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KR20180087610A - Lighting source module and lighting apparatus having thereof - Google Patents

Lighting source module and lighting apparatus having thereof Download PDF

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KR20180087610A
KR20180087610A KR1020170011816A KR20170011816A KR20180087610A KR 20180087610 A KR20180087610 A KR 20180087610A KR 1020170011816 A KR1020170011816 A KR 1020170011816A KR 20170011816 A KR20170011816 A KR 20170011816A KR 20180087610 A KR20180087610 A KR 20180087610A
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layer
light
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source module
light source
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KR1020170011816A
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Inventor
타쿠마 카토
Original Assignee
엘지이노텍 주식회사
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Publication date
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Abstract

The present invention relates to a light source module which improves light flux of light emitted through a phosphor layer. The light source module according to an embodiment of the present invention comprises: a circuit board; a plurality of semiconductor chips disposed on the circuit board; a reflective member disposed around the plurality of semiconductor chips; a phosphor layer disposed on the plurality of semiconductor chips and the reflective member; and a translucent resin layer disposed on the phosphor layer.

Description

광원 모듈 및 이를 구비한 조명 장치{LIGHTING SOURCE MODULE AND LIGHTING APPARATUS HAVING THEREOF}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a light source module,

본 발명은 광원 모듈에 관한 것이다.The present invention relates to a light source module.

본 발명은 광원 모듈을 갖는 조명 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a lighting apparatus having a light source module.

발광 소자, 예컨대 발광 다이오드(Light Emitting Device)는 전기 에너지를 빛으로 변환하는 반도체 소자의 일종으로, 기존의 형광등, 백열등을 대체하여 차세대 광원으로서 각광받고 있다.BACKGROUND ART A light emitting device, for example, a light emitting device (Light Emitting Device) is a type of semiconductor device that converts electrical energy into light, and has been widely recognized as a next generation light source in place of existing fluorescent lamps and incandescent lamps.

발광 다이오드는 반도체 소자를 이용하여 빛을 생성하므로, 텅스텐을 가열하여 빛을 생성하는 백열등이나, 또는 고압 방전을 통해 생성된 자외선을 형광체에 충돌시켜 빛을 생성하는 형광등에 비해 매우 낮은 전력만을 소모한다.Since the light emitting diode generates light by using a semiconductor element, the light emitting diode consumes very low power as compared with an incandescent lamp that generates light by heating tungsten, or a fluorescent lamp that generates ultraviolet light by impinging ultraviolet rays generated through high-pressure discharge on a phosphor .

또한, 발광 다이오드는 반도체 소자의 전위 갭을 이용하여 빛을 생성하므로 기존의 광원에 비해 수명이 길고 응답특성이 빠르며, 친환경적 특징을 갖는다.In addition, since the light emitting diode generates light using the potential gap of the semiconductor device, it has a longer lifetime, faster response characteristics, and an environment-friendly characteristic as compared with the conventional light source.

이에 따라, 기존의 광원을 발광 다이오드로 대체하기 위한 많은 연구가 진행되고 있으며, 발광 다이오드는 실내 및 실외에서 사용되는 각종 램프, 액정표시장치, 전광판, 가로등, 전조등과 같은 조명 장치의 광원으로서 사용이 증가하고 있다.Accordingly, a lot of researches for replacing an existing light source with a light emitting diode have been carried out. The light emitting diode is used as a light source for various lamps used in indoor and outdoor, lighting devices such as a liquid crystal display, .

실시 예는 형광체층을 통해 방출되는 광의 광속을 개선한 광원 모듈을 제공한다.The embodiment provides a light source module that improves the light flux of light emitted through the phosphor layer.

실시 예는 복수의 반도체 칩 상에 형광체층과 상기 형광체층 상에 투광성 수지층을 배치한 광원 모듈을 제공한다.The embodiment provides a light source module in which a phosphor layer and a translucent resin layer are disposed on a plurality of semiconductor chips and the phosphor layer.

실시 예는 반사 부재 및 반도체 칩 상에 배치된 형광체층의 측면에 반사 부재의 측면 반사부 및 투광성 수지층의 외곽 보호부 중 적어도 하나가 배치되는 광원 모듈을 제공한다.The embodiment provides a light source module in which at least one of the reflective member and the outer protective portion of the translucent resin layer is disposed on the side surface of the phosphor layer disposed on the semiconductor chip.

실시 예는 형광체층 상에 배치된 투광성 수지층이 광 추출 구조를 갖는 광원 모듈을 제공한다.The embodiment provides a light source module in which a translucent resin layer disposed on a phosphor layer has a light extracting structure.

실시 에는 광원 모듈을 갖는 조명 장치를 제공한다.An embodiment provides a lighting device having a light source module.

실시 예에 따른 회로 기판; 상기 회로 기판 상에 배치된 복수의 반도체 칩; 상기 복수의 반도체 칩의 둘레에 배치된 반사 부재; 상기 복수의 반도체 칩과 상기 반사 부재 상에 배치된 형광체층; 및 상기 형광체층 상에 배치된 투광성 수지층을 포함할 수 있다.A circuit board according to an embodiment; A plurality of semiconductor chips disposed on the circuit board; A reflective member disposed around the plurality of semiconductor chips; A plurality of semiconductor chips and a phosphor layer disposed on the reflective member; And a translucent resin layer disposed on the phosphor layer.

실시 예에 따른 조명 장치에 의하면, 상기의 광원 모듈; 상기 복수의 광원 모듈 상에 이너 렌즈; 및 상기 이너 렌즈 상에 아우터 렌즈를 포함할 수 있다.According to the illumination device of the embodiment, the light source module; An inner lens on the plurality of light source modules; And an outer lens on the inner lens.

실시 예에 의하면, 상기 반사 부재는 상기 회로 기판 상에서 상기 형광체층의 하면 면적보다 큰 면적을 갖고 수지 재질을 포함할 수 있다.According to the embodiment, the reflective member may include a resin material having an area larger than a lower surface area of the phosphor layer on the circuit board.

실시 예에 의하면, 상기 반사 부재는 상기 형광체층의 측면에 배치된 측면 반사부를 포함할 수 있다. According to an embodiment, the reflective member may include a side reflector disposed on a side surface of the phosphor layer.

실시 예에 의하면, 상기 투광성 수지층은 광 추출 구조를 포함할 수 있다.According to the embodiment, the light-transmitting resin layer may include a light extracting structure.

실시 예에 의하면, 상기 투광성 수지층은 상기 형광체층 상에 배치된 입사부 및 상기 입사부 상에 광 추출 구조를 포함하며, 상기 광 추출 구조는 상기 입사부 상에 뿔 형상, 반구형 렌즈 또는 비구면 형상의 렌즈 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. According to the embodiment, the light-transmitting resin layer includes an incident portion disposed on the phosphor layer and a light extracting structure on the incident portion, and the light extracting structure includes a horn-shaped, hemispherical lens or an aspherical surface Of the lens.

실시 예에 의하면, 상기 투광성 수지층은 상기 형광체층의 굴절률보다 낮은 굴절률을 갖는 수지 재질로 형성될 수 있다.According to the embodiment, the light transmitting resin layer may be formed of a resin material having a refractive index lower than that of the phosphor layer.

실시 예에 의하면, 상기 투광성 수지층은 상기 광 추출 구조의 외측 둘레에 배치된 외곽 보호부를 포함할 수 있다. 상기 외곽 보호부는 상기 형광체층의 상면과 상기 반사 부재의 상면 중 적어도 한 영역 위에 배치될 수 있다. According to the embodiment, the light-transmissive resin layer may include an outer protective portion disposed on the outer periphery of the light extracting structure. The outer guard may be disposed on at least one of an upper surface of the phosphor layer and an upper surface of the reflective member.

실시 예에 의하면, 상기 투광성 수지층는 상기 반사 부재의 측면 반사부의 외측에 배치된 외곽 보호부를 포함할 수 있다. According to the embodiment, the light transmitting resin layer may include an outer protective portion disposed outside the side reflecting portion of the reflecting member.

실시 예에 의하면, 상기 반사 부재와 상기 반도체 칩 사이에 투명한 수지 재질의 광 가이드층을 포함할 수 있다. According to an embodiment of the present invention, a light guide layer made of a transparent resin material may be disposed between the reflective member and the semiconductor chip.

실시 예에 따른 광원 모듈은 형광체층 상에 수지층을 배치하여 반도체 칩으로부터 방출된 광을 효과적을 추출할 수 있다. The light source module according to the embodiment can efficiently extract the light emitted from the semiconductor chip by arranging the resin layer on the phosphor layer.

실시 예는 반도체 칩의 둘레에 배치된 반사 부재가 일부가 상기 형광체층의 측면 및 상면으로 침투하는 것을 억제하여, 광 손실 저하 및 광속 저하를 방지할 수 있다.The embodiment can prevent the reflection member disposed around the semiconductor chip from partially penetrating the side surface and the upper surface of the phosphor layer, thereby preventing a decrease in light loss and a decrease in light speed.

실시 예는 형광체층을 통해 방출되는 색 편차를 줄여줄 수 있다.The embodiment can reduce the color deviation emitted through the phosphor layer.

실시 예는 광원 모듈의 광속을 개선시켜 줄 수 있다.The embodiment can improve the light flux of the light source module.

실시 예는 광원 모듈 및 이를 구비한 조명 장치의 광학적인 신뢰성을 개선시켜 줄 수 있다. Embodiments can improve the optical reliability of the light source module and the illumination device having the same.

도 1은 제1실시 예에 따른 광원 모듈의 평면도이다.
도 2는 도 1의 광원 모듈의 A-A측 단면도이다.
도 3은 도 2의 광원 모듈의 부분 확대도이다.
도 4는 도 1의 광원 모듈의 B-B측 단면도이다.
도 5는 도 1의 광원 모듈의 다른 예이다.
도 6은 도 2의 광원 모듈의 제1변형 예이다.
도 7은 도 2의 광원 모듈의 제2변형 예이다.
도 8은 제2실시 예에 따른 광원 모듈의 측 단면도이다.
도 9는 도 8의 광원 모듈의 부분 확대도이다.
도 10은 도 8의 광원 모듈의 광 추출 구조의 다른 형상을 나타낸 도면이다.
도 11은 도 8의 광원 모듈의 제1변형 예이다.
도 12는 도 8의 광원 모듈의 제2변형 예이다.
도 13은 도 8의 광원 모듈의 제3변형 예이다.
도 14는 도 8의 광원 모듈의 제4변형 예이다.
도 15는 도 8의 광원 모듈의 제5변형 예이다.
도 16은 실시 예에 따른 광원 모듈의 다른 형태를 나타낸 평면도이다.
도 17은 실시 예에 따른 광원 모듈을 갖는 조명 장치의 예이다.
도 18은 실시 예에 따른 반도체 칩의 일 예를 나타낸 도면이다.
도 19는 도 2의 광원 모듈로부터 출사된 파장 광도와 비교 예의 파장 광도를 비교한 그래프이다.
도 20은 도 6의 광원 모듈로부터 출사된 파장 광도와 비교 예의 파장 광도를 비교한 그래프이다.
도 21은 도 8의 광원 모듈로부터 출사된 파장 광도와 비교 예의 파장 광도를 비교한 도면이다.
도 22는 도 14의 광원 모듈로부터 출사된 파장 광도와 비교 예의 파장 광도를 비교한 도면이다.
1 is a plan view of a light source module according to a first embodiment.
2 is a cross-sectional view of the light source module of Fig. 1 on the AA side.
3 is a partial enlarged view of the light source module of Fig.
4 is a sectional view of the light source module of Fig. 1 on the BB side.
5 is another example of the light source module of Fig.
6 is a first modification of the light source module of Fig.
FIG. 7 is a second modification of the light source module of FIG. 2. FIG.
8 is a side sectional view of the light source module according to the second embodiment.
Fig. 9 is a partially enlarged view of the light source module of Fig. 8; Fig.
10 is a view showing another shape of the light extracting structure of the light source module of FIG.
11 is a first modification of the light source module of Fig.
12 is a second modification of the light source module of Fig.
13 is a third modification of the light source module of Fig.
14 is a fourth modification of the light source module of Fig.
15 is a fifth modification of the light source module of Fig.
16 is a plan view showing another embodiment of the light source module according to the embodiment.
17 is an example of a lighting apparatus having a light source module according to an embodiment.
18 is a diagram showing an example of a semiconductor chip according to the embodiment.
FIG. 19 is a graph comparing wavelength luminous intensity emitted from the light source module of FIG. 2 and wavelength luminous intensity of a comparative example.
FIG. 20 is a graph comparing wavelength luminous intensity emitted from the light source module of FIG. 6 and wavelength luminous intensity of the comparative example.
FIG. 21 is a diagram comparing the wavelength luminous intensity emitted from the light source module of FIG. 8 and the wavelength luminous intensity of the comparative example.
FIG. 22 is a diagram comparing the wavelength luminous intensity emitted from the light source module of FIG. 14 and the wavelength luminous intensity of the comparative example.

본 실시 예들은 다른 형태로 변형되거나 여러 실시 예가 서로 조합될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 각각의 실시 예로 한정되는 것은 아니다. 특정 실시 예에서 설명된 사항이 다른 실시 예에서 설명되어 있지 않더라도, 다른 실시 예에서 그 사항과 반대되거나 모순되는 설명이 없는 한, 다른 실시 예에 관련된 설명으로 이해될 수 있다. 예를 들어, 특정 실시 예에서 구성 A에 대한 특징을 설명하고 다른 실시 예에서 구성 B에 대한 특징을 설명하였다면, 구성 A와 구성 B가 결합된 실시 예가 명시적으로 기재되지 않더라도 반대되거나 모순되는 설명이 없는 한, 본 발명의 권리범위에 속하는 것으로 이해되어야 한다.The embodiments may be modified in other forms or various embodiments may be combined with each other, and the scope of the present invention is not limited to each embodiment described below. Although not described in the context of another embodiment, unless otherwise described or contradicted by the description in another embodiment, the description in relation to another embodiment may be understood. For example, if the features of configuration A are described in a particular embodiment, and the features of configuration B are described in another embodiment, even if the embodiment in which configuration A and configuration B are combined is not explicitly described, It is to be understood that they fall within the scope of the present invention.

이하 상기의 목적을 구체적으로 실현할 수 있는 본 발명의 실시 예를 첨부한 도면을 참조하여 설명한다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The above and other objects, features and advantages of the present invention will be more apparent from the following detailed description taken in conjunction with the accompanying drawings, in which: FIG.

본 발명에 따른 실시예의 설명에 있어서, 각 element의 " 상(위) 또는 하(아래)(on or under)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, 상(위) 또는 하(아래)(on or under)는 두 개의 element가 서로 직접(directly)접촉되거나 하나 이상의 다른 element가 상기 두 element사이에 배치되어(indirectly) 형성되는 것을 모두 포함한다. 또한 "상(위) 또는 하(아래)(on or under)"으로 표현되는 경우 하나의 element를 기준으로 위쪽 방향뿐만 아니라 아래쪽 방향의 의미도 포함할 수 있다.In the description of the embodiment according to the present invention, in the case of being described as being formed "on or under" of each element, the upper (upper) or lower (lower) or under are all such that two elements are in direct contact with each other or one or more other elements are indirectly formed between the two elements. Also, when expressed as "on or under", it may include not only an upward direction but also a downward direction with respect to one element.

반도체 소자는 발광 소자, 수광소자, 광 변조기, 가스 센서 등 각종 전자 소자 포함할 수 있다. 실시 예는 가스센서를 일 예로 설명하고 있지만, 이에 한정되지 않고, 전기 소자의 다양한 분야에 적용될 수 있다.The semiconductor device may include various electronic devices such as a light emitting device, a light receiving device, an optical modulator, and a gas sensor. Although the embodiment has been described by way of example of a gas sensor, the present invention is not limited thereto and can be applied to various fields of electric devices.

