[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

KR100895311B1 - 액정 표시 장치 및 그 검사 방법 - Google Patents

액정 표시 장치 및 그 검사 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR100895311B1
KR100895311B1 KR1020020071920A KR20020071920A KR100895311B1 KR 100895311 B1 KR100895311 B1 KR 100895311B1 KR 1020020071920 A KR1020020071920 A KR 1020020071920A KR 20020071920 A KR20020071920 A KR 20020071920A KR 100895311 B1 KR100895311 B1 KR 100895311B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
line
gate
liquid crystal
data
signal
Prior art date
Application number
KR1020020071920A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20040043586A (ko
Inventor
문성재
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1020020071920A priority Critical patent/KR100895311B1/ko
Priority to TW092118991A priority patent/TW200411302A/zh
Priority to CNB031327877A priority patent/CN100474083C/zh
Priority to US10/619,665 priority patent/US7580107B2/en
Priority to JP2003388306A priority patent/JP4657598B2/ja
Publication of KR20040043586A publication Critical patent/KR20040043586A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100895311B1 publication Critical patent/KR100895311B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136254Checking; Testing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

본 발명은 액정 표시 장치에 관한 것으로, 이 액정 표시 장치는 복수의 게이트선, 상기 게이트선과 교차하는 복수의 데이터선, 상기 게이트선 중 하나와 상기 데이터선 중 하나에 각각 연결되어 있는 복수의 스위칭 소자, 상기 스위칭 소자에 연결되어 있는 화소 전극, 그리고 상기 게이트선 및 데이터선, 상기 스위칭 소자 및 상기 화소 전극과 이격되어 있고, 상기 데이터선에 검사 신호를 전달하기 위한 적어도 하나의 검사선을 구비한 액정 표시판을 포함한다. 이때, 검사선은 외부로부터 검사 신호를 전달받는 검사 패드를 포함하며, 상기 검사 패드는 외부 장치가 상기 액정 표시판에 부착되는 부분에 배치된다. 그로 인해, 데이터선과 게이트선을 검사하기 위한 검사 패드와 검사선을 데이터 구동 IC나 게이트 구동 IC 사이에 형성하지 않고 구동 IC의 위에 형성하므로, 액정 표시판 조립체의 공간 활용도를 높일 수 있다. 또한 데이터 구동 IC나 게이트 구동 IC 사이에 연결되는 연결선을 꼬임 없이 직선으로 형성할 수 있으므로, 신호 지연이나 배선 저항으로 인한 오류를 줄일 수 있다.
액정표시장치, VI, 데이터선검사, COG, 가요성인쇄회로기판, FPC

