JPH027A - カメラの測距装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はカメラに用いられるアクティブタイプの測距装
置に関するものである。

〔従来の技術〕

最近のコンパクトカメラに多用されているアクティブタ
イプの測距装置では、被写体に向けて測距用の光ビーム
を投射し、この光ビームの投射による被写体からの反射
光を受光センサーで受けるようにしている。受光センサ
ーは複数個の微少な受光素子を基線長方向に配列したも
ので、そのいずれの受光素子に被写体からの反射光が入
射したかを電気的に識別することによって、被写体距離
に対応した測距信号を得ることができる。

このような測距装置では、反射率の高い被写体や近距離
被写体等から強い反射光が特定の受光素子に入射したと
きに、これに隣接した受光素子にもクロストーク等の影
響によって一定の割合で光電出力が現れることがある。

このため、受光素子に光電出力が現れている場合でも、
この光電出力が被写体から受光素子に正規に入射した光
によるものであるか、あるいは前述したクロストーク等
の影響によるものかが識別できず、測距の精度を劣化さ
せることがある。

すなわち第１２図（Ａ）に示したように、基線長方向に
配列された受光素子３１〜５６の内、被写体から高輝度
の反射光パターン４０が受光素子Ｓ４に入射したときに
は、この本来の反射光パターン４０の回りに同心円状の
八ロー４１を伴うことが多く、隣接する受光素子Ｓ３．
Ｓ５にも同図（Ｂ）に示したように光電出力が現れるよ
うになる。また、ハロー４１が小さい場合であっても、
被写体からの強い反射光が受光素子Ｓ４に入射したとき
には、クロストークの影響で、隣接の受光素子Ｓ３．Ｓ
５からも一定の比率の光電出力が現れることが多い。こ
のような場合に、各々の受光素子３３〜５５に接続され
ているコンパレータが１個で、その基準電圧が■、であ
ったとすると、被写体からの反射光を受光したことを表
すハイレベル信号（Ｈ信号）が各々のコンパレータから
出力され、受光素子Ｓ３，３５にも被写体からの反射光
が入射したものとして誤検出される。

一方、コンパレータの基準電圧をＶＮに設定した場合に
は、被写体からの反射光強度が弱（、この反射光が入射
した受光素子Ｓ４から一点鎖線で示したようなレベルの
光電出力しか得られないときには、いずれのコンパレー
タからも反射光の入射を検出することができなくなる。

こうした点を考慮し、特開昭５ロー２９１１２号公報記
載の測距装置では、複数の受光素子から光電出力が現れ
たときには、受光素子の各々に接続されたコンパレータ
の基準電圧を、光電出力の最大レベルのものを基準にし
て変えることによって、クロストーク等の影響による偽
信号の発生を回避するようにしている。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしながら上記公報に記載の測距装置では、受光素子
以降の回路構成が複雑になりコスト的にも負担が大きい
ものになる。また、例えば人間のように平均的な反射率
をもった主要被写体が近距離位置にあり、遠距離に反射
率が高い副次的な背景物があったときには、副次的な背
景物に対して測距が行われ、主要被写体に対するピント
があまくなるという欠点がある。

〔発明の目的〕

本発明は以上のような従来技術の難点を解決するために
なされたもので、被写体からの反射光強度に左右される
ことな（、主要被写体に対する測距精度を向上させるこ
とができるようにしたカメラの測距装置を提供すること
を目的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明は上記目的を達成するために、被写体からの反射
光を受光するために基線長方向に配郊された受光素子の
それぞれに、高低２種の基準電圧が与えられた２個のコ
ンパレータを接続し、高い基準電圧が与えられたコンパ
レータからの反転信号の組み合わせによる第１測距信号
と、低い基準電圧が与えられたコンパレータからの反転
信号の組み合わせによる第２測距信号とを検出し、第１
測距信号に対応するレンズセット位置が第２測距信号に
対応するレンズセット位−よりも所定値以上遠距離側で
あったときには、第２測距信号によりレンズセット位置
を決定するものである。

また、第１測距信号に対応するレンズセット位置が第２
測距信号に対応するレンズセット位置よりも所定値未満
だけ遠距離側であったときには、第１測距信号によって
レンズセット位置を決定することも有効な手段となる。

〔作用〕

上記によれば、低い基準電圧が与えられたコンパレータ
を介して得られた第２測距信号中には、被写体からの強
い反射光による情報も含まれているのに対し、高い基準
電圧が与えられたコンパレータを介して得られた第１測
距信号中には被写体からの弱い反射光による情報は含ま
れないことが多く、このため第１．第２測距信号は一致
しないこともある。このような場合には、第１測距信号
に対応した第２レンズセット位置と第２測距信号に対応
した第２レンズセット位置とをそれぞれ評価してレンズ
セット位置を決定する。すなわち、第２レンズセット位
置が第２レンズセット位置よりも一定値以上遠距離側の
ものであるときには、第１測距情報には反射率が高い背
景の物体からの情報が含まれていると判断し、主要被写
体が位置している確率が高く、焦点深度も浅くなる近距
離側に対応した第２測距信号に基づいてレンズセット位
置が決定される。

