JPS6363134B2 - - Google Patents
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- JPS6363134B2 JPS6363134B2 JP56125981A JP12598181A JPS6363134B2 JP S6363134 B2 JPS6363134 B2 JP S6363134B2 JP 56125981 A JP56125981 A JP 56125981A JP 12598181 A JP12598181 A JP 12598181A JP S6363134 B2 JPS6363134 B2 JP S6363134B2
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/094—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
- H03K19/0944—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET
- H03K19/0948—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET using CMOS or complementary insulated gate field-effect transistors
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0008—Arrangements for reducing power consumption
- H03K19/0013—Arrangements for reducing power consumption in field effect transistor circuits
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Computing Systems (AREA)
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- Logic Circuits (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
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- Pulse Circuits (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明はC―MOSインバータ駆動用バツフア
回路に係り、特に入力状態の反転時にC―MOS
インバータを構成するトランジスタが同時に導通
ことを防止したバツフア回路に関する。
回路に係り、特に入力状態の反転時にC―MOS
インバータを構成するトランジスタが同時に導通
ことを防止したバツフア回路に関する。
C―MOSインバータ(相補的金属酸化膜半導
体インバータ)はpチヤネルMOSトランジスタ
(以下p―MOSトランジスタと称する)とnチヤ
ネルMOSトランジスタ(以下n―MOSトランジ
スタと称する)直列接続して構成されており、原
理的にはp―MOSトランジスタが導通(オン)
のときには、必ずn―MOSトランジスタは非導
通(オフ)、逆にp―MOSトランジスタが非導通
のときはn―MOSトランジスタは導通となつて
おり、両者が同時に導通することはないので、こ
のインバータ回路を常時流れている電流はない。
従つて通常は、このC―MOSインバータでは、
p―MOS,n―MS両トランジスタが同時に
ONして流れる電流に依る電源電圧の変動はあり
得ない。しかしながら、このC―MOSインバー
タの入力の状態が反転する過渡状態においては、
両トランジスタが同時に導通することがあり、そ
れにより瞬時にC―MOSインバータを大電流が
流れる。この瞬時大電流によつて、C―MOSイ
ンバータが組み込まれている集積回路内部あるい
は電源を共通した外部回路の電源電圧が変動し、
それによりこれらの内部及び外部回路はノイズを
受けることになり、誤動作する可能性もあるの
で、上記過渡状態における瞬時大電流を避ける必
要がある。特にメモリ等の出力C―MOSインバ
ータでは上記過渡状態での誤動作を避けることが
重要である。
体インバータ)はpチヤネルMOSトランジスタ
(以下p―MOSトランジスタと称する)とnチヤ
ネルMOSトランジスタ(以下n―MOSトランジ
スタと称する)直列接続して構成されており、原
理的にはp―MOSトランジスタが導通(オン)
のときには、必ずn―MOSトランジスタは非導
通(オフ)、逆にp―MOSトランジスタが非導通
のときはn―MOSトランジスタは導通となつて
おり、両者が同時に導通することはないので、こ
のインバータ回路を常時流れている電流はない。
従つて通常は、このC―MOSインバータでは、
p―MOS,n―MS両トランジスタが同時に
ONして流れる電流に依る電源電圧の変動はあり
得ない。しかしながら、このC―MOSインバー
タの入力の状態が反転する過渡状態においては、
