JPH0212152A - 感光性コーティング材料用の放射線感応混合物及びレリーフパターン形成方法 - Google Patents
感光性コーティング材料用の放射線感応混合物及びレリーフパターン形成方法Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
本発明はアルカリ水性媒体に可溶性の結合剤と、1個或
は複数個の酸分裂性結合を有し、放射線作用下に強酸を
形成し、アルカリ性溶媒に対する溶解性が酸の作用によ
り高められる化合物とを含有する、ポジチブ作用放射線
感応混合物に関するものである。このような混合物は紫
外線、電子及びX線放射に感応することができ、特にレ
ジスト材料としてのレリーフパターン及びレリーフ画像
の形成にことに適する。
は複数個の酸分裂性結合を有し、放射線作用下に強酸を
形成し、アルカリ性溶媒に対する溶解性が酸の作用によ
り高められる化合物とを含有する、ポジチブ作用放射線
感応混合物に関するものである。このような混合物は紫
外線、電子及びX線放射に感応することができ、特にレ
ジスト材料としてのレリーフパターン及びレリーフ画像
の形成にことに適する。
ポジチブ作用放射線感応混合物は公知であり、ことに結
合剤に0−キノンジアジド、例えばアルカリ水性媒体に
可溶性のノボラフを含何するポジチブ作用レジスト材料
は商業的に使用されている。しかしながら、このような
混合物には放射線、ことに短波長放射線に対する感度の
不満足なものがある。これは部分的に短波長UV範囲に
おけるノボラフの高吸収性に基因する。しかしながら、
p−ヒドロキシスチレンをベースとする本質的に透明な
ポリマーは、「ソリッド、ステイト、テクノロジーJ
(Solid 5tate Technology)
1984年6月号、115−120頁にT、バンパロ
ーン(Pampalone)により記述されているよう
に、このようなポリマーでは材料除去量が大量に過ぎる
ために必ずしも適当ではない。
合剤に0−キノンジアジド、例えばアルカリ水性媒体に
可溶性のノボラフを含何するポジチブ作用レジスト材料
は商業的に使用されている。しかしながら、このような
混合物には放射線、ことに短波長放射線に対する感度の
不満足なものがある。これは部分的に短波長UV範囲に
おけるノボラフの高吸収性に基因する。しかしながら、
p−ヒドロキシスチレンをベースとする本質的に透明な
ポリマーは、「ソリッド、ステイト、テクノロジーJ
(Solid 5tate Technology)
1984年6月号、115−120頁にT、バンパロ
ーン(Pampalone)により記述されているよう
に、このようなポリマーでは材料除去量が大量に過ぎる
ために必ずしも適当ではない。
0−ニトロベンジル基を含有するポジチブ作用!成分系
レジストも公知(F!i独特許出願公開215069!
号、同2922746号及び同3642184号公報参
照)である、しかしながらこの共重合体の感光性も不満
足なものである。
レジストも公知(F!i独特許出願公開215069!
号、同2922746号及び同3642184号公報参
照)である、しかしながらこの共重合体の感光性も不満
足なものである。
1次的光反応において成る種がもたらされ、これが放射
線と関係なく触媒的2次反応を開始させて、放射線感応
混合物における劇的な感度向上をもらすことも公知であ
る。例えば米国特許3923514号及び同39157
06号明細書は、強酸を形成し、これが次いで2次反応
において酸不安定基、例えばポリアルデヒド基を分裂す
る光開始剤を開示している。
線と関係なく触媒的2次反応を開始させて、放射線感応
混合物における劇的な感度向上をもらすことも公知であ
る。例えば米国特許3923514号及び同39157
06号明細書は、強酸を形成し、これが次いで2次反応
において酸不安定基、例えばポリアルデヒド基を分裂す
る光開始剤を開示している。
酸不安定側鎖基を何するポリマーと、光化学的酸供与体
とから成る放射線感応混合物が、例えば米国特許449
1628号及び仏国特許2570844号明細書に記載
されている。しかしながらこれらのポリマー結合剤は、
疏水性であって、露光後に始めてアルカリ可溶性となる
に過ぎない。
とから成る放射線感応混合物が、例えば米国特許449
1628号及び仏国特許2570844号明細書に記載
されている。しかしながらこれらのポリマー結合剤は、
疏水性であって、露光後に始めてアルカリ可溶性となる
に過ぎない。
酸分裂性化合物をベースとする放射線感応混合物も公知
であって、これはアルカリ水性媒体に可溶性のポリマー
結合剤と、光化学反応により強酸を形成する化合物と、
さらに酸分裂性基を有し、酸の作用によりアルカリ現像
液溶解性が増大せしめられる化合物とを含有する(例え
ば西独特許出願公開3406927号公報参照)。
であって、これはアルカリ水性媒体に可溶性のポリマー
結合剤と、光化学反応により強酸を形成する化合物と、
さらに酸分裂性基を有し、酸の作用によりアルカリ現像
液溶解性が増大せしめられる化合物とを含有する(例え
ば西独特許出願公開3406927号公報参照)。
光化学反応により強酸を形成する化合物の例としては、
ジアゾニウム、ホスホニウム、スルホニウム及びヨード
ニウムの各化合物ならびにハロゲン化合物が挙げられる
。しかしながら、これら光開始剤の欠点は、放射線作用
により極めて疏水性の強い生成物がもたらされ、これは
アルカリ性現像液に不溶性であることである。
ジアゾニウム、ホスホニウム、スルホニウム及びヨード
ニウムの各化合物ならびにハロゲン化合物が挙げられる
。しかしながら、これら光開始剤の欠点は、放射線作用
により極めて疏水性の強い生成物がもたらされ、これは
アルカリ性現像液に不溶性であることである。
レジスト材料中において光化学的酸供与体としてオニウ
ム塩を使用することは、例えば前述した米国特許449
1628号明細書に記載されている。クリヴエロ(Cr
ivello)はレジスト材料中における上記塩の使用
を、 Org、 Coatings and Appl
、Polym。
ム塩を使用することは、例えば前述した米国特許449
1628号明細書に記載されている。クリヴエロ(Cr
ivello)はレジスト材料中における上記塩の使用
を、 Org、 Coatings and Appl
、Polym。
Sc1.48 (1985) 、85−89においてI
I観している。
I観している。
西独特許出願公開3721740号公報は、酸不安定基
を分子中に育するスルホニウム塩を開示しており、これ
は放射線作用によりアルカリ性現像液に対する溶解性が
劇的に高められる。
を分子中に育するスルホニウム塩を開示しており、これ
は放射線作用によりアルカリ性現像液に対する溶解性が
劇的に高められる。
