KR101610456B1 - 전자 부품의 압축 수지 밀봉 방법 및 압축 수지 밀봉 장치 - Google Patents
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- 239000011347 resin Substances 0.000 title claims abstract description 453
- 229920005989 resin Polymers 0.000 title claims abstract description 453
- 238000007789 sealing Methods 0.000 title claims abstract description 92
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 39
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 144
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 97
- 230000006835 compression Effects 0.000 claims abstract description 39
- 238000007906 compression Methods 0.000 claims abstract description 39
- 238000000465 moulding Methods 0.000 claims description 42
- 238000000748 compression moulding Methods 0.000 claims description 22
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 19
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 13
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 13
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 7
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims description 7
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 5
- 239000000843 powder Substances 0.000 claims description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims 5
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 35
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 4
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 3
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 description 3
- 239000008187 granular material Substances 0.000 description 2
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000004049 embossing Methods 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- 238000007667 floating Methods 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229920002545 silicone oil Polymers 0.000 description 1
- 230000002195 synergetic effect Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
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- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the groups H01L21/18 - H01L21/326 or H10D48/04 - H10D48/07 e.g. sealing of a cap to a base of a container
- H01L21/56—Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
- H01L21/565—Moulds
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32225—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
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- H—ELECTRICITY
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
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- H—ELECTRICITY
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- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
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Abstract
본 발명에 따르면, 이형 필름 상에 배치한 보형성을 갖는 시트형 수지를 하형 캐비티 내에 공급하고, 상하 양형을 형 폐쇄하여 하형 캐비티 내의 잉여 수지를 상하 양형 사이의 좁은 간극을 통해 외부의 잉여 수지 수용부 내에 안내하며, 수지 밀봉 단계에서는 상하 양형의 형 폐쇄 최종 위치에서의 하형 캐비티의 저면과 대형 기판의 전자 부품 장착면과의 간격을, 대형 기판의 전자 부품을 수지 밀봉하기 위한 패키지 두께의 간격과 동일해지도록 설정하고, 하형 캐비티 내의 용융 수지 재료에 대한 압박 작용을 저속도로 또한 저압으로 행함으로써 대형 기판 상의 전자 부품을 일괄하여 수지 밀봉 성형한다.
Description
도 2는 도 1에 대응하는 압축 수지 밀봉 장치의 일부 절결 정면도로서, 상하 양형의 형 폐쇄 상태를 개략적으로 도시하고 있다.
도 3은 도 1에 대응하는 압축 수지 밀봉 장치의 주요부를 도시하고 있고, 도 3의 (1)은 그 하형에서의 균등 가압 수단의 일부 절결 확대 정면도이며, 도 3의 (2)는 그 균등 가압 수단을 더 확대하여 도시한 일부 절결 확대 정면도이다.
도 4는 도 1에 대응하는 압축 수지 밀봉 장치의 주요부를 도시하고 있고, 도 4의 (1)은 그 상하 양형의 형 개방시에서의 수지 성형부의 확대 종단면도이며, 도 4의 (2)는 그 상하 양형의 형 폐쇄시에서의 수지 성형부의 확대 종단면도이다.
도 5는 도 4에 대응하는 수지 성형부의 주요부를 도시하고 있고, 도 5의 (1)은 그 주요부의 확대 종단면도이며, 도 5의 (2)는 그 주요부의 평면도이다.
도 6은 본 발명의 제2 실시형태에 따른 압축 수지 밀봉 장치의 주요부를 도시하고 있고, 도 6의 (1)은 그 상하 양형의 형 개방시에서의 수지 성형부의 종단면도이며, 도 6의 (2)는 그 상하 양형의 형 폐쇄시에서의 수지 성형부의 종단면도이다.
도 7은 본 발명의 제3 실시형태에 따른 압축 수지 밀봉 장치의 주요부를 도시하고 있고, 도 7의 (1)은 그 상하 양형의 형 개방시에서의 수지 성형부의 종단면도이며, 도 7의 (2)는 그 상하 양형의 형 폐쇄시에서의 수지 성형부의 종단면도이다.
