JPH0645700A - レーザダイオードの試験方法 - Google Patents
レーザダイオードの試験方法Info
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- JPH0645700A JPH0645700A JP19391092A JP19391092A JPH0645700A JP H0645700 A JPH0645700 A JP H0645700A JP 19391092 A JP19391092 A JP 19391092A JP 19391092 A JP19391092 A JP 19391092A JP H0645700 A JPH0645700 A JP H0645700A
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】レーザダイオードの符号誤り率の試験方法に関
し、符号誤り率の試験工数の削減及び試験の効率化を図
ることができるレーザダイオードの試験方法の提供。 【構成】符号誤り率の測定に先立って行うレーザダイオ
ードの試験であって、閾電流（Ｉth）の実測値とバイア
ス電流（Ｉb ）及びパルス電流（ＩP ）とを用い次式で
求められた ｆ＝ｌｎ（（α−ｋ）／（α−１）） α＝（Ｉb ＋ＩP ）／Ｉth ｋ＝Ｉb ／Ｉth（ｋ＜１） ｆと、実測により別に取得された符号誤り率（ＢＥＲ）
との対応関係を予め求め、かつ所望の符号誤り率が得ら
れるように前記対応関係に基づいてｆの範囲を予め設定
しておき、試験すべきレーザダイオードのＩthを測定し
て前記式によりｆを取得することにより、ｆの設定範囲
に入るレーザダイオードを選別する。
し、符号誤り率の試験工数の削減及び試験の効率化を図
ることができるレーザダイオードの試験方法の提供。 【構成】符号誤り率の測定に先立って行うレーザダイオ
ードの試験であって、閾電流（Ｉth）の実測値とバイア
ス電流（Ｉb ）及びパルス電流（ＩP ）とを用い次式で
求められた ｆ＝ｌｎ（（α−ｋ）／（α−１）） α＝（Ｉb ＋ＩP ）／Ｉth ｋ＝Ｉb ／Ｉth（ｋ＜１） ｆと、実測により別に取得された符号誤り率（ＢＥＲ）
との対応関係を予め求め、かつ所望の符号誤り率が得ら
れるように前記対応関係に基づいてｆの範囲を予め設定
しておき、試験すべきレーザダイオードのＩthを測定し
て前記式によりｆを取得することにより、ｆの設定範囲
に入るレーザダイオードを選別する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はレーザダイオードの試験
方法に関し、更に詳しく言えば、レーザダイオードの符
号誤り率の試験方法に関する。
方法に関し、更に詳しく言えば、レーザダイオードの符
号誤り率の試験方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】レーザダイオードの主たる用途として高
ビットレートデジタル光通信がある。これに用いられる
レーザダイオードには、入力した電流パルスの波形がで
きるだけ崩れないように電流パルスを光信号に変換し、
送信することが要求される。図５（ａ）はデジタル光通
信装置のブロック構成図である。送信電気信号としての
パルス電流をレーザダイオードに印加してレーザ光を発
生させ、光ファイバを通してそのレーザ光を受光素子
（ＡＰＤ）に送る。そして、送信されたレーザ光を受光
素子により光−電気変換する。ところで、光−電気変換
された受信電気信号は、通常、図５（ｂ）のように波形
が歪んでくる。上記の受信電気信号の波形の歪みは、主
として発光部のレーザダイオードその他，光ファイバ及
び受光部の受光素子その他での波形の歪みと，発光部及
び受光部で発生する雑音の重畳とにより起こる。これに
より、ビットエラーが生じる。例えば、図５（ｂ）のＡ
部において送信原信号０が識別符号１として誤って検出
される。
ビットレートデジタル光通信がある。これに用いられる
レーザダイオードには、入力した電流パルスの波形がで
きるだけ崩れないように電流パルスを光信号に変換し、
送信することが要求される。図５（ａ）はデジタル光通
信装置のブロック構成図である。送信電気信号としての