両トランジスタが同時に導通することがあり、そ
れにより瞬時にC―MOSインバータを大電流が
流れる。この瞬時大電流によつて、C―MOSイ
ンバータが組み込まれている集積回路内部あるい
は電源を共通した外部回路の電源電圧が変動し、
それによりこれらの内部及び外部回路はノイズを
受けることになり、誤動作する可能性もあるの
で、上記過渡状態における瞬時大電流を避ける必
要がある。特にメモリ等の出力C―MOSインバ
ータでは上記過渡状態での誤動作を避けることが
重要である。
従来、上記過渡状態における瞬時大電流を避け
るために、C―MOSインバータ内のp―MOSト
ランジスタとn―MOSトランジスタをそれぞれ
駆動すバツフア回路を構成するトランジスタの
gmを異ならしめ、それにより、p―MOSトラン
ジスタとn―MOSトランジスタを駆動するタイ
ミングをずらすようにしていた。しかしながら、
これではC―MOSインバータ内のトランジスタ
の駆動タイミングに所望の遅延を与えるべく、バ
ツフア回路内部のトランジスタのgmを適切に設
定する工程は比較的困難である。
るために、C―MOSインバータ内のp―MOSト
ランジスタとn―MOSトランジスタをそれぞれ
駆動すバツフア回路を構成するトランジスタの
gmを異ならしめ、それにより、p―MOSトラン
ジスタとn―MOSトランジスタを駆動するタイ
ミングをずらすようにしていた。しかしながら、
これではC―MOSインバータ内のトランジスタ
の駆動タイミングに所望の遅延を与えるべく、バ
ツフア回路内部のトランジスタのgmを適切に設
定する工程は比較的困難である。
本発明の目的は、前述の従来技術にかんかみ、
C―MOSインバータ内のp―MOSトランジスタ
およびn―MOSトランジスタをそれぞれ駆動す
るためのインバータを直列接続された少なくとも
3つのトランジスタで構成し、該インバータと入
力端の間に遅延回路を設けるという構想に基づ
き、C―MOSインバータ内のトランジスタの駆
動タイミングに所望の遅延を確実に与え、それに
よりC―MOSインバータを構成するトランジス
タが過渡状態において同時に導通することを確実
に防止することにある。
C―MOSインバータ内のp―MOSトランジスタ
およびn―MOSトランジスタをそれぞれ駆動す
るためのインバータを直列接続された少なくとも
3つのトランジスタで構成し、該インバータと入
力端の間に遅延回路を設けるという構想に基づ
き、C―MOSインバータ内のトランジスタの駆
動タイミングに所望の遅延を確実に与え、それに
よりC―MOSインバータを構成するトランジス
タが過渡状態において同時に導通することを確実
に防止することにある。
上述の目的を達成するために、本発明により提
供されるものは、C―MOSインバータを構成す
るPチヤネルMOSトランジスタとNチヤネル
MOSトランジスタの一方のMOSトランジスタを
駆動する第1のバツフア・インバータと、他方の
MOSトランジスタを駆動する第2のバツフア・
インバータと、入力信号を遅延して遅延信号を出
力する遅延回路とを具備するC―MOSインバー
タ駆用バツフア回路である。
供されるものは、C―MOSインバータを構成す
るPチヤネルMOSトランジスタとNチヤネル
MOSトランジスタの一方のMOSトランジスタを
駆動する第1のバツフア・インバータと、他方の
MOSトランジスタを駆動する第2のバツフア・
インバータと、入力信号を遅延して遅延信号を出
力する遅延回路とを具備するC―MOSインバー
タ駆用バツフア回路である。
上記第1のバツフアインバータは、上記一方の
MOSトランジスタのゲートと電源間に接続され
た第1のPチヤネルMOSトランジスタと、該ゲ
ートと接地間に直列接続された第1及び第2のN
チヤネルMOSトランジスタとを有している。第
1のPチヤネルトランジスタ及び第1のNチヤネ
ルMOSトランジスタはそのゲートに入力信号を
受け、第2のNチヤネルMOSトランジスタはそ
のチヤネルに前記遅延信号を受けるようになつて
いる。
MOSトランジスタのゲートと電源間に接続され
た第1のPチヤネルMOSトランジスタと、該ゲ
ートと接地間に直列接続された第1及び第2のN
チヤネルMOSトランジスタとを有している。第
1のPチヤネルトランジスタ及び第1のNチヤネ
ルMOSトランジスタはそのゲートに入力信号を
受け、第2のNチヤネルMOSトランジスタはそ
のチヤネルに前記遅延信号を受けるようになつて
いる。
第2のバツフアインバータは、上記他方の
MOSトランジスタのゲートと接地間に接続され
た第3のNチヤネルMOSトランジスタと、該ゲ
ートと電源間に直列に接続された第2及び第3の
PチヤネルMOSトランジスタとを有し、第3の
NチヤネルMOSトランジスタ及び第2のPチヤ
ネルMOSトランジスタはそのゲートに前記入力
信号を受け、第3のPチヤネルトランジスタはそ
のゲートに前記遅延信号を受けるようになつてい
る。
MOSトランジスタのゲートと接地間に接続され
た第3のNチヤネルMOSトランジスタと、該ゲ
ートと電源間に直列に接続された第2及び第3の
PチヤネルMOSトランジスタとを有し、第3の
NチヤネルMOSトランジスタ及び第2のPチヤ
