JPS61112426A - Cmos駆動回路 - Google Patents
Cmos駆動回路Info
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- JPS61112426A JPS61112426A JP60151483A JP15148385A JPS61112426A JP S61112426 A JPS61112426 A JP S61112426A JP 60151483 A JP60151483 A JP 60151483A JP 15148385 A JP15148385 A JP 15148385A JP S61112426 A JPS61112426 A JP S61112426A
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/01—Modifications for accelerating switching
- H03K19/017—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits
- H03K19/01707—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits
- H03K19/01721—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits by means of a pull-up or down element
-
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
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- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/094—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
- H03K19/0944—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET
- H03K19/0948—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET using CMOS or complementary insulated gate field-effect transistors
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- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/01—Shaping pulses
- H03K5/02—Shaping pulses by amplifying
- H03K5/023—Shaping pulses by amplifying using field effect transistors
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、半導体装置に関し、特に
0MO8VLSI半導体記憶装置などにおいて用いられ
る駆動回路に関する。
る駆動回路に関する。
[従来の技術]
ダイナミック読取/書込形の半導体記憶装置は、Whi
teおよび(taoに対して発行され、Texas I
nstrumentsへ譲渡された、米国特許゛第4.
239.993号に示されているN−チャネル技術によ
って構成される。この特許に開示されているように、ク
ロックおよび制御信号のあるものは、電源電圧よりも高
いレベルまで強化することが望ましい。
teおよび(taoに対して発行され、Texas I
nstrumentsへ譲渡された、米国特許゛第4.
239.993号に示されているN−チャネル技術によ
って構成される。この特許に開示されているように、ク
ロックおよび制御信号のあるものは、電源電圧よりも高
いレベルまで強化することが望ましい。
例えば、記憶キャパシタに完全な1のレベルが書込まれ
うるように、行線路を強化する。従って、行線路を作動
させる行デコーダは、電源電圧を超える出力を発生しな
くてはならない。これは、NMO3回路においてはブー
トストラップによって行なわれるが、0MO3技術にお
いてはそれほど容易には行なわれない。
うるように、行線路を強化する。従って、行線路を作動
させる行デコーダは、電源電圧を超える出力を発生しな
くてはならない。これは、NMO3回路においてはブー
トストラップによって行なわれるが、0MO3技術にお
いてはそれほど容易には行なわれない。
従って、0MO3記憶装置の設計において遭遇する1つ
の問題は、Nチャネル転送装置のゲートおよび負荷装置
を雷ill!雷圧VCCより高く保って、信号レベルの
スレッショルド損失をなくすことである。Pチャネル負
荷装置のドレイン接合は順方向にバイアスされているの
で、インバータの出力はNMO3駆動回路におけるよう
にVccより高く強化されえない。0MO3におけるこ
