JPWO2017183693A1 - ターゲット、ターゲットの製造方法、及び中性子発生装置 - Google Patents
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Abstract
Description
上述のとおり、従来、金属ターゲットを支持する基板として、炭素材料、等方性グラファイト、アルミニウム(Al)等が用いられてきた。特に、放射化の程度が比較的小さく、かつ真空中にて3000℃の耐熱性を有するグラファイトは理想的な材料であり、従来、炭素基板として等方性グラファイト材料が用いられてきた。しかしながら、等方性グラファイト基板は、先に述べた理由により高エネルギーの陽子ビームに対し十分な耐久性・耐熱性を有するとは言い難く、より高い耐久性を持つターゲットが強く要望されていた。
陽子ビームを膜面にて衝突させる金属膜3は、ベリリウム材料またはリチウム材料により構成されている。これにより、低エネルギーの陽子ビームとの衝突によって、低エネルギーの中性子2を発生させることができる。
本実施形態において、金属膜3を支持する基板(以下、ターゲット基板ともいう)は1μm以上、100μm以下という薄いグラファイト膜4である。グラファイト膜4は、熱容量が小さいので、エネルギーロスが低減し、中性子の発生効率が向上する。
本実施形態におけるグラファイト膜4の製造方法は、特に限定されないが、例えば、高分子膜を焼成等の熱処理することによって、グラファイト膜4を作製する方法が挙げられる。この方法では大面積膜状のグラファイトの作製が可能であり、例えば、300mmΦの面積の膜も容易に作製する事が出来る。したがって、ターゲット基板として上記特許文献に記載されているHOPG、単結晶グラファイト、ダイヤモンドなどの炭素材料と比較して、実用的な観点からは全く問題のない製造方法である。
炭化工程は、出発物質である芳香族ポリイミドフィルムを減圧下もしくは窒素ガス中で予備加熱処理して炭化を行う。炭化の熱処理温度としては、500℃以上である事が好ましく、より好ましくは600℃以上、700℃以上で熱処理することが最も好ましい。
黒鉛化工程では、炭化したポリイミドフィルムを一度取り出した後、黒鉛化用の炉に移し変えてから黒鉛化を行ってもよいし、炭化から黒鉛化を連続的に行ってもよい。黒鉛化は、減圧下もしくは不活性ガス中で行われるが、不活性ガスとしてはアルゴン、ヘリウムが適当である。熱処理温度(焼成温度)としては2400℃以上、好ましくは2600℃以上、更に好ましくは2800℃以上まで処理するとよい。
本実施形態におけるグラファイト膜4の膜面方向の熱伝導度は、1500W/(m・K)以上であり、1600W/(m・K)以上であることが好ましく、1700W/(m・K)以上であることがさらに好ましい。
ここで、Aは、グラファイト膜4の膜面方向の熱伝導度、αはグラファイト膜4の膜面方向の熱拡散率、dはグラファイト膜4の密度、Cpはグラファイト膜4の比熱容量をそれぞれ表わしている。なお、グラファイト膜4の膜面方向の密度、熱拡散率、および比熱容量は、以下に述べる方法で求める。
本実施形態におけるグラファイト膜4の厚さは、1μm以上、100μm以下であり、より好ましくは2μm以上、100μm以下であり、特に好ましくは10μm以上、100μm以下である。この様な厚さの場合、基板として十分な機械的強度を有し、面方向の高い熱伝導特性(1500W/mK、以上)を実現することができる。
本実施形態におけるグラファイト膜4の膜面方向の電気伝導度は、16000S/cm以上であることが好ましく、17000S/cm以上であることが好ましく、18000S/cm以上であることが最も好ましい。
