KR20180087610A - Lighting source module and lighting apparatus having thereof - Google Patents
Lighting source module and lighting apparatus having thereof Download PDFInfo
- Publication number
- KR20180087610A KR20180087610A KR1020170011816A KR20170011816A KR20180087610A KR 20180087610 A KR20180087610 A KR 20180087610A KR 1020170011816 A KR1020170011816 A KR 1020170011816A KR 20170011816 A KR20170011816 A KR 20170011816A KR 20180087610 A KR20180087610 A KR 20180087610A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- layer
- light
- disposed
- source module
- light source
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 174
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 133
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 90
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 90
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 27
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract description 9
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 387
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 17
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 17
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 15
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 14
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 13
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 13
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 12
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 12
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 12
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 12
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 10
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 10
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 9
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 9
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 8
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 8
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 8
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- -1 polyethylene naphthalate Polymers 0.000 description 7
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 6
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 6
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 6
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 5
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 5
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 5
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 5
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 5
- 239000011135 tin Substances 0.000 description 5
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052915 alkaline earth metal silicate Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 4
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- JAONJTDQXUSBGG-UHFFFAOYSA-N dialuminum;dizinc;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3].[Zn+2].[Zn+2] JAONJTDQXUSBGG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 3
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 3
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 3
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 3
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 3
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 3
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HRHKULZDDYWVBE-UHFFFAOYSA-N indium;oxozinc;tin Chemical compound [In].[Sn].[Zn]=O HRHKULZDDYWVBE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008595 infiltration Effects 0.000 description 2
- 238000001764 infiltration Methods 0.000 description 2
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 2
- 229910052747 lanthanoid Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000002602 lanthanoids Chemical class 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- SKRWFPLZQAAQSU-UHFFFAOYSA-N stibanylidynetin;hydrate Chemical compound O.[Sn].[Sb] SKRWFPLZQAAQSU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 2
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229960001296 zinc oxide Drugs 0.000 description 2
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229910017944 Ag—Cu Inorganic materials 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N Orthosilicate Chemical compound [O-][Si]([O-])([O-])[O-] BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002668 Pd-Cu Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- 229910019897 RuOx Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000577 Silicon-germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BZHJMEDXRYGGRV-UHFFFAOYSA-N Vinyl chloride Chemical compound ClC=C BZHJMEDXRYGGRV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DZLPZFLXRVRDAE-UHFFFAOYSA-N [O--].[O--].[O--].[O--].[Al+3].[Zn++].[In+3] Chemical compound [O--].[O--].[O--].[O--].[Al+3].[Zn++].[In+3] DZLPZFLXRVRDAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 229910001195 gallium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- YZZNJYQZJKSEER-UHFFFAOYSA-N gallium tin Chemical compound [Ga].[Sn] YZZNJYQZJKSEER-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- NJWNEWQMQCGRDO-UHFFFAOYSA-N indium zinc Chemical compound [Zn].[In] NJWNEWQMQCGRDO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 1
- VRIVJOXICYMTAG-IYEMJOQQSA-L iron(ii) gluconate Chemical compound [Fe+2].OC[C@@H](O)[C@@H](O)[C@H](O)[C@@H](O)C([O-])=O.OC[C@@H](O)[C@@H](O)[C@H](O)[C@@H](O)C([O-])=O VRIVJOXICYMTAG-IYEMJOQQSA-L 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 229910003465 moissanite Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- GNRSAWUEBMWBQH-UHFFFAOYSA-N nickel(II) oxide Inorganic materials [Ni]=O GNRSAWUEBMWBQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Substances [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920003207 poly(ethylene-2,6-naphthalate) Polymers 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 description 1
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 1
- 229920000098 polyolefin Polymers 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
- 230000001012 protector Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000010944 silver (metal) Substances 0.000 description 1
- BHZOKUMUHVTPBX-UHFFFAOYSA-M sodium acetic acid acetate Chemical compound [Na+].CC(O)=O.CC([O-])=O BHZOKUMUHVTPBX-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F21—LIGHTING
- F21K—NON-ELECTRIC LIGHT SOURCES USING LUMINESCENCE; LIGHT SOURCES USING ELECTROCHEMILUMINESCENCE; LIGHT SOURCES USING CHARGES OF COMBUSTIBLE MATERIAL; LIGHT SOURCES USING SEMICONDUCTOR DEVICES AS LIGHT-GENERATING ELEMENTS; LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- F21K9/00—Light sources using semiconductor devices as light-generating elements, e.g. using light-emitting diodes [LED] or lasers
- F21K9/20—Light sources comprising attachment means
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/50—Wavelength conversion elements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/58—Optical field-shaping elements
- H01L33/60—Reflective elements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/62—Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F21—LIGHTING
- F21Y—INDEXING SCHEME ASSOCIATED WITH SUBCLASSES F21K, F21L, F21S and F21V, RELATING TO THE FORM OR THE KIND OF THE LIGHT SOURCES OR OF THE COLOUR OF THE LIGHT EMITTED
- F21Y2115/00—Light-generating elements of semiconductor light sources
- F21Y2115/10—Light-emitting diodes [LED]
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Led Device Packages (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 광원 모듈에 관한 것이다.The present invention relates to a light source module.
본 발명은 광원 모듈을 갖는 조명 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a lighting apparatus having a light source module.
발광 소자, 예컨대 발광 다이오드(Light Emitting Device)는 전기 에너지를 빛으로 변환하는 반도체 소자의 일종으로, 기존의 형광등, 백열등을 대체하여 차세대 광원으로서 각광받고 있다.BACKGROUND ART A light emitting device, for example, a light emitting device (Light Emitting Device) is a type of semiconductor device that converts electrical energy into light, and has been widely recognized as a next generation light source in place of existing fluorescent lamps and incandescent lamps.
발광 다이오드는 반도체 소자를 이용하여 빛을 생성하므로, 텅스텐을 가열하여 빛을 생성하는 백열등이나, 또는 고압 방전을 통해 생성된 자외선을 형광체에 충돌시켜 빛을 생성하는 형광등에 비해 매우 낮은 전력만을 소모한다.Since the light emitting diode generates light by using a semiconductor element, the light emitting diode consumes very low power as compared with an incandescent lamp that generates light by heating tungsten, or a fluorescent lamp that generates ultraviolet light by impinging ultraviolet rays generated through high-pressure discharge on a phosphor .
또한, 발광 다이오드는 반도체 소자의 전위 갭을 이용하여 빛을 생성하므로 기존의 광원에 비해 수명이 길고 응답특성이 빠르며, 친환경적 특징을 갖는다.In addition, since the light emitting diode generates light using the potential gap of the semiconductor device, it has a longer lifetime, faster response characteristics, and an environment-friendly characteristic as compared with the conventional light source.
이에 따라, 기존의 광원을 발광 다이오드로 대체하기 위한 많은 연구가 진행되고 있으며, 발광 다이오드는 실내 및 실외에서 사용되는 각종 램프, 액정표시장치, 전광판, 가로등, 전조등과 같은 조명 장치의 광원으로서 사용이 증가하고 있다.Accordingly, a lot of researches for replacing an existing light source with a light emitting diode have been carried out. The light emitting diode is used as a light source for various lamps used in indoor and outdoor, lighting devices such as a liquid crystal display, .
실시 예는 형광체층을 통해 방출되는 광의 광속을 개선한 광원 모듈을 제공한다.The embodiment provides a light source module that improves the light flux of light emitted through the phosphor layer.
실시 예는 복수의 반도체 칩 상에 형광체층과 상기 형광체층 상에 투광성 수지층을 배치한 광원 모듈을 제공한다.The embodiment provides a light source module in which a phosphor layer and a translucent resin layer are disposed on a plurality of semiconductor chips and the phosphor layer.
실시 예는 반사 부재 및 반도체 칩 상에 배치된 형광체층의 측면에 반사 부재의 측면 반사부 및 투광성 수지층의 외곽 보호부 중 적어도 하나가 배치되는 광원 모듈을 제공한다.The embodiment provides a light source module in which at least one of the reflective member and the outer protective portion of the translucent resin layer is disposed on the side surface of the phosphor layer disposed on the semiconductor chip.
실시 예는 형광체층 상에 배치된 투광성 수지층이 광 추출 구조를 갖는 광원 모듈을 제공한다.The embodiment provides a light source module in which a translucent resin layer disposed on a phosphor layer has a light extracting structure.
실시 에는 광원 모듈을 갖는 조명 장치를 제공한다.An embodiment provides a lighting device having a light source module.
실시 예에 따른 회로 기판; 상기 회로 기판 상에 배치된 복수의 반도체 칩; 상기 복수의 반도체 칩의 둘레에 배치된 반사 부재; 상기 복수의 반도체 칩과 상기 반사 부재 상에 배치된 형광체층; 및 상기 형광체층 상에 배치된 투광성 수지층을 포함할 수 있다.A circuit board according to an embodiment; A plurality of semiconductor chips disposed on the circuit board; A reflective member disposed around the plurality of semiconductor chips; A plurality of semiconductor chips and a phosphor layer disposed on the reflective member; And a translucent resin layer disposed on the phosphor layer.
실시 예에 따른 조명 장치에 의하면, 상기의 광원 모듈; 상기 복수의 광원 모듈 상에 이너 렌즈; 및 상기 이너 렌즈 상에 아우터 렌즈를 포함할 수 있다.According to the illumination device of the embodiment, the light source module; An inner lens on the plurality of light source modules; And an outer lens on the inner lens.
실시 예에 의하면, 상기 반사 부재는 상기 회로 기판 상에서 상기 형광체층의 하면 면적보다 큰 면적을 갖고 수지 재질을 포함할 수 있다.According to the embodiment, the reflective member may include a resin material having an area larger than a lower surface area of the phosphor layer on the circuit board.
실시 예에 의하면, 상기 반사 부재는 상기 형광체층의 측면에 배치된 측면 반사부를 포함할 수 있다. According to an embodiment, the reflective member may include a side reflector disposed on a side surface of the phosphor layer.
실시 예에 의하면, 상기 투광성 수지층은 광 추출 구조를 포함할 수 있다.According to the embodiment, the light-transmitting resin layer may include a light extracting structure.
실시 예에 의하면, 상기 투광성 수지층은 상기 형광체층 상에 배치된 입사부 및 상기 입사부 상에 광 추출 구조를 포함하며, 상기 광 추출 구조는 상기 입사부 상에 뿔 형상, 반구형 렌즈 또는 비구면 형상의 렌즈 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. According to the embodiment, the light-transmitting resin layer includes an incident portion disposed on the phosphor layer and a light extracting structure on the incident portion, and the light extracting structure includes a horn-shaped, hemispherical lens or an aspherical surface Of the lens.
실시 예에 의하면, 상기 투광성 수지층은 상기 형광체층의 굴절률보다 낮은 굴절률을 갖는 수지 재질로 형성될 수 있다.According to the embodiment, the light transmitting resin layer may be formed of a resin material having a refractive index lower than that of the phosphor layer.
실시 예에 의하면, 상기 투광성 수지층은 상기 광 추출 구조의 외측 둘레에 배치된 외곽 보호부를 포함할 수 있다. 상기 외곽 보호부는 상기 형광체층의 상면과 상기 반사 부재의 상면 중 적어도 한 영역 위에 배치될 수 있다. According to the embodiment, the light-transmissive resin layer may include an outer protective portion disposed on the outer periphery of the light extracting structure. The outer guard may be disposed on at least one of an upper surface of the phosphor layer and an upper surface of the reflective member.
실시 예에 의하면, 상기 투광성 수지층는 상기 반사 부재의 측면 반사부의 외측에 배치된 외곽 보호부를 포함할 수 있다. According to the embodiment, the light transmitting resin layer may include an outer protective portion disposed outside the side reflecting portion of the reflecting member.