Description

액정 표시 장치 및 그 검사 방법 {LIQUID CRYSTAL DISPLAY AND TESTING METHOD THEREOF}
도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 개념도이다.
도 2는 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 한 화소에 대한 등가 회로도이다.
도 3은 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치를 개략적으로 도시한 배치도이다.
도 4는 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치용 박막 트랜지스터 표시판을 도시한 배치도로서, 도 3의 게이트선과 데이터선 및 그 교차 영역을 확대하여 나타낸 것이다.
도 5는 도 4의 박막 트랜지스터 표시판을 V-V' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
도 6은 본 발명의 한 실시예에 따른 도 3의 A 부분을 확대하여 나타낸 배치도이다.
도 7은 본 발명의 한 실시예에 따른 데이터선과 검사선의 연결부 부근을 확대하여 나타낸 배치도이다.
도 8은 도 7의 Ⅷ-Ⅷ' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
본 발명은 액정 표시 장치 및 그 검사 방법에 관한 것이다.
일반적인 액정 표시 장치(liquid crystal display, LCD)는 두 표시판과 그 사이에 들어 있는 유전율 이방성(dielectric anisotropy)을 갖는 액정층을 포함한다. 액정층에 전계를 인가하고, 이 전계의 세기를 조절하여 액정층을 통과하는 빛의 투과율을 조절함으로써 원하는 화상을 얻는다. 이러한 액정 표시 장치는 휴대가 간편한 평판 표시 장치(flat panel display, FPD) 중에서 대표적인 것으로서, 이 중에서도 박막 트랜지스터(thin film transistor, TFT)를 스위칭 소자로 이용한 TFT-LCD가 주로 이용되고 있다.
박막 트랜지스터가 형성되는 표시판에는 복수의 게이트선과 데이터선이 각각 행과 열 방향으로 형성되어 있고, 박막 트랜지스터를 통하여 이들 게이트선과 데이터선에 연결된 화소 전극이 형성되어 있다. 박막 트랜지스터는 게이트선을 통해 전달되는 게이트 신호에 따라 데이터선을 통해 전달되는 데이터 신호를 제어하여 화소 전극으로 전송한다. 게이트 신호는 구동 전압 생성부에서 만들어진 게이트 온 전압(Von)과 게이트 오프 전압(Voff)을 공급받는 복수의 게이트 구동 IC(integrated circuit)가 신호 제어부로부터의 제어에 따라 이들을 조합하여 만들어낸다. 데이터 신호는 신호 제어부로부터의 계조 신호를 복수의 데이터 구동 IC 가 아날로그 전압으로 변환함으로써 얻어진다. 신호 제어부 및 구동 전압 생성부 등은 통상 표시판 바깥에 위치한 인쇄 회로 기판(printed circuit board, PCB)에 구비되어 있고 구동 IC는 PCB와 표시판의 사이에 위치한 가요성 인쇄 회로(flexible printed circuit, FPC) 기판 위에 장착되어 있다. PCB는 통상 두 개를 두며 이 경우 표시판 위쪽과 왼쪽에 하나씩 배치하며, 왼쪽의 것을 게이트 PCB, 위쪽의 것을 데이터 PCB라 한다. 게이트 PCB와 표시판 사이에는 게이트 구동 IC가, 데이터 PCB와 표시판 사이에는 데이터 구동 IC가 위치하여, 각각 대응하는 PCB로부터 신호를 받는다.
그러나 게이트 PCB는 사용하지 않고 데이터 PCB만을 사용할 수도 있으며, 이 경우에도 게이트쪽 FPC 기판과 그 위의 게이트 구동 IC의 위치는 그대로일 수 있다. 이때에는 데이터 PCB에 위치한 신호 제어부와 구동 전압 생성부 등으로부터의 신호를 모든 게이트 구동 IC로 전달하기 위해서는 데이터쪽 FPC 기판과 표시판에 신호선을 따로 만들고, 게이트쪽 FPC 기판에도 신호선을 만들어 다음 게이트 구동 IC로 신호가 전달될 수 있도록 한다.
또한 게이트쪽 FPC 기판도 사용하지 않고, 액정 표시판 조립체 위에 바로 게이트 구동 IC를 장착할 수도 있고, 데이터 구동 IC 또한 액정 표시판 조립체 위에 바로 장착할 수 있다[COG(chip on glass) 방식]. 게이트 구동 IC를 액정 표시판 조립체 위에 바로 장착할 경우, 신호를 모든 게이트 구동 IC로 전달하기 위해서는 데이터쪽 FPC 기판과 표시판에만 신호선을 만들면 된다. 또한 데이터 구동 IC를 액정 표시판 조립체 위에 바로 장착할 경우에도 데이터쪽 FPC 기판을 통해 데이터 구동 IC는 모든 신호를 공급받는다.
한편, 제작된 액정 표시 장치의 동작을 검사하기 위한 VI(visual inspection) 검사를 실행하여야 하는데, 이를 위하여 앞과 같은 COG 구조에서는 표시판 위에 데이터선과 연결된 별도의 검사선을 데이터 구동 IC 단위로 설치하고 데이터 구동 IC 사이에 이 검사선에 검사 신호를 인가하기 위한 각 검사 패드를 설치한다. 원활한 검사를 위한 검사 패드의 크기는 일정 크기, 예를 들면 800㎛ × 800㎛ 이상이 된다.
또한 COG 구조에서 데이터 구동 IC 사이에 복수의 연결선을 두고, 데이터쪽 FPC 기판을 통하여 가장 좌측에 위치한 데이터 구동 IC에 계조 신호를 보내고 이 연결선을 통하여 다른 데이터 구동 IC에 차례대로 계조 신호를 전달하는 방식을 취하는 경우가 많다.
결국, 이러한 구조의 LCD에서는 데이터 구동 IC 사이의 한정된 공간에 연결선과 검사 패드와 검사선 등을 모두 설치하여야 하므로, 패드 및 검사선 설치에 많은 어려움이 있다. 즉, 이들을 모두 데이터 구동 IC 사이의 좁은 공간에 집어 넣기 위해서는 검사선과 패드를 먼저 배치하고 이들 검사선과 검사 패드를 피해 연결선 등 다른 신호선의 경로를 변경하는 것이 일반적이다. 이에 따라 신호선의 형태가 직선 형태를 유지하지 못하고 굽은 부분이 많이 발생하여 신호선의 경로가 길어지고 이에 따라 배선 저항이 증가하며 신호 지연이 커지는 등 정상적인 신호 전달에 악영향을 미치는 문제가 발생한다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 표시판의 공간에 제약을 받지 않고 VI용 검사 패드와 검사선을 형성하는 것이다.
본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는 데이터 구동 IC 사이의 신호 전송을 위한 연결선에 악영향을 미치지 않고 VI용 검사 패드와 검사선을 설치하는 것이다.
본 발명이 이루고자 하는 또 다른 기술적 과제는 데이터 구동 IC 사이의 배선 저항을 줄이고 신호 지연을 감소시키는 것이다.
본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치는,
복수의 제1 표시 신호선,
상기 제1 표시 신호선과 교차하는 복수의 제2 표시 신호선,
상기 제1 표시 신호선 중 하나와 상기 제2 표시 신호선 중 하나에 각각 연결되어 있는 복수의 스위칭 소자,
상기 스위칭 소자에 연결되어 있는 화소 전극, 그리고
상기 제1 및 제2 표시 신호선, 상기 스위칭 소자 및 상기 화소 전극과 이격되어 있고, 상기 제2 표시 신호선에 검사 신호를 전달하기 위한 적어도 하나의 검사선
을 구비한 액정 표시판을 포함하고,
상기 검사선은 외부로부터 검사 신호를 전달받는 검사 패드를 포함하며,
상기 검사 패드는 외부 장치가 상기 액정 표시판에 부착되는 부분에 배치된 다.
상기 적어도 하나의 검사선은 둘 이상의 검사선을 포함하고, 상기 각 검사선은 상기 제2 표시 신호선에 교대로 연결되어 있는 것이 바람직하다.
또한, 상기 제2 표시 신호선에 각각 전기적으로 연결되어 있는 복수의 구동부를 포함할 수 있고, 상기 복수의 구동부를 서로 연결하는 복수의 연결선을 더 포함할 수 있다. 이때, 상기 연결선은 직선형으로 뻗어 있는 것이 바람직하다.
상기 검사 패드는 상기 연결선보다 상기 액정 표시판의 가장자리에 더 가까운 것이 바람직하며, 특히, 상기 구동부와 상기 액정 표시판의 가장자리 사이에 배치되는 것이 바람직하다.
상기 각 구동부는 칩의 형태를 가지고 있을 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따른 상기 액정 표시 장치는 상기 외부 장치로서 상기 액정 표시판에 부착된 복수의 가요성 회로 기판을 더 포함할 수 있다.
본 실시예에서, 상기 검사선과 상기 제2 표시 신호선은 전기적으로 분리되어 있다.
본 실시예에 따른 액정 표시 장치는 상기 화소 전극과 동일한 층으로 만들어진 연결 부재를 더 포함하며, 상기 연결 부재는 상기 검사선과 상기 제2 표시 신호선 중 어느 하나에 연결되어 있는 것이 바람직하다.
또한 상기 검사선은 상기 제1 표시 신호선, 제2 표시 신호선 및 상기 화소 전극 중 어느 하나와 동일한 물질로 이루어질 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따른 복수의 제1 표시 신호선, 상기 제1 표시 신호선 과 교차하는 복수의 제2 표시 신호선, 상기 제1 표시 신호선 중 하나와 상기 제2 표시 신호선 중 하나에 각각 연결되어 있는 복수의 스위칭 소자, 상기 스위칭 소자에 연결되어 있는 화소 전극, 그리고 상기 제1 및 제2 표시 신호선, 상기 스위칭 소자 및 상기 화소 전극과 이격되어 있고, 상기 제2 표시 신호선에 검사 신호를 전달하기 위한 적어도 하나의 검사선을 포함하는 액정 표시 장치의 검사 방법으로서,