실시 예에 따른 반도체 소자는 제1도전형 반도체층; 상기 제1도전형 반도체층 위에 활성층; 상기 활성층 위에 제2도전형 반도체층을 포함하는 발광 구조물을 포함할 수 있다. 상기 활성층은 자외선 파장부터 가시광선 파장의 범위 중에서 선택적으로 발광할 수 있다. 이러한 반도체 소자는 칩으로 구현되어, 반도체 칩 또는 발광 칩으로 정의될 수 있다. A semiconductor device according to an embodiment includes a first conductive semiconductor layer; An active layer on the first conductive semiconductor layer; And a light emitting structure including a second conductive semiconductor layer on the active layer. The active layer can selectively emit light in the range of ultraviolet wavelength to visible light wavelength. Such a semiconductor element may be embodied as a chip, and may be defined as a semiconductor chip or a light emitting chip.

이하에서는 도 1 내지 도 4를 참고하여 본 발명의 제1 실시예에 따른 광원 모듈을 설명한다.Hereinafter, a light source module according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 4. FIG.

도 1은 제1실시 예에 따른 광원 모듈의 평면도이고, 도 2는 도 1의 광원 모듈의 A-A측 단면도이며, 도 3은 도 2의 광원 모듈의 부분 확대도이고, 도 4는 도 1의 광원 모듈의 B-B측 단면도이다.1 is a plan view of the light source module according to the first embodiment, FIG. 2 is a sectional view of the light source module of FIG. 1 taken along the line AA, FIG. 3 is a partially enlarged view of the light source module of FIG. 2, Sectional view of the module on the BB side.

도 1 내지 도 4를 참조하면, 광원 모듈(100)는 회로 기판(110), 상기 회로 기판(110) 상에 배치된 반도체 칩(150), 상기 반도체 칩(150) 둘레에 배치된 반사 부재(130), 상기 반도체 칩(150) 및 상기 반사 부재(130) 위에 배치된 형광체층(170), 상기 형광체층(170) 상에 배치된 투광성 수지층(180)을 포함한다.1 to 4, a light source module 100 includes a circuit board 110, a semiconductor chip 150 disposed on the circuit board 110, a reflective member (not shown) disposed around the semiconductor chip 150 130, a phosphor layer 170 disposed on the semiconductor chip 150 and the reflective member 130, and a translucent resin layer 180 disposed on the phosphor layer 170.

실시 예에 따른 광원 모듈(100)은 청색 LED, 녹색 LED, 적색 LED, 백색 LED, 레이저, 수직캐비티 표면 광 방출 레이즈(VESEL)와 같은 광원을 포함할 수 있다. 상기 광원 모듈(100)은 하나 또는 복수의 반도체 칩으로부터 방출된 일부 광의 파장을 변환하여 방출할 수 있다.The light source module 100 according to an embodiment may include a light source such as a blue LED, a green LED, a red LED, a white LED, a laser, and a vertical cavity surface light emission raise (VESEL). The light source module 100 may convert and emit wavelengths of a part of light emitted from one or a plurality of semiconductor chips.

<회로 기판(110)>&Lt; Circuit board 110 >

상기 회로 기판(110)은 회로 패턴을 포함할 수 있다. 상기 회로 기판(110)은 수지 재질의 PCB(Printed circuit board), 금속 코어를 갖는 PCB(MCPCB, Metal Core PCB), 연성 PCB(FPCB, Flexible PCB), 세라믹 재질 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 회로 기판(110)은 수지 재질의 층이나 세라믹 계열의 층을 포함할 수 있으며, 상기 수지 재질은 실리콘, 또는 에폭시 수지, 또는 플라스틱 재질을 포함하는 열 경화성 수지, 또는 고내열성, 고 내광성 재질로 형성될 수 있다. 상기 세라믹 재질은, 동시 소성되는 저온 소성 세라믹(LTCC: low temperature co-fired ceramic) 또는 고온 소성 세라믹(HTCC: high temperature co-fired ceramic)을 포함한다. The circuit board 110 may include a circuit pattern. The circuit board 110 may include at least one of a printed circuit board (PCB), a metal core PCB (MCPCB), a flexible PCB (FPCB), and a ceramic material. The circuit board 110 may include a resin material layer or a ceramic material layer. The resin material may be a thermosetting resin including silicon, epoxy resin, or plastic material, or a material having high heat resistance and high light resistance . The ceramic material includes a low temperature co-fired ceramic (LTCC) or a high temperature co-fired ceramic (HTCC) which is co-fired.

상기 회로 기판(110)은 도 1과 같이, X축 방향의 길이가 Y축 방향의 길이보다 길게 배치될 수 있다. 여기서, X축 방향은 상기 반도체 칩(150)들이 배열되는 방향일 수 있으며, Y축 방향은 상기 X축 방향과 직교하는 방향이며, Z축 방향은 X,Y축 방향과 직교하는 방향이거나 두께 방향일 수 있다. 다른 예로서, 상기 회로 기판(110)은 X,Y축 방향의 길이가 동일할 수 있다.1, the length of the circuit board 110 in the X-axis direction may be longer than the length in the Y-axis direction. Here, the X axis direction may be a direction in which the semiconductor chips 150 are arranged, the Y axis direction is orthogonal to the X axis direction, the Z axis direction is a direction orthogonal to the X and Y axis directions, Lt; / RTI &gt; As another example, the circuit board 110 may have the same length in the X and Y axis directions.

상기 회로 기판(110)은 상면에 리드 전극(112,114)을 구비할 수 있으며, 상기 리드 전극(112,114)은 서로 이격된 제1 리드 전극(112)과 제2리드 전극(114)을 포함할 수 있다. 상기 제1,2리드 전극(112,114) 중 적어도 하나 또는 모두는 상기 반도체 칩(150) 아래에 배치될 수 있다. 상기 제1,2리드 전극(112,114)는 상기 반도체 칩(150)과 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 회로 기판(110)의 리드 전극(112,114)은 금속 예컨대, 티타늄(Ti), 구리(Cu), 니켈(Ni), 금(Au), 크롬(Cr), 탄탈늄(Ta), 백금(Pt), 주석(Sn), 은(Ag), 인(P) 중 복수의 금속을 포함할 수 있으며, 다층으로 형성될 수 있다. 상기 회로 기판(110)의 상면에는 솔더 레지스트와 같은 보호층이 배치될 수 있다.The circuit board 110 may include lead electrodes 112 and 114 on the upper surface thereof and the lead electrodes 112 and 114 may include a first lead electrode 112 and a second lead electrode 114 spaced from each other . At least one or both of the first and second lead electrodes 112 and 114 may be disposed under the semiconductor chip 150. The first and second lead electrodes 112 and 114 may be electrically connected to the semiconductor chip 150. The lead electrodes 112 and 114 of the circuit board 110 are made of a metal such as titanium, copper, nickel, gold, chromium, tantalum, ), Tin (Sn), silver (Ag), and phosphorus (P), and may be formed in multiple layers. A protective layer such as a solder resist may be disposed on the upper surface of the circuit board 110.

상기 회로 기판(110) 상에는 상기 반도체 칩(150)을 전기적으로 보호하는 보호 칩(미도시)이 배치될 수 있다. 상기 보호 칩은 싸이리스터, 제너 다이오드, 또는 TVS(Transient voltage suppression)로 구현될 수 있으며, 상기 보호 칩은 상기 반도체 칩(150)을 ESD(electro static discharge)로 부터 보호하게 된다. 상기 보호 칩은 상기 반도체 칩(150) 내에 구현될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. A protective chip (not shown) for electrically protecting the semiconductor chip 150 may be disposed on the circuit board 110. The protection chip may be implemented with a thyristor, a zener diode, or a TVS (Transient Voltage Suppression), and the protection chip protects the semiconductor chip 150 from electrostatic discharge (ESD). The protection chip may be implemented in the semiconductor chip 150, but is not limited thereto.

<반도체 칩(150)>&Lt; Semiconductor chip 150 >

상기 반도체 칩(150)은 광원으로서, 자외선부터 가시광선까지의 파장 대역 중에서 선택적으로 발광하게 된다. 상기 반도체 칩(150)은 UV(ultra violet) LED 칩, 녹색 LED 칩, 청색 LED 칩, 또는 적색 LED 칩을 포함한다. 상기 반도체 칩(150)은 Laser, VCSEL와 같은 소자를 포함할 수 있다. 상기 반도체 칩(150)은 50㎛ 이상의 두께를 가질 수 있으며, 예컨대 50㎛ 내지 300㎛ 범위일 수 있다. 이러한 반도체 칩(150)은 수평형 칩 또는 수직형 칩에 따라 두께가 달라질 수 있으며, 실시 예는 수직형 칩 또는 플립 칩일 수 있다. 상기 반도체 칩(150)은 탑뷰 형상이 다각형 형상 예컨대, 정 사각형 또는 직사각형 형상일 수 있다. 상기 반도체 칩(150)은 탑뷰 형상이 원 형상 또는 다른 다각형 형상일 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. The semiconductor chip 150 is a light source and selectively emits light in a wavelength band from ultraviolet to visible light. The semiconductor chip 150 includes an ultraviolet (UV) LED chip, a green LED chip, a blue LED chip, or a red LED chip. The semiconductor chip 150 may include devices such as a laser and a VCSEL. The semiconductor chip 150 may have a thickness of 50 탆 or more, for example, in a range of 50 탆 to 300 탆. The thickness of the semiconductor chip 150 may vary depending on the horizontal chip or the vertical chip, and the embodiment may be a vertical chip or a flip chip. The top view shape of the semiconductor chip 150 may be polygonal, for example, square or rectangular. The shape of the top view of the semiconductor chip 150 may be circular or other polygonal shape, but the present invention is not limited thereto.

상기 반도체 칩(150)이 수직형 칩인 경우, 도 1 및 도 4와 같이 상기 반도체 칩(150) 아래에 제1리드 전극(112)이 배치되고, 상기 제2리드 전극(114)이 제1리드 전극(112)과 이격되며 상기 반도체 칩(150)과 와이어(156)로 연결될 수 있다. 상기 형광체층(170) 및 투광성 수지층(180)에는 상기 반도체 칩(150) 상의 전극을 노출하는 제1개구부(175)가 배치될 수 있으며, 상기 반사 부재(130)에는 상기 회로 기판(110)의 제2리드 전극(114)을 노출하는 제2개구부(135)가 배치될 수 있다. 상기 제1개구부(175)는 탑뷰 형상이 원형상 또는 다각형 형상일 수 있으며, 각 반도체 칩(150) 상에 각각 배치될 수 있다. 상기 제2개구부(135)는 다각형 형상 또는 원 형상일 수 있으며, 상기 각 반도체 칩(150)에 연결된 복수의 와이어(175)가 관통되거나, 각각의 와이어(175)가 관통되도록 복수로 배치될 수 있다. 상기 반도체 칩(150)이 플립형 칩인 경우, 도 5와 같이 상기 반도체 칩(150) 아래에 제1,2리드 전극(미도시)이 배치되어, 상기 반도체 칩(150)과 제1,2리드 전극이 전기적으로 연결될 수 있다. When the semiconductor chip 150 is a vertical chip, a first lead electrode 112 is disposed below the semiconductor chip 150 as shown in FIGS. 1 and 4, and the second lead electrode 114 is connected to a first lead May be spaced apart from the electrode 112 and connected to the semiconductor chip 150 by a wire 156. The first opening 175 may be formed in the phosphor layer 170 and the translucent resin layer 180 to expose the electrode on the semiconductor chip 150. The reflective member 130 may be provided with the circuit board 110, A second opening 135 may be formed to expose the second lead electrode 114 of the second substrate 110. The first openings 175 may have a circular or polygonal top view, and may be disposed on the semiconductor chips 150, respectively. The second openings 135 may have a polygonal shape or a circular shape and a plurality of wires 175 connected to the semiconductor chips 150 may be inserted or a plurality of wires 175 may be inserted have. 5, first and second lead electrodes (not shown) are disposed below the semiconductor chip 150 to electrically connect the semiconductor chip 150 and the first and second lead electrodes 150, Can be electrically connected.

상기 회로 기판(110)의 리드 전극(112,114)은 상기 반도체 칩(150)의 종류나 상기 반도체 칩(150)과의 연결 형태에 따라 다양한 패턴으로 구현될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 회로 기판(110)은 상기 반도체 칩(150)이 복수로 배치된 경우, 상기 반도체 칩(150)을 직렬, 직-병렬, 병렬, 또는 병-직렬로 연결해 줄 수 있다. The lead electrodes 112 and 114 of the circuit board 110 may be formed in various patterns depending on the type of the semiconductor chip 150 and the connection form with the semiconductor chip 150. However, The circuit board 110 may connect the semiconductor chips 150 in series, parallel-to-parallel, parallel, or bottle-to-serial when a plurality of the semiconductor chips 150 are arranged.

상기 반도체 칩(150)은 도 4와 같이, 발광 구조물(152) 및 전극층(154)을 포함하며, 상기 발광 구조물(152)는 제1도전형 반도체층, 활성층 및 제2도전형 반도체층을 포함할 수 있으며, 자외선 내지 가시광선 범위의 파장 중에서 선택적으로 발광할 수 있다. 상기 발광 구조물(152)은 III족-V족 화합물 반도체 및 II족-VI족 화합물 반도체를 포함할 수 있다. 상기 전극층(154)은 제1리드 전극과 연결되며 전원을 공급하고, 상기 발광 구조물(152) 상의 전극(25)은 와이어(156)로 연결될 수 있다. 상기 전극층(154)은 단층 또는 다층으로 구현될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 4, the semiconductor chip 150 includes a light emitting structure 152 and an electrode layer 154. The light emitting structure 152 includes a first conductive semiconductor layer, an active layer, and a second conductive semiconductor layer And can selectively emit light in the wavelength range of ultraviolet to visible light. The light emitting structure 152 may include Group III-V compound semiconductors and Group II-VII compound semiconductors. The electrode layer 154 is connected to the first lead electrode and supplies power, and the electrode 25 on the light emitting structure 152 may be connected by a wire 156. The electrode layer 154 may be formed as a single layer or a multilayer, but the present invention is not limited thereto.

상기 반도체 칩(150)은 복수개가 적어도 하나의 행 또는 열로 배치되거나, 2행 또는/및 2열 이상으로 배열될 수 있다. 상기 반도체 칩(150)은 도 16과 같이 소정 직경을 갖는 원 형상의 영역 내에 복수로 배치될 수 있다. The plurality of semiconductor chips 150 may be arranged in at least one row or column, or may be arranged in two rows and / or two or more columns. The semiconductor chips 150 may be arranged in a plurality of circular regions having a predetermined diameter as shown in FIG.

상기 반도체 칩(150)이 복수로 배치된 경우, 서로 이격될 수 있다. 상기 복수의 반도체 칩(150)은 일정한 간격을 갖거나 서로 다른 간격을 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. When a plurality of the semiconductor chips 150 are arranged, they may be spaced apart from each other. The plurality of semiconductor chips 150 may have a predetermined interval or may have different intervals, but the present invention is not limited thereto.

