JPH08195906A - Sample-and-hold circuit - Google Patents
Sample-and-hold circuitInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明はサンプルホールド回路に
関し、特に1ピクセル分の電荷結合素子からの出力信号
をサンプルホールドする回路に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sample and hold circuit, and more particularly to a circuit for sample and hold an output signal from a charge coupled device for one pixel.
【0002】[0002]
【従来の技術】一般に、電荷結合素子(Charge
Coupled Device;以下CCDと呼ぶ)か
らの出力信号は、その1ピクセル(画素)毎に相関二重
サンプリング(Correlated Double
Sampling;以下CDSと呼ぶ)が行われてい
る。従来、そのCDS処理を行うサンプルホールド回路
においては、サンプリングクロック(以下CDSクロッ
クと呼ぶ)を、CCDからの出力信号とは別系統の回路
で作成していた。2. Description of the Related Art Generally, a charge coupled device (Charge) is used.
An output signal from a Coupled Device (hereinafter referred to as a CCD) is correlated double sampling (Correlated Double Sampling) for each pixel.
Sampling; hereinafter referred to as CDS) is performed. Conventionally, in a sample hold circuit for performing the CDS processing, a sampling clock (hereinafter referred to as a CDS clock) is created by a circuit of a system different from that of the output signal from the CCD.
【0003】ところで、特開昭62―258570号公
報には、複合ビデオ信号からクロックを再生する方式が
開示されている。この方式によれば、受信した複合ビデ
オ信号からクロックを再生することができる。By the way, Japanese Patent Laid-Open No. 62-258570 discloses a system for reproducing a clock from a composite video signal. According to this method, the clock can be regenerated from the received composite video signal.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のサンプ
ルホールド回路では、CCDからの出力信号との位相関
係を厳密に固定したCDSクロックを外部から入力する
必要があるため、専用回路を設けなければならない。し
たがって、ハードウェア量が大きくなるという欠点があ
った。In the above-described conventional sample-hold circuit, the CDS clock whose phase relationship with the output signal from the CCD is strictly fixed must be input from the outside, so that a dedicated circuit must be provided. I won't. Therefore, there is a drawback that the amount of hardware becomes large.
【0005】また、上述の特許公報に記載されている方
式では、複合ビデオ信号の送信側において予めクロック
を入力しておかなければならず、CCDからの出力信号
をサンプルホールドする場合には適用できない。Further, in the system described in the above-mentioned patent publication, the clock must be input in advance on the transmitting side of the composite video signal, and it cannot be applied when the output signal from the CCD is sampled and held. .
【0006】本発明は上述した従来技術の欠点を解決す
るためになされたものであり、その目的はハードウェア
量を小さくすることのできるサンプルホールド回路を提
供することである。The present invention has been made to solve the above-mentioned drawbacks of the prior art, and an object thereof is to provide a sample hold circuit which can reduce the amount of hardware.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】本発明によるサンプルホ
ールド回路は、1ピクセル分の電荷結合素子からの出力
信号波形のうち電荷蓄積レベル部分の基準となる基準レ
ベル部分をクランプ信号の遷移タイミングで定めること
により前記電荷蓄積レベルの値をホールドするサンプル
ホールド回路であって、前記出力信号を所定時間遅延さ
せる遅延手段と、この遅延信号と前記出力信号との位相
差に応じて前記クランプ信号を生成するクランプ信号生
成手段とを含むことを特徴とする。A sample and hold circuit according to the present invention determines a reference level portion, which is a reference of a charge accumulation level portion, of a waveform of an output signal from a charge coupled device for one pixel at a transition timing of a clamp signal. A sample and hold circuit for holding the value of the charge accumulation level by delaying means for delaying the output signal by a predetermined time, and generating the clamp signal according to the phase difference between the delay signal and the output signal. And a clamp signal generating means.
【0008】[0008]
【作用】1ピクセル分の電荷結合素子からの出力信号波
形のうち電荷蓄積レベル部分の基準となる基準レベル部
分をクランプ信号の遷移タイミングで定めることにより
電荷蓄積レベルの値をホールドするサンプルホールド回
路において、CCDの出力信号をディレイライン1で所
定時間遅延させる。この遅延信号と出力信号との位相差
に応じてコンパレータ2によってクランプ信号を生成す
る。In the sample hold circuit for holding the value of the charge storage level by determining the reference level portion, which is the reference of the charge storage level portion, in the output signal waveform from the charge coupled device for one pixel at the transition timing of the clamp signal. , The output signal of the CCD is delayed by the delay line 1 for a predetermined time. The clamp signal is generated by the comparator 2 according to the phase difference between the delay signal and the output signal.
【0009】[0009]
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。Next, the present invention will be described with reference to the drawings.
【0010】図1は本発明によるサンプルホールド回路
の一実施例の構成を示すブロック図である。図におい
て、本発明の一実施例によるサンプルホールド回路は、
図示せぬCCDの出力信号10を所定時間遅延させるデ
ィレイライン1と、この遅延信号と出力信号10との電
圧レベルを比較するコンパレータ2と、この比較結果で
ある出力信号20の立上りタイミングに応じて出力信号
10の電圧レベルの値をホールドするクランプホールド
回路3とを含んで構成されている。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of a sample hold circuit according to the present invention. In the figure, a sample and hold circuit according to an embodiment of the present invention is
A delay line 1 for delaying an output signal 10 of a CCD (not shown) for a predetermined time, a comparator 2 for comparing the voltage levels of the delayed signal and the output signal 10, and a rising timing of an output signal 20 as a result of the comparison. The clamp hold circuit 3 holds the voltage level value of the output signal 10.
【0011】ここで、本実施例のサンプルホールド回路
においては、ディレイライン1の出力とコンパレータ2
の入力との間にレベルクリッパ回路41及び42が挿入
されている。これは、CCDからの出力信号10の電圧
レベルの変動によるコンパレータ2の誤動作を防ぐため
である。Here, in the sample and hold circuit of this embodiment, the output of the delay line 1 and the comparator 2 are
Level clipper circuits 41 and 42 are inserted between the input and the input. This is to prevent the malfunction of the comparator 2 due to the fluctuation of the voltage level of the output signal 10 from the CCD.
【0012】すなわち、レベルクリッパ回路41は+
0.5[V]の電源電圧に接続されたダイオードD1を
含んで構成されている。ダイオードD1の両端電圧を
0.6[V]とすれば0.5−0.6=−0.1となる
ため、レベルクリッパ回路41はコンパレータ2の負入
力が−0.1[V]より下がらない(最小値が−0.1
[V])ように動作するのである。That is, the level clipper circuit 41 is +
It is configured to include a diode D1 connected to a power supply voltage of 0.5 [V]. If the voltage across the diode D1 is 0.6 [V], then 0.5-0.6 = -0.1, so that the level clipper circuit 41 has a negative input of the comparator 2 from -0.1 [V]. Does not decrease (minimum value is -0.1
[V]).
【0013】また、レベルクリッパ回路42は−0.3
[V]の電源電圧に接続されたダイオードD2を含んで
構成されている。ダイオードD2の両端電圧を0.6
[V]とすれば−0.3+0.6=0.3となるため、
レベルクリッパ回路42はコンパレータ2の正入力が
0.3[V]より上がらない(最大値が0.3[V])
ように動作するのである。The level clipper circuit 42 is -0.3.
It is configured to include a diode D2 connected to the power supply voltage of [V]. Set the voltage across diode D2 to 0.6
If it is [V], -0.3 + 0.6 = 0.3, so
The positive input of the comparator 2 of the level clipper circuit 42 does not exceed 0.3 [V] (the maximum value is 0.3 [V]).
It works like.
【0014】以上のように、レベルクリッパ回路41及
び42はCCDからの出力信号10及び遅延出力である
出力信号11の電圧レベルの変動を抑え、これによりコ
ンパレータ2の誤動作を防いでいるのである。As described above, the level clipper circuits 41 and 42 suppress fluctuations in the voltage levels of the output signal 10 from the CCD and the output signal 11 which is a delayed output, thereby preventing malfunction of the comparator 2.
【0015】かかる構成からなる本実施例のサンプルホ
ールド回路の動作について図2を参照して説明する。図
2は図1のサンプルホールド回路の各部の波形図であ
り、CCDの出力信号10と、ディレイライン1の出力
信号11と、コンパレータ2の出力信号20とが示され
ている。The operation of the sample and hold circuit of this embodiment having the above structure will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a waveform diagram of each part of the sample hold circuit of FIG. 1, showing an output signal 10 of the CCD, an output signal 11 of the delay line 1 and an output signal 20 of the comparator 2.
