KR100753081B1 - 내부 어드레스 생성장치를 구비하는 반도체메모리소자 - Google Patents
내부 어드레스 생성장치를 구비하는 반도체메모리소자 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100753081B1 KR100753081B1 KR1020050133960A KR20050133960A KR100753081B1 KR 100753081 B1 KR100753081 B1 KR 100753081B1 KR 1020050133960 A KR1020050133960 A KR 1020050133960A KR 20050133960 A KR20050133960 A KR 20050133960A KR 100753081 B1 KR100753081 B1 KR 100753081B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- output
- signal
- clock
- additive
- address
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1072—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/18—Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/4076—Timing circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/408—Address circuits
- G11C11/4082—Address Buffers; level conversion circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
- G11C7/1066—Output synchronization
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
- G11C7/225—Clock input buffers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/06—Address interface arrangements, e.g. address buffers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
Description
Claims (44)
- 외부 어드레스를 애디티브-구동클럭 기준으로 애디티브레이턴시에 대응되는 지연시간 이하의 지연을 갖는 복수의 AL 지연 어드레스로 생성하고, 그 중 설정된 애디티브레이턴시에 대응되는 신호를 애디티브-어드레스로 출력하기 위한 읽기 어드레스 생성수단;상기 애디티브-어드레스를 카스-구동클럭 기준으로 카스레이턴시에 대응되는 지연시간 이하의 지연시간을 갖는 복수의 CL 지연 어드레스로 생성하고, 그 중 설정된 카스레이턴시에 대응되는 신호를 쓰기-어드레스로 출력하기 위한 쓰기 어드레스 생성수단;상기 애디티브레이턴시 및 쓰기 구동시 활성화되는 쓰기구간신호에 응답하여 내부클럭을 상기 애디티브-구동클럭 또는 상기 카스-구동클럭으로 출력하기 위한 구동클럭 생성수단; 및상기 쓰기구간신호에 응답하여 상기 애디티브-어드레스와 상기 쓰기-어드레스 중 하나를 내부 컬럼 어드레스로 출력하기 위한 출력수단을 구비하며,상기 읽기 어드레스 생성수단은 해당 애디티브레이턴시 정보신호에 따라 리셋되는 다수의 어드레스 지연 스테이지를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제1항에 있어서,상기 읽기 어드레스 생성수단은,읽기쓰기플래그에 응답하여 상기 외부 어드레스를 인가받기 위한 입력 래치부와,상기 입력 래치부의 출력신호를 상기 애디티브-구동클럭을 기준으로 상기 애디티브레이턴시 이하의 지연시간을 갖는 상기 복수의 AL 지연-어드레스로 생성하기 위한 AL 플립플롭부 - 상기 해당 애디티브레이턴시 정보신호를 리셋 입력으로 함 - 와,상기 복수의 AL 지연-어드레스 중 상기 설정된 애디티브레이턴시에 대응되는 AL 지연-어드레스를 상기 애디티브-어드레스로 출력하기 위한 AL 선택부를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제2항에 있어서,상기 AL 플립플롭부는,직렬 연결되어 앞 단의 정출력을 상기 애디티브-구동클럭 기준으로 반클럭 지연시켜 부출력인 상기 AL 지연-어드레스로 출력하고, 한 클럭 지연시켜 상기 정출력으로 출력하되, 상기 해당 애디티브레이턴시 정보신호의 활성화 시 상기 정출력 및 부출력을 리셋시키는 제1 내지 제N AL 플립플롭과,상기 제N AL 플립플롭의 상기 정출력을 상기 애디티브-구동클럭에 동기시켜 출력하기 위한 AL 래치부를 포함하며,상기 제1 AL 플립플롭은 상기 입력 래치부의 출력신호를 입력으로 인가받는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제3항에 있어서,상기 제1 내지 제N AL 플립플롭은,상기 해당 애디티브레이턴시 정보신호를 리셋신호로 인가받아 상기 리셋신호의 활성화 시 상기 부출력 및 정출력을 리셋시키고,상기 리셋신호가 비활성화된 경우에, 자신의 입력신호를 상기 애디티브-구동클럭의 에지에 동기시켜 상기 부출력으로 출력하며,상기 애디티브-구동클럭의 다음 에지에 동기시켜 상기 정출력을 출력하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제4항에 있어서,상기 제1 내지 