<반사 부재(130)>&Lt; Reflecting member 130 >

상기 반사 부재(130)는 회로 기판(110) 상에 배치된다. 상기 반사 부재(130)는 상기 회로 기판(110) 상에서 상기 반도체 칩(150)의 둘레에 배치된다. 상기 반사 부재(130)는 상기 반도체 칩(150)의 표면 예컨대, 상기 반도체 칩(150)의 측면들에 접촉될 수 있다. 상기 반사 부재(130)의 상면은 상기 반도체 칩(150)의 상면과 같거나 낮은 높이로 배치될 수 있다. 상기 반사 부재(130)는 상기 반도체 칩(150)들 사이의 영역에 배치될 수 있다. 상기 반사 부재(130)의 하면 면적은 상기 회로 기판(110)의 상면 면적과 같거나 작을 수 있다. 상기 반사 부재(130)의 상면 면적은 상기 형광체층(170)의 하면 면적보다 넓을 수 있어, 광의 손실을 줄여줄 수 있다. 상기 반사 부재(130)의 상면에는 상기 형광체층(170)의 하면이 접촉되거나 부착될 수 있다. 이러한 반사 부재(130)는 상기 반도체 칩(150)의 측면으로 진행하는 광을 반사하거나, 형광체층(170)이나 투광성 수지층(180)에 의해 반사된 광에 대해 재 반사시켜 줄 수 있다. 따라서 광 손실을 줄이고 광 추출 효율을 개선시켜 줄 수 있다.The reflective member 130 is disposed on the circuit board 110. The reflective member 130 is disposed on the circuit board 110 around the semiconductor chip 150. The reflective member 130 may be in contact with the surface of the semiconductor chip 150, for example, the side surfaces of the semiconductor chip 150. The upper surface of the reflective member 130 may be disposed at the same height as or lower than the upper surface of the semiconductor chip 150. The reflective member 130 may be disposed in an area between the semiconductor chips 150. The bottom surface area of the reflective member 130 may be equal to or less than the top surface area of the circuit board 110. The upper surface area of the reflective member 130 may be larger than the lower surface area of the phosphor layer 170, thereby reducing light loss. The lower surface of the phosphor layer 170 may be in contact with or attached to the upper surface of the reflective member 130. The reflective member 130 may reflect light traveling to the side surface of the semiconductor chip 150 or may reflect the light reflected by the phosphor layer 170 or the transparent resin layer 180. Therefore, the light loss can be reduced and the light extraction efficiency can be improved.

상기 반사 부재(130)는 상기 반도체 칩(150)의 둘레에 배치되어, 상기 반도체 칩(150)의 측 방향으로 진행되는 광을 반사시켜 주고, 광 손실을 줄여줄 수 있다. The reflective member 130 is disposed around the semiconductor chip 150 to reflect light traveling in a lateral direction of the semiconductor chip 150 and reduce light loss.

상기 반사 부재(130)는 수지 재질 내에 금속 산화물이 첨가된다. 상기 수지 재질은 실리콘 또는 에폭시를 포함하며, 상기 금속 산화물은 수지 재질보다 굴절률이 높은 물질로서, 예컨대 Al2O3, TiO2 또는 SiO2 중 적어도 하나를 포함한다. 상기 금속 산화물은 상기 반사 부재(130) 내에 5wt% 이상 예컨대, 5~30wt% 범위로 형성된다. 상기 반사 부재(130)는 상기 반도체 칩(150)으로부터 방출된 광에 대해 90% 이상의 반사율을 가질 수 있다. 상기 반사 부재(130)는 합성 수지와 같은 수지 재질을 포함할 수 있으며, 표면에 반사 패턴이 형성될 수 있다. 상기 합성 수지는 합성 수지로서는 폴리에틸엔 테레프탈레이트, 폴리에틸렌 나프탈레이트, 아크릴수지, 콜리카보네이트, 폴리스티렌, 폴리올레핀, 셀룰로소스 아세테이트, 내후성 염화비닐이 적용될 수도 있다.The reflection member 130 is doped with a metal oxide in a resin material. The resin material includes silicon or epoxy, and the metal oxide includes at least one of Al 2 O 3 , TiO 2, and SiO 2 as a material having a higher refractive index than a resin material. The metal oxide is formed in the reflective member 130 in a range of 5 wt% or more, for example, 5 to 30 wt%. The reflective member 130 may have a reflectance of 90% or more with respect to the light emitted from the semiconductor chip 150. The reflective member 130 may include a resin material such as synthetic resin, and a reflective pattern may be formed on the surface. As the synthetic resin, polyethyleneterephthalate, polyethylene naphthalate, acrylic resin, colicarbonate, polystyrene, polyolefin, cellulosic acid acetate and weather-resistant vinyl chloride may be applied as the synthetic resin.

도 2 및 도 3과 같이, 상기 반사 부재(130)는 측면 반사부(132)를 포함한다. 상기 측면 반사부(132)는 상기 형광체층(170)의 측면 상에 배치될 수 있다. 상기 측면 반사부(132)는 상기 형광체층(170)의 측면으로부터 누설되는 광을 반사시켜 줄 수 있다. 상기 측면 반사부(132)는 상기 형광체층(170)의 상면 외측에 배치되므로, 형광체층(170)의 상면을 통해 추출되는 광에 영향을 주지 않을 수 있다. 상기 반사 부재(130)의 측면 반사부(132)는 상기 형광체층(170)의 하면보다 높고 상기 형광체층(170)의 상면과 같거나 낮게 배치될 수 있다. 상기 측면 반사부(132)는 위로 갈수록 점차 얇은 너비를 가질 수 있다. 여기서, 상기 측면 반사부(132)의 너비 방향은 상기 형광체층(170)의 중심을 기준으로 X축 방향 또는 Y축 방향의 두께일 수 있다.As shown in FIGS. 2 and 3, the reflective member 130 includes a side reflective portion 132. The side reflector 132 may be disposed on a side surface of the phosphor layer 170. The side reflector 132 may reflect light leaking from the side surface of the phosphor layer 170. Since the side reflecting portion 132 is disposed outside the upper surface of the phosphor layer 170, the side reflecting portion 132 may not affect light extracted through the upper surface of the phosphor layer 170. The side reflective portion 132 of the reflective member 130 may be disposed at a level higher than the lower surface of the phosphor layer 170 and lower or equal to the upper surface of the phosphor layer 170. The side reflector 132 may have a gradually thinner width toward the upper side. Here, the width direction of the side reflector 132 may be a thickness in the X-axis direction or the Y-axis direction with respect to the center of the phosphor layer 170.

상기 반사 부재(130)의 두께는 상기 반도체 칩(150)의 두께와 동일하거나 작을 수 있다. 상기 반사 부재(130)는 상기 반도체 칩(150)을 탑재한 다음 형성됨으로써, 모세관 현상에 의해 상기 반도체 칩(150)의 표면을 따라 상기 반사 부재(130)가 이동될 수 있다. 이를 방지하기 위해, 반사 부재(130)를 상기 반도체 칩(150)의 상면 이하의 높이로 배치하고, 형광체층(170) 및 투광성 수지층(180)을 상기 반사 부재(130) 상에 배치하여 상기 반도체 칩(150)의 상면이나 형광체층(170)의 상면으로 반사 부재(130)의 일부가 이동하는 것을 방지할 수 있다. The thickness of the reflective member 130 may be equal to or less than the thickness of the semiconductor chip 150. The reflection member 130 is formed after mounting the semiconductor chip 150 so that the reflection member 130 can be moved along the surface of the semiconductor chip 150 by capillary phenomenon. The reflective member 130 is disposed at a height lower than the upper surface of the semiconductor chip 150 and the phosphor layer 170 and the translucent resin layer 180 are disposed on the reflective member 130, It is possible to prevent a part of the reflective member 130 from moving on the upper surface of the semiconductor chip 150 or the upper surface of the phosphor layer 170. [

<형광체층(170)><Phosphor layer 170>

상기 형광체층(170)은 상기 반사 부재(130)와 상기 반도체 칩(150) 위에 배치될 수 있다. 상기 형광체층(170)은 상기 반사 부재(130)의 상면에 접촉될 수 있다. 상기 형광체층(170)의 길이는 도 1과 같이, X축 방향의 길이가 Y축 방향의 길이보다 길게 배치될 수 있다. 상기 형광체층(170)의 X축 방향의 길이는 X축 방향으로 배열된 최 외곽 반도체 칩(150) 간의 간격보다 큰 길이로 배치될 수 있으며, Y축 방향의 길이는 각 반도체 칩의 Y축 방향의 길이보다 길게 배치될 수 있다. 상기 형광체층(170)은 복수의 반도체 칩(150)을 커버하는 크기로 배치될 수 있다.The phosphor layer 170 may be disposed on the reflective member 130 and the semiconductor chip 150. The phosphor layer 170 may be in contact with the upper surface of the reflective member 130. The length of the phosphor layer 170 may be longer than the length in the Y-axis direction in the X-axis direction, as shown in FIG. The length of the phosphor layer 170 in the X-axis direction may be greater than the distance between the outermost semiconductor chips 150 arranged in the X-axis direction, and the length in the Y- As shown in FIG. The phosphor layer 170 may be arranged to cover the plurality of semiconductor chips 150.

상기 형광체층(170)은 상기 반도체 칩(150)으로부터 방출된 일부 광을 흡수하여 다른 파장의 광으로 파장 변환하게 된다. 상기 형광체층(170)은 실리콘 또는 에폭시와 같은 투광성 수지 재질에 형광체를 포함할 수 있다. 상기 형광체는 황색 형광체, 녹색 형광체, 청색 형광체, 적색 형광체 중 적어도 하나를 포함할 수 있으며, 예를 들면, Eu, Ce 등의 란타노이드계 원소에 의해 주로 활성화되는 질화물계 형광체·산질화물계 형광체·사이어론계 형광체, Eu 등의 란타노이드계, Mn 등의 천이금속계의 원소에 의해 주로 활성화되는 알칼리 토류 할로겐 아파타이트 형광체, 알칼리 토류 금속 붕산 할로겐 형광체, 알칼리 토류 금속 알루민산염 형광체, 알칼리 토류 규산염, 알칼리 토류 황화물, 알칼리 토류 티오갈레이트, 알칼리 토류 질화규소, 게르마늄산염, 또는, Ce 등의 란타노이드계 원소에 의해 주로 활성화되는 희토류 알루민산염, 희토류 규산염 또는 Eu 등의 란타노이드계 원소에 의해 주로 활성화되는 유기 및 유기 착체 등으로부터 선택되는 적어도 어느 하나 이상일 수 있다. 구체적인 예로서, 상기의 형광체를 사용할 수 있지만, 이것에 한정되지 않는다.The phosphor layer 170 absorbs a part of light emitted from the semiconductor chip 150 and converts the wavelength into light having a different wavelength. The phosphor layer 170 may include a phosphor in a light transmitting resin material such as silicon or epoxy. The phosphor may include at least one of a yellow phosphor, a green phosphor, a blue phosphor, and a red phosphor. For example, the phosphor may be a nitride-based phosphor, an oxynitride-based phosphor, or the like, which is mainly activated by a lanthanoid- Alkaline earth metal borate halogen phosphors, alkaline earth metal aluminate phosphors, alkaline earth silicate, alkaline earth metal silicate phosphors, alkaline earth metal silicate phosphors, alkaline earth metal silicate phosphors, alkaline earth metal silicate phosphors, A rare earth aluminate, a rare earth silicate, or a lanthanoid-based element such as Eu which is mainly activated by a lanthanoid element such as Ce or the like, which is mainly activated by a rare earth aluminate, a rare earth aluminate, Organic and organic complexes, and the like. The. As a specific example, the above-mentioned phosphors can be used, but the present invention is not limited thereto.

상기 형광체층(170)은 도 2와 같이, 상기 반도체 칩(150)의 두께와 다른 두께(T1)를 가질 수 있다. 상기 형광체층(170)은 100㎛ 이상 예컨대, 100㎛ 내지 200㎛의 범위의 두께(T1)로 형성될 수 있으며, 상기 범위보다 작은 경우 형광체 분포가 균일하지 못하여 색 편차가 발생될 수 있으며 상기 범위보다 큰 경우 광 추출 효율이 저하될 수 있다. 상기 형광체층(170)은 상기 반도체 칩(150)의 두께보다 작은 두께(T1)를 갖고, 상기 반도체 칩(150) 상에 부착될 수 있다. 상기 형광체층(170)은 필름 형태로 제공될 수 있다. 상기 형광체층(170)의 상면 및 하면이 수평한 평면으로 제공될 수 있다. 상기 형광체층(170)은 단층 또는 다층 구조를 포함할 수 있다.The phosphor layer 170 may have a thickness T1 different from that of the semiconductor chip 150, as shown in FIG. The phosphor layer 170 may be formed to have a thickness (T1) in the range of 100 탆 or more, for example, 100 탆 to 200 탆. If the phosphor layer 170 is smaller than the above range, the phosphor may not be uniformly distributed, The light extraction efficiency may be lowered. The phosphor layer 170 may have a thickness T1 smaller than the thickness of the semiconductor chip 150 and may be attached on the semiconductor chip 150. [ The phosphor layer 170 may be provided in a film form. The upper surface and the lower surface of the phosphor layer 170 may be provided in a horizontal plane. The phosphor layer 170 may include a single layer or a multi-layer structure.

상기 형광체층(170)으로부터 방출된 광과 상기 반도체 칩(150)으로부터 방출된 광은 백색 광으로 혼합될 수 있다. 상기 백색 광은 색 온도 예컨대, 2000K 내지 10000K의 범위 내에서 색 온도를 가질 수 있다. 상기 백색 광은 웜 화이트(Warm white), 쿨 화이트(Cool white) 또는 뉴트럴 화이트(Neutral white) 중 적어도 하나의 색 온도를 가질 수 있다. The light emitted from the phosphor layer 170 and the light emitted from the semiconductor chip 150 may be mixed with white light. The white light may have a color temperature within a color temperature range of, for example, 2000K to 10000K. The white light may have a color temperature of at least one of Warm white, Cool white, or Neutral white.

<투광성 수지층(180)>&Lt; Transparent resin layer 180 >

상기 투광성 수지층(180)은 상기 형광체층(170) 상에 배치된다. 상기 투광성 수지층(180)은 상기 형광체층(170)의 상면에 부착될 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)은 실리콘 또는 에폭시와 같은 투명한 수지 재질로 형성될 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)은 불소 수지를 포함할 수 있으며, 이 경우 방습 특성이 개선될 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)은 내부에 확산제나 형광체와 같은 불순물이 첨가되지 않는 투명한 층으로 형성될 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)은 상기 형광체층(170)을 통해 입사되는 광을 투과시켜 줄 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)은 상기 형광체층(170)의 굴절률보다 낮은 굴절률을 갖는 재질이거나, 상기 형광체층(170)과의 굴절률 차이가 0.3 이하의 재질을 포함할 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)은 상기 형광체층(170)의 굴절률보다 낮은 재질로 배치되므로, 상기 형광체층(170)을 통해 입사되는 광을 반사시키지 않고 투과시켜 줄 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)은 투명한 수지 재질로 단층 또는 다층으로 형성될 수 있다. The translucent resin layer 180 is disposed on the phosphor layer 170. The translucent resin layer 180 may be attached to the upper surface of the phosphor layer 170. The translucent resin layer 180 may be formed of a transparent resin material such as silicon or epoxy. The translucent resin layer 180 may include a fluororesin, and in this case, the moisture-proof property may be improved. The translucent resin layer 180 may be formed of a transparent layer in which an impurity such as a diffusing agent or a fluorescent material is not added. The light transmitting resin layer 180 may transmit light incident through the phosphor layer 170. The translucent resin layer 180 may be made of a material having a refractive index lower than that of the phosphor layer 170 or a material having a refractive index difference of 0.3 or less with respect to the phosphor layer 170. Since the translucent resin layer 180 is disposed of a material lower than the refractive index of the phosphor layer 170, the light incident through the phosphor layer 170 can be transmitted without being reflected. The translucent resin layer 180 may be formed of a transparent resin material in a single layer or in multiple layers.

상기 투광성 수지층(180)은 상기 형광체층(170)의 상면 면적과 같은 면적이거나 작은 면적일 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)이 상기 형광체층(170)보다 외측으로 돌출된 경우, 상기 투광성 수지층(180)의 돌출된 부분이 벗겨지는 문제가 발생될 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)이 상기 형광체층(170) 상에 배치되므로, 상기 반사 부재(130)의 일부가 상기 형광체층(170)의 상면을 덮는 문제를 방지하며 상기 형광체층(170)을 통해 입사된 광의 투과 효율을 개선시켜 줄 수 있다. 이에 따라 형광체층(170) 상에 공기와 같은 매질이 존재하는 구조에 비해 광 손실을 줄이고 광 추출 효율을 개선시켜 줄 수 잇다. The light transmitting resin layer 180 may have the same area as the top surface area of the phosphor layer 170 or a small area. When the light transmitting resin layer 180 protrudes outward from the phosphor layer 170, a protruding portion of the light transmitting resin layer 180 may be peeled off. Since the translucent resin layer 180 is disposed on the phosphor layer 170 to prevent a part of the reflective member 130 from covering the upper surface of the phosphor layer 170, The transmission efficiency of the incident light can be improved. Accordingly, compared to the structure in which a medium such as air exists on the phosphor layer 170, the light loss can be reduced and the light extraction efficiency can be improved.