도 8은 종래의 압축 수지 밀봉 장치의 주요부를 개략적으로 도시하고 있고, 도 8의 (1)은 그 상하 양형의 형 개방시에서의 수지 성형부의 종단면도이며, 도 8의 (2)는 그 상하 양형의 형 폐쇄시에서의 수지 성형부의 종단면도이다.
31 : 상형 31a : 상형 베이스
31b : 상형 홀드 블록 31c : 기판 세트 블록
31d : 상형 가열용 히터 31e : 시일 부재
31f : 시일 부재 32 : 하형
32a : 하형 베이스 32b : 하형 홀드 블록
32c : 캐비티 저면 부재 32d : 캐비티 측면 부재
32e : 탄성 부재 32f : 하형 가열용 히터
32g : 시일 부재 33 : 수지 성형부
33a : 하형 캐비티 33b : 잉여 수지 수용부
33c : 좁은 간극 33d : 패키지 두께
34 : 수지 누설 방지용 부재 34a : 하형 캐비티
34b : 잉여 수지 수용부 34c : 좁은 간극
34d : 패키지 두께 35 : 동작 신호
36 : 수지 성형부 36a : 하형 캐비티
36b : 잉여 수지 수용부 36c : 좁은 간극
36d : 패키지 두께 40 : 균등 가압 수단
41 : 상형 균등 가압 수단 41a : 상형 수평 공간부
41b : 탄성 수용체 41c : 연통 경로
42 : 하형 균등 가압 수단 42a : 하형 수평 공간부
42b : 탄성 수용체 42c : 연통 경로
43 : 가압력 조절 기구 44 : 압력 매체
50 : 형 개폐 기구(토글 기구) 51 : 베이스
51a : 축 52 : 가동 압반
52a : 축 53 : 서보 모터
53a : 출력축 53b : 풀리
53c : 벨트 54 : 스크루 축
55 : 너트 부재 56a : 제1 링크
56b : 제2 링크 56c : 제3 링크
60 : 이형 필름 70 : 대형 기판
71 : 전자 부품 80 : 시트형 수지(시트형 수지 재료)
80a : 용융 수지 재료 80b : 잉여 수지
Claims (15)
- 적어도 상형과 하형으로 이루어지는 압축 성형용 형을 이용하고, 전자 부품이 장착된 기판을, 그 전자 부품 장착면측을 하향으로 하여 상기 상형의 형면에 공급하여 걸어 부착시키며, 상기 하형의 형면에 형성되고 이형 필름에 의해 피복된 하형 캐비티 내에 공급된 수지 재료를 가열하여 용융화하는 용융화 공정과,
다음으로, 상기 상하 양형을 닫는 형 폐쇄를 행하여 상기 상형측에서의 상기 기판의 상기 전자 부품을 상기 하형 캐비티 내의 용융 수지 재료 중에 침지시키는 형 폐쇄 공정
을 포함하는 전자 부품의 압축 수지 밀봉 방법으로서,
상기 형 폐쇄 공정은,
상기 하형 캐비티 내의 잉여 수지를 상기 하형 캐비티의 외부로 유출시키는 잉여 수지의 외부 유출 단계와,
상기 잉여 수지의 외부 유출 단계를 거친 후에 상기 하형 캐비티 내의 용융 수지 재료에 정해진 수지압을 가하여 상기 기판 상의 전자 부품을 일괄하여 수지 밀봉 성형하는 수지 밀봉 단계
를 포함하고,
상기 잉여 수지의 외부 유출 단계에서는, 상기 잉여 수지를, 상기 상하 양형 사이에 마련된 간극을 통해, 상기 하형 캐비티의 주위에 마련된 잉여 수지 수용부 내에 안내하며,
상기 수지 밀봉 단계에서는, 상기 상하 양형의 형 폐쇄 최종 위치에서의 상기 하형 캐비티의 저면과 상기 기판의 전자 부품 장착면과의 간격을, 상기 기판의 전자 부품을 수지 밀봉하기 위한 패키지 두께의 간격과 동일해지도록 설정하고,
상기 하형 캐비티 내에서 성형되는 상기 패키지 두께를 소정의 두께로 성형할 수 있으며,
