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KR102430821B1 - 표시장치 - Google Patents

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KR102430821B1
KR102430821B1 KR1020150172293A KR20150172293A KR102430821B1 KR 102430821 B1 KR102430821 B1 KR 102430821B1 KR 1020150172293 A KR1020150172293 A KR 1020150172293A KR 20150172293 A KR20150172293 A KR 20150172293A KR 102430821 B1 KR102430821 B1 KR 102430821B1
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switch elements
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Abstract

본 발명에 의한 표시장치는 화소 어레이, 스위치 소자 및 검사 배선들을 포함한다. 표시영역은 외곽의 적어도 일부가 곡선구간을 포함하고, 데이터라인이 연결되는 화소들이 배치된다. 스위치 소자는 표시영역 밖의 베젤 영역에 배치되고, 인에이블신호에 응답하여 데이터라인에 테스트전압을 공급한다. 검사 배선들은 검사 패드부와 스위치 소자들을 연결하고, 곡선구간을 따라 계단 형태로 배치된다. 스위치 소자들은 검사 배선들을 따라 배치되되, 스위치 소자들은 서로 수직방향으로 이웃하게 배치되는 제1 및 제2 스위치 소자들을 포함한다.

Description

표시장치{Display Device}
본 발명은 검사용 스위치 소자를 포함하는 표시장치에 관한 것이다.
정보화 기술이 발달함에 따라 사용자와 정보간의 연결 매체인 표시장치의 시장이 커지고 있다. 이에 따라, 액정표시장치(Liquid Crystal Display: LCD), 유기전계발광표시장치(Organic Light Emitting Diode Display: OLED), 전기영동표시장치(Electro Phoretic Display; EPD) 및 플라즈마 디스플레이패널(Plasma Display Panel: PDP) 등과 같은 평편 표시패널을 이용하는 표시장치의 사용이 증가하고 있다.
앞서 설명한 표시장치 중 일부 예컨대, 액정표시장치나 유기전계발광표시장치에는 매트릭스 형태로 배치된 복수의 서브 픽셀을 포함하는 표시패널과 표시패널을 구동하는 구동부가 포함된다. 구동부에는 표시패널에 스캔신호(또는 게이트신호)를 공급하는 스캔 구동부 및 표시패널에 데이터신호를 공급하는 데이터 구동부 등이 포함된다. 위와 같은 표시장치는 전원공급부로부터 출력된 전원과 스캔 구동부 및 데이터 구동부로부터 출력된 스캔신호 및 데이터신호를 기반으로 표시패널이 빛을 발광 또는 투과시키게 됨에 따라 특정 영상을 표시하게 된다.
근래에는 휴대용 표시장치의 사용이 늘어나고 있으며, 특히 손목에 찰 수 있는 웨어러블(wearable) 형태의 표시장치가 증가하고 있다. 웨어러블 표시장치는 표시패널이 원형, 타원형 등의 형상을 갖는 이형 표시패널을 기반으로 구현되기도 한다. 이형 표시패널은 곡선 형태를 갖는 데에 반해서, 트랜지스터 및 신호 배선들은 직선으로 패터닝되기 때문에, 베젤을 효율적으로 줄이기 위해서는 트랜지스터 및 신호 배선들의 어레이 구조를 개선할 필요가 있다.
본 발명은 베젤을 줄일 수 있는 표시장치를 제공하기 위한 것이다.
본 발명에 의한 표시장치는 화소 어레이, 스위치 소자 및 검사 배선들을 포함한다. 표시영역은 외곽의 적어도 일부가 곡선구간을 포함하고, 데이터라인이 연결되는 화소들이 배치된다. 스위치 소자는 표시영역 밖의 베젤 영역에 배치되고, 인에이블신호에 응답하여 데이터라인에 테스트전압을 공급한다. 검사 배선들은 검사 패드부와 스위치 소자들을 연결하고, 곡선구간을 따라 계단 형태로 배치된다. 스위치 소자들은 검사 배선들을 따라 배치되되, 스위치 소자들은 서로 수직방향으로 이웃하게 배치되는 제1 및 제2 스위치 소자들을 포함한다.