상기 제1 표시 신호선에 제1 검사 신호를 인가하고, 상기 검사선에 제2 검사 신호를 인가하여, 상기 스위칭 소자를 통해 상기 화소 전극을 구동시키는 단계, 그리고
상기 제2 표시 신호선과 상기 검사선의 연결을 끊는 단계
를 포함한다.
첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.
도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 붙였다. 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 있다고 할 때, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 어떤 부분이 다른 부분 "바로 위에" 있다고 할 때에는 중간에 다른 부분이 없는 것을 뜻한다.
도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 개념도이고, 도 2는 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 한 화소에 대한 등가 회로도이다.
도 1에 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 액정 표시 장치는 액정 표시판 조립체(liquid crystal panel assembly)(300) 및 이에 연결된 게이트 구동부(gate driver)(400)와 데이터 구동부(data driver)(500), 게이트 구동부(400)에 연결된 구동 전압 생성부(driving voltage generator)(700)와 데이터 구동부(500)에 연결된 계조 전압 생성부(gray voltage generator)(800) 그리고 이들을 제어하는 신호 제어부(signal controller)(600)를 포함하고 있다.
액정 표시판 조립체(300)는 등가 회로로 볼 때 복수의 표시 신호선(G1-Gn, D1-Dm)과 이에 연결된 복수의 화소(pixel)를 포함하며, 각 화소는 표시 신호선(G 1-Gn, D1-Dm)에 연결된 스위칭 소자(switching element)(Q)와 이에 연결된 액정 축전기(Clc) 및 유지 축전기(storage capacitor)(Cst)를 포함한다. 표시 신호선(G 1-Gn, D1-Dm)은 주사 신호(scanning signal) 또는 게이트 신호(gate signal)를 전달하며 행 방향으로 뻗어 있는 복수의 주사 신호선 또는 게이트선(G1-Gn)과 화상 신호(image signal) 또는 데이터 신호(data signal)를 전달하며 열 방향으로 뻗어 있는 데이터 신호선 또는 데이터선(D1-Dm)을 포함한다. 스위칭 소자(Q)는 삼단자 소자로서, 그 제어 단자는 게이트선(G1-Gn)에 연결되어 있고 입력 단자는 데이터선(D1-Dm)에 연결되며, 출력 단자는 액정 축전기(Clc) 및 유지 축전기(C st)의 한 단자에 연결되어 있다.
액정 축전기(Clc)는 스위칭 소자(Q)의 출력 단자와 공통 전압(common voltage, Vcom) 또는 기준 전압(reference voltage)에 연결되어 있다. 유지 축전기(Cst)의 다른 단자는 다른 전압, 예를 들면 기준 전압에 연결되어 있다. 그러나 유지 축전기(Cst)의 다른 단자는 바로 위의 게이트선[이하 "전단 게이트선(previous gate line)"이라 함]에 연결되어 있을 수 있다. 전자의 연결 방식을 독립 배선 방식(separate wire type)이라고 하며, 후자의 연결 방식을 전단 게이트 방식(previous gate type)이라고 한다.
한편, 액정 표시판 조립체(300)를 구조적으로 보면 도 2에서와 같이 개략적으로 나타낼 수 있다. 편의상 도 2에는 하나의 화소만을 나타내었다.
도 2에 도시한 것처럼, 액정 표시판 조립체(300)는 서로 마주 보는 하부 표시판(100)과 상부 표시판(200) 및 둘 사이의 액정층(3)을 포함한다. 하부 표시판(100)에는 게이트선(Gi-1, Gi) 및 데이터선(Dj)과 스위칭 소자(Q) 및 유지 축전기(Cst)가 구비되어 있다. 액정 축전기(Clc)는 하부 표시판(100)의 화소 전극(190)과 상부 표시판(200)의 기준 전극(270)을 두 단자로 하며 두 전극(190, 270) 사이의 액정층(3)은 유전체로서 기능한다.
화소 전극(190)은 스위칭 소자(Q)에 연결되며 기준 전극(270)은 상부 표시판(200)의 전면(全面)에 형성되어 있고 공통 전압(Vcom)에 연결된다.
여기에서 액정 분자들은 화소 전극(190)과 기준 전극(270)이 생성하는 전기장의 변화에 따라 그 배열을 바꾸고 이에 따라 액정층(3)을 통과하는 빛의 편광이 변화한다. 이러한 편광의 변화는 표시판(100, 200)에 부착된 편광자(도시하지 않음)에 의하여 빛의 투과율 변화로 나타난다.
화소 전극(190)은 또한 기준 전압을 인가받는 별개의 신호선이 하부 표시판(100)에 구비되어 화소 전극(190)과 중첩됨으로써 유지 축전기(Cst)를 이룬다. 전단 게이트 방식의 경우 화소 전극(190)은 절연체를 매개로 전단 게이트선(Gi-1)과 중첩됨으로써 전단 게이트선(Gi-1)과 함께 유지 축전기(C st)의 두 단자를 이룬다.
도 2는 스위칭 소자(Q)의 예로 모스(MOS) 트랜지스터를 보여주고 있으며, 이 모스 트랜지스터는 실제 공정에서 비정질 규소(amorphous silicon) 또는 다결정 규소(polysilicon)를 채널층으로 하는 박막 트랜지스터로 구현된다.
도 2에서와는 달리 기준 전극(270)이 하부 표시판(100)에 구비되는 경우도 있으며 이때에는 두 전극(190, 270)이 모두 선형 또는 막대형으로 만들어진다.
한편, 색 표시를 구현하기 위해서는 각 화소가 색상을 표시할 수 있도록 하여야 하는데, 이는 화소 전극(190)에 대응하는 영역에 적색, 녹색, 또는 청색의 색 필터(color filter)(230)를 구비함으로써 가능하다. 색 필터(230)는 도 2에서처럼 주로 상부 표시판(200)의 해당 영역에 형성되지만 하부 표시판(100)의 화소 전극(190) 위 또는 아래에 형성할 수도 있다.
다시 도 1을 참고하면, 구동 전압 생성부(700)는 스위칭 소자(Q)를 턴온시키는 게이트 온 전압(Von)과 스위칭 소자(Q)를 턴오프시키는 게이트 오프 전압(Voff) 등을 생성한다.
계조 전압 생성부(800)는 액정 표시 장치의 휘도와 관련된 복수의 계조 전압(gray voltage)을 생성한다.
게이트 구동부(400)는 스캔 구동부(scan driver)라고도 하며, 액정 표시판 조립체(300)의 게이트선(G1-Gn)에 연결되어 구동 전압 생성부(700)로부터의 게이트 온 전압(Von)과 게이트 오프 전압(Voff)의 조합으로 이루어진 게이트 신호를 게이트선(G1-Gn)에 인가한다.
또한 데이터 구동부(500)는 소스 구동부(source driver)라고도 하며, 액정 표시판 조립체(300)의 데이터선(D1-Dm)에 연결되어 계조 전압 생성부(800)로부터의 계조 전압을 선택하여 데이터 신호로서 데이터선(D1-Dm)에 인가한다.
신호 제어부(600)는 게이트 구동부(400), 데이터 구동부(500) 및 구동 전압 생성부(700) 등의 동작을 제어하는 제어 신호를 생성하여, 각 해당하는 제어 신호를 게이트 구동부(400), 데이터 구동부(500) 및 구동 전압 생성부(700)에 공급한다.
그러면, 도 3을 참고로 하여 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 구조에 대하여 상세하게 설명한다.
도 3은 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치를 개략적으로 도시한 배치도이다.
도 3에 도시한 바와 같이, 게이트선(G1-Gn)과 데이터선(D1-Dm )이 구비된 액정 표시판 조립체(300)의 위쪽에는 액정 표시 장치를 구동하기 위한 신호 제어부(600), 구동 전압 생성부(700) 및 계조 전압 생성부(800) 따위의 회로 요소가 구비되어 있는 인쇄 회로 기판(printed circuit board, PCB)(550)이 위치하고 있다. 액정 표시판 조립체(300)와 PCB(550)은 가요성 회로(flexible printed circuit, FPC) 기판(510)을 통하여 서로 전기적 물리적으로 연결되어 있다.
가장 왼쪽에 위치한 FPC 기판(511)에는 복수의 데이터 전달선(521)과 복수의 구동 신호선(522, 523)이 형성되어 있다. 데이터 전달선(521)은 조립체(300)에 형성된 리드선(321)을 통하여 데이터 구동 IC(540)의 입력 단자와 연결되어, 계조 신호를 전달한다. 구동 신호선(522, 523)은 각 구동 IC(540, 440)의 동작에 필요한 전원 전압과 제어 신호 등을 조립체(300)에 형성된 리드선(321) 및 구동 신호선(323)을 통하여 각 구동 IC(540, 440)에 전달한다.
기타의 FPC 기판(512)에는 이에 연결된 데이터 구동 IC(540)에 구동 및 제어 신호를 전달하기 위한 복수의 구동 신호선(522)이 형성되어 있다.