ネルMOSトランジスタはそのゲートに前記入力
信号を受け、第3のPチヤネルトランジスタはそ
のゲートに前記遅延信号を受けるようになつてい
る。
以下、本発明の実施例を添附の図面に基づいて
従来例と対比しながら説明する。
従来例と対比しながら説明する。
第1図は従来のC―MOSインバータ駆動用バ
ツフア回路の1例を示す回路図である。図におい
ては、1はC―MOSインバータ、2はC―MOS
インバータ駆動用バツフア回路、3はバツフア回
路2の入力端、4はC―MOSインバータ1の出
力端、そしてSAはセンスアンプを示している。
C―MOSインバータは第1のp―MOSトランジ
スタQ1と第1のn―MOSトランジスタT1を電源
線VCCと接地間に直列接続して構成されている。
バツフア回路2は第1のp―MOSトランジスタ
Q1を駆動するための第1のインバータINV1と、
第1のn―MOSトランジスタT1を駆動するため
の第2のインバータINV2とからなつている。第
1のインバータINV1は第2のp―MOSトランジ
スタQ2と第2のn―MOSトランジスタT2を電源
線VCCと接地間に直列接続して構成されている。
第2のインバータINV2も同様に第3のp―MOS
トランジスタQ3と第3のn―MOSトランジスタ
T3を電源線VCCと接地間に直列接続して構成され
ている。バツフア回路2内の各トランジスタのゲ
ートは入力端3に共通接続されている。入力端3
はセンスアンプSAを介して図示しないメモリ・
セル・アレイ等に接続されている。トランジスタ
Q2とT2との接続点はC―MOSインバータの第1
のp―MOSトランジスタQ1のゲートに接続され
ている。トランジスタQ3とT3との接続点はC―
MOSインバータの第1のn―MOSトランジスタ
T1のゲートに接続されている。トランジスタQ1
とT1との接続点は出力端4に接続されている。
第2のインバータINV2の駆動用トランジスタT3
のgmは第1のインバータINV1の駆動用トランジ
スタT2のgmより大きくしてある。
ツフア回路の1例を示す回路図である。図におい
ては、1はC―MOSインバータ、2はC―MOS
インバータ駆動用バツフア回路、3はバツフア回
路2の入力端、4はC―MOSインバータ1の出
力端、そしてSAはセンスアンプを示している。
C―MOSインバータは第1のp―MOSトランジ
スタQ1と第1のn―MOSトランジスタT1を電源
線VCCと接地間に直列接続して構成されている。
バツフア回路2は第1のp―MOSトランジスタ
Q1を駆動するための第1のインバータINV1と、
第1のn―MOSトランジスタT1を駆動するため
の第2のインバータINV2とからなつている。第
1のインバータINV1は第2のp―MOSトランジ
スタQ2と第2のn―MOSトランジスタT2を電源
線VCCと接地間に直列接続して構成されている。
第2のインバータINV2も同様に第3のp―MOS
トランジスタQ3と第3のn―MOSトランジスタ
T3を電源線VCCと接地間に直列接続して構成され
ている。バツフア回路2内の各トランジスタのゲ
ートは入力端3に共通接続されている。入力端3
はセンスアンプSAを介して図示しないメモリ・
セル・アレイ等に接続されている。トランジスタ
Q2とT2との接続点はC―MOSインバータの第1
のp―MOSトランジスタQ1のゲートに接続され
ている。トランジスタQ3とT3との接続点はC―
MOSインバータの第1のn―MOSトランジスタ
T1のゲートに接続されている。トランジスタQ1
とT1との接続点は出力端4に接続されている。
第2のインバータINV2の駆動用トランジスタT3
のgmは第1のインバータINV1の駆動用トランジ
スタT2のgmより大きくしてある。
第1図の従来回路の動作およびその問題点を第
2図を用いて説明する。第2図は、第1図の回路
におけるバツフア回路2の入力電圧およびこれに
応答する出力電圧の波形図である。第2図におい
て、入力端3(第1図)の入力電圧Cが電源電圧
VCCのレベル(以下、Hレベルと称する)から接
地電圧のレベル(以下、Lレベルと称する)に立
下がる程度で、p―MOSトランジスタQ2および
Q3のしきい値電圧以下になると、p―MOSトラ
ンジスタQ2およびQ3はオンになる。さらに入力
電圧が低下してn―MOSトランジスタT2および
T3のしきい値電圧以下になると、n―MOSトラ
ンジスタT2およびT3は導通状態から非導通状態
になる。こうして一定の遅延時間の後、バツフア
回路2の出力AおよびBは共に立上がる。前述の
如く、バツフア回路2のn―MOSトランジスタ
T2とT3のgmを異ならしめてあるので、図示の如
く、第2のインバータINV2の出力Bは第1イン
バータINV1の出力Aより遅れて立上がる。出力
A,Bはそれぞれ、C―MOSインバータのp―
MOSトランジスタQ1およびn―MOSトランジス
タT1のゲートに印加される。トランジスタT3の
gmをトランジスタT2のgmより充分大きくして、
出力Bの立上がりを出力Aの立上がりより充分に
遅らせれば問題は生じないが、図示の如く両者の
立上がりが接近していると、C―MOSインバー