また、第２レンズセット位置が第２レンズセット位置よ
りも所定値未満しか遠距離側に離れていないときには、
第２測距信号はクロストークの影響を受けているものと
判断し、第１測距信号によりレンズセット位置を決定し
てもよい。

以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。

〔実施例〕

第２図はアクティブタイプの測距系の概略を示すもので
、投光部２は、近赤外光を放射する放電管３．放電管３
からの光をスリット状に整形するスリット板４．投光レ
ンズ５とからなる。また受光部７は、受光レンズ８．受
光センサー９とから構成されている。投光レンズ５と受
光レンズ８の各々の光軸５ａ、８ａは、撮影レンズ１０
の光軸１０ａと平行となっており、基線長しだけ隔てら
れている。受光センサー９は、詳しくは後述するように
、横長矩形の微少な受光素子３１〜５６を基線長し方向
に配列してなるものである。

投光部２から被写体に向けてスリット光を照射したとき
、その一部の光が近距離被写体１２で反射されると、そ
の反射光１２ａは受光レンズ８を通して受光素子Ｓ３に
入射する。また、中距離被写体１３あるいは遠距離被写
体１４からスリット光の一部が反射されると、反射光１
３ａ、１４ａのそれぞれは受光素子Ｓ２．Ｓｌに人、射
するようになる。したがって受光センサー９のうちで、
どの受光素子に被写体からの反射光が入射したかを検出
することによって被写体距離を求めることができる。な
お、このように測距用の光ビームとしてスリット光を用
いると、主要被写体を撮影画面の中央部から外した状態
でもこれに測距用の光ビームが照射されるようになり、
測距時における照準操作や測距の後にフレーミングをし
直すという面倒な操作をしなくても済むようになるが、
スリット光の代わりにスポット光を投射して測距を行う
こともできる。

第３図は上述した測距系に赤外発光ダイオード１５（以
下、Ｉ　ＲＥＤ　１５という）を併設し、同じ受光セン
サー９を利用しながら、さらに近距離側での測距機能を
向上させた光学系を示したものである。Ｉ　ＲＥＤ　ｌ
　５の投光光軸１５ａは、投光レンズ５の光軸５ａに対
して角θだけ受光センサー９側に傾けられ、被写体に向
けてスポットパターンの光ビームを照射する。これによ
れば、投光部２からのスリット光によって検出できる至
近距離よりも、さらに近距離にある被写体からの反射光
でも受光センサー９で受光することができるようになる
。

第４図は被写体距離範囲について撮影レンズ１０のセッ
ト位置を対応させたもので、Ｎ、〜ＮＩ。

は投光部２からのスリット光で測距したときに決められ
る通常域のセット位置を表し、ｎ、〜ｎ５は−１ＲＥＤ
　１５からのスポット光で測距したときに決められるマ
クロ域のセット位置を表している。

これらのセット位置ｎ　Ｉ−ｎ　ｓａ　Ｎ　１〜Ｎ　１
６は、被写体距離ｌ、〜ｊ！Ｉｓを最適合焦距離として
いるものであるが、合焦と見做せる錯乱円の径を例えば
０．０２５ｍｍとすると、撮影レンズ１０の被写界深度
を考慮したときには、略！、から無限遠までの被写体距
離範囲に対して連続的に合焦させることができる。

上述した測距用の放電管３．受光センサー９゜１　ＲＥ
Ｄ　ｌ　５は、第５図に示した回路とともに用いられる
。測距用の放電管３は、撮影時の被写体照明用の放電管
１７とともにストロボ駆動回路１８によって作動制御さ
れ、Ｉ　ＲＥＤ　１５はＩＲＥＤ駆動回路１９によって
駆動制御される。受光センサー９を構成している受光素
子Ｓｌ−３６は信号処理回路２０に接続され、受光素子
Ｓ１に３６の各々からの光電出力は信号処理回路２０に
よって信号変換される。信号処理回路２０にはＡＦ制御
回路２１が接続され、ＡＦｉｌｌｌｌ回路２１は信号処
理回路２０からの信号出力を測距データに変換してマイ
クロコンピュータ２２に入力する。なお、詳しくは後述
するように、ＡＦ制御回路２１からは適宜のタイミング
で放電管３．ＩＲＥＤ１５を点灯させるための信号が出
力される。

マイクロコンピュータ２２には、前記ストロボ駆動回路
１８．ＡＦ制御回路２１の他、プログラムシャッタ２３
の開閉を制御するためのシャッタ駆動回路２４．被写体
輝度を測定する測光回路２５、モータ２６を駆動するモ
ータ制御回路２７゜ＡＦ制御回路２１から入力された測
距データごとに撮影レンズ１０のセット位置を対応付け
たＡＦテーブル２８が接続されている。

