JPH03181862A - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置Info
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- JPH03181862A JPH03181862A JP32198789A JP32198789A JPH03181862A JP H03181862 A JPH03181862 A JP H03181862A JP 32198789 A JP32198789 A JP 32198789A JP 32198789 A JP32198789 A JP 32198789A JP H03181862 A JPH03181862 A JP H03181862A
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Landscapes
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は反応セルを自動的に洗浄して繰り返し使用する
とともに、測光部により反応セルに光を照射して反応を
測定する反応セル直接測光方式の自動分析装置に関し、
特に反応セルの汚染など測定に悪影響を及ぼす要因を自
動的に検証する機能を備えた自動分析装置に関するもの
である。
とともに、測光部により反応セルに光を照射して反応を
測定する反応セル直接測光方式の自動分析装置に関し、
特に反応セルの汚染など測定に悪影響を及ぼす要因を自
動的に検証する機能を備えた自動分析装置に関するもの
である。
(従来の技術)
反応セルの検証機能を備えた直接測光方式の自動分析装
置としては、その検証機能として反応セルを使用するご
とにその測光データを累積して累積平均を求め1次に使
用するときにその反応セルの測光データをその反応セル
の累積平均と比較して偏差を求め、偏差が所定の許容範
囲内であるが否かにより検証を行なうようにしたものが
提案されている(特開昭61−213674号公報、特
開昭61−213675号公報、特開昭61−2867
58号公報などを参照)。
置としては、その検証機能として反応セルを使用するご
とにその測光データを累積して累積平均を求め1次に使
用するときにその反応セルの測光データをその反応セル
の累積平均と比較して偏差を求め、偏差が所定の許容範
囲内であるが否かにより検証を行なうようにしたものが
提案されている(特開昭61−213674号公報、特
開昭61−213675号公報、特開昭61−2867
58号公報などを参照)。
引例の自動分析装置では、サンプル測定前に純水を反応
セルに分注し、反応セルの良否を検証し。
セルに分注し、反応セルの良否を検証し。
不良セルは使用しない。
(発明が解決しようとする課題)
引例の自動分析装置では、検証のプロセスが複雑であり
、検証の時間が長くなる問題がある。
、検証の時間が長くなる問題がある。
本発明は、サンプル測定のもとになるセルブランク測定
の波長と、反応セルの検証のための検証データを得るた
めの波長を別にして、反応セルの良否の検証を高精度に
、かつ、簡単なプロセスで行なうことができるようにす
ることを目的とするものである。
の波長と、反応セルの検証のための検証データを得るた
めの波長を別にして、反応セルの良否の検証を高精度に
、かつ、簡単なプロセスで行なうことができるようにす
ることを目的とするものである。
(′a題を解決するための手段)
第1図に本発明における測光部1.′6rq定データ処
理部2.検証データ処理部3を示す。
理部2.検証データ処理部3を示す。
lは測光部であり、指定項目の測定波長での測定データ
(試料を測定した試料データ及びセルブランクデータを
含む)の他に1反応セル検証用の14I!又は複数種の
波長での検証データを得ることができる。2は試料デー
タとセルブランクデータを取り込んで処理するデータ処
理部である。3は検証データを取り込んでその反応セル
の良否を判定する検証データ処理部であり、検証データ
処理部3は検証データの基準となるデータを保持してい
る基準値記憶部4と、取り込んだ検証データを基準値記
憶部4の基準値と比較し、その差が限界値を超えている
か否かを判定する比較部5と、比較部5の比較結果を取
り込み、駆動制御部7に対して指定項目での測定を行な
うか否かを出力する出力部6とを備えている。
(試料を測定した試料データ及びセルブランクデータを
含む)の他に1反応セル検証用の14I!又は複数種の
