[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

DE3905838A1 - Optischer linearkodierer - Google Patents

Optischer linearkodierer

Info

Publication number
DE3905838A1
DE3905838A1 DE3905838A DE3905838A DE3905838A1 DE 3905838 A1 DE3905838 A1 DE 3905838A1 DE 3905838 A DE3905838 A DE 3905838A DE 3905838 A DE3905838 A DE 3905838A DE 3905838 A1 DE3905838 A1 DE 3905838A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
diffraction
grating
light
position transmitter
sections
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE3905838A
Other languages
English (en)
Other versions
DE3905838C2 (de
Inventor
Keiji Matsui
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Okuma Corp
Original Assignee
Okuma Tekkosho KK
Okuma Machinery Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP63043402A external-priority patent/JPH0629740B2/ja
Priority claimed from JP16305288A external-priority patent/JPH0212017A/ja
Application filed by Okuma Tekkosho KK, Okuma Machinery Works Ltd filed Critical Okuma Tekkosho KK
Priority to DE3943731A priority Critical patent/DE3943731C2/de
Publication of DE3905838A1 publication Critical patent/DE3905838A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3905838C2 publication Critical patent/DE3905838C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01D5/32Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
    • G01D5/34Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
    • G01D5/36Forming the light into pulses
    • G01D5/38Forming the light into pulses by diffraction gratings

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optical Transform (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft einen optischen Linearkodierer, der zur Stellungsmessung beispielsweise in einer Werkzeugmaschine oder dergleichen eingesetzt wird. Speziell geht es um einen Stellungsgeber, der mit einem Moir´muster arbeitet, das von einem Satz von Beugungs­ gittern erzeugt wird.
Derzeitige Längen- oder Entfernungsmeßmethoden bein­ halten solche, bei denen mit Moir´mustern gearbeitet wird, die von einem Paar Beugungsgittern erzeugt werden. Solche Moir´muster sind für jegliche seitliche Änderungen der Beugungsgitter empfindlich und können Versetzungen oder Verschiebungen in sehr feinen Schritten erfassen. An zwei relativ zueinander be­ wegten Teilen einer Werkzeugmaschine ist ein Paar Beugungsgitter befestigt, die im folgenden als erstes bzw. zweites Beugungsgitter bezeichnet werden. Während die die Beugungsgitter tragenden Teile der Werkzeug­ maschine bewegt werden, muß darauf geachtet werden, daß der Abstand, der Spalt oder die Lücke zwischen den beiden Beugungsgittern stets konstant gehalten wird. Während man die Gitterkonstante der beiden Beugungs­ gitter kleinmacht, um die Auflösung einer Längen­ messung zu vergrößern, wird der Einfluß des Licht­ beugungseffekts groß. Deshalb wird ein auf das zweite Beugungsgitter reflektierter Schatten des ersten Beugungsgitters schwach, so daß es unter Umständen nicht mehr möglich ist, Beugungsmuster mit guter Sichtbarkeit zu erhalten. Um derartige Nachteile auszu­ schließen, wurde ein Fourierbild dazu verwendet, Beugungs-Moir´muster zu erhalten. Ein Fourierbild bedeutet eine Verteilung von dunklen und hellen Ab­ schnitten aufgrund einer Lichtabschattung. Wenn das erste Gitter von parallelen Lichtstrahlen gleicher Phase oder mit Kohärenz bestrahlt wird, erhält man eine Lichtabschattung oder Lichtverteilung mit der­ gleichen Gitterkonstanten, wie der des ersten Beugungs­ gitters, und zwar an Stellen, die sich dadurch be­ stimmen, daß man mit einer ganzen Zahl den fest­ stehenden Abstand multipliziert, indem man das zwei­ fache der zum Quadrat erhobenen Gitterkonstanten P durch die Wellenlänge teilt (an den Mittelpositionen der genannten Stellen, d.h. an Stellen, die sich durch Multiplizieren des erwähnten Abstands mit einer halbierten ganzen Zahl ergeben, erhält man eine Licht­ abschattung mit der umgekehrten Beziehung von dunklen und hellen Abschnitten).
Wenn das zweite Gitter an der Stelle plaziert wird, an der das Fourierbild erzeugt wird, und die zwei Gitter seitlich und relativ zueinander bewegt werden, zeigt das durch das zweite Gitter gelangende Beugungs­ licht einen deutlichen Kontrast mit einer Periode P. Diesen Kontrast nennt man ein Beugungsmoir´ (oder im folgenden Beugungsmuster). In jüngster Zeit wurden Untersuchungen vorgenommen, die darauf abzielten, dieses Prinzip bei der Kurzwegmessung zu verwenden, so z.B. bei dem Maskenausrichtschritt im Zuge der Halbleiter­ fertigung (vergleiche J.Vac.Sci.Technol. 15 (1987), S. 984 und J.V.Vac. Sci. Technol. B1 (1983), S. 1276).
Wenn der zu messende Abstand groß und die Gitter­ konstante P kleingemacht wird, um die Genauigkeit der Abstandsmessung zu vergrößern, so ist es schwierig, zwei Beugungsgitter an in Längsrichtung getrennten Stellen auf einer Distanz von 2P 2/ λ zu halten, um ein Fourierbild zu erzeugen, da der Abstand sich im Verhältnis zu der quadrierten Gitterkonstanten P abrupt verkürzt. Wenn der Abstand oder der Spalt zwischen den Beugungsgittern sich gegenüber dem Zustand, in welchem ein Fourierbild erzeugt wird, ändert oder verschiebt, ändert sich die Intensität des Beugungs­ lichts stark, was eine Positionierung der Werkzeug­ maschinenteile unmöglich macht. Nimmt man z.B. eine Beugungsgitterkonstante P von 1 µm an, während der Lichtstrahl eine Welle von λ=0,633 µm aufweist, so muß eine Änderung des Abstands oder der Lücke G des Beugungsgitters beschränkt werden auf einen ausreichend kleinen Bereich in bezug auf 1,6 µm, was eine Fresnel-Zahl (λ×G)/P2=2 ergibt, dieses Ergebnis erhält man, indem man das Produkt aus Lücken­ größe G zwischen den Beugungsgittern und der Licht­ wellenlänge λ dividiert durch die quadrierte Gitterkontante P. Dies ist der Grund dafür, daß Beugungsmuster nicht dazu verwendet werden können, jeden Abstand zwischen zwei Teilen, wie sie üblicher­ weise in Werkzeugmaschinen verwendet werden, genau zu messen.
Im Hinblick auf die oben gezeigten Umstände wurde von der Anmelderin (JP-OS 61-17 016) ein Stellungsdetektor zum genauen Bestimmen irgendwelcher Stellungen vorge­ schlagen. Bei diesem Stellungsdetektor wird ein Beugungsmustersignal erhalten, welches nicht beein­ flußt ist durch eine Änderung der Lücke zwischen dem ersten und dem zweiten Beugungsgitter, und die Anordnung ist empfindlich gegenüber seitlicher Versetzung der Beugungsgitter. Bei diesem Gerät wird an sämtlichen Abschnitten der effektiven gegenüberliegenden Fläche zwischen dem ersten und dem zweiten Gitter der Licht­ weg oder der Durchgangsweg der Lücke zwischen den Gittern geändert, so daß ein Signal erhalten wird, welches dem Mittelwert der Beugungsmustersignale ent­ spricht. Die richtige Stellung wird erfaßt unter Ver­ wendung der Änderung der Signale derjenigen Periode, die der Periode der halben Gitterkonstante P der Beugungsgitter entspricht, wobei die Änderung in dem Mittelwert zum Ausdruck kommt.
Fig. 1 bis 3 zeigen jeweils ein Beispiel für einen mit gemitteltem Beugungsmuster arbeitenden Stellungs­ geber der oben beschriebenen Art. Die Arbeitsweise des Stellungsgebers soll im folgenden für den Fall beschrieben werden, daß ein Beugungslaserstrahl nullter Ordnung verwendet wird.
Bei der Anordnung nach Fig. 1 wird das erste Gitter 1 von einem Laserstrahl LB auf der linken Bildseite be­ strahlt. Man beachte, daß das zweite Gitter 2 an der Rückseite des ersten Gitters 1 eine abgestufte transparente Platte 3 aufweist, die an dem zweiten Gitter 2 befestigt ist. Die abgestufte transparente Platte 3 besteht aus einem Material mit hohem Brechungsindex, welches so ausgewählt ist, daß der optische Bereich der Lücke G in einen der Werte von
G o bis G o + 2P 2/l
fällt. Die abgestufte transparente Platte 3 erzeugt Lichtweg-Längenunterschiede in jedem Teil des Laser­ strahls LB. Die abgestufte transparente Platte 3 nach Fig. 1 besitzt fünf Stufen, die den Bereich des optischen Abstands 2P 2/λ in fünf Teile unterteilt. An einer Stelle hinter dem zweiten Gitter 2 befindet sich eine seriell angeordnete Linsengruppe 4, die die durch die unterschiedliche optische Abstände aufweisenden fünf Zonen des zweiten Gitters 2 gelangenden Laserstrahlen konvergiert.
Von den einzelnen Linsen der Linsengruppe 4 jeweils konvergierte Laserstrahlen werden mit Hilfe eines Satzes von Fotodioden erfaßt. Ein Addierer 7, der durch einen Operationsverstärker und zugehörige Schaltungselmente gebildet wird, addiert die von den Fotodioden 5 kommenden Signale, um Versetzungssignale zu erhalten.
Im Fall nach Fig. 2 sind das erste Gitter 1 und das zweite Gitter 2 parallel angeordnet, wobei an dem letztgenannten Gitter 2 eine Zufallslichtwegdifferenz- Platte 9 einstückig angeformt ist. Diese Zufallslicht­ wegdifferenz-Platte besteht aus einem transparenten Stoff und hat eine konkav-konvexe Oberfläche. Diese konkav-konvexe Oberfläche bestimmt auf Zufallsbasis die verschiedenen Lichtwegabstände jedes Teils des Laserstrahls LB innerhalb des Bereichs von 2P 2/λ. Einzelne Teile des Laserstrahls LB konvergieren durch die Linsengruppe 4 in Richtung der Streuplatte 10. Die Brennpunkte des durch jede Linse der Linsengruppe 4 gelangenden Laserstrahls befinden sich in einer vertikalen Lichtlinie auf der Streuplatte 10. Das heißt: Jeder Teil des fokussierten oder konvergierten Laserstrahls wird aufgrund der Streuplatte 10 zu einem inkohärenten Strahl. Ein von der Streuplatte 10 ge­ streuter Laserstrahl gelangt durch eine konvexe Linse 11, und ein Photosensor 12, z.B. eine Fotodiode oder der­ gleichen, stellt den Laserstrahl in der in Fig. 2 angedeuteten Weise fest. Aufgrund der Verwendung der Streuplatte sowie der Tatsache, daß einzelne Laser­ strahlen durch unterschiedliche Lücken-Distanzen oder unterschiedliche Lichtwegabstände laufen, werden diese Laserstrahlen ohne gegenseitige Beeinflussung gemittelt.
Fig. 3 zeigt ein weiteres Beispiel für eine her­ kömmliche Anordnung. Ein erstes Gitter 1 ist vertikal bezüglich dem auftreffenden Laserstrahl LB angeordnet, während das zweite Gitter 2 schräg zu dem ersten Gitter 1 angeordnet ist. Der Lückenabstand der sich effektiv gegenüberliegenden Flächenbereiche zwischen den beiden Gittern 1 und 2 wird so gesteuert, daß er im Bereich von 2P 2/λ liegt. Also kann nur das Beugungslichtmaximum nullter Ordnung des durch die Gitter 1 und 2 gelangenden Laserstrahls auf einen Photodetektor 13 gelangen und erfaßt werden.
Fig. 4 ist eine perspektivische Ansicht, die der Ansicht nach Fig. 3 ähnelt und einen mit gemitteltem Beugungsmuster arbeitenden Stellungsgeber zeigt, bei dem sekundäres Beugungslicht verwendet wird. Bei dem Stellungsgeber wird die Lücke zwischen den beiden Gittern 1 und 2 so gesteuert, daß Abstände erhalten werden die man durch den Faktor P 2/4 λ erhält. Im Fall der Verwendung des zweiten Beugungsmaximums (Beugungsmaximum oder -streifen zweiter Ordnung) er­ folgt die im Fall des Beugungslichts nullter Ordnung entstehende Abschattung an der Stelle, die durch den Faktor P 2/4 λ bestimmt wird. Diese Stelle unter­ scheidet sich von der Stelle, die man bei der Ver­ wendung des Beugungsmaximus nullter Ordnung erhält. Es empfiehlt sich, die Lücken-Lichtwegentfernungen zu mitteln, die man erhält, indem man den Lücken- Lichtwegabstand von 2P 2/λ, der bei Verwendung des Beugungsmaximus nullter Ordnung zu mitteln ist, in acht Teile unterteilt. Nebenbei bemerkt: Bei Ver­ wendung des zweiten Beugungsmaximus ist selbst dann, wenn der Bereich 2P 2/λ enthalten ist, der identisch ist mit dem Bereich bei Verwendung des Beugungsmaximums nullter Ordnung, die Bedingung der gemittelten Lücken- Lichtwegentfernung für die Verwendung des Sekundär- Beugungsmaximums erfüllt, da die Breite der Lücke dem Wert P 2/4 λ, multipliziert mit einer ganzen Zahl, entspricht. Es versteht sich, daß, wenn in einem ähnlichen optischen System ein Sekundär-Beugungs­ maximum (einschließlich Beugungsmaxima anderer Ordnung) verwendet wird, die Möglichkeit besteht, exakt die Stellung zu erfassen, ohne daß eine Änderung der Spaltbreite zwischen erstem und zweitem Gitter irgend­ einen Einfluß auf das Meßergebnis hat, ähnlich wie bei der Verwendung des Beugungsmaximums nullter Ordnung.
Bei den verschiedenen herkömmlichen Stellungsgebern, die mit gemittelten Beugungsmustern arbeiten, ändert sich die Lichtintensität I in Abhängigkeit der relativen Versetzung X der Beugungsgitter in der in Fig. 5 dargestellten Weise. Es ist möglich, ein Ver­ setzungs- oder Verschiebungssignal zu erhalten, dessen Periodendauer der Hälfte der Gitterkonstanten P der Beugungsgitter entspricht, ohne daß das Meßergebnis irgendwie beeinflußt ist von einer Änderung der Spaltgröße zwischen erstem und zweitem Gitter. Das Versetzungssignal läßt sich angenähert durch folgende Gleichung beschreiben:
I(x) = A cos (2π 2 x/P) + B (1)
worin
A: Amplitude
B: Versetzungskomponente
bedeutet.
Wenn allerdings irgendeine Differenz zustandekommt zwischen den zu mittelnden Spalt-Lichtwegabständen während eines Montagevorganges und während des Betriebs einerseits und einem weiteren, gerade gemittelten Lichtwegabstand andererseits, oder wenn die Installation fehlerhaft ist, kann das erhaltene Versetzungssignal eine Fehlerkomponente enthalten, die eine Periode der Gitterkonstanten P des Gitters enthält, und/oder Fehler­ komponenten ungeradzahliger Ordnung. Wenn das Ver­ setzungssignal eine solche Fehlerkomponente enthält, ist es leider unmöglich, eine präzise Stellungsmessung durchzuführen, da die Wiederholbarkeit oder Repro­ duzierbarkeit des Versetzungssignals einer Periode P/2 nicht erhalten werden kann.
Die vorliegende Erfindung zielt darauf ab, den dem herkömmlichen optischen Linearkodierer anhaftenden Nachteil zu beseitigen. Aufgabe der Erfindung ist es deshalb, einen mit gemitteltem Beugungsmuster ar­ beitenden Stellungsgeber zu schaffen, der gegenüber relativen seitlichen Versetzungen der Beugungsgitter auch dann empfindlich ist, wenn die Lücke oder der Spalt zwischen den beiden Gittern Änderungen unter­ worfen ist. Dadurch soll der nachteilige Einfluß be­ seitigt werden, der durch einen Fehler während der Montage und des Betriebs hervorgerufen wird. Es soll eine exakte Stellungsmessung der Teile, z.B. einer Werkzeugmaschine und einer Struktur, oder dergleichen möglich sein.
Diese Aufgabe wird durch die in den Ansprüchen ange­ gebene Erfindung gelöst.
Im folgenden werden Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand der Zeichnung näher erläutert.
Es zeigen:
Fig. 1 bis 4 perspektivische, schematische An­ sichten von bereits konzipierten Beugungsmusterdetektoren, die mit gemitteltem Beugungsmuster ar­ beiten,
Fig. 5 den Verlauf einer Ausgangswelle eines herkömmlichen, mit gemittel­ tem Beugungsmuster arbeitenden Stellungsgebers,
Fig. 6 eine perspektivische Ansicht einer ersten Ausführungsform eines er­ findungsgemäßen Stellungsgebers,
Fig. 7 ein Beispiel für ein in dem Stellungsgeber nach Fig. 6 ver­ wendetes Beugungsgitter,
Fig. 8 eine perspektivische Ansicht einer zweiten Ausführungsform eines er­ findungsgemäßen Stellungsgebers,
Fig. 9 ein Beispiel für ein in dem Stellungsgeber nach Fig. 8 ver­ wendetes Beugungsmuster,
Fig. 10 eine perspektivische Ansicht einer dritten Ausführungsform eines er­ findungsgemäßen, mit gemitteltem Beugungsmuster arbeitenden Stellungsgebers,
Fig. 11 eine perspektivische Ansicht einer vierten Ausführungsform eines er­ findungsgemäßen Stellungsgebers,
Fig. 12A-12C Kennliniendiagramme, die die Aus­ gangswellenformen für das erste und das zweite Ausführungsbeispiel der Erfindung veranschaulichen, und
Fig. 13A-13C Ausgangssignalwellenformen für das dritte und das vierte Ausführungs­ beispiel.
Fig. 6 zeigt in perspektivischer Ansicht schematisch eine erste Ausführungsform eines erfindungsgemäßen, mit gemitteltem Beugungsmoir´ arbeitenden Stellungs­ gebers. Ähnliche Teile wie in Fig. 1 sind mit ent­ sprechenden Bezugszeichen versehen. Auf einer Seite des zweiten Gitters 2 des Stellungsgebers sind gemäß Fig. 7 zwei Gitterabschnitte 2 A und 2 B ausgebildet, die jeweils aus durchlässigen Bereichen (schraffierte Bereiche) und nicht-durchlässigen Bereichen bestehen. Die durch­ lässigen und die nicht-durchlässigen Bereiche sind wiederholt und abwechselnd mit einer Gitterkonstanten P von einen Mikrometern bis einigen hundert Mikrometern angeordnet. Diese Gitterabschnitte 2 A und 2 B sind in Versetzungsrichtung des zweiten Gitters 2 benachbart und parallel zueinander angeordnet. Die Gitterabschnitte 2 A und 2 B sind in ihrer Phase um P/2 versetzt, so daß, wenn der durchlässige Teil des Gitterabschnitts 2 A dem durchlässigen Teil des ersten Gitters 1 gegenüberliegt, der durchlässige Teil des Gitterabschnitts 2 B dem nicht-durchlässigen Teil des ersten Gitters 1 gegenüber­ steht.
Mit einem solchen Aufbau ändert sich, wenn das Ver­ setzungs- oder Verschiebungssignal eine Fehlerkomponente enthält, die Lichtintensität des beispielsweise durch den Gitterabschnitt 2 A gelangenden Laserstrahls, so daß die Form der Welle eines Versetzungssignals I A (X) sich in der in Fig. 12A dargestellten Weise ändert, was durch die nachstehende Gleichung (2) ausgedrückt wird.
I A (x) = a cos (2 π x/P) + A cos (2 π · 2 x/P) + B (2)
worin a eine Amplitude der Fehlerkomponente mit der Periode P ist.
Da der Gitterabschnitt 2 B von dem anderen Gitterab­ schnitt 2 A lediglich um P/2 in der Phase verschoben ist, erhält man als Wellenform für das Versetzungs­ signal I B (X) eine Änderung der Lichtintensität des durch den Gitterabschnitt 2 B gelangten Laserstrahls gemäß Fig. 12(B) folgende Beziehung:
I B (x) = a cos {2 π (x/P - 1/2)} + A cos {2 π (2 x/P -1/2)} + B
     = -a cos (2 π x/P) + A cos (2 π · 2 x/P) + B (3)
Deshalb ist es zu bevorzugen, den Gitterabschnitt 2 A identisch mit dem Gitterabschnitt 2 B hinsichtlich der Gitterabschnittsflächen auszugestalten und die Gitter­ abschnitte so anzuordnen, daß die durch die Gitter­ abschnitte gelangenden Laserstrahlen gleiche Intensität haben. Die durch die Gitterabschnitte 2 A und 2 B ge­ langenden Laserstrahlen werden gleichzeitig photo­ elektrisch umgesetzt. Die einzelnen Lichtintensitäten werden addiert, mit der Folge, daß die Fehlerkomponenten mit einer Periode P einander auslöschen und man dem­ zufolge ein präzises und korrektes Versetzungssignal mit einer Periode P/2 erhält, wie es in Fig. 12(C) dar­ gestellt ist.
Fig. 8 ist eine perspektivische Ansicht einer zweiten Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Stellungs­ gebers, der mit gemittelten Beugungsmustern arbeitet. Der Stellungsgeber hat Ähnlichkeiten mit dem in Fig. 2 dargestellten Stellungsgeber. In den Fig. 2 und 8 sind für gleiche Teile gleiche Bezugszeichen verwendet. Nach Fig. 8 sind zwei Gitterabschnitte 2 C und 2 D an einer Seite des zweiten Gitters 2 des Stellungsgebers ausgebildet. Die Gitterabschnitte 2 C und 2 D bestehen jeweils aus mehreren durchlässigen Abschnitten (schraffiert gezeichnet), die mit einer Gitterkonstanten P von einigen Mikrometern bis einigen hundert Mikro­ metern angeordnet sind, und mehreren nicht-durch­ lässigen Abschnitten bestehen, welche die durchlässigen Abschnitte umgeben und abwechselnd mit der Gitter­ konstanten P angeordnet sind. Diese Gitterabschnitte 2 C und 2 D sind entlang der Richtungen der durchlässigen Abschnitten in der in Fig. 9 dargestellten Weise be­ nachbart angeordnet. Die Richtungen der durchlässigen Abschnitte stehen senkrecht auf der Versetzungsrichtung des zweiten Gitters 2. Die beiden Gitterabschnitte sind mit einer Verschiebung von P/2 angeordnet. Der Effekt dieser Ausgestaltung des zweiten Ausführungsbeispiels ist dem nach dem ersten Ausführungsbeispiel identisch. Der Grund für die Wirkung dieser Anordnung wurde oben in Verbindung mit dem ersten Ausführungsbeispiel er­ läutert.
Bei diesen mit gemittelten Beugungsmustern arbeitenden Stellungsgebern nach dem ersten und dem zweiten Aus­ führungsbeispiel der Erfindung ist es möglich, jegliche Fehlerkomponente mit einer Periode P sowie andere Fehlerkomponenten mit den Perioden P/3, P/5, P/7 usw. aus den Meßergebnissen fernzuhalten.
Man kann den Aufbau dieser Stellungsgeber dadurch ändern, daß man ein einziges photoelektrische Wandler­ element zum Empfang mehrerer durch einzelne Gitter­ abschnitte gelaufener Laserstrahlen vorsieht, so daß man durch Addition einen verstärkten Effekt erzielt. Man kann auch eine elektrische Schaltung zum Addieren der Ausgangssignale diskreter photoelektrischer Wandler­ elemente vorsehen. Im letztgenannten Fall ist es effektiver, eine elektrische Einrichtung zum Steuern des Verhältnisses der zu addierenden Lichtintensitäten zu verwenden (z.B. eine Additionsverhältnis-Steuer­ einrichtung, die der Addiereinrichtung vorgeschaltet ist). Man kann auch dazu einen optischen Mechanismus verwenden (z.B. bewegliche Abschirmungen, wie sie in Fig. 7 zwischen den einzelnen Gitterabschnitten und der Linsengruppe gezeigt sind). Obschon bei den oben beschriebenen Ausführungsbeispielen das Beugungs­ licht, d.h. das Beugungsmaximum nullter Ordnung ver­ wendet wird, kann man auch andere Beugungsmaxima her­ nehmen.
Fig. 10 zeigt eine perspektivische Ansicht einer dritten Ausführungsform eines mit gemitteltem Beugungs­ muster arbeitenden Stellungsgebers nach der Erfindung, bei dem ein Sekundär-Beugungsmaximum verwendet wird.
Bei der dritten Ausführungsform befindet sich in senk­ rechter Anordnung bezüglich eines Laserstrahls LB ein erstes Gitter 21, während ein zweites Gitter 22 schräg gegenüber dem ersten Gitter 21 angeordnet ist. Die durch das erste Gitter 21 und das zweite Gitter 22 gelangten, mehrfach gebeugten Laserstrahlen werden an einer zylindrischen Linse 23, die sich hinter dem zweiten Gitter 22 befindet, gesammelt. Fig. 10 zeigt lediglich das auf der Minus- und der Plus-Seite ge­ legene Beugungsmaximum zweiter Ordnung L ±2. Die konvergierenden Sekundär-Beugungsmaxima L +2 und L -2 werden mit Hilfe von photoelektrischen Wandler­ elementen 24 A und 24 B erfaßt. Die Wandlerelemente setzen das Licht um in elektrische Signale, die proportional zu der Lichtintensität sind. Die elektrischen Signale L +2 und L -2 werden in dem Addierer 25 addiert, um Versetzungssignale zu erhalten.
Wenn in dem der Plus-Seite zugehörenden Sekundär- Beugungsmaximum L +2 eine Fehlerkomponente mit einer Periode enthalten ist, die der Gitterkonstanten P des Beugungsgitters gleicht, wird bei der dritten Aus­ führungsform eine Änderung der Lichtintensität des der positiven Seite zugehörenden Sekundär-Beugungs­ maximums L +2 in Form eines Versetzungssignals L +2 (X) erhalten, wie es in Fig. 3(A) dargestellt ist. Diese Wellenform wird durch folgende Gleichung be­ schrieben:
I +2 (x) = a cos (2 π x/P) + A cos (2 π · 2 x/P) + B (4)
worin a eine Amplitude einer Fehlerkomponente mit einer Periode P ist.
Demgegenüber besitzt die Änderung der Lichtintensität des der Minus-Seite zugehörigen Sekundär-Beugungs­ maximums L -2 die gleiche Fehlerkomponente mit einer Periode, die der Gitterkonstanten P des Beugungsgitters gleicht, und die Phase der Fehlerkomponente ist um P/2 gegenüber der Phase der Fehlerkomponente des auf der Plus-Seite gelegenen Sekundär-Beugungsmaximums L 2 verschoben. Folglich erhält man eine Änderung der Lichtintensität für das Sekundär-Beugungsmaximum L -2 auf der Minus-Seite oder ein Versetzungssignal I -2 (X), wie sie durch die Wellenform in Fig. 13(B) dargestellt ist, und wie sie durch die folgende Gleichung be­ schrieben wird:
I -2 (x) = a cos {2 π (x/P - 1/2)} + A cos (2 π · 2 x/P) + B
      = -a cos (2 π x/P) + A cos (2 π · 2 x/P) + B (5)
Es ist also möglich, ein korrektes Versetzungssignal zu erhalten, wie es in Fig. 13(C) mit einer Periode P/2 gezeigt ist, nachdem die Fehlerkomponente mit einer der Gitterkonstanten P des Beugungsgitters gleichenden Periode verschoben ist, indem ein elektrisches Signal (Versetzungssignal) I +2 (X), das proportional zur Änderung einer Lichtintensität des positiven Sekundär- Beugungsmaximums L +2 ist, addiert wird auf ein anderes elektrisches Signal (Versetzungssignal) I -2 (X), welches proportional ist zu einer Änderung der Licht­ intensität des negativen Sekundär-Beugungsmaximums L -2.
Fig. 11 zeigt schließlich eine vierte Ausführungsform eines erfindungsgemäßen, mit gemitteltem Beugungs­ muster arbeitenden Stellungsdetektors. Dieser ent­ spricht dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 10 in ge­ wisser Weise, so daß gleiche Teile mit gleichen Bezugs­ zeichen versehen sind. Bei der vierten Ausführungs­ form wird das Beugungsmaximum nullter Ordnung sowie das positive und das negative Beugungsmaximum erster Ordnung aus verschiedenen Beugungsmaxima unterschied­ licher Ordnung gesperrt mit Hilfe einer Abschirmplatte 26, wobei die verbleibenden Beugungsmaxima zweiter Ordnung durch die zylindrische Linse 23 gesammelt werden. Lediglich das positive und negative Sekundär- Beugungsmaximum L +2 werden von einem photoelektrischen Wandlerelement (Photodetektor) 24 C, das sich hinter der Abschirmplatte 26 befindet, erfaßt. Diese Beugungs­ maxima L +2 werden gleichzeitig in ein elektrisches Signal umgesetzt. Das bedeutet eine Addition zweier elektrischer Signale, wie es oben erwähnt wurde. Dadurch ist der mit dem vierten Ausführungsbeispiel erzielte Effekt ähnlich dem Effekt, der mit den anderen Aus­ führungsbeispielen erzielt wird.
Obschon bei den beschriebenen Ausführungsbeispielen unter anderem das positive Sekundär-Beugungsmaximum verwendet wird, ist es ebenfalls möglich, andere Beugungsmaxima der Minus-Seite und der Plus-Seite, jedoch gleicher Größenordnung zu verwenden.
Durch den erfindungsgemäß ausgestalteten Stellungsgeber ist es möglich, exakt die gewünschte Position ohne irgendwelche Fehlerkomponenten anzugeben. Im Vergleich zu den herkömmlichen Stellungsgebern, die die Licht­ intensitäten von positiven und negativen Beugungs­ maxima auswerten, vermag der erfindungsgemäße Stellungs­ geber eine Stellungsmessung durchzuführen, mittels doppelter Lichtintensität des gebeugten Laserstrahls, wobei die Fehlerkomponenten einander auslöschen. Dies gestattet eine Präzisions-Stellungsmessung, wie sie z.B. bei Werkzeugmaschinen benötigt wird.

Claims (11)

1. Mit gemitteltem Beugungsmuster arbeitender Stellungs­ geber, umfassend:
  • - ein erstes Beugungsgitter (1; 21),
  • - ein seitlich in bezug auf das erste Beugungsgitter versetzbares zweites Beugungsgitter (2; 22),
  • - eine zwischen dem ersten und dem zweiten Beugungs­ gitter befindliche Einrichtung (3) zum Ändern der Lücken-Lichtweglänge zwischen Teilen der sich effektiv gegenüberliegenden Flächenbereiche der beiden Beugungsgitter in demjenigen Bereich des Lichtdurchgangswegs, der dem zweifachen der Fresnel-Zahl oder deren Produkt mit dem zweifachen einer ganzen Zahl entspricht,
  • - eine Einrichtung (4, 5, 7; 25) zum Erhalten von Signalen, die den gemittelten Werten von Beugungs­ mustersignalen in Bezug auf die jeweiligen Teile der sich effektiv gegenüberliegenden Flächenbereiche der zwei Beugungsgitter entsprechen,
  • - wobei unter Verwendung von Signaländerungen einer der Hälfte der Gitterkonstanten (P) der Beugungs­ gitter entsprechenden Periode, welche in den ge­ mittelten Werten zum Ausdruck kommen, seitliche Relativ-Versetzungen der Beugungsgitter genau er­ faßbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß an dem zweiten Beugungsgitter (2) zwei Gitterab­ schnitte (2 A, 2 B; 2 C, 2 D) ausgebildet sind, die um eine halbe Gitterkonstante verschoben oder versetzt sind.
2. Stellungsgeber nach Anspruch 1, bei dem die zwei Gitterabschnitte (2 A, 2 B) derart angeordnet sind, daß sie sich in Richtung der relativen Versetzung der Beugungsgitter (1, 2) benachbart sind.
3. Stellungsgeber nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die zwei Gitterabschnitte (2 C, 2 D) senk­ recht zur Versetzungrichtung der Beugungsgitter (1, 2) benachbart angeordnet sind.
4. Stellungsgeber nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zum Erhalten von Signalen entsprechend den gemittelten Werten von Beugungsmuster­ signalen aufweist:
einen Addierer (7; 25), der die Intensitäten von Licht addiert, das durch die beiden Gitterabschnitte gelangt, oder elektrische Signale addiert, die proportional zu den Lichtintensitäten des durch die zwei Gitterab­ schnitte gelangenden Lichts sind.
5. Stellungsgeber nach Anspruch 4, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Addierer derart ausgebildet ist, daß er die durch die zwei Gitterabschnitte gelangenden Lichtstrahlen photoelektrisch umsetzt.
6. Stellungsgeber nach Anspruch 4, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Addierer derart ausgebildet ist, daß er die durch die zwei Gitterabschnitte gelangenden Lichtstrahlen elektrisch addiert, nachdem die Licht­ strahlen individuell photoelektrisch umgesetzt worden sind.
7. Stellungsgeber nach Anspruch 6, gekennzeichnet durch eine Steuereinrichtung, die das Verhältnis zwischen den Intensitäten des durch die zwei Gitterab­ schnitte gelangenden Lichts steuert.
8. Mit gemitteltem Beugungsmuster arbeitender Stellungsgeber, umfassend:
  • - ein erstes Beugungsgitter,
  • - ein seitlich in bezug auf das erste Beugungsgitter versetzbares zweites Beugungsgitter,
  • - eine zwischen dem ersten und dem zweiten Beugungs­ gitter befindliche Einrichtung zum Ändern der Lücken-Lichtweglänge zwischen Teilen der sich effektiv gegenüberliegenden Flächenbereich der beiden Beugungsgitter in demjenigen Bereich des Lichtdurchgangswegs, der dem zweifachen der Fresnel- Zahl oder deren Produkt mit einem zweifachen einer ganzen Zahl entspricht,
  • - eine Einrichtung zum Erhalten von Signalen, die den gemittelten Werten von Beugungsmustersignalen in Bezug auf die jeweiligen Teile der sich effektiv gegenüberliegenden Flächenbereich der zwei Beugungsmuster entsprechen,
  • - wobei unter Verwendung von Signaländerungen einer der Hälfte der Gitterkonstanten der Beugungsmuster entsprechenden Periode, welche in den gemittelten Werten zum Ausdruck kommen, seitliche und relative Versetzungen der Beugungsgitter mit hoher Genauig­ keit erfaßbar sind,
dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zum Erhalten von Signalen entsprechend den gemittelten Werten von Beugungsmustersignalen aus einem Addierer (7) besteht, der die jeweiligen Intensitäten der einzelnen Licht­ strahlen der positiven und negativen Beugungsspektren gleicher Ordnung dieser Lichtstrahlen addiert, wobei diese Lichtstrahlen beim Durchlaufen der beiden Beugungsgitter zu Beugungsspektren mehrerer Ordnungen gebildet werden, oder der elektrische Signale addiert, die proportional sind zu den jeweiligen Intensitäten der positiven und negativen Beugungslichtmaxima gleicher Ordnung.
9. Stellungsgeber nach Anspruch 8, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Addierer derart ausgebildet ist, daß er das positive und negative Beugungslicht gleicher Ordnung photoelektrisch umsetzt.
10. Stellungsgeber nach Anspruch 8, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Addierer derart ausgebildet ist, daß er das Beugungslicht mit positivem und negativem Vorzeichen der gleichen Größenordnung elektrisch addiert, nachdem die Beugungslichtmaxima individuell photoelektrisch umgesetzt wurden.
DE3905838A 1988-02-26 1989-02-24 Mit gemitteltem Beugungsmuster arbeitender Stellungsgeber Expired - Fee Related DE3905838C2 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3943731A DE3943731C2 (de) 1988-02-26 1989-02-24 Optischer Stellungsgeber

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63043402A JPH0629740B2 (ja) 1988-02-26 1988-02-26 平均化回折モアレ位置検出器
JP16305288A JPH0212017A (ja) 1988-06-30 1988-06-30 平均化回折モアレ位置検出器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3905838A1 true DE3905838A1 (de) 1989-08-31
DE3905838C2 DE3905838C2 (de) 1994-04-14

Family

ID=26383163

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3905838A Expired - Fee Related DE3905838C2 (de) 1988-02-26 1989-02-24 Mit gemitteltem Beugungsmuster arbeitender Stellungsgeber

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4979827A (de)
DE (1) DE3905838C2 (de)
GB (1) GB2216257B (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0645608A1 (de) * 1993-09-29 1995-03-29 Canon Kabushiki Kaisha Optischer Lageänderungssensor
EP0672891A1 (de) * 1994-03-14 1995-09-20 Canon Kabushiki Kaisha Optischer Verschiebungssensor
WO1996018868A1 (en) * 1994-12-10 1996-06-20 Renishaw Plc Opto-electronic scale reading apparatus

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2539269B2 (ja) * 1989-07-17 1996-10-02 オークマ株式会社 光学式エンコ―ダ
JPH0625675B2 (ja) * 1989-08-30 1994-04-06 オ−クマ株式会社 平均化回折モアレ位置検出器
US5260568A (en) * 1990-07-18 1993-11-09 Okuma Corporation Absolute position detector with diffraction grating windows and spot position detection
JPH087082B2 (ja) * 1990-09-05 1996-01-29 松下電器産業株式会社 光学式エンコーダ
US5165045A (en) * 1991-10-10 1992-11-17 Eselun Steven A Method and apparatus for measuring displacement having parallel grating lines perpendicular to a displacement direction for diffracting a light beam
US5390022A (en) * 1992-04-07 1995-02-14 Canon Kabushiki Kaisha Displacement information detection apparatus for receiving a divergent light beam
US5583638A (en) * 1993-07-21 1996-12-10 Hewlett-Packard Company Angular michelson interferometer and optical wavemeter based on a rotating periscope
DE4420551A1 (de) * 1994-06-15 1995-12-21 Vdo Schindling Positionsgeber
DE69622297T2 (de) * 1995-02-21 2002-11-21 Canon K.K., Tokio/Tokyo Vorrichtung zur Bestimmung einer Verschiebung und deren Verwendung in einer Einrichtung zur Antriebsregelung
US6731391B1 (en) 1998-05-13 2004-05-04 The Research Foundation Of State University Of New York Shadow moire surface measurement using Talbot effect
WO1999058952A1 (en) * 1998-05-13 1999-11-18 The Research Foundation Of State University Of New York Shadow moire surface measurement using talbot effect
DE10346380B4 (de) * 2003-09-26 2014-01-16 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Positionsmesseinrichtung
JP4724495B2 (ja) * 2005-08-29 2011-07-13 キヤノン株式会社 光学式エンコーダ
JP5562076B2 (ja) * 2010-03-10 2014-07-30 キヤノン株式会社 光学式エンコーダおよび変位計測装置
US8598509B2 (en) * 2010-03-11 2013-12-03 Stratasys, Inc. Optical encoder
EP2679778B1 (de) * 2012-06-27 2019-08-21 Ansaldo Energia IP UK Limited Verfahren zum Messen der Geometrie von Verformungen eines Turbinenbauteils
NO20130884A1 (no) * 2013-06-21 2014-12-22 Sinvent As Sensorelement med optisk forskyvning
US9207154B2 (en) * 2013-10-22 2015-12-08 General Electric Company Method and system for creep measurement
JP6138664B2 (ja) * 2013-10-30 2017-05-31 オークマ株式会社 光学式エンコーダ
JP6315548B2 (ja) 2013-12-25 2018-04-25 株式会社ミツトヨ 光学式エンコーダ
JP6359340B2 (ja) * 2014-05-27 2018-07-18 株式会社ミツトヨ スケール及び光学式エンコーダ
TWI592637B (zh) * 2014-11-21 2017-07-21 財團法人工業技術研究院 光學編碼器
JP6664155B2 (ja) 2015-06-11 2020-03-13 株式会社ミツトヨ 光学式エンコーダ
US11823406B1 (en) * 2023-07-19 2023-11-21 Mloptic Corp. Moiré-based distance measurement system

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1282988B (de) * 1965-05-28 1968-11-14 Zeiss Carl Fa Einrichtung zum Messen von Lageaenderungen zweier zueinander beweglicher Teile unterVerwendung einer inkohaerenten Strahlung
DE1913139A1 (de) * 1968-03-14 1969-10-09 Gulf General Atomic Inc Vorrichtung zur UEberwachung der Bewegung eines bewegbaren Elementes
DE2152803A1 (de) * 1970-10-23 1972-04-27 Bendix Corp Meßgerät zur Bestimmung der gegenseitigen Verlagerung relativ zueinander bewegbarer Körper
DE2451994A1 (de) * 1974-11-02 1976-11-04 Fromund Prof Dipl Phys Hock Verfahren und anordnung zur erzeugung photoelektrischer signale
DE2605670A1 (de) * 1976-02-13 1977-08-18 Zeiss Carl Fa Einrichtung zur erzeugung phasenverschobener elektrischer signale
DE3003533C2 (de) * 1979-01-31 1984-08-23 Tokyo Shibaura Denki K.K., Kawasaki, Kanagawa Vorrichtung zur Bestimmung der gegenseitigen Lagebeziehung zwischen zwei Prüflingen
DE2511350C2 (de) * 1974-03-15 1987-06-04 National Research Development Corp., London, Gb
JPH06117016A (ja) * 1992-10-08 1994-04-26 Sekisui Chem Co Ltd 屋外用床ユニット

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4278273A (en) * 1979-09-04 1981-07-14 Schiff Robert D Personal safety restraint assembly for vehicle occupants
GB8413955D0 (en) * 1984-05-31 1984-07-04 Pa Consulting Services Displacement measuring apparatus

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1282988B (de) * 1965-05-28 1968-11-14 Zeiss Carl Fa Einrichtung zum Messen von Lageaenderungen zweier zueinander beweglicher Teile unterVerwendung einer inkohaerenten Strahlung
DE1913139A1 (de) * 1968-03-14 1969-10-09 Gulf General Atomic Inc Vorrichtung zur UEberwachung der Bewegung eines bewegbaren Elementes
DE2152803A1 (de) * 1970-10-23 1972-04-27 Bendix Corp Meßgerät zur Bestimmung der gegenseitigen Verlagerung relativ zueinander bewegbarer Körper
DE2511350C2 (de) * 1974-03-15 1987-06-04 National Research Development Corp., London, Gb
DE2451994A1 (de) * 1974-11-02 1976-11-04 Fromund Prof Dipl Phys Hock Verfahren und anordnung zur erzeugung photoelektrischer signale
DE2605670A1 (de) * 1976-02-13 1977-08-18 Zeiss Carl Fa Einrichtung zur erzeugung phasenverschobener elektrischer signale
DE3003533C2 (de) * 1979-01-31 1984-08-23 Tokyo Shibaura Denki K.K., Kawasaki, Kanagawa Vorrichtung zur Bestimmung der gegenseitigen Lagebeziehung zwischen zwei Prüflingen
JPH06117016A (ja) * 1992-10-08 1994-04-26 Sekisui Chem Co Ltd 屋外用床ユニット

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
J. Vac. Sci. Techol. 15, 1983, S. 1276-1279 *

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0645608A1 (de) * 1993-09-29 1995-03-29 Canon Kabushiki Kaisha Optischer Lageänderungssensor
US5621527A (en) * 1993-09-29 1997-04-15 Canon Kabushiki Kaisha Apparatus for measuring relative displacement between the apparatus and a scale which a grating is formed
EP0672891A1 (de) * 1994-03-14 1995-09-20 Canon Kabushiki Kaisha Optischer Verschiebungssensor
WO1996018868A1 (en) * 1994-12-10 1996-06-20 Renishaw Plc Opto-electronic scale reading apparatus
US5861953A (en) * 1994-12-10 1999-01-19 Renishaw Plc Opto-electronic scale reading apparatus with differing optical path lengths

Also Published As

Publication number Publication date
US4979827A (en) 1990-12-25
DE3905838C2 (de) 1994-04-14
GB8903956D0 (en) 1989-04-05
GB2216257A (en) 1989-10-04
GB2216257B (en) 1992-06-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3905838C2 (de) Mit gemitteltem Beugungsmuster arbeitender Stellungsgeber
DE69521270T2 (de) Optischer Kodierer
EP0163824B1 (de) Photoelektrische Messeinrichtung
DE3844704C2 (de)
DE3727188C2 (de) Optische Verschiebungserfassungseinrichtung
EP1081457B1 (de) Optische Positionsmesseinrichtung
DE69227009T2 (de) Opto-elektronischer Skalenleseapparat
EP0160811B1 (de) Photoelektrische Messeinrichtung
DE3901869C2 (de) Optischer Codierer
EP0924493B1 (de) Durchmessermessung mit Beugungssäumen sowie elektronische Verschmutzungskorrektur
DE102015006745B4 (de) Skala und optischer Codierer
DE3822143A1 (de) Verschiebungssensor mit optischer abtastung
DE69316464T2 (de) Optische Kodiereinrichtung
EP0509979A2 (de) Photoelektronische Positionsmesseinrichtung
DE19511068A1 (de) Lichtelektrische Positionsmeßeinrichtung
EP0137099A1 (de) Messeinrichtung
EP0083689B1 (de) Lichtelektrische inkrementale Längen- oder Winkelmesseinrichtung
DE2636211B1 (de) Interferometrisches verfahren zur abstands- oder ebenheitsmessung
DE1698280B2 (de) Vorrichtung zur bestimmung und steuerung der lageaenderung eines objektes gegenueber einem bezugssystem
EP0669519A2 (de) Positionsmessvorrichtung
EP1028309B1 (de) Optische Positionsmesseinrichtung
DE19521295C2 (de) Lichtelektrische Positionsmeßeinrichtung
DE2620330A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestimmung einer oberflaechengestalt
EP2878930B1 (de) Positionsmesseinrichtung
EP1477777B3 (de) Optoelektronische Detektoranordnung zur Unterdrückung unerwünschter Oberwellen

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8172 Supplementary division/partition in:

Ref country code: DE

Ref document number: 3943731

Format of ref document f/p: P

Q171 Divided out to:

Ref country code: DE

Ref document number: 3943731

AH Division in

Ref country code: DE

Ref document number: 3943731

Format of ref document f/p: P

D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
AH Division in

Ref country code: DE

Ref document number: 3943731

Format of ref document f/p: P

8339 Ceased/non-payment of the annual fee