실시 예에 의하면, 상기 반사 부재와 상기 반도체 칩 사이에 투명한 수지 재질의 광 가이드층을 포함할 수 있다. According to an embodiment of the present invention, a light guide layer made of a transparent resin material may be disposed between the reflective member and the semiconductor chip.
실시 예에 따른 광원 모듈은 형광체층 상에 수지층을 배치하여 반도체 칩으로부터 방출된 광을 효과적을 추출할 수 있다. The light source module according to the embodiment can efficiently extract the light emitted from the semiconductor chip by arranging the resin layer on the phosphor layer.
실시 예는 반도체 칩의 둘레에 배치된 반사 부재가 일부가 상기 형광체층의 측면 및 상면으로 침투하는 것을 억제하여, 광 손실 저하 및 광속 저하를 방지할 수 있다.The embodiment can prevent the reflection member disposed around the semiconductor chip from partially penetrating the side surface and the upper surface of the phosphor layer, thereby preventing a decrease in light loss and a decrease in light speed.
실시 예는 형광체층을 통해 방출되는 색 편차를 줄여줄 수 있다.The embodiment can reduce the color deviation emitted through the phosphor layer.
실시 예는 광원 모듈의 광속을 개선시켜 줄 수 있다.The embodiment can improve the light flux of the light source module.
실시 예는 광원 모듈 및 이를 구비한 조명 장치의 광학적인 신뢰성을 개선시켜 줄 수 있다. Embodiments can improve the optical reliability of the light source module and the illumination device having the same.
도 1은 제1실시 예에 따른 광원 모듈의 평면도이다.
도 2는 도 1의 광원 모듈의 A-A측 단면도이다.
도 3은 도 2의 광원 모듈의 부분 확대도이다.
도 4는 도 1의 광원 모듈의 B-B측 단면도이다.
도 5는 도 1의 광원 모듈의 다른 예이다.
도 6은 도 2의 광원 모듈의 제1변형 예이다.
도 7은 도 2의 광원 모듈의 제2변형 예이다.
도 8은 제2실시 예에 따른 광원 모듈의 측 단면도이다.
도 9는 도 8의 광원 모듈의 부분 확대도이다.
도 10은 도 8의 광원 모듈의 광 추출 구조의 다른 형상을 나타낸 도면이다.
도 11은 도 8의 광원 모듈의 제1변형 예이다.
도 12는 도 8의 광원 모듈의 제2변형 예이다.
도 13은 도 8의 광원 모듈의 제3변형 예이다.
도 14는 도 8의 광원 모듈의 제4변형 예이다.
도 15는 도 8의 광원 모듈의 제5변형 예이다.
도 16은 실시 예에 따른 광원 모듈의 다른 형태를 나타낸 평면도이다.
도 17은 실시 예에 따른 광원 모듈을 갖는 조명 장치의 예이다.
도 18은 실시 예에 따른 반도체 칩의 일 예를 나타낸 도면이다.
도 19는 도 2의 광원 모듈로부터 출사된 파장 광도와 비교 예의 파장 광도를 비교한 그래프이다.
도 20은 도 6의 광원 모듈로부터 출사된 파장 광도와 비교 예의 파장 광도를 비교한 그래프이다.
도 21은 도 8의 광원 모듈로부터 출사된 파장 광도와 비교 예의 파장 광도를 비교한 도면이다.
도 22는 도 14의 광원 모듈로부터 출사된 파장 광도와 비교 예의 파장 광도를 비교한 도면이다. 1 is a plan view of a light source module according to a first embodiment.
2 is a cross-sectional view of the light source module of Fig. 1 on the AA side.
3 is a partial enlarged view of the light source module of Fig.
4 is a sectional view of the light source module of Fig. 1 on the BB side.
5 is another example of the light source module of Fig.
6 is a first modification of the light source module of Fig.
FIG. 7 is a second modification of the light source module of FIG. 2. FIG.
8 is a side sectional view of the light source module according to the second embodiment.
Fig. 9 is a partially enlarged view of the light source module of Fig. 8; Fig.
10 is a view showing another shape of the light extracting structure of the light source module of FIG.
11 is a first modification of the light source module of Fig.
12 is a second modification of the light source module of Fig.
13 is a third modification of the light source module of Fig.
14 is a fourth modification of the light source module of Fig.
15 is a fifth modification of the light source module of Fig.
16 is a plan view showing another embodiment of the light source module according to the embodiment.
17 is an example of a lighting apparatus having a light source module according to an embodiment.
18 is a diagram showing an example of a semiconductor chip according to the embodiment.
FIG. 19 is a graph comparing wavelength luminous intensity emitted from the light source module of FIG. 2 and wavelength luminous intensity of a comparative example.
FIG. 20 is a graph comparing wavelength luminous intensity emitted from the light source module of FIG. 6 and wavelength luminous intensity of the comparative example.
FIG. 21 is a diagram comparing the wavelength luminous intensity emitted from the light source module of FIG. 8 and the wavelength luminous intensity of the comparative example.
FIG. 22 is a diagram comparing the wavelength luminous intensity emitted from the light source module of FIG. 14 and the wavelength luminous intensity of the comparative example.
본 실시 예들은 다른 형태로 변형되거나 여러 실시 예가 서로 조합될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 각각의 실시 예로 한정되는 것은 아니다. 특정 실시 예에서 설명된 사항이 다른 실시 예에서 설명되어 있지 않더라도, 다른 실시 예에서 그 사항과 반대되거나 모순되는 설명이 없는 한, 다른 실시 예에 관련된 설명으로 이해될 수 있다. 예를 들어, 특정 실시 예에서 구성 A에 대한 특징을 설명하고 다른 실시 예에서 구성 B에 대한 특징을 설명하였다면, 구성 A와 구성 B가 결합된 실시 예가 명시적으로 기재되지 않더라도 반대되거나 모순되는 설명이 없는 한, 본 발명의 권리범위에 속하는 것으로 이해되어야 한다.The embodiments may be modified in other forms or various embodiments may be combined with each other, and the scope of the present invention is not limited to each embodiment described below. Although not described in the context of another embodiment, unless otherwise described or contradicted by the description in another embodiment, the description in relation to another embodiment may be understood. For example, if the features of configuration A are described in a particular embodiment, and the features of configuration B are described in another embodiment, even if the embodiment in which configuration A and configuration B are combined is not explicitly described, It is to be understood that they fall within the scope of the present invention.
이하 상기의 목적을 구체적으로 실현할 수 있는 본 발명의 실시 예를 첨부한 도면을 참조하여 설명한다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The above and other objects, features and advantages of the present invention will be more apparent from the following detailed description taken in conjunction with the accompanying drawings, in which: FIG.
본 발명에 따른 실시예의 설명에 있어서, 각 element의 " 상(위) 또는 하(아래)(on or under)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, 상(위) 또는 하(아래)(on or under)는 두 개의 element가 서로 직접(directly)접촉되거나 하나 이상의 다른 element가 상기 두 element사이에 배치되어(indirectly) 형성되는 것을 모두 포함한다. 또한 "상(위) 또는 하(아래)(on or under)"으로 표현되는 경우 하나의 element를 기준으로 위쪽 방향뿐만 아니라 아래쪽 방향의 의미도 포함할 수 있다.In the description of the embodiment according to the present invention, in the case of being described as being formed "on or under" of each element, the upper (upper) or lower (lower) or under are all such that two elements are in direct contact with each other or one or more other elements are indirectly formed between the two elements. Also, when expressed as "on or under", it may include not only an upward direction but also a downward direction with respect to one element.
반도체 소자는 발광 소자, 수광소자, 광 변조기, 가스 센서 등 각종 전자 소자 포함할 수 있다. 실시 예는 가스센서를 일 예로 설명하고 있지만, 이에 한정되지 않고, 전기 소자의 다양한 분야에 적용될 수 있다.The semiconductor device may include various electronic devices such as a light emitting device, a light receiving device, an optical modulator, and a gas sensor. Although the embodiment has been described by way of example of a gas sensor, the present invention is not limited thereto and can be applied to various fields of electric devices.
실시 예에 따른 반도체 소자는 제1도전형 반도체층; 상기 제1도전형 반도체층 위에 활성층; 상기 활성층 위에 제2도전형 반도체층을 포함하는 발광 구조물을 포함할 수 있다. 상기 활성층은 자외선 파장부터 가시광선 파장의 범위 중에서 선택적으로 발광할 수 있다. 이러한 반도체 소자는 칩으로 구현되어, 반도체 칩 또는 발광 칩으로 정의될 수 있다. A semiconductor device according to an embodiment includes a first conductive semiconductor layer; An active layer on the first conductive semiconductor layer; And a light emitting structure including a second conductive semiconductor layer on the active layer. The active layer can selectively emit light in the range of ultraviolet wavelength to visible light wavelength. Such a semiconductor element may be embodied as a chip, and may be defined as a semiconductor chip or a light emitting chip.
이하에서는 도 1 내지 도 4를 참고하여 본 발명의 제1 실시예에 따른 광원 모듈을 설명한다.Hereinafter, a light source module according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 4. FIG.
도 1은 제1실시 예에 따른 광원 모듈의 평면도이고, 도 2는 도 1의 광원 모듈의 A-A측 단면도이며, 도 3은 도 2의 광원 모듈의 부분 확대도이고, 도 4는 도 1의 광원 모듈의 B-B측 단면도이다.1 is a plan view of the light source module according to the first embodiment, FIG. 2 is a sectional view of the light source module of FIG. 1 taken along the line AA, FIG. 3 is a partially enlarged view of the light source module of FIG. 2, Sectional view of the module on the BB side.
도 1 내지 도 4를 참조하면, 광원 모듈(100)는 회로 기판(110), 상기 회로 기판(110) 상에 배치된 반도체 칩(150), 상기 반도체 칩(150) 둘레에 배치된 반사 부재(130), 상기 반도체 칩(150) 및 상기 반사 부재(130) 위에 배치된 형광체층(170), 상기 형광체층(170) 상에 배치된 투광성 수지층(180)을 포함한다.1 to 4, a light source module 100 includes a
실시 예에 따른 광원 모듈(100)은 청색 LED, 녹색 LED, 적색 LED, 백색 LED, 레이저, 수직캐비티 표면 광 방출 레이즈(VESEL)와 같은 광원을 포함할 수 있다. 상기 광원 모듈(100)은 하나 또는 복수의 반도체 칩으로부터 방출된 일부 광의 파장을 변환하여 방출할 수 있다.The light source module 100 according to an embodiment may include a light source such as a blue LED, a green LED, a red LED, a white LED, a laser, and a vertical cavity surface light emission raise (VESEL). The light source module 100 may convert and emit wavelengths of a part of light emitted from one or a plurality of semiconductor chips.