タを構成するトランジスタQ1およびT1が同時に
オンになることがある。すなわち、時刻t1におい
て出力Bの電圧がn―MOSトランジスタT1のし
きい値電圧VTH2に達するとトランジスタT1はオ
ンになり、次いで時刻t2において出力Aの電圧が
p―MOSトランジスタQ1のしきい値電圧VTH1に
達するとトランジスタQ2はオフになる。従つて
時刻t1とt2の間の時間では両トランジスタが共に
オンであり、この期間にC―MOSインバータ1
を大電流が流れる。この瞬時大電流により、前述
の如き電源電圧の変動を生じる。メモリ・セル・
アレイ等、C―MOSインバータを多数必要とす
る回路においては、上述の瞬時大電流が加算され
るため、内部及び外部回路に多大の影響を及ぼ
す。トランジスタのgmを適正な値に設定するこ
とは比較的困難であるので、従来は第2図に示し
たような、バツフア回路出力が接近して立上がる
現象が多く見られた。
2図を用いて説明する。第2図は、第1図の回路
におけるバツフア回路2の入力電圧およびこれに
応答する出力電圧の波形図である。第2図におい
て、入力端3(第1図)の入力電圧Cが電源電圧
VCCのレベル(以下、Hレベルと称する)から接
地電圧のレベル(以下、Lレベルと称する)に立
下がる程度で、p―MOSトランジスタQ2および
Q3のしきい値電圧以下になると、p―MOSトラ
ンジスタQ2およびQ3はオンになる。さらに入力
電圧が低下してn―MOSトランジスタT2および
T3のしきい値電圧以下になると、n―MOSトラ
ンジスタT2およびT3は導通状態から非導通状態
になる。こうして一定の遅延時間の後、バツフア
回路2の出力AおよびBは共に立上がる。前述の
如く、バツフア回路2のn―MOSトランジスタ
T2とT3のgmを異ならしめてあるので、図示の如
く、第2のインバータINV2の出力Bは第1イン
バータINV1の出力Aより遅れて立上がる。出力
A,Bはそれぞれ、C―MOSインバータのp―
MOSトランジスタQ1およびn―MOSトランジス
タT1のゲートに印加される。トランジスタT3の
gmをトランジスタT2のgmより充分大きくして、
出力Bの立上がりを出力Aの立上がりより充分に
遅らせれば問題は生じないが、図示の如く両者の
立上がりが接近していると、C―MOSインバー
タを構成するトランジスタQ1およびT1が同時に
オンになることがある。すなわち、時刻t1におい
て出力Bの電圧がn―MOSトランジスタT1のし
きい値電圧VTH2に達するとトランジスタT1はオ
ンになり、次いで時刻t2において出力Aの電圧が
p―MOSトランジスタQ1のしきい値電圧VTH1に
達するとトランジスタQ2はオフになる。従つて
時刻t1とt2の間の時間では両トランジスタが共に
オンであり、この期間にC―MOSインバータ1
を大電流が流れる。この瞬時大電流により、前述
の如き電源電圧の変動を生じる。メモリ・セル・
アレイ等、C―MOSインバータを多数必要とす
る回路においては、上述の瞬時大電流が加算され
るため、内部及び外部回路に多大の影響を及ぼ
す。トランジスタのgmを適正な値に設定するこ
とは比較的困難であるので、従来は第2図に示し
たような、バツフア回路出力が接近して立上がる
現象が多く見られた。
バツフア回路2の入力の立上りに応答する出力
電圧の立下りにおいても、上述と同様の理由によ
りC―MOSインバータを構成するトランジスタ
が共にオンになるという現象が見られる。
電圧の立下りにおいても、上述と同様の理由によ
りC―MOSインバータを構成するトランジスタ
が共にオンになるという現象が見られる。
本発明は、トランジスタのgmの設定に煩らわ
されることなく、比較的簡単にバツフア回路の出
力の立上りまたは立下りに充分な遅延を持たせ
て、C―MOSインバータを構成するトランジス
タが同時にオンになることを確実に避けることを
目的としており、以下、第3図および第4図に基
づいて本発明の実施例を説明する。
されることなく、比較的簡単にバツフア回路の出
力の立上りまたは立下りに充分な遅延を持たせ
て、C―MOSインバータを構成するトランジス
タが同時にオンになることを確実に避けることを
目的としており、以下、第3図および第4図に基
づいて本発明の実施例を説明する。
第3図は本発明の一実施例によるC―MOSイ
ンバータ駆動用バツフア回路を示す回路図であ
る。第3図において、20は本実施例によるC―
MOSインバータ1を駆動するためのバツフア回
路である。C―MOSインバータ1は第1図に示
した従来例と同一の構成を有している。バツフア
回路20は第1のp―MOSトランジスタQ1を駆
動するための第1のインバータINV10と、第1の
n―MOSトランジスタT1を駆動するための第2
のインバータINV20とからなつている。第1のイ
ンバータINV10は、電源線VCCと接地間に、本発
明により、第2のp―MOSトランジスタQ20、第
2のn―MOSトランジスタT20、および第3のn
―MOSトランジスタT30を直列接続して構成され
ている。第2のインバータINV20は、電源線VCC
と接地間に、本発明により、第3のp―MOSト
ランジスタQ30、第4のp―MOSトランジスタ
