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KR20170064478A - Resin sheet - Google Patents

Resin sheet Download PDF

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KR20170064478A
KR20170064478A KR1020160160701A KR20160160701A KR20170064478A KR 20170064478 A KR20170064478 A KR 20170064478A KR 1020160160701 A KR1020160160701 A KR 1020160160701A KR 20160160701 A KR20160160701 A KR 20160160701A KR 20170064478 A KR20170064478 A KR 20170064478A
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epoxy resin
curable resin
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시게오 나카무라
고타 도리
마코토 유노키
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아지노모토 가부시키가이샤
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Abstract

[과제] 기판의 휘어짐을 저감시키고 또한 부품 매립성이 우수한 수지 시트를 제공한다.
[해결수단] 지지체와, 지지체 위에 설치된 경화성 수지 조성물층을 구비하는 수지 시트로서, 경화성 수지 조성물층은, 무기 충전재를 함유하고, 경화성 수지 조성물층 중의 무기 충전재의 함유량은 74질량% 이상이고, 무기 충전재의 평균 입자 직경이 1.6㎛ 이하이고, 무기 충전재의 비표면적[㎡/g]과 진밀도[g/㎤]의 곱이 6 내지 8이고, 경화성 수지 조성물층의 최저 용융 점도가 12000poise 이하인, 수지 시트.
[PROBLEMS] To provide a resin sheet capable of reducing deflection of a substrate and having excellent parts embedding property.
[MEANS FOR SOLVING PROBLEMS] A resin sheet comprising a support and a curable resin composition layer provided on a support, wherein the curable resin composition layer contains an inorganic filler, the content of the inorganic filler in the curable resin composition layer is 74 mass% In which the average particle diameter of the filler is 1.6 占 퐉 or less and the product of the specific surface area [m2 / g] of the inorganic filler and the true density [g / cm3] is 6 to 8 and the minimum melt viscosity of the curable resin composition layer is 12000 poise or less. .

Description

수지 시트{RESIN SHEET}Resin Sheet {RESIN SHEET}

본 발명은 수지 시트, 배선판, 및 반도체 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a resin sheet, a wiring board, and a semiconductor device.

최근, 스마트폰, 태블릿 PC와 같은 소형의 고기능 전자 기기의 수요가 증대되고 있다. 그것에 따라 이들 소형 전자 기기에 사용되는 프린트 배선판의 더욱 고기능화 및 소형화가 요구되고 있다. Recently, demand for small and high-performance electronic devices such as smart phones and tablet PCs is increasing. Accordingly, a printed wiring board used in these small electronic apparatuses is required to have higher functionality and miniaturization.

프린트 배선판에는, 베어칩, 칩상 콘덴서, 칩상 인덕터 등의 부품이 실장된다. 종래 이와 같은 부품은, 프린트 배선판의 표면 회로에만 실장되어 있었지만, 그 실장량은 한정되어 있어, 최근 프린트 배선판의 더욱 고기능화, 소형화의 요구에 대응하는 것은 곤란하였다. Components such as a bare chip, a chipped capacitor, and a chip inductor are mounted on the printed wiring board. Conventionally, such a component has been mounted only on the surface circuit of the printed wiring board, but its mounting amount is limited, and it has been difficult to cope with the recent demand for more sophisticated and miniaturized printed wiring boards.

상기 과제를 해결하는 것으로서, 부품을 내층 회로 기판에 내장시킴으로써 부품의 탑재량을 증가시키면서 소형화(박형화)를 도모한 부품 내장 회로판이 제안되어 있다(예를 들면 특허문헌 1을 참조). To solve the above problems, there has been proposed a component built-in circuit board in which components are mounted on an inner-layer circuit board to reduce the size (thinness) while increasing the amount of components to be mounted (see, for example, Patent Document 1).

일본 특허공보 제4114629호Japanese Patent Publication No. 4114629

그런데, 부품 내장 회로판의 부품이 배치되는 오목부(캐비티)에 있어서의 부품 매립성을 우수한 것으로 하기 위해서는, 레진 플로우를 중시하여 부품 매립에 사용하는 수지 조성물 중의 무기 충전재의 함유량을 억제하면서, 비교적 분자량이 작은 수지를 사용하는 것을 생각할 수 있지만, 열팽창율이 높아져 기판 휘어짐이 커지기 쉽다. 한편, 부품 내장 회로판의 기판 휘어짐을 저감시키기 위해서는, 수지 조성물 중의 무기 충전재의 함유량을 크게 하는 것을 생각할 수 있지만, 이것에 의해 용융 점도가 높아져 캐비티에 있어서의 부품 매립성이 저하되기 쉽다는 문제가 있었다. However, in order to improve the component embedding property in the recess in which the parts of the component built-in circuit board are disposed, it is necessary to reduce the content of the inorganic filler in the resin composition used for embedding the component, Although it is conceivable to use such a small resin, the thermal expansion rate is increased and the substrate warpage tends to become large. On the other hand, in order to reduce the substrate warpage of the component built-in circuit board, it is conceivable to increase the content of the inorganic filler in the resin composition. However, there is a problem that the melt viscosity becomes high and the component filling property in the cavity tends to lower .

그래서, 본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 기판의 휘어짐을 저감시키고 또한, 부품 매립성이 우수한 수지 시트를 제공하는 것이다. SUMMARY OF THE INVENTION It is therefore an object of the present invention to provide a resin sheet which is capable of reducing warping of a substrate and having an excellent part embedding property.

본 발명자들은, 상기의 과제에 관해서 예의 검토한 결과, 경화성 수지 조성물층을 형성하는 경화성 수지 조성물 중에, 평균 입자 직경이 1.6㎛ 이하인 동시에, 비표면적[㎡/g]과 진밀도[g/㎤]의 곱이 6 내지 8인 무기 충전재를 74질량% 이상 함유하는 구성으로 하고, 경화성 수지 조성물층의 최저 용융 점도를 12000poise 이하로 함으로써, 상기 과제를 해결할 수 있는 것을 밝혀내고, 본 발명을 완성하기에 이르렀다. 본 발명은 이러한 신규한 지견에 기초하는 것이다. The present inventors have conducted intensive studies on the above problems and have found that the curable resin composition for forming a curable resin composition layer has an average particle diameter of 1.6 占 퐉 or less and a specific surface area [m2 / g] and a true density [g / Of an inorganic filler having a product of 6 to 8 in an amount of not less than 74 mass% and a minimum melt viscosity of not more than 12000 poise in the curable resin composition layer, thereby completing the present invention . The present invention is based on this novel knowledge.

즉, 본 발명은 이하의 내용을 포함한다. That is, the present invention includes the following contents.

[1] 지지체와, 지지체 위에 설치된 경화성 수지 조성물층을 구비하는 수지 시트로서, 경화성 수지 조성물층은, 무기 충전재를 함유하고, 경화성 수지 조성물층 중의 무기 충전재의 함유량은 74질량% 이상이고, 무기 충전재의 평균 입자 직경이 1.6㎛ 이하이고, 무기 충전재의 비표면적[㎡/g]과 진밀도[g/㎤]의 곱이 6 내지 8이고, 경화성 수지 조성물층의 최저 용융 점도가 12000poise 이하인, 수지 시트. [1] A resin sheet comprising a support and a curable resin composition layer provided on a support, wherein the curable resin composition layer contains an inorganic filler, the content of the inorganic filler in the curable resin composition layer is 74% Wherein a product of the specific surface area [m 2 / g] of the inorganic filler and the true density [g / cm 3] is 6 to 8 and the minimum melt viscosity of the curable resin composition layer is 12000 poise or less.

[2] 무기 충전재가 실리카인 [1]에 기재된 수지 시트. [2] A resin sheet according to [1], wherein the inorganic filler is silica.

[3] 경화성 수지 조성물층이, (a) 에폭시 수지를 함유하고, 당해 에폭시 수지가, 액상 에폭시 수지를 함유하고, 경화성 수지 조성물층 중의 액상 에폭시 수지의 함유량이 1질량% 이상인 [1] 또는 [2]에 기재된 수지 시트. [3] The curable resin composition layer according to [1] or [2], wherein the curable resin composition layer contains (a) an epoxy resin, the epoxy resin contains a liquid epoxy resin, and the content of the liquid epoxy resin in the curable resin composition layer is 1% 2].

[4] (a) 에폭시 수지가, 또한 고체상 에폭시 수지를 함유하고, 경화성 수지 조성물층 중의 액상 에폭시 수지의 질량(ML)에 대한 고체상 에폭시 수지의 질량(MS)의 비(MS/ML)가, 0.6 내지 10인 [3]에 기재된 수지 시트. [4] (a) an epoxy resin, and the mass of solid epoxy resin of the mass (M L) of a liquid epoxy resin in the contained, and the curable resin composition layer is a solid epoxy resin ratio of (M S) (M S / M L ) of the resin sheet is 0.6 to 10.

[5] (a) 에폭시 수지가, (a') 방향족 구조를 갖는 에폭시 수지인, [3] 또는 [4]에 기재된 수지 시트. [5] The resin sheet according to [3] or [4], wherein the epoxy resin (a) is an epoxy resin having an aromatic structure (a ').

[6] 경화성 수지 조성물층이, 또한, (d) 성분: 유리 전이 온도가 25℃ 이하인 관능기를 갖는 수지, 및 25℃에서 액상인 관능기를 갖는 수지로부터 선택되는 1종 이상의 수지를 함유하는 [3] 내지 [5] 중의 어느 하나에 기재된 수지 시트. [6] The curable resin composition layer according to any one of [1] to [3], wherein the curable resin composition layer further comprises a resin (d): a resin having a functional group with a glass transition temperature of 25 ° C or lower and a resin having a functional group To (5).

[7] (d) 성분은, 하이드록실기, 산무수물기, 페놀성 수산기, 에폭시기, 이소시아네이트기 및 우레탄기로부터 선택되는 1종 이상의 관능기를 갖는 동시에, 알킬렌 구조 단위, 알킬렌옥시 구조 단위, 부타디엔 구조 단위, 이소프렌 구조 단위, 이소부틸렌 구조 단위, 클로로프렌 구조 단위, 우레탄 구조 단위, 폴리카보네이트 구조 단위, (메트)아크릴레이트 구조 단위, 및 폴리실록산 구조 단위로부터 선택되는 1 이상의 구조 단위를 갖는 [6]에 기재된 수지 시트. [7] The thermosetting resin composition according to [1], wherein the component (d) has at least one functional group selected from the group consisting of hydroxyl group, acid anhydride group, phenolic hydroxyl group, epoxy group, isocyanate group and urethane group, Having at least one structural unit selected from a butadiene structural unit, an isoprene structural unit, an isobutylene structural unit, a chloroprene structural unit, a urethane structural unit, a polycarbonate structural unit, a (meth) acrylate structural unit, and a polysiloxane structural unit ].

[8] 부품 내장 회로판용인 [1] 내지 [7] 중의 어느 하나에 기재된 수지 시트. [8] A resin sheet according to any one of [1] to [7], which is for a component internal circuit board.

[9] [1] 내지 [8] 중의 어느 하나에 기재된 수지 시트의 경화성 수지 조성물층을 경화시켜 이루어지는 절연층과, 도체층을 구비하는 배선판. [9] A wiring board comprising an insulating layer formed by curing a curable resin composition layer of the resin sheet described in any one of [1] to [8], and a conductor layer.

[10] [9]에 기재된 배선판을 구비하는 반도체 장치. [10] A semiconductor device comprising a wiring board according to [9].

본 발명에 의하면, 기판의 휘어짐을 저감시키고 또한, 부품 매립성이 우수한 수지 시트를 제공할 수 있다. According to the present invention, it is possible to provide a resin sheet which is capable of reducing warping of the substrate and having excellent parts embedding property.

도 1a는, 본 발명의 수지 시트를 사용한 부품 내장 회로판의 제조 방법에 있어서 사용하는, 부품이 가부착된 회로 기판을 준비하는 1수순을 도시하는 모식도(1)이다.
도 1b는, 본 발명의 수지 시트를 사용한 부품 내장 회로판의 제조 방법에 있어서 사용하는, 부품이 가부착된 회로 기판을 준비하는 1수순을 도시하는 모식도(2)이다.
도 1c는, 본 발명의 수지 시트를 사용한 부품 내장 회로판의 제조 방법에 있어서 사용하는, 부품이 가부착된 회로 기판을 준비하는 1수순을 도시하는 모식도(3)이다.
도 1d는, 본 발명의 수지 시트를 사용한 부품 내장 회로판의 제조 방법에 있어서 사용하는, 부품이 가부착된 회로 기판을 준비하는 1수순을 도시하는 모식도(4)이다.
도 2는 본 발명의 수지 시트의 일 형태를 도시하는 모식도이다.
도 3a는, 본 발명의 수지 시트를 사용한 부품 내장 회로판의 제조 방법을 설명하기 위한 모식도(1)이다.
도 3b는, 본 발명의 수지 시트를 사용한 부품 내장 회로판의 제조 방법을 설명하기 위한 모식도(2)이다.
도 3c는, 본 발명의 수지 시트를 사용한 부품 내장 회로판의 제조 방법을 설명하기 위한 모식도(3)이다.
도 3d는, 본 발명의 수지 시트를 사용한 부품 내장 회로판의 제조 방법을 설명하기 위한 모식도(4)이다.
도 3e는, 본 발명의 수지 시트를 사용한 부품 내장 회로판의 제조 방법을 설명하기 위한 모식도(5)이다.
도 3f는, 본 발명의 수지 시트를 사용한 부품 내장 회로판의 제조 방법을 설명하기 위한 모식도(6)이다.
도 3g는, 본 발명의 수지 시트를 사용한 부품 내장 회로판의 제조 방법을 설명하기 위한 모식도(7)이다.
1A is a schematic diagram (1) showing a procedure for preparing a circuit board to which a component is attached, which is used in a method of manufacturing a component built-in circuit board using the resin sheet of the present invention.
Fig. 1B is a schematic diagram (2) showing a procedure for preparing a circuit board to which a component is attached, which is used in a method for manufacturing a component built-in circuit board using the resin sheet of the present invention.
Fig. 1C is a schematic diagram (3) showing a procedure for preparing a circuit board to which components are attached, which is used in the method for manufacturing the component built-in circuit board using the resin sheet of the present invention.
FIG. 1D is a schematic diagram (4) showing a procedure for preparing a circuit board to which components are attached, which is used in a method of manufacturing a component built-in circuit board using the resin sheet of the present invention.
2 is a schematic diagram showing one form of the resin sheet of the present invention.
3A is a schematic view (1) for explaining a method of manufacturing a component built-in circuit board using the resin sheet of the present invention.
3B is a schematic view (2) for explaining a method of manufacturing a component built-in circuit board using the resin sheet of the present invention.
3C is a schematic diagram (3) for explaining a manufacturing method of the component built-in circuit board using the resin sheet of the present invention.
Fig. 3D is a schematic diagram (4) for explaining a manufacturing method of the component built-in circuit board using the resin sheet of the present invention.
Fig. 3E is a schematic view (5) for explaining a manufacturing method of the component built-in circuit board using the resin sheet of the present invention.
Fig. 3F is a schematic diagram (6) for explaining a manufacturing method of the component built-in circuit board using the resin sheet of the present invention.
Fig. 3G is a schematic view (7) for explaining a manufacturing method of the component built-in circuit board using the resin sheet of the present invention.

본 발명의 수지 시트에 관해서 상세하게 설명하기 전에, 본 발명의 수지 시트에 있어서, 경화성 수지 조성물층(「수지 조성물층」이라고도 한다)을 형성할 때에 사용하는 경화성 수지 조성물(「수지 조성물」이라고도 한다)에 관해서 설명한다. Before describing the resin sheet of the present invention in detail, the curable resin composition used in forming the curable resin composition layer (also referred to as " resin composition layer ") in the resin sheet of the present invention Will be described.

<경화성 수지 조성물><Curable resin composition>

경화성 수지 조성물층을 형성하는 경화성 수지 조성물은, 평균 입자 직경이 1.6㎛ 이하인 동시에, 비표면적[㎡/g]과 진밀도[g/㎤]의 곱이 6 내지 8인 무기 충전재를 함유하는 것이면 특별히 한정되지 않으며, 그 경화물(절연층)이 충분한 경도와 절연성을 갖는 것이면 좋다. 경화성 수지 조성물로서는, 예를 들면, 무기 충전재와 함께, 경화성 수지와 그 경화제를 함유하는 조성물을 들 수 있다. 경화성 수지로서는, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 사용되는 종래 공지의 경화성 수지를 사용할 수 있고, 이 중에서도 에폭시 수지가 바람직하다. 따라서 일 실시형태에 있어서, 경화성 수지 조성물은, (a) 에폭시 수지, (b) 경화제 및 (c) 무기 충전재를 함유한다. 또한, 적합한 일 실시형태에 있어서, 경화성 수지 조성물은, (a') 방향족 구조를 갖는 에폭시 수지, (b) 경화제, (c) 무기 충전재, 및 (d) 유리 전이 온도가 25℃ 이하인 관능기를 갖는 수지, 및 25℃에서 액상인 관능기를 갖는 수지로부터 선택되는 1종 이상의 수지를 함유한다. 본 발명에 있어서, 경화성 수지 조성물은, 필요에 따라, 추가로, 열가소성 수지, 경화 촉진제, 난연제 및 고무 입자 등의 첨가제를 함유하고 있어도 좋다. The curable resin composition for forming the curable resin composition layer preferably has an average particle diameter of 1.6 占 퐉 or less and an inorganic filler having a specific surface area [m2 / g] and a true density [g / cm3] And the cured product (insulating layer) may have sufficient hardness and insulating properties. Examples of the curable resin composition include a composition containing a curable resin and a curing agent together with an inorganic filler. As the curable resin, conventionally known curable resins used for forming the insulating layer of the printed wiring board can be used. Of these, an epoxy resin is preferable. Accordingly, in one embodiment, the curable resin composition contains (a) an epoxy resin, (b) a curing agent and (c) an inorganic filler. (C) an inorganic filler; and (d) an epoxy resin having a functional group having a glass transition temperature of 25 占 폚 or less. A resin, and a resin having a functional group which is liquid at 25 占 폚. In the present invention, the curable resin composition may further contain additives such as a thermoplastic resin, a curing accelerator, a flame retardant, and rubber particles, if necessary.

이하, 경화성 수지 조성물의 재료로서 사용할 수 있는 (a) 에폭시 수지, (b) 경화제, (c) 무기 충전재, (d) 유리 전이 온도가 25℃ 이하인 관능기를 갖는 수지, 및 25℃에서 액상인 관능기를 갖는 수지로부터 선택되는 1종 이상의 수지, 및 (e) 첨가제에 관해서 설명한다. (B) a curing agent; (c) an inorganic filler; (d) a resin having a functional group with a glass transition temperature of 25 占 폚 or less; and a functional group which is liquid at 25 占 폚 , And (e) the additive will be described.

(a) 에폭시 수지(a) an epoxy resin

에폭시 수지로서는, 예를 들면, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 S형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지 등의 비스페놀형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 나프톨노볼락형 에폭시 수지, 페놀노볼락형 에폭시 수지, tert-부틸-카테콜형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 비크실레놀형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 크레졸노볼락형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 선상 지방족 에폭시 수지, 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지, 지환식 에폭시 수지, 복소환식 에폭시 수지, 스피로환 함유 에폭시 수지, 사이클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 트리메틸올형 에폭시 수지, 테트라페닐에탄형 에폭시 수지 등을 들 수 있다. 에폭시 수지는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다. Examples of the epoxy resin include bisphenol type epoxy resins such as bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin and bisphenol AF type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, Cresol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, bicalcylenol type epoxy resin, glycidylamine resin, naphthalene type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, A cresol novolak type epoxy resin, a biphenyl type epoxy resin, a linear aliphatic epoxy resin, an epoxy resin having a butadiene structure, an alicyclic epoxy resin, a heterocyclic epoxy resin, a spirocyclic epoxy resin, a glycidyl ester type epoxy resin, Epoxy resin, cyclohexanedimethanol type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, Trimethylol-type epoxy resins, and tetraphenylethanepolyoxy resins. The epoxy resin may be used singly or in combination of two or more kinds.

에폭시 수지로서는, 비스페놀형 에폭시 수지, 불소계 에폭시 수지(예를 들면 비스페놀 AF형 에폭시 수지), 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지 및 이들 에폭시 수지의 혼합물로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 또는 2종 이상의 에폭시 수지를 사용하는 것이 바람직하다. Examples of the epoxy resin include a group consisting of a mixture of a bisphenol type epoxy resin, a fluorinated epoxy resin (for example, a bisphenol AF type epoxy resin), a dicyclopentadiene type epoxy resin, a naphthalene type epoxy resin, a biphenyl type epoxy resin, Is preferably used as the epoxy resin.

적합한 일 실시형태에 있어서, (a) 에폭시 수지로서는, 방향족 구조를 갖는 에폭시 수지(a')가 바람직하다. 방향족 구조를 갖는 에폭시 수지(a')로서는, 방향족 구조를 가지고 있으면 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 S형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지 등의 비스페놀형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 나프톨노볼락형 에폭시 수지, 페놀노볼락형 에폭시 수지, tert-부틸-카테콜형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 크레졸노볼락형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 테트라페닐에탄형 에폭시 수지, 비크실레놀형 에폭시 수지 등을 들 수 있다. In a preferred embodiment, as the epoxy resin (a), an epoxy resin (a ') having an aromatic structure is preferable. The epoxy resin (a ') having an aromatic structure is not particularly limited as long as it has an aromatic structure, and examples thereof include bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin and the like Naphthalene type epoxy resin, naphthol novolak type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, tert-butyl-catechol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, An epoxy resin, an anthracene epoxy resin, a cresol novolak epoxy resin, a biphenyl epoxy resin, a naphthylene ether epoxy resin, a tetraphenyl ethane epoxy resin, a biquileneol epoxy resin and the like.

경화성 수지 조성물층의 최저 용융 점도를 낮게 할 수 있다는 관점에서, 에폭시 수지로서는 상온에서 액상인 에폭시 수지(이하,「액상 에폭시 수지」라고 한다.)를 함유하는 것이 바람직하다. 또한, 본 명세서에 있어서, 「상온」이란 25℃를 의미한다. From the viewpoint of lowering the minimum melt viscosity of the curable resin composition layer, it is preferable that the epoxy resin contains an epoxy resin which is liquid at room temperature (hereinafter referred to as &quot; liquid epoxy resin &quot;). In the present specification, "room temperature" means 25 ° C.

또한, 에폭시 수지는, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지를 함유하는 것이 바람직하다. 에폭시 수지의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우에, 적어도 50질량% 이상은 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지인 것이 바람직하다. 이 중에서도, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 액상 에폭시 수지와, 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 가지며, 상온에서 고체상인 에폭시 수지(이하「고체상 에폭시 수지」라고 한다.)를 함유하는 것이 바람직하다. 에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 병용함으로써, 우수한 가요성을 갖는 경화성 수지 조성물이 얻어진다. 또한, 경화성 수지 조성물의 경화물(절연층)의 파단 강도도 향상된다. The epoxy resin preferably contains an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule. When the nonvolatile component of the epoxy resin is 100% by mass, it is preferable that at least 50% by mass or more of the epoxy resin is an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule. Among these, a liquid epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule and an epoxy resin (hereinafter referred to as &quot; solid epoxy resin &quot;) having at least three epoxy groups in one molecule and being solid at room temperature are preferably contained . By using a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin together as the epoxy resin, a curable resin composition having excellent flexibility can be obtained. Further, the breaking strength of the cured product (insulating layer) of the curable resin composition is also improved.

액상 에폭시 수지(a1)로서는, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 페놀노볼락형 에폭시 수지, 에스테르 골격을 갖는 지환식 에폭시 수지, 및 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지가 바람직하며, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지 및 나프탈렌형 에폭시 수지가 보다 바람직하다. 특히 방향족 골격 함유 에폭시 수지는, 평균 선열팽창율을 저하시키는데도 바람직하다. 액상 에폭시 수지의 구체예로서는, DIC(주) 제조의「HP4032」,「HP4032D」,「HP4032SS」(나프탈렌형 에폭시 수지), 미쯔비시가가쿠(주) 제조의「828US」,「jER828EL」(비스페놀 A형 에폭시 수지), 「jER807」(비스페놀 F형 에폭시 수지),「jER152」(페놀노볼락형 에폭시 수지), 신닛테츠스미킨가가쿠(주) 제조의「ZX1059」(비스페놀 A형 에폭시 수지와 비스페놀 F형 에폭시 수지의 혼합품), 나가세켐텍스(주) 제조의「EX-721」(글리시딜에스테르형 에폭시 수지), (주)다이셀 제조의「세록사이드 2021P」(에스테르 골격을 갖는 지환식 에폭시 수지), 「PB-3600」(부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지)을 들 수 있다. 이들은 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다. Examples of the liquid epoxy resin (a1) include bisphenol A type epoxy resins, bisphenol F type epoxy resins, bisphenol AF type epoxy resins, naphthalene type epoxy resins, glycidyl ester type epoxy resins, phenol novolak type epoxy resins, An alicyclic epoxy resin and an epoxy resin having a butadiene structure are preferable, and a bisphenol A type epoxy resin, a bisphenol F type epoxy resin, a bisphenol AF type epoxy resin and a naphthalene type epoxy resin are more preferable. Especially, the aromatic skeleton-containing epoxy resin is also preferable for lowering the average linear thermal expansion coefficient. Specific examples of the liquid epoxy resin include "HP4032", "HP4032D", "HP4032SS" (naphthalene type epoxy resin), "828US" and "jER828EL" (bisphenol A type epoxy resin manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., Quot; jER807 &quot; (bisphenol F type epoxy resin), &quot; jER152 &quot; (phenol novolak type epoxy resin), &quot; ZX1059 &quot; (bisphenol A type epoxy resin and bisphenol F type epoxy resin) manufactured by Shinnitetsu Sumi Kagaku Co., EX-721 &quot; (glycidyl ester type epoxy resin) manufactured by Nagase Chemtex Co., Ltd., &quot; SEROCIDE 2021P &quot; (manufactured by Daicel Co., Resin) and &quot; PB-3600 &quot; (epoxy resin having a butadiene structure). These may be used singly or in combination of two or more kinds.

고체상 에폭시 수지(a2)로서는, 나프탈렌형 4관능 에폭시 수지, 크레졸노볼락형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 테트라페닐에탄형 에폭시 수지가 바람직하며, 나프탈렌형 4관능 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 및 비페닐형 에폭시 수지가 보다 바람직하다. 특히 다관능 에폭시 수지는, 가교점이 많아져, 평균 선열팽창율을 저하시키는데 바람직하다. 고체상 에폭시 수지의 구체예로서는, DIC(주) 제조의「HP4032H」(나프탈렌형 에폭시 수지), 「HP-4700」,「HP-4710」(나프탈렌형 4관능 에폭시 수지), 「N-690」(크레졸노볼락형 에폭시 수지),「N-695」(크레졸노볼락형 에폭시 수지),「HP-7200」,「HP-7200HH」,「HP-7200L」, (디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지),「EXA7311」,「EXA7311-G3」,「EXA7311-G4」,「EXA7311-G4S」,「HP6000」(나프틸렌에테르형 에폭시 수지), 니혼카야쿠(주) 제조의「EPPN-502H」(트리스페놀형 에폭시 수지), 「NC7000L」(나프톨노볼락형 에폭시 수지),「NC3000H」,「NC3000」,「NC3000L」,「NC3100」(비페닐형 에폭시 수지), 신닛테츠스미킨가가쿠(주) 제조의「ESN475V」(나프톨형 에폭시 수지), 「ESN485」(나프톨노볼락형 에폭시 수지), 미쯔비시가가쿠(주) 제조의「YX4000H」,「YL6121」(비페닐형 에폭시 수지),「YX4000HK」(비크실레놀형 에폭시 수지),「YX8800」(안트라센형 에폭시 수지), 오사카가스케미칼(주) 제조의「PG-100」,「CG-500」, 미쯔비시가가쿠(주) 제조의「YL7800」(플루오렌형 에폭시 수지), 미쯔비시가가쿠(주) 제조의「jER1010」(고체상 비스페놀 A형 에폭시 수지),「jER1031S」(테트라페닐에탄형 에폭시 수지),「YL7760」(비스페놀 AF형 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. Examples of the solid epoxy resin (a2) include naphthalene type tetrafunctional epoxy resins, cresol novolak type epoxy resins, dicyclopentadiene type epoxy resins, trisphenol type epoxy resins, naphthol type epoxy resins, biphenyl type epoxy resins, naphthylene ether Type epoxy resin, an anthracene epoxy resin, a bisphenol A epoxy resin and a tetraphenyl ethane epoxy resin are preferable, and a naphthalene type tetrafunctional epoxy resin, a naphthol type epoxy resin and a biphenyl type epoxy resin are more preferable. Particularly, the polyfunctional epoxy resin is preferable for decreasing the average linear heat expansion rate because the number of crosslinking points increases. Specific examples of the solid epoxy resin include HP4032H (naphthalene type epoxy resin), HP-4700, HP-4710 (naphthalene type tetrafunctional epoxy resin), N-690 (Cresol novolak type epoxy resin), "HP-7200", "HP-7200HH", "HP-7200L", (dicyclopentadiene type epoxy resin), " EXA7311-G4 "," EXA7311-G4S "," HP6000 "(naphthylene ether type epoxy resin)," EPPN-502H "(trisphenol type epoxy resin manufactured by Nippon Kayaku Co., Quot; NC3000L &quot;, &quot; NC3100 &quot; (biphenyl type epoxy resin), &quot; NC7000L &quot; (naphthol novolac epoxy resin), NC3000H, ESN475V "(naphthol type epoxy resin)," ESN485 "(naphthol novolak type epoxy resin)," YX4000H "," YL6121 "(biphenyl type epoxy resin)," YX4000HK " PG-100 "," CG-500 "manufactured by Osaka Gas Chemical Co., Ltd.," YL7800 "(fluorene type) manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., (Solid bisphenol A type epoxy resin), "jER1031S" (tetraphenyl ethane type epoxy resin) and "YL7760" (bisphenol AF type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., Ltd. have.