パルス電流をレーザダイオードに印加してレーザ光を発
生させ、光ファイバを通してそのレーザ光を受光素子
（ＡＰＤ）に送る。そして、送信されたレーザ光を受光
素子により光−電気変換する。ところで、光−電気変換
された受信電気信号は、通常、図５（ｂ）のように波形
が歪んでくる。上記の受信電気信号の波形の歪みは、主
として発光部のレーザダイオードその他，光ファイバ及
び受光部の受光素子その他での波形の歪みと，発光部及
び受光部で発生する雑音の重畳とにより起こる。これに
より、ビットエラーが生じる。例えば、図５（ｂ）のＡ
部において送信原信号０が識別符号１として誤って検出
される。
【０００３】上記の波形の歪みの原因のうち、レーザダ
イオードによる波形の歪みは、注入キャリアが増加し、
誘導放出を起こす迄の時間遅れと、パルスの停止後に注
入キャリアが消滅する迄の時間遅れとが生ずるために起
こり、通信が高速化，高密度化されるほど起こりやすく
なる。上記のレーザダイオードによる波形歪みに関し、
レーザダイオードのパルス送信の忠実度を評価するため
の試験項目として符号誤り率がある。即ち、符号誤り率
とは、受信した信号のうち誤って検出された信号の割合
をいう。
イオードによる波形の歪みは、注入キャリアが増加し、
誘導放出を起こす迄の時間遅れと、パルスの停止後に注
入キャリアが消滅する迄の時間遅れとが生ずるために起
こり、通信が高速化，高密度化されるほど起こりやすく
なる。上記のレーザダイオードによる波形歪みに関し、
レーザダイオードのパルス送信の忠実度を評価するため
の試験項目として符号誤り率がある。即ち、符号誤り率
とは、受信した信号のうち誤って検出された信号の割合
をいう。
【０００４】従来、レーザダイオードの符号誤り率の試
験は以下のように行われている。図３（ａ）は従来例の
符号誤り率の測定装置の構成図である。図３（ａ）にお
いて、１はパルス電流（ＩP ）をレーザダイオード（Ｌ
Ｄ）３に供給するパルスパターンジェネレータ、２はレ
ーザダイオード３にバイアス電流（Ｉb ）を供給するバ
イアス回路で、レーザ発振の開始電流である閾電流（Ｉ
th）以下にバイアスする場合とＩth以上にバイアスする
場合とがある。３は被測定対象のレーザダイオード、４
はＩP の印加により発生したレーザ光のファイバ端での
反射光量を調節するバックリフレクタ、５はバックリフ
レクタ４を通過したレーザ光を受信部へ搬送する光ファ
イバ、６は受信部に入る前に入射する光量を減衰するオ
プティカルアッテネータで、例えば入射光量を減衰して
いき、オプティカルレシーバ８の出力にエラービットが
でる限界点を探るため等に用いられる。７はオプティカ
ルアッテネータ６を通過したレーザ光を光−電気変換す
る、例えば、ＡＰＤ（アバランシェホトダイオード）等
の受光素子、８は受光素子７により光−電気変換された
電気信号（光電流）に反応してパルスを発生するオプテ
ィカルレシーバ、９は受信信号に対してＢＥＲを測定す
るエラーディテクタである。
験は以下のように行われている。図３（ａ）は従来例の
符号誤り率の測定装置の構成図である。図３（ａ）にお
いて、１はパルス電流（ＩP ）をレーザダイオード（Ｌ
Ｄ）３に供給するパルスパターンジェネレータ、２はレ
ーザダイオード３にバイアス電流（Ｉb ）を供給するバ
イアス回路で、レーザ発振の開始電流である閾電流（Ｉ
th）以下にバイアスする場合とＩth以上にバイアスする
場合とがある。３は被測定対象のレーザダイオード、４
はＩP の印加により発生したレーザ光のファイバ端での
反射光量を調節するバックリフレクタ、５はバックリフ
レクタ４を通過したレーザ光を受信部へ搬送する光ファ
イバ、６は受信部に入る前に入射する光量を減衰するオ
プティカルアッテネータで、例えば入射光量を減衰して
いき、オプティカルレシーバ８の出力にエラービットが
でる限界点を探るため等に用いられる。７はオプティカ
ルアッテネータ６を通過したレーザ光を光−電気変換す
る、例えば、ＡＰＤ（アバランシェホトダイオード）等
の受光素子、８は受光素子７により光−電気変換された
電気信号（光電流）に反応してパルスを発生するオプテ
ィカルレシーバ、９は受信信号に対してＢＥＲを測定す
るエラーディテクタである。
【０００５】上記の測定装置を用いてＢＥＲの測定を行