이들 신호선(521-523)들은 PCB(550)의 회로 요소와 연결되어 이로부터 신호를 받는다.
한편 구동 신호선(523)은 별도의 FPC 기판에 형성될 수 있다.
도 3에서와 같이 액정 표시판 조립체(300)에 구비된 가로 방향의 게이트선(G1-Gn)과 세로 방향의 데이터선(D1-Dm)의 교차에 의해 한정되는 복수의 화소 영역이 모여 화상을 표시하는 표시 영역(D)을 이룬다. 표시 영역(D)의 바깥쪽(빗금친 부분)에는 블랙 매트릭스(220)가 구비되어 있어 표시 영역(D) 밖으로 누설되는 빛을 차단하고 있다. 게이트선(G1-Gn)과 데이터선(D1-Dm )은 표시 영역(D) 내에서 각각 실질적으로 평행한 상태를 유지하지만, 표시 영역(D)을 벗어나면 부채살처럼 그룹별로 한 곳으로 모여 서로 간의 간격이 좁아지고 다시 실질적인 평행 상태가 되는데, 이 영역을 팬 아웃(fan out) 영역이라 한다.
액정 표시판 조립체(300)의 표시 영역(D) 밖의 위쪽 가장 자리에는 복수 개의 데이터 구동 IC(540)가 가로 방향으로 차례로 장착되어 있다. 데이터 구동 IC(540) 사이에는 IC간 연결선(541)이 형성되어 있어, FPC 기판(511)을 통하여 가장 좌측에 위치한 데이터 구동 IC(540)에 공급되는 계조 신호를 다음 데이터 구동 IC(540)에 차례대로 전달한다.
또한 각 데이터 구동 IC(540)의 밑에는 적어도 한 개 이상의 VI 검사선(125)이 형성되어 있다. 각 검사선(125)은 주로 가로 방향으로 뻗어 있으며 그 한쪽이 위를 향하여 뻗고 그 끝에는 검사 패드(126)가 연결되어 있다. 각 검사선(125)에는 데이터선(D1-Dm)이 연결되어 있는데 검사선(125)의 수가 둘 이상이면 검사선(125)과 데이터선(D1-Dm)의 연결은 교대로 이루어진다. 예를 들어 도 3에는 두 개의 검사선(125)이 있으며, 위쪽 검사선(125)에는 홀수 번째 데이터선(D1, D3, ...)이, 아래쪽 검사선(125)에는 짝수 번째 데이터선(D2, D4, ...)이 연결되어 있다.
검사 패드(126)는 FPC 기판(511, 512)과 조립체(300)가 전기적으로 연결되는 부분, 또는 데이터 구동 IC(540)의 위쪽 또는 데이터선(D1-Dm)에 신호가 인가되는 지점 상부에 배치되어 있다. 이와 같이 검사 패드(126)와 검사선(125)이 데이터 구동 IC(540) 사이에 위치하지 않고 데이터 구동 IC(540)의 위에 배치되어 있으므로, IC간 연결선(541)을 연결할 때 어떠한 꼬임도 없이 거의 직선으로 형성하여, 배선 저항이나 신호 지연 등을 줄일 수 있다.
또한 액정 표시판 조립체(300)의 왼쪽 가장 자리에는 네 개의 게이트 구동 IC(440)가 세로 방향으로 나란히 장착되어 있다. 게이트 구동 IC(440) 부근에는 앞서 언급한 복수의 구동 신호선(323)이 형성되어 있다. 이들 구동 신호선(323)은 FPC 기판(511)의 구동 신호선(523)과 게이트 구동 IC(440) 또는 게이트 구동 IC(440) 사이 등을 전기적으로 연결한다.
또한 구동 신호선(323) 중 표시 영역(D)에 인접한 두 개의 신호선(323)은 게이트선(G1-Gn)에 교대로 연결되어 있다. 이들 신호선(323)의 한쪽 끝에는 게이트선(G1-Gn) 및 화소의 상태를 검사하기 위한 검사 패드(323p)를 각각 구비하고 있다.
앞서 설명한 것처럼, 액정 표시판 조립체(300)는 두 개의 표시판(100, 200)을 포함하며, 이중 박막 트랜지스터가 구비된 하부 표시판(100)을 "박막 트랜지스터 표시판"이라 한다. 도 3에서 구동 신호선(323), 리드선(321), 연결선(541), VI 검사선(125) 및 검사 패드(126) 등이 이 박막 트랜지스터 표시판(100)에 구비되어 있으므로, 박막 트랜지스터 표시판(100)의 구조에 대하여 도 4 내지 도 8을 참조하여 상세히 설명한다.
도 4는 본 발명의 한 실시예에 따른 액정 표시 장치용 박막 트랜지스터 표시판을 도시한 배치도로서, 도 3의 게이트선과 데이터선 및 그 교차 영역을 확대하여 나타낸 것이고, 도 5는 도 4의 박막 트랜지스터 표시판을 V-V' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다. 도 6은 본 발명의 한 실시예에 따른 도 3의 A 부분을 확대하여 나타낸 배치도이다. 또한 도 7은 본 발명의 한 실시예에 따른 데이터선과 검사선의 연결부 부근을 확대하여 나타낸 배치도이고, 도 8은 도 7의 Ⅷ-Ⅷ' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
절연 기판(110) 위에 알루미늄(Al) 또는 알루미늄 합금(Al alloy), 몰리브덴(Mo) 또는 몰리브덴-텅스텐 합금(MoW), 크롬(Cr), 탄탈륨(Ta) 등의 금속 또는 도전체로 이루어진 복수의 게이트선(121)과 한 쌍의 검사선(125), 복수의 연결선(541), 복수의 리드선(321)이 형성되어 있다.
게이트선(121)은 주로 가로 방향으로 뻗어 있으며, 그 일부는 게이트 전극(124)이 된다.
각 검사선(125)은 주로 가로 방향으로 뻗어 있고, 그 끝 부분이 위를 향하여 뻗어 검사 패드(126)가 된다. 도 6에 도시한 바와 같이, 아래쪽 검사선(125)은 홀수 번째 데이터선과 연결되어 있고 위쪽 검사선(125)은 짝수 번째 데이터선과 연결되어 있다. 검사 패드(126)는 리드선(321)의 사이에 배치되어 있다.
게이트선(121), 검사선(125), 연결선(541) 및 리드선(321)은 단일층으로 형성될 수도 있지만, 이중층 이상으로 형성될 수도 있다. 이때, 한 층은 비저항이 작은 물질로 하고 다른 층은 다른 물질과의 접촉 특성이 좋은 물질로 형성하는 것이 바람직하며, 그 예로 크롬과 알루미늄 합금의 이중막 또는 몰리브덴 또는 몰리브덴 합금과 알루미늄의 이중막을 들 수 있다.
도 3에 도시한 구동 신호선(323) 또한 게이트선(121)과 동일한 층으로 형성된다.
게이트선(121), 검사선(125), 리드선(321) 및 연결선(541) 위에는 질화규소(SiNX) 따위로 이루어진 게이트 절연막(140)이 형성되어 있다.
게이트 전극(124) 상부의 게이트 절연막(140) 위에는 수소화 비정질 규소로 이루어진 복수의 섬(island)형 반도체(154)가 형성되어 있으며, 반도체(154) 위에는 인(P)과 같은 n형 불순물이 고농도로 도핑되어 있는 수소화 비정질 규소 따위의 반도체로 이루어진 복수 쌍의 저항성 접촉 부재(163, 165)가 형성되어 있으며 각 쌍의 접촉 부재(163, 165)는 게이트 전극(124)을 중심으로 양쪽으로 분리되어 있다.
저항성 접촉 부재(163, 165) 및 게이트 절연막(140) 위에는 알루미늄 또는 알루미늄 합금, 몰리브덴 또는 몰리브덴-텅스텐 합금, 크롬, 탄탈륨 등의 금속 또는 도전체로 이루어진 복수의 데이터선(171) 및 드레인 전극(175)이 형성되어 있다.
각 데이터선(171)은 주로 세로 방향으로 뻗어 있으며, 그 가지들이 뻗어 나와 복수의 소스 전극(173)을 이룬다. 드레인 전극(175)은 게이트 전극(124)을 중심으로 소스 전극(173)과 마주하며, 데이터선(171)과 분리되어 있다.
데이터선(171) 및 드레인 전극(175)은 게이트선(121)과 마찬가지로 단일층으로 이루어질 수도 있지만 이중층 이상으로 이루어질 수 있다. 이중층 이상인 경우에는 한 층은 비저항이 작은 물질로 형성하고, 다른 층은 다른 물질과의 접촉 특성이 좋은 물질로 하는 것이 바람직하다.
검사선(125), 연결선(541) 및 리드선(321)은 데이터선(171)과 동일층으로 형성될 수 있다.
여기서, 게이트 전극(124), 반도체(154), 소스 전극(173) 및 드레인 전극(175)은 박막 트랜지스터(TFT)를 이루고 있다.
데이터선(171) 및 드레인 전극(175)과 이들로 가려지지 않은 반도체(154) 및 게이트 절연막(140) 위에는 질화규소 또는 유기 절연막으로 이루어진 보호막(180)이 형성되어 있다. 보호막(180)은 데이터선(171)의 일부와 드레인 전극(175)의 일부를 드러내는 복수의 접촉 구멍(182, 186, 183)을 가지고 있다.
보호막(180)은 또한 게이트 절연막(140)과 함께 게이트선(121)의 일부와 검사선(125)의 일부를 드러내는 복수의 접촉 구멍(181, 186, 187)을 가지고 있다. 또한, 도면에 도시하지 않았지만, 검사 패드(126), 리드선(321), 구동 신호선(323)의 일부를 드러내는 접촉 구멍도 보호막(180)에 구비되어 있다.
보호막(180) 위에는 ITO(indium tin oxide) 또는 IZO(indium zinc oxide) 따위의 투명 도전 물질로 이루어진 화소 전극(190), 접촉 보조 부재(91, 92) 및 연결 부재(97)가 형성되어 있다.
화소 전극(190)은 접촉 구멍(183)을 통하여 드레인 전극(175)과 연결되어 데이터 신호를 전달받는다. 게이트 접촉 보조 부재(91)와 데이터 접촉 보조 부재(92)는 접촉 구멍(181, 182)을 통해 게이트선(121) 및 데이터선(171)의 일부에 각각 연결되어 있으며, 이들은 게이트선(121) 및 데이터선(171)의 끝부분과 외부 회로 장치와의 접착성을 보완하고 게이트선(121)과 데이터선(171)을 보호하는 역할을 한다. 연결 부재(97)는 접촉 구멍(186)을 통하여 데이터선(171)에 연결되어 있고 접촉 구멍(187)을 통해 검사선(125)에 연결되어, 검사 패드(126)를 통해 전달되는 데이터선 검사 신호를 연결된 데이터선에 공급한다.