에폭시 수지가, 고체상 에폭시 수지와 액상 에폭시 수지를 함유하고 있는 경우, 액상 에폭시 수지의 질량(ML)에 대한 고체상 에폭시 수지의 질량(MS)의 비(MS/ML)는, 0.6 내지 10의 범위가 바람직하다. MS/ML을, 이러한 범위로 함으로써, i) 수지 시트의 형태로 사용하는 경우에 적합한 점착성이 초래된다, ii) 수지 시트의 형태로 사용하는 경우에 충분한 가요성이 얻어지고, 취급성이 향상된다, 및 iii) 충분한 파단 강도를 갖는 경화물(절연층)을 얻을 수 있는 등의 효과가 얻어진다. If the epoxy resin, and containing a solid epoxy resin and liquid epoxy resin, a ratio (M S / M L) of the mass of solid epoxy resin to the weight of the liquid epoxy resin (M L) (M S) is 0.6 to 10 &lt; / RTI &gt; By setting the M S / M L within this range, sufficient tackiness is obtained when i) is used in the form of a resin sheet, ii) sufficient flexibility is obtained when used in the form of a resin sheet, And (iii) a cured product (insulating layer) having a sufficient breaking strength can be obtained.

경화성 수지 조성물 중의 (a) 에폭시 수지의 함유량은, 양호한 기계 강도, 절연 신뢰성을 나타내는 절연층을 얻는 관점에서, 바람직하게는 0.1질량% 이상, 보다 바람직하게는 1질량% 이상, 더욱 바람직하게는 5질량% 이상이다. 에폭시 수지의 함유량의 상한은, 본 발명의 효과가 나타나는 한에 있어서 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 40질량% 이하, 보다 바람직하게는 35질량% 이하, 더욱 바람직하게는 30질량% 이하이다. The content of the epoxy resin (a) in the curable resin composition is preferably 0.1% by mass or more, more preferably 1% by mass or more, and still more preferably 5% by mass or more, from the viewpoint of obtaining an insulating layer showing good mechanical strength and insulation reliability Mass% or more. The upper limit of the content of the epoxy resin is not particularly limited insofar as the effect of the present invention is exhibited, but is preferably 40 mass% or less, more preferably 35 mass% or less, further preferably 30 mass% or less.

따라서 경화성 수지 조성물 중의 (a) 에폭시 수지의 함유량은, 바람직하게는 0.1 내지 50질량%, 보다 바람직하게는 10 내지 45질량%, 더욱 바람직하게는 20 내지 42질량%이다. 또한, 본 발명에 있어서, 경화성 수지 조성물 중의 각 성분의 함유량은, 별도 명시가 없는 한, 경화성 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100질량%로 했을 때의 값이다. Therefore, the content of the epoxy resin (a) in the curable resin composition is preferably 0.1 to 50 mass%, more preferably 10 to 45 mass%, and still more preferably 20 to 42 mass%. In the present invention, the content of each component in the curable resin composition is a value obtained by assuming that the non-volatile component in the curable resin composition is 100% by mass, unless otherwise specified.

에폭시 수지의 에폭시 당량은, 바람직하게는 50 내지 5000, 보다 바람직하게는 50 내지 3000, 더욱 바람직하게는 80 내지 2000, 더욱 보다 바람직하게는 110 내지 1000이다. 이 범위로 함으로써, 경화물의 가교 밀도가 충분해져 표면 거칠기가 작은 절연층을 초래할 수 있다. 또한, 에폭시 당량은, JIS K7236에 따라 측정할 수 있고, 1당량의 에폭시기를 함유하는 수지의 질량이다. The epoxy equivalent of the epoxy resin is preferably 50 to 5000, more preferably 50 to 3000, still more preferably 80 to 2000, still more preferably 110 to 1000. By setting this range, the cross-linking density of the cured product becomes sufficient, resulting in an insulating layer having a small surface roughness. The epoxy equivalent can be measured in accordance with JIS K7236, and is the mass of the resin containing one equivalent of an epoxy group.

에폭시 수지의 중량 평균 분자량은, 바람직하게는 100 내지 5000, 보다 바람직하게는 250 내지 3000, 더욱 바람직하게는 400 내지 1500이다. 여기서, 에폭시 수지의 중량 평균 분자량은, 겔 침투 크로마토그래피(GPC)법에 의해 측정되는 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량이다. The weight average molecular weight of the epoxy resin is preferably 100 to 5000, more preferably 250 to 3000, and still more preferably 400 to 1500. Here, the weight average molecular weight of the epoxy resin is a weight average molecular weight in terms of polystyrene measured by a gel permeation chromatography (GPC) method.

(b) 경화제(b) Curing agent

경화제로서는, 에폭시 수지를 경화하는 기능을 갖는 한 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제, 활성 에스테르계 경화제, 벤조옥사진계 경화제, 시아네이트에스테르계 경화제 및 카르보디이미드계 경화제를 들 수 있다. 경화제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다. The curing agent is not particularly limited as long as it has a function of curing an epoxy resin, and examples thereof include a phenol-based curing agent, a naphthol-based curing agent, an active ester-based curing agent, a benzoxazine- based curing agent, a cyanate ester-based curing agent and a carbodiimide- . The curing agent may be used singly or in combination of two or more kinds.

페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제로서는, 내열성 및 내수성의 관점에서, 노볼락 구조를 갖는 페놀계 경화제, 또는 노볼락 구조를 갖는 나프톨계 경화제가 바람직하다. 또한, 도체층(회로 배선)과의 밀착성의 관점에서, 함질소 페놀계 경화제가 바람직하며, 트리아진 구조 함유 페놀 수지 및 트리아진 구조 함유 알킬페놀 수지가 보다 바람직하다. 이 중에서도, 내열성, 내수성, 및 도체층과의 밀착성(박리 강도)을 고도로 만족시키는 관점에서, 트리아진 구조 함유 페놀계 경화제를 사용하는 것이 바람직하다. As the phenol-based curing agent and naphthol-based curing agent, a phenol-based curing agent having a novolak structure or a naphthol-based curing agent having a novolak structure is preferable from the viewpoints of heat resistance and water resistance. Further, from the viewpoint of adhesion with a conductor layer (circuit wiring), a nitrogen-containing phenol-based curing agent is preferable, and a phenol resin containing a triazine structure and an alkylphenol resin containing a triazine structure are more preferable. Among them, it is preferable to use a phenol-based curing agent containing a triazine structure from the viewpoint of highly satisfying heat resistance, water resistance, and adhesion (peel strength) with a conductor layer.

페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제의 구체예로서는, 예를 들면, 메이와가세이(주) 제조의「MEH-7700」,「MEH-7810」,「MEH-7851」, 니혼가야쿠(주) 제조의「NHN」,「CBN」,「GPH」, 토토가세이(주) 제조의「SN170」,「SN180」,「SN190」,「SN475」,「SN485」,「SN495」,「SN375」,「SN395」, DIC(주) 제조의「LA7052」,「LA7054」,「LA3018」등을 들 수 있다. Specific examples of the phenol-based curing agent and naphthol-based curing agent include "MEH-7700", "MEH-7810", "MEH-7851" manufactured by Meiwa Kasei Co., "SN170", "SN180", "SN190", "SN475", "SN485", "SN495", "SN375" and "SN395" manufactured by Totogasayi Co., LA7052 &quot;, &quot; LA7054 &quot;, and &quot; LA3018 &quot; manufactured by DIC Corporation.

활성 에스테르계 경화제로서는, 특별히 한정은 없지만, 일반적으로 페놀에스테르류, 티오페놀에스테르류, N-하이드록시아민에스테르류, 복소환 하이드록시 화합물의 에스테르류 등의 반응 활성이 높은 에스테르기를 1분자 중에 2개 이상 갖는 화합물이 바람직하게 사용된다. 당해 활성 에스테르계 경화제는, 카복실산 화합물 및/또는 티오카복실산 화합물과 하이드록시 화합물 및/또는 티올 화합물과의 축합 반응에 의해 얻어지는 것이 바람직하다. 특히 내열성 향상의 관점에서, 카복실산 화합물과 하이드록시 화합물로부터 얻어지는 활성 에스테르계 경화제가 바람직하며, 카복실산 화합물과 페놀 화합물 및/또는 나프톨 화합물로부터 얻어지는 활성 에스테르계 경화제가 보다 바람직하다. 카복실산 화합물로서는, 예를 들면 벤조산, 아세트산, 석신산, 말레산, 이타콘산, 프탈산, 이소프탈산, 테레프탈산, 피로멜리트산 등을 들 수 있다. 페놀 화합물 또는 나프톨 화합물로서는, 예를 들면, 하이드로퀴논, 레조르신, 비스페놀 A, 비스페놀 F, 비스페놀 S, 페놀프탈린, 메틸화비스페놀 A, 메틸화비스페놀 F, 메틸화비스페놀 S, 페놀, o-크레졸, m-크레졸, p-크레졸, 카테콜, α-나프톨, β-나프톨, 1,5-디하이드록시나프탈렌, 1,6-디하이드록시나프탈렌, 2,6-디하이드록시나프탈렌, 디하이드록시벤조페논, 트리하이드록시벤조페논, 테트라하이드록시벤조페논, 플로로글루신, 벤젠트리올, 디사이클로펜타디에닐디페놀, 페놀노볼락 등을 들 수 있다. The active ester-based curing agent is not particularly limited, but generally includes ester groups having a high reaction activity such as esters of phenol esters, thiophenol esters, N-hydroxyamine esters, and heterocyclic hydroxy compounds, Are preferably used. The active ester-based curing agent is preferably obtained by a condensation reaction of a carboxylic acid compound and / or a thiocarboxylic acid compound with a hydroxy compound and / or a thiol compound. From the viewpoint of heat resistance improvement, an active ester type curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound is preferable, and an active ester type curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a phenol compound and / or a naphthol compound is more preferable. Examples of the carboxylic acid compound include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid and pyromellitic acid. Examples of the phenol compound or naphthol compound include hydroquinone, resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthalein, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o- Cresol, catechol, alpha -naphthol, beta -naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, Trihydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, fluoroglucine, benzenetriol, dicyclopentadienyldiphenol, phenol novolac, and the like.

구체적으로는, 디사이클로펜타디에닐디페놀 구조를 함유하는 활성 에스테르 화합물, 나프탈렌 구조를 함유하는 활성 에스테르 화합물, 페놀노볼락의 아세틸화물을 함유하는 활성 에스테르 화합물, 페놀노볼락의 벤조일화물을 함유하는 활성 에스테르 화합물이 바람직하며, 이 중에서도 나프탈렌 구조를 함유하는 활성 에스테르 화합물, 디사이클로펜타디에닐디페놀 구조를 함유하는 활성 에스테르 화합물이 보다 바람직하다. Specifically, there can be mentioned an active ester compound containing a dicyclopentadienyldiphenol structure, an active ester compound containing a naphthalene structure, an active ester compound containing an acetylated product of phenol novolac, an active ester compound containing a phenol novolac benzoylate Among them, an active ester compound containing a naphthalene structure and an active ester compound containing a dicyclopentadienyldiphenol structure are more preferable.

활성 에스테르계 경화제의 시판품으로서는, 디사이클로펜타디에닐디페놀 구조를 함유하는 활성 에스테르 화합물로서, 「EXB9451」,「EXB9460」,「EXB9460S」,「HPC-8000-65T」(DIC(주) 제조), 나프탈렌 구조를 함유하는 활성 에스테르 화합물로서「EXB9416-70BK」(DIC(주) 제조), 페놀노볼락의 아세틸화물을 함유하는 활성 에스테르 화합물로서「DC808」(미쯔비시가가쿠(주) 제조), 페놀노볼락의 벤조일화물을 함유하는 활성 에스테르 화합물로서「YLH1026」(미쯔비시가가쿠(주) 제조) 등을 들 수 있다. EXB9451 "," EXB9460 "," EXB9460S "," HPC-8000-65T "(manufactured by DIC Corporation) as the active ester compound containing a dicyclopentadienyldiphenol structure as commercial products of the active ester curing agent, EXB9416-70BK "(manufactured by DIC Corporation) as an active ester compound containing a naphthalene structure," DC808 "(manufactured by Mitsubishi Chemical Corp.) as an active ester compound containing an acetylated product of phenol novolac, YLH1026 &quot; (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) as an active ester compound containing a benzoyl moiety of boric acid, and the like.

벤조옥사진계 경화제의 구체예로서는, 쇼와코훈시(주) 제조의「HFB2006M」, 시코쿠가세이고교(주) 제조의「P-d」,「F-a」를 들 수 있다. Specific examples of the benzoxazine type curing agent include "HFB2006M" manufactured by Shawako Co., Ltd., "P-d" and "F-a" manufactured by Shikoku Kasei Corporation.

시아네이트에스테르계 경화제로서는, 예를 들면, 비스페놀 A 디시아네이트, 폴리페놀시아네이트(올리고(3-메틸렌-1,5-페닐렌시아네이트)), 4,4'-메틸렌비스(2,6-디메틸페닐시아네이트), 4,4'-에틸리덴디페닐디시아네이트, 헥사플루오로비스페놀 A 디시아네이트, 2,2-비스(4-시아네이트)페닐프로판, 1,1-비스(4-시아네이트페닐메탄), 비스(4-시아네이트-3,5-디메틸페닐)메탄, 1,3-비스(4-시아네이트페닐-1-(메틸에틸리덴))벤젠, 비스(4-시아네이트페닐)티오에테르, 및 비스(4-시아네이트페닐)에테르 등의 2관능 시아네이트 수지, 페놀노볼락 및 크레졸노볼락 등으로부터 유도되는 다관능 시아네이트 수지, 이들 시아네이트 수지가 일부 트리아진화된 프리폴리머 등을 들 수 있다. 시아네이트에스테르계 경화제의 구체예로서는, 론자재팬(주) 제조의「PT30」및「PT60」(모두 페놀노볼락형 다관능 시아네이트에스테르 수지),「BA230」(비스페놀 A 디시아네이트의 일부 또는 전부가 트리아진화되어 삼량체가 된 프리폴리머) 등을 들 수 있다. Examples of the cyanate ester curing agent include bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate (oligo (3-methylene-1,5-phenylene cyanate)), 4,4'-methylene bis -Dimethylphenyl cyanate), 4,4'-ethylidenediphenyl dicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis (4-cyanate) phenylpropane, 1,1-bis Cyanate phenylmethane), bis (4-cyanate-3,5-dimethylphenyl) methane, 1,3-bis Cyanate phenyl) thioether, and bis (4-cyanate phenyl) ether, polyfunctional cyanate resins derived from phenol novolak and cresol novolak, and cyanate resins derived from these cyanate resins, , And the like. Specific examples of the cyanate ester curing agent include &quot; PT30 &quot; and &quot; PT60 &quot; (both phenol novolak type polyfunctional cyanate ester resins), &quot; BA230 &quot; (part or all of bisphenol A dicyanate Trimellitized trimellitic prepolymer), and the like.

카르보디이미드계 경화제의 구체예로서는, 닛세이보케미칼(주) 제조의「V-03」,「V-07」등을 들 수 있다. Specific examples of the carbodiimide-based curing agent include "V-03" and "V-07" manufactured by Nissui Chemical Industries, Ltd.

본 발명에 있어서 (b) 경화제는, 페놀계 경화제, 시아네이트에스테르계 경화제 및 활성 에스테르계 경화제로부터 선택되는 1종 이상을 함유하고 있는 것이 바람직하며, 트리아진 구조 함유 페놀계 수지, 트리아진 구조 함유 알킬페놀계 수지, 시아네이트에스테르계 경화제 및 활성 에스테르계 경화제로부터 선택되는 1종 이상을 함유하고 있는 것이 보다 바람직하다. In the present invention, the curing agent (b) preferably contains at least one member selected from the group consisting of a phenol-based curing agent, a cyanate ester-based curing agent and an active ester-based curing agent. The phenolic resin containing a triazine structure, More preferably at least one selected from an alkyl phenol resin, a cyanate ester curing agent and an active ester curing agent.

경화성 수지 조성물 중의 (b) 경화제의 함유량은 특별히 한정되지 않지만, 필 강도가 높고 저유전 정접의 절연층을 얻는 관점에서, 바람직하게는 0.1질량% 이상, 보다 바람직하게는 0.5질량% 이상, 더욱 바람직하게는 1질량% 이상이다. (b) 경화제의 함유량의 상한은, 본 발명의 효과가 나타나는 한에 있어서 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 30질량% 이하, 보다 바람직하게는 25질량% 이하, 더욱 바람직하게는 20질량% 이하이다. The content of the curing agent (b) in the curable resin composition is not particularly limited, but is preferably 0.1% by mass or more, more preferably 0.5% by mass or more, still more preferably 0.5% by mass or more from the viewpoint of obtaining an insulating layer having high peel strength and low dielectric loss tangent Is not less than 1% by mass. The upper limit of the content of the curing agent (b) is not particularly limited insofar as the effect of the present invention is exhibited, but is preferably 30 mass% or less, more preferably 25 mass% or less, and further preferably 20 mass% or less .

따라서 경화성 수지 조성물 중의 (b) 경화제의 함유량은, 바람직하게는 0.1 내지 30질량%, 보다 바람직하게는 0.5 내지 25질량%, 더욱 바람직하게는 1 내지 20질량%이다. Therefore, the content of the curing agent (b) in the curable resin composition is preferably 0.1 to 30 mass%, more preferably 0.5 to 25 mass%, and still more preferably 1 to 20 mass%.

(a) 에폭시 수지와 (b) 경화제의 양비(量比)는, [(a) 에폭시 수지의 에폭시기의 합계수]:[(b) 경화제의 반응기의 합계수]의 비율로, 1:0.2 내지 1:2의 범위가 바람직하며, 1:0.3 내지 1:1.5가 보다 바람직하며, 1:0.4 내지 1:1이 더욱 바람직하다. 여기서, 경화제의 반응기란, 활성 수산기, 활성 에스테르기 등이며, 경화제의 종류에 따라 상이하다. 또한, 에폭시 수지의 에폭시기의 합계수란, 각 에폭시 수지의 고형분 질량을 에폭시 당량으로 나눈 값을 에폭시 수지에 관해서 합계한 값이며, 경화제의 반응기의 합계수란, 각 경화제의 고형분 질량을 반응기 당량으로 나눈 값을 모든 경화제에 관해서 합계한 값이다. 에폭시 수지와 경화제의 양비를 이러한 범위로 함으로써, 경화성 수지 조성물의 경화물(절연층)의 내열성이 보다 향상된다. The amount ratio (ratio) of the epoxy resin (a) to the curing agent (b) is preferably from 1: 0.2 to 1: 1 in terms of the ratio of [(a) the total number of epoxy groups of the epoxy resin] 1: 2, more preferably 1: 0.3 to 1: 1.5, further preferably 1: 0.4 to 1: 1. Here, the reactive group of the curing agent is an active hydroxyl group, an active ester group or the like and varies depending on the kind of the curing agent. The total number of epoxy groups in the epoxy resin means the value obtained by dividing the solid content of each epoxy resin by the epoxy equivalent in terms of the epoxy resin and the total number of reactors in the curing agent means the total amount of the solid components in the curing agent Divided by the total amount of the curing agent. The heat resistance of the cured product (insulating layer) of the curable resin composition is further improved by adjusting the amount ratio of the epoxy resin and the curing agent within this range.

(c) 무기 충전재(c) inorganic filler

무기 충전재로서는, 평균 입자 직경이 1.6㎛ 이하인 동시에, 비표면적[㎡/g]과 진밀도[g/㎤]의 곱(비표면적×진밀도)이 6 내지 8인 것이면 한정되지 않지만, 구체적으로는, 실리카, 알루미나, 유리, 코디에라이트, 실리콘 산화물, 황산바륨, 탄산바륨, 활석, 점토, 운모 분말, 산화아연, 하이드로탈사이트, 베마이트, 수산화알루미늄, 수산화마그네슘, 탄산칼슘, 탄산마그네슘, 산화마그네슘, 질화붕소, 질화알루미늄, 질화망간, 붕산알루미늄, 탄산스트론튬, 티탄산스트론튬, 티탄산칼슘, 티탄산마그네슘, 티탄산비스무스, 산화티탄, 산화지르코늄, 티탄산바륨, 티탄산지르콘산바륨, 지르콘산바륨, 지르콘산칼슘, 인산지르코늄, 및 인산텅스텐산지르코늄 등을 들 수 있다. 이들 중에서도 실리카가 특히 적합하다. 또한 실리카로서는 구상 실리카가 바람직하다. 무기 충전재는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다. 무기 충전재로서 사용하는 실리카의 시판품으로서는, 예를 들면 (주)아도마텍스 제조「아도마파인」, 덴키가가쿠고교(주) 제조「SFP 시리즈」, 신닛테츠스미킨마테리알즈(주) 제조「SP(H) 시리즈」, 사카이가가쿠고교(주) 제조「Sciqas 시리즈」, (주)니혼쇼쿠바이 제조「씨호스터 시리즈」등을 들 수 있고, 알루미나의 시판품으로서는, 신닛테츠스미킨마테리알즈(주) 제조의「AZ, AX 시리즈」등을 들 수 있다. The inorganic filler is not limited as long as it has an average particle diameter of 1.6 탆 or less and a product (specific surface area x true density) of specific surface area [m 2 / g] and true density [g / cm 3] of 6 to 8, Silica, alumina, glass, cordierite, silicon oxide, barium sulfate, barium carbonate, talc, clay, mica powder, zinc oxide, hydrotalcite, boehmite, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, Magnesium, barium nitrate, aluminum nitride, manganese nitride, aluminum borate, strontium carbonate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, zirconium oxide, barium titanate, barium titanate, barium zirconate, calcium zirconate , Zirconium phosphate, and zirconium tungstate phosphate. Of these, silica is particularly suitable. As the silica, spherical silica is preferable. The inorganic fillers may be used singly or in combination of two or more kinds. As commercially available products of silica used as an inorganic filler, for example, Adomapine manufactured by Adomex Co., Ltd., SFP series manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd., Shinnitetsu Sumikin Materials Co., Quot; SP (H) series &quot;, &quot; Sciqas series &quot; manufactured by Sakai Kagaku Kogyo Co., Ltd. and &quot; Sephaster series &quot; manufactured by Nippon Shokubai Co., &Quot; AZ, AX series &quot;, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation.

본 발명에 있어서, 무기 충전재의 평균 입자 직경은 1.6㎛ 이하이다. 무기 충전재의 평균 입자 직경은 1.5㎛ 이하가 바람직하며, 1.4㎛ 이하가 더욱 바람직하다. 한편, 경화성 수지 조성물을 사용하여 수지 바니쉬를 형성할 때에 적당한 점도를 가지며 취급성이 양호한 수지 바니쉬를 얻는 관점, 경화성 수지 조성물층의 용융 점도의 상승을 방지하는 관점 등에서, 무기 충전재의 평균 입자 직경은, 0.5㎛ 이상이 바람직하며, 0.6㎛ 이상이 보다 바람직하며, 0.7㎛ 이상이 더욱 바람직하다. In the present invention, the average particle diameter of the inorganic filler is 1.6 占 퐉 or less. The average particle diameter of the inorganic filler is preferably 1.5 占 퐉 or less, more preferably 1.4 占 퐉 or less. On the other hand, from the viewpoints of obtaining a resin varnish having appropriate viscosity and good handleability when forming a resin varnish by using a curable resin composition and preventing the rise of the melt viscosity of the curable resin composition layer, the average particle diameter of the inorganic filler is , Preferably 0.5 m or more, more preferably 0.6 m or more, and even more preferably 0.7 m or more.

무기 충전재의 평균 입자 직경은, 미(Mie) 산란 이론에 기초하는 레이저 회절·산란법에 의해 측정할 수 있다. 구체적으로는 레이저 회절 산란식 입도 분포 측정 장치에 의해, 무기 충전재의 입도 분포를 체적 기준으로 작성하고, 그 메디안 직경을 평균 입자 직경으로 함으로써 측정할 수 있다. 측정 샘플은, 무기 충전재를 초음파에 의해 수중에 분산시킨 것을 바람직하게 사용할 수 있다. 레이저 회절 입도 분포 측정 장치로서는, (주)시마즈세사쿠쇼 제조「SALD-2200」등을 사용할 수 있다. The average particle diameter of the inorganic filler can be measured by a laser diffraction / scattering method based on the Mie scattering theory. Specifically, the particle size distribution of the inorganic filler can be measured with a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring apparatus, and the median diameter is determined as the average particle diameter. The measurement sample can be preferably those in which an inorganic filler is dispersed in water by ultrasonic waves. As the laser diffraction particle size distribution measuring apparatus, "SALD-2200" manufactured by Shimadzu Corporation may be used.

무기 충전재의 비표면적은 BET법에 의해 측정할 수 있다. 비표면적의 측정에는, BET 전자동 비표면적 측정 장치((주)마운텍 제조 Macsorb HM-1210) 등을 사용할 수 있다. 무기 충전재의 진밀도는, 마이크로·울트라피크노미터(칸타크롬·인스트루먼트·재팬(동) 제조 MUPY-21T)를 사용하여 측정할 수 있다. The specific surface area of the inorganic filler can be measured by the BET method. For the measurement of the specific surface area, a BET automatic specific surface area measuring apparatus (Macsorb HM-1210 manufactured by Moon Tec Co., Ltd.) or the like can be used. The true density of the inorganic filler can be measured using a micro-ultra-peak furnace (MUPY-21T manufactured by KANTA CHROME INSTRUMENTS, Japan).

본 발명에 의하면, 무기 충전재의 비표면적[㎡/g]과 진밀도[g/㎤]의 곱을 6 이상으로 함으로써 경화성 수지 조성물의 캐비티로의 유입을 양호한 것으로 하고, 당해 곱을 8 이하로 함으로써 평균 선열팽창율을 낮게 할 수 있다. 무기 충전재의 비표면적과 진밀도의 곱의 하한값은 6.1 이상이 바람직하며, 6.3 이상이 보다 바람직하다. 또한, 무기 충전재의 비표면적과 진밀도의 곱은 7.7 이하가 바람직하며, 7.5 이하가 보다 바람직하다. According to the present invention, by setting the product of the specific surface area [m 2 / g] and the true density [g / cm 3] of the inorganic filler to 6 or more, the inflow of the curable resin composition into the cavity is made good, The expansion ratio can be lowered. The lower limit of the product of the specific surface area and the true density of the inorganic filler is preferably 6.1 or more, more preferably 6.3 or more. The product of the specific surface area and the true density of the inorganic filler is preferably 7.7 or less, more preferably 7.5 or less.

무기 충전재는, 내습성 및 분산성을 높이는 관점에서, 아미노실란계 커플링제, 에폭시실란계 커플링제, 머캅토실란계 커플링제, 실란계 커플링제, 알콕시실란 화합물, 오르가노실라잔 화합물, 티타네이트계 커플링제 등의 1종 이상의 표면 처리제로 처리되어 있는 것이 바람직하다. 표면 처리제의 시판품으로서는, 예를 들면, 신에츠가가쿠고교(주) 제조「KBM403」(3-글리시독시프로필트리메톡시실란), 신에츠가가쿠고교(주) 제조「KBM803」(3-머캅토프로필트리메톡시실란), 신에츠가가쿠고교(주) 제조「KBE903」(3-아미노프로필트리에톡시실란), 신에츠가가쿠고교(주) 제조「KBM573」(N-페닐-3-아미노프로필트리메톡시실란), 신에츠가가쿠고교(주) 제조「SZ-31」(헥사메틸디실란), 신에츠가가쿠고교(주) 제조「KBM103」(페닐트리메톡시실란), 신에츠가가쿠고교(주) 제조「KBM-4803」(장쇄 에폭시형 실란 커플링제) 등을 들 수 있다. From the viewpoint of improving moisture resistance and dispersibility, the inorganic filler is preferably selected from the group consisting of an amino silane coupling agent, an epoxy silane coupling agent, a mercaptosilane coupling agent, a silane coupling agent, an alkoxysilane compound, an organosilazane compound, It is preferable that the surface treatment agent is treated with at least one surface treatment agent such as a coupling agent. As commercially available products of the surface treatment agent, for example, KBM403 (3-glycidoxypropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., KBM803 (3-mercapto KBE903 "(3-aminopropyltriethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.," KBM573 "(manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., SZ-31 (hexamethyldisilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., KBM103 (phenyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., Shin- ) &Quot; KBM-4803 &quot; (long-chain epoxy type silane coupling agent).