<회로 기판(110)>≪
상기 회로 기판(110)은 회로 패턴을 포함할 수 있다. 상기 회로 기판(110)은 수지 재질의 PCB(Printed circuit board), 금속 코어를 갖는 PCB(MCPCB, Metal Core PCB), 연성 PCB(FPCB, Flexible PCB), 세라믹 재질 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 회로 기판(110)은 수지 재질의 층이나 세라믹 계열의 층을 포함할 수 있으며, 상기 수지 재질은 실리콘, 또는 에폭시 수지, 또는 플라스틱 재질을 포함하는 열 경화성 수지, 또는 고내열성, 고 내광성 재질로 형성될 수 있다. 상기 세라믹 재질은, 동시 소성되는 저온 소성 세라믹(LTCC: low temperature co-fired ceramic) 또는 고온 소성 세라믹(HTCC: high temperature co-fired ceramic)을 포함한다. The
상기 회로 기판(110)은 도 1과 같이, X축 방향의 길이가 Y축 방향의 길이보다 길게 배치될 수 있다. 여기서, X축 방향은 상기 반도체 칩(150)들이 배열되는 방향일 수 있으며, Y축 방향은 상기 X축 방향과 직교하는 방향이며, Z축 방향은 X,Y축 방향과 직교하는 방향이거나 두께 방향일 수 있다. 다른 예로서, 상기 회로 기판(110)은 X,Y축 방향의 길이가 동일할 수 있다.1, the length of the
상기 회로 기판(110)은 상면에 리드 전극(112,114)을 구비할 수 있으며, 상기 리드 전극(112,114)은 서로 이격된 제1 리드 전극(112)과 제2리드 전극(114)을 포함할 수 있다. 상기 제1,2리드 전극(112,114) 중 적어도 하나 또는 모두는 상기 반도체 칩(150) 아래에 배치될 수 있다. 상기 제1,2리드 전극(112,114)는 상기 반도체 칩(150)과 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 회로 기판(110)의 리드 전극(112,114)은 금속 예컨대, 티타늄(Ti), 구리(Cu), 니켈(Ni), 금(Au), 크롬(Cr), 탄탈늄(Ta), 백금(Pt), 주석(Sn), 은(Ag), 인(P) 중 복수의 금속을 포함할 수 있으며, 다층으로 형성될 수 있다. 상기 회로 기판(110)의 상면에는 솔더 레지스트와 같은 보호층이 배치될 수 있다.The
상기 회로 기판(110) 상에는 상기 반도체 칩(150)을 전기적으로 보호하는 보호 칩(미도시)이 배치될 수 있다. 상기 보호 칩은 싸이리스터, 제너 다이오드, 또는 TVS(Transient voltage suppression)로 구현될 수 있으며, 상기 보호 칩은 상기 반도체 칩(150)을 ESD(electro static discharge)로 부터 보호하게 된다. 상기 보호 칩은 상기 반도체 칩(150) 내에 구현될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. A protective chip (not shown) for electrically protecting the
<반도체 칩(150)>≪
상기 반도체 칩(150)은 광원으로서, 자외선부터 가시광선까지의 파장 대역 중에서 선택적으로 발광하게 된다. 상기 반도체 칩(150)은 UV(ultra violet) LED 칩, 녹색 LED 칩, 청색 LED 칩, 또는 적색 LED 칩을 포함한다. 상기 반도체 칩(150)은 Laser, VCSEL와 같은 소자를 포함할 수 있다. 상기 반도체 칩(150)은 50㎛ 이상의 두께를 가질 수 있으며, 예컨대 50㎛ 내지 300㎛ 범위일 수 있다. 이러한 반도체 칩(150)은 수평형 칩 또는 수직형 칩에 따라 두께가 달라질 수 있으며, 실시 예는 수직형 칩 또는 플립 칩일 수 있다. 상기 반도체 칩(150)은 탑뷰 형상이 다각형 형상 예컨대, 정 사각형 또는 직사각형 형상일 수 있다. 상기 반도체 칩(150)은 탑뷰 형상이 원 형상 또는 다른 다각형 형상일 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. The
상기 반도체 칩(150)이 수직형 칩인 경우, 도 1 및 도 4와 같이 상기 반도체 칩(150) 아래에 제1리드 전극(112)이 배치되고, 상기 제2리드 전극(114)이 제1리드 전극(112)과 이격되며 상기 반도체 칩(150)과 와이어(156)로 연결될 수 있다. 상기 형광체층(170) 및 투광성 수지층(180)에는 상기 반도체 칩(150) 상의 전극을 노출하는 제1개구부(175)가 배치될 수 있으며, 상기 반사 부재(130)에는 상기 회로 기판(110)의 제2리드 전극(114)을 노출하는 제2개구부(135)가 배치될 수 있다. 상기 제1개구부(175)는 탑뷰 형상이 원형상 또는 다각형 형상일 수 있으며, 각 반도체 칩(150) 상에 각각 배치될 수 있다. 상기 제2개구부(135)는 다각형 형상 또는 원 형상일 수 있으며, 상기 각 반도체 칩(150)에 연결된 복수의 와이어(175)가 관통되거나, 각각의 와이어(175)가 관통되도록 복수로 배치될 수 있다. 상기 반도체 칩(150)이 플립형 칩인 경우, 도 5와 같이 상기 반도체 칩(150) 아래에 제1,2리드 전극(미도시)이 배치되어, 상기 반도체 칩(150)과 제1,2리드 전극이 전기적으로 연결될 수 있다. When the
상기 회로 기판(110)의 리드 전극(112,114)은 상기 반도체 칩(150)의 종류나 상기 반도체 칩(150)과의 연결 형태에 따라 다양한 패턴으로 구현될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 회로 기판(110)은 상기 반도체 칩(150)이 복수로 배치된 경우, 상기 반도체 칩(150)을 직렬, 직-병렬, 병렬, 또는 병-직렬로 연결해 줄 수 있다. The
상기 반도체 칩(150)은 도 4와 같이, 발광 구조물(152) 및 전극층(154)을 포함하며, 상기 발광 구조물(152)는 제1도전형 반도체층, 활성층 및 제2도전형 반도체층을 포함할 수 있으며, 자외선 내지 가시광선 범위의 파장 중에서 선택적으로 발광할 수 있다. 상기 발광 구조물(152)은 III족-V족 화합물 반도체 및 II족-VI족 화합물 반도체를 포함할 수 있다. 상기 전극층(154)은 제1리드 전극과 연결되며 전원을 공급하고, 상기 발광 구조물(152) 상의 전극(25)은 와이어(156)로 연결될 수 있다. 상기 전극층(154)은 단층 또는 다층으로 구현될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 4, the
상기 반도체 칩(150)은 복수개가 적어도 하나의 행 또는 열로 배치되거나, 2행 또는/및 2열 이상으로 배열될 수 있다. 상기 반도체 칩(150)은 도 16과 같이 소정 직경을 갖는 원 형상의 영역 내에 복수로 배치될 수 있다. The plurality of
상기 반도체 칩(150)이 복수로 배치된 경우, 서로 이격될 수 있다. 상기 복수의 반도체 칩(150)은 일정한 간격을 갖거나 서로 다른 간격을 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. When a plurality of the
<반사 부재(130)>≪ Reflecting
상기 반사 부재(130)는 회로 기판(110) 상에 배치된다. 상기 반사 부재(130)는 상기 회로 기판(110) 상에서 상기 반도체 칩(150)의 둘레에 배치된다. 상기 반사 부재(130)는 상기 반도체 칩(150)의 표면 예컨대, 상기 반도체 칩(150)의 측면들에 접촉될 수 있다. 상기 반사 부재(130)의 상면은 상기 반도체 칩(150)의 상면과 같거나 낮은 높이로 배치될 수 있다. 상기 반사 부재(130)는 상기 반도체 칩(150)들 사이의 영역에 배치될 수 있다. 상기 반사 부재(130)의 하면 면적은 상기 회로 기판(110)의 상면 면적과 같거나 작을 수 있다. 상기 반사 부재(130)의 상면 면적은 상기 형광체층(170)의 하면 면적보다 넓을 수 있어, 광의 손실을 줄여줄 수 있다. 상기 반사 부재(130)의 상면에는 상기 형광체층(170)의 하면이 접촉되거나 부착될 수 있다. 이러한 반사 부재(130)는 상기 반도체 칩(150)의 측면으로 진행하는 광을 반사하거나, 형광체층(170)이나 투광성 수지층(180)에 의해 반사된 광에 대해 재 반사시켜 줄 수 있다. 따라서 광 손실을 줄이고 광 추출 효율을 개선시켜 줄 수 있다.The
상기 반사 부재(130)는 상기 반도체 칩(150)의 둘레에 배치되어, 상기 반도체 칩(150)의 측 방향으로 진행되는 광을 반사시켜 주고, 광 손실을 줄여줄 수 있다. The
상기 반사 부재(130)는 수지 재질 내에 금속 산화물이 첨가된다. 상기 수지 재질은 실리콘 또는 에폭시를 포함하며, 상기 금속 산화물은 수지 재질보다 굴절률이 높은 물질로서, 예컨대 Al2O3, TiO2 또는 SiO2 중 적어도 하나를 포함한다. 상기 금속 산화물은 상기 반사 부재(130) 내에 5wt% 이상 예컨대, 5~30wt% 범위로 형성된다. 상기 반사 부재(130)는 상기 반도체 칩(150)으로부터 방출된 광에 대해 90% 이상의 반사율을 가질 수 있다. 상기 반사 부재(130)는 합성 수지와 같은 수지 재질을 포함할 수 있으며, 표면에 반사 패턴이 형성될 수 있다. 상기 합성 수지는 합성 수지로서는 폴리에틸엔 테레프탈레이트, 폴리에틸렌 나프탈레이트, 아크릴수지, 콜리카보네이트, 폴리스티렌, 폴리올레핀, 셀룰로소스 아세테이트, 내후성 염화비닐이 적용될 수도 있다.The
도 2 및 도 3과 같이, 상기 반사 부재(130)는 측면 반사부(132)를 포함한다. 상기 측면 반사부(132)는 상기 형광체층(170)의 측면 상에 배치될 수 있다. 상기 측면 반사부(132)는 상기 형광체층(170)의 측면으로부터 누설되는 광을 반사시켜 줄 수 있다. 상기 측면 반사부(132)는 상기 형광체층(170)의 상면 외측에 배치되므로, 형광체층(170)의 상면을 통해 추출되는 광에 영향을 주지 않을 수 있다. 상기 반사 부재(130)의 측면 반사부(132)는 상기 형광체층(170)의 하면보다 높고 상기 형광체층(170)의 상면과 같거나 낮게 배치될 수 있다. 상기 측면 반사부(132)는 위로 갈수록 점차 얇은 너비를 가질 수 있다. 여기서, 상기 측면 반사부(132)의 너비 방향은 상기 형광체층(170)의 중심을 기준으로 X축 방향 또는 Y축 방향의 두께일 수 있다.As shown in FIGS. 2 and 3, the
상기 반사 부재(130)의 두께는 상기 반도체 칩(150)의 두께와 동일하거나 작을 수 있다. 상기 반사 부재(130)는 상기 반도체 칩(150)을 탑재한 다음 형성됨으로써, 모세관 현상에 의해 상기 반도체 칩(150)의 표면을 따라 상기 반사 부재(130)가 이동될 수 있다. 이를 방지하기 위해, 반사 부재(130)를 상기 반도체 칩(150)의 상면 이하의 높이로 배치하고, 형광체층(170) 및 투광성 수지층(180)을 상기 반사 부재(130) 상에 배치하여 상기 반도체 칩(150)의 상면이나 형광체층(170)의 상면으로 반사 부재(130)의 일부가 이동하는 것을 방지할 수 있다. The thickness of the
<형광체층(170)><
상기 형광체층(170)은 상기 반사 부재(130)와 상기 반도체 칩(150) 위에 배치될 수 있다. 상기 형광체층(170)은 상기 반사 부재(130)의 상면에 접촉될 수 있다. 상기 형광체층(170)의 길이는 도 1과 같이, X축 방향의 길이가 Y축 방향의 길이보다 길게 배치될 수 있다. 상기 형광체층(170)의 X축 방향의 길이는 X축 방향으로 배열된 최 외곽 반도체 칩(150) 간의 간격보다 큰 길이로 배치될 수 있으며, Y축 방향의 길이는 각 반도체 칩의 Y축 방향의 길이보다 길게 배치될 수 있다. 상기 형광체층(170)은 복수의 반도체 칩(150)을 커버하는 크기로 배치될 수 있다.The