제N AL 플립플롭은,상기 애디티브-구동클럭의 제1 논리레벨에 응답하여 상기 자신의 입력신호를 전달하기 위한 제1 트랜스퍼 게이트와,상기 리셋신호의 활성화 시 상기 부출력을 제2 논리레벨로 리셋하고 비활성화 시 상기 제1 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 래치하여 상기 부출력인 AL 지연-어 드레스로 출력하기 위한 제1 래치소자와,상기 애디티브-구동클럭의 제2 논리레벨에 응답하여 상기 제1 래치소자의 출력신호를 전달하기 위한 제2 트랜스퍼 게이트와,상기 리셋신호의 활성화 시 상기 정출력를 제1 논리레벨로 리셋하고 비활성화 시 상기 제2 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 래치하여 상기 정출력으로 출력하기 위한 제2 래치소자를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제5항에 있어서,상기 제1 래치소자는,상기 리셋신호를 반전시키기 위한 제1 인버터와,상기 제1 인버터의 출력신호와 상기 제1 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 입력으로 갖는 제1 낸드게이트와, 상기 제1 낸드게이트의 출력신호를 입력으로 갖는 제2 인버터가 크로스 커플드되어 구현되는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제6항에 있어서,상기 제2 래치소자는,상기 리셋신호와 상기 제2 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 입력으로 갖는 제1 노어 게이트와,상기 제1 노어게이트의 출력신호를 입력으로 갖는 제3 인버터가 크로스 커플드되어 구현되는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제7항에 있어서,상기 구동클럭 생성수단은,상기 제1 애디티브레이턴시 정보신호의 비활성화 시 상기 내부클럭을 상기 애디티브-구동클럭으로 출력하기 위한 AL 클럭 생성부와,상기 쓰기구간신호의 활성화 시 상기 내부클럭을 상기 카스-구동클럭으로 출력하기 위한 CL 클럭 생성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제8항에 있어서,상기 AL 클럭 생성부는,상기 제1 애디티브레이턴시 정보신호를 반전시키기 위한 제4 인버터와,상기 제4 인버터의 출력신호와 상기 내부클럭을 입력으로 가져 상기 애디티 브-구동클럭으로 출력하기 위한 제1 앤드게이트를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제9항에 있어서,상기 CL 클럭 생성부는,상기 쓰기구간신호를 반전시키기 위한 제5 인버터와,상기 제5 인버터의 출력신호와 상기 애디티브-구동클럭을 입력으로 가져 상기 카스-구동클럭으로 출력하기 위한 제2 앤드게이트를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,상기 쓰기 어드레스 생성수단은,상기 애디티브-어드레스를 상기 카스-구동클럭을 기준으로 카스레이턴시 이하의 지연시간을 갖는 상기 복수의 CL 지연-어드레스를 생성하기 위한 CL 플립플롭부와,상기 복수의 CL 지연-어드레스 중 상기 카스레이턴시에 대응되는 상기 CL 지연-어드레스만을 상기 쓰기-어드레스로 출력하기 위한 CL 선택부를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제11항에 있어서,상기 CL 플립플롭부는,직렬 연결되어 앞 단의 정출력을 상기 카스-구동클럭 기준으로 반클럭 지연시켜 부출력인 상기 CL 지연-어드레스로 출력하고, 한 클럭 지연시켜 상기 정출력으로 출력하되, 해당 카스레이턴시 정보신호의 활성화 시 상기 정출력 및 부출력 리셋시키는 제1 내지 제N CL 플립플롭과,상기 제N CL 플립플롭의 상기 정출력을 상기 카스-구동클럭에 동기시켜 출력하기 위한 CL 래치부를 포함하며,상기 제1 CL 플립플롭은 상기 애디티브-어드레스를 입력으로 인가받는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제12항에 있어서,상기 제1 내지 제N CL 플립플롭은,상기 해당 카스레이턴시 정보신호를 리셋신호로 인가받아 상기 리셋신호의 활성화 시 상기 부출력 및 정출력을 리셋시키고,상기 리셋신호가 비활성화된 경우에, 자신의 입력신호를 상기 카스-구동클럭의 에지에 동기시켜 상기 부출력으로 출력하며,상기 카스-구동클럭의 다음 에지에 동기시켜 상기 정출력을 출력하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제13항에 있어서,상기 제1 내지 제N CL 플립플롭은,상기 카스-구동클럭의 제1 논리레벨에 응답하여 상기 자신의 입력신호를 전달하기 위한 제1 트랜스퍼 게이트와,상기 리셋신호의 활성화 시 상기 부출력을 제2 논리레벨로 리셋하고 비활성화 시 상기 제1 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 래치하여 상기 부출력인 CL 지연-어드레스로 출력하기 위한 제1 래치소자와,상기 카스-구동클럭의 제2 논리레벨에 응답하여 상기 제1 래치소자의 출력신호를 전달하기 위한 제2 트랜스퍼 게이트와,상기 리셋신호의 활성화 시 상기 정출력를 제1 논리레벨로 리셋하고 비활성화 시 상기 제2 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 