그러면 이러한 액정 표시 장치의 표시 동작에 대하여 좀더 상세하게 설명한다.
PCB(550)에 구비되어 있는 신호 제어부(600)는 외부의 그래픽 제어기(graphic controller)(도시하지 않음)로부터 RGB 데이터 신호(R, G, B) 및 이의 표시를 제어하는 제어 입력 신호(input control signal), 예를 들면 수직 동기 신호(vertical synchronizing signal, Vsync)와 수평 동기 신호(horizontal synchronizing signal, Hsync), 메인 클록(main clock, CLK), 데이터 인에이블 신호(data enable signal, DE) 등을 제공받는다. 신호 제어부(600)는 제어 입력 신호를 기초로 게이트 제어 신호 및 데이터 제어 신호를 생성하고 계조 신호(R, G, B)를 액정 표시판 조립체(300)의 동작 조건에 맞게 적절히 처리한 후, 게이트 제어 신호를 게이트 구동부(400)와 구동 전압 생성부(700)로 내보내고 데이터 제어 신호와 처리한 계조 신호(R', G', B')는 데이터 구동부(500)로 내보낸다.
게이트 제어 신호는 게이트 온 펄스(게이트 신호의 하이 구간)의 출력 시작을 지시하는 수직 동기 시작 신호(vertical synchronization start signal, STV), 게이트 온 펄스의 출력 시기를 제어하는 게이트 클록 신호(gate clock signal, CPV) 및 게이트 온 펄스의 폭을 한정하는 게이트 온 인에이블 신호(gate on enable signal, OE) 등을 포함한다. 이중에서 게이트 온 인에이블 신호(OE)와 게이트 클록 신호(CPV)는 구동 전압 생성부(700)에도 공급된다. 데이터 제어 신호는 계조 신호의 입력 시작을 지시하는 수평 동기 시작 신호(horizontal synchronization start signal, STH)와 데이터선에 해당 데이터 전압을 인가하라는 로드 신호(load signal, LOAD 또는 TP), 데이터 전압의 극성을 반전시키는 반전 제어 신호(RVS) 및 데이터 클록 신호(data clock signal, HCLK) 등을 포함한다.
이때, 게이트 구동부(400)에 공급되는 게이트 제어 신호는 구동 신호선(523, 323)을 통하여 전달되고, 데이터 제어 신호 및 계조 신호는 리드선(321)을 통하여 데이터 구동부(500)에 전달된다.
한편, 구동 전압 생성부(700)는 신호 제어부(550)로부터의 제어 신호에 따라 게이트 온 전압(Von), 게이트 오프 전압(Voff) 및 기준 전극(270)에 인가되는 공통 전압(Vcom)을 생성하고, 게이트 온 전압(Von)과 게이트 오프 전압(Voff )을 구동 신호선(523, 323)을 통해 게이트 구동부(400)에 공급한다. 그리고 계조 전압 생성부(800)는 액정 표시 장치의 휘도와 관련된 복수의 계조 전압을 생성하여 리드선(321)을 통해 데이터 구동부(500)에 인가한다.
게이트 구동부(400)는 신호 제어부(600)로부터의 게이트 제어 신호에 따라 게이트 온 전압(Von)을 차례로 게이트선(G1-Gn)에 인가하여 이 게이트선(G 1-Gn)에 연결된 스위칭 소자(Q)를 턴온시킨다. 이와 동시에 데이터 구동부(500)는 신호 제어부(600)로부터의 데이터 제어 신호에 따라, 턴온된 스위칭 소자(Q)를 포함하는 화소에 대한 계조 신호(R', G', B')에 대응하는 계조 전압 생성부(800)로부터의 아날로그 계조 전압을 데이터 신호로서 해당 데이터선(D1-Dm)에 공급한다. 데이터선(D1-Dm)에 공급된 데이터 신호는 턴온된 스위칭 소자(Q)를 통해 해당 화소에 인가된다. 이러한 방식으로, 한 프레임(frame) 동안 모든 게이트선(G1-Gn)에 대하여 차례로 게이트 온 전압(Von)을 인가하여 모든 화소에 데이터 신호를 인가한다. 이때 한 프레임이 끝나고 구동 전압 생성부(700)와 데이터 구동부(500)에 반전 제어 신호(RVS)가 공급되면 다음 프레임의 모든 데이터 신호의 극성이 바뀐다.
이 과정을 좀더 상세하게 설명한다.
수직 동기 시작 신호(STV)를 받은 첫 번째 게이트 구동 IC(440)는 구동 전압 생성부(700)로부터의 두 전압(Von, Voff) 중 게이트 온 전압(Von)을 선택하여 첫 번째 게이트선(G1)으로 출력한다. 이때 다른 게이트선(G2-Gn)에는 게이트 오프 전압(Voff)이 인가되고 있다.
한편, 가장 왼쪽의 데이터 구동 IC(540)는 자신의 계조 신호를 모두 저장하고, 다른 데이터 구동 IC(540)용 계조 신호를 받아 연결선(541)을 통하여 인접 데이터 구동 IC(540)로 넘겨준다. 이러한 방법으로 각 데이터 구동 IC(540)는 자신의 계조 신호는 저장하고 다른 데이터 구동 IC(540)용 계조 신호는 연결선(541)을 통해 인접 데이터 구동 IC(540)에 전달한다.
첫 번째 게이트선(G1)에 연결된 스위칭 소자(Q)는 게이트 온 전압(Von)에 의하여 도통되고, 첫 번째 행의 데이터 신호가 도통된 스위칭 소자(Q)를 통하여 첫째 행의 화소의 액정 축전기(Clc) 및 유지 축전기(Cst)에 인가된다. 일정 시간이 지나 첫째 행의 화소의 축전기(Clc, Cst)의 충전이 완료되면, 첫 번째 게이트 구동 IC(440)는 첫째 게이트선(G1)에 게이트 오프 전압(Voff)을 인가하여 연결된 스위칭 소자(Q)를 오프시키고, 둘째 게이트선(G2)에 게이트 온 전압(Von)을 인가한다.
이러한 방식으로 연결된 모든 게이트선에 게이트 온 전압(Von)을 적어도 한번씩 인가한 첫째 게이트 구동 IC(440)는 주사가 완료되었음을 알리는 캐리(carry) 신호를 신호선(323)을 통하여 두 번째 게이트 구동 IC(440)에 제공한다.
캐리 신호를 받은 둘째 게이트 구동 IC(440)는 마찬가지 방식으로 자신과 연결된 모든 게이트선에 대한 주사를 행하고 이를 마치면 캐리 신호를 신호선(323)을 통하여 다음 게이트 구동 IC(440)에 공급한다. 이러한 방식으로 마지막 게이트 구동 IC(440)의 주사 동작이 완료되면 한 프레임이 완료된다.
이와 같은 과정을 통해 표시 동작을 실시하는 액정 표시 장치에서, 데이터선(D1-Dm) 및 화소의 상태를 검사하는 VI 검사 방법에 대하여 설명한다.
먼저, 액정 표시판 조립체(300)를 제조한 후, 검사 장치(도시하지 않음)를 이용하여 게이트선(G1-Gn)에 게이트 온 전압(Von)을 인가하여 해당하는 스위칭 소자(Q)를 모두 턴온시킨다.
이런 상태에서, 검사 장치의 프로브를 이용하여 하나의 검사 패드(126)에 데이터선 검사 신호를 인가하면, 검사 신호는 검사선(125)을 통해 각 해당 데이터선, 즉 홀수 번째 데이터선이나 짝수 번째 데이터선에 전달한다. 따라서 게이트 온 전압(Von)이 공급된 게이트선에 연결된 화소는 데이터선 검사 신호의 전압값에 대응하는 밝기를 가진다. 이때, VI 검사를 용이하게 하기 위하여 검은색 또는 흰색을 주로 이용한다.
그런 후, 검사자는 화면의 밝기 등 표시 상태를 눈으로 확인하여 해당 데이터선의 단선 여부나 화소의 동작 상태 등을 검사한다.
이와 같이 검사 패드(126)와 검사선(125)을 이용하여 해당하는 데이터선의 VI 검사를 마치면, 해당 검사 패드(126)를 통해 검사선(125)에 인가되는 검사 신호 의 공급을 중단한다. 그런 다음, 나머지 하나의 검사 패드(126)에 검사 신호를 인가하여 연결된 다른 데이터선, 즉 짝수 번째 데이터선이나 홀수 번째 데이터선에 검사 신호를 공급하여, 위에 설명한 것과 같은 방식으로 다른 검사선(125)에 연결된 나머지 데이터선에 대한 VI 검사를 완료한다.
모든 데이터선(D1-Dm)에 대한 VI 검사를 완료하면, 레이저 트리밍(laser trimming) 장치 등을 이용하여 검사 패드(126)와 데이터선 사이에 연결된 검사선(125)을 절단선(L)을 따라 절단한다.
앞서 설명한 실시예에서는 데이터선(D1-Dm)을 VI 검사하는 경우에 대해서만 설명하였으나, 게이트선(G1-Gn)을 VI 검사하는 경우에도 물론 적용될 수 있다. 또한 게이트 구동부 및 데이터 구동부가 액정 표시판 조립체 위에 칩의 형태로 직접 장착되는 경우 대해서 설명하였으나, 데이터 구동 IC를 FPC 기판 위에 장착하거나 복수의 FPC 기판을 조립체 좌측에 부착하고 그 위에 게이트 구동 IC를 장착한 경우에도 적용될 수 있다. 또한, 게이트 구동부 및/또는 데이터 구동부가 박막 트랜지스터나 게이트선, 데이터선 등과 동일한 공정으로 액정 표시판 조립체 위에 직접 형성되는 경우에도 적용될 수 있다.
이와 같이, 데이터선과 게이트선을 검사하기 위한 검사 패드와 검사선을 데이터 구동 IC나 게이트 구동 IC 사이에 형성하지 않고 구동 IC의 위에 형성하므로, 액정 표시판 조립체의 공간 활용도를 높일 수 있다. 또한 데이터 구동 IC나 게이 트 구동 IC 사이에 연결되는 연결선을 꼬임 없이 직선으로 형성할 수 있으므로, 신호 지연이나 배선 저항으로 인한 오류를 줄일 수 있다.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.