도 2와 같이, 상기 투광성 수지층(180)의 두께(T2)는 상기 형광체층(170)의 두께(T1)보다 작게 배치되어, 광의 손실을 줄여줄 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)의 두께(T2)는 상기 형광체층(170)의 두께(T1)의 0.1배 내지 0.9배 범위로 배치될 수 있으며, 예컨대 10㎛ 내지 180㎛의 범위로 배치될 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)의 두께(T2)가 상기 범위보다 작은 경우 광 추출 효율의 개선이 미미하고 반사 부재(130)가 얇은 두께를 갖는 투광성 수지층(180)의 상면으로 침투하는 문제가 발생될 수 있으며, 상기 범위보다 큰 경우 광 추출 효율이 저하될 수 있다. 2, the thickness T2 of the translucent resin layer 180 may be smaller than the thickness T1 of the phosphor layer 170 to reduce light loss. The thickness T2 of the translucent resin layer 180 may be in the range of 0.1 to 0.9 times the thickness T1 of the phosphor layer 170 and may be in the range of 10 to 180 mu m, . If the thickness T2 of the light transmitting resin layer 180 is smaller than the above range, the light extraction efficiency is not sufficiently improved and the reflective member 130 may penetrate the upper surface of the light transmitting resin layer 180 having a small thickness If it is larger than the above range, the light extraction efficiency may be lowered.

실시 예는 형광체층(170)의 상면에 투광성 수지층(180)이 배치됨으로써, 상기 형광체층(170)의 에지측 상면으로 반사 부재(130)가 침투하는 문제를 방지할 수 있다. 이에 따라 광원 모듈(100)의 광속이 개선될 수 있다. 도 19와 같이, 실시 예는 도 2의 광원 모듈의 그래프이며, 비교 예는 도 2의 광원 모듈에서 투광성 수지층(180)이 제거된 경우의 광속을 나타낸 그래프이다. 도 19의 실시 예와 비교 예의 광속과 같이, 실시 예의 광속이 비교 예에 비해 반도체 칩(150)으로부터 방출된 피크 파장이 2% 이상 높게 나타남을 알 수 있다. 상기 반도체 칩(150)은 예컨대, 청색 파장을 방출하며, 상기 형광체층(170)은 황색 광을 방출한 예이다.In the embodiment, the translucent resin layer 180 is disposed on the upper surface of the phosphor layer 170, thereby preventing the reflective member 130 from penetrating into the upper edge surface of the phosphor layer 170. Accordingly, the light flux of the light source module 100 can be improved. As shown in Fig. 19, the embodiment is a graph of the light source module of Fig. 2, and the comparative example is a graph showing the light flux when the light-transmitting resin layer 180 is removed from the light source module of Fig. As can be seen from the luminous fluxes of the embodiment and the comparative example of Fig. 19, the peak wavelength emitted from the semiconductor chip 150 is 2% higher than that of the comparative example. For example, the semiconductor chip 150 emits a blue wavelength, and the phosphor layer 170 emits yellow light.

실시 예는 복수의 반도체 칩(150)의 둘레에 반사 부재(130)가 배치되고 상기 반사 부재(130) 및 상기 반도체 칩(150) 상에 형광체층(170)이 부착됨으로써, 상기 형광체층(170)이 벗겨지는 문제를 방지할 수 있고, 상기 형광체층(170)으로의 광 입사 효율이 개선될 수 있다. 상기 형광체층(170)이 필름 형태로 부착됨으로써, 형광체 분포에 따른 색차 문제나 두께 차이에 따른 발광 편차 문제를 제거할 수 있다.A reflective member 130 is disposed around a plurality of semiconductor chips 150 and a phosphor layer 170 is attached to the reflective member 130 and the semiconductor chip 150 to form the phosphor layer 170 Can be prevented from being peeled off, and the light incidence efficiency into the phosphor layer 170 can be improved. By attaching the phosphor layer 170 in the form of a film, it is possible to eliminate a problem of chromatic aberration due to the distribution of phosphors and a problem of light emitting deviations due to thickness differences.

도 6은 도 2의 광원 모듈의 제1변형 예로서, 도 6의 설명에 있어서, 상기에 개시된 구성과 동일한 구성에 대한 설명은 상기의 설명을 참조하기로 하며 상기에 개시된 구성 및 설명은 제1변형 예에 선택적으로 적용될 수 있다. 6 is a first modification of the light source module of FIG. 2. In the description of FIG. 6, the description of the same configuration as that described above will be referred to the above description. It can be selectively applied to the modified example.

도 6을 참조하면, 광원 모듈은 회로 기판(110), 반도체 칩(150), 반사 부재(130), 형광체층(170) 및 투광성 수지층(180)을 포함한다.6, the light source module includes a circuit board 110, a semiconductor chip 150, a reflective member 130, a phosphor layer 170, and a translucent resin layer 180.

상기 투광성 수지층(180)은 상기 형광체층(170)의 상면 위에 소정 두께(T2)로 배치될 수 있다. 상기 투광성 수지층(180)은 외곽 보호부(182)를 포함하며, 상기 외곽 보호부(182)는 상기 형광체층(170)의 측면들 및 상기 반사 부재(130)의 상면에 연장될 수 있다. 상기 외곽 보호부(182)는 상기 형광체층(170)의 전 측면의 둘레를 커버하게 된다. 상기 외곽 보호부(182)는 상면이 플랫한 형태로 제공될 수 있다. 상기 외곽 보호부(182)는 상기 형광체층(170)의 외측 둘레에 소정 폭(W1)으로 배치될 수 있으며, 예컨대 100㎛ 이상의 폭으로 배치될 수 있다. 상기 폭이 100㎛ 미만인 경우 반사 부재(130)의 침투 경로가 짧아 침투 차단 효과가 저하될 수 있다. 또한 상기 외곽 보호부(182)는 상기 형광체층(170)의 측면을 보호하고 상기 형광체층(170)의 측면을 통해 광을 추출시켜 줄 수 있다. 상기 외곽 보호부(182)의 폭 W1>T2의 관계를 가질 수 있다.The translucent resin layer 180 may be disposed on the upper surface of the phosphor layer 170 with a predetermined thickness T2. The transparent resin layer 180 includes an outer protective portion 182 and the outer protective portion 182 may extend to the side surfaces of the phosphor layer 170 and the upper surface of the reflective member 130. The outer frame protecting portion 182 covers a periphery of the front surface of the phosphor layer 170. The outer protective part 182 may be provided in a flat shape. The outer guard part 182 may be disposed at a predetermined width W1 around the outer periphery of the phosphor layer 170, and may be disposed at a width of 100 mu m or more, for example. If the width is less than 100 mu m, the infiltration path of the reflection member 130 is short, and the infiltration blocking effect may be deteriorated. Also, the outer cover protector 182 protects the side surface of the phosphor layer 170 and can extract light through the side surface of the phosphor layer 170. The width W1 > T2 of the outer guard portion 182 can be set.

상기 반사 부재(130)의 측면 반사부(132)는 상기 투광성 수지층(180)의 외곽 보호부(182)의 외측에 배치될 수 있다. 상기 외곽 보호부(182)의 외측에 상기 측면 반사부(132)가 배치됨으로써, 상기 투광성 수지층(180)의 측 방향으로 누설되는 광을 효과적으로 반사시켜 줄 수 있고 상기 형광체층(170)과 상기 반사 부재(130)의 측면 반사부(132)를 이격시켜 줄 수 있다. 상기 측면 반사부(132)는 상기 외곽 보호부(182)의 외측 둘레를 따라 배치될 수 있다. 상기 측면 반사부(132)와 상기 외곽 보호부(182)는 상기 반사 부재(130)의 에지로부터 이격되어 배치될 수 있다.The side reflective portion 132 of the reflective member 130 may be disposed outside the outer protective portion 182 of the transparent resin layer 180. The side reflective portion 132 is disposed outside the outer protective portion 182 to effectively reflect light leaking laterally of the transparent resin layer 180. The phosphor layers 170 and So that the side reflecting portion 132 of the reflecting member 130 can be spaced apart. The side reflector 132 may be disposed along the outer periphery of the outer guard 182. The side reflecting portion 132 and the outer protecting portion 182 may be spaced apart from the edge of the reflecting member 130.

다른 예로서, 상기 반사 부재(130)의 측면 반사부(132)는 상기 형광체층(170)의 측면과 상기 투광성 수지층(180)의 외곽 보호부(182) 사이에 배치될 수 있다. 이러한 측면 반사부(132)는 상기 형광체층(170)의 측면을 통해 누설된 광을 반사시켜 줄 수 있다. 상기 측면 반사부(132)는 상기 형광체층(170)의 측면과 상기 투광성 수지층(180)의 외곽 보호부(182) 사이의 접착력을 개선시켜 줄 수 있다. As another example, the side reflective portion 132 of the reflective member 130 may be disposed between the side surface of the phosphor layer 170 and the outer protective portion 182 of the translucent resin layer 180. The side reflecting portion 132 may reflect the light leaked through the side surface of the phosphor layer 170. The side reflector 132 may improve adhesion between the side surface of the phosphor layer 170 and the outer protective portion 182 of the transparent resin layer 180.

도 6의 실시 예는 도 20과 같이, 청색 피크 파장의 광속이 비교 예에 비해 4% 이상 높게 나타남을 알 수 있다. 여기서, 비교 예는 도 6의 광원 모듈에서 상기 형광체층(170) 상에 투광성 수지층(180)이 없는 구조이다. As shown in FIG. 20, the embodiment of FIG. 6 shows that the luminous flux of the blue peak wavelength is 4% higher than that of the comparative example. Here, in the comparative example, the light-transmitting resin layer 180 does not exist on the phosphor layer 170 in the light source module of FIG.

도 7은 도 2의 광원 모듈의 제2변형 예로서, 도 7의 설명에 있어서, 상기에 개시된 구성과 동일한 구성에 대한 설명은 상기의 설명을 참조하기로 하며 상기에 개시된 구성 및 설명은 제2변형 예에 선택적으로 적용될 수 있다. 7 is a second modification of the light source module of Fig. 2. In the description of Fig. 7, the same constitution as that described above will be described with reference to the above description, It can be selectively applied to the modified example.

도 7을 참조하면, 광원 모듈은 회로 기판(110), 반도체 칩(150), 반사 부재(130), 형광체층(170) 및 투광성 수지층(180)을 포함한다.Referring to FIG. 7, the light source module includes a circuit board 110, a semiconductor chip 150, a reflective member 130, a phosphor layer 170, and a transparent resin layer 180.

광원 모듈은 상기 반사 부재(130)와 상기 반도체 칩(150) 사이에 배치된 광 가이드층(140)을 포함할 수 있다. 상기 광 가이드층(140)은 상기 반도체 칩(150)의 측면 상에 배치될 수 있다. 상기 광 가이드층(140)은 실리콘 또는 에폭시와 같은 투명한 수지 재질로 형성될 수 있다. 상기 광 가이드층(140)은 상기 반도체 칩(150)들의 둘레에 소정 깊이를 갖는 홈(134)을 따라 배치될 수 있다. 상기 홈(134)의 깊이는 상기 반도체 칩(150)의 두께보다 작을 수 있으며, 상기 홈(134)의 폭은 상기 반도체 칩(150)의 너비의 1/2 이하일 수 있다. 상기 홈(134)의 폭은 하 방향 또는 회로 기판 방향으로 갈수록 점차 좁아질 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The light source module may include a light guide layer 140 disposed between the reflective member 130 and the semiconductor chip 150. The light guide layer 140 may be disposed on a side surface of the semiconductor chip 150. The light guide layer 140 may be formed of a transparent resin material such as silicon or epoxy. The optical guide layer 140 may be disposed along the groove 134 having a predetermined depth around the semiconductor chips 150. The depth of the groove 134 may be less than the thickness of the semiconductor chip 150 and the width of the groove 134 may be less than a half of the width of the semiconductor chip 150. The width of the groove 134 may gradually become narrower toward the lower direction or the circuit board direction, but is not limited thereto.

상기 홈(134)에는 광 가이드층(140)이 배치되며, 상기 광 가이드층(140)은 상기 반도체 칩(150)의 측면으로부터 상기 반사 부재(130)를 이격시켜 줄 수 있다. 상기 광 가이드층(140)은 상기 반도체 칩(150)의 측면으로 방출된 광이나 상기 광 가이드층(140)의 외측에 배치된 반사 부재(130)에 의해 반사된 광을 투과시켜 가이드하게 된다. 이러한 광 가이드층(140)은 상기 반도체 칩(150)의 측 방향으로 진행하는 광을 반사 부재(130)로 반사하여 출사 방향으로 가이드되도록 할 수 있다. 이에 따라 상기 반도체 칩(150)의 표면에 반사 부재(130)가 부착될 때, 상기 반도체 칩(150)의 측면에서의 광 손실을 줄여줄 수 있다. 상기 광 가이드층(140)은 상기 반도체 칩(150)의 탑재 전에 반도체 칩의 측면 상에 부착될 수 있고, 상기 반도체 칩(150)의 탑재하고 반사 부재(130)를 형성한 다음, 상기 반도체 칩(150)과 반사 부재(130) 사이의 계면을 통해 홈(134)을 형성한 후 광 가이드층(140)을 배치할 수 있다. 상기 광 가이드층(140)은 상기 반사 부재(130)와 상기 반도체 칩(150) 사이에 배치되어, 반도체 칩(150)에서의 측면 광의 추출 효율을 개선시켜 줄 수 있다. A light guide layer 140 is disposed in the groove 134 and the light guide layer 140 may separate the reflective member 130 from the side surface of the semiconductor chip 150. The light guide layer 140 guides the light emitted to the side of the semiconductor chip 150 or the light reflected by the reflective member 130 disposed outside the light guide layer 140. The light guiding layer 140 may reflect the light traveling in the lateral direction of the semiconductor chip 150 to the reflection member 130 and guide the light in the emission direction. Accordingly, when the reflective member 130 is attached to the surface of the semiconductor chip 150, the light loss at the side surface of the semiconductor chip 150 can be reduced. The optical guide layer 140 may be attached to the side surface of the semiconductor chip before the semiconductor chip 150 is mounted on the semiconductor chip 150. After the semiconductor chip 150 is mounted and the reflective member 130 is formed, The grooves 134 may be formed through the interface between the reflective layer 150 and the reflective member 130, and then the optical guide layer 140 may be disposed. The light guide layer 140 may be disposed between the reflective member 130 and the semiconductor chip 150 to improve the extraction efficiency of the side light in the semiconductor chip 150.

도 8은 제2실시 예에 따른 광원 모듈을 나타낸 측 단면도이며, 도 9는 도 8의 부분 확대도이다. 도 8 및 도 9의 설명에 있어서, 상기에 개시된 구성과 동일한 구성에 대한 설명은 상기의 설명을 참조하기로 하며 상기에 개시된 구성 및 설명은 선택적으로 적용될 수 있다. FIG. 8 is a side sectional view showing the light source module according to the second embodiment, and FIG. 9 is a partially enlarged view of FIG. In the description of Fig. 8 and Fig. 9, the description of the same configuration as that described above is referred to the above description, and the configuration and explanation described above can be selectively applied.

도 8 및 도 9를 참조하면, 광원 모듈은 회로 기판(110), 반도체 칩(150), 반사 부재(130), 형광체층(170) 및 광 추출 구조를 갖는 투광성 수지층(190)을 포함한다.8 and 9, the light source module includes a circuit board 110, a semiconductor chip 150, a reflective member 130, a phosphor layer 170, and a light-transmitting resin layer 190 having a light extracting structure .