래치하여 상기 정출력으로 출력하기 위한 제2 래치소자를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제14항에 있어서,상기 제1 래치소자는,상기 리셋신호를 반전시키기 위한 제1 인버터와,상기 제1 인버터의 출력신호와 상기 제1 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 입력으로 갖는 제1 낸드게이트와, 상기 제1 낸드게이트의 출력신호를 입력으로 갖는 제2 인버터가 크로스 커플드되어 구현되는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제15항에 있어서,상기 제2 래치소자는,상기 리셋신호와 상기 제2 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 입력으로 갖는 제1 노어 게이트와,상기 제1 노어게이트의 출력신호를 입력으로 갖는 제3 인버터가 크로스 커플드되어 구현되는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제16항에 있어서,상기 구동클럭 생성수단은,상기 제1 애디티브레이턴시 정보신호의 비활성화 시 상기 내부클럭을 상기 애디티브-구동클럭으로 출력하기 위한 AL 클럭 생성부와,상기 쓰기구간신호의 활성화 시 상기 내부클럭을 상기 카스-구동클럭으로 출력하기 위한 CL 클럭 생성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제1항에 있어서,상기 읽기 어드레스 생성수단은,읽기쓰기플래그에 응답하여 상기 외부 어드레스를 인가받기 위한 입력 래치부와,제1 애디티브레이턴시 정보신호에 제어받아 상기 입력 래치부의 출력신호를 전달하기 위한 입력 제어부와,상기 입력 래치부의 출력신호를 상기 애디티브-구동클럭을 기준으로 상기 애디티브레이턴시 이하의 지연시간을 갖는 상기 복수의 AL 지연-어드레스로 생성하기 위한 AL 플립플롭부와,상기 복수의 AL 지연-어드레스 중 상기 설정된 애디티브레이턴시에 대응되는 AL 지연-어드레스를 상기 애디티브-어드레스로 출력하기 위한 AL 선택부를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제18항에 있어서,상기 AL 플립플롭부는,직렬 연결되어 앞 단의 정출력을 상기 애디티브-구동클럭 기준으로 반클럭 지연시켜 부출력인 상기 AL 지연-어드레스로 출력하고, 한 클럭 지연시켜 상기 정출력으로 출력하되, 해당 애디티브레이턴시 정보신호의 활성화 시 상기 정출력을 리셋시키는 제1 내지 제N AL 플립플롭과,상기 제N AL 플립플롭의 상기 정출력을 상기 애디티브-구동클럭에 동기시켜 출력하기 위한 AL 래치부를 포함하며,상기 제1 AL 플립플롭은 상기 입력 제어부의 출력신호를 입력으로 인가받는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제19항에 있어서,상기 입력 제어부는,상기 입력 래치부의 출력신호를 반전시키기 위한 제1 인버터와,상기 제1 인버터의 출력신호와 상기 제1 애디티브레이턴시 정보신호를 입력으로 갖는 제1 노어게이트를 포함하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제20항에 있어서,상기 제1 내지 제N AL 플립플롭은,상기 해당 애디티브레이턴시 정보신호를 리셋신호로 인가받아 상기 리셋신호의 활성화 시 상기 정출력을 리셋시키고,상기 리셋신호가 비활성화된 경우에, 자신의 입력신호를 상기 애디티브-구동클럭의 에지에 동기시켜 상기 부출력으로 출력하며,상기 애디티브-구동클럭의 다음 에지에 동기시켜 상기 정출력을 출력하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제21항에 있어서,상기 제1 내지 제N AL 플립플롭은,상기 애디티브-구동클럭의 제1 논리레벨에 응답하여 상기 자신의 입력신호를 전달하기 위한 제1 트랜스퍼 게이트와,상기 제1 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 래치하여 상기 부출력인 AL 지연-어드레스로 출력하기 위한 제1 래치소자와,상기 애디티브-구동클럭의 제2 논리레벨에 응답하여 상기 제1 래치소자의 출력신호를 전달하기 위한 제2 트랜스퍼 게이트와,상기 리셋신호의 활성화 시 상기 정출력를 제1 논리레벨로 리셋하고 비활성화 시 상기 제2 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 래치하여 상기 정출력으로 출력하기 위한 제2 래치소자를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제22항에 있어서,상기 제2 래치소자는,상기 리셋신호와 상기 제2 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 입력으로 갖는 제2 노어 게이트와,상기 제2 노어게이트의 출력신호를 입력으로 갖는 제2 인버터가 크로스 커플드되어 구현되는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제23항에 있어서,상기 제1 래치소자는,상기 제1 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 입력으로 갖는 제3 인버터와, 상기 제3 인버터의 출력신호를 입력으로 갖는 제4 인버터가 크로스 커플드되어 