캐비티 측면 부재에 상기 간극과 상기 잉여 수지 수용부를 구비하도록 설정하고,
상기 간극이, 상기 하형 캐비티로부터 상기 잉여 수지 수용부를 향하여 얕아지는 경사면을 구비하고 있도록 설정하며,
상기 하형은, 캐비티 저면 부재와 상기 캐비티 측면 부재로 분할된 구성을 구비하고, 상기 캐비티 저면 부재와 상기 캐비티 측면 부재를, 상대적으로 상하 이동 가능하게 감합시켜 구성하는 것을 특징으로 하는 전자 부품의 압축 수지 밀봉 방법. - 적어도 상형과 하형으로 이루어지는 압축 성형용 형을 이용하고, 전자 부품이 장착된 기판을, 그 전자 부품 장착면측을 하향으로 하여 상기 상형의 형면에 공급하여 걸어 부착시키며, 상기 하형의 형면에 형성되고 이형 필름에 의해 피복된 하형 캐비티 내에 공급된 수지 재료를 가열하여 용융화하는 용융화 공정과,
다음으로, 상기 상하 양형을 닫는 형 폐쇄를 행하여 상기 상형측에서의 상기 기판의 상기 전자 부품을 상기 하형 캐비티 내의 용융 수지 재료 중에 침지시키는 형 폐쇄 공정
을 포함하는 전자 부품의 압축 수지 밀봉 방법으로서,
상기 형 폐쇄 공정은,
상기 하형 캐비티 내의 잉여 수지를 상기 하형 캐비티의 외부로 유출시키는 잉여 수지의 외부 유출 단계와,
상기 잉여 수지의 외부 유출 단계를 거친 후에 상기 하형 캐비티 내의 용융 수지 재료에 정해진 수지압을 가하여 상기 기판 상의 전자 부품을 일괄하여 수지 밀봉 성형하는 수지 밀봉 단계
를 포함하고,
상기 잉여 수지의 외부 유출 단계에서는, 상기 잉여 수지를, 상기 상하 양형 사이에 마련된 간극을 통해, 상기 하형 캐비티의 주위에 마련된 잉여 수지 수용부 내에 안내하며,
상기 수지 밀봉 단계에서는, 상기 상하 양형의 형 폐쇄 최종 위치에서의 상기 하형 캐비티의 저면과 상기 기판의 전자 부품 장착면과의 간격을, 상기 기판의 전자 부품을 수지 밀봉하기 위한 패키지 두께의 간격과 동일해지도록 설정하고,
상기 하형 캐비티 내에서 성형되는 상기 패키지 두께를 소정의 두께로 성형할 수 있으며,
상기 간극은, 상기 하형의 형면과 상기 기판의 상기 전자 부품 장착면 사이에 마련되고,
상기 잉여 수지 수용부는,
상기 간극과,
상기 간극과 상기 하형 캐비티의 주위에 배치한 수지 누설 방지용 부재 사이의 공간부
로 구성되도록 설정되며,
상기 수지 누설 방지용 부재는, 상기 상하 양형의 형 폐쇄시에서의 상기 상하 양형의 형면 사이의 거리를 규제하기 위한 위치 결정 부재를 겸하고 있고,
상기 하형은, 캐비티 저면 부재와 캐비티 측면 부재로 분할된 구성을 구비하고, 상기 캐비티 저면 부재와 상기 캐비티 측면 부재를, 상대적으로 상하 이동 가능하게 감합시켜 구성하는 것을 특징으로 하는 전자 부품의 압축 수지 밀봉 방법. - 적어도 상형과 하형으로 이루어지는 압축 성형용 형을 이용하고, 전자 부품이 장착된 기판을, 그 전자 부품 장착면측을 하향으로 하여 상기 상형의 형면에 공급하여 걸어 부착시키며, 상기 하형의 형면에 형성되고 이형 필름에 의해 피복된 하형 캐비티 내에 공급된 수지 재료를 가열하여 용융화하며, 다음으로, 상기 상하 양형을 닫는 형 폐쇄를 행하여 상기 상형측에서의 상기 기판의 전자 부품을 상기 하형 캐비티 내의 용융 수지 재료 중에 침지시키고, 다음으로, 상기 하형 캐비티 내의 용융 수지 재료에 정해진 수지압을 가함으로써, 상기 기판 상에 장착한 전자 부품을 수지에 의해 일괄하여 밀봉 성형하는 전자 부품의 압축 수지 밀봉 장치로서,