前記信号処理回路２０は第１図に示したような回路構成
となっており、受光素子５１〜５６からの各光電流信号
は、それぞれ基準電圧Ｖ３ｇが印加された初段のオペア
ンプによって電圧信号に変換される。この電圧信号には
直流成分、すなわち太陽光等の外光による光電信号も含
まれているが、初段のオペアンプの出力端にはそれぞれ
低周波成分カット用のコンデンサが接続されているから
、基準電圧Ｖ３ｇの次段のオペアンプには直流成分を含
まない信号成分だけが入力される。次段のオペアンプに
よってそれぞれ一定の増幅率で増幅された光電出力は、
受光素子Ｓｌ−３５の各１個ごと′に２個ずつ設けられ
たコンパレータ３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂ、・・
・、３５ａ、３５ｂに入力され、また受光素子Ｓ６から
の光電出力はコンパレータ３６ａに入力される。

同じ光電出力が入力されるコンパレータ３１ａ。

３１ｂ、３２ａ、３２ｂ、−−−，３５ａ、３５ｂのそ
れぞれには、分圧器３８によって各々基準電圧Ｖ　ｍａ
ｎ　Ｖｍｈが与えられている。この基準電圧のレベルは
Ｖ−＞Ｖ−ｂに設定されており、したがって受光素子の
各々から出力され、初段及び第２段のオペアンプで一定
比率に増幅された光電出力は、高低２種類の基準電圧Ｖ
　ｆｉｌｅ　Ｖｍｋと比較される。そして、光電出力が
基準電圧Ｖ　ａｍあるいは基準電圧Ｖ。以上であるとき
にはハイレベル信号（Ｈ信号）、基準電圧Ｖ　ａｍある
いはＶ。以下であるとローレベル信号（Ｌ信号）が各コ
ンパレータ３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂ、−−・、
３５ａ、３５ｂの出力端に現れる。このように、各受光
素子からの光電出力を高低２種類の基準電圧Ｖ□、ｖｏ
が与えられたコンパレータで比較することによって、２
値化された２系列の信号出力Ａ０．。

Ａａｂを得ることができる。すなわち、第１２図で説明
した基準電圧ｖＩ１．ｖＬに対応した基準電圧をそれぞ
れのコンパレータ３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂ１・
・・、３５ａ、３５ｂにＶ、ｌＩ、　Ｖｌとして供給す
るものである。これにより、被写体からの反射光の強度
に応じ、信号出力Ａ、、、　Ａ０のｉずれかを選択して
用いることができるようになる。

なお本実施例においては、この基準電圧Ｖ、。。

ｖｏは遠距離被写体からの反射光を受光する受光素子Ｓ
ｌ側はど低く、近距離被写体からの反射光を受光する受
光素子Ｓ６側はど高くなるように、ｖ、、＞ｖｓ、＞ｖ
、ｌＩ＞　−−＞Ｖｉａ、またｖｓｈ＞ｖａｈ〉・・〉
ｖｏのように設定されている。これは、一般的に遠距離
被写体の反射光強度が近距離被写体からのものよりも低
くなることを考慮して決め−られたものである。これに
よれば、初段及び第２段のオペアンプの増幅率を一定に
したままでも、人間の肌などのような平均的な反射率を
もった被写体からの反射光について良好な検出機能を得
ることができる。

上記コンパレータ３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂ、・
・・、３６ａの出力端に現れたＩ（信号もしくはＬ信号
の信号出力Ａ　１１１．　ＡＨＩ、　Ａｚ＠、　　・・
・Ａ＆、は、ＡＦ制御回路２１に入力される。ＡＦ制御
回路２１は第６図のように構成され、信号出力Ａ、、、
　Ａｍｂ−ｔよ各コンパレータごとに対応して設けられ
たＤ−フリップフロップ回路ＦＦ、、、ＦＦ０（以下、
単にＦＦ□、ＦＦ、、という）のクロック端子にアンド
ゲートを介して入力される。

このＡＦ制御回路２１は、上述したＦＦ、、、ＦＦｏｂ
の他、電源■Ｃｃを印加してから一定時間後にリセット
パルスを出力するリセットパルス発生回路４３．マイク
ロコンピュータ２２から供給されるクロックパルスを計
数するカウンタ４５．カウンタ４５の計数値に応じて測
距シーケンスを遂行するための制御パルスを出力するデ
コーダ４６゜ＦＦ、、、ＦＦ、、からの信号を受け、こ
れを測距データとして出力するシフトレジスタ４８等を
備えている。