の問題の1つの解決法は、Vcc+電圧、すなわちチッ
プへ供給されるVccレベルより高電圧の電圧源を作り
出すことである。チップ上においてVcc電圧源から発
生せしめられたこの電圧は、Vccより十分に大きいの
で、NMO8装置はいずれもトライオード領域へ駆動さ
れ、Vt損失問題は解消される。この方法の困難な点は
、このVcc+電圧源に接続されている全てのCMOS
インバータの電流要求を満たすに足る十分な電流を発生
させることにある。もし駆動されるべき負荷が大きいキ
ャパシタンスを有し、高速で遷移するように駆動される
必要がある場合は、その遷移の要求を満 ゛たすた
めに、これは駆動回路内に大負荷トランジスタを要求す
ることになる。Vcc+は、このようにキャパシタの充
電電流を必要とするだけでなく、さらに、NおよびPチ
ャネル装置の双方がオン状態にある時、インバータの駆
動段の大きいスイッチング電流要求が満たされているこ
とも必要である。
の問題は、Nチャネル転送装置のゲートおよび負荷装置
を雷ill!雷圧VCCより高く保って、信号レベルの
スレッショルド損失をなくすことである。Pチャネル負
荷装置のドレイン接合は順方向にバイアスされているの
で、インバータの出力はNMO3駆動回路におけるよう
にVccより高く強化されえない。0MO3におけるこ
の問題の1つの解決法は、Vcc+電圧、すなわちチッ
プへ供給されるVccレベルより高電圧の電圧源を作り
出すことである。チップ上においてVcc電圧源から発
生せしめられたこの電圧は、Vccより十分に大きいの
で、NMO8装置はいずれもトライオード領域へ駆動さ
れ、Vt損失問題は解消される。この方法の困難な点は
、このVcc+電圧源に接続されている全てのCMOS
インバータの電流要求を満たすに足る十分な電流を発生
させることにある。もし駆動されるべき負荷が大きいキ
ャパシタンスを有し、高速で遷移するように駆動される
必要がある場合は、その遷移の要求を満 ゛たすた
めに、これは駆動回路内に大負荷トランジスタを要求す
ることになる。Vcc+は、このようにキャパシタの充
電電流を必要とするだけでなく、さらに、NおよびPチ
ャネル装置の双方がオン状態にある時、インバータの駆
動段の大きいスイッチング電流要求が満たされているこ
とも必要である。
[発明の目的と要約〕
従って、本発明は、特に0M08回路を用いた、半導体
記憶装置などに対する改良された駆動回路を提供するこ
とを主たる目的とする。もう1つの目的は、電源電圧を
超えた出力を発生するが、チップ上の高電圧源回路のた
めに高電流ドレインを必要としないような、改良された
駆動回路を提供することである。
記憶装置などに対する改良された駆動回路を提供するこ
とを主たる目的とする。もう1つの目的は、電源電圧を
超えた出力を発生するが、チップ上の高電圧源回路のた
めに高電流ドレインを必要としないような、改良された
駆動回路を提供することである。
本発明の1実施例においては、電源電圧を超える高レベ
ルの出力電圧を発生するためのCMOS駆動回路は、イ
ンバータと、出力段とを用いている。インバータ回路は
、チップに対する通常の電源電圧を供給され、このイン
バータに続く出力段は、高レベル電圧を発生するチップ
上の電圧発生器から電圧を供給される。チップ上のこの
電圧発生器に対する電流要求は、出力キャパシタンスを
主として電源電圧によって充電し、出力段を充電サイク
ルの後部においてのみ使用することによって、最小限に
おさえられる。
ルの出力電圧を発生するためのCMOS駆動回路は、イ
ンバータと、出力段とを用いている。インバータ回路は
、チップに対する通常の電源電圧を供給され、このイン
バータに続く出力段は、高レベル電圧を発生するチップ
上の電圧発生器から電圧を供給される。チップ上のこの
電圧発生器に対する電流要求は、出力キャパシタンスを
主として電源電圧によって充電し、出力段を充電サイク
ルの後部においてのみ使用することによって、最小限に
おさえられる。
本発明の本質と考えられる新しい諸特徴は、特許請求の
範囲に記載されている。しかし、本発明の装置そのもの
、および本発明の他の諸特徴および諸利点は、以下の実
施例に関する詳細な説明によって明らかにされる。
範囲に記載されている。しかし、本発明の装置そのもの
、および本発明の他の諸特徴および諸利点は、以下の実
施例に関する詳細な説明によって明らかにされる。
[実施例]
第1図に示されている本発明のCMOS駆動回路は、入
力ノード10に低レベル入力It」を受け、出力端子1
1に高レベル出力rTJを発生する。この回路は、チッ
プへ供給される線路12上の、通常は直流+5■である
標準的Vcc電圧を使用するとともに、線路13上のV
cc+電圧源をも使用する。■CC+電圧源は少なくと
もVtだけVccより高い。CMOSインバータはPチ
ャネルトランジスタ14とNチャネルトランジスタ15
とを含み、これらのトランジスタのゲート上の入力10
に入力を受ける。このインバータの出力16は、Nチャ
ネル転送装置17を経てノード18に接続されている。
力ノード10に低レベル入力It」を受け、出力端子1
1に高レベル出力rTJを発生する。この回路は、チッ
