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KR102203639B1 - Method for manufacturing display apparatus and display apparatus - Google Patents

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KR102203639B1
KR102203639B1 KR1020190104403A KR20190104403A KR102203639B1 KR 102203639 B1 KR102203639 B1 KR 102203639B1 KR 1020190104403 A KR1020190104403 A KR 1020190104403A KR 20190104403 A KR20190104403 A KR 20190104403A KR 102203639 B1 KR102203639 B1 KR 102203639B1
Authority
KR
South Korea
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display panel
pixel
carrier substrate
transferred
forming
Prior art date
Application number
KR1020190104403A
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Korean (ko)
Inventor
민재식
이재엽
박재석
조병구
Original Assignee
(주)라이타이저
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Publication date
Application filed by (주)라이타이저 filed Critical (주)라이타이저
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Abstract

The present invention relates to a manufacturing method of a display apparatus and a display apparatus and, more specifically, to a manufacturing method of a display apparatus and a display apparatus manufactured by the same which can selectively transfer multiple RGB pixels formed on a wafer to a display panel quickly and efficiently. According to an embodiment of the present invention, the manufacturing method of a display apparatus comprises: a multiple-RGB pixel forming step of forming multiple RGB pixels on a wafer; a dicing step of dicing the wafer on which the multiple RGB pixels are formed for each of the RGB pixels; a primary transfer step of transferring a pixel CSP array including a plurality of the diced RGB pixels to a carrier substrate; and a secondary transfer step of selectively transferring the pixel CSP array transferred to the carrier substrate to a display panel.

Description

디스플레이 장치의 제조 방법 및 디스플레이 장치{METHOD FOR MANUFACTURING DISPLAY APPARATUS AND DISPLAY APPARATUS}A display device manufacturing method and a display device TECHNICAL FIELD [METHOD FOR MANUFACTURING DISPLAY APPARATUS AND DISPLAY APPARATUS}

본 발명은 디스플레이 장치의 제조 방법 및 디스플레이 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 웨이퍼에서 형성된 다수의 RGB 픽셀을 디스플레이 패널에 신속하고 효율적으로 선택적으로 전사할 수 있는 디스플레이 장치의 제조 방법과 이에 의해 제조된 디스플레이 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a method of manufacturing a display device and a display device, and more particularly, a method of manufacturing a display device capable of selectively transferring a plurality of RGB pixels formed from a wafer to a display panel quickly and efficiently, and It relates to a display device.

발광 다이오드(Light Emitting Diode: LED)는 전류가 인가되면 광을 방출하는 발광 소자 중 하나이다. 발광 다이오드는 저 전압으로 고효율의 광을 방출할 수 있어 에너지 절감 효과가 뛰어나다. 최근, 발광 다이오드의 휘도 문제가 크게 개선되어, 액정표시장치의 백라이트 유닛(Backlight Unit), 전광판, 표시기, 가전 제품 등과 같은 각종 기기에 적용되고 있다.Light Emitting Diode (LED) is one of light emitting devices that emit light when current is applied. Light-emitting diodes can emit high-efficiency light with low voltage, so they have excellent energy saving effects. Recently, the problem of luminance of light emitting diodes has been greatly improved, and thus, it has been applied to various devices such as backlight units of liquid crystal display devices, electric signs, displays, and home appliances.

마이크로 발광 다이오드(μ-LED)의 크기는 1 ~ 100μm 수준으로 매우 작고, 40 인치(inch)의 디스플레이 장치를 구현하기 위해서는 대략 2,500만개 이상의 픽셀이 요구된다. 따라서, 40 인치의 디스플레이 장치를 하나 만드는데 단순한 픽앤플레이스(Pick & Place) 방법으로는 시간적으로 최소 한달이 소요되는 문제가 있다. 기존의 마이크로 발광 다이오드(μ-LED)는 사파이어 기판 상에 다수개로 제작된 후, 기계적 전사(Transfer) 방법인, 픽 앤 플레이스(pick & place)에 의해, 마이크로 발광 다이오드가 하나씩 유리 혹은 유연성 기판 등에 전사된다. 마이크로 발광 다이오드를 하나씩 하나씩 픽업(pick-up)하여 전사하므로, 1:1 픽 앤 플레이스 전사 방법이라고 지칭한다. 그런데, 사파이어 기판 상에 제작된 마이크로 발광 다이오드 칩의 크기는 작고 두께가 얇기 때문에, 마이크로 발광 다이오드 칩을 하나씩 하나씩 전사하는 픽 앤 플레이스 전사 공정 중에 상기 칩이 파손되거나, 전사가 실패하거나, 칩의 얼라인먼트(Alignment)가 실패되거나, 또는 칩의 틸트(Tilt)가 발생되는 등의 문제가 발생되고 있다. 또한, 전사 과정에 필요한 시간이 너무 오래 걸리는 문제가 있다.The size of a micro light emitting diode (μ-LED) is very small, ranging from 1 to 100 μm, and approximately 25 million or more pixels are required to implement a 40-inch display device. Accordingly, there is a problem in that it takes at least one month in time by a simple pick and place method to make one 40-inch display device. Existing micro light-emitting diodes (μ-LEDs) are manufactured in plural on a sapphire substrate, and then, by a mechanical transfer method, pick & place, the micro light-emitting diodes are one by one on a glass or flexible substrate. Is transferred. Since the micro light emitting diodes are picked up one by one and transferred, it is referred to as a 1:1 pick-and-place transfer method. However, since the size of the micro light emitting diode chip manufactured on the sapphire substrate is small and thin, the chip is damaged, the transfer fails, or the chip is aligned during the pick-and-place transfer process of transferring the micro light emitting diode chips one by one. Problems such as (Alignment) failure or chip tilting occur. In addition, there is a problem that the time required for the transfer process takes too long.

본 발명은, 다수의 RGB 픽셀을 신속하게 디스플레이 패널로 선택적으로 전사할 수 있는 디스플레이 장치의 제조 방법을 제공한다.The present invention provides a method of manufacturing a display device capable of selectively transferring a plurality of RGB pixels to a display panel quickly.

또한, 마이크로 LED 기반의 디스플레이 장치를 신속하게 제조할 수 있고, 전사 오류를 최소화할 수 있는 디스플레이 장치의 제조 방법을 제공한다.In addition, it provides a method of manufacturing a display device capable of rapidly manufacturing a micro LED-based display device and minimizing transfer errors.

또한, 다양한 크기와 픽셀간 다양한 피치를 갖는 디스플레이 장치를 제조할 수 있는 디스플레이 장치의 제조 방법을 제공한다.In addition, it provides a method of manufacturing a display device capable of manufacturing a display device having a variety of sizes and pitches between pixels.

또한, 디스플레이 장치의 해상도에 무관하게 한정된 면적 상에 가능한 많은 수의 RGB 픽셀을 구비한 웨이퍼를 이용할 수 있는 디스플레이 장치의 제조 방법을 제공한다.In addition, a method of manufacturing a display device capable of using a wafer including as many RGB pixels as possible on a limited area regardless of the resolution of the display device is provided.

또한, 대면적의 디스플레이 장치를 신속하게 제조할 수 있는 디스플레이 장치의 제조 방법을 제공한다.In addition, a method of manufacturing a display device capable of rapidly manufacturing a large-area display device is provided.

또한, 디스플레이 장치의 제조 방법에 의해 제조된 디스플레이 장치를 제공한다. In addition, there is provided a display device manufactured by a method of manufacturing a display device.

본 발명의 해결하고자 하는 과제는 이상에서 언급한 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problem to be solved of the present invention is not limited to the problems mentioned above, and other problems that are not mentioned can be clearly understood by those of ordinary skill in the technical field to which the present invention belongs from the following description. will be.

실시 형태에 따른 디스플레이 장치의 제조 방법은, 웨이퍼 상에 다수의 RGB 픽셀을 형성하는, 다수의 RGB 픽셀 형성 단계; 상기 다수의 RGB 픽셀이 형성된 상기 웨이퍼를 각각의 상기 RGB 픽셀 별로 다이싱하는, 다이싱 단계; 다이싱된 상기 RGB 픽셀을 다수로 포함하는 픽셀 CSP 어레이를 캐리어 기판으로 전사하는, 1차 전사 단계; 및 상기 캐리어 기판에 전사된 상기 픽셀 CSP 어레이를 디스플레이 패널로 선택적으로 전사하는, 2차 전사 단계;를 포함한다.A method of manufacturing a display device according to an embodiment includes the steps of forming a plurality of RGB pixels on a wafer; Dicing the wafer on which the plurality of RGB pixels are formed for each of the RGB pixels; A first transfer step of transferring a pixel CSP array including a plurality of diced RGB pixels to a carrier substrate; And a second transfer step of selectively transferring the pixel CSP array transferred to the carrier substrate to a display panel.

실시 형태에 따른 디스플레이 장치는 앞서 상술한 디스플레이 장치의 제조 방법에 의해서 제조된 것일 수 있다.The display device according to the embodiment may be manufactured by the method of manufacturing the display device described above.

실시 형태에 따른 디스플레이 장치의 제조 방법을 사용하면, 웨이퍼 상에서 하나의 칩 형태로 되어 있는 다수의 RGB 픽셀을 신속하고 효율적으로 디스플레이 패널로 선택적 전사할 수 있는 이점이 있다. If the method of manufacturing a display device according to the embodiment is used, there is an advantage in that a plurality of RGB pixels in the form of a single chip on a wafer can be selectively transferred to a display panel quickly and efficiently.

또한, 실시 형태에 따른 디스플레이 장치의 제조 방법은 마이크로급의 발광 소자를 하나하나 제어하지 않고, 다수의 발광 소자를 한꺼번에 디스플레이 패널로 신속히 전사할 수 있다. 따라서, 디스플레이 장치의 제조 비용과 시간을 현저히 줄일 수 있는 이점이 있다.In addition, in the method of manufacturing a display device according to the embodiment, a plurality of light emitting devices can be quickly transferred to the display panel without controlling one by one of the micro-class light emitting devices. Therefore, there is an advantage in that manufacturing cost and time of the display device can be significantly reduced.

또한, 실시 형태에 따른 디스플레이 장치의 제조 방법은 정전기적 인력 등의 물리적 힘 혹은 접착력을 제어하는 방법이 아니라 전사 매체들 간의 접착력의 큰 차이를 이용하기 때문에 전사 성공률을 극대화 시킬 수 있는 이점이 있다. In addition, the method of manufacturing the display device according to the embodiment has an advantage of maximizing a transfer success rate because it uses a large difference in adhesion between transfer media, not a method of controlling physical force or adhesion such as electrostatic attraction.