구현되는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제18항 내지 제21항 중 어느 한 항에 있어서,상기 쓰기 어드레스 생성수단은,상기 애디티브-어드레스를 상기 카스-구동클럭을 기준으로 카스레이턴시 이하의 지연시간을 갖는 상기 복수의 CL 지연-어드레스를 생성하기 위한 CL 플립플롭부와,상기 복수의 CL 지연-어드레스 중 상기 카스레이턴시에 대응되는 상기 CL 지연-어드레스만을 상기 쓰기-어드레스로 출력하기 위한 CL 선택부를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제25항에 있어서,상기 CL 플립플롭부는,직렬 연결되어 앞 단의 정출력을 상기 카스-구동클럭 기준으로 반클럭 지연시켜 부출력인 상기 CL 지연-어드레스로 출력하고, 한 클럭 지연시켜 상기 정출력으로 출력하되, 해당 카스레이턴시 정보신호의 활성화 시 상기 정출력을 리셋시키는 제1 내지 제N CL 플립플롭과,상기 제N CL 플립플롭의 상기 정출력을 상기 카스-구동클럭에 동기시켜 출력 하기 위한 CL 래치부를 포함하며,상기 제1 CL 플립플롭은 상기 애디티브-어드레스를 입력으로 인가받는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제26항에 있어서,상기 제1 내지 제N CL 플립플롭은,상기 해당 카스레이턴시 정보신호를 리셋신호로 인가받아 상기 리셋신호의 활성화 시 상기 정출력을 리셋시키고,상기 리셋신호가 비활성화된 경우에, 자신의 입력신호를 상기 카스-구동클럭의 에지에 동기시켜 상기 부출력으로 출력하며,상기 카스-구동클럭의 다음 에지에 동기시켜 상기 정출력을 출력하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제27항에 있어서,상기 제1 내지 제N CL 플립플롭은,상기 카스-구동클럭의 제1 논리레벨에 응답하여 상기 자신의 입력신호를 전달하기 위한 제1 트랜스퍼 게이트와,상기 제1 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 래치하여 상기 부출력인 CL 지연-어 드레스로 출력하기 위한 제1 래치소자와,상기 카스-구동클럭의 제2 논리레벨에 응답하여 상기 제1 래치소자의 출력신호를 전달하기 위한 제2 트랜스퍼 게이트와,상기 리셋신호의 활성화 시 상기 정출력를 제1 논리레벨로 리셋하고 비활성화 시 상기 제2 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 래치하여 상기 정출력으로 출력하기 위한 제2 래치소자를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제28항에 있어서,상기 리셋신호와 상기 제2 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 입력으로 갖는 제2 노어 게이트와,상기 제2 노어게이트의 출력신호를 입력으로 갖는 제2 인버터가 크로스 커플드되어 구현되는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제29항에 있어서,상기 제1 래치소자는,상기 제1 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 입력으로 갖는 제3 인버터와, 상기 제3 인버터의 출력신호를 입력으로 갖는 제4 인버터가 크로스 커플드되어 구현되는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제30항에 있어서,상기 구동클럭 생성수단은,상기 제1 애디티브레이턴시 정보신호의 비활성화 시 상기 내부클럭을 상기 애디티브-구동클럭으로 출력하기 위한 AL 클럭 생성부와,상기 쓰기구간신호의 활성화 시 상기 내부클럭을 상기 카스-구동클럭으로 출력하기 위한 CL 클럭 생성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제31항에 있어서,상기 AL 클럭 생성부는,상기 제1 애디티브레이턴시 정보신호를 반전시키기 위한 제5 인버터와,상기 제5 인버터의 출력신호와 상기 내부클럭을 입력으로 가져 상기 애디티브-구동클럭으로 출력하기 위한 제1 앤드게이트를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 제32항에 있어서,상기 CL 클럭 생성부는,상기 쓰기구간신호를 반전시키기 위한 제6 인버터와,상기 제6 인버터의 출력신호와 상기 애디티브-구동클럭을 입력으로 가져 상기 카스-구동클럭으로 출력하기 위한 제2 앤드게이트를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부 어드레스 생성장치.
- 외부신호의 활성화로 부터 구동클럭을 기준으로 설정된 레이턴시에 대응되는 지연시간 이하의 지연을 갖는 복수의 지연신호로 생성하고, 상기 복수의 지연신호 중 상기 레이턴시에 대응되는 신호를 내부신호로 출력하기 위한 내부신호 생성수단; 및상기 레이턴시에 응답하여 내부클럭을 상기 구동클럭으로 출력하기 위한 구동클럭 생성수단을 구비하는 반도체메모리소자.
- 제34항에 있어서,상기 내부신호 생성수단은,상기 외부신호를 상기 구동클럭을 기준으로 상기 레이턴시 이하의 지연시간을 갖는 상기 복수의 지연신호를 생성하기 위한 플립플롭부와,상기 복수의 지연신호 중 상기 레이턴시에 대응되는 상기 지연신호를 상기 내부신호로 출력하기 위한 선택부를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체메모리소자.