波長での検証データを得ることができる。2は試料デー
タとセルブランクデータを取り込んで処理するデータ処
理部である。3は検証データを取り込んでその反応セル
の良否を判定する検証データ処理部であり、検証データ
処理部3は検証データの基準となるデータを保持してい
る基準値記憶部4と、取り込んだ検証データを基準値記
憶部4の基準値と比較し、その差が限界値を超えている
か否かを判定する比較部5と、比較部5の比較結果を取
り込み、駆動制御部7に対して指定項目での測定を行な
うか否かを出力する出力部6とを備えている。
測光部1から得られるデータとしては、指定された項目
に関する測定波長での試料の試料データと反応セルに純
水を満たしたときのセルブランクデータがあり、これら
のデータは測定データ処理部2において試料による吸光
度などが測定されて反応の測定が行なわれる。測光部1
からはさらに反応セルに純水を満たした状態での検証波
長における検証データも得られる。81g定波長は測定
項目ごとに固有の波長に設定されるのに対し、検証波長
は全ての反応セルについて共通の波長に設定される。
に関する測定波長での試料の試料データと反応セルに純
水を満たしたときのセルブランクデータがあり、これら
のデータは測定データ処理部2において試料による吸光
度などが測定されて反応の測定が行なわれる。測光部1
からはさらに反応セルに純水を満たした状態での検証波
長における検証データも得られる。81g定波長は測定
項目ごとに固有の波長に設定されるのに対し、検証波長
は全ての反応セルについて共通の波長に設定される。
検証データを処理する検証データ処理部3において、基
準値記憶部4は検証データの基準値として、前回に測定
したその反応セルの検証データを記憶しておくことがで
きる。また、他の基準値としては別のメンテナンスプロ
グラムにより反応セルを洗浄したときのその反応セルの
検証データを基準値として記憶しておくこともできる。
準値記憶部4は検証データの基準値として、前回に測定
したその反応セルの検証データを記憶しておくことがで
きる。また、他の基準値としては別のメンテナンスプロ
グラムにより反応セルを洗浄したときのその反応セルの
検証データを基準値として記憶しておくこともできる。
基準値が前回の検証データであるときは1反応セルが使
用されるごとに基準値が更新され、基準値が別のメンテ
ナンスプログラムにより得られたものであるときは更新
されない。
用されるごとに基準値が更新され、基準値が別のメンテ
ナンスプログラムにより得られたものであるときは更新
されない。
(作用)
第2図により本発明における検証動作の一例を示す。
検証データを取り込み、比較部5で基準値記憶部4の基
準値と比較する。比較部5には検証データと基準値との
差によって反応セルの良否を判定するための限界値が予
め設定されている。その差が限界値以内であればその反
応セルは良であると判定され、出力部6からの指令によ
り指定された項目の測定を実行するプログラムに移行す
る。このとき、基P4値記憶部4が前回の検証データを
基準値としている場合には、基準値記憶部4の基準値を
今回の検証データに更新し1次回に使用するその反応セ
ルの検証に備える。
準値と比較する。比較部5には検証データと基準値との
差によって反応セルの良否を判定するための限界値が予
め設定されている。その差が限界値以内であればその反
応セルは良であると判定され、出力部6からの指令によ
り指定された項目の測定を実行するプログラムに移行す
る。このとき、基P4値記憶部4が前回の検証データを
基準値としている場合には、基準値記憶部4の基準値を
今回の検証データに更新し1次回に使用するその反応セ
ルの検証に備える。
一方、検証データと基準値の差が限界値を超えていると
きは、その反応セルが限界以上に汚れていることなどを
意味するものであり、このときは出力部6から駆動制御
部7に対しその指定項目の測定を中止する指令が出され
る。このときはさらに、例えばその反応セルを洗浄する
ために洗剤を分注する指令が出され、また、その項目の
測定が中止されたことを例えばプリンタやCRTにより
表示する。基準値記憶部4が前回の検証データを基準値
としている場合は、検証データと基準値の差が限界値を
超えたときには基準値は更新しない。
きは、その反応セルが限界以上に汚れていることなどを
意味するものであり、このときは出力部6から駆動制御
部7に対しその指定項目の測定を中止する指令が出され
る。このときはさらに、例えばその反応セルを洗浄する
ために洗剤を分注する指令が出され、また、その項目の