以上の従来技術に鑑みて、本発明の目的は、アルカリ水
溶液で現像され得る、レリーフ構造形成のための、高い
活性を有する放射線感応組成物を提供することである。
溶液で現像され得る、レリーフ構造形成のための、高い
活性を有する放射線感応組成物を提供することである。
(発明の要約)
上記目的は、結合剤としてp−ヒドロキシスチレンポリ
マーをベースとする放射線感応1組成物であって、アル
カリ性現像液で大量の材料が洗除されるものが、疏水性
0−ニトロベンジルエステルを添加することにより、ア
ルカリ(現像液中に特定濃度で含有される)に対する溶
解性が著しく減少せしめられ、0−ニトロベンジルエス
テル基が露光の間の転位反応によりカルボン酸をもたら
し、従って露光帯域が再びアルカリ可溶性となる利点を
有する組成物乃至混合物をもたらし得ることが見出され
るに至った。
マーをベースとする放射線感応1組成物であって、アル
カリ性現像液で大量の材料が洗除されるものが、疏水性
0−ニトロベンジルエステルを添加することにより、ア
ルカリ(現像液中に特定濃度で含有される)に対する溶
解性が著しく減少せしめられ、0−ニトロベンジルエス
テル基が露光の間の転位反応によりカルボン酸をもたら
し、従って露光帯域が再びアルカリ可溶性となる利点を
有する組成物乃至混合物をもたらし得ることが見出され
るに至った。
本発明によれば露光帯域のアルカリ溶解性は、カルボン
酸の光化学的形成により結合剤を介して、また溶解禁止
剤として添加されるスルホニウム塩の転化を介して増大
せしめられる。
酸の光化学的形成により結合剤を介して、また溶解禁止
剤として添加されるスルホニウム塩の転化を介して増大
せしめられる。
本発明は(a)水に不溶性であるが、アルカリ水溶液に
可溶性であるポリマー結合剤と、(b)水性アルカリ現
像液に対する溶解性が酸の作用により高められ、1個或
は複数個の酸分裂性基を有する好機化合物とを含有し、
上記ポリマー結合剤が0−ニトロベンジル基を宵する共
重合体であり、ことに(aり一般式(I) (=Q 賦 (式中、Aは5乃至14環員の、非置換或は置換芳呑旗
もしくはヘテロ芳香1!環を、Xは水素、1乃至8個の
炭素原子を有するアルキル、非置換或は置換アリール或
はアルアルキルを、Yは2乃至10個の炭素原子を有す
るエチレン系不飽和基を意味する)で表されるHffi
M或は複数種類の化合物1乃至40モル%と、(^2)
−数式(II)暑 (式中R1は水素或はメチル% R’は水素、ハロゲン
或は1乃至6個の炭素原子を有するアルキル、R3は水
素、1乃至6個の炭素原子ををするアルキル、アセチル
、ベンゾイル、C1〜C8アルキルシリル或はC1〜C
6アルコキンシリル基を意味する)で表される18Xl
類或は複数種類の化合物99乃至60モル%と、(R3
)上記(al)及び(R2)と異なる、共重合可能オレ
フィン不飽和結合育機化合物であって、その単独重合体
が250乃至400nmの波長範囲で透明でる1種類或
は複数種類の化合物0乃至20モル%とを、上記(aり
乃至(R3)の合計モル%数値が100となるように共
重合単位として含有する共重合体である、放射線感応混
合物を対象とするものである。
可溶性であるポリマー結合剤と、(b)水性アルカリ現
像液に対する溶解性が酸の作用により高められ、1個或
は複数個の酸分裂性基を有する好機化合物とを含有し、
上記ポリマー結合剤が0−ニトロベンジル基を宵する共
重合体であり、ことに(aり一般式(I) (=Q 賦 (式中、Aは5乃至14環員の、非置換或は置換芳呑旗
もしくはヘテロ芳香1!環を、Xは水素、1乃至8個の
炭素原子を有するアルキル、非置換或は置換アリール或
はアルアルキルを、Yは2乃至10個の炭素原子を有す
るエチレン系不飽和基を意味する)で表されるHffi
M或は複数種類の化合物1乃至40モル%と、(^2)
−数式(II)暑 (式中R1は水素或はメチル% R’は水素、ハロゲン
或は1乃至6個の炭素原子を有するアルキル、R3は水
素、1乃至6個の炭素原子ををするアルキル、アセチル
、ベンゾイル、C1〜C8アルキルシリル或はC1〜C
6アルコキンシリル基を意味する)で表される18Xl
類或は複数種類の化合物99乃至60モル%と、(R3
)上記(al)及び(R2)と異なる、共重合可能オレ
フィン不飽和結合育機化合物であって、その単独重合体
が250乃至400nmの波長範囲で透明でる1種類或
は複数種類の化合物0乃至20モル%とを、上記(aり
乃至(R3)の合計モル%数値が100となるように共
重合単位として含有する共重合体である、放射線感応混
合物を対象とするものである。
この新規な放射線感応混合物は、構成分(b)として、
−数式(III) (式中、R’、R’及びR・は互いに同じでも異なって
もよく、それぞれへテロ原子を含有してもよい脂肪族及
び/或は芳香族基であり、或はR4乃至R6のうちの2
個が相結合して環を形成するが、R4乃至R6の1個或
は複数個は1個或は複数個の酸分裂性基ををし% R’
乃至R6のうちの1個は他のスルホニウム塩の基1個或
は複数個と、必要に応じ酸分裂性基を介して、結合され
ることができ、Xeは非親核対イオンを意味する)で表
される1種或は複数種類のスルホニウム塩を含仔するこ
とが好ましい。
−数式(III) (式中、R’、R’及びR・は互いに同じでも異なって
もよく、それぞれへテロ原子を含有してもよい脂肪族及
び/或は芳香族基であり、或はR4乃至R6のうちの2
個が相結合して環を形成するが、R4乃至R6の1個或
は複数個は1個或は複数個の酸分裂性基ををし% R’
乃至R6のうちの1個は他のスルホニウム塩の基1個或
は複数個と、必要に応じ酸分裂性基を介して、結合され
ることができ、Xeは非親核対イオンを意味する)で表
される1種或は複数種類のスルホニウム塩を含仔するこ
とが好ましい。
本発明は、さらにこの新規な放射線感応混合物を感光性
コーティング材料として使用する、レリーフパターン及
びレリーフ画像の形成方法に係り、上記混合物は露光後
60乃至120°Cに加熱される。
コーティング材料として使用する、レリーフパターン及
びレリーフ画像の形成方法に係り、上記混合物は露光後
60乃至120°Cに加熱される。
この新規な放射線感応混合物は、短波長UV範囲、こと
に248n■で露光するときに良好な構造的品質を有す
るレジストパターンをもたらし、混合物の感光度は極め
て高く、必要な現像時間中において非露光帯域の過剰の
洗除をもたらさない。
に248n■で露光するときに良好な構造的品質を有す
るレジストパターンをもたらし、混合物の感光度は極め
て高く、必要な現像時間中において非露光帯域の過剰の
洗除をもたらさない。
(発明の構成)
本発明による新規の混合物の各組成分につき以下に個別
的に詳述する。
的に詳述する。