- 제35항에 있어서,상기 플립플롭부는,직렬 연결되어 앞 단의 정출력을 상기 구동클럭 기준으로 반클럭 지연시켜 부출력인 상기 지연신호로 출력하고, 한 클럭 지연시켜 정출력으로 출력하되, 해당 레이턴시 정보신호의 활성화 시 상기 정출력 및 부출력 리셋시키는 제1 내지 제N 플립플롭과,상기 제N 플립플롭의 상기 정출력을 상기 구동클럭에 동기시켜 출력하기 위한 래치부를 포함하며,상기 제1 플립플롭은 상기 외부신호를 입력으로 인가받는 것을 특징으로 하는 반도체메모리소자.
- 제36항에 있어서,상기 제1 내지 제N 플립플롭은,상기 해당 레이턴시 정보신호를 리셋신호로 인가받아 상기 리셋신호의 활성화 시 상기 부출력 및 정출력을 리셋시키고,상기 리셋신호가 비활성화된 경우에, 자신의 입력신호를 상기 구동클럭의 에지에 동기시켜 상기 부출력으로 출력하며,상기 구동클럭의 다음 에지에 동기시켜 상기 정출력을 출력하는 것을 특징으로 하는 반도체메모리소자.
- 제37항에 있어서,상기 제1 내지 제N 플립플롭은,상기 구동클럭의 제1 논리레벨에 응답하여 상기 자신의 입력신호를 전달하기 위한 제1 트랜스퍼 게이트와,상기 리셋신호의 활성화 시 상기 부출력을 제2 논리레벨로 리셋하고 비활성화 시 상기 제1 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 래치하여 상기 부출력인 지연신호로 출력하기 위한 제1 래치소자와,상기 구동클럭의 제2 논리레벨에 응답하여 상기 제1 래치소자의 출력신호를 전달하기 위한 제2 트랜스퍼 게이트와,상기 리셋신호의 활성화 시 상기 정출력를 제1 논리레벨로 리셋하고 비활성 화 시 상기 제2 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 래치하여 상기 정출력으로 출력하기 위한 제2 래치소자를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체메모리소자.
- 제38항에 있어서,상기 제1 래치소자는,상기 리셋신호를 반전시키기 위한 제1 인버터와,상기 제1 인버터의 출력신호와 상기 제1 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 입력으로 갖는 제1 낸드게이트와, 상기 제1 낸드게이트의 출력신호를 입력으로 갖는 제2 인버터가 크로스 커플드되어 구현되는 것을 특징으로 하는 반도체메모리소자.
- 제39항에 있어서,상기 제2 래치소자는,상기 리셋신호와 상기 제2 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 입력으로 갖는 제1 노어 게이트와,상기 제1 노어게이트의 출력신호를 입력으로 갖는 제3 인버터가 크로스 커플드되어 구현되는 것을 특징으로 하는 반도체메모리소자.
- 제36항에 있어서,상기 플립플롭부는,직렬 연결되어 앞 단의 정출력을 상기 구동클럭 기준으로 반클럭 지연시켜 부출력인 상기 지연신호로 출력하고, 한 클럭 지연시켜 상기 정출력으로 출력하되, 해당 레이턴시 정보신호의 활성화 시 상기 정출력을 리셋시키는 제1 내지 제N 플립플롭과,상기 제N 플립플롭의 상기 정출력을 상기 구동클럭에 동기시켜 출력하기 위한 래치부를 포함하며,상기 제1 플립플롭은 상기 외부신호를 입력으로 인가받는 것을 특징으로 하는 반도체메모리소자.
- 제41항에 있어서,상기 제1 내지 제N 플립플롭은,상기 구동클럭의 제1 논리레벨에 응답하여 상기 자신의 입력신호를 전달하기 위한 제1 트랜스퍼 게이트와,상기 제1 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 래치하여 상기 부출력인 지연신호로 출력하기 위한 제1 래치소자와,상기 구동클럭의 제2 논리레벨에 응답하여 상기 제1 래치소자의 출력신호를 전달하기 위한 제2 트랜스퍼 게이트와,상기 리셋신호의 활성화 시 상기 정출력를 제1 논리레벨로 리셋하고 비활성화 시 상기 제2 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 래치하여 상기 정출력으로 출력하기 위한 제2 래치소자를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체메모리소자.
- 제42항에 있어서,제2 래치소자는,상기 리셋신호와 상기 제2 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 입력으로 갖는 제2 노어 게이트와,상기 제2 노어게이트의 출력신호를 입력으로 갖는 제2 인버터가 크로스 커플드되어 구현되는 것을 특징으로 하는 반도체메모리소자.