상기 형광체층(170)은 상기 반도체 칩(150)으로부터 방출된 일부 광을 흡수하여 다른 파장의 광으로 파장 변환하게 된다. 상기 형광체층(170)은 실리콘 또는 에폭시와 같은 투광성 수지 재질에 형광체를 포함할 수 있다. 상기 형광체는 황색 형광체, 녹색 형광체, 청색 형광체, 적색 형광체 중 적어도 하나를 포함할 수 있으며, 예를 들면, Eu, Ce 등의 란타노이드계 원소에 의해 주로 활성화되는 질화물계 형광체·산질화물계 형광체·사이어론계 형광체, Eu 등의 란타노이드계, Mn 등의 천이금속계의 원소에 의해 주로 활성화되는 알칼리 토류 할로겐 아파타이트 형광체, 알칼리 토류 금속 붕산 할로겐 형광체, 알칼리 토류 금속 알루민산염 형광체, 알칼리 토류 규산염, 알칼리 토류 황화물, 알칼리 토류 티오갈레이트, 알칼리 토류 질화규소, 게르마늄산염, 또는, Ce 등의 란타노이드계 원소에 의해 주로 활성화되는 희토류 알루민산염, 희토류 규산염 또는 Eu 등의 란타노이드계 원소에 의해 주로 활성화되는 유기 및 유기 착체 등으로부터 선택되는 적어도 어느 하나 이상일 수 있다. 구체적인 예로서, 상기의 형광체를 사용할 수 있지만, 이것에 한정되지 않는다.The
상기 형광체층(170)은 도 2와 같이, 상기 반도체 칩(150)의 두께와 다른 두께(T1)를 가질 수 있다. 상기 형광체층(170)은 100㎛ 이상 예컨대, 100㎛ 내지 200㎛의 범위의 두께(T1)로 형성될 수 있으며, 상기 범위보다 작은 경우 형광체 분포가 균일하지 못하여 색 편차가 발생될 수 있으며 상기 범위보다 큰 경우 광 추출 효율이 저하될 수 있다. 상기 형광체층(170)은 상기 반도체 칩(150)의 두께보다 작은 두께(T1)를 갖고, 상기 반도체 칩(150) 상에 부착될 수 있다. 상기 형광체층(170)은 필름 형태로 제공될 수 있다. 상기 형광체층(170)의 상면 및 하면이 수평한 평면으로 제공될 수 있다. 상기 형광체층(170)은 단층 또는 다층 구조를 포함할 수 있다.The
상기 형광체층(170)으로부터 방출된 광과 상기 반도체 칩(150)으로부터 방출된 광은 백색 광으로 혼합될 수 있다. 상기 백색 광은 색 온도 예컨대, 2000K 내지 10000K의 범위 내에서 색 온도를 가질 수 있다. 상기 백색 광은 웜 화이트(Warm white), 쿨 화이트(Cool white) 또는 뉴트럴 화이트(Neutral white) 중 적어도 하나의 색 온도를 가질 수 있다. The light emitted from the
<투광성 수지층(180)>≪
상기 투광성 수지층(180)은 상기 형광체층(170) 상에 배치된다. 상기 투광성 수지층(180)은 상기 형광체층(170)의 상면에 부착될 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)은 실리콘 또는 에폭시와 같은 투명한 수지 재질로 형성될 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)은 불소 수지를 포함할 수 있으며, 이 경우 방습 특성이 개선될 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)은 내부에 확산제나 형광체와 같은 불순물이 첨가되지 않는 투명한 층으로 형성될 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)은 상기 형광체층(170)을 통해 입사되는 광을 투과시켜 줄 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)은 상기 형광체층(170)의 굴절률보다 낮은 굴절률을 갖는 재질이거나, 상기 형광체층(170)과의 굴절률 차이가 0.3 이하의 재질을 포함할 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)은 상기 형광체층(170)의 굴절률보다 낮은 재질로 배치되므로, 상기 형광체층(170)을 통해 입사되는 광을 반사시키지 않고 투과시켜 줄 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)은 투명한 수지 재질로 단층 또는 다층으로 형성될 수 있다. The
상기 투광성 수지층(180)은 상기 형광체층(170)의 상면 면적과 같은 면적이거나 작은 면적일 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)이 상기 형광체층(170)보다 외측으로 돌출된 경우, 상기 투광성 수지층(180)의 돌출된 부분이 벗겨지는 문제가 발생될 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)이 상기 형광체층(170) 상에 배치되므로, 상기 반사 부재(130)의 일부가 상기 형광체층(170)의 상면을 덮는 문제를 방지하며 상기 형광체층(170)을 통해 입사된 광의 투과 효율을 개선시켜 줄 수 있다. 이에 따라 형광체층(170) 상에 공기와 같은 매질이 존재하는 구조에 비해 광 손실을 줄이고 광 추출 효율을 개선시켜 줄 수 잇다. The light transmitting
도 2와 같이, 상기 투광성 수지층(180)의 두께(T2)는 상기 형광체층(170)의 두께(T1)보다 작게 배치되어, 광의 손실을 줄여줄 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)의 두께(T2)는 상기 형광체층(170)의 두께(T1)의 0.1배 내지 0.9배 범위로 배치될 수 있으며, 예컨대 10㎛ 내지 180㎛의 범위로 배치될 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)의 두께(T2)가 상기 범위보다 작은 경우 광 추출 효율의 개선이 미미하고 반사 부재(130)가 얇은 두께를 갖는 투광성 수지층(180)의 상면으로 침투하는 문제가 발생될 수 있으며, 상기 범위보다 큰 경우 광 추출 효율이 저하될 수 있다. 2, the thickness T2 of the
실시 예는 형광체층(170)의 상면에 투광성 수지층(180)이 배치됨으로써, 상기 형광체층(170)의 에지측 상면으로 반사 부재(130)가 침투하는 문제를 방지할 수 있다. 이에 따라 광원 모듈(100)의 광속이 개선될 수 있다. 도 19와 같이, 실시 예는 도 2의 광원 모듈의 그래프이며, 비교 예는 도 2의 광원 모듈에서 투광성 수지층(180)이 제거된 경우의 광속을 나타낸 그래프이다. 도 19의 실시 예와 비교 예의 광속과 같이, 실시 예의 광속이 비교 예에 비해 반도체 칩(150)으로부터 방출된 피크 파장이 2% 이상 높게 나타남을 알 수 있다. 상기 반도체 칩(150)은 예컨대, 청색 파장을 방출하며, 상기 형광체층(170)은 황색 광을 방출한 예이다.In the embodiment, the
실시 예는 복수의 반도체 칩(150)의 둘레에 반사 부재(130)가 배치되고 상기 반사 부재(130) 및 상기 반도체 칩(150) 상에 형광체층(170)이 부착됨으로써, 상기 형광체층(170)이 벗겨지는 문제를 방지할 수 있고, 상기 형광체층(170)으로의 광 입사 효율이 개선될 수 있다. 상기 형광체층(170)이 필름 형태로 부착됨으로써, 형광체 분포에 따른 색차 문제나 두께 차이에 따른 발광 편차 문제를 제거할 수 있다.A
도 6은 도 2의 광원 모듈의 제1변형 예로서, 도 6의 설명에 있어서, 상기에 개시된 구성과 동일한 구성에 대한 설명은 상기의 설명을 참조하기로 하며 상기에 개시된 구성 및 설명은 제1변형 예에 선택적으로 적용될 수 있다. 6 is a first modification of the light source module of FIG. 2. In the description of FIG. 6, the description of the same configuration as that described above will be referred to the above description. It can be selectively applied to the modified example.
도 6을 참조하면, 광원 모듈은 회로 기판(110), 반도체 칩(150), 반사 부재(130), 형광체층(170) 및 투광성 수지층(180)을 포함한다.6, the light source module includes a
상기 투광성 수지층(180)은 상기 형광체층(170)의 상면 위에 소정 두께(T2)로 배치될 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)은 외곽 보호부(182)를 포함하며, 상기 외곽 보호부(182)는 상기 형광체층(170)의 측면들 및 상기 반사 부재(130)의 상면에 연장될 수 있다. 상기 외곽 보호부(182)는 상기 형광체층(170)의 전 측면의 둘레를 커버하게 된다. 상기 외곽 보호부(182)는 상면이 플랫한 형태로 제공될 수 있다. 상기 외곽 보호부(182)는 상기 형광체층(170)의 외측 둘레에 소정 폭(W1)으로 배치될 수 있으며, 예컨대 100㎛ 이상의 폭으로 배치될 수 있다. 상기 폭이 100㎛ 미만인 경우 반사 부재(130)의 침투 경로가 짧아 침투 차단 효과가 저하될 수 있다. 또한 상기 외곽 보호부(182)는 상기 형광체층(170)의 측면을 보호하고 상기 형광체층(170)의 측면을 통해 광을 추출시켜 줄 수 있다. 상기 외곽 보호부(182)의 폭 W1>T2의 관계를 가질 수 있다.The
상기 반사 부재(130)의 측면 반사부(132)는 상기 투광성 수지층(180)의 외곽 보호부(182)의 외측에 배치될 수 있다. 상기 외곽 보호부(182)의 외측에 상기 측면 반사부(132)가 배치됨으로써, 상기 투광성 수지층(180)의 측 방향으로 누설되는 광을 효과적으로 반사시켜 줄 수 있고 상기 형광체층(170)과 상기 반사 부재(130)의 측면 반사부(132)를 이격시켜 줄 수 있다. 상기 측면 반사부(132)는 상기 외곽 보호부(182)의 외측 둘레를 따라 배치될 수 있다. 상기 측면 반사부(132)와 상기 외곽 보호부(182)는 상기 반사 부재(130)의 에지로부터 이격되어 배치될 수 있다.The side
다른 예로서, 상기 반사 부재(130)의 측면 반사부(132)는 상기 형광체층(170)의 측면과 상기 투광성 수지층(180)의 외곽 보호부(182) 사이에 배치될 수 있다. 이러한 측면 반사부(132)는 상기 형광체층(170)의 측면을 통해 누설된 광을 반사시켜 줄 수 있다. 상기 측면 반사부(132)는 상기 형광체층(170)의 측면과 상기 투광성 수지층(180)의 외곽 보호부(182) 사이의 접착력을 개선시켜 줄 수 있다. As another example, the side
도 6의 실시 예는 도 20과 같이, 청색 피크 파장의 광속이 비교 예에 비해 4% 이상 높게 나타남을 알 수 있다. 여기서, 비교 예는 도 6의 광원 모듈에서 상기 형광체층(170) 상에 투광성 수지층(180)이 없는 구조이다. As shown in FIG. 20, the embodiment of FIG. 6 shows that the luminous flux of the blue peak wavelength is 4% higher than that of the comparative example. Here, in the comparative example, the light-transmitting
도 7은 도 2의 광원 모듈의 제2변형 예로서, 도 7의 설명에 있어서, 상기에 개시된 구성과 동일한 구성에 대한 설명은 상기의 설명을 참조하기로 하며 상기에 개시된 구성 및 설명은 제2변형 예에 선택적으로 적용될 수 있다. 7 is a second modification of the light source module of Fig. 2. In the description of Fig. 7, the same constitution as that described above will be described with reference to the above description, It can be selectively applied to the modified example.