상기 상하 양형을 닫는 형 폐쇄시에 있어서, 상기 상하 양형 사이에, 상기 하형 캐비티 내의 용융 수지 재료의 일부가 되는 잉여 수지를 상기 하형 캐비티의 외부로 유출시키기 위한 간극을 마련하고,
상기 하형 캐비티부의 주위에 상기 간극을 통해 연통시킨 잉여 수지 수용부를 배치하며,
상기 상하 양형의 형 폐쇄 최종 위치에서의 상기 하형 캐비티의 저면과 상기 기판의 전자 부품 장착면과의 간격을, 상기 기판의 전자 부품을 수지 밀봉하기 위한 패키지 두께의 간격과 동일해지도록 설정해 두고,
상기 하형 캐비티 내에서 성형되는 상기 패키지 두께를 소정의 두께로 성형할 수 있으며,
캐비티 측면 부재에 상기 간극과 상기 잉여 수지 수용부를 구비하도록 설정하고,
상기 간극이, 상기 하형 캐비티로부터 상기 잉여 수지 수용부를 향하여 얕아지는 경사면을 구비하고 있도록 설정하며,
상기 하형은, 캐비티 저면 부재와 상기 캐비티 측면 부재로 분할된 구성을 구비하고, 상기 캐비티 저면 부재와 상기 캐비티 측면 부재를, 상대적으로 상하 이동 가능하게 감합시켜 구성하는 것을 특징으로 하는 전자 부품의 압축 수지 밀봉 장치. - 적어도 상형과 하형으로 이루어지는 압축 성형용 형을 이용하고, 전자 부품이 장착된 기판을, 그 전자 부품 장착면측을 하향으로 하여 상기 상형의 형면에 공급하여 걸어 부착시키며, 상기 하형의 형면에 형성되고 이형 필름에 의해 피복된 하형 캐비티 내에 공급된 수지 재료를 가열하여 용융화하며, 다음으로, 상기 상하 양형을 닫는 형 폐쇄를 행하여 상기 상형측에서의 상기 기판의 전자 부품을 상기 하형 캐비티 내의 용융 수지 재료 중에 침지시키고, 다음으로, 상기 하형 캐비티 내의 용융 수지 재료에 정해진 수지압을 가함으로써, 상기 기판 상에 장착한 전자 부품을 수지에 의해 일괄하여 밀봉 성형하는 전자 부품의 압축 수지 밀봉 장치로서,
상기 상하 양형을 닫는 형 폐쇄시에 있어서, 상기 상하 양형 사이에, 상기 하형 캐비티 내의 용융 수지 재료의 일부가 되는 잉여 수지를 상기 하형 캐비티의 외부로 유출시키기 위한 간극을 마련하고,
상기 하형 캐비티부의 주위에 상기 간극을 통해 연통시킨 잉여 수지 수용부를 배치하며,
상기 상하 양형의 형 폐쇄 최종 위치에서의 상기 하형 캐비티의 저면과 상기 기판의 전자 부품 장착면과의 간격을, 상기 기판의 전자 부품을 수지 밀봉하기 위한 패키지 두께의 간격과 동일해지도록 설정해 두고,
상기 하형 캐비티 내에서 성형되는 상기 패키지 두께를 소정의 두께로 성형할 수 있으며,
상기 간극은, 상기 하형의 형면과 상기 기판의 상기 전자 부품 장착면 사이에 마련되고,
상기 잉여 수지 수용부는,
상기 간극과,
상기 간극과 상기 하형 캐비티의 주위에 배치한 수지 누설 방지용 부재 사이의 공간부
로 구성되도록 설정되며,
상기 수지 누설 방지용 부재는, 상기 상하 양형의 형 폐쇄시에서의 상기 상하 양형의 형면 사이의 거리를 규제하기 위한 위치 결정 부재를 겸하고 있고,
상기 하형은, 캐비티 저면 부재와 캐비티 측면 부재로 분할된 구성을 구비하고, 상기 캐비티 저면 부재와 상기 캐비티 측면 부재를, 상대적으로 상하 이동 가능하게 감합시켜 구성하는 것을 특징으로 하는 전자 부품의 압축 수지 밀봉 장치. - 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 하형 캐비티 내에 공급하는 상기 수지 재료는, 소요량의 수지를 평탄화하여 공급되는 수지 재료인 것을 특징으로 하는 전자 부품의 압축 수지 밀봉 방법.