- 제43항에 있어서,상기 제1 래치소자는,상기 제1 트랜스퍼 게이트의 출력신호를 입력으로 갖는 제3 인버터와, 상기 제3 인버터의 출력신호를 입력으로 갖는 제4 인버터가 크로스 커플드되어 구현되는 것을 특징으로 하는 반도체메모리소자.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050133960A KR100753081B1 (ko) | 2005-09-29 | 2005-12-29 | 내부 어드레스 생성장치를 구비하는 반도체메모리소자 |
JP2006182163A JP4920326B2 (ja) | 2005-09-29 | 2006-06-30 | 半導体メモリ素子 |
US11/478,124 US7529140B2 (en) | 2005-09-29 | 2006-06-30 | Semiconductor memory device |
TW095123967A TWI307899B (en) | 2005-09-29 | 2006-06-30 | Semiconductor memory device |
CNB2006101317033A CN100555450C (zh) | 2005-09-29 | 2006-09-29 | 半导体存储装置 |
US12/255,040 US7675810B2 (en) | 2005-09-29 | 2008-10-21 | Semiconductor memory device |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR20050091582 | 2005-09-29 | ||
KR1020050091582 | 2005-09-29 | ||
KR1020050133960A KR100753081B1 (ko) | 2005-09-29 | 2005-12-29 | 내부 어드레스 생성장치를 구비하는 반도체메모리소자 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070036573A KR20070036573A (ko) | 2007-04-03 |
KR100753081B1 true KR100753081B1 (ko) | 2007-08-31 |
Family
ID=37893679
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020050133960A KR100753081B1 (ko) | 2005-09-29 | 2005-12-29 | 내부 어드레스 생성장치를 구비하는 반도체메모리소자 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7529140B2 (ko) |
JP (1) | JP4920326B2 (ko) |
KR (1) | KR100753081B1 (ko) |
CN (1) | CN100555450C (ko) |
TW (1) | TWI307899B (ko) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100638748B1 (ko) * | 2005-04-30 | 2006-10-30 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체메모리소자 |
KR100799124B1 (ko) * | 2006-06-30 | 2008-01-29 | 주식회사 하이닉스반도체 | 동기식 반도체 메모리 소자 및 그의 구동방법 |
KR101033464B1 (ko) | 2008-12-22 | 2011-05-09 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 집적 회로 |
KR101009336B1 (ko) | 2008-12-31 | 2011-01-19 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 및 그 구동 방법 |
KR101103066B1 (ko) * | 2010-02-26 | 2012-01-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 어드레스 지연 회로 |
US8635487B2 (en) * | 2010-03-15 | 2014-01-21 | International Business Machines Corporation | Memory interface having extended strobe burst for write timing calibration |
US8856579B2 (en) * | 2010-03-15 | 2014-10-07 | International Business Machines Corporation | Memory interface having extended strobe burst for read timing calibration |
KR101103068B1 (ko) * | 2010-03-31 | 2012-01-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 어드레스 지연 회로 |
TWI590249B (zh) | 2010-12-03 | 2017-07-01 | 半導體能源研究所股份有限公司 | 積體電路,其驅動方法,及半導體裝置 |
JP6290468B1 (ja) * | 2017-02-06 | 2018-03-07 | ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション | 半導体記憶装置およびデータセット方法 |
US10474390B1 (en) * | 2017-05-04 | 2019-11-12 | Xilinx, Inc. | Systems and method for buffering data using a delayed write data signal and a memory receiving write addresses in a first order and read addresses in a second order |
CN107230491B (zh) * | 2017-06-06 | 2020-09-04 | 上海兆芯集成电路有限公司 | 储存装置的控制方法 |
CN108520764B (zh) * | 2018-04-08 | 2019-05-31 | 长鑫存储技术有限公司 | 双倍速率同步动态随机存储器 |
CN116324993A (zh) * | 2020-11-17 | 2023-06-23 | 瑞萨电子美国有限公司 | 存储器接口应用中用于电源终端的低功率输出驱动器 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20010062640A (ko) * | 1999-12-24 | 2001-07-07 | 니시가키 코지 | 반도체장치의 테스트방법 및 시스템과 기록매체 |
Family Cites Families (46)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5511024A (en) * | 1993-06-02 | 1996-04-23 | Rambus, Inc. | Dynamic random access memory system |
US5655113A (en) * | 1994-07-05 | 1997-08-05 | Monolithic System Technology, Inc. | Resynchronization circuit for a memory system and method of operating same |
JPH0862302A (ja) * | 1994-08-19 | 1996-03-08 | Advantest Corp | サイクル遅延用パターン発生器 |
JPH08235857A (ja) | 1995-02-22 | 1996-09-13 | Mitsubishi Electric Corp | 同期型半導体記憶装置 |
US5544124A (en) * | 1995-03-13 | 1996-08-06 | Micron Technology, Inc. | Optimization circuitry and control for a synchronous memory device with programmable latency period |
US5655105A (en) * | 1995-06-30 | 1997-08-05 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for multiple latency synchronous pipelined dynamic random access memory |
JPH10260958A (ja) | 1997-03-21 | 1998-09-29 | Nec Eng Ltd | アドレス生成回路 |
JPH10334659A (ja) * | 1997-05-29 | 1998-12-18 | Mitsubishi Electric Corp | 同期型半導体記憶装置 |
CA2805213A1 (en) * | 1998-04-01 | 1999-10-01 | Mosaid Technologies Incorporated | Semiconductor memory asynchronous pipeline |
US6360307B1 (en) * | 1998-06-18 | 2002-03-19 | Cypress Semiconductor Corporation | Circuit architecture and method of writing data to a memory |
KR100306966B1 (ko) * | 1998-08-04 | 2001-11-30 | 윤종용 | 동기형버스트반도체메모리장치 |
JP2000163969A (ja) | 1998-09-16 | 2000-06-16 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
JP2000148656A (ja) * | 1998-11-09 | 2000-05-30 | Mitsubishi Electric Corp | メモリシステム |
KR100291194B1 (ko) | 1998-12-30 | 2001-06-01 | 박종섭 | 디디알 에스디램에서의 읽기 구동 방법 및 장치 |
KR100303780B1 (ko) * | 1998-12-30 | 2001-09-24 | 박종섭 | 디디알 에스디램에서의 데이터 우선 순위 결정 장치 |
KR100304705B1 (ko) * | 1999-03-03 | 2001-10-29 | 윤종용 | 포스티드 카스 레이턴시 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치 및 카스 레이턴시 제어 방법 |
KR100322534B1 (ko) * | 1999-06-18 | 2002-03-18 | 윤종용 | 디램 에스램 복합 반도체장치 및 이를 이용한 데이터 전송방법 |
US6453381B1 (en) * | 1999-12-02 | 2002-09-17 | Etron Technology, Inc. | DDR DRAM data coherence scheme |
TW522399B (en) * | 1999-12-08 | 2003-03-01 | Hitachi Ltd | Semiconductor device |
KR100355229B1 (ko) * | 2000-01-28 | 2002-10-11 | 삼성전자 주식회사 | 카스 명령의 동작 지연 기능을 구비한 반도체 메모리 장치및 이에 적용되는 버퍼와 신호전송 회로 |
KR20020014563A (ko) * | 2000-08-18 | 2002-02-25 | 윤종용 | 반도체 메모리 장치 |
US6337830B1 (en) * | 2000-08-31 | 2002-01-08 | Mosel Vitelic, Inc. | Integrated clocking latency and multiplexer control technique for double data rate (DDR) synchronous dynamic random access memory (SDRAM) device data paths |
KR100374637B1 (ko) * | 2000-10-24 | 2003-03-04 | 삼성전자주식회사 | Jedec 규격의 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식반도체 메모리 장치 |
JP4812976B2 (ja) * | 2001-07-30 | 2011-11-09 | エルピーダメモリ株式会社 | レジスタ、メモリモジュール及びメモリシステム |
KR100425472B1 (ko) * | 2001-11-12 | 2004-03-30 | 삼성전자주식회사 | 동기식 반도체 메모리 장치의 출력 제어 신호 발생 회로및 출력 제어 신호 발생 방법 |
DE10156749B4 (de) * | 2001-11-19 | 2007-05-10 | Infineon Technologies Ag | Speicher, Prozessorsystem und Verfahren zum Durchführen von Schreiboperationen auf einen Speicherbereich |
JP2003288787A (ja) * | 2002-03-28 | 2003-10-10 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
US7340577B1 (en) * | 2002-05-29 | 2008-03-04 | Nvidia Corporation | Method and system for efficiently executing reads after writes in a memory employing delayed write data |
JP3998539B2 (ja) | 2002-08-28 | 2007-10-31 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
US6938142B2 (en) * | 2002-08-28 | 2005-08-30 | Micron Technology, Inc. | Multi-bank memory accesses using posted writes |
KR100500929B1 (ko) | 2002-11-27 | 2005-07-14 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 고정 루프 회로 |
KR100468776B1 (ko) | 2002-12-10 | 2005-01-29 | 삼성전자주식회사 | 클락 지터의 영향을 감소시킬 수 있는 동기식 반도체메모리장치 |
KR100518564B1 (ko) * | 2003-04-03 | 2005-10-04 | 삼성전자주식회사 | 이중 데이터율 동기식 메모리장치의 출력 멀티플렉싱 회로및 방법 |
KR100522433B1 (ko) * | 2003-04-29 | 2005-10-20 | 주식회사 하이닉스반도체 | 도메인 크로싱 회로 |
KR100590855B1 (ko) * | 2003-10-14 | 2006-06-19 | 주식회사 하이닉스반도체 | 전류 소모의 감소를 위한 반도체 메모리 소자 |
JP4152308B2 (ja) * | 2003-12-08 | 2008-09-17 | エルピーダメモリ株式会社 | 半導体集積回路装置 |
US7321991B2 (en) * | 2004-01-10 | 2008-01-22 | Hynix Semiconductor Inc. | Semiconductor memory device having advanced test mode |
WO2005088644A1 (en) | 2004-03-05 | 2005-09-22 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Dft technique for stressing self-timed semiconductor memories to detect delay faults |