Q40、および第4のn―MOSトランジスタT40を
直列接続して構成されている。本発明により、入
力端3と第1および第2のインバータINV10,
INV20の間に遅延回路5が設けられている。第1
のインバータINV10内のトランジスタQ20および
T20のゲートと、第2のインバータINV20内のト
ランジスタQ30およびT40のゲートは、入力端3
に共通接続されている。第1のインバータINV10
内のトランジスタT30のゲートと、第2のインバ
ータINV20内のトランジスタQ40のゲートは、遅
延回路5の出力に共通接続されている。入力端3
はセンスアンプSAを介して図示しないメモリ・
セル・アレイ等に接続されている。トランジスタ
Q20とT20との接続点はC―MOSインバータ1の
第1のp―MOSトランジスタQ1のゲートに接続
されている。トランジスタQ40とT40の接続点は
第1のn―MOSトランジスタT1のゲートに接続
されている。トランジスタQ1とT1の接続点は出
力端4に接されている。第3図の回路において
は、第1図に示した従来例の如くトランジスタの
gmを第1のインバータと第2のインバータとで
異なるように設定する必要はない。
ンバータ駆動用バツフア回路を示す回路図であ
る。第3図において、20は本実施例によるC―
MOSインバータ1を駆動するためのバツフア回
路である。C―MOSインバータ1は第1図に示
した従来例と同一の構成を有している。バツフア
回路20は第1のp―MOSトランジスタQ1を駆
動するための第1のインバータINV10と、第1の
n―MOSトランジスタT1を駆動するための第2
のインバータINV20とからなつている。第1のイ
ンバータINV10は、電源線VCCと接地間に、本発
明により、第2のp―MOSトランジスタQ20、第
2のn―MOSトランジスタT20、および第3のn
―MOSトランジスタT30を直列接続して構成され
ている。第2のインバータINV20は、電源線VCC
と接地間に、本発明により、第3のp―MOSト
ランジスタQ30、第4のp―MOSトランジスタ
Q40、および第4のn―MOSトランジスタT40を
直列接続して構成されている。本発明により、入
力端3と第1および第2のインバータINV10,
INV20の間に遅延回路5が設けられている。第1
のインバータINV10内のトランジスタQ20および
T20のゲートと、第2のインバータINV20内のト
ランジスタQ30およびT40のゲートは、入力端3
に共通接続されている。第1のインバータINV10
内のトランジスタT30のゲートと、第2のインバ
ータINV20内のトランジスタQ40のゲートは、遅
延回路5の出力に共通接続されている。入力端3
はセンスアンプSAを介して図示しないメモリ・
セル・アレイ等に接続されている。トランジスタ
Q20とT20との接続点はC―MOSインバータ1の
第1のp―MOSトランジスタQ1のゲートに接続
されている。トランジスタQ40とT40の接続点は
第1のn―MOSトランジスタT1のゲートに接続
されている。トランジスタQ1とT1の接続点は出
力端4に接されている。第3図の回路において
は、第1図に示した従来例の如くトランジスタの
gmを第1のインバータと第2のインバータとで
異なるように設定する必要はない。
第4図は第3図の回路におけるバツフア回路2
0の入力電圧およびこれに応答する出力電圧の波
形図である。第4図において、入力端3(第3
図)の入力電圧CがHレベルからLレベルに立下
る過程で、p―MOSトランジスタQ20およびQ30
のしきい値電圧VTH1以下になる時刻t0において、
これらのトランジスタQ20およびQ30はオンにな
る。この時、第1のインバータINV10内のn―
MOSトランジスタT20およびT30はオンなので、
第1のインバータINV10の出力Aは時刻t0ではL
レベルであるが、入力電圧Cが立下る過程におい
て立上り始める。ところが、第2のインバータ
INV20においては、時刻t0においてp―MOSトラ
ンジスタQ30およびn―MOSトランジスタT40は
オンであるが、p―MOSトランジスタQ40のゲー
トには、遅延回路5を介して入力電圧が印加され
るので、時刻t0から遅延時間tを経過した後に始
めて出力Bが立上り始める。従つて、図に示され
る如く、バツフア回路の出力Bは出力Aの立上が
り時から充分遅れて立上がる。この出力Aおよび
BがC―MOSインバータのp―MOSトランジス
タQ1およびn―MOSトランジスタT1のゲートに
それぞれ印加されると、時刻t1において出力Aの
電圧がp―MOSトランジスタQ1のしきい値電圧
VTH1を越えるのでトランジスタQ1がまずオフに
なり、次いで、時刻t2において出力Bの電圧がn
―MOSトランジスタT1のしきい値電圧VTH2を越
えるのでトランジスタT1がオンになる。従つて、
トランジスタQ1およびT1は、バツフア回路20
の入力端3における立下がり時には同時にオンと
なることはない。
0の入力電圧およびこれに応答する出力電圧の波
形図である。第4図において、入力端3(第3
図)の入力電圧CがHレベルからLレベルに立下
る過程で、p―MOSトランジスタQ20およびQ30