- 제5항에 있어서, 상기 수지 재료는, 과립형의 수지 재료, 분말형의 수지 재료, 액상의 수지 재료, 페이스트형의 수지 재료로부터 선택되는 수지 재료인 것을 특징으로 하는 전자 부품의 압축 수지 밀봉 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 이형 필름에 의해 상기 하형 캐비티를 피복하기 전에, 소요량의 수지를 평탄화하여 소요의 보형성을 구비하는 시트형 수지 재료를 상기 이형 필름 상에 배치하고, 이 상태의 상기 시트형 수지 재료와 상기 이형 필름을 상기 하형 캐비티 내에 공급함으로써, 상기 이형 필름에 의한 상기 하형 캐비티의 피복과, 상기 하형 캐비티에 대한 상기 시트형 수지 재료의 공급을 행하는 것을 특징으로 하는 전자 부품의 압축 수지 밀봉 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 수지 재료는, 소요량의 수지를 평탄화하여 소요의 보형성을 구비하는 시트형 수지 재료이고,
상기 하형 캐비티를 포함하는 상기 하형의 형면에 상기 이형 필름을 팽팽하게 설치하며, 상기 이형 필름을 개재하여 상기 시트형 수지 재료를 상기 하형 캐비티에 공급하는 것을 특징으로 하는 전자 부품의 압축 수지 밀봉 방법. - 삭제
- 삭제
- 제4항에 있어서, 상기 잉여 수지를 상기 하형 캐비티의 외부로 유출시키기 위한 간극은, 상기 하형의 형면과 상기 기판의 상기 전자 부품 장착면 사이에 형성되어 상기 하형 캐비티와 상기 잉여 수지 수용부를 연통시키는 수지 통로이고,
상기 수지 통로는, 상기 하형 캐비티로부터 상기 잉여 수지 수용부를 향하여 얕아지는 경사면을 구비하는 것을 특징으로 하는 전자 부품의 압축 수지 밀봉 장치. - 제3항에 있어서, 상기 잉여 수지를 상기 하형 캐비티의 외부로 유출시키기 위한 간극은, 상기 하형 캐비티와 상기 기판의 상기 전자 부품 장착면 사이에 마련되고,
상기 잉여 수지 수용부는,
상기 간극과,
상기 간극과 상기 하형 캐비티의 주위에 배치한 수지 누설 방지용 부재 사이의 공간부
를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 부품의 압축 수지 밀봉 장치. - 제12항에 있어서, 상기 수지 누설 방지용 부재가, 상기 상하 양형의 형 폐쇄시에서의 상기 상하 양형의 형면 사이의 거리를 규제하기 위한 위치 결정 부재를 겸하고 있는 것을 특징으로 하는 전자 부품의 압축 수지 밀봉 장치.