う場合、余計なエラーが入らないように各機器の調整を
入念に行い、全てのレーザダイオードについて測定す
る。そして、予め設定してあるＢＥＲの良否判定基準に
従って良否を判別する。
う場合、余計なエラーが入らないように各機器の調整を
入念に行い、全てのレーザダイオードについて測定す
る。そして、予め設定してあるＢＥＲの良否判定基準に
従って良否を判別する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記の試験方法による
と、高ビットレートが要求されるほど、更に入念な機器
の調整が必要になり、長時間の測定時間を要する。従っ
て、大量に測定を行う場合は、量産性を確保するため、
多数の測定系を必要とする。このため、多くの時間，費
用が必要となるという問題があった。
と、高ビットレートが要求されるほど、更に入念な機器
の調整が必要になり、長時間の測定時間を要する。従っ
て、大量に測定を行う場合は、量産性を確保するため、
多数の測定系を必要とする。このため、多くの時間，費
用が必要となるという問題があった。
【０００７】本発明はかかる従来例の問題点に鑑み創作
されたものであり、符号誤り率の試験工数の削減及び試
験の効率化を図ることができるレーザダイオードの試験
方法の提供を目的とする。
されたものであり、符号誤り率の試験工数の削減及び試
験の効率化を図ることができるレーザダイオードの試験
方法の提供を目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記課題は、符号誤り率
の測定に先立って行うレーザダイオードの試験であっ
て、レーザ発振の開始電流である閾電流（Ｉth）の実測
値と試験条件のバイアス電流（Ｉb ）及びパルス電流
（ＩP ）とを用いて、次式 ｆ＝ｌｎ（（α−ｋ）／（α−１）） 但し、ｆ＝ｔｄ／τｎ ｔｄ：発振遅れ時間 τｎ：注入キャリアのライフタイム α＝ＩOP／Ｉth ＩOP＝Ｉb ＋ＩP ｋ＝Ｉb ／Ｉth（ｋ＜１） により取得されたｆと、実測により別に取得された符号
誤り率（ＢＥＲ）との対応関係を予め求め、かつ所望の
符号誤り率が得られるように前記対応関係に基づいて前
記ｆの範囲を予め設定しておき、試験すべきレーザダイ
オードの閾電流（Ｉth）を測定して前記式によりｆを取
得することにより、前記ｆの設定範囲に入るレーザダイ
オードを選別することを特徴とするレーザダイオードの
試験方法によって達成される。
の測定に先立って行うレーザダイオードの試験であっ
て、レーザ発振の開始電流である閾電流（Ｉth）の実測
値と試験条件のバイアス電流（Ｉb ）及びパルス電流
（ＩP ）とを用いて、次式 ｆ＝ｌｎ（（α−ｋ）／（α−１）） 但し、ｆ＝ｔｄ／τｎ ｔｄ：発振遅れ時間 τｎ：注入キャリアのライフタイム α＝ＩOP／Ｉth ＩOP＝Ｉb ＋ＩP ｋ＝Ｉb ／Ｉth（ｋ＜１） により取得されたｆと、実測により別に取得された符号
誤り率（ＢＥＲ）との対応関係を予め求め、かつ所望の
符号誤り率が得られるように前記対応関係に基づいて前
記ｆの範囲を予め設定しておき、試験すべきレーザダイ
オードの閾電流（Ｉth）を測定して前記式によりｆを取
得することにより、前記ｆの設定範囲に入るレーザダイ
オードを選別することを特徴とするレーザダイオードの
試験方法によって達成される。
【０００９】
【作 用】ＢＥＲは、レーザダイオードによる波形の歪
みに関係し、レーザダイオードによる波形の歪みは、注
入キャリアが増加し、誘導放出を起こす迄の時間遅れ
（ｔｄ）と、パルスの停止後に注入キャリアが消滅する
迄の時間遅れとが生ずるために起こる。また、ｔｄとＩ
th，Ｉb 及びＩP との関係は、次の式で表される。 ｆ＝ｌｎ（（α−ｋ）／（α−１）） 但し、ｆ＝ｔｄ／τｎ τｎ：注入キャリアのライフタイム α＝ＩOP／Ｉth ＩOP＝Ｉb ＋ＩP ｋ＝Ｉb ／Ｉth（ｋ＜１） 図２はｋ＝０．８の場合のαとｆとの対応関係について
示す図である。
みに関係し、レーザダイオードによる波形の歪みは、注
入キャリアが増加し、誘導放出を起こす迄の時間遅れ
（ｔｄ）と、パルスの停止後に注入キャリアが消滅する
迄の時間遅れとが生ずるために起こる。また、ｔｄとＩ