のしきい値電圧VTH1以下になる時刻t0において、
これらのトランジスタQ20およびQ30はオンにな
る。この時、第1のインバータINV10内のn―
MOSトランジスタT20およびT30はオンなので、
第1のインバータINV10の出力Aは時刻t0ではL
レベルであるが、入力電圧Cが立下る過程におい
て立上り始める。ところが、第2のインバータ
INV20においては、時刻t0においてp―MOSトラ
ンジスタQ30およびn―MOSトランジスタT40は
オンであるが、p―MOSトランジスタQ40のゲー
トには、遅延回路5を介して入力電圧が印加され
るので、時刻t0から遅延時間tを経過した後に始
めて出力Bが立上り始める。従つて、図に示され
る如く、バツフア回路の出力Bは出力Aの立上が
り時から充分遅れて立上がる。この出力Aおよび
BがC―MOSインバータのp―MOSトランジス
タQ1およびn―MOSトランジスタT1のゲートに
それぞれ印加されると、時刻t1において出力Aの
電圧がp―MOSトランジスタQ1のしきい値電圧
VTH1を越えるのでトランジスタQ1がまずオフに
なり、次いで、時刻t2において出力Bの電圧がn
―MOSトランジスタT1のしきい値電圧VTH2を越
えるのでトランジスタT1がオンになる。従つて、
トランジスタQ1およびT1は、バツフア回路20
の入力端3における立下がり時には同時にオンと
なることはない。
バツフア回路20の入力端3において入力電圧
が立上がる場合は、第2のインバータINV20のト
ランジスタQ30がオフ,T40がオンになつてから
所定の遅延時間の後に第1のインバータINV10の
トランジスタT30がオンになるので、出力Bの立
下り時から所定の遅延時間の後に出力Aが立下
る。従つて、この場合もC―MOSインバータ内
のトランジスタQ1およびT1は同時にオンになる
ことはない。
が立上がる場合は、第2のインバータINV20のト
ランジスタQ30がオフ,T40がオンになつてから
所定の遅延時間の後に第1のインバータINV10の
トランジスタT30がオンになるので、出力Bの立
下り時から所定の遅延時間の後に出力Aが立下
る。従つて、この場合もC―MOSインバータ内
のトランジスタQ1およびT1は同時にオンになる
ことはない。
第5図は第3図の回路に用いられれた遅延回路
5の1例を示す回路図である。この遅延回路は周
知の技術により簡単に構成されるものであり、2
つのインバータ回路の間に抵抗Rと容量Cからな
る時定数回路を接続して得られる。
5の1例を示す回路図である。この遅延回路は周
知の技術により簡単に構成されるものであり、2
つのインバータ回路の間に抵抗Rと容量Cからな
る時定数回路を接続して得られる。
以上の説明から明らかなように、本発明により
C―MOSインバータ内のp―MOSインバータと
n―MOSトランジスタをそれぞれ駆動するため
のインバータを、直列接続された少なくとも3つ
のトランジスタで構成し、該インバータと入力端
の間に遅延回路を設けたので、C―MOSインバ
ータ内のトランジスタの駆動タイミングに所望の
遅延を確実に与えることができ、従つて、C―
MOSインバータを構成するトランジスタが過渡
状態において同時に導通することは確実に防止さ
れる。このため、C―MOSインバータが組み込
まれている集積回路内部あるいは電源を共通にし
た外部回路の電源電圧の変動は抑制されることに
加えて、消費電力の低減という効果も得られる。
C―MOSインバータ内のp―MOSインバータと
n―MOSトランジスタをそれぞれ駆動するため
のインバータを、直列接続された少なくとも3つ
のトランジスタで構成し、該インバータと入力端
の間に遅延回路を設けたので、C―MOSインバ
ータ内のトランジスタの駆動タイミングに所望の
遅延を確実に与えることができ、従つて、C―
MOSインバータを構成するトランジスタが過渡
状態において同時に導通することは確実に防止さ
れる。このため、C―MOSインバータが組み込
まれている集積回路内部あるいは電源を共通にし
た外部回路の電源電圧の変動は抑制されることに
加えて、消費電力の低減という効果も得られる。
なお、本発明は前述の実施例に限定されるもの
ではなく、トランジスタT20とT30のゲート接続
及びQ30とQ40のゲート接続を逆にしても良く、
さらに、バツフア回路の各インバータを構成する
トランジスタは4個以上として、他の機能を付加
してもよい。例えば、待機状態でC―MOSイン
バータ出力をフローテイング状態にするためのト
ランジスタを付加してもよい。また、バツフア回
路の入力としては、メモリ・セル・アレイからセ
ンスアンプを介して得られるものに限らず、任意
の論理信号を用いてもよい。
ではなく、トランジスタT20とT30のゲート接続
及びQ30とQ40のゲート接続を逆にしても良く、
さらに、バツフア回路の各インバータを構成する
トランジスタは4個以上として、他の機能を付加
してもよい。例えば、待機状態でC―MOSイン
バータ出力をフローテイング状態にするためのト
ランジスタを付加してもよい。また、バツフア回
路の入力としては、メモリ・セル・アレイからセ
ンスアンプを介して得られるものに限らず、任意
の論理信号を用いてもよい。
第1図は従来のC―MOSインバータ駆動用バ
ツフア回路を示す回路図、第2図は第1図の回路
におけるバツフア回路の入力電圧およびこれに応
答する出力電圧の波形図、第3図は本発明の一実
施例によるC―MOSインバータ駆動用バツフア
回路を示す回路図、第4図は第3図の回路におけ
るバツフア回路の入力電圧およびこれに応答する
出力電圧の波形図、第5図は第3図の回路に用い
られた遅延回路の1例を示す回路図である。 1……C―MOSインバータ、20……バツフ
ア回路、3……入力端、4……C―MOSインバ
ータの出力端、SA……センスアンプ、INV10…
…第1のインバータ、INV20……第2のインバー
タ、Q1,Q20,Q30,Q40……p―MOSトランジ
スタ、T1,T20,T30,T40……n―MOSトラン
ジスタ、VTH1……p―MOSトランジスタのしき
い値電圧、VTH2……n―MOSトランジスタのし
きい値電圧。
ツフア回路を示す回路図、第2図は第1図の回路
におけるバツフア回路の入力電圧およびこれに応
答する出力電圧の波形図、第3図は本発明の一実
施例によるC―MOSインバータ駆動用バツフア
回路を示す回路図、第4図は第3図の回路におけ
るバツフア回路の入力電圧およびこれに応答する
出力電圧の波形図、第5図は第3図の回路に用い
られた遅延回路の1例を示す回路図である。 1……C―MOSインバータ、20……バツフ
ア回路、3……入力端、4……C―MOSインバ
ータの出力端、SA……センスアンプ、INV10…
…第1のインバータ、INV20……第2のインバー
タ、Q1,Q20,Q30,Q40……p―MOSトランジ
スタ、T1,T20,T30,T40……n―MOSトラン
ジスタ、VTH1……p―MOSトランジスタのしき
い値電圧、VTH2……n―MOSトランジスタのし
きい値電圧。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 C―MOSインバータを構成するPチヤネル
MOSトランジスタとNチヤネルMOSトランジス
タの一方のMOSトランジスタを駆動する第1の
バツフア・インバータと、他方のMOSトランジ
スタを駆動する第2のバツフア・インバータと、
入力信号を遅延して遅延信号を出力する遅延回路
とを具備し、 前記第1のバツフアインバータは、前記一方の
MOSトランジスタのゲートと電源間に接続され
た第1のPチヤネルMOSトランジスタと、該ゲ
ートと接地間に直列接続された第1及び第2のN
チヤネルMOSトランジスタとを有し、該第1の
Pチヤネルトランジスタ及び該第1のNチヤネル
MOSトランジスタはそのゲートに入力信号を受
け、該第2のNチヤネルMOSトランジスタはそ
のゲートに前記遅延信号を受け、 前記第2のバツフアインバータは、前記他方の
MOSトランジスタのゲートと接地間に接続され
た第3のNチヤネルMOSトランジスタと、該ゲ
ートと電源間に直列に接続された第2及び第3の
PチヤネルMOSトランジスタとを有し、該第3
のNチヤネルMOSトランジスタ及び該第2のP
チヤネルMOSトランジスタはそのゲートに前記
入力信号を受け、該第3のPチヤネルトランジス
タはそのゲートに前記遅延信号を受けることを特
徴とするC―MOSインバータ駆動用バツフア回
路。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56125981A JPS5838032A (ja) | 1981-08-13 | 1981-08-13 | C―mosインバータ駆動用バッファ回路 |
IE1970/82A IE53406B1 (en) | 1981-08-13 | 1982-08-13 | A buffer circuit including inverter circuitry |
DE8282304299T DE3272309D1 (en) | 1981-08-13 | 1982-08-13 | A buffer circuit including inverter circuitry |
EP82304299A EP0072686B1 (en) | 1981-08-13 | 1982-08-13 | A buffer circuit including inverter circuitry |
US06/407,953 US4518873A (en) | 1981-08-13 | 1982-08-13 | Buffer circuit for driving a C-MOS inverter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56125981A JPS5838032A (ja) | 1981-08-13 | 1981-08-13 | C―mosインバータ駆動用バッファ回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5838032A JPS5838032A (ja) | 1983-03-05 |
JPS6363134B2 true JPS6363134B2 (ja) | 1988-12-06 |