Claims (13)

  1. 복수의 제1 표시 신호선,
    상기 제1 표시 신호선과 교차하는 복수의 제2 표시 신호선,
    상기 제1 표시 신호선 중 하나와 상기 제2 표시 신호선 중 하나에 각각 연결되어 있는 복수의 스위칭 소자,
    상기 스위칭 소자에 연결되어 있는 화소 전극, 그리고
    상기 제1 및 제2 표시 신호선, 상기 스위칭 소자 및 상기 화소 전극과 이격되어 있고, 상기 제2 표시 신호선에 검사 신호를 전달하기 위한 적어도 하나의 검사선
    을 구비한 액정 표시판을 포함하고,
    상기 검사선은 외부로부터 검사 신호를 전달받는 검사 패드를 포함하며,
    상기 검사 패드는 외부 장치가 상기 액정 표시판에 부착되는 부분에 배치되고,
    상기 검사선과 상기 제2 표시 신호선은 전기적으로 분리되어 있는
    액정 표시 장치.
  2. 제1항에서,
    상기 적어도 하나의 검사선은 둘 이상의 검사선을 포함하고, 상기 각 검사선은 상기 제2 표시 신호선에 교대로 연결되어 있는 액정 표시 장치.
  3. 제1항에서,
    상기 제2 표시 신호선에 각각 전기적으로 연결되어 있는 복수의 구동부를 포함하는 액정 표시 장치.
  4. 제3항에서,
    상기 복수의 구동부를 서로 연결하는 복수의 연결선을 더 포함하는 액정 표시 장치.
  5. 제4항에서,
    상기 연결선은 직선형으로 뻗어 있는 액정 표시 장치.
  6. 제4항에서,
    상기 검사 패드는 상기 연결선보다 상기 액정 표시판의 가장자리에 더 가까운 액정 표시 장치.
  7. 제3항에서,
    상기 검사 패드는 상기 구동부와 상기 액정 표시판의 가장자리 사이에 배치되는 액정 표시 장치.
  8. 제3항에서,
    상기 각 구동부는 칩의 형태를 가지고 있는 액정 표시 장치.
  9. 제1항에서,
    상기 액정 표시 장치는 상기 외부 장치로서 상기 액정 표시판에 부착된 복수의 가요성 회로 기판을 더 포함하는 액정 표시 장치.
  10. 삭제
  11. 제1항에서,
    상기 화소 전극과 동일한 층으로 만들어진 연결 부재를 더 포함하며,
    상기 연결 부재는 상기 검사선과 상기 제2 표시 신호선 중 어느 하나에 연결되어 있는
    액정 표시 장치.
  12. 제11항에서,
    상기 검사선은 상기 제1 표시 신호선, 제2 표시 신호선 및 상기 화소 전극 중 어느 하나와 동일한 물질로 이루어지는 액정 표시 장치.
  13. 삭제
KR1020020071920A 2002-11-19 2002-11-19 액정 표시 장치 및 그 검사 방법 KR100895311B1 (ko)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020020071920A KR100895311B1 (ko) 2002-11-19 2002-11-19 액정 표시 장치 및 그 검사 방법
TW092118991A TW200411302A (en) 2002-11-19 2003-07-11 Liquid crystal display and testing method thereof
CNB031327877A CN100474083C (zh) 2002-11-19 2003-07-12 液晶显示器及其测试方法
US10/619,665 US7580107B2 (en) 2002-11-19 2003-07-15 Liquid crystal display and testing method thereof
JP2003388306A JP4657598B2 (ja) 2002-11-19 2003-11-18 液晶表示装置及びその検査方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020020071920A KR100895311B1 (ko) 2002-11-19 2002-11-19 액정 표시 장치 및 그 검사 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20040043586A KR20040043586A (ko) 2004-05-24
KR100895311B1 true KR100895311B1 (ko) 2009-05-07