표면 처리제에 의한 표면 처리의 정도는, 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량에 의해 평가할 수 있다. 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량은, 무기 충전재의 분산성 향상의 관점에서, 0.02㎎/㎡ 이상이 바람직하며, 0.1㎎/㎡ 이상이 보다 바람직하며, 0.2㎎/㎡ 이상이 더욱 바람직하다. 한편, 수지 바니쉬의 용융 점도나 시트 형태에서의 용융 점도의 상승을 방지하는 관점에서, 1㎎/㎡ 이하가 바람직하며, 0.8㎎/㎡ 이하가 보다 바람직하며, 0.5㎎/㎡ 이하가 더욱 바람직하다. The degree of the surface treatment by the surface treatment agent can be evaluated by the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler. The amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler is preferably at least 0.02 mg / m 2, more preferably at least 0.1 mg / m 2, and most preferably at least 0.2 mg / m 2 from the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler. On the other hand, it is preferably 1 mg / m 2 or less, more preferably 0.8 mg / m 2 or less, still more preferably 0.5 mg / m 2 or less from the viewpoint of preventing the melt viscosity of the resin varnish or the melt viscosity in the sheet form from rising .

무기 충전재의 단위 표면적당 카본량은, 표면 처리후의 무기 충전재를 용제(예를 들면, 메틸에틸케톤(MEK))에 의해 세정 처리한 후에 측정할 수 있다. 구체적으로는, 용제로서 충분한 양의 MEK를 표면 처리제로 표면 처리된 무기 충전재에 더하여, 25℃에서 5분간 초음파 세정한다. 상청액을 제거하여, 고형분을 건조시킨 후, 카본 분석계를 사용하여 무기 충전재의 단위 표면적당 카본량을 측정할 수 있다. 카본 분석계로서는, (주) 호리바세사쿠쇼 제조「EMIA-320V」 등을 사용할 수 있다. The amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured after the surface-treated inorganic filler is washed with a solvent (for example, methyl ethyl ketone (MEK)). Specifically, a sufficient amount of MEK as a solvent is added to an inorganic filler surface-treated with a surface treatment agent, and ultrasonic cleaning is performed at 25 캜 for 5 minutes. After the supernatant is removed and the solid content is dried, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured using a carbon analyzer. As the carbon analyzer, "EMIA-320V" manufactured by Horiba Seisakusho Co., Ltd. and the like can be used.

경화성 수지 조성물 중의 (c) 무기 충전재의 함유량은, 74질량% 이상이고, 76질량% 이상이 바람직하며, 78질량% 이상이 보다 바람직하다. (c) 무기 충전재의 함유량의 상한값은, 그 위에 미세한 배선을 형성할 수 있는 절연층을 얻는 관점에서, 바람직하게는 90질량% 이하, 보다 바람직하게는 85질량% 이하이다. The content of the inorganic filler (c) in the curable resin composition is 74 mass% or more, preferably 76 mass% or more, and more preferably 78 mass% or more. The upper limit of the content of the inorganic filler (c) is preferably 90% by mass or less, more preferably 85% by mass or less, from the viewpoint of obtaining an insulating layer capable of forming fine wiring thereon.

(d) 유리 전이 온도가 25℃ 이하인 관능기를 갖는 수지, 및 25℃에서 액상인 관능기를 갖는 수지로부터 선택되는 1종 이상의 수지((d) 성분). (d) a resin having a functional group having a glass transition temperature of 25 DEG C or lower, and a resin having a functional group liquid at 25 DEG C (component (d)).

적합한 일 실시형태에 있어서, 경화성 수지 조성물은, 방향족 구조를 갖는 에폭시 수지(a')((a') 성분)와 함께 (d) 성분을 함유한다. (d) 성분과 같은 유연한 수지를 함유함으로써, 경화성 수지 조성물층의 경화물(절연층)의 탄성율 및 열팽창율을 저하시키고, 또한 본 발명의 수지 시트를 사용하여 제조될 수 있는 배선판의 휘어짐 발생을 억제할 수 있다. In a preferred embodiment, the curable resin composition contains component (d) together with an epoxy resin (a ') having an aromatic structure (component (a' ')). (insulation layer) of the curable resin composition layer can be reduced by containing a flexible resin such as the component (d), and the occurrence of warpage of the wiring board, which can be produced by using the resin sheet of the present invention, .

(d) 성분의 유리 전이 온도(Tg)가 25℃ 이하인 관능기를 갖는 수지의 유리 전이 온도는, 바람직하게는 20℃ 이하, 보다 바람직하게는 15℃ 이하이다. (d) 성분의 유리 전이 온도의 하한은 특별히 한정되지 않지만, 통상 -15℃ 이상으로 할 수 있다. The glass transition temperature of the component (d) having a functional group having a glass transition temperature (Tg) of 25 占 폚 or lower is preferably 20 占 폚 or lower, more preferably 15 占 폚 or lower. The lower limit of the glass transition temperature of the component (d) is not particularly limited, but it is usually -15 캜 or higher.

25℃에서 액상인 관능기를 갖는 수지에 있어서, 25℃에서 액상이면, 당해 수지의 Tg도 당연히 25℃ 이하라고 생각할 수 있다. In a resin having a functional group which is liquid at 25 占 폚, if the liquid is liquid at 25 占 폚, the Tg of the resin may naturally be considered to be 25 占 폚 or lower.

(d) 성분이 갖는 관능기로서는, (a) 또는 (a') 성분과 반응할 수 있는 관능기를 갖는 것이 바람직하다. 적합한 일 실시형태에 있어서, (d) 성분이 갖는 관능기는, 하이드록실기, 산무수물기, 페놀성 수산기, 에폭시기, 이소시아네이트기 및 우레탄기로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 관능기이다. 이 중에서도, 당해 관능기로서는, 하이드록실기, 산무수물기, 에폭시기, 페놀성 수산기가 바람직하며, 하이드록실기, 산무수물기, 에폭시기가 보다 바람직하다. 단, 관능기로서 에폭시기를 함유하는 경우, (d) 성분은 방향족 구조를 갖지 않는다. The functional group of the component (d) preferably has a functional group capable of reacting with the component (a) or (a '). In a preferred embodiment, the functional group of the component (d) is at least one functional group selected from the group consisting of a hydroxyl group, an acid anhydride group, a phenolic hydroxyl group, an epoxy group, an isocyanate group and a urethane group. Of these, as the functional group, a hydroxyl group, an acid anhydride group, an epoxy group and a phenolic hydroxyl group are preferable, and a hydroxyl group, an acid anhydride group and an epoxy group are more preferable. However, when an epoxy group is contained as the functional group, the component (d) does not have an aromatic structure.

(d) 성분은, 탄성율이 낮은 경화성 수지 조성물층을 얻는 관점에서, 탄소 원자수 2 내지 15의 알킬렌 구조 단위(바람직하게는 탄소 원자수 3 내지 10, 보다 바람직하게는 탄소 원자수 5 내지 6), 탄소 원자수 2 내지 15의 알킬렌옥시 구조 단위(바람직하게는 탄소 원자수 3 내지 10, 보다 바람직하게는 탄소 원자수 5 내지 6), 부타디엔 구조 단위, 이소프렌 구조 단위, 이소부틸렌 구조 단위, 클로로프렌 구조 단위, 우레탄 구조 단위, 폴리카보네이트 구조 단위, (메트)아크릴레이트 구조 단위, 및 폴리실록산 구조 단위로부터 선택되는 1 이상의 구조 단위를 갖는 것이 바람직하며, 부타디엔 구조 단위, 우레탄 구조 단위, (메트)아크릴레이트 구조 단위로부터 선택되는 1 이상의 구조 단위를 갖는 것이 보다 바람직하다. 또한,「(메트)아크릴레이트」란, 메타크릴레이트 및 아크릴레이트를 가리킨다. From the viewpoint of obtaining a curable resin composition layer having a low elastic modulus, the component (d) is preferably an alkylene structural unit having 2 to 15 carbon atoms (preferably 3 to 10 carbon atoms, more preferably 5 to 6 carbon atoms ), An alkyleneoxy structural unit having 2 to 15 carbon atoms (preferably 3 to 10 carbon atoms, more preferably 5 to 6 carbon atoms), a butadiene structural unit, an isoprene structural unit, an isobutylene structural unit (Meth) acrylate structural unit, and a polysiloxane structural unit, and more preferably at least one structural unit selected from a butadiene structural unit, a urethane structural unit, a (meth) acrylate structural unit, And more preferably at least one structural unit selected from an acrylate structural unit. Further, "(meth) acrylate" refers to methacrylate and acrylate.

(d) 성분의 적합한 일 실시형태는, 25℃에서 액상인 관능기 함유 포화 및/또는 불포화 부타디엔 수지이다. 25℃에서 액상인 관능기 함유 포화 및/또는 불포화 부타디엔 수지로서는, 25℃에서 액상인 산무수물기 함유 포화 및/또는 부타디엔 수지, 25℃에서 액상인 페놀성 수산기 함유 포화 및/또는 부타디엔 수지, 25℃에서 액상인 에폭시기 함유 포화 및/또는 부타디엔 수지, 25℃에서 액상인 이소시아네이트기 함유 포화 및/또는 부타디엔 수지, 및 25℃에서 액상인 우레탄기 함유 포화 및/또는 부타디엔 수지로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 수지가 바람직하다. 여기서,「포화 및/또는 불포화 부타디엔 수지」란, 포화 부타디엔 골격 및/또는 불포화 부타디엔 골격을 함유하는 수지를 말하며, 이들 수지에 있어서 포화 부타디엔 골격 및/또는 불포화 부타디엔 골격은 주쇄에 포함되어 있어도 측쇄에 포함되어 있어도 좋다. One suitable embodiment of the component (d) is a saturated and / or unsaturated butadiene resin containing a functional group which is liquid at 25 占 폚. Examples of the saturated and / or unsaturated butadiene resin which is liquid at 25 占 폚 include saturated and / or butadiene resins containing an acid anhydride group in liquid state at 25 占 폚, saturated and / or butadiene resins containing phenolic hydroxyl groups in a liquid state at 25 占 폚, Containing saturated and / or butadiene resin, a liquid saturated isocyanate group-containing saturated and / or butadiene resin at 25 占 폚, and a saturated and / or butadiene-containing urethane group liquid at 25 占 폚. Is preferable. Here, the term &quot; saturated and / or unsaturated butadiene resin &quot; refers to a resin containing a saturated butadiene skeleton and / or an unsaturated butadiene skeleton. In these resins, saturated butadiene skeleton and / or unsaturated butadiene skeleton are included in the main chain May be included.

25℃에서 액상인 관능기 함유 포화 및/또는 불포화 부타디엔 수지의 수 평균 분자량(Mn)은, 바람직하게는 500 내지 50000, 보다 바람직하게는 1000 내지 10000이다. 여기서, 수지의 수 평균 분자량(Mn)은, GPC(겔 침투 크로마토그래피)를 사용하여 측정되는 폴리스티렌 환산의 수 평균 분자량이다. The number average molecular weight (Mn) of the functional group-containing saturated and / or unsaturated butadiene resin which is liquid at 25 占 폚 is preferably 500 to 50000, more preferably 1000 to 10000. Here, the number average molecular weight (Mn) of the resin is the number average molecular weight in terms of polystyrene measured by GPC (gel permeation chromatography).

25℃에서 액상인 관능기 함유 포화 및/또는 불포화 부타디엔 수지의 관능기 당량은, 바람직하게는 100 내지 10000, 보다 바람직하게는 200 내지 5000이다. 또한, 관능기 당량이란, 1당량의 관능기를 함유하는 수지의 질량이다. 예를 들면, 수지의 에폭시 당량은, JIS K7236에 따라 측정할 수 있다. The functional group equivalent of the functional group-containing saturated and / or unsaturated butadiene resin which is liquid at 25 占 폚 is preferably 100 to 10000, more preferably 200 to 5000. [ The functional group equivalent is a mass of a resin containing one equivalent of a functional group. For example, the epoxy equivalent of the resin can be measured according to JIS K7236.

25℃에서 액상인 에폭시기 함유 포화 및/또는 불포화 부타디엔 수지로서는, 25℃에서 액상인 포화 및/또는 부타디엔 골격 함유 에폭시 수지가 바람직하며, 25℃에서 액상인 폴리부타디엔 골격 함유 에폭시 수지, 25℃에서 액상인 수소화 폴리부타디엔 골격 함유 에폭시 수지가 보다 바람직하며, 25℃에서 액상인 폴리부타디엔 골격 함유 에폭시 수지, 25℃에서 액상인 수소화 폴리부타디엔 골격 함유 에폭시 수지가 더욱 바람직하다. 여기서, 「수소화 폴리부타디엔 골격 함유 에폭시 수지」란, 폴리부타디엔 골격의 적어도 일부가 수소화된 에폭시 수지를 말하며, 반드시 폴리부타디엔 골격이 완전히 수소화된 에폭시 수지일 필요는 없다. 25℃에서 액상인 폴리부타디엔 골격 함유 수지 및 25℃에서 액상인 수소화 폴리부타디엔 골격 함유 수지의 구체예로서는, (주)다이셀 제조의「PB3600」,「PB4700」(폴리부타디엔 골격 에폭시 수지), 나가세켐텍스(주) 제조의「FCA-061L」(수소화 폴리부타디엔 골격 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. As the saturated and / or unsaturated butadiene resin which is liquid at 25 占 폚, a saturated and / or butadiene skeleton-containing epoxy resin which is liquid at 25 占 폚 is preferable and a polybutadiene skeleton-containing epoxy resin which is liquid at 25 占 폚, Is more preferable, and a polybutadiene skeleton-containing epoxy resin which is liquid at 25 占 폚 and a hydrogenated polybutadiene skeleton-containing epoxy resin which is liquid at 25 占 폚 are more preferable. Here, the &quot; hydrogenated polybutadiene skeleton-containing epoxy resin &quot; refers to an epoxy resin in which at least a part of the polybutadiene skeleton is hydrogenated, and the polybutadiene skeleton does not necessarily have to be a completely hydrogenated epoxy resin. Specific examples of the polybutadiene skeleton-containing resin which is liquid at 25 占 폚 and the hydrogenated polybutadiene skeleton-containing resin which is liquid at 25 占 폚 include "PB3600", "PB4700" (polybutadiene skeletal epoxy resin) manufactured by Daicel Co., FCA-061L &quot; (hydrogenated polybutadiene skeletal epoxy resin) manufactured by Tex Corporation.

25℃에서 액상인 산무수물기 함유 포화 및/또는 불포화 부타디엔 수지로서는, 25℃에서 액상인 포화 및/또는 불포화 부타디엔 골격 함유 산무수물 수지가 바람직하다. 25℃에서 액상인 페놀성 수산기 함유 포화 및/또는 불포화 부타디엔 수지로서는, 25℃에서 액상인 포화 및/또는 불포화 부타디엔 골격 함유 페놀 수지가 바람직하다. 25℃에서 액상인 이소시아네이트기 함유 포화 및/또는 불포화 부타디엔 수지로서는, 25℃에서 액상인 포화 및/또는 불포화 부타디엔 골격 함유 이소시아네이트 수지가 바람직하다. 25℃에서 액상인 우레탄기 함유 포화 및/또는 불포화 부타디엔 수지로서는, 25℃에서 액상인 포화 및/또는 불포화 부타디엔 골격 함유 우레탄 수지가 바람직하다. As the saturated and / or unsaturated butadiene resin containing an acid anhydride group which is liquid at 25 占 폚, a saturated and / or unsaturated butadiene skeleton-containing acid anhydride resin which is liquid at 25 占 폚 is preferable. As the phenolic hydroxyl group-containing saturated and / or unsaturated butadiene resin which is in a liquid state at 25 占 폚, a phenol resin containing a saturated and / or unsaturated butadiene skeleton which is liquid at 25 占 폚 is preferable. As the unsaturated and / or unsaturated butadiene resin having an isocyanate group which is in a liquid state at 25 占 폚, a saturated and / or unsaturated butadiene skeleton-containing isocyanate resin which is liquid at 25 占 폚 is preferable. As the saturated and / or unsaturated butadiene resin having a urethane group which is in a liquid state at 25 占 폚, a urethane resin containing a saturated and / or unsaturated butadiene skeleton which is liquid at 25 占 폚 is preferable.

(d) 성분의 다른 적합한 일 실시형태는, Tg가 25℃ 이하인 관능기 함유 아크릴 수지이다. Tg가 25℃ 이하인 관능기 함유 아크릴 수지로서는, Tg가 25℃ 이하인 산무수물기 함유 아크릴 수지, Tg가 25℃ 이하인 페놀성 수산기 함유 아크릴 수지, Tg가 25℃ 이하인 이소시아네이트기 함유 아크릴 수지, Tg가 25℃ 이하인 우레탄기 함유 아크릴 수지, 및 Tg가 25℃ 이하인 에폭시기 함유 아크릴 수지로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 수지가 바람직하다. Another suitable embodiment of the component (d) is a functional group-containing acrylic resin having a Tg of 25 캜 or lower. Acrylic acid-containing acrylic resin having a Tg of 25 占 폚 or lower, an acrylic resin containing a phenolic hydroxyl group having a Tg of 25 占 폚 or lower, an isocyanate group-containing acrylic resin having a Tg of 25 占 폚 or lower, Or less and an epoxy group-containing acrylic resin having a Tg of 25 占 폚 or less.

Tg가 25℃ 이하인 관능기 함유 아크릴 수지의 수 평균 분자량(Mn)은, 바람직하게는 10000 내지 1000000, 보다 바람직하게는 30000 내지 900000이다. 여기서, 수지의 수 평균 분자량(Mn)은, GPC(겔 침투 크로마토그래피)를 사용하여 측정되는 폴리스티렌 환산의 수 평균 분자량이다. The number-average molecular weight (Mn) of the functional group-containing acrylic resin having a Tg of 25 占 폚 or lower is preferably 10,000 to 1,000,000, more preferably 30,000 to 900,000. Here, the number average molecular weight (Mn) of the resin is the number average molecular weight in terms of polystyrene measured by GPC (gel permeation chromatography).

Tg가 25℃ 이하인 관능기 함유 아크릴 수지의 관능기 당량은, 바람직하게는 1000 내지 50000, 보다 바람직하게는 2500 내지 30000이다. The functional group equivalent of the functional group-containing acrylic resin having a Tg of 25 占 폚 or less is preferably 1000 to 50000, more preferably 2500 to 30000.

Tg가 25℃ 이하인 에폭시기 함유 아크릴 수지로서는, Tg가 25℃ 이하인 에폭시기 함유 아크릴산에스테르 공중합체 수지가 바람직하며, 그 구체예로서는, 나가세켐텍스(주) 제조의「SG-80H」(에폭시기 함유 아크릴산에스테르 공중합체 수지(수 평균 분자량(Mn): 350000g/mol, 에폭시가 0.07eq/kg, Tg 11℃)), 나가세켐텍스(주) 제조의「SG-P3」(에폭시기 함유 아크릴산에스테르 공중합체 수지(수 평균 분자량(Mn): 850000g/mol, 에폭시가 0.21eq/kg, Tg 12℃))를 들 수 있다. The epoxy group-containing acrylic resin having a Tg of 25 占 폚 or less is preferably an epoxy group-containing acrylic ester copolymer resin having a Tg of 25 占 폚 or less. Specific examples thereof include "SG-80H" (epoxy group- SG-P3 &quot; (an epoxy group-containing acrylic ester copolymer resin (number-average molecular weight (Mn): 350000 g / mol, epoxy: 0.07 eq / Average molecular weight (Mn): 850000 g / mol, epoxy: 0.21 eq / kg, Tg 12 DEG C).

Tg가 25℃ 이하인 산무수물기 함유 아크릴 수지로서는, Tg가 25℃ 이하인 산무수물기 함유 아크릴산에스테르 공중합체 수지가 바람직하다. As the acid anhydride group-containing acrylic resin having a Tg of 25 DEG C or lower, an acrylic acid ester copolymer resin containing an acid anhydride group having a Tg of 25 DEG C or lower is preferable.

Tg가 25℃ 이하인 페놀성 수산기 함유 아크릴 수지로서는, Tg가 25℃ 이하인 페놀성 수산기 함유 아크릴산에스테르 공중합체 수지가 바람직하며, 그 구체예로서는, 나가세켐텍스(주) 제조의「SG-790」(에폭시기 함유 아크릴산에스테르 공중합체 수지(수 평균 분자량(Mn): 500000g/mol, 수산기가 40㎎KOH/㎏, Tg -32℃))를 들 수 있다. As the phenolic hydroxyl group-containing acrylic resin having a Tg of 25 占 폚 or lower, a phenolic hydroxyl group-containing acrylic ester copolymer resin having a Tg of 25 占 폚 or lower is preferable. Specific examples thereof include "SG-790" (Number average molecular weight (Mn): 500000 g / mol, hydroxyl value: 40 mgKOH / kg, Tg -32 占 폚).

또한, (d) 성분의 적합한 일 실시형태는, 분자 내에 부타디엔 구조 단위, 우레탄 구조 단위, 및 이미드 구조 단위를 갖는 폴리이미드 수지이고, 당해 폴리이미드 수지는 분자 말단에 페놀 구조를 갖는 것이 바람직하다. One suitable embodiment of the component (d) is a polyimide resin having a butadiene structural unit, a urethane structural unit and an imide structural unit in the molecule, and the polyimide resin preferably has a phenol structure at the molecular end .

당해 폴리이미드 수지의 수 평균 분자량(Mn)은, 바람직하게는 1000 내지 100000, 보다 바람직하게는 10000 내지 15000이다. 여기서, 수지의 수 평균 분자량(Mn)은, GPC(겔 침투 크로마토그래피)를 사용하여 측정되는 폴리스티렌 환산의 수 평균 분자량이다. The number average molecular weight (Mn) of the polyimide resin is preferably 1000 to 100000, more preferably 10000 to 15000. Here, the number average molecular weight (Mn) of the resin is the number average molecular weight in terms of polystyrene measured by GPC (gel permeation chromatography).

당해 폴리이미드 수지의 산가는, 바람직하게는 1KOH/g 내지 30KOH/g, 보다 바람직하게는 10KOH/g 내지 20KOH/g이다. The acid value of the polyimide resin is preferably 1 KOH / g to 30 KOH / g, and more preferably 10 KOH / g to 20 KOH / g.

당해 폴리이미드 수지의 부타디엔 구조의 함유율은, 바람직하게는 60 내지 95질량%, 보다 바람직하게는 75 내지 85질량%이다. The content of the butadiene structure of the polyimide resin is preferably 60 to 95% by mass, and more preferably 75 to 85% by mass.

당해 폴리이미드 수지의 상세는, 국제공개 2008/153208호의 기재를 참작할 수 있고, 이 내용은 본 명세서에 끼워 넣어진다. Details of the polyimide resin can be taken into account in the disclosure of International Publication No. 2008/153208, the contents of which are incorporated herein.

파단 강도를 향상시키는 관점에서, (d) 성분은, (d) 성분 이외의 성분과의 상용성이 높은 것이 바람직하다. 즉, 경화성 수지 조성물층 중에 (d) 성분이 분산되어 있는 것이 바람직하다. From the viewpoint of improving the breaking strength, the component (d) is preferably highly compatible with components other than the component (d). That is, it is preferable that the component (d) is dispersed in the curable resin composition layer.

경화성 수지 조성물 중의 (d) 성분의 함유량은 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 14질량% 이하, 보다 바람직하게는 13질량% 이하, 더욱 바람직하게는 12질량% 이하이다. 또한, 하한은, 바람직하게는 2질량% 이상, 보다 바람직하게는 3질량% 이상, 더욱 바람직하게는 4질량% 이상이다. The content of the component (d) in the curable resin composition is not particularly limited, but is preferably 14 mass% or less, more preferably 13 mass% or less, further preferably 12 mass% or less. The lower limit is preferably 2% by mass or more, more preferably 3% by mass or more, further preferably 4% by mass or more.

경화성 수지 조성물은 상기 (a), (b), (c), (d) 이외에, 열가소성 수지, 경화 촉진제, 난연제 및 고무 입자 등의 첨가제(e)를 함유하고 있어도 좋다. The curable resin composition may contain additives (e) such as thermoplastic resins, curing accelerators, flame retardants and rubber particles in addition to the above (a), (b), (c) and (d).

(e) 첨가제(e) Additive

-열가소성 수지-- Thermoplastic resin -

열가소성 수지로서는, 예를 들면, 페녹시 수지, 폴리비닐아세탈 수지, 폴리올레핀 수지, 폴리부타디엔 수지, 폴리이미드 수지, 폴리아미드이미드 수지, 폴리에테르이미드 수지, 폴리설폰 수지, 폴리에테르설폰 수지, 폴리페닐렌에테르 수지, 폴리카보네이트 수지, 폴리에테르에테르케톤 수지, 폴리에스테르 수지 등의 열가소성 수지를 들 수 있고, 이들 중, 페녹시 수지가 바람직하다. 열가소성 수지는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다. Examples of the thermoplastic resin include thermoplastic resins such as phenoxy resin, polyvinyl acetal resin, polyolefin resin, polybutadiene resin, polyimide resin, polyamideimide resin, polyetherimide resin, polysulfone resin, polyether sulfone resin, Ether resins, polycarbonate resins, polyether ether ketone resins, and polyester resins. Of these, phenoxy resins are preferable. The thermoplastic resin may be used singly or in combination of two or more kinds.

열가소성 수지의 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량은 5,000 내지 100,000의 범위가 바람직하며, 10,000 내지 60,000의 범위가 보다 바람직하며, 20,000 내지 60,000의 범위가 더욱 바람직하다. 열가소성 수지의 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량은, 겔 침투 크로마토그래피(GPC)법으로 측정된다. 구체적으로는, 열가소성 수지의 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량은, 측정 장치로서 (주)시마즈세사쿠쇼 제조 LC-9A/RID-6A를, 칼럼으로서 쇼와덴코(주) 제조 Shodex K-800P/K-804L/K-804L을, 이동상으로서 클로로포름 등을 사용하여, 칼럼 온도를 40℃에서 측정하여, 표준 폴리스티렌의 검량선을 사용하여 산출할 수 있다. The weight average molecular weight of the thermoplastic resin in terms of polystyrene is preferably in the range of 5,000 to 100,000, more preferably in the range of 10,000 to 60,000, and still more preferably in the range of 20,000 to 60,000. The weight average molecular weight of the thermoplastic resin in terms of polystyrene is measured by a gel permeation chromatography (GPC) method. Specifically, the weight average molecular weight of the thermoplastic resin in terms of polystyrene was measured using LC-9A / RID-6A manufactured by Shimadzu Corporation as a measuring device and Shodex K-800P / K (manufactured by Showa Denko K.K. -804L / K-804L as a mobile phase, chloroform at a column temperature of 40 占 폚, and using a standard polystyrene calibration curve.

페녹시 수지로서는, 예를 들면, 비스페놀 A 골격, 비스페놀 F 골격, 비스페놀 S 골격, 비스페놀아세트페논 골격, 노볼락 골격, 비페닐 골격, 플루오렌 골격, 디사이클로펜타디엔 골격, 노르보르넨 골격, 나프탈렌 골격, 안트라센 골격, 아다만탄 골격, 테르펜 골격, 및 트리메틸사이클로헥산 골격으로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 골격을 갖는 페녹시 수지를 들 수 있다. 페녹시 수지의 말단은, 페놀성 수산기, 에폭시기 등의 어느 관능기라도 좋다. 페녹시 수지는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다. 페녹시 수지의 구체예로서는, 미쯔비시가가쿠(주) 제조의「1256」및「4250」(모두 비스페놀 A 골격 함유 페녹시 수지),「YX8100」(비스페놀 S 골격 함유 페녹시 수지), 및 「YX6954」(비스페놀아세트페논 골격 함유 페녹시 수지)를 들 수 있고, 그 외에도, 신닛테츠스미킨가가쿠(주) 제조의「FX280」및「FX293」, 미쯔비시가가쿠(주) 제조의「YL6954BH30」,「YX7553」,「YL7769BH30」,「YL6794」,「YL7213」,「YL7290」및「YL7482」등을 들 수 있다. Examples of the phenoxy resin include bisphenol A skeleton, bisphenol F skeleton, bisphenol S skeleton, bisphenol acetophenone skeleton, novolac skeleton, biphenyl skeleton, fluorene skeleton, dicyclopentadiene skeleton, norbornene skeleton, A phenoxy resin having at least one skeleton selected from the group consisting of a skeleton, an anthracene skeleton, an adamantane skeleton, a terpene skeleton, and a trimethyl cyclohexane skeleton. The terminal of the phenoxy resin may be any functional group such as a phenolic hydroxyl group or an epoxy group. The phenoxy resin may be used singly or in combination of two or more kinds. Specific examples of the phenoxy resin include "1256" and "4250" (both phenol resins containing a bisphenol A skeleton), "YX8100" (phenoxy resin containing a bisphenol S skeleton), and "YX6954" (Phenoxy resin containing a bisphenol acetophenone skeleton), "FX280" and "FX293" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd., "YL6954BH30" and "YX7553" manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., YL7769BH30 "," YL6794 "," YL7213 "," YL7290 ", and" YL7482 ".