適当なポリマー結合剤は、0−ニトロベンジル基を打し
、水に不溶性であるが、アルカリ水溶液に可溶性であれ
ば、どのポリマーでも使用されるが、西独特許出願公開
3642184号公報に記載されている共重合体が好ま
しい。
、水に不溶性であるが、アルカリ水溶液に可溶性であれ
ば、どのポリマーでも使用されるが、西独特許出願公開
3642184号公報に記載されている共重合体が好ま
しい。
有利な共重合体(a)は、(aり一般式(I)(=Q
−C−O
(式中、Aは5乃至14環員の、場合により置換されて
いる芳香族環或はへテロ芳香族環を、Xは水素、1乃至
8個の炭素原子を宵するアルキル或は場合によりrIL
換されているアリールもしくはアルアルキル基を、Yは
2乃至10個の炭素原子をイrするエチレン系不飽和基
を意味する)で表される少なくともlfilI類の化合
物1乃至40モル%と、(A2)−数式(n) (式中R′は水素或はメチル基を、R”は水素、ハロゲ
ン或は1乃至6個の炭素原子を有するアルキル基を%
R3は水素、1乃至6個の炭素原子を有するアルキル基
、アセチル、ベンゾイル%’Cl〜C6アルキルシリル
或はC+”Ceアルコキシシリル基を意味する)で表さ
れる少なくとも1種類の化合物99乃至60モル%と、
(a3)上記(al)及び(a2)と異なる1種類或は
複数種類の共重合可能エチレン系不飽和宵機化合物であ
って、その単独重合体が250乃至400n■の波長に
おいて透明である化合物O乃至20モル%とを、上記(
al乃至(a3)の合計モル%数値が100となるよう
に重合単位として含有する。
いる芳香族環或はへテロ芳香族環を、Xは水素、1乃至
8個の炭素原子を宵するアルキル或は場合によりrIL
換されているアリールもしくはアルアルキル基を、Yは
2乃至10個の炭素原子をイrするエチレン系不飽和基
を意味する)で表される少なくともlfilI類の化合
物1乃至40モル%と、(A2)−数式(n) (式中R′は水素或はメチル基を、R”は水素、ハロゲ
ン或は1乃至6個の炭素原子を有するアルキル基を%
R3は水素、1乃至6個の炭素原子を有するアルキル基
、アセチル、ベンゾイル%’Cl〜C6アルキルシリル
或はC+”Ceアルコキシシリル基を意味する)で表さ
れる少なくとも1種類の化合物99乃至60モル%と、
(a3)上記(al)及び(a2)と異なる1種類或は
複数種類の共重合可能エチレン系不飽和宵機化合物であ
って、その単独重合体が250乃至400n■の波長に
おいて透明である化合物O乃至20モル%とを、上記(
al乃至(a3)の合計モル%数値が100となるよう
に重合単位として含有する。
特に好ましい共重合体は、式(n)中のR3がHである
コモノマーを重合単位として50モル%以上含宵するも
のである。
コモノマーを重合単位として50モル%以上含宵するも
のである。
これらのアルカリ可溶性ポリマー(a)は1個または複
数個の不飽和上ツマ−を慣用方法で遊離基またはイオン
単独重合もしくは共重合により製造される。
数個の不飽和上ツマ−を慣用方法で遊離基またはイオン
単独重合もしくは共重合により製造される。
一fo式( I )の適当な0−ニトロベンジルエステ
ルモノマー(aりの例は、 C=0 o(!1 ーCーH においてAは5乃至14個の環員ををする芳香族或はへ
テロ芳香族の非置換もしくは置換環式化合物であり、X
が水素、1乃至8個の炭素原子を有する非置換もしくは
置換アルキル或は非置換もしくは置換アリール或はアル
アルキルを、Yが以下の2,(の何れかを意味するもの
である。すなわち−C−CH2−CH2−COOH 目 H2 芳香族環へはことにベンゼン、置換ベンゼンカ好ましい
。ベンゼン環は、例えば01〜c6アルキル、ことにメ
チル、C1〜C8アルコキシ、ことにメトキシ、塩素の
ようなハロゲン、或はニトロ、アミノもしくはスルホン
により七ノit換或はジ置換されることができる。同様
に置換された、或は非置換のベンゼン誘導体、例えばナ
フタレン、アントラセン、アントラキノン或はフェナン
トレンも適当である。ヘテロ芳香族環の例としてはピリ
ジンが挙げられる。
ルモノマー(aりの例は、 C=0 o(!1 ーCーH においてAは5乃至14個の環員ををする芳香族或はへ
テロ芳香族の非置換もしくは置換環式化合物であり、X
が水素、1乃至8個の炭素原子を有する非置換もしくは
置換アルキル或は非置換もしくは置換アリール或はアル
アルキルを、Yが以下の2,(の何れかを意味するもの
である。すなわち−C−CH2−CH2−COOH 目 H2 芳香族環へはことにベンゼン、置換ベンゼンカ好ましい
。ベンゼン環は、例えば01〜c6アルキル、ことにメ
チル、C1〜C8アルコキシ、ことにメトキシ、塩素の
ようなハロゲン、或はニトロ、アミノもしくはスルホン
により七ノit換或はジ置換されることができる。同様
に置換された、或は非置換のベンゼン誘導体、例えばナ
フタレン、アントラセン、アントラキノン或はフェナン
トレンも適当である。ヘテロ芳香族環の例としてはピリ
ジンが挙げられる。
芳香族或はヘテロ芳香族0−ニトロカルビノールとして
は、例えば以下のものが好ましい。すなわち、o−二ト
ロベンジル、6−ニトロベラトリル、2−ニトロ−4−
アミノベンジル、2−ニトロ−4−ジメチルアミノベン
ジル、2−ニトロ−4−メチルアミノベンジル、2−ニ
トロ−5−ジメチルアミノベンジル、2−二トロー5−
アミノベンジル、2−ニトロ−4,6−シメトキシベン
ジル、2.4−ジニトロベンジル、3−メチル−2,4
−ジニトロベンジル、2−ニトロ−4−メチルベンジル
及び2,4.8−)リニトロペンジルアルコール、なら
びに2−ニトロベンズヒドロール、2.2’−ジニトロ
ベンズヒドロール、24−ジニトロベンズヒドロール及
び2.2’ 、44′−テトラニトロベンズヒドロール
である。他の適当なものとしては、2−ニトロ−3−ヒ
ドロキシメチルナフタレン、!−ニトロー2−ヒドロキ
シメチルナフタレン及び1−ニトロ−2−ヒドロキシメ
チルアントラキノンが挙げられる。
は、例えば以下のものが好ましい。すなわち、o−二ト
ロベンジル、6−ニトロベラトリル、2−ニトロ−4−
アミノベンジル、2−ニトロ−4−ジメチルアミノベン
ジル、2−ニトロ−4−メチルアミノベンジル、2−ニ
トロ−5−ジメチルアミノベンジル、2−二トロー5−
アミノベンジル、2−ニトロ−4,6−シメトキシベン
ジル、2.4−ジニトロベンジル、3−メチル−2,4
−ジニトロベンジル、2−ニトロ−4−メチルベンジル
及び2,4.8−)リニトロペンジルアルコール、なら
びに2−ニトロベンズヒドロール、2.2’−ジニトロ
ベンズヒドロール、24−ジニトロベンズヒドロール及
び2.2’ 、44′−テトラニトロベンズヒドロール
である。他の適当なものとしては、2−ニトロ−3−ヒ