또한, 발광 소자의 발광영역의 크기가 100um 이하 일 경우, 다이싱 등에 의한 에피 손상으로 광효율이 급격히 떨어진다. 반면에 본 발명은 발광 다이오드 칩 단위가 아닌 픽셀 CSP 단위로 전사하기 때문에 광효율이 저하되지 않는 이점이 있다. 좀 더 구체적으로, 다이싱 공정을 진행할 경우, 레이저에 의해 손상이 생길 수 있다. 발광 다이오드의 발광영역(Epi)의 크기에 따라 발광영역에서 손상된 부분이 차지하는 퍼센트(%)가 다르다. 즉, 면적대비 표면둘레의 길이의 비율이 발광영역의 크기가 감소함에 따라 증가한다. 예를 들어, 발광영역의 사이즈가 300x300um 경우, 면적대비 표면비율이 1이라면, 50x50um의 경우 6정도로 6배 크다. 따라서 표면의 결함등의 영향이 최소 6배이상 클 수 있다. 그로 인해 발광효율이 급격하게 떨어진다. 반면, 본 발명은 칩 단위의 다이싱이 아니라 픽셀 단위로 EPI 영역과는 상관없이 외부에서의 다이싱이다. 그래서 픽셀 단위에서 광효율 감소는 거의 없는 장점이 있다.In addition, when the size of the light emitting area of the light emitting device is 100 μm or less, the light efficiency rapidly decreases due to epi damage caused by dicing or the like. On the other hand, the present invention has an advantage that the light efficiency does not deteriorate because the transfer is performed in a pixel CSP unit rather than a light emitting diode chip unit. More specifically, when the dicing process is performed, damage may be caused by the laser. The percentage (%) occupied by the damaged portion of the light emitting area varies according to the size of the light emitting area Epi of the light emitting diode. That is, the ratio of the length of the surface circumference to the area increases as the size of the light emitting area decreases. For example, when the size of the light emitting area is 300x300um, the surface-to-area ratio is 1, and 50x50um is about 6 times larger. Therefore, the influence of defects on the surface can be at least 6 times greater. As a result, the luminous efficiency drops sharply. On the other hand, the present invention is not dicing in units of chips, but dicing in units of pixels, regardless of the EPI area. Therefore, there is an advantage that there is little reduction in light efficiency at the pixel level.

또한, 다양한 크기와 픽셀간 다양한 피치를 갖는 디스플레이 장치를 제조할 수 있는 장점이 있다.In addition, there is an advantage of being able to manufacture a display device having various sizes and various pitches between pixels.

또한, 디스플레이 장치의 해상도에 무관하게 한정된 면적 상에 가능한 많은 수의 RGB 픽셀이 형성된 웨이퍼를 사용하므로, 웨이퍼 제작 비용을 줄일 수 있는 장점이 있다. In addition, since a wafer having as many RGB pixels as possible on a limited area is used regardless of the resolution of the display device, there is an advantage of reducing the wafer manufacturing cost.

또한, 대면적의 디스플레이 장치를 제조할 경우 상기 전사방법을 위치를 변경하며 반복적으로 실행하여 신속하게 제조할 수 있는 이점이 있다.In addition, when manufacturing a large-area display device, there is an advantage in that the transfer method can be rapidly manufactured by changing the position and repeatedly executing the transfer method.

도 1은 본 발명의 실시 형태에 따른 디스플레이 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 2의 (a) 내지 (b)는 도 1에 도시된 110 단계의 하나의 실시 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 3 내지 도 7은 도 1에 도시된 110 단계와 130 단계의 일 실시 예를 설명하기 위한 도면들이다.
도 8은 패드가 확장되지 않은 종래의 일반적인 패드(17r, 17r')를 갖는 픽셀 CSP과 확장된 패드(17R, 17R')를 갖는 픽셀 CSP을 비교하기 위한 일 측 단면도들이다.
도 9는 종래의 일반적인 패드를 갖는 픽셀 CSP 어레이가 웨이퍼(10')에 형성된 것을 도시한 정면도이다.
도 10은 확장된 패드를 갖는 픽셀 CSP 어레이가 웨이퍼(10')에 형성된 것을 도시한 정면도이다.
도 11은 도 1에 도시된 픽셀 CSP 어레이를 캐리어 기판으로 전사하는 단계(150)를 상세하게 설명하기 위한 도면이다.
도 12 내지 도 16은 도 1에 도시된 캐리어 기판에 전사된 픽셀 CSP 어레이를 디스플레이 패널로 전사하는 단계(170)를 상세하게 설명하기 위한 도면들이다.
도 17은 도 16에 도시된 디스플레이 패널(1100)과 다른 디스플레이 패널(1100')에 다른 나머지 픽셀 CSP 어레이가 전사된 것을 보여주는 도면이다.
도 18은 본 발명의 실시 형태에 따른 디스플레이 제조 방법을 이용하여 대면적의 디스플레이 장치를 제조하는 방법을 설명하기 위한 예시적인 도면이다.
도 19는 디스플레이 패널의 전극패드의 영역 이동 전후를 비교하여 나타낸 도면이다.
도 20은 캐리어 기판에 전사된 확장된 패드를 갖는 픽셀 CSP 어레이를 디스플레이 패널로 전사하는 단계를 상세하게 설명하기 위한 도면이다.
1 is a flowchart illustrating a method of manufacturing a display device according to an embodiment of the present invention.
2A to 2B are diagrams for explaining an embodiment of step 110 shown in FIG. 1.
3 to 7 are views for explaining an embodiment of steps 110 and 130 shown in FIG. 1.
8 are cross-sectional views for comparing a pixel CSP having conventional general pads 17r and 17r' in which pads are not expanded and a pixel CSP having extended pads 17R and 17R'.
9 is a front view showing that a pixel CSP array having a conventional general pad is formed on a wafer 10'.
10 is a front view showing that a pixel CSP array with extended pads is formed on a wafer 10'.
FIG. 11 is a diagram for describing in detail the step 150 of transferring the pixel CSP array shown in FIG. 1 to a carrier substrate.
12 to 16 are diagrams for explaining in detail a step 170 of transferring the pixel CSP array transferred to the carrier substrate shown in FIG. 1 to the display panel.
FIG. 17 is a diagram illustrating that the remaining pixel CSP arrays are transferred to a display panel 1100' different from the display panel 1100 shown in FIG. 16.
18 is an exemplary diagram for explaining a method of manufacturing a large-area display device by using the display manufacturing method according to an embodiment of the present invention.
19 is a view showing a comparison before and after movement of an electrode pad of a display panel.
20 is a diagram for explaining in detail a step of transferring a pixel CSP array having an extended pad transferred to a carrier substrate to a display panel.

실시 형태의 설명에 있어서, 각 구성 요소의 "상(위) 또는 하(아래)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, 상(위) 또는 하(아래)는 두 개의 구성 요소들이 서로 직접 접촉되거나 하나 이상의 또 다른 구성 요소가 두 개의 구성 요소들 사이에 배치되어 형성되는 것을 모두 포함한다. 또한, "상(위) 또는 하(아래)"으로 표현되는 경우 하나의 구성 요소를 기준으로 위쪽 방향뿐만 아니라 아래쪽 방향의 의미도 포함할 수 있다.In the description of the embodiment, in the case of being described as being formed on the “top (top) or bottom (bottom)” of each component, the top (top) or bottom (bottom) of the two components directly contact each other Or one or more other components are disposed between the two components. In addition, when expressed as "upper (upper) or lower (lower)", the meaning of not only an upward direction but also a downward direction based on one component may be included.

도면에서 각층의 두께나 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장되거나 생략되거나 또는 개략적으로 도시되었다. 또한 각 구성요소의 크기는 실제크기를 전적으로 반영하는 것은 아니다.In the drawings, the thickness or size of each layer is exaggerated, omitted, or schematically illustrated for convenience and clarity of description. Also, the size of each component does not fully reflect the actual size.

도 1은 본 발명의 실시 형태에 따른 디스플레이 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 순서도이다.1 is a flowchart illustrating a method of manufacturing a display device according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 실시 형태에 따른 디스플레이 장치의 제조 방법은, 웨이퍼 상에 다수의 RGB 픽셀을 형성하는 단계(110), 각 RGB 픽셀 별로 웨이퍼를 다이싱하는 단계(130), 픽셀 CSP 어레이를 캐리어 기판으로 전사하는 단계(150) 및 캐리어 기판에 전사된 픽셀 CSP 어레이를 디스플레이 패널로 선택적으로 전사하는 단계(170)를 포함한다. 110 단계, 130 단계, 150 단계 및 170 단계를 이하에서 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Referring to FIG. 1, a method of manufacturing a display device according to an embodiment of the present invention includes forming a plurality of RGB pixels on a wafer (110), dicing a wafer for each RGB pixel (130), and Transferring the CSP array to the carrier substrate 150 and selectively transferring the pixel CSP array transferred to the carrier substrate to the display panel (170). Steps 110, 130, 150, and 170 will be described in detail below with reference to the accompanying drawings.

도 2의 (a) 내지 (b)는 도 1에 도시된 110 단계의 하나의 실시 예를 설명하기 위한 도면이다. 2A to 2B are diagrams for explaining an embodiment of step 110 shown in FIG. 1.

도 2의 (a)를 참조하면, 하나의 웨이퍼(10) 상에 같은 파장 대역의 광을 방출하는 복수의 발광 소자(11)를 형성한다. 여기서, 발광 소자(11)는 청색의 광을 방출하는 발광 칩일 수 있으나, 이에 한정하는 것은 아니며, 발광 소자(11)는 적색의 광을 방출하는 발광 칩일 수도 있고, 녹색의 광을 방출하는 발광 칩일 수도 있으며, 백색의 광을 방출하는 발광 칩일 수도 있고, 자외선의 광을 방출하는 발광 칩일 수도 있다. Referring to FIG. 2A, a plurality of light-emitting elements 11 that emit light of the same wavelength band are formed on one wafer 10. Here, the light emitting device 11 may be a light emitting chip that emits blue light, but is not limited thereto, and the light emitting device 11 may be a light emitting chip that emits red light or a light emitting chip that emits green light. It may be a light emitting chip that emits white light, or a light emitting chip that emits ultraviolet light.

복수의 발광 소자(11)는 웨이퍼(10) 상에서 복수의 행과 열을 따라 배열될 수 있다. 여기서, 복수의 발광 소자(11)는 적어도 3개가 하나의 그룹을 구성할 수 있다. 하나의 그룹의 크기(가로*세로)는 하나의 픽셀의 크기(가로*세로)에 대응될 수 있다. The plurality of light emitting devices 11 may be arranged along a plurality of rows and columns on the wafer 10. Here, at least three of the plurality of light emitting devices 11 may constitute one group. The size (horizontal*vertical) of one group may correspond to the size (horizontal*vertical) of one pixel.

다음으로, 도 2의 (b)를 참조하면, 도 2의 (a)에서 형성된 하나의 웨이퍼(10) 상의 복수의 발광 소자(11) 중 일부 발광 소자들 상에 색 변환층(15R, 15G)을 형성한다. 예를 들어, 복수의 발광 소자(11)를 구성하는 복수의 그룹 각각에서 가장 왼쪽에 위치한 발광 소자에 제1 색 변환층(15R)을 형성하고, 상기 복수의 그룹 각각에서 중간에 위치한 발광 소자에 제2 색 변환층(15G)을 형성할 수 있다. 여기서, 제1 색 변환층(15R)은 청색광에 응답하여 적색광을 방출하는 적색 변환층일 수 있고, 제2 색 변환층(15G)은 청색광에 응답하여 녹색광을 방출하는 녹색 변환층일 수 있다.Next, referring to FIG. 2(b), color conversion layers 15R and 15G on some of the plurality of light-emitting elements 11 on one wafer 10 formed in FIG. 2(a) To form. For example, a first color conversion layer 15R is formed on the leftmost light emitting device in each of a plurality of groups constituting the plurality of light emitting devices 11, and the light emitting device located in the middle of each of the plurality of groups. A second color conversion layer 15G may be formed. Here, the first color conversion layer 15R may be a red conversion layer that emits red light in response to blue light, and the second color conversion layer 15G may be a green conversion layer that emits green light in response to blue light.