第７図はストロボ駆動回路１８の回路構成を示している
。このストロボ駆動回路１８は、測距用の放電管３と、
撮影時に被写体に補助照明光を照射する撮影用の放電管
１７との両者の作動を制御する。コンデンサＣ１，Ｃｚ
は放電管１７．３のそれぞれに発光エネルギーを供給す
るためのもので昇圧回路４９を介して充電される。一方
のコンデンサＣ，には直列にスイッチ装ｆｆ５０が接続
されている。このスイッチ装置５０はマイクロコンピュ
ータ２２から端子Ｔ＆にＨ信号が入力されたときにオン
し、Ｌ信号が入力されたときにオフする。なお、このス
イッチ装置５０に第８図に示した半導体スイッチを用い
ると、コンデンサＣ，に充電を行うときに端子Ｔ、にＨ
信号を与え続けなくても済むようになる。また、ストロ
ボ駆動回路１８に設けられた各端子Ｔ、、Ｔ、、Ｔ３．
Ｔ。

８ＴＳは、それぞれ昇圧回路４６の発振開始信号入力端
子、発振禁止信号入力端子、コンデンサＣ２の充電完了
信号送出端子、撮影用放電管１７の発光トリガ信号入力
端子、測距用放電管３の発光トリガ信号入力端子として
用いられる。

以上のように構成された測距装置の作用は次のとおりで
ある。例えばレンズ力バーの開放操作等によって電源ス
イッチが投入されると、第７図に示した昇圧回路４９が
作動してコンデンサＣ２゜Ｃｚが充電される。コンデン
サＣ２の充電完了信号がマイクロコンピュータ２２に入
力されることによって撮影準備が完了する。

シャッタボタン（図示省略）の押圧操作の初期に、測距
装置の電源スイッチが投入されると、ＡＦ制御回路２１
に電源ｖｃｃが印加される。この電源■。の安定を待っ
て、第６図に示したリセットパルス発生回路４３からリ
セットパルスが出力され、これによりアンドゲート４４
の開閉制御用のＦＦ、かリセットされ、Ｑ端子にＨ信号
が現れ、アンドゲート４４がオープンされる。また、こ
れと同時にカウンタ４５がリセットされる。

マイクロコンピュータ２２は、測距装置の電源スイッチ
の投入から１００ｍ５ｅｃの遅延の後、ＡＰ制御回路２
１にクロックパルスを出力する。

この１００ｍ５ｅｃの遅延の間に、信号処理回路２０の
各コンパレータ３１ａ、３１ｂ、３２ａ。

３２ｂ、・・・、３５ａ、３５ｂ、３６ａに与えられる
基準電圧■□、ｖｏの安定化等が行われる。

マイクロコンピュータ２２からのクロックパルスは、ア
ンドゲート４４を通ってカウンタ４５に供給される。カ
ウンタ４５にはデコーダ４６が接続され、デコーダ４６
はカウンタ４５でのクロックパルスの計数値に対応して
測距シーケンスをコントロールする。

デコーダ４６は、まず信号処理回路２０からの信号出力
Ａ□、ＡｏをラッチするためのＦＦ□。

ＦＦ−ｂにリセットパルス５１ｇ４を出力する。その後
、デコーダ４６はＩＲＥＤ駆動回路１９に第１トリガ信
号を出力する。これによりＩ　ＲＥＤ　１５が所定時間
点灯して被写体に近赤外光を投射し、マクロ域での測距
が開始される。第１トリガ信号が出力されて一定時間後
、デコーダ４６から章程時間のパルス幅をもった読み込
みパルス５１ｇ５が出力される。この読み込みパルスは
、ＦＦ、、、ＦＦｅｂの各クロック端子に接続されたア
ンドゲートの一方の端子に入力される。

前記アンドゲートの他方の端子には、信号処理回路１８
の各々のコンパレータ３１ａ、３１ｂ。

３２ａ、３２ｂ、−−，３５ａ、３５ｂ、３６ａの出力
端が接続されているから、読み込みパルスがＨレベルの
間に、Ｌ信号もしくはＨ信号の２値化された信号出力Ａ
　１１１１．　Ａ＠＞がＦＦ、、、ＦＦ、、に供給され
る。そして、被写体がマクロ域内に存在している場合に
は、低い基準電圧ＬＩ＆が与えられている方のコンパレ
ータ３１ｂ、３２ｂ・・３５ｂの出力端のいずれかにＨ
信号が現れることになるから、これに対応したＦＦ、が
セットされる。

なお、被写体からの反射光が強い場合には、高い基準電
圧Ｖ□が与えられている方のコンパレータ３１ａ、３２
ａ、＋＋、３６ａの出力端にもＨ信号が含ｔａるように
なる。