폴리비닐아세탈 수지로서는, 예를 들면, 폴리비닐포르말 수지, 폴리비닐부티랄 수지를 들 수 있고, 폴리비닐부티랄 수지가 바람직하다. 폴리비닐아세탈 수지의 구체예로서는, 예를 들면, 덴키가가쿠고교(주) 제조의「덴카부티랄 4000-2」,「덴카부티랄 5000-A」,「덴카부티랄 6000-C」,「덴카부티랄 6000-EP」, 세키스이가가쿠고교(주) 제조의 에스렉 BH 시리즈, BX 시리즈, KS 시리즈, BL 시리즈, BM 시리즈 등을 들 수 있다. Examples of the polyvinyl acetal resin include a polyvinyl formal resin and a polyvinyl butyral resin, and a polyvinyl butyral resin is preferable. Specific examples of the polyvinyl acetal resin include "DENKA BUTYLAL 4000-2", "DENKA BUTYLAL 5000-A", "DENKA BUTYLAL 6000-C" and "DENKA BUTYLAL 6000-C" manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Butyral 6000-EP &quot;, S-Rex BH series, BX series, KS series, BL series, BM series manufactured by Sekisui Igakugo Kogyo Co., Ltd., and the like.

폴리이미드 수지의 구체예로서는, 신니혼리카(주) 제조의「리카코트 SN20」및「리카코트 PN20」을 들 수 있다. Specific examples of the polyimide resin include "Rika Coat SN20" and "Rika Coat PN20" manufactured by Shin-Nihon Rika K.K.

폴리아미드이미드 수지의 구체예로서는, 토요보세키(주) 제조의「바이로맥스HR11NN」및「바이로맥스HR16NN」을 들 수 있다. Specific examples of the polyamide-imide resin include "Viromax HR11NN" and "Viromax HR16NN" manufactured by Toyobo Co., Ltd.

폴리에테르설폰 수지의 구체예로서는, 스미토모가가쿠(주) 제조의「PES5003P」등을 들 수 있다. Specific examples of the polyether sulfone resin include "PES 5003P" manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd., and the like.

폴리설폰 수지의 구체예로서는, 솔베이어드밴스트폴리머즈(주) 제조의 폴리설폰「P1700」,「P3500」등을 들 수 있다. Specific examples of the polysulfone resin include polysulfone "P1700" and "P3500" manufactured by Solvay Advanced Polymers Co., Ltd.

폴리페닐렌에테르 수지의 구체예로서는, 미쯔비시가스가가쿠(주) 제조의 올리고페닐렌에테르·스티렌 수지「OPE-2St 1200」등을 들 수 있다. Specific examples of the polyphenylene ether resin include an oligophenylene ether styrene resin "OPE-2St 1200" manufactured by Mitsubishi Gas Kagaku Co., Ltd., and the like.

이 중에서도, 다른 성분과의 조합에 있어서, 표면 조도가 더욱 낮아 도체층과의 밀착성이 보다 우수한 절연층을 얻는 관점에서, 열가소성 수지로서는, 페녹시 수지, 폴리비닐아세탈 수지가 바람직하다. 따라서 적합한 일 실시형태에 있어서, 열가소성 수지 성분은, 페녹시 수지 및 폴리비닐아세탈 수지로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상을 함유한다. Of these, phenoxy resins and polyvinyl acetal resins are preferable as the thermoplastic resin from the viewpoint of obtaining an insulating layer having a lower surface roughness and better adhesion to the conductor layer in combination with other components. Accordingly, in a preferred embodiment, the thermoplastic resin component contains at least one member selected from the group consisting of a phenoxy resin and a polyvinyl acetal resin.

경화성 수지 조성물 중의 열가소성 수지의 함유량은, 경화성 수지 조성물층의 용융 점도를 적절하게 조정하는 관점에서, 바람직하게는 0질량% 내지 20질량%, 보다 바람직하게는 0.5질량% 내지 10질량%, 더욱 바람직하게는 0.6질량% 내지 8질량%이다. The content of the thermoplastic resin in the curable resin composition is preferably 0% by mass to 20% by mass, more preferably 0.5% by mass to 10% by mass, still more preferably 0% by mass to 10% by mass from the viewpoint of appropriately adjusting the melt viscosity of the curable resin composition layer Is from 0.6% by mass to 8% by mass.

-경화 촉진제-- Curing accelerator -

경화 촉진제로서는, 예를 들면, 인계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 구아니딘계 경화 촉진제 등을 들 수 있고, 인계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제가 바람직하며, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제가 보다 바람직하다. 경화 촉진제는, 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다. Examples of the curing accelerator include phosphorus hardening accelerator, amine hardening accelerator, imidazole hardening accelerator, guanidine hardening accelerator, phosphorus hardening accelerator, amine hardening accelerator and imidazole hardening accelerator , An amine-based curing accelerator, and an imidazole-based curing accelerator are more preferable. The curing accelerator may be used singly or in combination of two or more kinds.

인계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 트리페닐포스핀, 포스포늄보레이트 화합물, 테트라페닐포스포늄테트라페닐보레이트, n-부틸포스포늄테트라페닐보레이트, 테트라부틸포스포늄데칸산염, (4-메틸페닐)트리페닐포스포늄티오시아네이트, 테트라페닐포스포늄티오시아네이트, 부틸트리페닐포스포늄티오시아네이트 등을 들 수 있고, 트리페닐포스핀, 테트라부틸포스포늄데칸산염이 바람직하다. Examples of phosphorus hardening accelerators include triphenylphosphine, phosphonium borate compounds, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, n-butylphosphonium tetraphenylborate, tetrabutylphosphonium decanoate, (4-methylphenyl) triphenyl Phosphonium thiocyanate, tetraphenylphosphonium thiocyanate, butyltriphenylphosphonium thiocyanate, and the like, and triphenylphosphine and tetrabutylphosphonium decanoate are preferable.

아민계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 트리에틸아민, 트리부틸아민 등의 트리알킬아민, 4-디메틸아미노피리딘, 벤질디메틸아민, 2,4,6-트리스(디메틸아미노메틸)페놀, 1,8-디아자비사이클로(5,4,0)-운데센 등을 들 수 있고, 4-디메틸아미노피리딘, 1,8-디아자비사이클로(5,4,0)-운데센이 바람직하다. Examples of the amine-based curing accelerator include trialkylamines such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6-tris (dimethylaminomethyl) -Diazabicyclo (5,4,0) undecene, and 4-dimethylaminopyridine and 1,8-diazabicyclo (5,4,0) -undecene are preferred.

이미다졸계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 2-메틸이미다졸, 2-운데실이미다졸, 2-헵타데실이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 2-페닐이미다졸, 2-페닐-4-메틸이미다졸, 1-벤질-2-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸, 1-시아노에틸-2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸륨트리멜리테이트, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸륨트리멜리테이트, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-운데실이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-에틸-4'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진이소시아눌산 부가물, 2-페닐이미다졸이소시아눌산 부가물, 2-페닐-4,5-디하이드록시메틸이미다졸, 2-페닐-4-메틸-5하이드록시메틸이미다졸, 2,3-디하이드로-1H-피롤로[1,2-a]벤즈이미다졸, 1-도데실-2-메틸-3-벤질이미다졸륨클로라이드, 2-메틸이미다졸린, 2-페닐이미다졸린 등의 이미다졸 화합물 및 이미다졸 화합물과 에폭시 수지의 어덕트체를 들 수 있고, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸이 바람직하다. Examples of the imidazole-based curing accelerator include 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, Imidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl- Benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl- 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium Trimellitate, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')] -ethyl-s-triazine, 2,4- diamino-6- [ Imidazolyl- (1 ')] - ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-ethyl-4'-methylimidazolyl- Triazine, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')] - ethyl- , 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5hydroxymethylimidazole, 2,3-di Methylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline, 2-phenylimidazoline, and the like, which are commercially available, such as 1-hydroxy-1H-pyrrolo [ Azole compounds, and adducts of an imidazole compound and an epoxy resin, and 2-ethyl-4-methylimidazole and 1-benzyl-2-phenylimidazole are preferable.

이미다졸계 경화 촉진제로서는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 미쯔비시가가쿠(주) 제조의「P200-H50」등을 들 수 있다. As the imidazole-based curing accelerator, a commercially available product may be used, and for example, "P200-H50" manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., Ltd. and the like can be mentioned.

구아니딘계 경화 촉진제로서는, 예를 들면, 디시안디아미드, 1-메틸구아니딘, 1-에틸구아니딘, 1-사이클로헥실구아니딘, 1-페닐구아니딘, 1-(o-톨릴)구아니딘, 디메틸구아니딘, 디페닐구아니딘, 트리메틸구아니딘, 테트라메틸구아니딘, 펜타메틸구아니딘, 1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 7-메틸-1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 1-메틸비구아니드, 1-에틸비구아니드, 1-n-부틸비구아니드, 1-n-옥타데실비구아니드, 1,1-디메틸비구아니드, 1,1-디에틸비구아니드, 1-사이클로헥실비구아니드, 1-알릴비구아니드, 1-페닐비구아니드, 1-(o-톨릴)비구아니드 등을 들 수 있고, 디시안디아미드, 1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔이 바람직하다. Examples of the guanidine curing accelerator include dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, 1- (o-tolyl) guanidine, dimethylguanidine, , Trimethylguanidine, tetramethylguanidine, pentamethylguanidine, 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] deca-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo [ 1-n-butylbiguanide, 1-n-octadecylbiguanide, 1,1-dimethylbiguanide, 1, 1-cyclohexylbiguanide, 1-allylbiguanide, 1-phenylbiguanide, 1- (o-tolyl) biguanide, and the like, and dicyandiamide, 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] deca-5-ene is preferred.

경화성 수지 조성물 중의 경화 촉진제의 함유량은 특별히 한정되지 않지만, 0.05질량% 내지 3질량%의 범위에서 사용하는 것이 바람직하다. The content of the curing accelerator in the curable resin composition is not particularly limited, but is preferably in the range of 0.05% by mass to 3% by mass.

-난연제-- Flame retardant -

경화성 수지 조성물은, 난연제를 함유해도 좋다. 난연제로서는, 예를 들면, 유기 인계 난연제, 유기계 질소 함유 인 화합물, 질소 화합물, 실리콘계 난연제, 금속 수산화물 등을 들 수 있다. 난연제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다. The curable resin composition may contain a flame retardant. Examples of the flame retardant include an organic phosphorus flame retardant, an organic nitrogen-containing phosphorus compound, a nitrogen compound, a silicon-based flame retardant, a metal hydroxide, and the like. The flame retardant may be used alone, or two or more flame retardants may be used in combination.

난연제로서는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 산코(주) 제조의「HCA-HQ」, 오하치가가쿠고교(주) 제조의「PX-200」등을 들 수 있다. As the flame retardant, a commercially available product may be used, for example, "HCA-HQ" manufactured by Sanko Co., Ltd., "PX-200" manufactured by Ohachi Kagaku Kogyo Co.,

경화성 수지 조성물 중의 난연제의 함유량은 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 0.5질량% 내지 20질량%, 보다 바람직하게는 1질량% 내지 15질량%, 더욱 바람직하게는 1.5질량% 내지 10질량%가 더욱 바람직하다. The content of the flame retardant in the curable resin composition is not particularly limited, but is preferably 0.5% by mass to 20% by mass, more preferably 1% by mass to 15% by mass, still more preferably 1.5% by mass to 10% Do.

-유기 충전재-- Organic filler -

경화성 수지 조성물은, 추가로 유리 충전재를 함유해도 좋다. 유기 충전재로서는, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 사용할 수 있는 임의의 유기 충전재를 사용하면 좋으며, 예를 들면, 고무 입자, 폴리아미드 미립자, 실리콘 입자 등을 들 수 있고, 고무 입자가 바람직하다. The curable resin composition may further contain a glass filler. As the organic filler, any organic filler that can be used in forming the insulating layer of the printed wiring board may be used. Examples thereof include rubber particles, polyamide fine particles, and silicone particles. Rubber particles are preferred.

고무 입자로서는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 다우·케미칼니혼(주) 제조「EXL2655」, 아이카고교(주) 제조「AC3816N」등을 들 수 있다. As the rubber particles, a commercially available product may be used, and for example, "EXL2655" manufactured by Dow Chemical Co., Ltd., "AC3816N" manufactured by Aika Kogyo Co., Ltd. and the like can be mentioned.

경화성 수지 조성물 중의 유기 충전재의 함유량은, 바람직하게는 0.5질량% 내지 20질량%, 보다 바람직하게는 0.7질량% 내지 10질량%이다. The content of the organic filler in the curable resin composition is preferably 0.5% by mass to 20% by mass, and more preferably 0.7% by mass to 10% by mass.

경화성 수지 조성물은, 추가로 필요에 따라, 난연제, 및 유기 충전재 이외의 다른 첨가제를 함유하고 있어도 좋고, 이러한 다른 첨가제로서는, 예를 들면, 유기 구리 화합물, 유기 아연 화합물 및 유기 코발트 화합물 등의 유기 금속 화합물, 및 유기 필러, 증점제, 소포제, 레벨링제, 밀착성 부여제, 및 착색제 등의 수지 첨가제 등을 들 수 있다. The curable resin composition may further contain a flame retardant and other additives other than the organic filler as required. Examples of such other additives include organometallic compounds such as organic copper compounds, organic zinc compounds and organic cobalt compounds Compounds, and resin additives such as organic fillers, thickeners, antifoaming agents, leveling agents, adhesion-imparting agents, and coloring agents.

-액상 아미노 수지-- Liquid amino resin -

경화성 수지 조성물층의 최저 용융 점도를 12000poise 이하로 한다는 관점에서, 경화성 수지 조성물은, 상온에서 액상인 아미노 수지(액상 아미노 수지)를 추가로 함유하고 있어도 좋다. 액상 아미노 수지는 액상 에폭시 수지 대신, 또는 액상 에폭시 수지와 함께 사용할 수 있다. 액상 아미노 수지로서는, 메틸멜라민 등의 알킬화 멜라민 수지를 들 수 있다. 알킬화 멜라민 수지는, 예를 들면, 멜라민을 포름알데히드와 반응시켜 아미노기의 수소 원자의 일부 또는 전부를 메틸올기로 치환한 후, 추가로 알코올 화합물과 반응시켜 메틸올기의 일부 또는 전부를 알콕시메틸기로 전화시켜 얻어진다. From the viewpoint that the minimum melt viscosity of the curable resin composition layer is 12000 poise or less, the curable resin composition may further contain an amino resin (liquid amino resin) which is liquid at room temperature. The liquid amino resin can be used in place of, or in combination with, liquid epoxy resin. Examples of the liquid amino resin include alkylated melamine resins such as methylmelamine. The alkylated melamine resin may be produced by, for example, reacting melamine with formaldehyde to replace part or all of the hydrogen atoms of the amino group with a methylol group and then further reacting with an alcohol compound to convert a part or all of the methylol group into an alkoxymethyl group .

[수지 시트][Resin sheet]

이하, 본 발명의 수지 시트에 관해서, 설명한다. Hereinafter, the resin sheet of the present invention will be described.

본 발명의 수지 시트는, 지지체와, 경화성 수지 조성물에 의해 형성되는 경화성 수지 조성물층을 구비하고, 경화성 수지 조성물층의 최저 용융 점도가 12000poise 이하인 것을 특징으로 한다. 또한 상기 경화성 수지 조성물층을 경화시켜 이루어지는 절연층(경화물)의 25℃에서 150℃까지 사이의 평균 선열팽창율이 17ppm/℃ 이하인 것이 바람직하다. The resin sheet of the present invention comprises a support and a curable resin composition layer formed from the curable resin composition, wherein the curable resin composition layer has a minimum melt viscosity of 12000 poise or less. It is also preferable that the average linear thermal expansion coefficient of the insulating layer (cured product) obtained by curing the above-mentioned curable resin composition layer between 25 ° C and 150 ° C is not more than 17 ppm / ° C.

본 발명의 수지 시트의 일례를 도 2에 도시한다. 도 2에 있어서, 수지 시트(10)는, 지지체(11)와, 지지체(11) 위에 설치된 경화성 수지 조성물층(12)을 구비한다. An example of the resin sheet of the present invention is shown in Fig. 2, the resin sheet 10 includes a support 11 and a curable resin composition layer 12 provided on the support 11. As shown in Fig.

<지지체><Support>

지지체로서는, 예를 들면, 플라스틱 재료로 이루어지는 필름, 금속박, 이형지를 들 수 있고, 플라스틱 재료로 이루어지는 필름, 금속박이 바람직하다. As the support, for example, a film made of a plastic material, a metal foil and a release paper can be mentioned, and a film or a metal foil made of a plastic material is preferable.

지지체로서 플라스틱 재료로 이루어지는 필름을 사용하는 경우, 플라스틱 재료로서는, 예를 들면, 폴리에틸렌테레프탈레이트(이하「PET」라고 약칭하는 경우가 있다.), 폴리에틸렌나프탈레이트(이하「PEN」이라고 약칭하는 경우가 있다.) 등의 폴리에스테르, 폴리카보네이트(이하,「PC」라고 약칭하는 경우가 있다.), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA) 등의 아크릴, 환상 폴리올레핀, 트리아세틸셀룰로스(TAC), 폴리에테르설파이드(PES), 폴리에테르케톤, 폴리이미드 등을 들 수 있다. 이 중에서도, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트가 바람직하며, 염가의 폴리에틸렌테레프탈레이트가 특히 바람직하다. When a film made of a plastic material is used as the support, examples of the plastic material include polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as "PET"), polyethylene naphthalate (hereinafter abbreviated as "PEN" (Hereinafter, abbreviated as "PC") and polymethyl methacrylate (PMMA), cyclic polyolefin, triacetyl cellulose (TAC), polyether sulfide (PES), polyether ketone, polyimide and the like. Of these, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are preferable, and inexpensive polyethylene terephthalate is particularly preferable.

지지체로서 금속박을 사용하는 경우, 금속박으로서는, 예를 들면, 구리박, 알루미늄박 등을 들 수 있고, 구리박이 바람직하다. 구리박으로서는, 구리의 단금속으로 이루어지는 박을 사용해도 좋고, 구리와 다른 금속(예를 들면, 주석, 크롬, 은, 마그네슘, 니켈, 지르코늄, 규소, 티탄 등)과의 합금으로 이루어지는 박을 사용해도 좋다. In the case of using a metal foil as a support, examples of the metal foil include copper foil and aluminum foil, and copper foil is preferable. As the copper foil, a foil made of a single metal of copper may be used, or a foil made of an alloy of copper and another metal (for example, tin, chromium, silver, magnesium, nickel, zirconium, It is also good.

지지체는 경화성 수지 조성물층과 접합하는 면에 매트 처리, 코로나 처리를 가하고 있어도 좋다. The support may be subjected to a mat treatment or a corona treatment on the surface to be bonded to the curable resin composition layer.

또한, 지지체로서는, 경화성 수지 조성물층과 접합하는 면에 이형층을 갖는 이형층 부착 지지체를 사용해도 좋다. 이형층 부착 지지체의 이형층에 사용하는 이형제로서는, 예를 들면, 알키드 수지, 폴리올레핀 수지, 우레탄 수지, 및 실리콘 수지로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 이형제를 들 수 있다. 이형층 부착 지지체는, 시판품을 사용해도 좋고, 예를 들면, 알키드 수지계 이형제를 주성분으로 하는 이형층을 갖는 PET 필름인, 토레(주) 제조의「루미나-T6AM」, 린텍(주) 제조의「SK-1」,「AL-5」,「AL-7」등을 들 수 있다. As the support, a support having a release layer having a release layer on the surface to be bonded to the curable resin composition layer may be used. Examples of the release agent used for the release layer of the release layer-adhered support include at least one release agent selected from the group consisting of an alkyd resin, a polyolefin resin, a urethane resin, and a silicone resin. A commercially available product may be used as the release layer adherend. For example, "LUMINA-T6AM" manufactured by Toray Co., Ltd., a PET film having a release layer composed mainly of an alkyd resin-based release agent, SK-1 "," AL-5 ", and" AL-7 ".

지지체의 두께는, 특별히 한정되지 않지만, 5㎛ 내지 75㎛의 범위가 바람직하며, 10㎛ 내지 60㎛의 범위가 보다 바람직하다. 또한, 이형층 부착 지지체를 사용하는 경우, 이형층 부착 지지체 전체의 두께가 상기 범위인 것이 바람직하다. The thickness of the support is not particularly limited, but is preferably in the range of 5 탆 to 75 탆, more preferably in the range of 10 탆 to 60 탆. When a release layer-adhered support is used, it is preferable that the thickness of the entirety of the release layer-adhered support is in the above range.

<경화성 수지 조성물층><Curable resin composition layer>

본 발명에 있어서, 경화성 수지 조성물층의 최저 용융 점도는, 부품 내장 회로판을 제조할 때에 캐비티 내부의 부품의 양호한 매립성을 실현하는 관점에서, 12000poise 이하이며, 바람직하게는 10000poise 이하, 보다 바람직하게는 8000poise 이하이다. 경화성 수지 조성물층의 최저 용융 점도의 하한은 특별히 한정되지 않으며, 통상, 500poise 이상, 1000poise 이상 등으로 할 수 있다. In the present invention, the lowest melt viscosity of the curable resin composition layer is preferably 12000 poise or less, preferably 10000 poise or less, more preferably 10000 poise or less, from the viewpoint of realizing good filling property of the inside of the cavity when the component built- 8000poise or less. The lower limit of the lowest melt viscosity of the curable resin composition layer is not particularly limited and may be usually 500 poise or more, 1000 poise or more, or the like.

여기서, 경화성 수지 조성물층의「최저 용융 점도」란, 경화성 수지 조성물층의 수지가 용융되었을 때에 경화성 수지 조성물층이 나타내는 최저 점도를 말한다. 상세하게는, 일정한 승온 속도로 경화성 수지 조성물층을 가열하여 수지를 용융시키면, 초기 단계는 용융 점도가 온도 상승과 함께 저하되고, 그 후, 일정 온도를 초과하면 온도 상승과 함께 용융 점도가 상승한다. 「최저 용융 점도」란, 이러한 극소점의 용융 점도를 말한다. 경화성 수지 조성물층의 최저 용융 점도는, 동적 점탄성법에 의해 측정할 수 있다. 구체적으로는, 경화성 수지 조성물층의 최저 용융 점도는, 측정 개시 온도 60℃, 승온 속도 5℃/분, 진동수 1Hz, 탄성 1deg의 조건으로 동적 점탄성 측정을 수행함으로써 얻을 수 있다. 동적 점탄성 측정 장치로서는, 예를 들면, (주)유·비·엠 제조의「Rheosol-G3000」을 들 수 있다. Here, the &quot; minimum melt viscosity &quot; of the curable resin composition layer means the lowest viscosity exhibited by the curable resin composition layer when the resin of the curable resin composition layer is melted. Specifically, when the resin is melted by heating the curable resin composition layer at a constant heating rate, the melt viscosity of the resin is lowered along with the temperature rise in the initial stage, and then, when the temperature exceeds a certain temperature, the melt viscosity increases with the temperature rise . The "minimum melt viscosity" refers to the melt viscosity of such a minimum point. The minimum melt viscosity of the curable resin composition layer can be measured by a dynamic viscoelasticity method. Specifically, the lowest melt viscosity of the curable resin composition layer can be obtained by performing dynamic viscoelasticity measurement under conditions of a measurement start temperature of 60 占 폚, a temperature raising rate of 5 占 폚 / min, a frequency of 1 Hz, and elasticity 1 deg. As a dynamic viscoelasticity measuring device, for example, "Rheosol-G3000" manufactured by Yu-Bi Co., Ltd. may be mentioned.

본 발명에 있어서, 경화성 수지 조성물층을 경화시켜 이루어지는 절연층의 25℃에서 150℃까지 사이의 평균 선열팽창율은, 휘어짐의 문제가 억제된 부품 내장 회로판을 실현하는 관점에서, 17ppm/℃ 이하이고, 바람직하게는 16ppm/℃ 이하, 보다 바람직하게는 15ppm/℃ 이하이다. 당해 평균 선열팽창율의 하한은 특별히 한정되지 않지만, 통상, 1ppm/℃ 이상, 2ppm/℃ 이상, 3ppm/℃ 이상 등으로 할 수 있다. 평균 선열팽창율은, 예를 들면, 열기계 분석 등의 공지의 방법에 의해 측정할 수 있다. 열기계 분석 장치로서는, 예를 들면, (주)리가쿠 제조의「Thermo Plus TMA8310」을 들 수 있다. 본 발명에 있어서, 절연층의 평균 선열팽창율은, 인장 가중법으로 열기계 분석을 수행했을 때의, 평면 방향의 25 내지 150℃의 평균 선열팽창율이다. In the present invention, the average linear thermal expansion coefficient of the insulating layer formed by curing the curable resin composition layer between 25 DEG C and 150 DEG C is 17 ppm / DEG C or less from the viewpoint of realizing an integrated circuit board in which the problem of warping is suppressed, Preferably not more than 16 ppm / 占 폚, more preferably not more than 15 ppm / 占 폚. The lower limit of the average linear thermal expansion coefficient is not particularly limited, but may be usually 1 ppm / ° C or more, 2 ppm / ° C or more, 3 ppm / ° C or more, and the like. The average linear heat expansion coefficient can be measured by a known method such as thermomechanical analysis. As a thermomechanical analyzer, for example, "Thermo Plus TMA8310" manufactured by Rigaku Corporation can be mentioned. In the present invention, the average linear thermal expansion coefficient of the insulating layer is an average linear thermal expansion coefficient of 25 to 150 DEG C in the planar direction when thermomechanical analysis is performed by the tensile weighting method.

본 발명에 있어서, 경화성 수지 조성물로 이루어지는 경화성 수지 조성물층의 두께는, 바람직하게는 300㎛ 이하이고, 더욱 바람직하게는 200㎛ 이하이다. 경화성 수지 조성물층의 두께의 하한은, 특별히 한정되지 않지만, 조화 처리후에 도체층에 대해 우수한 박리 강도를 나타내는 절연층을 얻는 관점, 수지 시트의 제조 용이성의 관점에서, 통상, 10㎛ 이상, 20㎛ 이상 등으로 할 수 있다. In the present invention, the thickness of the curable resin composition layer made of the curable resin composition is preferably 300 占 퐉 or less, and more preferably 200 占 퐉 or less. The lower limit of the thickness of the curable resin composition layer is not particularly limited, but from the viewpoints of obtaining an insulating layer showing excellent peel strength to the conductor layer after the roughening treatment, and in view of ease of production of the resin sheet, Or more.

본 발명의 수지 시트(10)는, 경화성 수지 조성물층(12)의 지지체(11)와 접합하고 있지 않은 면(즉, 지지체와는 반대측의 면)에, 보호 필름을 추가로 포함해도 좋다. 보호 필름은, 경화성 수지 조성물층(12)의 표면으로의 먼지 등의 부착이나 흠집의 방지에 기여한다. 보호 필름의 재료로서는, 지지체(11)에 관해서 설명한 재료와 동일한 것을 사용하면 좋다. 보호 필름의 두께는, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들면, 1㎛ 내지 40㎛이다. 수지 시트(10)는, 프린트 배선판을 제조할 때에는, 보호 필름을 박리함으로써 사용 가능해진다. The resin sheet 10 of the present invention may further include a protective film on the surface of the curable resin composition layer 12 not bonded to the support 11 (that is, the surface opposite to the support). The protective film contributes to prevention of adhesion and scratches of dust or the like on the surface of the curable resin composition layer 12. [ As the material of the protective film, the same material as described for the support 11 may be used. The thickness of the protective film is not particularly limited, but is, for example, 1 m to 40 m. The resin sheet 10 can be used by peeling the protective film when producing a printed wiring board.