測定が中止されたことを例えばプリンタやCRTにより
表示する。基準値記憶部4が前回の検証データを基準値
としている場合は、検証データと基準値の差が限界値を
超えたときには基準値は更新しない。
(実施例)
第3図は本発明が適用される一実施例を表わす。
10は反応ディスクであり1反応ディスク10の周囲に
沿って反応セルと測光セルを兼ねるキュベツト12が配
列されている1反応ディスク10の近くにはターンテー
ブル14が設けられ、ターンテーブル14には検体を収
容したカップが並べられる。16はサンプラーであり、
ターンテーブルL4上の検体カップから検体を吸引し、
キュベツト(2に注入する。18はサンプラー16に検
体を吸引し1反応管12に注入するためのピペッタポン
プと、検体を脱気水で押し出すためのダイリュータポン
プである。ターンテーブル14とピペッタポンプ・ダイ
リュータポンプ18はサンプラー制御コンピュータ22
及びインターフェース20を介してマイクロコンピュー
タ24によって制御される。17はサンプラー16のプ
ローブや流路を洗浄するための洗浄液(例えば純水)が
湧き出す洗浄槽である。
沿って反応セルと測光セルを兼ねるキュベツト12が配
列されている1反応ディスク10の近くにはターンテー
ブル14が設けられ、ターンテーブル14には検体を収
容したカップが並べられる。16はサンプラーであり、
ターンテーブルL4上の検体カップから検体を吸引し、
キュベツト(2に注入する。18はサンプラー16に検
体を吸引し1反応管12に注入するためのピペッタポン
プと、検体を脱気水で押し出すためのダイリュータポン
プである。ターンテーブル14とピペッタポンプ・ダイ
リュータポンプ18はサンプラー制御コンピュータ22
及びインターフェース20を介してマイクロコンピュー
タ24によって制御される。17はサンプラー16のプ
ローブや流路を洗浄するための洗浄液(例えば純水)が
湧き出す洗浄槽である。
キュベツト12中で検体と反応させる試薬をキュベツト
12に注入するために、デイスペンサ26a、26bと
試薬庫28が設けられている。試薬庫28に配列された
試薬瓶からデイスペンサ26a、26bによって試薬が
吸引され、キュベツト12に注入される。30はデイス
ペンサ26a。
12に注入するために、デイスペンサ26a、26bと
試薬庫28が設けられている。試薬庫28に配列された
試薬瓶からデイスペンサ26a、26bによって試薬が
吸引され、キュベツト12に注入される。30はデイス
ペンサ26a。
26bで試薬を吸引しキュベツト12に注入するための
デイスペンサポンプであり、デイスペンサ26a、26
bとデイスペンサポンプ30はデイスペンサ制御コンピ
ュータ32とインターフェース20を介してマイクロコ
ンピュータ24により制御される。27a、27bはそ
れぞれデイスペンサ26a、26bのプローブや流路を
洗浄するための洗浄液(例えば純水)が湧き出す洗浄瓶
である。
デイスペンサポンプであり、デイスペンサ26a、26
bとデイスペンサポンプ30はデイスペンサ制御コンピ
ュータ32とインターフェース20を介してマイクロコ
ンピュータ24により制御される。27a、27bはそ
れぞれデイスペンサ26a、26bのプローブや流路を
洗浄するための洗浄液(例えば純水)が湧き出す洗浄瓶
である。
キュベツト12に注入された検体と試薬を撹拌するため
に撹拌機gt34が反応ディスク10の近くに設けられ
、またキュベツト12中の反応を光学的に検出する測光
部として1反応ディスク10の近傍にはキュベツト12
の配列の周囲に沿って往復方向に移動可能な分光器36
が設けられている。
に撹拌機gt34が反応ディスク10の近くに設けられ
、またキュベツト12中の反応を光学的に検出する測光
部として1反応ディスク10の近傍にはキュベツト12
の配列の周囲に沿って往復方向に移動可能な分光器36
が設けられている。
キュベツト12の洗浄を行なうために2反応ディスク1
0の近くには洗浄機構38が設けられている。40は洗
浄機構38のノズルからキュベツト12に洗浄液を注入
し回収するための洗浄ポンプである。洗浄機構38では
キュベツト12内の反応液をまず吸引し、それらを図示
しない廃液タンクに送る。
0の近くには洗浄機構38が設けられている。40は洗
浄機構38のノズルからキュベツト12に洗浄液を注入
し回収するための洗浄ポンプである。洗浄機構38では
キュベツト12内の反応液をまず吸引し、それらを図示
しない廃液タンクに送る。
撹拌機構34.洗浄機構38及び洗浄ポンプ40は反応