도 7을 참조하면, 광원 모듈은 회로 기판(110), 반도체 칩(150), 반사 부재(130), 형광체층(170) 및 투광성 수지층(180)을 포함한다.Referring to FIG. 7, the light source module includes a
광원 모듈은 상기 반사 부재(130)와 상기 반도체 칩(150) 사이에 배치된 광 가이드층(140)을 포함할 수 있다. 상기 광 가이드층(140)은 상기 반도체 칩(150)의 측면 상에 배치될 수 있다. 상기 광 가이드층(140)은 실리콘 또는 에폭시와 같은 투명한 수지 재질로 형성될 수 있다. 상기 광 가이드층(140)은 상기 반도체 칩(150)들의 둘레에 소정 깊이를 갖는 홈(134)을 따라 배치될 수 있다. 상기 홈(134)의 깊이는 상기 반도체 칩(150)의 두께보다 작을 수 있으며, 상기 홈(134)의 폭은 상기 반도체 칩(150)의 너비의 1/2 이하일 수 있다. 상기 홈(134)의 폭은 하 방향 또는 회로 기판 방향으로 갈수록 점차 좁아질 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The light source module may include a
상기 홈(134)에는 광 가이드층(140)이 배치되며, 상기 광 가이드층(140)은 상기 반도체 칩(150)의 측면으로부터 상기 반사 부재(130)를 이격시켜 줄 수 있다. 상기 광 가이드층(140)은 상기 반도체 칩(150)의 측면으로 방출된 광이나 상기 광 가이드층(140)의 외측에 배치된 반사 부재(130)에 의해 반사된 광을 투과시켜 가이드하게 된다. 이러한 광 가이드층(140)은 상기 반도체 칩(150)의 측 방향으로 진행하는 광을 반사 부재(130)로 반사하여 출사 방향으로 가이드되도록 할 수 있다. 이에 따라 상기 반도체 칩(150)의 표면에 반사 부재(130)가 부착될 때, 상기 반도체 칩(150)의 측면에서의 광 손실을 줄여줄 수 있다. 상기 광 가이드층(140)은 상기 반도체 칩(150)의 탑재 전에 반도체 칩의 측면 상에 부착될 수 있고, 상기 반도체 칩(150)의 탑재하고 반사 부재(130)를 형성한 다음, 상기 반도체 칩(150)과 반사 부재(130) 사이의 계면을 통해 홈(134)을 형성한 후 광 가이드층(140)을 배치할 수 있다. 상기 광 가이드층(140)은 상기 반사 부재(130)와 상기 반도체 칩(150) 사이에 배치되어, 반도체 칩(150)에서의 측면 광의 추출 효율을 개선시켜 줄 수 있다. A
도 8은 제2실시 예에 따른 광원 모듈을 나타낸 측 단면도이며, 도 9는 도 8의 부분 확대도이다. 도 8 및 도 9의 설명에 있어서, 상기에 개시된 구성과 동일한 구성에 대한 설명은 상기의 설명을 참조하기로 하며 상기에 개시된 구성 및 설명은 선택적으로 적용될 수 있다. FIG. 8 is a side sectional view showing the light source module according to the second embodiment, and FIG. 9 is a partially enlarged view of FIG. In the description of Fig. 8 and Fig. 9, the description of the same configuration as that described above is referred to the above description, and the configuration and explanation described above can be selectively applied.
도 8 및 도 9를 참조하면, 광원 모듈은 회로 기판(110), 반도체 칩(150), 반사 부재(130), 형광체층(170) 및 광 추출 구조를 갖는 투광성 수지층(190)을 포함한다.8 and 9, the light source module includes a
상기 투광성 수지층(190)은 광 추출 구조를 포함할 수 있다. 상기 투광성 수지층(190)은 입사부(191) 및 상기 입사부(191) 상에 돌출부들(192)을 갖는 광 추출 구조를 포함할 수 있다. 도 9와 같이, 상기 입사부(191)는 상기 형광체층(170) 상에 소정 두께(D3)로 배치되어, 돌출부(192)를 서로 연결해 줄 수 있다. 상기 입사부(191)는 70㎛ 이하의 두께(D3) 예컨대, 30㎛ 내지 70㎛의 범위로 배치되어, 입사되는 광을 반사 손실을 줄이고 투과 효율을 개선시켜 줄 수 있다. 상기 입사부(191)로부터 입사된 광은 광 추출 구조를 통해 광의 임계각이 변화되어 외부로 추출될 수 있다. 상기 광 추출 구조는 복수의 돌출부(192)를 포함하며, 상기 복수의 돌출부(192)는 서로 이격될 수 있다. 상기 각 돌출부(192)는 뿔 형상 예컨대, 다각뿔 형상, 원뿔 형상, 다각뿔 대 형상, 원뿔대 형상, 반구형 렌즈, 비구면 형상의 렌즈 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 복수의 돌출부(192)는 매트릭스 형태로 배열되거나, 복수의 행 또는 열들이 지그 재그 형태로 배열될 수 있다. 상기 돌출부(192) 사이의 영역은 상기 입사부(191)를 향하여 점차 좁은 너비를 가질 수 있다.The light transmitting
도 9와 같이, 상기 돌출부(192)의 주기(D1)는 상기 돌출부(192) 간의 간격(D5)의 n배일 수 있으며, 상기 n은 1 < n < 3의 관계를 만족하는 실수이다. 상기 돌출부(192)의 주기(D1)는 상기 입사부(191)의 두께의 m배일 수 있으며, 상기 m은 5≤m≤7의 관계를 만족하는 실수이다. 상기 돌출부(192) 높이(D4)는 상기 돌출부(192) 간의 주기(D1)의 0.5배 내지 1.5배 범위일 수 있다. 상기 돌출부(192)의 높이(D4)는 상기 입사부(191)의 두께보다 클 수 있다. 상기 광 추출 구조를 갖는 투광성 수지층(190)은 형광체층(170)을 통한 광의 추출 효율을 개선시켜 줄 수 있다. 또한 상기 투광성 수지층(190)은 입사부(191)를 갖고 배치되므로, 상기 반사 부재(130)의 측면 반사부(132)가 상기 형광체층(170)의 상면에 침투하는 것을 방지할 수 있다. 상기 주기(D1)는 2.5㎛ 내지 3㎛의 범위를 가질 수 있다.9, the period D1 of the
상기 반사 부재(130)의 측면 반사부(132)는 상기 형광체층(170)의 측면에 배치되어, 상기 형광체층(170)의 측 방향으로 누설되는 광을 반사시켜 줄 수 있다. 상기 반사 부재(130)의 측면 반사부(132)는 상기 입사부(191)의 측면에 접촉될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. The side
도 10은 도 9의 광 추출 구조의 다른 예로서, 상기 광 추출 구조는 반구형 형상을 갖는 돌출부(192)들이 지그 재그로 배열될 수 있다. 상기 광 추출 구조의 돌출부(192)는 곡면으로 제공하므로, 입사되는 광을 굴절시켜 줄 수 있다. 또한 상기 광 추출 구조는 반구형 형태로 제공되므로, 돌출부(192)의 높이를 낮추고 상기 돌출부(192) 간의 간격을 더 좁혀 줄 수 있다. 이에 따라 상기 돌출부(192)로 진행되는 광량을 높여줄 수 있다. 상기 돌출부(192)의 높이(D4)는 1㎛ 내지 2㎛의 범위일 수 있고 상기 돌출부(192) 간의 주기(D1)보다는 작을 수 있다. 이러한 반구형 렌즈 형상의 돌출부(192)는 바닥 면적을 더 넓혀 주어, 입사 광량과 추출 효율이 개선시켜 줄 수 있다. 상기 광 추출 구조는 마이크로 렌즈 어레이(micro lens array) 형태로 제공될 수 있다. 상기 돌출부(192)들은 육방최밀격자 또는 면심입방 격자 형태로 배열될 수 있다. FIG. 10 is another example of the light extracting structure of FIG. 9, in which the light extracting structure may be arranged in a jig as shown in FIG. Since the
제2실시 예에 따른 광원 모듈의 광속은 도 21과 같이, 비교 예에 비해 2% 이상 광속이 증가됨을 알 수 있다. 상기 비교 예는 광 추출 구조를 갖는 투광성 수지층(190)이 없이 형광체층(170)을 통해 광이 추출되는 구조이다. As shown in FIG. 21, the luminous flux of the light source module according to the second embodiment is increased by 2% or more as compared with the comparative example. The comparative example is a structure in which light is extracted through the
도 11은 도 8의 광원 모듈의 제1변형 예이다. 도 11의 설명에 있어서, 상기에 개시된 구성과 동일한 구성에 대한 설명은 상기의 설명을 참조하기로 하며 상기에 개시된 구성 및 설명은 선택적으로 적용될 수 있다. 11 is a first modification of the light source module of Fig. In the description of FIG. 11, the description of the same configuration as that described above is referred to the above description, and the configuration and explanation disclosed above can be selectively applied.
도 11을 참조하면, 광원 모듈은 회로 기판(110), 반도체 칩(150), 반사 부재(130), 형광체층(170) 및 광 추출 구조를 갖는 투광성 수지층(190)을 포함한다.11, the light source module includes a
상기 투광성 수지층(190)은 외곽 보호부(193)를 포함한다. 상기 외곽 보호부(193)는 상기 광 추출 구조인 돌출부(192)의 외측 둘레를 따라 배치되며, 링 형상 또는 프레임 형상으로 형성될 수 있다. 상기 외곽 보호부(193)는 상기 형광체층(170)의 상면 에지 영역에 배치되어, 댐 역할을 수행한다. 상기 외곽 보호부(193)는 상기 형광체층(170)의 상면 에지 영역을 반사 부재(130)로부터 보호하게 된다. 상기 외곽 보호부(193)는 측 단면이 삼각형, 사각형 형상이거나 사다리꼴과 같은 다각형 형상일 수 있다. 상기 외곽 보호부(193)의 측 단면의 면적은 상기 각 돌출부(192)의 측 단면의 면적보다 클 수 있다. 상기 반사 부재(130)의 측면 반사부(132)는 상기 투광성 수지층(190)의 외곽 보호부(193)에 접촉될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The
도 12는 도 11의 광원 모듈의 제2변형 예이다. 도 12의 설명에 있어서, 상기에 개시된 구성과 동일한 구성에 대한 설명은 상기의 설명을 참조하기로 하며 상기에 개시된 구성 및 설명은 선택적으로 적용될 수 있다. 12 is a second modification of the light source module of Fig. In the description of FIG. 12, description of the same configuration as that described above is referred to the above description, and the configuration and explanation disclosed above can be selectively applied.
도 12을 참조하면, 광원 모듈은 회로 기판(110), 반도체 칩(150), 반사 부재(130), 형광체층(170) 및 광 추출 구조를 갖는 투광성 수지층(190)을 포함한다.12, the light source module includes a
상기 반사 부재(130)와 상기 반도체 칩(150) 사이에는 광 가이드층(140)이 배치될 수 있다. 상기 광 가이드층(140)은 상기 반도체 칩(150)의 측면과 상기 형광체층(170)의 하면에 접촉될 수 있다. 상기 광 가이드층(140)은 상기 반도체 칩(150)의 측면을 통해 진행되는 광을 가이드하여, 반사 부재(130)를 통해 반사시켜 줄 수 있다. 이러한 광 가이드층(140)은 실리콘 또는 에폭시와 같은 재질로 형성될 수 있다. 상기 광 가이드층(140)은 상기 반도체 칩(150)의 한 측면, 서로 반대측 측면 또는 모든 측면 상에 배치되어, 상기 반도체 칩(150)으로부터 측 방향으로 진행하는 광의 추출 효율을 개선시켜 줄 수 있다.A
도 13은 도 11의 광원 모듈의 제3변형 예이다. 도 13의 설명에 있어서, 상기에 개시된 구성과 동일한 구성에 대한 설명은 상기의 설명을 참조하기로 하며 상기에 개시된 구성 및 설명은 선택적으로 적용될 수 있다. 13 is a third modification of the light source module of Fig. In the description of FIG. 13, the description of the same configuration as that described above is referred to the above description, and the configuration and explanation disclosed above can be selectively applied.