본 발명의 수지 시트는, 부품 내장 회로판의 제조시에 캐비티 내부의 부품의 양호한 매립성을 실현하는 동시에, 휘어짐의 문제가 억제된 부품 내장 회로판을 실현할 수 있다. 따라서 본 발명의 수지 시트는, 부품 내장 회로판의 제조시에 캐비티 내부의 부품을 매립하기 위해(캐비티 매립용) 특히 적합하게 사용할 수 있고, 몰드 언더필(봉지)의 용도에 있어서도, 적합하게 사용할 수 있다. 본 발명의 수지 시트는 또한, 프린트 배선판의 절연층을 형성하기 위해(프린트 배선판의 절연층용) 사용할 수 있다. 본 발명의 수지 시트는, 그 위에 미세한 배선을 형성할 수 있는 절연층을 초래할 수 있기 때문에, 빌드업 방식에 의한 프린트 배선판의 제조에 있어서, 절연층을 형성하기 위해(프린트 배선판의 빌드업 절연층용) 적합하게 사용할 수 있고, 도금에 의해 도체층을 형성하기 위해(도금에 의해 도체층을 형성하는 프린트 배선판의 빌드업 절연층용) 보다 적합하게 사용할 수 있다. INDUSTRIAL APPLICABILITY The resin sheet of the present invention realizes good filling of parts inside the cavity at the time of manufacturing the component built-in circuit board and can realize the component built-in circuit board in which the problem of warping is suppressed. Therefore, the resin sheet of the present invention can be suitably used particularly for embedding the parts inside the cavity (for cavity filling) at the time of manufacturing the component built-in circuit board, and can be suitably used also in the use of mold underfill (encapsulation) . The resin sheet of the present invention can also be used for forming an insulating layer of a printed wiring board (for an insulating layer of a printed wiring board). Since the resin sheet of the present invention can cause an insulating layer capable of forming fine wirings thereon, in the production of a printed wiring board by the build-up method, in order to form an insulating layer (for a build- ) Can be suitably used and more suitably used for forming a conductor layer by plating (for a build-up insulating layer of a printed wiring board on which a conductor layer is formed by plating).

<수지 시트의 제조 방법><Production method of resin sheet>

이하, 본 발명의 수지 시트의 제조 방법의 일례를 설명한다. 지지체 위에, 경화성 수지 조성물로 이루어지는 경화성 수지 조성물층을 형성한다. Hereinafter, an example of a method for producing a resin sheet of the present invention will be described. A curable resin composition layer made of a curable resin composition is formed on a support.

경화성 수지 조성물층을 형성하는 방법으로서는, 예를 들면, 지지체에 경화성 수지 조성물을 도포하여 도포막을 건조시켜 경화성 수지 조성물층을 설치하는 방법을 들 수 있다. As a method of forming the curable resin composition layer, for example, there can be mentioned a method of applying a curable resin composition to a support and drying the coating film to provide a curable resin composition layer.

이 방법에 있어서, 경화성 수지 조성물층은, 유기 용제에 경화성 수지 조성물을 용해한 수지 바니쉬를 제조하고, 이 수지 바니쉬를, 다이 코터 등을 사용하여 지지체 위에 도포하고, 수지 바니쉬를 건조시킴으로써 제작할 수 있다. In this method, the curable resin composition layer can be produced by preparing a resin varnish obtained by dissolving a curable resin composition in an organic solvent, applying the resin varnish on a support using a die coater or the like, and drying the resin varnish.

유기 용제로서는, 예를 들면, 아세톤, 메틸에틸케톤 및 사이클로헥산온 등의 케톤, 아세트산에틸, 아세트산부틸, 셀로솔브아세테이트, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트 및 카르비톨아세테이트 등의 아세트산에스테르류, 셀로솔브 및 부틸카르비톨 등의 카르비톨류, 톨루엔 및 크실렌 등의 방향족 탄화수소류, 디메틸포름아미드, 디메틸아세트아미드 및 N-메틸피롤리돈 등의 아미드계 용매 등을 들 수 있다. 유기 용제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다. Examples of the organic solvent include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone and cyclohexanone, acetic acid esters such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate, cellosolve, Carbitols such as butyl carbitol, aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene, and amide solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide and N-methylpyrrolidone. The organic solvent may be used singly or in combination of two or more kinds.

수지 바니쉬의 건조는, 가열, 열풍 분사 등의 공지의 건조 방법에 의해 실시하면 좋다. 수지 바니쉬 중의 유기 용제의 비점에 따라서도 상이하지만, 예를 들면 30 내지 60질량%의 유기 용제를 함유하는 수지 바니쉬를 사용하는 경우, 50℃ 내지 150℃에서 3분간 내지 10분간 건조시킴으로써, 지지체 위에 경화성 수지 조성물층을 형성할 수 있다. The resin varnish may be dried by a known drying method such as heating or hot air blowing. When a resin varnish containing, for example, 30 to 60% by mass of an organic solvent is used, it is dried at 50 to 150 ° C for 3 minutes to 10 minutes to form a resin varnish on the support A curable resin composition layer can be formed.

또한, 본 발명에 있어서는, 예를 들면, 보호 필름 위에 경화성 수지 조성물층을 형성한 후에, 경화성 수지 조성물층 위에 지지체를 적층하여 수지 시트를 제작해도 좋다. Further, in the present invention, for example, a resin sheet may be produced by laminating a support on a curable resin composition layer after forming a curable resin composition layer on a protective film.

<배선판><Wiring Board>

본 발명의 배선판은, 본 발명의 수지 시트의 경화성 수지 조성물층을 경화시켜 이루어지는 절연층과, 도체층을 구비한다. 이하, 본 발명의 배선판의 일 실시형태인 부품 내장 회로판에 관해서 설명한다. The wiring board of the present invention comprises an insulating layer formed by curing the curable resin composition layer of the resin sheet of the present invention and a conductor layer. Hereinafter, the component built-in circuit board which is one embodiment of the wiring board of the present invention will be described.

부품 내장 회로판은, (A) 제1 및 제2 주면을 가지며, 당해 제1 및 제2 주면 사이를 관통하는 캐비티가 형성된 회로 기판과, 당해 회로 기판의 제2 주면과 접합하고 있는 가부착 재료와, 상기 회로 기판의 캐비티의 내부에 있어서 상기 가부착 재료에 의해 가부착된 부품을 포함하는, 부품이 가부착된 회로 기판에, 본 발명의 수지 시트를, 경화성 수지 조성물층이 회로 기판의 제1 주면과 접합하도록, 진공 적층하는 제1 적층 공정과, (B) 상기 수지 시트를 적층한 회로 기판을 가열 처리하는 가열 처리 공정과, (C) 회로 기판의 제2 주면으로부터 가부착 재료를 박리한 후, 제2 수지 시트를, 당해 경화성 수지 조성물층이 회로 기판의 제2 주면과 접합하도록, 진공 적층하는 제2 적층 공정과, (D) 상기 수지 시트의 경화성 수지 조성물층 및 제2 수지 시트의 경화성 수지 조성물층을 열경화하는 공정을 이 순서로 포함하는 제조 방법에 의해 제작할 수 있다. 각 공정의 설명에 앞서, 본 발명의 수지 시트(10)를 사용하는「부품이 가부착된 회로 기판」에 관해서 설명한다. A component built-in circuit board includes: (A) a circuit board having first and second main surfaces and having a cavity penetrating between the first and second main surfaces, and a bonding material bonding to the second main surface of the circuit board , A resin sheet of the present invention is applied to a circuit board to which a component is attached, which includes a component adhered by the adhesive material in the cavity of the circuit board, (B) a heat treatment step of heat-treating the circuit board on which the resin sheet is laminated, (C) a step of peeling the attachment material from the second main surface of the circuit board A second lamination step of vacuum laminating the second resin sheet so that the curable resin composition layer is bonded to the second main surface of the circuit board; and (D) a second lamination step of dipping the curable resin composition layer of the resin sheet and the second resin sheet Curable resin And a step of thermally curing the composition layer in this order. Prior to the description of each process, the &quot; circuit board to which a component is attached &quot; using the resin sheet 10 of the present invention will be described.

(부품이 가부착된 회로 기판)(Circuit board with attached parts)

부품이 가부착된 회로 기판(이하,「부품 가부착 회로 기판」,「캐비티 기판」이라고도 한다)은, 제1 및 제2 주면을 가지며, 당해 제1 및 제2 주면 사이를 관통하는 캐비티가 형성된 회로 기판과, 당해 회로 기판의 제2 주면과 접합하고 있는 가부착 재료와, 상기 회로 기판의 캐비티의 내부에 있어서 상기 가부착 재료에 의해 가부착된 부품을 포함한다. A circuit board (hereinafter also referred to as a &quot; component mounting circuit board &quot; or &quot; cavity substrate &quot;) to which components are attached has first and second main surfaces, and a cavity penetrating between the first and second main surfaces is formed A circuit board, a mounting material which is bonded to the second main surface of the circuit board, and a component which is attached by the mounting material inside the cavity of the circuit board.

부품 가부착 회로 기판은, 부품 내장 회로판의 제조시에, 종래 공지된 임의의 수순에 따라 준비할 수 있다. 이하, 도 1a 내지 도 1d를 참조하여, 부품 가부착 회로 기판을 준비하는 수순의 일례를 설명하지만, 하기 수순으로 한정되는 것은 아니다. The component-affixed circuit board can be prepared according to any conventionally known procedure at the time of manufacturing the component-embedded circuit board. Hereinafter, with reference to Figs. 1A to 1D, an example of a procedure for preparing a component mounting circuit board will be described, but the present invention is not limited thereto.

우선, 회로 기판을 준비한다(도 1a). 「회로 기판」이란, 대향하는 제1 및 제2 주면을 가지며, 당해 제1 및 제2 주면의 한쪽 또는 양쪽에 패턴 가공된 회로 배선을 갖는 판상의 기판을 말한다. 도 1a에 있어서는, 회로 기판(1)의 단면을 모식적으로 도시하고 있으며, 회로 기판(1)은, 기판(2)과, 비아 배선, 표면 배선 등의 회로 배선(3)을 포함한다. 이하의 설명에 있어서는, 편의적으로, 회로 기판의 제1 주면이란, 도시하는 회로 기판의 상측 주면을 나타내고, 회로 기판의 제2 주면이란, 도시하는 회로 기판의 하측 주면을 나타내는 것으로 한다. First, a circuit board is prepared (Fig. 1A). Means a plate-like substrate having opposing first and second main surfaces and having circuit wirings pattern-processed on one or both of the first and second major surfaces. 1A schematically shows a cross section of a circuit board 1. The circuit board 1 includes a substrate 2 and circuit wirings 3 such as via wirings and surface wirings. In the following description, the first main surface of the circuit board refers to the upper main surface of the circuit board shown for convenience, and the second main surface of the circuit board refers to the lower main surface of the circuit board.

회로 기판(1)에 사용되는 기판(2)으로서는, 예를 들면, 유리 에폭시 기판, 금속 기판, 폴리에스테르 기판, 폴리이미드 기판, BT 레진 기판, 열경화형 폴리페닐렌에테르 기판 등을 들 수 있고, 유리 에폭시 기판이 바람직하다. 또한 프린트 배선판을 제조할 때에, 추가로 절연층 및/또는 도체층이 형성되어야 하는 중간 제조물의 내층 회로 기판도「회로 기판」에 포함된다. Examples of the substrate 2 used for the circuit board 1 include a glass epoxy substrate, a metal substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a BT resin substrate, and a thermosetting polyphenylene ether substrate. A glass epoxy substrate is preferred. Further, when manufacturing the printed wiring board, the inner circuit board of the intermediate product in which the insulating layer and / or the conductor layer is to be formed is also included in the &quot; circuit board &quot;.

회로 기판(1)의 기판(2)의 두께는, 부품 내장 회로판의 박형화의 관점에서, 얇은 편이 적합하며, 바람직하게는 400㎛ 미만, 보다 바람직하게는 350㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 300㎛ 이하, 더욱 보다 바람직하게는 250㎛ 이하, 특히 바람직하게는 200㎛ 이하, 180㎛ 이하, 170㎛ 이하, 160㎛ 이하, 또는 150㎛ 이하이다. 기판(2)의 두께의 하한은 특별히 제한되지 않지만, 반송시의 취급성 향상의 관점에서, 바람직하게는 50㎛ 이상, 보다 바람직하게는 80㎛ 이상, 더욱 바람직하게는 100㎛ 이상이다. The thickness of the substrate 2 of the circuit board 1 is preferably thin in view of the thickness of the component built-in circuit board, preferably less than 400 m, more preferably 350 m or less, More preferably not more than 250 mu m, particularly preferably not more than 200 mu m, not more than 180 mu m, not more than 170 mu m, not more than 160 mu m, or not more than 150 mu m. The lower limit of the thickness of the substrate 2 is not particularly limited, but is preferably 50 占 퐉 or more, more preferably 80 占 퐉 or more, and even more preferably 100 占 퐉 or more, from the viewpoint of improvement in handling during transportation.

회로 기판(1)이 구비하는 회로 배선(3)의 치수는, 원하는 특성에 따라 결정하면 좋다. 예를 들면, 표면 배선의 두께는, 부품 내장 회로판의 박형화의 관점에서, 바람직하게는 40㎛ 이하, 보다 바람직하게는 35㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 30㎛ 이하, 더욱 보다 바람직하게는 25㎛ 이하, 특히 바람직하게는 20㎛ 이하, 19㎛ 이하, 또는 18㎛ 이하이다. 표면 배선의 두께의 하한은 특별히 제한되지 않지만, 통상, 1㎛ 이상, 3㎛ 이상, 5㎛ 이상 등이다. The dimensions of the circuit wiring 3 provided in the circuit board 1 may be determined according to desired characteristics. For example, the thickness of the surface wiring is preferably 40 占 퐉 or less, more preferably 35 占 퐉 or less, further preferably 30 占 퐉 or less, still more preferably 25 占 퐉 or less , Particularly preferably not more than 20 mu m, not more than 19 mu m, or not more than 18 mu m. The lower limit of the thickness of the surface wiring is not particularly limited, but is usually 1 占 퐉 or more, 3 占 퐉 or more, 5 占 퐉 or more, or the like.

다음에, 부품을 수용하기 위한 캐비티(오목부)를 회로 기판에 설치한다(도 1b). 도 1b에 모식적으로 도시하는 바와 같이, 기판(2)의 소정의 위치에, 회로 기판의 제1 및 제2 주면 사이를 관통하는 캐비티(2a)를 설치할 수 있다. 캐비티(2a)는, 기판(2)의 특성을 고려하여, 예를 들면, 드릴, 레이저, 플라즈마, 에칭 매체 등을 사용하는 공지의 방법에 의해 형성할 수 있다. Next, a cavity (recess) for accommodating the component is provided on the circuit board (Fig. 1B). A cavity 2a may be formed at a predetermined position of the substrate 2 so as to pass between the first and second main surfaces of the circuit board as schematically shown in Fig. The cavity 2a can be formed by a known method using, for example, a drill, a laser, a plasma or an etching medium in consideration of the characteristics of the substrate 2.

도 1b에는, 1개의 캐비티(2a)만을 도시하고 있지만, 캐비티(2a)는, 서로 소정의 간격을 두고 복수 설치할 수 있다. 캐비티(2a) 사이의 피치는, 부품 내장 회로판의 소형화의 관점에서, 짧은 것이 적합하다. 캐비티(2a) 사이의 피치는, 캐비티(2a) 자체의 개구 치수에 따라서도 다르지만, 바람직하게는 10㎜ 이하, 보다 바람직하게는 9㎜ 이하, 더욱 바람직하게는 8㎜ 이하, 더욱 보다 바람직하게는 7㎜ 이하, 특히 바람직하게는 6㎜ 이하이다. 본 발명의 방법에 의하면, 캐비티를 이러한 짧은 피치로 설치하는 경우라도, 기판 휘어짐의 발생을 억제할 수 있다. 캐비티(2a) 사이의 피치의 하한은, 캐비티(2a) 자체의 개구 치수에 따라서도 다르지만, 통상, 1㎜ 이상, 2㎜ 이상 등이다. 캐비티(2a) 사이의 각 피치는, 회로 기판에 걸쳐 동일할 필요는 없으며, 상이해도 좋다. Although only one cavity 2a is shown in Fig. 1B, a plurality of cavities 2a may be provided at a predetermined interval from each other. The pitch between the cavities 2a is preferably short from the viewpoint of miniaturization of the component built-in circuit board. The pitch between the cavities 2a varies depending on the opening dimension of the cavity 2a itself, but is preferably 10 mm or less, more preferably 9 mm or less, further preferably 8 mm or less, 7 mm or less, particularly preferably 6 mm or less. According to the method of the present invention, even when the cavity is provided at such a short pitch, the occurrence of substrate warpage can be suppressed. The lower limit of the pitch between the cavities 2a varies depending on the opening dimension of the cavity 2a itself, but is usually 1 mm or more, 2 mm or more, and the like. The pitches between the cavities 2a need not be the same across the circuit board, and may be different.

캐비티(2a)의 개구 형상은 특별히 제한되지 않으며, 직사각형, 원형, 대략 직사각형, 대략 원형 등의 임의의 형상으로 하면 좋다. 또한, 캐비티(2a)의 개구 치수는, 회로 배선의 설계에 따라서도 다르지만, 예를 들면, 캐비티(2a)의 개구 형상이 직사각형인 경우, 5㎜×5㎜ 이하가 바람직하며, 3㎜×3㎜ 이하, 또는 2㎜×2㎜ 이하가 보다 바람직하다. 당해 개구 치수의 하한은, 수용하는 부품의 치수에 따라서도 다르지만, 통상, 0.5㎜×0.5㎜ 이상이다. 캐비티(2a)의 개구 형상 및 개구 치수는, 회로 기판에 걸쳐 동일할 필요는 없으며, 상이해도 좋다. The shape of the opening of the cavity 2a is not particularly limited and may be any shape such as a rectangle, a circle, a substantially rectangular shape, or a substantially circular shape. The opening dimension of the cavity 2a differs depending on the design of the circuit wiring. For example, when the opening shape of the cavity 2a is rectangular, it is preferably 5 mm x 5 mm or less, Mm or less, or more preferably 2 mm x 2 mm or less. The lower limit of the opening dimension varies depending on the dimensions of the parts to be accommodated, but is usually 0.5 mm x 0.5 mm or more. The opening shape and opening dimension of the cavity 2a are not necessarily the same across the circuit board, and may be different.

다음에, 캐비티를 설치한 회로 기판의 제2 주면에 가부착 재료를 적층한다(도 1c). 가부착 재료로서는, 부품을 가부착하기에 충분한 점착성을 나타내는 점착면을 갖는 한 특별히 제한되지 않으며, 부품 내장 회로판의 제조시에 종래 공지의 임의의 가부착 재료를 사용하면 좋다. 도 1c에 모식적으로 도시하는 형태에서는, 필름상의 가부착 재료(4)를, 당해 가부착 재료(4)의 점착면이 회로 기판의 제2 주면과 접합하도록 적층하고 있다. 이것에 의해, 캐비티(2a)를 개재하여 가부착 재료(4)의 점착면이 노출되게 된다. Next, an attaching material is laminated on the second main surface of the circuit board on which the cavity is provided (Fig. 1C). Is not particularly limited as long as it has a pressure-sensitive adhesive surface exhibiting sufficient tackiness for attaching the component, and any conventionally known adhesive material may be used in manufacturing the component built-in circuit board. 1C, the film-like adhesive material 4 is laminated so that the adhesive surface of the adhesive material 4 adheres to the second main surface of the circuit board. As a result, the adhesive surface of the adhesive material 4 is exposed through the cavity 2a.

필름상의 가부착 재료로서는, 예를 들면, 후루가와덴키고교(주) 제조의 UC 시리즈(웨이퍼 다이싱용 UV 테이프)를 들 수 있다. Examples of the adhesive material on the film include UC series (UV tape for wafer dicing) manufactured by FURUKAWA DENKI KOGYO CO., LTD.

다음에, 캐비티를 개재하여 노출된 가부착 재료의 점착면에 부품을 가부착한다(도 1d). 도 1d에 모식적으로 도시하는 형태에서는, 캐비티(2a)를 개재하여 노출된 가부착 재료(4)의 점착면에 부품(5)을 가부착하고 있다. Next, the parts are attached to the adhesive surface of the exposed adhesive material exposed through the cavity (Fig. 1D). In the form schematically shown in Fig. 1 (d), the component 5 is attached to the adhesive surface of the adhesive material 4 exposed through the cavity 2a.

부품(5)으로서는, 원하는 특성에 따라 적절한 전기 부품을 선택하면 좋으며, 예를 들면, 콘덴서, 인덕터, 저항 등의 수동 부품, 반도체 베어칩 등의 능동 부품을 들 수 있다. 모든 캐비티에 동일한 부품(5)을 사용해도 좋고, 캐비티별로 상이한 부품(5)을 사용해도 좋다. As the component 5, an appropriate electric component may be selected in accordance with a desired characteristic, and examples thereof include passive components such as capacitors, inductors and resistors, and active components such as semiconductor bear chips. The same component 5 may be used for all the cavities, or a different component 5 may be used for each cavity.

부품 가부착 회로 기판을 제조할 때에는, 상기 방법 이외에, 예를 들면, 기판(2)에 캐비티(2a)를 형성한 후에, 회로 배선(3)을 설치해도 좋고, 가부착 재료(4)를 회로 기판의 제2 주면에 적층한 후에, 캐비티(2a)를 형성해도 좋다. The circuit board 3 may be provided after the cavity 2a is formed on the substrate 2 and the circuit board 3 may be mounted on the circuit board 2 by attaching the adhesive material 4 to the circuit The cavity 2a may be formed after being laminated on the second main surface of the substrate.

본 발명의 수지 시트를 사용하여 부품 내장 회로판을 제조하는 방법에 관해서 설명한다. 이하의 설명에 있어서, 부품 내장 회로판의 제1 주면 및 제2 주면에 적층되는 본 발명의 수지 시트를, 각각, 「제1 수지 시트(10)」및「제2 수지 시트(20)」라고 기재하는 경우가 있다. 제1 수지 시트(10)와 제2 수지 시트(20)로서는, 동일한 것을 사용해도 좋고, 상이한 것을 사용해도 좋다. 이하의 설명에 있어서는, 제1 수지 시트(10)와 제2 수지 시트(20)를 구별하기 위해, 제1 수지 시트(10)의 지지체(11)를 제1 지지체(11)라고 기재하는 경우가 있다. A method of manufacturing the component built-in circuit board using the resin sheet of the present invention will be described. In the following description, the resin sheet of the present invention which is laminated on the first main surface and the second main surface of the component built-in circuit board is referred to as "first resin sheet 10" and "second resin sheet 20" . As the first resin sheet 10 and the second resin sheet 20, the same or different ones may be used. In the following description, the case where the support 11 of the first resin sheet 10 is referred to as the first support 11 to distinguish the first resin sheet 10 from the second resin sheet 20 have.

<(A) 제1 적층 공정(제1 수지 시트의 적층)>&Lt; (A) First lamination step (lamination of first resin sheet) >

우선, 부품이 가부착된 회로 기판에 본 발명의 수지 시트(제1 수지 시트(10)를 적층한다(제1 적층 공정). 상세하게는, 부품이 가부착된 회로 기판(1')에, 제1 수지 시트(10)를, 경화성 수지 조성물층(12)이 회로 기판의 제1 주면과 접합하도록 진공 적층한다(도 3a를 참조). 여기서, 제1 수지 시트(10)가 경화성 수지 조성물층(12)을 피복하는 보호 필름을 구비하는 구성인 경우, 보호 필름을 박리한 후, 회로 기판으로의 적층을 수행한다. First, a resin sheet (first resin sheet 10) of the present invention is laminated on a circuit board to which components are attached (first lamination step). Specifically, on a circuit board 1 ' The first resin sheet 10 is vacuum laminated so that the curable resin composition layer 12 is bonded to the first main surface of the circuit board (see Fig. 3A). Here, the first resin sheet 10 is laminated on the curable resin composition layer In the case of a constitution comprising a protective film covering the protective film 12, the protective film is peeled off, and then lamination to the circuit board is carried out.

부품 가부착 회로 기판(1')으로의 수지 시트(10)의 진공 적층은, 예를 들면, 감압 조건하, 지지체(11)측에서, 제1 수지 시트(10)를 부품 가부착 회로 기판(1')에 가열 압착함으로써 수행할 수 있다. 제1 수지 시트(10)를 부품 가부착 회로 기판(1')에 가열 압착하는 부재(도시하지 않음; 이하,「가열 압착 부재」라고도 한다.)로서는, 예를 들면, 가열된 금속판(SUS 경판 등) 또는 금속 롤(SUS 롤) 등을 들 수 있다. 또한, 가열 압착 부재를 제1 수지 시트(10)에 직접 프레스하지 않고, 부품 가부착 회로 기판(1')의 회로 배선(3)이나 캐비티(2a)에 기인하는 요철에 제1 수지 시트(10)가 충분히 추수(追隨)하도록, 내열 고무 등의 탄성재를 개재하여 프레스하는 것이 바람직하다. The vacuum lamination of the resin sheet 10 to the component attaching circuit board 1 'can be performed by, for example, applying a first resin sheet 10 on the component mounting circuit board 1 '). As a member for heating and pressing the first resin sheet 10 to the component mounting circuit board 1 '(not shown) (hereinafter also referred to as "hot pressing member"), for example, a heated metal plate Etc.) or a metal roll (SUS roll). The first resin sheet 10 is bonded to the projections and depressions caused by the circuit wiring 3 and the cavity 2a of the attachment circuit board 1 'without directly pressing the heat press member onto the first resin sheet 10, It is preferable to press through an elastic material such as heat-resistant rubber.

가열 압착 온도는, 바람직하게는 80 내지 160℃, 보다 바람직하게는 100 내지 140℃ 범위이고, 가열 압착 압력은, 바람직하게는 0.098MPa 내지 1.77MPa, 보다 바람직하게는 0.29MPa 내지 1.47MPa의 범위이고, 가열 압착 시간은, 바람직하게는 20초간 내지 400초간, 보다 바람직하게는 30초간 내지 300초간의 범위이다. 진공 적층은, 바람직하게는, 압력 26.7hPa 이하의 감압 조건하에서 실시한다. The heat pressing temperature is preferably 80 to 160 占 폚, more preferably 100 to 140 占 폚, the heat pressing pressure is preferably 0.098 MPa to 1.77 MPa, more preferably 0.29 MPa to 1.47 MPa , And the heat pressing time is preferably in the range of 20 seconds to 400 seconds, more preferably 30 seconds to 300 seconds. The vacuum lamination is preferably performed under a reduced pressure of 26.7 hPa or less.

진공 적층은, 시판 진공 라미네이터에 의해 수행할 수 있다. 시판 진공 라미네이터로서는, 예를 들면, (주)메이키세사쿠쇼 제조의 진공 가압식 라미네이터, 니치고·모튼(주) 제조의 배큠 어플리케이터, 니치고·모튼(주) 제조의 2스테이지 빌드업 라미네이터 등을 들 수 있다. The vacuum lamination can be performed by a commercial vacuum laminator. As a commercially available vacuum laminator, for example, a vacuum pressurized laminator manufactured by Meikishesakusho Co., Ltd., a vacuum applicator manufactured by Nichigo Morton Co., Ltd., and a two stage build-up laminator manufactured by Nichigo Morton Co., .

제1 적층 공정 후에, 상압하(대기압하), 예를 들면, 가열 압착 부재를 제1 지지체(11)측에서 프레스함으로써, 적층된 제1 수지 시트(10)의 평활화 처리를 수행하는 평활화 공정을 수행하는 것이 바람직하다. 평활화 공정의 프레스 조건은, 상기 진공 적층의 가열 압착 조건과 같은 조건으로 할 수 있다. After the first laminating step, a smoothing step for performing smoothing of the laminated first resin sheet 10 by pressurizing under normal pressure (at atmospheric pressure), for example, a hot press member on the first support 11 side . The press condition of the smoothing process may be the same as that of the vacuum lamination.

평활화 공정은, 시판 라미네이터에 의해 실행할 수 있다. 또한 제1 적층 공정과 평활화 공정은, 상기의 시판 진공 라미네이터를 사용하여 연속적으로 수행해도 좋다. The smoothing process can be performed by a commercial laminator. The first laminating step and the smoothing step may be carried out continuously using the commercial vacuum laminator.

제1 적층 공정을 거친 후, 경화성 수지 조성물층(12)은, 캐비티(2a) 내에 충전되고, 캐비티(2a) 내에 가부착되어 있던 부품(5)은 경화성 수지 조성물층(12)에 매립된다(도 3b를 참조). After the first laminating process, the curable resin composition layer 12 is filled in the cavity 2a, and the component 5 in the cavity 2a is embedded in the curable resin composition layer 12 3b).

<(B) 가열 처리 공정>&Lt; (B) Heat treatment step >

다음에, 제1 수지 시트(10)를 적층한 회로 기판을 가열 처리한다(가열 처리 공정). 당해 공정에 있어서의 가열 온도는, 바람직하게는 155℃ 이하, 보다 바람직하게는 150℃ 이하, 더욱 바람직하게는 145℃ 이하, 더욱 보다 바람직하게는 140℃ 이하이다. 가열 온도의 하한은, 바람직하게는 110℃ 이상, 보다 바람직하게는 115℃ 이상, 더욱 바람직하게는 120℃ 이상, 더욱 보다 바람직하게는 125℃ 이상이다. Next, the circuit board on which the first resin sheet 10 is laminated is subjected to heat treatment (heat treatment step). The heating temperature in this step is preferably 155 占 폚 or lower, more preferably 150 占 폚 or lower, still more preferably 145 占 폚 or lower, still more preferably 140 占 폚 or lower. The lower limit of the heating temperature is preferably 110 占 폚 or higher, more preferably 115 占 폚 or higher, even more preferably 120 占 폚 or higher, even more preferably 125 占 폚 or higher.