JP2006031795A (ja) * | 2004-07-14 | 2006-02-02 | Renesas Technology Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
US7061823B2 (en) * | 2004-08-24 | 2006-06-13 | Promos Technologies Inc. | Limited output address register technique providing selectively variable write latency in DDR2 (double data rate two) integrated circuit memory devices |
KR100624296B1 (ko) * | 2004-11-08 | 2006-09-19 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 소자 |
JP4419074B2 (ja) * | 2004-11-15 | 2010-02-24 | エルピーダメモリ株式会社 | 半導体記憶装置 |
US7251172B2 (en) * | 2005-03-03 | 2007-07-31 | Promos Technologies Inc. | Efficient register for additive latency in DDR2 mode of operation |
KR100673904B1 (ko) * | 2005-04-30 | 2007-01-25 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체메모리소자 |
KR100638748B1 (ko) * | 2005-04-30 | 2006-10-30 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체메모리소자 |
KR100744042B1 (ko) * | 2005-09-28 | 2007-07-30 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체메모리소자의 내부 어드레스 생성장치 |
-
2005
- 2005-12-29 KR KR1020050133960A patent/KR100753081B1/ko active IP Right Grant
-
2006
- 2006-06-30 TW TW095123967A patent/TWI307899B/zh active
- 2006-06-30 JP JP2006182163A patent/JP4920326B2/ja active Active
- 2006-06-30 US US11/478,124 patent/US7529140B2/en active Active
- 2006-09-29 CN CNB2006101317033A patent/CN100555450C/zh active Active
-
2008
- 2008-10-21 US US12/255,040 patent/US7675810B2/en active Active
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20010062640A (ko) * | 1999-12-24 | 2001-07-07 | 니시가키 코지 | 반도체장치의 테스트방법 및 시스템과 기록매체 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1941185A (zh) | 2007-04-04 |
TWI307899B (en) | 2009-03-21 |
US7675810B2 (en) | 2010-03-09 |
JP4920326B2 (ja) | 2012-04-18 |
US7529140B2 (en) | 2009-05-05 |
US20070070730A1 (en) | 2007-03-29 |
CN100555450C (zh) | 2009-10-28 |
TW200713319A (en) | 2007-04-01 |
JP2007095261A (ja) | 2007-04-12 |
US20090052271A1 (en) | 2009-02-26 |
KR20070036573A (ko) | 2007-04-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4920326B2 (ja) | 半導体メモリ素子 | |
US8624647B2 (en) | Duty cycle correction circuit for memory interfaces in integrated circuits | |
KR20140135371A (ko) | 반도체 장치 | |
US10110229B1 (en) | Aging-resistant signal path circuitry | |
JP2010238347A (ja) | パイプラッチ回路及びこれを用いた半導体メモリ装置 | |
JP4915692B2 (ja) | 半導体メモリ素子の内部アドレス生成装置 | |
US20070076493A1 (en) | Circuit for generating data strobe signal of semiconductor memory device | |
US8483005B2 (en) | Internal signal generator for use in semiconductor memory device | |
JP4425243B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
US6567339B2 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
US20110007587A1 (en) | Command latency systems and methods | |
US7181638B2 (en) | Method and apparatus for skewing data with respect to command on a DDR interface | |
KR100654125B1 (ko) | 반도체메모리소자의 데이터 출력장치 | |
KR100670729B1 (ko) | 반도체메모리소자의 내부 어드레스 생성장치 | |
JP5042543B2 (ja) | 出力制御装置 | |
JP4953273B2 (ja) | 半導体メモリ素子 | |
JP2009124532A (ja) | 半導体集積回路 | |
US20040079936A1 (en) | Semiconductor memory device | |
JP2004103054A (ja) | アドレス選択回路および半導体記憶装置 | |
KR100798795B1 (ko) | 내부 어드레스 생성장치 및 그의 구동방법 | |
KR101027339B1 (ko) | 입력 데이터 리시버 구동 제어 회로 | |
KR101782921B1 (ko) | 반도체 메모리 장치 및 그의 동작 방법 | |
JPS62250583A (ja) | 半導体記憶装置 | |
KR100853465B1 (ko) | 내부리드신호 생성회로와 이를 포함하는 반도체 메모리장치 | |
KR100738958B1 (ko) | 반도체 메모리 장치의 데이터 출력 프리드라이버 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120720 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130723 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140723 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150721 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160721 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170724 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180725 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190724 Year of fee payment: 13 |