プへ供給される線路12上の、通常は直流+5■である
標準的Vcc電圧を使用するとともに、線路13上のV
cc+電圧源をも使用する。■CC+電圧源は少なくと
もVtだけVccより高い。CMOSインバータはPチ
ャネルトランジスタ14とNチャネルトランジスタ15
とを含み、これらのトランジスタのゲート上の入力10
に入力を受ける。このインバータの出力16は、Nチャ
ネル転送装置17を経てノード18に接続されている。
このインバータはVcc電圧源12から電圧を供給され
、転送装置17のゲートもこの電圧源に接続されている
。高レベル出力Tを発生する出力回路は、Pチャネルト
ランジスタ2oおよび21を用いており、これらのトラ
ンジスタのそれぞれのソースは■CC+電圧源13に接
続されている。トランジスタ20は、そのゲートノード
22がゼロ電圧になることによってオン状態にされた時
、ノード18(これは出力ノード11と同様のもの)を
VCC+に接続する。ゲートノード22は、他のPチャ
ネル+ランジスタ21のソース・ドレイン路を経てVc
c+に接続され、またNチャネルトランジスタ23を経
て入力ノード10に接続されている。
、転送装置17のゲートもこの電圧源に接続されている
。高レベル出力Tを発生する出力回路は、Pチャネルト
ランジスタ2oおよび21を用いており、これらのトラ
ンジスタのそれぞれのソースは■CC+電圧源13に接
続されている。トランジスタ20は、そのゲートノード
22がゼロ電圧になることによってオン状態にされた時
、ノード18(これは出力ノード11と同様のもの)を
VCC+に接続する。ゲートノード22は、他のPチャ
ネル+ランジスタ21のソース・ドレイン路を経てVc
c+に接続され、またNチャネルトランジスタ23を経
て入力ノード10に接続されている。
Nチャネルトランジスタ23のゲートは、ノード18に
接続されている。トランジスタ21のゲートは、出力端
子11に接続されている。
接続されている。トランジスタ21のゲートは、出力端
子11に接続されている。
第1図の回路の動作において、まずノード1゜における
入力tが、第2図に示されているように最初高レベルに
あるものと仮定する。これによっで、ノード16および
ノード18はいずれも低レベル状態にされる。ノード1
8が低電圧にあれば、ノード22は装置21を経てVc
c にされる。
入力tが、第2図に示されているように最初高レベルに
あるものと仮定する。これによっで、ノード16および
ノード18はいずれも低レベル状態にされる。ノード1
8が低電圧にあれば、ノード22は装置21を経てVc
c にされる。
ノード18が低レベルにあるので、トランジスタ23は
オフ状態にあり、そのためノード22はvCCにある。
オフ状態にあり、そのためノード22はvCCにある。
ノード22がvcc にあれば、トランジスタ20はオ
フ状態にあり、Vcc からの連続的電流は存在しな
い。
フ状態にあり、Vcc からの連続的電流は存在しな
い。
第2図の時刻t1において、入力tが低レベルへ変化す
ると、ノード16は高レベルへ変化してVccになる。
ると、ノード16は高レベルへ変化してVccになる。
ノード18は、装置17がゲート・ソース間電圧(Vc
cとノード18との間の電圧)の減少によってオフ状態
になり始めるまで、ノード16に追随する。装置23は
、装置17がオフ状態になる時刻付近で、ノード22が
放電し、装置2oをオン状態にするように設計されてい
る。 ゛装置20は、出力ノード18および11
を+ Vcc まで充電し続ける。出力がVcc+に達する
のには短い時間がかかり、装置21および23はその間
Vcc+から電荷を伝導するので、第2図に示されてい
るような電流1cc+が流れる。ノード18がPチャネ
ルのVt内の■CC+の電圧に達すると、装置21はオ
フ状態になる。
cとノード18との間の電圧)の減少によってオフ状態
になり始めるまで、ノード16に追随する。装置23は
、装置17がオフ状態になる時刻付近で、ノード22が
放電し、装置2oをオン状態にするように設計されてい
る。 ゛装置20は、出力ノード18および11
を+ Vcc まで充電し続ける。出力がVcc+に達する
のには短い時間がかかり、装置21および23はその間
Vcc+から電荷を伝導するので、第2図に示されてい
るような電流1cc+が流れる。ノード18がPチャネ
ルのVt内の■CC+の電圧に達すると、装置21はオ
フ状態になる。
この時、ノード18は完全にVCC+レベルまで充電さ
れているので、負荷キャパシタ25への電荷のみがVc
c+から供給される。
れているので、負荷キャパシタ25への電荷のみがVc
c+から供給される。
時刻t2において入力10は再びvCCまで上昇し、こ
のためトランジスタ15はオン状態にされ、トランジス
タ14はオフ状態にされる。キャパシタンス25は、ノ
ード18とトランジスタ17とを経て急速に放電する。
のためトランジスタ15はオン状態にされ、トランジス
タ14はオフ状態にされる。キャパシタンス25は、ノ
ード18とトランジスタ17とを経て急速に放電する。
Pチャネルトランジスタ2oを経て、ある瞬間的な電流