部制御コンピュータ42及びインターフェース20を介
してマイクロコンピュータ24によって制御される。
部制御コンピュータ42及びインターフェース20を介
してマイクロコンピュータ24によって制御される。
分光器36の検出出力は、log変換部及びA/D変換
部44.並びにインターフェース20を介してマイクロ
コンピュータ24に取り込まれる。
部44.並びにインターフェース20を介してマイクロ
コンピュータ24に取り込まれる。
46は恒温@環水の温度を一定に保つためのリザーバで
ある。
ある。
インターフェース20にはさらに、プリンタ48、キー
ボード50.CRT52及びフロッピーディスクドライ
ブ54が接続されている。
ボード50.CRT52及びフロッピーディスクドライ
ブ54が接続されている。
反応ディスク10は1つの分析で1回転する。
次に、第3図の自動分析装置の動作について説明する。
キーボード50からの操作により、洗浄機構38及び反
応ディスク10が動きだす。
応ディスク10が動きだす。
洗浄されたキュベツト12にセルブランク測定用水が注
入されてセルブランク測定が行なわれる。
入されてセルブランク測定が行なわれる。
セルブランク測定されたキュベツト12が検体分注位置
に移動したとき、サンプラー16が動きだし、ターンテ
ーブルL4上の検体を吸引し、キュベツト12内へ脱気
水とともに分注する。分注終了後、サンプラー16の検
体用プローブは洗浄位置に移動し、プローブ内外が純水
により洗浄される。その後、次の同一検体の項目、又は
次検体の項目の分注動作に移る。
に移動したとき、サンプラー16が動きだし、ターンテ
ーブルL4上の検体を吸引し、キュベツト12内へ脱気
水とともに分注する。分注終了後、サンプラー16の検
体用プローブは洗浄位置に移動し、プローブ内外が純水
により洗浄される。その後、次の同一検体の項目、又は
次検体の項目の分注動作に移る。
検体の入ったキュベツト12は、一定温度に温調された
反応槽の中を例えば12秒間に1ステツプずつ移動し、
キュベツト12が試薬分注位置に移動したとき、デイス
ペンサ26が動きだし、試薬庫28内の試薬を所定量吸
引し、キュベツト■2に分注する。分注終了後、試薬用
プローブは洗浄位置に移動し、プローブ内外が純水によ
り洗浄される。その後1次の試薬の分注動作に移る。
反応槽の中を例えば12秒間に1ステツプずつ移動し、
キュベツト12が試薬分注位置に移動したとき、デイス
ペンサ26が動きだし、試薬庫28内の試薬を所定量吸
引し、キュベツト■2に分注する。分注終了後、試薬用
プローブは洗浄位置に移動し、プローブ内外が純水によ
り洗浄される。その後1次の試薬の分注動作に移る。
試薬分注の終了したキュベツト12は(ステップ移動し
た後に撹拌され、第2試薬分注後に再度撹拌される。
た後に撹拌され、第2試薬分注後に再度撹拌される。
調整された反応液は、キュベツト12が逐次移動してい
く間に直接測光され、各測定位置の吸光度は分析方法ご
とにマイクロコンピュータ24に取り込まれていく。
く間に直接測光され、各測定位置の吸光度は分析方法ご
とにマイクロコンピュータ24に取り込まれていく。
分析の終了したキュベツト12は、洗浄位置で反応液の
吸引排出、キュベツト12の洗浄が行なわれた後、キュ
ベツト12内の水抜きと水切りが行なわれ、新たな検体
のキュベツトとして準備される。
吸引排出、キュベツト12の洗浄が行なわれた後、キュ
ベツト12内の水抜きと水切りが行なわれ、新たな検体
のキュベツトとして準備される。
吸光度はブランク測定値とともにマイクロコンピュータ
24でデータ処理され2分析方法ごとに判定され、活性
値又は濃度に変換され、プリンタ48により印字される
。分析動作中に異常があればCRT52上にエラーメツ
セージが表示される。
24でデータ処理され2分析方法ごとに判定され、活性
値又は濃度に変換され、プリンタ48により印字される
。分析動作中に異常があればCRT52上にエラーメツ
セージが表示される。
分析条件は1分析スタート前にキーボード50から設定
することができる。
することができる。
分析の指示をした検体がすべてキュベツト12に分注さ
れるとターンテーブル14が停止する。
れるとターンテーブル14が停止する。
また1反応ディスク10上の試料の測定が終わると、キ
ュベツトは自動的に洗浄・水切りされた後、装置は自動
的に停止する。
ュベツトは自動的に洗浄・水切りされた後、装置は自動
的に停止する。
第4図に測光部とマイクロコンピュータ部分を具体的に
示す。
示す。