ドロキシメチルナフタレン、!−ニトロー2−ヒドロキ
シメチルナフタレン及び1−ニトロ−2−ヒドロキシメ
チルアントラキノンが挙げられる。
本発明により組成分(a)として使用されるべき共重合
体は、上述したように、モノマーとしてのオレフィン系
不飽和カルボン酸の0−ニトロカルビノールエステルか
ら誘導されるが、このカルボン酸としては、例えばアク
リル酸、メタクリル酸、マレイン酸、ジクロルマレイン
酸、フマール酸、クロトン酸、イタコン酸及びメチレン
ゲルタール酸が使用される。
体は、上述したように、モノマーとしてのオレフィン系
不飽和カルボン酸の0−ニトロカルビノールエステルか
ら誘導されるが、このカルボン酸としては、例えばアク
リル酸、メタクリル酸、マレイン酸、ジクロルマレイン
酸、フマール酸、クロトン酸、イタコン酸及びメチレン
ゲルタール酸が使用される。
オレフィン系不飽和カルボン酸の0−ニトロカルビノー
ルエステルは、公知慣用の方法、例えばアシルクロリド
を0−ニトロカルビノールと反応させて、或は酸の直接
接触エステル化により製造され得る。
ルエステルは、公知慣用の方法、例えばアシルクロリド
を0−ニトロカルビノールと反応させて、或は酸の直接
接触エステル化により製造され得る。
特に好ましい0−ニトロカルビノールエステルモノマー
は0−ニトロベンジルアクリラート、〇−二トロベンジ
ルメタクリラート、0−ニトロ−α−メチルベンジル(
メタ)アクリラート及び2−二) el−8−クロル−
α−メチルベンジルタ)アクリラートである。
は0−ニトロベンジルアクリラート、〇−二トロベンジ
ルメタクリラート、0−ニトロ−α−メチルベンジル(
メタ)アクリラート及び2−二) el−8−クロル−
α−メチルベンジルタ)アクリラートである。
共重合体(a)は重合されるべきコモノマー(C2)と
して、−数式(n) で表される化合物が使用されるが、上記式中R’は水素
或はメチルを、R”は水素、ハロゲン或は1乃至6個の
炭素原子を有するアルキルを、R3は水素、1乃至6個
の炭素原子を宵するアルキル、アセチル、ベンゾイル、
C+”Csアルキルシリル或はC1〜C.アルコキシシ
リルを意味する。
して、−数式(n) で表される化合物が使用されるが、上記式中R’は水素
或はメチルを、R”は水素、ハロゲン或は1乃至6個の
炭素原子を有するアルキルを、R3は水素、1乃至6個
の炭素原子を宵するアルキル、アセチル、ベンゾイル、
C+”Csアルキルシリル或はC1〜C.アルコキシシ
リルを意味する。
ことに好ましいO−11換p−ヒドロキシスチレン誘導
体は、フェノール性ヒドロキシル基カニーチル化乃至エ
ステル化されたものであって、例工ばp−メトキシスチ
レン、p−アセトキシスチレン。或はp − tert
−ブトキシカルボニルオキシスチレンである。
体は、フェノール性ヒドロキシル基カニーチル化乃至エ
ステル化されたものであって、例工ばp−メトキシスチ
レン、p−アセトキシスチレン。或はp − tert
−ブトキシカルボニルオキシスチレンである。
構成分(C2)は本発明による新規共重合体中に99乃
至60モル%、ことに95乃至80モル%含をされる。
至60モル%、ことに95乃至80モル%含をされる。
(C3)アルカリ水性溶媒に対する溶解性を改善し、他
の特性、例えばさらに良好な熱安定性をもたらすために
、共重合体単位としてさらに1種類或は複数種類の、(
al)及び(C2)と異なる共重合可能のオレフィン系
不飽和を様化合物であって、その単独重合体が250乃
至400n腸の短波長領域で透明である化合物を含存さ
せることができる。
の特性、例えばさらに良好な熱安定性をもたらすために
、共重合体単位としてさらに1種類或は複数種類の、(
al)及び(C2)と異なる共重合可能のオレフィン系
不飽和を様化合物であって、その単独重合体が250乃
至400n腸の短波長領域で透明である化合物を含存さ
せることができる。
この種の適当なコモノマーは、例えば(メタ)アクリル
酸、マレイン酸、フマール酸、クロトン酸、イタコン酸
及び/或はメチレンゲルタール酸のようなエチレン系不
飽和カルボン酸、例えば工チレンのようなエチレン系不
飽和化合物、例えばスチレンのようなビニル芳香族化合
物、例えばイソプレン、ブタジェンのようなジエン、ビ
ニルアミン、ビニルイミン、アクリロニトリル、メタク
リラートリル、ビニルエステル、ビニルエーテル、ビニ
ルハライド、例えば無水マレイン酸のような不飽和無水
物、例えばN−置換マレインイミドのような不飽和イミ
ド、例えばアクリル酸及びことにメタクリル酸とC,−
C,アルコールとのエステル、ことにメチルメタクリラ
ートのような上述オレフィン系不飽和カルボン酸エステ
ル、及び他のアクリル酸及び/或はメタクリル酸誘導体
である。
酸、マレイン酸、フマール酸、クロトン酸、イタコン酸
及び/或はメチレンゲルタール酸のようなエチレン系不
飽和カルボン酸、例えば工チレンのようなエチレン系不
飽和化合物、例えばスチレンのようなビニル芳香族化合
物、例えばイソプレン、ブタジェンのようなジエン、ビ
ニルアミン、ビニルイミン、アクリロニトリル、メタク
リラートリル、ビニルエステル、ビニルエーテル、ビニ
ルハライド、例えば無水マレイン酸のような不飽和無水
物、例えばN−置換マレインイミドのような不飽和イミ
ド、例えばアクリル酸及びことにメタクリル酸とC,−
C,アルコールとのエステル、ことにメチルメタクリラ
ートのような上述オレフィン系不飽和カルボン酸エステ
ル、及び他のアクリル酸及び/或はメタクリル酸誘導体
である。
コモノマー(R3)は、新規共重合体中において0乃至
20モル%の量で共重合せしめられ得る。
20モル%の量で共重合せしめられ得る。
(al)乃至(R3)として上述した各コモノマーのモ
ル%の合計数値は新規共重合体中において100とする
。
ル%の合計数値は新規共重合体中において100とする
。
特に好ましい共重合体は、例えば0−二トローα−メチ
ルベンジルメタクリラート、p−ヒドロキシスチレン及
び0−ニトロ−α−メチルベンジルのメタクリラート、
p−ヒドロキシスチレン、p−ビニルアニソール及び0
−ニトロ−ベンジルのアクリラート、p−ヒドロキシス
チレン及びブチルのアクリラート、0−ニトロベンジル
アクリラート、p−ヒドロキシスチレンならびにメタク
リル酸を含宵する共重合体である。
ルベンジルメタクリラート、p−ヒドロキシスチレン及
び0−ニトロ−α−メチルベンジルのメタクリラート、
p−ヒドロキシスチレン、p−ビニルアニソール及び0
−ニトロ−ベンジルのアクリラート、p−ヒドロキシス
チレン及びブチルのアクリラート、0−ニトロベンジル
アクリラート、p−ヒドロキシスチレンならびにメタク
リル酸を含宵する共重合体である。
好ましいを機化合物(b)は、1個或は複数個ののスル