が流れるが、トランジスタ23がオン状態になっている
ためにノード22が高レベルノード10に追随するので
、この電流は極めて小さい。
が流れるが、トランジスタ23がオン状態になっている
ためにノード22が高レベルノード10に追随するので
、この電流は極めて小さい。
第1図の回路は、VCC+から供給される、キャパシタ
25の充電電流とインバータスイッチング電流との双方
を減少されることによって、Vcc+電圧源13に対す
る電流要求が減少するように設計されている。インバー
タ14.15を、Vcc 線路13ではなくVCC線
路12に接続することにより、スイッチング電流要求は
本質的に全くなくされている。また、tが低レベルに変
化した時の負荷キャパシタンス25の充電電流のかなり
の部分は、最初Vccffi源12がらトランジスタ1
4および17を経て供給される。
25の充電電流とインバータスイッチング電流との双方
を減少されることによって、Vcc+電圧源13に対す
る電流要求が減少するように設計されている。インバー
タ14.15を、Vcc 線路13ではなくVCC線
路12に接続することにより、スイッチング電流要求は
本質的に全くなくされている。また、tが低レベルに変
化した時の負荷キャパシタンス25の充電電流のかなり
の部分は、最初Vccffi源12がらトランジスタ1
4および17を経て供給される。
Vcc 電圧源は、負荷キャパシタ25を、Vccの
約80%から最終的なVcc レベルまで充電するた
めにのみ必要となる。転送袋@17は、ノード18がV
cc+になる時、装置14のドレインが順方向にバイア
スされることを妨げ、装置20121.23は、負荷キ
ャパシタンス25のVcc+からの充電を、充電の最終
部分において制御する。
約80%から最終的なVcc レベルまで充電するた
めにのみ必要となる。転送袋@17は、ノード18がV
cc+になる時、装置14のドレインが順方向にバイア
スされることを妨げ、装置20121.23は、負荷キ
ャパシタンス25のVcc+からの充電を、充電の最終
部分において制御する。
第3図には、本発明の回路のもう1つの実施例が示され
ている。トランジスタ14およrj15を含むインバー
タは同じもので、ノード16はトランジスタ17を経て
ノード18(および出力11)に接続され、出力キャパ
シタンス25を充電する。
ている。トランジスタ14およrj15を含むインバー
タは同じもので、ノード16はトランジスタ17を経て
ノード18(および出力11)に接続され、出力キャパ
シタンス25を充電する。
しかし、トランジスタ17のゲートは、トランジスタ3
1および32を有するCMOSインバータの出力ノード
3oから駆動され、Vccから直接に駆動されるのでは
ない。このインバータにおいては、ノード16からの電
圧がインバータトランジスタ31および32のゲートに
接続されているので、入力10が高レベル(ノード16
が低レベル)である時は、トランジスタ17のゲートは
、トランジスタ33における電圧降下がytになるので
、vcc−vtまで充電される。入力10が低レベル(
ノード16が高レベル)である時は、トランジスタ17
のゲートは、トランジスタ32および33を経て放電す
る。回路の高電圧側にあるキャパシタ25は、前と同様
にVCC+線路13からPチャネルトランジスタ20に
よって充電され、トランジスタ2oのゲートにおけるノ
ード22は、第1図の回路の場合と同様に、サイクルの
開始時においては、このノード22を入力10に接続す
るトランジスタ23によって低レベルに保たれ、また、
サイクルの最終部分においては、Pチャネルトランジス
タ21によって8レベルに保たれる。しかし、第3図の
実施例においては、トランジスタ21のゲートは、出力
11ではなく、ノード35に接続されている。ノード3
5は、トランジスタ37を経てインバータの出力に接続
され、トランジスタ37のゲートは、トランジスタ17
のゲートのノード38に接続されている。ノード35は
、もう1つのPチャネルトランジスタ39を経て高電圧
のVcc+線路13に接続され、トランジスタ39のゲ
ートはノード22に接続されている。トランジスタ23
のゲートは(ノード18ではなく)ノード35に接続さ
れている。
1および32を有するCMOSインバータの出力ノード
3oから駆動され、Vccから直接に駆動されるのでは
ない。このインバータにおいては、ノード16からの電
圧がインバータトランジスタ31および32のゲートに
接続されているので、入力10が高レベル(ノード16
が低レベル)である時は、トランジスタ17のゲートは
、トランジスタ33における電圧降下がytになるので
、vcc−vtまで充電される。入力10が低レベル(
ノード16が高レベル)である時は、トランジスタ17
のゲートは、トランジスタ32および33を経て放電す
る。回路の高電圧側にあるキャパシタ25は、前と同様
にVCC+線路13からPチャネルトランジスタ20に
よって充電され、トランジスタ2oのゲートにおけるノ
ード22は、第1図の回路の場合と同様に、サイクルの
開始時においては、このノード22を入力10に接続す
るトランジスタ23によって低レベルに保たれ、また、