前記読み込みパルスが出力された後−定時間経過すると
、デコーダ４６からシフトレジスタ４８のｒＯＮｌｏＦ
ＦＪ端子に５１ｇ２によりＨ信号が出力されるようにな
る。また、このＨ信号によりアンドゲート５５はオープ
ン状態となる。したがって、アンドゲート４４を介して
シフトレジスタ４８のｒＣＫ　（クロック〕」端子に入
力されるクロックパルスは、このアンドゲート５５をも
通過し、測距クロックパルスとしてマイクロコンピュー
タ２２に供給される。

シフトレジスタ４８のｒ　ＯＮ１０ＦＦ　Ｊ端子にＨ信
号が人力された状態でｒＣＫ、端子にクロックパルスが
供給されると、このクロックパルスはシフトレジスタ４
８の各ビット位置にメモリされたデータを次段のビット
位置へ順次に移動させるーシフトパルスとして作用する
。そしてＦＦ、、、ＦＦ、、からのＱ端子出力を各ビッ
ト位置ごとに格納していたシフトレジスタ４８からは、
信号出力Ａ　６　Ｂ及び信号出力Ａ。のそれぞれが、シ
フトレジスタ４８内のビット位置配列を保った測距デー
タとしてマイクロコンピュータ２２に転送され名、すな
わち、信号出力Ａ、。のうちでＡ４．だけがＨ信号でＦ
Ｆ、。

のみがセットされた場合には、マイクロコンピュータ、
２２にｒｏｏｏｉｏｏＪの第１測距データが転送される
。

なお、デコーダ４６からのＨ信号Ｓｉｇｌがシフトレジ
スタ４８のＤ８端子に入力されると、シフトレジスタ４
８はコンパレータ３１ａ、３２ａ。

・・、３６ａからの信号出力Ａ、。すなわちＦＦ、。

からのデータに代えて、コンパレータ３１ｂ、３２ｂ、
　　・・、３５ｂからの信号出力Ａ１１ｂすなわち、Ｆ
Ｆ、。からのデータを取り込む。そして、例えば信号出
力Ａ。のうちでＡａｈ、　／ｋｓｂがＨ信号であって、
Ｆ　Ｆ　４ｂ、　　Ｆ、Ｆ　ｓｈがセットされたときに
は、ｒｏ、ｏｏｔｌＪの第２測距データが転送される。

こうして転送される第１及び第２測距データには、それ
がマクロ域の測距データであるか通常域の測距データで
あるかを識別するためのフラグＤ７と、信号出力Ａ□、
Ａｏのいずれに属するデータであるかを識別するための
フラグＤ８も付加されている。− こうしてシフトレジスタ４８に所定個数のシフトパルス
が入力された後に−は、デコーダ４６からナントゲート
５６の入力端にマクロ域での測距完了を表すＨ信号Ｓｉ
ｇ６が供給される。このナントゲート５６の他方にはオ
アゲート５２からのＨ信号が与えられているから、デコ
ーダ４６からＨ信号が出力されるとナントゲート５６の
出力端にＬ信号が現れる。このＬ信号がアンドゲート５
７゜インバータ５８を介し、Ｈ信号−としてＦＦ、のセ
ット端子に人力されると、ＦＦｏがセットされアンドゲ
ート４４がクローズする。これによりクロックパルスが
遮断され、カウンタ４５の計数も停止してマクロ域の測
距シーケンスが完了する。

マクロ域の測距により測距データが得られると、第９図
のフローチャートに示したように、マイクロコンピュー
タ２２は信号出力Ａ１１ｂによって得られた第１測距デ
ータから第２レンズセット位置を決定し、、また信号出
力Ａ。によって得られた第２測距データから第２レンズ
セット位置を決定する。

そして、例えば第１測距データがｒｏｏｏｌｏｏ」であ
ると、第４図の「ｎ２」が第２レンズセット位置として
決められ、第２測距データが［０００１１Ｊであると、
近距離側を優先させて「ｎ、」−が第２レンズセット位
置として決められる。

なお、マクロ域での測距時においては、被写体にはスポ
ット状の光ビームが照射されるから、受光素子Ｓｔ−３
６のなかの３個に反射光が入射することはなく最大２個
までの受光素子に反射光が入射する。したがって、近距
離側の受光素子からの光電出力を優先させることにより
、第１．第２測距データから而単に第１．第２レンズセ
ット位置を対応づけることができる。

こうして第１．第２レンズセット位置が求められると、
マイクロコンピュータ２２はこれらのレンズセット位置
ｎｚ　Ｊ、−ｎ＋　Ｊをもとに、どちらのレンズセット
位置が最終的なレンズセット位置として適しているかを
判断する。この判断に際しては、高い基準電圧Ｖ　ａｍ
が与えられたコンパレータ３１ａ、３２ａ、３３ａ、−
−を介して得られた測距データに対応するレンズセット
位置をｎ、、低い基準電圧ｖｆｉｂが与えられたコンパ
レータ３１ｂ、３２ｂ、３３ｂ、　　・・を介して得ら
れた測距データに対応するレンズセット位置をｎｂとし
たとき、 （ｉ）ｎｂ≦ｎ、−２Ｊ→ｎｂ （ｉｌ）　　ｎｂ　−ｎａ　　　Ｉ　Ｊ　→ｎａＧｉＤ
　　ｎｓ　””ｎｂ　Ｊ　　　→ｎｌＩ　（ｎｂ）Ｇｖ
）　ｒｎｔ、　＞ｎ、　Ｊ　　　→エラー処理（Ｖ）　
　ｎ　ａ　＝　ｌ　Ｊ　　　　→ｎｂの条件により最終
的なレンズセット位置が決定される。

上記（ｉ）の条件は、背景からの反射光を無視し、焦点
深度が浅く主要被写体が位置している確率の高い近距離
側のレンズセット位置ｎｂを優先させることを意味し、
また（ｉｉ）の条件は、被写体からの強い反射光に隣接
して現れやすい低反射光の影響、すなわちり１：＃スト
ークの影響がレンズセット位置ｎ１に含まれているもの
と判断し、レンズセット位置ｎ、を優先させることを意
味している。

また、条件Ｇｖ）は理論的には生じ得ない状態であり、
この場合にはエラー処理、例えばファインダ内にエラー
表示を行ったり、自動的に再測距を行う等の処理シーケ
ンスが実行される。さらに、レンズセット位置ｎｍが至
近距離に該当する条件付）の場合には、被写体からの低
い反射光に基づいて決められるレンズセット位置ｎｂを
最終的なレンズセット位置として決めるものである。

したがって、上述のように第１．第２測距データがそれ
ぞれｒｏｏｏｌｏｏ」、ｒ０００１１」であり、これに
より第１．第２レンズセット位置が各々ｎｚ　Ｊ、ｎ＋
　Ｊであると、条件（ｉｉ）によって最終的なレンズセ
ット位置は「ｎｔ」として決定される。

ところで、マクロ域での測距を行った結果、信号出力Ａ
　、、＠、　ＡｆｉｂのいずれにもＨ信号が含まれてお
らず、ＦＦ、、、ＦＦ、ｂのいずれもがセットされない
ときには、オアゲート５２からＨ信号が出力されないか
ら、ナントゲート５６の出力はＨ信号となってＦＦ０は
セットされない。この場合には引続き通常域での測距が
実行される。

通常域での測距時には、マイクロコンピュータ２２から
ストロボ駆動回路１８の端子Ｔ２に１１信号が供給され
、昇圧回路４９の作動が禁止される。

しかる後、デコーダ４６からのリセットパルス５１ｇ４
によって、ＦＦ、、、ＦＦ、ｂのそれぞれが再びリセッ
トされ、さらにデコーダ４６から第２トリガ信号がスト
ロボ駆動回路１８の端子ＴＳに入力される。これにより
コンデンサＣ２に蓄えられた電荷によって放電管３が発
光する。第２トリガ信号が出力された後、カウンタ４５
によっである一定時間分のクロックパルスが計数される
と、デコーダ４６から所定のパルス幅をもった読み込み
パルス５１ｇ５が出力され、信号出力Ａ□、ＡｏがＦＦ
ゎ、、ＦＦａｂにラッチされる。

こうして通常域の測距を行った後、デコーダ４６からシ
フトレジスタ４８のｒ　ＯＮ１０ＦＦ　Ｊ端子にＵ信号
Ｓｉｇ２が出力される。この１１信号によってクロック
パルスはアンドゲート５５を通り、測距クロックパルス
としてマイクロコンピュータ２２に供給されるようにな
る。

マクロ域の測距時と同様に、シフトレジスタ４８のｒｏ
ｂｌｏＦＦ、端子にＨ信号を入力しｒＣＫＪ端子にクロ
ックパルスを供給することによって、シフトレジスタ４
８からは、信号出力Ａｆｉ、による第１測距データと、
信号出力Ａ。による第２測距データとがマイクロコンピ
ュータ２２に転送される。

こうしてシフトレジスタ４８に所定個数のシフトパルス
が入力された後には、デコーダ４６からアンドゲート５
７の入力端に測距シーケンスが完了したことを表すし信
号５１ｇ７が供給される。この結果アンドゲート５７の
出力端にＬ信号が現れ、これがインバータ５８を介して
Ｈ信′号としてＦＦ。のセット端子に入力される。そし
て、ＦＦ、のセットによりアンドゲート４４がクローズ
し、測距シーケン・スが完了する。