ホニウム塩の基及び1個或は複数個のtert−ブチル
カルボナート基もしくは1個或は複数個のシリルエーテ
ル基を有するものである。しかしながら放射時に強酸を
形成し、同一分子内に酸分裂性基を育するその他の化合
物を使用することもできる。
ホニウム塩の基及び1個或は複数個のtert−ブチル
カルボナート基もしくは1個或は複数個のシリルエーテ
ル基を有するものである。しかしながら放射時に強酸を
形成し、同一分子内に酸分裂性基を育するその他の化合
物を使用することもできる。
この種のことに好ましい有機化合物(b)は−数式(I
II) で表されるものである。式中、R’% R’及びR6は
互いに同じでも異なってもよく、それぞれ、例えばメチ
ル、エチル、n−プロピル、イソプロピル、n−ブチル
、イソブチル、tert−ブチル、ペンチル或はヘキシ
ルのような1乃至12個の、ことに1乃至6個の炭素原
子を有するアルキルの如き脂肪族基、例えばシクロヘキ
シル、シクロペンチルのような非置換もしくは置換環式
脂肪族基、或は1乃至6個の、ことに1乃至4個の炭素
原子を有するアルキル基、1乃至4個の、ことに1乃至
3個の炭素原子を有するアルコキシ基或は1もしくは2
個のハロゲン、例えば弗素、塩素、臭素で置換された、
フェニル或はナフチルのようなアリール基、例えばメチ
ルフェニル、メトキシフェニル、クロルフェニル、ブロ
ムフェニル、ジクロルフェニル、ジメチルフェニルを意
味する。或はR4乃至R6の何れか2個が互いに結合し
て環、ことに6員或は6員環を形成することもでき、R
’乃至R1の1個或は複数個は1個或は複数個の酸分裂
性基を育する。
II) で表されるものである。式中、R’% R’及びR6は
互いに同じでも異なってもよく、それぞれ、例えばメチ
ル、エチル、n−プロピル、イソプロピル、n−ブチル
、イソブチル、tert−ブチル、ペンチル或はヘキシ
ルのような1乃至12個の、ことに1乃至6個の炭素原
子を有するアルキルの如き脂肪族基、例えばシクロヘキ
シル、シクロペンチルのような非置換もしくは置換環式
脂肪族基、或は1乃至6個の、ことに1乃至4個の炭素
原子を有するアルキル基、1乃至4個の、ことに1乃至
3個の炭素原子を有するアルコキシ基或は1もしくは2
個のハロゲン、例えば弗素、塩素、臭素で置換された、
フェニル或はナフチルのようなアリール基、例えばメチ
ルフェニル、メトキシフェニル、クロルフェニル、ブロ
ムフェニル、ジクロルフェニル、ジメチルフェニルを意
味する。或はR4乃至R6の何れか2個が互いに結合し
て環、ことに6員或は6員環を形成することもでき、R
’乃至R1の1個或は複数個は1個或は複数個の酸分裂
性基を育する。
一4式(m)のスルホニウム塩としては、例えば式中R
eが4− tert−ブトキシカルボニルオキシフェニ
ル、4−tert−ブトキシカルボニルオキシ−3,5
−ジメチルフェニル、4− tert−ブトキシカルボ
ニルオキシ−3−メチルフェニル、4−terL−ブト
キシカルボニルオキシ−3,5−ジメトキシフェニル、
4−tert−ブトキシカルボニルオキシ−3,5−ジ
フェニルフェニル、4−1ert−ブトキシカルボニル
オキシ−1−ナフチル、4−トリメチルシリルオキシフ
ェニル或は4−トリメチルシリル−1−ナフチル、及び
R4及びR5が例えばテトラメチレンブリッジを形成し
% R@が上記 と同じ意味を有するもの、或はR4がメチル、R’がフ
ェニル或はトリル% R”が上記酸分裂性基を有する1
fPAフ工ニル誘導体、例えばであり、R・が例えば4
− tert−ブトキシカルボニルオキシフェニル、2
.4−ジーt e、r t−ブトキシカルボニルオキシ
フェニル、4− tert−ブトキジカルボニルオキシ
−2−メトキシフェニル或は4−トリメチルシリルフェ
ニルを意味するもの、或はR4がフェニル或はC8〜C
I2で置換されたフェニル或はハロゲン置換フェニルで
、R’及びRoが酸分裂性基を有する置換フェニル誘導
体、例えばであって、R5及びR@がそれぞれ例えば4
−tert−ブトキシカルボニルオキシフェニル、4−
トリメチルシリルオキシフェニル、4−tert−ブチ
ルジメチルシリルオキシフェニル或は4− Lert−
ブトキシカルボニルオキシ−3,5−ジメチルフェニル
を意味し、或はR4、R6及びR8が互いに同じスルホ
ニウム塩であり、これらに酸分裂性基を有するスルホニ
ウム塩が含まれるものが挙げられる。
eが4− tert−ブトキシカルボニルオキシフェニ
ル、4−tert−ブトキシカルボニルオキシ−3,5
−ジメチルフェニル、4− tert−ブトキシカルボ
ニルオキシ−3−メチルフェニル、4−terL−ブト
キシカルボニルオキシ−3,5−ジメトキシフェニル、
4−tert−ブトキシカルボニルオキシ−3,5−ジ
フェニルフェニル、4−1ert−ブトキシカルボニル
オキシ−1−ナフチル、4−トリメチルシリルオキシフ
ェニル或は4−トリメチルシリル−1−ナフチル、及び
R4及びR5が例えばテトラメチレンブリッジを形成し
% R@が上記 と同じ意味を有するもの、或はR4がメチル、R’がフ
ェニル或はトリル% R”が上記酸分裂性基を有する1
fPAフ工ニル誘導体、例えばであり、R・が例えば4
− tert−ブトキシカルボニルオキシフェニル、2
.4−ジーt e、r t−ブトキシカルボニルオキシ
フェニル、4− tert−ブトキジカルボニルオキシ
−2−メトキシフェニル或は4−トリメチルシリルフェ
ニルを意味するもの、或はR4がフェニル或はC8〜C
I2で置換されたフェニル或はハロゲン置換フェニルで
、R’及びRoが酸分裂性基を有する置換フェニル誘導
体、例えばであって、R5及びR@がそれぞれ例えば4
−tert−ブトキシカルボニルオキシフェニル、4−
トリメチルシリルオキシフェニル、4−tert−ブチ
ルジメチルシリルオキシフェニル或は4− Lert−
ブトキシカルボニルオキシ−3,5−ジメチルフェニル
を意味し、或はR4、R6及びR8が互いに同じスルホ
ニウム塩であり、これらに酸分裂性基を有するスルホニ
ウム塩が含まれるものが挙げられる。
他の適当な化合物は、上記−数式(III)において、
R’乃至R@の何れかが必要に応じ酸分裂性基を介して
1個或は複数個のさらに他のスルホニウム塩基に結合さ
れているもの、すなわち分子中に同様に複数個のスルホ
ニウム基を育するもの、例えば である。
R’乃至R@の何れかが必要に応じ酸分裂性基を介して
1個或は複数個のさらに他のスルホニウム塩基に結合さ
れているもの、すなわち分子中に同様に複数個のスルホ
ニウム基を育するもの、例えば である。
本発明において使用されるべきさらに他のスルホニウム
塩は例えば以下に示されるものである。
塩は例えば以下に示されるものである。
ただし、上記式中XOはハロゲン、ことにその錯塩4.