サイクルの最終部分においては、Pチャネルトランジス
タ21によって8レベルに保たれる。しかし、第3図の
実施例においては、トランジスタ21のゲートは、出力
11ではなく、ノード35に接続されている。ノード3
5は、トランジスタ37を経てインバータの出力に接続
され、トランジスタ37のゲートは、トランジスタ17
のゲートのノード38に接続されている。ノード35は
、もう1つのPチャネルトランジスタ39を経て高電圧
のVcc+線路13に接続され、トランジスタ39のゲ
ートはノード22に接続されている。トランジスタ23
のゲートは(ノード18ではなく)ノード35に接続さ
れている。
第3図の改変された回路は、追加の回路、従ってチップ
上の追加の領域を必要とするが、その代わりVcc+が
要求される電荷(第4図の電流lcc+)が少なくなる
という点で改良されている。
上の追加の領域を必要とするが、その代わりVcc+が
要求される電荷(第4図の電流lcc+)が少なくなる
という点で改良されている。
基本的動作は同様であるが、Vcc+からの充電電流I
cc の減少の理由は次の通りである。
cc の減少の理由は次の通りである。
1)負荷キャパシタン25が、ノード16からVccレ
ベルまで完全に充電された後に、装置20を経てVcc
まで充電される。これは、ノード38をVccより
高レベルにすることによって、ノード18がつねにノー
ド16に追随するようにして実現されている。タイミン
グは、ノード38および30が装置17をオフ状態にす
るのと同時に、ノード22が装置2oをオン状態にする
ように設計されている。
ベルまで完全に充電された後に、装置20を経てVcc
まで充電される。これは、ノード38をVccより
高レベルにすることによって、ノード18がつねにノー
ド16に追随するようにして実現されている。タイミン
グは、ノード38および30が装置17をオフ状態にす
るのと同時に、ノード22が装置2oをオン状態にする
ように設計されている。
2) ノード18の電圧が低下する前にノード22を高
い電圧まで充電し、それによってノード18の電圧低下
時において装置2oを流れる電流を減少させている。
い電圧まで充電し、それによってノード18の電圧低下
時において装置2oを流れる電流を減少させている。
3)装置21のゲートをノード18ではなくノード35
に接続することにより、装置21内の電流を減少させて
いる。この減少は、ノード35がノード18よりも負荷
として小さいキャパシタンスを有するために、入力10
が低レベルに変化する時、ノード18(および11)よ
りも速やかにVcc まで充電される結果起こる。
に接続することにより、装置21内の電流を減少させて
いる。この減少は、ノード35がノード18よりも負荷
として小さいキャパシタンスを有するために、入力10
が低レベルに変化する時、ノード18(および11)よ
りも速やかにVcc まで充電される結果起こる。
第4図に示されているように、ノード22における電圧
波形は、第2図の電圧波形よりもずっと鋭い遷移を有す
る。また、ノード35は、一方のレベルから他方のレベ
ルへ極めて急速な遷移を行ない、それによってスイッチ
ング電流が減少せしめられる。
波形は、第2図の電圧波形よりもずっと鋭い遷移を有す
る。また、ノード35は、一方のレベルから他方のレベ
ルへ極めて急速な遷移を行ない、それによってスイッチ
ング電流が減少せしめられる。
以上においては、本発明を実施例について説明してきた
が、この説明は限定的意味を有するものではない。本技
術分野に精通した者ならば以上の説明から、これらの実
施例に対してさまざまな改変を施すことができ、また他
の実施例も可能であることがわかるはずである6従って
、特許請求の範囲には、本発明の真の範囲に属する任意
のそのような改変または実施例が含まれるように考慮さ
れている。
が、この説明は限定的意味を有するものではない。本技
術分野に精通した者ならば以上の説明から、これらの実
施例に対してさまざまな改変を施すことができ、また他
の実施例も可能であることがわかるはずである6従って
、特許請求の範囲には、本発明の真の範囲に属する任意
のそのような改変または実施例が含まれるように考慮さ
れている。
第1図は、本発明の駆初回路の電気的概略図、第2図は
、第1図の回路内の諸ノードにおける電圧、および高電
圧源からの電流を、時間の関数として示したタイミング
図、第3図は、本発明のもう1つの実施例である駆動回
路の電気的概略図、第4図は、第3図の回路内の諸ノー
ドにお(プる電圧、および高電圧源からの電流を、時間
の関数として示したタイミング図である。 符号の説明 1o・・・入力ノード、11・・・出力ノード、12・
・・VCC電圧源、13・・・VCC電圧源、14.2
o、21・・・Pチャネルトランジスタ、15.17.
23・・・Nチャネルトランジスタ、16・・・CMO
Sインバータの出力、17・・・転送装置。22・・・
制御ノード。 25・・・負荷キャパシタ。
、第1図の回路内の諸ノードにおける電圧、および高電
圧源からの電流を、時間の関数として示したタイミング
図、第3図は、本発明のもう1つの実施例である駆動回