일부 발광 소자 상에 색 변환층(15R, 15G)을 형성함으로써, 도 2의 (b)에 도시된 바와 같이, 하나의 웨이퍼(10) 상에 다수의 RGB 픽셀(100)이 형성될 수 있다. 하나의 웨이퍼(10) 상에 형성된 다수의 RGB 픽셀(100) 각각은, 다양한 색을 방출할 수 있는 장점과 더불어 복수의 발광 소자(11)가 같은 재질로 한꺼번에 에피 성장되어 형성되기 때문에, 각 RGB 픽셀(100)의 수명이 거의 일정하고, 구동 전류가 거의 같기 때문에 제어 방식도 동일한 장점이 있다.By forming the color conversion layers 15R and 15G on some light emitting devices, a plurality of RGB pixels 100 may be formed on one wafer 10 as shown in FIG. 2B. Each of the plurality of RGB pixels 100 formed on one wafer 10 has the advantage of being able to emit various colors, and the plurality of light-emitting elements 11 are formed by epi-growth of the same material at the same time. Since the lifetime of the pixel 100 is almost constant and the driving current is almost the same, the control method has the same advantage.

한편, 하나의 웨이퍼(10) 상에 다수의 RGB 픽셀(100)을 형성한 후, 각 RGB 픽셀(100) 별로 웨이퍼(10)를 다이싱하여 각 RGB 픽셀(100) 별로 분리할 수 있다.Meanwhile, after forming a plurality of RGB pixels 100 on one wafer 10, the wafer 10 may be diced for each RGB pixel 100 to separate each RGB pixel 100.

도 3 내지 도 7은 도 1에 도시된 110 단계와 130 단계의 일 실시 예를 설명하기 위한 도면들이다.3 to 7 are views for explaining an embodiment of steps 110 and 130 shown in FIG. 1.

도 3을 참조하면, 웨이퍼(10')의 일 면 상에 소정의 광을 방출하는 에피(11')를 성장시킨다. 여기서, 웨이퍼(10')는 사파이어(Al2O3) 기판일 수 있다. 성장된 에피(11') 상에 패드(17)를 형성하고, 에피(11')와 패드(17)를 패시베이션(Passivation)하는 보호층(13)을 형성한다. 보호층(13)을 형성할 때, 패드(17)가 보호층(13)의 외부에 노출되도록 형성하는 것이 바람직하다.Referring to FIG. 3, an epitaxial 11' emitting a predetermined light is grown on one surface of a wafer 10'. Here, the wafer 10 ′ may be a sapphire (Al2O3) substrate. A pad 17 is formed on the grown epitaxial 11', and a protective layer 13 for passivating the epit 11' and the pad 17 is formed. When forming the protective layer 13, it is preferable to form the pad 17 to be exposed to the outside of the protective layer 13.

도 3에서 복수의 에피(11'), 예를 들어 3개의 에피(11')를 포함하는 하나의 그룹과 이웃하는 다른 그룹 간의 피치(W Pitch)는, 후술할 도 12에 도시된 디스플레이 패널에 전사될 이웃하는 픽셀 CSP들 사이의 피치(D Pitch)와 아래의 수학식 1에 따른 관계를 가질 수 있다. In FIG. 3, a pitch (W Pitch) between one group including a plurality of epis 11 ′, for example, three epis 11 ′ and another adjacent group, is shown in the display panel shown in FIG. 12 to be described later. A pitch between adjacent pixel CSPs to be transferred may have a relationship according to Equation 1 below.

Figure 112019087445147-pat00001
Figure 112019087445147-pat00001

상기 수학식 1에서, K는 1 이상의 자연수이다.In Equation 1, K is a natural number of 1 or more.

상기 수학식 1에 따르면, K가 1이면 이웃하는 그룹 간의 피치(W Pitch)는, 후술할 디스플레이 패널에 전사될 이웃하는 픽셀 CSP들 사이의 피치(D Pitch)와 동일할 수 있다. K가 1보다 크면, 이웃하는 그룹 간의 피치(W Pitch)는, 후술할 디스플레이 패널에 전사될 이웃하는 픽셀 CSP들 사이의 피치(D Pitch)보다 작을 수 있다. According to Equation 1, if K is 1, the pitch between neighboring groups (W Pitch) may be the same as the pitch (D Pitch) between neighboring pixel CSPs to be transferred to a display panel to be described later. When K is greater than 1, a pitch between neighboring groups (W Pitch) may be smaller than a pitch (D Pitch) between neighboring pixel CSPs to be transferred to a display panel to be described later.

도 3에서, 패드(17)는 종래의 일반적인 패드와 달리 확장된 형태로 제조될 수 있다. 다시 말해, 웨이퍼(10')에 패드(PAD)를 형성하는 공정 시에, 종래의 일반적인 패드의 크기보다 더 큰 크기의 확장된 형태의 패드를 형성할 수 있다. 도 3을 포함한 이하의 도면들에서는 확장된 크기의 패드(17)를 도시하였지만, 이에 한정하는 것은 아니며, 확장된 크기의 패드(17) 대신에 종래의 일반적인 패드로 대체될 수도 있음에 유의해야 한다.In FIG. 3, the pad 17 may be manufactured in an expanded form unlike a conventional general pad. In other words, during the process of forming the pad PAD on the wafer 10 ′, an extended pad having a size larger than that of a conventional pad may be formed. In the following drawings including FIG. 3, the pad 17 having an extended size is illustrated, but it is not limited thereto, and it should be noted that a conventional pad may be substituted for the extended size pad 17. .

도 4를 참조하면, 웨이퍼(10')의 다른 일 면 상에 블로킹 댐(Blocking Dam, 20)을 형성하되, 에피(11') 상에 블로킹 댐(20)이 형성되지 않도록 한다. 따라서, 블로킹 댐(20)에는 색 변환층이 형성될 수 있는 개구부(20h)가 형성될 수 있다. 개구부(20h)의 개수는 에피(11)의 개수에 대응될 수 있다. 여기서, 웨이퍼(10')의 일 부분들을 트렌치하여 웨이퍼(10')에 블로킹 댐(20)이 배치될 공간을 형성하고, 그 위에 블로킹 댐(20)을 형성할 수도 있다.Referring to FIG. 4, a blocking dam 20 is formed on the other side of the wafer 10 ′, but the blocking dam 20 is not formed on the epi 11 ′. Accordingly, an opening 20h through which a color conversion layer may be formed may be formed in the blocking dam 20. The number of openings 20h may correspond to the number of epis 11. Here, a space in which the blocking dam 20 is to be disposed may be formed in the wafer 10 ′ by trenching portions of the wafer 10 ′, and a blocking dam 20 may be formed thereon.

도 5를 참조하면, 블로킹 댐(20)에 형성된 다수의 개구부(20h) 중 적어도 일부에 색 변환층(15R', 15G')을 형성한다. 색 변환층(15R', 15G')은 적색 변환층(15R')과 녹색 변환층(15G')을 포함할 수 있다. 에피(11')에서 방출되는 광은 청색 파장 대역의 광을 방출할 경우, 적색 변환층(15R')은 에피(11')에서 방출되는 청색 파장 대역의 광에 반응하여 적색 파장 대역의 광을 방출할 수 있다. 녹색 변환층(15G')은 에피(11')에서 방출되는 청색 파장 대역의 광에 반응하여 녹색 파장 대역의 광을 방출할 수 있다.Referring to FIG. 5, color conversion layers 15R' and 15G' are formed in at least some of the plurality of openings 20h formed in the blocking dam 20. The color conversion layers 15R' and 15G' may include a red conversion layer 15R' and a green conversion layer 15G'. When the light emitted from the epitaxial 11' emits light in the blue wavelength band, the red conversion layer 15R' reacts to the light in the blue wavelength band emitted from the epitaxial 11' to generate light in the red wavelength band. Can be released. The green conversion layer 15G' may emit light of a green wavelength band in response to light of a blue wavelength band emitted from the epitaxial 11'.

블로킹 댐(20)에 형성된 다수의 개구부(20h) 중 일부 개구부에는 색 변환층이 형성되지 않을 수 있다. 이는 에피(11')에서 방출되는 광을 그대로 이용하기 위함이다. 물론, 에피(11')에서 방출되는 광의 파장 대역이 원하는 파장 대역의 광이 아닌 경우에는, 상기 일부 개구부에도 소정의 색 변환층을 형성할 수도 있다. 예를 들어, 에피(11')가 자외선 광을 방출하는 경우, 적색 변환층, 녹색 변환층 및 청색 변환층이 모든 개구부에 배치될 수 있다.A color conversion layer may not be formed in some of the plurality of openings 20h formed in the blocking dam 20. This is to use the light emitted from the epi (11') as it is. Of course, when the wavelength band of light emitted from the epitaxial 11 ′ is not light of the desired wavelength band, a predetermined color conversion layer may be formed in the partial openings. For example, when the epitaxial 11' emits ultraviolet light, a red conversion layer, a green conversion layer, and a blue conversion layer may be disposed in all openings.

도 6을 참조하면, 블로킹 댐(20) 상에 인캡슐레이션 층(19)를 형성한다. 인캡슐레이션 층(19)은 봉지되는 색 변환층(15R', 15G')을 외부로부터 보호하는 역할을 할 수 있다. 여기서, 다수의 개구부(20h) 중 색 변환층이 형성되지 않은 일부 개구부에 인캡슐레이션 층(19)이 형성될 수 있다.Referring to FIG. 6, an encapsulation layer 19 is formed on the blocking dam 20. The encapsulation layer 19 may serve to protect the encapsulated color conversion layers 15R' and 15G' from the outside. Here, the encapsulation layer 19 may be formed in some of the plurality of openings 20h in which the color conversion layer is not formed.

도 7을 참조하면, 도 3 내지 도 6에 도시된 바와 같이, 웨이퍼(10')에 에피(11'), 색 변환층(15R', 15G') 및 인캡슐레이션 층(19)이 형성된 것을 각 RGB 픽셀(100') 별로 다이싱하여 다수의 RGB 픽셀(100')을 형성한다. 여기서, 각 RGB 픽셀(100') 별로 다이싱하는 공정은 여러 방식이 있겠지만, 예시적으로 레이저를 이용하여 다이싱을 수행할 수 있다.Referring to FIG. 7, as shown in FIGS. 3 to 6, the epitaxial 11', the color conversion layers 15R' and 15G', and the encapsulation layer 19 are formed on the wafer 10'. Each RGB pixel 100' is diced to form a plurality of RGB pixels 100'. Here, there may be several methods of dicing for each RGB pixel 100 ′, but dicing may be performed using a laser as an example.

이하의 도면들에서 하나의 RGB 픽셀(100')은 도 7에서 형성된 RGB 픽셀(100')로 도시되어 있으나, 이에 한정하는 것은 아니며, 도 2에서 다이싱된 하나의 RGB 픽셀(100)일 수도 있다. In the following drawings, one RGB pixel 100 ′ is illustrated as the RGB pixel 100 ′ formed in FIG. 7, but is not limited thereto, and may be a single RGB pixel 100 diced in FIG. 2. have.

하나의 RGB 픽셀(100')은 와이어가 불필요한 플립 칩 구조를 가질 수 있다. 와이어 대신에 패드(17)로 전기적 연결이 가능하다. 하나의 RGB 픽셀(100')은 패드(17)를 통한 외부 제어신호에 따라 다양한 색상의 광을 방출할 수도 있다. One RGB pixel 100' may have a flip chip structure that does not require a wire. Electrical connection is possible with pads 17 instead of wires. One RGB pixel 100 ′ may emit light of various colors according to an external control signal through the pad 17.