通常域の測距により、例えば第１測距データとしてｒｏ
ｌｌｏｏｏＪ　　（ＦＦ！ａ、ＦＦ３Ｍがセット状ＩＩ
）、第２測距データとしてｒｏ　１１１０Ｊ（Ｆ　Ｆ　
ｔ−，Ｆ　Ｆ　ｓｈ、　　Ｆ　Ｆ　４−がセット状態）
が得られると、マイクロコンピュータ２２はＡＦテーブ
ル２８を対照してそれぞれの測距データに基づく第１．
第２レンズセット位置を決定する。第１θ図のＡＦテー
ブル２Ｂに示したように、通常域におけるレンズセット
位置を決めるときには、測光回路２５で検出された被写
体輝度情報（ＥＶ値）も参照される。

今、仮にｒＥＶｌｊ＋であったとすると、前記第１測距
データは受光素子Ｓ２．Ｓ３に反射光が入射したことを
意味するから、第１θ図のＡＦテーブル２８により第２
レンズセット位置として「Ｎ７」が得られる。さらに、
第２測距データについては、３個以上の受光素子に光入
射があったときには近距離側の２個すなわちＳ３．Ｓ４
による信号が優先されるから、第２レンズセフ）位置と
してＮｓＪが得られる。

通常域での第１．第２測距レンズセツト位置Ｎｉｌ　Ｊ
　−Ｎｈ　Ｊが得られると、マクロ域でのレンズセット
位置を決定する場合と同様に、（ｉ）Ｎｂ≦Ｎ　ｍ　　
２　Ｊ→Ｎｈ （ｉｉ）　　Ｎｂ　＝　Ｎａ　−Ｉ　Ｊ→Ｎ。

６ω　Ｎ　ａ　＝Ｎ　ｈ　Ｊ　　　→Ｎ−（Ｎｂ　）６
嚇ｒ　ｐ４　ｂ　＞　Ｎ　＊　Ｊ　　　→エラー処理（
ｖ）　　Ｎ　ｍ　＝　ｌ　Ｊ　　　　→Ｎｈの条件にし
たがって最終的なレンズセット位置が決定される。そし
て、上記の場合には第２レンズセット位置が第２レンズ
セット位置よりも２ステップ以上近距離側であるから、
最終的なレンズセット位置は「Ｎ５」として決定される
ことになる。

もちろん、ＡＦテーブル２８のデータを増やすことによ
って、上記のように近距離側の受光素子２個だけを優先
させるだけでなく、他の受光素子からの出力をも考慮し
てレンズセット位置を決めるようにすることもできる。

なお、通常域での測距を行った結果、第１測距データが
ｒｏｏｏｏｏｔＪすなわちＦ　Ｆ　、、、だけがセット
状態であった場合は、最終的なレンズセット位置はｒＨ
，１として決定される。というのは、通常域での第１測
距データがｒｏｏｏｏｏｌ」であるときには、本来マク
ロ域の測距時にいずれかの受光素子で検出できるはずの
ものである。このような状態は、マクロ域での測距時に
反射光強度が高（なることを想定してコンパレータ３１
ｂ。

３２ｂ、・・、３６ｂの基準電圧ｖｌｌｂを高くしたと
きに生じやすい。すなわち、隣接した受光素子からの光
電出力を確実に弁別するために基準電圧Ｖａ＆を高く設
定すると、マクロ域での最遠検出端が近距離側に移動す
る傾向をもつからで、上述の処理はこのような不都合を
解消するのに有効である。

以上のようにしてマクロ域あるいは通常域でのレンズセ
ット位置が決定されると、このレンズセット位置に対応
した個数の駆動パルスがマイクロコンピュータ２２から
モータ駆動回路２７に出力され、撮影レンズ１０が移動
される。撮影レンズ１０の移動が完了すると、シャッタ
ボタンのロックが自動解除され撮影を行うことができる
ようになる。そして、さらにシャッタボタンを押し込む
ことによって、マイクロコンピュータ２２からシャッタ
駆動回路２４に作動信号が供出され、ＥＶ値に対応した
間口径でプログラムシャッタ２３が開閉して撮影が行わ
れる。

ところで、前述したＡＦテーブル２８には、破線で囲ん
だように被写体に補助照明を与える内蔵ストロボ１７の
制御データ、すなわち内蔵ストロボ１７の発光タイミン
グデータもメモリされている。そして、レンズセット位
置がＡＦテーブル２８の破線で囲んだデータによって決
定された場合には、プログラムシャッタ２３の開口径が
ＡＦテーブル２８にメモリされた開口径に達するまでマ
イクロコンピュータ２２がシャッタ駆動回路２４に作動
パルスを出力すると、マイクロコンピュータ２２からス
トロボ駆動回路１８の端子Ｔ４にトリガパルスを出力す
る。これにより、プログラムシャッタ２３が被写体距離
に対応した開口径になったときに放電管１７が発光する
ことになる。