グラファイト膜4の密度は、高いほど自己支持性、機械的強度特性に優れるので好ましい。また、グラファイト膜4の密度が高いほど荷電粒子線との相互作用が高くなり、中性子の減速効果が高くなる。また、高密度のグラファイト膜4では、構成するグラファイト層間に隙間がないために、熱伝導度が高くなる傾向がある。グラファイト膜4の密度が低い場合、荷電粒子線の減速効率が悪く、さらに構成するグラファイト層間の空気層の影響により熱伝導度も低下してしまうため好ましくない。また、空気層としての空洞部分では、熱伝導性が悪くなることにより熱が蓄積しやすくなる、あるいは、加熱による温度上昇により空洞部分に存在する空気層の膨張が起こると考えられる。それゆえ、低密度のグラファイト膜4は劣化・破壊しやすい。これらのことから、グラファイト膜4の密度は大きいことが好ましい。具体的には、1.60g/cm3以上が好ましく、1.70g/cm3以上が好ましく、1.80g/cm3以上がより好ましく、2.00g/cm3以上がより好ましく、2.10g/cm3以上が最も好ましい。また、グラファイト膜4の密度の上限について、グラファイト膜4の密度は、理論値である2.26g/cm3以下であり、2.25g/cm3以下であってもよい。
グラファイト膜4の機械的強度は、膜厚が100μm以下である場合には、そのMIT耐屈曲試験によって推定する事ができる。MIT試験における屈曲回数は、500回以上が好ましく、より好ましくは1000回以上、更に好ましくは2000回以上であるとよい。グラファイト膜4のMIT耐屈曲試験は次のとおり行う。1.5×10cmの試験片3枚を抜き出す。東洋精機(株)製のMIT耐揉疲労試験機型式Dを用いて、試験荷重100gf(0.98N)、速度90回/分、折り曲げクランプの曲率半径Rは2mmで行う。23℃の雰囲気下、折り曲げ角度は左右へ135度で切断するまでの折り曲げ回数を測定する。
図1に示されるように、本実施形態に係るターゲット(A)は、金属膜3の表面とグラファイト膜4の表面とが境界面を介して接している構造を有する。すなわち、グラファイト膜4と金属膜3とが直接接合された構造である。このような構造は、金属膜3が比較的厚い場合には、例えば、グラファイト膜4の片面にベリリウムをホットプレスやHIP処理を施すことによって作製することができる。また、金属膜3が比較的薄いベリリウムの場合には、例えば、グラファイト膜4の片面にベリリウムを蒸着することによって作製することができる。
ターゲット(A)〜(D)、及び後述する実施形態2のターゲット(E)においては、荷電粒子としての陽子はグラファイト膜4を通過するが、標的物質(ここではグラファイト膜4)の荷電粒子(陽子)に対する衝突阻止能(エネルギー損失)は、下記のBetheの式(3)によって表される。
本実施形態に係る中性子発生方法では、ターゲットに対し低エネルギーの陽子を真空下で衝突させることによって、有害且つ放射化能の高い速中性子が低減された低エネルギー中性子を発生させる。本実施形態では、ターゲットとして、上述した特性を有するグラファイト膜4、及び該グラファイト膜4の片面に付着された厚さ10μm以上1mm未満の金属膜3から構成される基板を用いる。これにより、本実施形態に係る中性子発生方法は、重金属に比べ放射化のレベルを低減でき、有害且つ放射化能の高い速中性子が低減された低エネルギー中性子の発生効率を小さくする事が出来る。また、核反応に伴う熱負荷をグラファイト基板によって軽減できるので、冷却機構をコンパクトにすることができる。
本実施形態に係る中性子発生装置は、ターゲットと、水素イオン発生器と、線形加速器と、陽子照射部とを備えている。中性子発生装置における陽子を発生させるための加速器は、線形加速器である。従来は、ターゲットに衝突させるための陽子として11MeV以上の高エネルギー陽子を用いるためにシンクロトロンやサイクロトロン等の大型加速器が用いられていた。本実施形態では、主に2MeV以上11MeV未満の陽子を用いるので、線形加速器でも十分に所要とする大電流の陽子を発生することができる。
本発明の他の実施形態について図6に基づいて説明すれば、以下のとおりである。図6は、本実施形態に係るターゲット(E)の概略構成を示す断面図である。図6に示されるように、本実施形態に係るターゲット(E)は、金属膜3を支持する基板が、グラファイト膜4が積層されたグラファイト積層体8である点が、前記実施形態1と異なる。照射される加速陽子ビームのエネルギーが比較的高く、照射による発熱量が極めて大きい場合、本実施形態のように、金属膜3を支持する基板をグラファイト積層体8により構成してもよい。
