル化合物の具体例としては、ベンゾイントシレート、ピロガロールトリス(トリフルオロメタンスルホネート)、ピロガロールトリス(ノナフルオロ−n−ブタンスルホネート)、ピロガロールトリス(メタンスルホネート)、ニトロベンジル−9,10−ジエトキシアントラセン−2−スルホネート、α−メチロールベンゾイントシレート、α−メチロールベンゾインn−オクタンスルホネート、α−メチロールベンゾイントリフルオロメタンスルホネート、α−メチロールベンゾインn−ドデカンスルホネート等を挙げることができる。
【0055】
▲4▼スルホンイミド化合物:
スルホンイミド化合物としては、例えば、下記式(4):
【0056】
【化7】
Figure 2004210803
【0057】
(式中、Vはアルキレン基、アリーレン基、アルコキシレン基等の2価の基を示し、R はアルキル基、アリール基、ハロゲン置換アルキル基、ハロゲン置換アリール基等の1価の基を示す。)
で表される化合物を挙げることができる。
【0058】
スルホンイミド化合物の具体例としては、
N−(トリフルオロメタンスルホニルオキシ)スクシンイミド、N−(トリフルオロメタンスルホニルオキシ)フタルイミド、N−(トリフルオロメタンスルホニルオキシ)ジフェニルマレイミド、N−(トリフルオロメタンスルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(トリフルオロメタンスルホニルオキシ)−7−オキサビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(トリフルオロメタンスルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]ヘプタン−5,6−オキシ−2,3−ジカルボキシイミド、N−(トリフルオロメタンスルホニルオキシ)ナフチルイミド、
【0059】
N−(10−カンファースルホニルオキシ)スクシンイミド、N−(10−カンファースルホニルオキシ)フタルイミド、N−(10−カンファースルホニルオキシ)ジフェニルマレイミド、N−(10−カンファースルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(10−カンファースルホニルオキシ)−7−オキサビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(10−カンファースルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]ヘプタン−5,6−オキシ−2,3−ジカルボキシイミド、N−(10−カンファースルホニルオキシ)ナフチルイミド、
【0060】
N−(p−トルエンスルホニルオキシ)スクシンイミド、N−(p−トルエンスルホニルオキシ)フタルイミド、N−(p−トルエンスルホニルオキシ)ジフェニルマレイミド、N−(p−トルエンスルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(p−トルエンスルホニルオキシ)−7−オキサビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(p−トルエンスルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]ヘプタン−5,6−オキシ−2,3−ジカルボキシイミド、N−(p−トルエンスルホニルオキシ)ナフチルイミド、
【0061】
N−(2−トリフルオロメチルベンゼンスルホニルオキシ)スクシンイミド、N−(2−トリフルオロメチルベンゼンスルホニルオキシ)フタルイミド、N−(2−トリフルオロメチルベンゼンスルホニルオキシ)ジフェニルマレイミド、N−(2−トリフルオロメチルベンゼンスルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(2−トリフルオロメチルベンゼンスルホニルオキシ)−7−オキサビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(2ートリフルオロメチルベンゼンスルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]ヘプタン−5,6−オキシ−2,3−ジカルボキシイミド、N−(2−トリフルオロメチルベンゼンスルホニルオキシ)ナフチルイミド、
【0062】
N−(4−トリフルオロメチルベンゼンスルホニルオキシ)スクシンイミド、N−(4−トリフルオロメチルベンゼンスルホニルオキシ)フタルイミド、N−(4−トリフルオロメチルベンゼンスルホニルオキシ)ジフェニルマレイミド、N−(4−トリフルオロメチルベンゼンスルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(4−トリフルオロメチルベンゼンスルホニルオキシ)−7−オキサビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(4−トリフルオロメチルベンゼンスルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]ヘプタン−5,6−オキシ−2,3−ジカルボキシイミド、N−(4−トリフルオロメチルベンゼンスルホニルオキシ)ナフチルイミド、
【0063】
N−(ノナフルオロ−n−ブタンスルホニルオキシ)スクシンイミド、N−(ノナフルオロ−n−ブタンスルホニルオキシ)フタルイミド、N−(ノナフルオロ−n−ブタンスルホニルオキシ)ジフェニルマレイミド、N−(ノナフルオロ−n−ブタンスルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(ノナフルオロ−n−ブタンスルホニルオキシ)−7−オキサビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(ノナフルオロ−n−ブタンスルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]ヘプタン−5,6−オキシ−2,3−ジカルボキシイミド、N−(ノナフルオロ−n−ブタンスルホニルオキシ)ナフチルイミド、
【0064】
N−(ペンタフルオロベンゼンスルホニルオキシ)スクシンイミド、N−(ペンタフルオロベンゼンスルホニルオキシ)フタルイミド、N−(ペンタフルオロベンゼンスルホニルオキシ)ジフェニルマレイミド、N−(ペンタフルオロベンゼンスルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(ペンタフルオロベンゼンスルホニルオキシ)−7−オキサビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(ペンタフルオロベンゼンスルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]ヘプタン−5,6−オキシ−2,3−ジカルボキシイミド、N−(ペンタフルオロベンゼンスルホニルオキシ)ナフチルイミド、
【0065】
N−(パーフルオロ−n−オクタンスルホニルオキシ)スクシンイミド、N−(パーフルオロ−n−オクタンスルホニルオキシ)フタルイミド、N−(パーフルオロ−n−オクタンスルホニルオキシ)ジフェニルマレイミド、N−(パーフルオロ−n−オクタンスルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(パーフルオロ−n−オクタンスルホニルオキシ)−7−オキサビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(パーフルオロ−n−オクタンスルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]ヘプタン−5,6−オキシ−2,3−ジカルボキシイミド、N−(パーフルオロ−n−オクタンスルホニルオキシ)ナフチルイミド、N−((5−メチル−5−カルボキシメタンビシクロ[2.2.1]ヘプタ−2−イル)スルホニルオキシ)スクシンイミド
等を挙げることができる。
【0066】
▲5▼ジアゾメタン化合物:
ジアゾメタン化合物としては、例えば、下記式(5)
【0067】
【化8】
Figure 2004210803
(式中、R10 及びR11 は相互に独立にアルキル基、アリール基、ハロゲン置換アルキル基、ハロゲン置換アリール基等の1価の基を示す。)
で表される化合物を挙げることができる。
【0068】
ジアゾメタン化合物の具体例としては、ビス(トリフルオロメタンスルホニル)ジアゾメタン、ビス(シクロヘキサンスルホニル)ジアゾメタン、ビス(ベンゼンスルホニル)ジアゾメタン、ビス(p−トルエンスルホニル)ジアゾメタン、メタンスルホニル−p−トルエンスルホニルジアゾメタン、シクロヘキサンスルホニル−1,1−ジメチルエチルスルホニルジアゾメタン、ビス(1,1−ジメチルエタンスルホニル)ジアゾメタン、ビス(3,3−ジメチル−1,5−ジオキサスピロ[5.5]ドデカン−8−スルホニル)ジアゾメタン、ビス(1,4−ジオキサスピロ[4.5]デカン−7−スルホニル)ジアゾメタン等を挙げることができる。
【0069】
▲6▼ジスルホニルメタン化合物:
ジスルホニルメタン化合物としては、例えば、下記式(6)
【0070】
【化9】
Figure 2004210803
【0071】