가열 처리 공정에 있어서의 가열 시간은, 가열 온도에 따라서도 다르지만, 바람직하게는 10분간 이상, 보다 바람직하게는 15분간 이상, 더욱 바람직하게는 20분간 이상이다. 가열 시간의 상한은 특별히 제한되지 않지만, 통상, 60분간 이하로 할 수 있다. The heating time in the heat treatment process varies depending on the heating temperature, but is preferably 10 minutes or more, more preferably 15 minutes or more, and even more preferably 20 minutes or more. The upper limit of the heating time is not particularly limited, but it is usually 60 minutes or less.

가열 처리 공정에 있어서의 경화성 수지 조성물층(12)의 가열 처리는, 대기압하(상압하)에서 수행하는 것이 바람직하다. The heating treatment of the curable resin composition layer 12 in the heat treatment step is preferably performed under atmospheric pressure (normal pressure).

가열 처리 공정에 있어서의 경화성 수지 조성물층(12)의 가열 처리는, 제1 지지체(11)가 경화성 수지 조성물층(12)에 부착된 상태로 실시해도 좋고, 제1 지지체(11)를 박리하여 경화성 수지 조성물층(12)을 노출시킨 후에 실시해도 좋다. 적합한 일 실시형태에 있어서는, 경화성 수지 조성물층(12)의 가열 처리는, 제1 지지체(11)가 제1 경화성 수지 조성물층(12)에 부착된 상태로 실시한다. 이것에 의해, 이물 부착의 방지, 경화성 수지 조성물층의 손상 방지라는 점에서 유리해진다. The heat treatment of the curable resin composition layer 12 in the heat treatment step may be performed in a state where the first support body 11 is attached to the curable resin composition layer 12 and the first support body 11 is peeled off Or after the curable resin composition layer 12 is exposed. In a preferred embodiment, the heat treatment of the curable resin composition layer 12 is carried out with the first support 11 adhered to the first curable resin composition layer 12. This is advantageous in terms of prevention of adhesion of foreign matter and prevention of damage to the curable resin composition layer.

가열 처리 공정에 있어서의 경화성 수지 조성물층(12)의 가열 처리를, 제1 지지체(11)가 부착된 상태로 실시하는 경우, 제1 지지체(11)는, 경화성 수지 조성물층(12)을 경화시켜 얻어지는 절연층(경화물)에 도체층(회로 배선)을 설치하는 공정 전에 박리하면 좋으며, 예를 들면, 제1 가열 처리 공정과 후술하는 제2 적층 공정 사이에 박리해도 좋고, 제2 적층 공정과 열경화 공정(후술한다) 사이에 박리해도 좋고, 열경화 공정 후에 박리해도 좋다. 적합한 일 실시형태에 있어서, 제1 지지체(11)는, 열경화 공정 후에 박리한다. 또한, 제1 지지체(11)로서 구리박 등의 금속박을 사용한 경우에는, 후술하는 바와 같이, 이러한 금속박을 사용하여 도체층(회로 배선)을 설치하는 것이 가능하기 때문에, 제1 지지체(11)는 박리하지 않아도 좋다. When the heat treatment of the curable resin composition layer 12 in the heat treatment step is carried out with the first support 11 attached thereto, the first support 11 hardens the curable resin composition layer 12 (Circuit wiring) to the insulating layer (cured product) obtained by the first laminating step, for example, may be peeled off between the first heat treatment step and the second laminating step described later, and the second laminating step And the thermosetting step (to be described later), or may be peeled off after the thermosetting step. In a preferred embodiment, the first support 11 is peeled off after the heat curing step. In the case of using a metal foil such as copper foil as the first supporting member 11, since the conductor layer (circuit wiring) can be provided by using such a metal foil as described later, the first supporting member 11 You do not have to peel off.

적합한 일 실시형태에 있어서, 제1 적층 공정의 가열 처리 공정 사이에, 회로 기판을 상온(실온)으로 냉각시키는 처리를 실시하면 좋다. In a preferred embodiment, the circuit board may be cooled to room temperature (room temperature) during the heat treatment process of the first laminating process.

적합한 일 실시형태에 있어서, 가열 처리 공정을 거침으로써, 경화성 수지 조성물층(12)은, 경화성 수지 조성물층(가열 처리체)(12')이 된다(도 3c를 참조). 또한, 도 3c에서는, 제1 지지체(11)가 부착된 상태로 가열 처리하여 경화성 수지 조성물층(가열 처리체)(12')를 얻는 형태를 도시하고 있다. In a preferred embodiment, the curable resin composition layer 12 becomes a curable resin composition layer (heat treated body) 12 'by performing a heat treatment process (see Fig. 3C). 3C shows a form in which a curable resin composition layer (heat treated body) 12 'is obtained by heat treatment in a state where the first support body 11 is attached.

<(C) 제2 적층 공정(제2 수지 시트의 적층)>&Lt; (C) Second lamination step (lamination of second resin sheet) >

가열 처리 공정 후, 회로 기판의 제2 주면으로부터 가부착 재료(4)를 박리하여, 회로 기판(2)의 제2 주면을 노출시킨다. 그리고, 제2 수지 시트(20)를, 경화성 수지 조성물층(22)이 회로 기판(2)의 제2 주면(도시 하측면)과 접합하도록, 진공 적층한다(도 3d를 참조). 여기서, 제2 수지 시트는 지지체(21)(제2 지지체라고도 한다) 및 당해 지지체와 접합하는 경화성 수지 조성물층(22)(제2 경화성 수지 조성물층이라고도 한다)을 포함한다. 제2 수지 시트로서는, 본 발명의 수지 시트를 사용하는 것이 바람직하다. 제2 지지체나 제2 경화성 수지 조성물층의 구성은 상기의 본 발명의 수지 시트의 지지체 및 경화성 수지 조성물층과 같다. 또한, 제2 수지 시트로서는, 제1 수지 시트와는 상이한 구성의 수지 시트(예를 들면, 상이한 조성의 경화성 수지 조성물층을 복수 구비하는 수지 시트나, 본 발명에 있어서의 소기의 최저 용융 점도 조건, 평균 선열팽창율 조건을 충족시키지 않는 경화성 수지 조성물층을 구비하는 것)를 사용해도 좋다. After the heat treatment process, the adhesive material 4 is peeled off from the second main surface of the circuit board to expose the second main surface of the circuit board 2. The second resin sheet 20 is then vacuum laminated so that the curable resin composition layer 22 is bonded to the second main surface (lower surface side) of the circuit board 2 (see Fig. 3d). Here, the second resin sheet includes a support body 21 (also referred to as a second support body) and a curable resin composition layer 22 (also referred to as a second curable resin composition layer) bonded to the support body. As the second resin sheet, it is preferable to use the resin sheet of the present invention. The constitution of the second support or the second curable resin composition layer is the same as that of the above-mentioned resin sheet of the present invention and the curable resin composition layer. The second resin sheet may be a resin sheet having a different structure from the first resin sheet (for example, a resin sheet having a plurality of layers of curable resin composition layers of different compositions, or a resin sheet having a different minimum melt viscosity condition , And a layer of a curable resin composition which does not satisfy the average linear thermal expansion coefficient) may be used.

가부착 재료(4)의 박리는, 가부착 재료(4)의 종류에 따라, 종래 공지의 방법에 따라 수행하면 좋다. 예를 들면, 가부착 재료(4)로서, 후루카와덴키고교 가부시키가이샤 제조의 UC 시리즈 등의 웨이퍼 다이싱용 UV 테이프를 사용하는 경우, 가부착 재료(4)를 UV 조사한 후, 가부착 재료(4)를 박리할 수 있다. UV 조사량 등의 조건은, 부품 내장 회로판의 제조시에 통상 채용된 공지의 조건이라고 할 수 있다. The peeling of the attachment material 4 may be performed according to a conventionally known method depending on the type of the attachment material 4. [ For example, when a UV tape for wafer dicing such as UC series manufactured by Furukawa Electric Kogyo K.K. is used as the adhesive material 4, the adhesive material 4 is subjected to UV irradiation, and the adhesive material 4 ) Can be peeled off. The conditions such as the amount of UV irradiation and the like can be said to be well-known conditions that are generally employed in manufacturing the component built-in circuit board.

가열 처리 공정을 거침으로써, 캐비티 밀도가 높은 회로 기판이나 두께가 얇은 회로 기판을 사용하는 경우 등에 있어서도, 기판 휘어짐의 발생을 억제할 수 있기 때문에, 가열 처리 공정에서부터 제2 적층 공정까지의 기판 반송에 지장을 초래하지 않고, 원활하게 제2 적층 공정을 실시할 수 있다. 또한, 경화성 수지 조성물층을, 특정한 조건으로 가열 처리하고 있기 때문에, 제2 적층 공정의 진공 적층에 수반되는, 부품의 위치 변화(어긋남)도 억제할 수 있어, 부품의 배치 정밀도가 우수한 부품 내장 회로판을 수율 양호하게 실현할 수 있다. It is possible to suppress the occurrence of substrate warpage even in the case of using a circuit board having a high cavity density or a thin circuit board by carrying out the heat treatment step and hence the substrate transfer from the heat treatment step to the second laminating step It is possible to smoothly perform the second laminating process without causing trouble. Further, since the curable resin composition layer is subjected to the heat treatment under specific conditions, it is possible to suppress the positional shift (displacement) of the component accompanying the vacuum lamination in the second laminating step, Can be satisfactorily realized.

제2 적층 공정에 있어서의 제2 수지 시트(20)의 진공 적층은, 제1 적층 공정에 있어서의 제1 수지 시트(10)의 진공 적층과 같은 방법, 조건을 채용하면 좋다. The vacuum lamination of the second resin sheet 20 in the second lamination step may be performed by the same method and conditions as the vacuum lamination of the first resin sheet 10 in the first lamination step.

적합한 일 실시형태에 있어서, 가열 처리 공정과 제2 적층 공정 사이에, 회로 기판을 상온(실온)으로 냉각시키는 처리를 실시하면 좋다. In a preferred embodiment, a process of cooling the circuit board to room temperature (room temperature) may be performed between the heat treatment step and the second laminating step.

제2 적층 공정에 있어서, 회로 기판(2)의 제2 주면에 제2 경화성 수지 조성물층(22) 및 제2 지지체(21)가 적층된다(도 3e를 참조). In the second laminating step, the second curable resin composition layer 22 and the second support body 21 are laminated on the second main surface of the circuit board 2 (see Fig. 3E).

제2 지지체(21)는, 제2 경화성 수지 조성물층(22)을 경화시켜 얻어지는 절연층에 도체층(회로 배선)을 설치하는 공정 전에 박리하면 좋으며, 예를 들면, 제2 적층 공정과 후술하는 경화 공정 사이에 박리해도 좋고, 경화 공정 후에 박리해도 좋다. 적합한 일 실시형태에 있어서, 제2 지지체(21)는, 경화 공정 후에 박리한다. 또한, 제2 지지체(21)로서 구리박 등의 금속박을 사용한 경우에는, 후술하는 바와 같이, 이러한 금속박을 사용하여 도체층(회로 배선)을 설치하는 것이 가능하기 때문에, 제2 지지체(21)는 박리하지 않아도 좋다. The second support body 21 may be peeled off prior to the step of providing the conductor layer (circuit wiring) on the insulating layer obtained by curing the second curable resin composition layer 22, and for example, It may be peeled off between the hardening step or the hardening step. In a preferred embodiment, the second support 21 is peeled off after the curing process. In the case where a metal foil such as copper foil is used as the second support member 21, since the conductor layer (circuit wiring) can be provided by using such a metal foil as described later, the second support member 21 You do not have to peel off.

<(D) 경화 공정>&Lt; (D) Curing Process >

경화 공정에 있어서, 제1 수지 시트(10)의 경화성 수지 조성물층(12) 및 제2 수지 시트(20)의 제2 경화성 수지 조성물층(22)을 열경화한다. 이것에 의해, 회로 기판(2)의 제1 주면에서는, 경화성 수지 조성물층(가열 처리체)(12')이 절연층(12")(경화물)을 형성하고, 회로 기판(2)의 제2 주면에서는, 제2 경화성 수지 조성물층(22)이 절연층(22")(경화물)을 형성한다(도 3f를 참조). In the curing process, the curable resin composition layer 12 of the first resin sheet 10 and the second curable resin composition layer 22 of the second resin sheet 20 are thermally cured. Thereby, on the first main surface of the circuit board 2, the curable resin composition layer (heat treatment body) 12 'forms the insulating layer 12' '(cured product) On the two main surfaces, the second curable resin composition layer 22 forms the insulating layer 22 "(cured product) (see Fig. 3F).

열경화의 조건은 특별히 한정되지 않으며, 부품 내장 회로판의 절연층을 형성할 때에 통상 채용되는 조건을 사용하면 좋다. The conditions for thermal curing are not particularly limited, and the conditions that are generally employed when forming the insulating layer of the component internal circuit board may be used.

제1 및 제2 수지 시트(10, 20)의 경화성 수지 조성물층(12, 22)의 열경화 조건은, 각 경화성 수지 조성물층에 사용하는 경화성 수지 조성물의 조성 등에 따라서도 상이하지만, 경화 온도는 120℃ 내지 240℃의 범위(바람직하게는 150℃ 내지 210℃의 범위, 보다 바람직하게는 170℃ 내지 190℃의 범위), 경화 시간은 5분간 내지 90분간의 범위(바람직하게는 10분간 내지 75분간, 보다 바람직하게는 15분간 내지 60분간)로 할 수 있다. The heat curing conditions of the curable resin composition layers 12 and 22 of the first and second resin sheets 10 and 20 vary depending on the composition of the curable resin composition used for each curable resin composition layer, (Preferably in the range of 150 to 210 占 폚, more preferably in the range of 170 to 190 占 폚), and the curing time is in the range of 5 to 90 minutes (preferably in the range of 10 to 75 Minute, more preferably 15 minutes to 60 minutes).

열경화시키기 전에, 경화성 수지 조성물층(12) 및 제2 경화성 수지 조성물층(12, 22)을 경화 온도보다도 낮은 온도로 예비 가열해도 좋다. 예를 들면, 열경화에 앞서, 50℃ 이상 120℃ 미만(바람직하게는 60℃ 이상 110℃ 이하, 보다 바람직하게는 70℃ 이상 100℃ 이하)의 온도로, 경화성 수지 조성물층(12, 22)을 5분간 이상(바람직하게는 5분간 내지 150분간, 보다 바람직하게는 15분간 내지 120분간) 예비 가열해도 좋다. 예비 가열을 수행하는 경우, 이러한 예비 가열도 경화 공정에 포함되는 것으로 한다. The curable resin composition layer 12 and the second curable resin composition layers 12 and 22 may be preheated to a temperature lower than the curing temperature before thermosetting. The curable resin composition layers 12 and 22 may be cured at a temperature of 50 占 폚 to 120 占 폚 (preferably 60 占 폚 to 110 占 폚, and more preferably 70 占 폚 to 100 占 폚) May be preheated for 5 minutes or more (preferably 5 minutes to 150 minutes, more preferably 15 minutes to 120 minutes). In the case of performing the preheating, this preheating is also included in the curing process.

경화 공정에 있어서의 각 경화성 수지 조성물층의 열경화는, 대기압하(상압하)에서 수행하는 것이 바람직하다. The thermosetting of the respective curable resin composition layers in the curing step is preferably carried out under atmospheric pressure (atmospheric pressure).

적합한 일 실시형태에 있어서, 제2 적층 공정과 경화 공정 사이에, 회로 기판을 상온(실온)으로 냉각시키는 처리를 실시하면 좋다. In a preferred embodiment, a process of cooling the circuit board to room temperature (room temperature) may be performed between the second laminating step and the curing step.

본 발명에 있어서, 경화성 수지 조성물층(12) 및 제2 경화성 수지 조성물층(22)을 경화시켜 이루어지는 절연층(12", 22")의 25℃에서 150℃까지 사이의 평균 선열팽창율은, 기판 휘어짐을 저감시킨다는 관점에서, 바람직하게는 17ppm/℃ 이하이고, 보다 바람직하게는 15ppm/℃ 이하이다. In the present invention, the average linear thermal expansion coefficient of the insulating layers 12 "and 22" formed by curing the curable resin composition layer 12 and the second curable resin composition layer 22 between 25 ° C and 150 ° C, It is preferably not more than 17 ppm / 占 폚, more preferably not more than 15 ppm / 占 폚, from the viewpoint of reducing warpage.

이상, 가부착 재료를 사용하는 실시형태에 관해서 상세하게 설명했지만, 가부착 재료 대신, 수지 시트를 사용하여 부품 내장 회로판을 제조해도 좋다. 가부착 재료 대신 사용할 수 있는 수지 시트는, 상기의 제2 수지 시트와 같이 하면 좋으며, 본 발명의 수지 시트라도, 다른 수지 시트라도 좋다. 가부착 재료 대신 수지 시트를 사용하는 경우, 가부착 재료의 박리 공정은 불필요하다. Although the embodiment using the attaching material has been described in detail above, the component built-in circuit board may be manufactured by using the resin sheet instead of the attaching material. The resin sheet to be used in place of the attachment material may be the same as the second resin sheet described above, and the resin sheet of the present invention or other resin sheet may be used. In the case where a resin sheet is used in place of the attachment material, the peeling step of the adhesive material is unnecessary.

<기타 공정><Other Processes>

부품 내장 회로판을 제조할 때에는, 또한, 절연층에 구멍을 뚫는 공정(천공 공정), 절연층 표면을 조화 처리하는 공정(조화 공정), 조화된 절연층 표면에 도체층을 형성하는 공정(도체층 형성 공정)을 포함해도 좋다. 이들 공정은, 부품 내장 회로판의 제조에 사용되는, 당업자에게 공지된 각종 방법에 따라 실시하면 좋다. 또한, 각 수지 시트(10, 20)의 지지체(11, 12)를 경화 공정 후에 박리하는 경우, 지지체(11, 21)의 박리는, 경화 공정과 천공 공정 사이, 천공 공정과 조화 공정 사이, 또는 조화 공정과 도체층 형성 공정 사이에 실시하면 좋다. When the component built-in circuit board is manufactured, a step of punching the insulating layer (perforating step), a step of roughening the surface of the insulating layer (roughening step), a step of forming a conductor layer on the surface of the roughened insulating layer Forming process). These processes may be carried out according to various methods known to those skilled in the art, which are used in the manufacture of the component internal circuit board. When the supports 11 and 12 of the respective resin sheets 10 and 20 are peeled off after the curing step, the peeling of the supports 11 and 21 may be performed between the curing step and the punching step, between the punching step and the blending step, It may be carried out between the roughening step and the conductor layer forming step.

천공 공정은, 절연층(12", 22")(경화물)에 구멍을 뚫는 공정이며, 이것에 의해 절연층(12", 22")에 비아홀 등의 홀을 형성할 수 있다. 예를 들면, 드릴, 레이저(탄산가스 레이저, YAG 레이저 등), 플라즈마 등을 사용하여 절연층(12", 22")에 홀을 형성할 수 있다. 부품 내장 회로판에 있어서, 절연층(12", 22")은, 일반적으로, 비아홀에 의해 도통이 수행된다. The piercing step is a step of piercing the insulating layers 12 " and 22 "(cured product), thereby forming holes such as via holes in the insulating layers 12 " and 22 ". For example, holes can be formed in the insulating layers 12 "and 22" by using a drill, a laser (carbon dioxide gas laser, YAG laser or the like), plasma or the like. In the component built-in circuit board, the insulating layers 12 "and 22" are generally conducted by a via hole.

조화 공정은, 절연층(12", 22")을 조화 처리하는 공정이다. 조화 처리의 수순, 조건은 특별히 한정되지 않으며, 부품 내장 회로판의 절연층(12", 22")을 형성할 때에 통상 사용되는 공지의 수순, 조건을 채용할 수 있다. 예를 들면, 절연층(12", 22")의 조화 처리는, 팽윤액에 의한 팽윤 처리, 산화제에 의한 조화 처리, 중화액에 의한 중화 처리를 이 순서로 실시하여 절연층(12", 22")을 조화 처리할 수 있다. 팽윤액으로서는 특별히 한정되지 않지만, 알칼리 용액, 계면 활성제 용액 등을 들 수 있고, 바람직하게는 알칼리 용액이고, 당해 알칼리 용액으로서는, 수산화나트륨 용액, 수산화칼륨 용액이 보다 바람직하다. 시판되고 있는 팽윤액으로서는, 예를 들면, 아토텍재팬(주) 제조의 스웰링·딥·세큐리간스 P, 스웰링·딥·세큐리간스 SBU 등을 들 수 있다. 팽윤액에 의한 팽윤 처리는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 30 내지 90℃의 팽윤액에 절연층(12", 22")을 1분간 내지 20분간 침지함으로써 수행할 수 있다. 절연층(12", 22")의 수지의 팽윤을 적당한 레벨로 억제하는 관점에서, 40 내지 80℃의 팽윤액에 절연층(12", 22")을 5초간 내지 15분간 침지시키는 것이 바람직하다. 산화제로서는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면, 수산화나트륨의 수용액에 과망간산칼륨이나 과망간산나트륨을 용해한 알칼리성 과망간산 용액을 들 수 있다. 알칼리성 과망간산 용액 등의 산화제에 의한 조화 처리는, 60℃ 내지 80℃로 가열한 산화제 용액에 제1 및 제2 절연층을 10분간 내지 30분간 침지시켜 수행하는 것이 바람직하다. 또한, 알칼리성 과망간산 용액에 있어서의 과망간산염의 농도는 5질량% 내지 10질량%가 바람직하다. 시판되고 있는 산화제로서는, 예를 들면, 아토텍재팬(주) 제조의 콘센트레이트·콤팩트 P, 도징솔류션·세큐리간스 P 등의 알칼리성 과망간산 용액을 들 수 있다. 또한, 중화액으로서는, 산성의 수용액이 바람직하며, 시판품으로서는, 예를 들면, 아토텍재팬(주) 제조의 리덕션솔류신·세큐리간트 P를 들 수 있다. 중화액에 의한 처리는, 산화제 용액에 의한 조화 처리가 이루어진 처리면을 30 내지 80℃의 중화액에 5분간 내지 30분간 침지시킴으로써 수행할 수 있다. 작업성 등의 점에서, 산화제 용액에 의한 조화 처리가 이루어진 대상물을, 40 내지 70℃의 중화액에 5분간 내지 20분간 침지하는 방법이 바람직하다. The roughening step is a step of roughening the insulating layers 12 "and 22 ". The procedure and conditions of the harmonic treatment are not particularly limited, and known procedures and conditions that are usually used when forming the insulating layers 12 " and 22 "of the component built-in circuit board can be adopted. For example, the roughening treatment of the insulating layers 12 "and 22" is performed by swelling treatment with a swelling liquid, roughening treatment with an oxidizing agent, and neutralizing treatment with a neutralizing liquid in this order, Quot; can be harmonized. The swelling liquid is not particularly limited, but an alkaline solution, a surfactant solution and the like can be mentioned, and an alkaline solution is preferable, and a sodium hydroxide solution and a potassium hydroxide solution are more preferable as the alkaline solution. Examples of commercially available swelling liquids include Swelling Dip · Sucuregan P, Swelling · Dip · Sucureganus SBU manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., and the like. The swelling treatment by the swelling liquid is not particularly limited, and can be carried out, for example, by immersing the swelling liquid at 30 to 90 DEG C for 1 minute to 20 minutes in the insulating layers 12 ", 22 ". It is preferable to immerse the insulating layers 12 "and 22" in the swollen liquid at 40 to 80 DEG C for 5 seconds to 15 minutes from the viewpoint of suppressing the swelling of the resin of the insulating layers 12 "and 22" . The oxidizing agent is not particularly limited, and for example, an alkaline permanganic acid solution obtained by dissolving potassium permanganate or sodium permanganate in an aqueous solution of sodium hydroxide may be mentioned. The roughening treatment with an oxidizing agent such as an alkaline permanganic acid solution is preferably carried out by immersing the first and second insulating layers in an oxidizing agent solution heated to 60 ° C to 80 ° C for 10 minutes to 30 minutes. The concentration of the permanganate in the alkaline permanganic acid solution is preferably 5% by mass to 10% by mass. Examples of the commercially available oxidizing agent include alkaline permanganic acid solutions such as Concentrate Compact P manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., and Dozing Solution, Sucuregan P, and the like. As the neutralizing solution, an acidic aqueous solution is preferable, and as a commercially available product, for example, Reduction Soluble Sucrine · Sucurentan P manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. may be mentioned. The treatment with the neutralizing liquid can be carried out by immersing the treated surface subjected to the roughening treatment with the oxidizing agent solution in a neutralizing solution at 30 to 80 캜 for 5 minutes to 30 minutes. From the viewpoint of workability and the like, it is preferable to immerse the object subjected to the roughening treatment with the oxidizing agent solution in a neutralizing solution at 40 to 70 캜 for 5 minutes to 20 minutes.

도체층 형성 공정은, 조화된 절연층 표면에 도체층(회로 배선)을 형성하는 공정이다. The conductor layer forming step is a step of forming a conductor layer (circuit wiring) on the surface of the harmonized insulating layer.

도체층에 사용하는 도체 재료는 특별히 한정되지 않는다. 적합한 실시형태에서는, 도체층은, 금, 백금, 팔라듐, 은, 구리, 알루미늄, 코발트, 크롬, 아연, 니켈, 티탄, 텅스텐, 철, 주석 및 인듐으로 이루어지는 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 금속을 함유한다. 도체층은, 단금속층이라도 합금층이라도 좋고, 합금층으로서는, 예를 들면, 상기의 그룹으로부터 선택되는 2종 이상의 금속의 합금(예를 들면, 니켈·크롬 합금, 구리·니켈 합금 및 구리·티탄 합금)으로 형성된 층을 들 수 있다. 이 중에서도, 도체층 형성의 범용성, 코스트, 패터닝의 용이성 등의 관점에서, 크롬, 니켈, 티탄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 또는 구리의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금, 구리·니켈 합금, 구리·티탄 합금의 합금층이 바람직하며, 크롬, 니켈, 티탄, 알루미늄, 아연, 금, 팔라듐, 은 또는 구리의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금의 합금층이 보다 바람직하며, 구리의 단금속층이 더욱 바람직하다. The conductor material used for the conductor layer is not particularly limited. In a preferred embodiment, the conductor layer contains at least one metal selected from the group consisting of gold, platinum, palladium, silver, copper, aluminum, cobalt, chromium, zinc, nickel, titanium, tungsten, do. The conductor layer may be a single metal layer or an alloy layer. Examples of the alloy layer include alloys of two or more metals selected from the above-mentioned group (for example, nickel-chromium alloy, copper-nickel alloy, Alloy). Among them, a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or a nickel-chromium alloy, a copper-nickel alloy And an alloy layer of a copper-titanium alloy is preferable and a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper or an alloy layer of a nickel- chromium alloy is more preferable, Is more preferable.

도체층은, 단층 구조라도, 상이한 종류의 금속 또는 합금으로 이루어지는 단금속층 또는 합금층이 2층 이상 적층된 복층 구조라도 좋다. 도체층이 복층 구조인 경우, 절연층과 접하는 층은, 크롬, 아연 또는 티탄의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금의 합금층인 것이 바람직하다. The conductor layer may have a single-layer structure or a multi-layer structure in which two or more single-metal layers or alloy layers made of different kinds of metals or alloys are stacked. When the conductor layer has a multilayer structure, the layer in contact with the insulating layer is preferably a single metal layer of chromium, zinc or titanium, or an alloy layer of a nickel-chromium alloy.

도체층의 두께는, 원하는 부품 내장 회로판의 디자인에 따라서도 다르지만, 일반적으로 3㎛ 내지 35㎛, 바람직하게는 5㎛ 내지 30㎛이다. The thickness of the conductor layer is generally 3 mu m to 35 mu m, preferably 5 mu m to 30 mu m although it varies depending on the design of the desired component built-in circuit board.

