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TWI853054B - 用以測試一或多個受測裝置之自動化測試設備、用以自動化測試一或多個受測裝置之方法、及使用緩衝記憶體之電腦程式 - Google Patents

用以測試一或多個受測裝置之自動化測試設備、用以自動化測試一或多個受測裝置之方法、及使用緩衝記憶體之電腦程式 Download PDF

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TWI853054B
TWI853054B TW109122801A TW109122801A TWI853054B TW I853054 B TWI853054 B TW I853054B TW 109122801 A TW109122801 A TW 109122801A TW 109122801 A TW109122801 A TW 109122801A TW I853054 B TWI853054 B TW I853054B
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歐拉夫 珀佩
克勞斯 迪特 希利斯
艾倫 克瑞希
Original Assignee
日商愛德萬測試股份有限公司
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Publication date
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Abstract

本案提供一種用以測試一或多個受測裝置之自動化測試設備，其包含多個埠處理單元，該等埠處理單元至少包含一各別緩衝記憶體及用於與該等受測裝置中之至少一者連接的一各別高速輸入輸出HSIO介面。該等埠處理單元經組配以接收資料，將所接收資料儲存於該各別緩衝記憶體中且經由該各別HSIO介面將儲存於該各別緩衝記憶體中之該資料提供至所連接之受測裝置中之一或多者以用於測試該一或多個所連接之受測裝置。本案亦描述一種用以自動化測試一或多個受測裝置之方法及電腦程式。

Description

用以測試一或多個受測裝置之自動化測試設備、用以自動化測試一或多個受測裝置之方法、及使用緩衝記憶體之電腦程式
發明領域
根據本發明之實施例係關於一種用以測試一或多個受測裝置之自動化測試設備。
根據本發明之其他實施例係關於一種用以自動化測試一或多個受測裝置之方法。
根據本發明之其他實施例係關於各別電腦程式。
根據本發明之實施例係關於裝置之測試，亦即，經由高速輸入輸出介面HSIO自受測裝置DUT接收資料及經由HSIO將資料提供至DUT。
發明背景
在下文中，將提供對一些習知解決方案之介紹。
自動化測試設備(ATE)為使用自動化對被稱為受測裝置(DUT)之裝置執行測試以快速地執行量測且評估測試結果的任何設備。ATE可為簡單的電腦控制式數位萬用錶或含有幾十個複雜測試儀器(真實或模擬電子測試設備)之複雜系統，該等測試儀器能夠自動地測試及診斷複雜電子封裝部分中或晶圓測試中之故障，包括系統單晶片及積體電路。
結構測試使得能夠對個別結構(所謂的胞元)進行系統性測試涵蓋，從而在系統單晶片SOC內實施數位區塊之複雜功能。結構測試包括多種測試方法，包括但不限於記憶體內建自測試BIST、邏輯BIST (晶片上產生之型樣)及掃描測試(外部提供之型樣)。組合個別測試以測試區塊：例如，將掃描測試按階層應用於區塊(串列或並列)。
進階結構測試方法應用外部提供之測試資料(來自自動化測試設備ATE之刺激)與晶片上測試裝置DFT之組合，該晶片上測試裝置將外部提供之測試資料(所謂的種子)擴展至掃描鏈中。將測試結果壓緊及壓縮成提供至SOC之主要輸入輸出介面IO的少量測試資料。此資料被稱作所接收資料且藉由ATE與預期資料進行比較。所接收資料亦可由ATE遮罩。
有時亦被稱作測試設計或可測試性設計之DFT通常由向硬體產品設計或裝置(亦即，DUT)添加可測試性特徵之積體電路設計技術組成。所添加特徵使得更容易開發測試及將其應用於DUT。
下文將掃描測試稱為如上文所描述之結構測試的一般表示。
然而，隨著新的製造製程使SOC之複雜度增加，以成本有效之方式按比例調整掃描測試面臨挑戰。
一個挑戰為需要儲存於ATE上之測試資料的量遞增。另一挑戰為經由SOC IO饋送測試資料之測試時間遞增。又，晶片上複雜度之增加對將測試資料分配至受測區塊及產生所需時脈信號提出了挑戰。
此外，當SOC部署於最終應用中時，複雜SOC之品質及可靠性預期需要結構測試：例如，部署於汽車或通訊基礎架構系統中。
鑒於此情形，需要在藉由自動化測試設備測試受測裝置時提供待儲存資料、處理速度以及測試品質及可靠性之間的改善之折衷的概念。
發明概要
根據本發明之實施例為一種用以測試一或多個受測裝置之自動化測試設備。
該自動化測試設備包含多個埠處理單元。
該等埠處理單元至少包含一各別緩衝記憶體及用於與受測裝置中之至少一者連接的各別高速輸入輸出HSIO介面，且接收資料，將所接收資料儲存於各別緩衝記憶體中，且經由各別HSIO介面將儲存於各別緩衝記憶體中之資料提供至所連接之受測裝置中之一或多者以用於測試一或多個所連接之受測裝置。
該等埠處理單元接收之資料可為共用資料，例如在多個埠處理單元之間共用的資料，例如用以發送至DUT以用於測試之共用刺激資料。該資料可例如自共用記憶體集區或自另一埠處理單元接收，可能經由另一埠處理單元。
可將可共用之資料提供至DUT，例如用於基於來自共用記憶體集區之共用資料經由可為HSIO或另一介面之介面將測試資料或測試程式提供至受測裝置。
替代地，可將資料提供DUT，以用於基於來自共用記憶體集區之共用資料提供用於受測裝置之測試信號。
替代地，可將資料提供至DUT，以用於基於共用資料定義來自受測裝置之預期信號或預期結果。
以上情形之任何組合亦為可能的，此係因為提供至一或多個DUT之資料可為上文所詳述之選項的組合。
HSIO介面係指經設計以用於高速通訊之介面。實例之非詳盡清單為USB、PCIe、SATA、十億位元LAN。受測裝置DUT可例如為系統單晶片SOC。
此實施例係基於測試受測裝置需要ATE與DUT之間的在二個方向上之資料傳輸的想法。此等傳輸中之一些係經由HSIO傳輸。
在自動化測試設備之較佳實施例中，各別緩衝記憶體可作為本端記憶體由各別高速輸入輸出HSIO介面存取。
已發現，埠處理單元之各別緩衝記憶體可作為本端記憶體由各別高速輸入輸出HSIO介面存取為有益的，藉此避免記憶體地址之不必要轉譯。一個選項為：經由HSIO定址記憶體內容係經由直接記憶體存取DMA進行。各別緩衝記憶體因此作為本端記憶體耦接至HSIO。
在自動化測試設備之較佳實施例中，ATE進一步包含資料存放區，該資料存放區包含共用記憶體集區，且該等埠處理單元進一步自共用記憶體集區接收共用資料。
已發現，如上文所指示，資料可在埠處理單元之間共用為有益的。為了共用資料，ATE具有共用記憶體集區以儲存共用資料，例如在多個埠處理單元之間共用的資料，例如用於測試DUT之共用刺激資料，且埠處理單元自共用記憶體集區接收共用資料，例如以用自共用記憶體集區接收到之資料填充緩衝器。
在自動化測試設備之較佳實施例中，該資料存放區進一步將共用資料串流傳輸至埠處理單元中之一或多者及/或記憶體集線器。
已發現，ATE之架構可包含具有專用記憶體之埠處理單元，但記憶體集線器亦可用以增強總效率。
在自動化測試設備之較佳實施例中，該資料存放區進一步將每裝置結果資料儲存至多個記憶體區域中。
已發現，ATE可在每裝置基礎上儲存結果或結果串流，該等結果或結果串流可例如由埠處理單元提供至不同記憶體區域中。此情形可為有益的，此係因為每DUT結果資料之資料速率可能彼此不同，例如比另一結果或結果串流之資料速率小例如至少十倍。又，儲存結果所需之資料量及頻寬顯著小於共用刺激資料所需之資料量及頻寬。