하나의 RGB 픽셀(100')은 CSP(Chip Scale Package)일 수 있다. CSP(Chip Scale Package)는 칩 크기에 가까운 소형 패키지를 총칭하는 것으로서, 칩 외형을 보호하는 리드프레임과 전기적 연결을 위한 와이어가 존재하지 않는 베어 칩에 가까운 크기의 패키지이다.One RGB pixel 100 ′ may be a Chip Scale Package (CSP). CSP (Chip Scale Package) is a generic term for a small package close to the size of a chip, and is a package having a size close to a bare chip without a lead frame protecting the outer shape of the chip and a wire for electrical connection.

하나의 RGB 픽셀(100')은 하나의 픽셀 CSP에 포함될 수 있다. 하나의 픽셀 CSP는 후술할 디스플레이 패널에서 다양한 색상을 방출하는 하나의 픽셀로 기능할 수 있다. 하나의 RGB 픽셀(100')을 복수로 행과 열 방향으로 캐리어 기판에 나열됨으로써 픽셀 CSP 어레이가 형성될 수 있고, 캐리어 기판에 배열된 픽셀 CSP 어레이가 후술할 디스플레이 패널로 선택적으로 전사될 수 있다.One RGB pixel 100' may be included in one pixel CSP. One pixel CSP may function as one pixel that emits various colors in a display panel to be described later. A pixel CSP array may be formed by arranging a plurality of RGB pixels 100 ′ on a carrier substrate in a row and column direction, and a pixel CSP array arranged on the carrier substrate may be selectively transferred to a display panel to be described later. .

하나의 RGB 픽셀(100')에 있어서, 다수의 패드(17)는 하나의 RGB 픽셀(100')에 포함된 발광부의 개수에 따라 달라질 수 있는데, 예를 들어, 하나의 RGB 픽셀(100')에 포함된 발광부의 개수가 3개이면, 각 발광부 당 2개의 패드가 요구되므로, 총 6개의 패드가 형성될 수 있거나 (+)전극이 공통전극일 경우 총 4개의 패드가 형성될 수 있다.In one RGB pixel 100', the plurality of pads 17 may vary depending on the number of light emitting units included in one RGB pixel 100'. For example, one RGB pixel 100' If the number of light-emitting units included in is three, since two pads are required for each light-emitting unit, a total of six pads may be formed, or if the (+) electrode is a common electrode, a total of four pads may be formed.

도 8은 패드가 확장되지 않은 종래의 일반적인 패드(17r, 17r')를 갖는 픽셀 CSP과 확장된 패드(17R, 17R')를 갖는 픽셀 CSP을 비교하기 위한 일 측 단면도들이고, 도 9는 종래의 일반적인 패드를 갖는 픽셀 CSP 어레이가 웨이퍼(10')에 형성된 것을 도시한 정면도이고, 도 10은 확장된 패드를 갖는 픽셀 CSP 어레이가 웨이퍼(10')에 형성된 것을 도시한 정면도이다.8 is a side cross-sectional view for comparing a pixel CSP having a conventional general pad 17r, 17r' in which the pad is not extended and a pixel CSP having extended pads 17R, 17R', and FIG. 9 is a conventional It is a front view showing that a pixel CSP array having a general pad is formed on the wafer 10', and FIG. 10 is a front view showing that a pixel CSP array having an extended pad is formed on the wafer 10'.

도 8의 (a)와 (b) 및 도 9와 도 10을 비교하면, 웨이퍼 제조 공정에서 확장된 패드(17R, 17R')는 하나의 픽셀 CSP(100') 영역 내에서 사용되지 않은 기존의 잉여 영역을 활용하여 RGB 픽셀을 염두해 두고 확장된 형태로 설계되어 기존 칩의 패드(17r, 17r') 비하여 확대되어 그 단면적이 넓혀진 형태를 가질 수 있다. 특히, 마이크로 단위의 LED 칩의 경우 그 픽셀단위가 30㎛ * 30㎛ 내지 100㎛ * 100㎛이므로(도 12와 도 13에서는 50㎛ * 50㎛) 패드의 폭이나 길이 또한 매우 미세하고, 이들을 디스플레이 패널의 기판으로 표면실장 공정 시 전기적 open 등이 발생하여 불량률이 매우 높다. 반면에, 디스플레이 패널 위에 패드 확장이 가능한 픽셀 CSP 단위로 표면실장 공정을 진행함으로써, 수십 um영역의 마이크로 LED 전기적 연결 공정을 수백 um영역의 픽셀 CSP 전기적 연결 공정으로 스케일 업(Scale up)함으로써 전기적 open 등의 불량을 최소화 할 수 있다. 또한, 디스플레이 장치에 표면실장 공정 시 픽셀 CSP 패드와 디스플레이 패널의 패드 간의 정렬(Alignment) 마진 확보를 높여 전기적 불량을 최소화하고, 대면적의 디스플레이 장치를 신속하게 제조하는 것이 가능하다.When comparing (a) and (b) of FIGS. 8 and 9 and 10, the pads 17R and 17R' expanded in the wafer manufacturing process are conventional, which are not used within one pixel CSP 100'. It is designed in an expanded form with the RGB pixels in mind by utilizing the redundant area, and is enlarged compared to the pads 17r and 17r' of the existing chip, so that the cross-sectional area can be enlarged. In particular, in the case of a micro-unit LED chip, the pixel unit is 30 µm * 30 µm to 100 µm * 100 µm (50 µm * 50 µm in Figs. 12 and 13), so the width or length of the pad is also very fine, and displays these The defect rate is very high due to electrical open, etc. during the surface mounting process with the panel substrate. On the other hand, by performing the surface mounting process on the display panel in units of pixel CSP that can be expanded, the electrical connection process of micro LEDs in tens of um area is scaled up to the electrical connection process of pixel CSPs in several hundreds of um area. It can minimize the defects of the back. In addition, it is possible to minimize electrical defects by increasing an alignment margin between the pixel CSP pad and the pad of the display panel during the surface mounting process on the display device, and to quickly manufacture a large-area display device.

도 11은 도 1에 도시된 픽셀 CSP 어레이를 캐리어 기판으로 전사하는 단계(150)를 상세하게 설명하기 위한 도면이다. 픽셀 CSP 어레이를 캐리어 기판으로 전사하는 단계(150)를 '1차 전사'로 명명할 수도 있다.FIG. 11 is a diagram for describing in detail the step 150 of transferring the pixel CSP array shown in FIG. 1 to a carrier substrate. The step 150 of transferring the pixel CSP array to the carrier substrate may be referred to as'primary transfer'.

도 11을 참조하면, 다수의 픽셀 CSP(100'P1, 100'P2, 100'P3, 100'P4)의 상면에 캐리어 기판(900)을 부착한다. 구체적으로, 캐리어 기판(900)을 다수의 픽셀 CSP(100'P1, 100'P2, 100'P3, 100'P4)의 각 캡슐레이션 층(19)의 상면에 부착할 수 있다. 여기서, 캐리어 기판(900)은 '전사 접착 부재'로도 불릴 수 있으며, PET, PP, PE, PS 수지 판 등과 이러한 재료들에 접착제나 점착제가 도포되어 있거나 또는 이러한 재료들이 테이프의 형태로 얇은 두께를 가지면서 그 한 면에 접착제나 점착제가 도포될 수 있다. Referring to FIG. 11, a carrier substrate 900 is attached to an upper surface of a plurality of pixel CSPs 100'P1, 100'P2, 100'P3, and 100'P4. Specifically, the carrier substrate 900 may be attached to the upper surface of each encapsulation layer 19 of the plurality of pixel CSPs 100'P1, 100'P2, 100'P3, 100'P4. Here, the carrier substrate 900 may also be referred to as a'transfer adhesive member', and an adhesive or adhesive is applied to these materials such as PET, PP, PE, PS resin plates, or these materials have a thin thickness in the form of a tape. While having, an adhesive or adhesive may be applied to one side thereof.

캐리어 기판(900)은 소정의 연성을 가질 수 있다. 소정의 연성을 갖는 캐리어 기판(900)은 외력에 의해 쉽게 구부러질 수 있는 재질로 구성될 수 있다. 캐리어 기판(900)이 쉽게 구부러질 수 있는 재질이면, 캐리어 기판(900)이 쉽게 구부러지지 않는 재질일 경우와 대비하여 전사 효율을 더 향상시킬 수 있다. 캐리어 기판(900)이 쉽게 구부러지지 않는 재질일 경우에 이러한 캐리어 기판에 다수의 픽셀 CSP(100'P1, 100'P2, 100'P3, 100'P4)를 부착시킨 후, 캐리어 기판을 한번에 들어올리는 것이 어렵다. 그 이유는 다수의 픽셀 CSP(100'P1, 100'P2, 100'P3, 100'P4)과 캐리어 기판(900) 사이의 접착력이 상당하기 때문이다. 하지만, 캐리어 기판(900)이 쉽게 구부러지는 재질이면, 캐리어 기판(900)에 다수의 픽셀 CSP(100'P1, 100'P2, 100'P3, 100'P4)을 부착시킨 후, 캐리어 기판(900)의 일 측 부분만을 위로 올리면 그 부분에만 부착되어 있는 픽셀 CSP의 개수가 상대적으로 적기 때문에 적은 힘으로도 캐리어 기판(900) 전체를 쉽게 들어올릴 수 있다. The carrier substrate 900 may have a predetermined softness. The carrier substrate 900 having a predetermined softness may be formed of a material that can be easily bent by an external force. If the carrier substrate 900 is a material that can be easily bent, the transfer efficiency can be further improved compared to the case where the carrier substrate 900 is a material that is not easily bent. When the carrier substrate 900 is made of a material that is not easily bent, after attaching a plurality of pixel CSPs (100'P1, 100'P2, 100'P3, 100'P4) to the carrier substrate, the carrier substrate is lifted at once. It is difficult. The reason is that the adhesion between the plurality of pixel CSPs 100'P1, 100'P2, 100'P3, 100'P4 and the carrier substrate 900 is significant. However, if the carrier substrate 900 is a material that can be easily bent, after attaching a plurality of pixel CSPs 100'P1, 100'P2, 100'P3, 100'P4 to the carrier substrate 900, the carrier substrate 900 If only one portion of) is raised upward, the number of pixel CSPs attached only to that portion is relatively small, so that the entire carrier substrate 900 can be easily lifted with a small force.

또한, 캐리어 기판(900)은 투명한 재질일 수 있다. 캐리어 기판(900)이 투명한 재질이면, 캐리어 기판(900)에 다수의 픽셀 CSP(100'P1, 100'P2, 100'P3, 100'P4)을 전사할 때, 위치 조정과 틀어짐 등을 외부에 구비된 비전 시스템(미도시)을 통해 조정 또는 제어할 수 있는 이점이 있다.In addition, the carrier substrate 900 may be a transparent material. When the carrier substrate 900 is a transparent material, when transferring a plurality of pixel CSPs (100'P1, 100'P2, 100'P3, 100'P4) to the carrier substrate 900, position adjustment and distortion are prevented to the outside. There is an advantage that can be adjusted or controlled through the equipped vision system (not shown).