(式中、R12及びR13は相互に独立に直鎖状もしくは分岐状の1価の脂肪族炭化水素基、シクロアルキル基、アリール基、アラルキル基又はヘテロ原子を有する1価の他の有機基を示し、X及びYは相互に独立にアリール基、水素原子、直鎖状もしくは分岐状の1価の脂肪族炭化水素基又はヘテロ原子を有する1価の他の有機基を示し、かつX及びYの少なくとも一方がアリール基であるか、もしくはXとYが相互に連結して少なくとも1個の不飽和結合を有する単環又は多環を形成しているか、もしくはXとYが相互に連結して下記式
【0072】
【化10】
Figure 2004210803
【0073】
(但し、X’及びY’は相互に独立に水素原子、ハロゲン原子、直鎖状もしくは分岐状のアルキル基、シクロアルキル基、アリール基又はアラルキル基を示すか、もしくは同一のもしくは異なる炭素原子に結合したX’とY’が相互に連結して炭素単環構造を形成しており、複数存在するX’及びY’はそれぞれ相互に同一でも異なってもよく、rは2〜10の整数である。)
で表される基を形成している。)
で表される化合物を挙げることができる。
【0074】
酸発生剤(B)としては、▲1▼オニウム塩化合物及び▲4▼スルホンイミド化合物が好ましく、特に、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウムトリフルオロメタンスルホネート、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウムパーフルオロ−n−ブタンスルホネート、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウムp−トルエンスルホネート、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウム10−カンファースルホネート、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウム2−トリフルオロメチルベンゼンスルホネート、
【0075】
ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウム4−トリフルオロメチルベンゼンスルホネート、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウム2,4−ジフルオロベンゼンスルホネート、トリフェニルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネート、トリフェニルスルホニウムパーフルオロ−n−ブタンスルホネート、トリフェニルスルホニウムp−トルエンスルホネート、トリフェニルスルホニウム10−カンファースルホネート、トリフェニルスルホニウム2−トリフルオロメチルベンゼンスルホネート、トリフェニルスルホニウム4−トリフルオロベンゼンスルホネート、
【0076】
トリフェニルスルホニウム2,4−ジフルオロメチルベンゼンスルホネート、N−(トリフルオロメタンスルホニルオキシ)スクシンイミド、N−(トリフルオロメタンスルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(10−カンファースルホニルオキシ)スクシンイミド、N−(10−カンファースルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド及びN−{(5−メチル−5−カルボキシメタンビシクロ[2.2.1]ヘプタ−2−イル)スルホニルオキシ}スクシンイミドの群から選ばれる少なくとも1種を用いるのが好ましい。
【0077】
本発明において、酸発生剤(B)の使用量は、重合体成分(A)100重量部当り、好ましくは0.1〜20重量部、さらに好ましくは0.5〜15重量部である。
また本発明において酸発生剤(B)は2種以上を混合して用いることができる。
【0078】
−その他の成分−
・酸拡散制御剤:
本発明の感放射線性樹脂組成物には、露光により酸発生剤(B)から生じた酸のレジスト被膜中における拡散現象を制御し、非露光領域での好ましくない化学反応を抑制する作用を有する酸拡散制御剤を配合することが好ましい。
このような酸拡散制御剤を使用することにより、組成物の貯蔵安定性が向上し、またレジストとして解像度が向上するとともに、露光から露光後の加熱処理までの引き置き時間(PED)の変動によるレジストパターンの線幅変化を抑えることができ、プロセス安定性に極めて優れたものとなる。
酸拡散制御剤としては、レジストパターンの形成工程中の露光や加熱処理により塩基性が変化しない含窒素有機化合物が好ましい。
【0079】
このような含窒素有機化合物としては、例えば、下記一般式(7)
【0080】
【化11】
Figure 2004210803
〔一般式(7)において、各R14は相互に独立に水素原子、アルキル基、アリール基又はアラルキル基を示し、こられの基は、例えば水酸基等の官能基で置換されていてもよい。〕
【0081】
で表される化合物(以下、「含窒素化合物(I)」という。)、同一分子内に窒素原子を2個有するジアミノ化合物(以下、「含窒素化合物(II) 」という。)、窒素原子を3個以上有するジアミノ重合体(以下、「含窒素化合物(III)」という。)、アミド基含有化合物、ウレア化合物、含窒素複素環化合物等を挙げることができる。
【0082】
含窒素化合物(I)としては、例えば、n−ヘキシルアミン、n−ヘプチルアミン、n−オクチルアミン、n−ノニルアミン、n−デシルアミン等のモノアルキルアミン類;ジ−n−ブチルアミン、ジ−n−ペンチルアミン、ジ−n−ヘキシルアミン、ジ−n−ヘプチルアミン、ジ−n−オクチルアミン、ジ−n−ノニルアミン、ジ−n−デシルアミン等のジアルキルアミン類;トリエチルアミン、トリ−n−プロピルアミン、トリ−n−ブチルアミン、トリ−n−ペンチルアミン、トリ−n−ヘキシルアミン、トリ−n−ヘプチルアミン、トリ−n−オクチルアミン、トリ−n−ノニルアミン、トリ−n−デシルアミン等のトリアルキルアミン類;エタノールアミン、ジエタノールアミン、トリエタノールアミン等のアルカノールアミン類;アニリン、N−メチルアニリン、N,N−ジメチルアニリン、2−メチルアニリン、3−メチルアニリン、4−メチルアニリン、4−ニトロアニリン、ジフェニルアミン、トリフェニルアミン、1−ナフチルアミン等の芳香族アミン類等を挙げることができる。
【0083】
含窒素化合物(II) としては、例えば、エチレンジアミン、N,N,N’,
N’−テトラメチルエチレンジアミン、N,N,N’,N’−テトラキス(2−ヒドロキシプロピル)エチレンジアミン、テトラメチレンジアミン、ヘキサメチレンジアミン、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、4,4’−ジアミノベンゾフェノン、4,4’−ジアミノジフェニルアミン、2,2’−ビス(4−アミノフェニル)プロパン、2−(3−アミノフェニル)−2−(4−アミノフェニル)プロパン、2−(4−アミノフェニル)−2−(3−ヒドロキシフェニル)プロパン、2−(4−アミノフェニル)−2−(4−ヒドロキシフェニル)プロパン、1,4−ビス[1−(4−アミノフェニル)−1−メチルエチル]ベンゼン、1,3−ビス[1−(4−アミノフェニル)−1−メチルエチル]ベンゼン等を挙げることができる。
【0084】
含窒素化合物(III)としては、例えば、ポリエチレンイミン、ポリアリルアミン、ジメチルアミノエチルアクリルアミドの重合体等を挙げることができる。
前記アミド基含有化合物としては、例えば、ホルムアミド、N−メチルホルムアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、アセトアミド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、プロピオンアミド、ベンズアミド、ピロリドン、N−メチルピロリドン等を挙げることができる。
前記ウレア化合物としては、例えば、尿素、メチルウレア、1,1−ジメチルウレア、1,3−ジメチルウレア、1,1,3,3−テトラメチルウレア、1,3−ジフェニルウレア、トリブチルチオウレア等を挙げることができる。
【0085】
前記含窒素複素環化合物としては、例えば、イミダゾール、ベンズイミダゾール、4−メチルイミダゾール、4−メチル−2−フェニルイミダゾール、2−フェニルベンズイミダゾール等のイミダゾール類;ピリジン、2−メチルピリジン、4−メチルピリジン、2−エチルピリジン、4−エチルピリジン、2−フェニルピリジン、4−フェニルピリジン、N−メチル−4−フェニルピリジン、ニコチン、ニコチン酸、ニコチン酸アミド、キノリン、8−オキシキノリン、アクリジン等のピリジン類のほか、ピラジン、ピラゾール、ピリダジン、キノザリン、プリン、ピロリジン、ピペリジン、モルホリン、4−メチルモルホリン、ピペラジン、1,4−ジメチルピペラジン、1,4−ジアザビシクロ[2.2.2]オクタン等を挙げることができる。
【0086】
また、含窒素有機化合物として、酸解離性基を持つ塩基前駆体を用いることもできる。
前記塩基前駆体としては、例えば、N―(t−ブトキシカルボニル)ピペリジン、N―(t−ブトキシカルボニル)イミダゾール、N―(t−ブトキシカルボニル)ベンズイミダゾール、N―(t−ブトキシカルボニル)−2−フェニルベンズイミダゾール、N―(t−ブトキシカルボニル)ジ−n−オクチルアミン、N―(t−ブトキシカルボニル)ジエタノールアミン、N―(t−ブトキシカルボニル)ジシクロヘキシルアミン、N―(t−ブトキシカルボニル)ジフェニルアミン等を挙げることができる。