複数枚のグラファイト膜4を積層して、希望する厚さの基板を作製する方法は、特に制限はないが、基板が極めて高い温度に曝されることを考えると、複数枚のグラファイト膜4を、接着剤を用いる事無く、直接加圧・加熱処理によって圧着してグラファイト積層体8を形成することが好ましい。加圧・加熱の条件については、十分な接合強度を持つグラファイト積層体8を形成することができれば特に制限はないが、加熱の温度は200℃〜3000℃の範囲、印加圧力は104パスカル以上であり、真空、またはアルゴンや窒素などの不活性ガス中にて加圧・加熱を行うことが好ましい。特に、加圧しながら加熱する、あるいは加熱しながら加圧することは積層体作製の方法として好ましい。また、グラファイト積層体8に用いられるグラファイト膜4は必ずしも完全にグラファイト化されたものである必要はなく、600℃以上、より好ましくは800℃以上、最も好ましくは1000℃以上の温度で炭素化した膜であっても構わない。このように炭素化した膜を積層し、例えば2800℃以上の温度で加熱、加圧すれば目的のターゲット基板を得ることができる。
本発明の一実施形態に係るターゲットは、少なくとも、ベリリウム材料またはリチウム材料から構成される金属膜と、グラファイト膜から構成される基板と、を有し、加速された陽子を、前記金属膜及び前記基板面に衝突させて中性子を発生させるためのターゲットであって、前記グラファイト膜の膜面方向の熱伝導度は、1500W/(m・K)以上であり、膜面方向の熱伝導度が膜厚方向の熱伝導度の100倍以上であり、前記グラファイト膜の厚さは、1μm以上、100μm以下であることを特徴としている。
2 中性子
3 金属膜
4 グラファイト膜(基板)
5 ターゲット支持枠(支持枠)
6 冷媒流路(冷却機構)
7 金属材料膜
8 グラファイト積層体
(A)〜(E) ターゲット
Claims (10)
- 少なくとも、ベリリウム材料またはリチウム材料から構成される金属膜と、グラファイト膜から構成される基板と、を有し、加速された陽子を前記金属膜及び前記基板の面に衝突させて中性子を発生させるためのターゲットであって、
前記グラファイト膜の膜面方向の熱伝導度は、1500W/(m・K)以上であり、膜面方向の熱伝導度が膜厚方向の熱伝導度の100倍以上であり、
前記グラファイト膜の厚さは、1μm以上、100μm以下であることを特徴とするターゲット。 - 前記グラファイト膜の膜面方向の電気伝導度は、16000S/cm以上であり、膜面方向の電気伝導度が膜厚方向の電気伝導度の100倍以上であることを特徴とする請求項1に記載のターゲット。
- 前記基板は、前記グラファイト膜が複数枚積層されたグラファイト積層体から構成され、
前記基板の厚さは、100μm以上、20mm以下であることを特徴とする請求項1または2に記載のターゲット。 - 前記グラファイト積層体は、複数枚の前記グラファイト膜の加圧下での加熱による接合物、または加熱下での加圧による接合物であることを特徴とする請求項3に記載のターゲット。
- 前記グラファイト膜は、1.60g/cm3以上、2.26g/cm3以下であることを特徴とする請求項1〜4の何れか1項に記載のターゲット。
- 前記グラファイト膜と前記金属膜とが直接接合された構造であることを特徴とする請求項1〜5の何れか1項に記載のターゲット。
- 前記ターゲットを支持する支持枠を備えたことを特徴とする請求項1〜6の何れか1項に記載のターゲット。
- 前記支持枠は、前記ターゲットを冷却する冷却機構を備えたことを特徴とする請求項7に記載のターゲット。
- 陽子を加速するための加速器と、
請求項1〜8の何れか1項に記載のターゲットに対して、前記加速器によって加速された陽子を照射するための陽子照射部と、を備えたことを特徴とする中性子発生装置。 - ベリリウム材料またはリチウム材料から構成される金属膜と、グラファイトから構成される1または複数のグラファイト膜と、を有し、陽子を前記金属膜及び前記グラファイト膜の膜面にて衝突させ中性子を発生させるためのターゲットの製造方法であって、
前記グラファイト膜を、高分子膜を焼成することにより作製することを特徴とするターゲットの製造方法。
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