한편, 캐리어 기판(900)은 본 발명의 실시 형태에 따른 디스플레이 장치의 제조 방법에 있어서, 제1 전사 매체로도 명명될 수 있다. 제1 전사 매체와 픽셀 CSP 어레이 간에는 제1 접착력이 형성된다. 구체적으로, 제1 접착력은 2,000 gf/25mm ~ 4,000 gf/25mm 일 수 있다. 더욱 바람직하게는 제1 접착력은 3,000 gf/25mm 일 수 있다.Meanwhile, the carrier substrate 900 may also be referred to as a first transfer medium in a method of manufacturing a display device according to an embodiment of the present invention. A first adhesive force is formed between the first transfer medium and the pixel CSP array. Specifically, the first adhesive force may be 2,000 gf/25mm to 4,000 gf/25mm. More preferably, the first adhesive force may be 3,000 gf/25mm.

도 12 내지 도 16은 도 1에 도시된 캐리어 기판에 전사된 픽셀 CSP 어레이를 디스플레이 패널로 선택적으로 전사하는 단계(170)를 상세하게 설명하기 위한 도면들이다.12 to 16 are diagrams for explaining in detail a step 170 of selectively transferring the pixel CSP array transferred to the carrier substrate shown in FIG. 1 to the display panel.

도 12는 디스플레이 패널(1100)의 구조를 설명하기 위한 도면으로서, 도 12의 (a)는 디스플레이 패널(1100)의 일 부분을 확대한 평면도이고, 도 12의 (b)는 도 12의 (a)의 일 측면도이다.12 is a view for explaining the structure of the display panel 1100, FIG. 12(a) is an enlarged plan view of a part of the display panel 1100, and FIG. 12(b) is a view of FIG. 12(a) ) Is a side view.

도 12를 참조하면, 디스플레이 패널(1100)은 도 11에 도시된 다수의 픽셀 CSP(100'P1, 100'P2, 100'P3, 100'P4)의 각 패드(17)와 전기적으로 연결되는 패드(1150)를 다수로 포함한다.Referring to FIG. 12, a display panel 1100 is a pad electrically connected to each pad 17 of a plurality of pixel CSPs 100'P1, 100'P2, 100'P3, 100'P4 shown in FIG. (1150) includes a large number.

다수의 패드(1150)는 디스플레이 패널(1100)의 상면에 배열될 수 있다. 다수의 패드(1150)는 복수의 패드 그룹 별로 행과 열 방향을 따라 배열된다. 각 패드 그룹은 하나의 픽셀 CSP와 전기적으로 연결되는 다수개의 패드들을 포함한다. 여기서, 다수개의 패드들의 개수는 6개일 수 있으나, 이에 한정하는 것은 아니며, 하나의 픽셀 CSP에 형성된 패드의 개수에 따라 다수개의 패드들의 개수가 달라질 수 있다. 여기서, 복수의 패드 그룹 간 피치(D Pitch)는 도 3에 도시된 다수의 에피(11')를 포함하는 하나의 그룹과 이웃하는 다른 그룹 간 피치(W Pitch)와 상술한 수학식 1의 관계를 가질 수 있다.A plurality of pads 1150 may be arranged on the upper surface of the display panel 1100. The plurality of pads 1150 are arranged in row and column directions for each of the plurality of pad groups. Each pad group includes a plurality of pads electrically connected to one pixel CSP. Here, the number of pads may be 6, but is not limited thereto, and the number of pads may vary according to the number of pads formed in one pixel CSP. Here, the pitch (D Pitch) between the plurality of pad groups is the relationship between the one group including the plurality of epis 11' shown in FIG. 3 and the pitch between the neighboring other groups (W Pitch) and the above-described Equation 1 Can have

다음으로, 도 13을 참조하면, 디스플레이 패널(1100)의 다수의 패드(1150) 상에 솔더 페이스트(Solder Paste, 1200)를 도포한다. 솔더 페이스트(1200)는 디스플레이 패널(1100)의 다수의 패드(1150) 상에 스크린 프린팅, 디스펜싱, 젯팅 등의 여러 방법을 통해 도포될 수 있다.Next, referring to FIG. 13, a solder paste 1200 is applied on a plurality of pads 1150 of the display panel 1100. The solder paste 1200 may be applied on the plurality of pads 1150 of the display panel 1100 through various methods such as screen printing, dispensing, and jetting.

다음으로, 도 14를 참조하면, 도 11에서 제조된 캐리어 기판(900)과 캐리어 기판(900)에 부착된 픽셀 CSP(100'P1, 100'P2, 100'P3, 100'P4)을 디스플레이 패널(1100) 상으로 옮기고, 모든 픽셀 CSP(100'P1, 100'P2, 100'P3, 100'P4) 중 일부 CSP(100'P1, 100'P3)의 패드(17)를 디스플레이 패널(1100)의 패드(1150) 상에 도포된 솔더 페이스트(1200)에 접촉시킨다. 나머지 CSP(100'P2, 100'P4) 아래에는 솔더 페이스트(1200)가 존재하지 않기 때문에, 나머지 CSP(100'P2, 100'P4)의 패드(17)는 솔더 페이스트(1200)와 접촉될 수 없다.Next, referring to FIG. 14, the carrier substrate 900 manufactured in FIG. 11 and the pixel CSPs 100'P1, 100'P2, 100'P3, 100'P4 attached to the carrier substrate 900 are displayed on a display panel. (1100), move the pads 17 of some CSPs (100'P1, 100'P3) among all the pixel CSPs (100'P1, 100'P2, 100'P3, 100'P4) to the display panel 1100 The solder paste 1200 applied on the pad 1150 of FIG. Since the solder paste 1200 does not exist under the remaining CSPs 100'P2 and 100'P4, the pads 17 of the remaining CSPs 100'P2 and 100'P4 can come into contact with the solder paste 1200. none.

솔더 페이스트(1200)를 통해 일부 픽셀 CSP(100'P1, 100'P3)의 패드(17)와 디스플레이 패널(1100)의 패드(1150)가 접촉된 후, 예를 들어, 자기 정렬 페이스트(Self Align Paste, SAP) 솔더링 방법을 사용하여 소정의 열을 가하면, 솔더 페이스트(1200) 내부에 포함된 솔더 파티클(Solder particle)이 일부 픽셀 CSP(100'P1, 100'P3)의 패드(17)와 디스플레이 패널(1100)의 패드(1150) 사이로 자기조립(self-assembly)될 수 있다. 한편, 솔더 페이스트(1200) 내부에 포함된 열경화성 수지는 열에 의해 경화될 수 있다.After the pads 17 of some of the pixels CSPs 100'P1 and 100'P3 are in contact with the pads 1150 of the display panel 1100 through the solder paste 1200, for example, self-alignment paste Paste, SAP) When a predetermined heat is applied using a soldering method, solder particles contained in the solder paste 1200 are displayed with the pads 17 of some of the pixels CSPs (100'P1, 100'P3). It may be self-assembly between the pads 1150 of the panel 1100. Meanwhile, the thermosetting resin included in the solder paste 1200 may be cured by heat.

다음으로, 도 15를 참조하면, 일부 픽셀 CSP(100'P1, 100'P3)의 패드(17)와 디스플레이 패널(1100)의 패드(1150)가 솔더링되면, 캐리어 기판(900)을 일부 픽셀 CSP(100'P1, 100'P3)의 각 인캡슐레이션 층(19P1, 19P3)으로부터 떼어낸다. 여기서, 일부 픽셀 CSP(100'P1, 100'P3)의 패드(17)와 디스플레이 패널(1100)의 패드(1150) 사이의 솔더링 접착력이 캐리어 기판(900)과 각 인캡슐레이션 층(19P1, 19P3) 사이의 접착력보다 훨씬 크기 때문에, 캐리어 기판(900)과 나머지 픽셀 CSP(100'P2, 100'P4) 만을 쉽게 분리시킬 수 있다. 나머지 픽셀 CSP(100'P2, 100'P4)은 디스플레이 패널(1100)의 패드(1150)와 솔더링되지 않았기 때문에, 캐리어 기판(900)에 부착된 상태로 캐리어 기판(900)과 함께 분리된다. Next, referring to FIG. 15, when the pads 17 of some of the pixels CSPs 100'P1 and 100'P3 and the pads 1150 of the display panel 1100 are soldered, the carrier substrate 900 is converted to some of the pixels CSPs. It is removed from each of the encapsulation layers 19P1 and 19P3 of (100'P1, 100'P3). Here, the soldering adhesive force between the pad 17 of some of the pixel CSPs 100'P1, 100'P3 and the pad 1150 of the display panel 1100 is the carrier substrate 900 and each encapsulation layer 19P1, 19P3. ), it is possible to easily separate only the carrier substrate 900 and the remaining pixel CSPs 100'P2 and 100'P4. Since the remaining pixel CSPs 100'P2 and 100'P4 are not soldered with the pads 1150 of the display panel 1100, they are attached to the carrier substrate 900 and separated together with the carrier substrate 900.

도 16은 도 15에 도시된 일부 픽셀 CSP(100'P1, 100'P3)을 인캡슐레이션한 인캡슐레이션 층(19P1, 19P3)이 디스플레이 패널(1100)에 다수의 행과 열 방향을 따라 전사된 것을 보여주는 평면도이다.FIG. 16 shows that encapsulation layers 19P1 and 19P3 encapsulating some of the pixels CSPs 100'P1 and 100'P3 shown in FIG. 15 are transferred to the display panel 1100 along a plurality of row and column directions. It is a plan view showing what has been done.

도 17은 도 15에 도시된 나머지 픽셀 CSP(100'P2, 100'P4)을 인캡슐레이션한 인캡슐레이션 층(19P2, 19P4)이 다른 디스플레이 패널(1100')에 다수의 행과 열 방향을 따라 전사된 것을 보여주는 평면도이다.FIG. 17 shows a plurality of row and column directions in the display panel 1100' in which the encapsulation layers 19P2 and 19P4 encapsulating the remaining pixels CSPs 100'P2 and 100'P4 shown in FIG. It is a plan view showing what was transferred along.

도 16과 도 17을 함께 참조하면, 도 15에서 디스플레이 패널(1100)에 솔더링되지 않아 캐리어 기판(900)에 계속해서 부착되어 있는 나머지 픽셀 CSP(100'P2, 100'P4)을 도 17에 도시된 다른 디스플레이 패널(1100')의 패드에 상술한 동일한 방법으로 솔더링한 후 캐리어 기판(900)을 떼어냄으로서, 하나의 캐리어 기판(900)에 부착된 다수의 픽셀 CSP로 둘 이상의 디스플레이 패널(1100, 1100')을 제조할 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시 형태에 따른 선택적 전사 방법은 한 번의 1차 전사로 두 번 이상의 2차 전사를 수행할 수 있는 공정 상의 이점이 있기 때문에, 디스플레이 제조 공정 시간을 현저히 단축시킬 수 있는 이점이 있다. Referring to FIGS. 16 and 17 together, the remaining pixels CSPs 100'P2 and 100'P4 that are not soldered to the display panel 1100 in FIG. 15 and are continuously attached to the carrier substrate 900 are shown in FIG. By removing the carrier substrate 900 after soldering to the pads of the other display panel 1100 ′ in the same manner as described above, two or more display panels 1100 are formed with a plurality of pixel CSPs attached to one carrier substrate 900. , 1100') can be prepared. Therefore, since the selective transfer method according to the embodiment of the present invention has an advantage in the process of performing two or more secondary transfers with a single primary transfer, there is an advantage of remarkably shortening the display manufacturing process time. .

도 18은 본 발명의 실시 형태에 따른 디스플레이 제조 방법을 사용하여 대면적의 디스플레이 패널(1100'')을 제조하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.18 is a view for explaining a method of manufacturing a large-area display panel 1100 ″ by using the display manufacturing method according to an embodiment of the present invention.