도 13을 참조하면, 광원 모듈은 회로 기판(110), 반도체 칩(150), 반사 부재(130), 형광체층(170) 및 광 추출 구조를 갖는 투광성 수지층(190)을 포함한다.13, the light source module includes a
상기 광 추출 구조의 돌출부(192)는 상기 반도체 칩(150)과 중첩되는 제1영역(A1)과, 상기 반사 부재(130)와 중첩되는 제2영역(A2)을 포함하며, 상기 제1영역(A1)에 배치된 돌출부(192)의 높이 또는 크기는 상기 제2영역(A2)에 배치된 돌출부(192)의 높이 또는 크기보다 클 수 있다. 상기 반도체 칩(150) 상에 배치된 제1영역(A1)의 돌출부(192)를 더 큰 크기로 배치함으로써, 상기 반도체 칩(150) 상의 제1영역(A1)과 상기 반사 부재(130) 상의 제2영역(A2) 사이의 광도 편차를 줄여줄 수 있다. 상기 제2영역(A2)의 돌출부(192)의 높이는 상기 제1영역(A1)의 돌출부(192)의 높이의 0.3 내지 0.7배의 범위로 배치될 수 있다.The
도 14는 도 11의 광원 모듈의 제4변형 예이다. 도 14의 설명에 있어서, 상기에 개시된 구성과 동일한 구성에 대한 설명은 상기의 설명을 참조하기로 하며 상기에 개시된 구성 및 설명은 선택적으로 적용될 수 있다. 14 is a fourth modification of the light source module of Fig. In the description of FIG. 14, the description of the same configuration as that described above is referred to the above description, and the configuration and explanation disclosed above can be selectively applied.
도 14를 참조하면, 광원 모듈은 회로 기판(110), 반도체 칩(150), 반사 부재(130), 형광체층(170) 및 광 추출 구조를 갖는 투광성 수지층(190)을 포함한다.14, the light source module includes a
상기 투광성 수지층(190)의 외곽 보호부(193A)는 상기 형광체층(170)의 측면 외측에 배치될 수 있다. 상기 외곽 보호부(193A)는 상기 형광체층(170)의 측면과 상기 반사 부재(130)의 상면으로 연장될 수 있다. 상기 투광성 수지층(190)의 외곽 보호부(193A)는 상기 형광체층(170)과 중첩되지 않는 영역에 배치되며 상기 반사 부재(130)의 상면과 접촉될 수 있다. 상기 외곽 보호부(193A)는 상기 형광체층(170)의 측면에 부착되어 상기 반사 부재(130)의 일부가 상기 형광체층(170)의 상면으로 침투하는 것을 방지할 수 있다. 상기 반사 부재(130)의 측면 반사부(132)는 상기 투광성 수지층(190)의 외곽 보호부(193A)의 외측에 배치되므로, 상기 형광체층(170)으로부터 이격될 수 있다. 상기 반사 부재(130)의 측면 반사부(132)는 상기 투광성 수지층(190)의 외곽 보호부(193A)와 상기 형광체층(170)의 측면 사이에 배치될 수 있어, 형광체층(170)의 측 방향으로 누설되는 광을 반사시켜 줄 수 있고, 상기 형광체층(170)과 외곽 보호부(193A)에 밀착 결합될 수 있다. 여기서, 반사 부재(130)의 측면 반사부(132)는 상기 형광체층(170)의 외측 둘레에 배치되거나, 상기 외곽 보호부(193A)의 외측 둘레에 배치될 수 있다.The outer
도 22와 같이, 도 14의 광원 모듈의 광속은 비교 예에 비해 4% 이상이 개선됨을 알 수 있다. 비교 예는 광원 모듈이 광 추출 구조를 갖는 투광성 수지층(190) 없이 형광체층(170)을 통해 광이 추출되는 구조이다. 도 14의 광원 모듈은 도 12의 광원 모듈에 비해, 투광성 수지층(190)의 외곽 보호부(193A)를 더 구비한 구성으로서, 상기 외곽 보호부(193A)에 의해 상기 형광체층(170)의 측 방향으로의 광 추출을 개선시켜 줄 수 있다. As shown in FIG. 22, the luminous flux of the light source module of FIG. 14 is improved by 4% or more as compared with the comparative example. The comparative example is a structure in which the light source module extracts light through the
도 15는 도 11의 광원 모듈의 제4변형 예이다. 도 15의 설명에 있어서, 상기에 개시된 구성과 동일한 구성에 대한 설명은 상기의 설명을 참조하기로 하며 상기에 개시된 구성 및 설명은 선택적으로 적용될 수 있다. 15 is a fourth modification of the light source module of Fig. In the description of FIG. 15, the description of the same configuration as that described above is referred to the above description, and the configuration and explanation disclosed above can be selectively applied.
도 15를 참조하면, 광원 모듈은 회로 기판(110), 반도체 칩(150), 반사 부재(130), 형광체층(170) 및 광 추출 구조를 갖는 투광성 수지층(190)을 포함한다.15, the light source module includes a
상기 투광성 수지층(190)의 광 추출 구조는 복수의 돌출부(192)들 사이의 영역에 상기 형광체층(170)이 노출될 수 있다. 상기 광 추출 구조는 돌출부(192)들이 서로 이격되거나, 상기 돌출부(192)들의 하부가 서로 접촉될 수 있다. 상기 광 추출 구조는 돌출부(192)들 사이의 영역을 개방시켜 주거나 돌출부(192)들의 밀도를 높여줌으로써, 광의 추출 효율을 개선시켜 줄 수 있다.The light extracting structure of the light transmitting
도 16은 광원 모듈의 다른 형태를 나타낸 도면으로서, 반도체 칩(150)이 회로 기판(110) 상에 소정 직경을 갖는 원 영역 내에 배치되며, 상기 원 영역 상에 형광체층과 투광성 수지층(190)이 원 형상으로 배치될 수 있다. 상기 회로 기판(110) 상에는 반사 부재(130)가 배치되어, 광을 반사시켜 줄 수 있다. 이 경우 상기 반도체 칩(150)의 개수 또는 밀도를 더 높여줄 수 있다. 상기 반도체 칩(150)이 배열되는 외곽 선의 형상은 원 형상의 영역이 다닌 직사각형 또는 정 사각형 형상일 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.16 shows another embodiment of the light source module in which the
도 17은 실시 예에 따른 광원 모듈을 갖는 조명 장치의 예이다. 상기의 조명 장치를 설명함에 있어서, 상기에 개시된 구성(들)과 동일한 부분은 선택적으로 적용될 수 있다. 상기 조명 장치는 평판디스플레이에 적용되는 백라이트 유닛이나, 실내환경에 사용하는 실내등, 또는 자동차 외부에 설치되는 전조등, 안개등, 후퇴등, 차폭등, 번호등, 후미등, 제동등, 방향지시등, 비상점멸표시등이나, 자동차 내부에 설치되는 실내조명등에 다양하게 적용될 수 있다.17 is an example of a lighting apparatus having a light source module according to an embodiment. In describing the above illumination device, the same parts as the configuration (s) described above can be selectively applied. The lighting device may be a backlight unit applied to a flat panel display, an interior lamp used in an indoor environment, or a headlamp, a fog lamp, a retractor, a car light, a numeral, a tail lamp, a brake light, a turn indicator, , Indoor lighting installed in a car, and the like.
도 17을 참조하면, 조명 장치는, 실시 예에 개시된 광원 모듈(100A, 100B, 100C)을 갖는 조명모듈(200)과, 상기 조명모듈(110)에서 출사하는 광의 광도를 제어하는 이너렌즈(215), 상기 이너렌즈(215)로부터 출사된 광을 회절시켜 광 형상을 제어하는 광 형상 제어 모듈(220)과, 상기 광형상 제어 모듈(220)로부터 출사된 광을 확산시켜 주어 광 이미지를 구현하는 아우터 렌즈(230)를 포함한다.17, the illumination device includes an
상기 조명 모듈(200)의 광원 모듈(100A,100B,100C)는 상기에 개시된 광원 모듈로서, 하나 또는 복수개가 배치될 수 있으며, 적색, 녹색, 적색 또는 백색의 광이 방출될 수 있다. 상기 복수의 광원 모듈(100A,100B,100C)는 개별 구동 또는 동시에 구동되어, 광의 광도나 광량이 제어될 수 있다.The
상기 이너 렌즈(inner lens)(215)는 입사되는 광을 확산하거나 집광시켜 줄 수 있다. 상기 광형상 제어모듈(220)은 상기 이너 렌즈(215)로부터 소정 거리(D)로 이격되어, 상기 각 광원 모듈(100A,100B,100C)와 대응되는 위치에 광 형상의 제어를 위한 패턴을 구비할 수 있다. 상기 패턴은 투명기판이나 투명필름, 투명시트 상에 다양한 광 이미지를 구현하는 이미지를 패터닝하거나, 랜덤한 패턴을 구현하는 것으로, 일예로 DOE(Diffractive optical elements) 또는 HOE(Holographic optical elements)가 구현되는 것을 적용할 수 있다.The
상기 아우터 렌즈(230)은 입사된 광을 확산 또는 집광하여 광 이미지를 구현하여 출사할 수 있다. 이러한 광 이미지는 차량 램프에 적용될 때, 미리 정해진 신호 전달을 사용하는 용도 예컨대, 직선이 강한 광원이나, 급정거, 경고 신호, 점진적인 경로 신호와 같은 신호 이미지로 구현될 수 있다. The outer lens 230 may diffuse or condense the incident light to emit an optical image. Such a light image can be applied to a vehicle lamp when using a predetermined signal transmission, for example, a light source having a strong line, or a signal image such as a sudden stop, an alarm signal, or a progressive path signal.
도 18은 실시 예에 따른 반도체 칩의 일 예이다. 18 is an example of a semiconductor chip according to the embodiment.
도 18을 참조하면, 반도체 칩은 복수의 반도체층(11,12,13)을 갖는 발광구조물(10), 상기 발광 구조물(10) 아래에 제1 전극층(20), 상기 제1전극층(20) 아래에 제2 전극층(50), 상기 제1 및 제2전극층(20,50) 사이에 절연층(41), 및 복수의 제1전극(25,25A)를 포함할 수 있다.18, the semiconductor chip includes a
상기 발광구조물(10)은 제1 반도체층(11), 활성층(12), 및 제2 반도체층(13)을 포함할 수 있다. 상기 활성층(12)은 상기 제1반도체층(11)과 상기 제2 반도체층(13) 사이에 배치될 수 있다. 상기 활성층(12)은 상기 제1 반도체층(11) 아래에 배치될 수 있으며, 상기 제2 반도체층(13)은 상기 활성층(12) 아래에 배치될 수 있다.The
예로서, 상기 제1 반도체층(11)은 제1 도전형 도펀트 예컨대, n형 도펀트가 첨가된 n형 반도체층을 포함하고, 상기 제2 반도체층(13)은 제2 도전형 도펀트 예컨대, p형 도펀트가 첨가된 p형 반도체층을 포함할 수 있다. 또한 반대로, 상기 제1 반도체층(11)이 p형 반도체층으로 형성되고, 상기 제2 반도체층(13)이 n형 반도체층으로 형성될 수도 있다.For example, the
상기 제1반도체층(11)의 상면은 러프(rough)한 요철부(11A)로 형성될 수 있으며, 이러한 요철 면(11A)는 광 추출 효율을 개선시켜 줄 수 있다. 상기 요철 면(11A)의 측 단면은 다각형 형상, 또는 반구형 형상을 포함할 수 있다.The upper surface of the
상기 제1전극층(20)은 상기 발광 구조물(10)과 제2전극층(50) 사이에 배치되며, 상기 발광 구조물(10)의 제2반도체층(13)과 전기적으로 연결되며, 상기 제2전극층(50)과 전기적으로 절연된다. 상기 제1전극층(20)은 제1 접촉층(15), 반사층(17) 및 캡핑층(19)를 포함하며, 상기 제1 접촉층(15)는 상기 반사층(17)과 제2반도체층(13) 사이에 배치되며, 상기 반사층(17)은 상기 제1 접촉층(15)과 상기 캡핑층(19) 사이에 배치된다. 상기 제1 접촉층(15), 반사층(17) 및 캡핑층(19)은 서로 다른 도전성 물질로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The first electrode layer 20 is disposed between the
상기 제1 접촉층(15)은 상기 제2 반도체층(13)에 접촉되며, 예컨대 상기 제2 반도체층(13)에 오믹 접촉을 형성할 수 있다. 상기 제1 접촉층(15)은 예컨대 전도성 산화막, 전도성 질화물 또는 금속으로 형성될 수 있다. 상기 제1 접촉층(15)은 예로서 ITO(Indium Tin Oxide), ITON(ITO Nitride), IZO(Indium Zinc Oxide), IZON(IZO Nitride), AZO(Aluminum Zinc Oxide), AGZO(Aluminum Gallium Zinc Oxide), IZTO(Indium Zinc Tin Oxide), IAZO(Indium Aluminum Zinc Oxide), IGZO(Indium Gallium Zinc Oxide), IGTO(Indium Gallium Tin Oxide), ATO(Antimony Tin Oxide), GZO(Gallium Zinc Oxide), IZON(IZO Nitride), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, Pt, Ag, Ti 중에서 적어도 하나로 형성될 수 있다.The
상기 반사층(17)은 상기 제1 접촉층(15)과 캡핑층(19)에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 반사층(17)은 상기 반사층(17)은 상기 발광구조물(10)로부터 입사되는 빛을 반사시켜 외부로 추출되는 광량을 증가시키는 기능을 수행할 수 있다.The reflective layer 17 may be electrically connected to the
상기 반사층(17)은 광 반사율이 70% 이상인 금속으로 형성될 수 있다. 예컨대 상기 반사층(17)은 Ag, Ni, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Cu, Au, Hf 중 적어도 하나를 포함하는 금속 또는 합금으로 형성될 수 있다. 또한, 상기 반사층(17)은 상기 금속 또는 합금과 ITO(Indium-Tin-Oxide), IZO(Indium-Zinc-Oxide), IZTO(Indium-Zinc-Tin-Oxide), IAZO(Indium-Aluminum-Zinc-Oxide), IGZO(Indium-Gallium-Zinc-Oxide), IGTO(Indium-Gallium-Tin-Oxide), AZO(Aluminum-Zinc-Oxide), ATO(Antimony-Tin-Oxide) 등의 투광성 전도성 물질을 이용하여 다층으로 형성될 수 있다. 예를 들어, 실시 예에서 상기 반사층(17)은 Ag, Al, Ag-Pd-Cu 합금, 또는 Ag-Cu 합금 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 예를 들면, 상기 반사층(17)은 Ag 층과 Ni 층이 교대로 형성될 수도 있고, Ni/Ag/Ni, 혹은 Ti 층, Pt 층을 포함할 수 있다. 다른 예로서, 상기 제1 접촉층(15)은 상기 반사층(17) 아래에 형성되고, 적어도 일부가 상기 반사층(17)을 통과하여 상기 제2반도체층(13)과 접촉될 수도 있다. 다른 예로서, 상기 반사층(17)은 상기 제1 접촉층(15)의 아래에 배치되고, 일부가 상기 제1 접촉층(15)을 통과하여 상기 제2반도체층(13)과 접촉될 수 있다. The reflective layer 17 may be formed of a metal having a light reflectance of 70% or more. For example, the reflective layer 17 may be formed of a metal or an alloy including at least one of Ag, Ni, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Cu, Au and Hf. The reflective layer 17 may be formed of one of indium-tin-oxide (ITO), indium-zinc-oxide (IZO), indium-zinc-tin- oxide (IZTO) A transparent conductive material such as indium-gallium-oxide (IGZO), indium-gallium-zinc-oxide (IGTO), aluminum-zinc oxide And may be formed in multiple layers. For example, in an embodiment, the reflective layer 17 may include at least one of Ag, Al, Ag-Pd-Cu alloy, or Ag-Cu alloy. For example, the reflective layer 17 may include an Ag layer and an Ni layer alternately or may include a Ni / Ag / Ni layer, a Ti layer, and a Pt layer. As another example, the
실시 예에 따른 반도체 칩은 상기 반사층(17) 아래에 배치된 캡핑층(capping layer)(19)을 포함할 수 있다. 상기 캡핑층(19)은 상기 반사층(17)의 하면과 접촉되고, 접촉부(34,34A)가 제1전극(25,25A)과 결합되어, 상기 제1전극(25,25A)로부터 공급되는 전원을 전달하는 배선층으로 기능한다. 상기 캡핑층(19)은 금속으로 형성될 수 있으며, 예컨대 Au, Cu, Ni, Ti, Ti-W, Cr, W, Pt, V, Fe, Mo 물질 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. The semiconductor chip according to the embodiment may include a
상기 복수의 제1전극(25,25A)은 패드를 포함하며 상기 발광 구조물(10)의 외측에 배치될 수 있다. 다른 예로서, 복수의 제2전극이 상기 발광 구조물(10)의 외측에 배치되거나 상기 발광 구조물(10)의 상면에 배치될 수 있다. The plurality of
상기 캡핑층(19)의 접촉부(34,34A)는 상기 발광 구조물(10)과 수직 방향으로 오버랩되지 않는 영역에 배치되며, 상기 제1전극(25,25A)와 수직하게 오버랩된다. 상기 캡핑층(19)의 접촉부(34,34A)는 상기 제1 접촉층(15) 및 반사층(17)과 수직 방향으로 오버랩되지 않는 영역에 배치된다. 상기 캡핑층(19)의 접촉부(34,34A)는 상기 발광 구조물(10)보다 낮은 위치에 배치되며, 상기 제1전극(25,25A)와 직접 접촉될 수 있다.The
상기 제1전극(25,25A)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 단층은 Au일 수 있고, 다층인 경우 Ti, Ag, Cu, Au 중 적어도 2개를 포함할 수 있다. 여기서, 다층인 경우 Ti/Ag/Cu/Au의 적층 구조이거나, Ti/Cu/Au 적층 구조일 수 있다. 상기 반사층(17) 및 상기 제1 접촉층(15) 중 제1전극(25,25A)와 직접 접촉될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. The
상기 제1전극(25,25A)은 제1전극층(20)의 외 측벽과 상기 발광 구조물(10) 사이의 영역에 배치될 수 있다. 상기 제1전극(25,25A)의 둘레에는 상기 보호층(30) 및 투광층(45)이 접촉될 수 있다.The
보호층(30)은 상기 발광구조물(10)의 하면에 배치되며, 상기 제2반도체층(13)의 하면 및 상기 제1 접촉층(15)과 접촉될 수 있고, 상기 반사층(17)과 접촉될 수 있다.The
상기 보호층(30) 중 상기 발광 구조물(10)과 수직 방향으로 오버랩되는 내측부는 상기 돌출부(16)의 영역과 수직 방향으로 오버랩되게 배치될 수 있다. 상기 보호층(30)의 외측부는 상기 캡핑층(19)의 접촉부(34,34A) 위로 연장되며 상기 접촉부(34,34A)와 수직 방향으로 오버랩되게 배치된다. 상기 보호층(30)의 외측부는 상기 제1전극(25,25A)과 접촉될 수 있으며, 예컨대 상기 제1전극(25,25A)의 둘레 면에 배치될 수 있다.The inner portion of the
상기 보호층(30)의 내측부는 상기 발광 구조물(10)과 상기 제1전극층(20) 사이에 배치되며, 외측부는 투광층(45)과 상기 캡핑층(19)의 접촉부(34,34A) 사이에 배치될 수 있다. 상기 보호층(30)의 외측부는 상기 발광구조물(10)의 측벽보다 외측 영역으로 연장되어, 습기가 침투하는 것을 방지할 수 있다. The inner side of the
상기 보호층(30)은 채널층, 또는 저 굴절 재질, 아이솔레이션층으로 정의될 수 있다. 상기 보호층(30)은 절연물질로 구현될 수 있으며, 예컨대 산화물 또는 질화물로 구현될 수 있다. 예를 들어, 상기 보호층(30)은 SiO2, SixOy, Si3N4, SixNy, SiOxNy, Al2O3, TiO2, AlN 등으로 이루어진 군에서 적어도 하나가 선택되어 형성될 수 있다. 상기 보호층(30)은 투명한 재질로 형성될 수 있다.The
실시 예에 따른 반도체 칩은 상기 제1 전극층(20)과 상기 제2 전극층(50)을 전기적으로 절연시키는 절연층(41)을 포함할 수 있다. 상기 절연층(41)은 상기 제1 전극층(20)과 상기 제2 전극층(50) 사이에 배치될 수 있다. 상기 절연층(41)의 상부는 상기 보호층(30)에 접촉될 수 있다. 상기 절연층(41)은 예컨대 산화물 또는 질화물로 구현될 수 있다. 예를 들어, 상기 절연층(41)은 SiO2, SixOy, Si3N4, SixNy, SiOxNy, Al2O3, TiO2, AlN 등으로 이루어진 군에서 적어도 하나가 선택되어 형성될 수 있다. The semiconductor chip according to the embodiment may include an insulating
상기 절연층(41)은 예로서 100nm 내지 2000nm의 두께로 형성될 수 있다. 상기 절연층(41)의 두께가 100nm 미만으로 형성될 경우 절연 특성에 문제가 발생 될 수 있으며, 상기 절연층(41)의 두께가 2000nm 초과로 형성될 경우에 후 공정 단계에서 깨짐이 발생 될 수 있다. 상기 절연층(41)은 상기 제1 전극층(20)의 하면과 상기 제2전극층(50)의 상면에 접촉되며, 상기 보호층(30), 캡핑층(19), 접촉층(15), 반사층(17) 각각의 두께보다는 두껍게 형성될 수 있다.The insulating
상기 제2 전극층(50)은 상기 절연층(41) 아래에 배치된 확산 방지층(52), 상기 확산 방지층(52) 아래에 배치된 본딩층(54) 및 상기 본딩층(54) 아래에 배치된 전도성 지지부재(56)를 포함할 수 있으며, 상기 제1반도체층(11)과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 상기 제2 전극층(50)은 상기 확산 방지층(52), 상기 본딩층(54), 상기 전도성 지지부재(56) 중에서 1 개 또는 2 개를 선택적으로 포함하고, 상기 확산 방지층(52) 또는 상기 본딩층(54) 중 적어도 하나는 형성하지 않을 수 있다.The
상기 확산 방지층(52)은 Cu, Ni, Ti, Ti-W, Cr, W, Pt, V, Fe, Mo 물질 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 확산 방지층(52)은 절연층(41)과 본딩층(54) 사이에서 확산 장벽층으로 기능할 수도 있다. 상기 확산 방지층(52)은 본딩층(54) 및 전도성 지지부재(56)와 전기적으로 연결되고, 상기 제1반도체층(11)과 전기적으로 연결될 수 있다.The
상기 확산 방지층(52)은 상기 본딩층(54)이 제공되는 공정에서 상기 본딩층(54)에 포함된 물질이 상기 반사층(17) 방향으로 확산되는 것을 방지하는 기능을 수행할 수 있다. 상기 확산 방지층(52)은 상기 본딩층(54)에 포함된 주석(Sn) 등의 물질이 상기 반사층(17)에 영향을 미치는 것을 방지할 수 있다. The
상기 본딩층(54)은 베리어 금속 또는 본딩 금속 등을 포함하며, 예를 들어, Ti, Au, Sn, Ni, Cr, Ga, In, Bi, Cu, Ag, Nb, Pd 또는 Ta 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 전도성 지지부재(56)는 실시 예에 따른 상기 발광구조물(10)을 지지하며 방열 기능을 수행할 수 있다. 상기 본딩층(54)은 시드(seed) 층을 포함할 수도 있다.The
상기 전도성 지지부재(56)는 금속 또는 캐리어 기판 예를 들어, Ti, Cr, Ni, Al, Pt, Au, W, Cu, Mo, Cu-W 또는 불순물이 주입된 반도체 기판(예: Si, Ge, GaN, GaAs, ZnO, SiC, SiGe 등) 중에서 적어도 어느 하나로 형성될 수 있다. 상기 전도성 지지부재(56)은 발광 소자(100)를 지지하기 위한 층으로서, 그 두께는 제2전극층(50)의 두께의 80% 이상이며, 30㎛ 이상으로 형성될 수 있다.The
한편, 제2접촉층(33)은 상기 제1 반도체층(11)의 내부에 배치되고 상기 제1반도체층(11)과 접촉된다. 상기 제2접촉층(33)의 상면은 상기 제1반도체층(11)의 하면보다 위에 배치될 수 있으며, 제1반도체층(11)과 전기적으로 연결되고, 상기 활성층(12) 및 제2반도체층(13)과 절연된다.On the other hand, the second contact layer 33 is disposed inside the
상기 제2 접촉층(33)은 상기 제2 전극층(50)에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제2 접촉층(33)은 상기 제1전극층(20), 상기 활성층(12) 및 상기 제2반도체층(15)을 관통하여 배치될 수 있다. 상기 제2 접촉층(33)은 상기 발광 구조물(10) 내에 배치된 리세스(recess)(2)에 배치되고, 상기 활성층(12) 및 제2반도체층(15)과 보호층(30)에 의해 절연된다. 상기 제2 접촉층(33)는 복수개가 서로 이격되어 배치될 수 있다. The second contact layer 33 may be electrically connected to the
상기 제2 접촉층(33)은 제2전극층(50)의 돌기(51)에 연결될 수 있으며, 상기 돌기(51)는 상기 확산 방지층(52)으로부터 돌출될 수 있다. 상기 돌기(51)은 절연층(41) 및 보호층(30) 내에 배치된 홀(41A)을 통해 관통되고, 제1전극층(20)과 절연될 수 있다. The second contact layer 33 may be connected to the
상기 제2 접촉층(33)는 예컨대 Cr, V, W, Ti, Zn, Ni, Cu, Al, Au, Mo 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 돌기(501)는 다른 예로서, 상기 확산 방지층(52) 및 본딩층(54)을 구성하는 물질 중 적어도 하나를 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지 않는다. 예컨대 상기 돌기(51)은 예로서 Ti, Au, Sn, Ni, Cr, Ga, In, Bi, Cu, Ag, Nb, Pd 또는 Ta 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The second contact layer 33 may include at least one of Cr, V, W, Ti, Zn, Ni, Cu, Al, Au and Mo. As another example, the protrusion 501 may include at least one of the
제1전극(25,25A)은 상기 제1 전극층(20)에 전기적으로 연결되며, 상기 발광구조물(10)의 측벽 외측의 영역에 노출될 수 있다. 상기 제1전극(25,25A)은 복수로 배치될 수 있다. 상기 제1전극(25,25A)은 예컨대 Cu, Ni, Ti, Ti-W, Cr, W, Pt, V, Fe, Mo 물질 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. The
투광층(45)은 상기 발광구조물(10)의 표면을 보호하고, 상기 제1전극(25,25A)과 상기 발광구조물(10)의 사이를 절연시킬 수 있고, 상기 보호층(30)의 주변부와 접촉될 수 있다. 상기 투광층(45)은 상기 발광 구조물(10)을 구성하는 반도체층의 물질보다 낮은 굴절률을 가지며, 광 추출 효율을 개선시켜 줄 수 있다. 상기 투광층(45)은 예컨대 산화물 또는 질화물로 구현될 수 있다. 예를 들어, 상기 투광층(45)은 Si02, SixOy, Si3N4, SixNy, SiOxNy, Al2O3, TiO2, AlN 등으로 이루어진 군에서 적어도 하나가 선택되어 형성될 수 있다. 한편, 상기 투광층(45)은 설계에 따라 생략될 수도 있다. 실시 예에 의하면, 상기 발광구조물(10)은 상기 제1 전극층(20)과 상기 제2 전극층(50)에 의해 구동될 수 있다.The
본 발명에 따른 차량용 조명유닛은 후미등(Tail) & 정지등(Stop) 및 방향지시등(turn signal)에 적용될 수 있다. 즉, 조명이 필요로 하는 다양한 램프장치, 이를테면 차량용 램프, 가정용 조명장치, 산업용 조명장치에 적용이 가능하다. 예컨대 차량용 램프에 적용되는 경우, 헤드라이트, 차량실내조명, 도어스카프, 후방라이트 등에도 적용이 가능하다. 추가적으로 본 발명의 조명장치는 액정표시장치에 적용되는 백라이트 유닛 분야에도 적용 가능하며, 이외에도 현재 개발되어 상용화되었거나 향후 기술발전에 따라 구현 가능한 모든 조명관련 분야에 적용 가능하다고 할 것이다.The vehicle lighting unit according to the present invention can be applied to a tail & stop signal and a turn signal signal. That is, the present invention can be applied to various lamp devices requiring illumination, such as automobile lamps, home lighting devices, and industrial lighting devices. For example, when it is applied to a vehicle lamp, it can be applied to a headlight, a vehicle interior light, a door scarf, a rear light, and the like. In addition, the illumination device of the present invention can be applied to a backlight unit field applied to a liquid crystal display device, and can be applied to all lighting-related fields that are currently developed, commercialized, or can be implemented according to future technology development.
이상에서 실시예들에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 본 발명의 적어도 하나의 실시예에 포함되며, 반드시 하나의 실시예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시예들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의해 다른 실시예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The features, structures, effects and the like described in the embodiments are included in at least one embodiment of the present invention and are not necessarily limited to only one embodiment. Furthermore, the features, structures, effects and the like illustrated in the embodiments can be combined and modified by other persons skilled in the art to which the embodiments belong. Therefore, it should be understood that the present invention is not limited to these combinations and modifications.
또한, 이상에서 실시예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is clearly understood that the same is by way of illustration and example only and is not to be taken by way of illustration, It can be seen that various modifications and applications are possible. For example, each component specifically shown in the embodiments can be modified and implemented. It is to be understood that all changes and modifications that come within the meaning and range of equivalency of the claims are therefore intended to be embraced therein.
110: 회로 기판
130: 반사 부재
132: 측면 반사부
150: 반도체 칩
170: 형광 필름
180,190: 투광성 수지층
191: 입사부
192: 광 추출 구조
193: 외곽 보호부110: circuit board
130: reflective member
132:
150: semiconductor chip
170: Fluorescent film
180, 190: translucent resin layer
191: Incident Department
192: Light extraction structure
193: Outer guard
Claims (10)
상기 회로 기판 상에 배치된 복수의 반도체 칩;
상기 복수의 반도체 칩의 둘레에 배치된 반사 부재;
상기 복수의 반도체 칩과 상기 반사 부재 상에 배치된 형광체층; 및
상기 형광체층 상에 배치된 투광성 수지층을 포함하는 광원 모듈.A circuit board;
A plurality of semiconductor chips disposed on the circuit board;
A reflective member disposed around the plurality of semiconductor chips;
A plurality of semiconductor chips and a phosphor layer disposed on the reflective member; And
And a translucent resin layer disposed on the phosphor layer.
상기 투광성 수지층은 상기 형광체층의 굴절률 보다 낮은 굴절률을 갖는 수지 재질을 포함하며,
상기 투광성 수지층의 하면은 상기 형광체층의 상면 면적과 같거나 큰 면적을 갖는 광원 모듈.4. The method according to any one of claims 1 to 3,
Wherein the translucent resin layer comprises a resin material having a refractive index lower than that of the phosphor layer,
And the lower surface of the translucent resin layer has an area equal to or larger than an upper surface area of the phosphor layer.
상기 반도체 칩 상에 배치된 상기 투광성 수지층 및 상기 형광체층에 배치된 제1개구부 및 상기 반사 부재 상에 제2개구부를 포함하며,
상기 회로 기판은 상기 각 반도체 칩의 아래에 제1리드 전극 및 상기 제2개구부 아래에 제2리드 전극이 배치되며,
상기 복수의 반도체 칩은 상기 제1,2리드 전극과 전기적으로 연결되는 광원 모듈. 4. The method according to any one of claims 1 to 3,
A first opening disposed on the translucent resin layer and the phosphor layer disposed on the semiconductor chip, and a second opening on the reflective member,
Wherein the circuit board has a first lead electrode below the semiconductor chips and a second lead electrode below the second opening,
Wherein the plurality of semiconductor chips are electrically connected to the first and second lead electrodes.
상기 광원 모듈 상에 이너 렌즈; 및
상기 이너 렌즈 상에 아우터 렌즈를 포함하며,
상기 광원 모듈은,
회로 기판;
상기 회로 기판 상에 배치된 복수의 반도체 칩;
상기 복수의 반도체 칩의 둘레에 배치된 반사 부재;
상기 복수의 반도체 칩과 상기 반사 부재 상에 배치된 형광체층; 및
상기 형광체층 상에 배치된 투광성 수지층을 포함하는 조명 장치. At least one light source module;
An inner lens on the light source module; And
An outer lens on the inner lens,
The light source module includes:
A circuit board;
A plurality of semiconductor chips disposed on the circuit board;
A reflective member disposed around the plurality of semiconductor chips;
A plurality of semiconductor chips and a phosphor layer disposed on the reflective member; And
And a translucent resin layer disposed on the phosphor layer.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020170011816A KR102730359B1 (en) | 2017-01-25 | Lighting source module and lighting apparatus having thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020170011816A KR102730359B1 (en) | 2017-01-25 | Lighting source module and lighting apparatus having thereof |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20180087610A true KR20180087610A (en) | 2018-08-02 |
KR102730359B1 KR102730359B1 (en) | 2024-11-18 |
Family
ID=
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111883638A (en) * | 2020-08-21 | 2020-11-03 | 浙江老鹰半导体技术有限公司 | Packaging structure of ultraviolet light source and manufacturing method |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111883638A (en) * | 2020-08-21 | 2020-11-03 | 浙江老鹰半导体技术有限公司 | Packaging structure of ultraviolet light source and manufacturing method |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6104570B2 (en) | LIGHT EMITTING ELEMENT AND LIGHTING DEVICE HAVING THE SAME | |
KR102401829B1 (en) | Optical lens and light emitting module having thereof | |
KR102237155B1 (en) | Light emitting device and light unit having thereof | |
KR101047639B1 (en) | Semiconductor light emitting device, light emitting device package and fabricating method for semiconductor light emitting device | |
KR102301869B1 (en) | A light emitting device package | |
KR20140091857A (en) | Light emitting device and light apparatus having thereof | |
JP2016524322A (en) | Light emitting element | |
KR102407329B1 (en) | Light source module and lighting apparatus | |
KR102279212B1 (en) | A light emitting device package | |
US20140209947A1 (en) | Lamp unit | |
US11342486B2 (en) | Light-emitting device package and lighting device having same | |
KR101734541B1 (en) | Light emitting device, light emitting device package | |
KR20140029617A (en) | A light emitting device package | |
KR102098870B1 (en) | Light emitting apparatus | |
KR101786082B1 (en) | Light emitting device | |
KR101983778B1 (en) | A light emitting device package | |
KR102730359B1 (en) | Lighting source module and lighting apparatus having thereof | |
KR20180087610A (en) | Lighting source module and lighting apparatus having thereof | |
KR102534589B1 (en) | A light emitting device package | |
KR101983779B1 (en) | A light emitting device package | |
KR102142718B1 (en) | Light emitting device and light apparatus having thereof | |
KR20180134805A (en) | Light emitting device, light emitting device package, and light unit | |
KR20190049506A (en) | Light emitting device package and lighting apparatus having thereof | |
KR101946831B1 (en) | Light emitting device package | |
KR101795026B1 (en) | Light emitting device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
X701 | Decision to grant (after re-examination) |