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Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013083493A JP5934138B2 (ja) | 2013-04-12 | 2013-04-12 | 電子部品の圧縮樹脂封止方法及び圧縮樹脂封止装置 |
JPJP-P-2013-083493 | 2013-04-12 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20140123407A KR20140123407A (ko) | 2014-10-22 |
KR101610456B1 true KR101610456B1 (ko) | 2016-04-07 |
Family
ID=51671563
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020140008955A Active KR101610456B1 (ko) | 2013-04-12 | 2014-01-24 | 전자 부품의 압축 수지 밀봉 방법 및 압축 수지 밀봉 장치 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5934138B2 (ko) |
KR (1) | KR101610456B1 (ko) |
CN (1) | CN104103530B (ko) |
TW (1) | TWI592279B (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI633630B (zh) * | 2016-05-24 | 2018-08-21 | Towa股份有限公司 | 壓縮成形裝置、樹脂封裝品製造裝置、壓縮成形方法、以及樹脂封裝品的製造方法 |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6491508B2 (ja) | 2015-03-23 | 2019-03-27 | Towa株式会社 | 樹脂封止装置及び樹脂成形品の製造方法 |
JP6654861B2 (ja) * | 2015-11-09 | 2020-02-26 | Towa株式会社 | 樹脂封止装置及び樹脂封止方法 |
NL2016011B1 (en) | 2015-12-23 | 2017-07-03 | Besi Netherlands Bv | Press, actuator set and method for encapsulating electronic components with at least two individual controllable actuators. |
JP6861507B2 (ja) * | 2016-11-29 | 2021-04-21 | Towa株式会社 | 圧縮成形装置、圧縮成形方法、及び圧縮成形品の製造方法 |
JP6861506B2 (ja) * | 2016-11-29 | 2021-04-21 | Towa株式会社 | 圧縮成形装置、圧縮成形方法、及び圧縮成形品の製造方法 |
US10199299B1 (en) | 2017-08-07 | 2019-02-05 | Micron Technology, Inc. | Semiconductor mold compound transfer system and associated methods |
KR102446861B1 (ko) | 2017-09-21 | 2022-09-23 | 삼성전자주식회사 | 적층 패키지 및 그의 제조 방법 |
JP7149238B2 (ja) * | 2019-08-09 | 2022-10-06 | Towa株式会社 | 樹脂成形装置及び樹脂成形品の製造方法 |
CN112976666B (zh) * | 2019-12-12 | 2022-07-26 | 东莞市天贺电子科技有限公司 | 一种应用于压缩成形的模具上的动平衡缓冲机构 |
CN111391219B (zh) * | 2020-03-20 | 2021-12-24 | 东莞市艾尔玛塑件科技有限公司 | 一种模内转印系统 |
JP7475215B2 (ja) * | 2020-06-29 | 2024-04-26 | Nok株式会社 | ガスケットの製造方法 |
CN111791421A (zh) * | 2020-07-13 | 2020-10-20 | 无锡利普思半导体有限公司 | 适用于塑封功率模块的压缩模具及其塑封方法 |
CN114801003B (zh) * | 2022-04-25 | 2024-04-05 | 浙江瑞然生态科技有限公司 | 全生物降解型环保餐具模压装置及其制备方法 |
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Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1271640A3 (en) * | 1996-07-12 | 2003-07-16 | Fujitsu Limited | Mold for manufacturing semiconductor device |
JP4336502B2 (ja) * | 2003-01-30 | 2009-09-30 | Towa株式会社 | 電子部品の樹脂封止成形方法及び装置 |
US7189601B2 (en) * | 2004-03-02 | 2007-03-13 | Texas Instruments Incorporated | System and method for forming mold caps over integrated circuit devices |
JP2005324341A (ja) * | 2004-05-12 | 2005-11-24 | Apic Yamada Corp | 樹脂モールド方法および樹脂モールド装置 |
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-
2013
- 2013-04-12 JP JP2013083493A patent/JP5934138B2/ja active Active
-
2014
- 2014-01-24 KR KR1020140008955A patent/KR101610456B1/ko active Active
- 2014-01-27 CN CN201410039543.4A patent/CN104103530B/zh active Active
- 2014-03-04 TW TW103107135A patent/TWI592279B/zh active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201507842A (zh) | 2015-03-01 |
JP5934138B2 (ja) | 2016-06-15 |
JP2014207302A (ja) | 2014-10-30 |
CN104103530A (zh) | 2014-10-15 |
CN104103530B (zh) | 2017-06-20 |
TWI592279B (zh) | 2017-07-21 |
KR20140123407A (ko) | 2014-10-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20140124 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PG1501 | Laying open of application | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20150715 Patent event code: PE09021S01D |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20151117 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20160127 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20160401 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20160401 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20190322 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20200320 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20210319 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20220325 Start annual number: 7 End annual number: 7 |