【0016】図において、出力信号10は1ピクセル分
のCCDからの出力信号波形である。この出力信号10
の波形において、−5[V]から+5[V]に立上った
部分はリセットエッジと呼ばれており、CCDの蓄積電
荷をリセットするためのリセットパルスのクロストーク
によって生じるものである。そして、このリセットによ
って出力信号10は0[V]になった後、CCDの蓄積
電荷量に応じてマイナス方向の電圧レベルになる。図で
は−5[V]になっているが、その電圧レベルは変動す
るものである。In the figure, an output signal 10 is an output signal waveform from the CCD for one pixel. This output signal 10
In the waveform of, the part rising from -5 [V] to +5 [V] is called a reset edge, which is caused by the crosstalk of the reset pulse for resetting the charge accumulated in the CCD. Then, after this reset, the output signal 10 becomes 0 [V] and then becomes a voltage level in the negative direction according to the amount of charge accumulated in the CCD. In the figure, it is -5 [V], but the voltage level fluctuates.
【0017】ここで、クランプホールド回路3は、出力
信号10の波形の0[V]の部分を基準レベルとして定
め、その後に電荷蓄積レベルをホールドしているのであ
る。そして、その波形の0[V]の部分を基準レベルと
して定めるために、本実施例では出力信号10とディレ
イライン1の出力信号11との電圧レベルを比較し、そ
の比較結果である出力信号20をクランプ信号として用
いているのである。Here, the clamp hold circuit 3 determines the 0 [V] portion of the waveform of the output signal 10 as the reference level, and then holds the charge accumulation level. Then, in order to determine the 0 [V] portion of the waveform as the reference level, in the present embodiment, the voltage levels of the output signal 10 and the output signal 11 of the delay line 1 are compared, and the output signal 20 which is the comparison result is compared. Is used as a clamp signal.
【0018】つまり、出力信号10と出力信号11との
位相差に応じて生成した出力信号20をクランプ信号と
してクランプホールド回路3に入力し、この出力信号2
0のローレベルからハイレベルへの立上りタイミングで
出力信号10の波形の0[V]の部分を基準レベルとし
て定めているのである。That is, the output signal 20 generated according to the phase difference between the output signal 10 and the output signal 11 is input to the clamp hold circuit 3 as a clamp signal, and the output signal 2
The 0 [V] portion of the waveform of the output signal 10 is defined as the reference level at the rising timing of 0 from the low level to the high level.
【0019】なお、出力信号20の立上りタイミングを
出力信号10の波形の0[V]の部分に一致させるため
に、図示せぬディレイラインがクランプホールド回路3
内に設けられているものとする。In order to match the rising timing of the output signal 20 with the 0 [V] portion of the waveform of the output signal 10, a delay line (not shown) has a clamp hold circuit 3.
It shall be provided inside.
【0020】上述した構成によれば、CCDからの出力
信号と厳密に位相を固定したCDSクロックを外部から
入力する必要がなくなるのである。よって、CDSクロ
ックを生成する外部専用回路を設ける必要がないのであ
る。According to the above configuration, it is not necessary to externally input the CDS clock whose phase is strictly fixed to the output signal from the CCD. Therefore, it is not necessary to provide an external dedicated circuit for generating the CDS clock.
【0021】なお、本例ではクランプ信号の立上りタイ
ミングを利用しているが、立下りタイミングを利用して
も良いことは明らかである。Although the rising timing of the clamp signal is used in this example, it is clear that the falling timing may be used.
【0022】[0022]
【発明の効果】以上説明したように本発明は、CCDか
らの出力信号自体からCDSクロックを生成することに
より、CDSクロックを生成する外部専用回路を設ける
必要がなく、ハードウェア量が小さくなるという効果が
ある。As described above, according to the present invention, since the CDS clock is generated from the output signal itself from the CCD, it is not necessary to provide an external dedicated circuit for generating the CDS clock, and the hardware amount is reduced. effective.
【図1】本発明の実施例によるサンプルホールド回路の
構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a sample hold circuit according to an embodiment of the present invention.
【図2】図1の各部の動作を示す波形図である。FIG. 2 is a waveform diagram showing the operation of each unit in FIG.
1 ディレイライン 2 コンパレータ 3 クランプホールド回路 41、42 レベルクリッパ回路 1 Delay line 2 Comparator 3 Clamp and hold circuit 41, 42 Level clipper circuit
─────────────────────────────────────────────────────
─────────────────────────────────────────────────── ───
【手続補正書】[Procedure amendment]
【提出日】平成7年2月23日[Submission date] February 23, 1995
【手続補正1】[Procedure Amendment 1]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0016[Correction target item name] 0016
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【0016】図において、出力信号10は1ピクセル分
のCCDからの出力信号波形である。この出力信号10
の波形において、−0.5[V]から+0.5[V]に
立上った部分はリセットエッジと呼ばれており、CCD
の蓄積電荷をリセットするためのリセットパルスのクロ
ストークによって生じるものである。そして、このリセ
ットによって出力信号10は0[V]になった後、CC
Dの蓄積電荷量に応じてマイナス方向の電圧レベルにな
る。図では−0.5[V]になっているが、その電圧レ
ベルは変動するものである。In the figure, an output signal 10 is an output signal waveform from the CCD for one pixel. This output signal 10
In the waveform of, the part rising from −0.5 [V] to +0.5 [V] is called the reset edge, and the CCD
This is caused by the crosstalk of the reset pulse for resetting the accumulated charge of. Then, after this reset, the output signal 10 becomes 0 [V], and then CC
The voltage level in the negative direction changes according to the amount of accumulated charge of D. Although it is −0.5 [V] in the figure, the voltage level fluctuates.
【手続補正2】[Procedure Amendment 2]
【補正対象書類名】図面[Document name to be corrected] Drawing
【補正対象項目名】図2[Name of item to be corrected] Figure 2
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【図2】 [Fig. 2]
Claims (3)
信号波形のうち電荷蓄積レベル部分の基準となる基準レ
ベル部分をクランプ信号の遷移タイミングで定めること
により前記電荷蓄積レベルの値をホールドするサンプル
ホールド回路であって、前記出力信号を所定時間遅延さ
せる遅延手段と、この遅延信号と前記出力信号との位相
差に応じて前記クランプ信号を生成するクランプ信号生
成手段とを含むことを特徴とするサンプルホールド回
路。1. A sample for holding the value of the charge storage level by defining a reference level portion, which is a reference of the charge storage level portion, in a waveform of an output signal from a charge coupled device for one pixel at a transition timing of a clamp signal. A holding circuit, comprising: delay means for delaying the output signal for a predetermined time; and clamp signal generating means for generating the clamp signal according to a phase difference between the delay signal and the output signal. Sample and hold circuit.
信号と前記出力信号との電圧レベルを比較する比較手段
を含み、この比較結果の変化に応答して遷移する信号を
前記クランプ信号として出力することを特徴とする請求
項1記載のサンプルホールド回路。2. The clamp signal generation means includes a comparison means for comparing the voltage levels of the delay signal and the output signal, and outputs a signal that transitions in response to a change in the comparison result as the clamp signal. The sample-hold circuit according to claim 1, wherein
電圧レベル変動を抑えるレベル変動抑制手段を更に含む
ことを特徴とする請求項2記載のサンプルホールド回
路。3. The sample hold circuit according to claim 2, further comprising level fluctuation suppressing means for suppressing voltage level fluctuations of the delay signal and the output signal.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7005436A JP2737680B2 (en) | 1995-01-18 | 1995-01-18 | Sample hold circuit |
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JP7005436A JP2737680B2 (en) | 1995-01-18 | 1995-01-18 | Sample hold circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08195906A true JPH08195906A (en) | 1996-07-30 |
JP2737680B2 JP2737680B2 (en) | 1998-04-08 |
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ID=11611154
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7005436A Expired - Lifetime JP2737680B2 (en) | 1995-01-18 | 1995-01-18 | Sample hold circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2737680B2 (en) |
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1995
- 1995-01-18 JP JP7005436A patent/JP2737680B2/en not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
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JP2737680B2 (en) | 1998-04-08 |
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