をン、例L ハBF、e1AsF、C)、 5bFeO
或Gt PFaOであり% R’及びR5は上述の通り
それぞれアルキル或は非置換乃至置換アリールを意味し
、或は相結合されて環(すなわち2価の、例えばテトラ
メチレン)を形成し% R’はtert−ブトキシカル
ボニル或はトリアルキルシリル、例えばトリメチルシリ
ル或はtert−ブチルジメチルシリルを意味する。
をン、例L ハBF、e1AsF、C)、 5bFeO
或Gt PFaOであり% R’及びR5は上述の通り
それぞれアルキル或は非置換乃至置換アリールを意味し
、或は相結合されて環(すなわち2価の、例えばテトラ
メチレン)を形成し% R’はtert−ブトキシカル
ボニル或はトリアルキルシリル、例えばトリメチルシリ
ル或はtert−ブチルジメチルシリルを意味する。
これらのスルホニウム塩は、エステル、カルボナート、
エーテルの合成に慣用の方法により、公知のスルホニウ
ム塩から出発して、フェノールノ7リルエーテル、te
rt−ブチルエステル、tert−ブチルカルボナート
が形成されるように反応させて製造される。
エーテルの合成に慣用の方法により、公知のスルホニウ
ム塩から出発して、フェノールノ7リルエーテル、te
rt−ブチルエステル、tert−ブチルカルボナート
が形成されるように反応させて製造される。
好ましいスルホニウム塩は、例えば剣イオンとしてヘキ
サフルオルホスホナート、ヘキサフルオルホスホナート
、ヘキサフルオルホスホナート及び/或はへキサフルオ
ルボラートを有するジメチル−4−tert−ブトキシ
カルボニルオキシフェニルスルホニウム塩、上記対イオ
ンををするフェニル−ビス−(4−tert−ブトキシ
カルボニルオキシフェニル)−スルホニウム塩、上述対
イオンをイrするトリス−(4−tert−ブトキシカ
ルボニルオキシフェニル)−スルホニウム塩及び上述対
イオンを有する1−ナフチル−4−トリメチルシリルオ
キシテトラメチレンスルホニウム塩である。
サフルオルホスホナート、ヘキサフルオルホスホナート
、ヘキサフルオルホスホナート及び/或はへキサフルオ
ルボラートを有するジメチル−4−tert−ブトキシ
カルボニルオキシフェニルスルホニウム塩、上記対イオ
ンををするフェニル−ビス−(4−tert−ブトキシ
カルボニルオキシフェニル)−スルホニウム塩、上述対
イオンをイrするトリス−(4−tert−ブトキシカ
ルボニルオキシフェニル)−スルホニウム塩及び上述対
イオンを有する1−ナフチル−4−トリメチルシリルオ
キシテトラメチレンスルホニウム塩である。
新規の放射線感応混合物はX線、電子及びUv放射線に
感応性である、必要に応じ、増感剤、例えばピレン、ペ
リレンを添加して長波長UVから可視波長の帯域におけ
る感度を増大させる。
感応性である、必要に応じ、増感剤、例えばピレン、ペ
リレンを添加して長波長UVから可視波長の帯域におけ
る感度を増大させる。
レリーフパターン形成方法
レリーフパターン形成のための本発明による新規方法に
おいて、新規な放射線感応混合物を含有する放射線感応
記録層は画像形成露光され、露出帯域の水性アルカリ溶
媒に対する溶解性が80乃至120℃における加熱工程
により高められた後、アルカリ性現像液によりこの帯域
が選択的に洗除される。
おいて、新規な放射線感応混合物を含有する放射線感応
記録層は画像形成露光され、露出帯域の水性アルカリ溶
媒に対する溶解性が80乃至120℃における加熱工程
により高められた後、アルカリ性現像液によりこの帯域
が選択的に洗除される。
例えば七ツマー組成分(al)を1乃至40モル%、共
重合されるべき七ツマー組成分(a2)ヲ99乃至60
モル%含有するポリマー結合剤(a)と、タイプ(b)
の化合物2乃至20重量%、ことに5乃至15重量%と
をメチルグリコールアセタート或はメチルプロピレング
リコールアセタートに溶解させる。この重量%は(a)
と(b)との合計全量に対するものであり、この溶液中
の固形分含存置は10乃至30重量%とするのが好まし
い。この溶液は0.2μ−径の孔隙を有するフィルター
を通過せしめられることができる。このレジスト溶液を
、t 、ooo乃至10.00Orpmのスピンコーテ
ィングでウェハー上に施し、レジストフィルムを形成す
る。このウェハーを90乃至80℃で1乃至5分間加熱
する。次いでレジストフィルムをクロム鍍金パターンを
有する石英マスクを経て、水銀灯からのUV光、エクサ
イマレーザ光、或は電子線もしくはXIIに露出する。
重合されるべき七ツマー組成分(a2)ヲ99乃至60
モル%含有するポリマー結合剤(a)と、タイプ(b)
の化合物2乃至20重量%、ことに5乃至15重量%と
をメチルグリコールアセタート或はメチルプロピレング
リコールアセタートに溶解させる。この重量%は(a)
と(b)との合計全量に対するものであり、この溶液中
の固形分含存置は10乃至30重量%とするのが好まし
い。この溶液は0.2μ−径の孔隙を有するフィルター
を通過せしめられることができる。このレジスト溶液を
、t 、ooo乃至10.00Orpmのスピンコーテ
ィングでウェハー上に施し、レジストフィルムを形成す
る。このウェハーを90乃至80℃で1乃至5分間加熱
する。次いでレジストフィルムをクロム鍍金パターンを
有する石英マスクを経て、水銀灯からのUV光、エクサ
イマレーザ光、或は電子線もしくはXIIに露出する。
照射露出フィルムを60乃至120℃に5秒乃至2分間
加熱する。このように処理したフィルムをアルカリ性も
しくはアルコール性現像液で現像すると、露出帯域は選
択的に洗除されるが、非露出帯域の材料は全く或はほと
んど洗除されない。
加熱する。このように処理したフィルムをアルカリ性も
しくはアルコール性現像液で現像すると、露出帯域は選
択的に洗除されるが、非露出帯域の材料は全く或はほと
んど洗除されない。
本発明による新規な放射線感応混合物は、アルカリ可溶
性ポリマー結合剤と溶解禁止スルホニウム化合物とから
成る2成分系であって、そのレジストパターンを慣用の
態様で形成し、露出後追知的に60乃至120℃で加熱
すると、従来のこの種混合物と相違して良好なパターン
品質のレジストパターンをもたらす。
性ポリマー結合剤と溶解禁止スルホニウム化合物とから
成る2成分系であって、そのレジストパターンを慣用の
態様で形成し、露出後追知的に60乃至120℃で加熱
すると、従来のこの種混合物と相違して良好なパターン
品質のレジストパターンをもたらす。
このようにして得られるボジチブ処理フォトレジストは
短波長UV領域(ことに248n醜)における感光性゛
及び形成されるレジストパターンについて本質的な利点
をもたらす。
短波長UV領域(ことに248n醜)における感光性゛
及び形成されるレジストパターンについて本質的な利点
をもたらす。
以下の実施例及び対比例について本発明をさらに詳細に
説明し、その利点を明らかにする。ここで使用される部
及び百分率は特に明示されない限り重量に関するもので
ある。
説明し、その利点を明らかにする。ここで使用される部
及び百分率は特に明示されない限り重量に関するもので
ある。
(実施例1)
トリス(4−tert−ブトキシカルボニルオキシフェ
ニル)−スルホニウムへキサフルオルアル上ナート10
部と、p−ヒドロキシスチレン9oモル%及び0−ニト
ロ−α−メチルベンジルメタクリラート10モル%の共
重合体90部とを、メチルプロピレン400部に溶解さ
せてホトレジスト溶液を調製する。この溶液を0.2μ
脂径の孔隙を有するフィルターで濾過する。S10□フ
イルムを有するシリコンウェハーに、このレジスト溶液
をスピンコーティングにより施して、約1,0μ腸厚さ
の層を形成する。248ns+波長におけるこの層の光
学的密度は0.55である。ウェハーを9o℃で1分間
乾燥させ、画像パターンテストマスクに密着させ、波長
248rvのエフサイマーレーザー光に5秒間露出する
0次いで80℃で60秒間加熱し、91113.00の
現像液で60秒間現像する。露出帯域は完全に洗除され
るが、非露出帯域における材料洗除は認められない、レ
ジストパターンは垂直側壁を示す。
ニル)−スルホニウムへキサフルオルアル上ナート10
部と、p−ヒドロキシスチレン9oモル%及び0−ニト
ロ−α−メチルベンジルメタクリラート10モル%の共
重合体90部とを、メチルプロピレン400部に溶解さ
せてホトレジスト溶液を調製する。この溶液を0.2μ
脂径の孔隙を有するフィルターで濾過する。S10□フ
イルムを有するシリコンウェハーに、このレジスト溶液
をスピンコーティングにより施して、約1,0μ腸厚さ
の層を形成する。248ns+波長におけるこの層の光
学的密度は0.55である。ウェハーを9o℃で1分間
乾燥させ、画像パターンテストマスクに密着させ、波長
248rvのエフサイマーレーザー光に5秒間露出する
0次いで80℃で60秒間加熱し、91113.00の
現像液で60秒間現像する。露出帯域は完全に洗除され
るが、非露出帯域における材料洗除は認められない、レ
ジストパターンは垂直側壁を示す。
(対比例1)
(スルホニウム塩を含有しないレジスト処決)P−ヒド
ロキシスチレン78モル%及ヒ。−二トローα−メチル
ベンジルメタクリラート22モル%17) 共ffi
合体をメチルプロピレングリコールアセタートに溶解さ
せてフォトレジスト溶液を調製する。この溶液を濾過し
、スピンコーティングによりSiO*フィルムを有する
シリコンウェハー上に0、iμ−厚さの層を形成する。
ロキシスチレン78モル%及ヒ。−二トローα−メチル
ベンジルメタクリラート22モル%17) 共ffi
合体をメチルプロピレングリコールアセタートに溶解さ
せてフォトレジスト溶液を調製する。この溶液を濾過し
、スピンコーティングによりSiO*フィルムを有する
シリコンウェハー上に0、iμ−厚さの層を形成する。
この層の光学的密度は0.54である。90℃で1分間
加熱した後、これに画像パターンテストマスクを密着し
、248 n馬波長のエフサイマーレーザー光に露出す
る。pif13.00の現像液を使用して60秒間で露
出帯域を完全に洗除するためには、30秒間の露出時間
を要する。
加熱した後、これに画像パターンテストマスクを密着し
、248 n馬波長のエフサイマーレーザー光に露出す
る。pif13.00の現像液を使用して60秒間で露
出帯域を完全に洗除するためには、30秒間の露出時間
を要する。
(対比例2)
(0−ニトロベンジル基を有しない結合剤)トリス−(
4−jerk−ブトキシカルボニルオキシフェル)−ス
ルホニウムへキサフルオルアル上ナート10部、ポリ−
(p−ヒドロキシスチレン)90部及びメチルプロピレ
ングリコールアセタート400部からフォトレジスト溶
液を調製する。
4−jerk−ブトキシカルボニルオキシフェル)−ス
ルホニウムへキサフルオルアル上ナート10部、ポリ−
(p−ヒドロキシスチレン)90部及びメチルプロピレ
ングリコールアセタート400部からフォトレジスト溶
液を調製する。
この溶液を0.2μ閤径の孔隙を有するフィルターで濾
過し1スピンコーテイングにより5I02フイルムをイ
fするシリコンウェハーに施して1.0μ璽厚さの層を
形成する。このウェハーを90℃で1分間乾燥し、次い
で画像パターンテストマスクを密着して248n−波長
のエフサイマーレーザー光に露出する。しかる後、80
℃で60秒間加熱する。実施例1と同じ< put3.
ooの現像液で60秒間現像して、露出帯域は完全に洗
除されるが、非露出帯域における材料洗除も著しく高い
(58%)。
過し1スピンコーテイングにより5I02フイルムをイ
fするシリコンウェハーに施して1.0μ璽厚さの層を
形成する。このウェハーを90℃で1分間乾燥し、次い
で画像パターンテストマスクを密着して248n−波長
のエフサイマーレーザー光に露出する。しかる後、80
℃で60秒間加熱する。実施例1と同じ< put3.