도체층의 형성 방법은, 원하는 패턴을 갖는 도체층(회로 배선)을 형성할 수 있는 한 특별히 한정되지 않는다. 적합한 일 실시형태에 있어서, 도체층은, 도금에 의해 형성할 수 있다. 예를 들면, 세미어디티브법, 풀어디티브법 등의 종래 공지의 기술에 의해 제1 및 제2 절연층의 표면에 도금하여, 원하는 패턴을 갖는 도체층(회로 배선)을 형성할 수 있다. 이하, 도체층을 세미어디티브법에 의해 형성하는 예를 나타낸다. The method of forming the conductor layer is not particularly limited as long as it can form a conductor layer (circuit wiring) having a desired pattern. In a preferred embodiment, the conductor layer can be formed by plating. For example, a conductor layer (circuit wiring) having a desired pattern can be formed by plating the surfaces of the first and second insulating layers by a conventionally well-known technique such as a semi-custom method or a pull-in method. Hereinafter, an example in which the conductor layer is formed by the semi-

우선, 2개의 절연층(12", 22")의 표면에, 무전해 도금에 의해 도금 시드층을 형성한다. 이어서, 형성된 도금 시드층 위에, 원하는 배선 패턴에 대응하여 도금 시드층의 일부를 노출시키는 마스크 패턴을 형성한다. 노출된 도금 시드층 위에, 전해 도금에 의해 금속층을 형성한 후, 마스크 패턴을 제거한다. 그 후, 불필요한 도금 시드층을 에칭 등에 의해 제거하여, 원하는 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있다. First, a plating seed layer is formed on the surfaces of the two insulating layers 12 " and 22 "by electroless plating. Subsequently, a mask pattern is formed on the formed plating seed layer to expose a part of the plating seed layer corresponding to the desired wiring pattern. A metal layer is formed on the exposed plating seed layer by electrolytic plating, and then the mask pattern is removed. Thereafter, an unnecessary plating seed layer is removed by etching or the like to form a conductor layer having a desired pattern.

이들 공정에 의해 비아홀 내에도 도체(비아 배선)가 형성되고, 절연층(12" 및 22")의 표면에 설치된 회로 배선(3)과 회로 기판의 회로 배선이 전기적으로 접속되어, 부품 내장 회로판(100)이 얻어진다(도 3g를 참조). (Via wiring) is formed in the via hole by these steps, and the circuit wiring 3 provided on the surface of the insulating layers 12 "and 22" is electrically connected to the circuit wiring of the circuit board, 100) is obtained (see Fig. 3G).

제1 지지체(11) 및 제2 지지체(21)로서, 구리박 등의 금속박을 사용한 경우에는, 이 금속박을 이용하는 서브트랙티브법 등에 의해, 도체층을 형성해도 좋다. 또한, 구리박을 도금 시드층으로 하여, 전해 도금에 의해 도체층을 형성해도 좋다. When a metal foil such as copper foil is used as the first supporting body 11 and the second supporting body 21, a conductor layer may be formed by a subtractive method using the metal foil. Alternatively, the conductor layer may be formed by electrolytic plating using copper foil as the plating seed layer.

부품 내장 회로판의 제조 방법은 또한, 부품 내장 회로판을 개편화하는 공정을 포함해도 좋다. The manufacturing method of the component built-in circuit board may further include a step of disengaging the component built-in circuit board.

개편화 공정에 있어서는, 예를 들면, 회전날을 구비하는 종래 공지의 다이싱 장치에 의해 절삭하여, 얻어진 구조체를 개개의 부품 내장 회로판 유닛으로 개편화할 수 있다. In the disassembling step, for example, a conventionally known dicing apparatus having a rotary blade is cut, and the obtained structure can be divided into individual component internal circuit board units.

[반도체 장치][Semiconductor device]

본 발명의 반도체 장치는, 본 발명의 배선판(예를 들면 상기 부품 내장 회로판)을 구비한다. The semiconductor device of the present invention includes the wiring board of the present invention (for example, the above-mentioned component internal circuit board).

이러한 반도체 장치로서는, 전기 제품(예를 들면, 컴퓨터, 휴대 전화, 디지털 카메라 및 텔레비젼 등) 및 탈것(예를 들면, 자동이륜차, 자동차, 전차, 선박 및 항공기 등) 등에 제공되는 각종 반도체 장치를 들 수 있다. Examples of such a semiconductor device include various semiconductor devices provided in electric products (such as a computer, a mobile phone, a digital camera and a television) and a vehicle (such as a motorcycle, a car, a train, .

[실시예][Example]

이하, 본 발명을 실시예에 의해 구체적으로 설명하지만, 본 발명은 이들 실시예로 한정되는 것은 아니다. 또한, 이하의 기재에 있어서,「부」및「%」는, 별도 명시가 없는 한, 각각「질량부」및「질량%」를 의미한다. Hereinafter, the present invention will be described concretely with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples. In the following description, &quot; part &quot; and &quot;% &quot; mean &quot; part by mass &quot; and &quot;% by mass &quot;, respectively, unless otherwise specified.

<수지 시트의 제작><Production of Resin Sheet>

이하의 수순에 의해 조제한 수지 바니쉬(경화성 수지 조성물)를 사용하여, 실시예 및 비교예의 수지 시트를 제작하였다. Using the resin varnish (curable resin composition) prepared in the following procedure, resin sheets of Examples and Comparative Examples were prepared.

(무기 충전재의 휴대)(Carrying inorganic filler)

실리카 1 내지 6으로서는, (주)아도마텍스 제조「아도마파인」, 덴키가가쿠고교(주) 제조「SFP 시리즈」, 신닛테츠스미킨마테리알즈(주) 제조「SP(H) 시리즈」, 사카이가가쿠고교(주) 제조「Sciqas 시리즈」, (주)니혼쇼쿠바이 제조「씨호스터 시리즈」를 단독 또는 조합하여 표면 처리를 수행한 후, 이하의 방법에 의해, 입도 분포, 비표면적을 측정하여, 실시예 및 비교예에 사용하였다. As the silica 1 to 6, "ADMAPINE" manufactured by ADOMATEX, "SFP series" manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd., "SP (H) series" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Materials Co., , "Sciqas series" manufactured by Sakai Kagaku Kogyo Co., Ltd., and "Sephaster Series" manufactured by Nihon Shokubai Co., Ltd. were subjected to surface treatment either singly or in combination, and then the particle size distribution and specific surface area Were measured and used in Examples and Comparative Examples.

알루미나로서는, 신닛테츠스미킨마테리알즈(주) 제조「AZ 시리즈」및「AX 시리즈」를 사용하여 표면 처리를 수행한 후, 이하의 방법에 의해, 입도 분포, 비표면적을 측정하여, 실시예 4에 사용하였다. As the alumina, surface treatment was carried out using "AZ series" and "AX series" (manufactured by Shinnitetsu Sumikin Materials Co., Ltd.), and then the particle size distribution and specific surface area were measured by the following method, 4.

(1) 평균 입자 직경의 측정(1) Measurement of average particle diameter

실리카 1 내지 6의 분체 100㎎ 또는 알루미나 분체 100㎎, 분산제(산노프코(주) 제조「SN9228」) 0.1g, 메틸에틸케톤 10g을 바이알병에 칭량하여 담고, 초음파로 20분간 분산하였다. 레이저 회절식 입도 분포 측정 장치((주)시마즈세사쿠쇼 제조 SALD-2200를 사용하여, 회분 셀 방식으로 입도 분포를 측정하고, 평균 입자 직경을 산출하여 표 2에 기재하였다. 100 mg of powder of silica 1 to 6 or 100 mg of alumina powder, 0.1 g of dispersant ("SN9228" manufactured by SANNOK CO., LTD.) And 10 g of methyl ethyl ketone were weighed into a vial bottle and dispersed by ultrasonic wave for 20 minutes. The particle size distribution was measured in a batch cell system using a laser diffraction particle size distribution analyzer (SALD-2200, manufactured by Shimadzu Corporation), and the average particle diameter was calculated.

(2) 비표면적의 측정(2) Measurement of specific surface area

실리카 1 내지 6 및 알루미나의 비표면적을, BET 전자동 비표면적 측정 장치((주)마운텍 제조 Macsorb HM-1210)를 사용하여 측정하고 표 2에 기재하였다. The specific surface area of silica 1 to 6 and alumina was measured using a BET automatic specific surface area measuring apparatus (Macsorb HM-1210 manufactured by Moon Tec Co., Ltd.) and is shown in Table 2.

(3) 진밀도의 측정(3) Measurement of true density

실리카 1 내지 6 및 알루미나의 진밀도를, 마이크로·울트라피크노미터(칸타크롬·인스트루먼트·재팬(동) 제조 MUPY-21T)에 의해 측정하고 표 2에 기재하였다. The true densities of silica 1 to 6 and alumina were measured by a micro-ultra-peak meter (MUPY-21T manufactured by KANTA CHROME · INSTRUMENTS, Japan) and are shown in Table 2.

(수지 바니쉬 1의 조제)(Preparation of resin varnish 1)

비스페놀형 액상 에폭시 수지(신닛테츠스미킨가가쿠(주) 제조「ZX1059」, 에폭시 당량 약 169, 비스페놀 A형과 비스페놀 F형의 1:1 혼합품) 4부, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지(DIC(주) 제조「EXA-7311-G4」, 에폭시 당량 약 213) 10부, 비크실레놀형 에폭시 수지(미쯔비시가가쿠(주) 제조「YX4000HK」, 에폭시 당량 약 185) 6부, 비페닐형 에폭시 수지(니혼가야쿠(주) 제조「NC3000L」, 에폭시 당량 약 272) 10부, 및 난연제(오하치가가쿠고교(주) 제조「PX-200」) 4부를, 솔벤트나프타 20부 및 사이클로헥산온 10부의 혼합 용매에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각시킨 후, 거기에, 트리아진 골격 함유 크레졸노볼락계 경화제(DIC(주) 제조「LA3018-50P」, 수산기 당량 약 151, 고형분 50%의 2-메톡시프로판올 용액) 10부, 트리아진 골격 함유 페놀노볼락계 경화제(DIC(주) 제조「LA-7054」, 수산기 당량 약 125, 고형분 60%의 MEK 용액) 4부, 나프톨계 경화제(신닛테츠스미킨가가쿠(주) 제조「SN-495V」, 수산기 당량 약 231, 고형분 60%의 MEK 용액) 10부, 아민계 경화 촉진제(4-디메틸아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 1부, 아미노실란계 커플링제(신에츠가가쿠고교(주) 제조「KBM573」)로 표면 처리된 구상 실리카 1(평균 입자 직경 1.47㎛, 비표면적 3.07㎡/g, 단위 표면적당 카본량 0.30㎎/㎡) 220부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산시킨 후에, 카트리지 필터(ROKITECHNO사 제조「SHP050」)로 여과하여, 수지 바니쉬 1을 조제하였다. 4 parts of bisphenol type liquid epoxy resin ("ZX1059" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd., epoxy equivalent of about 169, 1: 1 mixture of bisphenol A type and bisphenol F type), 4 parts of naphthylene ether type epoxy resin , 10 parts of epoxy resin ("EXA-7311-G4", epoxy equivalent of about 213), 6 parts of biquilene type epoxy resin ("YX4000HK" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, , 10 parts of a flame retardant (&quot; NC3000L &quot;, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent: about 272) and 4 parts of a flame retardant ("PX-200" manufactured by Ohashi Chemical Industry Co., The solution was heated and dissolved while stirring. After cooling to room temperature, 10 parts of a triazine skeleton-containing cresol novolak curing agent ("LA3018-50P" manufactured by DIC Corporation, hydroxyl group equivalent of about 151, 50% solids content of 2-methoxypropanol solution) , 4 parts of phenol novolak type curing agent containing triazine skeleton ("LA-7054" manufactured by DIC Corporation, hydroxyl group equivalent of about 125, MEK solution of solid content 60%), 4 parts of a naphthol curing agent (manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., 1 part of an amine-based curing accelerator (4-dimethylaminopyridine (DMAP), 5% by mass of a solid content MEK solution), 10 parts of an aminosilane-based coupling agent (SN-495V, a hydroxyl group equivalent of about 231 and a solid content of 60% 220 parts of spherical silica 1 (average particle diameter 1.47 占 퐉, specific surface area 3.07 m2 / g, carbon amount per unit surface area 0.30 mg / m2) surface-treated with a high-speed vulcanizing agent (KBM573, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., After uniformly dispersing in a rotary mixer, the mixture was filtered with a cartridge filter (&quot; SHP050 &quot; manufactured by ROKITECHNO) 1 was prepared.

(수지 바니쉬 2의 조제)(Preparation of resin varnish 2)

글리시딜아민형 액상 에폭시 수지(미쯔비시가가쿠(주) 제조「630LSD」, 에폭시 당량 약 95) 6부, 비크실레놀형 에폭시 수지(미쯔비시가가쿠(주) 제조「YX4000HK」, 에폭시 당량 약 185) 6부, 비스페놀 AF형 에폭시 수지(미쯔비시가가쿠(주) 제조「YL7760」, 에폭시 당량 약 238) 6부, 나프탈렌형 에폭시 수지(신닛테츠스미킨가가쿠(주) 제조「ESN475V」, 에폭시 당량 약 330) 15부, 및 페녹시 수지(미쯔비시가가쿠(주) 제조「YX7553BH30」, 고형분 30질량%의 사이클로헥산온:메틸에틸케톤(MEK)의 1:1 용액) 8부를, 솔벤트나프타 20부 및 사이클로헥산온 5부의 혼합 용매에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각시킨 후, 거기에, 트리아진 골격 함유 크레졸노볼락계 경화제(DIC(주) 제조「LA3018-50P」, 수산기 당량 약 151, 고형분 50%의 2-메톡시프로판올 용액) 12부, 활성 에스테르계 경화제(DIC(주) 제조「EXB-8000L-65M」, 활성기 당량 약 220, 불휘발 성분 65질량%의 MEK 용액) 12부, 아민계 경화 촉진제(4-디메틸아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 1부, 난연제(산코(주) 제조「HCA-HQ」, 10-(2,5-디하이드록시페닐)-10-하이드로-9-옥사-10-포스파페난트렌-10-옥사이드, 평균 입자 직경 2㎛) 2부, 고무 입자(다우·케미칼니혼(주) 제조, EXL2655) 2부, 페닐트리메톡시실란(신에츠가가쿠고교(주) 제조「KBM103」)으로 표면 처리된 구상 실리카 2(평균 입자 직경 1.33㎛, 비표면적 3.38㎡/g, 단위 표면적당 카본량 0.28㎎/㎡) 190부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산시킨 후에, 카트리지 필터(ROKITECHNO사 제조「SHP050」)로 여과하여, 수지 바니쉬 2를 조제하였다. 6 parts of a glycidylamine type liquid epoxy resin ("630LSD" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent weight: about 95), 6 parts of a biscylenol type epoxy resin (YX4000HK manufactured by Mitsubishi Kagaku Co., 6 parts of bisphenol AF type epoxy resin ("YL7760" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent of about 238), 6 parts of naphthalene type epoxy resin ("ESN475V" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd., ) And 15 parts of phenoxy resin ("YX7553BH30" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, 1: 1 solution of cyclohexanone: methyl ethyl ketone (MEK) in a solid content of 30 mass%) were added 20 parts of solvent naphtha, Hexane and 5 parts of hexane in a mixed solvent under heating with stirring. After cooling to room temperature, 12 parts of a triazine skeleton-containing cresol novolac curing agent ("LA3018-50P" manufactured by DIC Corporation, hydroxyl group equivalent of about 151, 50% solids content of 2-methoxypropanol solution) 12 parts of an active ester type curing agent ("EXB-8000L-65M" manufactured by DIC Corporation, active agent equivalent of about 220, and a nonvolatile component of 65 mass% in MEK solution), 12 parts of amine curing accelerator (4-dimethylaminopyridine 1 part of a flame retardant (HCA-HQ manufactured by Sankyo Co., Ltd., 10- (2,5-dihydroxyphenyl) -10-hydro-9-oxa-10-phosphaphenan (2 parts), rubber particles (EXL2655, manufactured by Dow Chemical Co., Ltd.), 2 parts of phenyltrimethoxysilane (KBM103 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) , 190 parts of spherical silica 2 (average particle diameter 1.33 mu m, specific surface area 3.38 m &lt; 2 &gt; / g, carbon amount per unit surface area 0.28 mg / m 2) After that, the mixture was filtered through a cartridge filter (manufactured by ROKITECHNO "SHP050"), to prepare a resin varnish 2.

(수지 바니쉬 3의 조제)(Preparation of resin varnish 3)

비스페놀형 액상 에폭시 수지(신닛테츠스미킨가가쿠(주) 제조「ZX1059」, 에폭시 당량 약 169, 비스페놀 A형과 비스페놀 F형의 1:1 혼합품) 8부, 나프탈렌형 액상 에폭시 수지(DIC(주) 제조「HP4032SS」, 에폭시 당량 약 144) 4부, 나프탈렌형 에폭시 수지(DIC(주) 제조「HP-4710」, 에폭시 당량 약 170) 3부, 비페닐형 에폭시 수지(니혼가야쿠(주) 제조「NC3000L」, 에폭시 당량 약 272) 12부, 및 페녹시 수지(미쯔비시가가쿠(주) 제조「YX7553BH30」, 고형분 30질량%의 사이클로헥산온:메틸에틸케톤(MEK)의 1:1 용액) 5부를, 솔벤트나프타 20부 및 사이클로헥산온 5부의 혼합 용매에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각시킨 후, 거기에, 트리아진 골격 함유 페놀노볼락계 경화제(DIC(주) 제조「LA-7054」, 수산기 당량 약 125, 고형분 60%의 MEK 용액) 8부, 나프톨계 경화제(신닛테츠스미킨가가쿠(주) 제조「SN-485」, 수산기 당량 약 212, 고형분 60%의 MEK 용액) 12부, 이미다졸계 경화 촉진제(시코쿠가세이고교(주) 제조「1B2PZ」1-벤질-2-페닐이미다졸, 고형분 5%의 MEK 용액) 1부, 난연제(산코(주) 제조「HCA-HQ」, 10-(2,5-디하이드록시페닐)-10-하이드로-9-옥사-10-포스파페난트렌-10-옥사이드, 평균 입자 직경 2㎛) 4부, 아미노실란계 커플링제(신에츠가가쿠고교(주) 제조「KBM573」)로 표면 처리된 구상 실리카 3(평균 입자 직경 1.06㎛, 비표면적 3.01㎡/g, 단위 표면적당 카본량 0.31㎎/㎡) 140부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산시킨 후에, 카트리지 필터(ROKITECHNO사 제조「SHP050」)로 여과하여, 수지 바니쉬 3을 조제하였다. , 8 parts of a bisphenol type liquid epoxy resin ("ZX1059" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent weight: about 169, a 1: 1 mixture of bisphenol A type and bisphenol F type), naphthalene type liquid epoxy resin 3 parts of a naphthalene type epoxy resin (HP-4710, manufactured by DIC Corporation, epoxy equivalent weight: about 170), 4 parts of a biphenyl type epoxy resin (Nippon Kayaku Co., (1: 1 solution of phenoxy resin ("YX7553BH30" manufactured by Mitsubishi Chemical Corp., cyclohexanone: methyl ethyl ketone (MEK) having a solid content of 30% by mass) Were dissolved by heating in a mixed solvent of 20 parts of solvent naphtha and 5 parts of cyclohexanone with stirring. After cooling to room temperature, 8 parts of a triazine skeleton-containing phenol novolac curing agent ("LA-7054" manufactured by DIC Corporation, a hydroxyl group equivalent of about 125, and a solid content of 60% 12 parts of an imidazole-based curing accelerator (&quot; 1B2PZ &quot; manufactured by Shinko Chemical Industry Co., Ltd., SN-485, hydroxyl group equivalent of about 212 and a solid content of 60% 1 part of a flame retardant (HCA-HQ manufactured by Sanko Co., Ltd., 10- (2,5-dihydroxyphenyl) -10-hydro-9- (Average particle diameter: 2 mu m), 4 parts of an aminosilane coupling agent (&quot; KBM573 &quot; manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., (Diameter: 1.06 mu m, specific surface area: 3.01 m &lt; 2 &gt; / g, carbon content per unit surface area: 0.31 mg / m 2) were mixed and uniformly dispersed with a high speed rotary mixer. SHP050 &quot;) to prepare a resin varnish 3.

(수지 바니쉬 4의 조제)(Preparation of resin varnish 4)

하기와 같이 제조한 (d) 성분을 50부, 비스페놀형 에폭시 수지(신닛테츠가가쿠(주) 제조「ZX1059」, 비스페놀 A형과 비스페놀 F형의 1:1 혼합품, 에폭시 당량 169) 3부, 비스페놀 AF형 에폭시 수지(미쯔비시가가쿠(주) 제조「YL7760」, 에폭시 당량 약 238) 2부, 및 난연제(산코(주) 제조「HCA-HQ」, 10-(2,5-디하이드록시페닐)-10-하이드로-9-옥사-10-포스파페난트렌-10-옥사이드, 평균 입자 직경 2㎛) 2부를, 솔벤트나프타 15부 및 사이클로헥산온 5부의 혼합 용매에 교반하면서 가열 용해시켰다. 거기에, 활성 에스테르계 경화제(DIC(주) 제조「EXB-8000L-65M」, 활성기 당량 약 220, 불휘발 성분 65질량%의 MEK 용액) 2부, 이미다졸계 경화 촉진제(시코쿠가세이고교(주) 제조「1B2PZ」1-벤질-2-페닐이미다졸, 고형분 5%의 MEK 용액) 1부, 및 페닐아미노실란계 커플링제(신에츠가가쿠고교(주) 제조「KBM573」)로 표면 처리된 구형 알루미나(평균 입자 직경 1.52㎛, 비표면적 1.70㎡/g, 단위 표면적당 카본량 0.11㎎/㎡) 190부를 혼합하여, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산시켜, 카트리지 필터(ROKITECHNO사 제조「SHP050」)로 여과하여, 수지 바니쉬 4를 제작하였다. 50 parts of the component (d) prepared as described below, and 3 parts of a bisphenol-type epoxy resin ("ZX1059" manufactured by Shinnittetsu Kagaku Co., Ltd., a 1: 1 mixture of bisphenol A type and bisphenol F type, epoxy equivalent 169) , 2 parts of a bisphenol AF type epoxy resin ("YL7760" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent of about 238), and 2 parts of a flame retardant ("HCA-HQ", 10- Phenyl) -10-hydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide, average particle diameter 2 mu m) was dissolved by heating in a mixed solvent of 15 parts of solvent naphtha and 5 parts of cyclohexanone with stirring. 2 parts of an active ester type curing agent ("EXB-8000L-65M" manufactured by DIC Corporation, an activating group equivalent of about 220, and a nonvolatile component of 65 mass% of MEK solution), 2 parts of an imidazole type curing accelerator 1 part of 1B2PZ 1-benzyl-2-phenylimidazole, 5% solids in MEK solution) and a phenylamino silane coupling agent (KBM573 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) 190 parts of a spherical alumina (average particle diameter 1.52 μm, specific surface area 1.70 m 2 / g, carbon content 0.11 mg / m 2 per unit surface area) was uniformly dispersed in a high-speed rotary mixer to prepare a cartridge filter ("SHP050" manufactured by ROKITECHNO Co., ) To obtain a resin varnish 4.

[(d) 성분의 제조][Production of component (d)] [

반응 용기에 G-3000(2관능성 하이드록실기 말단 폴리부타디엔, 수 평균 분자량=5047(GPC법), 하이드록실기 당량=1798g/eq., 고형분 100질량%:니혼소다(주) 제조) 50g과, 이프졸 150(방향족 탄화수소계 혼합 용매:이데미츠세키유가가쿠(주) 제조) 23.5g, 디부틸주석라우레이트 0.005g을 혼합하여 균일하게 용해시켰다. 균일해진 시점에서 50℃로 승온시키고, 다시 교반하면서, 톨루엔-2,4-디이소시아네이트(이소시아네이트기 당량=87.08g/eq.) 4.8g을 첨가하여 약 3시간 반응을 수행하였다. 이어서, 이 반응물을 실온까지 냉각시킨 후, 여기에 벤조페논테트라카복실산 2무수물(산무수물 당량=161.1g/eq.) 8.96g과, 트리에틸렌디아민 0.07g과, 에틸디글리콜아세테이트((주)다이셀 제조) 40.4g을 첨가하고, 교반하면서 130℃까지 승온시키고, 약 4시간 반응을 수행하였다. FT-IR로 2250㎝-1의 NCO 피크의 소실을 확인하였다. NCO 피크 소실의 확인으로 반응의 종점으로 간주하고, 반응물을 실온까지 강온(降溫)시킨 후 100메쉬의 여포로 여과하여, 이미드 골격, 우레탄 골격, 부타디엔 골격을 갖는 고분자 수지 A를 얻었다. 50 g of a G-3000 (bifunctional hydroxyl terminated polybutadiene, number average molecular weight = 5047 (GPC method), hydroxyl group equivalent = 1798 g / eq., Solid content: 100% by mass: manufactured by Nippon Soda Co., Ltd.) , 23.5 g of i-PEP 150 (aromatic hydrocarbon-based mixed solvent: manufactured by Idemitsu Sekiyu Kagaku Co., Ltd.) and 0.005 g of dibutyltin laurate were mixed and uniformly dissolved. After the temperature became uniform, the temperature was raised to 50 占 폚, and 4.8 g of toluene-2,4-diisocyanate (isocyanate group equivalent = 87.08 g / eq.) Was added while stirring again to carry out the reaction for about 3 hours. Subsequently, the reaction product was cooled to room temperature, and then 8.96 g of benzophenone tetracarboxylic acid dianhydride (acid anhydride equivalent = 161.1 g / eq.), 0.07 g of triethylenediamine, 0.09 g of ethyldiglycol acetate Cell preparation) was added, the temperature was raised to 130 캜 with stirring, and the reaction was carried out for about 4 hours. The disappearance of the NCO peak at 2250 cm &lt; -1 &gt; was confirmed by FT-IR. The reaction product was cooled to room temperature and filtered through a 100-mesh follicle to obtain a polymer resin A having an imide skeleton, a urethane skeleton and a butadiene skeleton.

점도: 7.5Pa·s(25℃, E형 점도계)Viscosity: 7.5 Pa · s (25 ° C, E type viscometer)

산가: 16.9㎎KOH/gAcid value: 16.9 mg KOH / g

고형분: 50질량%Solid content: 50 mass%

수 평균 분자량: 13723Number average molecular weight: 13723

유리 전이 온도: -10℃Glass transition temperature: -10 ° C

폴리부타디엔 구조 부분의 함유율: 50/(50+4.8+8.96)×100=78.4질량%Content ratio of polybutadiene structural part: 50 / (50 + 4.8 + 8.96) x 100 = 78.4 mass%

(수지 바니쉬 5의 조제)(Preparation of resin varnish 5)

수지 바니쉬 1의 실리카 1, 220부 대신, 실리카 4(평균 입자 직경 1.73㎛, 비표면적 2.71㎡/g, 단위 표면적당 카본량 0.26㎎/㎡) 220부를 사용하고, 카트리지 필터(ROKITECHNO사 제조「SHP100」)로 하는 것 이외에는, 수지 바니쉬 1과 같이 하여 수지 바니쉬 5를 조제하였다. Except that 220 parts of silica 4 (average particle diameter 1.73 mu m, specific surface area 2.71 m &lt; 2 &gt; / g, carbon amount 0.26 mg / m 2 per unit surface area) of resin 1 of the resin varnish 1 was replaced with 220 parts of a cartridge filter (SHP100 &Quot;), a resin varnish 5 was prepared in the same manner as resin varnish 1.

(수지 바니쉬 6의 조제)(Preparation of resin varnish 6)

수지 바니쉬 2의 실리카 2, 190부 대신, 실리카 5(평균 입자 직경 1.11㎛, 비표면적 2.66㎡/g, 단위 표면적당 카본량 0.22㎎/㎡) 190부를 사용하는 것 이외에는, 수지 바니쉬 2와 같이 하여 수지 바니쉬 6을 조제하였다. Except that 190 parts of silica 2 (190 parts) of Resin Varnish 2 was replaced with 190 parts of Silica 5 (average particle diameter of 1.11 mu m, specific surface area of 2.66 m2 / g, carbon amount per unit surface area of 0.22 mg / Resin Varnish 6 was prepared.

(수지 바니쉬 7의 조제)(Preparation of resin varnish 7)

수지 바니쉬 3의 실리카 3, 140부 대신, 실리카 6(평균 입자 직경 0.77㎛, 비표면적 5.76㎡/g, 단위 표면적당 카본량 0.35㎎/㎡) 120부를 사용하는 것 이외에는, 수지 바니쉬 3과 같이 하여 수지 바니쉬 7을 조제하였다. Except that 120 parts of silica 6 (average particle diameter 0.77 占 퐉, specific surface area 5.76 m2 / g, carbon amount per unit surface area 0.35 mg / m2) instead of 140 parts of silica 3 of Resin Varnish 3 was used instead of the resin varnish 3 Resin Varnish 7 was prepared.