상기 투광성 수지층(190)은 광 추출 구조를 포함할 수 있다. 상기 투광성 수지층(190)은 입사부(191) 및 상기 입사부(191) 상에 돌출부들(192)을 갖는 광 추출 구조를 포함할 수 있다. 도 9와 같이, 상기 입사부(191)는 상기 형광체층(170) 상에 소정 두께(D3)로 배치되어, 돌출부(192)를 서로 연결해 줄 수 있다. 상기 입사부(191)는 70㎛ 이하의 두께(D3) 예컨대, 30㎛ 내지 70㎛의 범위로 배치되어, 입사되는 광을 반사 손실을 줄이고 투과 효율을 개선시켜 줄 수 있다. 상기 입사부(191)로부터 입사된 광은 광 추출 구조를 통해 광의 임계각이 변화되어 외부로 추출될 수 있다. 상기 광 추출 구조는 복수의 돌출부(192)를 포함하며, 상기 복수의 돌출부(192)는 서로 이격될 수 있다. 상기 각 돌출부(192)는 뿔 형상 예컨대, 다각뿔 형상, 원뿔 형상, 다각뿔 대 형상, 원뿔대 형상, 반구형 렌즈, 비구면 형상의 렌즈 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 복수의 돌출부(192)는 매트릭스 형태로 배열되거나, 복수의 행 또는 열들이 지그 재그 형태로 배열될 수 있다. 상기 돌출부(192) 사이의 영역은 상기 입사부(191)를 향하여 점차 좁은 너비를 가질 수 있다.The light transmitting resin layer 190 may include a light extracting structure. The light transmitting resin layer 190 may include a light extracting structure having an incident portion 191 and protrusions 192 on the incident portion 191. 9, the incident portion 191 may be disposed on the phosphor layer 170 with a predetermined thickness D3 to connect the protrusions 192 to each other. The incident portion 191 may be disposed in a range of a thickness D3 of 70 μm or less, for example, 30 μm to 70 μm to reduce reflection loss and improve transmission efficiency. The incident light from the incident portion 191 can be extracted to the outside through the light extracting structure by changing the critical angle of the light. The light extracting structure may include a plurality of protrusions 192, and the plurality of protrusions 192 may be spaced apart from each other. Each of the protrusions 192 may include at least one of a horn shape, a polygonal pyramid shape, a conical shape, a polygonal pyramid shape, a frustum shape, a hemispherical shape, and an aspherical shape. The plurality of protrusions 192 may be arranged in a matrix form, or a plurality of rows or columns may be arranged in a zigzag form. The area between the projections 192 may have a gradually narrower width toward the incidence portion 191. [

도 9와 같이, 상기 돌출부(192)의 주기(D1)는 상기 돌출부(192) 간의 간격(D5)의 n배일 수 있으며, 상기 n은 1 < n < 3의 관계를 만족하는 실수이다. 상기 돌출부(192)의 주기(D1)는 상기 입사부(191)의 두께의 m배일 수 있으며, 상기 m은 5≤m≤7의 관계를 만족하는 실수이다. 상기 돌출부(192) 높이(D4)는 상기 돌출부(192) 간의 주기(D1)의 0.5배 내지 1.5배 범위일 수 있다. 상기 돌출부(192)의 높이(D4)는 상기 입사부(191)의 두께보다 클 수 있다. 상기 광 추출 구조를 갖는 투광성 수지층(190)은 형광체층(170)을 통한 광의 추출 효율을 개선시켜 줄 수 있다. 또한 상기 투광성 수지층(190)은 입사부(191)를 갖고 배치되므로, 상기 반사 부재(130)의 측면 반사부(132)가 상기 형광체층(170)의 상면에 침투하는 것을 방지할 수 있다. 상기 주기(D1)는 2.5㎛ 내지 3㎛의 범위를 가질 수 있다.9, the period D1 of the protrusion 192 may be n times the interval D5 between the protrusions 192, and n is a real number satisfying the relation 1 <n <3. The period D1 of the protrusion 192 may be m times the thickness of the incident portion 191, and m is a real number satisfying the relationship of 5? M? 7. The height D4 of the protrusion 192 may range from 0.5 to 1.5 times the period D1 between the protrusions 192. [ The height D4 of the protrusion 192 may be greater than the thickness of the incident portion 191. [ The light-transmitting resin layer 190 having the light extracting structure can improve light extraction efficiency through the phosphor layer 170. Since the light transmitting resin layer 190 is disposed with the incident portion 191, the side reflection portion 132 of the reflection member 130 can be prevented from penetrating the upper surface of the phosphor layer 170. The period D1 may range from 2.5 [mu] m to 3 [mu] m.

상기 반사 부재(130)의 측면 반사부(132)는 상기 형광체층(170)의 측면에 배치되어, 상기 형광체층(170)의 측 방향으로 누설되는 광을 반사시켜 줄 수 있다. 상기 반사 부재(130)의 측면 반사부(132)는 상기 입사부(191)의 측면에 접촉될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. The side reflective portion 132 of the reflective member 130 may be disposed on a side surface of the phosphor layer 170 to reflect light leaking laterally of the phosphor layer 170. The side reflecting portion 132 of the reflecting member 130 may be in contact with the side surface of the incident portion 191, but the present invention is not limited thereto.

도 10은 도 9의 광 추출 구조의 다른 예로서, 상기 광 추출 구조는 반구형 형상을 갖는 돌출부(192)들이 지그 재그로 배열될 수 있다. 상기 광 추출 구조의 돌출부(192)는 곡면으로 제공하므로, 입사되는 광을 굴절시켜 줄 수 있다. 또한 상기 광 추출 구조는 반구형 형태로 제공되므로, 돌출부(192)의 높이를 낮추고 상기 돌출부(192) 간의 간격을 더 좁혀 줄 수 있다. 이에 따라 상기 돌출부(192)로 진행되는 광량을 높여줄 수 있다. 상기 돌출부(192)의 높이(D4)는 1㎛ 내지 2㎛의 범위일 수 있고 상기 돌출부(192) 간의 주기(D1)보다는 작을 수 있다. 이러한 반구형 렌즈 형상의 돌출부(192)는 바닥 면적을 더 넓혀 주어, 입사 광량과 추출 효율이 개선시켜 줄 수 있다. 상기 광 추출 구조는 마이크로 렌즈 어레이(micro lens array) 형태로 제공될 수 있다. 상기 돌출부(192)들은 육방최밀격자 또는 면심입방 격자 형태로 배열될 수 있다. FIG. 10 is another example of the light extracting structure of FIG. 9, in which the light extracting structure may be arranged in a jig as shown in FIG. Since the protrusion 192 of the light extracting structure is provided as a curved surface, the incident light can be refracted. Further, since the light extracting structure is provided in a hemispherical shape, the height of the protrusion 192 can be lowered and the gap between the protrusions 192 can be further narrowed. Accordingly, the amount of light traveling to the protrusions 192 can be increased. The height D4 of the protrusion 192 may be in the range of 1 탆 to 2 탆 and may be smaller than the period D1 between the protrusions 192. Such hemispherical lens-shaped protrusions 192 can enlarge the floor area and improve the incident light quantity and extraction efficiency. The light extracting structure may be provided in the form of a micro lens array. The protrusions 192 may be arranged in the form of a hexagonal close-packed grating or a face-centered cubic grating.

제2실시 예에 따른 광원 모듈의 광속은 도 21과 같이, 비교 예에 비해 2% 이상 광속이 증가됨을 알 수 있다. 상기 비교 예는 광 추출 구조를 갖는 투광성 수지층(190)이 없이 형광체층(170)을 통해 광이 추출되는 구조이다. As shown in FIG. 21, the luminous flux of the light source module according to the second embodiment is increased by 2% or more as compared with the comparative example. The comparative example is a structure in which light is extracted through the phosphor layer 170 without the light-transmitting resin layer 190 having a light extracting structure.

도 11은 도 8의 광원 모듈의 제1변형 예이다. 도 11의 설명에 있어서, 상기에 개시된 구성과 동일한 구성에 대한 설명은 상기의 설명을 참조하기로 하며 상기에 개시된 구성 및 설명은 선택적으로 적용될 수 있다. 11 is a first modification of the light source module of Fig. In the description of FIG. 11, the description of the same configuration as that described above is referred to the above description, and the configuration and explanation disclosed above can be selectively applied.

도 11을 참조하면, 광원 모듈은 회로 기판(110), 반도체 칩(150), 반사 부재(130), 형광체층(170) 및 광 추출 구조를 갖는 투광성 수지층(190)을 포함한다.11, the light source module includes a circuit board 110, a semiconductor chip 150, a reflective member 130, a phosphor layer 170, and a light-transmitting resin layer 190 having a light extracting structure.

상기 투광성 수지층(190)은 외곽 보호부(193)를 포함한다. 상기 외곽 보호부(193)는 상기 광 추출 구조인 돌출부(192)의 외측 둘레를 따라 배치되며, 링 형상 또는 프레임 형상으로 형성될 수 있다. 상기 외곽 보호부(193)는 상기 형광체층(170)의 상면 에지 영역에 배치되어, 댐 역할을 수행한다. 상기 외곽 보호부(193)는 상기 형광체층(170)의 상면 에지 영역을 반사 부재(130)로부터 보호하게 된다. 상기 외곽 보호부(193)는 측 단면이 삼각형, 사각형 형상이거나 사다리꼴과 같은 다각형 형상일 수 있다. 상기 외곽 보호부(193)의 측 단면의 면적은 상기 각 돌출부(192)의 측 단면의 면적보다 클 수 있다. 상기 반사 부재(130)의 측면 반사부(132)는 상기 투광성 수지층(190)의 외곽 보호부(193)에 접촉될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The translucent resin layer 190 includes an outer protective portion 193. The outer guard 193 is disposed along the outer circumference of the protrusion 192, which is the light extracting structure, and may be formed in a ring shape or a frame shape. The outer guard part 193 is disposed in the edge area of the phosphor layer 170 to serve as a dam. The outer guard part 193 protects the upper edge area of the phosphor layer 170 from the reflective member 130. The outer guard part 193 may have a polygonal shape such as a triangular shape, a quadrangular shape, or a trapezoid. The area of the side end face of the outer guard part 193 may be larger than the area of the side end face of each of the projecting parts 192. [ The side reflective portion 132 of the reflective member 130 may be in contact with the outer protective portion 193 of the transparent resin layer 190 and is not limited thereto.

도 12는 도 11의 광원 모듈의 제2변형 예이다. 도 12의 설명에 있어서, 상기에 개시된 구성과 동일한 구성에 대한 설명은 상기의 설명을 참조하기로 하며 상기에 개시된 구성 및 설명은 선택적으로 적용될 수 있다. 12 is a second modification of the light source module of Fig. In the description of FIG. 12, description of the same configuration as that described above is referred to the above description, and the configuration and explanation disclosed above can be selectively applied.

도 12을 참조하면, 광원 모듈은 회로 기판(110), 반도체 칩(150), 반사 부재(130), 형광체층(170) 및 광 추출 구조를 갖는 투광성 수지층(190)을 포함한다.12, the light source module includes a circuit board 110, a semiconductor chip 150, a reflective member 130, a phosphor layer 170, and a light-transmitting resin layer 190 having a light extracting structure.

상기 반사 부재(130)와 상기 반도체 칩(150) 사이에는 광 가이드층(140)이 배치될 수 있다. 상기 광 가이드층(140)은 상기 반도체 칩(150)의 측면과 상기 형광체층(170)의 하면에 접촉될 수 있다. 상기 광 가이드층(140)은 상기 반도체 칩(150)의 측면을 통해 진행되는 광을 가이드하여, 반사 부재(130)를 통해 반사시켜 줄 수 있다. 이러한 광 가이드층(140)은 실리콘 또는 에폭시와 같은 재질로 형성될 수 있다. 상기 광 가이드층(140)은 상기 반도체 칩(150)의 한 측면, 서로 반대측 측면 또는 모든 측면 상에 배치되어, 상기 반도체 칩(150)으로부터 측 방향으로 진행하는 광의 추출 효율을 개선시켜 줄 수 있다.A light guide layer 140 may be disposed between the reflective member 130 and the semiconductor chip 150. The light guide layer 140 may be in contact with the side surface of the semiconductor chip 150 and the lower surface of the phosphor layer 170. The light guide layer 140 guides the light traveling through the side surface of the semiconductor chip 150 and reflects the light through the reflection member 130. The light guide layer 140 may be formed of a material such as silicon or epoxy. The light guide layer 140 may be disposed on one side of the semiconductor chip 150, on opposite sides of the semiconductor chip 150, or on all sides of the semiconductor chip 150 to improve light extraction efficiency in a lateral direction from the semiconductor chip 150 .

도 13은 도 11의 광원 모듈의 제3변형 예이다. 도 13의 설명에 있어서, 상기에 개시된 구성과 동일한 구성에 대한 설명은 상기의 설명을 참조하기로 하며 상기에 개시된 구성 및 설명은 선택적으로 적용될 수 있다. 13 is a third modification of the light source module of Fig. In the description of FIG. 13, the description of the same configuration as that described above is referred to the above description, and the configuration and explanation disclosed above can be selectively applied.

도 13을 참조하면, 광원 모듈은 회로 기판(110), 반도체 칩(150), 반사 부재(130), 형광체층(170) 및 광 추출 구조를 갖는 투광성 수지층(190)을 포함한다.13, the light source module includes a circuit board 110, a semiconductor chip 150, a reflective member 130, a phosphor layer 170, and a light-transmitting resin layer 190 having a light extracting structure.

상기 광 추출 구조의 돌출부(192)는 상기 반도체 칩(150)과 중첩되는 제1영역(A1)과, 상기 반사 부재(130)와 중첩되는 제2영역(A2)을 포함하며, 상기 제1영역(A1)에 배치된 돌출부(192)의 높이 또는 크기는 상기 제2영역(A2)에 배치된 돌출부(192)의 높이 또는 크기보다 클 수 있다. 상기 반도체 칩(150) 상에 배치된 제1영역(A1)의 돌출부(192)를 더 큰 크기로 배치함으로써, 상기 반도체 칩(150) 상의 제1영역(A1)과 상기 반사 부재(130) 상의 제2영역(A2) 사이의 광도 편차를 줄여줄 수 있다. 상기 제2영역(A2)의 돌출부(192)의 높이는 상기 제1영역(A1)의 돌출부(192)의 높이의 0.3 내지 0.7배의 범위로 배치될 수 있다.The protrusion 192 of the light extracting structure includes a first area A1 overlapping the semiconductor chip 150 and a second area A2 overlapping the reflection member 130, The height or size of the protrusion 192 disposed on the first area A1 may be greater than the height or size of the protrusion 192 disposed on the second area A2. The protrusion 192 of the first area A1 disposed on the semiconductor chip 150 is arranged at a larger size so that the first area A1 on the semiconductor chip 150 and the first area A1 on the semiconductor chip 150 The light intensity deviation between the second regions A2 can be reduced. The height of the protrusion 192 of the second area A2 may be 0.3 to 0.7 times the height of the protrusion 192 of the first area A1.

도 14는 도 11의 광원 모듈의 제4변형 예이다. 도 14의 설명에 있어서, 상기에 개시된 구성과 동일한 구성에 대한 설명은 상기의 설명을 참조하기로 하며 상기에 개시된 구성 및 설명은 선택적으로 적용될 수 있다. 14 is a fourth modification of the light source module of Fig. In the description of FIG. 14, the description of the same configuration as that described above is referred to the above description, and the configuration and explanation disclosed above can be selectively applied.

도 14를 참조하면, 광원 모듈은 회로 기판(110), 반도체 칩(150), 반사 부재(130), 형광체층(170) 및 광 추출 구조를 갖는 투광성 수지층(190)을 포함한다.14, the light source module includes a circuit board 110, a semiconductor chip 150, a reflective member 130, a phosphor layer 170, and a light-transmitting resin layer 190 having a light extracting structure.