【0087】
これらの含窒素有機化合物のうち、含窒素化合物(I)、含窒素化合物(II)、含窒素複素環化合物等が好ましい。
前記酸拡散制御剤は、一種単独で又は2種以上を混合して使用することができる。
酸拡散制御剤の配合量は、重合体成分(A)100重量部当り、好ましくは15重量部以下、さらに好ましくは0.001〜10重量部、特に好ましくは0.005〜5重量部である。この場合、酸拡散制御剤の配合量が多すぎると、レジストとしての感度や露光部の現像性が低下する傾向がある。なお、酸拡散制御剤の配合量が少なすぎると、プロセス条件によっては、レジストとしてのパターン形状や寸法忠実度が低下するおそれがある。
【0088】
・アルカリ可溶性樹脂:
本発明の感放射線性樹脂組成物には、場合により、アルカリ可溶性樹脂を配合することができる。
前記アルカリ可溶性樹脂としては、例えば、ポリ(m−ヒドロキシスチレン)、ポリ(p−ヒドロキシスチレン)、部分水素添加ポリ(p−ヒドロキシスチレン)、p−ヒドロキシスチレン/m−ヒドロキシスチレン共重合体、p−ヒドロキシスチレン/スチレン共重合体、ノボラック樹脂、ポリビニルアルコール、ポリアクリル酸等を挙げることができる。
【0089】
アルカリ可溶性樹脂の重量平均分子量(Mw)(ゲルパーミエイションクロマトグラフィーで測定したポリスチレン換算の値)は、通常、1,000〜1,000,000、好ましくは2000〜100,000である。
これらのアルカリ可溶性樹脂は、一種単独で又は2種以上を混合して使用することができる。
アルカリ可溶性樹脂の配合量は、重合体成分(A)100重量部当たり、好ましくは30重量部以下である。
【0090】
・界面活性剤:
本発明の感放射線性樹脂組成物には、組成物の塗布性やストリエーション、レジストとしての現像性等を改良する作用を示す界面活性剤を配合することができる。
このような界面活性剤としては、例えば、ポリオキシエチレンラウリルエーテル、ポリオキシエチレンステアリルエーテル、ポリオキシエチレンオレイルエーテル、ポリオキシエチレンn−オクチルフェノールエーテル、ポリオキシエチレンn−ノニルフェノールエーテル、ポリエチレングリコールジラウレート、ポリエチレングリコールジステアレート等を挙げることができ、また市販品としては、例えば、エフトップEF301、EF303,EF352(トーケムプロダクツ社製)、メガファックス F171、F173(大日本インキ化学工業(株)製)、フロラードFC430、FC431(住友スリーエム(株)製)、アサヒガードAG710、サーフロンS−382、SC101、SC102、SC103、SC104、SC105、SC106(旭硝子(株)製)、KP341(信越化学工業(株)製)、ポリフローNo.75、No.95(共栄社化学(株)製)等を挙げることができる。
【0091】
これらの界面活性剤は、一種単独で又は2種以上を混合して使用することができる。
界面活性剤の配合量は、重合体成分(A)100重量部当り、好ましくは2重量部以下である。
【0092】
・増感剤:
本発明の感放射線性樹脂組成物には、増感剤を配合することができる。
好ましい増感剤としては、例えば、カルバゾール類、ベンゾフェノン類、ローズベンガル類、アントラセン類等を挙げることができる。
増感剤の配合量は、重合体成分(A)100重量部当り、好ましくは50重量部以下である。
【0093】
・前記以外の添加剤:
また、染料及び/又は顔料を配合することにより、露光部の潜像を可視化させて、露光時のハレーションの影響を緩和でき、接着助剤を配合することにより、基板との接着性をさらに改善することができる。
さらに、他の添加剤として、4−ヒドロキシ−4’−メチルカルコン等のハレーション防止剤、形状改良剤、保存安定剤、消泡剤等を配合することもできる。
【0094】
[溶剤]
本発明の感放射線性樹脂組成物は、その使用に際して、全固形分の濃度が、通常、0.1〜50重量%、好ましくは1〜40重量%になるように、溶剤に均一に溶解したのち、例えば孔径0.2μm程度のフィルターでろ過することにより、組成物溶液として調製される。
【0095】
前記組成物溶液の調製に使用される溶剤としては、例えば、
エチレングリコールモノメチルエーテルアセテート、エチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、エチレングリコールモノ−n−プロピルエーテルアセテート、エチレングリコールモノ−n−ブチルエーテルアセテート等のエチレングリコールモノアルキルエーテルアセテート類;
プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノ−n−プロピルエーテル、プロピレングリコールモノ−n−ブチルエーテル等のプロピレングリコールモノアルキルエーテル類;
【0096】
プロピレングリコールジメチルエーテル、プロピレングリコールジエチルエーテル、プロピレングリコールジ−n−プロピルエーテル、プロピレングリコールジ−n−ブチルエーテル等のプロピレングリコールジアルキルエーテル類;
プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノエチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノ−n−プロピルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノ−n−ブチルエーテルアセテート等のプロピレングリコールモノアルキルエーテルアセテート類;
【0097】
乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸n−プロピル、乳酸i−プロピル等の乳酸エステル類;ぎ酸n−アミル、ぎ酸i−アミル、酢酸エチル、酢酸n−プロピル、酢酸i−プロピル、酢酸n−ブチル、酢酸i−ブチル、酢酸n−アミル、酢酸i−アミル、プロピオン酸i−プロピル、プロピオン酸n−ブチル、プロピオン酸i−ブチル等の脂肪族カルボン酸エステル類;ヒドロキシ酢酸エチル、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオン酸エチル、2−ヒドロキシ−3−メチル酪酸メチル、メトキシ酢酸エチル、エトキシ酢酸エチル、3−メトキシプロピオン酸メチル、3−メトキシプロピオン酸エチル、3−エトキシプロピオン酸メチル、3−エトキシプロピオン酸エチル、3−メトキシブチルアセテート、3−メチル−3−メトキシブチルアセテート、3−メチル−3−メトキシブチルプロピオネート、3−メチル−3−メトキシブチルブチレート、アセト酢酸メチル、アセト酢酸エチル、ピルビン酸メチル、ピルビン酸エチル等の他のエステル類;
【0098】
トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類;
メチルエチルケトン、メチルn−プロピルケトン、メチルn−ブチルケトン、2−ヘプタノン、3−ヘプタノン、4−ヘプタノン、シクロヘキサノン等のケトン類;
N−メチルホルムアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン等のアミド類;
γ−ブチロラクン等のラクトン類を挙げることができる。
これらの溶剤は、一種単独で又は2種以上を混合して使用することができる。
【0099】
−レジストパターンの形成−
本発明の感放射線性樹脂組成物からレジストパターンを形成する際には、前述したようにして調製された組成物溶液を、回転塗布、流延塗布、ロール塗布等の適宜の塗布手段によって、例えば、シリコンウェハー、アルミニウムで被覆されたウェハー等の基板上に塗布することにより、組成物の塗膜を形成し、場合により予め70℃〜160℃程度の温度で加熱処理(以下、「PB」という。)を行ってレジスト被膜としたのち、所定のマスクパターンを介して露光する。その際に使用される放射線として、酸発生剤(B)の種類に応じ、例えば、F エキシマレーザー(波長157nm)、ArFエキシマレーザー(波長193nm)、KrFエキシマレーザー(波長248nm)やEUV(波長13nm等)等の(極)遠紫外線、シンクロトロン放射線等のX線、電子線等の荷電粒子線を適宜選択し使用する。また、露光量等の露光条件は、感放射線性樹脂組成物の配合組成、各添加剤の種類等に応じて、適宜選定される。
【0100】
本発明においては、高精度の微細パターンを安定して形成するために、露光後に、70〜160℃の温度で30秒以上加熱処理(以下、「PEB」という。)を行なうことが好ましい。この場合、PEBの温度が70℃未満では、基板の種類による感度のばらつきが広がるおそれがある。
その後、アルカリ現像液により、通常、10〜50℃、10〜200秒、好ましくは15〜30℃、15〜100秒、特に好ましくは20〜25℃、15〜90秒の条件で現像することにより所定のレジストパターンを形成する。
【0101】
前記アルカリ現像液としては、例えば、アルカリ金属水酸化物、アンモニア水、モノ−、ジ−あるいはトリ−アルキルアミン類、モノ−、ジ−あるいはトリ−アルカノールアミン類、複素環式アミン類、テトラアルキルアンモニウムヒドロキシド類、コリン、1,8−ジアザビシクロ−[5.4.0]−7−ウンデセン、1,5−ジアザビシクロ−[4.3.0]−5−ノネン等のアルカリ性化合物を、通常、1〜10重量%、好ましくは1〜5重量%、さらに好ましくは1〜3重量%の濃度となるよう溶解したアルカリ性水溶液が使用される。