(수지 바니쉬 8의 조제)(Preparation of resin varnish 8)

나프탈렌형 에폭시 수지(신닛테츠스미킨가가쿠(주) 제조「ESN475V」, 에폭시 당량 약 330) 10부, 나프탈렌형 에폭시 수지(DIC(주) 제조「HP-4710」, 에폭시 당량 약 170) 5부, 비페닐형 에폭시 수지(니혼가야쿠(주) 제조「NC3000L」, 에폭시 당량 약 272) 12부, 및 페녹시 수지(미쯔비시가가쿠(주) 제조「YX7553BH30」, 고형분 30질량%의 사이클로헥산온:메틸에틸케톤(MEK)의 1:1 용액) 5부를, 솔벤트나프타 20부 및 사이클로헥산온 10부의 혼합 용매에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온으로까지 냉각시킨 후, 거기에, 트리아진 골격 함유 페놀노볼락계 경화제(DIC(주) 제조「LA-7054」, 수산기 당량 약 125, 고형분 60%의 MEK 용액) 8부, 나프톨계 경화제(신닛테츠스미킨가가쿠(주) 제조「SN-485」, 수산기 당량 약 212, 고형분 60%의 MEK 용액) 12부, 이미다졸계 경화 촉진제(시코쿠가세이고교(주) 제조「1B2PZ」1-벤질-2-페닐이미다졸, 고형분 5%의 MEK 용액) 1부, 난연제(산코(주) 제조「HCA-HQ」, 10-(2,5-디하이드록시페닐)-10-하이드로-9-옥사-10-포스파페난트렌-10-옥사이드, 평균 입자 직경 2㎛) 4부, 아미노실란계 커플링제(신에츠가가쿠고교(주) 제조「KBM573」)로 표면 처리된 구상 실리카 3(평균 입자 직경 1.06㎛, 비표면적 3.01㎡/g, 단위 표면적당 카본량 0.31㎎/㎡) 140부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산시킨 후에, 카트리지 필터(ROKITECHNO사 제조「SHP050」)로 여과하여, 수지 바니쉬 8을 조제하였다. , 10 parts of a naphthalene type epoxy resin ("ESN475V" manufactured by Shinnitetsu Sumikin Kagaku Co., Ltd., epoxy equivalent weight: about 330), 5 parts of a naphthalene type epoxy resin (HP-4710 manufactured by DIC Corporation, epoxy equivalent weight: about 170) , 12 parts of biphenyl type epoxy resin ("NC3000L" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent weight: about 272) and 12 parts of phenoxy resin ("YX7553BH30" manufactured by Mitsubishi Kagaku K.K .; cyclohexanone: 5 parts of a 1: 1 solution of methyl ethyl ketone (MEK) were dissolved by heating in a mixed solvent of 20 parts of solvent naphtha and 10 parts of cyclohexanone with heating. After cooling to room temperature, 8 parts of a triazine skeleton-containing phenol novolac curing agent ("LA-7054" manufactured by DIC Corporation, a hydroxyl group equivalent of about 125, and a solid content of 60% 12 parts of an imidazole-based curing accelerator (&quot; 1B2PZ &quot; manufactured by Shinko Chemical Industry Co., Ltd., SN-485, hydroxyl group equivalent of about 212 and a solid content of 60% 1 part of a flame retardant (HCA-HQ manufactured by Sanko Co., Ltd., 10- (2,5-dihydroxyphenyl) -10-hydro-9- (Average particle diameter: 2 mu m), 4 parts of an aminosilane coupling agent (&quot; KBM573 &quot; manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., (Diameter: 1.06 mu m, specific surface area: 3.01 m &lt; 2 &gt; / g, carbon content per unit surface area: 0.31 mg / m 2) were mixed and uniformly dispersed with a high speed rotary mixer. SHP050 &quot;) to prepare resin varnish 8.

각 수지 바니쉬의 제작에 사용한 재료와 그 배합량(불휘발분의 질량부)을 표 1에 기재하였다. (a1) 액상 에폭시 수지와 (c) 무기 충전재에 관해서는, 불휘발 성분 중의 함유량(질량%)도 표 1에 함께 기재하였다. Table 1 shows the materials used in the production of each resin varnish and the blending amount thereof (mass parts of nonvolatile matter). Table 1 also shows the content (mass%) of the liquid epoxy resin (a1) and the inorganic filler (c) in the nonvolatile component.

Figure pat00001
Figure pat00001

(실시예 1 내지 4 및 비교예 1 내지 4: 수지 시트의 제작)(Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 to 4: Production of resin sheet)

지지체로서, 알키드 수지계 이형제(린텍(주) 제조「AL-5」)로 이형 처리한 PET 필름(토레(주) 제조「루미라 T6AM」, 두께 38㎛, 연화점 130℃,「이형 PET」)을 준비하였다. (Lumirra T6AM manufactured by Toray Co., Ltd., thickness 38 탆, softening point 130 캜, "release PET") which had been subjected to release treatment with an alkyd resin releasing agent (AL-5, Prepared.

각 수지 바니쉬를 이형 PET 위에, 건조후의 경화성 수지 조성물층의 두께가 25㎛가 되도록, 다이 코터로 균일하게 도포하고, 80℃에서부터 110℃로 4분간 건조시킴으로써, 이형 PET 위에 경화성 수지 조성물층을 얻었다. 이어서, 경화성 수지 조성물층의 지지체와 접합하고 있지 않은 면에, 보호 필름으로서 폴리프로필렌 필름(오우시에프텍스(주) 제조「알팬 MA-430」, 두께 20㎛)을, 경화성 수지 조성물층과 접합하도록 적층하였다. 이것에 의해, 지지체, 경화성 수지 조성물층, 및 보호 필름의 순으로 이루어지는 수지 시트를 얻었다. Each of the resin varnishes was uniformly coated on the release PET with a die coater so that the thickness of the curable resin composition layer after drying was 25 占 퐉 and dried at 80 占 폚 to 110 占 폚 for 4 minutes to obtain a curable resin composition layer on the release PET . Then, a polypropylene film ("ALPAN MA-430" manufactured by OUFAFEX Co., Ltd., thickness 20 μm) was bonded as a protective film to the surface of the curable resin composition layer not bonded with the support to the curable resin composition layer Respectively. Thus, a resin sheet in the order of a support, a curable resin composition layer, and a protective film was obtained.

(경화성 수지 조성물층의 최저 용융 점도의 측정)(Measurement of Minimum Melting Viscosity of Curable Resin Composition Layer)

(1) 최저 용융 점도의 측정(1) Measurement of the lowest melt viscosity

이형 PET로부터 경화성 수지 조성물층만을 박리하고, 금형으로 압축함으로써 측정용 펠렛(직경 18㎜, 1.2 내지 1.3g)을 제작하였다. Only the curable resin composition layer was peeled off from the release type PET and compressed by a mold to produce measurement pellets (diameter 18 mm, 1.2 to 1.3 g).

측정용 펠렛을 사용하고, 동적 점탄성 측정 장치((주)유·비·엠 제조「Rheosol-G3000」)를 사용하여, 시료 수지 조성물층 1g에 관해서, 직경 18㎜의 패러렐 플레이트를 사용하고, 개시 온도 60℃에서 200℃까지 승온 속도 5℃/분으로 승온시키고, 측정 온도 간격 2.5℃, 진동수 1Hz, 탄성 1deg의 측정 조건으로 동적 점탄성율을 측정하고, 최저 용융 점도(poise)를 산출하여, 표 2에 기재하였다. A 18 mm diameter parallel plate was used for 1 g of the sample resin composition layer using a pellet for measurement and a dynamic viscoelasticity measuring apparatus (&quot; Rheosol-G3000 &quot; The temperature was raised from 60 ° C to 200 ° C at a heating rate of 5 ° C / min. The dynamic viscoelasticity was measured under the measurement conditions of a measurement temperature interval of 2.5 ° C, a frequency of 1Hz and an elasticity of 1deg, and the lowest melt viscosity poise was calculated. 2.

(경화성 수지 조성물층의 경화물(절연층)의 평균 선열팽창율의 측정)(Measurement of the average linear heat expansion coefficient of the cured product (insulating layer) of the curable resin composition layer)

이형 PET 필름(린텍(주) 제조「501010」, 두께 38㎛, 240㎜ 각)의 미처리면이 유리포 기재 에폭시 수지 양면 동장 적층판(마츠시타덴코(주) 제조「R5715ES」, 두께 0.7㎜, 255㎜ 각)에 접하도록, 유리포 기재 에폭시 수지 양면 동장 적층판 위에 설치하고, 당해 이형 PET 필름의 4변을 폴리이미드 접착 테이프(폭 10㎜)로 고정시켰다. The untreated surface of a release PET film ("501010" manufactured by Lintec Corporation, thickness 38 탆, 240 mm square) was laminated on a glass cloth base epoxy resin double-side copper-clad laminate ("R5715ES" manufactured by Matsushita Denko K.K., And the four sides of the release PET film were fixed with a polyimide adhesive tape (width 10 mm).

실시예 및 비교예에서 제작한 각 수지 시트(200㎜ 각)를, 뱃치식 진공 가압 라미네이터((주)니치고·모튼 제조 2스테이지 빌드업 라미네이터 CVP700)를 사용하여, 경화성 수지 조성물층이 이형 PET 필름의 이형면과 접하도록, 중앙에 라미네이트 처리하였다. 라미네이트 처리는, 30초간 감압하여 기압을 13hPa 이하로 한 후, 100℃, 압력 0.74MPa로 30초간 압착시킴으로써 실시하였다. Each resin sheet (200 mm square) produced in the examples and the comparative examples was subjected to heat treatment using a batch type vacuum pressure laminator (CVP700, 2 stage build-up laminator manufactured by Nichigo Morton Co., Ltd.) And laminated at the center so as to contact with the release surface of the film. The lamination treatment was carried out by reducing the pressure for 30 seconds to bring the air pressure to 13 hPa or less, followed by compression at 100 DEG C and a pressure of 0.74 MPa for 30 seconds.

이어서, 100℃의 온도 조건으로, 100℃의 오븐에 투입후 30분간, 이어서 175℃의 온도 조건으로, 175℃의 오븐으로 옮긴 후 30분간, 열경화시켰다. 그 후, 기판을 실온 분위기 하에 취출하여, 수지 시트로부터 이형 PET(지지체)를 박리한 후, 추가로 190℃의 오븐에 투입후 90분간의 경화 조건으로 경화성 수지 조성물층을 열경화시켰다. Subsequently, the mixture was placed in an oven at 100 ° C and then thermally cured in an oven at 175 ° C for 30 minutes and then at 175 ° C for 30 minutes. Thereafter, the substrate was taken out under a room temperature atmosphere, and the releasing PET (support) was peeled from the resin sheet. Thereafter, the substrate was further put into an oven at 190 캜, and the curing resin composition layer was thermally cured under the curing condition for 90 minutes.

열경화후, 폴리이미드 접착 테이프를 박리하고, 경화성 수지 조성물층을 유리포 기재 에폭시 수지 양면 동장 적층판으로부터 떼어 내었다. 또한, 경화성 수지 조성물층이 적층되어 있던 이형 PET 필름(린텍(주) 제조「501010」)을 박리하고, 시트상의 경화물을 얻었다. 얻어진 경화물을, 폭 5㎜, 길이 15㎜의 시험편으로 절단하고, 열기계 분석 장치((주)리가쿠 제조「Thermo Plus TMA8310」)를 사용하여, 인장 가중법으로 열기계 분석을 수행하였다. 상세하게는, 시험편을 상기 열기계 분석 장치에 장착한 후, 하중 1g, 승온 속도 5℃/분의 측정 조건으로 연속하여 2회 측정하였다. 그리고 2회의 측정에 있어서, 30℃에서 150℃까지의 범위에 있어서의 평면 방향의 평균 선열팽창율(ppm/℃)을 산출하여 표 2에 기재하였다. After thermosetting, the polyimide adhesive tape was peeled off and the curable resin composition layer was peeled from the glass cloth substrate epoxy resin double-sided copper-clad laminate. Further, a release PET film ("501010" manufactured by LINTEC CO., LTD.) In which the curable resin composition layer was laminated was peeled off to obtain a sheet-like cured product. The resulting cured product was cut into test pieces each having a width of 5 mm and a length of 15 mm and thermomechanical analysis was carried out by a tensile weighting method using a thermomechanical analyzer ("Thermo Plus TMA8310" manufactured by Rigaku Corporation). Specifically, after the test piece was mounted on the thermomechanical analyzer, the test piece was continuously measured twice under the measurement conditions of a load of 1 g and a temperature raising rate of 5 캜 / minute. In the two measurements, the average linear heat expansion coefficient (ppm / DEG C) in the plane direction in the range from 30 DEG C to 150 DEG C was calculated and is shown in Table 2.

<평가 시험>&Lt; Evaluation test >

1. 부품 매립성의 평가1. Assessment of Part Fillability

실시예 및 비교예에서 작성한 수지 시트를 사용하여, 이하의 수순에 따라 부품 가부착 회로 기판을 제작하고 부품 매립성을 평가하였다. Using the resin sheets prepared in the examples and the comparative examples, a component-adhered circuit board was manufactured in accordance with the following procedures, and the component embeddability was evaluated.

(1) 부품 가부착 회로 기판(캐비티 기판)의 준비(1) Preparation of circuit board (cavity substrate) with components attached

유리포 기재 BT 레진 양면 동장 적층판(구리박의 두께 18㎛, 기판 두께 0.15㎜, 미쯔비시가스가가쿠(주) 제조「HL832NSF LCA」) 255*340㎜ 사이즈의 전면에, 0.7×1.1㎜의 캐비티 및 도체 패턴을 첨부 자료의 디자인으로 형성하였다. 이어서, 양면을 마이크로에칭제(멕(주) 제조「CZ8100」)로 1㎛ 에칭히여 구리 표면의 조화 처리를 수행하고, 추가로 방청 처리(멕(주) 제조「CL8300」)를 가하여, 180℃에서 30분간 건조시켰다. On a front surface of a glass forging substrate BT resin double-sided copper-clad laminate (thickness of copper foil of 18 탆, substrate thickness of 0.15 mm, HL832NSF LCA manufactured by Mitsubishi Gas Kagaku Co., Ltd.) size of 255 x 340 mm, The conductor pattern was formed by the design of the attached data. Subsequently, the both surfaces were subjected to 1 占 퐉 etching with a microetching agent (&quot; CZ8100 &quot;, manufactured by MEC Corporation) to conduct a roughening treatment on the surface of the copper surface. Further, a rustproofing treatment (&quot; CL8300 &quot;Lt; / RTI &gt; for 30 minutes.

(2) 부품 가부착 회로 기판의 제작(2) Fabrication of circuit board with components attached

(1)에서 얻어진 기판의 편면에, 25㎛ 두께의 점착제 부착 폴리이미드 필름(폴리이미드 38㎛ 두께, (주)아리사와세사쿠쇼 제조,「PFDKE-1525TT」)을 뱃치식 진공 가압 라미네이터((주)니치고·모튼 제조 2스테이지 빌드업 라미네이터「CVP700」)를 사용하여, 점착제가 기판과 접합하도록 배치하고, 편면에 적층하였다. 적층은 30초간 감압하여 기압을 13hPa 이하로 한 후, 80℃, 압력 0.74MPa로 30초간 압착시킴으로써 실시하였다. 이어서, 적층 세라믹 콘덴서 부품(1005=1*0.5㎜ 사이즈, 두께 0.14㎜)을 캐비티 내에 1개씩 가부착하고, 부품 가부착 회로 기판(캐비티 기판)을 제작하였다. (Polyimide 38 μm thick, "PFDKE-1525TT", manufactured by ARISAWA SEISAKUSHO Co., Ltd.) having a thickness of 25 μm was laminated on one surface of the substrate obtained in the above (1) using a batch type vacuum laminator Using a two stage build-up laminator &quot; CVP700 &quot; manufactured by Nichigo Morton Co., Ltd.), the pressure-sensitive adhesive was disposed so as to be bonded to the substrate, and laminated on one side. The lamination was carried out by reducing the pressure for 30 seconds to bring the air pressure to 13 hPa or less, followed by compression at 80 DEG C and a pressure of 0.74 MPa for 30 seconds. Subsequently, a multilayer ceramic capacitor component (1005 = 1 * 0.5 mm in size, 0.14 mm in thickness) was attached one by one in the cavity to manufacture a component circuit board (cavity substrate).

(3) 부품 매립성의 평가 시험(3) Evaluation test of the parts filling property

뱃치식 진공 가압 라미네이터((주)니치고·모튼 제조 2스테이지 빌드업 라미네이터「CVP700」)를 사용하여, 실시예 및 비교예에서 제작한 수지 시트로부터 보호 필름을 박리하여 노출시킨 경화성 수지 조성물층과, (2)에서 제작한 부품 가부착 회로 기판(캐비티 기판)의 점착제 부착 폴리이미드 필름 배치면과는 반대측의 면을, 접합하도록 적층하였다. 적층은, 30초간 감압하여 기압을 13hPa 이하로 한 후, 120℃, 압력 0.74MPa로 30초간 압착시킴으로써 실시하였다. 이어서, 적층된 수지 시트를, 대기압하, 120℃, 압력 0.5MPa로 60초간 열프레스하여 평활화하였다. 실온으로까지 냉각시킨 부품 가부착 회로 기판으로부터 점착제 부착 폴리이미드 필름을 박리함으로써 평가용 기판 A를 제작하였다. 평가용 기판 A의 폴리이미드 필름을 박리한 면으로부터, 캐비티 내의 수지 흐름을 광학 현미경(150배)으로 관찰하여(10캐비티), 하기 기준에 의해 부품 매립성을 평가하여, 결과를 표 2에 기재하였다. A protective film was peeled off from the resin sheet produced in Examples and Comparative Examples using a batch-type vacuum laminator (CVP700, 2 stage build-up laminator manufactured by Nichigo Morton Co., Ltd.) And (2) were stacked so that the surface of the mounting circuit board (cavity substrate) opposite to the adhesive-coated polyimide film placement surface was bonded to each other. The lamination was carried out by reducing the pressure for 30 seconds to bring the air pressure to 13 hPa or less, followed by compression at 120 DEG C and a pressure of 0.74 MPa for 30 seconds. Subsequently, the laminated resin sheet was subjected to heat pressing under atmospheric pressure at 120 DEG C and a pressure of 0.5 MPa for 60 seconds to be smoothed. The parts cooled to room temperature were peeled off the adhesive-coated polyimide film from the adhesive circuit board to prepare the evaluation board A for evaluation. From the surface of the evaluation substrate A on which the polyimide film had been peeled off, the resin flow in the cavity was observed with an optical microscope (10 times) (10 cavities), and the parts filling property was evaluated according to the following criteria. Respectively.

○: 모든 캐비티에 있어서, 적층 세라믹 콘덴서 부품의 외주부가 수지로 피복되어 있다. A: In all the cavities, the outer peripheral portion of the multilayer ceramic capacitor component is covered with resin.

×: 캐비티의 1개라도, 보이드가 발생하고 있거나 또는 적층 세라믹 콘덴서 부품의 외주부에 수지가 매립되어 있지 않은 것이 있다. C: Even one of the cavities may be voided or the resin may not be embedded in the outer peripheral portion of the multilayer ceramic capacitor component.

고 판단하였다. .

2. 휘어짐량의 평가2. Evaluation of bending amount

(1) 수지 시트의 경화(1) Curing of resin sheet

1. (3)에서 제작한 평가용 기판 A를, 100℃의 온도 조건으로, 100℃의 오븐에 투입후 30분간 열처리를 수행하여, 실온까지 냉각시킨 후, 점착제 부착 폴리이미드 필름을 박리한 면에, 동일한 수지 시트를 1.(3)과 동일한 조건으로 붙였다. 그 후, 100℃의 온도 조건으로, 100℃의 오븐에 투입후 30분간, 이어서 175℃의 온도 조건으로, 175℃의 오븐으로 옮긴 후 30분간, 열경화하여, 기판의 양면에 절연층을 형성하였다. 그 후, 양면에 절연층을 형성한 기판을 실온 분위기하에 취출하여, 양면의 이형 PET를 박리하고, 또한 190℃에서, 190℃의 오븐에 투입후 90분간의 경화 조건으로 열경화성 수지 조성물층을 열경화시킴으로써 부품 내장 회로판을 제작하고, 평가 기판 B로 하였다. 1. Evaluation substrate A prepared in (3) was put into an oven at 100 ° C. at a temperature of 100 ° C., followed by heat treatment for 30 minutes. After cooling to room temperature, a polyimide film with a pressure- , The same resin sheet was attached under the same conditions as in (3). Thereafter, the substrate was placed in an oven at 100 ° C for 30 minutes, then transferred to an oven at 175 ° C for 30 minutes and then thermally cured for 30 minutes at a temperature of 100 ° C to form an insulating layer on both sides of the substrate Respectively. Thereafter, the substrate on which the insulating layer was formed on both sides was taken out under a room temperature atmosphere, the releasing PET on both sides was peeled off, the thermosetting resin composition layer was heated in an oven at 190 deg. And cured to produce an internal circuit board for an evaluation board.

(2) 휘어짐량의 평가 시험(2) Evaluation test of warping amount

평가 기판 B를 45㎜ 각의 개편으로 잘라 낸 후(n=5), 피크 온도 260℃의 땜납 리플로우 온도를 재현하는 리플로우 장치(니혼안톰(주) 제조「HAS-6116」)에 일회 통과시켰다(리플로우 온도 프로파일은 IPC/JEDEC J-STD-020C에 준거). 이어서, 쉐도우 모아레 장치(Akrometrix사 제조「TherMoire AXP」)를 사용하여, IPC/JEDEC J-STD-020C(피크 온도 260℃)에 준거한 리플로우 온도 프로파일로, 기판 하면(下面)을 가열하여, 기판 중앙의 10㎜ 각 부분의 변위(㎛)를 측정하고, 결과를 표 2에 기재하였다. ("HAS-6116" manufactured by Nihon Anthom Co., Ltd.) which reproduces a solder reflow temperature at a peak temperature of 260 ° C after cutting the evaluation board B into 45-mm pieces (n = 5) (Reflow temperature profile is in accordance with IPC / JEDEC J-STD-020C). Subsequently, the lower surface of the substrate was heated with a reflow temperature profile conforming to IPC / JEDEC J-STD-020C (peak temperature 260 ° C) using a shadow moire apparatus (TherMoire AXP manufactured by Akrometrix) The displacement (탆) of each 10 mm square at the center of the substrate was measured, and the results are shown in Table 2.

표 2에는, 평가 결과와 함께, 실시예 및 비교예의 수지 시트에 있어서의, 각 경화성 수지 조성물층의 형성에 사용한 수지 바니쉬의 종류, 무기 충전재의 종류, 함유량(질량%), 평균 입자 직경(㎛), 비표면적(㎡/g), 진밀도(g/㎤), 진밀도와 비표면적의 곱, 경화성 수지 조성물층의 최저 용융 점도(poise), 절연층의 평균 선열팽창율(ppm/℃)도 함께 기재하였다. Table 2 shows, in addition to the evaluation results, the type of the resin varnish used in the formation of each curable resin composition layer, the kind and content (mass%) of the inorganic filler, the average particle diameter ), The specific surface area (m 2 / g), the true density (g / cm 3), the product of the true density and the specific surface area, the lowest melt viscosity (poise) of the curable resin composition layer and the average linear thermal expansion coefficient Together.

Figure pat00002
Figure pat00002

1…회로 기판
2…기판
2a…캐비티
3…도체층(회로 배선)
4…가부착 재료
5…부품
10…수지 시트(제1 수지 시트)
11…지지체(제1 지지체)
12…경화성 수지 조성물층
12'…경화성 수지 조성물층(가열 처리체)
12"…절연층
20…제2 수지 시트
21…제2 지지체
22…제2 경화성 수지 조성물층
22'…제2 경화성 수지 조성물층(가열 처리체)
22"…절연층
100…배선판(부품 내장 회로판)
One… Circuit board
2… Board
2a ... Cavity
3 ... Conductor layer (circuit wiring)
4… The attachment material
5 ... part
10 ... The resin sheet (first resin sheet)
11 ... The support (first support)
12 ... Curable resin composition layer
12 '... The curable resin composition layer (heat treated product)
12 "... insulation layer
20 ... The second resin sheet
21 ... The second support
22 ... The second curable resin composition layer
22 '... The second curable resin composition layer (heat treated product)
22 "... insulation layer
100 ... Wiring Board (Internal Circuit Board)

Claims (10)

지지체와, 지지체 위에 설치된 경화성 수지 조성물층을 구비하는 수지 시트로서,
경화성 수지 조성물층은, 무기 충전재를 함유하고,
경화성 수지 조성물층 중의 무기 충전재의 함유량은 74질량% 이상이고,
무기 충전재의 평균 입자 직경이 1.6㎛ 이하이고, 무기 충전재의 비표면적[㎡/g]과 진밀도[g/㎤]의 곱이 6 내지 8이고,
경화성 수지 조성물층의 최저 용융 점도가 12000poise 이하인, 수지 시트.
A resin sheet comprising a support and a curable resin composition layer provided on the support,
The curable resin composition layer contains an inorganic filler,
The content of the inorganic filler in the curable resin composition layer is 74 mass% or more,
Wherein the inorganic filler has an average particle diameter of 1.6 占 퐉 or less and a product of a specific surface area [m2 / g] of the inorganic filler and a true density [g / cm3] of 6 to 8,
Wherein a minimum melt viscosity of the curable resin composition layer is 12000 poise or less.
제1항에 있어서, 무기 충전재가 실리카인, 수지 시트. The resin sheet according to claim 1, wherein the inorganic filler is silica. 제1항에 있어서, 경화성 수지 조성물층이, (a) 에폭시 수지를 함유하고,
당해 에폭시 수지가, 액상 에폭시 수지를 함유하고,
경화성 수지 조성물층 중의 액상 에폭시 수지의 함유량이 1질량% 이상인, 수지 시트.
The curable resin composition according to claim 1, wherein the curable resin composition layer comprises (a) an epoxy resin,
Wherein the epoxy resin contains a liquid epoxy resin,
Wherein the content of the liquid epoxy resin in the curable resin composition layer is 1% by mass or more.
제3항에 있어서, (a) 에폭시 수지가, 추가로 고체상 에폭시 수지를 함유하고,
경화성 수지 조성물층 중의 액상 에폭시 수지의 질량(ML)에 대한 고체상 에폭시 수지의 질량(MS)의 비(MS/ML)가, 0.6 내지 10인, 수지 시트.
4. The epoxy resin composition according to claim 3, wherein (a) the epoxy resin further contains a solid epoxy resin,
Wherein the ratio (M S / M L ) of the mass (M S ) of the solid epoxy resin to the mass (M L ) of the liquid epoxy resin in the curable resin composition layer is 0.6 to 10.
제3항에 있어서, (a) 에폭시 수지가, (a') 방향족 구조를 갖는 에폭시 수지인, 수지 시트. The resin sheet according to claim 3, wherein (a) the epoxy resin is (a ') an epoxy resin having an aromatic structure. 제3항에 있어서, 경화성 수지 조성물층이, 추가로, (d) 성분: 유리 전이 온도가 25℃ 이하인 관능기를 갖는 수지, 및 25℃에서 액상인 관능기를 갖는 수지로부터 선택되는 1종 이상의 수지
를 함유하는, 수지 시트.
The curable resin composition according to claim 3, wherein the curable resin composition layer further comprises a component (d): at least one resin selected from a resin having a functional group having a glass transition temperature of 25 占 폚 or lower and a resin having a functional group liquid at 25 占 폚
And a resin sheet.
제6항에 있어서, (d) 성분은, 하이드록실기, 산무수물기, 페놀성 수산기, 에폭시기, 이소시아네이트기 및 우레탄기로부터 선택되는 1종 이상의 관능기를 갖는 동시에,
알킬렌 구조 단위, 알킬렌옥시 구조 단위, 부타디엔 구조 단위, 이소프렌 구조 단위, 이소부틸렌 구조 단위, 클로로프렌 구조 단위, 우레탄 구조 단위, 폴리카보네이트 구조 단위, (메트)아크릴레이트 구조 단위, 및 폴리실록산 구조 단위로부터 선택되는 1 이상의 구조 단위를 갖는, 수지 시트.
The positive resist composition according to claim 6, wherein the component (d) has at least one functional group selected from a hydroxyl group, an acid anhydride group, a phenolic hydroxyl group, an epoxy group, an isocyanate group, and a urethane group,
(Meth) acrylate structural unit, an alkyleneoxy structural unit, a butadiene structural unit, an isoprene structural unit, an isobutylene structural unit, a chloroprene structural unit, a urethane structural unit, a polycarbonate structural unit, And at least one structural unit selected from the following structural units.
제1항에 있어서, 부품 내장 회로판용인 수지 시트. The resin sheet according to claim 1, which is for a component internal circuit board. 제1항 내지 제8항 중의 어느 한 항에 기재된 수지 시트의 경화성 수지 조성물층을 경화시켜 이루어지는 절연층과,
도체층을 구비하는 배선판.
An insulating layer formed by curing the curable resin composition layer of the resin sheet described in any one of claims 1 to 8,
A wiring board comprising a conductive layer.
제9항에 기재된 배선판을 구비하는 반도체 장치.
A semiconductor device comprising the wiring board according to claim 9.
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