在自動化測試設備之較佳實施例中，埠處理單元PPU中之一或多者進一步將來自共用記憶體集區之共用資料轉遞至至少一個其他埠處理單元。
已發現，PPU可在彼此之間傳輸資料為有益的。因此，自共用記憶體集區接收到共用資料之一個PPU可將資料轉遞至另一PPU，使得可減輕共用記憶體集區之負擔。
在自動化測試設備之較佳實施例中，埠處理單元中之一或多者經組配以自至少一個其他埠處理單元接收共用資料。
已發現，PPU可在彼此之間傳輸資料為有益的。因此，一個PPU可自另一PPU接收共用資料，使得可減輕共用記憶體集區之負擔，該另一PPU自共用記憶體集區接收共用資料。
在自動化測試設備之較佳實施例中，多個埠處理單元中之一或多者形成菊鏈以相繼地轉遞來自共用記憶體集區之共用資料。
已發現，可藉由在PPU間形成菊鏈來實現共用資料至PPU之此轉遞及自PPU之接收的一種方式。
在自動化測試設備之較佳實施例中，多個埠處理單元中之一或多者經組配以自記憶體集線器接收共用資料。
已發現，替代地，PPU亦可自記憶體集線器接收共用資料。若記憶體集線器以共用資料伺服多於一個PPU，則其亦可被視為中央記憶體集線器。
在自動化測試設備之較佳實施例中，埠處理單元包含一緩衝記憶體及/或一或多個快取記憶體，以便允許共用資料之接收與共用資料用於測試一或多個所連接之受測裝置的使用之間存在時間移位。
已發現，例如先進先出FIFO記憶體之緩衝記憶體可有助於減少延遲且提供更多所需資料以用於加速處理。同樣地，快取記憶體可用以減少處理中之停滯，且使更多資料幾乎同時可供PPU使用。
在自動化測試設備之較佳實施例中，埠處理單元中之至少一者進一步經由介面將基於共用資料之測試資訊提供至受測裝置，且取決於測試資訊至受測裝置之傳送時序而界定受測裝置之特徵。
已發現，PPU可經由例如HSIO之介面將基於共用資料之例如測試程式或測試資料的測試資訊提供至DUT。又，PPU可接著取決於測試資訊至受測裝置之傳送時序而界定受測裝置之特徵，例如判定DUT類型及/或識別DUT。為此，測試資訊之傳送時序由受測裝置判定或受其影響，例如此係因為受測裝置例如作為主控裝置控制介面或因為受測裝置可作為受控裝置減慢或中斷傳送。
在自動化測試設備之較佳實施例中，埠處理單元中之至少一者經組配以在測試資訊至受測裝置之傳送比共用資料由各別埠處理單元之接收滯後多於預定時間的情況下將受測裝置特徵界定為失敗。
已發現，為了改善ATE之總效能，若至或自DUT之資料傳輸超過某一時間臨限值，亦即，若ATE與DUT之通訊無法在預定時間範圍內執行或完成，則其PPU可將DUT特徵界定或識別為失敗，亦即，判定DUT發生故障。預定時間範圍可例如為使用者指定的、裝置特定的或測試特定的。
在自動化測試設備之較佳實施例中，埠處理單元進一步獲得每裝置結果資料且將每裝置結果資料轉遞至資料存放區。
已發現，若PPU在每裝置(亦即，每DUT)基礎上獲得結果資料，例如結果串流或失敗資料，且將例如每DUT結果串流或每DUT失敗資料之每裝置結果資料轉遞至資料存放區，則可改善總體ATE通訊。
在自動化測試設備之較佳實施例中，埠處理單元進一步使用基於共用資料之預期資料獲得每裝置結果資料。
已發現，若PPU使用預期資料獲得每裝置結果資料，例如每DUT結果串流或每DUT失敗資料，則可改善總體ATE資料處理，其中預期資料基於共用資料。
在自動化測試設備之較佳實施例中，ATE包含用於以星形架構耦接多個埠處理單元與資料存放區之記憶體集線器。
已發現，星形架構為用於實施記憶體集線器之可行選項，該記憶體集線器充當用於PPU之資料存放區或共用記憶體集區。
在自動化測試設備之較佳實施例中，記憶體集線器包含一緩衝記憶體及/或一或多個快取記憶體，以允許共用資料至不同埠處理單元之非同時轉遞。
已發現，例如先進先出FIFO記憶體之緩衝記憶體可有助於減少延遲且提供更多所需資料以用於加速處理。同樣地，快取記憶體可用以減少處理中之停滯，且使更多資料幾乎同時可供記憶體集線器使用。藉此，藉由將更多共用資料保存於緩衝記憶體或快取記憶體中，可在不同時間將相關資料轉遞至不同PPU，而無需對共用記憶體集區或資料存放區進行多次讀取存取。
在自動化測試設備之較佳實施例中，資料存放區進一步包含用於提供至埠處理單元之共用資料及用於每裝置結果資料的分開介面。
已發現，藉由將分開介面用於將共用資料提供至PPU及用於提供每裝置結果，可改善ATE之總效能。
在自動化測試設備之較佳實施例中，資料存放區包含記憶體介面，該記憶體介面用以存取每裝置結果資料而不干擾共用資料至埠處理單元之供應。
已發現，資料存放區具有記憶體介面為有益的，該記憶體介面用以存取(例如，讀出)每裝置結果資料例如以用於後處理或上傳，而不干擾例如藉由資料存放區經由HSIO或其他介面將共用資料提供至埠處理單元。
在自動化測試設備之較佳實施例中，埠處理單元進一步包含串流錯誤偵測區塊，該串流錯誤偵測區塊用於偵測所接收資料中之命令錯誤及比較所接收資料與預載入之預期資料，該預期資料較佳包含遮罩資料。
已發現，埠處理單元包含用於偵測命令錯誤之串流錯誤偵測區塊為有益的。測試受測裝置產生可與預期資料進行比較之結果資料，該預期資料指示適當地運作之受測裝置將傳回何內容作為結果。
已發現，為了驗證受測裝置DUT之正確運作，可在ATE處準備及預載入所謂的預期資料。可接著將所接收資料與預期資料進行比較且因此可判定裝置之正確運作。所接收資料可指來自掃描鏈之資料、命令及/或酬載資料。
藉由使用遮罩資料，亦即，定義所接收資料之哪些位元應含有哪些內容的資料，可使得ATE能夠更智慧地處理資料。作為實例，預期資料可含有遮罩資料，該遮罩資料指示對於某一測試程序，所接收資料將含有三個資料區塊：指示相關測試之命令、由DUT產生之結果資料以及種子資料，該種子資料由DUT使用以產生結果。由於ATE向DUT供應種子，因此取決於測試，儲存種子可能並非必要的。又，藉由選擇性地儲存結果資料，可節省額外記憶體空間。
在自動化測試設備之較佳實施例中，ATE可進一步將預期資料預載入至與一或多個所連接之裝置相關聯的每裝置先進先出FIFO記憶體或所管理快取記憶體中。
已發現，ATE可因此將預期資料預載入至用於裝置之先進先出FIFO記憶體中，且藉此使預期資料準備好與所接收資料進行較快比較。以下情形為特別有益的：所接收資料預期為呈某一次序，使得首先預載入之先進資料亦將首先進行比較且因此亦可首先自FIFO捨棄(先出)。對於此使用，可能僅預載入預期資料之一部分(預期資料之所謂的窗口)。
替代地，可與多於一個DUT相關聯之所管理快取記憶體可用以預載入預期資料或預期資料之窗口，且接著將其與來自多於一個DUT之所接收資料進行比較。藉此，對於所有裝置，不必重複地載入或預載入預期資料。
又，FIFO或所管理快取記憶體可追蹤使用，例如與來自相關聯之所連接DUT的所接收資料進行比較，且捨棄已使用(亦即，已比較)或出於另一原因而不再需要留存的資料。
在自動化測試設備之較佳實施例中，回應於基於資料使用之追蹤而發現某一受測裝置不遵循資料串流，ATE將某一受測裝置辨識為失敗。
已發現，回應於發現某一受測裝置慢速地提供資料使得與某一受測裝置相關聯之所管理快取記憶體中的預期資料比與其他受測裝置相關聯之對應預期資料更長時間地保持未使用，可將DUT辨識為失敗。
若在所管理快取記憶體之狀況下，僅在記憶體中為若干DUT中之一者維持對應的所留存預期資料，則效率可受到不利影響，且藉由將留存了特定預期資料之DUT視為失敗，可自所管理快取記憶體捨棄預期資料且可改善總效率。又，若預期所接收資料遵循某一資料串流或型樣且DUT不以彼資料串流或型樣遞送所接收資料，則其可被視為失敗。
在自動化測試設備之較佳實施例中，ATE將資料以壓縮表示儲存於記憶體中。
已發現，經壓縮資料佔用較少記憶體空間。ATE通常可儲存完整資料集之不同部分，例如僅儲存與預期資料有偏差之所接收資料及/或接收資料不同之預期資料或描述所接收資料與預期資料之間的偏差的資料。可壓縮儲存於ATE中及/或由ATE儲存之資料中的一些或全部以佔用較少記憶體空間。對於待壓縮儲存之所有資料，壓縮本身可為相同的資料壓縮方法，但取決於某些參數，對於不同資料命令亦可為不同的。