分光器36内には光源から反応セルを照射し、その透過
光を分光する分光器と1分光された光を受光する検出器
が設けられている。その検出器は第4図ではフォトダイ
オードアレイ70である。
光を分光する分光器と1分光された光を受光する検出器
が設けられている。その検出器は第4図ではフォトダイ
オードアレイ70である。
フォトダイオードアレイ70では場所により検出する波
長が異なり、同時に多波長を検出することができる。7
2はフォトダイオードアレイ70の出力を増幅するプリ
アンプである。プリアンプ72で増幅された各フォトダ
イオードアレイ70の検出信号は、マルチプレクサ74
を経てメインアンプ76に入力される。マルチプレクサ
74は項目が指定されるとその項目測定用に設定された
測定波長の信号をメインアンプ76に送り出すように切
り替えられて設定される。その設定された測定波長で試
料とセルブランクが測定される。一方、プリアンプ72
の出力のうち検証波長の信号がメインアンプ76に直接
取り込まれる。
長が異なり、同時に多波長を検出することができる。7
2はフォトダイオードアレイ70の出力を増幅するプリ
アンプである。プリアンプ72で増幅された各フォトダ
イオードアレイ70の検出信号は、マルチプレクサ74
を経てメインアンプ76に入力される。マルチプレクサ
74は項目が指定されるとその項目測定用に設定された
測定波長の信号をメインアンプ76に送り出すように切
り替えられて設定される。その設定された測定波長で試
料とセルブランクが測定される。一方、プリアンプ72
の出力のうち検証波長の信号がメインアンプ76に直接
取り込まれる。
測定波長及び検証波長はそれぞれ1種又は複数種の波長
に設定される。第4図ではそれぞれ2波長ずつで測定す
るようになっている。
に設定される。第4図ではそれぞれ2波長ずつで測定す
るようになっている。
マルチプレクサ74で選択され、メインアンプ76で増
幅された試料データ及びセルブランクデータは測定デー
タ処理部2に取り込まれて演算が行なわれる。一方、メ
インアンプ76で増幅された検証データは検証データ処
理部3に取り込まれてその反応セルの良否が検証される
。測定データ処理部2で処理された測定結果や検証デー
タ処理部3で判定された検証結果はインターフェイス2
0を介して駆動制御部7やCRT52などに出力される
。
幅された試料データ及びセルブランクデータは測定デー
タ処理部2に取り込まれて演算が行なわれる。一方、メ
インアンプ76で増幅された検証データは検証データ処
理部3に取り込まれてその反応セルの良否が検証される
。測定データ処理部2で処理された測定結果や検証デー
タ処理部3で判定された検証結果はインターフェイス2
0を介して駆動制御部7やCRT52などに出力される
。
ここで、第1図、第3図及び第4図の対応関係を示すと
、第1図におけるデータ処理部2及び検証データ処理部
3はマイクロコンピュータ24により実現される。測光
部1は第4図では分光器36の他の部分も含んで、フォ
トダイオードアレイ70、プリアンプ72、マルチプレ
クサ74及びメインアンプ76を含んでいる。第3図で
はA/D変換及びlog変換部44にマルチプレクサ7
4及びメインアンプ76を含んでいる。駆動制御部7と
してはサンプラー制御コンピュータ22やデイスペンサ
制御コンピュータ32などを含んでいる。
、第1図におけるデータ処理部2及び検証データ処理部
3はマイクロコンピュータ24により実現される。測光
部1は第4図では分光器36の他の部分も含んで、フォ
トダイオードアレイ70、プリアンプ72、マルチプレ
クサ74及びメインアンプ76を含んでいる。第3図で
はA/D変換及びlog変換部44にマルチプレクサ7
4及びメインアンプ76を含んでいる。駆動制御部7と
してはサンプラー制御コンピュータ22やデイスペンサ
制御コンピュータ32などを含んでいる。
第5図は第3図の実施例における特定のキュベツトにつ
いてのタイムチャートを表わしたものである。
いてのタイムチャートを表わしたものである。
セルブランク測定が行なわれたキュベツトに検体が分注
され、第1試薬R1が分注されて撹拌され、一定時間後
に第2試薬R2が分注されて再び撹拌される。第1試薬
R1が分注された後、反応液の測光が行なわれる。反応
が完了すると、キュベツトの液が排出され、洗浄液が分
注され、洗浄が行なわれる。洗浄液が排出された後、純
水が分注されて次回の測定項目のセルブランク測定が行
なわれる。このとき、セルブランク測定の位置では測定
波長によるセルブランクデータとともに検証波長での検