상기 투광성 수지층(190)의 외곽 보호부(193A)는 상기 형광체층(170)의 측면 외측에 배치될 수 있다. 상기 외곽 보호부(193A)는 상기 형광체층(170)의 측면과 상기 반사 부재(130)의 상면으로 연장될 수 있다. 상기 투광성 수지층(190)의 외곽 보호부(193A)는 상기 형광체층(170)과 중첩되지 않는 영역에 배치되며 상기 반사 부재(130)의 상면과 접촉될 수 있다. 상기 외곽 보호부(193A)는 상기 형광체층(170)의 측면에 부착되어 상기 반사 부재(130)의 일부가 상기 형광체층(170)의 상면으로 침투하는 것을 방지할 수 있다. 상기 반사 부재(130)의 측면 반사부(132)는 상기 투광성 수지층(190)의 외곽 보호부(193A)의 외측에 배치되므로, 상기 형광체층(170)으로부터 이격될 수 있다. 상기 반사 부재(130)의 측면 반사부(132)는 상기 투광성 수지층(190)의 외곽 보호부(193A)와 상기 형광체층(170)의 측면 사이에 배치될 수 있어, 형광체층(170)의 측 방향으로 누설되는 광을 반사시켜 줄 수 있고, 상기 형광체층(170)과 외곽 보호부(193A)에 밀착 결합될 수 있다. 여기서, 반사 부재(130)의 측면 반사부(132)는 상기 형광체층(170)의 외측 둘레에 배치되거나, 상기 외곽 보호부(193A)의 외측 둘레에 배치될 수 있다.The outer protective portion 193A of the translucent resin layer 190 may be disposed outside the side surface of the phosphor layer 170. The outer guard part 193A may extend to the side surface of the phosphor layer 170 and the upper surface of the reflective member 130. The outer protective portion 193A of the translucent resin layer 190 may be disposed in a region not overlapping the phosphor layer 170 and may be in contact with the upper surface of the reflective member 130. [ The outer guard part 193A may be attached to a side surface of the phosphor layer 170 to prevent a part of the reflective member 130 from penetrating the upper surface of the phosphor layer 170. [ The side reflective portion 132 of the reflective member 130 is disposed outside the outer protective portion 193A of the translucent resin layer 190 and may be spaced apart from the phosphor layer 170. [ The side reflective portion 132 of the reflective member 130 may be disposed between the outer protective portion 193A of the translucent resin layer 190 and the side surface of the phosphor layer 170, And can be tightly coupled to the phosphor layer 170 and the outer protective portion 193A. Here, the side reflective portion 132 of the reflective member 130 may be disposed on the outer periphery of the phosphor layer 170 or on the outer periphery of the outer guard portion 193A.

도 22와 같이, 도 14의 광원 모듈의 광속은 비교 예에 비해 4% 이상이 개선됨을 알 수 있다. 비교 예는 광원 모듈이 광 추출 구조를 갖는 투광성 수지층(190) 없이 형광체층(170)을 통해 광이 추출되는 구조이다. 도 14의 광원 모듈은 도 12의 광원 모듈에 비해, 투광성 수지층(190)의 외곽 보호부(193A)를 더 구비한 구성으로서, 상기 외곽 보호부(193A)에 의해 상기 형광체층(170)의 측 방향으로의 광 추출을 개선시켜 줄 수 있다. As shown in FIG. 22, the luminous flux of the light source module of FIG. 14 is improved by 4% or more as compared with the comparative example. The comparative example is a structure in which the light source module extracts light through the phosphor layer 170 without the light transmitting resin layer 190 having the light extracting structure. The light source module of Fig. 14 further includes an outer protective portion 193A of the light transmitting resin layer 190 as compared with the light source module of Fig. 12, and the outer protective portion 193A of the light source module of Fig. The light extraction in the lateral direction can be improved.

도 15는 도 11의 광원 모듈의 제4변형 예이다. 도 15의 설명에 있어서, 상기에 개시된 구성과 동일한 구성에 대한 설명은 상기의 설명을 참조하기로 하며 상기에 개시된 구성 및 설명은 선택적으로 적용될 수 있다. 15 is a fourth modification of the light source module of Fig. In the description of FIG. 15, the description of the same configuration as that described above is referred to the above description, and the configuration and explanation disclosed above can be selectively applied.

도 15를 참조하면, 광원 모듈은 회로 기판(110), 반도체 칩(150), 반사 부재(130), 형광체층(170) 및 광 추출 구조를 갖는 투광성 수지층(190)을 포함한다.15, the light source module includes a circuit board 110, a semiconductor chip 150, a reflective member 130, a phosphor layer 170, and a light-transmitting resin layer 190 having a light extracting structure.

상기 투광성 수지층(190)의 광 추출 구조는 복수의 돌출부(192)들 사이의 영역에 상기 형광체층(170)이 노출될 수 있다. 상기 광 추출 구조는 돌출부(192)들이 서로 이격되거나, 상기 돌출부(192)들의 하부가 서로 접촉될 수 있다. 상기 광 추출 구조는 돌출부(192)들 사이의 영역을 개방시켜 주거나 돌출부(192)들의 밀도를 높여줌으로써, 광의 추출 효율을 개선시켜 줄 수 있다.The light extracting structure of the light transmitting resin layer 190 may expose the phosphor layer 170 to a region between the plurality of protruding portions 192. In the light extracting structure, the protrusions 192 may be spaced apart from each other, or the bottoms of the protrusions 192 may be in contact with each other. The light extracting structure may improve the light extraction efficiency by opening the area between the projections 192 or by increasing the density of the projections 192.

도 16은 광원 모듈의 다른 형태를 나타낸 도면으로서, 반도체 칩(150)이 회로 기판(110) 상에 소정 직경을 갖는 원 영역 내에 배치되며, 상기 원 영역 상에 형광체층과 투광성 수지층(190)이 원 형상으로 배치될 수 있다. 상기 회로 기판(110) 상에는 반사 부재(130)가 배치되어, 광을 반사시켜 줄 수 있다. 이 경우 상기 반도체 칩(150)의 개수 또는 밀도를 더 높여줄 수 있다. 상기 반도체 칩(150)이 배열되는 외곽 선의 형상은 원 형상의 영역이 다닌 직사각형 또는 정 사각형 형상일 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.16 shows another embodiment of the light source module in which the semiconductor chip 150 is arranged in a circular region having a predetermined diameter on a circuit board 110 and a phosphor layer and a transparent resin layer 190 are formed on the circular region, Can be arranged in a circular shape. A reflective member 130 may be disposed on the circuit board 110 to reflect light. In this case, the number or density of the semiconductor chips 150 can be increased. The shape of the outline in which the semiconductor chips 150 are arranged may be a rectangular shape or a square shape in which the circular shape of the semiconductor chip 150 is not limited thereto.

도 17은 실시 예에 따른 광원 모듈을 갖는 조명 장치의 예이다. 상기의 조명 장치를 설명함에 있어서, 상기에 개시된 구성(들)과 동일한 부분은 선택적으로 적용될 수 있다. 상기 조명 장치는 평판디스플레이에 적용되는 백라이트 유닛이나, 실내환경에 사용하는 실내등, 또는 자동차 외부에 설치되는 전조등, 안개등, 후퇴등, 차폭등, 번호등, 후미등, 제동등, 방향지시등, 비상점멸표시등이나, 자동차 내부에 설치되는 실내조명등에 다양하게 적용될 수 있다.17 is an example of a lighting apparatus having a light source module according to an embodiment. In describing the above illumination device, the same parts as the configuration (s) described above can be selectively applied. The lighting device may be a backlight unit applied to a flat panel display, an interior lamp used in an indoor environment, or a headlamp, a fog lamp, a retractor, a car light, a numeral, a tail lamp, a brake light, a turn indicator, , Indoor lighting installed in a car, and the like.

도 17을 참조하면, 조명 장치는, 실시 예에 개시된 광원 모듈(100A, 100B, 100C)을 갖는 조명모듈(200)과, 상기 조명모듈(110)에서 출사하는 광의 광도를 제어하는 이너렌즈(215), 상기 이너렌즈(215)로부터 출사된 광을 회절시켜 광 형상을 제어하는 광 형상 제어 모듈(220)과, 상기 광형상 제어 모듈(220)로부터 출사된 광을 확산시켜 주어 광 이미지를 구현하는 아우터 렌즈(230)를 포함한다.17, the illumination device includes an illumination module 200 having the light source modules 100A, 100B, and 100C disclosed in the embodiment, and an inner lens 215 for controlling the brightness of light emitted from the illumination module 110 An optical control module 220 for diffracting the light emitted from the inner lens 215 to control the shape of the light, and a light control module 220 for diffusing the light emitted from the optical control module 220 to realize an optical image And an outer lens 230.

상기 조명 모듈(200)의 광원 모듈(100A,100B,100C)는 상기에 개시된 광원 모듈로서, 하나 또는 복수개가 배치될 수 있으며, 적색, 녹색, 적색 또는 백색의 광이 방출될 수 있다. 상기 복수의 광원 모듈(100A,100B,100C)는 개별 구동 또는 동시에 구동되어, 광의 광도나 광량이 제어될 수 있다.The light source modules 100A, 100B, and 100C of the illumination module 200 are the light source modules described above, and one or a plurality of light source modules may be disposed, and red, green, red, or white light may be emitted. The plurality of light source modules 100A, 100B, and 100C may be individually driven or simultaneously driven, so that the light intensity or the amount of light can be controlled.

상기 이너 렌즈(inner lens)(215)는 입사되는 광을 확산하거나 집광시켜 줄 수 있다. 상기 광형상 제어모듈(220)은 상기 이너 렌즈(215)로부터 소정 거리(D)로 이격되어, 상기 각 광원 모듈(100A,100B,100C)와 대응되는 위치에 광 형상의 제어를 위한 패턴을 구비할 수 있다. 상기 패턴은 투명기판이나 투명필름, 투명시트 상에 다양한 광 이미지를 구현하는 이미지를 패터닝하거나, 랜덤한 패턴을 구현하는 것으로, 일예로 DOE(Diffractive optical elements) 또는 HOE(Holographic optical elements)가 구현되는 것을 적용할 수 있다.The inner lens 215 may diffuse or condense incident light. The light control module 220 is spaced apart from the inner lens 215 by a predetermined distance D and has a pattern for controlling the shape of light at positions corresponding to the light source modules 100A, 100B, and 100C can do. The pattern may be a transparent patterned substrate, a transparent film, or a pattern that implements various optical images on a transparent sheet or implements a random pattern. For example, DOE (Diffractive optical elements) or HOE (Holographic optical elements) Can be applied.

상기 아우터 렌즈(230)은 입사된 광을 확산 또는 집광하여 광 이미지를 구현하여 출사할 수 있다. 이러한 광 이미지는 차량 램프에 적용될 때, 미리 정해진 신호 전달을 사용하는 용도 예컨대, 직선이 강한 광원이나, 급정거, 경고 신호, 점진적인 경로 신호와 같은 신호 이미지로 구현될 수 있다. The outer lens 230 may diffuse or condense the incident light to emit an optical image. Such a light image can be applied to a vehicle lamp when using a predetermined signal transmission, for example, a light source having a strong line, or a signal image such as a sudden stop, an alarm signal, or a progressive path signal.

도 18은 실시 예에 따른 반도체 칩의 일 예이다. 18 is an example of a semiconductor chip according to the embodiment.

도 18을 참조하면, 반도체 칩은 복수의 반도체층(11,12,13)을 갖는 발광구조물(10), 상기 발광 구조물(10) 아래에 제1 전극층(20), 상기 제1전극층(20) 아래에 제2 전극층(50), 상기 제1 및 제2전극층(20,50) 사이에 절연층(41), 및 복수의 제1전극(25,25A)를 포함할 수 있다.18, the semiconductor chip includes a light emitting structure 10 having a plurality of semiconductor layers 11, 12 and 13, a first electrode layer 20 under the light emitting structure 10, a first electrode layer 20, An insulating layer 41 and a plurality of first electrodes 25 and 25A may be provided between the first electrode layer 20 and the second electrode layer 50. The second electrode layer 50 may include an insulating layer 41 and a plurality of first electrodes 25 and 25A.

상기 발광구조물(10)은 제1 반도체층(11), 활성층(12), 및 제2 반도체층(13)을 포함할 수 있다. 상기 활성층(12)은 상기 제1반도체층(11)과 상기 제2 반도체층(13) 사이에 배치될 수 있다. 상기 활성층(12)은 상기 제1 반도체층(11) 아래에 배치될 수 있으며, 상기 제2 반도체층(13)은 상기 활성층(12) 아래에 배치될 수 있다.The light emitting structure 10 may include a first semiconductor layer 11, an active layer 12, and a second semiconductor layer 13. The active layer 12 may be disposed between the first semiconductor layer 11 and the second semiconductor layer 13. The active layer 12 may be disposed under the first semiconductor layer 11 and the second semiconductor layer 13 may be disposed under the active layer 12. [

예로서, 상기 제1 반도체층(11)은 제1 도전형 도펀트 예컨대, n형 도펀트가 첨가된 n형 반도체층을 포함하고, 상기 제2 반도체층(13)은 제2 도전형 도펀트 예컨대, p형 도펀트가 첨가된 p형 반도체층을 포함할 수 있다. 또한 반대로, 상기 제1 반도체층(11)이 p형 반도체층으로 형성되고, 상기 제2 반도체층(13)이 n형 반도체층으로 형성될 수도 있다.For example, the first semiconductor layer 11 may include an n-type semiconductor layer doped with a first conductive dopant such as an n-type dopant, and the second semiconductor layer 13 may include a second conductive dopant such as p And a p-type semiconductor layer to which a dopant is added. Conversely, the first semiconductor layer 11 may be formed of a p-type semiconductor layer, and the second semiconductor layer 13 may be formed of an n-type semiconductor layer.

상기 제1반도체층(11)의 상면은 러프(rough)한 요철부(11A)로 형성될 수 있으며, 이러한 요철 면(11A)는 광 추출 효율을 개선시켜 줄 수 있다. 상기 요철 면(11A)의 측 단면은 다각형 형상, 또는 반구형 형상을 포함할 수 있다.The upper surface of the first semiconductor layer 11 may be formed of a rough irregular portion 11A and the irregular surface 11A may improve the light extraction efficiency. The side end surface of the uneven surface 11A may include a polygonal shape or a hemispherical shape.

상기 제1전극층(20)은 상기 발광 구조물(10)과 제2전극층(50) 사이에 배치되며, 상기 발광 구조물(10)의 제2반도체층(13)과 전기적으로 연결되며, 상기 제2전극층(50)과 전기적으로 절연된다. 상기 제1전극층(20)은 제1 접촉층(15), 반사층(17) 및 캡핑층(19)를 포함하며, 상기 제1 접촉층(15)는 상기 반사층(17)과 제2반도체층(13) 사이에 배치되며, 상기 반사층(17)은 상기 제1 접촉층(15)과 상기 캡핑층(19) 사이에 배치된다. 상기 제1 접촉층(15), 반사층(17) 및 캡핑층(19)은 서로 다른 도전성 물질로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The first electrode layer 20 is disposed between the light emitting structure 10 and the second electrode layer 50 and is electrically connected to the second semiconductor layer 13 of the light emitting structure 10, (50). The first electrode layer 20 includes a first contact layer 15, a reflective layer 17 and a capping layer 19, and the first contact layer 15 is formed between the reflective layer 17 and the second semiconductor layer 13), and the reflective layer (17) is disposed between the first contact layer (15) and the capping layer (19). The first contact layer 15, the reflective layer 17, and the capping layer 19 may be formed of different conductive materials, but the present invention is not limited thereto.