본 발명은 점등 스위치 소자들 중에서 일부를 수직으로 배치함으로써, 점등 스위치 소자들이 배치되는 영역의 베젤을 줄일 수 있다.
도 1은 본 발명에 의한 표시장치를 나타내는 도면.
도 2는 도 1에 도시된 화소의 일례를 나타내는 도면.
도 3은 검사부의 어레이 구조를 나타내는 도면.
도 4 및 도 5는 검사부의 형태에 따른 베젤의 변화를 나타내는 도면.
도 6은 검사부 어레이의 실시 예를 나타내는 평면도.
도 7은 도 5에 도시된 검사 스위치 소자의 등가회로도.
도 8은 도 5에 도시된 Ⅰ-Ⅰ'를 따라 취한 절단면을 나타내는 도면.
이하, 첨부한 도면을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시 예를 설명한다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조 번호들은 실질적으로 동일한 구성 요소들을 의미한다. 이하의 설명에서, 본 발명과 관련된 공지 기술 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다. 또한, 이하의 설명에서 사용되는 구성요소 명칭은 명세서 작성의 용이함을 고려하여 선택된 것일 수 있는 것으로서, 실제 제품의 부품 명칭과는 상이할 수 있다.
도 1은 본 발명에 의한 표시장치를 나타내는 도면이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 표시장치는 표시패널(100) 및 구동회로(DIC)를 포함한다. 표시패널(100)은 화소들이 배치되는 화소 어레이 영역(AA) 및 화소 어레이 영역(AA)을 둘러싸는 베젤(BZ)을 포함한다. 구동회로(DIC)는 타이밍 콘트롤러, 데이터 구동부 및 전원 공급부를 포함한다.
표시패널(100)의 화소 어레이 영역(AA)에는 도 2에 도시된 것과 같은 화소(P)들이 형성된다. 각각의 화소(P)들은 서로 직교하는 데이터라인(DL) 및 게이트라인(GL)이 교차하는 영역에 형성된다. 각 화소(P)는 게이트라인(GL)과 데이터라인(DL)에 연결된 스위칭 소자(SW)를 통해 공급된 스캔신호에 응답하여 동작하여, 데이터전압에 대응하는 밝기로 계조 표현을 한다. 화소(P)들의 화소회로(PC) 및 스위칭 소자(SW)는 표시패널의 종류에 따라서 다른 형태로 구현될 수 있다.
구동회로(DIC)는 드라이브 IC에 집적화되어 베젤(BZ)에 합착될 수 있다. 구동회로는 타이밍 콘트롤러, 데이터 구동부 및 전원공급부를 포함할 수 있다. 타이밍 콘트롤러는 디지털 비디오 데이터(RGB)를 입력받고, 수직 동기신호(Vsync), 수평 동기신호(Hsync), 데이터 인에이블 신호(Data Enable, DE), 메인 클럭(CLK) 등의 타이밍 신호를 입력받는다. 타이밍 콘트롤러는 입력 영상의 디지털 데이터를 데이터 구동부로 전송하고, 데이터 구동부와 게이트 구동부(GIP)의 동작 타이밍을 제어한다. 데이터 구동부는 타이밍 콘트롤러로부터 공급된 데이터 타이밍 제어신호에 응답하여 비디오 디지털 데이터를 샘플링하고, 감마 기준전압에 대응하여 비디오 디지털 데이터를 아날로그 데이터전압으로 변환하여 출력한다. 전원 공급부는 표시패널에 공급할 고전위 구동전원(VDD) 및 저전위전원(VSS)을 생성한다. 전원 공급부는 외부로부터 공급된 입력전원을 기반으로 표시패널(100)에 공급할 전원(VDD, VSS)은 물론 게이트 구동부(GIP)에 공급할 게이트하이전압(VGH) 및 게이트로우전압(VGL) 등을 생성하기도 한다.
표시패널(100)의 베젤 영역(BZ)에는 멀티플렉서(MUX), 게이트 구동부(GIP), 검사부(AP) 및 검사 패드(PAD)가 배치된다.