また、前記アルカリ性水溶液からなる現像液には、例えばメタノール、エタノール等の水溶性有機溶剤や界面活性剤を適宜添加することもできる。
なお、レジストパターンの形成に際しては、環境雰囲気中に含まれる塩基性不純物等の影響を防止するため、レジスト被膜上に保護膜を設けることもできる。
【0102】
【実施例】
以下、実施例を挙げて、本発明をさらに具体的に説明する。但し、本発明は、これらの実施例に何ら制限されるものではない。以下の記載においてMw及び数平均分子量MnはGPCで測定したポリスチレン換算の値である。
【0103】
合成例1
p−アセトキシスチレン104g、1―エチルシクロペンチルアクリレート17g、p−t−ブトキシスチレン29g、アゾビスイソブチロニトリル6g及びt−ドデシルメルカプタン1gを、プロピレングリコールモノメチルエーテル160gに溶解したのち、窒素雰囲気下、反応温度を70℃に保持して、16時間重合させた。重合後、反応溶液を大量のn−ヘキサン中に滴下して、生成樹脂を凝固精製した。
次いで、この樹脂に、再度プロピレングリコールモノメチルエーテル150gを加えたのち、さらにメタノール300g、トリエチルアミン80g、水15gを加えて、沸点にて還流させながら、8時間加水分解反応を行なった。反応後、溶剤及びトリエチルアミンを減圧留去し、得られた樹脂をアセトンに溶解したのち、大量の水中に滴下して凝固させ、生成した白色粉末をろ過して、減圧下50℃で一晩乾燥した。
【0104】
得られた樹脂は、Mwが15,000、Mw/Mnが1.8であり、 C−NMR分析の結果、p−ヒドロキシスチレンと1―エチルシクロペンチルアクリレートとp−t−ブトキシスチレンとの共重合モル比が71:11:18であった。この樹脂を、樹脂(a−i)と称する。
重合体(a−i)及び以下の合成例2〜9で得た各重合体のMw及びMnの測定は、東ソー(株)製GPCカラム(G2000HXL 2本、G3000HXL1本、G4000HXL 1本)を用い、流量1.0ミリリットル/分、溶出溶剤テトラヒドロフラン、カラム温度40℃の分析条件で、単分散ポリスチレンを標準とするゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)により測定した。
【0105】
合成例2
p−アセトキシスチレン101g、1―エチルシクロペンチルアクリレート45g、アゾビスイソブチロニトリル6g及びt−ドデシルメルカプタン1gを、プロピレングリコールモノメチルエーテル160gに溶解したのち、窒素雰囲気下、反応温度を70℃に保持して、16時間重合させた。重合後、反応溶液を大量のn−ヘキサン中に滴下して、生成重合体を凝固精製した。
【0106】
次いで、この重合体に、再度プロピレングリコールモノメチルエーテル150gを加えたのち、さらにメタノール300g、トリエチルアミン80g、水15gを加えて、沸点にて還流させながら、8時間加水分解反応を行なった。反応後、溶剤及びトリエチルアミンを減圧留去し、得られた重合体をアセトンに溶解したのち、大量の水中に滴下して凝固させ、生成した白色粉末をろ過して、減圧下50℃で一晩乾燥した。
得られた重合体は、Mwが16,000、Mw/Mnが1.9であり、 C−NMR分析の結果、p−ヒドロキシスチレンと1−エチルシクロペンチルアクリレートとの共重合モル比が70:30であった。この重合体を、重合体(a−ii)と称する。
【0107】
合成例3
p−t−ブトキシスチレン176gを、テトラヒドロフラン500ミリリットル中、n−ブチルリチウムを触媒として、−78℃でアニオン重合させた。重合後、反応溶液をメタノール中に凝固させて、白色のポリ(p−t−ブトキシスチレン)150gを得た。
次いで、このポリ(p−t−ブトキシスチレン)をジオキサン600gに溶解して、希塩酸を加え、70℃で2時間加水分解反応を行ったのち、反応生成物を大量の水中に凝固させて、白色樹脂を得た。その後、この重合体をアセトンに溶解し、大量の水中に凝固させる操作を繰返したのち、生成した白色粉末をろ過して、減圧下50℃で一晩乾燥した。
【0108】
得られた重合体は、Mwが10,400、Mw/Mnが1.10であり、 C−NMR分析の結果、ポリ(p−t−ブトキシスチレン)中のt−ブチル基の一部のみが加水分解した構造を有し、p−t−ブトキシスチレンとp−ヒドロキシスチレンとの共重合モル比が32:68の共重合体であった。この重合体を、重合体(a−iii) と称する。
【0109】
合成例4
t−ブトキシスチレン106g、アゾビスイソブチロニトリル4g及びt−ドデシルメルカプタン0.6gを、プロピレングリコールモノメチルエーテル110gに溶解したのち、窒素雰囲気下、反応温度を70℃に保持して、16時間重合させた。重合後、反応溶液を大量のn−ヘキサン中に滴下して、生成樹脂を凝固精製した。得られた樹脂をアセトンに溶解したのち、大量の水中に滴下して凝固させ、生成した白色粉末をろ過して、減圧下50℃で一晩乾燥した。得られた重合体は、Mwが13,000、Mw/Mnが1.8であった。
【0110】
次に得られたポリ(p−ヒドロキシスチレン)25gを酢酸n−ブチル100gに溶解し、窒素ガスにより30分問バブリングを行ったのち、エチルビニルエーテル3.4gを加え、触媒としてp−トルエンスルホン酸ピリジニウム塩1gを加えて、室温で12時間反応させた。その後、反応溶液を1重量%アンモニア水溶液中に滴下して、重合体を凝固させて、ろ過したのち、減圧下50℃で一晩乾燥した。
得られた重合体は、H−NMR分析の結果、ポリ(p−ヒドロキシスチレン)中のフェノール性水酸基の水素原子の20モル%がエトキシキシエチル基で置換された構造を有するものであった。この重合体を、重合体(a−iv)と称する。
【0111】
合成例5
p−アセトキシスチレン106g、1―エチルシクロペンチルアクリレート12g、アゾビスイソブチロニトリル6g及びt−ドデシルメルカプタン1gを、プロピレングリコールモノメチルエーテル160gに溶解したのち、窒素雰囲気下、反応温度を70℃に保持して、16時間重合させた。重合後、反応溶液を大量のn−ヘキサン中に滴下して、生成樹脂を凝固精製した。
次いで、この樹脂に、再度プロピレングリコールモノメチルエーテル150gを加えたのち、さらにメタノール300g、トリエチルアミン80g、水15gを加えて、沸点にて還流させながら、8時間加水分解反応を行なった。反応後、溶剤及びトリエチルアミンを減圧留去し、得られた樹脂をアセトンに溶解したのち、大量の水中に滴下して凝固させ、生成した白色粉末をろ過して、減圧下50℃で一晩乾燥した。
【0112】
得られた重合体は、Mwが14,000、Mw/Mnが1.7であり、 C−NMR分析の結果、p−ヒドロキシスチレンと1−エチルシクロペンチルアクリレートとの共重合モル比が90:10であった。この得られたをp−ヒドロキシスチレン/1−エチルシクロペンチルアクリレート共重合体25gを、酢酸n−ブチル100gに溶解し、窒素ガスにより30分問バブリングを行ったのち、エチルビニルエーテル3.3gを加え、触媒としてp−トルエンスルホン酸ピリジニウム塩1gを加えて、室温で12時間反応させた。その後、反応溶液を1重量%アンモニア水溶液中に滴下して、重合体を凝固させて、ろ過したのち、減圧下50℃で一晩乾燥した。
【0113】
得られた重合体は、H−NMR分析の結果、ポリ(p−ヒドロキシスチレン)中のフェノール性水酸基の水素原子の23モル%がエトキシキシエチル基で置換された構造を有するものであり、p−ヒドロキシスチレン単位とp−(エトキシエトキシ)スチレン単位と1−エチルシクロペンチルアクリレート単位をモル比69:21:10で含む共重合体であった。この共重合体を、重合体(a−v)と称する。
【0114】
合成例6
p−アセトキシスチレン106g、スチレン20g、p−t−ブトキシスチレン26g、アゾビスイソブチロニトリル6g及びt−ドデシルメルカプタン1gを、プロピレングリコールモノメチルエーテル160gに溶解したのち、窒素雰囲気下、反応温度を70℃に保持して、16時間重合させた。重合後、反応溶液を大量のn−ヘキサン中に滴下して、生成樹脂を凝固精製した。
【0115】
次いで、この樹脂に、再度プロピレングリコールモノメチルエーテル150gを加えたのち、さらにメタノール300g、トリエチルアミン80g、水15gを加えて、沸点にて還流させながら、8時間加水分解反応を行なった。反応後、溶剤及びトリエチルアミンを減圧留去し、得られた樹脂をアセトンに溶解したのち、大量の水中に滴下して凝固させ、生成した白色粉末をろ過して、減圧下50℃で一晩乾燥した。
得られた重合体は、Mwが16,000、Mw/Mnが1.7であり、13C−NMR分析の結果、p−ヒドロキシスチレンとスチレンとp−t−ブトキシスチレンとの共重合モル比が65:20:15であった。この重合体を、重合体(a−vi)と称する。
【0116】
合成例7
p−アセトキシスチレン104g、1―エチルシクロヘキシルアクリレート18g、p−t−ブトキシスチレン29g及びアゾビスイソブチロニトリル6g及びt−ドデシルメルカプタン1gを、プロピレングリコールモノメチルエーテル160gに溶解したのち、窒素雰囲気下、反応温度を70℃に保持して、16時間重合させた。重合後、反応溶液を大量のn−ヘキサン中に滴下して、生成樹脂を凝固精製した。