此類參數之實例可例如為與資料有關之測試的類型。此參數之另一實例為受測裝置之類型及/或ATE之類型。其他參數可與所涉及裝置直接有關，例如溫度、使用統計、記憶體狀態、可用記憶體、可用CPU及其類似者。其他參數可指命令或酬載(甚至該命令之後是否完全為酬載)、當前時間、傳輸時間、接收時間、傳輸持續時間等。
用於資料之部分或全部的壓縮可為無損或有損壓縮。
可使用之無損壓縮類型的實例包括熵類型，例如算術、非對稱數字系統、哥倫布(Golomb)、霍夫曼(Huffman)、區間(Range)、香農(Shannon)、香農-法諾(Shannon-Fano)、香農-法諾-埃利斯(Shannon-Fano-Elias)、湯斯頓(Tunstall)、一元、通用、例如指數哥倫布(Exp-Golomb)、斐波那契(Fibonacci)、伽瑪(Gamma)、萊文斯坦(Levenshtein)；辭典類型，例如位元組對編碼、藍波-立夫(Lempel-Ziv)；或其他類型，例如BWT、CTW、增量、DMC、DPCM、LDCT、MTF、PAQ、PPM、運行長度編碼(RLE，例如用於失敗位元)。
可使用之有損壓縮類型的實例包括變換類型，例如離散餘弦變換、DST、FFT、小波；預測類型，例如DPCM、LPC、運動、心理聲學。
亦可使用壓縮方法之組合。
在自動化測試設備之較佳實施例中，ATE可動態地調整壓縮以匹配預期錯誤分佈。
已發現，所接收資料含有暫存器值為高效的，一旦暫存器值錯誤，此便導致短的錯誤叢發。此可在錯誤叢發開始且錯誤字擴展至一個暫存器值時藉由具有位元組位移之標頭有效地儲存。
在自動化測試設備之較佳實施例中，ATE可保留所接收資料串流中在接近範圍內之可能失敗的所接收資料。
已發現，在例如經由串列USB或其他HSIO技術之高速通訊中，相關位元可例如藉由DFT在DUT中緩衝，以在小的串列位元區內將其串流輸出。在HSIO為USB之狀況下，此可藉由USB-DFT實現。舉例而言，可緩衝經由若干掃描鏈接收之MISR的值。此處，MISR為多輸入簽章暫存器，亦被稱作多輸入移位暫存器，該暫存器為結構基本上為線性回饋移位暫存器LFSR之依序電子電路，該線性回饋移位暫存器已經修改使得互斥或XOR閘驅動LFSR之正反器中之一或多者的輸入。
若此暫存器失敗，則將翻轉許多位元且因此失敗位元之叢發可藉由其在整個接收串流內之開頭的單個位移值來儲存(參見上文)。類似地，DFT可緩衝及叢發輸出來自個別掃描鏈之資料。又，DFT可緩衝來自若干掃描鏈之單個區塊的結果且將彼等結果與來自另一區塊之結果分開地叢發輸出。
在自動化測試設備之較佳實施例中，串流錯誤偵測區塊進一步儲存與失敗分析相關之統計資訊。
已發現，儲存統計資訊有益於評估可能發生的錯誤。此統計資訊之實例為可能按如上文所詳述之類型對失敗之總數進行計數及/或儲存第一失敗循環之位元組位移。
實施例包含一種用以自動化測試一或多個受測裝置之方法，該方法包含接收資料；儲存所接收資料；及將所儲存資料提供至受測裝置中之一或多者。
此方法係基於與上述自動化測試設備相同之考慮因素。然而，應注意，該方法可藉由本文中亦關於自動化測試設備所描述之特徵、功能性及細節中之任一者補充。此外，該方法可藉由自動化測試設備之特徵、功能性及細節個別地及以組合方式補充。
根據本發明之實施例建立一種電腦程式，該電腦程式用於在電腦程式運行於電腦上時執行本文中所描述之方法。
較佳實施例之詳細說明
圖1展示根據本發明之實施例的自動化測試設備100之示意性方塊圖。該自動化測試設備ATE用於測試一或多個受測裝置DUT 130。自動化測試設備100包含多個埠處理單元PPU 110，該等埠處理單元包含緩衝記憶體140及用於與受測裝置130連接之高速輸入輸出HSIO介面120。
DUT係例如藉由以各種方式向其提供測試資料及自其接收測試結果來測試。PPU可自ATE內之實體或自ATE外部接收此測試資料。PPU接著可將所接收資料儲存於緩衝記憶體中且經由HSIO將資料提供至DUT。
測試受測裝置需要ATE與DUT之間的在二個方向上之資料傳輸。此等傳輸中之一些係經由HSIO傳輸。
埠處理單元接收之資料可為共用資料。此例如可表示同時測試類似或相同DUT之設置。然而，亦可對不同DUT執行仍可相同之同時測試。PPU可接收刺激資料，該刺激資料被提供至DUT以用於測試，且若對於所有PPU，該資料相同，則該資料可被視為共用資料。此共用資料因此對於PPU相同，亦即，該資料在埠處理單元之間共用。如上文所陳述，此共用資料之實例為發送至DUT以用於測試之共用刺激資料。
該資料可例如自共用記憶體集區或自另一埠處理單元接收，可能經由另一埠處理單元，如下文所詳述。
該資料可向DUT提供測試資料、測試信號或測試程式，且該資料可為PPU接收之資料或其經處理版本，亦即，提供至DUT之資料為基於可共用之資料的資料。替代地，PPU接收之資料亦可表示DUT在測試之後傳回至PPU的來自受測裝置之預期信號或預期結果。此資料亦可為預期資料或需要PPU中之處理，使得預期資料為基於由PPU接收之資料(其亦可為共用資料)的資料。
以上情形之任何組合亦為可能的，此係因為提供至一或多個DUT之資料可為上文所詳述之選項的組合。
緩衝記憶體140可為僅可自PPU 110存取的，但亦可為可由HSIO 120直接存取的。耦接至PPU及/或HSIO之緩衝記憶體可(以任一群集)充當本端記憶體，此係因為其可如此進行定址。
藉由允許將緩衝記憶體作為本端記憶體進行定址，可避免記憶體地址之不必要轉譯。自PPU及/或HSIO定址記憶體內容之一個選項為經由直接記憶體存取DMA。
圖2展示根據本發明之實施例的自動化測試設備200之示意性方塊圖，該自動化測試設備類似於ATE 100。該自動化測試設備ATE用於測試一或多個受測裝置DUT 230。自動化測試設備200包含多個埠處理單元PPU 210，該等埠處理單元包含緩衝記憶體240及用於與受測裝置230連接之高速輸入輸出HSIO介面220。圖2進一步展示資料存放區250，作為例示性實施方案，該資料存放區在圖2中表示為共用集區記憶體。
資料存放區250連接至PPU 210，該等PPU亦以菊鏈之形式彼此連接。僅作為實例，在圖2中，PPU 210藉由一個HSIO 220連接至DUT 230，該HSIO專用於此連接，而在圖1中，各HSIO 120可保持與DUT 130之多個連接。根據描述，二種變體皆可與其他特徵進行組合。
資料存放區250可為或包含共用記憶體集區。PPU 210可接著直接自資料存放區250接收資料。資料存放區250可為ATE 200之內部元件，但亦可為ATE 200外部之相關聯元件。PPU分別自資料存放區250及/或共用記憶體集區接收可共用之資料。
該資料可在埠處理單元之間共用，此意謂在多個埠處理單元之間共用的資料可由PPU自資料存放區250接收。共用資料可例如為用於測試DUT 230之共用刺激資料，且埠處理單元210自共用記憶體集區250接收共用資料。例示性使用為例如用自共用記憶體集區250接收到之資料填充緩衝記憶體240。
資料存放區250可將共用資料串流傳輸至埠處理單元210中之一或多者，且資料存放區250可將例如結果或結果串流之每裝置(亦即，每DUT)結果資料儲存至多個記憶體區域中。特定而言，此等記憶體區域可在功能上及/或技術上不同。藉此，PPU將結果提供至資料存放區，且由於每DUT結果資料之資料速率可能彼此不同，例如比另一結果或結果串流之資料速率小例如至少十倍，因此取決於結果之特定特性而將結果儲存至不同記憶體區域中可為有益的。又，儲存結果所需之區域量及頻寬顯著小於共用刺激資料所需之資料量及頻寬，因此此等結果亦可儲存至不同記憶體區域中。
埠處理單元PPU 210可進一步將來自共用記憶體集區之共用資料轉遞至至少一個其他埠處理單元。在PPU彼此連接或至少與一個其他PPU連接之實施例中，PPU可將資料轉遞至其他PPU或至少一個其他PPU。藉此，減少自PPU對資料存放區250之記憶體存取，亦即，讀取及寫入。
同樣地，PPU 210可自共用記憶體集區自至少一個其他埠處理單元接收共用資料。在PPU彼此連接或至少與一個其他PPU連接之實施例中，PPU可自其他PPU或至少一個其他PPU接收資料。藉此，亦減少自PPU對資料存放區250之記憶體存，亦即，讀取及寫入。
PPU之上文所詳述連接的特定形式為菊鏈，其中各PPU連接至二個其他PPU使得達成PPU之連串，且第一PPU連接至資料存放區250。
其他拓樸亦為可能的，例如網狀、星形、完全連接、線形、樹型、匯流排。第一及最後PPU亦可彼此連接，使得形成環，但其亦可能彼此不連接使得形成PPU之連串(真正的菊鏈)。各PPU可與資料存放區250連接。
圖3展示根據本發明之實施例的自動化測試設備300之示意性方塊圖，該自動化測試設備類似於ATE 100及200。該自動化測試設備ATE用於測試一或多個受測裝置DUT 330。自動化測試設備300包含多個埠處理單元PPU 310，該等埠處理單元包含緩衝記憶體340及用於與受測裝置330連接之高速輸入輸出HSIO介面320。圖3進一步展示資料存放區350及記憶體集線器360，作為例示性實施方案，該資料存放區在圖3中表示為共用集區記憶體。
根據此實施例，資料存放區350可將共用資料串流傳輸至記憶體集線器360，自該記憶體集線器，共用資料可被傳輸至PPU 310。記憶體集線器360可增強ATE 300之總效率。
PPU 310可自記憶體集線器360接收共用資料。若記憶體集線器360用共用資料伺服多於一個PPU 310，則其亦可被視為中央記憶體集線器。
其他拓樸亦為可能的，實例可見於圖2之描述中。
對於如結合圖2及圖3所描述之二個變體以及對於圖1之佈局，PPU 210、310可包含緩衝記憶體340及/或一或多個快取記憶體(未圖示)，以便允許在接收共用資料與將共用資料用於測試一或多個所連接之受測裝置330之間存在時間移位。
先進先出FIFO記憶體340有助於減少延遲且提供更多所需資料以用於加速資料處理。同樣地，快取記憶體可用以減少處理中之停滯，且使更多資料幾乎同時可供PPU使用。
PPU 210、310中之各者經由介面220、320將基於共用資料之測試資訊提供至一或多個受測裝置230、330。取決於傳送此測試資訊所需的時間，PPU可界定受測裝置之特徵。此特徵界定可為個別DUT之識別、DUT之某一類型的判定，或導致判定用於DUT之參數，例如快速/慢速裝置、適當工作/損壞之DUT，高速是/否可用，或與裝置及/或測試有關之類似或其他參數。
PPU 210、310可經由例如HSIO 220、320之介面將基於共用資料之例如測試程式或測試資料的測試資訊提供至DUT 230、330。又，PPU 210、310可接著取決於測試資訊至受測裝置230、330之傳送時序而界定受測裝置之特徵，例如判定DUT類型及/或識別DUT。為此，測試資訊之傳送時序由受測裝置判定或受其影響，例如此係因為受測裝置例如作為主控裝置控制介面或因為受測裝置可作為受控裝置減慢或中斷傳送。
若測試資訊至受測裝置230、330之傳送比共用資料由各別埠處理單元210、310之接收滯後多於預定時間，則PPU 210、310可將受測裝置特徵界定為失敗。
為了改善ATE 200、300之總效能，若至或自DUT 230、330之資料傳輸超過某一時間臨限值，亦即，若ATE與DUT之通訊無法在預定時間範圍內執行或完成，則PPU 210、310可將DUT特徵界定或識別為失敗，亦即，判定DUT發生故障。預定時間範圍可例如為使用者指定的、裝置特定的或測試特定的。
圖4、圖5、圖6及圖7展示根據本發明之實施例的自動化測試設備400、500之示意性方塊圖，該自動化測試設備類似於如描述於圖1至圖3中之ATE 100、200、300，該方塊圖包括資料流。該自動化測試設備ATE用於測試一或多個受測裝置DUT 130、230、330、430、530。
圖4及圖5中描繪例如刺激資料之測試資訊的例示性資料流。在圖4中，資料係自資料存放區450傳輸至PPU 410中之一者，如上文所描述，自該者，資料被傳輸至另一PPU 410，且自該另一者被傳輸至另一PPU 410。在PPU中，資料儲存於本端緩衝記憶體440中，且經由HSIO 420自本端緩衝記憶體傳輸至所連接之DUT 430。
此例示性資料流僅針對例示性拓樸展示。如上文所詳述，亦有可能所有PPU 410直接自資料存放區450接收資料，或有可能PPU 410中之一些直接自資料存放區450接收資料且其他PPU 410自另一PPU 410接收資料。
在圖5中，資料係自資料存放區550傳輸至記憶體集線器560，自該記憶體集線器，資料被傳輸至PPU 510。在PPU中，資料儲存於本端緩衝記憶體540中，且經由HSIO 520自本端緩衝記憶體傳輸至所連接之DUT 530。
在測試之後，PPU 210、310、410、510可自DUT 230、330、430、530獲得每裝置結果資料，且將每裝置結果資料轉遞至資料存放區250、450。任選地，傳送為至記憶體集線器360、560之傳送，自該記憶體集線器，該資料被傳輸至資料存放區350、550。
若PPU 210、310、410、510在每裝置(亦即，每DUT)基礎上獲得結果資料，例如結果串流或失敗資料，且將例如每DUT結果串流或每DUT失敗資料之每裝置結果資料轉遞至資料存放區250、350、450、550，則可改善總體ATE通訊。
PPU 210、310、410、510可使用基於共用資料之預期資料獲得每裝置結果資料。此預期資料表示預期DUT回應資料。預期資料儲存於資料存放區250、350、450、550、650中，且如圖6中例示性地展示，被傳輸至PPU 210、310、410、510、610，在PPU處，預期資料可在本端儲存於本端緩衝記憶體240、240、440、540、640中。在圖6中，僅一個PPU接收該資料且將其傳遞至另一PPU上，自該另一PPU，資料再次被傳輸至另一PPU。如上文所描述，其他資料流(亦即，所有或一些PPU自資料存放區250、350、450、550、650接收資料)及拓樸(亦即，資料被傳輸至記憶體集線器360、560)亦為可能的。
自本端緩衝記憶體240、240、440、540、640，視需要自PPU 210、310、410、510、610擷取資料以便處理預期資料。舉例而言，以便將其與DUT 230、330、430、530、630之實際回應資料進行比較。
在圖7中，展示PPU 210、310、410、510、610、710如何使用預期資料獲得每裝置結果資料，例如每DUT結果串流或每DUT失敗資料，其中該預期資料係基於共用資料。
特定而言，DUT 730c、730d、730e及730f經由各別HSIO介面720c、720d、720e及720f將回應資料傳回至對應PPU 710b及710c。PPU 710b及710c自本端緩衝記憶體740b及740c擷取相關預期資料，相關預期資料早先已儲存於本端緩衝記憶體處，如結合圖6所描述。
PPU接著比較預期資料與接收資料，且可能計算失敗資料，該失敗資料可接著儲存於資料存放區750中。再次，圖7之資料流僅為例示性的。記憶體集線器之使用以及PPU之間的傳輸為可能的，如上文所論述。
ATE 100、200、300、400、500、600、700可包含用於以星形架構耦接多個埠處理單元與資料存放區之記憶體集線器。記憶體集線器亦可具有皆未展示之一緩衝記憶體及/或一或多個快取記憶體，以允許共用資料至不同埠處理單元之非同時轉遞。
先進先出FIFO記憶體可有助於減少延遲且提供更多所需資料以用於加速處理。同樣地，快取記憶體可用以減少處理中之停滯，且使更多資料幾乎同時可供記憶體集線器使用。藉此，藉由將更多共用資料保存於緩衝記憶體或快取記憶體中，可在不同時間將相關資料轉遞至不同PPU，而無需對共用記憶體集區或資料存放區進行多次讀取存取。
資料存放區250、350、450、550、650、750可進一步具有用於提供至埠處理單元之共用資料及用於每裝置結果資料的分開介面，藉此亦可改善ATE之總效能。
資料存放區250、350、450、550、650、750亦可包含記憶體介面，該記憶體介面用以存取(例如，讀出)每裝置結果資料例如以用於後處理或上傳，而不干擾例如藉由資料存放區經由HSIO或其他介面將共用資料提供至埠處理單元。
PPU 110、210、310、410、510、610、710可進一步包含串流錯誤偵測區塊(未圖示)，該串流錯誤偵測區塊用於偵測所接收資料中之命令錯誤及比較所接收資料與預載入之預期資料，該預期資料較佳包含遮罩資料。測試受測裝置產生可與預期資料進行比較之結果資料，該預期資料指示適當地運作之受測裝置將傳回何內容作為結果。為了驗證受測裝置DUT之正確運作，可在ATE處準備及預載入所謂的預期資料。可接著將所接收資料與預期資料進行比較且因此可判定裝置之正確運作。所接收資料可指來自掃描鏈之資料、命令及/或酬載資料。藉由使用遮罩資料，亦即，定義所接收資料之哪些位元應含有哪些內容的資料，可使得ATE能夠更智慧地處理資料。作為實例，預期資料可含有遮罩資料，該遮罩資料指示對於某一測試程序，所接收資料將含有三個資料區塊：指示相關測試之命令、由DUT產生之結果資料以及種子資料，該種子資料由DUT使用以產生結果。由於ATE向DUT供應種子，因此取決於測試，儲存種子可能並非必要的。又，藉由選擇性地儲存結果資料，可節省額外記憶體空間。
ATE可進一步將預期資料預載入至與一或多個所連接裝置相關聯之每裝置先進先出FIFO記憶體或所管理快取記憶體中，藉此可準備好預期資料以用於與所接收資料進行較快比較。以下情形為特別有益的：所接收資料預期為呈某一次序，使得首先預載入之先進資料亦將首先進行比較且因此亦可首先自FIFO捨棄(先出)。對於此使用，可能僅預載入預期資料之一部分(預期資料之所謂的窗口)。
替代地，可與多於一個DUT相關聯之所管理快取記憶體可用以預載入預期資料或預期資料之窗口，且接著將其與來自多於一個DUT之所接收資料進行比較。藉此，對於所有裝置，不必重複地載入或預載入預期資料。
又，FIFO或所管理快取記憶體可追蹤使用，例如與來自相關聯之所連接DUT的所接收資料進行比較，且捨棄已使用(亦即，已比較)或出於另一原因而不再需要留存的資料。
回應於基於資料使用之追蹤而發現某一受測裝置不遵循資料串流，ATE可將某一受測裝置辨識為失敗，亦即，若某一受測裝置慢速地提供資料使得與某一受測裝置相關聯之所管理快取記憶體中的預期資料比與其他受測裝置相關聯之對應預期資料更長時間地保持未使用，則可將DUT辨識為失敗。若在所管理快取記憶體之狀況下，僅在記憶體中為若干DUT中之一者維持對應的所留存預期資料，則效率可受到不利影響，且藉由將留存了特定預期資料之DUT視為失敗，可自所管理快取記憶體捨棄預期資料且可改善總效率。又，若預期所接收資料遵循某一資料串流或型樣且DUT不以彼資料串流或型樣遞送所接收資料，則其可被視為失敗。
串流錯誤偵測區塊可進一步儲存與失敗分析相關之統計資訊。
如發明內容中所詳述，資料亦可以壓縮表示來儲存。當然，此係指所有記憶體及所有資料。且可動態地調整壓縮。舉例而言，以便匹配預期錯誤分佈。
ATE亦可保留所接收資料串流中在接近範圍內之可能失敗的所接收資料，如上文所論述。
應注意，ATE 100、200、300、400、500、600、700可任選地由本文中所描述之特徵、功能性及細節中之任一者個別地及以組合方式補充。
本發明亦係關於一種用以自動化測試一或多個受測裝置之方法，該方法包含接收資料，儲存所接收資料及將所儲存資料提供至受測裝置中之一或多者。
此方法係基於與上述自動化測試設備相同之考慮因素。應注意，該方法可藉由本文中亦關於自動化測試設備所描述之特徵、功能性及細節中之任一者補充。此外，該方法可藉由自動化測試設備之特徵、功能性及細節個別地及以組合方式補充。
根據本發明之實施例建立一種電腦程式，該電腦程式用於在電腦程式運行於電腦上時執行本文中所描述之方法。 細節及實施例
在下文中，將論述本發明所基於的一些考慮因素且將描述若干解決方案。特定而言，將揭露數個細節，該等細節可任選地被引入至本文中揭露之實施例中之任一者中。 動機
結構測試使得能夠對個別結構(「胞元」)進行系統性測試涵蓋，從而在系統單晶片[SOC]內實施數位區塊之複雜功能。結構測試包括多種測試方法，包括但不限於記憶體BIST、邏輯BIST (晶片上產生之型樣)及掃描測試(外部提供之型樣)。組合個別測試以測試區塊：例如，將掃描測試按階層應用於區塊(串列或並列)。
進階結構測試方法應用外部提供之測試資料(來自自動化測試設備[ATE]之刺激)與晶片上測試裝置[DFT]之組合，該晶片上測試裝置將外部提供之測試資料(種子)擴展至掃描鏈中。將測試結果壓緊及壓縮成提供至SOC之主要IO的少量測試資料(接收資料)，ATE將該測試資料與預期資料進行比較(包括遮罩接收資料之能力)。
在不限制所提議解決方案之應用的情況下，下文將掃描測試稱為結構測試之一般表示，如上文所描述。
然而，隨著新的製造製程使SOC之複雜度增加，以成本有效之方式按比例調整掃描測試面臨挑戰。 ●    需要儲存於ATE上之測試資料的量遞增 ●    經由SOC IO饋送測試資料之測試時間遞增 ●    晶片上複雜度之增加對將測試資料分配至受測區塊及產生所需時脈信號提出了挑戰。
此外，當SOC部署於最終應用中時，複雜SOC之品質及可靠性預期需要結構測試：例如，部署於汽車或通訊基礎架構系統中。
此等挑戰之若干可能的解決方案包括： ●    經由功能性高速I/O介面進行測試資料遞送：例如經由USB或PCIe。此導致以下情況： o            使得能夠增加資料速率 o            使得能夠在最終應用中進行結構測試 o            需要ATE及受測裝置[DUT]上之時序的解耦(如對於HSIO資料通訊為典型的)。任何準確時序同步將需要DUT與ATE或其他輔助設備(例如，示波器)之間的時序敏感信號。 ●      進階晶片上測試資料處理、測試排程及與受測區塊之測試資料通訊。 o            所提議之典型元件： ATE與HSIO-DFT之間的通訊協定：例如1149.10 使用晶片上網路(NOC)以藉由管理測試應用程式之本端DFT靈活地投送測試資料 針對若干區塊串列或並列地進行靈活測試排程。 o            此導致以下情況： 需要複雜的互動以有效地排程至及自DUT之測試資料傳送 使得能夠經由測試埠傳送較高階通訊(語義)，從而提供新的控制層級：例如 ●      DFT提供預處理結果，其簡化決策制定及良率學習(yield learning)。 ●      DFT控制ATE功率 態樣1：用於多站台資料共用、資料串流、資料處理之解決方案
問題：遞增之測試資料量要求跨越並列測試之多個站台共用測試資料： ●      各種類型之資料可共用且需要自共用資料儲存器串流傳輸至DUT介面(「埠」)或每站台處理單元。可共用之資料包括但不限於以下各者： o            驅動資料(刺激)， o            預期資料(包括與預期資料一起儲存或儲存於分開記憶體區中之遮罩資料)， o            後處理結果所需之輔助資料 ●      資料流需要跟上HSIO資料速率，從而最小化對所得每站台測試資料傳送之影響。 ●      理想地，可跨越介接至ATE之埠處理單元的所有站台而共用資料儲存器。然而，此將導致過於複雜且昂貴的資料介面。需要找到適當架構以最大化共用而不影響測試執行。 ●      無法共用每站台資料。此等資料包括： o            來自DUT之接收資料 o            在比較接收資料與預期資料之後儲存的結果 o            每站台測試條件：例如，作為實際測試資料傳送之前置項傳達至DUT的DUT特定晶片上設置。
解決方案： 圖8展示例示性資料流。然而，其僅表示單個站台且並不區分資料存放區與一或多個埠處理單元(PPU)。
解決方案組件： 1.       資料存放區： o            實施大的共用記憶體集區的ATE硬體上之記憶體子系統 o            通常實施為可用的最快商用RAM。 o            用以將共用資料串流傳輸至埠處理單元。為了最小化頻寬利用，共用於多站台測試執行之資料較佳僅由PPU或記憶體集線器讀取一次。 o            用以將每DUT結果串流儲存至受控記憶體區域中。儲存結果所需之資料量及頻寬較佳顯著小於共用刺激資料所需之資料量及頻寬。 o            ATE卡上可存在一或多個資料存放區。各資料存放區需要資料流架構之複製。 2.       PPU-埠處理單元： o            與一個或許多DUT介接 o            實施用於DUT之HSIO埠、除錯埠及控制埠 o            直接接收來自資料存放區之資料或接收自另一PPU (菊鏈)或中央記憶體集線器轉遞之資料。 o            其使用緩衝(FIFO)及快取記憶體以最少化對其資料源之讀取存取。 o            其適當地處置失敗的各別慢速站台：例如，使用者可指定最大處理差異，若裝置在接收之後落後多於此數目，則將裝置指示為失敗。 o            可將共用資料轉遞至一或多個其他PPU o            實施預期資料與接收資料之每DUT比較且計算每DUT失敗資料 o            將失敗資料發送至資料存放區—潛在地經由另一PPU或記憶體集線器。 3.       記憶體集線器(任選地)： o            其用以實施星形架構。 o            其針對各PPU提供資料介面 o            其使用緩衝(FIFO)及快取記憶體以最少化對資料存放區之讀取存取。 4.       結果資料存放區(任選地)： o            用於結果之獨立資料存放區可出於以下原因而附接至各PPU或在中央附接至記憶體集線器： o            其提供獨立於用以將共用資料串流傳輸至PPU之介面的記憶體介面 o            其提供記憶體介面以存取結果資料以用於後處理或上傳，而不干擾下一測試執行。 態樣2：用於串流錯誤偵測及失敗壓縮之解決方案
問題：傳統的ATE即時地對來自結構測試之主要輸出進行取樣且將其與預期資料(包括遮罩)進行比較。此處理程序由測試資料之判定性循環I/O啟用。
然而，經由HSIO之掃描測試固有地為非判定性且叢發的。又，掃描輸出為協定堆疊中之酬載資料：亦即，至/自掃描鏈之資料擾亂為用命令「標記」之串列酬載。USB接收資料(命令及酬載)在被處理之前儲存於記憶體中：例如與預期資料進行比較。
此方法具有二個問題： 1. 資料處理在儲存所接收資料及稍後再次讀取其以將其與儲存於另一記憶體位置上之預期資料進行比較時具有顯著的記憶體頻寬要求。此要求在並列地測試若干裝置時進一步倍增 2. 掃描型樣是否已失敗之決策係基於後處理經由USB封包接收之資料。最壞狀況為所接收資料與預期資料之比較佔據總執行時間之主要部分：亦即，其花費之時間長於經由HSIO之資料串流
解決方案： 嵌入於埠處理單元中之串流錯誤偵測區塊比較剛接收到之掃描資料與預載入之預期資料，以僅在偵測到實際錯誤時寫入至記憶體。應注意，預期資料可包括遮罩資料。
詳言之： 1. 使用上文所描述之資料串流架構，埠處理單元使預期資料之窗口可用於將其與所接收資料封包進行比較。 預期資料預載入於每站台FIFO或所管理快取記憶體中，該每站台FIFO或所管理快取記憶體追蹤所有作用中站台對其資料之使用，之後捨棄該資料。此避免自大的資料存放區讀取預期資料—可能針對各站台重複地讀取。 在裝置不遵循資料串流之狀況下，PPU可引發例外，將站台聲明為失敗且僅儲存可用錯誤資料。 2. 在HSIO上接收到掃描資料後，埠處理單元將所接收資料與「匹配的」預載入預期資料進行比較。 在HSIO通訊作為位元組之判定性串流的狀況下，「匹配」係指以預載入之預期資料的次序比較所接收資料。 在所接收資料之DMA傳送的狀況下，PPU匹配所寫入之接收資料之位元組位移與預期資料中之位元組位移。位元組位移充當記憶體位址。 3. 錯誤資訊係以壓縮表示串流輸出以最小化資料量及所需之記憶體介面頻寬。除標準資料壓縮(例如，失敗位元之運行長度編碼)以外，串流錯誤偵測區塊亦可實施測試特定格式(例如，如亦由傳統ATE遞送)。 可動態地調整壓縮以匹配預期錯誤分佈：例如，所接收資料可含有暫存器值，一旦暫存器值錯誤，此便導致短的錯誤叢發。此可在錯誤叢發開始且錯誤字擴展至一個暫存器值時藉由具有位元組位移之標頭有效地儲存。 若USB-DFT保留串列USB接收資料串流中在接近範圍內之可能失敗的接收資料，則可改善結果資料之壓縮。USB-DFT可緩衝相關位元以在小的串列位元區內將其串流輸出：例如，緩衝經由若干掃描鏈接收之MISR暫存器的值。若此暫存器失敗，則將翻轉許多位元且因此失敗位元之叢發可藉由其在整個接收串流內之開頭的單個位移值來儲存(參見上文段落)。類似地，USB-DFT可緩衝及叢發輸出來自個別掃描鏈之資料。又，USB-DFT可緩衝來自若干掃描鏈之單個區塊的結果且將該等結果與另一區塊之結果分開地叢發輸出。 除個別錯誤資訊以外，串流錯誤偵測區塊亦儲存與失敗分析相關的統計：例如，對失敗之總數進行計數，儲存第一失敗循環之位元組位移。 4. 經HSIO掃描之結果處理的獨特特徵為錯誤可能不僅在掃描輸出資料之酬載中發生，而且亦在命令碼中發生：例如 a.       HSIO掃描DFT注意到其通訊異常，據此中斷命令序列。 b.       HSIO掃描DFT本身被損壞，其通常使所有酬載無效。 此情形之解決方案將儲存額外預期資料集，其中各位元描述其對應接收資料位元是否為命令：命令旗標資料 每當偵測到命令中之錯誤時，便引發「命令錯誤」旗標以限定結果且加速意外處理程序問題之偵測。每當此錯誤發生時，串流錯誤偵測區塊便可切換成最少化無用及隨機酬載資料之儲存或可能俘獲後續位元作為關於HSIO掃描DFT區塊之狀態的資訊酬載的模式。 5. 除高效地偵測到發生錯誤且儲存結果以外，串流結果處理亦可對結果進行解擾，使得錯誤映射不基於藉由命令結構封裝至串列USB串流中之掃描資料的位元位移，而直接指區塊IO之位移，例如對掃描鏈之位移。 解擾需要映射資訊，該映射資訊需要作為「註釋」與掃描型樣一起儲存。其可與命令旗標資料合併以篩選出固有地與受測試SOC區塊之掃描IO不相關的命令資料。
此外，一旦傳達了不同SOC區塊之接收資料，映射資訊便可能不同。因此，解擾處理程序可首先偵測酬載類型(例如，儲存於命令之區塊索引中)，之後應用正確的解擾映射：例如，酬載中之各位元如何映射至掃描鏈—可能針對長的酬載叢發進行重複。 總之，串流解擾流程可分裂成可在有效實施方案中定序之三個階段： a.           捨棄命令資料 b.          偵測酬載類型。此階段亦可處置經寫碼至單個命令訊框中之相同結構化酬載的重複 c.           使用適用的映射對酬載進行解擾 態樣3：用於減少所需測試資料量之解決方案
問題：測試資料量遞增。此會影響儲存以及記憶體存取及多站台資料串流中所需之頻寬
解決方案： 可用演算法壓縮遮罩資料以及命令旗標資料，該等演算法允許恰好在與接收資料之實際比較之前進行即時解壓縮。
由於遮罩位元應該很少且較可能被叢發，因此運行長度編碼可能為有效的且易於解碼。
命令旗標資料可經運行長度編碼或演算法壓縮：例如，若接收字分裂成命令及酬載位元。 態樣4：用於減少定序命令之時間額外負荷的解決方案。