도 18을 참조하면, 대면적의 디스플레이 패널(1100'')을 다수의 파트로 구분하고, 구분된 다수의 파트 중 하나의 파트에 도 16에 도시된 바와 같이 일부 픽셀 CSP(100'P1, 100'P3)을 전사하고, 다른 하나의 파트에 도 17에 도시된 바와 같이, 나머지 픽셀 CSP(100'P2, 100'P4)을 전사할 수 있다. 이러한 방법으로 나머지 파트들도 전사함으로서, 대면적의 디스플레이 패널(1100'')도 신속하게 전사율을 향상시켜 전사할 수 있는 이점이 있다.Referring to FIG. 18, a large-area display panel 1100 ″ is divided into a plurality of parts, and as shown in FIG. 16, some pixels CSPs 100'P1, 100 'P3) may be transferred, and the remaining pixels CSPs 100'P2 and 100'P4 may be transferred to another part as shown in FIG. 17. By transferring the remaining parts in this way, there is an advantage in that the large-area display panel 1100 ″ can be transferred by quickly improving the transfer rate.

한편, 솔더 페이스트(1200)는 본 발명의 실시 형태에 따른 디스플레이 장치의 제조 방법에 있어서, 제2 전사 매체로 명명될 수 있다. 제2 전사 매체와 픽셀 CSP의 패드 간 솔더링 접착력인 제2 접착력은 상기 제1 접착력보다 크다. 따라서, 앞서 상술한 2차 전사 단계는, 제1 전사 매체에 전사된 픽셀 CSP 어레이를 디스플레이 패널에 도포된 상기 제1 접착력 보다 큰 제2 접착력을 갖는 제2 전사 매체로 전사하는 단계일 수 있다. 예를 들어, 제2 접착력은 제1 접착력보다 수천배 더 클 수 있다. 좀 더 구체적으로, 제1 접착력은 2,000 gf/25mm ~ 4,000 gf/25mm 이고, 제2 접착력은 800,000 gf/25mm ~ 1,200,000 gf/25mm 일 수 있다. 더욱 바람직하게는 제1 접착력은 3,000 gf/25mm이고, 제2 접착력은 1,000,000 gf/25mm 일 수 있다.Meanwhile, the solder paste 1200 may be referred to as a second transfer medium in a method of manufacturing a display device according to an embodiment of the present invention. The second adhesive force, which is the soldering adhesive force between the second transfer medium and the pad of the pixel CSP, is greater than the first adhesive force. Therefore, the above-described secondary transfer step may be a step of transferring the pixel CSP array transferred to the first transfer medium to a second transfer medium having a second adhesive force greater than the first adhesive force applied to the display panel. For example, the second adhesion may be thousands of times greater than the first adhesion. More specifically, the first adhesive force may be 2,000 gf/25mm to 4,000 gf/25mm, and the second adhesive force may be 800,000 gf/25mm to 1,200,000 gf/25mm. More preferably, the first adhesive force may be 3,000 gf/25mm, and the second adhesive force may be 1,000,000 gf/25mm.

제2 접착력은 제1 접착력 보다 수백에서 수천배의 큰 상당한 접착력을 갖도록 하여 모든 픽셀 CSP 중 일부 픽셀 CSP에 대한 선택적 전사가 이루어질 수 있도록 구현하는 것이 본 발명이 이루고자 하는 과제이며, 이는 정전기적 인력 등의 물리적 힘 혹은 접착력을 제어하여 전사하는 개념이 아닌 접착력 자체의 결합력을 그대로 이용하여 전사 성공률을 극대화할 수 있다는 장점을 갖는다. 여기서, 접착력을 제어한다는 의미는 노광, 온도, 열 등 어떤 특정 조건을 조절하여 접착력을 제어하는 것이고, 본 발명의 실시 형태에서는 접착력을 제어하는 것이 아니라, 전사 매체들 간의 접착력의 차이를 이용하는 것이다.It is a task to be achieved by the present invention to implement the second adhesive force to have a significant adhesive force that is hundreds to thousands of times larger than the first adhesive force so that selective transfer to some of the pixel CSPs can be performed, and this is an electrostatic attraction, etc. It has the advantage of maximizing the transfer success rate by using the bonding force of the adhesive force itself rather than the concept of transferring by controlling the physical force or adhesive force of Here, the meaning of controlling the adhesive force means controlling the adhesive force by controlling certain conditions such as exposure, temperature, and heat, and in the embodiment of the present invention, the adhesive force is not controlled, but the difference in the adhesive force between the transfer media is used.

한편, 다시 도 1을 참조하면, 상술한 본 발명의 실시 형태에 따른 디스플레이 장치의 제조 방법에 있어서, 1차 전사 단계(150)가 생략될 수도 있다. 다시 말해, 다이싱된 다수의 픽셀 CSP가 캐리어 기판(900)없이 곧바로 디스플레이 패널로 전사될 수도 있다.Meanwhile, referring again to FIG. 1, in the manufacturing method of the display device according to the embodiment of the present invention described above, the first transfer step 150 may be omitted. In other words, a plurality of diced pixel CSPs may be transferred directly to the display panel without the carrier substrate 900.

예를 들어, 도 6에 도시된 것을 뒤집어서 도 7과 같이 다이싱을 하여 다수의 픽셀 CSP를 형성한 후, 도 12에 도시된 디스플레이 패널을 형성된 다수의 픽셀 CSP 상으로 이동시켜 솔더링을 수행하면, 솔더 페이스트와 접촉된 일부 픽셀 CSP는 디스플레이 패널에 솔더링되고, 접촉되지 않은 나머지 픽셀 CSP는 그 자리에 그대로 있을 것이다. For example, if the one shown in FIG. 6 is turned over and diced as shown in FIG. 7 to form a plurality of pixel CSPs, and then the display panel shown in FIG. 12 is moved onto the formed plurality of pixels CSPs to perform soldering, Some of the pixel CSPs in contact with the solder paste will be soldered to the display panel, and the remaining pixel CSPs that are not in contact will remain in place.

여기서, 다른 디스플레이 패널을 나머지 픽셀 CSP 위에서 솔더링시켜 도 17에 도시된 바와 같은 다른 디스플레이 패널을 제조할 수도 있고, 도 18과 같이 대면적의 디스플레이 패널도 제조할 수 있다.Here, another display panel as shown in FIG. 17 may be manufactured by soldering another display panel on the remaining pixel CSP, or a large-area display panel as illustrated in FIG. 18 may be manufactured.

한편, 디스플레이 패널의 패드의 영역을 이동시켜 디스플레이 혹은 장치를 구성할 때 기존의 칩 단위의 표면실장 공정에서 발생되는 전기적 연결 문제(오픈, 소트 불량)를 해결할 수 있다. 구체적으로, 확장된 패드를 갖는 픽셀 CSP와 영역 이동된 패드(타겟 기판)를 동시에 도입하여, 수십 ㎛영역의 마이크로 LED의 전기적 연결 공정을 수백 ㎛영역의 픽셀 CSP 전기적 연결 공정으로 스케일 업(Scale up)할 수 있다. 이러한 스케일 업을 통하여 디스플레이 장치를 구성하는 전사 공정에서 전극간 Open/Short 불량을 방지하고, Alignment 마진 확보를 높여 대면적 디스플레이 장치를 신속하게 제조할 수 있다. 이하, 도 19 내지 도 20을 참조하여 상세히 설명한다.Meanwhile, when configuring a display or a device by moving the pad area of the display panel, it is possible to solve an electrical connection problem (opening, sorting failure) occurring in the conventional surface mounting process of a chip unit. Specifically, by simultaneously introducing a pixel CSP having an extended pad and a region-shifted pad (target substrate), the electrical connection process of the micro LED in a tens µm area is scaled up to a pixel CSP electrical connection process in a hundreds µm area. )can do. Through this scale-up, it is possible to quickly manufacture a large-area display device by preventing an open/short defect between electrodes in a transfer process constituting a display device and increasing alignment margin. Hereinafter, it will be described in detail with reference to FIGS. 19 to 20.

도 19는 디스플레이 패널의 전극패드의 영역 이동 전후를 비교하여 나타낸 도면이다.19 is a view showing a comparison of before and after movement of an electrode pad of a display panel.

도 19는 디스플레이 패널의 패드 어레이를 나타낸 것이고, 이는 도 7에 도시된 하나의 픽셀 CSP(100'P1)의 다수의 패드들에 대응되는 배치를 가질 수 있다.19 illustrates a pad array of a display panel, which may have an arrangement corresponding to a plurality of pads of one pixel CSP 100'P1 illustrated in FIG. 7.

도 19의 (A1), (B1), (C1)은 종래의 디스플레이 패널 상의 패드의 배치 구조도이고, (A2), (B2), (C2)는 본 발명의 실시 형태에 따른 디스플레이 패널 상의 패드 배치 예이다.(A1), (B1), and (C1) of FIG. 19 are schematic diagrams of an arrangement of pads on a conventional display panel, and (A2), (B2), and (C2) are arrangements of pads on a display panel according to an embodiment of the present invention. Yes.

마이크로 LED의 경우 그 사이즈가 매우 작기 때문에, 이에 대응되는 디스플레이 패널의 패드 간의 간격(d1)도 매우 협소하다. 본 발명의 실시 형태에서는 디스플레이 패널의 패드 간의 간격(d2)을 넓힘으로써, 패드 간의 솔더 페이스트에 의한 쇼트를 사전에 방지할 수 있도록 한다.In the case of the micro LED, since the size is very small, the spacing d1 between the pads of the display panel corresponding thereto is also very narrow. In the embodiment of the present invention, by increasing the spacing d2 between pads of the display panel, it is possible to prevent a short circuit due to solder paste between the pads in advance.

패드 간의 간격은, d1 < d2의 관계가 성립되며, d2는 패드(720, 720')의 각각의 위치로부터 좌우로 각각 영역 이동을 시킴으로써 구현이 가능하다.The relationship between the pads d1 <d2 is established, and d2 can be implemented by moving regions left and right from respective positions of the pads 720 and 720'.

디스플레이 패널의 패드(720, 720')의 간격을 넓히는 선제 조건은 다음과 같다.Prerequisites for increasing the spacing between the pads 720 and 720' of the display panel are as follows.

본 발명의 실시 형태는 도 7에 도시된 다수의 픽셀 CSP(100')를 디스플레이 패널(700)에 동시에 빠른 속도로 전사할 수 있는 방안으로서 제1 전사 및/또는 제2 전사를 제안한다. 여기서, 제2 전사는 캐리어 기판(900)과 솔더 페이스트(740) 간의 접착력의 차이를 이용한 전사 방법을 채택한다.The embodiment of the present invention proposes a first transfer and/or a second transfer as a method for simultaneously transferring a plurality of pixel CSPs 100' shown in FIG. 7 to the display panel 700 at a high speed. Here, for the second transfer, a transfer method using a difference in adhesion between the carrier substrate 900 and the solder paste 740 is adopted.

따라서, 제2 전사를 구현하기 위해 디스플레이 패널(700)의 패드(720) 상에는 솔더 페이스트(740)가 도포되어야 하고, 이때 솔더 페이스트(740) 도포에 앞서 디스플레이 패널(700) 기판 상에 화이트 잉크(White ink)의 도포가 선행된다.Therefore, in order to implement the second transfer, the solder paste 740 must be applied on the pad 720 of the display panel 700, and in this case, before the solder paste 740 is applied, the white ink ( White ink) is applied first.

종래와 같이 디스플레이 패널의 패드(72, 72') 사이 간격이 매우 좁으면(100㎛ 이하), 패드(72, 72') 사이에 화이트 잉크(white ink, 73)를 채울 수 없게 되고, 화이트 잉크(73)가 채워지지 않은 패드(72, 72') 사이에는 단차가 형성되어 솔더 페이스트(74)가 갇힘으로써 잔여 솔더 페이스트로 인해 쇼트가 발생할 수 있다.If the distance between the pads 72 and 72' of the display panel is very narrow (less than 100㎛) as in the prior art, white ink 73 cannot be filled between the pads 72 and 72', and white ink A step is formed between the pads 72 and 72' that are not filled with the 73, so that the solder paste 74 is trapped, and a short circuit may occur due to the remaining solder paste.

따라서, 본 발명의 실시 형태는 위와 같은 문제를 해결하기 위해 디스플레이 패널(700)의 패드(720, 720')를 좌우로 영역이동을 통해 패드(720, 720') 간의 간격(d2)을 넓힘으로써 화이트 잉크(730)에 의해 화이트 잉크 댐(White ink dam) 형성이 가능하게 된다. 즉, 패드(720, 720') 간의 간격이 넓어져 화이트 잉크가 패드 사이에 채워질 수 있다.Accordingly, the embodiment of the present invention increases the distance d2 between the pads 720 and 720 ′ by moving the pads 720 and 720 ′ of the display panel 700 left and right to solve the above problem. A white ink dam can be formed by the white ink 730. That is, the gap between the pads 720 and 720 ′ is widened, so that white ink may be filled between the pads.

이러한 화이트 잉크 댐의 형성으로 패드(720, 720') 사이의 단차가 제거될 수 있고, 잔여 솔더 페이스트가 생기지 않음으로 인해 전극간 쇼트 발생 원인이 제거될 수 있다.With the formation of the white ink dam, a step difference between the pads 720 and 720 ′ may be eliminated, and a cause of a short circuit between electrodes may be eliminated due to the absence of residual solder paste.

그 다음으로, 위에서 설명한 바와 같이 디스플레이 패널의 패드(720, 720')의 간격을 넓히는 선제 조건에 의해 전극 간격을 넓혔다면, 전극 간격을 넓힐 수 있는 가능 조건은 다음과 같다.Next, as described above, if the electrode spacing is widened according to the precondition for increasing the spacing of the pads 720 and 720' of the display panel, the possible conditions for increasing the electrode spacing are as follows.

디스플레이 패널(700)의 패드(720, 720')의 간격을 넓힐 수 있는 가능 조건은 상술한 도 7 및 도 8에서와 같이 픽셀 CSP(400)의 패드(17R, 17R', 17G, 17B)가 확장된 것에 의해 가능하다.The possible condition for increasing the spacing of the pads 720 and 720' of the display panel 700 is that the pads 17R, 17R', 17G, and 17B of the pixel CSP 400 are as shown in FIGS. 7 and 8 described above. It is possible by being extended.

도 20은 캐리어 기판에 전사된 확장된 패드를 갖는 픽셀 CSP 어레이를 디스플레이 패널로 전사하는 단계를 상세하게 설명하기 위한 도면이다.20 is a diagram for explaining in detail a step of transferring a pixel CSP array having an extended pad transferred to a carrier substrate to a display panel.

도 20의 (A)를 참조하면, 디스플레이 패널(700)의 다수의 패드(720) 상에 솔더 페이스트(Solder Paste, 740)를 도포한다. 솔더 페이스트(740)는 디스플레이 패널(700)의 다수의 패드(720) 상에 스크린 프린팅, 디스펜싱, 젯팅 등의 여러 방법을 통해 도포될 수 있다.Referring to FIG. 20A, a solder paste 740 is applied on a plurality of pads 720 of the display panel 700. The solder paste 740 may be applied on the plurality of pads 720 of the display panel 700 through various methods such as screen printing, dispensing, and jetting.

다음으로, 도 20의 (B)를 참조하면, 캐리어 기판(900)과 캐리어 기판(900)에 부착되고 내부에 RGB 픽셀을 구비한 인캡슐레이션 층(19)을 디스플레이 패널(700) 상으로 옮기고, 각 픽셀 CSP의 패드(17R, 17R')를 디스플레이 패널(700)의 패드(720, 720') 상에 도포된 솔더 페이스트(740, 740')에 접촉시킨다. Next, referring to FIG. 20B, the carrier substrate 900 and the encapsulation layer 19 attached to the carrier substrate 900 and having RGB pixels therein are moved onto the display panel 700. , The pads 17R and 17R' of each pixel CSP are brought into contact with the solder pastes 740 and 740' applied on the pads 720 and 720' of the display panel 700.

솔더 페이스트(740, 740')를 통해 각 픽셀 CSP의 패드(17R, 17R')와 디스플레이 패널(700)의 패드(720, 720')가 접촉된 후, 예를 들어, 자기 정렬 페이스트(Self Align Paste, SAP) 솔더링 방법을 사용하여 소정의 열을 가하면, 솔더 페이스트(740, 740') 내부에 포함된 솔더 파티클(Solder particle)이 픽셀 CSP의 패드(17R, 17R')와 디스플레이 패널(700)의 패드(720, 720') 사이로 자기조립(self-assembly)될 수 있다. After the pads 17R and 17R' of each pixel CSP and the pads 720 and 720' of the display panel 700 are in contact with each other through the solder pastes 740 and 740', for example, self-alignment paste Paste, SAP) When a predetermined heat is applied using a soldering method, solder particles contained in the solder pastes 740 and 740' are removed from the pads 17R and 17R' of the pixel CSP and the display panel 700. It can be self-assembled between the pads 720 and 720' of.

한편, 솔더 페이스트(740, 740') 내부에 포함된 열경화성 수지는 열에 의해 경화될 수 있다.Meanwhile, the thermosetting resin included in the solder pastes 740 and 740' may be cured by heat.

다음으로, 도 18의 (C)를 참조하면, 픽셀 CSP의 패드(17R, 17R')와 디스플레이 패널(700)의 패드(720, 720')가 솔더링되면, 캐리어 기판(900)를 인캡슐레이션 층(19)으로부터 떼어낸다. Next, referring to FIG. 18C, when the pads 17R and 17R' of the pixel CSP and the pads 720 and 720' of the display panel 700 are soldered, the carrier substrate 900 is encapsulated. Peel off from layer 19.

여기서, 픽셀 CSP의 패드(17R, 17R')와 디스플레이 패널(700)의 패드(720, 720') 사이의 솔더링 접착력이 캐리어 기판(900)과 인캡슐레이션 층(19) 사이의 접착력보다 훨씬 크기 때문에, 캐리어 기판(900) 만을 쉽게 분리시킬 수 있다.Here, the soldering adhesive force between the pads 17R and 17R' of the pixel CSP and the pads 720 and 720' of the display panel 700 is much larger than the adhesive force between the carrier substrate 900 and the encapsulation layer 19 Therefore, only the carrier substrate 900 can be easily separated.

도 20을 참조하면, 픽셀 CSP의 제1 및 제2 패드(17R, 17R')에 의해 디스플레이 패널(700)의 패드(720, 720') 간의 간격을 넓게 조절하는 것이 가능하고, 즉 패드(720, 720')의 영역 이동이 가능하다.Referring to FIG. 20, it is possible to widely adjust the spacing between the pads 720 and 720 ′ of the display panel 700 by the first and second pads 17R and 17R ′ of the pixel CSP, that is, the pad 720 , 720') can be moved.

즉, 종래의 패드보다 확장된 패드(17R, 17R')에 의해 전사 공정시 픽셀 CSP와 디스플레이 패널(700) 간의 전극 간 접촉 마진율을 향상시키는 것이 가능하고, 디스플레이 패널(700)의 패드(720, 720')의 양쪽 벌림과 같은 영역 이동이 가능하여 전극간의 쇼트 발생률을 차단하는 것이 가능하게 된다. 특히, 이러한 접촉 마진율 확보와 쇼트 방지는 마이크로 단위의 LED가 적용되는 디스플레이 장치에 적용시 전사 공정의 속도 향상과 정확성을 확보할 수 있다.In other words, it is possible to improve the contact margin between the electrodes between the pixel CSP and the display panel 700 during the transfer process by the pads 17R and 17R' that are expanded than the conventional pads, and the pad 720 of the display panel 700, 720'), it is possible to move the same area as the spread of both sides, so that it is possible to block the occurrence rate of a short between electrodes. In particular, such contact margin and short-circuit prevention can improve the speed and accuracy of the transfer process when applied to a display device to which a micro-unit LED is applied.

다시, 도 1을 참조하면, 도 1에 도시하지 않았지만, 리웍(rework) 단계를 더 포함할 수 있다. 리웍 단계는, 도 16 내지 도 18에 도시된 디스플레이 패널(1100, 1100', 1100'')에 형성된 픽셀 CSP 어레이 중에서 오작동하거나 불량으로 판정된 픽셀 CSP를 제거하고 새로운 픽셀 CSP를 제거된 픽셀 CSP 자리에 위치시키는 단계이다. 픽 앤 플레이스 장비(미도시)를 이용하여 정상적으로 동작하는 새로운 픽셀 CSP을 위치시킬 수 있다. 리웍 단계를 더 진행함으로서, 오작동 또는 불량 픽셀 CSP를 제거하고, 디스플레이 패널에서 불량 픽셀 CSP가 위치해야 했던 자리에 새로운 픽셀 CSP를 채우기 때문에, 도 1에 도시된 디스플레이 장치의 제조 방법과 비교하여 디스플레이 패널(1100, 1100', 1100'')의 불량을 현저히 줄일 수 있는 이점이 있다. Again, referring to FIG. 1, although not shown in FIG. 1, a rework step may be further included. The rework step is to remove the pixel CSP determined to be malfunctioning or defective among the pixel CSP arrays formed on the display panels 1100, 1100', and 1100'' shown in FIGS. 16 to 18, and remove the new pixel CSP. This is the step of placing in. A new pixel CSP that is normally operating may be located using a pick and place device (not shown). By further proceeding with the rework step, since the malfunction or defective pixel CSP is removed, and a new pixel CSP is filled in the place where the defective pixel CSP was to be located in the display panel, compared to the method of manufacturing the display device shown in FIG. There is an advantage that can significantly reduce the defects of (1100, 1100', 1100'').

이상에서 실시 형태들에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 본 발명의 적어도 하나의 실시 형태에 포함되며, 반드시 하나의 실시 형태에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시 형태에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시 형태들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의해 다른 실시 형태들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.Features, structures, effects, and the like described in the embodiments above are included in at least one embodiment of the present invention, and are not necessarily limited to only one embodiment. Further, the features, structures, effects, and the like illustrated in each embodiment can be implemented by combining or modifying other embodiments by a person having ordinary knowledge in the field to which the embodiments belong. Accordingly, contents related to such combinations and modifications should be interpreted as being included in the scope of the present invention.

또한, 이상에서 실시 형태를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시 형태의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시 형태에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.In addition, although the embodiments have been described above, these are only examples and do not limit the present invention, and those of ordinary skill in the field to which the present invention pertains will not depart from the essential characteristics of the present embodiment. It will be appreciated that various modifications and applications not illustrated are possible. For example, each constituent element specifically shown in the embodiment can be modified and implemented. And differences related to these modifications and applications should be construed as being included in the scope of the present invention defined in the appended claims.