Family
ID=14923765
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56125981A Granted JPS5838032A (ja) | 1981-08-13 | 1981-08-13 | C―mosインバータ駆動用バッファ回路 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4518873A (ja) |
EP (1) | EP0072686B1 (ja) |
JP (1) | JPS5838032A (ja) |
DE (1) | DE3272309D1 (ja) |
IE (1) | IE53406B1 (ja) |
Families Citing this family (37)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59175218A (ja) * | 1983-03-24 | 1984-10-04 | Fujitsu Ltd | Cmosインバ−タ |
JPS6097726A (ja) * | 1983-11-01 | 1985-05-31 | Mitsubishi Electric Corp | Cmos出力バツフア回路 |
IT1218845B (it) * | 1984-03-30 | 1990-04-24 | Ates Componenti Elettron | Circuito di interfaccia attenuatore di rumore per generatori di segnali di temporizzazione a due fasi non sovrapposte |
JPH0834418B2 (ja) * | 1984-08-23 | 1996-03-29 | 富士通株式会社 | 遅延回路 |
US4700089A (en) * | 1984-08-23 | 1987-10-13 | Fujitsu Limited | Delay circuit for gate-array LSI |
US4704547A (en) * | 1984-12-10 | 1987-11-03 | American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories | IGFET gating circuit having reduced electric field degradation |
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WO2011157109A2 (zh) * | 2011-05-30 | 2011-12-22 | 华为技术有限公司 | 一种i/o电路和集成电路 |
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CN113054990A (zh) * | 2021-03-12 | 2021-06-29 | 湖南国科微电子股份有限公司 | 一种驱动电路、接口电路和终端 |
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JPS5745726A (en) * | 1980-09-01 | 1982-03-15 | Nec Corp | Transistor switch |
-
1981
- 1981-08-13 JP JP56125981A patent/JPS5838032A/ja active Granted
-
1982
- 1982-08-13 EP EP82304299A patent/EP0072686B1/en not_active Expired
- 1982-08-13 DE DE8282304299T patent/DE3272309D1/de not_active Expired
- 1982-08-13 US US06/407,953 patent/US4518873A/en not_active Expired - Lifetime
- 1982-08-13 IE IE1970/82A patent/IE53406B1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
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---|---|
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EP0072686A3 (en) | 1983-06-15 |
US4518873A (en) | 1985-05-21 |
IE821970L (en) | 1983-02-13 |
EP0072686B1 (en) | 1986-07-30 |
DE3272309D1 (en) | 1986-09-04 |
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