Family

ID=32291782

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020020071920A KR100895311B1 (ko) 2002-11-19 2002-11-19 액정 표시 장치 및 그 검사 방법

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7580107B2 (ko)
JP (1) JP4657598B2 (ko)
KR (1) KR100895311B1 (ko)
CN (1) CN100474083C (ko)
TW (1) TW200411302A (ko)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10615242B2 (en) 2017-03-14 2020-04-07 Samsung Display Co., Ltd. Display apparatus
US10739892B2 (en) 2017-11-30 2020-08-11 Samsung Display Co., Ltd. Display apparatus
US11742357B2 (en) 2018-11-15 2023-08-29 Samsung Display Co., Ltd. Display device

Families Citing this family (46)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100951357B1 (ko) * 2003-08-19 2010-04-08 삼성전자주식회사 액정 표시 장치
KR20050053883A (ko) * 2003-12-03 2005-06-10 삼성전자주식회사 표시 장치용 박막 트랜지스터 표시판
US8013816B2 (en) * 2004-06-30 2011-09-06 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Light emitting display
TWI382264B (zh) 2004-07-27 2013-01-11 Samsung Display Co Ltd 薄膜電晶體陣列面板及包括此面板之顯示器裝置
KR101100883B1 (ko) * 2004-11-08 2012-01-02 삼성전자주식회사 박막 트랜지스터 표시판
KR101096722B1 (ko) * 2004-11-10 2011-12-22 엘지디스플레이 주식회사 액정표시패널 및 그 제조방법
CN100346221C (zh) * 2004-11-12 2007-10-31 友达光电股份有限公司 液晶显示面板及其测试方法
KR20060072318A (ko) * 2004-12-23 2006-06-28 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정 표시 패널 및 그 제조방법
KR100663029B1 (ko) * 2004-12-31 2006-12-28 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치 , 그 제조방법 및 액정표시장치 검사방법
KR101093229B1 (ko) * 2005-01-06 2011-12-13 삼성전자주식회사 어레이 기판 및 이를 갖는 표시장치
KR101219037B1 (ko) * 2005-07-01 2013-01-09 삼성디스플레이 주식회사 박막 표시판 및 그 제조 방법
CN100468130C (zh) * 2005-09-09 2009-03-11 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 液晶显示器分区定位测试方法
TWI322318B (en) 2005-12-12 2010-03-21 Au Optronics Corp Active matrix substrate
CN100399175C (zh) * 2005-12-29 2008-07-02 友达光电股份有限公司 主动组件阵列基板
TWI301201B (en) 2006-03-15 2008-09-21 Au Optronics Corp Display circuits
CN100414574C (zh) * 2006-03-23 2008-08-27 友达光电股份有限公司 显示器电路
CN100422828C (zh) * 2006-08-29 2008-10-01 友达光电股份有限公司 测试液晶显示器的方法
TWI408633B (zh) * 2007-02-14 2013-09-11 Innolux Corp 具有修復電路佈局之顯示裝置
JP5138999B2 (ja) * 2007-08-01 2013-02-06 三菱電機株式会社 表示装置
US8125606B2 (en) * 2007-08-31 2012-02-28 Nlt Technologies, Ltd. Display device with branched terminal electrode
TWI365317B (en) * 2008-03-20 2012-06-01 Chunghwa Picture Tubes Ltd Active device array substrate
JP5339273B2 (ja) * 2008-07-11 2013-11-13 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
JP4982609B2 (ja) 2008-07-23 2012-07-25 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板、表示装置、アクティブマトリクス基板の検査方法、および表示装置の検査方法
TWI392911B (zh) * 2009-03-13 2013-04-11 Au Optronics Corp 顯示面板及其線路檢查方法
CN101577078B (zh) * 2009-06-22 2011-04-27 福建捷联电子有限公司 液晶显示器的全自动调整测试系统
KR200458155Y1 (ko) * 2009-11-03 2012-01-20 윤종철 전선거치대
TWI467269B (zh) 2012-07-02 2015-01-01 E Ink Holdings Inc 顯示面板的測試結構及其測試方法與測試後的測試結構
US9741277B2 (en) 2012-07-02 2017-08-22 E Ink Holdings Inc. Test structure of display panel and test structure of tested display panel
JP6051011B2 (ja) 2012-10-22 2016-12-21 株式会社ジャパンディスプレイ 液晶表示装置およびその製造方法
CN104238152A (zh) * 2013-06-17 2014-12-24 北京京东方光电科技有限公司 一种cog测试方法
KR102058611B1 (ko) * 2013-07-05 2019-12-24 삼성디스플레이 주식회사 검사 장치와, 이를 이용한 배선 및 원장 검사 방법
KR102090159B1 (ko) 2013-11-22 2020-03-18 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널 및 이의 제조 방법
CN104035217B (zh) * 2014-05-21 2016-08-24 深圳市华星光电技术有限公司 显示器阵列基板的外围测试线路以及液晶显示面板
JP6463065B2 (ja) * 2014-10-09 2019-01-30 三菱電機株式会社 アレイ基板およびこれを備える液晶表示パネルならびにアレイ基板の検査方法
KR102296073B1 (ko) * 2015-01-06 2021-08-31 삼성디스플레이 주식회사 액정 표시 장치
KR102356028B1 (ko) * 2015-02-06 2022-01-26 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR102392889B1 (ko) * 2015-08-07 2022-05-03 엘지디스플레이 주식회사 표시장치
KR102645333B1 (ko) * 2016-08-23 2024-03-12 삼성디스플레이 주식회사 표시장치
CN106653771B (zh) * 2016-12-30 2019-06-18 惠科股份有限公司 一种显示面板及制程
CN107154232A (zh) * 2017-05-27 2017-09-12 厦门天马微电子有限公司 阵列基板、显示面板和显示面板的测试方法
CN107945721B (zh) * 2017-11-29 2021-09-28 武汉天马微电子有限公司 一种显示面板及其点屏测试方法、显示装置
KR102607389B1 (ko) * 2018-03-12 2023-11-28 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 이의 신호 라인 검사 방법
KR102499175B1 (ko) * 2018-04-06 2023-02-13 티씨엘 차이나 스타 옵토일렉트로닉스 테크놀로지 컴퍼니 리미티드 표시장치
TWI678689B (zh) * 2018-10-12 2019-12-01 友達光電股份有限公司 顯示裝置及其修補方法
TWI718772B (zh) 2019-11-20 2021-02-11 元太科技工業股份有限公司 顯示裝置
KR20210135385A (ko) * 2020-05-04 2021-11-15 삼성디스플레이 주식회사 게이트 검사부 및 이를 포함하는 표시 장치