【0117】
次いで、この樹脂に、再度プロピレングリコールモノメチルエーテル150gを加えたのち、さらにメタノール300g、トリエチルアミン80g、水15gを加えて、沸点にて還流させながら、8時間加水分解反応を行なった。反応後、溶剤およびトリエチルアミンを減圧留去し、得られた樹脂をアセトンに溶解したのち、大量の水中に滴下して凝固させ、生成した白色粉末をろ過して、減圧下50℃で一晩乾燥した。
得られた樹脂は、Mwが13,000、Mw/Mnが1.7であり、13C−NMR分析の結果、p−ヒドロキシスチレンと1―エチルシクロヘキシルアクリレートとp−t−ブトキシスチレンとの共重合モル比が71:11:18であった。この樹脂を、樹脂(a−vii)と称する。
合成例8
エチルシクロペンチルアクリレート31g、アセトキシスチレン166g、スチレン22gをアゾビスイソブチロニトリル9.4g、t−ドデシルメルカプタン1.1gをプロピレングリコールモノメチルエーテル220gに溶解させ70度で攪拌しながら6時間加熱した。得られたポリマー溶液を大量のヘキサン中に投入して再沈殿し、再び200gのプロピレングリコールモノメチルエーテルに溶解させ400gのメタノール、100gのトリエチルアミン、20gの水を加え7時間還流を行った。得られた溶液を大量の水中に投入して再沈殿した後真空乾燥を行うことにより白色固体の樹脂が得られた。得られた樹脂は、Mwが15000、Mw/Mn=2.2であり、13C−NMR分析の結果、p−ヒドロキシスチレンと1―エチルシクロヘキシルアクリレートとスチレンとの共重合モル比が72:13:15であった。この樹脂を、樹脂(a−viii)と称する。この樹脂の赤外線吸収スペクトルを図1に示す。図1のスペクトルにおいて、1〜21の番号で示した各ピークの位置は表1に示すとおりである。
【表1】
Figure 2004210803
合成例9
エチルシクロペンチルアクリレート39g、アセトキシスチレン110g、p−(t−ブトキシ)スチレン16gをアゾビスイソブチロニトリル6.5g、t−ドデシルメルカプタン0.8gをプロピレングリコールモノメチルエーテル165gに溶解させ70度で攪拌しながら6時間加熱した。得られたポリマー溶液を大量のヘキサン中に投入して再沈殿し、再び200gのプロピレングリコールモノメチルエーテルに溶解させ400gのメタノール、100gのトリエチルアミン、20gの水を加え7時間還流を行った。得られた溶液を大量の水中に投入して再沈殿した後真空乾燥を行うことにより白色固体の樹脂が得られた。得られた樹脂は、Mwが18000、Mw/Mn=2.0であり、13C−NMR分析の結果、p−ヒドロキシスチレンと1―エチルシクロヘキシルアクリレートとp−(t−ブトキシ)スチレンとの共重合モル比が68:23:9であった。この樹脂を、樹脂(a−ix)と称する。この樹脂の赤外線吸収スペクトルを図2に示す。図2のスペクトルにおいて1〜12の番号で示した各ピークの位置は表2に示すとおりである。
【表2】
Figure 2004210803
合成例10
モル比90:10のp−ヒドロキシスチレン・p−t−ブトキシスチレン共重合物(日本曹達製VPT1503S)25gを、酢酸n−ブチル1OOgに溶解して、窒素ガスにより30分問バブリングを行ったのち、エチルビニルエーテル3.3gを加え、触媒としてp−トルエンスルホン酸ピリジニウム塩1gを添加し、室温で12時間反応させた。その後、反応溶液を1重量%アンモニア水溶液中に滴下し、樹脂を沈殿させて、ろ過したのち、50℃の真空乾燥器内で一晩乾燥した。
得られた樹脂は、Mwが13,OOO、Mw/Mnが1.01であり、13C−NMR分析の結果、ポリ(p−ヒドロキシスチレン)中のフェノール性水酸基の水素原子の23モル%がエトキシキシエチル基で、1Oモル%がt−ブチル基で置換された構造を有するものであった。この樹脂を、樹脂(a−x)と称する。
【0118】
実施例1〜15及び比較例1
表3および4(但し、部は重量に基づく)に示す各成分を表3および4に示した量で混合して均一溶液としたのち、孔径0.2μmのメンブランフィルターでろ過して、組成物溶液を調製した。その後、各組成物溶液をシリコンウェハー上にスピンコートしたのち、表3および4に示す条件でPBを行って、実施例1〜8、実施例11〜15及び比較例1では膜厚0.5μmのレジスト被膜を形成し、実施例9では膜厚0.1μmのレジスト被膜を形成し、実施例10では膜厚0.3μmのレジスト被膜を形成した。
【0119】
次いで、実施例1〜8、実施例11〜15及び比較例1では、(株)ニコン製ステッパーNSR2205 EX12B(開口数0.55)を用い、実施例9では、F エキシマレーザー露光装置(Ultratech 社製XLS、開口数0.60)を用い、また実施例10では、日立製作所(株)製直描用電子線描画装置HL700(加速電圧30KeV)を加速電圧50KeVに改良した装置を用いて露光したのち、表3および4に示す条件でPEBを行った。その後、2.38重量%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液を用い、23℃で1分間、パドル法により現像したのち、純水で水洗し、乾燥して、レジストパターンを形成した。各レジストの評価結果を、表5に示す。
【0120】
ここで、各レジストの評価は、下記の要領で実施した。
・感度:
シリコンウエハー上に形成したレジスト被膜に露光して、直ちにPEBを行い、その後アルカリ現像し、水洗し、乾燥して、レジストパターンを形成したとき、線幅0.25μmのライン・アンド・スペースパターン(1L1S)を1対1の線幅に形成する露光量を最適露光量とし、この最適露光量により感度を評価した。
【0121】
・解像度:
最適露光量で露光したときに解像されるライン・アンド・スペースパターン(1L1S)の最小寸法(μm)を解像度とした。
【0122】
・相対エッチング速度:
組成物溶液をシリコーンウエハー上にスピンコートにより塗布し、乾燥して形成した膜厚0.5μmのレジスト被膜に対して、PMT社製ドライエッチング装置(Pinnacle8000)を用い、エッチングガスをCF、Cl、及びArとし、エッチングガス流量75sccm、エッチングガス圧力2.5mTorr、出力2,500Wの条件でドライエッチングを行って、エッチング速度を測定し、p−クレゾール40重量部と37%ホルマリン水溶液120重量部との混合液を130℃で8時間加熱してバルク重合して得られたクレゾールノボラック樹脂(Mw=6,500)からなる被膜のエッチング速度に対する相対値により、相対エッチング速度を評価した。相対エッチング速度が小さいほど、ドライエッチング耐性に優れることを意味する。
【0123】
表3および4中の酸発生剤(B)、酸拡散制御剤、他の添加剤及び溶剤は、下記のとおりである。
【0124】
酸発生剤(B):
B−1:ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート
B−2:ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウム10−カンファースルホネート
B−3:ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウムトリフルオロメタンスルホネート
B−4:N−(トリフルオロメタンスルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド
B−5:ビス(シクロヘキシルスルホニル)ジアゾメタン
B−6:トリフェニルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネート
B−7:N−(10−カンファースルホニルオキシ)スクシンイミド
【0125】
酸拡散制御剤:
C−1:トリ−n−オクチルアミン
C−2:トリエタノールアミン
C−3:2−フェニルピリジン
C−4:N,N,N’,N’−テトラキス(2−ヒドロキシプロピル)エチレンジアミン
C−5:2−フェニルベンズイミダゾール
C−6:t−ブトキシカルボニル−2−フェニルベンズイミダゾール
【0126】
溶剤:
D−1:乳酸エチル
D−2:3−エトキシプロピオン酸エチル
D−3:プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート
D−4:2−ヘプタノン
【0127】
【表3】
Figure 2004210803
【0128】
【表4】
Figure 2004210803
【0129】
【表5】
Figure 2004210803
【0130】
【発明の効果】
本発明の感放射線性樹脂組成物は、活性放射線、例えばKrFエキシマレーザー、ArFエキシマレーザー、F エキシマレーザーあるいはEUVに代表される(極)遠紫外線に感応する化学増幅型レジストとして、ドライエッチング耐性を損なわずに、高解像度で、今後ますます微細化が進行するとみられる集積回路素子の製造に代表される微細加工の分野で極めて好適に使用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】合成例8で得られた樹脂(a−viii)の赤外線吸収スペクトルを示す。
【図2】合成例9で得られた樹脂(a−ix)の赤外線吸収スペクトルを示す。

Claims (12)

  1. (A)下記一般式(1)で表される繰返し単位、一般式(2)で表される繰返し単位、及び一般式(3)で表される繰り返し単位を有し、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)で測定したポリスチレン換算重量平均分子量が3,000〜100,000である共重合体。
    Figure 2004210803
    〔一般式(1)において、Rは水素原子及びメチル基を示し 、Rは一価の有機基を示し、Rは1価の有機基を示す。またkは1又は2であり、lは0〜4の整数である。〕
    Figure 2004210803
    〔一般式(2)において、R は水素原子又はメチル基を示し、Rは一価の有機基を示す。またnは1〜3の整数であり、mは0〜3の整数である。〕
    Figure 2004210803
    〔一般式(3)において、R は水素原子又はメチル基を示し、Rは一価の有機基を示し、Rは置換メチル基、1−置換エチル基、1−分岐アルキル基、トリオルガノシリル基、トリオルガノゲルミル基、アルコキシカルボニル基、アシル基、又は環式酸解離性基であり、但しRが複数存在する場合はそれらは同一又はことなる。qは1〜3の整数であり、pは0〜3の整数である。〕
  2. (a1)前記一般式(1)で表される繰返し単位、及び前記一般式(2)で表される繰り返し単位を有する共重合体と、(a2)前記一般式(2)で表される繰返し単位、及び前記一般式(3)で表される繰り返し単位を有する共重合体とを含有する重合体混合物。
  3. 成分(a1)の共重合体が、さらに前記一般式(3)で表される繰り返し単位を有することを特徴とする、請求項2記載の重合体混合物。
  4. (A)前記一般式(1)で表される繰返し単位、前記一般式(2)で表される繰返し単位、及び前記一般式(3)で表される繰り返し単位を含有する重合体成分と、
    (B)感放射線性酸発生剤と
    を含有することを特徴とする感放射性樹脂組成物。
  5. 成分(A)の重合体成分が、請求項1記載の共重合体を含有することを特徴とする、請求項4記載の組成物。
  6. 成分(A)の重合体成分が、前記一般式(1)で表される繰返し単位、前記一般式(2)で表される繰り返し単位、及び前記一般式(3)で表される繰り返し単位から選ばれる一種又は二種の繰返し単位を含むが、相互に異なる二種以上の重合体の混合物であることを特徴とする、請求項4記載の組成物。
  7. 前記の重合体の混合物が、請求項2記載の重合体混合物であることを特徴とする、請求項6記載の組成物。
  8. 成分(a1)の共重合体が、さらに前記一般式(3)で表される繰り返し単位を有することを特徴とする、請求項7記載の組成物。
  9. 成分(A)の重合体成分がさらに非酸解離性疎水性化合物由来の繰り返し単位を含むことを特徴とする、請求項4記載の組成物。
  10. 前記非解離性疎水性化合物が、スチレン、α−メチルスチレン、4−メチルスチレン、2−メチルスチレン、3−メチルスチレンまたはトリシクロデカニルアクリレートである、請求項9記載の組成物。
  11. 成分(B)の感放射性酸発生剤がスルホンイミド化合物を含むことを特徴とする、請求項4記載の組成物。
  12. 成分(B)の感放射性酸発生剤がジスルホニルジアゾメタン化合物を含むことを特徴とする、請求項4記載の組成物。
JP2002354142A 2001-12-20 2002-12-05 共重合体、重合体混合物および感放射線性樹脂組成物 Expired - Fee Related JP4123920B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002354142A JP4123920B2 (ja) 2001-12-20 2002-12-05 共重合体、重合体混合物および感放射線性樹脂組成物

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001387913 2001-12-20
JP2002329469 2002-11-13
JP2002354142A JP4123920B2 (ja) 2001-12-20 2002-12-05 共重合体、重合体混合物および感放射線性樹脂組成物

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004210803A true JP2004210803A (ja) 2004-07-29
JP4123920B2 JP4123920B2 (ja) 2008-07-23

Family

ID=27736403

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002354142A Expired - Fee Related JP4123920B2 (ja) 2001-12-20 2002-12-05 共重合体、重合体混合物および感放射線性樹脂組成物

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7105269B2 (ja)
JP (1) JP4123920B2 (ja)
KR (1) KR100967468B1 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006099097A (ja) * 2004-09-02 2006-04-13 Fuji Photo Film Co Ltd ポジ型レジスト組成物及びそれを用いたパターン形成方法
WO2007010667A1 (ja) * 2005-07-22 2007-01-25 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. ポジ型レジスト組成物の製造方法、ポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法
JP2007094139A (ja) * 2005-09-29 2007-04-12 Fujifilm Corp ポジ型レジスト組成物及びそれを用いたパターン形成方法
JP2007197613A (ja) * 2006-01-27 2007-08-09 Jsr Corp 感放射線性樹脂組成物
JP2012136692A (ja) * 2010-11-17 2012-07-19 Rohm & Haas Electronic Materials Llc 感光性コポリマーおよびフォトレジスト組成物
WO2013042694A1 (ja) * 2011-09-21 2013-03-28 株式会社クラレ (メタ)アクリル酸エステル誘導体、高分子化合物およびフォトレジスト組成物

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4838437B2 (ja) * 2000-06-16 2011-12-14 Jsr株式会社 感放射線性樹脂組成物
TWI314943B (en) * 2002-08-29 2009-09-21 Radiation-sensitive resin composition
JP3937996B2 (ja) * 2002-10-08 2007-06-27 Jsr株式会社 感放射性樹脂組成物
JP4493938B2 (ja) * 2003-06-06 2010-06-30 東京応化工業株式会社 ポジ型レジスト組成物及びレジストパターン形成方法
AU2003286758A1 (en) 2003-07-17 2005-03-07 Honeywell International Inc Planarization films for advanced microelectronic applications and devices and methods of production thereof
WO2018079203A1 (ja) * 2016-10-31 2018-05-03 富士フイルム株式会社 樹脂の製造方法、及び、感活性光線性又は感放射線性組成物の製造方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2578646B2 (ja) 1988-07-18 1997-02-05 三洋電機株式会社 非水系二次電池
EP0789279B2 (en) * 1996-02-09 2004-12-08 Wako Pure Chemical Industries Ltd Polymer and resist material
TW528932B (en) * 1997-01-24 2003-04-21 Shinetsu Chemical Co Polymers and chemically amplified positive resist compositions
TWI277830B (en) * 1999-01-28 2007-04-01 Sumitomo Chemical Co Resist composition
JP3662774B2 (ja) 1999-06-02 2005-06-22 東京応化工業株式会社 ポジ型レジスト組成物
TW552475B (en) * 1999-06-09 2003-09-11 Wako Pure Chem Ind Ltd A resist composition
US6338931B1 (en) * 1999-08-16 2002-01-15 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Resist compositions and patterning process
JP4336925B2 (ja) * 1999-08-16 2009-09-30 信越化学工業株式会社 レジスト材料及びパターン形成方法
US6461789B1 (en) * 1999-08-25 2002-10-08 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Polymers, chemical amplification resist compositions and patterning process
JP4029558B2 (ja) * 1999-11-09 2008-01-09 Jsr株式会社 N−スルホニルオキシイミド化合物およびそれを用いた感放射線性樹脂組成物
TWI225184B (en) * 2000-01-17 2004-12-11 Shinetsu Chemical Co Chemical amplification type resist composition
JP3821217B2 (ja) * 2001-10-30 2006-09-13 信越化学工業株式会社 レジスト材料及びパターン形成方法

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006099097A (ja) * 2004-09-02 2006-04-13 Fuji Photo Film Co Ltd ポジ型レジスト組成物及びそれを用いたパターン形成方法
JP4568662B2 (ja) * 2004-09-02 2010-10-27 富士フイルム株式会社 ポジ型レジスト組成物及びそれを用いたパターン形成方法
WO2007010667A1 (ja) * 2005-07-22 2007-01-25 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. ポジ型レジスト組成物の製造方法、ポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法
JP2007033542A (ja) * 2005-07-22 2007-02-08 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd ポジ型レジスト組成物の製造方法、ポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法
US7879527B2 (en) 2005-07-22 2011-02-01 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Method of producing positive resist composition, positive resist composition, and method of forming resist pattern
JP4679990B2 (ja) * 2005-07-22 2011-05-11 東京応化工業株式会社 ポジ型レジスト組成物の製造方法、ポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法
JP2007094139A (ja) * 2005-09-29 2007-04-12 Fujifilm Corp ポジ型レジスト組成物及びそれを用いたパターン形成方法
JP4533831B2 (ja) * 2005-09-29 2010-09-01 富士フイルム株式会社 ポジ型レジスト組成物及びそれを用いたパターン形成方法
JP2007197613A (ja) * 2006-01-27 2007-08-09 Jsr Corp 感放射線性樹脂組成物
JP2012136692A (ja) * 2010-11-17 2012-07-19 Rohm & Haas Electronic Materials Llc 感光性コポリマーおよびフォトレジスト組成物
WO2013042694A1 (ja) * 2011-09-21 2013-03-28 株式会社クラレ (メタ)アクリル酸エステル誘導体、高分子化合物およびフォトレジスト組成物
JPWO2013042694A1 (ja) * 2011-09-21 2015-03-26 株式会社クラレ (メタ)アクリル酸エステル誘導体、高分子化合物およびフォトレジスト組成物

Also Published As

Publication number Publication date
US20030157423A1 (en) 2003-08-21
KR100967468B1 (ko) 2010-07-07
KR20030076202A (ko) 2003-09-26
US7105269B2 (en) 2006-09-12
JP4123920B2 (ja) 2008-07-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4244755B2 (ja) 感放射線性樹脂組成物
JP3988517B2 (ja) 感放射線性樹脂組成物
JP2001166474A (ja) 感放射線性樹脂組成物
US6235446B1 (en) Radiation sensitive resin composition
JP4123920B2 (ja) 共重合体、重合体混合物および感放射線性樹脂組成物
JP2002265446A (ja) 新規カルバゾール誘導体および化学増幅型感放射線性樹脂組成物
JP4774996B2 (ja) 感放射線性樹脂組成物
JP4019403B2 (ja) レジストパターンの形成方法
JP2001109155A (ja) 感放射線性樹脂組成物
JP2004054209A (ja) パターン形成方法および感放射線性樹脂組成物
JP4192610B2 (ja) 感放射線性樹脂組成物
JP4742884B2 (ja) 感放射線性樹脂組成物
JP3861679B2 (ja) 感放射線性樹脂組成物
JP2005258362A (ja) 共重合体およびそれを用いた感放射線性樹脂組成物
JP2005234377A (ja) 感放射線性樹脂組成物
JP3632395B2 (ja) 感放射線性樹脂組成物
JP2006117717A (ja) 共重合体および感放射線性樹脂組成物
JP4626093B2 (ja) 感放射線性樹脂組成物
JP2003327560A (ja) 新規アントラセン誘導体および感放射線性樹脂組成物
JP2005314572A (ja) 感放射線性樹脂組成物
JP4826068B2 (ja) 共重合体および感放射線性樹脂組成物
JP2002201226A (ja) 共重合体およびそれを用いた感放射線性樹脂組成物
JP2004069857A (ja) 感放射線性樹脂組成物
JP2006063155A (ja) 共重合体および感放射線性樹脂組成物
JP2007092018A (ja) フェノール性水酸基を有する共重合体および感放射線性樹脂組成物

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050127

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070719

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070724

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070921

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071023

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071225

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080129

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080324

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080415

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080428

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4123920

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110516

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110516

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120516

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120516

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130516

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130516

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140516

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees