DE1698280B2 - Vorrichtung zur bestimmung und steuerung der lageaenderung eines objektes gegenueber einem bezugssystem - Google Patents
Vorrichtung zur bestimmung und steuerung der lageaenderung eines objektes gegenueber einem bezugssystemInfo
- Publication number
- DE1698280B2 DE1698280B2 DE19641698280 DE1698280A DE1698280B2 DE 1698280 B2 DE1698280 B2 DE 1698280B2 DE 19641698280 DE19641698280 DE 19641698280 DE 1698280 A DE1698280 A DE 1698280A DE 1698280 B2 DE1698280 B2 DE 1698280B2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- grid
- grids
- interference
- phase
- interference fringes
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000008859 change Effects 0.000 title claims description 7
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 8
- 239000013598 vector Substances 0.000 claims description 8
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 claims description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 4
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims 2
- 101100021869 Drosophila melanogaster Lrch gene Proteins 0.000 claims 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims 1
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 claims 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 claims 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 claims 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 230000035559 beat frequency Effects 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 230000001605 fetal effect Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23Q—DETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
- B23Q15/00—Automatic control or regulation of feed movement, cutting velocity or position of tool or work
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/06—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving
- G01B21/065—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving for stretchable materials
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/36—Forming the light into pulses
- G01D5/38—Forming the light into pulses by diffraction gratings
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Optical Transform (AREA)
Description
nen Phasen, einer mehrphasigen Stromquelle gespeist ist es wesentlich, daß die Harmonischen weitgehend
Jverden, pie Au.sgangssjgnale dieser Luftspalte werden
zu einem mehrphasigen Signal zusammengesetzt, das ebenso wie bei der optisch wirkenden Vorrichtung
bezüglich der Stromquelle phasenverschoben ist.
Um bei Verneinungen, die auf der Basis sich verschiebender
Interferenzstreifen arbeiten, eine genügend große Genauigkeit zu erzielen, muß man bei
den bekannten Verfahren Gitter mit einer entsprechend engen Strichteilung, mindestens etwa in der
Größenordnung von einigen ΙΟ» je Millimeter verwenden,
die jedoch insofern Schwierigkeiten bereiten, als für eine weitgehend erschütterungsfreie Aufstellung
bzw. Montage dieser Gitter sowie eine exakte
unterdrückt werden, was dadurch erreicht werden kann, daß eine etwa lfl/o der Gesamtfläche einer Emfelzone
entsprechende Flache ftn auf der vorgenannien
Diagonale symmetrisch gelegenen Stellen abgedeckt ist. Die Schwingungsform der amplitudenmoduiierten
Wechselstromsignale einer einzelnen Fotozelle kann auf diese Weise einer reinen Sinuswelje
angenähert werden. Schließlich kann zur weiteren o Unterdrückung von Harmonischen das Bezugssignal
an einem der Empfänger abgenommen werden.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung kann vielseitig verwendet und auch mittels magnetischer Gitter be-
Jung g ne exakt trieben werden. Tm letzteren Fall werden die Luftparallelführung
des bewegten Gitters und die Einhai- 15 spalte von einer gewöhnlichen einphasigen Strom
tung einer konstanten Umgebungstemperatur Sorge quelle erregt und die Ausgang signale dieser Luftgetragen werden muß. So ergibt beispie'-.weise bei spähe verschiedenen Punkten des Phasenschieberzwei
gekreuzten Gittern mit einer Teilung von 40 Stri- netzwerkes zugeführt um auf diese Weise ein phasen-Chen
je Zentimeter und einem Interferenzstreifen- moduliertes zusammengesetztes Signd zu erzeugen,
abstand von etwa 2,5 cm eine Abweichung von 20 Mit «iner optisch wirksamen Vorrichtung werden
5 · ΙΟ"3 mm von einer exakten Parallelverschiebung deshalb besonders günstige Voraussetzungen geschafjruf
eine Strecke von 10 cm einen Fehler von 100O.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde,
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde,
eine Meßvorrichtung der vorgenannten Art zu schaf- -
fen, die mit verhältnismäßig groben Gittern mit einer 25 mehrerer Lichtquellen auftreten, deren Lichtausbeute
Tciiung von einigen Strichen je Millimeter arbeite* infolge ihrer unterschiedlichen Alterung verschieden
und trotzdem eine ausreichende Meßgenauiakeit von groß sein kann.
beispielsweise ± 2 · 10"4 mm aufweist. " Als Lichtquelle kann jede Energiequelle verwendet
Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung dadurch werden, die elektromagnetische Strahlen aussendet,
gelost, daß Blenden oder mit entsprechend geometri- 30 die auf fotoelektrischem Wege in elektrische Signa e
scher Formgebung in die Ebene der Interferenzstrei- umgewandelt werden. Eine brauchbare Lichtquelle
fen eingebrachte fotoelektrische oder Magnetfeld-Empfänger und mit diesen mehrere viereckig, rechteckig
oder ,.arallelogrammförmig ausgebildete Meßzonen
zum Ausblenden eines Teils des Interferenz- 35
strcifenfeldes vorgesehen sind, mit der Maßgabe, daß
die Interferenzstreifen parallel zu einer Diagonalen
der Meßzonen verlaufen und die Längen zweier parallel oder konzentrisch zueinander verlaufender Kander Meßzonen ein Drittel des entlang diesen 40
strcifenfeldes vorgesehen sind, mit der Maßgabe, daß
die Interferenzstreifen parallel zu einer Diagonalen
der Meßzonen verlaufen und die Längen zweier parallel oder konzentrisch zueinander verlaufender Kander Meßzonen ein Drittel des entlang diesen 40
fen, da eine solche Vorrichtung die Verwendung einer einzigen Lichtquelle zuläßt, wodurch diejenigen
Nachteile vermieden werden, db bei Verwendung
ist beispielsweise eine Gallium-Arsenid-Zelle, die
infrarote Strahlung erzeugt, die mit Frequenzen von ungefähr 107 Hz moduliert werden kann.
In der Zeichnung sind in schematischer Weise Ausführungsbeispiele der erfindungsgemäßen Vorrichtung
dargestellt. Es zeigt
Fig. \ eine Vorrichtung mit einer emzigen Lichtquelle
und einer Mehrzahl von Fotozellen.
F i g. 2 die Anordnung der Fotozellen bezüglich der Interferenzstreifen,
Fig. 3 und 4 erläuternde Diagramme, die sich auf
das Ausführungsbeispiel nach Fig. 1 beziehen,
Fig. 5 eine bezüglich der Form der Elementar
Kanten gemessenen Abstandes zwischen zwei benachbarten Interferenzstreiftn betragen, und daß den
Meßzonen eine entsprechende Anzahl von fotoelektrischen oder Magnetfeld-Empfängern zugeordnet ist. . .f.. j, ---
Meßzonen eine entsprechende Anzahl von fotoelektrischen oder Magnetfeld-Empfängern zugeordnet ist. . .f.. j, ---
deren Ausgänge je über Hne eine der Lage des Inter- 45 Zonen abgewandelte Anordnung mit drei Fotozellen
ferenzstreifenfeldes bezüglich der jeweiligen Meßzone und senkrecht zur Bewegungsrichtung verlaufenden
entsprechende Phasenverschiebung bewirkende Phasenschiebereinheit und einen Übertr iger geschaltet
sind, dem ein Phasenmeßgerät zur Auswertung der
eingegebenen Vektorsumme nachgeschaltet ist. 50
sind, dem ein Phasenmeßgerät zur Auswertung der
eingegebenen Vektorsumme nachgeschaltet ist. 50
Wenn die Zuordnung je einer Fotozelle zu jeder Finzel/One Schwierigkeiten bereitet, so können die
Einzelznnen auch voneinander getrennt und so angeordnet
sein, daß sie sich in ihrer Gesamtheit über r
mehrere Perioden des Interferenzstreifenmusters er- 55 denes Bezugsgitter3 und ein beispielsweise mit einem
strecken. Werkzeugträger verbundenes Anzeigegitter 4, sind in
Eine besonders hohe Meßgenauigkeit wird gemäß geringem Abstand übereinander angeordnet. Die beider Erfindung dadurch erzielt, daß die Anordnung den Gitter werden von dem von der Lichtquelle 1
der Gitter und der einzelnen Meßzonen so getroffen erzeugten, mittels- eines Kollimators 5 parallel gerichwird,
daß die Intcrfesenzstreifen parallel zur Dia- 60 tetert Licht getroffen, wodurch ein periodisches Mugonale
der Einzelzonen verlaufen, was durch Ver- ster von Interferenzstreifen erzeugt wird. Die Lage
Wendung zweier unterschiedlich geteilter und um dieser Interferenzstreifen hängt von der gegenseitigen
einen kleinen Winkel gegeneinander geneigter Gitter Lage der Gitter ab und ist infolgedessen ein Maß für
oder durch eine entsprechende Anordnung der einzel- die gegenseitige Lage der beiden die Gitter tragenden
nen Meßzoneh erzielt wird. 65 Körper. Die Interferenzstreifen werden von einer
Für eine möglichst getreue Wiedergabe der Ver·» abgeglichenen Reihe 6 von fünf Fotozellen A, B, C, D
Schiebung der Interferenzstreifen durch eine entspre- und E vermessen, die längs einer Geraden angeordnet
eilende Phasenwinkeländerung des Ausgangssignals sind, weiche in der durch einen Doppelpfeil 20 in
Iniorfcrenzstreifen,
Fig. 6 bis 9 weitere abgewandelte Ausführungs-
formen.
Bei dem in Fig. I dargestellten Ausführungsbeispiel
wird eine Lichtquelle I von einer cinpha<-i >.;n
400-Hz-Stroin ,uelle 2 gespeist, die mit dieser Frequenz
pulsierendes Licht aussendet. Zwei Strichcitter, ein beispielsweise mit einem Maschinenbett verbun-
F ig.-2 angezeigten Richtung der zu vermessenden
Bewegung verläuft* Das Licht, das jeweils aus einer
von fünf rechteckigen Elemeritarzönen einer Interfefenzstreiferiperiode
stammt, wird mit Hilfe eines Satzes von in gleichen Abständen voneinander angeordneten,
ein Bezugsfeid in Form eines Fensters bildenden Sammellinsen 7 auf die Fotozellen konzentriert.
Jeder Fotozelle wird Licht von der Lichtquelle 1 über eine entsprechende Elementarzone zugeführt.
wobei die gesamte auf die Fotozellen fallende Lichtmenge im wesentlichen konstant bleibt, und zwar
unabhängig von der Lage des Interferenzstreifenmusters bezüglich des Bezugsfeldes. Die relativen
Lichtmengen, die auf die einzelnen Fotozellen fallen. ändern sich jedoch entsprechend der Lage des Interferenzstreifenmusters.
Die Ausgangssignale der einzelnen Fotozellen haben somit entsprechend dem auf die einzelne Fotozelle fallenden Anteil des Lichtes
verschieden große Amplituden und bilden gleichphasige Wechselstromkomponenten mit der Frequenz
der Lichtquelle 1. Um die Verschiebung der Interferenzstreifen in proportionale Verschiebungen des
elektrischen Phasenwinkels umzuwandeln, sind die Ausgänge der Fotozellen A bis E mit verschiedenen
Elementen 8 eines Phasenschiebernetzwerkes 9 gekoppelt, dem über einen Übertrager 14 und einen
Verstärker 11 ein zusammengesetztes Ausgangssignal entnommen wird. An Stelle des Verstärkers 11, oder
auch zusätzlich zu diesem, können zur Verstärkung der Ausgänge der einzelnen Fotozellen Verstärker 10
vorgesehen sein. Die Ausgänge der Fotozellen können über Potentiometer 12 kurzgeschlossen sein, um
die Einzelempfindlichkeiten der Fotozellen gegeneinander abzugleichen. Außerdem können mittels Kondensatoren
13 Gleichstromkomponenten der Ausgangssignale der Fotozellen unterdrückt werden.
Jedes der Elemente 8 umfaßt einen Widerstand IS. der in Reihe mit einem Kondensator 16 geschaltet ist,
und ist so ausgebildet, daß es die Phase des ihm von einer zugehörigen Fotozelle gelieferten Signals um
einen Phasenwinkel verschiebt, der genau der Winkellage der zugehörigen Elementarzone entspricht,
von der diese Fotozelle beleuchtet wird. Wenn man annimmt, daß diese Elementarzonen gleich groß und
... in gleichen Abständen voneinander sind, so sind die ~! Teilsignale der fünf Fotozellen, nachdem sie die entsprechenden
Elemente 8 durchlaufen haben, durch fünf Vektoren 18a bis 18e (Fig. 3) darstellbar: das
Ausgangssignal der Fotozelle A wird direkt einer Klemme 17 zugeführt und auf diese Weise nicht phasenverschoben.
Die Längen der Vektoren 18 a bis 18 e entsprechen den betreffenden Amplituden der
Fotozellen für diejenige Lage des Interferenzstreifenmusters, wie sie in F i g. 2 dargestellt ist. Die einzelnen
Signale setzen sich, wie in F i g. 4 dargestellt, zusammen und bilden ein Ausgangssignal, das durch
einen Vektor 19 mit einem Phasenwinkel 22 dargestellt werden kann. Der Wert dieses Phasenwinkels
ist ein Maß für die Lage des Streifens maximaler Helligkeit 21. wie er als gestrichelte Linie in Fig. 2
dargestellt ist, und zwar in Einheiten seines Abstandes von der Mitte der Elementarzone, die der Fotozelle A
zugeordnet ist. Eine Bewegung des Interferenzstreifenmusters über das Bezugsfeld über eine ganze
Periode des Streifenmusters ruft eine Drehung des Vektors 19 über 360° hervor. Das sich ergebende
Aussan.?ssignal wird einem Phasenmeßgerät 23 zugeführt,
um so eine genaue Anzeige öder eifie entsprechende mechanische Bewegung hefvöfzüflifen>
welche ein Maß für die augenblickliche Läge des
Iriterferenzstreifenm'Usters, d. \\t also für die Läge des
Bezügsgitters 3 bezüglich des Anzeigegitters 4 ist;
Die Verwendung besonderer Linsen, um das Licht der beleuchteten Elementarzonen des Interferenzstreifenmusters
auf die Fotozelle zu konzentrieren, kann dadurch vermieden werden, daß die Größe
einer jeden Fotozelle so vergrößert wird, daß sie die ihr zugeteilte Fläche des Fensters bedeckt, von dem
sie ihr Licht erhält, und daß die Fotozellen vorzugsweise nahe den beiden Gittern angeordnet werden.
Die beiden Gitter, die das Streifenmuster erzeugen, können nach dem Nonius-Prinzip oder nach dem
Prinzip der gekreuzten Gitter mit gleichen Gitterabständen arbeiten, und die Interferenz^treifen können
senkrecht oder unter einem spitzen Winkel zu der zu vermessenden Bewegung der Interferenzstreifen
verlaufen, und zwar entsprechend dem Verfahren, das für die Unterdrückung räumlicher Harmonischer
verwendet wirf5. In den Lichtweg kann zwischen die Lichtquelle und die Fotozelle eine Blende eingefügt
werden, die geeignete Öffnungen zur Verkleinerung der Fläche des Fensters aufweist, das von jeder Fotozelle
vermessen wird; es kann aber auch ohne die Verwendung einer Blende gearbeitet werden, so daß
im wesentlichen alles Licht vom Interferenzstreifenmuster auf die Fotozellen fällt, je nach Art der verwendeten
Interferenzstreifen und der Einrichtung zur Unterdrückung räumlicher Harmonischer.
Es können drei, vier oder mehr Fotozellen \ erwendet
werden; ihre Anzahl muß in der Praxis in Abhängigkeit davon bestimmt werden, inwieweit
räumliche Harmonische in der Schwingungsform der Licht-Intensitätsmodulation gemäß der Bewegung
des Interferenzstreifenmusters unterdrückt werden sollen. Beispielsweise kann eine gerade Anzahl von
Fotozellen, beispielsweise sechs, verwendet werden, die mit zwei Schaltungen mit je drei Elementen gekoppelt
werden, welche im Gegentakt arbeiten, um eine geradzahlige räumliche Harmonische zu eliminieren.
Nach Belieben kann eine größere Anzahl von Fotozellen verwendet werden, um den Anteil
räumlicher Harmonischer in den modulierten, zusammengesetzten Ausgangssignalen herabzusetzen,
da, selbst wenn die Wechselstromkomponente des Ausgangssignals einer jeden Fotozelle rein sinusförmig
ist, die Schwingungsform der Amplitudenmodulation infolge der Bewegung der Interferenzstreifen
beträchtlich von einer reinen Sinuswelle abweicht und so räumliche Harmonische hereinbringen
kann. Die Harmonischen werden bis auf einen Bruchteil herabgesetzt, der, verglichen mit anderen möglichen
Fehlerquellen der Vorrichtung, klein ist. Dies kann durch Vergrößerung der Zahl^von Fotozellen,
denen jeweils eine Elementarzone der Interferenzstreifenperiode zugeordnet ist, wesentlich unterstützt
werden. Wenn mehrere gleich verzerrte amplitudenmodulierte Signale vektoriell zusammengesetzt werden,
so ist der Gehalt der phasenmodulierten Resultierenden an Harmonischen um einen Faktor vermindert,
der größer als die Zahl der Sisnalkomponenten ist.
So kann z. B. der größte Fehler des Phasenwinkels der Resultierenden durch Vergrößerung dei Anzahl
der Komponentensignale, d. h. also der Fotozellen,. um das Fünffache um einen Faktor von etwa neun
7 8
verkleinert werden; dieser Prozeß kann aber Hoch wesentliche Verbesserungen durch folgende Mäßweiter
getrieben' werderu Zu den erwähnten Vor- nähmen erzielt! Zunächst Wird keine Schlitzbieride
teilen könimt aber noch ein weiterer bedeutender verwendet.· Die beleuchtete Zone des Streifenmusters,
Vorteil hinzu, der darin besteht, daß es infolge des die von den Fötöiiöllen vermessen wirdj ist vielmehr
ZUsammensetzens der Signale mit Hilfe Girier derart 5 in drei genau gleiche, viereckige Elcmentarzöneri
•infachen Schaltung möglich ist, die Anzahl der eingeteilt, deren jeder eine Fotozelle zugeordnet ist
totozellen und ihrer zugehörigen Schaltungsteile und die sich längs einer Geraden erstrecken, die
•hne unangemessene Steigerung der Kosten zu er- parallel zu der Richtung der zu messenden Verschielöhen.
" bung der Streifen ist. Außerdem bedecken diese
Das Phasenverschiebernetzwerk enthält der Zahl id Elementarzonen genau eine ganze Periode des
der einzelnen Signale der Fotozellen entsprechende Streifenmusters, und die Neigung der Interferenzfchaltungsteile,
"vorzugsweise jeweils einen Schal- streifen ist derart, daß diese parallel zu einer Dialungsteil
für jede Fotozelle, deren jeder so bemessen gonalen einer jeden der viereckigen Elementarzonen
kt, "daß er die Phase des ihm zugeführten Signals ist. und zwar unabhängig davon, ob diese Elementarem
einen derartigen Phasenwinkel verschiebt, daß 15 zonen Rechtecke oder Parallelogramme sind (F i g. 2
•in sternförmiges Vektor-Diagramm gebildet werden und 5). Dadurch kann der größtmögliche Anteil an
kann, wie es ϊη Fig. 3 dargestellt ist, bei dem die räumlichen Harmonischen an dem Intensitätsverlauf
Winkelbeziehung zwischen den Vektoren den Lagen des Streifenmusters in einem beliebigen Teil seines
der Elementarzonen im Bezugsfeld des Interferenz- Bereiches auf weniger als 0,4° η herabgesetzt werden.
Itreifenmusters entspricht, von denen die Signale aus- 20 Werden außerdem insbesondere an einander gegen-
|ehen. Eine derartige Schaltung wird für ein ein- überliegenden Ecken kleine Bereiche von der Blende
phasiges Ausgangssignal benötigt. Wird jedoch ein abgedeckt, die an der zu den Interferenzstreifen parmehrphasigesr
z. B. ein dreiphasiges Ausgangssignal allelen Diagonale liegen und ungefähr -'30O der
verlang., so können die Signale parallel an drei Fläche einer jeden der drei viereckigen Elementartleiche
Schaltungen angelegt werden, in denen die 25 zonen ausmachen, so kann der größte Anteil weiter
Phasenverschiebungen von einer zur anderen Schal- auf weniger als 0,2°Ό herabgesetzt werden. Drittens
tung passend abgeändert werden, um ein abgegliche- kann der gesamte Anteil der Modulations-Harmones
Dreiphasen-Ausgangssignal zu erzeugen. Im all- nischen im zusammengesetzten Ausgangssignal noch
gemeinen hängt deshalb die Anzahl der Elemente in weiter auf 0.02° 0 dadurch herabgesetzt werden, daß
einer jeden Schaltung von der Anzahl der verwen- 30 man seine Phase nicht mit der Stromquelle für die
deten Fotozellen ab. und die Anzahl der Schaltungen Lichtquelle vergleicht, woraus eine Herabsetzung um
ist von de: Anzahl der benötigten Phasen des Aus- einen Faktor von ungefähr »4« resultieren würde,
gansssianals abhängig. " sondern mit einem dei Signale der drei Fotozellen
Wie bereits erwähnt, ist es wünschenswert, die Dieser niedere Anteil an Harmonischen macht den
räumlichen Harmonischen zu reduzieren, um sicher- 35 Fehler infolge Abweichens des Intensitätsverlaufe'
zustellen, daß der Intensitätsverlauf des Streifen- der Interferenzstreifen von einer exakten Sinuswelle
musters so aut wie möglich einem Sinus-Gesetz folgt. vernachlässigbar gegenüber anderen unvermeidlicher,
Im Falle eng gestellter Gitter, d. h. also bei Gittern Fehlerquellen, die eine jede solche Einrichtung auf-
mit etwa 4(Toder mehr Strichen mm. kann dies zum weist.
Teil dadurch erzielt werden, daß die Gitter einander 40 Wahlweise kann aber ein npherungsweise sinus-
jehr nahe gebracht und der Abstand zwischen ihnen förmiger Verlauf der Intensität der Interferenzstreifer
in bekannter Weise so eingestellt wird, daß der größte in noch etwas einfacherer Weise dadurch erziel;
Teil des durchgelassenen" Lichtes in die nullte und werden, daß ein Kollimator zwischen der Licht-
erste Ordnung der gebeugten Wellen fällt. Die dann quelle 1 und den Gittern 3 und 4 angeordnet und ir
Übrigbleibenden Harmonischen können dadurch ver- 45 diesem eine Blende vorgesehen wird, die kreisförmige
mindert werden, daß. wie bereits beschrieben, die Öffnungen hat, deren Durchmesser etwas größer al<
Anzahl der Fotozellen und der damit verbundenen ein Drittel der Streifenmusterperiode ist und die sr
Elemente der Schaltung erhöht wird. angeordnet sind, daß das durch sie hindurchtretende
Besondere Vorteile^ ergeben sich, wenn grobe Licht jeweils auf die dieser Öffnung zugeordnete
Gitter, das sind solche mit ungefähr vier oder weniger 50 Fotozelle fällt.
Gitterstrichen pro Millimeter, verwendet werden. In einer weiteren Ausführungsform der erfindungs-
Jedoch muß dann der Abstand zwischen den Gittern gemäßen Einrichtung kann, um eine möglichst weit-
verhältnismäßig groß sein, um in der erwähnten gehend sinusförmige räumliche Wellenform zu er-
Weise Interferenzstreifen durch Beugung zu erhalten, zielen, eines der Gitter auf fotografischem Wege her-
Eo daß es voraezosen wird, die Streifen durch einen 55 gestellt sein, so daß abwechselnd lichtundurchlässige
einfachen Blenden-Effekt zu erzeugen. Das Ergebnis und durchlässige Zonen vorgesehen sind, derer
ist, daß die räumliche Wellenform, das ist die Inten- Durchlaßvermogen sich längs des Gitters sinusförmig
Sitätscharakteristik der Streifen, dazu neigt, dreieckig ändert. Ähnlich kann im Falle magnetischer Gittei
fcu werden, bedinat durch ein starkes Ansteigen des die Polarität des angezeigten Liniensystems, welches
Anteils räumlicher Harmonischer. Maßnahmen zur 60 das Gitter bildet, so ausgebildet sein, daß sie einerr
Verminderung dieser Harmonischen und ihrer Effekte -Sinus-Gesetz folgt.
gewinnen deshalb aroße Bedeutung. Eine derartige Das Prinzip der erfindungsgemäßen Einrichtum
Veiminderang kann dadurch erzieirwerden, daß die läßt sich andererseits auch auf den Fall anwenden
beleuchtete Zone des Streifenmusters, die von jeweils bei dem mehrere von verschiedenen Phasen einei
einer Fotozelle vermessen wird, rechteckig ist und 65 mehrphasigen Stromquelle gespeiste Lichtqueller
die Interferenzstreifen so geneigt sind, daß sie par- vorgesehen sind, denen eine einzige Fotozelle zu-
allel zu den Diagonalen dieser Rechtecke verlaufen. geordnet ist, die das Licht von jeder der Lichtqueller
Gemäß der vorliegenden Erfindung werden weitere erhalt. Eine derartige fcinrichtung ist in F i g. 6 dar-
1 69Ö 280
ίο
gestellt. Sie hat drei Lichtquellen 25, 26 und 27, die von einer Stromquelle 28 gespeist werden und zwei
Gitter 29 und 30 beleuchten. Eine einzige Fotozelle 3i erhält das durch drei Elementarzonen eines Interfefeiizstreifenmüsters
hindurchgehende Licht, wobei diese Elementarzonen von einem Kollimator-System
mit drei Sammellinsen 32 gebildet werden. Das Ausgangssignal der Fotozelle 31 hat drei Phasen, deren
Amplituden der Lichtstärke des durch die Sammellinsen 32 hindurchgehenden Lichtes proportional
sind. d. h. von der Lage des Interferenzstreifenmusters abhängen. Die Komponenten verschiedener Pha5,e
werden durch ein Phasenschiebernetzwerk 33 getrennt, an das das einphasige Ausgangssignal der
Fotozelle 31 angelegt wird und das eiti dreiphasiges Ausgangssignal abgibt, dessen Phase gegenüber derjenigen
der Stromquelle 28 um einen Phasenwinkel verschoben ist, der der Verschiebung des Interferenzstreifenmusters
proportional ist. Wie im vorstenend beschriebenen Ausführungsbeispiel sind die Elemente
der Schaltung zur Phasenverschiebung jeweils so ausgelegt, daß sie eine Phasenverschiebung hervorrufen,
die der Winkellage der entsprechenden Elementar tone des Interferenzstreifenmusters bezüglich einer
Periode de? Interferenzstreifenmusters entspricht.
Fine andere Ausftihrungsform der erfindungsgemäßen Einrichtung mit einem magnetischen Interferenzstreifenmuster
ist in Fig. 7 dargestellt. Diese Einrichtung entspricht weitgehend der optisch wirkenden
Einrichtung gemäß Fig. 1. jedoch sind die Fotozellen durch magnetische Luftspalte od. dgl.
oder magnetische Abtaster A bis E ersetzt, die von einer einphasigen 400-Hz-Stromquelle 2 gespeist
werden und Einzel-Ausgangssignale abgeben, deren jedes dem magnetischen FIi>R einer Elementarzone
des Interferenzstreifenmusters entspricht. Die Einrichtung wirkt genau in analoger Weise wie die
optische Einrichtung gemäß Fig. 1, und die übrigen Bauelemente der Einrichtung sind mit denselben
Bezugszeichen versehen wie in Fig. 1.
Im vorstehenden ist der Gesichtspunkt des Messens des Betrags einer Relativbewegung durch Vermessung
eines elektrischen Phasenwinkels hervorgehoben. Es muß jedoch beachtet werden, daß während
einer jeden Relativbewegung zwischen den relativ zueinander verschiebbaren Körpern und infolgedessen
zwischen den Gittern sich die Frequenz des Ausgangssignals der Einrichtung gegenüber ihrer
Normal- oder Bezugsfrequenz um einen Betrag verschiebt, der proportional zu der Geschwindigkeit
einer solchen Relativbewegung ist. Mit anderen Worten, das normale Ausgangssignal, welches als
Trägersignal betrachtet werden kann, wird frequenzmoduliert, und zwar gemäß der Geschwindigkeit, mit
der die Interferenzstreifen vor den Fotozellen vorbeiwandem. Diese Modulationsfrequenz kann als Maßstab
für die Geschwindigkeit der Relativbewegung herangezogen werden, und sie kann insbesondere
dazu benutzt werden, ein Steuersignal zur Auslösung eines Steuervorganges in Abhängigkeit von dieser
"Bewegung hervorzurufen. Es ist natürlich wichtig, daß die Frequenz der Stromquelle oder die Trägerfrequenz
wesentlich größer als die durch die Bewegung der Interferenzstreifen hervorgerufene Modu-'
lationsfrequenz ist, um die Frequenzkomponenten des Ausganges innerhalb eines schmalen Bandes zu
halten und so die Verwendung von Verstärkern mit erwünschte Signale leicht eliminieren zu können. Beispielsweise
wird eine Modulationsfrequenz von 500 Hz erzeugt, wenn Gitter mit 40 Gitterstrichen
pro Millimeter relativ zueinander mit etwa 75 cm pro Minute bewegt werden. In diesem Fall ergibt
eine Trägerfrequenz von ungefähr 50 oder 100 kHz Signale mit einer verhältnismäßig kleinen Bandbreite.
Die erfindungsgemäße Einrichtung kann auch dazu
verwendet werden, verhältnismäßig große Verschie-
bungen dadurch mit großer Genauigkeit zu messen, daß man eine Anzahl von Gitterpaaren mit verschiedener
Gitterkonstante verwendet. Beispielsweise werden in der in Fig. 8 gezeigten Einrichtung drei
Gitterpaare verwendet, nämlich ein erstes Paar 40.
dessen Gitter als Beugungsgitter arbeiten und Interferenzstreifen erzeugen, bei denen eine Periode des
Interferenzstreifenmusters einer Verschiebung von 2.5 ■ 10"* mm entspricht, und ein zweites und drittes
Gitterpaar 41 bzw. 42, deren Gitter nach dem
zo Blendenprinzip arbeiten und Interferenzstreifenmuster hervorrufen, bei denen eine Periode einer
Verschiebung von 0,25 mm bzw. von 25 mm entspricht. Jedem Paar von Gittern ist ein besonderes
System v( · Fotozellen 43, 44. 45 zugeordnet, deren
Ausgangssignale einer entsprechenden Schaltung zur Phasenverschiebung 46 bzw. 47 oder 48 und dann
einem Anzeige-Synchronmotor 49 bzw. 50 oder 51 oder anderen auf die Phase ansprechenden Empfängern
zugeführt werden, um eine der Phasenvvinkeländerung entsprechende mechanische Bewegung
od. dgl. zu erzeugen. Die gemessene Gesamtverschiebung kann von drei Skalen, einer Grob-, Mittel- und
Fein-Skala, abgelesen werden, deren jede eine von den Empfängern abgegebene Größe anzeigi
Eine andere Ausführungsform der erfindungsgemäßen Einrichtung zur Vermessung großer Verschiebungen
mit großer Genauigkeit, bei der besondere Streifenmuster verschiedenen Maßeinheiten entsprechen,
soll nun im Zusammenhang mit der Fig.0
erläutert werden.
Licht von einer Lichtquelle oder von Lichtquellen 52, 53, das mit einer Frequenz von ungefähr 100 kHz
schwankt, geht durch ein System von Gittern hindurch und erzeugt Interferenzstreifen. Das Gittersystem
hat ein Paar von Bezugsgittern 55, 56, die an einem Maschinenbett befestigt sind und deren
erstes beispielsweise 1000 Gitterstriche pro Zoll und deren zweites beispielsweise 990 Gitterstriche pro
Zoll aufweist. Ferner ist ein erstes und ein zweites Anzeigegitter 57 bzw. 58 vorgesehen, das erste beispielsweise
mit 1001 und das zweite beispielsweise mit 991 Gitterstrichen pro Zoll, und beide sind an
einem Werkzeugträger befestigt und bewegen sich mit diesem nahe den Bezugsgittern. Wenn sich der
Werkzeugträger mit einer Geschwindigkeit von 30 Zoll pro Minute bewegt, so bewegen sich die
Initrferenzstreifen bezüglich eines Bezugspunktes am
ersten Anzeigegitter 57 mit einer Geschwindigkeit von 500 Streifen pro Sekunde und bezüglich eines
Bezugspunktes am zweiten Anzeigegitter 58 mit 495 Streifen pro Sekunde, wobei eine Periode des
Interferenzstreifenmusters in jedem Fall bei diesem Beispiel 1 Zoll beträgt. Jedes Interferenzstreifensystem
wird von einem Satz von Fotozellen 59 bzw.
60 vermessen, und die Ausgangssignale eines jeden Satzes von Fotozellen werden mit 500 bzw. 495 Hz
moduliert, nachdem sie Schaltungen zur Phasenverschiebung
-ul bzw. 62 aufgegeben wurden. Die
modulierten Sigtiale des ersten Systems werden einem Empfänger 63, wie er schon beschrieben worden ist,
zugeführt, der die augenblickliche Lage des Werkzeugträgers bezüglich zweier vorgegebener Lagen,
die dem Gitterstficri-Abstaiid des ersten Bezugsfitters,
d.h. also einem Abstand von 10" ■' Zoll entsprechen,
anzeigt. Die vom zweiten System abgegebenen modulierten Signale werden an einen Empfänger
64 angelegt, der in entsprechender Weise die augenblickliche Lage des Werkzeugträgers über einen
dem Gitterstrichabstand des zweiten Bezugsgitters entsprechenden Abstand anzeigt. Die Differenz z-vischen
diesen beiden Sätzen modulierter Signale stellt ein Maß für dte augenblickliche Lage des Werkzeugträgers
in Einheiten eines Abstandes dar, der dem Kehrwert der Differenz von 1000 minus 990, d.h.
also einem zehntel Zoll, entspricht.
Während der Bewegung des Werkzeugträgers erzeugen die beiden Modulationsfrequenzen von 500
und 4')5 Hz, wenn sie in einer Mischstufe 65 ge-■lischt
werden, eine Schwebungsfrequenz von 5 Hz. die nach der Demodulation mit einem von einer Eichäuelle
66 abgegebenen Eich oder Steuersignal von * Hz verglichen werden kann, um aus dieser Schwebungsfrequenz
und dem Steuersignal einen resultierenden Phasenwinkel zu ergeben. Dieser kann mit
einem weiteren Empfänger 67 gemessen werden und kt ein Maß für die Lage des Werkzeugträgers bezüg-Mch
einer vom Steuersignal geforderten augenblicklichen Lage. Das Steuersignal kann von einem Oszillator
oder einem Bandgerät abgegeben werden, das die Bewegungen des Werkzeugträgers steuert. Dasselbe
Prinzip kann auch dann angewandt werden, wenn die Lage des Werkzeugträgers bei stillstehendem
Werkzeugträger vermessen werden soll, da die von den beiden Gittersystemen herrührenden Signale
dieselbe Frequenz von 100 kHz wie die Lichtquelle aufweisen, wohingegen ihre Phasenwinkel ein Maß
für die Lage des Werkzeugträgers sind. Das heißt, der Phasenwinkel des Signals des ersten Systems berüglich
der Phase der Stromquelle für die Lichtquelle fet ein Maß für die Lage in Bruchteilen eines
tausendstel Zolls. Gleichzeitig gibt der Phasenwinkel «wischen den Signalen des ersten und des zweiten
Systems die Lage des Werkzeugträgers in Bruchteilen eines zehntel Zolls an. Auf diese Weise kann mit
tiilfe zweiter Gitterstrich-Sätze, die üblicherweise
auf einem gemeinsamen Glasstreifen als zweiteiliges Bezugsgitter angebracht sein können, ein Differenz-Signal
erhalten werden, das einem die Phase anzeigenden Empfänger zugeführt wird, um die Größe des
Meßbereiches durch Verkleinerung des Maßstabes um einen Faktor, der im beschriebenen Beispiel 100
beträgt, zu erweitern. Dasselbe Prinzip kann des weiteren dadurch angewandt werden, daß zusätzliche
Gittersysteme hinzugefügt werden, die noch geringere Unterschiede im Gitterstrichabstand aufweisen als
das erste Bezugsgitter, um weitere Differenzsignale zu erhalten, die rtiit dem ersten System von Signalen
in Beziehung stehen, um so den Meßbereich beliebig zu Vergrößern, wobei für jedes System ein passeiidef
Empfänger verwendet wird. Um irgendeinen Vorgang, wie beispielsweise einen Arbeitsgang einer
Werkzeugmaschine zu steuern, können geeignete Informationen in Form von Schwebungsfrequenzen
oder Phasendifferenzen enthaltenden Steuersignalen versvendet werden, die von einem geeigneten Geber,
wie beispielsweise einem Tonband, mit einem Satz von Informationen erzeugt weiden können, wobei
dieses Tonband mit einer mit der Periode der Lichtquelle bzw. der Lichtquellen gekoppelten Geschwindigkeit
abläuft und auf dem Tonband das Steuerprogramm für den zu steuernden Vorgang aufgezeichnet
ist.
Bei einer weiteren Ausführungsform der trfindungsgemäßen
Einrichtung ist zur Messung von Winkelbewegungen ein Paar koaxialei ringförmiger
Gitter vorgesehen, die an zwei gegeneinander \ erdrehbaren Körpern befestigt sind, um die Winkclbeziehung
zwischen diesen beiden Körnern /u messen. Die Gitter können scheibenförmig sein oder
die Form konzentrischer Kegelstümpfe" aufweisen und mit radial verlaufenden oder mehr oder weniger
schief verlaufenden Gitterstrichen versehen sein, wobei
das eine Gitter einen etwas geringeren Gitterstrich-Abstand als das andere aufweist um durch
die Wirkung als Nonius einen Streifenabstand von Γ 2 Zoll bei einem mittleren Radius zu erzeugen.
Eine Periode des Streifenabstandes ict in drei jeweils
'/2 Zoll breite Elementarzonen eingeteilt (bei einem
mittleren Radius), deren jede in radialer Richtung eine Ausdehnung von 1 Zoll hat. Ein Satz von Gitter"-stnehen
ist geringfügig mehr geneigt als der andere, und zwar so, daß die Streifen eine derartige Richtung
einnehmen daß eine Linie konstanter Beleuchtungsstarke durch einander gegenüberliegende Ecken einer
jeden Elementarzone geht. Eine einzige, mit einem Kollimator versehene Lichtquelle beleuchtet die drei
Elementarzonen im wesentlichen gleichmäßig v- einer Seite der beiden Gitter, und das aus diesen
austretende Licht wird mittels dreier getrennter Zerstreuungslinsen auf drei Fotozellen konzentriert, die
..mit drei Elementen einer Schaltung zur Phasenverschiebung
gekoppelt sind, wie dies bereits beschrieben worden ist, und das zusammengesetzte
Ausgangssignal dieser Schaltung wird in einem pnasenempfmdlichen Empfänger mit dem Si<mal
einer der Fotozellen verglichen. Die Winkellage oder eine Drehung eines Gitters gegenüber dem anderen
wird dann durch diesen Empfänger genau angezeigt oder em entsprechendes Signal abgegeben, und zwar
mit großer Genauigkeit in Bruchteilen des radialen Abstandes der Gitterstriche desjenigen Gitters, das
als Bezugsgitter gilt.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (5)
- ] 698 2801 2diesem radialen Verlauf gegenüber um einen kiel Patentansprüche; nea Winkelbetrag geneigten' Güterstricheq, djfauf einer Kreisscheibe oder dem Mantel eine;1, Vorrichtung zur Bestimmung und Steuerung Kegelstumpfes angeordnet sind, vorgesehen sindder Lageänderung eines Objekts gegenüber einem 5 6. Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 5Bezugssystem unter Verwendung zweier einander dadurch gekennzeichnet, daß zur Erzeugung eine!benachbarter, mit dem beweglichen Objekt bzw, Bezugssignals einer der Empfängerausgänge direkmit dem Bezugssystem verbundener Strichgitter auf den Übertrager geschaltet ist,oder magnetischer Gitter, deren Gitterstriche bei 7. Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 6ungleicher, einen Noniuseffekt ergebender Gitter- io dadurch gekennzeichnet, daß zur Erzeugung de; konstante parallel zueinander verlaufen oder bei Interferenzstreifenfeldes optische Gitter (3, 4, 29gleicher Gitterkonstante einen kleinen Winkel 30, 40, 41, 42, 55, 56, 57, 58) vorgesehen sinemiteinander bilden und deren Zusammenwirken und die Empfänger (/4 bis E, 31, 43, 44, 45, 59ein periodisches System von Interferenzstreifen 60) in bekannter Weise ah fotoelektrische Emp-erzeugt, deren Verschiebung von photoelektri- 15 Fänger ausgestaltet sind.sehen oder Magnetfeld-Empfängern registriert, 8. Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 bis ö als Maß für die Geschwindigkeit bzw. für den dadurch gekennzeichnet, daß zur Erzeugung des Betrag der Relativbewegung der beiden Objekte Interferenzstreifenfeldes magnetische Gitter vordient, dadurch gekennzeichnet, daß gesehen sind und die Empfänger in bekanntei Blenden oder mit entsprechend geometrischer 20 Weise als Magnetfeldempfänger ausgestaltet sind Formgebung in die Ebene der Interferenzstreifen
eingebrachte photoclektrische oder Magnetfeld-Empfänger und mit diesen mehrere viereckig,rechteckig oder parallelogrammförmig ausgebildete Meßzonen z: ni Ausblenden eines Teiles des 25Interferenzstreifenfeldes vorgesehen sind, mit der Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Bestim-Maßgabe, daß die Interferenzstreifen parallel zu mung und Steuerung der Lageänderung eines Objekeiner Diagonalen der Meßzo.ien ^erlaufen und tes gegenüber einem Bezugssystem unter Verwendie Längen zweier parallel oder konzentrisch zu- dung zweier einander benachbarter, mit dem bewegeinander verlaufender Kanten der Meßzonen ein 30 liehen Objekt bzw. mit dem Bezugssystem verbunde-Drittel des entlang diesen Kanten gemessenen ner Strichgitter oder magnetischer Gitter, deren Abstandes zwischen zwei benachbarten Inter- Gitterstriche bei ungleicher, einen Noniuseffekt erferenzstreifen betragen, und daß den Meßzonen gebender Gitterkonstante parallel zueinander verlaueine entsprechende Anzahl von fotoelektrischen fen oder bei gleicher Gitterkonstante einen kleinen oder Magnetfeld-Empfängern (A bis E. 31. 43. 35 Winkel miteinander bilden und deren Zusammen-44. 45. 59. 60) zugeordnet ist, deren Ausgänge je wirken ein periodisches System von Interferenzstreiübcr eine eine der Lage des Interferenzstreifen- fen erzeugt, deren Verschiebung von fotoelektrischen feldes bezüglich der jeweiligen Meßzone entspre- oder Magnetfeld-Empfängern registriert, als Maß füi chende Phasenverschiebung bewirkende Phasen- d'.s Geschwindigkeit bzw. für den Betrag der Relativschiebereinheit (15. 16) auf einen Übertrager (14) 40 bewegung der beiden Objekte dient. Eine solche Vorgeschaltet sind, dem ein Phasenmeßgerät (21) zur richtung kann beispielsweise zur Bestimmung dei Auswertung der eingegebenen Vektorsumme Relativbewegung eines Werkzeugträgerschlittens in nadigeschaltet ist. der Schlittenführung einer Werkzeugmaschine odei - 2. Vorrichtung nach Anspruch 1. dadurch ge- zum Einleiten einer Steuerbewegung in Abhängigkeil kennzeichnet, daß die einzelnen Meßzonen von- 45 von einer derartigen Relativbewegung verwendel einander getrennt und so angeordnet sind, daß sie werden.sich in ihrer Gesamtheit über mehrere Perioden Eine bekannte Vorrichtung dieser Art weist dreides Interferenzstreifenmusters erstrecken. Lichtquellen auf. die von verschiedenen Phasen einei
- 3. Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 und 2. mehrphasigen Stromquelle gespeist werden. Da? dadurch gekennzeichnet, daß zur Erzeugung von 50 Licht dieser Lichtquellen durchsetzt zwei Gitter, die gegenüber der Verschiehcricntung der Gitter ge- an gegeneinander verschiebbaren Körpern montier! neigten Intcrfcren/streifcn zwei unterschiedlich sjnc|, und trifft auf eine Reihe von Fotozellen. Merer geteilte, um einen kleinen Winkel gegeneinander Ausgangssignale zu einem mehrphasigen Au* mgs· geneigte Gitter (3, 4) vorgesehen sind. signal zusammengesetzt werden, welches gcgcuübci
- 4. Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 3, 55 der elektrischen Stromquelle um einen Winkel phadadurch gekennzeichnet, daß zur Erzielung einer senverschobeii ist, der proportional zur Verschiebung möglichst sinusförmigen Schwingungsform der der Interferenzstreifen und somit auch der beider Vöit den einzelnen Empfängern (A bis E, 31, 43, Körper gegeneinander ist. Die Phasenverschiebung 44, 45, 59, 60) abgegebenen amplitudenmoduliert kann hierbei dadurch in eine mechanische Bewegung ten Wecliselströfflsigtiüle eine etwa l»/o der Ge- 60 umgewandelt werden, daß der Stator einer mchrphasamtflächc jeder einzelnen Meßzone entsprechende sigen dynamoelektrischen Maschine mit der etektri-Fläche an auf der Diagonale in Streifenrichtung sehen Stromquelle und der Läufer dieser Maschine symmetrisch gelegenen Stellen der Meßzcmen ab- mit dem mehrphasigen Ausgangssignal der Fotozeller gedeckt ist. verbunden wird.
- 5. Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 4, 65 Eine indere bekannte Ausführungsform weist at üfirtl lrch gekenrizeiclmetj daß zur Messung von Stelle optischer magnetische Gitter auf, um magne-Winkelbewegungen zwoi ringförmige, koaxial an- tische Interferenzstreifen zu erzeugen, auf deren Vergeordnete Gitter mit radial verlaufenden bzw. Schiebung Luftspaite ansprechen, die von verschiede-
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB24873/63A GB1096022A (en) | 1963-06-21 | 1963-06-21 | Improvements in or relating to apparatus for detecting and indicating the extent of relative movement |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1698280A1 DE1698280A1 (de) | 1969-07-24 |
DE1698280B2 true DE1698280B2 (de) | 1972-04-06 |
Family
ID=10218609
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19641698280 Pending DE1698280B2 (de) | 1963-06-21 | 1964-06-22 | Vorrichtung zur bestimmung und steuerung der lageaenderung eines objektes gegenueber einem bezugssystem |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3351768A (de) |
DE (1) | DE1698280B2 (de) |
GB (1) | GB1096022A (de) |
NL (1) | NL143701B (de) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3529170A (en) * | 1965-08-06 | 1970-09-15 | Nat Res Dev | Apparatus for signalling the instantaneous position of an object movable along a predetermined path |
GB1169698A (en) * | 1965-12-02 | 1969-11-05 | Nat Res Dev | Improvements in or relating to Positional Displacement Transducer Arrangements |
US3428403A (en) * | 1966-01-04 | 1969-02-18 | Minolta Camera Kk | Photoelectric exposure meter having a segmented photoresistor for subjects of varying brightness |
US3546471A (en) * | 1966-12-30 | 1970-12-08 | Nasa | Flow angle sensor and read out system |
US3448275A (en) * | 1967-06-07 | 1969-06-03 | Ibm | Electro-optical scanner with a photocell and a blocking diode in series |
US3537793A (en) * | 1968-01-24 | 1970-11-03 | Hycon Mfg Co | Image motion detector |
US3578979A (en) * | 1968-04-23 | 1971-05-18 | Tajima Seisakusho Kk | Electrical signal generating apparatus having a scale grid |
US3566136A (en) * | 1968-11-20 | 1971-02-23 | Olympus Optical Co | System for detecting the sense of the direction of the variation in phase of a cyclically varying signal |
US3677647A (en) * | 1970-08-17 | 1972-07-18 | Sanders Associates Inc | Electro-optical target motion sensor |
US3738753A (en) * | 1970-09-21 | 1973-06-12 | Holograf Corp | Interferometer utilizing gratings to measure motion |
US3748486A (en) * | 1971-12-21 | 1973-07-24 | Secretary Trade Ind Brit | Position detection and control devices |
CH626169A5 (de) * | 1976-11-25 | 1981-10-30 | Leitz Ernst Gmbh | |
EP0470420B1 (de) * | 1990-08-09 | 1994-05-11 | hohner ELEKTROTECHNIK KG | Optoelektronische Abtasteinrichtung |
US20050190988A1 (en) * | 2004-03-01 | 2005-09-01 | Mass Institute Of Technology (Mit) | Passive positioning sensors |
US20070171526A1 (en) * | 2006-01-26 | 2007-07-26 | Mass Institute Of Technology (Mit) | Stereographic positioning systems and methods |
US8976368B2 (en) * | 2011-09-15 | 2015-03-10 | Intermec Ip Corp. | Optical grid enhancement for improved motor location |
EP2863185B1 (de) * | 2013-10-15 | 2017-08-16 | Siemens Aktiengesellschaft | Messwertgeber zum Erhalt einer Lageinformation |
US9652648B2 (en) | 2015-09-11 | 2017-05-16 | Hand Held Products, Inc. | Positioning an object with respect to a target location |
JP7118809B2 (ja) * | 2018-08-27 | 2022-08-16 | キヤノン株式会社 | 位置検出装置およびこれを備えた装置、位置検出方法およびコンピュータプログラム |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3153111A (en) * | 1958-06-26 | 1964-10-13 | Nat Res Dev | Measurement of displacements |
US3114046A (en) * | 1960-08-01 | 1963-12-10 | Gen Electric | Position measuring system |
US3096441A (en) * | 1960-10-14 | 1963-07-02 | Wenczler & Heidenhain | Electro-optical and electromagnetic determination of the position of scale divisions |
GB991907A (en) * | 1961-02-08 | 1965-05-12 | Cooke Conrad Reginald | Apparatus for detecting and indicating the extent of relative movement |
GB950652A (en) * | 1961-03-29 | 1964-02-26 | Ferranti Ltd | Improvements relating to measuring apparatus |
-
1963
- 1963-06-21 GB GB24873/63A patent/GB1096022A/en not_active Expired
-
1964
- 1964-06-15 US US375262A patent/US3351768A/en not_active Expired - Lifetime
- 1964-06-22 DE DE19641698280 patent/DE1698280B2/de active Pending
- 1964-06-22 NL NL646407099A patent/NL143701B/xx unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1096022A (en) | 1967-12-20 |
NL143701B (nl) | 1974-10-15 |
NL6407099A (de) | 1964-12-22 |
US3351768A (en) | 1967-11-07 |
DE1698280A1 (de) | 1969-07-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE1698280B2 (de) | Vorrichtung zur bestimmung und steuerung der lageaenderung eines objektes gegenueber einem bezugssystem | |
DE3727188C2 (de) | Optische Verschiebungserfassungseinrichtung | |
DE2238413A1 (de) | Elektrooptische anzeigevorrichtung fuer differentiale bewegungen und positionen | |
DE3416864A1 (de) | Photoelektrische messeinrichtung | |
DE3417176A1 (de) | Photoelektrische messeinrichtung | |
DE3905838A1 (de) | Optischer linearkodierer | |
EP0083689B1 (de) | Lichtelektrische inkrementale Längen- oder Winkelmesseinrichtung | |
DE3014646A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur spektralanalyse | |
DE3229846A1 (de) | Laengen- oder winkelmesseinrichtung | |
DE2102027A1 (de) | Verfahren zum optischen Abgleich | |
DE1921507B1 (de) | Einrichtung zur Erzeugung phasenverschobener elektrischer Signale | |
DE2210681C3 (de) | Einrichtung zur berührungslosen Messung | |
DE758889C (de) | Verfahren und Anordnung zur Frequenz- oder Phasenmodulation | |
DE3305921A1 (de) | Optische vorrichtung zur erzeugung einer sinusfoermigen wellenform mit einem niedrigen anteil an harmonischen | |
DE2923636A1 (de) | Messvorrichtung zur ermittlung der gegenseitigen kohaerenzfunktion eines laserstrahls | |
DE2653545B1 (de) | Fotoelektrische Auflicht-Wegmesseinrichtung | |
EP0222136A2 (de) | Nullimpulserzeuger zur Erzeugung eines Impulses bei Erreichen einer vorgegebenen Lage eines Trägers | |
DE3045156C2 (de) | Vorrichtung zur Spektralanalyse | |
DE1698280C (de) | Vorrichtung zur Bestimmung und Steuerung der Lageänderung eines Objektes gegenüber einem Bezugssystem | |
DE2401475C2 (de) | Verfahren und Einrichtung zur Messung von relativen Bewegungsgrößen | |
DE2160282A1 (de) | Automatische Einstellanordnung | |
DE1815445A1 (de) | Lenksystem | |
DE3906777A1 (de) | Verfahren zur messung eines drehwinkels und drehwinkelmesser | |
DE1447246C3 (de) | Spektrometer | |
DE2262065C3 (de) | Fotoelektrischer Schrittgeber |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
SH | Request for examination between 03.10.1968 and 22.04.1971 |