th，Ｉb 及びＩP との関係は、次の式で表される。 ｆ＝ｌｎ（（α−ｋ）／（α−１）） 但し、ｆ＝ｔｄ／τｎ τｎ：注入キャリアのライフタイム α＝ＩOP／Ｉth ＩOP＝Ｉb ＋ＩP ｋ＝Ｉb ／Ｉth（ｋ＜１） 図２はｋ＝０．８の場合のαとｆとの対応関係について
示す図である。
【００１０】本願発明者は、上記のように、レーザ発振
の開始電流である閾電流（Ｉth），バイアス電流
（Ｉb ）及びパルス電流（ＩP ）が、ｆを介して符号誤
り率（ＢＥＲ）に関係していることに着目し、Ｉth，Ｉ
b 及びＩP によりＢＥＲの予備的な評価を行うようにす
べく、次のような調査を行った。即ち、図３（ｂ）は、
ＢＥＲの実測結果とｆとの対応関係について示す図であ
る。
の開始電流である閾電流（Ｉth），バイアス電流
（Ｉb ）及びパルス電流（ＩP ）が、ｆを介して符号誤
り率（ＢＥＲ）に関係していることに着目し、Ｉth，Ｉ
b 及びＩP によりＢＥＲの予備的な評価を行うようにす
べく、次のような調査を行った。即ち、図３（ｂ）は、
ＢＥＲの実測結果とｆとの対応関係について示す図であ
る。
【００１１】図３（ｂ）によれば、予め設定されたＢＥ
Ｒの良否判定基準に対して、ｆが０．１５以上の試料は
例外なくＢＥＲ不良であり、ｆが０．１５以下の試料
は、例外なくＢＥＲ良品であった。従って、実験の場
合、図２の対応関係に基づいて、ｆが０．１５以下の範
囲に入るようなαを有するものを選別してやればよいこ
とになる。このようにすることにより、実測によりＢＥ
Ｒ良品となる可能性の極めて高いグループを予め選別す
ることができるので、従来の場合と比較して、ＢＥＲを
測定すべき試料を削減し、かつ測定の効率化を図ること
ができる。
Ｒの良否判定基準に対して、ｆが０．１５以上の試料は
例外なくＢＥＲ不良であり、ｆが０．１５以下の試料
は、例外なくＢＥＲ良品であった。従って、実験の場
合、図２の対応関係に基づいて、ｆが０．１５以下の範
囲に入るようなαを有するものを選別してやればよいこ
とになる。このようにすることにより、実測によりＢＥ
Ｒ良品となる可能性の極めて高いグループを予め選別す
ることができるので、従来の場合と比較して、ＢＥＲを
測定すべき試料を削減し、かつ測定の効率化を図ること
ができる。
【００１２】これにより、ＢＥＲの測定のための工数の
削減，及び測定装置の有効利用を図ることができる。
削減，及び測定装置の有効利用を図ることができる。
【００１３】
【実施例】以下に、本発明の実施例に係るレーザダイオ
ードの試験方法について図を参照しながら説明する。
ードの試験方法について図を参照しながら説明する。
【００１４】（１）本発明の実施例の試験方法に適用す
るための調査 本願発明者は、レーザ発振の開始電流である閾電流（Ｉ
th），バイアス電流（Ｉb ）及び実際に光通信装置に印
加するパルス電流（ＩP ）が、ｆ（＝ｔｄ／τｎ）を介
して符号誤り率（ＢＥＲ）に関係していることに着目
し、Ｉth，Ｉb 及びＩP によりＢＥＲの予備的な評価を
行うようにすべく、調査を行った。
るための調査 本願発明者は、レーザ発振の開始電流である閾電流（Ｉ
th），バイアス電流（Ｉb ）及び実際に光通信装置に印
加するパルス電流（ＩP ）が、ｆ（＝ｔｄ／τｎ）を介
して符号誤り率（ＢＥＲ）に関係していることに着目
し、Ｉth，Ｉb 及びＩP によりＢＥＲの予備的な評価を
行うようにすべく、調査を行った。
【００１５】（ａ）αとｆとの対応関係 図４（ａ）は光出力と電流との関係を示す図、図４
（ｂ）は、注入電流（Ｉ）のパルス波形を示す図、図４
（ｃ）は注入キャリア密度（ｎ）の経時変化を示す図、
図４（ｄ）は注入電流によりレーザダイオードに発生す
る光子密度（ｎph）の経時変化を示す図である。
（ｂ）は、注入電流（Ｉ）のパルス波形を示す図、図４
（ｃ）は注入キャリア密度（ｎ）の経時変化を示す図、
図４（ｄ）は注入電流によりレーザダイオードに発生す
る光子密度（ｎph）の経時変化を示す図である。
【００１６】レーザダイオードの光出力と電流との関係
は、図４（ａ）に示すように、自然放出領域とレーザ発
振領域に分けられ、その境界での電流値が閾電流
（Ｉth）となる。これを境目にしてレーザ発振領域で
は、自然放出領域よりも大きな比例係数で光出力が電流
に比例して大きくなる。
は、図４（ａ）に示すように、自然放出領域とレーザ発
振領域に分けられ、その境界での電流値が閾電流
（Ｉth）となる。これを境目にしてレーザ発振領域で
は、自然放出領域よりも大きな比例係数で光出力が電流
に比例して大きくなる。
【００１７】従って、ディジタル光通信を行う場合、レ
ーザダイオードがレーザ発振領域で動作するようにパル
ス電流を印加する。この場合、レーザダイオードのバイ
アスのかけ方の一つとして、応答を早めるため、Ｉthよ
りも僅かに小さいバイアス電流（Ｉb ）をレーザダイオ
ードに流しておく方法がある。これにより、パルス電流
を印加すると、レーザダイオードは速やかに応答するこ
とができる。
ーザダイオードがレーザ発振領域で動作するようにパル
ス電流を印加する。この場合、レーザダイオードのバイ
アスのかけ方の一つとして、応答を早めるため、Ｉthよ
りも僅かに小さいバイアス電流（Ｉb ）をレーザダイオ
ードに流しておく方法がある。これにより、パルス電流
を印加すると、レーザダイオードは速やかに応答するこ
とができる。
【００１８】しかしながら、このようにしておいても、
注入キャリアが増加し、誘導放出を起こす迄の時間遅れ
（ｔｄ）や、パルスの停止後に注入キャリアが消滅する
迄の時間遅れとが生ずる（図４（ｂ）〜（ｄ））。この
ため、レーザダイオードによる送信電流パルスの波形の
歪みが生じ、レーザダイオードによる波形の歪みは、受
信側の符号誤りを引き起こす。
注入キャリアが増加し、誘導放出を起こす迄の時間遅れ
（ｔｄ）や、パルスの停止後に注入キャリアが消滅する
迄の時間遅れとが生ずる（図４（ｂ）〜（ｄ））。この
ため、レーザダイオードによる送信電流パルスの波形の
歪みが生じ、レーザダイオードによる波形の歪みは、受
信側の符号誤りを引き起こす。
【００１９】ところで、次式で表されるように、ｔｄは
Ｉth，Ｉb 及びＩP と関係している。 ｆ＝ｌｎ（（α−ｋ）／（α−１）） 但し、ｆ＝ｔｄ／τｎ τｎ：注入キャリアのライフタイム α＝ＩOP／Ｉth ＩOP＝Ｉb ＋ＩP ｋ＝Ｉb ／Ｉth（ｋ＜１） 図２はｋ＝０．８の場合のαとｆとの対応関係について
示す図である。図２の縦軸は対数目盛りで表したｆを示
し、横軸は通常目盛りで表したαを示す。
Ｉth，Ｉb 及びＩP と関係している。 ｆ＝ｌｎ（（α−ｋ）／（α−１）） 但し、ｆ＝ｔｄ／τｎ τｎ：注入キャリアのライフタイム α＝ＩOP／Ｉth ＩOP＝Ｉb ＋ＩP ｋ＝Ｉb ／Ｉth（ｋ＜１） 図２はｋ＝０．８の場合のαとｆとの対応関係について
示す図である。図２の縦軸は対数目盛りで表したｆを示
し、横軸は通常目盛りで表したαを示す。
【００２０】図２によれば、αが増加するに従い、即
ち、Ｉthが小さくなるに従いｆは急激に減少する。この
ように、Ｉth，Ｉb 及びＩP はｆを介してＢＥＲと関係
していることが予想され、Ｉth，Ｉb 及びＩP によりＢ
ＥＲの予備的な評価を行うようにすることができる可能
性がある。
ち、Ｉthが小さくなるに従いｆは急激に減少する。この
ように、Ｉth，Ｉb 及びＩP はｆを介してＢＥＲと関係
していることが予想され、Ｉth，Ｉb 及びＩP によりＢ
ＥＲの予備的な評価を行うようにすることができる可能
性がある。
【００２１】（ｂ）ＢＥＲの実測結果とｆとの対応関係 図３（ａ）はＢＥＲの測定装置の構成図で、１１はＩP
をレーザダイオード（ＬＤ）１３に供給するパルスパタ
ーンジェネレータ、１２はレーザダイオード１３にＩb
を供給するバイアス回路で、Ｉth以下にバイアスする場
合とＩth以上にバイアスする場合とがある。実施例の場
合、Ｉb ＝０．８×Ｉthにバイアスされる。１３は被測
定対象としてのレーザダイオード（ＬＤ）、１４はＩP
の印加により発生したレーザ光のファイバ端での反射光
量を調節するバックリフレクタ、１５はバックリフレク
タ１４を通過したレーザ光を受信部へ搬送する光ファイ
バ、１６は受信部に入る前に入射する光量を減衰するオ
プティカルアッテネータで、例えば入射光量を減衰して
いき、オプティカルレシーバ１８の出力にエラービット
がでる限界点を探るため等に用いられる。、１７はオプ
ティカルアッテネータを通過したレーザ光を光−電気変
換する、例えばＡＰＤ等の受光素子、１８は受光素子１
７により光−電気変換された電気信号（光電流）に反応
してパルスを発生するオプティカルレシーバ、１９は受
信信号に対してＢＥＲを測定するエラーディテクタであ
る。
をレーザダイオード（ＬＤ）１３に供給するパルスパタ
ーンジェネレータ、１２はレーザダイオード１３にＩb
を供給するバイアス回路で、Ｉth以下にバイアスする場
合とＩth以上にバイアスする場合とがある。実施例の場
合、Ｉb ＝０．８×Ｉthにバイアスされる。１３は被測
定対象としてのレーザダイオード（ＬＤ）、１４はＩP
の印加により発生したレーザ光のファイバ端での反射光
量を調節するバックリフレクタ、１５はバックリフレク
タ１４を通過したレーザ光を受信部へ搬送する光ファイ
バ、１６は受信部に入る前に入射する光量を減衰するオ
プティカルアッテネータで、例えば入射光量を減衰して
いき、オプティカルレシーバ１８の出力にエラービット
がでる限界点を探るため等に用いられる。、１７はオプ
ティカルアッテネータを通過したレーザ光を光−電気変
換する、例えばＡＰＤ等の受光素子、１８は受光素子１
７により光−電気変換された電気信号（光電流）に反応
してパルスを発生するオプティカルレシーバ、１９は受
信信号に対してＢＥＲを測定するエラーディテクタであ
る。
【００２２】図３（ｂ）は、上記の測定装置により測定
されたＢＥＲの実測結果とｆとの対応関係について示す
図である。ｆはｆとαとの関係式により求められた。図
３（ｂ）によれば、予め設定されたＢＥＲの良否判定基
準に対して、ｆが０．１５以上の試料は例外なく、実測
のＢＥＲに関し不良であり、ｆが０．１５以下の試料
は、例外なく、実測のＢＥＲに関し良品であった。
されたＢＥＲの実測結果とｆとの対応関係について示す
図である。ｆはｆとαとの関係式により求められた。図
３（ｂ）によれば、予め設定されたＢＥＲの良否判定基
準に対して、ｆが０．１５以上の試料は例外なく、実測
のＢＥＲに関し不良であり、ｆが０．１５以下の試料
は、例外なく、実測のＢＥＲに関し良品であった。
【００２３】以上により、図２の対応関係に基づいて、
ｆが設定範囲（実験の場合、０．１５以下）に入るよう
なαを有するものを選別することにより、実測によるＢ
ＥＲに関し良品となる可能性の極めて高い試料を予め選
別することができる。
ｆが設定範囲（実験の場合、０．１５以下）に入るよう
なαを有するものを選別することにより、実測によるＢ
ＥＲに関し良品となる可能性の極めて高い試料を予め選
別することができる。
【００２４】（２）本発明の実施例の試験方法 図１は本発明の実施例に係るレーザダイオードの試験方
法について説明するフローチャートである。
法について説明するフローチャートである。
【００２５】まず、試験すべき、すべてのレーザダイオ
ードのＩthを測定する。次いで、 Ｉb ＝ｋ×Ｉth（実施例の場合、ｋ＝０．８） により求められたＩb とＩP とを次式 α＝（Ｉb ＋ＩP ）／Ｉth に代入してαを求め、更にｆとαとの関係式によりｆを
求める。
ードのＩthを測定する。次いで、 Ｉb ＝ｋ×Ｉth（実施例の場合、ｋ＝０．８） により求められたＩb とＩP とを次式 α＝（Ｉb ＋ＩP ）／Ｉth に代入してαを求め、更にｆとαとの関係式によりｆを
求める。
【００２６】次に、所望のＢＥＲが得られるように、実
測により別に取得されたＢＥＲとｆとの対応関係に基づ
いて設定されたｆの範囲（実施例の場合、０．１５以
下）に入るか否か判定する。
測により別に取得されたＢＥＲとｆとの対応関係に基づ
いて設定されたｆの範囲（実施例の場合、０．１５以
下）に入るか否か判定する。
【００２７】次いで、ｆの範囲に入っていない試料はＢ
ＥＲ不良として除くとともに、ｆの範囲に入っている試
料については、図３（ａ）の測定装置によりＢＥＲを実
際に測定する。このとき、ｆが設定範囲（実施例の場
合、０．１５以下）に入り、実測によるＢＥＲ良品とな
る可能性の極めて高い試料のみを測定しているので、Ｂ
ＥＲ不良となるものは極めて少ない。
ＥＲ不良として除くとともに、ｆの範囲に入っている試
料については、図３（ａ）の測定装置によりＢＥＲを実
際に測定する。このとき、ｆが設定範囲（実施例の場
合、０．１５以下）に入り、実測によるＢＥＲ良品とな
る可能性の極めて高い試料のみを測定しているので、Ｂ
ＥＲ不良となるものは極めて少ない。
【００２８】その後、ＢＥＲ不良のものは除き、ＢＥＲ
良品のものについて次の試験工程を行う。以上のよう
に、本発明の実施例によれば、図２の対応関係に基づい
て、ｆが設定範囲に入るようなαを有するものを選別す
ることにより、実測によるＢＥＲ良品となる可能性の極
めて高い試料を予め選別することができる。これによ
り、従来の場合と比較して、ＢＥＲを測定すべき試料を
削減し、測定の効率化を図ることができる。従って、Ｂ
ＥＲの測定のための工数の削減，及び測定装置の有効利
用を図ることができる。
良品のものについて次の試験工程を行う。以上のよう
に、本発明の実施例によれば、図２の対応関係に基づい
て、ｆが設定範囲に入るようなαを有するものを選別す
ることにより、実測によるＢＥＲ良品となる可能性の極
めて高い試料を予め選別することができる。これによ
り、従来の場合と比較して、ＢＥＲを測定すべき試料を
削減し、測定の効率化を図ることができる。従って、Ｂ
ＥＲの測定のための工数の削減，及び測定装置の有効利
用を図ることができる。
【００２９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係るレー
ザダイオードの試験方法によれば、実測により取得され
たＢＥＲとｆ（＝ｔｄ／τｎ）との対応関係により、所
望の符号誤り率が得られるように設定されたｆに対し
て、Ｉthを実測することにより、次式 ｆ＝ｌｎ（（α−ｋ）／（α−１）） 但し、ｆ＝ｔｄ／τｎ ｔｄ：発振遅れ時間 τｎ：注入キャリアのライフタイム α＝ＩOP／Ｉth ＩOP＝Ｉb ＋ＩP ｋ＝Ｉb ／Ｉth（ｋ＜１） に基づき、ｆの設定範囲に入るようなレーザダイオード
を選別している。
ザダイオードの試験方法によれば、実測により取得され
たＢＥＲとｆ（＝ｔｄ／τｎ）との対応関係により、所
望の符号誤り率が得られるように設定されたｆに対し
て、Ｉthを実測することにより、次式 ｆ＝ｌｎ（（α−ｋ）／（α−１）） 但し、ｆ＝ｔｄ／τｎ ｔｄ：発振遅れ時間 τｎ：注入キャリアのライフタイム α＝ＩOP／Ｉth ＩOP＝Ｉb ＋ＩP ｋ＝Ｉb ／Ｉth（ｋ＜１） に基づき、ｆの設定範囲に入るようなレーザダイオード
を選別している。
【００３０】従って、実測によるＢＥＲ良品となる可能
性の極めて高い試料を予め選別することができ、従来の
場合と比較して、ＢＥＲを測定すべき試料を削減し、か
つ測定の効率化を図ることができる。
性の極めて高い試料を予め選別することができ、従来の
場合と比較して、ＢＥＲを測定すべき試料を削減し、か
つ測定の効率化を図ることができる。
【００３１】これにより、ＢＥＲの測定のための工数の
削減，及び測定装置の有効利用を図ることができる。
削減，及び測定装置の有効利用を図ることができる。
【図１】本発明の実施例に係るレーザダイオードの試験
方法について説明するフローチャートである。
方法について説明するフローチャートである。
【図２】本発明の実施例に係るｆとαとの関係について
示す図である。
示す図である。
【図３】本発明の実施例に係るレーザダイオードの符号
誤り率の測定装置の構成図及び符号誤り率の実測結果に
ついて示す図である。
誤り率の測定装置の構成図及び符号誤り率の実測結果に
ついて示す図である。
【図４】レーザダイオードの光出力電流及びパルス応答
について説明する図である。
について説明する図である。
【図５】従来例の光通信装置の構成図及び各部の信号波
形についての説明図である。
形についての説明図である。
１１ パルスパターンジェネレータ、 １２ バイアス回路、 １３ レーザダイオード（ＬＤ）、 １４ バックリフレクタ、 １５ 光ファイバ、 １６ オプティカルアッテネータ、 １７ 受光素子（ＡＰＤ）、 １８ オプティカルレシーバ、 １９ エラーディテクタ。
Claims (1)
- 【請求項１】 符号誤り率の測定に先立って行うレーザ
ダイオードの試験であって、レーザ発振の開始電流であ
る閾電流（Ｉth）の実測値と試験条件のバイアス電流
（Ｉb ）及びパルス電流（ＩP ）とを用いて、次式 ｆ＝ｌｎ（（α−ｋ）／（α−１）） 但し、ｆ＝ｔｄ／τｎ ｔｄ：発振遅れ時間 τｎ：注入キャリアのライフタイム α＝ＩOP／Ｉth ＩOP＝Ｉb ＋ＩP ｋ＝Ｉb ／Ｉth（ｋ＜１） により取得されたｆと、実測により別に取得された符号
誤り率（ＢＥＲ）との対応関係を予め求め、かつ所望の
符号誤り率が得られるように前記対応関係に基づいて前
記ｆの範囲を予め設定しておき、試験すべきレーザダイ
オードの閾電流（Ｉth）を測定して前記式によりｆを取
得することにより、前記ｆの設定範囲に入るレーザダイ
オードを選別することを特徴とするレーザダイオードの
試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19391092A JPH0645700A (ja) | 1992-07-21 | 1992-07-21 | レーザダイオードの試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19391092A JPH0645700A (ja) | 1992-07-21 | 1992-07-21 | レーザダイオードの試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0645700A true JPH0645700A (ja) | 1994-02-18 |
Family
ID=16315780
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19391092A Withdrawn JPH0645700A (ja) | 1992-07-21 | 1992-07-21 | レーザダイオードの試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0645700A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6747611B1 (en) | 2000-07-27 | 2004-06-08 | International Business Machines Corporation | Compact optical system and packaging for head mounted display |
| US7224094B2 (en) | 2002-07-12 | 2007-05-29 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Magnetic bearing spindle |
| KR102005711B1 (ko) * | 2019-04-15 | 2019-07-31 | 심재영 | 광모듈 테스트 장치 |
-
1992
- 1992-07-21 JP JP19391092A patent/JPH0645700A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6747611B1 (en) | 2000-07-27 | 2004-06-08 | International Business Machines Corporation | Compact optical system and packaging for head mounted display |
| US8289231B2 (en) | 2000-07-27 | 2012-10-16 | International Business Machines Corporation | Compact optical system and packaging for head mounted display |
| US7224094B2 (en) | 2002-07-12 | 2007-05-29 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Magnetic bearing spindle |
| KR102005711B1 (ko) * | 2019-04-15 | 2019-07-31 | 심재영 | 광모듈 테스트 장치 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19991005 |