상기 제1 접촉층(15)은 상기 제2 반도체층(13)에 접촉되며, 예컨대 상기 제2 반도체층(13)에 오믹 접촉을 형성할 수 있다. 상기 제1 접촉층(15)은 예컨대 전도성 산화막, 전도성 질화물 또는 금속으로 형성될 수 있다. 상기 제1 접촉층(15)은 예로서 ITO(Indium Tin Oxide), ITON(ITO Nitride), IZO(Indium Zinc Oxide), IZON(IZO Nitride), AZO(Aluminum Zinc Oxide), AGZO(Aluminum Gallium Zinc Oxide), IZTO(Indium Zinc Tin Oxide), IAZO(Indium Aluminum Zinc Oxide), IGZO(Indium Gallium Zinc Oxide), IGTO(Indium Gallium Tin Oxide), ATO(Antimony Tin Oxide), GZO(Gallium Zinc Oxide), IZON(IZO Nitride), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, Pt, Ag, Ti 중에서 적어도 하나로 형성될 수 있다.The first contact layer 15 is in contact with the second semiconductor layer 13 and may form an ohmic contact with the second semiconductor layer 13, for example. The first contact layer 15 may be formed of, for example, a conductive oxide film, a conductive nitride, or a metal. The first contact layer 15 may be formed of, for example, indium tin oxide (ITO), ITO (indium tin oxide), IZO (indium zinc oxide), IZON (indium zinc nitride), AZO (aluminum zinc oxide) ), IZTO (Indium Zinc Tin Oxide), IZO (Indium Aluminum Zinc Oxide), IGZO (Indium Gallium Zinc Oxide), IGTO (Indium Gallium Tin Oxide), ATO (Antimony Tin Oxide) IZO nitride, ZnO, IrOx, RuOx, NiO, Pt, Ag, and Ti.

상기 반사층(17)은 상기 제1 접촉층(15)과 캡핑층(19)에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 반사층(17)은 상기 반사층(17)은 상기 발광구조물(10)로부터 입사되는 빛을 반사시켜 외부로 추출되는 광량을 증가시키는 기능을 수행할 수 있다.The reflective layer 17 may be electrically connected to the first contact layer 15 and the capping layer 19. The reflection layer 17 may reflect light incident from the light emitting structure 10 and increase the amount of light extracted to the outside.

상기 반사층(17)은 광 반사율이 70% 이상인 금속으로 형성될 수 있다. 예컨대 상기 반사층(17)은 Ag, Ni, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Cu, Au, Hf 중 적어도 하나를 포함하는 금속 또는 합금으로 형성될 수 있다. 또한, 상기 반사층(17)은 상기 금속 또는 합금과 ITO(Indium-Tin-Oxide), IZO(Indium-Zinc-Oxide), IZTO(Indium-Zinc-Tin-Oxide), IAZO(Indium-Aluminum-Zinc-Oxide), IGZO(Indium-Gallium-Zinc-Oxide), IGTO(Indium-Gallium-Tin-Oxide), AZO(Aluminum-Zinc-Oxide), ATO(Antimony-Tin-Oxide) 등의 투광성 전도성 물질을 이용하여 다층으로 형성될 수 있다. 예를 들어, 실시 예에서 상기 반사층(17)은 Ag, Al, Ag-Pd-Cu 합금, 또는 Ag-Cu 합금 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 예를 들면, 상기 반사층(17)은 Ag 층과 Ni 층이 교대로 형성될 수도 있고, Ni/Ag/Ni, 혹은 Ti 층, Pt 층을 포함할 수 있다. 다른 예로서, 상기 제1 접촉층(15)은 상기 반사층(17) 아래에 형성되고, 적어도 일부가 상기 반사층(17)을 통과하여 상기 제2반도체층(13)과 접촉될 수도 있다. 다른 예로서, 상기 반사층(17)은 상기 제1 접촉층(15)의 아래에 배치되고, 일부가 상기 제1 접촉층(15)을 통과하여 상기 제2반도체층(13)과 접촉될 수 있다. The reflective layer 17 may be formed of a metal having a light reflectance of 70% or more. For example, the reflective layer 17 may be formed of a metal or an alloy including at least one of Ag, Ni, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Cu, Au and Hf. The reflective layer 17 may be formed of one of indium-tin-oxide (ITO), indium-zinc-oxide (IZO), indium-zinc-tin- oxide (IZTO) A transparent conductive material such as indium-gallium-oxide (IGZO), indium-gallium-zinc-oxide (IGTO), aluminum-zinc oxide And may be formed in multiple layers. For example, in an embodiment, the reflective layer 17 may include at least one of Ag, Al, Ag-Pd-Cu alloy, or Ag-Cu alloy. For example, the reflective layer 17 may include an Ag layer and an Ni layer alternately or may include a Ni / Ag / Ni layer, a Ti layer, and a Pt layer. As another example, the first contact layer 15 may be formed under the reflective layer 17, and at least a part of the first contact layer 15 may be in contact with the second semiconductor layer 13 through the reflective layer 17. As another example, the reflective layer 17 may be disposed under the first contact layer 15, and a portion may contact the second semiconductor layer 13 through the first contact layer 15 .

실시 예에 따른 반도체 칩은 상기 반사층(17) 아래에 배치된 캡핑층(capping layer)(19)을 포함할 수 있다. 상기 캡핑층(19)은 상기 반사층(17)의 하면과 접촉되고, 접촉부(34,34A)가 제1전극(25,25A)과 결합되어, 상기 제1전극(25,25A)로부터 공급되는 전원을 전달하는 배선층으로 기능한다. 상기 캡핑층(19)은 금속으로 형성될 수 있으며, 예컨대 Au, Cu, Ni, Ti, Ti-W, Cr, W, Pt, V, Fe, Mo 물질 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. The semiconductor chip according to the embodiment may include a capping layer 19 disposed under the reflective layer 17. The capping layer 19 is in contact with the lower surface of the reflective layer 17 and the contact portions 34 and 34A are coupled with the first electrodes 25 and 25A, As shown in Fig. The capping layer 19 may include at least one of Au, Cu, Ni, Ti, Ti, W, Cr, W, Pt, V, Fe and Mo.

상기 복수의 제1전극(25,25A)은 패드를 포함하며 상기 발광 구조물(10)의 외측에 배치될 수 있다. 다른 예로서, 복수의 제2전극이 상기 발광 구조물(10)의 외측에 배치되거나 상기 발광 구조물(10)의 상면에 배치될 수 있다. The plurality of first electrodes 25 and 25A may include pads and may be disposed outside the light emitting structure 10. As another example, a plurality of second electrodes may be disposed on the outer side of the light emitting structure 10 or on the upper side of the light emitting structure 10.

상기 캡핑층(19)의 접촉부(34,34A)는 상기 발광 구조물(10)과 수직 방향으로 오버랩되지 않는 영역에 배치되며, 상기 제1전극(25,25A)와 수직하게 오버랩된다. 상기 캡핑층(19)의 접촉부(34,34A)는 상기 제1 접촉층(15) 및 반사층(17)과 수직 방향으로 오버랩되지 않는 영역에 배치된다. 상기 캡핑층(19)의 접촉부(34,34A)는 상기 발광 구조물(10)보다 낮은 위치에 배치되며, 상기 제1전극(25,25A)와 직접 접촉될 수 있다.The contact portions 34 and 34A of the capping layer 19 are disposed in regions that do not overlap with the light emitting structure 10 in the vertical direction and are vertically overlapped with the first electrodes 25 and 25A. The contact portions 34 and 34A of the capping layer 19 are disposed in regions that do not overlap with the first contact layer 15 and the reflective layer 17 in the vertical direction. The contact portions 34 and 34A of the capping layer 19 are disposed at a lower position than the light emitting structure 10 and may be in direct contact with the first electrodes 25 and 25A.

상기 제1전극(25,25A)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 단층은 Au일 수 있고, 다층인 경우 Ti, Ag, Cu, Au 중 적어도 2개를 포함할 수 있다. 여기서, 다층인 경우 Ti/Ag/Cu/Au의 적층 구조이거나, Ti/Cu/Au 적층 구조일 수 있다. 상기 반사층(17) 및 상기 제1 접촉층(15) 중 제1전극(25,25A)와 직접 접촉될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. The first electrodes 25 and 25A may be formed as a single layer or a multilayer, and the monolayer may be Au, and in the case of a multilayer, at least two of Ti, Ag, Cu, and Au may be included. Here, the multilayer structure may be a Ti / Ag / Cu / Au laminate structure or a Ti / Cu / Au laminate structure. May be in direct contact with the first electrode (25, 25A) of the reflective layer (17) and the first contact layer (15), but is not limited thereto.

상기 제1전극(25,25A)은 제1전극층(20)의 외 측벽과 상기 발광 구조물(10) 사이의 영역에 배치될 수 있다. 상기 제1전극(25,25A)의 둘레에는 상기 보호층(30) 및 투광층(45)이 접촉될 수 있다.The first electrodes 25 and 25A may be disposed in a region between the outer wall of the first electrode layer 20 and the light emitting structure 10. The protective layer 30 and the light-transmitting layer 45 may be in contact with the periphery of the first electrodes 25 and 25A.

보호층(30)은 상기 발광구조물(10)의 하면에 배치되며, 상기 제2반도체층(13)의 하면 및 상기 제1 접촉층(15)과 접촉될 수 있고, 상기 반사층(17)과 접촉될 수 있다.The protective layer 30 is disposed on the lower surface of the light emitting structure 10 and may be in contact with the lower surface of the second semiconductor layer 13 and the first contact layer 15, .

상기 보호층(30) 중 상기 발광 구조물(10)과 수직 방향으로 오버랩되는 내측부는 상기 돌출부(16)의 영역과 수직 방향으로 오버랩되게 배치될 수 있다. 상기 보호층(30)의 외측부는 상기 캡핑층(19)의 접촉부(34,34A) 위로 연장되며 상기 접촉부(34,34A)와 수직 방향으로 오버랩되게 배치된다. 상기 보호층(30)의 외측부는 상기 제1전극(25,25A)과 접촉될 수 있으며, 예컨대 상기 제1전극(25,25A)의 둘레 면에 배치될 수 있다.The inner portion of the passivation layer 30, which overlaps with the light emitting structure 10 in the vertical direction, may be vertically overlapped with the region of the protrusion 16. The outer side of the protective layer 30 extends over the contact portions 34 and 34A of the capping layer 19 and overlaps with the contact portions 34 and 34A in the vertical direction. The outer side of the protection layer 30 may be in contact with the first electrodes 25 and 25A and may be disposed on the peripheral surfaces of the first electrodes 25 and 25A, for example.

상기 보호층(30)의 내측부는 상기 발광 구조물(10)과 상기 제1전극층(20) 사이에 배치되며, 외측부는 투광층(45)과 상기 캡핑층(19)의 접촉부(34,34A) 사이에 배치될 수 있다. 상기 보호층(30)의 외측부는 상기 발광구조물(10)의 측벽보다 외측 영역으로 연장되어, 습기가 침투하는 것을 방지할 수 있다. The inner side of the passivation layer 30 is disposed between the light emitting structure 10 and the first electrode layer 20 and the outer side of the passivation layer 30 is disposed between the light emitting layer 45 and the contact portions 34 and 34A of the capping layer 19. [ As shown in FIG. The outer side of the protective layer 30 may extend outside the sidewall of the light emitting structure 10 to prevent moisture from penetrating.

상기 보호층(30)은 채널층, 또는 저 굴절 재질, 아이솔레이션층으로 정의될 수 있다. 상기 보호층(30)은 절연물질로 구현될 수 있으며, 예컨대 산화물 또는 질화물로 구현될 수 있다. 예를 들어, 상기 보호층(30)은 SiO2, SixOy, Si3N4, SixNy, SiOxNy, Al2O3, TiO2, AlN 등으로 이루어진 군에서 적어도 하나가 선택되어 형성될 수 있다. 상기 보호층(30)은 투명한 재질로 형성될 수 있다.The protective layer 30 may be defined as a channel layer, a low refractive index material, or a channel layer. The protective layer 30 may be formed of an insulating material, for example, an oxide or a nitride. For example, the protective layer 30 may include at least one of SiO 2 , Si x O y , Si 3 N 4 , Si x N y , SiO x N y , Al 2 O 3 , TiO 2 , May be selected and formed. The protective layer 30 may be formed of a transparent material.

실시 예에 따른 반도체 칩은 상기 제1 전극층(20)과 상기 제2 전극층(50)을 전기적으로 절연시키는 절연층(41)을 포함할 수 있다. 상기 절연층(41)은 상기 제1 전극층(20)과 상기 제2 전극층(50) 사이에 배치될 수 있다. 상기 절연층(41)의 상부는 상기 보호층(30)에 접촉될 수 있다. 상기 절연층(41)은 예컨대 산화물 또는 질화물로 구현될 수 있다. 예를 들어, 상기 절연층(41)은 SiO2, SixOy, Si3N4, SixNy, SiOxNy, Al2O3, TiO2, AlN 등으로 이루어진 군에서 적어도 하나가 선택되어 형성될 수 있다. The semiconductor chip according to the embodiment may include an insulating layer 41 for electrically insulating the first electrode layer 20 and the second electrode layer 50. The insulating layer 41 may be disposed between the first electrode layer 20 and the second electrode layer 50. The upper portion of the insulating layer 41 may be in contact with the protective layer 30. The insulating layer 41 may be formed of, for example, an oxide or a nitride. For example, the insulating layer 41 may include at least one of the group consisting of SiO 2 , Si x O y , Si 3 N 4 , Si x N y , SiO x N y , Al 2 O 3 , TiO 2 , May be selected and formed.

상기 절연층(41)은 예로서 100nm 내지 2000nm의 두께로 형성될 수 있다. 상기 절연층(41)의 두께가 100nm 미만으로 형성될 경우 절연 특성에 문제가 발생 될 수 있으며, 상기 절연층(41)의 두께가 2000nm 초과로 형성될 경우에 후 공정 단계에서 깨짐이 발생 될 수 있다. 상기 절연층(41)은 상기 제1 전극층(20)의 하면과 상기 제2전극층(50)의 상면에 접촉되며, 상기 보호층(30), 캡핑층(19), 접촉층(15), 반사층(17) 각각의 두께보다는 두껍게 형성될 수 있다.The insulating layer 41 may be formed to a thickness of 100 nm to 2000 nm, for example. If the thickness of the insulating layer 41 is less than 100 nm, a problem may be caused in the insulating characteristic. If the thickness of the insulating layer 41 is more than 2000 nm, have. The insulating layer 41 is in contact with the lower surface of the first electrode layer 20 and the upper surface of the second electrode layer 50 and the protective layer 30, the capping layer 19, the contact layer 15, (17).

상기 제2 전극층(50)은 상기 절연층(41) 아래에 배치된 확산 방지층(52), 상기 확산 방지층(52) 아래에 배치된 본딩층(54) 및 상기 본딩층(54) 아래에 배치된 전도성 지지부재(56)를 포함할 수 있으며, 상기 제1반도체층(11)과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 상기 제2 전극층(50)은 상기 확산 방지층(52), 상기 본딩층(54), 상기 전도성 지지부재(56) 중에서 1 개 또는 2 개를 선택적으로 포함하고, 상기 확산 방지층(52) 또는 상기 본딩층(54) 중 적어도 하나는 형성하지 않을 수 있다.The second electrode layer 50 may include a diffusion barrier layer 52 disposed below the insulating layer 41, a bonding layer 54 disposed below the diffusion barrier layer 52, And may include a conductive support member 56 and may be electrically connected to the first semiconductor layer 11. The second electrode layer 50 may selectively include one or two of the diffusion preventing layer 52, the bonding layer 54, and the conductive supporting member 56, and the diffusion preventing layer 52 or At least one of the bonding layers 54 may not be formed.

상기 확산 방지층(52)은 Cu, Ni, Ti, Ti-W, Cr, W, Pt, V, Fe, Mo 물질 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 확산 방지층(52)은 절연층(41)과 본딩층(54) 사이에서 확산 장벽층으로 기능할 수도 있다. 상기 확산 방지층(52)은 본딩층(54) 및 전도성 지지부재(56)와 전기적으로 연결되고, 상기 제1반도체층(11)과 전기적으로 연결될 수 있다.The diffusion preventing layer 52 may include at least one of Cu, Ni, Ti, Ti-W, Cr, W, Pt, V, Fe and Mo. The diffusion barrier layer 52 may function as a diffusion barrier layer between the insulating layer 41 and the bonding layer 54. The diffusion barrier layer 52 may be electrically connected to the bonding layer 54 and the conductive support member 56 and may be electrically connected to the first semiconductor layer 11.