証データも同時に測定される。その後純水が排出され1
次回の測定に備えられる。
され、第1試薬R1が分注されて撹拌され、一定時間後
に第2試薬R2が分注されて再び撹拌される。第1試薬
R1が分注された後、反応液の測光が行なわれる。反応
が完了すると、キュベツトの液が排出され、洗浄液が分
注され、洗浄が行なわれる。洗浄液が排出された後、純
水が分注されて次回の測定項目のセルブランク測定が行
なわれる。このとき、セルブランク測定の位置では測定
波長によるセルブランクデータとともに検証波長での検
証データも同時に測定される。その後純水が排出され1
次回の測定に備えられる。
第4図の実施例ではセルブランク測定と同じポジション
で検証データも測定しているが、セルブランク測定のポ
ジションと検証波長での測光のポジションを別にするこ
ともできる。それにより、電気回路をmwa化すること
ができる。
で検証データも測定しているが、セルブランク測定のポ
ジションと検証波長での測光のポジションを別にするこ
ともできる。それにより、電気回路をmwa化すること
ができる。
検証データ処理部3でそのキュベツトが不良であると検
証されたときは、その旨の情報をインターフェイス20
を通じて駆動制御部であるサンプラー制御コンピュータ
22やデイスペンサ制御コンピュータ32に送り、予定
されていた項目の測定を中止するとともに、例えばデイ
スペンサ26a、26bにより洗剤をそのキュベツトに
分注する指示を与える。
証されたときは、その旨の情報をインターフェイス20
を通じて駆動制御部であるサンプラー制御コンピュータ
22やデイスペンサ制御コンピュータ32に送り、予定
されていた項目の測定を中止するとともに、例えばデイ
スペンサ26a、26bにより洗剤をそのキュベツトに
分注する指示を与える。
(発明の効果)
本発明では測定波長での測定データの他に検証用波長で
検証データを取り込むようにし、その検証データに基づ
き反応セルの良否を検証するようにしたので、試料分析
中にも自動検証を行なうことができ、データの信頼性が
向上する。これに対し、従来の自動分析装置では、反応
セルの検証を行なう場合でも、その反応セルが次に使用
される予定の項目の測定波長のデータだけを取り出して
いたのに比べると、検証波長を別に設定することにより
検証精度が向上する。
検証データを取り込むようにし、その検証データに基づ
き反応セルの良否を検証するようにしたので、試料分析
中にも自動検証を行なうことができ、データの信頼性が
向上する。これに対し、従来の自動分析装置では、反応
セルの検証を行なう場合でも、その反応セルが次に使用
される予定の項目の測定波長のデータだけを取り出して
いたのに比べると、検証波長を別に設定することにより
検証精度が向上する。
反応セルの検証の結果、不良セルであると判定したとき
は1例えばその不良セルに洗剤を分注するようにプログ
ラムしておけば1反応セルのメンテナンスの手間を省く
ことができる。
は1例えばその不良セルに洗剤を分注するようにプログ
ラムしておけば1反応セルのメンテナンスの手間を省く
ことができる。
第1図は本発明を示すブロック図、第2図は本発明にお
ける検証動作の一例を示すフローチャート図、第3図は
一実施例を示す構成図、第4図は同実施例における測光
部と測定データ処理部及び検証データ処理部を示すブロ
ック図、第5図は同実施例における特定のキュベツトの
動作を示すタイムチャートである。 1・・・・・・測光部、2・・・・・・測定データ処理
部、3・・・・・・検証データ処理部、4・・・・・・
基準値記憶部、5・・・・・・比較部、6・・・・・・
出力部、7・・・・・・駆動制御部。
ける検証動作の一例を示すフローチャート図、第3図は
一実施例を示す構成図、第4図は同実施例における測光
部と測定データ処理部及び検証データ処理部を示すブロ
ック図、第5図は同実施例における特定のキュベツトの
動作を示すタイムチャートである。 1・・・・・・測光部、2・・・・・・測定データ処理
部、3・・・・・・検証データ処理部、4・・・・・・
基準値記憶部、5・・・・・・比較部、6・・・・・・
出力部、7・・・・・・駆動制御部。
Claims (1)
- (1)反応セルを自動的に洗浄して繰り返し使用すると
ともに、測光部により反応セルに光を照射して反応を測
定する反応セル直接測光方式の自動分析装置において、
前記測光部は指定項目の測定波長での測定データの他に
、反応セル検証用の1種又は複数種の波長での検証デー
タを得る測光部であり、検証データを取り込んでその反