問題：HSIO掃描測試由其他動作包圍：例如，在HSIO掃描之前設置裝置，在HSIO掃描測試之間改變測試條件，叢發獨立的HSIO掃描型樣測試。在所有此等狀況下，動作之依序執行產生額外負荷。
在典型的ATE中，藉由在FIFO中準備後續動作之測試資料來最小化或完全避免此額外負荷，使得測試可繼續進行而不會中斷。
解決方案： 控制HSIO掃描之動作通常需要高層級作業系統中之軟體堆疊的支援。因此，準備後續動作之測試資料需要在先前動作完成之前並列地啟動OS層級活動。此可藉由多執行緒處理完成，多執行緒處理通常由目前先進技術作業系統(例如，Linux)實現。然而，DUT介面處之活動必須按次序進行。因此，USB資料之傳輸必須暫停直至先前動作完成。
暫停HSIO掃描資料傳輸需要干擾特定HSIO埠之協定堆疊：例如，對於PCle：PCIe可繼續驅動閒置(IDLE)直至可啟動所準備訊框。若為自DUT進行的DMA存取，則可充分準備PCIe，且僅等待直至DUT在先前動作完成之後參與DMA資料傳送
暫停資料傳輸需要HSIO IP中之HSIO堆疊的適當改變：例如，HSIO可具有準備傳輸之二條管線。每次二條管線中之一者保持待命(armed)/選通，直至接收到觸發以釋放下一可用時槽中之資料傳輸。該觸發可為低層級軟體命令或自另一儀器或甚至DUT本身接收到之電氣觸發。 態樣5：用於使測試裝置、測試資料及測試資料流與HSIO埠特性解耦之解決方案
問題：HSIO介面在不同作業系統上且藉由變化之驅動程式以各種方式進行程式設計。測試設備將需要支援之典型變化包括但不限於： ●      變化的HSIO埠，包括USB、PCIe、1149.10或甚至專屬介面 ●      HSIO作為主機/根或作為端點操作 ●      ATE主動地將測試資料串流傳輸至DUT或DUT自ATE提取資料(DMA) ●      經由標準介面或需要自訂驅動程式之HSIO通訊
然而，ATE及測試程式需要啟用通用的可組配測試設置及使用狀況。
解決方案： ATE解決方案允許在測試程式內重新組配埠介面：例如，自PCIe端點至1149.10測試介面。
ATE軟體支援由虛擬「儀器」啟用之2個或多於2個通用的使用模型，該等模型可應用於一或多個HSIO類型：例如 ●      推送模式—串流(典型地用於USB、1149.10)：ATE主動地將刺激資料推送至HSIO通訊中 ●      DMA模式(典型地用於PCIe)：DUT將OCST記憶體映射至其記憶體空間中且自其讀取資料/將資料讀取至其。
在系統內添加勾點(hook)以使得客戶或第3方能夠根據專屬介面調整標準區塊：例如 ●      定義用於根據選定使用模型實施自訂埠之標準介面：例如，DMA。 ●      在OCST卡上運行高效的自訂/第3方程式碼以分析所接收封裝用於良率學習。在此狀況下，預期資料可含有支援資訊而非直接可比較的預期資料。 ●      恰好在將資料推送至HSIO中之前進行每DUT加密。 ●      允許由DUT在DMA模式下寫入結果時所使用之位址的每站台映射。此將使實體接收記憶體保持相異，即使各站台之DMA相同亦如此。 結論
總之，本文中所描述之實施例可任選地由此處所描述之重要點或態樣中之任一者補充。然而，應注意，可個別地或組合地使用此處所描述之重要點及態樣，且可將其個別地及組合地引入至本文中所描述之實施例中之任一者中。 實施方案替代例
儘管已在設備之上下文中描述一些態樣，但顯然，此等態樣亦表示對應方法之描述，其中區塊或裝置對應於方法步驟或方法步驟之特徵。類似地，在方法步驟之上下文中描述的態樣亦表示對應設備之對應區塊或項目或特徵的描述。可由(或使用)比如微處理器、可規劃電腦或電子電路之硬體設備執行方法步驟中之一些或全部。在一些實施例中，可由此設備執行最重要方法步驟中之一或多者。
取決於某些實施方案要求，本發明之實施例可以硬體或軟體實施。可使用例如軟碟、DVD、藍光(Blu-Ray)、CD、ROM、PROM、EPROM、EEPROM或快閃記憶體之數位儲存媒體來執行實施方案，該數位儲存媒體具有儲存於其上之電子可讀控制信號，該等電子可讀控制信號與可規劃電腦系統協作(或能夠協作)以使得執行各別方法。因此，數位儲存媒體可為電腦可讀的。
根據本發明之一些實施例包含具有電子可讀控制信號之資料載體，該等控制信號能夠與可規劃電腦系統協作，使得執行本文中所描述之方法中之一者。
一般而言，本發明之實施例可實施為具有程式碼之電腦程式產品，當電腦程式產品在電腦上運行時，該程式碼操作性地用於執行該等方法中之一者。該程式碼可例如儲存於機器可讀載體上。
其他實施例包含儲存於機器可讀載體上的用於執行本文中所描述之方法中之一者的電腦程式。
換言之，本發明方法之實施例因此為電腦程式，該電腦程式具有用於在電腦程式運行於電腦上時執行本文中所描述之方法中之一者的程式碼。
因此，本發明方法之另一實施例為資料載體(或數位儲存媒體，或電腦可讀媒體)，該資料載體包含記錄於其上的用於執行本文中所描述之方法中之一者的電腦程式。資料載體、數位儲存媒體或記錄媒體通常為有形的及/或非暫時性的。
因此，本發明方法之另一實施例為表示用於執行本文中所描述之方法中之一者的電腦程式之資料串流或信號序列。資料串流或信號序列可例如經組配以經由資料通訊連接(例如，經由網際網路)而傳送。
另一實施例包含經組配或經調適以執行本文中所描述之方法中之一者的處理構件，例如電腦或可規劃邏輯裝置。
另一實施例包含電腦，該電腦具有安裝於其上的用於執行本文中所描述之方法中之一者的電腦程式。
根據本發明之另一實施例包含經組配以將用於執行本文中所描述之方法中之一者的電腦程式傳送(例如，以電子方式或光學方式)至接收器的設備或系統。接收器可例如為電腦、行動裝置、記憶體裝置或其類似者。該設備或系統可例如包含用於將電腦程式傳送至接收器之檔案伺服器。
在一些實施例中，可規劃邏輯裝置(例如，場可規劃閘陣列)可用以執行本文中所描述之方法的功能性中之一些或全部。在一些實施例中，場可規劃閘陣列可與微處理器協作，以便執行本文中所描述之方法中之一者。一般而言，該等方法較佳由任何硬體設備執行。
本文中所描述之設備可使用硬體設備或使用電腦或使用硬體設備與電腦之組合來實施。
本文中所描述之設備或本文中所描述之設備的任何組件可至少部分地以硬體及/或以軟體來實施。
本文中所描述之方法可使用硬體設備或使用電腦或使用硬體設備與電腦之組合來實施。
本文中所描述之方法或本文中所描述之設備的任何組件可至少部分地由硬體及/或由軟體執行。
上文所描述之實施例僅說明本發明之原理。應理解，本文中所描述之配置及細節的修改及變化對於熟習此項技術者將為顯而易見的。因此，意圖僅受接下來之申請專利範圍之範疇限制，而不受藉助於本文中實施例之描述及解釋所呈現的特定細節限制。
100,200,300,400,500,600,700:自動化測試設備 110,210,310,410,510,610,710,710a,710b,710c:埠處理單元PPU 120,220,320,420,520,720c,720d,720e,720f:高速輸入輸出HSIO介面 130,230,330,430,530,630,730c,730d,730e,730f:受測裝置DUT 140,240,440,540,640,740b,740c:本端緩衝記憶體 250:資料存放區/共用記憶體集區 340:先進先出FIFO記憶體/本端緩衝記憶體 350,450,550,650,750:資料存放區 360,560:記憶體集線器