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0895527A (ja) * 1994-09-22 1996-04-12 Casio Comput Co Ltd ドライバ回路を備えた液晶表示装置
KR20000007737A (ko) * 1998-07-07 2000-02-07 윤종용 엘씨디 패널
KR20000012919A (ko) * 1998-08-03 2000-03-06 윤종용 액정 패널
KR20000077275A (ko) * 1999-05-14 2000-12-26 가네꼬 히사시 검사용 콘택 패드를 구비한 액정 표시장치
KR20010087355A (ko) * 2000-03-06 2001-09-15 가나이 쓰토무 액정 표시 장치 및 그 제조 방법

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4840459A (en) 1987-11-03 1989-06-20 General Electric Co. Matrix addressed flat panel liquid crystal display device with dual ended auxiliary repair lines for address line repair
JPH04233514A (ja) 1990-12-28 1992-08-21 Sharp Corp アクティブマトリクス基板
JP2758103B2 (ja) * 1992-04-08 1998-05-28 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板及びその製造方法
JPH07146481A (ja) 1993-11-25 1995-06-06 Hitachi Ltd 液晶表示基板
JP3213472B2 (ja) * 1994-04-26 2001-10-02 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板又はアクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出検査方法、欠陥検出検査装置
JPH08201841A (ja) 1994-11-24 1996-08-09 Toshiba Electron Eng Corp 表示装置及びその検査方法
TW331599B (en) * 1995-09-26 1998-05-11 Toshiba Co Ltd Array substrate for LCD and method of making same
KR100281058B1 (ko) * 1997-11-05 2001-02-01 구본준, 론 위라하디락사 액정표시장치
US6214879B1 (en) 1998-03-24 2001-04-10 Virginia Commonwealth University Allosteric inhibitors of pyruvate kinase
JP3667548B2 (ja) * 1998-03-27 2005-07-06 シャープ株式会社 アクティブマトリクス型液晶表示パネル及びその検査方法
JPH11352505A (ja) 1998-06-12 1999-12-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示装置
JP3025257B1 (ja) * 1999-02-25 2000-03-27 松下電器産業株式会社 表示パネル
JP2001005027A (ja) * 1999-06-24 2001-01-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示装置およびそれを用いた液晶表示応用機器
JP4106193B2 (ja) 2000-03-06 2008-06-25 株式会社 日立ディスプレイズ 液晶表示装置及びその製造方法
JP2001264788A (ja) 2000-03-14 2001-09-26 Sharp Corp 配線電極の接続方法、液晶表示装置用基板の製造方法と液晶表示装置用基板の欠陥修正方法、および液晶表示装置の製造方法、並びにそれに用いる加工装置
JP2001265248A (ja) * 2000-03-14 2001-09-28 Internatl Business Mach Corp <Ibm> アクティブ・マトリックス表示装置、及び、その検査方法
JP5053479B2 (ja) 2000-09-14 2012-10-17 株式会社ジャパンディスプレイセントラル マトリクスアレイ基板及びその製造方法
JP2002196352A (ja) 2000-12-07 2002-07-12 Koninkl Philips Electronics Nv 予備配線を有する液晶表示装置
KR100494685B1 (ko) * 2000-12-30 2005-06-13 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 액정표시장치의 패널내 배선의 결함 테스트 방법

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0895527A (ja) * 1994-09-22 1996-04-12 Casio Comput Co Ltd ドライバ回路を備えた液晶表示装置
KR20000007737A (ko) * 1998-07-07 2000-02-07 윤종용 엘씨디 패널
KR20000012919A (ko) * 1998-08-03 2000-03-06 윤종용 액정 패널
KR20000077275A (ko) * 1999-05-14 2000-12-26 가네꼬 히사시 검사용 콘택 패드를 구비한 액정 표시장치
KR20010087355A (ko) * 2000-03-06 2001-09-15 가나이 쓰토무 액정 표시 장치 및 그 제조 방법

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10615242B2 (en) 2017-03-14 2020-04-07 Samsung Display Co., Ltd. Display apparatus
US10990233B2 (en) 2017-03-14 2021-04-27 Samsung Display Co., Ltd. Display apparatus
US11360621B2 (en) 2017-03-14 2022-06-14 Samsung Display Co., Ltd. Display apparatus
US11720213B2 (en) 2017-03-14 2023-08-08 Samsung Display Co., Ltd. Display apparatus
US11995277B2 (en) 2017-03-14 2024-05-28 Samsung Display Co., Ltd. Display apparatus
US10739892B2 (en) 2017-11-30 2020-08-11 Samsung Display Co., Ltd. Display apparatus
US11157105B2 (en) 2017-11-30 2021-10-26 Samsung Display Co., Ltd. Display apparatus
US11650683B2 (en) 2017-11-30 2023-05-16 Samsung Display Co., Ltd. Display apparatus
US12019817B2 (en) 2017-11-30 2024-06-25 Samsung Display Co., Ltd. Display apparatus
US11742357B2 (en) 2018-11-15 2023-08-29 Samsung Display Co., Ltd. Display device

Also Published As

Publication number Publication date
US7580107B2 (en) 2009-08-25
CN1503040A (zh) 2004-06-09
US20040095549A1 (en) 2004-05-20
JP4657598B2 (ja) 2011-03-23
CN100474083C (zh) 2009-04-01
TW200411302A (en) 2004-07-01
JP2004310024A (ja) 2004-11-04
KR20040043586A (ko) 2004-05-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100895311B1 (ko) 액정 표시 장치 및 그 검사 방법
KR100900537B1 (ko) 액정 표시 장치, 그 검사 방법 및 제조 방법
KR100864501B1 (ko) 액정 표시 장치
JP2004310024A5 (ko)
TWI396023B (zh) 液晶顯示器
JP4785409B2 (ja) 液晶表示装置
US7218371B2 (en) Liquid crystal display
KR101006438B1 (ko) 액정 표시 장치
US7894034B2 (en) Thin film transistor array panel with improved connection to test lines having auxiliary test line with plural extending conductive layers in contact with at least one test line
US7746417B2 (en) Thin film transistor array panel for a display
US20070085797A1 (en) Thin film transistor array panel and liquid crystal display
KR101046927B1 (ko) 박막 트랜지스터 표시판
KR100973803B1 (ko) 액정 표시 장치
KR100840329B1 (ko) 액정 표시 장치
KR20070110966A (ko) 액정 표시 장치
KR20050110745A (ko) 검사 수단을 가지는 표시 장치
KR20050061260A (ko) 표시 장치용 박막 트랜지스터 표시판

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130329

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140401

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160329

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180403

Year of fee payment: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190401

Year of fee payment: 11