路の電気的概略図、第4図は、第3図の回路内の諸ノー
ドにお(プる電圧、および高電圧源からの電流を、時間
の関数として示したタイミング図である。 符号の説明 1o・・・入力ノード、11・・・出力ノード、12・
・・VCC電圧源、13・・・VCC電圧源、14.2
o、21・・・Pチャネルトランジスタ、15.17.
23・・・Nチャネルトランジスタ、16・・・CMO
Sインバータの出力、17・・・転送装置。22・・・
制御ノード。 25・・・負荷キャパシタ。
Claims (14)
- (1)CMOS駆動回路であつて、低レベル信号を受け
る入力ノードと、該低レベル信号がスイッチされるとき
充電されるべきかなりのキャパシタンスを有する出力ノ
ードと、PチャネルトランジスタおよびNチャネルトラ
ンジスタを有するCMOSインバータであつて該両トラ
ンジスタのソース・ドレイン路が第1電圧源と接地との
間に直列に接続され、前記CMOSインバータがこれら
のソース・ドレイン路の接続点を出力とし、前記両トラ
ンジスタのゲートが前記入力ノードに接続されている前
記CMOSインバータと、第1および第2Pチャネルト
ランジスタのそれぞれがソース・ドレイン路およびゲー
トを有する該第1あよび第2Pチャネルトランジスタと
第2電圧源とを有する出力段であつて該第1トランジス
タのソース・ドレイン路が該第2電圧源を前記出力ノー
ドに接続しており、該第2トランジスタのソース・ドレ
イン路が該第2電圧源を制御ノードに接続しており、該
第2トランジスタのゲートが前記出力ノードに接続され
ている前記出力段と、ソース・ドレイン路およびゲート
を有する直列トランジスタであつて該直列トランジスタ
のソース・ドレイン路が前記インバータの前記出力と前
記出力ノードとの間に接続され、該直列トランジスタの
ゲートが前記第1電圧源に接続されている、該直列トラ
ンジスタと、ソース・ドレイン路およびゲートを有する
制御トランジスタであつて該制御トランジスタのソース
・ドレイン路が前記制御ノードを前記入力ノードに接続
しており、該制御トランジスタのゲートが前記出力ノー
ドに接続されている、該制御トランジスタと、を備えて
いる、CMOS駆動回路。 - (2)特許請求の範囲第1項において、前記制御トラン
ジスタと前記直列トランジスタとの双方がNチャネルM
OSトランジスタである、CMOS駆動回路。 - (3)特許請求の範囲第1項において、前記第2電圧源
が少なくともVtだけ前記第1電圧源の電圧より高くな
つている、CMOS駆動回路。 - (4)特許請求の範囲第3項において、前記駆動回路が
半導体集積回路チップ上に構成されている、CMOS駆
動回路。 - (5)特許請求の範囲第5項において、前記第1電圧源
が前記チップに該チップ外から接続されており、前記第
2電圧源が前記第1電圧源から前記チップ上において発
生せしめられている、 CMOS駆動回路。 - (6)特許請求の範囲第5項において、前記キャパシタ
ンスが、前記入力信号が高レベルから低レベルへ変化し
た後の最初の期間において前記第1電圧源から充電され
、その後の最終期間において前記出力ノードがほぼ前記
第2電圧源の電圧レベルに達するまで該第2電圧源から
充電されるようになつている、CMOS駆動回路。 - (7)駆動回路であつて、実質的に相異なる電圧を有す
る一方または他方の論理状態にある入力ノードと、該入
力ノードが該一方の論理状態から該他方の論理状態へ変
化した時充電されるべき大きなキャパシタンスを有する
出力ノードと、第1トランジスタおよび第2トランジス
タを有するインバータであつて該両トランジスタのソー
ス・ドレイン路が第1電圧源と接地との間に直列に接続
され、該第1および第2トランジスタが逆のチャネル伝
導形を有し、前記インバータが前記両ソース・ドレイン
路の接続点を出力とし、前記両トランジスタのゲートが
前記入力ノードに接続されている前記インバータと、ソ
ース・ドレイン路およびゲートを有する直列トランジス
タであつて該直列トランジスタのソース・ドレイン路が
前記インバータの前記出力と前記出力ノードとの間に接
続されていることにより前記入力ノードが前記一方の論
理状態から前記他方の論理状態へ変化する時前記キャパ
シタンスを前記第1電圧源から充電するようになつてい
る前記直列トランジスタと、前記出力ノードを前記第1
電圧源より高電圧の第2電圧源に接続している高電圧充
電装置であつて前記出力ノードに結合せしめられた第1
入力と前記入力ノードに結合せしめられた第2入力とを
有する前記高電圧充電装置と、を備えている駆動回路。 - (8)特許請求の範囲第7項において、前記充電装置が
第3および第4トランジスタを含み、これらのトランジ
スタのそれぞれがソース・ドレイン路およびゲートを有
しており、前記第3トランジスタのソース・ドレイン路
が前記第2電圧源を前記出力ノードに接続し、前記第4
トランジスタのソース・ドレイン路が前記第2電圧源を
前記第3トランジスタのゲートに接続し、該第3トラン
ジスタの該ゲートが結合装置によつて前記入力ノードに
結合せしめられている、駆動回路。 - (9)特許請求の範囲第8項において、前記結合装置が