隨後將參看附圖描述根據本發明之實施例，在附圖中： 圖1展示根據本發明之一實施例的自動化測試設備之示意性方塊圖； 圖2展示根據本發明之另一實施例的自動化測試設備之示意性方塊圖，該自動化測試設備包括資料存放區； 圖3展示根據本發明之另一實施例的自動化測試設備之示意性方塊圖，該自動化測試設備包括資料存放區及記憶體集線器； 圖4展示根據本發明之另一實施例的自動化測試設備之示意性方塊圖，該自動化測試設備包括資料存放區，該方塊圖包括刺激資料之例示性資料流； 圖5展示根據本發明之另一實施例的自動化測試設備之示意性方塊圖，該自動化測試設備包括資料存放區及記憶體集線器，該方塊圖包括刺激資料之例示性資料流； 圖6展示根據本發明之另一實施例的自動化測試設備之示意性方塊圖，該自動化測試設備包括資料存放區，該方塊圖包括預期資料之例示性資料流； 圖7展示根據本發明之另一實施例的自動化測試設備之示意性方塊圖，該自動化測試設備包括資料存放區，該方塊圖包括預期資料、回應資料及失敗資料之例示性資料流；及 圖8展示根據本發明之另一實施例的例示性自動化測試設備之示意性方塊圖，該方塊圖包括資料流。
在諸圖中，類似參考符號表示類似元件及特徵。
100:自動化測試設備
110:埠處理單元PPU
120:高速輸入輸出HSIO介面
130:受測裝置DUT
140:本端緩衝記憶體

Claims (24)

  1. 一種用以測試一或多個受測裝置之自動化測試設備，該自動化測試設備包含：多個埠處理單元，其至少包含一各別緩衝記憶體，以及一各別高速輸入輸出(HSIO)介面，其用於與該一或多個受測裝置中之至少一者連接；一每裝置先進先出(FIFO)記憶體，其可操作以預載入預期資料且與所連接之一或多個受測裝置相關聯，其中該每裝置FIFO記憶體經組配以追蹤相關聯的所連接之該一或多個受測裝置的資料使用且經組配以捨棄該資料，並且進一步經組配以回應於基於資料使用之該追蹤來判定某一受測裝置不遵循一資料串流而將該某一受測裝置辨識為失敗，其中該等多個埠處理單元之各者經組配以：接收資料；將所接收之該資料儲存於該各別緩衝記憶體中；以及將儲存於該各別緩衝記憶體中之該資料提供至所連接之該一或多個受測裝置，該資料經由該各別HSIO介面所提供且用於測試所連接之該一或多個受測裝置，其中該等多個埠處理單元之各者進一步包含一串流錯誤偵測區塊，該串流錯誤偵測區塊經組配以偵測所接收之該資料中之一命令錯誤，且進一步經組配以將所接收之該資料與預載入之預期資料進行比較，並且其中該預期資料包含遮罩資料。
  2. 如請求項1之自動化測試設備，其中該各別緩衝記憶體可作為本端記憶體由該各別高速輸入輸出(HSIO)介面存取。
  3. 如請求項1或2之自動化測試設備，其進一步包含一資料存放區，該資料存放區包含一共用記憶體集區，且其中該等埠處理單元經進一步組配以自該共用記憶體集區接收共用資料。
  4. 如請求項3之自動化測試設備，其中該資料存放區經組配以將共用資料串流傳輸至該等多個埠處理單元中之一或多者及一記憶體集線器。
  5. 如請求項3之自動化測試設備，其中該資料存放區經組配以將每裝置結果資料儲存至該等多個埠處理單元之多個記憶體區域中。
  6. 如請求項3之自動化測試設備，其中該等多個埠處理單元中之一或多者經進一步組配以將來自該共用記憶體集區之共用資料轉遞至該等多個埠處理單元之至少一個其他埠處理單元。
  7. 如請求項3之自動化測試設備，其中該等多個埠處理單元中之一或多者經組配以自至少一個其他埠處理單元接收共用資料。
  8. 如請求項3之自動化測試設備，其中該等多個埠處理單元中之一或多者形成一菊鏈以相繼地轉遞來自該共用記憶體集區之該共用資料。
  9. 如請求項3之自動化測試設備，其中該等多個埠處理單元中之一或多者經組配以自一記憶體集線器接收共用資料。
  10. 如請求項3之自動化測試設備，該等多個埠處理單元之各者的該各別緩衝記憶體可操作以允許該共用資料之一接收與該共用資料用於測試所連接之該一或多個受測裝置的一使用之間存在一時間移位。
  11. 如請求項3之自動化測試設備，其中該等多個埠處理單元中之至少一者經進一步組配以經由一介面將基於該共用資料之測試資訊傳送至一受測裝置，且基於該測試資訊至該受測裝置之一傳送時序而界定該受測裝置之特徵。
  12. 如請求項11之自動化測試設備，其中該等多個埠處理單元之 一各別埠處理單元經組配以若測試資訊至一受測裝置之一傳送操作比該共用資料由該各別埠處理單元之一接收操作滯後多於一預定持續時間，則將該受測裝置特徵界定為失敗。
  13. 如請求項3之自動化測試設備，其中該等多個埠處理單元經進一步組配以獲得每裝置結果資料且經進一步組配以將該每裝置結果資料轉遞至該資料存放區。
  14. 如請求項13之自動化測試設備，其中該等多個埠處理單元經進一步組配以使用基於該共用資料之經預期資料來獲得該每裝置結果資料，其中該經預期資料指示一適當地運作之受測裝置被預期要傳回之資料。
  15. 如請求項3之自動化測試設備，其進一步包含一記憶體集線器，該記憶體集線器經組配成以一星形架構耦接該等多個埠處理單元與該資料存放區。
  16. 如請求項15之自動化測試設備，其中該記憶體集線器包含一緩衝記憶體及一或多個快取記憶體，以允許該共用資料至該等多個埠處理單元之不同埠處理單元之一非同時轉遞。
  17. 如請求項3之自動化測試設備，其中該資料存放區進一步包含用於提供至該等多個埠處理單元之該共用資料及用於該每裝置結果資料之分開的介面。
  18. 如請求項3之自動化測試設備，其中該資料存放區包含一記憶體介面，該記憶體介面經組配以針對共用資料至該等多個埠處理單元之提供通透地存取每裝置結果資料。
  19. 如請求項1之自動化測試設備，其中該等多個埠處理單元之各者經組配以將資料以一壓縮表示儲存於該記憶體中，其中該壓縮表示包含一標準資料壓縮格式或一測試特定格式。
  20. 如請求項19之自動化測試設備，其中該等多個埠處理單元之各者經進一步組配以動態地調整與該壓縮表示相關聯之一壓縮以匹配一預期錯誤分佈。
  21. 如請求項19至20中任一項之自動化測試設備，其中該等多個埠處理單元之各者經進一步組配以維護所接收之該資料，其對應於指示一所接收資料串流中在接近範圍內之可能失敗的資料。
  22. 如請求項1、19及20中任一項之自動化測試設備，其中該串流錯誤偵測區塊經進一步組配以儲存與一失敗分析相關之統計資訊。
  23. 一種用以自動化測試一或多個受測裝置之方法，其包含：在多個埠處理單元之一埠處理單元處自包含一共用記憶體集區之一資料存放區接收資料，其中該等多個埠處理單元之各者包含一各別緩衝記憶體、及一各別高速輸入輸出(HSIO)介面，該各別HSIO介面用於與該一或多個受測裝置中之至少一者連接；將所接收之該資料儲存在一埠處理單元之一各別緩衝記憶體中；以及經由可操作以連接至該一或多個受測裝置之該各別HSIO介面將所儲存之該資料提供至該一或多個受測裝置，其中該各別HSIO介面係可操作以存取作為本端記憶體之該各別緩衝記憶體，其中該等多個埠處理單元之各者包含一串流錯誤偵測區塊，其經組配以：偵測所接收之該資料中之一命令錯誤；將所接收之該資料與預載入之預期資料進行比較，其中該預期資料包含遮罩資料；以及其中該等多個埠處理單元之各者經組配以：將資料以一壓縮表示儲存，其中該壓縮表示包含一標準資料壓縮格式或一測試特定格式；及 動態地調整與該壓縮表示相關聯之一壓縮以匹配一預期錯誤分佈。
  24. 一種非暫態電腦可讀取媒體，其具有電腦可讀取程式碼體現於其中，該電腦可讀取程式碼用於致使電腦系統用以執行一種用以自動化測試一或多個受測裝置之方法，該方法包含：在多個埠處理單元之一埠處理單元處自包含一共用記憶體集區之一資料存放區接收資料，其中該等多個埠處理單元之各者包含一各別緩衝記憶體、及一各別高速輸入輸出(HSIO)介面，該各別HSIO介面用於與該一或多個受測裝置中之至少一者連接；將所接收之該資料儲存在一埠處理單元之一各別緩衝記憶體中；以及經由可操作以連接該一或多個受測裝置之該各別HSIO介面將所儲存之該資料提供至該一或多個受測裝置，其中該各別HSIO介面係可操作以存取作為本端記憶體之該各別緩衝記憶體，並且其中該等多個埠處理單元之一各別埠處理單元經組配以若測試資訊至一受測裝置之一傳送操作比該共用資料由該各別埠處理單元之一接收操作滯後多於一預定持續時間，則將該受測裝置特徵界定為失敗。
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