상기 확산 방지층(52)은 상기 본딩층(54)이 제공되는 공정에서 상기 본딩층(54)에 포함된 물질이 상기 반사층(17) 방향으로 확산되는 것을 방지하는 기능을 수행할 수 있다. 상기 확산 방지층(52)은 상기 본딩층(54)에 포함된 주석(Sn) 등의 물질이 상기 반사층(17)에 영향을 미치는 것을 방지할 수 있다. The diffusion preventing layer 52 may prevent diffusion of the material contained in the bonding layer 54 toward the reflective layer 17 in the process of providing the bonding layer 54. The diffusion preventing layer 52 may prevent a substance such as tin contained in the bonding layer 54 from affecting the reflective layer 17.

상기 본딩층(54)은 베리어 금속 또는 본딩 금속 등을 포함하며, 예를 들어, Ti, Au, Sn, Ni, Cr, Ga, In, Bi, Cu, Ag, Nb, Pd 또는 Ta 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 전도성 지지부재(56)는 실시 예에 따른 상기 발광구조물(10)을 지지하며 방열 기능을 수행할 수 있다. 상기 본딩층(54)은 시드(seed) 층을 포함할 수도 있다.The bonding layer 54 may include at least one of Ti, Au, Sn, Ni, Cr, Ga, In, Bi, Cu, Ag, Nb, Pd, . The conductive support member 56 supports the light emitting structure 10 according to the embodiment and can perform a heat dissipation function. The bonding layer 54 may include a seed layer.

상기 전도성 지지부재(56)는 금속 또는 캐리어 기판 예를 들어, Ti, Cr, Ni, Al, Pt, Au, W, Cu, Mo, Cu-W 또는 불순물이 주입된 반도체 기판(예: Si, Ge, GaN, GaAs, ZnO, SiC, SiGe 등) 중에서 적어도 어느 하나로 형성될 수 있다. 상기 전도성 지지부재(56)은 발광 소자(100)를 지지하기 위한 층으로서, 그 두께는 제2전극층(50)의 두께의 80% 이상이며, 30㎛ 이상으로 형성될 수 있다.The conductive support member 56 may be formed of a metal or a carrier substrate, for example, a semiconductor substrate (e.g., Si, Ge) doped with Ti, Cr, Ni, Al, Pt, Au, W, Cu, Mo, , GaN, GaAs, ZnO, SiC, SiGe, and the like). The conductive supporting member 56 is a layer for supporting the light emitting device 100. The thickness of the conductive supporting member 56 may be 80% or more of the thickness of the second electrode layer 50 and 30 mu m or more.

한편, 제2접촉층(33)은 상기 제1 반도체층(11)의 내부에 배치되고 상기 제1반도체층(11)과 접촉된다. 상기 제2접촉층(33)의 상면은 상기 제1반도체층(11)의 하면보다 위에 배치될 수 있으며, 제1반도체층(11)과 전기적으로 연결되고, 상기 활성층(12) 및 제2반도체층(13)과 절연된다.On the other hand, the second contact layer 33 is disposed inside the first semiconductor layer 11 and is in contact with the first semiconductor layer 11. The upper surface of the second contact layer 33 may be disposed above the lower surface of the first semiconductor layer 11 and may be electrically connected to the first semiconductor layer 11, Is insulated from the layer (13).

상기 제2 접촉층(33)은 상기 제2 전극층(50)에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제2 접촉층(33)은 상기 제1전극층(20), 상기 활성층(12) 및 상기 제2반도체층(15)을 관통하여 배치될 수 있다. 상기 제2 접촉층(33)은 상기 발광 구조물(10) 내에 배치된 리세스(recess)(2)에 배치되고, 상기 활성층(12) 및 제2반도체층(15)과 보호층(30)에 의해 절연된다. 상기 제2 접촉층(33)는 복수개가 서로 이격되어 배치될 수 있다.  The second contact layer 33 may be electrically connected to the second electrode layer 50. The second contact layer 33 may be disposed through the first electrode layer 20, the active layer 12, and the second semiconductor layer 15. The second contact layer 33 is disposed in a recess 2 disposed in the light emitting structure 10 and the active layer 12 and the second semiconductor layer 15 and the protective layer 30 Lt; / RTI &gt; A plurality of the second contact layers 33 may be disposed apart from each other.

상기 제2 접촉층(33)은 제2전극층(50)의 돌기(51)에 연결될 수 있으며, 상기 돌기(51)는 상기 확산 방지층(52)으로부터 돌출될 수 있다. 상기 돌기(51)은 절연층(41) 및 보호층(30) 내에 배치된 홀(41A)을 통해 관통되고, 제1전극층(20)과 절연될 수 있다. The second contact layer 33 may be connected to the protrusion 51 of the second electrode layer 50 and the protrusion 51 may protrude from the diffusion prevention layer 52. The protrusion 51 penetrates through the hole 41A disposed in the insulating layer 41 and the protection layer 30 and can be insulated from the first electrode layer 20. [

상기 제2 접촉층(33)는 예컨대 Cr, V, W, Ti, Zn, Ni, Cu, Al, Au, Mo 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 돌기(501)는 다른 예로서, 상기 확산 방지층(52) 및 본딩층(54)을 구성하는 물질 중 적어도 하나를 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지 않는다. 예컨대 상기 돌기(51)은 예로서 Ti, Au, Sn, Ni, Cr, Ga, In, Bi, Cu, Ag, Nb, Pd 또는 Ta 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.The second contact layer 33 may include at least one of Cr, V, W, Ti, Zn, Ni, Cu, Al, Au and Mo. As another example, the protrusion 501 may include at least one of the diffusion preventing layer 52 and the bonding layer 54, but is not limited thereto. For example, the protrusions 51 may include at least one of Ti, Au, Sn, Ni, Cr, Ga, In, Bi, Cu, Ag, Nb, Pd or Ta.

제1전극(25,25A)은 상기 제1 전극층(20)에 전기적으로 연결되며, 상기 발광구조물(10)의 측벽 외측의 영역에 노출될 수 있다. 상기 제1전극(25,25A)은 복수로 배치될 수 있다. 상기 제1전극(25,25A)은 예컨대 Cu, Ni, Ti, Ti-W, Cr, W, Pt, V, Fe, Mo 물질 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. The first electrodes 25 and 25A are electrically connected to the first electrode layer 20 and may be exposed to a region outside the sidewalls of the light emitting structure 10. [ The first electrodes 25 and 25A may be arranged in a plurality. The first electrodes 25 and 25A may include at least one of Cu, Ni, Ti, Ti, W, Cr, W, Pt, V, Fe and Mo.

투광층(45)은 상기 발광구조물(10)의 표면을 보호하고, 상기 제1전극(25,25A)과 상기 발광구조물(10)의 사이를 절연시킬 수 있고, 상기 보호층(30)의 주변부와 접촉될 수 있다. 상기 투광층(45)은 상기 발광 구조물(10)을 구성하는 반도체층의 물질보다 낮은 굴절률을 가지며, 광 추출 효율을 개선시켜 줄 수 있다. 상기 투광층(45)은 예컨대 산화물 또는 질화물로 구현될 수 있다. 예를 들어, 상기 투광층(45)은 Si02, SixOy, Si3N4, SixNy, SiOxNy, Al2O3, TiO2, AlN 등으로 이루어진 군에서 적어도 하나가 선택되어 형성될 수 있다. 한편, 상기 투광층(45)은 설계에 따라 생략될 수도 있다. 실시 예에 의하면, 상기 발광구조물(10)은 상기 제1 전극층(20)과 상기 제2 전극층(50)에 의해 구동될 수 있다.The light transmitting layer 45 may protect the surface of the light emitting structure 10 and may isolate the first electrode 25 and the light emitting structure 10 from each other, / RTI &gt; The light-transmitting layer 45 has a lower refractive index than the material of the semiconductor layer constituting the light-emitting structure 10, and can improve light extraction efficiency. The light-transmitting layer 45 may be formed of, for example, an oxide or a nitride. For example, the light-transmitting layer 45 may include at least one of the group consisting of SiO 2 , Si x O y , Si 3 N 4 , Si x N y , SiO x N y , Al 2 O 3 , TiO 2 , May be selected and formed. Meanwhile, the light-transmitting layer 45 may be omitted according to design. According to the embodiment, the light emitting structure 10 may be driven by the first electrode layer 20 and the second electrode layer 50.

본 발명에 따른 차량용 조명유닛은 후미등(Tail) & 정지등(Stop) 및 방향지시등(turn signal)에 적용될 수 있다. 즉, 조명이 필요로 하는 다양한 램프장치, 이를테면 차량용 램프, 가정용 조명장치, 산업용 조명장치에 적용이 가능하다. 예컨대 차량용 램프에 적용되는 경우, 헤드라이트, 차량실내조명, 도어스카프, 후방라이트 등에도 적용이 가능하다. 추가적으로 본 발명의 조명장치는 액정표시장치에 적용되는 백라이트 유닛 분야에도 적용 가능하며, 이외에도 현재 개발되어 상용화되었거나 향후 기술발전에 따라 구현 가능한 모든 조명관련 분야에 적용 가능하다고 할 것이다.The vehicle lighting unit according to the present invention can be applied to a tail & stop signal and a turn signal signal. That is, the present invention can be applied to various lamp devices requiring illumination, such as automobile lamps, home lighting devices, and industrial lighting devices. For example, when it is applied to a vehicle lamp, it can be applied to a headlight, a vehicle interior light, a door scarf, a rear light, and the like. In addition, the illumination device of the present invention can be applied to a backlight unit field applied to a liquid crystal display device, and can be applied to all lighting-related fields that are currently developed, commercialized, or can be implemented according to future technology development.

이상에서 실시예들에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 본 발명의 적어도 하나의 실시예에 포함되며, 반드시 하나의 실시예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시예들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의해 다른 실시예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The features, structures, effects and the like described in the embodiments are included in at least one embodiment of the present invention and are not necessarily limited to only one embodiment. Furthermore, the features, structures, effects and the like illustrated in the embodiments can be combined and modified by other persons skilled in the art to which the embodiments belong. Therefore, it should be understood that the present invention is not limited to these combinations and modifications.

또한, 이상에서 실시예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is clearly understood that the same is by way of illustration and example only and is not to be taken by way of illustration, It can be seen that various modifications and applications are possible. For example, each component specifically shown in the embodiments can be modified and implemented. It is to be understood that all changes and modifications that come within the meaning and range of equivalency of the claims are therefore intended to be embraced therein.

110: 회로 기판
130: 반사 부재
132: 측면 반사부
150: 반도체 칩
170: 형광 필름
180,190: 투광성 수지층
191: 입사부
192: 광 추출 구조
193: 외곽 보호부
110: circuit board
130: reflective member
132:
150: semiconductor chip
170: Fluorescent film
180, 190: translucent resin layer
191: Incident Department
192: Light extraction structure
193: Outer guard

Claims (10)

회로 기판;
상기 회로 기판 상에 배치된 복수의 반도체 칩;
상기 복수의 반도체 칩의 둘레에 배치된 반사 부재;
상기 복수의 반도체 칩과 상기 반사 부재 상에 배치된 형광체층; 및
상기 형광체층 상에 배치된 투광성 수지층을 포함하는 광원 모듈.
A circuit board;
A plurality of semiconductor chips disposed on the circuit board;
A reflective member disposed around the plurality of semiconductor chips;
A plurality of semiconductor chips and a phosphor layer disposed on the reflective member; And
And a translucent resin layer disposed on the phosphor layer.
제1항에 있어서, 상기 반사 부재는 상기 회로 기판 상에서 상기 형광체층의 하면 면적보다 큰 면적을 가지며, 수지 재질을 포함하는 광원 모듈.The light source module according to claim 1, wherein the reflective member has an area larger than a bottom area of the phosphor layer on the circuit board, and includes a resin material. 제1항에 있어서, 상기 반사 부재는 상기 형광체층의 측면에 배치된 측면 반사부를 포함하는 광원 모듈.The light source module according to claim 1, wherein the reflective member includes a side reflector disposed on a side surface of the phosphor layer. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 투광성 수지층은 상기 형광체층 상에 배치된 입사부 및 상기 입사부 상에 복수의 돌출부를 갖는 광 추출 구조를 포함하는 광원 모듈.The light source module according to any one of claims 1 to 3, wherein the light transmitting resin layer includes a light extracting structure having an incident portion disposed on the phosphor layer and a plurality of protrusions on the incident portion. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 투광성 수지층은 상기 형광체층의 굴절률 보다 낮은 굴절률을 갖는 수지 재질을 포함하며,
상기 투광성 수지층의 하면은 상기 형광체층의 상면 면적과 같거나 큰 면적을 갖는 광원 모듈.
4. The method according to any one of claims 1 to 3,
Wherein the translucent resin layer comprises a resin material having a refractive index lower than that of the phosphor layer,
And the lower surface of the translucent resin layer has an area equal to or larger than an upper surface area of the phosphor layer.
제4항에 있어서, 상기 투광성 수지층은 상기 광 추출 구조의 외측 둘레에 배치된 외곽 보호부를 포함하는 광원 모듈.5. The light source module according to claim 4, wherein the light transmitting resin layer includes an outer protective portion disposed on an outer periphery of the light extracting structure. 제6항에 있어서, 상기 외곽 보호부는 상기 형광체층의 상면과 상기 반사 부재의 상면 중 적어도 한 영역 위에 배치되며 상기 각 돌출부와 다른 형상을 갖는 광원 모듈.The light source module according to claim 6, wherein the outer guard is disposed on at least one of an upper surface of the phosphor layer and an upper surface of the reflective member, and has a different shape from the protrusions. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 반사 부재와 상기 반도체 칩 사이에 배치된 투명한 수지 재질의 광 가이드층을 포함하는 광원 모듈.The light source module according to any one of claims 1 to 3, comprising a light guide layer of a transparent resin material disposed between the reflective member and the semiconductor chip. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 반도체 칩 상에 배치된 상기 투광성 수지층 및 상기 형광체층에 배치된 제1개구부 및 상기 반사 부재 상에 제2개구부를 포함하며,
상기 회로 기판은 상기 각 반도체 칩의 아래에 제1리드 전극 및 상기 제2개구부 아래에 제2리드 전극이 배치되며,
상기 복수의 반도체 칩은 상기 제1,2리드 전극과 전기적으로 연결되는 광원 모듈.
4. The method according to any one of claims 1 to 3,
A first opening disposed on the translucent resin layer and the phosphor layer disposed on the semiconductor chip, and a second opening on the reflective member,
Wherein the circuit board has a first lead electrode below the semiconductor chips and a second lead electrode below the second opening,
Wherein the plurality of semiconductor chips are electrically connected to the first and second lead electrodes.
적어도 하나의 광원 모듈;
상기 광원 모듈 상에 이너 렌즈; 및
상기 이너 렌즈 상에 아우터 렌즈를 포함하며,
상기 광원 모듈은,
회로 기판;
상기 회로 기판 상에 배치된 복수의 반도체 칩;
상기 복수의 반도체 칩의 둘레에 배치된 반사 부재;
상기 복수의 반도체 칩과 상기 반사 부재 상에 배치된 형광체층; 및
상기 형광체층 상에 배치된 투광성 수지층을 포함하는 조명 장치.
At least one light source module;
An inner lens on the light source module; And
An outer lens on the inner lens,
The light source module includes:
A circuit board;
A plurality of semiconductor chips disposed on the circuit board;
A reflective member disposed around the plurality of semiconductor chips;
A plurality of semiconductor chips and a phosphor layer disposed on the reflective member; And
And a translucent resin layer disposed on the phosphor layer.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN111883638A (en) * 2020-08-21 2020-11-03 浙江老鹰半导体技术有限公司 Packaging structure of ultraviolet light source and manufacturing method

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