100': 픽셀 CSP
900: 캐리어 기판
1100, 1100', 1100'': 디스플레이 패널
100': Pixel CSP
900: carrier substrate
1100, 1100', 1100'': Display panel

Claims (13)

웨이퍼 상에 다수의 RGB 픽셀을 형성하는, 다수의 RGB 픽셀 형성 단계;
상기 다수의 RGB 픽셀이 형성된 상기 웨이퍼를 각각의 상기 RGB 픽셀 별로 다이싱하는, 다이싱 단계;
다이싱된 상기 RGB 픽셀을 다수로 포함하는 픽셀 CSP 어레이를 캐리어 기판으로 전사하는, 1차 전사 단계; 및
상기 캐리어 기판에 전사된 상기 픽셀 CSP 어레이 중 일부 픽셀 CSP를 디스플레이 패널로 선택적으로 전사하는, 2차 전사 단계;
를 포함하고,
상기 2차 전사 단계는,
상기 디스플레이 패널의 복수의 패드 상에 솔더 페이스트를 도포하는 단계;
상기 캐리어 기판에 전사된 상기 픽셀 CSP 어레이 중 일부 픽셀 CSP의 패드를 도포된 상기 솔더 페이스트에 접촉시켜 솔더링하는 단계; 및
상기 캐리어 기판과 상기 캐리어 기판에 전사된 나머지 픽셀 CSP를 상기 디스플레이 패널로부터 분리시키는 단계;를 포함하되,
상기 캐리어 기판과 상기 일부 픽셀 CSP 사이의 접착력과 상기 일부 픽셀 CSP와 상기 솔더 페이스트 사이의 솔더링 접착력의 차이를 이용하여 상기 일부 픽셀 CSP가 상기 디스플레이 패널로 선택적으로 전사되고,
상기 2차 전사 단계에서, 상기 디스플레이 패널에 포함된 복수의 패드 그룹 중 인접한 2개의 패드 그룹 사이의 피치는, 상기 캐리어 기판에 전사된 상기 픽셀 CSP 어레이 중 인접한 2개의 픽셀 CSP 사이의 피치보다 크고,
상기 캐리어 기판은 소정의 연성을 가져 외력에 의해 구부러질 수 있는 재질이고,
상기 캐리어 기판은 투명한 재질인,
디스플레이 장치의 제조 방법.
Forming a plurality of RGB pixels on a wafer;
Dicing the wafer on which the plurality of RGB pixels are formed for each of the RGB pixels;
A first transfer step of transferring a pixel CSP array including a plurality of diced RGB pixels to a carrier substrate; And
A secondary transfer step of selectively transferring some of the pixel CSPs from the pixel CSP array transferred to the carrier substrate to a display panel;
Including,
The secondary transfer step,
Applying a solder paste on the plurality of pads of the display panel;
Soldering a pad of some of the pixel CSPs transferred to the carrier substrate by contacting the applied solder paste; And
Separating the carrier substrate and the remaining pixel CSP transferred to the carrier substrate from the display panel; Including,
The partial pixel CSP is selectively transferred to the display panel by using a difference between the adhesive force between the carrier substrate and the partial pixel CSP and the soldering adhesive force between the partial pixel CSP and the solder paste,
In the secondary transfer step, a pitch between two adjacent pad groups among a plurality of pad groups included in the display panel is greater than a pitch between two adjacent pixels CSP in the pixel CSP array transferred to the carrier substrate,
The carrier substrate has a predetermined ductility and is a material that can be bent by an external force,
The carrier substrate is a transparent material,
Method of manufacturing a display device.
제 1 항에 있어서,
상기 다수의 RGB 픽셀 형성 단계는,
상기 웨이퍼 상에 다수의 발광 소자를 형성하는 단계; 및
상기 다수의 발광 소자 중 일부 발광 소자 상에 적어도 하나 이상의 색 변환층을 형성하는 단계;를 포함하는, 디스플레이 장치의 제조 방법.
The method of claim 1,
The step of forming the plurality of RGB pixels,
Forming a plurality of light emitting devices on the wafer; And
Forming at least one color conversion layer on some of the plurality of light emitting devices; including, a method of manufacturing a display device.
제 1 항에 있어서,
상기 다수의 RGB 픽셀 형성 단계는,
상기 웨이퍼의 일 면에 복수의 에피를 성장시키는 단계;
상기 에피 상에 패드를 형성하는 단계;
상기 에피와 상기 패드를 패시베이션하는 보호층을 형성하되, 상기 패드가 상기 보호층 외부에 노출되도록 형성하는 단계;
상기 웨이퍼의 다른 일 면에 블로킹 댐을 형성하되, 상기 블로킹 댐에 상기 복수의 에피 상에 위치하는 복수의 개구부를 형성하는 단계;
상기 복수의 개구부의 적어도 일부에 색 변환층을 형성하는 단계; 및
상기 색 변환층이 형성된 상기 블로킹 댐 상에 인캡슐레이션 층을 형성하는 단계;를 포함하는, 디스플레이 장치의 제조 방법.
The method of claim 1,
The step of forming the plurality of RGB pixels,
Growing a plurality of epits on one surface of the wafer;
Forming a pad on the epitaxial;
Forming a protective layer for passivating the epi and the pad, wherein the pad is exposed to the outside of the protective layer;
Forming a blocking dam on the other side of the wafer, and forming a plurality of openings positioned on the plurality of epits in the blocking dam;
Forming a color conversion layer in at least a portion of the plurality of openings; And
Forming an encapsulation layer on the blocking dam on which the color conversion layer is formed; including, a method of manufacturing a display device.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 제 1 항에 있어서,
상기 디스플레이 패널은 대면적의 디스플레이 패널이고,
상기 1차 전사 단계에 의해서 제조된 하나의 캐리어 기판을 준비하고,
상기 2차 전사 단계를 반복적으로 수행하여 상기 하나의 캐리어 기판에 전사되어 있는 픽셀 CSP 어레이 중 일부 픽셀 CSP를 상기 대면적의 디스플레이 패널의 제1 파트로 전사하고, 나머지 픽셀 CSP를 상기 대면적의 디스플레이 패널의 상기 제1 파트와 다른 제2 파트에 전사하는, 디스플레이 장치의 제조 방법.
The method of claim 1,
The display panel is a large-area display panel,
To prepare one carrier substrate manufactured by the first transfer step,
By repeatedly performing the secondary transfer step, some of the pixel CSPs of the pixel CSP array transferred to the one carrier substrate are transferred to the first part of the large-area display panel, and the remaining pixel CSPs are displayed in the large-area display panel. A method of manufacturing a display device, which is transferred to a second part different from the first part of the panel.
웨이퍼 상에 다수의 RGB 픽셀을 형성하고, 각각의 상기 RGB 픽셀 별로 다이싱하는, RGB 픽셀 형성 단계;
다이싱된 상기 RGB 픽셀을 다수로 포함하는 픽셀 CSP 어레이를 제1 접착력을 갖는 제1 전사 매체로 전사하는, 1차 전사 단계; 및
상기 제1 전사 매체에 전사된 상기 픽셀 CSP 어레이를 디스플레이 패널에 도포된 상기 제1 접착력 보다 큰 제2 접착력을 갖는 제2 전사 매체로 선택적으로 전사하는, 2차 전사 단계;를 포함하고,
상기 2차 전사 단계는,
상기 디스플레이 패널의 복수의 패드 상에 상기 제2 전사 매체를 도포하는 단계;
상기 제1 전사 매체에 전사된 상기 픽셀 CSP 어레이 중 일부 픽셀 CSP의 패드를 도포된 상기 제2 전사 매체에 접촉시켜 솔더링하는 단계; 및
상기 제1 전사 매체와 상기 제1 전사 매체에 전사된 나머지 픽셀 CSP를 상기 디스플레이 패널로부터 분리시키는 단계;를 포함하되,
상기 2차 전사 단계에서, 상기 디스플레이 패널에 포함된 복수의 패드 그룹 중 인접한 2개의 패드 그룹 사이의 피치는, 상기 제1 전사 매체에 전사된 상기 픽셀 CSP 어레이 중 인접한 2개의 픽셀 CSP 사이의 피치보다 크고,
상기 제1 전사매체는 소정의 연성을 가져 외력에 의해 구부러질 수 있는 재질이고,
상기 제1 전사매체는 투명한 재질인,
디스플레이 장치의 제조 방법.
Forming a plurality of RGB pixels on a wafer, and dicing for each of the RGB pixels;
A first transfer step of transferring a pixel CSP array including a plurality of diced RGB pixels to a first transfer medium having a first adhesive force; And
A secondary transfer step of selectively transferring the pixel CSP array transferred to the first transfer medium to a second transfer medium having a second adhesive force greater than the first adhesive force applied to the display panel; and
The secondary transfer step,
Applying the second transfer medium on a plurality of pads of the display panel;
Soldering the pads of some of the pixel CSPs transferred to the first transfer medium to the applied second transfer medium; And
Separating the first transfer medium and the remaining pixel CSP transferred to the first transfer medium from the display panel; including,
In the secondary transfer step, a pitch between two adjacent pad groups among a plurality of pad groups included in the display panel is greater than a pitch between two adjacent pixels CSP in the pixel CSP array transferred to the first transfer medium. Big,
The first transfer medium is a material that has a predetermined ductility and can be bent by an external force,
The first transfer medium is a transparent material,
Method of manufacturing a display device.
삭제delete 삭제delete 삭제delete
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Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010251360A (en) * 2009-04-10 2010-11-04 Sony Corp Method of manufacturing display and display
KR20160087264A (en) * 2015-01-13 2016-07-21 엘지전자 주식회사 Fabricating method of display apparatus using semiconductor light emitting device
KR20170079930A (en) * 2015-12-31 2017-07-10 한국광기술원 Light emitting diode assembly and method for transfering thereof
KR20170110547A (en) * 2017-06-28 2017-10-11 한국광기술원 Method for transferring led structure assembly and led structure assembly
KR20170143336A (en) * 2016-06-21 2017-12-29 엘지이노텍 주식회사 Semiconductor device and display device having thereof
WO2018216621A1 (en) * 2017-05-22 2018-11-29 日立化成株式会社 Semiconductor device manufacturing method and expand tape
KR20190079904A (en) * 2017-12-28 2019-07-08 한국기계연구원 Method of manufacturing stretchable device using transfer process and stretchable device manufactured by the same
KR20190087219A (en) * 2018-01-16 2019-07-24 엘지전자 주식회사 Display device using semiconductor light emitting device

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010251360A (en) * 2009-04-10 2010-11-04 Sony Corp Method of manufacturing display and display
KR20160087264A (en) * 2015-01-13 2016-07-21 엘지전자 주식회사 Fabricating method of display apparatus using semiconductor light emitting device
KR20170079930A (en) * 2015-12-31 2017-07-10 한국광기술원 Light emitting diode assembly and method for transfering thereof
KR20170143336A (en) * 2016-06-21 2017-12-29 엘지이노텍 주식회사 Semiconductor device and display device having thereof
WO2018216621A1 (en) * 2017-05-22 2018-11-29 日立化成株式会社 Semiconductor device manufacturing method and expand tape
KR20170110547A (en) * 2017-06-28 2017-10-11 한국광기술원 Method for transferring led structure assembly and led structure assembly
KR20190079904A (en) * 2017-12-28 2019-07-08 한국기계연구원 Method of manufacturing stretchable device using transfer process and stretchable device manufactured by the same
KR20190087219A (en) * 2018-01-16 2019-07-24 엘지전자 주식회사 Display device using semiconductor light emitting device

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