応セルの良否を判定する検証データ処理部を備え、検証
データ処理部は検証データの基準となるデータを保持し
ている基準値記憶部と、取り込んだ検証データを基準値
記憶部の基準値と比較し、その差が限界値を超えている
か否かを判定する比較部と、比較部の比較結果を取り込
み、駆動制御部に対して指定項目での測定を行なうか否
かを出力する出力部とを備えていることを特徴とする自
動分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1321987A JP2604043B2 (ja) | 1989-12-11 | 1989-12-11 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1321987A JP2604043B2 (ja) | 1989-12-11 | 1989-12-11 | 自動分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03181862A true JPH03181862A (ja) | 1991-08-07 |
JP2604043B2 JP2604043B2 (ja) | 1997-04-23 |
Family
ID=18138656
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1321987A Expired - Fee Related JP2604043B2 (ja) | 1989-12-11 | 1989-12-11 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2604043B2 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1995002827A1 (en) * | 1993-07-16 | 1995-01-26 | I-Stat Corporation | Automatic test parameters compensation of a real time fluid analysis sensing device |
JPH07218396A (ja) * | 1994-02-08 | 1995-08-18 | Toshiba Corp | 自動化学分析装置 |
JPH085562A (ja) * | 1994-06-17 | 1996-01-12 | Olympus Optical Co Ltd | 自動分析方法 |
US5821399A (en) * | 1993-07-16 | 1998-10-13 | I-Stat Corporation | Automatic test parameters compensation of a real time fluid analysis sensing device |
JP2016020845A (ja) * | 2014-07-14 | 2016-02-04 | 株式会社東芝 | 自動分析装置 |
JP2017032500A (ja) * | 2015-08-05 | 2017-02-09 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61286758A (ja) * | 1985-06-13 | 1986-12-17 | Toshiba Corp | 自動化学分析装置 |
-
1989
- 1989-12-11 JP JP1321987A patent/JP2604043B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61286758A (ja) * | 1985-06-13 | 1986-12-17 | Toshiba Corp | 自動化学分析装置 |
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JP2017032500A (ja) * | 2015-08-05 | 2017-02-09 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2604043B2 (ja) | 1997-04-23 |
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---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |