[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JPH0677596A - Optical functional element - Google Patents

Optical functional element

Info

Publication number
JPH0677596A
JPH0677596A JP25065892A JP25065892A JPH0677596A JP H0677596 A JPH0677596 A JP H0677596A JP 25065892 A JP25065892 A JP 25065892A JP 25065892 A JP25065892 A JP 25065892A JP H0677596 A JPH0677596 A JP H0677596A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
waveguide
substrate
waveguides
impurity diffusion
optical functional
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP25065892A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideji Kawasaki
秀司 川崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP25065892A priority Critical patent/JPH0677596A/en
Publication of JPH0677596A publication Critical patent/JPH0677596A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide an element having a laminated waveguide structure which is used for an optical functional element having a filter, a plurality of optical waveguides such as a filter and a demultiplexer. CONSTITUTION:A plurality of waveguides 103, 106 having quantum well structures are formed perpendicularly on a semiconductor substrate 101. The waveguides 103, 106 are laterally confined by diffusing an impurity, implanting impurity ions and heat treating to crystal-mix a clad part extended in parallel direction with the substrate 101. Semiconductor materials 109 having different impurity diffusing speeds are selectively disposed in parallel with the substrate 101, thereby forming the plurality of the waveguides 103, 106 with high degree of designing freedoms.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は,フィルタ、分波器等の
複数の光導波路を有する光機能素子に利用される積層光
導波路構造の光機能素子に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical functional device having a laminated optical waveguide structure used for an optical functional device having a plurality of optical waveguides such as filters and demultiplexers.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、光導波路に量子井戸構造を用いた
場合、低損失導波路が実現できることは広く知られてい
る。また、不純物拡散や熱処理により量子井戸構造が無
秩序化されることを利用して平坦な導波路を形成するこ
とも知られている。
2. Description of the Related Art Conventionally, it is widely known that a low-loss waveguide can be realized by using a quantum well structure for an optical waveguide. It is also known to form a flat waveguide by utilizing the fact that the quantum well structure is disordered by impurity diffusion or heat treatment.

【0003】一方、フィルタ、レーザ、アンプ等の光機
能素子を同一基板上に配置する場合、3次元的に配置す
ることにより高集積化が図れることは明白である。3次
元導波路の作製法としては,リッジ型あるいは埋め込み
型導波路の作製がある。
On the other hand, when arranging optical functional elements such as a filter, a laser and an amplifier on the same substrate, it is obvious that high integration can be achieved by arranging them three-dimensionally. As a method of manufacturing a three-dimensional waveguide, there is a method of manufacturing a ridge type or a buried type waveguide.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとしている課題】しかし、3次元導
波路において、リッジ型では、ウェハー表面がかなり凹
凸になり、導波路形成後に電極などの形成を行うときに
パターンの乱れが生じる場合がある。また、埋め込み型
では、選択成長の技術が必要となり、その特性のために
マスク部面積などの点で設計上の制約が生じる可能性が
ある。
However, in the ridge type of the three-dimensional waveguide, the wafer surface becomes considerably uneven, and the pattern may be disturbed when an electrode or the like is formed after the waveguide is formed. Further, the embedded type requires a selective growth technique, and its characteristics may impose design restrictions in terms of the mask portion area and the like.

【0005】更に、量子井戸構造により導波路を形成
し、混晶化により導波路の横閉じ込めを行う方法が提案
されているが、この方法を用いるとウェハー表面は平坦
であるが、積層導波路構造を形成する場合、基板表面側
の導波路を形成する位置のみにしか基板裏面側の他の導
波路が形成できず、積層導波路構造の設計上の自由度が
悪い。
Furthermore, a method has been proposed in which a waveguide is formed by a quantum well structure and lateral confinement of the waveguide is made by mixed crystal. When this method is used, the wafer surface is flat, but the laminated waveguide is used. When forming the structure, the other waveguide on the back surface side of the substrate can be formed only at the position where the waveguide is formed on the front surface side of the substrate, and the degree of freedom in designing the laminated waveguide structure is poor.

【0006】従って、本発明の目的は、上記の課題を解
決すべく、設計自由度が高く平坦な積層導波路構造を実
現できる光機能素子を提供することにある。
Therefore, an object of the present invention is to provide an optical functional element which can realize a flat laminated waveguide structure having a high degree of design freedom in order to solve the above problems.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明では、基板と垂直方向に複数の導波路を有し、この導
波路は量子井戸構造を有しており、この導波路は基板と
平行方向に伸びるクラッド部分が不純物拡散により(あ
るいは不純物イオン注入と熱処理により)混晶化される
ことにより横閉じ込めが行われている導波路であって、
不純物拡散速度が異なる材料を基板と平行方向に選択的
配置をすることにより拡散領域を制御し、導波路の設計
自由度が高い平坦な導波路を形成している。ここで、不
純物拡散速度の異なる材料は基板と垂直方向に存在する
複数の導波路間に配置してあっても良い。さらに、不純
物拡散速度が異なる材料はAlxGa1-xAs(x<0.
2)及びAlxGa1-xAs(x>0.4)であっても良
く、不純物はZnであっても良い。また、基板及び導波
路はIII−V族化合物半導体であっても良い。
According to the present invention for achieving the above object, a plurality of waveguides are provided in a direction vertical to a substrate, and the waveguides have a quantum well structure. A waveguide in which lateral confinement is performed by the mixed crystal of the clad portion extending in the parallel direction by impurity diffusion (or by impurity ion implantation and heat treatment),
By selectively arranging materials with different impurity diffusion rates in the direction parallel to the substrate, the diffusion region is controlled, and a flat waveguide having a high degree of freedom in designing the waveguide is formed. Here, materials having different impurity diffusion rates may be arranged between a plurality of waveguides existing in the direction perpendicular to the substrate. Further, materials having different impurity diffusion rates are Al x Ga 1-x As (x <0.
2) and Al x Ga 1-x As (x> 0.4), and the impurity may be Zn. Further, the substrate and the waveguide may be a III-V group compound semiconductor.

【0008】より一般的には、上記目的を達成する本発
明による光機能素子では、基板と垂直方向に配置され量
子井戸構造を有する複数の導波路と、該導波路の横閉じ
込めを行う混晶化部分と、不純物拡散速度が異なる半導
体材料を該基板と平行方向に伸びて選択的に配置するこ
とにより形成された部分とを有し、該不純物拡散速度が
異なる半導体材料部分を適当に配置することで該混晶化
部分を所望の形態で形成して該複数の導波路を所望の配
置で形成していること特徴とする。
More generally, in the optical functional device according to the present invention which achieves the above object, a plurality of waveguides having a quantum well structure arranged in a direction perpendicular to the substrate and a mixed crystal for laterally confining the waveguides. And a portion formed by selectively arranging a semiconductor material having a different impurity diffusion rate in a direction parallel to the substrate and selectively disposing the semiconductor material portion having a different impurity diffusion rate. Thus, the mixed crystal portion is formed in a desired shape, and the plurality of waveguides are formed in a desired arrangement.

【0009】[0009]

【作用】上記手段を用いることにより、平坦な導波路が
形成できる。また、基板表面側導波路を形成する位置以
外にも、不純物拡散速度が遅い材料で保護した位置に基
板裏面側導波路を形成でき、導波路の設計自由度が上が
る。
By using the above means, a flat waveguide can be formed. Further, in addition to the position where the substrate front surface side waveguide is formed, the substrate rear surface side waveguide can be formed at a position protected by a material having a low impurity diffusion rate, which increases the design freedom of the waveguide.

【0010】本発明は次の原理を利用する。例えば、G
aAs基板上にMOCVD法を用いてAlxGa1-xAs
(X=0.0、0.2、0.4、0.6、0.8)を堆
積させた。つぎに、ZnOを基板表面に堆積させ、60
0°Cで1時間加熱し、SIMS(2次イオン質量分
析)によりZnの濃度を測定した。そして、Zn濃度が
1×1019以上の深さをZnの拡散深さとする。Alx
Ga1-xAs組成比xに対するZn拡散速度の関係を図
2に示す。このように、組成比xが大きくなるにしたが
って拡散速度は早くなっている。従って、Al組成比x
が小さい層を拡散制御層として利用して、量子井戸構造
の導波路部分の混晶化態様を自由度高く制御でき複数種
類の導波路構造領域を設計自由度高く作成することがで
きる、
The present invention utilizes the following principles. For example, G
Al x Ga 1-x As on the aAs substrate using MOCVD
(X = 0.0, 0.2, 0.4, 0.6, 0.8) was deposited. Next, ZnO is deposited on the surface of the substrate, and 60
It heated at 0 degreeC for 1 hour, and measured the density | concentration of Zn by SIMS (secondary ion mass spectrometry). The depth at which the Zn concentration is 1 × 10 19 or more is defined as the Zn diffusion depth. Al x
FIG. 2 shows the relationship between the Zn diffusion rate and the Ga 1-x As composition ratio x. Thus, the diffusion rate becomes faster as the composition ratio x becomes larger. Therefore, the Al composition ratio x
Is used as the diffusion control layer, the mixed crystal aspect of the waveguide portion of the quantum well structure can be controlled with a high degree of freedom, and a plurality of types of waveguide structure regions can be created with a high degree of design freedom.

【0011】[0011]

【実施例1】以下に、図1を参照して、本発明により作
成した積層導波路構造の光機能素子の実施例1の作成工
程を説明する。
[Embodiment 1] Hereinafter, with reference to FIG. 1, a description will be given of a manufacturing process of an embodiment 1 of an optical functional element having a laminated waveguide structure manufactured according to the present invention.

【0012】図1において、GaAs基板101上に、
クラッド層(A10.5Ga0.5As)102、第1導波路
層(MQW(多重量子井戸)層である)103、クラッ
ド層(A10.5Ga0.5As)104、拡散制御層(Ga
As)109を堆積させ、領域1にのみ拡散制御層10
9を残し、他の領域の拡散制御層を取り去る。次に、ク
ラッド層(A10.5Ga0.5As)105、第2導波路層
(MQW)106、クラッド層(A10.5Ga0.5As)
107の順でMOCVD法を用いて堆積する。そして、
その上にマスクとしてSiNx110を堆積し、図1に
示す如く、領域3以外のSiNx110を取り去る。そ
の後、拡散源としてZnO108を堆積する。
In FIG. 1, on a GaAs substrate 101,
A cladding layer (A1 0.5 Ga 0.5 As) 102, a first waveguide layer (which is an MQW (multiple quantum well) layer) 103, a cladding layer (A1 0.5 Ga 0.5 As) 104, a diffusion control layer (Ga).
As) 109 is deposited, and the diffusion control layer 10 is formed only in the region 1.
9 is left, and the diffusion control layer in the other region is removed. Next, the cladding layer (A1 0.5 Ga 0.5 As) 105, the second waveguide layer (MQW) 106, the cladding layer (A1 0.5 Ga 0.5 As)
Deposition is performed in the order of 107 using the MOCVD method. And
The SiN x 110 is deposited as a mask on it, as shown in FIG. 1, removing the SiN x 110 other than the region 3. After that, ZnO 108 is deposited as a diffusion source.

【0013】こうして作製されたウェハーをAr雰囲気
中で加熱し、図3に示す如くZnの拡散領域301を形
成し、マスク部以外のMQW部分103、106を混晶
化する。
The wafer thus produced is heated in an Ar atmosphere to form a Zn diffusion region 301 as shown in FIG. 3, and the MQW portions 103 and 106 other than the mask portion are mixed crystallized.

【0014】領域1では拡散制御層1.9下方に導波路
が存在でき、領域2では導波路は存在できず、領域3で
はSiNxマスク110下方に上下導波路が存在でき
る。このように本発明により3種類の導波路構造領域を
設計自由度高く作成することができる。
In the region 1, there can be a waveguide below the diffusion control layer 1.9, in region 2 no waveguide, and in region 3 there can be an upper and lower waveguide below the SiN x mask 110. As described above, according to the present invention, three types of waveguide structure regions can be created with a high degree of freedom in design.

【0015】[0015]

【実施例2】次に、図4を参照して、本発明により作成
した積層型方向性結合器について説明する。
Second Embodiment Next, with reference to FIG. 4, a laminated directional coupler manufactured according to the present invention will be described.

【0016】図4において、GaAs基板401上に、
2つのA10.5Ga0.5Asクラッド402、404に挟
まれた第1MQW導波路403があり、その上に、他の
2つのA10.5Ga0.5Asクラッド406、408に挟
まれた第2MQW導波路407があるB領域と拡散制御
層411上で混晶化されたA領域がある。B領域では、
MQW導波路403、407間にはグレーティング部4
05が形成されている。
In FIG. 4, on the GaAs substrate 401,
There is a first MQW waveguide 403 sandwiched between two A1 0.5 Ga 0.5 As clads 402 and 404, and a second MQW waveguide 407 sandwiched between the other two A1 0.5 Ga 0.5 As clads 406 and 408. There is a certain B region and an A region on the diffusion control layer 411 that is mixed crystallized. In the B area,
The grating section 4 is provided between the MQW waveguides 403 and 407.
05 is formed.

【0017】ここで、図4のから入射した光は、A領
域においてMQW導波路403を伝搬するTE波と混晶
化領域に放射するTM波とに分かれ、次に、B領域にお
いて、グレーティング部構造405により決定される第
2MQW導波路407に結合する波長は図4のへ出力
され、その他の波長の光はへ出射された。
Here, the light incident from FIG. 4 is split into a TE wave propagating in the MQW waveguide 403 and a TM wave radiating to the mixed crystal region in the A region, and then in the B region, the grating portion. The wavelengths coupled to the second MQW waveguide 407, which are determined by the structure 405, are output to and the light of other wavelengths are output to.

【0018】このように、平坦な積層型方向性結合器が
2回の全面成長により作成できる。尚、図4において、
409はSiNx拡散マスクであり、410は拡散領域
である。
In this way, a flat laminated directional coupler can be produced by growing the entire surface twice. In addition, in FIG.
Reference numeral 409 is a SiN x diffusion mask, and 410 is a diffusion region.

【0019】[0019]

【実施例3】次に、図5を参照して、本発明により作成
した半導体レーザについて説明する。
Third Embodiment Next, with reference to FIG. 5, a semiconductor laser produced by the present invention will be described.

【0020】図5において、n−GaAs基板501上
に、n−A10.45Ga0.55Asクラッド502、A1
0.1Ga0.9As活性層503、p−A10.45Ga0.55
s504、GaAsキャップ層505、506を堆積
し、活性領域とする部分以外のGaAsキャップ層50
5、506を取り去る。つぎに、GaAsキャップ層5
05、506を拡散制御層として、全面にZnを拡散さ
せ、拡散領域508、低抵抗拡散領域506を形成し
た。尚、507、509は電極である。以上のようにし
て作成した半導体レーザの発振を確認した。
In FIG. 5, n-A1 0.45 Ga 0.55 As cladding 502, A1 is formed on an n-GaAs substrate 501.
0.1 Ga 0.9 As active layer 503, p-A1 0.45 Ga 0.55 A
s504, GaAs cap layers 505 and 506 are deposited, and the GaAs cap layer 50 other than the active region is deposited.
Remove 5,506. Next, the GaAs cap layer 5
The diffusion control layers 05 and 506 were used to diffuse Zn over the entire surface to form a diffusion region 508 and a low resistance diffusion region 506. In addition, 507 and 509 are electrodes. The oscillation of the semiconductor laser produced as described above was confirmed.

【0021】このように、1回の全面成長、1回の全面
拡散により、平坦な低抵抗半導体レーザを形成できた。
As described above, a flat low resistance semiconductor laser could be formed by one-time whole surface growth and one-time whole surface diffusion.

【0022】[0022]

【実施例4】以下に、図6を参照して、本発明により作
成した導波路について説明する。
[Embodiment 4] A waveguide prepared according to the present invention will be described below with reference to FIG.

【0023】図6において、平面的には第1導波路60
1と第2、第3導波路602、603が配置されており
(図6(a))、断面的には第2導波路602と第3導
波路603が積層して配置されている(図6(b))。
尚、図6(b)において、604、608、609、6
10は夫々図3の拡散領域301、層108、109、
110と同様な機能を果たす部分であり、各導波路60
1、602、603はクラッド層により挟まれている。
ここで、導波路601、602の側から入射された光
はそれぞれ第1導波路601と第2導波路602に分波
される。つぎに、第2導波路602に分岐された光の特
定の波長は第3導波路603に結合され(この部分が積
層型方向性結合器になっている)、側から放出され
る。
In FIG. 6, the first waveguide 60 in plan view is shown.
The first, second, and third waveguides 602 and 603 are arranged (FIG. 6A), and the second waveguide 602 and the third waveguide 603 are laminated and arranged in a sectional view (FIG. 6A). 6 (b)).
6B, 604, 608, 609, 6
10 is the diffusion region 301, layers 108, 109, and
Each waveguide 60 is a part that performs the same function as 110.
1, 602 and 603 are sandwiched by clad layers.
Here, the lights incident from the waveguides 601 and 602 side are demultiplexed into the first waveguide 601 and the second waveguide 602, respectively. Next, the specific wavelength of the light branched to the second waveguide 602 is coupled to the third waveguide 603 (this portion is a laminated directional coupler) and emitted from the side.

【0024】このように、本発明により、平坦な3次元
的に配置された導波路が形成できる。
As described above, according to the present invention, it is possible to form a flat three-dimensionally arranged waveguide.

【0025】[0025]

【発明の効果】本発明により、設計自由度の高い平坦な
積層導波路が作成できる。また、本発明により以下のよ
うな効果がある。 1)積層導波路を高い自由度で形成できるので、同一基
板上にフィルタ、アンプ、ディテクタを3次元的に形成
することができ、高集積化が可能となる。 2)導波路形状を結晶の異方性に関わらず比較的自由に
設計できる。 3)埋め込み型と比べ光の横閉じ込めが強くないため
(拡散領域で横閉じ込めをしている)損失が小さい。 4)TE、TM波によって閉じ込めの様子が異なるた
め、偏波モードフィルタとしての機能を持ちうる。
According to the present invention, a flat laminated waveguide having a high degree of design freedom can be produced. Further, the present invention has the following effects. 1) Since the laminated waveguide can be formed with a high degree of freedom, filters, amplifiers, and detectors can be formed three-dimensionally on the same substrate, and high integration is possible. 2) The waveguide shape can be designed relatively freely regardless of crystal anisotropy. 3) Since the lateral confinement of light is not as strong as in the embedded type (the lateral confinement is performed in the diffusion region), the loss is small. 4) Since the state of confinement differs depending on the TE and TM waves, it can have a function as a polarization mode filter.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施例1の拡散制御層配置を示す説明
図。
FIG. 1 is an explanatory diagram showing a diffusion control layer arrangement according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の原理に関する実験結果を示す図。FIG. 2 is a diagram showing an experimental result regarding the principle of the present invention.

【図3】本発明の実施例1の導波路配置を示す説明図。FIG. 3 is an explanatory diagram showing a waveguide arrangement according to the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明による実施例2である積層型方向性結合
器の構成図。
FIG. 4 is a configuration diagram of a laminated directional coupler that is Embodiment 2 of the present invention.

【図5】本発明による実施例3である半導体レーザの構
成図。
FIG. 5 is a configuration diagram of a semiconductor laser that is Embodiment 3 of the present invention.