前記出力ノードによつて制御されている、駆動回路。 - (10)特許請求の範囲第9項において、前記結合装置
が第5トランジスタであり、該第5トランジスタのゲー
トが前記出力ノードに結合せしめられ、ソース・ドレイ
ン路が前記第3トランジスタのゲートと前記入力ノード
との間に接続されている、駆動回路。 - (11)特許請求の範囲第7項において、前記直列トラ
ンジスタのゲートが前記第1電圧源に結合せしめられて
いる、駆動回路。 - (12)特許請求の範囲第7項において、前記第1トラ
ンジスタがPチャネル形のものであり、前記第2トラン
ジスタと前記直列トランジスタとがNチャネル形のもの
である、駆動回路。 - (13)特許請求の範囲第11項において、前記第3お
よび第4トランジスタが前記第1トランジスタと同形の
ものである、駆動回路。 - (14)特許請求の範囲第13項において、前記第1、
第3、および第4トランジスタがPチャネル形のもので
あり、前記第2、直列、および第5トランジスタがNチ
ャネル形のものである、駆動回路。
Applications Claiming Priority (2)
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JPH0728207B2 JPH0728207B2 (ja) | 1995-03-29 |
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JP (1) | JPH0728207B2 (ja) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61110396A (ja) * | 1984-11-05 | 1986-05-28 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
US4689495A (en) * | 1985-06-17 | 1987-08-25 | Advanced Micro Devices, Inc. | CMOS high voltage switch |
US4758994A (en) * | 1986-01-17 | 1988-07-19 | Texas Instruments Incorporated | On chip voltage regulator for common collector matrix programmable memory array |
US4831596A (en) * | 1987-05-01 | 1989-05-16 | Texas Instruments Incorporated | Pass gate with low transistor junction breakdown susceptibility |
JPH077912B2 (ja) * | 1988-09-13 | 1995-01-30 | 株式会社東芝 | 昇圧回路 |
US5185721A (en) * | 1988-10-31 | 1993-02-09 | Texas Instruments Incorporated | Charge-retaining signal boosting circuit and method |
EP0416154A1 (de) * | 1989-09-07 | 1991-03-13 | Siemens Aktiengesellschaft | Schaltungsanordnung zur Erhöhung der Ausgangsspannung einer elektronischen Schaltstufe |
US5151616A (en) * | 1990-01-23 | 1992-09-29 | Nec Corporation | Cmos high voltage switch |
USRE40552E1 (en) | 1990-04-06 | 2008-10-28 | Mosaid Technologies, Inc. | Dynamic random access memory using imperfect isolating transistors |
GB9007790D0 (en) * | 1990-04-06 | 1990-06-06 | Lines Valerie L | Dynamic memory wordline driver scheme |
GB9007791D0 (en) * | 1990-04-06 | 1990-06-06 | Foss Richard C | High voltage boosted wordline supply charge pump and regulator for dram |
JP3071312B2 (ja) * | 1992-07-22 | 2000-07-31 | 株式会社 沖マイクロデザイン | データアウトバッファ回路 |
US5406140A (en) * | 1993-06-07 | 1995-04-11 | National Semiconductor Corporation | Voltage translation and overvoltage protection |