멀티플렉서(MUX)는 구동회로(DIC)와 화소 어레이 영역(AA) 사이에 배치되고, 구동회로(DIC)로부터 제공받는 데이터전압을 다수의 데이터라인(DL)에 분배한다.
게이트 구동부(GIP)는 게이트 타이밍 인에이블 신호를 이용하여 게이트펄스(Gout)를 출력한다. 게이트 구동부는 시프트 레지스터(shift register)를 포함한다. 시프트 레지스터는 종속적으로 접속된 스테이지들을 포함한다. 스테이지들은 스타트 펄스에 응답하여 게이트 펄스를 출력하기 시작하고, 시프트 클럭에 따라 출력을 시프트한다. 스테이지들로부터 순차적으로 출력되는 출력 신호는 게이트 펄스로서 게이트 라인들에 공급된다.
검사부(AP)는 오토 프로브(Auto Probe) 검사 과정에 이용되고, 화소 어레이(AA)에 테스트 전압을 공급하는 스위치 소자들을 포함한다. 오토 프로브(Auto Probe) 검사는 구동회로를 실장하기 이전에 기판에 배치되는 각종 신호배선들의 불량 등을 검사하는 공정이다.
도 3은 본 발명에 의한 검사부(AP)의 어레이 구조를 나타내는 도면이다.
도 3을 참조하면, 검사부(AP)는 스위치 소자(AP Tr) 및 검사 배선(AP_L)들을 포함한다. 검사 배선(AP_L)은 곡선구간을 따라 계단 형태로 배치되고, 스위치 소자(AP Tr)들은 검사 배선(AP_L)을 따라 배치된다.
검사 배선(AP_L)은 도 6에 도시된 것과 같이, 데이터 인입 라인들(TL1~TL3) 및 인에이블 신호 라인들(EnL1~Enl3)을 포함한다. 검사 배선(AP_L)은 화소 어레이 영역(AA)의 곡선 구간을 따라 계단형태로 배치된다.
스위치 소자(AP Tr)들은 검사 배선(AP_L)을 따라 배열된다. 특히, 스위치 소자(AP Tr)들 중에서 일부는 수직방향으로 이웃하게 배치된다. 계단 형태로 배치되면서 수직방향으로 이웃하게 배치되는 스위치 소자(AP Tr)들은 검사부(AP)가 배치되는 영역을 줄일 수 있다. 이를 살펴보면 다음과 같다.
도 4에서와 같이, 검사부(AP)가 수평방향으로 배치되면, 화소 어레이(AA)가 곡선 형태이기 때문에 검사부(AP)의 양 끝단과 화소 어레이(AA) 간의 간격(h2)은 검사부(AP)의 중심과 화소 어레이 영역(AA) 간의 간격(h1)보다 크다. 즉, 도 4와 같은 검사부(AP)의 어레이 구조는 양 끝단에서 불필요하게 베젤이 커진다.
화소 어레이 영역(AA)과 검사부(AP)의 양 끝단 간의 간격을 줄이기 위해서는 도 5에서와 같이 검사부(AP)의 형태를 화소 어레이 영역(AA)의 곡선 형태에 대응되도록 배치하는 것이 유리하다. 검사부(AP)에 포함되는 스위치 소자(AP Tr)들 및 검사 배선(AP_L)의 경계는 직선 형태로 구현되기 때문에, 결국 검사부(AP)의 스위치 소자(AP Tr)들 및 검사 배선(AP_L)들은 도 3에서와 같이 계단 형태로 배치될 수 있다. 검사 배선(AP_L)들이 계단 형태로 배치될 때에는, 검사부(AP)의 양 끝단과 화소 어레이 영역(AA) 간의 간격은 줄일 수 있지만, 도 5에 도시된 검사부(AP)의 수평길이(l2)는 도 4에 도시된 검사부(AP)의 수평길이(l1) 보다 길어진다. 이를 살펴보면 다음과 같다.
검사 배선(AP_L)이 계단 형태로 구현될 때에는 검사 배선(AP_L)은 수평부(HA)와 수직부(VA)를 포함한다. 검사 배선(AP_L)의 수평부(HA)에는 스위치 소자(AP Tr)들이 배치되고, 수직부(VA)는 인접하는 수평부(HA)를 연결하는 라우팅부이다. 결국, 검사 배선(AP_L)들이 계단 형태로 구현될 때에는 도 4에서와 같이 직선 형태로 배치될 때에 대비하여 수직부(VA)가 더 필요로 하다. 그 결과, 도 3에서와 같이, 곡선 형태의 검사부(AP)에서 수평길이는 수직부(VA)의 폭(d)에 해당하는 길이 만큼 늘어난다. 따라서,, 검사부(AP)의 스위치 소자(AP Tr)들의 개수가 동일할지라도, 도 5에 도시된 검사부(AP)의 수평길이(l2)는 도 4에서와 같이 수평으로 배치되는 검사부(AP)의 수평길이(l1)에 대비하여 크게 된다.
이에 반해서, 도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명에 의한 검사부(AP) 는 수평부(HA)에 배치되는 스위치 소자(AP Tr)들 중에서 적어도 한 쌍은 수직으로 이웃하게 배치되기 때문에, 수평부(HA)의 길이를 줄일 수 있다. 따라서, 그 결과 수직부(VA)에서 검사 배선(AP_L)의 폭(d)에 해당하는 길이 만큼 검사부(AP)의 수평길이가 증가한다고 할지라도, 수평부(HA)의 길이가 감소하기 때문에, 전체적인 검사부(AP)의 길이가 증가하는 것을 방지할 수 있다.
도 6은 본 발명의 실시 예에 의한 검사부(AP)의 어레이 구조를 나타내는 평면도이고, 도 7은 도 6에 도시된 스위치 소자들 중에서 수직 방향으로 배치되는 스위치 소자들의 등가 회로도이다.
도 6 및 도 7을 참조하면, 본 발명에 의한 검사부(AP)는 제1 인에이블 신호(En1) 내지 제3 인에이블 신호(En3)에 의해서 각각 동작하는 제1 스위치 소자(T1) 내지 제3 스위치 소자(T9)를 포함한다.
제1 스위치 소자(T1)는 제1 게이트전극(GE1), 제1 드레인전극(DE1) 및 제1 소스전극(SE1)을 포함하고, 제2 스위치 소자(T2)는 제1 게이트전극(GE1), 제1 드레인전극(DE1) 및 제2 소스전극(SE2)을 포함한다. 제3 스위치 소자(T3)는 제2 게이트전극(GE2), 제2 드레인전극(DE2) 및 제1 소스전극(SE1)을 포함하고, 제4 스위치 소자(T4)는 제2 게이트전극(GE2), 제2 드레인전극(DE2) 및 제2 소스전극(SE2)을 포함한다.
제1 스위치 소자(T1) 및 제2 스위치 소자(T2)는 제1 게이트전극(GE1) 및 제1 드레인전극(DE1)을 공유한다. 그리고 제3 스위치 소자(T3) 및 제4 스위치 소자(T4)는 제2 게이트전극(GE2) 및 제2 드레인전극(DE2)을 공유한다. 또한, 제1 스위치 소자(T1) 및 제3 스위치 소자(T3)는 제1 소스전극(SE1)을 공유하고, 제2 스위치 소자(T2) 및 제4 스위치 소자(T4)는 제2 소스전극(SE2)을 공유한다.
제1 소스전극(SE1) 및 제2 소스전극(SE2)은 동일한 수직축에 배치된다. 제1 소스전극(SE1)은 제1 데이터라인(DL1)과 연결되고, 제2 소스전극(SE2)은 제1 링크 패턴(LP1)을 통해서 제5 데이터라인(DL5)과 연결된다. 제1 게이트전극(GE1)은 제1 소스전극(SE1)의 일측에 배치된다. 제1 드레인전극(DE1)은 제1 게이트전극(GE1)을 사이에 두고 제1 소스전극(SE1)과 이웃하게 배치된다. 제2 게이트전극(GE2)은 제1 소스전극(SE1)의 일측에 배치된다. 제2 드레인전극(DE2)은 제2 게이트전극(GE2)을 사이에 두고 제2 소스전극(SE2)과 이웃하게 배치된다.
제1 드레인전극(DE1)은 제1 데이터 인입 라인(TL1)에 연결되고, 제1 게이트전극(GE1)은 제2 인에이블 신호 라인(EnL2)에 연결된다. 그 결과, 제1 스위치 소자(T1) 및 제2 스위치 소자(T2)는 제2 인에이블 신호(En2)에 응답하여 제1 테스트 전압(Tdata1)을 제1 데이터라인(DL1)과 제5 데이터라인(DL5)에 공급한다.
제2 드레인전극(DE2)은 제2 데이터 인입 라인(TL2)에 연결되고, 제2 게이트전극(GE2)은 제1 인에이블 신호 라인(EnL1)에 연결된다. 그 결과, 제3 스위치 소자(T3) 및 제4 스위치 소자(T4)는 제1 인에이블 신호(En1)에 응답하여 제2 테스트 전압(Tdata2)을 제1 데이터라인(DL1)과 제5 데이터라인(DL5)에 공급한다.
제5 스위치 소자(T5)는 제3 게이트전극(GE3), 제3 드레인전극(DE3) 및 제3 소스전극(SE3)을 포함하고, 제6 스위치 소자(T6)는 제3 게이트전극(GE3), 제3 드레인전극(DE3) 및 제4 소스전극(SE4)을 포함한다. 제5 스위치 소자(T5) 및 제6 스위치 소자(T6)는 제3 게이트전극(GE3) 및 제3 드레인전극(DE3)을 공유한다.
제3 소스전극(SE3) 및 제4 소스전극(SE4)은 동일한 수직축에 배치된다. 제3 소스전극(SE3)은 제2 데이터라인(DL2)과 연결되고, 제4 소스전극(SE4)은 제2 링크 패턴(LP2)을 통해서 제6 데이터라인(DL6)과 연결된다. 제3 게이트전극(GE3)은 제3 소스전극(SE3)의 일측에 배치된다. 제3 드레인전극(DE3)은 제3 게이트전극(GE3)을 사이에 두고 제3 소스전극(SE3)과 이웃하게 배치된다.
제3 드레인전극(DE3)은 제3 데이터 인입 라인(TL3)에 연결되고, 제3 게이트전극(GE3)은 제3 인에이블 신호 라인(EnL3)에 연결된다. 그 결과, 제5 스위치 소자(T5) 및 제6 스위치 소자(T6)는 제3 인에이블 신호(En3)에 응답하여 제3 테스트 전압(Tdata3)을 제2 데이터라인(DL2)과 제6 데이터라인(DL6)에 공급한다.
제7 스위치 소자(T7)는 제4 게이트전극(GE4), 제4 드레인전극(DE4) 및 제5 소스전극(SE5)을 포함하고, 제8 스위치 소자(T8)는 제5 게이트전극(GE5), 제5 드레인전극(DE5) 및 제5 소스전극(SE5)을 포함한다. 제7 스위치 소자(T7) 및 제8 스위치 소자(T8)는 제5 소스전극(SE5)을 공유한다,
제5 소스전극(SE5)은 제3 데이터라인(DL3)과 연결된다. 제4 게이트전극(GE4) 및 제5 게이트전극(GE5)은 각각 제5 소스전극(SE5)의 양측에 배치된다. 제4 드레인전극(DE4)은 제4 게이트전극(GE4)을 사이에 두고 제5 소스전극(SE5)과 이웃하게 배치된다. 제5 드레인전극(DE5)은 제4 게이트전극(GE4)을 사이에 두고 제5 소스전극(SE5)과 이웃하게 배치된다.
제4 드레인전극(DE4)은 제1 데이터 인입 라인(TL1)에 연결되고, 제4 게이트전극(GE4)은 제1 인에이블 신호 라인(EnL1)에 연결된다. 제5 드레인전극(DE5)은 제2 데이터 인입 라인(TL2)에 연결되고, 제5 게이트전극(GE5)은 제2 인에이블 신호 라인(EnL2)에 연결된다.
그 결과, 제7 스위치 소자(T7)는 제1 인에이블 신호(EnL1)에 응답하여 제1 테스트 전압(Tdata1)을 제2 데이터라인(DL2)에 공급한다. 제8 스위치 소자(T8)는 제2 인에이블 신호(En2)에 응답하여 제2 테스트 전압(Tdata2)을 제2 데이터라인(DL2)에 공급한다.
제9 스위치 소자(T9)는 제6 게이트전극(GE6), 제6 드레인전극(DE6) 및 제6 소스전극(SE6)을 포함한다. 제6 소스전극(SE6)은 제4 데이터라인(DL4)과 연결된다. 제6 게이트전극(GE6)은 제6 소스전극(SE6)의 일측에 배치된다. 제6 드레인전극(DE6)은 제6 게이트전극(GE6)을 사이에 두고 제6 소스전극(SE6)과 이웃하게 배치된다.
제6 드레인전극(DE6)은 제3 데이터 인입 라인(TL3)에 연결되고, 제6 게이트전극(GE6)은 제3 인에이블 신호 라인(EnL3)에 연결된다. 그 결과, 제9 스위치 소자(T9)는 제3 인에이블 신호(En3)에 응답하여 제3 테스트 전압(Tdata3)을 제4 데이터라인(DL4)에 공급한다.
AP 검사 과정에서 제1 내지 제3 데이터 인입 라인(TL1,TL2,TL3)을 통해서 각 데이터라인(DL)에 제공되는 테스트 전압은 적(R), 녹(G), 청(B)의 삼원색일 수 있다. 예컨대, 제1 테스트 전압(Tdata1)은 적색의 테스트 전압이고, 제2 테스트 전압(Tdata2)은 청색의 테스트 전압이며, 제3 테스트 전압(Tdata3)은 청색의 테스트 전압일 수 있다. 또한, 제1 내지 제3 인에이블 신호(En1,En2,En3)는 시분할로 인가될 수 있다.
도 6의 제2, 제4 및 제6 트랜지스터(T2,T4,T6)과 화소 어레이(AA) 사이에는 스위치 소자들이 배치되기 때문에, 제2 소스전극(SE2) 및 제4 소스전극(SE4)은 데이터라인과 직접 연결될 수 없다. 따라서, 제2 소스전극(SE2) 및 제4 소스전극(SE4)은 각각 제1 링크 패턴(LP1) 및 제2 링크 패턴(LP2)을 통해서 데이터라인과 연결된다. 제1 및 제2 링크 패턴(LP1,LP2)은 과의 쇼트(short) 방지를 위해서 게이트 전극 및 드레인 전극 과는 절연막에 의해서 분리되는 금속층에 패터닝된다.
도 8은 도 6에 도시된 Ⅰ-Ⅰ'를 따라 취한 절단면을 나타내는 도면이다. 도 8을 참조하여, 제1 링크 패턴이 배치된 영역의 단면을 살펴보면 다음과 같다.
이하, 도 6 및 도 8을 중심으로 스위치 소자들의 단면 구조를 살펴보면 다음과 같다. 도 8은 제1 링크 패턴(LP1)이 배치된 영역 만을 도시하고 있지만, 제2 링크 패턴(LP2) 동일한 물질 및 방법을 이용하여 형성될 수 있다.
기판(SUB) 상에는 버퍼층(BUF)이 형성되고, 반도체 활성층(ACT)은 버퍼층(BUF)에 배치된다. 반도체 활성층(ACT)은 각 게이트전극(GE), 소스전극(SE) 및 드레인전극(DE)이 배치될 영역을 덮도록 형성될 수 있다. 게이트 절연막(GI)은 버퍼층(BUF)을 덮도록 형성된다.
게이트 전극(GE)들은 게이트 절연막(GI) 상에 배치된다. 제1 층간 절연막(ILD1)은 게이트 전극(GE)들을 덮도록 형성되고, 제1 층간 절연막(ILD1) 상에는 제1 링크 패턴(LP1)이 배치된다. 제2 층간 절연막(ILD2)은 제1 링크 패턴(LP1)을 덮도록 배치되고, 제2 층간 절연막(ILD2) 상에는 제1 드레인 전극(DE1) 및 제2 소스전극(SE2)이 배치된다. 제2 소스전극(SE2)은 제1 컨택홀(CNT1)을 통해서 제1 링크 패턴(LP1)과 연결된다.
상술한 바와 같이, 본 발명은 검사 배선(AP_L)을 계단형태로 배치하고, 스위치 소자(AP Tr)들 중에서 일부를 수직으로 배치함으로써, 검사부(AP)가 배치되는 영역의 베젤(BZ)을 줄일 수 있다. 도 6 내지 도 8에 도시된 스위치 소자의 어레이 구조는 일 실시 예를 나타내며, 수직으로 이웃한 스위치 소자들의 개수 및 위치는 도면에 도시된 실시 예에 한정되지는 않는다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.

Claims (7)

  1. 외곽의 적어도 일부가 곡선구간을 포함하고, 데이터라인이 연결되는 화소들이 배치되는 표시영역;
    상기 표시영역 밖의 베젤 영역에 배치되고, 인에이블신호에 응답하여 상기 데이터라인에 테스트전압을 공급하는 스위치 소자들;
    상기 베젤 영역에서 상기 스위치들과 이격된 영역에 배치되고, 게이트 라인을 통해 상기 화소들에 게이트 펄스를 공급하는 게이트 구동부; 및
    검사 패드부와 상기 스위치 소자들을 연결하는 검사 배선들을 포함하고,
    상기 검사 배선들은 상기 곡선구간을 따라 수평부와 수직부를 갖는 계단 형태로 배치되고,
    상기 스위치 소자들은 상기 검사 배선들을 따라 배치되고, 상기 수직부와 평행한 방향으로 서로 이웃하게 배치되는 제1 및 제2 스위치 소자들을 포함하며,
    상기 제1 스위치 소자는 제1 데이터 라인에 접속된 제1 소스 전극을 포함하고,
    상기 제1 스위치 소자의 하부에 배치되는 상기 제2 스위치 소자는 제2 데이터 라인에 접속된 제2 소스 전극을 구비하며,
    상기 제1 소스 전극 및 상기 제2 소스 전극은 서로 접속되지 않도록 상기 수직부와 평행한 동일 축 상에 배치되는 표시장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 검사 배선들은 상기 표시영역의 하부에 배치되고,
    상기 스위치 소자들은 상기 표시영역과 상기 검사 배선들 사이에서 상기 검사 배선들의 수직부에 배치되는 표시장치.
  3. 삭제
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 스위치 소자는 상기 제1 및 제2 소스전극의 일측에 배치되는 제1 게이트전극 및 제1 드레인전극을 공유함으로써, 동일한 인에이블 신호에 응답하여 동일한 테스트전압을 각각 제1 데이터라인 및 제2 데이터라인으로 공급하는 표시장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 스위치 소자들은,
    상기 제1 소스전극을 공유하는 제3 스위치 소자를 더 포함하고,
    상기 제3 스위치 소자는 상기 제1 스위치 소자와 다른 테스트 전압을 상기 제1 소스전극을 통해서 상기 제1 데이터라인에 공급하는 표시장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 2 소스전극 및 상기 제2 데이터 라인은 링크 패턴으로 연결되며,
    상기 링크 패턴은 상기 제1 소스전극, 제1 게이트전극 및 제1 드레인전극과 분리되는 금속층에 배치되는 표시장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 링크 패턴은 상기 제1 게이트전극을 덮는 게이트 절연막 상에 배치되고,
    상기 제2 소스전극은 상기 링크 패턴을 덮는 층간 절연막 상에 배치되며,
    상기 링크 패턴 및 상기 제2 소스전극은 상기 층간 절연막을 관통하는 컨택홀을 통해서 접속되는 표시장치.
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