【図6】本発明による実施例4である分波器の構成図。FIG. 6 is a configuration diagram of a duplexer that is Embodiment 4 of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101 GaAs基板 102 クラッド層 103 第1導波路層 104 クラッド層 105 クラッド層 106 第2導波路層 107 クラッド層 108,608 ZnO 109,609 拡散制御層 110,610 SiNx 301 拡散領域 401 GaAs基板 402 クラッド層 403 第1導波路 404 クラッド層 405 グレーティング部 406 クラッド層 407 第2導波路 408 クラッド層 409 SiNx拡散マスク 410 拡散領域 411 拡散制御層 501 n−GaAs基板 502 クラッド層 503 活性層 504 クラッド層 505 キャップ層 506 低抵抗層(キャップ層拡散領域) 507 電極 508 拡散領域 509 電極 601 第1導波路 602 第2導波路 603 第3導波路 604 拡散領域101 GaAs substrate 102 Cladding layer 103 First waveguide layer 104 Cladding layer 105 Cladding layer 106 Second waveguide layer 107 Cladding layer 108,608 ZnO 109,609 Diffusion control layer 110,610 SiN x 301 Diffusion region 401 GaAs substrate 402 Cladding Layer 403 First waveguide 404 Cladding layer 405 Grating portion 406 Cladding layer 407 Second waveguide 408 Cladding layer 409 SiN x diffusion mask 410 Diffusion region 411 Diffusion control layer 501 n-GaAs substrate 502 Cladding layer 503 Active layer 504 Cladding layer 505 Cap layer 506 Low resistance layer (cap layer diffusion region) 507 Electrode 508 Diffusion region 509 Electrode 601 First waveguide 602 Second waveguide 603 Third waveguide 604 Diffusion region

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板と垂直方向に複数の導波路を有し、
該導波路は量子井戸構造を有しており、該導波路は基板
と平行方向に伸びるクラッド部分が不純物拡散あるいは
不純物イオン注入と熱処理により混晶化されることによ
り横閉じ込めが行われており、不純物拡散速度が異なる
半導体材料を基板と平行方向に伸びて選択的配置をする
ことにより該混晶化部分を所望の形態で形成して複数の
導波路を所望の配置で形成していること特徴とする光機
能素子。
1. A plurality of waveguides are provided in a direction perpendicular to a substrate,
The waveguide has a quantum well structure, and the waveguide is laterally confined by clad portions extending in a direction parallel to the substrate being crystallized by impurity diffusion or impurity ion implantation and heat treatment. A semiconductor material having different impurity diffusion rates is extended in a direction parallel to the substrate and selectively arranged to form the mixed crystallized portion in a desired form to form a plurality of waveguides in a desired arrangement. Optical function element to be.
【請求項2】 前記不純物拡散速度が異なる材料は基板
と垂直方向に存在する複数の導波路間に配置してあるこ
とを特徴とする請求項1記載の光機能素子。
2. The optical functional element according to claim 1, wherein the materials having different impurity diffusion rates are arranged between a plurality of waveguides existing in a direction perpendicular to the substrate.
【請求項3】 前記不純物はZnあるいはSiであるこ
とを特徴とする請求項1記載の光機能素子。
3. The optical functional device according to claim 1, wherein the impurity is Zn or Si.
【請求項4】 前記基板および導波路はIII−V族化
合物半導体であることを特徴とする請求項1記載の光機
能素子。
4. The optical functional device according to claim 1, wherein the substrate and the waveguide are III-V group compound semiconductors.
【請求項5】 前記量子井戸構造はGaAsあるいはA
lGaAsより構成されており、前記不純物拡散速度が
異なる半導体材料はAlxGa1-xAs(x<0.2)及
びAlxGa1-xAs(x>0.4)であることを特徴と
する請求項1記載の光機能素子。
5. The quantum well structure is GaAs or A
The semiconductor materials composed of 1 GaAs and having different impurity diffusion rates are Al x Ga 1-x As (x <0.2) and Al x Ga 1-x As (x> 0.4). The optical function element according to claim 1.
【請求項6】 基板と垂直方向に配置され量子井戸構造
を有する複数の導波路と、該導波路の横閉じ込めを行う
混晶化部分と、不純物拡散速度が異なる半導体材料を該
基板と平行方向に伸びて選択的に配置することにより形
成された部分とを有し、該不純物拡散速度が異なる半導
体材料部分を適当に配置することで該混晶化部分を所望
の形態で形成して該複数の導波路を所望の配置で形成し
ていること特徴とする光機能素子。
6. A plurality of waveguides arranged in a direction perpendicular to a substrate and having a quantum well structure, a mixed crystallized portion for lateral confinement of the waveguides, and a semiconductor material having different impurity diffusion rates in a direction parallel to the substrate. And a portion formed by selectively arranging the semiconductor material portions having different impurity diffusion rates, and by appropriately arranging the semiconductor material portions having different impurity diffusion rates, the mixed crystal portion is formed in a desired form. The optical functional element is characterized in that the waveguide is formed in a desired arrangement.
JP25065892A 1992-08-26 1992-08-26 Optical functional element Pending JPH0677596A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25065892A JPH0677596A (en) 1992-08-26 1992-08-26 Optical functional element

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25065892A JPH0677596A (en) 1992-08-26 1992-08-26 Optical functional element

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0677596A true JPH0677596A (en) 1994-03-18

Family

ID=17211129

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25065892A Pending JPH0677596A (en) 1992-08-26 1992-08-26 Optical functional element

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0677596A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6465799B1 (en) 1999-03-01 2002-10-15 Johnson & Johnson Vision Care, Inc. UV radiation system having materials for selectively attenuating radiation
US10033154B2 (en) 2010-03-03 2018-07-24 Furukawa Electronic Co., Ltd. Semiconductor optical element, semiconductor laser element, and method for manufacturing semiconductor optical element and semiconductor laser element, and method for manufacturing semiconductor laser module and semiconductor element
US10069280B2 (en) 2013-02-13 2018-09-04 Furukawa Electric Co., Ltd. Semiconductor optical element, semiconductor laser element, and method for manufacturing semiconductor optical element and semiconductor laser element, and method for manufacturing semiconductor laser module and semiconductor element
US10109982B2 (en) 2014-08-12 2018-10-23 Furukawa Electric Co., Ltd. Semiconductor device

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6465799B1 (en) 1999-03-01 2002-10-15 Johnson & Johnson Vision Care, Inc. UV radiation system having materials for selectively attenuating radiation
US10033154B2 (en) 2010-03-03 2018-07-24 Furukawa Electronic Co., Ltd. Semiconductor optical element, semiconductor laser element, and method for manufacturing semiconductor optical element and semiconductor laser element, and method for manufacturing semiconductor laser module and semiconductor element
US10069280B2 (en) 2013-02-13 2018-09-04 Furukawa Electric Co., Ltd. Semiconductor optical element, semiconductor laser element, and method for manufacturing semiconductor optical element and semiconductor laser element, and method for manufacturing semiconductor laser module and semiconductor element
US10109982B2 (en) 2014-08-12 2018-10-23 Furukawa Electric Co., Ltd. Semiconductor device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4066482A (en) Selective epitaxial growth technique for fabricating waveguides for integrated optics
JPH04243216A (en) Production of optical waveguide and optical integrated element and production thereof
JP2004520710A (en) Or related improvements in semiconductor lasers
JP2003110193A (en) Semiconductor laser with weakly coupled grating
JP2001148531A (en) Optical semiconductor device
EP0687938B1 (en) Semiconductor optical device utilizing nonlinear optical effect
JPH0677596A (en) Optical functional element
JPH08307012A (en) Mask for selective growth, manufacture of semiconductor optical device, and semiconductor optical device
JP3104798B2 (en) Integrated optical coupler and method of manufacturing the same
JP2965011B2 (en) Semiconductor optical device and method of manufacturing the same
JP2004526306A5 (en)
JP2662059B2 (en) Integrated semiconductor device having photoelectric switch element
JPS59100583A (en) Semiconductor laser device
JP2694011B2 (en) Waveguide type wavelength filter
KR100241342B1 (en) Grating-assisted codirectional vertical coupler optical filter having well-suppressed sidelobe characteristics and method of realizing the same
JP2682482B2 (en) Method for manufacturing compound semiconductor integrated circuit
JPH04211228A (en) Manufacture of photoelectric amplifier device, device obtained by this method and application for various photoelectric devices
JP2548768B2 (en) Waveguide type optical demultiplexer
JP2914249B2 (en) Optical semiconductor device and method of manufacturing the same
JPH01186693A (en) Semiconductor device and manufacture thereof
JPH0336506A (en) Integrated type photodetecting circuit
JP3104800B2 (en) Manufacturing method of integrated optical coupler
JPH1140885A (en) Semiconductor laser device
JP2006084797A (en) Optical functional element and method for manufacturing same
JPH0269703A (en) Branch type optical waveguide