ooの現像液で60秒間現像して、露出帯域は完全に洗
除されるが、非露出帯域における材料洗除も著しく高い
(58%)。
代理人弁理士 1)代 蒸 治
Claims (5)
- (1)(a)水に不溶性、アルカリ水溶液に可溶性のポ
リマー結合剤と、 (b)水性アルカリ現像液に対する溶解性が酸の作用に
より高められ、酸により分裂され得る少なくとも1個の
基を有する有機化合物とを含有する放射線感応混合物で
あって、上記ポリマー結合剤(a)がo−ニトロベンジ
ル基を有する共重合体であることを特徴とする混合物。 - (2)請求項(1)による放射線感応混合物であって、
水に不溶性であるが、アルカリ水溶液に可溶性であるポ
リマー結合剤(a)が、 (a1)一般式( I )▲数式、化学式、表等がありま
す▼( I ) (式中、Aは5乃至14環員の、場合により置換されて
いる芳香族環或はヘテロ芳香族環を、Xは水素、1乃至
8個の炭素原子を有するアルキル基或は場合により置換
されているアリールもしくはアルアルキル基を、Yは2
乃至10個の炭素原子を有するエチレン系不飽和基を意
味する)で表される少なくとも1種類の化合物1乃至4
0モル%と、 (A2)一般式(II) ▲数式、化学式、表等があります▼(II) (式中R^1は水素或はメチル基を、R^2は水素、ハ
ロゲン或は1乃至6個の炭素原子を有するアルキル基を
、R^3は水素、1乃至6個の炭素原子を有するアルキ
ル基、アセチル、ベンゾイル、C_1〜C_6アルキル
シリル或はC_1〜C_8アルコキシシリル基を意味す
る)で表される少なくとも1種類の化合物99乃至60
モル%と、(a3)上記(a1)及び(a2)と異なる
1種類或は複数種類の共重合可能エチレン系不飽和有機
化合物であって、その単独重合体が250乃至400n
mの波長において透明である化合物0乃至20モル%と
を、上記(a1)乃至(a3)の合計モル%数値が10
0となるように重合単位として含有する共重合体である
ことを特徴とする混合物。 - (3)上記請求項の何れか1項による放射線感応混合物
であって、構成分(b)として一般式(III)▲数式、
化学式、表等があります▼(III) (式中、R^4、R^5及びR^6は互いに同じでも異
なってもよく、それぞれ場合によりヘテロ原子を含有す
る脂肪族基及び/或は芳香族基を意味し、或はR^4乃
至R^6のうちの2個が相結合して環を構成するが、R
^4乃至R^6の少なくとも1個は酸により分裂され得
る少なくとも1個の基を有し、R^4乃至R^6の1個
はさらに1個或は複数個の他のスルホニウム塩基と、場
合により酸により分裂され得る基を介して、結合される
ことができ、X^■は非親核対イオンを意味する)で表
される1種或は複数種類のスルホニウム塩を含有するこ
とを特徴とする混合物。 - (4)請求項(1)乃至(3)の何れか1項による放射
線感応混合物を感光性層形成材料として使用することを
特徴とする、レリーフパターン及びレリーフ形成体の形
成方法。 - (5)請求項(4)によるレリーフパターンの形成方法
であって、露光後60乃至120℃の温度に加熱するこ
とを特徴とする方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3812325.8 | 1988-04-14 | ||
DE3812325A DE3812325A1 (de) | 1988-04-14 | 1988-04-14 | Strahlungsempfindliches gemisch fuer lichtempfindliche beschichtungsmaterialien und verfahren zur herstellung von reliefmustern und reliefbildern |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0212152A true JPH0212152A (ja) | 1990-01-17 |
Family
ID=6351908
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1090911A Pending JPH0212152A (ja) | 1988-04-14 | 1989-04-12 | 感光性コーティング材料用の放射線感応混合物及びレリーフパターン形成方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5064746A (ja) |
EP (1) | EP0337258B1 (ja) |
JP (1) | JPH0212152A (ja) |
DE (2) | DE3812325A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009145714A (ja) * | 2007-12-17 | 2009-07-02 | Shin Etsu Chem Co Ltd | ポジ型レジスト材料及びこれを用いたパターン形成方法 |
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US5530255A (en) * | 1990-08-17 | 1996-06-25 | Raychem Corporation | Apparatus and methods for electron beam irradiation |
JP3116751B2 (ja) * | 1993-12-03 | 2000-12-11 | ジェイエスアール株式会社 | 感放射線性樹脂組成物 |
US6165674A (en) * | 1998-01-15 | 2000-12-26 | Shipley Company, L.L.C. | Polymers and photoresist compositions for short wavelength imaging |
US7090958B2 (en) * | 2003-04-11 | 2006-08-15 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Positive photoresist compositions having enhanced processing time |
TWI475323B (zh) | 2006-03-14 | 2015-03-01 | Fujifilm Corp | 正型光阻組成物及使用它之圖案形成方法 |
CA2655070C (en) * | 2006-06-09 | 2014-12-30 | Dentsply International Inc. | Flowable dental resin compositions with low polymerization stress |
JP2008052107A (ja) * | 2006-08-25 | 2008-03-06 | Fujifilm Corp | ポジ型レジスト組成物及びそれを用いたパターン形成方法 |
EP1906247A1 (en) * | 2006-09-29 | 2008-04-02 | FUJIFILM Corporation | Resist composition and pattern forming method using the same |
JP5559501B2 (ja) * | 2008-09-30 | 2014-07-23 | 東京応化工業株式会社 | レジスト組成物及びレジストパターン形成方法 |
JP7484846B2 (ja) * | 2020-09-28 | 2024-05-16 | 信越化学工業株式会社 | 分子レジスト組成物及びパターン形成方法 |
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---|---|---|---|---|
US3923514A (en) * | 1974-06-27 | 1975-12-02 | Xerox Corp | Method for the preparation of relief printing masters |
DE2922746A1 (de) * | 1979-06-05 | 1980-12-11 | Basf Ag | Positiv arbeitendes schichtuebertragungsmaterial |
US4491628A (en) * | 1982-08-23 | 1985-01-01 | International Business Machines Corporation | Positive- and negative-working resist compositions with acid generating photoinitiator and polymer with acid labile groups pendant from polymer backbone |
US4666820A (en) * | 1983-04-29 | 1987-05-19 | American Telephone And Telegraph Company, At&T Laboratories | Photosensitive element comprising a substrate and an alkaline soluble mixture |
DE3326036A1 (de) * | 1983-07-20 | 1985-01-31 | Basf Ag, 6700 Ludwigshafen | Zur herstellung von reliefbildern oder resistmustern geeignetes lichtempfindliches aufzeichnungsmaterial |
DE3406927A1 (de) * | 1984-02-25 | 1985-08-29 | Hoechst Ag, 6230 Frankfurt | Strahlungsempfindliches gemisch auf basis von saeurespaltbaren verbindungen |
US4770977A (en) * | 1984-09-21 | 1988-09-13 | Commissariat A L'energie Atomique | Silicon-containing polymer and its use as a masking resin in a lithography process |
FR2570844B1 (fr) * | 1984-09-21 | 1986-11-14 | Commissariat Energie Atomique | Film photosensible a base de polymere silicie et son utilisation comme resine de masquage dans un procede de lithographie |
JPH067263B2 (ja) * | 1985-08-19 | 1994-01-26 | 富士写真フイルム株式会社 | 光可溶化組成物 |
DE3642184A1 (de) * | 1986-12-10 | 1988-06-23 | Basf Ag | Copolymerisate mit o-nitrocarbinolestergruppierungen und deren verwendung |
DE3721741A1 (de) * | 1987-07-01 | 1989-01-12 | Basf Ag | Strahlungsempfindliches gemisch fuer lichtempfindliche beschichtungsmaterialien |
-
1988
- 1988-04-14 DE DE3812325A patent/DE3812325A1/de not_active Withdrawn
-
1989
- 1989-04-05 EP EP89105919A patent/EP0337258B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1989-04-05 DE DE8989105919T patent/DE58904764D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1989-04-12 JP JP1090911A patent/JPH0212152A/ja active Pending
- 1989-04-14 US US07/337,923 patent/US5064746A/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009145714A (ja) * | 2007-12-17 | 2009-07-02 | Shin Etsu Chem Co Ltd | ポジ型レジスト材料及びこれを用いたパターン形成方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0337258A3 (en) | 1990-08-29 |
EP0337258A2 (de) | 1989-10-18 |
US5064746A (en) | 1991-11-12 |
DE3812325A1 (de) | 1989-10-26 |
DE58904764D1 (de) | 1993-07-29 |
EP0337258B1 (de) | 1993-06-23 |
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