JP3623004B2 (ja) * | 1994-03-30 | 2005-02-23 | 松下電器産業株式会社 | 電圧レベル変換回路 |
US5796673A (en) | 1994-10-06 | 1998-08-18 | Mosaid Technologies Incorporated | Delay locked loop implementation in a synchronous dynamic random access memory |
FR2735300B1 (fr) * | 1995-06-12 | 1997-08-14 | Matra Mhs | Dispositif d'interfacage de sortie programmable parmi trois etats pour memoire en technologie cmos |
US5777490A (en) * | 1996-11-27 | 1998-07-07 | International Business Machines Corporation | Circuitry and method for translating voltages |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6052112A (ja) * | 1983-08-31 | 1985-03-25 | Toshiba Corp | 論理回路 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3774055A (en) * | 1972-01-24 | 1973-11-20 | Nat Semiconductor Corp | Clocked bootstrap inverter circuit |
US4121203A (en) * | 1977-03-11 | 1978-10-17 | Harris Corporation | Method of multiplexing liquid crystal displays |
JPS5453240A (en) * | 1977-10-03 | 1979-04-26 | Toshiba Corp | Reverse voltage generating circuit |
US4239993A (en) * | 1978-09-22 | 1980-12-16 | Texas Instruments Incorporated | High performance dynamic sense amplifier with active loads |
US4352996A (en) * | 1980-03-21 | 1982-10-05 | Texas Instruments Incorporated | IGFET Clock generator circuit employing MOS boatstrap capacitive drive |
US4384216A (en) * | 1980-08-22 | 1983-05-17 | International Business Machines Corporation | Controlled power performance driver circuit |
JPS5891680A (ja) * | 1981-11-26 | 1983-05-31 | Fujitsu Ltd | 半導体装置 |
US4499387A (en) * | 1981-12-15 | 1985-02-12 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Integrated circuit formed on a semiconductor substrate with a variable capacitor circuit |
EP0088291B1 (en) * | 1982-02-26 | 1985-07-10 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Mos switch circuit |
-
1984
- 1984-07-11 US US06/630,470 patent/US4638182A/en not_active Expired - Lifetime
-
1985
- 1985-07-11 JP JP60151483A patent/JPH0728207B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6052112A (ja) * | 1983-08-31 | 1985-03-25 | Toshiba Corp | 論理回路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0728207B2 (ja) | 1995-03-29 |
US4638182A (en) | 1987-01-20 |
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