また、マクロ域での測距を行うことによって測距データ
が得られた場合には、第１１図にフローチャートで示し
たように、ＩＲＥＤ１５の発光だけで測距が完了し、コ
ンデンサＣ２に充電された電荷はそのまま保存されてい
る。そして、この場合にはマイクロコンピュータ２２か
らストロボ駆動回路１８の端子Ｔ６にＬ信号が出力され
るため、コンデンサＣ，に直列接続されたスイッチ装置
５０がオフする。したがってマクロ域での撮影時に被写
体譚度が低くストロボ撮影が行われるときには、ストロ
ボ駆動回路１８の端子Ｔ４に入力されるトリガ信号によ
って、放電管１７はコンデンサＣ２の電荷によって発光
し、コンデンサＣ２に蓄えられた電荷はそのまま保存さ
れる。

この場合、コンデンサＣ２の容量はコンデンサＣ２の容
量よりも小さく、放電管１７の発光量も小さくなるが、
これに対応してプログラムシャッタ２３の開口径を大き
くしてやることによって、放電管１７の発光タイミング
を正確に決めることができるようになる。もちろん、通
常域の測距によって測距データが得られると、端子Ｔ、
には［■信号が与えられスイッチ装置５０がオンするか
ら、放電管１７はコンデンサＣ，によって放電し通常の
ストロボ撮影が行われる。

上述してきた実施例においては、マクロ域での測距時に
はＩ　ＲＥＤ　ｌ　５によりスポット状の光ビームが投
射されることから、受光素子ごとにレンズセット位置を
対応させているが、マクロ域では被写界深度が浅くなる
ことを考慮し、上述したＡＦテーブル２８のように、被
写体輝度情報も加味して最終的なレンズセット位置を決
めるようにしてもよい。

〔発明の効果〕

以上に説明したように、本発明によれば、被写体からの
反射光を受光する受光素子の各々に、高低２種の基準電
圧が与えられた第１．第２コンパレータを接続し、第１
．第２コンパレータ群からの反転信号の組み合わせによ
り第１．第２測距信号を得、これらに対応して求められ
る第１．第２レンズセット位置の差が所定の条件を満足
しているか否かによって、いずれのレンズセット位置か
を選択するようにしている。したがって、被写体の種類
によって受光素子に入射して（る反射光の強度にレベル
差がある場合でも、主要被写体に対して高い確率でピン
ト合わせすることができるようになる。

さらに、被写体からの反射光がハローを伴うものである
とき、あるいは反射光強度が強くて複数の受光素子にク
ロストークによる光電出力が現れるようなときでも、偽
信号の影響を受けずに正確な測距を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す回路図である。 第２図は本発明に用いられる通常域での測距系の一例を
示す概略図である。 第３図はマクロ域も含む本発明の測距光学系の概略図で
ある。 第４図はレンズセット位置の説明図である。 第５図は本発明の測距装置の回路構成の概略を示すブロ
ック図である。 第６図はＡＦ制御回路の構成を示す回路図である。 第７図はストロボ駆動回路の構成を示す回路図である。 第８図はストロボ駆動回路に用いられるスイッチ装置の
一例を示す回路図である。 第９図は測距時の処理を示すフローチャートである。 第１０図はＡＦテーブルの一例を示す概念図である。 第１１図はストロボ撮影時の処理を示すフローチャート
である。 第１２図（Ａ）、（Ｂ）は、それぞれ受光素子上の光入
射パターン及び受光素子からの光電出力を示す説明図で
ある。 ２・・・投光部 ３・・・放電管（測距用） ７・・・受光部 ９・・・受光センサー Ｓｌ−３６・・受光素子 ｌＯ・・撮影レンズ １５・・Ｉ　ＲＥＤ １７・・放電管（撮影用） ３１ａ、３１ｂ、＋＋、３６ａ−−コンパレータ３８・
・分圧器 ＦＦ、、、ＦＦ、＆・・Ｄ−フリップフロップ回路。 （（（（Ｍ

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）投光手段から投射された光束のうち被写体によっ
   て反射されてきた光を基線長方向に配列された複数の受
   光素子で受光するカメラの測距装置において、 前記複数の受光素子からのそれぞれの光電出力を、高い
   基準電圧が与えられた第１のコンパレータと低い基準電
   圧が与えられた第２のコンパレータとに入力し、前記第
   １のコンパレータ群からの反転信号の組み合わせによる
   第１測距信号と、第２のコンパレータ群からの反転信号
   の組み合わせによる第２測距信号とを検出し、第１測距
   信号に対応するレンズセット位置が第２測距信号に対応
   するレンズセット位置よりも所定値以上遠距離側のもの
   であるときには、第２測距信号によりレンズセット位置
   を決定することを特徴とするカメラの測距装置。
2. （２）前記第１測距信号によるレンズセット位置が、第
   ２の測距信号によるレンズセット位置よりも所定値未満
   だけ遠距離側であるときには、第１測距信号によりレン
   ズセット位置を決定することを特徴とする特許請求の範
   囲第１項記載のカメラの測距装置。